JPS58140630A - 核磁気共鳴を用いた検査装置 - Google Patents
核磁気共鳴を用いた検査装置Info
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- JPS58140630A JPS58140630A JP57022751A JP2275182A JPS58140630A JP S58140630 A JPS58140630 A JP S58140630A JP 57022751 A JP57022751 A JP 57022751A JP 2275182 A JP2275182 A JP 2275182A JP S58140630 A JPS58140630 A JP S58140630A
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- magnetic fields
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/565—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities
- G01R33/56518—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities due to eddy currents, e.g. caused by switching of the gradient magnetic field
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、核磁気共鳴現象を用い、対象物体中の核スビ
／の密度分布あるいは緩和時間分布などを非破壊的に求
める検査装置に関する。
／の密度分布あるいは緩和時間分布などを非破壊的に求
める検査装置に関する。
従来、人体などの内部構造を非破壊的に検査する方法と
して、Ｘ線ＣＴや超音波撮偉装置が広く利用嘔れて来て
いる。近年、こ扛に更に、核磁気共鳴現象を利用し同様
の検査を行う試みが成功し、ＸＭＣＴや超音波撮イ象装
置では得られない情報を取得でさることが明らかになっ
て＠た。核磁気共鳴を用いた検査装置（以下、単に「検
査装置」という。）は、核磁気共鳴現象を利用して対象
物体中の核スピンの密度分布、緩和時間分布等を非破壊
的に求めることにより、Ｘ線ＣＴと同様の手法で対象物
体の所望の検査部位の断面像を構成、出力するものであ
る。このような検査装置においては、検査対象物体から
の信号を該物体各部に対応させて、分離・識別する必要
がある。その１つに、検査対象物体に傾斜磁場を印加し
、物体各部の置かれた静磁場を異ならせ、こ扛により各
部の共鳴周波数を異ならせることで位置情報金得る方法
がある。第１図はその原理を説明するための図である。
して、Ｘ線ＣＴや超音波撮偉装置が広く利用嘔れて来て
いる。近年、こ扛に更に、核磁気共鳴現象を利用し同様
の検査を行う試みが成功し、ＸＭＣＴや超音波撮イ象装
置では得られない情報を取得でさることが明らかになっ
て＠た。核磁気共鳴を用いた検査装置（以下、単に「検
査装置」という。）は、核磁気共鳴現象を利用して対象
物体中の核スピンの密度分布、緩和時間分布等を非破壊
的に求めることにより、Ｘ線ＣＴと同様の手法で対象物
体の所望の検査部位の断面像を構成、出力するものであ
る。このような検査装置においては、検査対象物体から
の信号を該物体各部に対応させて、分離・識別する必要
がある。その１つに、検査対象物体に傾斜磁場を印加し
、物体各部の置かれた静磁場を異ならせ、こ扛により各
部の共鳴周波数を異ならせることで位置情報金得る方法
がある。第１図はその原理を説明するための図である。
対象物体１に傾斜磁場Ｇ、を印加すると、該傾斜磁場Ｇ
、に垂直な綴止にある核スピンからの信号を積分した信
号強度分布２が、静磁場Ｈの関数として得らｎる。核磁
気共鳴においてはｆ＝γＨ／（２π） ・・・・・・・
・・・・・（１）の関係が成立するので、前記信号強度
は共鳴周波数ｆの関数であるとも言える。なお、上式に
おいて、ｒは核磁気回転比であり、核スピンに固有の値
である。次に、傾斜磁場の印加方向を変えて傾斜磁場Ｇ
、全印加すると信号強度分布３が得られる。傾斜磁場の
印加方向を種々夏化させて同様の信号強度分布、すなわ
ち射影データを求め扛ば、Ｘｌｌ１ｌＣＴと同様のアル
ゴリズムを用いて検査対象物体中の核スピンの密度分布
などを再構成することができる。、ところで射影データ
を得るために印加する前記傾斜磁場は空間的に線形では
なく、非線形の領域を含んでいる。第２図中の実＃＋１
４は空間的に線形な傾斜磁場を示し、その時対象物体１
′から得られる射影データ全実線５とする。これに対し
、破線６のように空間的に非線形であれば、その射影デ
ータは破線７となり、歪んだ射影データが得られる。こ
のような歪んだ射影データを再構成するとボケｆｃ像に
なり、傾斜ｆｉＢ場の非線形性が大きな画像劣化をもた
らす大きな要因となっていた。しかし、傾斜磁場分布か
あらがじめ知ら扛ていれば、信号の各胸波数成分と射影
データと全正確に対応付けることが可゛能になり、前記
非線形性の悪影響を除去することができる。ところが、
このような補正を行うには、各射影毎の傾斜磁場分布を
測可し、その値を収納することが必要である。例えば、
１２８Ｘ１２８マトリツクスからなる２次元の傾斜磁場
分布を、１２８射影の各部について収納するためには、
少なくとも１０’ワードのメモリーを要することになり
、膨大なメモリーとなってしまう欠点がめった。
、に垂直な綴止にある核スピンからの信号を積分した信
号強度分布２が、静磁場Ｈの関数として得らｎる。核磁
気共鳴においてはｆ＝γＨ／（２π） ・・・・・・・
・・・・・（１）の関係が成立するので、前記信号強度
は共鳴周波数ｆの関数であるとも言える。なお、上式に
おいて、ｒは核磁気回転比であり、核スピンに固有の値
である。次に、傾斜磁場の印加方向を変えて傾斜磁場Ｇ
、全印加すると信号強度分布３が得られる。傾斜磁場の
印加方向を種々夏化させて同様の信号強度分布、すなわ
ち射影データを求め扛ば、Ｘｌｌ１ｌＣＴと同様のアル
ゴリズムを用いて検査対象物体中の核スピンの密度分布
などを再構成することができる。、ところで射影データ
を得るために印加する前記傾斜磁場は空間的に線形では
なく、非線形の領域を含んでいる。第２図中の実＃＋１
４は空間的に線形な傾斜磁場を示し、その時対象物体１
′から得られる射影データ全実線５とする。これに対し
、破線６のように空間的に非線形であれば、その射影デ
ータは破線７となり、歪んだ射影データが得られる。こ
のような歪んだ射影データを再構成するとボケｆｃ像に
なり、傾斜ｆｉＢ場の非線形性が大きな画像劣化をもた
らす大きな要因となっていた。しかし、傾斜磁場分布か
あらがじめ知ら扛ていれば、信号の各胸波数成分と射影
データと全正確に対応付けることが可゛能になり、前記
非線形性の悪影響を除去することができる。ところが、
このような補正を行うには、各射影毎の傾斜磁場分布を
測可し、その値を収納することが必要である。例えば、
１２８Ｘ１２８マトリツクスからなる２次元の傾斜磁場
分布を、１２８射影の各部について収納するためには、
少なくとも１０’ワードのメモリーを要することになり
、膨大なメモリーとなってしまう欠点がめった。
本発明の目的は、互いに直交する２つあるいは３つの、
傾斜出湯発生用コイル各々の＃４斜磁場分布をあらかじ
め測定しておき、その傾斜磁場分布に基づいて任意断面
上の傾斜磁場分布全算出することにより、傾斜磁場の空
間的な非線形性の補正金容易に行なえるようにした検査
装置′（Ｆ−提供することにある。
傾斜出湯発生用コイル各々の＃４斜磁場分布をあらかじ
め測定しておき、その傾斜磁場分布に基づいて任意断面
上の傾斜磁場分布全算出することにより、傾斜磁場の空
間的な非線形性の補正金容易に行なえるようにした検査
装置′（Ｆ−提供することにある。
以下、本発明の実飛例を図面に基づいて詳細に説明する
。第３図は本発明の一実施例である検査装置の概略構成
を示すものである。制御装置８は各装置へ橢々の命令を
一定のタイミングで出力する。＾周波パルス発生器９の
出刃は篭カ増幅器１０で増幅され、高周波磁場発生用コ
イル１１ｔ−励振する。該コイル１１は同時に受信用コ
イルを兼ねており該コイルで検出された信号成分は増幅
器１２を通り、検波器１３で検彼後、信号処理装置１４
で１儂に変換９表示さｎる。高周波パルス発生器９から
の他の出力は、検波器１３で直角位相検ｉｔ−行う時の
基準信号として用いらｎる。Ｚ方向及びそｎに直角な方
向の傾斜磁場の発生は傾斜磁場発生用コイル１５．１５
’ 、１５“で行ない、これらのコイルに電源１６．１
６’ 、１６“で駆動さ扛る。また静磁場の発生は静＠
場発生用コイル１７で行ない、該コイル１７は電源１８
で駆動される。Ｘ方向の傾斜出湯発生用コイル１５〃は
Ｘ方向の傾斜磁場発生用コイル１５′１ｒ：Ｚ軸のまわ
りに９０ 回転させたもので互いに直交する傾斜出湯全
発生する。対象物体１９ｉ１ｒベツド２゜上に横たわっ
ていて、ベッド２０は台２０’上全移動する。第４図は
Ｘ方向の傾斜磁場発生用コイル１５“の−例を示し、矢
印はｔ流の向きを表わす。第５図はＺ方向の傾斜磁場発
生用コイル１５の一例を示すものである。
。第３図は本発明の一実施例である検査装置の概略構成
を示すものである。制御装置８は各装置へ橢々の命令を
一定のタイミングで出力する。＾周波パルス発生器９の
出刃は篭カ増幅器１０で増幅され、高周波磁場発生用コ
イル１１ｔ−励振する。該コイル１１は同時に受信用コ
イルを兼ねており該コイルで検出された信号成分は増幅
器１２を通り、検波器１３で検彼後、信号処理装置１４
で１儂に変換９表示さｎる。高周波パルス発生器９から
の他の出力は、検波器１３で直角位相検ｉｔ−行う時の
基準信号として用いらｎる。Ｚ方向及びそｎに直角な方
向の傾斜磁場の発生は傾斜磁場発生用コイル１５．１５
’ 、１５“で行ない、これらのコイルに電源１６．１
６’ 、１６“で駆動さ扛る。また静磁場の発生は静＠
場発生用コイル１７で行ない、該コイル１７は電源１８
で駆動される。Ｘ方向の傾斜出湯発生用コイル１５〃は
Ｘ方向の傾斜磁場発生用コイル１５′１ｒ：Ｚ軸のまわ
りに９０ 回転させたもので互いに直交する傾斜出湯全
発生する。対象物体１９ｉ１ｒベツド２゜上に横たわっ
ていて、ベッド２０は台２０’上全移動する。第４図は
Ｘ方向の傾斜磁場発生用コイル１５“の−例を示し、矢
印はｔ流の向きを表わす。第５図はＺ方向の傾斜磁場発
生用コイル１５の一例を示すものである。
先に述べたように、傾斜磁場を対象物体に印加し、その
射影データから対象物体中の核スピンの密度分布などを
精度よく得るｉＫは、傾斜磁場として線形性の優扛たも
のが必要である。第６図（ａ）は第４図に示すコイルに
より発生する傾斜磁場の一例を示す等高線図であるが、
コイルの中心から離れるに従い、線形からのずれが大さ
くなってくる。
射影データから対象物体中の核スピンの密度分布などを
精度よく得るｉＫは、傾斜磁場として線形性の優扛たも
のが必要である。第６図（ａ）は第４図に示すコイルに
より発生する傾斜磁場の一例を示す等高線図であるが、
コイルの中心から離れるに従い、線形からのずれが大さ
くなってくる。
このような傾斜磁場を用いた場合の射影２１は第６図（
呻に示すが、周波数ｆ、の信号成分は等高線２２に対応
する対象物体２３中の核スピンからの信号の積分値とな
る。このように積分経路がわん曲している場合、あらか
じめその経路が知ら扛ていれば、射影データから元の核
スピン密度分布を再生することは可能である。例えば、
バックプロジェクション法により再生する場合、通常行
なわ扛ている直線経路ではなく、わん曲した経路にデー
タを分配すｎばよい。さて、このような積分経路全知る
には傾斜磁場分布がめら力・しめ知られていることが必
要である。１つの射影データを補正するために必要な磁
場分布データは再生画像の絵素とほぼ等しい１２８Ｘ１
２８点程度である。ところが、従来性なわｎているよう
に、直交する２つの傾斜磁場分布い、両者の合成により
回転傾斜磁場を発生させる場合、各射影角度毎に磁場分
布が変化するため、補正に必要なデータも１２８×１２
８の射影倍となる。これは２次元の場合であるが、さら
に任意の断面を得ようとすると３次元の磁場分布データ
の射影倍を必要とし、膨大なデータとなってしまう。本
発明は、互いに直交する傾斜磁場を発生する傾斜磁場発
生用コイルの各々により発生する磁場分布をあらかじめ
測定しでおき、こｎらの磁場分布を用いて任意断面の磁
場分布を計算し、補正データとして用いるものである。
呻に示すが、周波数ｆ、の信号成分は等高線２２に対応
する対象物体２３中の核スピンからの信号の積分値とな
る。このように積分経路がわん曲している場合、あらか
じめその経路が知ら扛ていれば、射影データから元の核
スピン密度分布を再生することは可能である。例えば、
バックプロジェクション法により再生する場合、通常行
なわ扛ている直線経路ではなく、わん曲した経路にデー
タを分配すｎばよい。さて、このような積分経路全知る
には傾斜磁場分布がめら力・しめ知られていることが必
要である。１つの射影データを補正するために必要な磁
場分布データは再生画像の絵素とほぼ等しい１２８Ｘ１
２８点程度である。ところが、従来性なわｎているよう
に、直交する２つの傾斜磁場分布い、両者の合成により
回転傾斜磁場を発生させる場合、各射影角度毎に磁場分
布が変化するため、補正に必要なデータも１２８×１２
８の射影倍となる。これは２次元の場合であるが、さら
に任意の断面を得ようとすると３次元の磁場分布データ
の射影倍を必要とし、膨大なデータとなってしまう。本
発明は、互いに直交する傾斜磁場を発生する傾斜磁場発
生用コイルの各々により発生する磁場分布をあらかじめ
測定しでおき、こｎらの磁場分布を用いて任意断面の磁
場分布を計算し、補正データとして用いるものである。
例えば、第７図に示すようにｘｙ断面２４を検査する場
合、Ｚ軸のまわりに傾斜磁場を回転させ射影データを取
り込む。傾斜磁場の回転はｘ、Ｘ方向の傾斜磁場Ｇ、、
Ｇアの合成により行なう。いま、ｘ、Ｘ方向の単位ベク
トル’ｋｉｎ ｊとし、Ｇ、、Ｇアを で与えると、両者の合成磁場Ｇは Ｇ＝、β１７ｐ璽百肩７Ｉ］冒ｉ・・曲（３）となり、
大きさに一定でその向きがθで変化する磁場となる。そ
こで、傾斜磁場Ｇ、、Ｇ、 全それぞれ発生する各傾斜
磁場発生コイル１５’ 、 １５”の磁場分布Ｈ，（ｘ
、ｙ）、Ｈア （ｘ、ｙ）會めらかじめ求めておけば％
Ｐ（ｘ、ｙ）における合成磁場強度Ｈ−ｙ（Ｘ、ｙ）
は次式により算出できる。
合、Ｚ軸のまわりに傾斜磁場を回転させ射影データを取
り込む。傾斜磁場の回転はｘ、Ｘ方向の傾斜磁場Ｇ、、
Ｇアの合成により行なう。いま、ｘ、Ｘ方向の単位ベク
トル’ｋｉｎ ｊとし、Ｇ、、Ｇアを で与えると、両者の合成磁場Ｇは Ｇ＝、β１７ｐ璽百肩７Ｉ］冒ｉ・・曲（３）となり、
大きさに一定でその向きがθで変化する磁場となる。そ
こで、傾斜磁場Ｇ、、Ｇ、 全それぞれ発生する各傾斜
磁場発生コイル１５’ 、 １５”の磁場分布Ｈ，（ｘ
、ｙ）、Ｈア （ｘ、ｙ）會めらかじめ求めておけば％
Ｐ（ｘ、ｙ）における合成磁場強度Ｈ−ｙ（Ｘ、ｙ）
は次式により算出できる。
ＨＩＩＦ （Ｘｓ ｙ）＝Ｈｘ（ｘｅ ｙ）ωＳθ＋Ｈ
ｙ （ｘｓ ｙ）ｓｉｎθ ・・・・・・・・・ （４
）その時の傾斜磁場は ・・・・・・・・・・・・（５） で与えられる。従って、Ｈ，（ｘ、ｙ）とＨア＜ｘ、ｙ
＞の２組だけの磁場分布により任意の射影角度に対する
傾斜磁場が算出できるのである。
ｙ （ｘｓ ｙ）ｓｉｎθ ・・・・・・・・・ （４
）その時の傾斜磁場は ・・・・・・・・・・・・（５） で与えられる。従って、Ｈ，（ｘ、ｙ）とＨア＜ｘ、ｙ
＞の２組だけの磁場分布により任意の射影角度に対する
傾斜磁場が算出できるのである。
第８図は第３図に示した磁場分布の測定装置２５のより
詳しい構造を示す。磁場分布の測定は、共鳴信号の生じ
る周波数から（１）式により求めることができる。共鳴
信号を生じる試料２６は、アーム２７の先端に収り付け
らｎており、アーム２７はアーム２８上のレールを移動
する。アーム２８はアーム２９上のレール全移動し、ア
ーム２９は台３０上のレールを移動する。従って、試料
２６はｘｅ ）’ｓ ”の任意の方向を移動することが
できる。
詳しい構造を示す。磁場分布の測定は、共鳴信号の生じ
る周波数から（１）式により求めることができる。共鳴
信号を生じる試料２６は、アーム２７の先端に収り付け
らｎており、アーム２７はアーム２８上のレールを移動
する。アーム２８はアーム２９上のレール全移動し、ア
ーム２９は台３０上のレールを移動する。従って、試料
２６はｘｅ ）’ｓ ”の任意の方向を移動することが
できる。
アームの移動は例えば第９図に示すように、パルスモー
タ３１の軸に取り付けらｎたプーリー３２によりベルト
３３ｔ−移動させ、ベルト３３に固定されたアーム３４
を移動させることにより容易に実現できる。このような
機構がアーム２７，２８゜２９に用いられる。磁場分布
の測定は、対象物体１９の検査に先立って行なわれ、測
定装置２５の試料２６を各傾斜磁場発生用コイル内に配
置し、パルスモータ３１ｔｌ−制御装置８からの命令に
より駆動して、上記試料２６を所定の平面内で間欠的に
移動させ、各位置での試料２６からの共鳴信号を検出し
、信号処理装置１４内のメモリに格納することにより、
上記所定平面上の＠場外布を測定する。
タ３１の軸に取り付けらｎたプーリー３２によりベルト
３３ｔ−移動させ、ベルト３３に固定されたアーム３４
を移動させることにより容易に実現できる。このような
機構がアーム２７，２８゜２９に用いられる。磁場分布
の測定は、対象物体１９の検査に先立って行なわれ、測
定装置２５の試料２６を各傾斜磁場発生用コイル内に配
置し、パルスモータ３１ｔｌ−制御装置８からの命令に
より駆動して、上記試料２６を所定の平面内で間欠的に
移動させ、各位置での試料２６からの共鳴信号を検出し
、信号処理装置１４内のメモリに格納することにより、
上記所定平面上の＠場外布を測定する。
例えば、磁場分布Ｈ，（ｘ、ｙ）は、Ｘ方向の傾斜磁場
発生用コイル１５′を駆動しＸ方向の傾斜磁場Ｇ０のも
とで試料２５１ｒｘ ｙ平面内で移動させることにより
、得ら扛る。
発生用コイル１５′を駆動しＸ方向の傾斜磁場Ｇ０のも
とで試料２５１ｒｘ ｙ平面内で移動させることにより
、得ら扛る。
第１０図に本発明の他の実施例の要部を示すものであり
、磁場分布の測定に、第１０図（ａ）のように複数個、
例えば１２８個の試料を１列に並べた試料３５を用いる
場合である。いｆｙ＠方向に傾斜磁場Ｇ０が印加さ扛て
いるとする。このと′＠第１θ図（ｂ）のように座標ｙ
Ｉにめる試料３５からの共鳴信号３６が得らｎｌその共
鳴周波数’ｋｆ＋とすると、（１）式よりＨＩ＝２πｆ
ｔ ／γ が求まるので、１度に１２８点の磁場分布
を知ることができる。こｎらの試料３５をＸ方向に移動
させることでＸＹ平面上のｆＢ磁場分布短時間にｙｌ１
１定でさることになる。
、磁場分布の測定に、第１０図（ａ）のように複数個、
例えば１２８個の試料を１列に並べた試料３５を用いる
場合である。いｆｙ＠方向に傾斜磁場Ｇ０が印加さ扛て
いるとする。このと′＠第１θ図（ｂ）のように座標ｙ
Ｉにめる試料３５からの共鳴信号３６が得らｎｌその共
鳴周波数’ｋｆ＋とすると、（１）式よりＨＩ＝２πｆ
ｔ ／γ が求まるので、１度に１２８点の磁場分布
を知ることができる。こｎらの試料３５をＸ方向に移動
させることでＸＹ平面上のｆＢ磁場分布短時間にｙｌ１
１定でさることになる。
以上の説明から明らかなように、ＸＹ平面に限らず任意
の面上においても Ｑ、＝Ｑｏｃｏｓα５ＩＩｌβｅｉ （）、：＝Ｇｏｓｉｎαｓｉｎβ・ｊ （）、＝ＧｏωＳβ・ｋ なる形で傾斜磁場Ｇ、、Ｇア、Ｇ、ｉ与えｆば任意の回
転磁場を発生で＠Ｊ射影データを得ることができる。こ
こで、α、βは傾斜ａ場ベクトルのｘｙ平面への射影が
Ｘ軸となす角度及び傾斜磁場ベクトルが２軸となす角度
である。’Ｅ ｆｃ、’ ｓ Ｊ ＊ｋｕｘ、ｙ、ｚ
軸の単位ベクトルである。この場合には、傾斜磁場Ｇ、
、Ｇア、Ｇ１をそｎぞｎ単独に発生させ友ときの磁場分
布をあらかじめ測定しておけばよい。
の面上においても Ｑ、＝Ｑｏｃｏｓα５ＩＩｌβｅｉ （）、：＝Ｇｏｓｉｎαｓｉｎβ・ｊ （）、＝ＧｏωＳβ・ｋ なる形で傾斜磁場Ｇ、、Ｇア、Ｇ、ｉ与えｆば任意の回
転磁場を発生で＠Ｊ射影データを得ることができる。こ
こで、α、βは傾斜ａ場ベクトルのｘｙ平面への射影が
Ｘ軸となす角度及び傾斜磁場ベクトルが２軸となす角度
である。’Ｅ ｆｃ、’ ｓ Ｊ ＊ｋｕｘ、ｙ、ｚ
軸の単位ベクトルである。この場合には、傾斜磁場Ｇ、
、Ｇア、Ｇ１をそｎぞｎ単独に発生させ友ときの磁場分
布をあらかじめ測定しておけばよい。
以上説明した如く本発明によｎは、ｘ、ｙ、ｚ方向の傾
斜磁場全発生する各コイルの磁場分布をあらかじめ測定
しておくことにより、任意の射影角度での傾斜磁場の非
直線性を容易に補正することができ、再生画像のＩｔ！
１ｌｆｔ向上に著しい効果がある。
斜磁場全発生する各コイルの磁場分布をあらかじめ測定
しておくことにより、任意の射影角度での傾斜磁場の非
直線性を容易に補正することができ、再生画像のＩｔ！
１ｌｆｔ向上に著しい効果がある。
第１図は射影データ會得るための原理を示す図、第２図
は傾斜磁場の非線形の影響を説明するための図、第３図
に本発明の一実施例を示すブロック図、第４図、第５図
は傾斜磁場発生用コイルの構造を示す図、第６図（ａ）
、 （ｂ）は傾＠磁場の等高融と射影データとの関゛係
を示す図、第７図は傾斜磁場の合成法を説明するための
図、第８図、第９図は本発明に用いられる磁場分布測定
装置の一例を説明する図、第１０図（ａ）、 （ｂ）は
出湯分布測定装置の２２ 猶 Ｉ 目 第 ２１２］ Ｙ’１３ 図 ｊ２ 第５ 図 ％ ６１Ｄ（ａ） 、１ｌＰｉ６１ｆｆｉ（ｂ）
）ＰｉＶ 図 鳩 δ 目 ６ ′ｖＪ’？ 目 ｖｉｔｏ 図 ：［
は傾斜磁場の非線形の影響を説明するための図、第３図
に本発明の一実施例を示すブロック図、第４図、第５図
は傾斜磁場発生用コイルの構造を示す図、第６図（ａ）
、 （ｂ）は傾＠磁場の等高融と射影データとの関゛係
を示す図、第７図は傾斜磁場の合成法を説明するための
図、第８図、第９図は本発明に用いられる磁場分布測定
装置の一例を説明する図、第１０図（ａ）、 （ｂ）は
出湯分布測定装置の２２ 猶 Ｉ 目 第 ２１２］ Ｙ’１３ 図 ｊ２ 第５ 図 ％ ６１Ｄ（ａ） 、１ｌＰｉ６１ｆｆｉ（ｂ）
）ＰｉＶ 図 鳩 δ 目 ６ ′ｖＪ’？ 目 ｖｉｔｏ 図 ：［
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、検査対象に静磁場、傾斜磁場及び高周波磁場の各磁
場を印加して、上記検査対象からの核磁気共鳴信号を検
出してなる核磁気共鳴を用いた検査装置において、上記
傾斜磁場を発生するコイルの磁場分布を測定する測定手
段と、該測定手段によりあらかじめ測定した互いに直交
する少なくとも２組の傾斜磁場分布から、上記検査対象
の所望の断面上の傾斜磁場分布を算出する手段を具備す
ることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 ２、上記測定手段が、試料と、該試料全所定の平面内で
移動させる移動手段とを有し、上記平面内に位置する上
記試料からの核磁気共鳴信号を検出して上記傾斜磁場分
布を測定すること全特徴とする特許請求の範囲第１項記
載の検査装置。 ３、上記試料が、−列に配列された複数の試料からなる
ことを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57022751A JPS58140630A (ja) | 1982-02-17 | 1982-02-17 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57022751A JPS58140630A (ja) | 1982-02-17 | 1982-02-17 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58140630A true JPS58140630A (ja) | 1983-08-20 |
Family
ID=12091389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57022751A Pending JPS58140630A (ja) | 1982-02-17 | 1982-02-17 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58140630A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01120816U (ja) * | 1988-02-08 | 1989-08-16 | ||
| JP2009010190A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Daihen Corp | インダクタ |
| JP2018514324A (ja) * | 2015-05-12 | 2018-06-07 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | フィールドプローブを用いた磁気共鳴検査システム |
-
1982
- 1982-02-17 JP JP57022751A patent/JPS58140630A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01120816U (ja) * | 1988-02-08 | 1989-08-16 | ||
| JPH0511848Y2 (ja) * | 1988-02-08 | 1993-03-25 | ||
| JP2009010190A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Daihen Corp | インダクタ |
| JP2018514324A (ja) * | 2015-05-12 | 2018-06-07 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | フィールドプローブを用いた磁気共鳴検査システム |
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