JPS58114773U - 回路ユニツト検査装置 - Google Patents

回路ユニツト検査装置

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JPS58114773U
JPS58114773U JP1188482U JP1188482U JPS58114773U JP S58114773 U JPS58114773 U JP S58114773U JP 1188482 U JP1188482 U JP 1188482U JP 1188482 U JP1188482 U JP 1188482U JP S58114773 U JPS58114773 U JP S58114773U
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JP
Japan
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circuit unit
output
counter
unit inspection
inspection equipment
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JP1188482U
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JPS6317018Y2 (ja
Inventor
大江　秀美
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日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案による回路ユニット検査装置の一実施例
を示す回路図、第２図ａ〜ｅは第１図の御名部動作波形
図である。 １．２・・・アンドゲート、３，４．１１・・・第１〜
第３カウンタ、５．　６．　１４−・第１〜第３Ｄ／Ａ
コンバータ、７・・・差動アンプ、８，１４・・・第１
．　第２コンパレータ、９．１３・・・可変抵抗器、１
０・・・不一致量検出部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 基準回路ユニット出力の発生期間に於けるクロックパル
    ス数をリセットパネルの各発生周期毎に順次カウントす
    る第１カウンタと、前記基準回路ユニットと同一の入力
    信号によって作動する検査回路ユニットの出力発生期間
    に於けるクロックパルス数を前記リセットパルスの発生
    周期毎に順次カウントする第２カウンタと、前記第１、
    第２カウンタのカウント出力をそれ′ぞれアナログ信号
    に□　変換する第１、第２Ｄ／Ａコンバータと、この第
    １、第２コンバータの出力差を求める差動アンプと、こ
    の差動アンプの出力値が基準値Ｖｒ、を越えた時に不良
    判別としての不二致検出信号を発生するコンパレータと
    によって構成されたことを特徴とする回路ユニット検査
    回路。
JP1188482U 1982-01-31 1982-01-31 回路ユニツト検査装置 Granted JPS58114773U (ja)

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JPS58114773U true JPS58114773U (ja) 1983-08-05
JPS6317018Y2 JPS6317018Y2 (ja) 1988-05-13

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5593074A (en) * 1979-01-08 1980-07-15 Hitachi Ltd Digtial ic tester
JPS55127281U (ja) * 1979-03-05 1980-09-09

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5593074A (en) * 1979-01-08 1980-07-15 Hitachi Ltd Digtial ic tester
JPS55127281U (ja) * 1979-03-05 1980-09-09

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JPS6317018Y2 (ja) 1988-05-13

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