JP2016516219A - ランダムアクセス誘導放出抑制(sted)顕微鏡 - Google Patents

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Abstract

光学スキャニングシステム(80)は、第1及び第2光学ビーム(110,110b)をガイドするための光学システム(3)と、方向変更可能な手法で第1及び第2光ビームを偏向するための偏向装置とを備える。偏向装置は、少なくとも1つの音響光学デフレクター(100.1,100.2,100.3,100.4)を備え、光学システムは、第1及び第2光ビームが音響光学デフレクターを介して反対方向に伝播されるように配置され、第1及び第2光ビームを同時又はパルスシーケンスで偏向するために制御可能である。STED顕微鏡装置は、音響光学デフレクターに基づいて光学スキャニングシステムを備える。【選択図】図3

Description

本発明は、撮像技術、特に、アッベ回折限界を解決することができる、高速で超解像の顕微鏡技術に関する。
生物材料の研究のために開発された技術の間で、多重格子(MP)顕微鏡はそのような材料を撮像するのに必須のツールとなってきている。疾病関連の遺伝子を導入した動物モデルと、電位感受性あるいはカルシウム感受性の指示薬等の、一般に符号化された細胞機能の分子蛍光探り針とを組み合わせることにより、現在、MP顕微鏡は生きている脳細胞を研究するための最適な手段であると考えられている。
ニューロンは、ミリ秒範囲の膜電位の変化により情報を伝達する。脳活動の記録には異なる空間スケール、すなわち3次元の高い時間分解能で機能できる解像技術が要求される。実際に、たとえニューロン単体の活動を考えたとしても、ニューロン信号は樹状突起及び軸索のセグメントを介して空間及び時間的に別々に分配される。
脳機能のある程度大きなスケール態様が個々のニューロンの電気特性に起因するかもしれないことが示されている。それにも拘わらず、近接配置されたニューロンは活動パターンが大きく相違する一方、十分に離れた細胞が軸索処理を介して互いに影響することにより同一の機能回路に属していることがある。したがって、脳機能を組織的に分析するための効率的な手法として、脳容量の隅々まで多くの細胞の電気的な活動を同時にモニターすることが必要とされる。
高速の液体レンズ、可変ミラー、時間空間多重送信、アキシコン又は平坦な照明下での撮像、ホログラフィースキャニング、及び、シヌソイド及び非線形共鳴を使用したピエゾスキャニングを含む数々の技術が、脳細胞を3次元(3D)測定するために開発されている。慣性のない音響光学デフレクター(AOD)は、米国特許公開第2007/0201123号明細書に記載されるように、機械的な動きなしにレーザ光のランダムアクセス撮像及び高速変更集光を行うために使用されてきた。MP顕微鏡を、このような2次元(2D)又は3次元(3D)のビームスキャニング(ランダムアクセス多重格子顕微鏡−RAMP)の組み合わせは、脳機能を研究するための最も適切なアプローチの1つであることを示している。
光学スキャニング固有の利点にも拘わらず、MP顕微鏡は回折によって制限される空間分解能があり、相対的に高い励起波長値の障害を受ける。これにより、RAMP顕微鏡の空間分解能は改良されなければならないが、それは高時間分解能に影響せずに改良されている。
現在、回折限界を克服し、蛍光顕微鏡の空間分解能を増大させるための最適な手法の1つが誘導放出抑制(STED)技術である。そのような手法の基本的な原理は、隣接する要素が誘導放出処理によって時間的に連続して放出するような予め決められたサンプルの座標で、自然蛍光放出を抑制することに基づいている。最も一般的なSTEDの構成は、誘導放出を誘導する異なる波長の第2レーザ光に重畳された、規則正しく集光された励起レーザ光を出力し、ドーナツ状の焦点形状等の少なくとも1つの強度ゼロ地点を有する。
2009年、多重格子STED顕微鏡技術が提案され、STEDの超分解能を備えた2光子励起(2PE)の利点を組み合わせている。STED顕微鏡の最近の改良は2光子励起と1光子励起のために同一波長を使用することである。これにより、そのような超分解能顕微鏡のデザイン及び撮像構成が共に簡略化される(米国特許公開第2009/0121153号明細書及び米国特許公開第2011/0031411号明細書参照)。
米国特許公開第2007/0201123号明細書 米国特許公開第2009/0121153号明細書 米国特許公開第2011/0031411号明細書
本発明の1つの目的は、超分解能顕微鏡又はリソグラフィ装置が、それぞれ高速現象又はナノ構造物品の生成の研究を可能とするためのスキャニングシステム提供することである。
本発明の他の目的は、迅速に異なる手法で、所定容量内の予め決められた複数の位置で2つの光ビームの焦点を方向付けることができる光学スキャニングシステムを提供することである。
これら及び他の目的は本発明に係る光学スキャニングシステムによって達成される。
すなわち、光学スキャニングシステムは、
第1及び第2光ビームを案内する光学システムと、
前記第1及び第2光ビームを直接種々の方法で偏向する偏向手段と、
を備え、
前記偏向手段は、少なくとも1つの音響光学デフレクターを備え、前記光学システムは、前記第1及び第2光ビームが前記少なくとも1つの音響光学デフレクターを介して反対方向に伝播させるように配置され、前記少なくとも1つの音響光学デフレクターは、同時に又はパルスシーケンスで前記第1及び第2光ビームを偏向するために操作可能である。
本発明は、蛍光顕微鏡及び脳細胞の機能イメージングの分野に関して特別に発明されたものではあるが、実際には、ナノ印刷技術、ナノ加工、光学情報検索及び記憶装置、及び、高速の現況を含む他の分野等、他の分野でも有用である。
本発明によれば、2つの光ビームがランダムアクセススキャニングシステムに反対側から入り、各AOD要素を介して反対方向に伝播する。この構成はAODの最大偏向効率を活用し、両光ビームがAODによって要求される偏光に合致し、同一波長を有する。これにより、各AOD要素のための1つの音響制御波長で十分である。AOD要素の数に依存して、種々の方向でスキャニングすることができるシステムを提供することもできる。すなわち、単一のAODで、1次元(1D)のスキャンを実行できる一方、4つのAODで、3次元(3D)のスキャンを実行できる。
本発明の好ましい実施形態では、本発明は、ターゲット材料内に含まれる励起性化学種の分子を励起した状態とするために、ターゲット材料に照射する装置に関する。この装置は、
本発明に係る光学スキャニングシステムであって、前記第1光ビームが前記分子を励起状態へと励起させるのに適しており、前記第2光ビームが前記励起状態の前記励起分子の数を抑制するのに適した光学スキャニングシステムと、
前記第1及び第2光ビームが前記ターゲット材料に、それぞれ移動可能で、部分的に重なる照射領域を形成するように、前記第1及び第2光ビームを前記ターゲット材料に方向付ける手段と、
を備える。
本発明の特に好ましい実施形態では、RAMP技術と単一波長の2光子励起STED(SW 2PE−STED)技術を組み合わせた光学方式を提供し、結果として「ランダムアクセス誘導放出抑制(RASTED)顕微鏡」として定義される高速超分解能顕微鏡が得られる。そのような技術は、従来のレーザスキャニングシステムの相対的に長い時間を必要とすることなしに、サンプル中の関心物の状態の超分析撮像のための手法を提供する。また、そのような高速スキャニングは、ニューロン内での電気信号伝達等の現象を観察するために必要とされる。
一定周波数の音波を有する従来技術に係る音響光学デフレクターの回路図である。 本発明に係る2つの対向伝播光ビームを偏向する一定周波数の音波を有する音響光学デフレクターの回路図である。 好ましい2次元ランダムアクセス多重光子超解像STED顕微鏡の回路図である。 顕微鏡の解像度を改良するために、図3に係る顕微鏡のビーム整形装置に適用されるべき好ましい位相マスクの略図を示す。 好ましい3次元AODスキャニングシステムの回路図である。
本発明に係るシステムのさらなる特徴及び利点は、単に限定されない例として提供された添付図面を参照して、後述する本発明の実施形態の詳細な説明から明らかとなるであろう。
まず図1を参照すると、ドライバ装置140は音響光学デフレクター(AOD)を介して伝送される音波130を生成する。音波130は一定の周波数を有し、AOD100を通過して伝送される。またAOD100は、その一部が120によって示される入射光ビーム110を受信し、回折されるか、又は、偏向されて、光ビーム110と音波130の間に相互作用を及ぼす。偏向光ビーム120が角度θで偏向されるが、それは音波の周波数に依存している(この原理のより詳細な論考は、ここで参照文献として引用した米国特許公開第2007/0201123号明細書で提供される。)。したがって、音波130の周波数の変化は、入射光ビームが偏向される角度θを変更する。運動量保存の法則で示されるように、偏向光ビーム120は、音波130が伝播する(すなわちドライブ装置140から離れる)のと同一方向に偏向される。
AOD100が伝送方向に対して対称であるので、第2光ビーム110bが第1光ビーム110とは反対側でAOD100内に入ると、この第1光ビーム110に対して同時に又はパルスシーケンスで、各入射ビーム110,110bの一部120,120bが回折又は偏向されて、それぞれ角度θ及びθbで、音波130と光ビーム110及び110bの間に相互作用をもたらす。
図3は好ましいランダムアクセスSTED顕微鏡の略図を示す。
前述の顕微鏡は、光源10、特にレーザ源、例えば、調整可能なパルスの超高速Ti、すなわちサファイアレーザを備え、それは140fsのパルス幅を有する80Mhzの繰り返し周波数で駆動する。光源10は、半波プレート16を通過する偏向した光ビーム15を放射し、2つの光ビーム110及び110bを得るために偏向ビームスプリッター17を通過する。第1光ビーム110が多重光子励起ビームとしてふるまう一方、第2光ビーム110bは抑制ビームとしてふるまう。2つのビームのパルスは、サンプルに到達する際に同期しなければならないため、遅延ライン21は第2光ビーム110bの光路に沿って設けられている。さらに第2光ビーム110bは、250psのパルス長に到達するために、パルス伸張装置22によって引き延ばされている。伸張装置は、3つの20cmのガラス棒と、100mの単一モードの定偏波(PM)光ファイバーとによって実現されるのが好ましい。光ファイバーの出力は、そこでの偏光が第1光ビーム110の偏光と合致するように回転される。しかしながら、光子やプリズムを使用する等、他の伸張装置による実現も可能である。
第1光ビーム110の時間分散の前置補償を実現するため、プリチャープ装置23が前記光ビームの光路に沿って配置されている。好ましくは、そのような装置は光子によって実現されてもよいが、プリズムに基づいてもよい。
好ましくは、励起ビームのパルス長は1ps以下、特に好ましい態様では、焦点位置で150fsと等しい。また、好ましくは、抑制ビームのパルス長は50ps以上、特に好ましい態様では、200psと2nsの間である。
前述の構成要素は、前述の特徴を有する、同期可能なパルス110及び110bを備えた2つの光ビームを生成する生成ブロック30を形成する。単一のレーザ源の代替手段として、生成ブロックは幾つかの光源を有するシステムを備えてもよい。
2つのミラーセット35のそれぞれを介して、光ビーム110及び110bは音響光学デフレクター(AOD)に基づいて2次元のランダムアクセス光学スキャニングシステム80に進入する。光ビーム110及び110bは同一偏光及び同一波長を有し、2つの偏光ビームスプリッター81によってスキャニングシステムに合流する。好ましくは、第1光ビーム110は、予め決められたx軸に沿ってスキャンすることを意図した第1AOD100.1に衝突した後、y軸に沿ってスキャンするために、90度回転された第2AOD100.2、続いて光子又は他のAODによって実現される45度回転された空間分散補償要素83に衝突する。この位置で、ビームスプリッター81を介してスキャニングシステム80を出る際、第1光ビーム110は、このシステム内に侵入した方向と直交する偏光を有する。このため、スキャニングシステム80は奇数個の複屈折要素を備える。しかしながら、空間分散補償要素83は45度回転されるので、間にAOD又は光子を有する2つの半波プレートを備える。一連のAODに基づく単一のビームスキャニングシステムのより詳細な論考は、ここで参照文献として引用された米国特許公開第2007/0201123号明細書で提供される。
第2光ビーム102は、3つの要素100.1,100.2及び83を通過し、逆順で、すなわち、まず要素83、続いて要素100.2、最後に要素100.1の順で通過する第1光ビームに対して反対方向に伝送する。
スキャニングシステム80を離れた第2光ビーム110bは、ビーム整形装置40、好ましくはボルテックス位相プレートを通過する。位相マスクのある公知の例が図4に示されており、41はボルテック位相マスクを示し、42は同心位相マスクを示し、43は半月位相マスクを示す。これらのマスクは位相プレート又は空間光学モジュレータで得られてもよい。半月位相マスクは1次元スキャニングシステムで使用されるのが好ましいが、同心位相マスクは3次元スキャニングシステムで使用される。いずれの場合であっても、全ての組み合わせが可能である。
2つの光ビーム110及び110bは、90度毎に光ビーム110bの偏光を回転させる半波プレート45と、偏光ビームスプリッター46とによって合流する。合流したビームは、互いに直交する線形偏光を有し、光ビームの円形偏光を得るために、短路ビームスプリッター51と1/4波プレート52を介して対物レンズ50に向かって方向付けされ、蛍光サンプル60に焦点を合わせる。サンプルによって放射された蛍光63は、対物レンズ50によって集められ、ビームスプリッター51を通過した後、検出器70、好ましくは光電子増倍管で必要とされる。
スキャニングシステム80は、(各AODに関係するそれぞれのドライブ装置を制御する)コンピュータ75によって制御され、コンピュータは検出器70によって必要とされる画像を復元して表示する。
また、図3は、全てのAODを光学的に位置決めするように機能するレンズシステム77と共役面での位相マスクを示す。
図5は、3次元ランダムアクセススキャニングユニットの実施例を示す。図3に示すものに対応する部位は同様な参照符号によって示されている。
図5に示す実施例は、水平及び軸方向の2つのビーム110及び110bの焦点でスキャンを実行することができる4つのAOD100.1,100.2,100.3,100.4と、空間分散補償とを備え(この関連として米国特許公開第2007/0201123号明細書参照)、半波プレート84が奇数の複屈折要素を得るために挿入されている。

Claims (8)

  1. 第1及び第2光ビーム(110,110b)をガイドするための光学システム(81)と、
    前記第1及び第2光ビームを、方向変更可能な手法で偏向するための偏向手段と、
    を備え、
    前記偏向手段は、少なくとも1つの音響光学デフレクター(100.1,100.2,100.3,100.4)を備え、
    前記光学システムは、前記第1及び第2光ビームが前記少なくとも1つの音響光学デフレクターを介して反対方向に伝播させるように配置され、
    前記少なくとも1つの音響光学デフレクターは、同時又はパルスシーケンスで、前記第1及び第2光ビームを偏向するために制御可能である光学スキャニングシステム(80)。
  2. 前記第1及び第2光ビームを生成するための生成手段(30)を備え、
    前記生成手段は、第1及び第2光ビームが前記少なくとも1つの音響光学デフレクター内に進入する際、同一の波長と偏光を有するように設計されている請求項1に記載のシステム。
  3. ターゲット材料に含有される励起性化学種の分子を励起状態に励起させるために、ターゲット材料を照射するための装置であって、
    前記第1光ビームが前記励起性化学種の分子を前記励起状態に励起させるのに適合し、前記第2光ビームが前記励起状態の励起分子の数を抑制するのに適合する請求項2に記載の光学スキャニングシステムと、
    前記第1及び第2光ビームが前記ターゲット材料上にそれぞれ移動可能で部分的に重なった照射領域を形成するように、前記第1及び第2光ビームを前記ターゲット材料上に方向付けるための手段と、
    を備えた装置。
  4. 誘導放出抑制(STED)光学顕微鏡のための装置を備え、
    前記第1光ビームは短パルス励起ビームで構成され、前記第2光ビームは長パルス励起ビームで構成されている請求項3に記載の装置。
  5. 前記励起性ビームの波長は、励起性化学種の自発蛍光放射が可能であり、多重光子励起蛍光の断面は0ではないスペクトル窓内にある請求項4に記載の装置。
  6. 前記励起ビームのパルス長は1ps以下、好ましくは焦点で150fs以下であり、抑制ビームのパルス長は、50ps以上、好ましくは200ps及び2nsの間の範囲である請求項4又は5に記載の装置。
  7. 励起ビームと抑制ビームは共に、前記スキャニングシステム内への進入時、線形状に偏光されている請求項4から6のいずれか1項に記載の装置。
  8. 抑制ビームを整形し、好ましくは、光学スキャニングシステムの後と、前記第1及び第2光ビームが一緒になる前とで活性平面に配置されるビーム整形装置(40)を備えた請求項4から7のいずれか1項に記載の装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111879234A (zh) * 2020-06-19 2020-11-03 浙江大学 基于偏振调制空心光斑照明的三维亚十纳米定位方法和装置
JP2022518162A (ja) * 2019-01-25 2022-03-14 ホーホシューレ、フューア、アンゲバント、ビッセンシャフテン、ミュンヘン 誘導放出抑制顕微鏡法用パルス整形

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015020814A1 (en) * 2013-08-08 2015-02-12 Applied Materials, Inc. Photonic activation of reactants for sub-micron feature formation using depleted beams
HUE044462T2 (hu) 2014-10-15 2019-10-28 Inst Nat Sante Rech Med Eljárás fázisban és amplitúdóban térbeli fénymoduláció létrehozására alkalmas rendszer jellemzõinek meghatározására nagy frissítési frekvenciával
JP6232525B1 (ja) * 2016-02-09 2017-11-15 国立研究開発法人科学技術振興機構 照射装置、レーザ顕微鏡システム、照射方法及びレーザ顕微鏡の検出方法
WO2017159821A1 (ja) * 2016-03-17 2017-09-21 国立研究開発法人科学技術振興機構 イメージング装置及びイメージング方法
WO2018045014A1 (en) * 2016-08-31 2018-03-08 Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Stimulated emission depletion nonlinear structured illumination microscopy (sted-nsim) apparatus, methods, and applications
EP3649508B1 (en) * 2017-07-03 2023-04-05 Electro Scientific Industries, Inc. Optically contacted acousto-optic device and method of making the same
WO2019138119A1 (de) * 2018-01-15 2019-07-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Akustooptische vorrichtung und verfahren
CN108761755A (zh) * 2018-05-28 2018-11-06 西北大学 一种受激辐射损耗显微镜***及其控制方法
CN112764326A (zh) * 2021-01-21 2021-05-07 浙江大学 一种具有高速轴向扫描能力的三维直写光刻方法及装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04331927A (ja) * 1991-05-07 1992-11-19 Laser Tec Kk 偏向ビーム発生装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4405237A (en) * 1981-02-04 1983-09-20 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Coherent anti-Stokes Raman device
JP3410287B2 (ja) * 1996-04-11 2003-05-26 Kddi株式会社 光スイッチ
EP1668394A1 (de) * 2003-09-25 2006-06-14 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Mikroskop mit evaneszenter beleuchtung
WO2006042130A2 (en) * 2004-10-06 2006-04-20 Baylor College Of Medicine High speed microscope with three-dimensional laser beam scanning
JP5139077B2 (ja) 2005-01-16 2013-02-06 ベア,ステフェン,シー 単一波長誘導放出制御顕微鏡法
US20090219607A1 (en) * 2008-01-17 2009-09-03 Baylor College Of Medicine Method and apparatus for enhanced resolution microscopy of living biological nanostructures
US8053743B2 (en) 2008-03-17 2011-11-08 Baer Stephen C Superresolution in devices with single wavelength illumination
US8432543B2 (en) * 2010-09-20 2013-04-30 Robert D Frankel Method and system for raman, fluorescence, lithographic, stimulated emission and photochemical imaging beyond the diffraction limit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04331927A (ja) * 1991-05-07 1992-11-19 Laser Tec Kk 偏向ビーム発生装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022518162A (ja) * 2019-01-25 2022-03-14 ホーホシューレ、フューア、アンゲバント、ビッセンシャフテン、ミュンヘン 誘導放出抑制顕微鏡法用パルス整形
CN111879234A (zh) * 2020-06-19 2020-11-03 浙江大学 基于偏振调制空心光斑照明的三维亚十纳米定位方法和装置

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