JPH1183424A - 光学式距離センサ - Google Patents

光学式距離センサ

Info

Publication number
JPH1183424A
JPH1183424A JP23825497A JP23825497A JPH1183424A JP H1183424 A JPH1183424 A JP H1183424A JP 23825497 A JP23825497 A JP 23825497A JP 23825497 A JP23825497 A JP 23825497A JP H1183424 A JPH1183424 A JP H1183424A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
projecting
receiving
sensor
optical axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23825497A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukio Kano
幸雄 狩野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokai Rika Co Ltd
Original Assignee
Tokai Rika Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokai Rika Co Ltd filed Critical Tokai Rika Co Ltd
Priority to JP23825497A priority Critical patent/JPH1183424A/ja
Publication of JPH1183424A publication Critical patent/JPH1183424A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定対象面での正反射光の受光に基づいて当
該測定対象面までの距離を検出する構成において、大き
な測定範囲を設定する。 【解決手段】 センサヘッド1には投光用半導体レーザ
4及び受光用センサ7が所定距離離間した状態で配置さ
れている。投光用半導体レーザ4の光軸上には投光用ス
キャナ6が配置され、受光用センサ7の光軸上には受光
用スキャナ9が配置されている。投光用スキャナ6及び
受光用スキャナ9は発振器21からの信号に応じて同期
した状態で互いに反対方向に振動する。センサヘッド1
に測定対象面10が正対した状態でのみ、投光用半導体
レーザ4からのレーザ光は、投光用スキャナ6、測定対
象面10、受光用スキャナ9で正反射して受光用センサ
7の中央に入光する。この場合、レーザ光が通過する光
軸がなす二等辺三角形に基づいて測定対象面10までの
距離を求めることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、正反射光により測
定対象面までの距離を測定する光学式距離センサに関す
る。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】従来より、光学式距離
センサとして三角測量式のものが供されている。このも
のは、測定対象面に照射したスポット光を受光センサで
受光するもので、スポット光の受光位置を検出すること
により、三角測量式の原理で測定対象面までの距離を求
めるようにしている。
【0003】ところが、三角測量式のものでは次のよう
な欠点がある。 測定対象面が鏡面の場合には、受光センサへの乱反射
光がないため、乱反射光による測定が不可能となる。 測定対象面が透明または半透明の樹脂などの場合は、
レーザ光が樹脂内部へ透過して乱反射光を得られなかっ
たり、樹脂の内部でレーザ光が乱反射してしまって樹脂
表面までの正確な距離測定ができない。
【0004】そこで、測定対象面に光を斜めに照射し、
その正反射光を受光して距離を測定する正反射光受光タ
イプの光学式距離センサが供されている。しかしなが
ら、この種の光学式距離センサは、正反射光を例えば1
次元のラインセンサ上に集光させることにより測定対象
面までの距離を測定する構成であるので、測定範囲が数
mm以下と非常に狭いという欠点がある。
【0005】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、測定対象面での正反射光の受光に基づ
いて当該測定対象面までの距離を検出する構成におい
て、大きな測定範囲を設定することができる光学式距離
センサを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、センサ本体の
前面に正対する測定対象面までの距離を測定する光学式
距離センサにおいて、上記センサ本体に、以下の要件を
備えたものである。
【0007】A.前記センサ本体の前方に向けて投光す
る投光手段、B.前記投光手段と所定距離離間して配置
され当該投光手段の光軸と平行な光軸に沿った光を受光
する受光手段、C.前記投光手段の光軸上に配置され前
記投光手段からの光を前記測定対象面に斜め方向から照
射する投光用反射手段、D.前記受光手段の光軸上に配
置され前記測定対象面で反射した光を前記受光手段側に
反射する受光用反射手段、E.前記投光手段からの光を
前記投光用反射手段で反射して前記測定対象面に照射す
ると共に、当該測定対象面で反射した前記投光手段から
の光が前記受光手段に入光するように前記投光用反射手
段及び受光用反射手段の角度を調整する制御手段、F.
前記投光用反射手段及び受光用反射手段の角度に基づい
て前記測定対象面までの距離を求める演算手段。
【0008】このような構成によれば、投光手段がセン
サ本体の前方に向けて投光すると、その光は投光手段の
光軸上に位置する投光用反射手段で反射されて測定対象
面に斜め方向に照射されると共に、測定対象面で反射し
た光は受光用反射手段により受光手段側に反射される。
【0009】このとき、制御手段は、測定対象面での反
射光が受光用反射手段で反射して受光手段に入光するよ
うに投光用反射手段及び受光用反射手段の角度を制御す
るので、演算手段は、受光手段の受光状態では、投光用
反射手段及び受光用反射手段の配置関係並びにそれらの
角度に基づいて測定対象面までの距離を求めることがで
きる。
【0010】上記構成において、前記投光用反射手段及
び受光用反射手段は、前記投光手段の光軸と前記受光手
段の光軸との間の中心線に対して対称関係となるように
配置され、前記制御手段は、前記受光手段が受光するよ
うに前記投光用反射手段及び受光用反射手段を同期させ
ながら互いに反対方向に回転し、前記演算手段は、前記
制御手段による前記投光用反射手段及び受光用反射手段
に対する角度調整終了状態で前記測定対象面までの距離
を求めるようにしてもよい(請求項2)。
【0011】このような構成によれば、投光用反射手段
び受光用反射手段を回転同期させながら互いに反対方向
に回転させた状態で受光手段が受光状態となったとき
は、投光用反射手段、測定対象面及び受光用反射手段は
二等辺三角形をなすので、その二等辺三角形の形状に基
づいて測定対象面までの距離を求めることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
(第1実施例)以下、本発明の第1実施例を図1乃至図
6を参照して説明する。全体の構成を概略的に示す図1
において、このセンサヘッド1(センサ本体に相当)内
には投光手段2及び受光手段3が所定距離離間して配置
されており、それらの光軸は平行に設定されている。
【0013】投光手段2は、投光用半導体レーザ4の光
軸上にコリメータレンズ5を配置して構成されており、
投光用半導体レーザ4からのレーザ光がコリメータレン
ズ5により平行なレーザ光に変換される。
【0014】また、投光手段2の光軸上には投光用スキ
ャナ6(投光用反射手段に相当)が配置されている。こ
の投光用スキャナ6は、投光手段2からの平行なレーザ
光をセンサ本体1の前面に対して斜め方向に反射するも
ので、投光用スキャナ6により反射されたレーザ光は測
定範囲の中央付近でピントが合うように設定されてい
る。
【0015】受光手段3は、受光用センサ7の光軸上に
受光レンズ8を配置して構成されており、受光レンズ8
により計測範囲内にある測定物上のレーザスポットが受
光センサ7上に結象される。この場合、受光用センサ7
は二分割センサまたは四分割センサ(図2参照)などの
光電センサであり、レーザ光の結像中心位置を検出する
ようになっている。
【0016】受光手段3の光軸上には受光用スキャナ9
(受光用反射手段に相当)が配置されている。この受光
用スキャナ9は、計測範囲内に位置する鏡面状の測定対
象面10で正反射した光を受光用センサ9に入光させる
ためのものである。ここで、上記投光用スキャナ6及び
受光用スキャナ9は同期した状態で互いに反対方向に振
動するようになっている。
【0017】一方、センサヘッド1にはモニタ手段11
が設けられている。このモニタ手段11の光軸は、投光
手段2の光軸と受光手段3の光軸との中間に位置してそ
れらの光軸と平行に設定されている。
【0018】モニタ手段11において、モニタ用半導体
レーザ12の光軸上にはコリメータレンズ13が配置さ
れており、モニタ用半導体レーザ12からのレーザ光は
コリメータレンズ13により平行なレーザ光に変換され
る。
【0019】モニタ用半導体レーザ12の光軸上にはビ
ームスプリッタ14が配置されている。このビームスプ
リッタ14はハーフミラーからなり、通過する光のうち
50%通過させると共に、残りの50%の光を直交方向
に反射する。
【0020】ビームスプリッタ14の直交した光軸上に
はモニタ用受光レンズ15及びモニタ用センサ16が配
置されている。モニタ用受光レンズ15は、ビームスプ
リッタ14で反射した測定対象面10上のモニタ用スポ
ット光をモニタ用センサ16上に結像させる。
【0021】モニタ用センサ16は、二分割センサまた
は四分割センサなどの光電センサであり、モニタ用レー
ザ光の結像中心位置を検出するようになっている。尚、
上記構成のセンサヘッド1は図示しない親機により任意
の姿勢に調整可能となっている。
【0022】次に上記センサヘッド1に接続される制御
装置について説明する。CPU17(制御手段、演算手
段に相当)は、ROM18(EPROM、EEPRO
M)に記憶されたプログラムに基づきスイッチ19に対
する操作に応じて動作するもので、その動作中にワーキ
ングデータをRAM20に記憶する。
【0023】また、CPU17は、発振器21を駆動す
る。この発振器21は、三角波信号あるいはサイン波信
号を発生するもので、その信号に応じてスキャナドライ
バ22が投光用スキャナ6及び受光用スキャナ9を同期
した状態で互いに反対方向に振動させる。
【0024】また、CPU17は、アナログインタフェ
ース23を通じてゼロクロスディテクタ24,25から
の判断結果を入力する。この場合、ゼロクロスディテク
タ24は、受光用センサ7の中央に反射光が結像してい
るかを判断する。また、ゼロクロスディテクタ25は、
モニタ用センサ15の中央に反射光が結像しているかを
判断する。
【0025】そして、CPU17は、ゼロクロスディテ
クタ24,25の判断結果に基づいて所定の演算を実行
することにより距離測定を実行して表示器26に測定距
離などを表示する。
【0026】次に上記構成の作用について説明する。ス
イッチ19内のスタートスイッチをオンすると、モニタ
用半導体レーザ12からレーザ光が照射される。このレ
ーザ光はコリメータレンズ13で平行なレーザ光に変換
されてから、測定用対象面10に照射される。このと
き、測定用対象面10は鏡面であることから、測定対象
面10に照射されたレーザ光は正反射される。
【0027】従って、図4に示すようにセンサヘッド1
に対して測定対象面10が傾いている場合は、測定対象
面10で反射したレーザ光は投光軸上を戻らず、モニタ
用センサ16の中央で受光されることはない。
【0028】ここで、ゼロクロスディテクタ25はモニ
タ用センサ16による受光位置が中央か否かを検出して
おり、その検出結果をアナログインタフェース23を通
じてCPU17に出力する。従って、CPU17は、ゼ
ロクロスディテクタ25による検出結果に基づいて図示
しない親機によりセンサヘッド1が測定対象面10に正
対するようにその姿勢を制御する。
【0029】そして、親機によるセンサヘッド1に対す
る姿勢制御により、図5に示すようにセンサヘッド1に
測定対象面10が正対すると、測定対象面10で反射し
たレーザ光がモニタ用半導体レーザ12の投光軸上を戻
り、ビームスプリッタ14で反射することによりモニタ
用センサ16の中央で結像するようになる。
【0030】すると、ゼロクロスディテクタ25がその
ことを検出してCPU17に知らせるので、そのことに
基づいてCPU17は親機に対する制御をストップす
る。以上の動作の結果、センサヘッド1に測定対象面1
0が正対する関係が成立する。
【0031】続いて、CPU17は、測定用レーザ半導
体4を駆動した状態で発振器21を駆動する。これによ
り、発振器21から出力される三角波信号またはサイン
波信号に応じてスキャナドライバ22を介して投光用ス
キャナ6及び受光用スキャナ9は同期した状態で互いに
反対方向に振動する。
【0032】ここで、投光用半導体レーザ4からのレー
ザ光が投光用スキャナ6、測定対象面10及び受光用ス
キャナ9で順に反射して最終的に受光用センサ7の中央
に結像する条件としては、投光用半導体レーザ4から投
光用スキャナ6で正反射して測定対象面10に到達する
光軸と、当該測定対象面10で正反射した光が受光用ス
キャナ9で正反射して受光用センサ7に到達する光軸と
がモニタ用半導体レーザ12の光軸を中心線とする光学
的対象関係が成立する必要がある。つまり、図5及び図
6に示すように、投光用スキャナ6による反射光がモニ
タ用半導体レーザ12の光軸と測定対象面10との交点
に照射される関係となったときに光学的対象関係が成立
する。
【0033】この光学的対象関係が成立した状態では、
d=r・tan θが成立する。この場合、dは測定対象距
離であり、厳密には、図5及び図6に示す二等辺三角形
(投光用スキャナ6、測定対象面10、受光用スキャナ
9を結んで形成される)の高さ寸法に相当し、θは二等
辺三角形の内角に相当する。従って、CPU17は、上
述の演算式に基づいて測定対象面10までの距離を測定
することができるので、その距離を表示器26に表示す
る。
【0034】上記構成のものによれば、モニタ手段11
による検出結果に基づいてセンサヘッド1に測定対象面
10が正対していることを検出した状態で、受光用セン
サ7が受光したタイミングにおける投光用スキャナ6ま
たは受光用スキャナ7の回転角度に基づいて測定対象面
10までの距離を測定するようにしたので、投光用スキ
ャナ6及び受光用スキャナ7の協調動作により広い角度
にわたって測定対象面10で反射したレーザ光を受光セ
ンサ7により受光することができる。従って、測定対象
面10による正反射光を一次元のラインセンサで検出す
る従来構成のものと違って、大きな測定可能範囲を設定
することができる。
【0035】また、センサヘッド1に測定対象面10が
正対しているかをモニタする機能をセンサヘッド1に一
体に設けたので、センサヘッド1のセッティングを簡単
に行うことができる。
【0036】さらに、測定対象面10においてセンサヘ
ッド1に対向したことを判定するためのモニタ位置と距
離を測定するための測定位置とを一致させるようにした
ので、測定対象面10が平面でない場合であっても当該
測定対象物10までの距離を確実に測定することができ
る。
【0037】(第2実施例)図7は本発明の第2実施例
を示しており、第1実施例と同一部分には同一符号を付
して説明を省略する。この第2実施例は、投光手段2に
モニタ手段11の機能を兼用したことに特徴を有する。
【0038】即ち、投光用半導体レーザ4の光軸上には
ビームスプリッタ27が配置されている。このビームス
プリッタ27は投光用半導体レーザ4からのレーザ光を
50%透過すると共に50%を直交方向に反射する。
【0039】ビームスプリッタ27の直交方向の光軸上
にはミラー28が配置されている。このミラー28はビ
ームスプリッタ27により直交方向に反射されたレーザ
光をビームスプリッタ14を介してセンサヘッド1の前
方に照射する。
【0040】ここで、投光用半導体レーザ4からのレー
ザ光は投光用スキャナ6により反射される一方で、ビー
ムスプリッタ27により直交方向に反射されてからミラ
ー28により直交方向に反射されることにより測定対象
面10に照射される。
【0041】この場合、センサヘッド1に測定対象面1
0が正対したときのみ測定対象面10で反射したレーザ
光がモニタ用センサ16の中央に結像するので、投光用
半導体レーザ4からのレーザ光をモニタ用レーザ光とし
て兼用することができる。
【0042】この第2実施例の場合、投光用半導体レー
ザ4を本来の測定用として使用するのに加えてモニタ用
としても使用するようにしたので、第1実施例と同様な
作用効果を奏しながら、全体構成の簡単化を図ることが
できる。
【0043】本発明は、上記実施例にのみ限定されるも
のではなく、次のように変形または拡張できる。ビーム
スプリッタ14の代わりに、偏向ビームスプリッタを設
けると共に、当該偏向ビームスプリッタの前面に1/4
波長板を設けるようにしてもよい。この場合、測定対象
面10で正反射したレーザ光の大部分を偏向ビームスプ
リッタにより直交方向に反射することができるので、モ
ニタ手段11の受光精度を高めることができる。モニタ
用半導体レーザ12の配置位置としては、投光用半導体
レーザ4及び受光用センサ7の中間位置に設定する必要
はない。
【0044】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の光学式距離センサによれば、投光手段から照射されて
測定対象面で反射した光を受光手段が受光した際の反射
手段の角度に基づいて測定対象面までの距離を測定する
ようにしたので、大きな測定範囲を得ることができると
いう優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例における全体構成を示す概
略図
【図2】スポット光の受光状態で示す受光用センサの模
式図
【図3】制御装置の動作を示すフローチャート
【図4】測定対象面が正対しない状態で示すセンサヘッ
ドの概略図
【図5】近接した測定対象面の測定状態を示すセンサヘ
ッドの概略図
【図6】離れた測定対象面の測定状態を示すセンサヘッ
ドの概略図
【図7】本発明の第2実施例を示す図1相当図
【符号の説明】
1はセンサヘッド(センサ本体)、2は投光手段、3は
受光手段、4は投光用半導体レーザ、6は投光用スキャ
ナ(投光用反射手段)、7は受光用センサ、9は受光用
スキャナ(受光用反射手段)、10は測定対象面、11
はモニタ手段、12はモニタ用半導体レーザ、16はモ
ニタ用センサ、17はCPU(制御手段、演算手段)で
ある。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 センサ本体の前面に正対する測定対象面
    までの距離を測定する光学式距離センサにおいて、上記
    センサ本体に、以下の要件を備えたことを特徴とする光
    学式距離センサ。 A.前記センサ本体の前方に向けて投光する投光手段 B.前記投光手段と所定距離離間して配置され当該投光
    手段の光軸と平行な光軸に沿った光を受光する受光手段 C.前記投光手段の光軸上に配置され前記投光手段から
    の光を前記測定対象面に斜め方向から照射する投光用反
    射手段 D.前記受光手段の光軸上に配置され前記測定対象面で
    反射した光を前記受光手段側に反射する受光用反射手段 E.前記投光手段からの光を前記投光用反射手段で反射
    して前記測定対象面に照射すると共に、当該測定対象面
    で反射した前記投光手段からの光が前記受光手段に入光
    するように前記投光用反射手段及び受光用反射手段の角
    度を調整する制御手段 F.前記投光用反射手段及び受光用反射手段の角度に基
    づいて前記測定対象面までの距離を求める演算手段
  2. 【請求項2】 前記投光用反射手段及び受光用反射手段
    は、前記投光手段の光軸と前記受光手段の光軸との間の
    中心線に対して対称関係となるように配置され、 前記制御手段は、前記受光手段が受光するように前記投
    光用反射手段及び受光用反射手段を同期させながら互い
    に反対方向に回転し、 前記演算手段は、前記制御手段による前記投光用反射手
    段及び受光用反射手段に対する角度調整終了状態で前記
    測定対象面までの距離を求めることを特徴とする請求項
    1記載の光学式距離センサ。
JP23825497A 1997-09-03 1997-09-03 光学式距離センサ Pending JPH1183424A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23825497A JPH1183424A (ja) 1997-09-03 1997-09-03 光学式距離センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23825497A JPH1183424A (ja) 1997-09-03 1997-09-03 光学式距離センサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1183424A true JPH1183424A (ja) 1999-03-26

Family

ID=17027452

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23825497A Pending JPH1183424A (ja) 1997-09-03 1997-09-03 光学式距離センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1183424A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020003451A (ja) * 2018-07-02 2020-01-09 パイオニア株式会社 走査装置、走査装置の駆動方法、プログラム及び記録媒体並びに測距装置
CN116879911A (zh) * 2023-09-06 2023-10-13 成都量芯集成科技有限公司 一种提高激光测距距离的装置及其实现方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020003451A (ja) * 2018-07-02 2020-01-09 パイオニア株式会社 走査装置、走査装置の駆動方法、プログラム及び記録媒体並びに測距装置
CN116879911A (zh) * 2023-09-06 2023-10-13 成都量芯集成科技有限公司 一种提高激光测距距离的装置及其实现方法
CN116879911B (zh) * 2023-09-06 2023-12-05 成都量芯集成科技有限公司 一种提高激光测距距离的装置及其实现方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5016245B2 (ja) 物体の六つの自由度を求めるための測定システム
US7161664B2 (en) Apparatus and method for optical determination of intermediate distances
JPS60127403A (ja) 厚み測定装置
US4411528A (en) Optical displacement and contour measuring
JPS6249562B2 (ja)
JPH1183424A (ja) 光学式距離センサ
JPH0914935A (ja) 3次元物体の測定装置
JPH1183425A (ja) 光学式距離センサ
TWI472801B (zh) 一種用於互動介面之三維資訊產生裝置與三維資訊產生方法
JPH11230699A (ja) 弾丸の標的到達位置計測装置
JP4442843B2 (ja) 被検レンズの屈折率測定装置
JPH0954158A (ja) 広角光波距離測定装置
JPH0344504A (ja) 表面三次元形状測定方法及びその装置
JP2000162307A (ja) 原子炉容器点検ロボットの位置標定用レーザ追尾装置
JPH0357914A (ja) 光学式プローブ
JPH08219733A (ja) 三次元スキャナ
JPH04130239A (ja) 動的面出入り測定装置
JPH0611341A (ja) 光学式距離測定装置
JPH03115915A (ja) 厚み測定装置
JPH09113234A (ja) 2次元形状計測センサー
JPH02276908A (ja) 三次元位置認識装置
JP2001174240A (ja) 平面度測定方法および装置
JPH06249648A (ja) 変位計
JPH0814891A (ja) 対象反射体検出装置
JPH09229637A (ja) 光学式距離計測装置