JPS58104001A - 塩酸の回収方法 - Google Patents

塩酸の回収方法

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JPS58104001A
JPS58104001A JP20090081A JP20090081A JPS58104001A JP S58104001 A JPS58104001 A JP S58104001A JP 20090081 A JP20090081 A JP 20090081A JP 20090081 A JP20090081 A JP 20090081A JP S58104001 A JPS58104001 A JP S58104001A
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hydrochloric acid
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Yoshiaki Noma
野間 義昭
Koji Motomura
本村 浩次
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Tokuyama Corp
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Tokuyama Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一イオンとその他の金属イオンを含有する塩#
溶液9例えば金属酸洗後の廃塩酸溶液から、特定の2段
処理により塩酸を回収する方法に関する。
従来よ抄、軟鋼、ステンレス鋼など各種金属の表向仕上
は等の前処理として酸洗処理が行なわれてお抄、酸洗液
として一般に塩酸が多く用いられ、該塩酸は金属洗浄に
より多量の金属イオンを含み酸洗効果が低下し丸時点で
廃酸液として中和処理などにより処分される。しかし、
処分される廃酸液中には、なお高濃度の塩酸を有してい
ること、或−は酸洗工程では一般に扱う液量が多量であ
ることから、これを中和処理などによ、抄処分すること
は、多量の中和剤及びスラッジ処理設備を要するなど経
済的でなく、また省資源の面におφでも大きな損失であ
る。
そζで最近では、廃酸液中に含まれる金属イオンを除去
して塩酸を回収した後、該塩酸を再び酸洗工程へ循環さ
せ、不足分の酸だ杜を供給することが考えられているが
、そのためには、廃除液中の金属イオンを効率よく除去
することが必要である。
廃酸液中の金属イオンを除去する方法としては、イオン
交換樹脂法或いは電解析出法を用−ることにより、理論
的に可能であることは公知である。しかLl![I没後
の廃酸液のように金属イオン濃度が非常に高い溶液から
、!1.接上記方法を用い塩酸を回収する場合には多量
のイオン交換樹脂を要するとと或いは多量の電気量を必
要とするなどのため全く実用的でない。これに対して折
、l[s析法により廃酸液から塩酸を回収する方法は極
めて実用的である。該方決によれば廃酸液中の鉄、クロ
ム、ニッケル等の除去については比較的容易であり、ま
た仮に回収塩酸中にこれら金属イオンが微量混入しても
、金属の洗浄に際して問題とならない。ところが、銅イ
オンは廃#液中では鏑イオンで存在し、#Aeと同じ挙
動を示すため、拡散透析法にょつて回収塩酸中に多くリ
ークしてくる。かかる銅イオンか混入した地飯を循環さ
せ、再び酸洗液として鋼材等を酸洗した場合には該−イ
オンが鋼の表面に付層して一表面が赤味を帯び、酸洗の
効果を着しく低下させるという弊害を招く。
本発明者等は銅イオンとその他の金属イオンとを含有す
る塩酸溶液から塩酸を回収する方法につ−て鋭意研究を
重ねた結果、公知の方法を2段組合せ、特定の条件下に
処理することにより、純度の高いjjialを効率よく
回収できることを見出し、本発明を提供するに至った9
、即ち、本発明は、鉤イオンと銅イオンに対して10倍
以上のその他の金属イオンを含有する塩酸溶液を陰イオ
ン交換膜を用いた拡散透析処理により拡散液中のその他
の金−イオン濃度な銅イオン濃度に対して10倍以下に
なるように低下させた後、次いで陰イオン交換樹脂また
は電解析出により銅イオンを実質的に除去することを特
徴とした塩酸の回収方法である。
本発明の方法は、シ般に金属を塩酸で[、した後の廃塩
酸溶液で、洗浄に供する金属により一イオンとともに種
々の溶出金属イオン例えばNi、or、MO等が含まれ
、特に銅イオンと該イオンの10倍以上のその他の金−
イオンを含有塩酸溶液に適用される。その中でも特に銅
イオンと鉄イオンを含有した塩#溶液に適用される。
本発明における第1段処理では銅イオンとその他の金属
イオンが共存含有する廃塩酸溶液から、まずその他の金
属イオンを除去した#i酸液の回収を目的として拡散透
析を行なう。拡散透析法は、隔膜として陰イオン交換膜
を用い、金−イオンを含む地階水溶液と水を接触させる
尚、地階を回収する水には少量の酸又はアルカリを加え
たものも使用される。また、水は拡散¥において塩酸の
拡散により、塩酸水溶液となるが、本発明ではこれらの
液を拡散液という。
本発明に用−られる陰イオン交換膜は、公知のものか特
に制限なく使用\される。また、拡散透析処理も公知の
構造を有するものが制限なく使用されるが、通常フィル
タープレス型が好ましく用いられている。本発明におい
て特に重要なことは第1段の拡散透析法により得られる
拡散液中のその他の金−イオン濃度を制御することにあ
る。即ち、拡散透析法により回収された塩61#液中の
その他の金属イオンは銅イオン濃度に対してlO倍以下
好ましくは5倍以下にすることである。上記その他の金
属イオン濃度が銅イオンに対して10倍以上存在すると
、次の糖2段処理における銅イオンの除去が困餐となる
。例えは、第2設処理として隆イオン交換樹′脂法な用
いた場合、同一濃度の一イオンに対して鉄イオン濃度が
増加すると陰イオン交換#1脂への鉄イオンの吸着比率
が大となるため、銅イオンの吸装置が減少し、該鉄イオ
ン濃度が銅イオンに対して10倍より大きくなるとそれ
が顕著となる。また第2段処理として電解析出法を用い
た場合、一般に酸洗廃液中の鉄濃度は、2価・3価の鉄
イオンが混在しており、同一濃度の銅イオン濃度に対し
て、鉄イオン濃度が増加すると電力効率、電流効率が低
下する。なお、拡散透析処理による拡散液中の金属イオ
ン及び銅イオン濃度を#峡する方法は拡散透析への銅イ
オンと金属イオンを含有する#jl!#溶液の拡散透析
装置への供給速度の調節、或いは水の供給速度の1節等
公知の方法が用いられる。
本発明に用いる陰イオン交換樹脂は、塩基性であれは特
に制限されないが、好ましくは強塩基性イオン交換樹脂
9例えば商品名で示せは、ダウエックス2×8(米国ダ
ウケミカル社製)。
ダイアイオン5AIIA、8A10人(三菱化成工業社
製)、Duolite  A−4Lム−40(米国ダイ
アモンドジャム四ツク社鯛)、工RA−410、900
,400(ローム・アンド・ハース社製)などが好まし
く使用される。
本発明に使用される強塩基性陰イオン交換樹脂の使用−
は、金属イオンの量のみならず、該樹脂の性質1例えに
樹脂質、官能基のIk類・形路・架橋層・粒度、金鵬イ
オンの濃度、接触方式などにより異なるが、一般に吸着
されるべき金属イオンの1〜20当菫の総交換客蓋を有
する樹)lIff意か用−られる。また、陰イオン交換
樹脂の大きさは、一般に工業的に用いられている20〜
50メツシユのものが好ましく用いられるが、粒径か小
さいほど除去・効果は良好である。
接触方法はパッチ方式、カラム方式が採用されるが、一
般にはカラム方式の方がより効果的に金属イオンを除去
することができる。
また、本発明で用−られる電解析出法は通常の電解質溶
液や融解電解質などのイオン伝導体に電流を通して化学
変化をおこさせ、隘極向に金属を析出させる方法であり
、その電解槽としては公知の構造を有するものが特に制
限なく使用できる。電極につ−ても、単極式、*極式。
あるいは流動床電極のいずれも適用できるが、陥槓は、
電気伝導度が良く、電解液となる塩酸液に侵されず、且
つ酸素過電圧が小さく、耐久性を有するものでマグネタ
イト、二酸化鉛1合金被膜白金等が好ましく用φられる
。また陰極は腐食が生じないため、アルミニウム、鉄、
銅など、はとんど全ての金属材料を用いることができる
以下、本発明を史性具体的に説明するため実施例を示す
が、本発晶1は、これらの実施例に限定されるものでは
なψ。
尚、本発明における銅イオン或いは他の金植イオン濃度
の測定は、原子吸光法によ抄測定した。
実施例1 48140 fll、鉄イオン35 f//1.銅イオ
ンx、of//lを含む塩酸酸洗廃液を、フィルタープ
レス型拡散透析装置(徳山曹達■製、Ti9D−2型)
を用い、拡散透析を行なつた。
捺敵Th析槽は、有効膜…1柚2d1m″の陰イオン文
挟膜(商品名ネオセプタAIFN  徳山曹達−製)2
0枚を組み込んだ。20℃の水を拡散透析槽の上部より
360+llj/Hrで拡散室暑こ供給し、醸洗溌赦は
、拡散透析槽の下部力1ら供給した。
その結果、透析槽下部から塩ml 44 fl/l。
鉄イオン51f/1.−イオン0.85f/AIの争 拡散液を回収した。
次いで、この拡散液を強塩基性陰イオン交換樹脂のアン
バーライトエRA−410Cロームアンドハース社鯛)
40−を充填した内径20MNのガラス管に流速3 Q
 st/ Hrで通した時、流出液400−までは塩酸
140 fl/1.鉄イオンlk虫4.sf/l以下、
−イオン濃度0.1fXj以下の水溶液が得られた。
実施例2 実施例1において得られた拡散液200−をたて12(
m、117c+aのアクリル樹脂製容!i1・こ入れ、
陽極に白金メッキしたチタン板、陰極畳こ鉄板を用−、
ボテンシ冒スタットを用いて陰極の電位を一〇、 3 
Vから一05vに股安し、6時間通電した。
その結果、銅0.17 flが電着し、溶液の濃度は塩
酸110 fl/1.鉄イt>59/1.銅イオン0.
1f/lとな)た。
比較例1 塩*128f/l、鉄イオン140 f//l。
銅イオンx、ol/lを含む塩酸酸洗廃液を実施例1と
同様な条件で拡散透析処理を行い、塩酸1551/II
鉄イオン16゜89/1.銅イオン0.84f//lの
拡散液を回収した。
次いで、この拡散液を実施例1と同様な条件下で蔭イオ
ン交挾樹脂を通した。その結果、流出液10011+1
tまでは嗣イオン濃度が01(1/11以下でありなか
、流出液200−の時には銅イオン#良が0.61/l
となった。
比1例2 比較例1と同様な条件で回収した拡散液を、実施例2と
同様な条件で10時間通電した。その結果、銅O1gが
電着し、溶液の濃度は塩酸110 f/l、鉄イオン5
 fl/l、鍋イオン0.91/lとなった。
実施例3 塩Ml 401/1.銅イオン1.01/lで、鉄イオ
ン濃度が140 f//lの廃酸液を実施例1と同様な
拡散透析槽を用い、水と廃酸液の供給速度を変えること
により、第1表に示す鉄イオン/&イオンの濃度の拡散
回収液を得た。
次いで、これら各々の回収液を実施例2と同一の樹脂塔
に流速30d/Hrで通した。その結果を第1表に示し
た。
第1表 実施例4 鉄イオン濃度が異なる4楓類の廃塩酸を実施例1と同条
件下で波数透析を行ない、それぞれ第2表のI61〜4
に示す鉄イオン濃度と銅イオン濃度および塩酸濃度12
0f//lの拡散液を回収した。
次いで、上記の回収液200dをそれぞれ実施例2と同
一の条件下で6時間の通電処理を行なψ、第2表に示す
銅イオン濃度を含有する塩酸液を得た。 − 第2表において、A3へA4は実施例に相当し、A1へ
A2は比較例に相当する。
第2表

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)銅イオンと鉤イオンに対して10倍以上のその他の
    金属イオンを含有する塩酸溶液を陰イオン交換層を用−
    た拡散透析処理により、拡散液中のその他の金属イオン
    濃度な銅イオン濃度に対して10倍以下になるように低
    下させた後、次いT陰イオン交換樹脂または電解析出に
    より銅イオンを実質的に除去することを特徴とした塩酸
    の回収方法。 2)その他の金属イオンが鉄である特許請求の範囲第1
    XJl記載の塩酸の回収方法 3)金属の酸洗後の廃塩酸を処理する特許請求の範囲第
    1XJ記龜の塩酸の回収方法
JP20090081A 1981-12-15 1981-12-15 塩酸の回収方法 Granted JPS58104001A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016138017A (ja) * 2015-01-28 2016-08-04 信越化学工業株式会社 高純度塩酸の製造方法及び製造装置
CN113401872A (zh) * 2021-06-10 2021-09-17 江阴润玛电子材料股份有限公司 一种集成电路用盐酸的生产工艺

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JP2016138017A (ja) * 2015-01-28 2016-08-04 信越化学工業株式会社 高純度塩酸の製造方法及び製造装置
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