JPH112670A - 二次電池の寿命予測装置 - Google Patents

二次電池の寿命予測装置

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JPH112670A
JPH112670A JP9153463A JP15346397A JPH112670A JP H112670 A JPH112670 A JP H112670A JP 9153463 A JP9153463 A JP 9153463A JP 15346397 A JP15346397 A JP 15346397A JP H112670 A JPH112670 A JP H112670A
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battery
secondary battery
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life
voltage
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JP9153463A
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Shigenori Watari
亘  重範
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Hitachi Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/3644Constructional arrangements
    • G01R31/3647Constructional arrangements for determining the ability of a battery to perform a critical function, e.g. cranking

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
  • Power Sources (AREA)
  • Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】主電源を長期に亘って継続的に使用する情報処
理装置において、二次電池の寿命を正確に予測可能な二
次電池の寿命予測装置を実現する。 【解決手段】MPU1は電池容量見直しの定期時期とな
ると充電制御トランジスタ制御信号A21aで充電制御
トランジスタA12aを遮断し、電圧測定放電コントロ
ール信号A32aで電圧測定放電用トランジスタA31
aをオンとしニカド電池A3aを放電させる。MPU1
はバス8を介しラッチ回路28から電圧データ、時計レ
ジスタ16から時間データを読み出し記憶装置2に書き
込む。MPU1は電池電圧データが基準値以下となると
その時の時間データと測定開始直後の時間データとから
ニカド電池の容量を算出し記憶装置2に書き込む。MP
U1は記憶装置2に記憶されている過去及び現在の容量
データから容量変化のトレンドを算出しニカド電池A3
aの寿命を予測してCRT10に表示させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報処理装置が動
作するために必要な電力が遮断された場合においても、
記憶装置内の記憶内容を保持する為に必要な電力を供給
する二次電池(ニカド電池を代表とする蓄電池、以下ニ
カド電池を例に記載する)の寿命を予測する装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】パーソナルコンピュータ等の情報処理装
置においては、この情報処理装置が動作するために必要
な主電源の電力が遮断された場合に、情報処理装置に設
けられた記憶装置内の記憶内容を保持するために必要な
電力を供給する二次電池(ニカド電池を代表とする蓄電
池、以下、ニカド電池を例に記載する)が備えられてい
る。
【0003】上記ニカド電池が充分な電圧を発生するこ
とができない場合には、電力遮断時に、記憶装置の記憶
内容を確実に保持させることはできない。
【0004】そこで、情報処理装置の直流電源を停止
し、再起動される際に、電池電圧監視回路等によってニ
カド電池の端子電圧を測定し、ニカド電池の端子電圧
が、記憶装置内の記憶内容を保持する為に必要な電圧に
達しているか否かを検出する。
【0005】そして、ニカド電池の端子電圧が、必要な
電圧に達していない場合には、情報処理装置装置の立ち
上げ後に、ニカド電池の異常を表示するように構成され
ている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の電池電
圧監視回路を使用した情報処理装置であって、使用形態
によっては、定期的又は頻繁に、この情報処理装置の不
要期間が存在する場合がある。この場合には、情報処理
装置の主電源を定期的又は頻繁にオフとし、装置若しく
は直流電源の機能を停止させ、停電期間に電池電圧監視
回路によってニカド電池の端子電圧の測定を行うことが
できる。
【0007】そして、ニカド電池の故障による端子電圧
の低下や、電池容量が約5%以下(20°C)となると
生じる顕著な端子電圧の降下を検出し、ニカド電池の寿
命を予測することは可能である。しかし、例えば、フル
稼動の生産設備に情報処理装置を使用する場合において
は、主電源を長期に亘ってオン状態とし、装置若しくは
直流電源の機能を停止させることが無い環境下で連続的
に使用される。
【0008】この場合においては、情報処理装置若しく
は直流電源の機能を停止させ、停電期間に電池電圧監視
回路によってニカド電池の端子電圧の測定を行うことは
できず、搭載されたニカド電池は常に充電回路により充
電が行われている。
【0009】このため、上述したような主電源が長期に
亘ってオン状態とされる情報処理装置にあっては、ニカ
ド電池の端子電圧を検出しても、放電時に示すはずの本
来の端子電圧より高い電圧を示すことになるため、電池
自身の電圧を正確に測定することができない。
【0010】また、その寿命間近となって、急激に端子
電圧が低下するという、ニカド電池の充電電圧の特性
上、端子電圧のみから、電池の劣化による容量変化や、
電池の寿命を判断することは困難である。
【0011】したがって、ニカド電池が寿命状態にある
にも拘らず、これを検出することができず、故意若しく
は偶発的に、装置の直流電源が停止した場合には、重要
なデータを含む記憶装置内の記憶内容が破壊されてしま
う可能性があった。
【0012】本発明の目的は、主電源を長期に亘ってオ
ン状態として、継続的に使用する情報処理装置において
も、二次電池の経時変化による性能の劣化、電池の容量
の絶対値の減少を検出して、二次電池の寿命を正確に予
測可能な二次電池の寿命予測装置を実現することであ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】
(1)本発明は、上記目的を達成するため、次のように
構成される。すなわち、情報を記憶する記憶手段に電力
を供給する直流電源により充電され、この直流電源の上
記記憶手段への電力供給の停止時には、上記記憶手段に
電力を供給する二次電池の寿命を予測する二次電池の寿
命予測装置において、上記二次電池は複数個設けられて
おり、上記直流電源からの、それぞれの二次電池への電
力供給を選択的に遮断する複数の開閉手段と、上記直流
電力からの二次電池への電力供給が遮断されたとき、電
力が遮断された二次電池を放電させて、放電特性を検出
し、記憶する放電特性記憶手段と、上記複数の開閉手段
のうちの1つの開閉手段を選択し、複数の二次電池のう
ちの選択した二次電池への電力供給を所定の間隔で複数
回遮断させ、上記選択した二次電池の複数の放電特性を
上記放電特性記憶手段に記憶させ、記憶された複数の放
電特性から、上記選択された二次電池の寿命を予測する
寿命予測手段と、予測された二次電池の寿命を表示する
寿命表示手段と、を備える。
【0014】(2)また、二次電池の寿命予測装置にお
いて、情報処理装置を統括するマイクロプロセッサと、
マイクロプロセッサが動作するために必要な情報を格納
する記憶手段と、情報処理装置内で使用する直流の電力
を外部の交流電源から生成し供給する直流電源と、外部
の交流電源側の電圧を監視し、直流電源の稼動に不充分
な電圧ならば、マイクロプロセッサに停電予告信号を発
生する低電圧監視回路と、直流電源からの電力が遮断さ
れたとき、上記記憶手段に電力を供給する複数の二次電
池と、直流電源から、それぞれの二次電池への充電を行
う回路と、直流電源から、それぞれの二次電池を選択的
に切り離す複数のスイッチ手段と、これらのスイッチ手
段を制御する充電制御回路と、直流電源から切り離され
た二次電池を放電させ、このニ次電池の端子電圧を測定
する電池電圧監視回路と、時計機能を有する時計レジス
タと、電池電圧監視回路からの電池電圧の変化データ並
びに時計レジスタからの時間データを使用し、二次電池
の完全放電時間を計測し、この計測を設定された間隔で
繰り返し、他の二次電池に関しても同様な計測を交互
に、測定する二次電池を換えながら行い、計測した完全
放電時間データから容量変化傾向を分析し、各二次電池
の残寿命を予測する寿命予測手段と、予測された各二次
電池の寿命を表示する表示手段と、を備える。
【0015】(3)好ましくは、上記(1)において、
上記二次電池は、情報処理装置の外部補助記憶装置に搭
載される二次電池であって、上記記憶手段としてSRA
Mが使用され、停電時にそのSRAMの記憶内容の保持
のために上記二次電池が使用される。
【0016】連続運転状態で使用し、不慮の停電以外に
装置を停止することの無い環境において使用される情報
処理装置等の装置において、定期的に、複数の二次電池
のうちの選択されたものへの電力供給を遮断し、放電さ
せ、放電特性が記憶される。この放電特性は、複数回測
定され、その結果から二次電池の容量劣化傾向が得ら
れ、その二次電池の寿命が予想される。
【0017】これにより、連続運転状態で使用される情
報処理装置等の二次電池であっても、不慮の停電による
記憶手段への電力供給の停止を生じさせること無く、二
次電池の複数回の放電特性を得て、二次電池の正確な寿
命を予測することが可能となる。 したがって、二次電
池の早期交換を警告表示することにより、情報処理装置
の電源によって供給される電流が事故等により遮断され
た時、同時に二次電池の寿命が切れていたことによる、
記憶装置内の記憶内容の消失を防止することができる。
【0018】
【発明の実施の形態例】以下、本発明の実施の形態を添
付図面を参照して説明する。図1は、本発明の第1の実
施形態である二次電池寿命予測装置を情報処理装置に適
用した場合における、メモリ電源バックアップ回路の概
略構成図である。
【0019】図1において、MPU(マイクロプロセッ
サ)1は、記憶装置2(放電特性記憶手段)内のプログ
ラムやデータをMPUバス8を介して取り込み、情報処
理装置としての動作を行う。また、MPU1は、電池電
圧監視回路5内のラッチレジスタ28(図1に示さず)
の内容と時計レジスタ16の内容とを定期的に読み出
す。
【0020】ラッチレジスタ28には、メモリ(記憶装
置2)の電源バックアップ用電源であるニッケル・カド
ミウム二次電池3a(以下、ニカド電池A3aと記す)
又はニッケル・カドミウム二次電池3b(以下、ニカド
電池B3bと記す)の電圧データが格納されている。
【0021】そして、MPU1は、ラッチレジスタ28
から読み出したニカド電池A3a又はニカド電池B3b
の電圧データと、時間レジスタ16から読み出した時間
データとから、ニカド電池A3a又はニカド電池B3b
の容量の経時劣化を検出し、ニカド電池A3a又はニカ
ド電池B3bの寿命を算出し、CRT制御回路9を介し
て、CRT10上にニカド電池A3a又はニカド電池B
3bの使用限界時期を警告表示する。
【0022】記憶装置2は、MPU1が動作するために
必要なプログラムやデータを記憶し、直流電源7が遮断
した場合は、ニカド電池A3a及びニカド電池B3bか
ら記憶内容を保持する為に必要な電力が、ダイオード1
4を介して供給される。直流電源7は、MPU1、記憶
装置2を含む、情報処理装置内で使用される直流5V
(ボルト)の電力を外部の交流100V電源15から生
成し供給する。
【0023】低電圧検出回路6は、交流100V電源1
5の電圧を監視する。そして、低電圧検出回路6は、交
流電源15が遮断されるか、直流電源7が情報処理装置
内で使用される直流5Vの電力を供給する動作を保証で
きない電圧に達した場合は、停電予告信号25をMPU
1及び充電制御回路4に送信する。
【0024】低電圧検出回路6からの停電予告信号25
を受信したMPU1は、記憶装置2への書き込み動作を
停止し、直流5Vが不安定状態になった状態での記憶装
置2への誤書き込みを防止する。
【0025】直流電源7から直流5Vが供給されなくな
った場合でも、記憶装置2には、ニカド電池A3a及び
ニカド電池B3bから、放電用ダイオード14を介して
記憶内容の保持に必要な電力が供給される。
【0026】充電制御回路4は、図2に示すように、タ
イマー17と、ロジック18と、充電時間レジスタ33
とで構成され、充電制御トランジスタ制御信号A21
a、充電制御トランジスタ制御信号B21bと、電池電
圧ラッチ信号23とを発生する。充電制御トランジスタ
制御信号A21a及び充電制御トランジスタ制御信号B
21bは、それぞれ充電制御トランジスタA12aおよ
び充電制御トランジスタB12b(開閉手段、スイッチ
手段)をオン又はオフさせる信号で、ニカド電池A3a
の充電を行なう場合には、充電制御トランジスタA12
aをオン状態にし、ニカド電池B3bの充電を行なう場
合には、充電制御トランジスタB12bをオン状態に
し、充電を行う。
【0027】つまり、トランジスタA12aのコレクタ
はニカド電池A3aのプラス極に接続され、エミッタ
は、充電電流制御用抵抗13a、逆流素子ダイオード1
1を介して直流電源7に接続されている。そして、トラ
ンジスタA12aのベースに充電制御トランジスタ制御
信号A21aが供給される。
【0028】また、トランジスタB12bのコレクタは
ニカド電池B3bのプラス極に接続され、エミッタは、
充電電流制御用抵抗13b、逆流素子ダイオード11を
介して直流電源7に接続されている。そして、トランジ
スタB12bのベースに充電制御トランジスタ制御信号
B21bが供給される。
【0029】また、充電制御回路4は、電池電圧監視回
路5によってニカド電池A3aの端子電圧の測定を行な
う場合には、直流電源7の電圧の影響を受けないよう
に、ニカド電池A3aを直流電源7から電気的に切り離
すように充電制御トランジスタA12aを制御する。つ
まり、充電制御トランジスタ制御信号A21aにより、
充電制御トランジスタA12aがオフとされる。
【0030】ニカド電池B3bの端子電圧の測定を行う
場合は、充電制御トランジスタ制御信号B21bによ
り、充電制御トランジスタB12bがオフとされる。
【0031】電池電圧監視回路5は、図3に示すよう
に、A/Dコンバータ回路27と、ラッチバッファ回路
28と、電圧監視回路コントロールレジスタ26と、電
圧測定放電用トランジスタA31aと、電圧測定放電用
トランジスタB31bとを備える。
【0032】そして、ニカド電池A3a及びニカド電池
B3bの端子電圧を示す電池電圧監視信号A22a及び
電池電圧監視信号B22bは、A/Dコンバータ回路2
7に供給される。また、電池電圧監視信号A22aは、
電圧測定放電用抵抗30aを介してトランジスタ31a
のエミッタに供給され、電池電圧監視信号B22bは、
電圧測定放電用抵抗30bを介してトランジスタ31b
のエミッタに供給される。また、トランジスタ31a及
び31bのコレクタは、GND24に接続される。
【0033】そして、トランジスタ31aのベースに
は、電圧監視回路コントロールレジスタ26から電圧測
定放電コントロール信号A32aが供給される。また、
トランジスタ31bのベースには、電圧監視回路コント
ロールレジスタ26から電圧測定放電コントロール信号
B32bが供給される。
【0034】電池電圧監視信号A22a及び電池電圧監
視信号B22bは、A/Dコンバータ27によりデジタ
ルデータに変換される。そして、充電制御回路4から
は、電池電圧ラッチ信号23が電圧監視回路コントロー
ルレジスタ26に供給されており、この、電圧監視回路
コントロールレジスタ26は、電池電圧ラッチ信号23
の立ち上がりエッジによってラッチ信号29をラッチバ
ッファ回路28に供給する。
【0035】これにより、A/Dコンバータ回路27に
よってデジタルデータに変換された電池電圧監視信号A
22a及び電池電圧監視信号B22bは、充電制御回路
4によって発生した電池電圧ラッチ信号23の立ち上が
りエッジによって、ラッチ回路28にラッチされる。
【0036】MPU1はラッチ回路28のデジタル化さ
れたニカド電池A3aまたはニカド電池B3bの端子電
圧データを任意に読み出すが、ラッチ回路28のデータ
は、MPUバス8を介して、MPUが読み出している期
間は、ラッチ信号29が固定される為、変化しない。
【0037】図4は、MPU1によるニカド電池A3a
及びニカド電池B3bの寿命予測の動作フローチャート
である。図4のステップ80において、MPU1は、定
期容量見直しルーチン実行するか否か、つまりニカド電
池の容量見直しの定期時期(例えば、1ヶ月周期の時
期)となったか否かを判断する。そして、容量見直しの
定期時期であれば、ステップ81に進み、ニカド電池A
3aの容量見直しか、ニカド電池B3bの容量見直しか
を判断する。ニカド電池A3aの容量見直しであれば、
ステップ83に進む。
【0038】ステップ83において、充電制御レジスタ
33をセットし、充電制御トランジスタ制御信号A21
aにより、充電制御トランジスタA12aを遮断状態と
する。そして、ステップ84において、電圧監視レジス
タ26をセットし、電圧測定放電コントロール信号A3
2aにより、電圧測定放電用トランジスタA31aをオ
ン状態とし、ニカド電池A3aの放電を開始する。
【0039】この場合、図5の(A)に示すように、充
電用トランジスタ制御信号21aは、Hレベル(期間4
0)からLレベル(期間41)となる。また、電池電圧
ラッチ信号23は、LレベルからHレベルとなり(図5
の(B))、電池電圧監視信号22aは、徐々に減少し
ていく(図5の(C))。また、電圧測定放電コントロ
ール信号32aは、二次電池充電期間50においては、
Lレベルであるが、電圧測定放電用トランジスタAオン
期間51ではHレベルとなる(図5の(D))。また、
ラッチ信号29は、図6の(F)に示すようにデジタル
データ不定期間47とデジタルデータ固定期間48とが
交互に周期的に繰り返される(図5の(F))。
【0040】また、この定期容量見直し時期において
は、停電状態では無いので、二次電池放電可能時間43
においても、直流電源7の電源電圧VCCは、Hレベル
となっている(図5の(F))。そして、この定期容量
見直し時期において、ラッチバッファ回路28から電池
電圧デジタルデータ45が出力される(図5の
(G))。なお、図5において、42は電池完全放電電
圧であり、44は電池完全放電電圧測定点である。ま
た、図6は、図5に示した二次電池放電可能時間43の
部分拡大図であり、46はMPU1による読み出しサイ
クルである。
【0041】次に、ステップ85において、MPU1
は、MPUバス8を介してラッチ回路28から電圧デー
タを読み出し、記憶装置2に書き込む。そして、ステッ
プ86において、MPU1は、時計レジスタ16から時
間データを読み出し、記憶装置2に書き込む。
【0042】ステップ87において、MPU1は検出さ
れた電池電圧データが基準値、つまり、電池完全放電電
圧42以下となったか否かを判断し、基準値となってい
なければ、ステップ85に戻る。ステップ87におい
て、電池電圧データが基準値以下となっていれば、ステ
ップ88に進む。
【0043】ステップ88において、MPU1は、測定
開始直後の時間データと、電圧データが基準値以下とな
った時点の時間データから、放電に要した時間を算出
し、ニカド電池の容量を算出する。そして、MPU1
は、算出したニカド電池の容量と時間データとを記憶装
置2に書き込む。
【0044】次に、ステップ89において、MPU1
は、記憶装置2に記憶されている、過去及び現在のニカ
ド電池A3aの容量データから容量変化のトレンド(容
量変化傾向)を算出し、算出したトレンドからニカド電
池A3aの容量の減衰率を算出して、ニカド電池A3a
が基準容量以下となる期日、つまり、ニカド電池A3a
の寿命を予測する。
【0045】そして、ステップ90において、MPU1
は、ステップ89において、予測した電池寿命をデータ
をCRT10に表示させる。そして、ステップ91にお
いて、MPU1は、電圧監視回路レジスタ26をセット
し、電圧測定放電用トランジスタA31aをオフとす
る。次に、ステップ92に進み、MPU1は充電制御レ
ジスタ33をセットし、充電制御トランジスタA21a
をオン状態として、ニカド電池A3aの充電を開始させ
る。そして、ステップ80に戻る。以降、上述したステ
ップ80、81、83〜92を実行する。
【0046】ステップ81において、ニカド電池B3b
の定期容量見直し時期であれば、ステップ82に進む。
このステップ82において、上述したニカド電池A3a
の容量見直しと同様にして、ニカド電池B3bの寿命を
予測する。ただし、この場合は、充電制御トランジスタ
制御信号B21bにより、充電制御トランジスタB12
bを遮断状態とし、電圧測定放電コントロール信号B3
2bにより、電圧測定放電用トランジスタB31bをオ
ン状態とし、ニカド電池B3bの放電を開始する。
【0047】ステップ89における容量変化のトレンド
による寿命予測について、図10を参照して説明する。
図10は、MPU1によるニカド電池の経時劣化予測例
をグラフ化したものであり、縦軸は放電時間(分)を示
し、横軸は容量見直し時及び寿命予想日を含む時間(年
月日)を示す。MPU1は、複数回の充電時間測定によ
るデータ(A、B、C)から容量劣化のトレンド53を
作成する。
【0048】そして、MPU1は作成したトレンド53
から容量劣化の予想トレンド54を作成し、その予想ト
レンド54から、ニカド電池の容量が所定の基準値とな
る日を予想する。例えば、図10に示すように、ニカド
電池の放電時間が、性能保証限界55(4分)となる年
月日を予測する。以上のようにして、MPU1はニカド
電池の寿命を予測する。
【0049】なお、ニカド電池A3aの容量測定とニカ
ド電池B3bの容量測定とは、ニカド電池A3aとニカ
ド電池B3bとが同時に完全放電状態にならないよう
に、基本的に交互に行われる。そして、容量測定の間隔
は、環境によりニカド電池の寿命が大きく異なることか
ら、MPU1の動作プログラムにより変更可能に制作す
る。
【0050】以上のように、本発明の第1の実施形態に
よれば、情報処理装置のメモリ電源バックアップ用電源
である二次電池(ニカド電池)を2つ備え、これら2つ
の二次電池を定期的に交互に放電して、電池容量の劣化
トレンドを作成し、寿命を予測する。そして、予測した
寿命を表示手段に表示するように構成したので、主電源
を長期に亘ってオン状態として、継続的に使用される情
報処理装置においても、ニカド電池の経時変化による性
能の劣化、電池の容量の絶対値の減少を検出して、ニカ
ド電池の寿命を正確に予測可能な二次電池の寿命予測装
置を実現することができる。したがって、情報処理装置
に搭載されたニカド電池に常に充電が行われている状態
でも、ニカド電池の容量の劣化を正確に検出して、その
寿命を予測可能であり、ニカド電池が劣化による容量不
足になる前に、使用者又はサービスマンにニカド電池交
換を促し、適切なニカド電池の交換が可能となる。
【0051】これにより、故意若しくは偶発的に、電源
が停止する場合が生じた場合でも、記憶装置内の記憶内
容が破壊されることを防止することができる。
【0052】図7は、本発明の第2の実施形態である二
次電池寿命予測装置であり、情報処理装置の外部補助記
憶装置に適用した場合の例の概略構成図である。この図
7において、図1に示した部分と同一の部分には同一の
符号が付されている。
【0053】図7において、補助記憶装置60は、PC
(パーソナルコンピュータ)を代表とする情報処理装置
と、ファイルバス63を使用し接続されている。そし
て、ファイルバス63は、I/Fバッファ回路64を介
して、内部バス62に接続されている。
【0054】図7に示した記憶装置2は、外部から供給
される電源電圧VCCが遮断された場合に、記憶装置2
内の記憶内容を保持する為に必要な電力が、ニカド電池
A3a及びニカド電池A3bによって供給される。ま
た、この記憶装置2は、SRAM(Static Random Acce
ss Memry)素子を使用している。
【0055】この第2の実施形態における記憶装置2
は、情報処理装置側のMPU1の主記憶装置として動作
するのではなく、H/D(ハードディスク)やF/D
(フロッピーディスク)と同様な外部補助記憶装置とし
て動作する。したがって、この実施形態においては、M
PU1は外部に存在し、装置内部には、この補助記憶装
置60の動作を統括する制御回路61がある。
【0056】制御回路61は、図8に示すように、CP
U65と、ROM66と、EEPRPM(放電特性記憶
手段)67と、内部レジスタ68と、時計レジスタ16
とで構成される。CPU65は、ROM66の内部のプ
ログラムによって動作し、補助記憶装置60を統括し制
御し、記憶装置2のデータ書き込み読み出し管理を行
う。
【0057】また、CPU65は、時計レジスタ16の
内容と、電池電圧監視回路5内のラッチレジスタ28の
内容とを定期的に読み出す。そして、CPU65は、読
み出したラッチレジスタ28のニッケル・カドミウム二
次電池A3a又はニカド電池B3bの電圧データと、時
間データとから、ニカド電池の容量の経時劣化を検出し
て、ニカド電池の寿命を算出する。さらに、CPU65
は、ニカド電池の使用限界時期を内部のレジスタ68に
格納し、外部のMPU1の読み出し要求に応じて結果を
出力する。
【0058】充電制御回路4及び電池電圧監視回路5
は、第1の実施形態と同様な構成を有し、動作も同様で
ある。制御回路61によるニカド電池A3a及びニカド
電池B3bの寿命予測は、第1の実施形態と同様な動作
を、MPU1の代わりに制御回路61が行う。
【0059】図9は、制御回路61によるニカド電池A
3a及びニカド電池B3bの寿命予測の動作フローチャ
ートである。図9に示したステップ100〜104、1
07、109、111、112は、図4に示したステッ
プ80〜84、87、89、91、92と同様な動作と
なっているので、説明は省略する。
【0060】そして、図9のステップ105及びステッ
プ106は、図8のステップ85及び86に対応する
が、ステップ105及び106においては、電圧データ
及び時間データは、記憶装置2に書き込まれる代わり
に、EEPROM67に書き込まれる。
【0061】また、図9のステップ108は、図8のス
テップ88に対応するが、ステップ108においては、
算出したニカド電池の容量及び時間データは、記憶装置
2に書き込まれる代わりに、EEPROM67に書き込
まれる。
【0062】さらに、図9のステップ110は、図8の
ステップ90に対応するが、ステップ110において
は、予測データをCRTに表示する代わりに、内部レジ
スタ68に書き込まれる。
【0063】なお、ニカド電池A3a及びニカド電池B
3bの容量測定と交換必要時期とは、制御回路61の内
部レジスタ68に格納され、外部のMPU1の読み出し
要求に応じ出力される。
【0064】以上のように、本発明の第2の実施形態に
おいても、第1の実施形態と同様な効果を得ることがで
きる。つまり、継続的に使用される外部補助記憶装置に
おいても、ニカド電池の経時変化による性能の劣化、電
池の容量の絶対値の減少を検出して、ニカド電池の寿命
を正確に予測可能な二次電池の寿命予測装置を実現する
ことができる。
【0065】なお、上述した例においては、二次電池を
2つ備える例を示したが、2つに限らず、3つ以上の二
次電池を備え、定期的に交互に容量見直しを行うように
構成することもできる。
【0066】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているため、次のような効果がある。情報処理装置のメ
モリ電源バックアップ用電源である二次電池を複数備
え、これらの二次電池を定期的に別個に放電して、電池
容量の劣化トレンドを作成し、寿命を予測する。そし
て、予測した寿命を表示手段に表示するように構成した
ので、主電源を長期に亘ってオン状態として、継続的に
使用される情報処理装置においても、ニカド電池の経時
変化による性能の劣化、電池の容量の絶対値の減少を検
出して、ニカド電池の寿命を正確に予測可能な二次電池
の寿命予測装置を実現することができる。
【0067】また、二次電池が劣化により容量不足にな
る前に、使用者又はサービスマンに二次電池交換を促
し、適切なニカド電池の交換が可能になり、故意若しく
は偶発的に、電源が停止する場合が生じた場合でも、記
憶装置内の記憶内容が破壊されることをを防止できる。
【0068】また、本発明を、SRAMを記憶装置に使
用した外部補助記憶装置に適用すれば、外部電源遮断時
の、SRAM内情報を保護する為の電力を供給する二次
電池の劣化による寿命を予測し、また二次電池の交換時
期を正確に使用者に伝達することが可能になリ。偶発的
な記憶装置内の記憶内容が破壊される危険性が少なくな
リ、外部補助記憶装置の信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態である二次電池寿命予
測装置を情報処理装置に適用した場合の概略構成図であ
る。
【図2】図1の充電制御回路の概略構成図である。
【図3】図1の電池電圧監視回路の概略構成図である。
【図4】MPU1によるニカド電池の寿命予測の動作フ
ローチャートである。
【図5】ニカド電池の寿命予測のタイミング図である。
【図6】図5に示した二次電池放電可能時間の部分拡大
図である。
【図7】本発明の第1の実施形態である二次電池寿命予
測装置を外部補助記憶装置に適用した場合の概略構成図
である。
【図8】図7の制御回路61の概略構成図である。
【図9】MPU1によるニカド電池の寿命予測の動作フ
ローチャートである。
【図10】MPU1によるニカド電池の経時劣化予測例
のグラフである。
【符号の説明】
1 MPU 2 記憶装置 3a ニカド電池A 3b ニカド電池B 4 充電制御回路 5 電池電圧監視回路 6 低電圧検出回路 7 直流電源 8 MPUバス 9 CRT制御回路 10 CRT 11 逆電流阻止ダイオード 12a 充電制御トランジスタA 12b 充電制御トランジスタB 13a 充電電流制御用抵抗A 13a 充電電流制御用抵抗B 14 放電用ダイオード 15 交流電源(AC100V) 16 時計レジスタ 17 タイマー 18 ロジック 21a 充電制御トランジスタ制御信号A 21b 充電制御トランジスタ制御信号B 22a 電池電圧監視信号A 22b 電池電圧監視信号B 23 電池電圧ラッチ信号 24 GND 25 停電予告信号 26 電圧監視回路コントロールレジスタ 27 A/Dコンバータ回路 28 ラッチバッファ回路 29 ラッチ信号 30a 電圧測定放電用抵抗器A 30b 電圧測定放電用抵抗器B 31a 電圧測定放電用トランジスタA 31b 電圧測定放電用トランジスタB 32a 電圧測定放電コントロール信号A 32b 電圧測定放電コントロール信号B 33 充電制御回路レジスタ 40 充電制御トランジスタ12aのオン状態 41 充電制御トランジスタ12aのオフ状態 42 電池異常判断電圧 43 二次電池放電可能時間 44 電池電圧監視回路のデータ決定点 45 電池電圧デジタルデータ 46 MPUによる読みだしサイクル 47 デジタルデータ不定期間 48 デジタルデータ固定期間 50 無負荷時の二次電池端子電圧 51 充電時の二次電池端子電圧 52 測定放電回路オン時の二次電池端子電圧 60 補助記憶装置 61 制御回路 62 内部バス 63 ファイルバス 64 I/Fバッファ回路 65 CPU 66 ROM 67 EEPROM 68 内部レジスタ 69 制御バス

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】情報を記憶する記憶手段に電力を供給する
    直流電源により充電され、この直流電源の上記記憶手段
    への電力供給の停止時には、上記記憶手段に電力を供給
    する二次電池の寿命を予測する二次電池の寿命予測装置
    において、 上記二次電池は複数個設けられており、上記直流電源か
    らの、それぞれの二次電池への電力供給を選択的に遮断
    する複数の開閉手段と、 上記直流電力からの二次電池への電力供給が遮断された
    とき、電力が遮断された二次電池を放電させて、放電特
    性を検出し、記憶する放電特性記憶手段と、 上記複数の開閉手段のうちの1つの開閉手段を選択し、
    複数の二次電池のうちの選択した二次電池への電力供給
    を所定の間隔で複数回遮断させ、上記選択した二次電池
    の複数の放電特性を上記放電特性記憶手段に記憶させ、
    記憶された複数の放電特性から、上記選択された二次電
    池の寿命を予測する寿命予測手段と、 予測された二次電池の寿命を表示する寿命表示手段と、
    を備えることを特徴とするの二次電池の寿命予測装置。
  2. 【請求項2】情報処理装置を統括するマイクロプロセッ
    サと、 マイクロプロセッサが動作するために必要な情報を格納
    する記憶手段と、 情報処理装置内で使用する直流の電力を外部の交流電源
    から生成し供給する直流電源と、 外部の交流電源側の電圧を監視し、直流電源の稼動に不
    充分な電圧ならば、マイクロプロセッサに停電予告信号
    を発生する低電圧監視回路と、 直流電源からの電力が遮断されたとき、上記記憶手段に
    電力を供給する複数の二次電池と、 直流電源から、それぞれの二次電池への充電を行う回路
    と、 直流電源から、それぞれの二次電池を選択的に切り離す
    複数のスイッチ手段と、 これらのスイッチ手段を制御する充電制御回路と、 直流電源から切り離された二次電池を放電させ、このニ
    次電池の端子電圧を測定する電池電圧監視回路と、 時計機能を有する時計レジスタと、 電池電圧監視回路からの電池電圧の変化データ並びに時
    計レジスタからの時間データを使用し、二次電池の完全
    放電時間を計測し、この計測を設定された間隔で繰り返
    し、他の二次電池に関しても同様な計測を交互に、測定
    する二次電池を換えながら行い、計測した完全放電時間
    データから容量変化傾向を分析し、各二次電池の残寿命
    を予測する寿命予測手段と、 予測された各二次電池の寿命を表示する表示手段と、を
    備えることを特徴とする二次電池の寿命予測装置。
  3. 【請求項3】請求項1記載の二次電池の寿命予測装置に
    おいて、上記二次電池は、情報処理装置の外部補助記憶
    装置に搭載される二次電池であって、上記記憶手段とし
    てSRAMが使用され、停電時にそのSRAMの記憶内
    容の保持のために上記二次電池が使用されることを特徴
    とする二次電池の寿命予測装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003057322A (ja) * 2001-08-21 2003-02-26 Mitsubishi Electric Corp 計測装置及びそれ用の計測データ記憶装置並びにバックアップ電池の寿命管理装置
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JP2006300561A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Ntt Facilities Inc 劣化判定装置及び方法
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JP2015102328A (ja) * 2013-11-21 2015-06-04 日産自動車株式会社 組電池および電池劣化検知装置

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