JPH1151854A - 分光分析装置 - Google Patents
分光分析装置Info
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- JPH1151854A JPH1151854A JP21440997A JP21440997A JPH1151854A JP H1151854 A JPH1151854 A JP H1151854A JP 21440997 A JP21440997 A JP 21440997A JP 21440997 A JP21440997 A JP 21440997A JP H1151854 A JPH1151854 A JP H1151854A
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- light
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- analysis
- spectroscopic
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
- G01N2021/151—Gas blown
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 塵埃の多い場所でも耐久性及び分析精度に影
響を受けずに使用することができる分光分析装置を提供
する。 【解決手段】 光源部１からの測定用光線を分析対象物
に照射し、且つ、分析対象物からの反射光又は透過光を
受光するように構成された検出部３と、その検出部３が
受光した光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペ
クトルに基づいて、分析対象物に含まれる成分を分析す
る分光分析部Ａが設けられた分光分析装置において、光
源部１及び分光分析部Ａを囲む囲い部Ｐと、その囲い部
Ｐの内部の圧力が外部よりも高くなるように、除塵手段
Ｆにて塵埃が除去される状態で気体を内部に供給すると
ともに、内部の気体を排出する通気手段Ｔが設けられ、
分光分析部Ａに対して分析開始を指令する指令手段１
１、及び、検出部３が囲い部Ｐの外部に設けられてい
る。
響を受けずに使用することができる分光分析装置を提供
する。 【解決手段】 光源部１からの測定用光線を分析対象物
に照射し、且つ、分析対象物からの反射光又は透過光を
受光するように構成された検出部３と、その検出部３が
受光した光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペ
クトルに基づいて、分析対象物に含まれる成分を分析す
る分光分析部Ａが設けられた分光分析装置において、光
源部１及び分光分析部Ａを囲む囲い部Ｐと、その囲い部
Ｐの内部の圧力が外部よりも高くなるように、除塵手段
Ｆにて塵埃が除去される状態で気体を内部に供給すると
ともに、内部の気体を排出する通気手段Ｔが設けられ、
分光分析部Ａに対して分析開始を指令する指令手段１
１、及び、検出部３が囲い部Ｐの外部に設けられてい
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光源部からの測定
用光線を分析対象物に照射し、且つ、分析対象物からの
反射光又は透過光を受光するように構成された検出部
と、その検出部が受光した光の分光スペクトルを得て、
得られた分光スペクトルに基づいて、分析対象物に含ま
れる成分を分析する分光分析部が設けられた分光分析装
置に関する。
用光線を分析対象物に照射し、且つ、分析対象物からの
反射光又は透過光を受光するように構成された検出部
と、その検出部が受光した光の分光スペクトルを得て、
得られた分光スペクトルに基づいて、分析対象物に含ま
れる成分を分析する分光分析部が設けられた分光分析装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】かかる分光分析装置において、従来は、
特に防塵対策が施されていなかった。
特に防塵対策が施されていなかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、かかる分光
分析装置は、光源部や分光分析部に塵埃が入り込むと塵
埃に影響されて分光スペクトルが変化して分析精度が低
下する虞があり、又、マイクロコンピュータを中心とし
た精密部品で構成されているため、塵埃の多い雰囲気に
曝されるのを防止する必要がある。従って、従来の分光
分析装置は、塵埃の少ない場所で使用する必要があり、
使用場所に制限があるため、使い勝手が悪く改善が望ま
れていた。
分析装置は、光源部や分光分析部に塵埃が入り込むと塵
埃に影響されて分光スペクトルが変化して分析精度が低
下する虞があり、又、マイクロコンピュータを中心とし
た精密部品で構成されているため、塵埃の多い雰囲気に
曝されるのを防止する必要がある。従って、従来の分光
分析装置は、塵埃の少ない場所で使用する必要があり、
使用場所に制限があるため、使い勝手が悪く改善が望ま
れていた。
【０００４】本発明は、かかる実情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、塵埃の多い場所でも耐久性及び
分析精度に影響を受けずに使用することができる分光分
析装置を提供することにある。
のであり、その目的は、塵埃の多い場所でも耐久性及び
分析精度に影響を受けずに使用することができる分光分
析装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の特徴構
成によれば、光源部及び分光分析部を囲む囲い部の内部
は、除塵手段にて除塵された気体が外部よりも圧力が高
くなる状態で充満していて、内部に外部の雰囲気が入り
込むのが阻止される。それによって、光源部及び分光分
析部の周囲の雰囲気は、塵埃の少ない雰囲気に維持する
ことができる。又、検出部及び指令手段は、囲い部の外
部に設けられているので、分析対象物を検出部に対して
分析のための所定の位置に配置したり、指令手段にて分
析開始を指令したりする作業の操作性が低下することが
ない。従って、塵埃の多い場所でも耐久性及び分析精度
に影響を受けず、しかも操作性が低下することなく使用
することができる分光分析装置を提供することができる
ようになった。
成によれば、光源部及び分光分析部を囲む囲い部の内部
は、除塵手段にて除塵された気体が外部よりも圧力が高
くなる状態で充満していて、内部に外部の雰囲気が入り
込むのが阻止される。それによって、光源部及び分光分
析部の周囲の雰囲気は、塵埃の少ない雰囲気に維持する
ことができる。又、検出部及び指令手段は、囲い部の外
部に設けられているので、分析対象物を検出部に対して
分析のための所定の位置に配置したり、指令手段にて分
析開始を指令したりする作業の操作性が低下することが
ない。従って、塵埃の多い場所でも耐久性及び分析精度
に影響を受けず、しかも操作性が低下することなく使用
することができる分光分析装置を提供することができる
ようになった。
【０００６】請求項２に記載の特徴構成によれば、光源
部を冷却するために元々設けられている冷却ファンの通
流気体が、囲い部の外部に排出されるように構成すると
ともに、給気ファンを、除塵手段にて除塵される状態で
気体を囲い部内に供給するように設け、並びに、給気フ
ァンによる単位時間当たりの気体の供給量が、冷却ファ
ンによる単位時間当たりの気体の供給量よりも大になる
ように構成して、囲い部の内部に、除塵手段にて除塵さ
れた気体が外部よりも圧力が高くなる状態で充満するよ
うにしてある。更に、給気ファンにより供給された気体
の一部が、冷却ファンによる気流に導かれて光源部を通
流することになるので、光源部を通流する気体の通気量
が増大する。従って、元々設けられている冷却ファンを
利用して、通気手段を構成しながら、更に、光源部の冷
却能力が向上するという効果を奏することができる。
部を冷却するために元々設けられている冷却ファンの通
流気体が、囲い部の外部に排出されるように構成すると
ともに、給気ファンを、除塵手段にて除塵される状態で
気体を囲い部内に供給するように設け、並びに、給気フ
ァンによる単位時間当たりの気体の供給量が、冷却ファ
ンによる単位時間当たりの気体の供給量よりも大になる
ように構成して、囲い部の内部に、除塵手段にて除塵さ
れた気体が外部よりも圧力が高くなる状態で充満するよ
うにしてある。更に、給気ファンにより供給された気体
の一部が、冷却ファンによる気流に導かれて光源部を通
流することになるので、光源部を通流する気体の通気量
が増大する。従って、元々設けられている冷却ファンを
利用して、通気手段を構成しながら、更に、光源部の冷
却能力が向上するという効果を奏することができる。
【０００７】請求項３に記載の特徴構成によれば、分析
結果を表示する表示手段が囲い部の内部に設けられてい
るが、囲い部の外部から、囲い部に設けられた透明部分
を通して、表示手段の表示情報を視認することができ
る。従って、精密部品で構成されている表示手段の耐久
性が塵埃により影響を受けるのを防止しながら、表示手
段の表示情報を視認するための操作性が低下するのを防
止することができる。
結果を表示する表示手段が囲い部の内部に設けられてい
るが、囲い部の外部から、囲い部に設けられた透明部分
を通して、表示手段の表示情報を視認することができ
る。従って、精密部品で構成されている表示手段の耐久
性が塵埃により影響を受けるのを防止しながら、表示手
段の表示情報を視認するための操作性が低下するのを防
止することができる。
【０００８】請求項４に記載の特徴構成によれば、分光
分析部が、青果物を分析対象物として、青果物に含まれ
る成分を分析するように構成されている。つまり、かか
る分光分析装置は、青果物の成分分析用に使用される場
合があり、例えば、青果物の生産者組合等において、青
果物の選別のために使用される場合があるが、青果物に
は土埃が付着しているものが多い。従って、本発明は、
青果物を分析対象物とする分光分析装置に適用すると、
好適である。
分析部が、青果物を分析対象物として、青果物に含まれ
る成分を分析するように構成されている。つまり、かか
る分光分析装置は、青果物の成分分析用に使用される場
合があり、例えば、青果物の生産者組合等において、青
果物の選別のために使用される場合があるが、青果物に
は土埃が付着しているものが多い。従って、本発明は、
青果物を分析対象物とする分光分析装置に適用すると、
好適である。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて、本発明の
実施の形態を説明する。図１に示すように、分光分析装
置は、本体部Ｍ、制御部Ｃ、及び、光源部１からの測定
用光線を分析対象物に照射し且つ分析対象物からの反射
光を受光するように構成された検出部としての投受光ア
ダプタ３を夫々別体にて備えるとともに、本体部Ｍ及び
制御部Ｃを載置するラックＲを備えて構成してある。
尚、図１の（イ）は、後述する囲い部Ｐを取り外した状
態を示し、（ロ）は、囲い部Ｐを取り付けた状態を示
す。
実施の形態を説明する。図１に示すように、分光分析装
置は、本体部Ｍ、制御部Ｃ、及び、光源部１からの測定
用光線を分析対象物に照射し且つ分析対象物からの反射
光を受光するように構成された検出部としての投受光ア
ダプタ３を夫々別体にて備えるとともに、本体部Ｍ及び
制御部Ｃを載置するラックＲを備えて構成してある。
尚、図１の（イ）は、後述する囲い部Ｐを取り外した状
態を示し、（ロ）は、囲い部Ｐを取り付けた状態を示
す。
【００１０】図２にも示すように、本体部Ｍは、ケーシ
ング９内に、投受光アダプタ３が受光した光の分光スペ
クトルを得る分光部４、光源部１、及び、その光源部１
に冷却用の空気を通流させる冷却ファン１０等を設けて
構成してあり、冷却ファン１０は、その吐出部をケーシ
ング９の排気用開口部９ａに合わせて設けてある。ケー
シング９には、通気用のスリット９ｂを形成してある。
ング９内に、投受光アダプタ３が受光した光の分光スペ
クトルを得る分光部４、光源部１、及び、その光源部１
に冷却用の空気を通流させる冷却ファン１０等を設けて
構成してあり、冷却ファン１０は、その吐出部をケーシ
ング９の排気用開口部９ａに合わせて設けてある。ケー
シング９には、通気用のスリット９ｂを形成してある。
【００１１】図１に示すように、制御部Ｃは、分光部４
にて得られた分光スペクトルに基づいて分析対象物に含
まれる成分を分析する処理部５、その処理部５の分析結
果を表示出力する表示手段としての液晶ディスプレイ
７、及び、分析条件等を設定するキーボード８を一体ユ
ニット状に組み付けて構成してある。つまり、分光部４
及び処理部５にて、投受光アダプタ３が受光した光の分
光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づい
て分析対象物に含まれる成分を分析する分光分析部Ａを
構成してある。
にて得られた分光スペクトルに基づいて分析対象物に含
まれる成分を分析する処理部５、その処理部５の分析結
果を表示出力する表示手段としての液晶ディスプレイ
７、及び、分析条件等を設定するキーボード８を一体ユ
ニット状に組み付けて構成してある。つまり、分光部４
及び処理部５にて、投受光アダプタ３が受光した光の分
光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づい
て分析対象物に含まれる成分を分析する分光分析部Ａを
構成してある。
【００１２】図１、図３及び図４にしめすように、投受
光アダプタ３には、処理部５に対して分析開始を指令す
る指令手段としての開始スイッチ１１を付設してある。
そして、本体部Ｍとそれとは別体の投受光アダプタ３と
を、光源部１からの測定用光線を投受光アダプタ３に導
くとともに、投受光アダプタ３が受光した光を分光部４
に導く計測用プローブ２にて接続してある。
光アダプタ３には、処理部５に対して分析開始を指令す
る指令手段としての開始スイッチ１１を付設してある。
そして、本体部Ｍとそれとは別体の投受光アダプタ３と
を、光源部１からの測定用光線を投受光アダプタ３に導
くとともに、投受光アダプタ３が受光した光を分光部４
に導く計測用プローブ２にて接続してある。
【００１３】図１及び図２に示すように、本体部Ｍ及び
制御部Ｃを囲む囲い部Ｐと、その囲い部Ｐの内部の圧力
が外部よりも高くなるように除塵手段Ｆとしてのフィル
タ１５を通過させて外部の空気を内部に供給するととも
に、内部の空気を排出する通気手段Ｔを設け、開始スイ
ッチ１１を付設した投受光アダプタ３を、囲い部Ｐの外
部に設けてある。
制御部Ｃを囲む囲い部Ｐと、その囲い部Ｐの内部の圧力
が外部よりも高くなるように除塵手段Ｆとしてのフィル
タ１５を通過させて外部の空気を内部に供給するととも
に、内部の空気を排出する通気手段Ｔを設け、開始スイ
ッチ１１を付設した投受光アダプタ３を、囲い部Ｐの外
部に設けてある。
【００１４】ラック部Ｒは、一対の縦枠体１２と２枚の
棚部材１３とを一体的に組み付けたものを、固定手段
（図示せず）を備えたキャスタ１４にて移動自在なよう
に構成してある。そして、キャスタ１４にて所定の場所
に移動させて、その場所に前記固定手段によって固定配
置するように構成してある。
棚部材１３とを一体的に組み付けたものを、固定手段
（図示せず）を備えたキャスタ１４にて移動自在なよう
に構成してある。そして、キャスタ１４にて所定の場所
に移動させて、その場所に前記固定手段によって固定配
置するように構成してある。
【００１５】板状材１６を、上下２枚の棚部材１３と縦
枠体１２にて形成される矩形状の枠部に嵌め込む状態で
設けてある。板状材１６には、通気用開口部１６ａと、
投受光アダプタ３に接続された計測用プローブ２を挿通
するためのの孔１６ｂを形成してある。給気ファン１７
を、通気用開口部１６ａに嵌め込んだ状態で板状材１６
に支持させて設け、フィルタ１５を、給気ファン１７の
吸気側に位置させた状態で板状材１６に支持させて設け
てある。
枠体１２にて形成される矩形状の枠部に嵌め込む状態で
設けてある。板状材１６には、通気用開口部１６ａと、
投受光アダプタ３に接続された計測用プローブ２を挿通
するためのの孔１６ｂを形成してある。給気ファン１７
を、通気用開口部１６ａに嵌め込んだ状態で板状材１６
に支持させて設け、フィルタ１５を、給気ファン１７の
吸気側に位置させた状態で板状材１６に支持させて設け
てある。
【００１６】計測用プローブ２を、板状材１６の孔１６
ｂに挿通して、その計測用プローブ２により、本体部Ｍ
と、板状材１６に対して本体部Ｍとは反対側に位置させ
た投受光アダプタ３とを接続してある。
ｂに挿通して、その計測用プローブ２により、本体部Ｍ
と、板状材１６に対して本体部Ｍとは反対側に位置させ
た投受光アダプタ３とを接続してある。
【００１７】透明で可撓製を備えたシート材（例えば、
ビニール）から成る直方体形状の袋状部材１８を、一対
の縦枠体１２にて支持される状態で、ラック部Ｒに被せ
て設け、袋状部材１８の開口縁を下段の棚部材１３の周
縁に合わせて、それらを帯状部材１９とビス２０にて接
合してある。袋状部材１８において、板状材１６と重な
る部分には給気用開口部１８ａを、本体部Ｍのケーシン
グ９の排気用開口部９ａに重なる部分には排気用開口部
１８ｂを夫々形成してある。更に、袋状部材１８には、
スリットを設けるとともに、そのスリットを開閉自在な
ようにファスナ１８ｃを設けてある。袋状部材１８の給
気用開口部１８ａの開口縁を、帯状部材１９とビス２０
にて板状材１６に接合し、袋状部材１８の排気用開口部
１８ｂの開口縁を、帯状部材１９とビス２０にて本体部
Ｍのケーシング９に接合してある。
ビニール）から成る直方体形状の袋状部材１８を、一対
の縦枠体１２にて支持される状態で、ラック部Ｒに被せ
て設け、袋状部材１８の開口縁を下段の棚部材１３の周
縁に合わせて、それらを帯状部材１９とビス２０にて接
合してある。袋状部材１８において、板状材１６と重な
る部分には給気用開口部１８ａを、本体部Ｍのケーシン
グ９の排気用開口部９ａに重なる部分には排気用開口部
１８ｂを夫々形成してある。更に、袋状部材１８には、
スリットを設けるとともに、そのスリットを開閉自在な
ようにファスナ１８ｃを設けてある。袋状部材１８の給
気用開口部１８ａの開口縁を、帯状部材１９とビス２０
にて板状材１６に接合し、袋状部材１８の排気用開口部
１８ｂの開口縁を、帯状部材１９とビス２０にて本体部
Ｍのケーシング９に接合してある。
【００１８】従って、袋状部材１８と下段の棚部材１３
とにより、囲い部Ｐを構成してある。尚、ファスナ１８
ｃの操作によって、袋状部材１８のスリットが開閉でき
るので、囲い部Ｐを取り付けた状態で、内部の点検やキ
ーボード８の操作等が可能なようになっている。又、囲
い部Ｐの一部を透明の袋状部材１８にて構成して、囲い
部Ｐを取り付けた状態で、液晶ディスプレイ７の表示情
報が視認できるようにしてある。
とにより、囲い部Ｐを構成してある。尚、ファスナ１８
ｃの操作によって、袋状部材１８のスリットが開閉でき
るので、囲い部Ｐを取り付けた状態で、内部の点検やキ
ーボード８の操作等が可能なようになっている。又、囲
い部Ｐの一部を透明の袋状部材１８にて構成して、囲い
部Ｐを取り付けた状態で、液晶ディスプレイ７の表示情
報が視認できるようにしてある。
【００１９】給気ファン１７により、外部の空気がフィ
ルタ１５を通過して除塵されて囲い部Ｐの内部に供給さ
れ、冷却ファン１０により、囲い部Ｐ内の空気が、ケー
シング９のスリット９ｂを通じて、ケーシング９内に導
入され、ケーシング９内を通流して、袋状部材１８の排
気用開口部１８ｂから外部に排出される。そして、給気
ファン１７の単位時間当たりの給気量が、冷却ファン１
０の単位時間当たりの排気量よりの大になるようにして
あり、もって、給気ファン１７及び冷却ファン１０によ
って、通気手段Ｔを構成している。
ルタ１５を通過して除塵されて囲い部Ｐの内部に供給さ
れ、冷却ファン１０により、囲い部Ｐ内の空気が、ケー
シング９のスリット９ｂを通じて、ケーシング９内に導
入され、ケーシング９内を通流して、袋状部材１８の排
気用開口部１８ｂから外部に排出される。そして、給気
ファン１７の単位時間当たりの給気量が、冷却ファン１
０の単位時間当たりの排気量よりの大になるようにして
あり、もって、給気ファン１７及び冷却ファン１０によ
って、通気手段Ｔを構成している。
【００２０】以下、図３に基づいて、光源部１、計測用
プローブ２、投受光アダプタ３、分光部４及び処理部５
について説明を加える。光源部１は、赤外線光を測定用
光線として放射するタングステン−ハロゲンランプ１ａ
と、そのタングステン−ハロゲンランプ１ａからの測定
用光線を平行光線束に成形するレンズ１ｂにより構成し
てある。光源部１には、光源部１からの測定用光線を分
析対象物Ｓに照射する照射状態と照射しない非照射状態
とに切り換え自在なシャッタ部６を設けてある。そのシ
ャッタ部６は、レンズ１ｂと計測用プローブ２における
測定用光線の入射端部との間において、測定用光線を遮
光する遮光状態と遮光しない非遮光状態とに移動自在に
支持されたシャッタ板６ａと、そのシャッタ板６ａを移
動駆動する電磁ソレノイド６ｂとを備えて構成してあ
る。シャッタ部６を非遮光状態に切り換えることによ
り、前記照射状態になり、遮光状態に切り換えることに
より、前記非照射状態になる。
プローブ２、投受光アダプタ３、分光部４及び処理部５
について説明を加える。光源部１は、赤外線光を測定用
光線として放射するタングステン−ハロゲンランプ１ａ
と、そのタングステン−ハロゲンランプ１ａからの測定
用光線を平行光線束に成形するレンズ１ｂにより構成し
てある。光源部１には、光源部１からの測定用光線を分
析対象物Ｓに照射する照射状態と照射しない非照射状態
とに切り換え自在なシャッタ部６を設けてある。そのシ
ャッタ部６は、レンズ１ｂと計測用プローブ２における
測定用光線の入射端部との間において、測定用光線を遮
光する遮光状態と遮光しない非遮光状態とに移動自在に
支持されたシャッタ板６ａと、そのシャッタ板６ａを移
動駆動する電磁ソレノイド６ｂとを備えて構成してあ
る。シャッタ部６を非遮光状態に切り換えることによ
り、前記照射状態になり、遮光状態に切り換えることに
より、前記非照射状態になる。
【００２１】計測用プローブ２は、照射用光ファイバ２
ａと、受光用光ファイバ２ｂとを備えて構成してある。
照射用光ファイバ２ａと受光用光ファイバ２ｂとは、照
射用光ファイバ２ａにおける測定用光線の入射端部側及
び受光用光ファイバ２ｂにおける拡散反射光の出射端部
側を除いた部分を、環状の照射用光ファイバ２ａの内部
に受光用光ファイバ２ｂが位置する同軸状に形成してあ
り、同軸状の先端面では、照射用光ファイバ２ａの環状
の先端面とその内部の受光用光ファイバ２ｂの円状の先
端面が面一になっている。
ａと、受光用光ファイバ２ｂとを備えて構成してある。
照射用光ファイバ２ａと受光用光ファイバ２ｂとは、照
射用光ファイバ２ａにおける測定用光線の入射端部側及
び受光用光ファイバ２ｂにおける拡散反射光の出射端部
側を除いた部分を、環状の照射用光ファイバ２ａの内部
に受光用光ファイバ２ｂが位置する同軸状に形成してあ
り、同軸状の先端面では、照射用光ファイバ２ａの環状
の先端面とその内部の受光用光ファイバ２ｂの円状の先
端面が面一になっている。
【００２２】図４にも示すように、投受光アダプタ３
は、計測用プローブ２の先端に接続される。その投受光
アダプタ３は、外筒体３ａと、その外筒体３ａの内部に
その外筒体３ａと間隔を隔てて同軸状に位置する内筒体
３ｂと、外筒体３ａと内筒体３ｂとを連結する連結部材
３ｃと、外筒体３ａの一端部に外嵌状に固着した取り付
け筒体３ｄと、その取り付け筒体３ｄに螺挿したネジ３
ｅを備えて構成してある。そして、取り付け筒体３ｄを
計測用プローブ２に外嵌してネジ３ｅを締め付けること
により、投受光アダプタ３を計測用プローブ２の先端に
接続する。尚、図中の３ｆは、上記のように組み付けた
外筒体３ａ及び内筒体３ｂを、それら先端部を露出させ
た状態で内装するプローブケーシングである。
は、計測用プローブ２の先端に接続される。その投受光
アダプタ３は、外筒体３ａと、その外筒体３ａの内部に
その外筒体３ａと間隔を隔てて同軸状に位置する内筒体
３ｂと、外筒体３ａと内筒体３ｂとを連結する連結部材
３ｃと、外筒体３ａの一端部に外嵌状に固着した取り付
け筒体３ｄと、その取り付け筒体３ｄに螺挿したネジ３
ｅを備えて構成してある。そして、取り付け筒体３ｄを
計測用プローブ２に外嵌してネジ３ｅを締め付けること
により、投受光アダプタ３を計測用プローブ２の先端に
接続する。尚、図中の３ｆは、上記のように組み付けた
外筒体３ａ及び内筒体３ｂを、それら先端部を露出させ
た状態で内装するプローブケーシングである。
【００２３】内筒体３ｂは、筒内径及び筒外径が基端側
のファイバ接続部に近づくほど小径となる截頭円錐形状
に形成するとともに、周壁の厚みが計測用プローブ２に
近づくほど小となるように形成してある。更に、内筒体
３ｂは、その基端側のファイバ接続部においては、内径
を受光用光ファイバ２ｂの円状の先端面の直径と略同一
とし、周壁の厚みを受光用光ファイバ２ｂの先端面と照
射用光ファイバ２ａの先端面との間隔と略同一としてあ
る。又、内筒体３ｂの内周面及び外周面は光の反射が可
能な鏡面に仕上げてある。外筒体３ａは、筒内径及び筒
外径が基端側のファイバ接続部に近づくほど小径となる
截頭円錐形状に形成してある。更に、外筒体３ａは、そ
の基端側のファイバ接続部においては、内径を照射用光
ファイバ２ａの環状の先端面の外径と略同一としてあ
る。又、外筒体３ａの内周面は、光の反射が可能な鏡面
に仕上げてある。
のファイバ接続部に近づくほど小径となる截頭円錐形状
に形成するとともに、周壁の厚みが計測用プローブ２に
近づくほど小となるように形成してある。更に、内筒体
３ｂは、その基端側のファイバ接続部においては、内径
を受光用光ファイバ２ｂの円状の先端面の直径と略同一
とし、周壁の厚みを受光用光ファイバ２ｂの先端面と照
射用光ファイバ２ａの先端面との間隔と略同一としてあ
る。又、内筒体３ｂの内周面及び外周面は光の反射が可
能な鏡面に仕上げてある。外筒体３ａは、筒内径及び筒
外径が基端側のファイバ接続部に近づくほど小径となる
截頭円錐形状に形成してある。更に、外筒体３ａは、そ
の基端側のファイバ接続部においては、内径を照射用光
ファイバ２ａの環状の先端面の外径と略同一としてあ
る。又、外筒体３ａの内周面は、光の反射が可能な鏡面
に仕上げてある。
【００２４】つまり、内筒体３ｂにおける基端側のファ
イバ接続部の開口部の形状が受光用光ファイバ２ｂの先
端面の形状と略同一となるとともに、内筒体３ｂの基端
部と外筒体３ａの基端部により形成される環状の開口部
の形状が、照射用光ファイバ２ａの環状の先端面の形状
と略同一となるようにしてある。又、投受光アダプタ３
を計測用プローブ２の先端に接続すると、内筒体３ｂの
開口部が受光用光ファイバ２ｂの先端面と対向した状態
で位置し、且つ、内筒体３ｂと外筒体３ａとに形成され
る開口部が受光用光ファイバ２ａの先端面と対向した状
態で位置するように構成してある。そして、内筒体３ｂ
の先端部と外筒体３ａの先端部とにより形成される環状
の開口部を照射部Ｏとして、内筒体３ｂの先端開口部を
受光部Ｉとして、夫々機能させるようにしてある。
イバ接続部の開口部の形状が受光用光ファイバ２ｂの先
端面の形状と略同一となるとともに、内筒体３ｂの基端
部と外筒体３ａの基端部により形成される環状の開口部
の形状が、照射用光ファイバ２ａの環状の先端面の形状
と略同一となるようにしてある。又、投受光アダプタ３
を計測用プローブ２の先端に接続すると、内筒体３ｂの
開口部が受光用光ファイバ２ｂの先端面と対向した状態
で位置し、且つ、内筒体３ｂと外筒体３ａとに形成され
る開口部が受光用光ファイバ２ａの先端面と対向した状
態で位置するように構成してある。そして、内筒体３ｂ
の先端部と外筒体３ａの先端部とにより形成される環状
の開口部を照射部Ｏとして、内筒体３ｂの先端開口部を
受光部Ｉとして、夫々機能させるようにしてある。
【００２５】従って、下記のように、投受光アダプタ３
の先端部に当付けた分析対象物Ｓに対して測定用光線が
照射されるとともに、分析対象物Ｓからの拡散反射光が
受光される。即ち、シャッタ部６を非遮光状態に切り換
える。すると、照射用光ファイバ２ａにて導かれた光源
部１からの測定用光線は、照射用光ファイバ２ａの先端
面から内筒体３ｂと外筒体３ａの間の空間内に入射し
て、前記空間内を通過し、内筒体３ｂの先端部と外筒体
３ａの先端部とにより形成される環状の照射部Ｏから分
析対象物Ｓに対して出射する。そして、分析対象物Ｓか
らの拡散反射光は、内筒体３ｂの先端開口部にて機能さ
せる受光部Ｉから、内筒体３ｂ内に入射して、内筒体３
ｂ内を通過し、受光用光ファイバ２ｂの先端面に対して
出射して、受光用光ファイバ２ｂにて、分光部４へと導
かれる。
の先端部に当付けた分析対象物Ｓに対して測定用光線が
照射されるとともに、分析対象物Ｓからの拡散反射光が
受光される。即ち、シャッタ部６を非遮光状態に切り換
える。すると、照射用光ファイバ２ａにて導かれた光源
部１からの測定用光線は、照射用光ファイバ２ａの先端
面から内筒体３ｂと外筒体３ａの間の空間内に入射し
て、前記空間内を通過し、内筒体３ｂの先端部と外筒体
３ａの先端部とにより形成される環状の照射部Ｏから分
析対象物Ｓに対して出射する。そして、分析対象物Ｓか
らの拡散反射光は、内筒体３ｂの先端開口部にて機能さ
せる受光部Ｉから、内筒体３ｂ内に入射して、内筒体３
ｂ内を通過し、受光用光ファイバ２ｂの先端面に対して
出射して、受光用光ファイバ２ｂにて、分光部４へと導
かれる。
【００２６】上述のように、測定用プローブ２の先端に
投受光アダプタ３を接続することにより、分析対象物Ｓ
に対する測定用光線の照射部Ｏと、分析対象物Ｓからの
反射光の受光部Ｉとの間隔を広くすることができるの
で、分析対象物Ｓからの拡散反射光を受光することがで
きるのである。
投受光アダプタ３を接続することにより、分析対象物Ｓ
に対する測定用光線の照射部Ｏと、分析対象物Ｓからの
反射光の受光部Ｉとの間隔を広くすることができるの
で、分析対象物Ｓからの拡散反射光を受光することがで
きるのである。
【００２７】分光部４は、受光用光ファイバ２ｂにて導
かれた拡散反射光を反射する反射鏡４ａと、反射鏡４ａ
により反射された拡散反射光を分光反射する凹面回折格
子４ｂと、凹面回折格子４ｂにより分光反射された各波
長毎の光線束強度を検出するアレイ型受光素子４ｃを備
えている。アレイ型受光素子４ｃは、凹面回折格子４ｂ
にて分光反射された拡散反射光を、同時に波長毎に受光
するとともに波長毎の信号に変換して出力する。反射鏡
４ａ、凹面回折格子４ｂ及びアレイ型受光素子４ｃは、
外部からの光を遮光するアルミニウム製の暗箱４ｄ内に
配置してあり、受光用光ファイバ２ｂにて導かれた拡散
反射光は、暗箱４ｄに形成した入射孔４ｅを通じて暗箱
４ｄ内に導くように構成してある。
かれた拡散反射光を反射する反射鏡４ａと、反射鏡４ａ
により反射された拡散反射光を分光反射する凹面回折格
子４ｂと、凹面回折格子４ｂにより分光反射された各波
長毎の光線束強度を検出するアレイ型受光素子４ｃを備
えている。アレイ型受光素子４ｃは、凹面回折格子４ｂ
にて分光反射された拡散反射光を、同時に波長毎に受光
するとともに波長毎の信号に変換して出力する。反射鏡
４ａ、凹面回折格子４ｂ及びアレイ型受光素子４ｃは、
外部からの光を遮光するアルミニウム製の暗箱４ｄ内に
配置してあり、受光用光ファイバ２ｂにて導かれた拡散
反射光は、暗箱４ｄに形成した入射孔４ｅを通じて暗箱
４ｄ内に導くように構成してある。
【００２８】処理部５について説明を加える。処理部５
は、マイクロコンピュータを利用して構成してあり、開
始スイッチ１１にて開始指令が与えられると、シャッタ
部６を非遮光状態に切り換え、アレイ型受光素子４ｃか
らの出力信号を処理して、吸光度スペクトル、及び、吸
光度スペクトルの波長領域での二次微分値を得るととも
に、その二次微分値に基づいて、分析対象物Ｓに含まれ
る成分を分析し、その分析結果を液晶ディスプレイ７に
出力させるとともに、シャッタ部６を遮光状態に切り換
える。
は、マイクロコンピュータを利用して構成してあり、開
始スイッチ１１にて開始指令が与えられると、シャッタ
部６を非遮光状態に切り換え、アレイ型受光素子４ｃか
らの出力信号を処理して、吸光度スペクトル、及び、吸
光度スペクトルの波長領域での二次微分値を得るととも
に、その二次微分値に基づいて、分析対象物Ｓに含まれ
る成分を分析し、その分析結果を液晶ディスプレイ７に
出力させるとともに、シャッタ部６を遮光状態に切り換
える。
【００２９】処理部５は、下記の演算式（以下、検量式
と称する）による重回帰分析に基づいて、分析対象物Ｓ
に含まれる各成分量を算出する。 Ｙ＝Ｋ0 ＋Ｋ1 ×Ａ（λ1 ）＋Ｋ2 ×Ａ（λ2 ）＋Ｋ3
×Ａ（λ3 ）…… 但し、 Ｙ ；成分量 Ｋ0 ，Ｋ1 ，Ｋ2 ，Ｋ3 …… ；係数 Ａ（λ1 ），Ａ（λ2 ），Ａ（λ3 ）……；特定波長λ
における吸光度スペクトルの二次微分値
と称する）による重回帰分析に基づいて、分析対象物Ｓ
に含まれる各成分量を算出する。 Ｙ＝Ｋ0 ＋Ｋ1 ×Ａ（λ1 ）＋Ｋ2 ×Ａ（λ2 ）＋Ｋ3
×Ａ（λ3 ）…… 但し、 Ｙ ；成分量 Ｋ0 ，Ｋ1 ，Ｋ2 ，Ｋ3 …… ；係数 Ａ（λ1 ），Ａ（λ2 ），Ａ（λ3 ）……；特定波長λ
における吸光度スペクトルの二次微分値
【００３０】処理部５には、分析対象物の品種夫々につ
いて、成分毎に、特定の検量式を設定してある。つま
り、上記検量式において、分析対象物の品種夫々につい
て、成分毎に特定の係数Ｋ0 ，Ｋ1 ，Ｋ2 ，Ｋ3 ……、
波長λ1 ，λ2 ，λ3 ……を設定してある。
いて、成分毎に、特定の検量式を設定してある。つま
り、上記検量式において、分析対象物の品種夫々につい
て、成分毎に特定の係数Ｋ0 ，Ｋ1 ，Ｋ2 ，Ｋ3 ……、
波長λ1 ，λ2 ，λ3 ……を設定してある。
【００３１】そして、処理部５は、キーボード８にて設
定された品種に対応するように、上記検量式を設定し
て、その設定した検量式に基づいて成分量を求める。
定された品種に対応するように、上記検量式を設定し
て、その設定した検量式に基づいて成分量を求める。
【００３２】〔別実施形態〕次に別実施形態を説明す
る。 （イ） 囲い部Ｐの具体構成は、上記の実施形態におい
て例示した構成以外にも、種々の構成が可能である。例
えば、上記の実施形態における袋状部材１８に代えて、
プラスチック製、金属製等の板状体にて、ラックＲの周
囲を囲ってもよい。あるいは、本体部Ｍ及び制御部Ｃを
ラックＲに載置せずに、本体部Ｍ及び制御部Ｃを、直
接、囲い部Ｐとして機能させる箱状体の内部に設けても
よい。
る。 （イ） 囲い部Ｐの具体構成は、上記の実施形態におい
て例示した構成以外にも、種々の構成が可能である。例
えば、上記の実施形態における袋状部材１８に代えて、
プラスチック製、金属製等の板状体にて、ラックＲの周
囲を囲ってもよい。あるいは、本体部Ｍ及び制御部Ｃを
ラックＲに載置せずに、本体部Ｍ及び制御部Ｃを、直
接、囲い部Ｐとして機能させる箱状体の内部に設けても
よい。
【００３３】（ロ） 通気手段Ｔの具体構成は、上記の
実施形態において例示した構成以外にも、種々の構成が
可能である。例えば、上記の実施形態においては、冷却
ファン１０による通流空気が囲い部Ｐの外部に排出され
るように構成して、通気手段Ｆを冷却ファン１０を利用
して構成する場合について例示した。これに代えて、冷
却ファン１０による通流空気が囲い部Ｐの内部に排出さ
れるように構成して、通気手段Ｆを給気ファン１７のみ
で構成してもよい。この場合、囲い部Ｐに空気抜き用の
通気孔を形成してもよい。
実施形態において例示した構成以外にも、種々の構成が
可能である。例えば、上記の実施形態においては、冷却
ファン１０による通流空気が囲い部Ｐの外部に排出され
るように構成して、通気手段Ｆを冷却ファン１０を利用
して構成する場合について例示した。これに代えて、冷
却ファン１０による通流空気が囲い部Ｐの内部に排出さ
れるように構成して、通気手段Ｆを給気ファン１７のみ
で構成してもよい。この場合、囲い部Ｐに空気抜き用の
通気孔を形成してもよい。
【００３４】あるいは、囲い部Ｐ内の圧力が一定に維持
されるように、差圧ダンパを囲い部Ｐに設けてもよい。
されるように、差圧ダンパを囲い部Ｐに設けてもよい。
【００３５】（ハ） 除塵手段Ｆの具体構成は、上記の
実施形態において例示したフィルタ１５以外にも、種々
の構成が可能である。例えば、図５に示すように、水面
部の上方を水面部と間隔を開けて閉塞した水槽２１にて
構成して、給気ファン１７にて、空気を水槽２１の水中
を通流させて、空気中の塵埃を水にて除去させてから、
囲い部Ｐ内に供給するようにしてもよい。この場合、水
槽２１内の水を所定の温度に調節するようにすると、囲
い部Ｐ内の温度の変動を小さくすることができるので、
分析精度を向上させることができる。又、囲い部Ｐ内の
温度を低くすることもできるので、装置の耐久性を向上
させることができる。
実施形態において例示したフィルタ１５以外にも、種々
の構成が可能である。例えば、図５に示すように、水面
部の上方を水面部と間隔を開けて閉塞した水槽２１にて
構成して、給気ファン１７にて、空気を水槽２１の水中
を通流させて、空気中の塵埃を水にて除去させてから、
囲い部Ｐ内に供給するようにしてもよい。この場合、水
槽２１内の水を所定の温度に調節するようにすると、囲
い部Ｐ内の温度の変動を小さくすることができるので、
分析精度を向上させることができる。又、囲い部Ｐ内の
温度を低くすることもできるので、装置の耐久性を向上
させることができる。
【００３６】（ニ） 指令手段の具体構成は、上記の実
施形態において例示した開始スイッチ１１以外にも、種
々の構成が可能である。例えば、分析対象物Ｓの有無を
検出するセンサにて構成してもよい。この場合は、操作
者は、分析開始の指令、及び、分析終了の指令の為の操
作が不要となるので、操作性を一層向上させることがで
きる。
施形態において例示した開始スイッチ１１以外にも、種
々の構成が可能である。例えば、分析対象物Ｓの有無を
検出するセンサにて構成してもよい。この場合は、操作
者は、分析開始の指令、及び、分析終了の指令の為の操
作が不要となるので、操作性を一層向上させることがで
きる。
【００３７】（ホ） 検出部の具体構成は、上記の実施
形態において例示した投受光アダプタ３以外にも、種々
の構成が可能である。例えば、分析対象物Ｓを透過した
透過光を受光するように構成してもよい。
形態において例示した投受光アダプタ３以外にも、種々
の構成が可能である。例えば、分析対象物Ｓを透過した
透過光を受光するように構成してもよい。
【００３８】（ヘ） 上記の実施形態においては、指令
手段を検出部に付設する場合について例示したが、指令
手段を検出部とは別体で設けてもよい。
手段を検出部に付設する場合について例示したが、指令
手段を検出部とは別体で設けてもよい。
【図１】分光分析装置の全体構成を示す斜視図
【図２】分光分析装置の横断面図
【図３】分光分析装置のブロック図
【図４】投受光アダプタにおける測定用光線の光路に沿
った断面図
った断面図
【図５】別実施形態における通気手段及び除塵手段を示
すブロック図
すブロック図
１ 光源部 ３ 検出部 ７ 表示手段 １１ 指令手段 １０ 冷却ファン １７ 給気ファン Ａ 分光分析部 Ｆ 除塵手段 Ｐ 囲い部 Ｔ 通気手段
Claims (4)
- 【請求項１】 光源部からの測定用光線を分析対象物に
照射し、且つ、分析対象物からの反射光又は透過光を受
光するように構成された検出部と、 その検出部が受光した光の分光スペクトルを得て、得ら
れた分光スペクトルに基づいて、分析対象物に含まれる
成分を分析する分光分析部が設けられた分光分析装置で
あって、 前記光源部及び前記分光分析部を囲む囲い部と、 その囲い部の内部の圧力が外部よりも高くなるように、
除塵手段にて塵埃が除去される状態で気体を内部に供給
するとともに、内部の気体を排出する通気手段が設けら
れ、 前記分光分析部に対して分析開始を指令する指令手段、
及び、前記検出部が前記囲い部の外部に設けられている
分光分析装置。 - 【請求項２】 前記除塵手段にて除塵される状態で気体
を前記囲い部内に供給する給気ファンが設けられ、 前記光源部に冷却用の気体を通流させる冷却ファンによ
る通流気体が、前記囲い部の外部に排出されるように構
成され、 前記給気ファンによる単位時間当たりの気体の供給量
が、前記冷却ファンによる単位時間当たりの気体の排出
量よりも大になるように構成されて、前記通気手段が、
前記給気ファンと前記冷却ファンとから構成されている
請求項１記載の分光分析装置。 - 【請求項３】 前記分光分析部の分析結果を表示する表
示手段が、前記囲い部の内部に設けられ、 前記表示手段の表示情報が前記囲い部の外部から視認可
能なように、前記囲い部に透明部分が備えられている請
求項１又は２記載の分光分析装置。 - 【請求項４】 前記分光分析部が、青果物を分析対象物
とし、青果物に含まれる成分を分析するように構成され
ている請求項１〜３のいずれか１項に記載の分光分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21440997A JPH1151854A (ja) | 1997-08-08 | 1997-08-08 | 分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21440997A JPH1151854A (ja) | 1997-08-08 | 1997-08-08 | 分光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1151854A true JPH1151854A (ja) | 1999-02-26 |
Family
ID=16655317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21440997A Pending JPH1151854A (ja) | 1997-08-08 | 1997-08-08 | 分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1151854A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000079247A1 (fr) * | 1999-06-21 | 2000-12-28 | Kabushikikaisha Kajitsuhihakaihinshitsukenkyujo | Dispositif d'inspection de la qualite en ligne par plusieurs lampes laterales |
| EP1215480A1 (en) * | 1999-09-24 | 2002-06-19 | Kabushikikaisha Kajitsuhihakaihinshitsu Kenkyujo | Two side multiple lamp online inner part inspection apparatus |
| WO2005088273A1 (ja) * | 2004-03-12 | 2005-09-22 | Joy World Pacific Co., Ltd. | 物体のカロリー測定方法及び物体のカロリー測定装置 |
| JP2006194767A (ja) * | 2005-01-14 | 2006-07-27 | Iseki & Co Ltd | 果実の内成分情報の測定方法 |
| JP2008122412A (ja) * | 2004-03-12 | 2008-05-29 | Aomori Prefecture | 食品のカロリー測定方法及び食品のカロリー測定装置 |
| JP2008209160A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Hitachi Cable Ltd | 中空ファイババンドル |
| JP2017058267A (ja) * | 2015-09-17 | 2017-03-23 | 株式会社サタケ | 反射型成分分析装置 |
-
1997
- 1997-08-08 JP JP21440997A patent/JPH1151854A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000079247A1 (fr) * | 1999-06-21 | 2000-12-28 | Kabushikikaisha Kajitsuhihakaihinshitsukenkyujo | Dispositif d'inspection de la qualite en ligne par plusieurs lampes laterales |
| EP1215480A1 (en) * | 1999-09-24 | 2002-06-19 | Kabushikikaisha Kajitsuhihakaihinshitsu Kenkyujo | Two side multiple lamp online inner part inspection apparatus |
| EP1215480A4 (en) * | 1999-09-24 | 2003-04-23 | Kabushikikaisha Kajitsuhihakai | ON-LINE TESTING DEVICE FOR AN INTERNAL PART WITH SEVERAL LAMPS ON TWO SIDES |
| AU766245B2 (en) * | 1999-09-24 | 2003-10-09 | Kabushiki Kaisha Kajitsu Hihakai Hinshitsu Kenkyujo | Two side multiple lamp online inner part inspection apparatus |
| US7068368B1 (en) | 1999-09-24 | 2006-06-27 | Kabushikikaisha Kajitsuhihakaihinshitsukenkyujo | Two-side multiple lamp online inner part inspection apparatus |
| WO2005088273A1 (ja) * | 2004-03-12 | 2005-09-22 | Joy World Pacific Co., Ltd. | 物体のカロリー測定方法及び物体のカロリー測定装置 |
| JP2008122412A (ja) * | 2004-03-12 | 2008-05-29 | Aomori Prefecture | 食品のカロリー測定方法及び食品のカロリー測定装置 |
| US8808628B2 (en) | 2004-03-12 | 2014-08-19 | Joy World Pacific Co., Ltd. | Device for measuring calories of food items based on near-infrared optical measurements using a plurality of light sources |
| JP2006194767A (ja) * | 2005-01-14 | 2006-07-27 | Iseki & Co Ltd | 果実の内成分情報の測定方法 |
| JP4621876B2 (ja) * | 2005-01-14 | 2011-01-26 | 井関農機株式会社 | 近赤外スペクトル測定装置 |
| JP2008209160A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Hitachi Cable Ltd | 中空ファイババンドル |
| JP2017058267A (ja) * | 2015-09-17 | 2017-03-23 | 株式会社サタケ | 反射型成分分析装置 |
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