JPH11258293A - プリント配線板電気試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 プリント配線板電気試験装置において、プリ
ント配線板の布線試験の工程短縮及びコスト削減が可能
となり、リード間隔の狭い部品が集中的に配置されてい
るプリント配線板の布線試験が実現できるプリント配線
板電気試験装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 被試験プリント配線板１に設置する部品
毎に設けられ、各部品の端子配置に対応した配列のテス
トピン群を有するテストピンモジュール２と、テストピ
ンモジュール２のテストピン群が試験を行う部品の端子
に接触するように固定するテストピンモジュール支持部
３とを有することにより、布線試験の工程短縮及びコス
ト削減が可能となり、リード間隔の狭い部品がプリント
配線板上に集中的に配置していても布線試験が可能とな
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板電
気試験装置に係り、特にリード間隔の異なる部品を使用
するプリント配線板に対応するプリント配線板電気試験
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、家電製品等の小型化にともないプ
リント配線板，電気／電子部品の小型化が進み、リード
線を微小化又は無くした部品を直接プリント配線板表面
に実装する手法であるＳＭＴ（Ｓｕｒｆａｃｅ Ｍｏｕ
ｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ）を使用する機会が増加し
ている。ＳＭＴで使用される部品（以下、ＳＭＴ部品と
いう）は、リード線及びリード線間隔の制約がなく部品
の小型化，搭載間隔の狭小化が可能となる。

【０００３】一方で、プリント配線板の小型化及び実装
部品の高密度化に伴い、プリント配線板を製造した後の
布線試験の重要性が増してきている。一般的な布線試験
用の汎用プリント配線板電気試験装置は、従来の電気／
電子部品で一般的であった２．５４ｍｍのリード線間隔
に対応している場合が多く、２．５４ｍｍの格子上にテ
ストピンが用意されている。

【０００４】しかし、ＳＭＴ部品を使用するプリント配
線板は、ＳＭＴ部品にリード線間隔の制約が無いためプ
リント配線板上の電気回路と実装部品とをハンダ付けに
より接合する部分であるランドの間隔が一定ではない。
そのため、一般的な２．５４ｍｍのリード線間隔に対応
している布線試験用の汎用プリント配線板電気試験装置
をそのままＳＭＴ部品を使用するプリント配線板に使用
することができない。そこで、ＳＭＴ部品を使用するプ
リント配線板の布線試験を行う方法として、次の二つの
方法が従来利用されていた。

【０００５】一つ目の方法として、布線試験するプリン
ト配線板と汎用プリント配線板電気試験装置との間に布
線試験用治具を用いてプリント配線板の布線試験を行う
方法がある。図２２は、従来の布線試験用治具を用いて
プリント配線板の布線試験を行う方法の一例の構成図を
示す。図２２（Ｂ）の布線試験用治具を用いてプリント
配線板の布線試験を行う方法の断面図に示すように、Ｓ
ＭＴ部品を使用した被試験プリント配線板１５０は布線
試験用治具１６０を介して汎用プリント配線板電気試験
装置１７０上に設置されて布線試験が行われる。ＳＭＴ
部品を使用したプリント配線板１５０はテストポイント
であるランドが２．５４ｍｍの格子に位置しないため、
布線試験用治具１６０によりテストポイントを２．５４
ｍｍの格子に位置変換して、汎用プリント配線板電気試
験装置１７０による布線試験を可能としている。

【０００６】図２２（Ａ）の布線試験用治具１６０の斜
視図に示すように、布線試験用治具１６０は３枚のアク
リル板１００，１１０，１２０と、３枚のアクリル板１
００，１１０，１２０を平行の状態かつ所定の間隔を保
つ間隔ボルト１４０と、曲げ性のある導電性の金属で作
られている中継ピン１３０とにより構成される。アクリ
ル板１００は上面側で被試験プリント配線板１５０の測
定を行う面と接しており、被測定プリント配線板１５０
の測定点に対応した位置に穴が開けられている。アクリ
ル板１１０は、アクリル板１００に対応した位置に穴が
開けられている。

【０００７】アクリル板１２０は下面側で汎用プリント
配線板電気試験装置１７０の２．５４ｍｍ格子に位置す
るテストピン群の設置された面と接しており、布線試験
に使用するテストピンに対応した位置に穴が開けられて
いる。アクリル板１００，１１０，１２０に開けられた
対応する３つの穴である例えば１０５−１，１１５−
１，１２５−１をガイドとして曲げ性のある導電性の金
属で作られた中継ピン１３０が設置され、被試験プリン
ト配線板１５０のテストポイントと汎用プリント配線板
電気試験装置１７０の対応するテストピンとを接続す
る。

【０００８】図２３は、従来の布線試験用治具を用いて
プリント配線板の布線試験を行う方法の一例のブロック
図を示す。被試験プリント配線板１５０のテストポイン
トと汎用プリント配線板電気試験装置１７０の対応する
テストピンとが布線試験用治具１６０を介して接続さ
れ、汎用プリント配線板電気試験装置１７０による試験
を可能としている。

【０００９】汎用プリント配線板電気試験装置１７０
は、試験用接点部１８０，試験条件設定回路１９０，試
験結果判定回路２００，試験用データ記憶部２１０から
構成されており、試験用データ記憶部２１０に被試験プ
リント配線板１５０の布線試験用データを予め記憶して
おき布線試験を行っている。２つ目の方法として、フラ
イングプローブ方式によるプリント配線板の布線試験方
法がある。フライングプローブ方式は、被試験プリント
配線板の両面に２本ずつの可動式テストプローブを有
し、電子制御により機械的にテストプローブを移動させ
て測定点２点間の導通／絶縁を測定する。

【００１０】このように、被試験プリント配線板１５０
と汎用プリント配線板電気試験装置１７０との間に布線
試験用治具１６０を用いてプリント配線板の布線試験を
行う方法及びフライングプローブ方式によるプリント配
線板の布線試験方法によりＳＭＴ部品を使用するプリン
ト配線板の布線試験を行っていた。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、被試験
プリント配線板１５０と汎用プリント配線板電気試験装
置１７０との間に布線試験用治具１６０を用いて被試験
プリント配線板１５０の布線試験を行う方法は、被試験
プリント配線板１５０の種類毎に布線試験用治具１６０
を作る必要があり、布線試験用治具１６０の作成コスト
及び工程と布線試験用治具１６０の保管場所とが必要と
なる。

【００１２】そのため、短期間の製造が必要なプリント
配線板や製造枚数の少ないプリント配線板は、工程及び
費用の面から布線試験用治具１６０を使用したプリント
配線板の布線試験を使用できない場合も多く、プリント
配線板の製造上発生するパターンの断線・短絡等の不良
を発見できず問題となる。また、被試験プリント配線板
１５０にリード間隔の狭い部品が狭い範囲に多数配置さ
れると、布線試験用治具１６０の構造上の問題から布線
試験用治具１６０の作成が困難になり問題となる。

【００１３】さらに、フライングプローブ方式によるプ
リント配線板の布線試験方法は布線試験用治具１６０の
必要がないため布線試験用治具１６０の作成コストを必
要とせず、リード間隔の狭い部品が狭い範囲に多数配置
されても対応できるが、機械的にテストプローブを移動
させるため布線試験時間が大幅に掛かり工程上の問題と
なる。

【００１４】本発明は、上記の点に鑑みなされたもの
で、プリント配線板の布線試験の工程短縮及びコスト削
減が可能となり、リード間隔の狭い部品が集中的に配置
されているプリント配線板の布線試験が実現できるプリ
ント配線板電気試験装置を提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】そこで、上記課題を解決
するため、請求項１記載の本発明は、プリント配線板の
布線状態を電気的に試験するプリント配線板電気試験装
置において、前記プリント配線板上に設置する部品毎に
設けられ、各部品の端子配置に対応した配列のテストピ
ン群を有するテストピンモジュール２と、前記テストピ
ンモジュールのテストピン群が前記部品の端子に接触す
るように前記テストピンモジュールを固定するテストピ
ンモジュール支持部３とを有することを特徴とする。

【００１６】このように、前記プリント配線板上に設置
する部品毎に設けられ、各部品の端子配置に対応した配
列のテストピン群を有するテストピンモジュールと、前
記テストピンモジュールのテストピン群が前記部品の端
子に接触するように前記テストピンモジュールを固定す
るテストピンモジュール支持部とにより構成されること
により、布線試験毎に部品配置情報に従ってプリント配
線板電気試験装置を組み立て、試験終了後分解して次の
布線試験に再利用が可能となり、プリント配線板の布線
試験の工程短縮及びコスト削減が可能となる。

【００１７】また、請求項２記載の発明は、請求項１記
載のプリント配線板電気試験装置において、前記テスト
ピンモジュールのテストピン群は、部品の端子構造に応
じた構成を有することを特徴とする。このように、前記
テストピンモジュールのテストピン群は、部品の端子構
造に応じた構成を有することにより、前記部品用端子と
テストピンとの接触を最適にすることが可能となり、さ
らに前記部品用端子の間隔の狭い部品が集中的に配置さ
れているプリント配線板の布線試験が可能となる。

【００１８】また、請求項３記載の発明は、請求項１記
載のプリント配線板電気試験装置において、前記テスト
ピン群は弾性力で前記部品用端子に付勢されていること
を特徴とする。このように、前記テストピン群は弾性力
で前記部品用端子に付勢されていることにより、前記部
品用端子とテストピン群との接触が最適にすることが可
能となる。

【００１９】また、請求項４記載の発明は、請求項１記
載のプリント配線板電気試験装置において、前記テスト
ピンモジュール２は、テストピン７の入出力電圧を制御
する回路を有することを特徴とする。このように、前記
テストピンモジュールは、テストピンの入出力電圧を制
御する回路を有することにより、各テストピン毎に入出
力電圧を制御することが可能となる。

【００２０】また、請求項５記載の発明は、請求項１記
載のプリント配線板電気試験装置において、前記テスト
ピンモジュール支持部３は、前記テストピンモジュール
２を接続するマトリクス状に配置されたテストピンモジ
ュール結合孔４９を有することを特徴とする。このよう
に、前記テストピンモジュール支持部は、前記テストピ
ンモジュールを接続するマトリクス状に配置されたテス
トピンモジュール結合孔を有することにより、前記テス
トピンモジュール２を所定の位置に電気的及び機械的に
接続することが可能となる。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下に、プリント配線板電気試験
装置に関する本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。図１は、本発明のプリント配線板電気試験装置の一
実施例のブロック図を示す。本発明のプリント配線板電
気試験装置８は、テストピンモジュール２，テストピン
モジュール支持部３，試験条件設定回路４，実験結果判
定回路５，試験用データ記憶部６から構成されている。

【００２２】被試験プリント配線板１は、布線試験の対
象となるプリント配線板である。テストピンモジュール
２は被試験プリント配線板１とテストピンモジュール支
持部３とに電気的に接続されており、テストピンモジュ
ール支持部３から供給された試験用信号を被試験プリン
ト配線板１へ供給し、被試験プリント配線板１から供給
される入力電圧をテストピンモジュール支持部３へ供給
する。

【００２３】テストピンモジュール支持部３は試験条件
設定回路４と試験結果判定回路５とに接続されており、
試験条件設定回路４から試験用信号を供給され、テスト
ピンモジュール２から供給された入力電圧を試験結果判
定回路５に供給する。試験条件設定回路４は試験結果判
定回路５と試験用データ記憶部６とに接続されており、
試験条件データを試験結果判定回路５に供給し、被試験
プリント配線板１の試験用データを試験用データ記憶部
６から供給される。

【００２４】試験結果判定回路５は試験用データ記憶部
６に接続されており、試験用データ記憶部６から供給さ
れる被試験プリント配線板１の試験用データとテストピ
ンモジュール支持部３より供給される入力電圧とにより
試験結果の判定を行なう。試験用データ記憶部６は被試
験プリント配線板１のランドの位置，回路パターン等の
試験用データを記憶しており、必要に応じて試験条件設
定回路４及び試験結果判定回路５に試験用データを供給
している。

【００２５】図２はテストピンモジュール及びテストピ
ンモジュール支持部の一実施例の説明図を示し、図３は
被試験プリント配線板の一例の部品配置図を示す。図３
の被試験プリント配線板１のプリント配線板電気試験装
置８を構成すると、図２に示すようなテストピンモジュ
ール２と、テストピン７と、テストピンモジュール支持
部３とにより構成される。図２（Ａ）はプリント配線板
電気試験装置の側面図であり、図２（Ｂ）はプリント配
線板電気試験装置の下面図である。被試験プリント配線
板１は布線試験の対象となるプリント配線板である。テ
ストピンモジュール２は試験する被試験プリント配線板
１に搭載される部品の形状，ピン数，配置方向，配置位
置等の情報をもとに構成され、テストピンモジュール２
に設けられたテストピン７が被試験プリント配線板１の
部品ランドに接触するようにテストピンモジュール支持
部３に固定される。なお、被試験プリント配線板１に搭
載される部品の形状，ピン数，配置方向，配置位置等の
情報は、被試験プリント配線板１の設計時のＣＡＤデー
タから得ることが可能である。

【００２６】図４は、テストピンモジュールの一実施例
の外観図を示す。図４（Ａ）はテストピンモジュール２
の上面図であり、図４（Ｂ）はテストピンモジュール２
の正面図であり、図４（Ｃ）はテストピンモジュール２
の側面図であり、図４（Ｃ）はテストピンモジュール２
の底面図である。図４（Ａ）に示すように、テストピン
モジュール２の対角する２点に基準端子１５と補助端子
１６とが設けられている。基準端子１５は制御信号入力
部分２１とクロック入力部分２０とグランド入力部分１
９とが設けられており、補助端子１６は電源部分１７と
出力信号部分１８とグランド部分１９とが設けられてい
る。

【００２７】基準端子１５の太さは補助端子１６の太さ
に比べて細くするとともに、制御信号入力部分２１とク
ロック入力部分２０とグランド入力部分１９と電源部分
１７と出力信号部分１８とグランド部分１９とを全て異
なった高さの位置にする。また、グランド部分１９には
円周状に溝が掘られており、テストピンモジュール２が
テストピンモジュール支持部３に固定される。テストピ
ン７は被試験プリント配線板１に配置される部品ランド
に対応するように設置され、部品ランドの大きさ，形状
に対応して部品ランドとテストピンの接触が最適になる
ように構成される。

【００２８】このように、基準端子１５及び補助端子１
６によりテストピンモジュール２がテストピンモジュー
ル支持部３に固定されることにより、各種信号用の接続
線を使用することなくテストピンモジュール２がテスト
ピンモジュール支持部３に電気的に接続されることが可
能となり、さらにリード間隔の狭い部品が集中的に配置
されているプリント配線板の布線試験を行なうことが可
能となる。

【００２９】図５は、テストピンモジュールのテストピ
ンの一実施例の縦断面図を示す。テストピンモジュール
２に設けられるテストピン７は、導電性のあるバネ２５
及び導電性のあるピン２６から構成されており、導電性
のあるバネ２５の弾力によって導電性のあるピン２６を
適度な圧力で部品ランド２７と接触させることが可能と
なる。

【００３０】図６は、テストピンモジュール内の一実施
例の回路図を示す。スイッチ制御回路３４はクロック入
力部分２０から供給されるクロック信号と、制御信号入
力部分２１から供給される制御信号とに基づき印加側ス
イッチ３０−１〜３０−４及び出力側スイッチ３１−１
〜３１−４の閉成，開成を制御する。回路駆動用電源３
５は電源部分１７とグランド部分１９とに接続されてお
り、印加側スイッチ３０−１〜３０−４が閉成している
ときにテストピン７に増幅器３２を介して印加電圧を出
力し、開成しているときにテストピン７に印加電圧を出
力しない。また、電源部分１７とグランド部分１９との
間にはバイパスコンデンサを設けている。

【００３１】テストピン７に入力される入力電圧は出力
スイッチ３１−１〜３１−４が閉成しているときに増幅
器３２及びダイオード３３を介して出力信号部分１８に
出力され、スイッチ３１−１〜スイッチ３１−４が開成
しているときに出力信号部分１８に出力されない。この
ように、各テストピン７はスイッチ制御回路３４により
印加側スイッチ３０−１〜３０−４と出力側スイッチ３
１−１〜３１−４とを閉成，開成することで、印加電圧
と入力電圧とを切り換えることができる。

【００３２】図７は、テストピンモジュール内のスイッ
チ制御回路に入力する制御信号の一実施例のフォーマッ
トを示す。図７（Ａ）は制御信号入力部分２１に入力さ
れる制御信号であり、図７（Ｂ）はクロック入力部分２
０に入力されるクロック信号である。図７（Ａ）の制御
信号は、先頭に" １０１０１" の固定ビット信号を有
し、制御信号の先頭を示している。次の１ビットは印加
側スイッチと出力側スイッチとのどちらのスイッチを制
御するのかを示すスイッチ区分信号を示している。次の
１ビットはスイッチ区分信号により指示されたスイッチ
を開成するのか閉成するのかを示すＯＮ／ＯＦＦ信号を
示している。次の" ０１" の固定ビット信号から" １
１" の固定ビット信号の間には、制御対象の対象ピン番
号がバイナリ形式で示されている。なお、対象ピン番号
が" ０" である場合は全ピンが対象となる。このよう
に、図７に示す制御信号のフォーマットを使用すること
により、各ピン毎の制御を簡単に行なうことが可能とな
る。

【００３３】図８は、テストピンモジュールとテストピ
ンモジュール支持部との接続部の一実施例の縦断面図を
示す。図８（Ａ）はテストピンモジュール２とテストピ
ンモジュール支持部３との接続部の一実施例の正面方向
の縦断面図であり、図８（Ｂ）は側面方向の縦断面図で
ある。テストピンモジュール２の基準端子１５と補助端
子１６とがテストピンモジュール支持部３のテストピン
モジュール結合孔４９に挿入され、テストピンモジュー
ル２は基準端子１５及び補助端子１６のグランド部分１
９の溝とテストピンモジュール支持部３のグランド接点
４４とが結合し、テストピンモジュール支持部３に固定
される。基準端子１５はテストピンモジュール支持部３
の電源接点４２及び出力信号接点４３に接触しないよう
に補助端子１６の太さに比べて細くされており、クロッ
ク入力部分２０がクロック入力接点４０と制御信号入力
部分２１が制御信号入力接点４１とに接触している。

【００３４】補助端子１６はテストピンモジュール支持
部３のクロック入力接点４０及び制御信号入力接点４１
に接触しないように基準端子１５の長さに比べて短くさ
れており、電源部分１７が電源接点４２と出力信号部分
１８が出力信号接点４３とに接触している。クロック入
力接点４０及び制御信号入力接点４１は、制御信号入力
及びクロック入力配線板４８により支えられている。

【００３５】クロック入力接点４０及び制御信号入力接
点４１は制御信号入力及びクロック入力配線板４８上の
パターン配線と接続され、電源接点４２は電源配線板４
５上のパターン配線と接続され、出力信号接点４３は出
力信号配線板４６上のパターン配線と接続され、グラン
ド接点４４はグランド配線板４７上のパターン配線と接
続されている。

【００３６】図９は、テストピンモジュール支持部の一
実施例の外観図を示す。図９（Ａ）はテストピンモジュ
ール支持部の一実施例の側面図であり、図９（Ｂ）はテ
ストピンモジュール支持部の一実施例の底面図である。
図９では、図８に示したテストピンモジュール結合孔４
９の詳細構造は省略している。テストピンモジュール支
持部３は一定間隔に並んだマトリクス状のテストピンモ
ジュール結合孔４９を有し、例えば図２（Ｂ）に示すよ
うにテストピンモジュール２をテストピンモジュール結
合孔４９及び基準端子１５及び補助端子１６を利用して
配置する。

【００３７】このように、テストピンモジュール支持部
３は一定間隔に並んだマトリクス状のテストピンモジュ
ール結合孔４９を有することによりテストピンモジュー
ル２を所定の位置に固定し、各種信号をテストピンモジ
ュールに供給し、又は各種信号をテストピンモジュール
より供給される。図１０は、テストピンモジュール支持
部内の一実施例の回路図を示す。スイッチ制御回路５２
は基準端子座標入力端子５８に入力される基準端子座標
信号及びクロック入力端子５９に入力されるクロックを
利用して、スイッチ６０−１ａ〜６０−１ｃ，６０−２
ａ〜６０−２ｃ，６０−ｎａ〜６０−ｎｃの開成，閉成
の制御を行なう。また、スイッチ６０−１ａ〜６０−１
ｂは連動して動作を行ない、同様にスイッチ６０−２ａ
〜６０−２ｂ，６０−ｎａ〜６０−ｎｂもそれぞれ連動
して動作を行なう。

【００３８】テストピンモジュール結合孔４９−１〜４
９−ｎは図９（Ｂ）の二重丸で表されたテストピンモジ
ュール結合孔４９に対応している。また、テストピンモ
ジュール結合孔４９−１〜４９−ｎはグランド端子５３
及び電源端子５４が接続されている。図１１は、テスト
ピンモジュール支持部内のスイッチ制御回路に入力する
基準端子座標信号の一実施例のフォーマットを示す。図
１１（Ａ）は基準端子座標入力端子５８に入力される基
準端子座標信号の一実施例のフォーマットであり、図１
１（Ｂ）はクロック入力端子５６に入力されるクロック
信号である。図１１（Ａ）の基準端子座標信号は、先頭
の１ビットに基準端子１５のＸ座標を示す信号の先頭を
示す固定ビット" １" の信号を有し、次のビットから基
準端子１５のＸ座標を示す信号がバイナリで示されてい
る。

【００３９】基準端子１５のＸ座標を示す信号の後、基
準端子１５のＹ座標を示す信号の先頭を示す固定ビッ
ト" １" の信号を有し、基準端子１５のＹ座標を示す信
号がバイナリで示されている。基準端子１５のＹ座標を
示す信号の後、固定ビット" １" の信号を有し、その後
スイッチ区分を示すスイッチ区分信号とスイッチ区分信
号により指示されたスイッチを開成するのか閉成するの
かを示すＯＮ／ＯＦＦ信号とを示している。最後に基準
端子座標信号の終了を示す" ０１" の固定ビット信号を
有している。

【００４０】例えば、テストピンモジュール結合孔４９
−１の基準端子座標信号を基準端子座標入力端子５８に
入力することによりスイッチ制御回路５２が基準端子座
標入力端子５８に基づいてスイッチ６０−１ａ〜６０−
１ｂ又は６０−１ｃを閉成し、制御信号入力端子５５及
びクロック入力端子５６又は出力信号端子５７がテスト
ピンモジュール結合孔４９−１と接続されてテストピン
モジュール結合孔４９−１を選択して使用することが可
能となる。このように、スイッチ制御回路５２によりテ
ストピンモジュール結合孔４９毎に対応したスイッチの
開成，閉成を制御することによりテストピンモジュール
結合孔４９−１〜４９−ｎを選択して利用することが可
能となる。

【００４１】図１２は、布線試験を行なうプリント配線
板の一例の部品配置図を示す。ここで、図１２のプリン
ト配線板を本発明のプリント配線板電気試験装置で布線
試験を行なう場合について具体的に説明する。図１２の
プリント配線板は、ＩＣ１とＩＣ２とが配置されてお
り、さらに、マトリクス状に構成されたテストピンモジ
ュール結合孔４９に対応した座標を同図右下を原点に設
ける。。ＩＣ１は、１番ピンの座標が（Ｘ＝１６，Ｙ＝
９）（以下、（１６，９）という）であり、配置方向は
図１２上で１番ピンが右下となる方向である。

【００４２】ＩＣ２は、１番ピンの座標が（４，８）で
あり、配置方向は図１２上で１番ピンが右下となる方向
である。また、ＩＣ１とＩＣ２とは、ＩＣ１の７ピンと
ＩＣ１の１８ピンとＩＣ１の３５ピンとＩＣ２の６ピン
とＩＣ２の１５ピンとで接続されている。ＩＣ１とＩＣ
２とに対応するテストピンモジュール２を構成すると、
図１３に示すようなテストピンモジュール２となる。

【００４３】図１３は、図１２のプリント配線板を試験
する場合の一実施例のテストピンモジュールの外観図を
示す。図１３（Ａ）は図１２のＩＣ１の形状に対応した
テストピンモジュール２であるＴＹＰＥ１の上図であ
り、図１３（Ｃ）はＴＹＰＥ１の側面図であり、図１３
（Ｅ）はＴＹＰＥ１の下図である。また、図１３（Ｂ）
は図１２のＩＣ２の形状に対応したテストピンモジュー
ル２であるＴＹＰＥ２の上図であり、図１３（Ｄ）はＴ
ＹＰＥ２の側面図であり、図１３（Ｆ）はＴＹＰＥ２の
下図である。基準端子１５は両ＴＹＰＥとも１番ピンの
位置に置き、補助端子１６は両ＴＹＰＥとも基準端子１
５の対角線方向でＸ方向，Ｙ方向とも１．２７ｍｍの正
数倍離れた位置に置く。

【００４４】図１３のＴＹＰＥ１は補助端子１６を基準
端子１５から（６，５）オフセットした位置に置き、Ｔ
ＹＰＥ２は補助端子１６を基準端子１５から（７，４）
オフセットした位置に置いている。図１３に示したテス
トピンモジュールＴＹＰＥ１及びＴＹＰＥ２を図１２に
示すプリント配線板のＩＣ１及びＩＣ２の部品配置に対
応させてテストピンモジュール支持部３に設置すると図
１４に示すような状態となる。

【００４５】図１４は、図１３のテストピンモジュール
をテストピンモジュール支持部に設置した状態の説明図
を示す。ＴＹＰＥ１は、基準端子１５をテストピンモジ
ュール結合孔４９の（１６，９），補助端子１６をテス
トピンモジュール結合孔４９の（２２，１４）に位置す
るように設置される。また、ＴＹＰＥ２は、基準端子１
５をテストピンモジュール結合孔４９の（４，８），補
助端子１６をテストピンモジュール結合孔４９の（１
１，１２）に位置するように設置される。

【００４６】次に、試験用データは図１に示した試験用
データ記憶部６に記憶されており、その試験用データに
基づき試験条件設定回路４から制御信号がテストピンモ
ジュール支持部３及びテストピンモジュール２に供給さ
れる。ここで、図１０のテストピンモジュール支持部内
の回路に供給される基準端子座標信号と、図６のテスト
ピンモジュール内の回路に供給される制御信号とを便宜
上（Ｘ方向位置情報，Ｙ方向位置情報）／（スイッチ区
分，ＯＮ／ＯＦＦ，ピン番号）と表記する。

【００４７】（Ｘ方向位置情報，Ｙ方向位置情報）は図
１１（Ａ）のフォーマットに従った基準端子座標信号で
あり、図１０に示すテストピンモジュール支持部内の回
路の基準端子座標入力端子５８に入力される。なお、こ
こでＸ方向位置情報，Ｙ方向位置情報は基準端子１５の
図１４に示すテストピンモジュール支持部３上の位置座
標である。

【００４８】（スイッチ区分，ＯＮ／ＯＦＦ，ピン番
号）は図７（Ａ）のフォーマットに従った制御信号であ
り、図６に示すテストピンモジュール内の回路の制御信
号入力部分２１に入力される。なお、ここでスイッチ区
分は例えば図６の印加側スイッチ３０−１〜３０−４と
出力側スイッチ３１−１〜３１−４とのどちらのスイッ
チを制御するのかを示すスイッチ区分信号を示し、ＯＮ
／ＯＦＦはスイッチ区分信号により指示されたスイッチ
を開成するのか閉成するのかを示すＯＮ／ＯＦＦ信号を
示し、ピン番号はスイッチ区分信号及びＯＮ／ＯＦＦ信
号により指示された処理を行なうスイッチに対応する対
象ピン番号を示す。

【００４９】このように、（Ｘ方向位置情報，Ｙ方向位
置情報）により制御するテストピンモジュール２を選択
し、（スイッチ区分，ＯＮ／ＯＦＦ，ピン番号）により
処理を行うテストピン７に対応した印可側スイッチ３０
−１〜３０−４及び出力側スイッチ３１−１〜３１−４
を選択して開成／閉成制御を行う。以下、この表記方法
により図１２に示すプリント配線板の布線試験動作を説
明する。最初に、ＩＣ１の初期化処理として印可側スイ
ッチ３０−１〜３０−４及び出力側スイッチ３１−１〜
３１−４の全てを開成するため、（１６，９）／（０，
０，０）及び（１６，９）／（１，０，０）をテストピ
ンモジュール２及びテストピンモジュール支持部３に入
力する。さらに、ＩＣ２の初期化処理として印可側スイ
ッチ３０−１〜３０−４及び出力側スイッチ３１−１〜
３１−４の全てを開成するため、（４，８）／（０，
０，０）及び（４，８）／（１，０，０）をテストピン
モジュール２及びテストピンモジュール支持部３に入力
する。なお、ピン番号" ０" は全ピン対象を示す。この
とき、図１の試験結果判定回路５は当然電流を検出しな
い。

【００５０】次に、断線異常検出処理としてＩＣ１の１
８ピンに対応する出力側スイッチを閉成するため、（１
６，９）／（１，１，１８）をテストピンモジュール２
及びテストピンモジュール支持部３に入力する。さら
に、ＩＣ１の７ピンに対応する印可側スイッチを閉成す
るため、（１６，９）／（０，１，７）をテストピンモ
ジュール２及びテストピンモジュール支持部３に入力す
る。このとき、ＩＣ１の１８ピンとＩＣ１の７ピンとは
図１２のプリント配線上導通していなければならないの
で、図１の試験結果判定回路５に電流が検出されれば正
常であり、電流が検出されなければ異常である。

【００５１】試験結果判定回路５による判定終了後、
（１６，９）／（１，０，１８）及び（１６，９）／
（０，０，７）によりＩＣ１の１８ピンに対応した出力
側スイッチとＩＣ１の７ピンとに対応した印可側スイッ
チとを開成する。以下同様に、ＩＣ１の７ピンとＩＣ１
の３５ピン，ＩＣ１の７ピンとＩＣ２の６ピン，ＩＣ１
の７ピンとＩＣ２の１５ピンとの布線試験を行う。

【００５２】続いて、短絡異常検出処理を行うための初
期化処理としてＩＣ１及びＩＣ２の全ピンに対応する印
可側スイッチ及び出力側スイッチを開成するため、（１
６，９）／（０，０，０），（１６，９）／（１，０，
０），（４，８）／（０，０，０），（４，８）／
（１，０，０）をテストピンモジュール２及びテストピ
ンモジュール支持部３に入力する。さらに、ＩＣ１及び
ＩＣ２の全ての出力側スイッチを閉成するため、（１
６，９）／（１，１，０）及び（４，８）／（１，１，
０）をテストピンモジュール２及びテストピンモジュー
ル支持部３に入力する。

【００５３】最初にＩＣ１の７ピンの短絡異常検出処理
を行うとすると、図１２のプリント配線板上でＩＣ１の
７ピンと導通しているＩＣ１の１８ピン，ＩＣ１の３５
ピン，ＩＣ２の６ピン，ＩＣ２の１５ピンに対応してい
る出力側スイッチを開成するため、（１６，９）／
（１，０，１８），（１６，９）／（１，０，３５），
（４，８）／（１，０，６），（４，８）／（１，０，
１５）をテストピンモジュール２及びテストピンモジュ
ール支持部３に入力する。このあとＩＣ１の７ピンに対
応する印可側スイッチを閉成するため、（１６，９）／
（０，１，７）をテストピンモジュール２及びテストピ
ンモジュール支持部３に入力する。このとき、図１の試
験結果判定回路５に電流が検出されなければ正常であ
り、電流が検出されれば異常である。以下同様に、ＩＣ
１の１８ピン，ＩＣ１の３５ピン，ＩＣ２の６ピン，Ｉ
Ｃ２の１５ピンの短絡異常検出処理を行う。

【００５４】このように、断線異常検出処理と短絡異常
検出処理とを行うことにより試験されたプリント配線板
の断線・短絡等の不良を検出することが可能となる。図
１５は、本発明のプリント配線板電気試験装置の一実施
例の回路図を示す。図１５の回路図はテストピンモジュ
ール２−１〜２−ｉと、テストピンモジュール支持部３
と、試験条件設定回路４と、試験結果判定回路５と、試
験用データ記憶部６とで構成されている。ここでは、前
記により説明している部分については説明を省略する。

【００５５】テストピンモジュール２−１はｎ本のテス
トピン７により被試験プリント配線板１の測定点と接触
しており、テストピンモジュール２−ｉはｍ本のテスト
ピン７により被試験プリント配線板１の測定点と接触し
ている。また、テストピンモジュール２−１及びテスト
ピンモジュール２−ｉは電源端子４２と出力信号端子４
３とグランド端子４４とクロック入力端子４０と制御信
号入力端子４１とによりテストピンモジュール支持部３
にそれぞれ接続されている。

【００５６】テストピンモジュール支持部３はグランド
端子５３と出力信号端子５７と電源端子５４とにより試
験結果判定回路５と接続され、グランド端子５３と電源
端子５４と制御信号入力端子５５とクロック入力端子５
６と基準端子座標入力端子５８とクロック入力端子５９
とにより試験条件設定回路４と接続されている。試験条
件設定回路４は試験用データ記憶部６から試験用データ
を供給され、その試験用データを基に設定処理部７０で
試験条件の設定を行ない、その試験条件データを基準端
子座標出力端子７１とクロック出力端子７２と制御信号
出力端子７３とクロック出力端子７４とによりテストピ
ンモジュール支持部３に供給する。また、必要に応じて
試験条件を試験結果判定回路５に供給する。

【００５７】試験結果判定回路５は抵抗７６と電流計７
７と判定処理部７８とを有している。試験結果判定回路
５はテストピンモジュール支持部３から出力信号を出力
信号入力端子７５に供給され、その出力信号の電流を利
用して被測定プリント基板１の測定点間の抵抗値を算出
して導通状態か絶縁状態かを判定する。以下、図１５を
使用して図１５のＡ点とＢ点との間の導通を調べる場合
の処理手順をフローチャートを用いて説明する。図１６
は、図１５のＡ点とＢ点との間の導通を調べる場合のフ
ローチャートを示す。最初に、ステップＳ１ではテスト
ピンモジュール２及びテストピンモジュール支持部３の
初期化を行ないステップＳ２に進む。

【００５８】ステップＳ２では、Ａ点に所定の電圧をか
けるためにテストピンモジュール２及びテストピンモジ
ュール支持部３の制御を行ないステップＳ３に進む。ス
テップＳ３では、Ａ点とＢ点との間の抵抗値を算出する
ためのテストピンモジュール２及びテストピンモジュー
ル支持部３及び試験結果判定回路５の制御を行ない抵抗
値を算出し、ステップＳ４に進む。

【００５９】ステップＳ４では、ステップＳ３により算
出された抵抗値を基にＡ点とＢ点との間が導通状態又は
絶縁状態であるとの判定，記憶を行ないステップＳ５に
進む。ステップＳ５では、予め試験用データ記憶部６に
格納されていた被試験プリント配線板１の設計データを
基に、ステップＳ４で判定されたＡ点とＢ点との間が導
通状態又は絶縁状態であるとの判定結果を設計データと
比較して、Ａ点とＢ点との間が正常であるか異常である
かの判定，記憶を行なう。

【００６０】次に、ステップＳ１〜ステップＳ５につい
て各ステップ毎に詳細な説明を行なう。図１７は図１６
のフローチャートのステップＳ１部分の詳細なフローチ
ャートを示す。最初にステップＳ１−１では、試験条件
設定回路４の初期化処理として試験用データ記憶部６か
ら試験用データを供給され、その試験用データからテス
トピンモジュール２の基準端子１５の位置座標を求めて
テストピンモジュール支持部３のスイッチ制御回路５２
に供給する。

【００６１】ステップＳ１−２では、テストピンモジュ
ール支持部３の初期化処理１として試験条件設定回路４
から供給された基準端子１５の位置座標に設けられてい
るスイッチの中で出力信号端子４３に対応するスイッチ
６０−１ｃ及び６０−ｎｃを開成する。さらに、試験条
件設定回路４から供給された基準端子１５の位置座標に
設けられたスイッチでクロック入力端子４０及び制御信
号入力端子４１に対応するスイッチ６０−１ａ，６０−
１ｂ，６０−ｎａ，６０−ｎｂを閉成する。

【００６２】次にステップＳ１−３では、テストピンモ
ジュール２の初期化処理として試験条件設定回路４から
テストピンモジュール支持部３を介して供給される制御
信号により、印加側スイッチ３０−１〜３０−ｎ及び３
０−１〜３０−ｍと出力側スイッチ３１−１〜３１−ｎ
及び３１−１〜３１−ｍとを開成する。次にステップＳ
１−４では、テストピンモジュール支持部３の初期化処
理２として試験条件設定回路４から供給された基準端子
１５の位置座標に設けられたスイッチでクロック入力端
子４０及び制御信号入力端子４１に対応するスイッチ６
０−１ａ，６０−１ｂ，６０−ｎａ，６０−ｎｂを開成
する。

【００６３】図１８は、図１６のフローチャートのステ
ップＳ２の詳細なフローチャートを示す。最初にステッ
プＳ２−１では、試験条件設定回路４から基準端子座標
信号を供給され、基準端子１５の位置座標に設けられた
スイッチでクロック入力端子４０及び制御信号入力端子
４１に対応するスイッチ６０−１ａ，６０−１ｂを閉成
する。

【００６４】次にステップＳ２−２では、試験条件設定
回路４からテストピンモジュール支持部３を介して供給
される制御信号により、テストピンモジュール２−１の
印加側スイッチ３０−１を閉成する。次にステップＳ２
−３では、試験条件設定回路４から供給された基準端子
１５の位置座標に設けられたスイッチでクロック入力端
子４０及び制御信号入力端子４１に対応するスイッチ６
０−１ａ，６０−１ｂを開成する。

【００６５】図１９は、図１６のフローチャートのステ
ップＳ３の詳細なフローチャートを示す。最初にステッ
プＳ３−１では、試験条件設定回路４から基準端子座標
信号を供給され、基準端子１５の位置座標に設けられた
スイッチでクロック入力端子４０及び制御信号入力端子
４１に対応するスイッチ６０−ｎａ，６０−ｎｂを閉成
する。

【００６６】次にステップＳ３−２では、試験条件設定
回路４からテストピンモジュール支持部３を介して供給
される制御信号により、テストピンモジュール２−ｉの
出力側スイッチ３１−ｍを閉成する。次にステップＳ３
−３では、試験条件設定回路４から供給された基準端子
１５の位置座標に設けられたスイッチでクロック入力端
子４０及び制御信号入力端子４１に対応するスイッチ６
０−ｎａ，６０−ｎｂを開成する。

【００６７】次にステップＳ３−４では、試験条件設定
回路４から供給された基準端子１５の位置座標に設けら
れたスイッチで出力信号端子４３に対応するスイッチ６
０−ｎｃを閉成する。次にステップＳ３−５では、試験
結果判定回路５の判定処理部７８において電源端子５４
に供給している電圧Ｖと、電流計７７により検出される
電流Ｉと、電流計７７とグランド端子５３との間に設け
られた抵抗７６の抵抗値Ｒとを式（１）により処理する
ことによりＡ点とＢ点との間の抵抗値Ｒａｂを算出す
る。

【００６８】Ｒａｂ＝（Ｖ／Ｉ）−Ｒ ・・・（１） 図２０は、図１６のフローチャートのステップＳ４の詳
細なフローチャートを示す。最初にステップＳ４−１
は、試験結果判定回路５の判定処理部７８において予め
設定，記憶されていた導通状態判定抵抗値Ｒｓ及び絶縁
状態判定抵抗値Ｒｏを用いてＡ点とＢ点との間の抵抗値
Ｒａｂと大小比較を行なう。

【００６９】次にステップＳ４−２では、ステップＳ４
−１にてＲａｂがＲｓより小さい又は等しいと判定され
た場合はステップＳ４−６に進みＡ点とＢ点との間は導
通状態であると判定処理部７８に記憶し、ステップＳ４
−１にてＲａｂがＲｓより大きいと判定された場合はス
テップＳ４−３に進む。次にステップＳ４−３では、ス
テップＳ４−１にてＲａｂがＲｏより大きい又は等しい
と判定された場合はステップＳ４−４に進みＡ点とＢ点
との間は絶縁状態であると判定処理部７８に記憶し、ス
テップＳ４−１にてＲａｂがＲｏより小さいと判定され
た場合はステップＳ４−５に進みＡ点とＢ点との間は抵
抗中間値状態であると判定処理部７８に記憶する。

【００７０】図２１は、図１６のフローチャートのステ
ップＳ５の詳細なフローチャートを示す。最初にステッ
プＳ５−１は、試験用データ記憶部６から被試験プリン
ト配線板１の設計情報を判定処理部７８に供給する。次
にステップＳ５−２では、Ａ点とＢ点との間が抵抗中間
値状態であると判定処理部７８に記憶されている場合は
ステップＳ５−５に進み不良であると判定処理部７８に
記憶し、Ａ点とＢ点との間が抵抗中間値状態でない場合
はステップＳ５−３に進む。

【００７１】次にステップＳ５−３では、Ａ点とＢ点と
の間の状態が設計情報と一致していると判定した場合は
ステップＳ５−４に進み正常であると判定処理部７８に
記憶し、Ａ点とＢ点との間の状態が設計情報と一致して
いないと判定した場合はステップＳ５−５に進み不良で
あると判定処理部７８に記憶する。以上のように、本発
明のプリント配線板電気試験装置により布線試験を行な
うことで布線試験の工程短縮及びコスト削減が可能とな
り、さらにリード間隔の狭い部品が集中的に配置されて
いるプリント配線板の布線試験を行なうことが可能とな
る。

【００７２】

【発明の効果】上述の如く、本発明の請求項１記載の発
明によれば、前記プリント配線板上に設置する部品毎に
設けられ、各部品の端子配置に対応した配列のテストピ
ン群を有するテストピンモジュールと、前記テストピン
モジュールのテストピン群が前記部品の端子に接触する
ように前記テストピンモジュールを固定するテストピン
モジュール支持部とにより構成されることにより、布線
試験毎に部品配置情報に従ってプリント配線板電気試験
装置を組み立て、試験終了後分解して次の布線試験に再
利用が可能となり、プリント配線板の布線試験の工程短
縮及びコスト削減が可能となる。

【００７３】また、請求項２記載の発明は、前記テスト
ピンモジュールのテストピン群は、部品の端子構造に応
じた構成を有することにより、前記部品用端子とテスト
ピンとの接触を最適にすることが可能となり、さらに前
記部品用端子の間隔の狭い部品が集中的に配置されてい
るプリント配線板の布線試験が可能となる。また、請求
項３記載の発明は、前記テストピン群は弾性力で前記部
品用端子に付勢されていることにより、前記部品用端子
とテストピン群との接触が最適にすることが可能とな
る。

【００７４】また、請求項４記載の発明は、前記テスト
ピンモジュールは、テストピンの入出力電圧を制御する
回路を有することにより、各テストピン毎に入出力電圧
を制御することが可能となる。また、請求項５記載の発
明は、前記テストピンモジュール支持部は、前記テスト
ピンモジュールを接続するマトリクス状に配置されたテ
ストピンモジュール結合孔を有することにより、前記テ
ストピンモジュール２を所定の位置に電気的及び機械的
に接続することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のプリント配線板電気試験装置の一実施
例のブロック図である。

【図２】テストピンモジュール及びテストピンモジュー
ル支持部の一実施例の説明図である。

【図３】被試験プリント配線板の一例の部品配置図であ
る。

【図４】テストピンモジュールの一実施例の外観図であ
る。

【図５】テストピンモジュールのテストピンの一実施例
の縦断面図である。

【図６】テストピンモジュール内の一実施例の回路図で
ある。

【図７】テストピンモジュール内のスイッチ制御回路に
入力する制御信号の一実施例のフォーマットである。

【図８】テストピンモジュールとテストピンモジュール
支持部との接続部の一実施例の縦断面図である。

【図９】テストピンモジュール支持部の一実施例の外観
図である。

【図１０】テストピンモジュール支持部内の一実施例の
回路図である。

【図１１】テストピンモジュール支持部内のスイッチ制
御回路に入力する基準端子座標信号の一実施例のフォー
マットである。

【図１２】布線試験を行なうプリント配線板の一例の部
品配置図である。

【図１３】図１２のプリント配線板を試験する場合の一
実施例のテストピンモジュールの外観図である。

【図１４】図１３のテストピンモジュールをテストピン
モジュール支持部に設置した状態の説明図である。

【図１５】本発明のプリント配線板電気試験装置の一実
施例の回路図である。

【図１６】図１５のＡ点とＢ点との間の導通を調べる場
合のフローチャートである。

【図１７】図１６のフローチャートのステップＳ１の詳
細なフローチャートである。

【図１８】図１６のフローチャートのステップＳ２の詳
細なフローチャートである。

【図１９】図１６のフローチャートのステップＳ３の詳
細なフローチャートである。

【図２０】図１６のフローチャートのステップＳ４の詳
細なフローチャートである。

【図２１】図１６のフローチャートのステップＳ５の詳
細なフローチャートである。

【図２２】従来の布線試験用治具を用いてプリント配線
板の布線試験を行なう方法の一例の構成図である。

【図２３】従来の布線試験用治具を用いてプリント配線
板の布線試験を行なう方法の一例のブロック図である。

【符号の説明】

１ 被試験プリント配線板 ２ テストピンモジュール ３ テストピンモジュール支持部 ４ 試験条件設定回路 ５ 試験結果判定回路 ６ 試験用データ記憶部 ７ テストピン ８ プリント配線板電気試験装置 １５ 基準端子 １６ 補助端子 １７ 電源部分 １８ 出力信号部分 １９ グランド部分 ２０ クロック入力部分 ２１ 制御信号入力部分 ２５ 導電性のあるバネ ２６ 導電性のあるピン ２７ 部品ランド ３０−１〜３０−４ 印加側スイッチ ３１−１〜３１−４ 出力側スイッチ ３２ 増幅器 ３３ ダイオード ３４ スイッチ制御回路 ３５ 回路駆動用電源 ４０ クロック入力接点 ４１ 制御信号入力接点 ４２ 電源接点 ４３ 出力信号接点 ４４ グランド接点 ４５ 電源配線板 ４６ 出力信号配線板 ４７ グランド配線板 ４８ 制御信号入力及びクロック入力配線板 ４９ テストピンモジュール結合孔 ５２ スイッチ制御回路 ６０−１ａ〜６０−１ｃ，６０−２ａ〜６０−２ｃ，６
０−ｎａ〜６０−ｎｃ スイッチ ７１ 基準端子座標出力端子 ７２ クロック出力端子 ７３ 制御信号出力端子 ７４ クロック出力端子 ７５ 出力信号入力端子

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プリント配線板の布線状態を電気的に試
   験するプリント配線板電気試験装置において、 前記プリント配線板上に設置する部品毎に設けられ、各
   部品の端子配置に対応した配列のテストピン群を有する
   テストピンモジュールと、 前記テストピンモジュールのテストピン群が前記部品の
   端子に接触するように前記テストピンモジュールを固定
   するテストピンモジュール支持部とを有することを特徴
   とするプリント配線板電気試験装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載のプリント配線板電気試験
   装置において、 前記テストピンモジュールのテストピン群は、部品の端
   子構造に応じた構成を有することを特徴とするプリント
   配線板電気試験装置。
3. 【請求項３】 請求項１記載のプリント配線板電気試験
   装置において、 前記テストピン群は弾性力で前記部品用端子に付勢され
   ていることを特徴とするプリント配線板電気試験装置。
4. 【請求項４】 請求項１記載のプリント配線板電気試験
   装置において、 前記テストピンモジュールは、テストピンの入出力電圧
   を制御する回路を有することを特徴とするプリント配線
   板電気試験装置。
5. 【請求項５】 請求項１記載のプリント配線板電気試験
   装置において、 前記テストピンモジュール支持部は、前記テストピンモ
   ジュールを接続するマトリクス状に配置されたテストピ
   ンモジュール結合孔を有することを特徴とするプリント
   配線板電気試験装置。