JPH1138054A - ネットワーク・アナライザのキャリブレーション方法 - Google Patents
ネットワーク・アナライザのキャリブレーション方法Info
- Publication number
- JPH1138054A JPH1138054A JP19418897A JP19418897A JPH1138054A JP H1138054 A JPH1138054 A JP H1138054A JP 19418897 A JP19418897 A JP 19418897A JP 19418897 A JP19418897 A JP 19418897A JP H1138054 A JPH1138054 A JP H1138054A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reflection coefficient
- load
- open
- short
- network analyzer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
く、既知の値として誤差要因を取得するネットワーク・
アナライザの1ポートキャリブレーション方法。 【解決手段】 既知の反射係数を有するオープン素子と
ショート素子とロード素子を用い、その反射係数Aopen
とAshort とAloadとをメモリし、それぞれの素子を端
子に交互に接続し、信号源より信号を送信し、その応答
信号S11mを受信部で測定し、それぞれの測定値のf(o
pen)とf(short )とf(load)とをメモリし、上記Aopen
とAshort とAloadとf(open)とf(short )とf(load)
とを用いて第一数式に従って演算部で演算し、EdとE
rとEsとを求めてキャリブレーションを行う方法。
Description
アナライザ(Network Analyzer)のキャリブレーション方
法に関する。
て一般的な説明をする。ネットワーク・アナライザは回
路網や電子部品、電子材料の電気的諸量のうちの高周波
の周波数特性を測定するものである。正弦波の微少電気
信号を発生させてDUT(被測定物)に与え、その反射
特性と伝送特性、つまり応答信号をSパラメータで測定
し、解析する測定器である。応答信号は、一般に振幅と
位相の情報を持つベクトル量であり、複素数である。そ
こで、この振幅と位相のベクトル量を解析する測定器を
ベクトル・ネットワーク・アナライザともいう。
知であるので省略し、Sパラメータ・テストセット内蔵
の基本構成を図3に示す。図中、1はSパラメータ・テ
ストセット内蔵ネットワーク・アナライザであり、2は
DUT、3は信号源で一般に掃引発振器を用いる。4は
受信部Aで、受信信号をミキサで受けて低周波に変換
し、アナログ/デジタル変換(A/D)をし、直交検波
を行って実数値Rと虚数値Xを求め1つの複素数として
測定される。5は受信部Rで信号源3からの送信信号を
測定する。6は受信部Bである。これら3つの受信部は
信号源3から出力される周波数の信号を検波するように
同期されている。
スプリッタで、一方の信号はRFスイッチ8を経てDU
T2に与え、他方の信号は受信部R5に与えている。8
のRFスイッチは信号源3からの出力信号を端子101
のポート1から出力したり、端子102 のポート2から
出力したりするためのものである。91 と92 は端子1
01 又は端子102 からの応答信号を取り出すブリッジ
若しくは方向性結合器である。このSパラメータ・テス
トセット内蔵ネットワーク・アナライザ1でDUT2の
Sパラメータを測定する。
る。測定周波数が高くなり測定系が集中定数的に扱えな
くなってくると、図4(A)のように、回路網のパラメ
ータとして入射波・反射波・伝送波を変数として定義し
測定する。この定義された回路網のパラメータがSパラ
メータである。例えば、図4(B)に示すように、信号
源3からDUT2のポート1に信号a1を与え、ポート
2は特性インピーダンスZoで終端しているとする。こ
のときのS11はポート1における入射波a1と反射波b
1の比、S11=b1/a1、として定義され、ポート1
における反射係数と呼ばれる。S21はポート1からポー
ト2への伝送波b2とポート1の入射波a1の比、S21
=b2/a1、として定義され、ポート1からポート2
への伝送係数あるいは透過係数と呼ばれる。S22、S21
はポート2から信号a2を与えポート1を特性インピー
ダンスZoで終端して測定したもので、S22=b2/a
2、S12=b1/a2、と定義される。
表現したものである。図4(D)はSパラメータの内容
の説明である。ネットワーク・アナライザ1は、こうし
て得られたSパラメータをDUT2のさまざまな特性に
換算して表示する。例えば、振幅をdB換算して表示す
るLOGMAG表示、位相を表示するPHASE表示、群遅延時間
の DELAY表示、定在波比の SWR表示、スミスチャートの
SMITH表示、ポーラチャートの POLAR表示等である。と
ころで、ネットワーク・アナライザ1によりDUT2の
反射特性を測定しようとする場合、測定系の誤差により
DUT2の真の値を直接測定することができない。そこ
で、この誤差の原因を知り、適当なモデルを考えること
により測定値を補正することができる。
ク・アナライザの測定について、図5を用いて以下説明
する。図5(A)はネットワーク・アナライザでDUT
2の反射特性を測定する測定系である。信号源3からの
信号をDUT2に与え、その反射波をブリッジ9で取り
出し受信部A4で測定する。
す。つまり、測定系の方向性と周波数トラッキングとソ
ース・マッチに主に起因する誤差である。方向性の誤差
とは、DUT2に向かう入射信号とDUT2からの反射
信号とをブリッジ9で分離しなければならないが、測定
値S11mには順方向からのリーケージ、つまり漏れ信号
が含まれており、これによる誤差である。周波数トラッ
キングによる誤差とは、測定系の周波数レスポンスの誤
差である。ソース・マッチによる誤差とは、信号源側の
インピーダンスと測定システム系のインピーダンスの整
合が取れていない場合に、DUT2で反射した信号が信
号源3側で再び反射してDUT2に戻り、再反射する。
この再反射による誤差である。
誤差モデルは、図5(C)のようになる。ここでS11m
は測定値、S11aは真値、Ed、Er、Esは誤差要因
である。この誤差モデルを、説明は省略するがシグナル
・フローグラフで解いてS11mを求めると、図5(D)
で表現できる。変形して真値S11aを求めると、図5
(E)で表現できる。ここで未知数は、Ed、Er、E
sの3つであるから、特性が既知の3つの標準デバイス
を用いればこれらの未知数を求めることができる。
絡)及びロード(標準負荷Zo)の3つの状態をつく
り、それぞれのときのS11mの測定値f( short)、f(o
pen)及びf(load)の値を記録しておき、その値を用いて
計算すると、DUT2の真の反射係数S11aを求めるこ
とができる。これをキャリブレーションという。つま
り、キャリブレーションとは測定系の持つ誤差を予め測
定しておき、演算でその影響を取り除くことである。
くるのに校正キットがある。一例を図6に示す。図6
(A)は外観図であり、11はコネクタ、12は本体で
ある。図6(B)はオープン素子で端末13は開放され
ているが、浮遊容量C等が存在するので、位相の補正を
加味して反射係数Aopenは(1×ejα)である。図6
(C)は ショート素子で端末14は短絡され位相補正
を加味して反射係数Ashort は(−1×ejβ)であ
る。図6(D)はロード素子で端末15は特性インピー
ダンスZoで終端され、反射係数は0と仮定している。
特性インピーダンスZoは一般に50Ωヤ75Ωである
ことが多い。
す。始めに校正キットのオープン素子の反射係数Aopen
=(1×ejα)と、 ショート素子の反射係数Ashort
=(−1×ejβ)をネットワーク・アナライザ1の記
憶部にメモリする。次に、ロード素子を無反射、つま
り、反射係数=0と仮定して端子10iに接続し、その
応答信号を受信部A4で測定する。そのS11mの測定値
f(load)は、図5(D)の数式から求め、 f(load)=S11m=Ed+{Er・0/(1ーEs・
0)}=Ed となる。つまり、測定値f(load)=Ed であり、Ed
が求まる。
その測定値f(open)を求めてメモリし、 ショート素子
を接続しその測定値f( short)を求めてメモリする。こ
こで、 f(open)=f(load)+{Er・Aopen/(1−Es・A
open)} f( short)=f(load)+{Er・Ashort /(1−Es
・Ashort )} であるから、この2式を連立させることにより第二数式
を得る。測定値のf(open)とf( short)が求まると、反
射係数のAopenとAshort とを用い、数2の第二数式に
従って演算し、EsとErとを求める。
方法のフローチャートを示す。校正キットのオープン素
子とショート素子との反射係数のAopenとAshort をメ
モリする。ロード素子の反射係数を0と仮定して端子に
接続し、信号源から信号を与え、その応答信号を測定す
ると、その測定値はS11m=f(load)=Edとなり、E
dが求まる。同様に測定値f(open)とf( short)を測定
し、メモリする。これらのAopenとAshortとf(open)
とf( short)とを用いて第二数式に従って演算し、Es
とErとを求めて、キャリブレーションを行う。
ョン方法では、校正キットのロード素子を反射係数=0
と仮定して行っていた。そこで、無反射ロード素子の開
発に力をそそいでいた。つまり、ロード素子が理想的と
仮定するしか手がなく反射係数=0としていたが、現実
には若干の反射がある。従って、このロード素子の理想
的でない分がキャリブレーションにおける誤差となり、
若干の測定誤差を生じさせていた。
仮定せず、反射係数=ρ の既知の値とし、これより測
定誤差を生じさせない誤差要因を取得するという、新た
なキャリブレーションの方法を提供することを目的とす
る。
に、この発明は、既知の反射係数を有する校正キットを
使用する。校正キットにはオープン素子とショート素子
とロード素子の3種類の素子が準備されている。このそ
れぞれの素子の反射係数、つまり、オープン素子の反射
係数Aopenとショート素子の反射係数Ashort とロード
素子の反射係数Aloadとをネットワーク・アナライザの
記憶部にメモリする。
ライザの入出力端子に接続し、信号源より信号を送り、
その応答信号を受信部A4若しくは受信部B6で測定す
る。その測定したS11mの測定値をf(open)とする。シ
ョート素子を端子に接続して測定したS11mの測定値を
f(short )とする。ロード素子を端子に接続して測定し
たS11mの測定値をf(load)とする。この測定したf(o
pen)とf(short )とf(load)もネットワーク・アナライ
ザの記憶部にメモリする。
Aload、と上記の測定値f(open)、f(short )、f(loa
d)、とを用い、数1の第一数式に従って演算部でEd、
Es及びErを求めてキャリブレーションを行うもので
ある。
き図面を参照して説明する。図1に本発明のキャリブレ
ーション方法の一実施例のフローチャートを示す。校正
キットの3つの素子の反射係数は、理想的にはオープン
素子でAopen=1、ショート素子でAshort =−1、ロ
ード素子でAload=0である。ところが、現実には理想
的ではなく、若干の誤差がある。そこで事前に正確に測
定するか、理論的に計算するか、補正済みのものを購入
するかして補正値α、β、ρを明確にしておく。反射係
数はオープン素子でAopen=(1×ejα)、ショート
素子でAshort =(−1×ejβ)、ロード素子でAloa
d=ρである。この反射係数をネットワーク・アナライ
ザの記憶部にメモリさせる。
の入出力端子10iに交互に接続して信号源3より信号
を与え、その応答信号を受信部A4で測定する。オープ
ン素子を接続したときのS11mの測定値をf(open)と
し、ショート素子を接続したときのS11mの測定値をf
(short )、ロード素子を接続したときのS11mの測定値
をf(load)として記憶部にメモリさせる。
Ed+{Er・S11a/(1ーEs・S11a)} であ
るので、この数式を変形すると、S11m=Ed+S11a
(Er−Ed・Es)+S11a・S11m・Es とな
る。ここで、S11mに上述した測定値を、S11aに反射
係数を代入すると、次の3つの式を得る。 f(open)=Ed+Aopen(Er−Ed・Es)+Aopen
・f(open)・Es f(short)=Ed+Ashort(Er−Ed・Es)+Ash
ort・f(short)・Es f(load)=Ed+Aload(Er−Ed・Es)+Aload
・f(load)・Es この3つの式をマトリックス表示したのが、数1の第一
数式である。この3つの式を演算部で演算して、未知数
のEd、Es及びErを求めることができる。つまり、
Aload=0と仮定することなくキャリブレーションをす
ることができる。
は、ロード素子(別名ロードスタンダード)の反射係数
が0、つまり理想的な無反射でなくとも、その値が既知
であれば演算によってキャリブレーションが可能になっ
た。よって、ロード素子の作製が容易になり、測定誤差
の要因が無くなり、ネットワーク・アナライザの利用価
値が高まった。この発明の技術的価値は大である。
フローチャートである。
トである。
・アナライザの一例の構成図である。
・反射波・伝送波の説明図、(B)は個々のSパラメー
タの説明図、(C)はSパラメータの関係式、(D)は
個々のSパラメータの説明である。
は構成図、(B)は測定誤差の説明図、(C)は誤差モ
デル図、(D)は測定値S11mの関係式、(E)は真値
S11aの関係式である。
(B)はオープン素子、(C)はショート素子、(D)
はロード素子である。
アナライザ 2 DUT(被測定物) 3 信号源 4 受信部A 5 受信部R 6 受信部B 7 パワースプリッタ 8 RFスイッチ 9i、91 、92 ブリッジ若しくは方向性結合器 10i、101 、102 端子 11 コネクタ 12 本体 13 オープン素子端末 14 ショート素子端末 15 ロード素子端末
Claims (1)
- 【請求項1】 ネットワーク・アナライザの1ポートの
キャリブレーションにおいて、 既知の反射係数を有する校正キットを使用し、オープン
素子の反射係数Aopenとショート素子の反射係数Ashor
t とロード素子の反射係数Aloadとをネットワーク・ア
ナライザの記憶部にメモリし、 オープン素子を端子に接続して測定したS11mの測定値
f(open)とショート素子を端子に接続して測定したS11
mの測定値f(short )とロード素子を端子に接続して測
定したS11mの測定値f(load)とをネットワーク・アナ
ライザの記憶部にメモリし、 上記の反射係数Aopen、Ashort 、Aload、と上記の測
定値f(open)、f(short )、f(load)、とを用い、数1
の第一数式に従って演算部で演算し、 【数1】 誤差要因Ed、Es及びErを求めてキャリブレーショ
ンを行うことを特徴とするネットワーク・アナライザの
キャリブレーション方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19418897A JP4124841B2 (ja) | 1997-07-18 | 1997-07-18 | ネットワーク・アナライザ、高周波周波数特性測定装置および誤差要因測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19418897A JP4124841B2 (ja) | 1997-07-18 | 1997-07-18 | ネットワーク・アナライザ、高周波周波数特性測定装置および誤差要因測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1138054A true JPH1138054A (ja) | 1999-02-12 |
JP4124841B2 JP4124841B2 (ja) | 2008-07-23 |
Family
ID=16320416
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19418897A Expired - Fee Related JP4124841B2 (ja) | 1997-07-18 | 1997-07-18 | ネットワーク・アナライザ、高周波周波数特性測定装置および誤差要因測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4124841B2 (ja) |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6496785B1 (en) | 1999-11-25 | 2002-12-17 | Advantest Corporation | Network analyzer, network analytical method and recording medium |
WO2003087856A1 (fr) * | 2002-04-17 | 2003-10-23 | Advantest Corporation | Analyseur de reseau, procede d'analyse de reseau, correcteur automatique, procede de correction, programme, et support d'enregistrement |
WO2004049564A1 (ja) * | 2002-11-27 | 2004-06-10 | Advantest Corporation | 電力供給装置、方法、プログラム、記録媒体、ネットワークアナライザおよびスペクトラムアナライザ |
JP2004233336A (ja) * | 2003-01-08 | 2004-08-19 | Toppan Printing Co Ltd | 特性インピーダンス測定方法および測定装置 |
WO2006001234A1 (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-05 | Advantest Corporation | フィクスチャ特性測定装置、方法、プログラム、記録媒体およびネットワークアナライザ、半導体試験装置 |
US7348784B2 (en) | 2003-09-18 | 2008-03-25 | Advantest Corporation | Error factor acquisition device, method, program, and recording medium |
JPWO2005111635A1 (ja) * | 2004-05-14 | 2008-03-27 | 松下電器産業株式会社 | 電気回路パラメータの測定方法および装置 |
KR100840923B1 (ko) | 2004-06-28 | 2008-06-24 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 커넥팅 엘리먼트 특성 측정 장치, 방법, 프로그램, 기록 매체 및 네트워크 애널라이저, 반도체 시험 장치 |
WO2009014072A1 (ja) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | Advantest Corporation | 誤差要因測定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力補正装置、反射係数測定装置 |
WO2009014073A1 (ja) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | Advantest Corporation | 誤差要因測定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力測定装置、入力測定装置 |
US7519509B2 (en) | 2004-03-26 | 2009-04-14 | Advantest Corporation | Network analyzer, transmission tracking error measuring method, network analyzing method, program, and recording medium |
DE112007001995T5 (de) | 2006-08-31 | 2009-06-10 | Advantest Corp. | Gerät, Verfahren, Programm und Aufnahmemedium für die Fehlerfaktorbestimmung und Ausgabekorrekturgerät und Reflexionskoeffizientenmessgerät ausgestattet mit dem Gerät |
DE112007001994T5 (de) | 2006-08-30 | 2009-07-02 | Advantest Corp. | Gerät, Verfahren und Programm für ein Bestimmungselement, Aufnahmemedium und Messgerät |
US7561987B2 (en) | 2004-02-23 | 2009-07-14 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Network analyzer, network analyzing method, program, and recording medium |
JP2010522451A (ja) * | 2007-03-16 | 2010-07-01 | フォトニックシステムズ, インコーポレイテッド | 双方向性信号インターフェースおよび双方向性信号インターフェースを用いる装置 |
JP2019045469A (ja) * | 2017-09-04 | 2019-03-22 | ローデ ウント シュヴァルツ ゲーエムベーハー ウント コンパニ カーゲー | ベクトルネットワークアナライザおよび周波数変換測定方法 |
-
1997
- 1997-07-18 JP JP19418897A patent/JP4124841B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6496785B1 (en) | 1999-11-25 | 2002-12-17 | Advantest Corporation | Network analyzer, network analytical method and recording medium |
US7652482B2 (en) | 2002-04-17 | 2010-01-26 | Advantest Corporation | Network analyzer, network analyzing method, automatic corrector, correcting method, program, and recording medium |
WO2003087856A1 (fr) * | 2002-04-17 | 2003-10-23 | Advantest Corporation | Analyseur de reseau, procede d'analyse de reseau, correcteur automatique, procede de correction, programme, et support d'enregistrement |
WO2004049564A1 (ja) * | 2002-11-27 | 2004-06-10 | Advantest Corporation | 電力供給装置、方法、プログラム、記録媒体、ネットワークアナライザおよびスペクトラムアナライザ |
US7302351B2 (en) | 2002-11-27 | 2007-11-27 | Advantest Corporation | Power supply device, method, program, recording medium, network analyzer, and spectrum analyzer |
JP2004233336A (ja) * | 2003-01-08 | 2004-08-19 | Toppan Printing Co Ltd | 特性インピーダンス測定方法および測定装置 |
US7348784B2 (en) | 2003-09-18 | 2008-03-25 | Advantest Corporation | Error factor acquisition device, method, program, and recording medium |
DE112005000430B4 (de) * | 2004-02-23 | 2021-06-17 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft | Netzwerkanalysator, Verfahren, Programm und Speichermedium zur Netzwerkanalyse |
US7996184B2 (en) | 2004-02-23 | 2011-08-09 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co., Kg | Network analyzer, network analyzing method, program, and recording medium |
US7561987B2 (en) | 2004-02-23 | 2009-07-14 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Network analyzer, network analyzing method, program, and recording medium |
US7519509B2 (en) | 2004-03-26 | 2009-04-14 | Advantest Corporation | Network analyzer, transmission tracking error measuring method, network analyzing method, program, and recording medium |
JPWO2005111635A1 (ja) * | 2004-05-14 | 2008-03-27 | 松下電器産業株式会社 | 電気回路パラメータの測定方法および装置 |
KR100840923B1 (ko) | 2004-06-28 | 2008-06-24 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 커넥팅 엘리먼트 특성 측정 장치, 방법, 프로그램, 기록 매체 및 네트워크 애널라이저, 반도체 시험 장치 |
US7511508B2 (en) | 2004-06-28 | 2009-03-31 | Advantest Corporation | Fixture characteristic measuring device, method, program, recording medium, network analyzer, and semiconductor test device |
WO2006001234A1 (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-05 | Advantest Corporation | フィクスチャ特性測定装置、方法、プログラム、記録媒体およびネットワークアナライザ、半導体試験装置 |
DE112007001994T5 (de) | 2006-08-30 | 2009-07-02 | Advantest Corp. | Gerät, Verfahren und Programm für ein Bestimmungselement, Aufnahmemedium und Messgerät |
US8203347B2 (en) | 2006-08-30 | 2012-06-19 | Advantest Corporation | Device, method, and program for determining element, recording medium, and measurement device |
DE112007001995T5 (de) | 2006-08-31 | 2009-06-10 | Advantest Corp. | Gerät, Verfahren, Programm und Aufnahmemedium für die Fehlerfaktorbestimmung und Ausgabekorrekturgerät und Reflexionskoeffizientenmessgerät ausgestattet mit dem Gerät |
US8076947B2 (en) | 2006-08-31 | 2011-12-13 | Advantest Corporation | Device, method, program, and recording medium for error factor determination, and output correction device and reflection coefficient measurement device provided with the device |
JP2010522451A (ja) * | 2007-03-16 | 2010-07-01 | フォトニックシステムズ, インコーポレイテッド | 双方向性信号インターフェースおよび双方向性信号インターフェースを用いる装置 |
WO2009014073A1 (ja) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | Advantest Corporation | 誤差要因測定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力測定装置、入力測定装置 |
US7761253B2 (en) | 2007-07-23 | 2010-07-20 | Advantest Corporation | Device, method, program, and recording medium for error factor measurement, and output measurement device and input measurement device provided with the device for error factor measurement |
US7616007B2 (en) | 2007-07-23 | 2009-11-10 | Advantest Corporation | Device, method, program, and recording medium for error factor measurement, and output correction device and reflection coefficient measurement device provided with the device for error factor measurement |
DE112008001834T5 (de) | 2007-07-23 | 2010-06-17 | Advantest Corp. | Gerät, Verfahren, Programm und Speichermedium für Fehlerfaktormessung und Output-Messgerät und Input-Messgerät, die mit dem Gerät für Fehlerfaktormessung ausgestattet sind |
DE112008001948T5 (de) | 2007-07-23 | 2010-06-02 | Advantest Corp. | Gerät, Verfahren, Programm und Speichermedium für Fehlerfaktormessung und Output-Korrekturgerät und Messgerät für einen Reflektionskoeffizienten, welches mit dem Gerät für Fehlerfaktormessung ausgestattet ist |
JP5121075B2 (ja) * | 2007-07-23 | 2013-01-16 | 株式会社アドバンテスト | 誤差要因測定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力補正装置、反射係数測定装置 |
JP5177904B2 (ja) * | 2007-07-23 | 2013-04-10 | 株式会社アドバンテスト | 誤差要因測定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力測定装置、入力測定装置 |
WO2009014072A1 (ja) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | Advantest Corporation | 誤差要因測定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力補正装置、反射係数測定装置 |
JP2019045469A (ja) * | 2017-09-04 | 2019-03-22 | ローデ ウント シュヴァルツ ゲーエムベーハー ウント コンパニ カーゲー | ベクトルネットワークアナライザおよび周波数変換測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4124841B2 (ja) | 2008-07-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4124841B2 (ja) | ネットワーク・アナライザ、高周波周波数特性測定装置および誤差要因測定方法 | |
KR100522638B1 (ko) | 멀티-포트 디바이스 분석 장치와 방법 및 그 컬리브레이션방법 | |
Marks | Formulations of the basic vector network analyzer error model including switch-terms | |
US6397160B1 (en) | Power sensor module for microwave test systems | |
JPH11352163A (ja) | ネットワ―ク・アナライザの校正方法 | |
US20220260662A1 (en) | Integrated vector network analyzer | |
GB2273364A (en) | A method of calibrating a network analyser | |
CN102324990B (zh) | 仅用幅度检波器的矢量反射系数检测电路及其检测方法 | |
CN103837767A (zh) | 一种利用矢网对互易混频器进行特性表征的方法 | |
TWI237120B (en) | Impedance standard substrate and method for calibrating vector network analyzer | |
CN110174634B (zh) | 一种负载牵引测量***及测量方法 | |
US7113891B2 (en) | Multi-port scattering parameter calibration system and method | |
JP2000162257A (ja) | マルチポ―トデバイス解析装置及び解析方法 | |
Staszek | Six-port reflectometer insensitive to power detectors’ impedance mismatch | |
CN113765601A (zh) | 一种短波发射机驻波检测校准装置和方法 | |
US6982561B2 (en) | Scattering parameter travelling-wave magnitude calibration system and method | |
US20080265911A1 (en) | Power Sensing Module with Built-In Mismatch and Correction | |
JP2001272428A (ja) | ネットワークアナライザ、ネットワーク分析方法およびネットワーク分析プログラムを記録した記録媒体 | |
TWI463146B (zh) | Radiofrequency Scattering Parameter Measurement and Correction Method | |
CN112097815A (zh) | 一种用于微波传感的散射矩阵参数检测*** | |
CN110988548A (zh) | 微波变频器的测试方法及其平台 | |
Leake | A programmable load for power and noise characterization | |
Estrada | The vector network analyzer-an essential tool in modern ate measurements | |
CN117517783A (zh) | 一种单端口阻抗检测装置、方法及电子设备 | |
Stenarson et al. | Automatic root selection for the unknown thru algorithm |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040304 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060403 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070320 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070517 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20070517 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080227 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080415 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080430 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080507 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120516 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130516 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130516 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130516 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140516 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |