JPH11344451A - ガラス壜口部のびり検査装置 - Google Patents
ガラス壜口部のびり検査装置Info
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- JPH11344451A JPH11344451A JP13117698A JP13117698A JPH11344451A JP H11344451 A JPH11344451 A JP H11344451A JP 13117698 A JP13117698 A JP 13117698A JP 13117698 A JP13117698 A JP 13117698A JP H11344451 A JPH11344451 A JP H11344451A
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Abstract
度を向上できるガラス壜口部のびり検査装置を提供す
る。 【解決手段】ガラス壜の口部1に対する複数個の投光器
21〜32による照射光の照射領域Sを一箇所に定め、
照射光Lを互いに異なる方向から照射領域に集光させる
ようにする一方、スライドブロックに、口部に生じるび
りで反射した反射光A、口部に形成されるモールドの合
わせ部による継ぎ目で反射した反射光Bおよび口部を透
過した直接光Cをレンズ64を介して検知する受光セン
サー2を有する複数個の受光器51〜58を設け、更
に、複数個の投光器を順次繰り返し投光状態に切り換え
させる投光器制御部46と、各反射光および直接光をデ
ータとして取り込むよう投光状態において複数個の受光
器を常時作動させる受光器制御部47とを設けて成る。
Description
びり検査装置に関する。
厚内にひび割れのような所謂びりや気泡が生じることが
ある。この内の気泡については、小さなものは製品上で
何ら問題はないこともあるが、上記のびりはガラス壜の
破損に繋がる重大な欠陥であることから、びりの存否検
査が光学的に行われている。
純なねじ口、王冠口だけでも多数ある。そして、例えば
前記単純なねじ口においては縦びり、横びり等の数種類
のびりが存在するが、この縦びり、横びり等のびりの存
否を種類毎に光学的に検査するのに、従来は、以下のよ
うに行っていた。すなわち、搬送経路の途中でガラス壜
の搬送を間欠的に停止させると共に、その停止位置でガ
ラス壜を回転させるようにした状態で、この回転するガ
ラス壜の口部に向けて光を照射する投光器を搬送経路の
幅方向一側に配置する一方、ガラス壜の口部のびりで全
反射した反射光を検知する受光器を搬送経路の幅方向他
側に設け、前記受光器が反射光を受けた際の出力を基に
して例えば縦びりの存否を検査するようにしていた。
ものであることから、以下の点を考慮してびりの検査を
行う必要があった。すなわち、 びりが光るのは全反射によるものであるから、光る
限界がある。 びりによる反射光が外部に出ないことがある。
否を検査するに当たり検査精度を高くするために、各々
1つの投光器と受光器を一組とした上で複数組の投光器
と受光器を設けている。そして、各組毎に投光器の投光
方向と受光器の受光方向をそれぞれ異ならせて、かつ、
縦びりが検出し易いように複数組の配置を考慮して各種
の光学条件の下で縦びりの検査を行えるようにしてい
る。
ある。 投光器と受光器の組み合わせは非常に多くなるか
ら、1つの場所で検出しようとすると、口部を透過した
直接光を検出してしまう。 縦びり以外の全反射があってもこれを検出してしま
う。例えば、ガラス壜の口部に形成されるモールドの合
わせ部による継ぎ目で全反射した反射光も検出され、良
品のガラス壜を不良品であるとする判断が成される場合
がある。 複数個の投光器を同時点灯する場合、つまり、照射
光を多方向から同時に照射する場合は、照射光が互いに
干渉しあい検出率が落ちるとともに、口部に生じている
小さな気泡までも過剰に光り、検査精度が悪くなる。そ
の対策として、場合に応じて複数個の投光器および受光
器のうち、一部の投光器と受光器とをOFFにしたり、
検出感度を落としたりすると、肝心の縦びりの検出に必
要な組み合わせが無くなる可能性がある。その結果、や
はり検出率が悪くなるというジレンマに陥る。
るよう投光器と受光器を配置したガラス壜口部の欠陥検
査装置(特願平3−083084号)を提案したが、た
とえ上述した問題点を克服できたとしても、(A)複数
組の配置によって得られる結果は、縦びりの存否だけで
あった。つまり、例えば口部の上中下の位置にこの順で
生じる上部の縦びり(上縦びり)、中間の縦びり(中縦
びり)、下部の縦びり(下縦びり)、等の縦びりの中身
まで区別して検出できなかった。更に、(B)従来で
は、受光器に取り込まれた検出信号に含まれるノイズに
よる影響を低減しなければ縦びりを選別できないので、
受光器の後段に設けた信号処理部で前記検出信号に相当
するデータの微分処理を施す必要があった。つまり、前
記データに現出する縦びり毎に縦びりの信号に相当する
傾きを持っているから、時間微分を行って前記ノイズを
削除して、縦びり信号のみを残す処理をする必要があっ
た。
たもので、その目的は、良品破棄を確実に減少させて、
びりの検査精度を向上できるガラス壜口部のびり検査装
置を提供することである。
め、この発明は、ガラス壜の搬送経路途中に、順次搬送
されて来るガラス壜を定位置で且つ壜中心まわりで回転
させる壜回転手段と、前記搬送経路の幅方向ならびに上
下方向に位置変更自在なスライドブロックを設け、この
スライドブロックに、前記定位置で回転するガラス壜の
口部に向けて光を照射する複数個の投光器を取り付ける
と共に、ガラス壜の口部に対する当該複数個の投光器に
よる照射光の照射領域を一箇所に定め、当該照射光を互
いに異なる方向から前記照射領域に集光させるようにす
る一方、前記スライドブロックに、前記口部に生じるび
りで反射した反射光、前記口部に形成されるモールドの
合わせ部による継ぎ目で反射した反射光および前記口部
を透過した直接光をレンズを介して検知する受光センサ
ーを有する複数個の受光器を設け、更に、前記複数個の
投光器を順次繰り返し投光状態に切り換えさせる投光器
制御部と、前記各反射光および直接光をデータとして取
り込むよう前記投光状態において前記複数個の受光器を
常時作動させる受光器制御部とを設けて成り、しかも、
前記各受光センサーを、前記口部の上下位置に対応する
ように予め分割された複数個の受光エレメントからなる
ダイオードアレイで構成するとともに、前記継ぎ目で反
射した反射光として取り込まれたデータおよび前記口部
を透過した直接光として取り込まれたデータをそれぞれ
削除するよう構成されていることを特徴とする。
部における例えば縦びりを検査する場合に、複数個の投
光器が順次投光状態に切り換えられて、ガラス壜の口部
に向けて互いに異なる複数方向から、照射光が、検査部
位である前記一箇所の照射領域に照射されることで、前
記縦びりの存否が一挙に多点検査される。
ように、定位置でR方向に回転するガラス壜3の口部1
に対して複数個(例えば12個)の投光器21〜32に
よる照射光Lの照射領域Sを一箇所に定め、当該照射光
Lを互いに異なる方向から照射領域Sに集光させるよう
にしている訳であるが、例えば、前記びり検査部D(図
4参照)においてガラス壜3が壜中心Pまわりで連続的
に一回転される間に、例えば図7に示すような順次点灯
タイミングで投光器21〜32が、順次1個ずつ瞬時的
に投光状態に切り換えられることが、360度にわたっ
て繰り返し行われる。
て互いに異なる複数方向から12個の照射光が照射領域
Sに重なる口部1の位置に順次照射される。この場合、
照射領域Sを例えば矩形状に設定し、かつ照射領域Sの
横幅(照射幅)Xを5mmに設定すると、周長1mm分
のピッチ毎で点灯タイミングを切り換える。すなわち、
ガラス壜3の回転移動する周長よりも照射幅Xを大きく
したから、照射領域Sを通過するガラス壜3の口部1に
非照射部分がないようにガラス壜3の口部1に対して照
射光Lを照射できる。なお、図1、図3において、Yは
矩形状の照射領域Sの縦の長さである。
グクロックa1 〜a12によって第1回目の縦びりの検査
が行われ、この検査エリアからのデータ採取処理を行
う。続いて、口部1における次の検査エリアが照射領域
Sに重なったとき点灯タイミングクロックb1 〜b12に
よって第2回目の縦びりの検査が行われ、この検査エリ
アからのデータ採取処理を行う。以下同様にして、ガラ
ス壜3の口部1の一周分にわたってデータ採取処理を行
う。
る照射光の点灯タイミングとして同時投光方式ではなく
順次投光方式を採用しているので、照射光が互いに干渉
しあって検出率が落ちたり、口部に生じている小さな気
泡までも過剰に光って検査精度が悪くなるといった事態
を回避できる。なお、図3において、51〜58は複数
個の受光器(カメラ)である。
1〜58の全てを常にONにしていることにより起こる
不都合を解決できる。例えば縦びりで反射した反射光は
勿論のこと、ガラス壜の回転に伴って前記継ぎ目が前記
照射領域Sに達した際に、この継ぎ目で反射した反射光
および前記口部を透過した直接光までもが、受光器51
〜58によってキャッチされてしまうことによって、良
品のガラス壜を不良品であるとする判断が成される不都
合を回避できる。
た反射光として取り込まれたデータおよび前記口部を透
過した直接光として取り込まれたデータをそれぞれ削除
するよう構成しているので、上記の不都合が確実に解消
され、これによって縦びり検査が正確に行われる。
受光センサー2を、前記口部の上下位置に対応するよう
に予め分割された複数個の受光エレメント11〜18か
らなるダイオードアレイで構成したので、びりの中身ま
で区別して検出できる。
なる口部1の上中下の位置に、この順で上縦びりa、中
縦びりb、下縦びりcが生じている場合、従来では、縦
びりが存在していると判断されるだけで上縦びりa、中
縦びりb、下縦びりcの選別ができなかったが、この発
明では、図1、図2において、例えば受光器53の受光
センサー2における複数個の受光エレメント11〜18
のうち、上縦びりaで全反射した反射光Aが例えば受光
エレメント18で受光され、中縦びりbで全反射した反
射光Bが受光エレメント14で受光され、下縦びりcで
全反射した反射光Cが受光エレメント11で受光され
る。よって、上縦びりa、中縦びりb、下縦びりcを区
別して検出できる。
の投光器21〜32は、それぞれ、図2に示す例えば投
光器31のように、複数の半導体発光素子(LED:Li
ghtEmitting Diode)60と、コンデンサレンズを含む
集光用レンズ系61と、レンズ系61に介装されたスリ
ット62とが、分割可能な一対の筒状の筐体63,63
内に設置されて構成される。また、この発明の受光器5
1〜58としてダイオードアレイカメラが用いられる。
このダイオードアレイカメラ51〜58は、それぞれ、
複数個の受光エレメント11〜18からなるダイオード
アレイで構成された受光センサー2と、反射光A,B,
Cの通過孔65を有する筒状の筐体66と、集光用レン
ズ系64とで構成される。この集光用レンズ系64は、
反射光A,B,Cを受けて反射光Aが受光エレメント1
8で受光するよう、また、反射光Bが受光エレメント1
4で受光するよう、更には、反射光Cが受光エレメント
11で受光可能なように前記筐体66内に設置される。
そして、予め分割された複数個の受光エレメント11〜
18は前記口部1の上下位置に対応するように設置さ
れ、しかもダイオードアレイカメラ51〜58の信号出
力は、パラレルのために高速応答が得られる。この場
合、前記ガラス壜口部の欠陥存在位置をより正確に検出
するために、前記受光エレメント11〜18を8分割し
て、データ処理を8ビットで行えるように構成するのが
より好ましい。
受光面が、分割された受光エレメント11〜18で構成
されているから、ノイズの領域を小さくできる。よっ
て、従来施されていたような受光器に取り込まれた検出
信号に相当するデータの微分処理は不要である。
いて説明する。図1および図2は、例えば上縦びりa、
中縦びりb、下縦びりc等の縦びりの存否の検査を行う
ために用いられる光学的原理の説明図で、図3〜図6
は、びり検査装置の詳細を示す。
ードホイールによってコンベアから順次取り出されたガ
ラス壜3は、メインのスターホイール33によって、間
欠移送されて順次びり検査部Dに搬送される。そして、
検査後のガラス壜3は、前記スターホイール33によっ
て、テイクアウトホイールを介してコンベア1に戻され
る。前記スターホイール33は、周部に壜導入部が形成
された二枚のホイール板34を適宜間隔を置いて回転軸
に設けて成る。
ら成る壜回転手段で、びり検査部Dに設けられている。
導入部がターンテーブル36に対応位置する度に間欠的
に駆動が停止されるように構成されていて、当該スター
ホイール33の間欠駆動停止の間に、定位置で前記ガラ
ス壜2を壜中心Pまわりで回転させるように構成されて
いる。
3の口部1のびり検査装置で、上下方向に位置変更固定
自在な昇降部材39を備えたポスト40を、前記スター
ホイール33による壜搬送経路の外側に立設すると共
に、前記壜搬送経路を横断させる状態で前記昇降部材3
9に水平ガイド41を延設し、かつ、この水平ガイド4
1に沿って位置変更固定自在にスライドブロック42を
設けると共に、当該スライドブロック42にそれぞれ、
上述した構成の複数個の投光器21〜32と、上述した
ように、ダイオードアレイカメラとして機能する受光器
51〜58を設けて成る。この実施形態では、縦びり
a,b,cが検出し易いように投光器21〜32と受光
器51〜58を対向配置している。また、この実施形態
では、検査対象の口部1として、図8に示すようなピル
ファープルーフキャツプ用の最も一般的な単純なねじ口
形状のものを採用している。
して壜搬送経路の幅方向一側に、投光器用ブラケット4
3を、それぞれ所定角度を隔てて設けると共に、前記定
位置で回転するガラス壜3の口部1の外面に向けて、斜
め上方から、斜め下方から、更に水平方向から、それぞ
れ照射光Lを照射させるように、投光器21〜32を各
ブラケット43に取り付け、かつ、当該複数個の投光器
21〜32による照射光Lを、前記口部1と重なる照射
領域Sに集光させるようにしてある。
て、例えば12個の投光器21〜32のうち、2個の投
光器28,32の投光方向を斜め上方に向け、2個の投
光器26,31の投光方向をほゞ水平に向け、残りの投
光器の投光方向を斜め下方に向けてある。
送経路の幅方向他側に、例えば8個の受光器51〜58
を設けている。この場合、受光器用ブラケット44を、
それぞれ所定角度を隔てて設けると共に、口部1で反射
した反射光を検知させるように、受光器51〜58を各
ブラケット44に設けてある。なお、受光器51〜58
は、受光器51〜58のうち例えば1個単独のものや2
個を一組としたものが各ブラケット44に取り付けられ
ている。
器51〜58がキャッチした光量を基にして口部1にお
ける上縦びりa、中縦びりb、下縦びりcの存否を検出
する。46は投光器21〜32を順次1個ずつ繰り返し
投光状態に切り換えさせる投光器制御部である。
記各縦びりa,b,cが生じている場合には縦びりa,
b,cで反射した反射光A,B,CをデータD1 として
取り込むように前記投光状態において全ての受光器51
〜58を常時作動させる。このため、口部1に形成され
るモールドの合わせ部による継ぎ目で反射した反射光お
よび口部1を透過した直接光もそれぞれデータD2 ,D
3 として取り込まれることになる。
の全てを光検知状態にしているので、継ぎ目で反射した
反射光および口部1を透過した直接光までもが、受光器
51〜58によってキャッチされてしまって、前記継ぎ
目はびりではないにもかかわらず、前記びり存否検出手
段45が良品であるはずのガラス壜3を不良品であると
する判断が成されてしまうという不都合を未然に防止す
るために、検出モニター画面からのマスキング操作が行
えるようになっている。
それぞれ削除するためのマスクデータMが予め作成され
ている。そして、前記継ぎ目からの反射光で不良ガラス
壜として処理しないために、びり検査装置38の運転中
において、検出モニターの1画面に現われた、投光器2
1〜32、受光器51〜58の組み合わせによる取り込
みデータD1 ,D2 ,D3 にマスクデータMを重ねるこ
とによって、マスキング操作を行う。
継ぎ目に気泡が存在するところの、製品として問題にな
らない程度の良品のガラス壜をびり検査装置38にセッ
トし、かつ、当該ガラス壜の最も条件の悪い検査箇所に
順次照射光を照射させて、その際に反射光を受けた受光
器と投光器の組み合わせを見渡し、どの組み合わせの受
光器が前記継ぎ目に反応しているのかを確認する。一
方、どの組み合わせの受光器が前記直接光に反応してい
るのかも確認してマスクデータMを作成する。これによ
り、検出モニター画面からのマスキング操作で前記2種
類のデータD2 ,D3 を削除できる。
各受光センサー2の受光エレメント11〜18を8分割
して、データ処理を8ビットで行えるように構成してあ
るので、ダイオードアレイカメラ51〜58の信号出力
は、パラレルのために高速応答が得られる。つまり、こ
の発明は、投光器21〜32の点灯タイミング(図7参
照)とダイオードアレイカメラとして機能する受光器5
1〜58の個々の組み合わせによる信号解析により、例
えば上縦びりa、中縦びりb、下縦びりcの存否の検査
を行う訳であるが、前記信号出力をデータ処理部へ8つ
のデータバスで送出できるので、従来例で用いた受光セ
ンサーのみならず、受光センサーとして例えば1ビット
でデータ処理を行うCCDに比して、データの転送時間
をより短縮できる利点を有する。
おいてガラス壜3が壜中心Pまわりで連続的に一回転さ
れる間に、例えば周長1mm分のピッチ毎で複数個の投
光器21〜32が順次1個ずつ瞬時的に投光状態に切り
換えられること、つまり、ガラス壜3の口部1に対して
空白がないように投光することが、360度にわたって
繰り返し行われ、その都度、口部1に向けて互いに異な
る複数方向から照射光が照射される。すなわち、びり検
査を行うにあたり、投光器21〜32からの照射光Lの
投光方向を口部外面に向けて、互いに異なる複数方向か
らその照射光Lを一箇所Sに集中させており、前記一箇
所Sを通過する周長1mm分のピッチに相当する口部1
に対して投光器21から順次1個ずつ投光器32まで照
射光Lを連続的に照射し、投光の空白がないよう、続く
周長1mm分のピッチに相当する口部1にも同様に前記
一箇所Sを通過する間にその口部1に対して投光器21
から順次1個ずつ投光器32まで照射光Lを連続的に照
射することを360度にわたって繰り返し行う。
b、下縦びりcが存在すると、当該縦びりa,b,cか
らの反射光A,B,Cが受光器51〜58で受光され、
これを基にしてびり存否検出手段45から縦びりa,
b,cが存在しているという情報が出力されるのであ
り、この口部1の縦びり検査は、ガラス壜3の回転に伴
って連続的に且つ多点にわたって行われる。つまり、ガ
ラス壜3の口部1における縦びりa,b,cの存否が一
箇所Sで一挙に多点検査される。
投光方向を口部外面に向けて、その照射光Lを一箇所S
に集中させているが、照射光Lの投光方向を口部内面近
傍の一箇所に向ける構成にして実施可能である。また、
びりの種類に対応させて投光器、受光器の配置を適宜に
設定できる。また、上記実施形態では縦びりについて検
査したが、この発明では、設定パターンを変更すること
で縦びり以外の他の種類のびりも任意に検査できる。
示す形状の口部に適用できる。図9は王冠口を、図10
はリップ口を、図11はピルファープルーフキャツプ用
のディープ口を、図12はストップ口を、図13はコル
ク口を、それぞれ示す。また、図8〜図13において、
Sは、上述したように、矩形状の照射領域を示す。
び受光器制御部47を含むデータ採取処理機構と、前述
した投光器制御部46を含む投光機構について図14〜
16を用いて簡単に説明する。
個の受光器51〜58で検出された前記データD1 ,D
2 ,D3 を基にして、検出データDを作成する。90は
データ処理部で、前記検出データDがまとまった段階で
検出データDの全ての仕分けを行う。そして、検査中は
カメラ本体70のみが作動する。また、検査終了後は、
全ての検出データDはデータ処理部90に吸い上げら
れ、記憶される。検出データDは、8ビットのデータと
してカメラ本体70から検出データラインL1 を介して
データ処理部90へ出力される。そして、このデータ処
理部90でガラス壜口部1の良・不良の判定を行い、そ
の結果をパソコン91の検出モニター画面に表示する。
別にファイルされている。例えば、ガラス壜口部1の上
中下の位置にこの順で生じる上縦びりa、中縦びりb、
下縦びりcの有無の欄が、縦びりのファイルを呼び出す
ことで検出モニター画面に表示される。
aへ送り込まれた検出データDと、検査対象のガラス壜
3の種類に応じて予め作成されているマスクデータMと
の照合も検出モニター画面からのマスキング操作で行わ
れる。
を示す。そして、図16には、カメラ本体70の構成要
素の1つであるダイオードアレイカメラとしての8個の
受光器51〜58(カメラ1〜カメラ8)のうち、例え
ば受光器53に設けた受光センサー2でキャッチしたデ
ータの送出経路が示されている。
1の信号ラインである。この受光エレメント11は、受
光器53の受光センサー2を構成する8つの受光エレメ
ント11〜18のうちの1つである。
チャンネル)71およびアナログ系の信号処理機構〔例
えばハイパスフィルタ(8チャンネル)72、ローパス
フィルタ(8チャンネル)73、コンパレータ74,7
5,76〕が設けられている。そして、口部1に前記各
縦びりa,b,cが生じている場合には縦びりa,b,
cで反射した反射光A,B,Cに比例した電流出力(デ
ータ信号)D1 が信号ライン69に出力される。この場
合、投光状態において全ての受光器51〜58を常時作
動させているため、口部1に形成されるモールドの合わ
せ部による継ぎ目で反射した反射光に比例した電流出力
(データ信号)D2 および口部1を透過した直接光に比
例した電流出力(データ信号)D3 も信号ライン69に
出力される。
よび波形整形された後、ハイパスフィルタ72、ローパ
スフィルタ73を通ったデータ信号D1 ,D2 ,D
3 (以下、単に検査データという)は、これら1組でそ
れぞれ3つのコンパレータ74,75,76に送出され
る。
はない良信号(青信号)X1 (検査データに対応する)
がプリメモリ部77で一時記憶された後まとまった段階
でメインメモリ部78に送出される。また、コンパレー
タ75からは、不良信号(黄信号)Y1 (検査データに
対応する)がプリメモリ部79で一時記憶された後まと
まった段階でメインメモリ部80に送出される。更に、
コンパレータ76からは、前記不良信号Y1 よりも強い
光量の反射光を受けた不良信号(赤信号)Z1(検査デ
ータに対応する)がプリメモリ部81で一時記憶された
後まとまった段階でメインメモリ部82に送出される。
15に示す投光器21〜32からのタイミングクロック
b1 〜b12の点灯によって第2回目の検査が行われるま
でに、同じく投光器21〜32からのタイミングクロッ
クa1 〜a12の点灯による第1回目の検査データを一時
記憶しておくためのものである。以後も照射領域Sを通
過するガラス壜3の口部1に非照射部分がないようにガ
ラス壜3の口部1に対して照射光Lを照射して行き、投
光器21〜32による第3回目の検査データ、第4回目
の検査データ…を順次プリメモリ部77,79,81に
一時記憶させて行く。そして、ガラス壜3の口部1の少
なくとも一周分にわたって検査データを取る。なお、図
15において、101はロジック回路である。
てを常時作動させているため、例えば、第2回目の検査
において、8個の受光器51〜58に例えば投光器21
からのタイミングクロックb1 が来ると、受光器51〜
58の側では、8(受光器の数)×8(受光エレメント
の数)×3(コンパレータの数)の検査データ(X1,
Y1 ,Z1 、X2 ,Y2 ,Z2 、〜、X64,Y64,
Z64)がプリメモリ部77,79,81に一時記憶さ
れ、その後、前記検査データがまとまってメインメモリ
部78,80,82に記憶される。続いて、投光器22
からのタイミングクロックb2 が来ると、プリメモリ部
77,79,81のアドレスの異なる場所に、8×8×
3個のデータがまとまって一時記憶されるという構成を
とっている。この動作を12個目の投光器32まで行っ
て、点灯タイミングクロックb1 〜b12による第2回目
の検査が全て完了する。
4×12(投光器の数)×3(コンパレータの数)個の
検査データが、メインメモリ部78,80,82におい
て、タイミングクロックa1 〜a12の点灯による第1回
目の検査データと照合され、かつ、両検査データの和を
とることで記憶される。要するに、メインメモリ部7
8,80,82はOR回路で構成されている。以後、同
様にして、第3回目の検査データも、メインメモリ部7
8,80,82において、第1回目および第2回目の検
査データと照合される。そして、第1回目および第2回
目の検査データとの和をとることで第3回目の検査デー
タもメインメモリ部78,80,82に記憶される。以
後同様の動作でガラス壜3の口部1の一周分にわたって
データ採取処理が行われる。
ル信号バスで、メインロジック回路94とメインメモリ
部78,80,82間に設けられている。このコントロ
ール信号バス93では、メインメモリ部78,80,8
2への読取・書込のコントロールデータの要求が行われ
る。そして、メインロジック回路94とマイクロコンピ
ュータ(図14参照)92間にはロジックコントロール
信号ラインL2 が設けられている。95はデータバス、
96はアドレスバス、99はDAコンバータ、98は、
駆動手段97によって駆動される投光器ドライバで、メ
インロジック回路94で点灯タイミングクロックa1 〜
a12、b1 〜b12…と投光器21〜32のパワーがコン
トロールされる。なお、図14、図15において、符号
L3 は基準クロックライン、符号L4 は設定データライ
ン、符号L5 はゲート、符号L6は、検査時のガラス壜
の有無を確認するラインである。
色表示で検出モニター画面に表示されるが、仮に、明ら
かにガラス壜口部1にびりがある不良品のガラス壜をサ
ンプル品として検査した結果、検出モニター画面には黄
または赤が色表示されるはずであるにもかかわらず、検
出モニター画面の色表示が実際、青であるデータが得ら
れた場合、感度を変更すべきか否かの検討を行える。勿
論、サンプル品が良品の場合に不良と判断される場合に
も感度調整の有無が問われることになり、メンテナンス
を向上できる。
ス壜の口部に生じるびりの種類に応じて複数個の投光器
および複数個の受光器を配置するものであるが、受光器
の各受光センサーを、複数個の投光器による照射光を一
箇所の照射領域に集中させるとともに、前記口部の上下
位置に対応するように予め分割された複数個の受光エレ
メントからなるダイオードアレイで構成することから、
一箇所において、びりの中身まで区別して一挙に多点検
査できる。
の点灯タイミングとして同時投光方式ではなく順次投光
方式を採用し、前記口部に形成されるモールドの合わせ
部による継ぎ目で反射した前記反射光として取り込まれ
たデータおよび前記口部を透過した前記直接光として取
り込まれたデータをそれぞれ削除するよう構成し、受光
センサーの受光面が、分割された受光エレメントで構成
してあるので、ノイズの領域を小さくしながら検出率・
不良品破棄率ともに向上できる。
ための斜視図である。
めの構成図である。
投受光の説明用斜視図である。
形態図である。
投受光の説明用平面図である。
平面図である。
を示す図である。
図である。
例を示す構成図である。
形例を示す構成図である。
形例を示す構成図である。
形例を示す構成図である。
形例を示す構成図である。
を示す構成図である。
ある。
成図である。
8…受光エレメント、21〜32…投光器、46…投光
器制御部、47…受光器制御部、51〜58…受光器、
64…集光用レンズ系、A…口部に生じるびりで反射し
た反射光、B…口部に形成されるモールドの合わせ部に
よる継ぎ目で反射した反射光、C…口部を透過した直接
光、P…壜中心。
Claims (6)
- 【請求項1】 ガラス壜の搬送経路途中に、順次搬送さ
れて来るガラス壜を定位置で且つ壜中心まわりで回転さ
せる壜回転手段と、前記搬送経路の幅方向ならびに上下
方向に位置変更自在なスライドブロックを設け、このス
ライドブロックに、前記定位置で回転するガラス壜の口
部に向けて光を照射する複数個の投光器を取り付けると
共に、ガラス壜の口部に対する当該複数個の投光器によ
る照射光の照射領域を一箇所に定め、当該照射光を互い
に異なる方向から前記照射領域に集光させるようにする
一方、前記スライドブロックに、前記口部に生じるびり
で反射した反射光、前記口部に形成されるモールドの合
わせ部による継ぎ目で反射した反射光および前記口部を
透過した直接光をレンズを介して検知する受光センサー
を有する複数個の受光器を設け、更に、前記複数個の投
光器を順次繰り返し投光状態に切り換えさせる投光器制
御部と、前記各反射光および直接光をデータとして取り
込むよう前記投光状態において前記複数個の受光器を常
時作動させる受光器制御部とを設けて成り、しかも、前
記各受光センサーを、前記口部の上下位置に対応するよ
うに予め分割された複数個の受光エレメントからなるダ
イオードアレイで構成するとともに、前記継ぎ目で反射
した前記反射光として取り込まれたデータおよび前記口
部を透過した前記直接光として取り込まれたデータをそ
れぞれ削除するよう構成されていることを特徴とするガ
ラス壜口部のびり検査装置。 - 【請求項2】 前記照射光が互いに異なる複数方向から
前記照射領域に照射されることをガラス壜が一回転する
まで繰り返し行う請求項1に記載のガラス壜口部のびり
検査装置 - 【請求項3】 前記投光器制御部は、前記複数個の投光
器を順次1個ずつ繰り返し投光状態に切り換えさせる請
求項1または請求項2に記載のガラス壜口部のびり検査
装置 - 【請求項4】 前記継ぎ目で反射した反射光として取り
込まれたデータおよび前記口部を透過した直接光として
取り込まれたデータをそれぞれ削除するためのマスクデ
ータが予め作成されており、検出モニター画面からのマ
スキング操作が可能なように構成してある請求項1ない
し請求項3のいずれかに記載のガラス壜口部のびり検査
装置。 - 【請求項5】 投光器による照射光の周期を全ての投光
器について同一に設定する一方、受光器へ取り込まれた
前記データの選別が可能なように、照射光の位相を全て
の投光器について異ならせてある請求項1ないし請求項
4のいずれかに記載のガラス壜口部のびり検査装置。 - 【請求項6】 前記ガラス壜口部の欠陥存在位置をより
正確に検出するため、前記受光エレメントを8分割し
て、データ処理を8ビットで行えるように構成してある
請求項1ないし請求項5のいずれかに記載のガラス壜口
部のびり検査装置。
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