JPH11242064A - 実装基板検査装置 - Google Patents
実装基板検査装置Info
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- JPH11242064A JPH11242064A JP10043095A JP4309598A JPH11242064A JP H11242064 A JPH11242064 A JP H11242064A JP 10043095 A JP10043095 A JP 10043095A JP 4309598 A JP4309598 A JP 4309598A JP H11242064 A JPH11242064 A JP H11242064A
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 プローブピンに静電気がチャージされていて
も、実装基板の破壊を防止する。 【解決手段】 実装基板１１０の下面にはアース部分が
形成されており、このアース部分には、アース用プロー
ブピン１２２が接触・押圧される。実装基板１１０は押
さえピン１３３により上方から押圧され、この押圧状態
になってから、電源用及び信号入出力用のプローブピン
１３１が、実装基板１１０の上面の検査点に接触・押圧
する。このため、プローブピン１３１に静電気がチャー
ジされていても、静電気は基板のアース部分及びアース
用プローブピン１２３を介してアース接地され、静電気
破壊は生じない。
も、実装基板の破壊を防止する。 【解決手段】 実装基板１１０の下面にはアース部分が
形成されており、このアース部分には、アース用プロー
ブピン１２２が接触・押圧される。実装基板１１０は押
さえピン１３３により上方から押圧され、この押圧状態
になってから、電源用及び信号入出力用のプローブピン
１３１が、実装基板１１０の上面の検査点に接触・押圧
する。このため、プローブピン１３１に静電気がチャー
ジされていても、静電気は基板のアース部分及びアース
用プローブピン１２３を介してアース接地され、静電気
破壊は生じない。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は実装基板検査装置に
関し、実装基板検査装置のプローブピンに静電気がチャ
ージされている状態で検査をしても、基板側に静電気破
壊が生じないように工夫したものである。
関し、実装基板検査装置のプローブピンに静電気がチャ
ージされている状態で検査をしても、基板側に静電気破
壊が生じないように工夫したものである。
【０００２】
【従来の技術】プリント基板にＩＣ等の電子部品を実装
した実装基板に対しては、実装後に、インサーキットテ
ストやファンクションテストが行われる。インサーキッ
トテストとは、各電子部品が所要の特性、例えば抵抗や
インダクタンスやキャパシタンスを有しているかどうか
を調べるテストであり、ファンクションテストとは実装
基板に形成された電気回路が所要の入出力特性を有して
いるかどうかを調べるテストである。
した実装基板に対しては、実装後に、インサーキットテ
ストやファンクションテストが行われる。インサーキッ
トテストとは、各電子部品が所要の特性、例えば抵抗や
インダクタンスやキャパシタンスを有しているかどうか
を調べるテストであり、ファンクションテストとは実装
基板に形成された電気回路が所要の入出力特性を有して
いるかどうかを調べるテストである。
【０００３】上述したインサーキットテストやファンク
ションテストを行うために、実装基板検査装置が用いら
れる。図４は従来の実装基板検査装置を示す。同図に示
すように、実装基板１０は、基板１１上に電子部品（Ｉ
Ｃ等）１２を実装したものであり、基板１１には基準孔
１３が形成されている。
ションテストを行うために、実装基板検査装置が用いら
れる。図４は従来の実装基板検査装置を示す。同図に示
すように、実装基板１０は、基板１１上に電子部品（Ｉ
Ｃ等）１２を実装したものであり、基板１１には基準孔
１３が形成されている。
【０００４】上記実装基板１０の検査を行う実装基板検
査装置では、ベース板２０に基板位置決めピン２１を立
設している。
査装置では、ベース板２０に基板位置決めピン２１を立
設している。
【０００５】一方、アクリル板で形成した上板３０には
多数本のプローブピン３１が備えられている。各プロー
ブピン３１は、それぞれソケット３２を介して上板３０
に備えられている。しかも、ソケット３２内に配置した
バネ（図示省略）により、プローブピン３１は、弾性的
に支持されている。即ち、プローブピン３１に、下方か
ら上方に向かう外力が作用すると、プローブピン３１は
上板３０側に押し込められ、前記外力が作用しなくなる
とバネ力により上板３０から下方に突出して初期位置に
まで戻る。各プローブピン３１は、アース用、電源用、
信号入出力用のピンとして利用する。
多数本のプローブピン３１が備えられている。各プロー
ブピン３１は、それぞれソケット３２を介して上板３０
に備えられている。しかも、ソケット３２内に配置した
バネ（図示省略）により、プローブピン３１は、弾性的
に支持されている。即ち、プローブピン３１に、下方か
ら上方に向かう外力が作用すると、プローブピン３１は
上板３０側に押し込められ、前記外力が作用しなくなる
とバネ力により上板３０から下方に突出して初期位置に
まで戻る。各プローブピン３１は、アース用、電源用、
信号入出力用のピンとして利用する。
【０００６】上板３０は、図示しない昇降機構により、
ベース板２０に対して正確に位置決めした状態で昇降す
るようになっている。
ベース板２０に対して正確に位置決めした状態で昇降す
るようになっている。
【０００７】検査時には、まず基板位置決めピン２１が
基準孔１３を貫通するよう位置決めして、実装基板１０
をベース板２０上に載置する。次に上板３０を降下させ
ていく。そうすると、実装基板１０の各検査点に各プロ
ーブピン３１の下端（先端）が同時に接触し、この状態
から更に上板３０を降下させてクランプすると、各プロ
ーブピン３１は上板３０側に押し込まれる状態となり、
各プローブピン３１は前記バネにより下方に押される状
態で、各検査点に押圧される。
基準孔１３を貫通するよう位置決めして、実装基板１０
をベース板２０上に載置する。次に上板３０を降下させ
ていく。そうすると、実装基板１０の各検査点に各プロ
ーブピン３１の下端（先端）が同時に接触し、この状態
から更に上板３０を降下させてクランプすると、各プロ
ーブピン３１は上板３０側に押し込まれる状態となり、
各プローブピン３１は前記バネにより下方に押される状
態で、各検査点に押圧される。
【０００８】各プローブピン３１の下端（先端）が、各
検査点にバネ力により押圧された状態で、電圧印加や電
流供給をしたり、所要の信号の入出力の検査をして、各
種のテストをする。テスト終了後は上板３０が上昇し、
各プローブピン３１はバネ力により初期位置にまで戻
る。
検査点にバネ力により押圧された状態で、電圧印加や電
流供給をしたり、所要の信号の入出力の検査をして、各
種のテストをする。テスト終了後は上板３０が上昇し、
各プローブピン３１はバネ力により初期位置にまで戻
る。
【０００９】なお、実装基板１０に押釦タイプのスイッ
チが実装されているタイプのものでは、押釦スイッチを
押した状態にして、各種試験をすることがある。この場
合には、従来では、作業者が前記押釦スイッチを指で押
した状態にして、実装基板検査装置を作動させて試験を
行っている。
チが実装されているタイプのものでは、押釦スイッチを
押した状態にして、各種試験をすることがある。この場
合には、従来では、作業者が前記押釦スイッチを指で押
した状態にして、実装基板検査装置を作動させて試験を
行っている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】ところで上記従来技術
では、アース用、電源用、信号入出力用の各プローブピ
ン３１が同時に検査点に接触するため、プローブピン３
１に静電気がチャージされていた場合には、この静電気
により、本来の検査仕様とは異なる手順で電圧（静電気
に起因する電圧）や電流（静電気に起因する電流）が流
れてしまい、実装基板１０が静電気破壊することがあっ
た。
では、アース用、電源用、信号入出力用の各プローブピ
ン３１が同時に検査点に接触するため、プローブピン３
１に静電気がチャージされていた場合には、この静電気
により、本来の検査仕様とは異なる手順で電圧（静電気
に起因する電圧）や電流（静電気に起因する電流）が流
れてしまい、実装基板１０が静電気破壊することがあっ
た。
【００１１】また、実装基板１０に押釦タイプのスイッ
チが実装されているタイプのものであって、押釦スイッ
チを押した状態にして、各種試験をする場合には、、作
業者が前記押釦スイッチを指で押した状態にして、実装
基板検査装置を作動させて試験を行っている。このた
め、作業が面倒であった。
チが実装されているタイプのものであって、押釦スイッ
チを押した状態にして、各種試験をする場合には、、作
業者が前記押釦スイッチを指で押した状態にして、実装
基板検査装置を作動させて試験を行っている。このた
め、作業が面倒であった。
【００１２】本発明は、上記従来技術に鑑み、プローブ
ピンに静電気がチャージされていても、実装基板を静電
気破壊から保護して必要な検査ができ、しかも、押釦タ
イプのスイッチが実装されている実装基板に対しては押
釦スイッチを自動的に押した状態で必要な検査のできる
実装基板の検査装置を提供することを目的とする。
ピンに静電気がチャージされていても、実装基板を静電
気破壊から保護して必要な検査ができ、しかも、押釦タ
イプのスイッチが実装されている実装基板に対しては押
釦スイッチを自動的に押した状態で必要な検査のできる
実装基板の検査装置を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の構成は、実装基板が上方から載置されるベース板に
備えられると共にアース接地されており、実装基板側か
らベース板側に向かう外力が作用すると押し込められ、
前記外力が作用しなくなるとバネ力により実装基板側に
向かい初期位置にまで突出するアース用プローブピン
と、前記ベース板に対して昇降する上板に備えられてお
り、ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると押
し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力により
ベース板側に向かい初期位置にまで突出する電源用及び
信号入出力用のプローブピンと、前記上板に備えられて
おり、ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると
押し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によ
りベース板側に向かい初期位置にまで突出し、しかも初
期位置における突出ストロークが初期位置における前記
プローブピンの突出ストロークよりも長くなっている押
さえピンとを有することを特徴とする。
明の構成は、実装基板が上方から載置されるベース板に
備えられると共にアース接地されており、実装基板側か
らベース板側に向かう外力が作用すると押し込められ、
前記外力が作用しなくなるとバネ力により実装基板側に
向かい初期位置にまで突出するアース用プローブピン
と、前記ベース板に対して昇降する上板に備えられてお
り、ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると押
し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力により
ベース板側に向かい初期位置にまで突出する電源用及び
信号入出力用のプローブピンと、前記上板に備えられて
おり、ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると
押し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によ
りベース板側に向かい初期位置にまで突出し、しかも初
期位置における突出ストロークが初期位置における前記
プローブピンの突出ストロークよりも長くなっている押
さえピンとを有することを特徴とする。
【００１４】また本発明の構成は、実装基板が上方から
載置されるベース板に備えられており、実装基板側から
ベース板側に向かう外力が作用すると押し込められ、前
記外力が作用しなくなるとバネ力により実装基板側に向
かい初期位置にまで突出する押しピンと、前記ベース板
に対して昇降する上板に備えられており、ベース板側か
ら上板側に向かう外力が作用すると押し込められ、前記
外力が作用しなくなるとバネ力によりベース板側に向か
い初期位置にまで突出する電源用及び信号入出力用のプ
ローブピンと、前記上板に備えられており、ベース板側
から上板側に向かう外力が作用すると押し込められ、前
記外力が作用しなくなるとバネ力によりベース板側に向
かい初期位置にまで突出し、しかも初期位置における突
出ストロークが初期位置における前記プローブピンの突
出ストロークよりも長くなっている押さえピンとを有す
ることを特徴とする。
載置されるベース板に備えられており、実装基板側から
ベース板側に向かう外力が作用すると押し込められ、前
記外力が作用しなくなるとバネ力により実装基板側に向
かい初期位置にまで突出する押しピンと、前記ベース板
に対して昇降する上板に備えられており、ベース板側か
ら上板側に向かう外力が作用すると押し込められ、前記
外力が作用しなくなるとバネ力によりベース板側に向か
い初期位置にまで突出する電源用及び信号入出力用のプ
ローブピンと、前記上板に備えられており、ベース板側
から上板側に向かう外力が作用すると押し込められ、前
記外力が作用しなくなるとバネ力によりベース板側に向
かい初期位置にまで突出し、しかも初期位置における突
出ストロークが初期位置における前記プローブピンの突
出ストロークよりも長くなっている押さえピンとを有す
ることを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を図面
に基づき詳細に説明する。図１及び図２は本発明の第１
の実施の形態にかかる実装基板検査装置を示す。なお図
１は検査準備時の状態を示し、図２は検査実行時の状態
を示す。
に基づき詳細に説明する。図１及び図２は本発明の第１
の実施の形態にかかる実装基板検査装置を示す。なお図
１は検査準備時の状態を示し、図２は検査実行時の状態
を示す。
【００１６】両図に示すように、実装基板１１０は、基
板１１１の上面に電子部品（ＩＣ等）１１２を実装した
ものであり、上面に電源用及び信号入出力用のランドを
集中して形成している。また、基板１１１の下面には、
アース用のランドや、筺体取付け用のパターン等の、ア
ース部分が形成されている。更に、基板１１１には基準
孔１１３が形成されている。結局、基板１１１の上面に
電源用及び信号入出力用のランドを集中して形成し、基
板１１１の下面にアース部分が形成されるように、基板
１１１が設計・製造されている。
板１１１の上面に電子部品（ＩＣ等）１１２を実装した
ものであり、上面に電源用及び信号入出力用のランドを
集中して形成している。また、基板１１１の下面には、
アース用のランドや、筺体取付け用のパターン等の、ア
ース部分が形成されている。更に、基板１１１には基準
孔１１３が形成されている。結局、基板１１１の上面に
電源用及び信号入出力用のランドを集中して形成し、基
板１１１の下面にアース部分が形成されるように、基板
１１１が設計・製造されている。
【００１７】上記実装基板１１０の検査を行う第１の実
施の形態に係る実装基板検査装置では、ベース板１２０
に基板位置決めピン１２１を立設すると共に、複数本の
アース用プローブピン１２２が備えられている。各アー
ス用プローブピン１２２は、それぞれソケット１２３を
介してベース板１２０に備えられており、アース接地さ
れている。しかも、ソケット１２３内に配置したバネ
（図示省略）により、アース用プローブピン１２２は、
弾性的に支持されている。即ち、アース用プローブピン
１２２に、上方から下方に向かう外力が作用すると、ア
ース用プローブピン１２２はベース板１２０側に押し込
められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によりベー
ス板１２０から上方に突出して初期位置にまで戻る。
施の形態に係る実装基板検査装置では、ベース板１２０
に基板位置決めピン１２１を立設すると共に、複数本の
アース用プローブピン１２２が備えられている。各アー
ス用プローブピン１２２は、それぞれソケット１２３を
介してベース板１２０に備えられており、アース接地さ
れている。しかも、ソケット１２３内に配置したバネ
（図示省略）により、アース用プローブピン１２２は、
弾性的に支持されている。即ち、アース用プローブピン
１２２に、上方から下方に向かう外力が作用すると、ア
ース用プローブピン１２２はベース板１２０側に押し込
められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によりベー
ス板１２０から上方に突出して初期位置にまで戻る。
【００１８】一方、アクリル板で形成した上板１３０に
は電源用及び信号入出力用の多数本のプローブピン１３
１が備えられている。各プローブピン１３１は、それぞ
れソケット１３２を介して上板１３０に備えられてい
る。しかも、ソケット１３２内に配置したバネ（図示省
略）により、プローブピン１３１は、弾性的に支持され
ている。即ち、プローブピン１３１に、下方から上方に
向かう外力が作用すると、プローブピン１３１は上板１
３０側に押し込められ、前記外力が作用しなくなるとバ
ネ力により上板１３０から下方に突出して初期位置にま
で戻る。
は電源用及び信号入出力用の多数本のプローブピン１３
１が備えられている。各プローブピン１３１は、それぞ
れソケット１３２を介して上板１３０に備えられてい
る。しかも、ソケット１３２内に配置したバネ（図示省
略）により、プローブピン１３１は、弾性的に支持され
ている。即ち、プローブピン１３１に、下方から上方に
向かう外力が作用すると、プローブピン１３１は上板１
３０側に押し込められ、前記外力が作用しなくなるとバ
ネ力により上板１３０から下方に突出して初期位置にま
で戻る。
【００１９】更に上板１３０には複数本の押さえピン１
３３が備えられている。各押さえピン１３３は、それぞ
れソケット１３４を介して上板１３０に備えられてい
る。しかも、ソケット１３４内に配置したバネ（図示省
略）により、押さえピン１３３は、弾性的に支持されて
いる。即ち、押さえピン１３３に、下方から上方に向か
う外力が作用すると、押さえピン１３３は上板１３０側
に押し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力に
より上板１３０から下方に突出して初期位置にまで戻
る。
３３が備えられている。各押さえピン１３３は、それぞ
れソケット１３４を介して上板１３０に備えられてい
る。しかも、ソケット１３４内に配置したバネ（図示省
略）により、押さえピン１３３は、弾性的に支持されて
いる。即ち、押さえピン１３３に、下方から上方に向か
う外力が作用すると、押さえピン１３３は上板１３０側
に押し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力に
より上板１３０から下方に突出して初期位置にまで戻
る。
【００２０】しかも、外力の作用していない初期位置で
は、押さえピン１３３の突出ストロークは、プローブピ
ン１３１の突出ストロークよりも長くなるように設計し
ている。
は、押さえピン１３３の突出ストロークは、プローブピ
ン１３１の突出ストロークよりも長くなるように設計し
ている。
【００２１】また上板１３０は、図示しない昇降機構に
より、ベース板１２０に対して正確に位置決めした状態
で昇降するようになっている。
より、ベース板１２０に対して正確に位置決めした状態
で昇降するようになっている。
【００２２】検査時には、まず基板位置決めピン１２１
が基準孔１１３を貫通するよう位置決めして、実装基板
１１０をベース板１２０上に載置する。このようにする
とアース用プローブピン１２２の上端（先端）が、実装
基板１１１の下面のアース部分に接触する。
が基準孔１１３を貫通するよう位置決めして、実装基板
１１０をベース板１２０上に載置する。このようにする
とアース用プローブピン１２２の上端（先端）が、実装
基板１１１の下面のアース部分に接触する。
【００２３】次に上板１３０を降下させていく。そうす
ると、まず押さえピン１３５の下端（先端）が基板１１
１の上面に接触し、この状態から更に上板１３０を降下
させていくと、押さえピン１３５は上板１３０側に押し
込まれる状態となり（突出ストロークが短くなり）、押
さえピン１３５は前記バネにより下方に押される状態で
基板１１１の上面に押圧される。この押圧力により、ア
ース用プローブピン１２２はベース板１２０側に押し込
まれる状態となり（突出ストロークが短くなり）、アー
ス用プローブピン１２２は前記バネにより上方に押され
る状態で基板１１１の下面のアース部に押圧される。こ
のため、アース用プローブピン１２２と基板１１１のア
ース部との電気的接触が確実となる。
ると、まず押さえピン１３５の下端（先端）が基板１１
１の上面に接触し、この状態から更に上板１３０を降下
させていくと、押さえピン１３５は上板１３０側に押し
込まれる状態となり（突出ストロークが短くなり）、押
さえピン１３５は前記バネにより下方に押される状態で
基板１１１の上面に押圧される。この押圧力により、ア
ース用プローブピン１２２はベース板１２０側に押し込
まれる状態となり（突出ストロークが短くなり）、アー
ス用プローブピン１２２は前記バネにより上方に押され
る状態で基板１１１の下面のアース部に押圧される。こ
のため、アース用プローブピン１２２と基板１１１のア
ース部との電気的接触が確実となる。
【００２４】上記状態から更に上板１３０を降下させて
いくと、今度は電源用及び信号入出力用のプローブピン
１３１の下端（先端）が実装基板１１０の各検査点に同
時に接触し、この状態から更に上板１３０を降下させて
クランプすると、各プローブピン１３１は上板１３０側
に押し込まれる状態となり（突出ストロークが短くな
り）、各プローブピン１３１は前記バネにより下方に押
される状態で、各検査点に押圧される。
いくと、今度は電源用及び信号入出力用のプローブピン
１３１の下端（先端）が実装基板１１０の各検査点に同
時に接触し、この状態から更に上板１３０を降下させて
クランプすると、各プローブピン１３１は上板１３０側
に押し込まれる状態となり（突出ストロークが短くな
り）、各プローブピン１３１は前記バネにより下方に押
される状態で、各検査点に押圧される。
【００２５】このとき、プローブピン１３１に静電気が
チャージされている場合に、このプローブピン１３１が
実装基板１１０の各検査点に接触しても、実装基板１１
０はアース用プローブピン１２２を介して接地されてい
るため、静電気に起因する不要な電圧や電流はアースさ
れてしまい、実装基板１１０が静電気破壊することはな
い。
チャージされている場合に、このプローブピン１３１が
実装基板１１０の各検査点に接触しても、実装基板１１
０はアース用プローブピン１２２を介して接地されてい
るため、静電気に起因する不要な電圧や電流はアースさ
れてしまい、実装基板１１０が静電気破壊することはな
い。
【００２６】そこで、各プローブピン１３１の下端（先
端）が、各検査点にバネ力により押圧された状態で、電
圧印加や電流供給をしたり、所要の信号の入出力の検査
をして、各種のテストを良好に実行することができる。
テスト終了後は上板１３０が上昇し、各プローブピン１
３１はバネ力により初期位置にまで戻る。
端）が、各検査点にバネ力により押圧された状態で、電
圧印加や電流供給をしたり、所要の信号の入出力の検査
をして、各種のテストを良好に実行することができる。
テスト終了後は上板１３０が上昇し、各プローブピン１
３１はバネ力により初期位置にまで戻る。
【００２７】次に本発明の第２の実施の形態に係る実装
基板検査装置を、図３を参照して説明する。なお第１の
実施の形態に係る実装基板検査装置と同様な機能を果た
す部分には、同一符号を付し、重複する説明は省略す
る。
基板検査装置を、図３を参照して説明する。なお第１の
実施の形態に係る実装基板検査装置と同様な機能を果た
す部分には、同一符号を付し、重複する説明は省略す
る。
【００２８】図３に示すように、第２の実施の形態に係
る実装基板検査装置では、ベース板１２０に、ソケット
１２５内のバネを介して押しピン１２４が弾性的に備え
られている。即ち、押しピン１２４に上方から下方に向
かう外力が作用すると、押しピン１２４はベース板１２
０側に押し込められ、前記外力が作用しなくなると、押
しピン１２４はバネ力によりベース板１２０から上方に
突出して初期位置にまで戻る。
る実装基板検査装置では、ベース板１２０に、ソケット
１２５内のバネを介して押しピン１２４が弾性的に備え
られている。即ち、押しピン１２４に上方から下方に向
かう外力が作用すると、押しピン１２４はベース板１２
０側に押し込められ、前記外力が作用しなくなると、押
しピン１２４はバネ力によりベース板１２０から上方に
突出して初期位置にまで戻る。
【００２９】一方、基板１１１の下面には押釦スイッチ
１１４が実装されている。
１１４が実装されている。
【００３０】検査実行時には、押しピン１２４が押釦ス
イッチ１１４に接触・押圧されて下方に押し込まれると
共に、その反力により押釦スイッチ１１４が押されるた
め、作業者が押釦スイッチ１１４を指で押すことなく検
査ができる。このため、検査効率が向上する。
イッチ１１４に接触・押圧されて下方に押し込まれると
共に、その反力により押釦スイッチ１１４が押されるた
め、作業者が押釦スイッチ１１４を指で押すことなく検
査ができる。このため、検査効率が向上する。
【００３１】
【発明の効果】以上実施の形態と共に具体的に説明した
ように、本発明によれば、実装基板のアース部分をアー
ス用プローブピンによりアース接地した状態にしてか
ら、電源用及び信号入出力用の複数のプローブピンが各
検査点に接触するので、たとえプローブピンに静電気が
チャージされていても、実装基板が静電気破壊すること
はない。
ように、本発明によれば、実装基板のアース部分をアー
ス用プローブピンによりアース接地した状態にしてか
ら、電源用及び信号入出力用の複数のプローブピンが各
検査点に接触するので、たとえプローブピンに静電気が
チャージされていても、実装基板が静電気破壊すること
はない。
【００３２】また、押釦スイッチが実装されているタイ
プの実装基板では、押しピンにより押釦スイッチを自動
的に押した状態にして、プローブピンが検査点に接触す
るので、検査を効率的に行うことができる。
プの実装基板では、押しピンにより押釦スイッチを自動
的に押した状態にして、プローブピンが検査点に接触す
るので、検査を効率的に行うことができる。
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る実装基板検査
装置を検査準備時の状態で示す構成図。
装置を検査準備時の状態で示す構成図。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係る実装基板検査
装置を検査実行時の状態で示す構成図。
装置を検査実行時の状態で示す構成図。
【図３】本発明の第２の実施の形態に係る実装基板検査
装置を検査実行時の状態で示す構成図。
装置を検査実行時の状態で示す構成図。
【図４】従来の実装基板検査装置を検査実行時の状態で
示す構成図。
示す構成図。
１１０ 実装基板 １１１ 基板 １１２ 電子部品 １１３ 基準孔 １１４ 押釦スイッチ １２０ ベース板 １２１ 基板位置決めピン １２２ アース用プローブピン １２３ ソケット １２４ 押しピン １２５ ソケット １３０ 上板 １３１ プローブピン １３２ ソケット １３３ 押さえピン １３４ ソケット
Claims (2)
- 【請求項１】 実装基板が上方から載置されるベース板
に備えられると共にアース接地されており、実装基板側
からベース板側に向かう外力が作用すると押し込めら
れ、前記外力が作用しなくなるとバネ力により実装基板
側に向かい初期位置にまで突出するアース用プローブピ
ンと、 前記ベース板に対して昇降する上板に備えられており、
ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると押し込
められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によりベー
ス板側に向かい初期位置にまで突出する電源用及び信号
入出力用のプローブピンと、 前記上板に備えられており、ベース板側から上板側に向
かう外力が作用すると押し込められ、前記外力が作用し
なくなるとバネ力によりベース板側に向かい初期位置に
まで突出し、しかも初期位置における突出ストロークが
初期位置における前記プローブピンの突出ストロークよ
りも長くなっている押さえピンとを有することを特徴と
する実装基板検査装置。 - 【請求項２】 実装基板が上方から載置されるベース板
に備えられており、 実装基板側からベース板側に向かう外力が作用すると押
し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力により
実装基板側に向かい初期位置にまで突出する押しピン
と、 前記ベース板に対して昇降する上板に備えられており、
ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると押し込
められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によりベー
ス板側に向かい初期位置にまで突出する電源用及び信号
入出力用のプローブピンと、 前記上板に備えられており、ベース板側から上板側に向
かう外力が作用すると押し込められ、前記外力が作用し
なくなるとバネ力によりベース板側に向かい初期位置に
まで突出し、しかも初期位置における突出ストロークが
初期位置における前記プローブピンの突出ストロークよ
りも長くなっている押さえピンとを有することを特徴と
する実装基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10043095A JPH11242064A (ja) | 1998-02-25 | 1998-02-25 | 実装基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10043095A JPH11242064A (ja) | 1998-02-25 | 1998-02-25 | 実装基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11242064A true JPH11242064A (ja) | 1999-09-07 |
Family
ID=12654288
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10043095A Withdrawn JPH11242064A (ja) | 1998-02-25 | 1998-02-25 | 実装基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11242064A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010103558A (ja) * | 2010-01-25 | 2010-05-06 | Hitachi High-Technologies Corp | 試料検査装置及び吸収電流像の作成方法 |
| JP2011027578A (ja) * | 2009-07-27 | 2011-02-10 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査方法および回路基板検査装置 |
| KR101094782B1 (ko) * | 2011-07-12 | 2011-12-16 | 김응균 | 인쇄회로기판 검사장치 |
| KR101148669B1 (ko) | 2010-10-18 | 2012-05-25 | 삼성전기주식회사 | 기판 검사 장치 |
| JP2014106179A (ja) * | 2012-11-29 | 2014-06-09 | Hioki Ee Corp | 基板検査装置 |
| JP2014235112A (ja) * | 2013-06-04 | 2014-12-15 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査方法、基板検査装置及び基板検査用治具 |
| JP2015001448A (ja) * | 2013-06-14 | 2015-01-05 | 三菱電機株式会社 | プローブ装置 |
| CN104793125A (zh) * | 2015-04-27 | 2015-07-22 | 许继集团有限公司 | 一种光伏汇流箱分流器测量板的测试装置 |
| CN105445688A (zh) * | 2015-11-25 | 2016-03-30 | 深圳市金霆新能源技术有限公司 | 汇流箱自动校正方法及装置 |
| CN105785192A (zh) * | 2016-04-18 | 2016-07-20 | 许继集团有限公司 | 一种用于测试分流器封装监测装置的测试装置 |
| JP2017036997A (ja) * | 2015-08-10 | 2017-02-16 | 東京特殊電線株式会社 | 両面回路基板の検査装置及び検査方法 |
-
1998
- 1998-02-25 JP JP10043095A patent/JPH11242064A/ja not_active Withdrawn
Cited By (11)
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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