JPH11326775A - 多光子励起レ―ザ顕微鏡 - Google Patents
多光子励起レ―ザ顕微鏡Info
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- JPH11326775A JPH11326775A JP11061495A JP6149599A JPH11326775A JP H11326775 A JPH11326775 A JP H11326775A JP 11061495 A JP11061495 A JP 11061495A JP 6149599 A JP6149599 A JP 6149599A JP H11326775 A JPH11326775 A JP H11326775A
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Abstract
に応じて、容易に最適な条件で観察が可能なレーザ顕微
鏡を提供する。 【解決手段】多光子励起走査型レーザ顕微鏡は、波長幅
を有するパルスレーザビームを発振するレーザ光源4を
有する。パルスレーザビームの照射により標本Sは多光
子励起現象で蛍光する。レーザビームの光路を形成する
光学系3は、プレチャープコンペンセータ6と、走査光
学ユニット7と、光路上に択一的に配置可能な倍率の異
なる複数の対物レンズ14a、14b、14cと、を有
する。光学系3は、対物レンズのいずれを選択した場合
にも、断面S’におけるレーザビームのパルス幅を一定
にするための補正機構22を有する。補正機構22は、
光路上に択一的に配置可能な複数の補正板23a、23
b、23cを有する。
Description
を観察対象である標本に照射するタイプのレーザ顕微鏡
に関し、特に、標本の多光子吸収による化学反応及び蛍
光を検出するための多光子励起走査型レーザ顕微鏡に関
する。
子)で行われる励起を多光子で行う方法である。例えば
2光子励起法では、400nm(単光子)の波長で行っ
ていた蛍光励起が倍の波長800nmで行われる。この
波長800nmでは2光子を用いて蛍光励起が行われ
る。
や連続発振のレーザでは、単位時間当たりの光子密度が
低いため、多光子励起現象を引き起こすためには、莫大
な光強度が必要とされる。更に、光学系や標本へのダメ
ージが大きくなる等の問題を解決しなければ実用には適
さない。
例えばサブピコ秒のパルスレーザビームを発振可能なも
のが用いられる。これは多光子励起現象がその単位面
積、単位時間当たりの光子密度の2乗にほぼ比例した確
率で発生するためである。このため、サブピコ秒のパル
スレーザビームでは、複数の光子が存在する確率が高く
なる。
は、サブピコ秒のパルスレーザビームを出射するレーザ
光源と、このレーザ光源から出射されたパルスレーザビ
ームで標本面(焦点面)を走査するための走査光学ユニ
ットとを組合わせた2光子励起走査型レーザ顕微鏡が記
載される。
から出射されるサブピコ秒のパルスレーザビームは、完
全に単色でなく、そのパルス幅と相関を持つある波長幅
を有する。一般的に、光は、光学系を通過する場合、波
長が短いほど媒質中での速度は遅く、波長が長いほど媒
質中での速度は速くなる特性を有する。従って、上述の
如くパルスレーザビームが波長幅を有していると、パル
スレーザビームが光学系を通過する際、波長によって通
過時間に差が生じる。その結果、光学系に入射する前の
パルス幅に比べ、光学系を通過した後のパルス幅が時間
軸方向に広がってしまう。
に依存するため、光学系の標本面(焦点面)上でのパル
ス幅の広がりは、多光子励起現象が発生する確率を低下
させる。従って、標本面上でパルス幅をなるべく広がら
ないようにすることが望まれる。
方法として、所謂プレチャープコンペンセーションが知
られている。プレチャープコンペンセーションは、パル
スレーザビームをプリズムペア若しくはグレーティング
ペアに通すことにより、短い波長側の光を先に出す、言
い換えれば長い波長側の光を遅らせるという方法であ
る。
lse width control in microscopyby two-photon absor
ption autocorrelation; G.J. Brakenhoff, M. Muller
& J. Squier; J. of Microscopy, Vol. 179, Pt. 3, Se
ptember 1995, pp. 253-260」に記載される。詳しい説
明は省略するが、この文献には、プレチャープコンペン
セータとして使用されるプリズムペア若しくはグレーデ
イングペアを移動調整することにより標本面でのパルス
レーザビームのパルス幅を任意に可変できることが記載
される。
査型レーザ顕微鏡が、択一的に使用される複数の対物レ
ンズを有する場合、対物レンズが夫々異なる光路長を有
するため、プレチャープコンペンセータによる補正の程
度も各対物レンズに応じて異なってくる。即ち、プレチ
ャープコンペンセータを、ある1つの対物レンズに合わ
せて標本面におけるパルスレーザビームのパルス幅が最
小となるように調整しても、他の対物レンズの場合は標
本面におけるパルス幅が広がってしまう。ここで、本明
細書において、単に光路長という場合は、光学素子の幾
何学的長さではなく、光学素子が形成する光路の光学的
長さを意味するものとする。
鏡観察と同様に、先ず広範囲の観察が可能な低倍率の対
物レンズを使用して標本における観察対象を検索し、こ
の後に細部を観察するための高倍率の対物レンズに切替
えて使用するのが一般的である。この際、対物レンズを
切替えることによって標本面でのパルスレーザビームの
パルス幅が変化すると、最適な条件で多光子励起現象を
引き起こすことができなくなる。
ータの調整により対応しようとすると、その調整に費や
す時間に比例して標本から発せられる蛍光が褪色してし
まうという問題が発生する。標本の蛍光の褪色を防ぐ対
策としては、プレチャープコンペンセータの調整時に観
察視野内から標本を移動するといった方法が考えられ
る。この方法では、プレチャープコンペンセータの調整
後に再び観察視野内に標本を移動しなければならない。
しかし、標本を移動前と全く同じ位置に戻すことは非常
に困難であるため、この方法は観察及び測定に対して実
用的ではない。
ーザビームを使用する多光子励起レーザ顕微鏡におい
て、光路上に選択的に配置可能な光学部材の光路長に応
じて、容易に最適な条件で観察することを可能とするこ
とである。
多光子励起レーザ顕微鏡において、観察対象の標本を配
置するための配置部と、多光子励起現象により蛍光を発
するように前記標本を励起するためのパルスレーザビー
ムを出射するためのレーザ光源と、前記標本の蛍光を検
出するための検出器と、前記レーザ光源から前記標本へ
前記パルスレーザビームを導くために前記パルスレーザ
ビームの光路を形成する光学系と、を具備し、前記光学
系は、前記パルスレーザビームが前記光学系を通過する
際に、前記パルスの波長幅に起因して生じる前記パルス
レーザビームのパルス幅の広がりを抑制するため、前記
光路上に配設されたプレチャープコンペンセータと、前
記光路上に選択的に配置可能な光学部材と、前記光学部
材の光路長に対応し、前記光学系の焦点面における前記
パルスレーザビームのパルス幅が一定となるように前記
光路の光路長を補正するための光学的補正手段を具備す
る補正機構と、を有することを特徴とする。
子励起レーザ顕微鏡において、前記光学系は、前記標本
を前記パルスレーザビームで走査するための走査機構を
更に有することを特徴とする。
子励起レーザ顕微鏡において、前記光学部材は、前記標
本に対して前記パルスレーザビームを集光するように、
前記光路上に択一的に配置可能な複数の対物レンズであ
ることを特徴とする。
子励起レーザ顕微鏡において、前記光学部材は、前記標
本に対して前記パルスレーザビームを集光するように、
前記光路上に択一的に配置可能な複数の対物レンズと、
前記プレチャープコンペンセータと前記対物レンズとの
間に挿脱自在に設けられた平坦な光学素子とであること
を特徴とする。
子励起レーザ顕微鏡において、前記平坦な光学素子は、
ノマルスキー式の透過光観察用の光学素子であること
と、前記顕微鏡は、前記パルスレーザビームの前記標本
を透過した透過光を検出するための光学系及び検出器を
更に具備することとを特徴とする。
子励起レーザ顕微鏡において、前記光学的補正手段は、
前記光学部材の切替えに連動して切替えられることを特
徴とする。
子励起レーザ顕微鏡において、前記光学的補正手段は、
前記光路上の前記パルスレーザビームが平行光束で且つ
前記光束の角度変化がない位置に配置されることを特徴
とする。
子励起レーザ顕微鏡において、前記光学的補正手段は、
前記光学部材の光路長に応じて、前記光路の光路長が一
定となるように前記光路上に択一的に配置可能な複数の
光学的補正素子であることを特徴とする。
子励起レーザ顕微鏡において、前記光学的補正手段は、
前記光学部材の光路長に応じて、異なる電圧を印加する
ことにより、前記光路の光路長が一定となるように調整
可能な光学的補正素子であることを特徴とする。
光子励起レーザ顕微鏡において、前記光学的補正手段
は、前記光学部材の光路長に応じて、異なる圧力を印加
することにより、前記光路の光路長が一定となるように
調整可能な光学的補正素子であることを特徴とする。
て図面を参照して説明する。なお、以下の説明におい
て、略同一の機能及び構成を有する構成要素について
は、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行
う。
起走査型レーザ顕微鏡1を示す構成図である。
スレーザビームを出射するためのレーザ光源4と、レー
ザ光源4と標本Sとの間でレーザビームを案内するため
の光路を形成する光学系3とを有する。光学系3は、標
本Sを配置するためのステージ15を有する顕微鏡本体
2内の光学素子も含む多数の光学素子により構成され
る。
の除振台26上に配設される。除振台26上には、2つ
の架台27、28が配設される。架台27上には、レー
ザ光源4、ビームコリメータ5及びプレチャープコンペ
ンセータ6が配設される。架台28上には、走査光学ユ
ニット7及び補正機構22が配設される。走査光学ユニ
ット7及び後述するフォトマルチプライヤ21は、操作
パネル31を有するコンピュータ30に接続される。
ピコ秒の極短パルスQPを発振する。波長幅の広さは、
パルス幅の大きさに反比例するため、ここで使用される
極短パルスQPは、数ナノメータ程度の波長幅を有す
る。
上にビームコリメータ5及びプレチャープコンペンセー
タ6が配置される。ビームコリメータ5は、レーザ光源
4から出射されたレーザビームQを平行光束にコリメー
トする。プレチャープコンペンセータ6は、レーザビー
ムQが光学系3を通過する際に、パルスの波長幅に起因
して生じるパルス幅の広がりを打ち消すように予め調整
するために使用される。具体的には、プレチャープコン
ペンセータ6は、例えばプリズム等の光学素子6a〜6
dから構成され、入射されたコリメート済みのレーザビ
ームQに対して、短波長ほど先となるように波長順にプ
レチャープコンペンセータ6から出射させる作用を有す
る。
ペンセータ6から出射されたレーザビームQにより標本
Sの断面(焦点面)S’を走査するためのものである。
この走査光学ユニット7の出射側には、リレーレンズ
8、光路折り曲げユニット9を介して顕微鏡本体2が配
設される。なお、これらリレーレンズ8、光路折り曲げ
ユニット9及び顕微鏡本体2は、光軸が一致するように
配置される。
コ字形状の筐体11を有する。コ字形状の筐体11の上
部には結像レンズ12が配設され、且つ結像レンズ12
の下方側に倍率の異なる複数の対物レンズ、例えば3つ
の対物レンズ14a、14b、14cを取り付けたレボ
ルバ13が回転自在に配設される。対物レンズ14a、
14b、14cは、択一的に光軸上に配置可能となるよ
うに構成される。レボルバ13の下方には、標本Sを載
置するためのステージ15が配設される。ステージ15
は、筐体11に対して上下に位置調整可能に取付けられ
る。
が照射されると、多光子励起現象により蛍光を発する。
走査光学ユニット7には、標本Sで生じた蛍光とプレチ
ャープコンペンセータ6から出射されたレーザビームQ
とを分離するためのダイクロイックミラー16が配設さ
れる。
ザビームQの光路上には、互いに直交した方向にレーザ
ビームQを走査駆動するための一対のガルバノミラー1
7、18と、走査駆動されたレーザビームQを顕微鏡本
体へ導くためのリレーレンズ8とが配置される。
分離される蛍光検出のための光路上には、集光レンズ1
9、ピンホール20、及びフォトマルチプライヤ21が
配置される。集光レンズ19は標本Sからの蛍光をピン
ホール20に集光させるために使用される。ピンホール
20は標本Sと共役な位置に配置され、標本からの光に
含まれる焦点面以外の雑光を除去する。なお、多光子励
起走査型レーザ顕微鏡においては、対物レンズ14a、
14b、14cの焦点面、つまり標本Sの断面S’での
み多光子励起現象が生じるので、ピンホール20は走査
光学ユニット7に必ずしも必要でない。
異なる光路長を有する。このため、プレチャープコンペ
ンセータ6を、対物レンズの1つに合わせて断面S’
(光学系3の焦点面)における極短パルスQPのパルス
幅が最小となるように調整しても、対物レンズを切替え
た場合は断面S’におけるパルス幅が広がる可能性があ
る。この問題に対応するために、対物レンズ14a、1
4b、14cのいずれを選択した場合にも、断面S’に
おけるパルス幅が一定で且つ最小となるように光学系3
の光路長を補正するように補正機構22が配設される。
なお、前述の如く、本明細書において、単に光路長とい
う場合は、光学素子の幾何学的長さではなく、光学素子
が形成する光路の光学的長さを意味するものとする。
機構22は走査光学ユニット7と共通の筐体内に配設さ
れる。補正機構22は、平行光束にコリメートされたレ
ーザビームQの光路上に択一的に配置可能な補正板23
a、23b、23cを具備する。補正板23a、23
b、23cは、夫々対物レンズ14a、14b、14c
に対応して光路長が設定された同一のガラス材からな
る。対応する対物レンズ14a、14b、14cと補正
板23a、23b、23cとのペアのいずれが使用され
た場合にも、レーザ光源4から断面S’(光学系3の焦
点面)の光路長が同一となるように設定される。
23cは回転可能なターレット24に取付けられる。タ
ーレット24を回転させることにより、補正板23a、
23b、23cが光学系3の光軸上に択一的に配置可能
となる。
顕微鏡の作用について説明する。
ビームQが出射されると、このパルスレーザビームQ
は、先ずビームコリメータ5により平行光束に変換され
る。次に、レーザビームQは、プレチャープコンペンセ
ータ6に入射して、断面S’でレーザビームQのパルス
幅が最小になるように調整されて走査光学ユニット7に
導入される。
ーザビームQは、各対物レンズ14a、14b、14c
に対応するいずれか1つの補正板23a、23、23
c、例えば、対物レンズ14aに対応した補正板23a
を通過し、この対物レンズ14aに対応して断面S’に
おけるレーザビームQのパルス幅が一定となるように整
形される。
ト7のダイクロイックミラー16に入射する。ダイクロ
イックミラー16を透過したレーザビームQは、一対の
ガルバノミラー17、18で反射され、続いて、リレー
レンズ8、光路折り曲げユニット9を通って顕微鏡本体
2の光学系に入射する。
は、結像レンズ12によって、対物レンズ14a、14
b、14cの1つ、例えば対物レンズ14aの瞳径を満
足するような光束径に変換されて対物レンズ14aに導
入される。次に、このように対物レンズ14aに導入さ
れたレーザビームQは、その対物レンズ14aにより、
ステージ15上に載置された断面S’に集光される。
より、断面S’において2光子励起現象により部分的に
励起される。これにより、標本Sの断面S’からは、染
色した蛍光色素に応じた蛍光が発せられる。この蛍光
は、再び対物レンズ14aに取り込まれ、結像レンズ1
2、光路折り曲げユニット9、リレーレンズ8、一対の
ガルバノミラー18、17を通してダイクロイックミラ
ー16に入射し、パルスレーザビームQと分離される。
て反射され、集光レンズ19によってピンホール20に
集光される。そして、ピンホール20を通過した蛍光の
みがフォトマルチプライヤ21に入射する。このフォト
マルチプライヤ21は、蛍光を受光してその光量に応じ
た電気信号をコンピュータ30に対して出力する。
一対のガルバノミラー17、18がXY方向に駆動さ
れ、レーザビームQで断面S’がXY方向に走査され
る。コンピュータ30は、この走査により得られるフォ
トマルチプライヤ21の出力信号をガルバノミラー1
7、18の走査駆動に同期させることで、標本Sの断面
S’の2次元画像を構築することができる。
る際、その用途に応じてレボルバ13を回転させ、対物
レンズ14aを、対物レンズ14c(または対物レンズ
14b)に切替える場合がある。この場合、対物レンズ
の切替と略同時に補正機構22のターレット24を回転
させることで、対物レンズ14cに対応する補正板23
cを平行光束にコリメートされたパルスレーザビームQ
の光路上に配置する。
cは、対応する対物レンズ14a、14b、14cと組
合わされた場合、断面S’におけるパルス幅が一定とな
るように設定される。従って、例えば、対物レンズ14
aと補正板23aとを用いて初期段階(装置セットアッ
プ時)に断面S’でのレーザビームQのパルス幅を最小
に調整すれば、その後、他の対物レンズと補正板とのペ
アを使用した場合にも、プレチャープコンペンセータ6
の調整は不要となる。即ち、対応する対物レンズ14
a、14b、14cと補正板23a、23b、23cと
のペアのいずれが使用された場合にも、常に断面S’に
おけるパルス幅を一定で且つ最小とすることができる。
ザ顕微鏡によれば、いずれの対物レンズ14a、14
b、14cを切替えて使用した場合にも、最適な条件で
多光子励起現象を引き起こすことができる。また、瞬時
に最適な状態で観察が開始できるため、蛍光の褪色を最
小限に抑えることができ、作業効率が向上する。また、
各補正板23a、23b、23cは、平行光束にコリメ
ートされたレーザビームQの光路上に挿入されるので、
各補正板23a、23b、23cが各対物レンズ14
a、14b、14cの性能を劣化させることなく、シス
テム全体の光学性能を容易に維持できる。
手動による切替の他に、対物レンズ14a、14b、1
4cの切替に電気的または機械的に連動して切替えるよ
うにすることもできる。この場合、装置の操作が簡単と
なり、作業効率が向上すると共に、各補正板23a、2
3b、23cの誤挿入が発生しなくなる。例えば、これ
らの切替の電気的に完全に連動させる機構としては、図
1に破線で示すようなものを採用することができる。
13及びターレット24が夫々ステップモータ32、3
3で駆動される。また、ステップモータ32、33の回
転軸に夫々エンコーダ34、35が連結される。これら
の部材32〜35はコンピュータ30に接続される。ま
た、コンピュータ30に、いずれの対物レンズ14a、
14b、14cを使用するかを選択入力するための操作
パネル31が配設される。これにより、操作パネル31
からの入力に基づいて、対物レンズ14a、14b、1
4cと補正板23a、23b、23cとを連動して自動
的に切替えることができる。
ボルバに取付けられる対物レンズの位置及び倍率を予め
設定しておき、手動によるレボルバの回転時に、切替え
られた対物レンズに対応した補正板を判別し、補正板を
切替えるようにしてもよい。
ビームQが平行光束で且つ光束の角度変化がない位置、
例えばレーザ光源4からダイクロイックミラー16まで
の間の位置で光路上に配置することが望ましい。このた
め、プレチャープコンペンセータ6と走査光学ユニット
7との間の位置(図1に示す位置)の他、例えばビーム
コリメータ5とプレチャープコンペンセータ6との間に
設置することができる。
23b、23cは、各対物レンズ14a、14b、14
cの光学系が無限遠系であれば、レボルバ13または対
物レンズに内蔵することも可能であり、機械的に連動す
る機構の代用とすることもできる。この構成によれば、
装置構成がシンプルとなると共に安価となり、且つ誤動
作の心配もなくなる。
のガラス材を用い、板厚を変えることで光路長を変化さ
せていたが、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、同じ板厚に形成した補正板のガラス材を変える
ことで屈折率を変化させ、光路長を設定することができ
る。この場合、各補正板23a、23b、23cは、幾
何学的寸法が全く同じになるので、補正機構22に取り
付けるための部品を共通化できる。
る補正機構41、46、51を示す概略図である。
a、23b、23cを夫々矩形のブロック42に取付け
た例である。矩形のブロック42は矩形の回転子43に
着脱自在に固定される。この場合、回転子43の回転に
より、補正板23a、23b、23cが光学系3の光軸
上に択一的に配置可能となる。
a、23b、23cをスライド可能なスライダ47に取
付けた例である。この場合、スライダ47の直線動作に
より、補正板23a、23b、23cが光学系3の光軸
上に択一的に配置可能となる。
部53による電気的或いは物理的な外部作用により、異
なる光路長を光路上に択一的に提供可能な単一の光学的
補正素子52が使用される。光学的補正素子52として
は、電圧の印加により光路長が変化する平行平面板(E
OD素子)や、圧力の印加により光弾性を利用して光路
長が変化する平行平面板を使用することができる。
式の透過光観察機能を追加した場合の変更例を示す概略
図である。
マルスキープリズム等に代表される複屈折素子62がス
ライダ(図示せず)に取付けられ、走査光学ユニット7
の内部で且つダイクロイックミラー16よりプレチャー
プコンペンセータ6側の光路上に一体的に挿脱自在とな
る。この場合、フォトマルチプライヤ21による蛍光の
検出のみを行う際、偏光子61及び複屈折素子62を光
路上から外すと光路長が変わってしまう。この問題に対
応するため、偏光子61及び複屈折素子62の光路長に
対応した補正板23dが、ターレット24とは別体で且
つ補正機構22の一部をなすスライダ24aに取付けら
れる。補正板23dは、偏光子61及び複屈折素子62
が光路上から外れるのに連動して光路上に挿入される。
は、ステージ15の開口15aの下方に位置するよう
に、複屈折素子(ノマルスキープリズム)65及び偏光
子66が取付けられる。更に、顕微鏡本体2の筐体11
には、偏光子66を通過した透過光を反射し且つ検出す
るためのミラー67及び検出器68が取付けられる。
光子66は、部分的に屈折率が僅かに異なる無色透明の
物体や、微少な段差を有する不透明物体の表面など、目
では検出できない位相情報を、偏光干渉により、干渉色
のコントラストを付けて可視化する。従って、前述のフ
ォトマルチプライヤ21で検出される蛍光から得られる
情報に加えて、検出器68で検出される透過光から得ら
れる情報から、標本Sの構造を立体的に捉えることがで
きる。
光の検出のみが必要な場合は、上部側の偏光子61及び
複屈折素子62を光路上から外せばよい。また、これに
連動して偏光子61及び複屈折素子62の光路長に対応
した補正板23dを光路上に挿入する。これにより、ノ
マルスキー式の透過光観察機能と、フォトマルチプライ
ヤ21による蛍光検出とを切替えて使用する顕微鏡であ
っても、常に断面S’におけるパルス幅が一定で且つ最
小とすることができる。なお、図示の構成に代え、偏光
子61及び複屈折素子62の光路長を考慮した補正板
(図示せず)を、補正板23a、23b、23cに加え
てターレット24上に配設するようにしてもよい。
ルスキー式の透過光観察をおこなうための平坦な偏光子
61及び複屈折素子62に対応する補正板23dに関し
て述べているが、本発明はこれに限られるものではな
く、他の平坦な光学素子に関しても、これに対応した補
正板を配設する場合に適用することができる。
ては、標本SをパルスレーザビームQで走査するための
走査機構として、レーザビームQを走らせるための一対
のガルバノミラー17、18等を有する走査光学ユニッ
ト7を使用している。しかし、標本Sの走査は、標本S
とレーザビームQとを相対的に移動させることにより達
成できるものであるから、この走査には種々の機構を採
用することができる。例えば、レーザビームQを静止さ
せ、顕微鏡本体2のステージ15を走査のために駆動す
るような走査機構を使用してもよい。
ルスレーザビームを使用すると共に複数の対物レンズを
有する多光子励起レーザ顕微鏡において、光路上に選択
的に配置可能な光学部材の光路長に応じて、容易に最適
な条件で観察が可能となる。
ーザ顕微鏡を示す構成図。
構を示す概略平面図。
図。
平面図。
側面図。
察機能を追加した場合の変更例を示す概略図。
Claims (10)
- 【請求項1】観察対象の標本を配置するための配置部
と、 多光子励起現象により蛍光を発するように前記標本を励
起するためのパルスレーザビームを出射するためのレー
ザ光源と、 前記標本の蛍光を検出するための検出器と、 前記レーザ光源から前記標本へ前記パルスレーザビーム
を導くために前記パルスレーザビームの光路を形成する
光学系と、 を具備し、前記光学系は、 前記パルスレーザビームが前記光学系を通過する際に、
前記パルスの波長幅に起因して生じる前記パルスレーザ
ビームのパルス幅の広がりを抑制するため、前記光路上
に配設されたプレチャープコンペンセータと、 前記光路上に選択的に配置可能な光学部材と、 前記光学部材の光路長に対応し、前記光学系の焦点面に
おける前記パルスレーザビームのパルス幅が一定となる
ように前記光路の光路長を補正するための光学的補正手
段を具備する補正機構と、を有することを特徴とする多
光子励起レーザ顕微鏡。 - 【請求項2】前記光学系は、前記標本を前記パルスレー
ザビームで走査するための走査機構を更に有することを
特徴とする請求項1に記載の多光子励起レーザ顕微鏡。 - 【請求項3】前記光学部材は、前記標本に対して前記パ
ルスレーザビームを集光するように、前記光路上に択一
的に配置可能な複数の対物レンズであることを特徴とす
る請求項1に記載の多光子励起レーザ顕微鏡。 - 【請求項4】前記光学部材は、前記標本に対して前記パ
ルスレーザビームを集光するように、前記光路上に択一
的に配置可能な複数の対物レンズと、前記プレチャープ
コンペンセータと前記対物レンズとの間に挿脱自在に設
けられた平坦な光学素子とであることを特徴とする請求
項1に記載の多光子励起レーザ顕微鏡。 - 【請求項5】前記平坦な光学素子は、ノマルスキー式の
透過光観察用の光学素子であることと、前記顕微鏡は、
前記パルスレーザビームの前記標本を透過した透過光を
検出するための光学系及び検出器を更に具備することと
を特徴とする請求項4に記載の多光子励起レーザ顕微
鏡。 - 【請求項6】前記光学的補正手段は、前記光学部材の切
替えに連動して切替えられることを特徴とする請求項1
に記載の多光子励起レーザ顕微鏡。 - 【請求項7】前記光学的補正手段は、前記光路上の前記
パルスレーザビームが平行光束で且つ前記光束の角度変
化がない位置に配置されることを特徴とする請求項1に
記載の多光子励起レーザ顕微鏡。 - 【請求項8】前記光学的補正手段は、前記光学部材の光
路長に応じて、前記光路の光路長が一定となるように前
記光路上に択一的に配置可能な複数の光学的補正素子で
あることを特徴とする請求項1に記載の多光子励起レー
ザ顕微鏡。 - 【請求項9】前記光学的補正手段は、前記光学部材の光
路長に応じて、異なる電圧を印加することにより、前記
光路の光路長が一定となるように調整可能な光学的補正
素子であることを特徴とする請求項1に記載の多光子励
起レーザ顕微鏡。 - 【請求項10】前記光学的補正手段は、前記光学部材の
光路長に応じて、異なる圧力を印加することにより、前
記光路の光路長が一定となるように調整可能な光学的補
正素子であることを特徴とする請求項1に記載の多光子
励起レーザ顕微鏡。
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