JPH1123710A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH1123710A JPH1123710A JP18913897A JP18913897A JPH1123710A JP H1123710 A JPH1123710 A JP H1123710A JP 18913897 A JP18913897 A JP 18913897A JP 18913897 A JP18913897 A JP 18913897A JP H1123710 A JPH1123710 A JP H1123710A
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- Japan
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- light
- distance
- detector
- distance measuring
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】入射光量の検知時、その光量の検知にもダイナ
ミックレンジの限界があり、現状においては、広範囲距
離及ぴ鏡面反射等の目標物の測定に対して、受光信号の
光量の検知ができないという問題を解決する。 【解決手段】受光した光を取り出す光学系４と複数のデ
ィテクタ６を用いて受光信号の光の強度を測定する。複
数のディテクタ６に入射する光のレベルは、ディテクタ
６のダイナミックレンジを考慮して１／１０．１／１０
０．・・・と数段階のレベルで光学的に変化させる。複
数のディテクタ６の中で、ダイナミックレンジ内で動作
しているディテクタのピーク値を用いて、予め用意され
た強度と補正距離の関係のテーブルから補正値を選び出
し、演算部１０で距離補正を行っている。
ミックレンジの限界があり、現状においては、広範囲距
離及ぴ鏡面反射等の目標物の測定に対して、受光信号の
光量の検知ができないという問題を解決する。 【解決手段】受光した光を取り出す光学系４と複数のデ
ィテクタ６を用いて受光信号の光の強度を測定する。複
数のディテクタ６に入射する光のレベルは、ディテクタ
６のダイナミックレンジを考慮して１／１０．１／１０
０．・・・と数段階のレベルで光学的に変化させる。複
数のディテクタ６の中で、ダイナミックレンジ内で動作
しているディテクタのピーク値を用いて、予め用意され
た強度と補正距離の関係のテーブルから補正値を選び出
し、演算部１０で距離補正を行っている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、測距装置に関し、
特に高精度な距離測定を可能とする測距装置に関する。
特に高精度な距離測定を可能とする測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】非測定対象物としての目標物までの距離
を測定する測距装置は、光ビームを非測定物に向けて投
射し、光ビームが投射され、目標物からの反射光を受光
するまでの時間をカウンタにより測定することにより目
標物までの距離を測定する。
を測定する測距装置は、光ビームを非測定物に向けて投
射し、光ビームが投射され、目標物からの反射光を受光
するまでの時間をカウンタにより測定することにより目
標物までの距離を測定する。
【０００３】かかる測距装置では、目標物までの距離や
目標物の表面の反射率の変化により受光信号レベルは大
きく変化するため、受光信号を処理する信号処理回路の
ダイナミックレンジも大きく設定しなければならず、時
に信号処理回路の動作ダイナミックレンジが対応できな
くなり、測定誤差が生じてしまう。
目標物の表面の反射率の変化により受光信号レベルは大
きく変化するため、受光信号を処理する信号処理回路の
ダイナミックレンジも大きく設定しなければならず、時
に信号処理回路の動作ダイナミックレンジが対応できな
くなり、測定誤差が生じてしまう。
【０００４】そこで、従来は、参照光光路に面上の位置
により異なる透過率を有する光減衰板を設け、参照信号
レベルが受光信号レベルと一致するように光減衰板をの
位置を調節し、受光信号と参照信号で生ずる誤差を相殺
する構成が採用されていた。しかし、この構成では、光
減衰板の位置をバランスモータ等を用いて移動させなけ
ればならず、この移動を高速で行うことには限界があ
り、したがって、目標物の距離や反射率が高速で変化す
る場合には迅速に対応できず、高速距離測定ができな
い。
により異なる透過率を有する光減衰板を設け、参照信号
レベルが受光信号レベルと一致するように光減衰板をの
位置を調節し、受光信号と参照信号で生ずる誤差を相殺
する構成が採用されていた。しかし、この構成では、光
減衰板の位置をバランスモータ等を用いて移動させなけ
ればならず、この移動を高速で行うことには限界があ
り、したがって、目標物の距離や反射率が高速で変化す
る場合には迅速に対応できず、高速距離測定ができな
い。
【０００５】この問題を解決するため、特開平４ー１６
６７８８号公報には、目標物の距離や反射率が高速で変
化する場合でもその変化に対応して投光信号レベルを変
化させ、常に一定の受光信号レベルを保つ測距装置が開
示されている。
６７８８号公報には、目標物の距離や反射率が高速で変
化する場合でもその変化に対応して投光信号レベルを変
化させ、常に一定の受光信号レベルを保つ測距装置が開
示されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述の測距装置では、
距離精度を向上させるため、受光パルスの立ち上がりの
一定位置（例えば、ピークの１／２）で受光タイミング
とし、受光量により補正が為されているが、上記目標物
の距離や反射率の変化を考慮すると、そのダイナミック
レンジは１０の５乗から１０の６乗を越えることにな
り、受光量を検知するディテクタにもダイナミックレン
ジの限界があるため、現状では広範囲距離及び鏡面反射
等の目標物の距離に対して受光信号の光量の検出ができ
ないという問題がある。
距離精度を向上させるため、受光パルスの立ち上がりの
一定位置（例えば、ピークの１／２）で受光タイミング
とし、受光量により補正が為されているが、上記目標物
の距離や反射率の変化を考慮すると、そのダイナミック
レンジは１０の５乗から１０の６乗を越えることにな
り、受光量を検知するディテクタにもダイナミックレン
ジの限界があるため、現状では広範囲距離及び鏡面反射
等の目標物の距離に対して受光信号の光量の検出ができ
ないという問題がある。
【０００７】すなわち、通常、入射光強度が著しく高い
場合には、ディテクタの出力レベルは飽和してしまい、
上述のようなカウンタによるカウント動作のストップパ
ルスの発生タイミングが早まり、距離として小さめな値
が得られてしまう。
場合には、ディテクタの出力レベルは飽和してしまい、
上述のようなカウンタによるカウント動作のストップパ
ルスの発生タイミングが早まり、距離として小さめな値
が得られてしまう。
【０００８】そこで、本発明の目的は、目標物の広範囲
距離及び鏡面反射等の変化に対して高速に応答して距離
測定を可能とする測距装置を提供することにある。
距離及び鏡面反射等の変化に対して高速に応答して距離
測定を可能とする測距装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
め本発明による測距装置は、目標に向けて出射されたレ
ーザ光の出射タイミングと、前記目標からの反射光を受
光した受光タイミングに基づいて前記目標までの距離を
測定する距離計測手段を有する測距装置において、前記
目標からの反射光の光量を順次少ない光量となるように
取り出す複数の光量取出手段と、前記複数の光量取出手
段からのそれぞれの光を検出して電気信号に変換する複
数のディテクタ手段と、前記複数のディテクタ手段の出
力のそれぞれのピーク値を検出するピーク検出手段と、
前記ピーク検出手段で得られた前記複数のディテクタ手
段のピーク値に基づいて前記距離計測手段で得られた距
離を補正する演算手段とを備えて構成される。
め本発明による測距装置は、目標に向けて出射されたレ
ーザ光の出射タイミングと、前記目標からの反射光を受
光した受光タイミングに基づいて前記目標までの距離を
測定する距離計測手段を有する測距装置において、前記
目標からの反射光の光量を順次少ない光量となるように
取り出す複数の光量取出手段と、前記複数の光量取出手
段からのそれぞれの光を検出して電気信号に変換する複
数のディテクタ手段と、前記複数のディテクタ手段の出
力のそれぞれのピーク値を検出するピーク検出手段と、
前記ピーク検出手段で得られた前記複数のディテクタ手
段のピーク値に基づいて前記距離計測手段で得られた距
離を補正する演算手段とを備えて構成される。
【００１０】ここで、前記演算手段は、 前記ピーク検
出手段で得られた前記複数のディテクタ手段のピーク値
に基づいて定まる所定値を前記距離計測手段で得られた
距離して補正したり、前記複数のディテクタ手段のピー
ク値のうち各ディテクタ毎に予め定めたしきい値以下の
ピーク値を有するディテクタに基づいて定まる所定値を
前記距離計測手段で得られた距離を補正する。
出手段で得られた前記複数のディテクタ手段のピーク値
に基づいて定まる所定値を前記距離計測手段で得られた
距離して補正したり、前記複数のディテクタ手段のピー
ク値のうち各ディテクタ毎に予め定めたしきい値以下の
ピーク値を有するディテクタに基づいて定まる所定値を
前記距離計測手段で得られた距離を補正する。
【００１１】また、前記複数のディテクタと前記所定値
とはテーブル化されており、前記光量取出手段は、前記
複数のディテクタのダイナミックレンジを考慮して複数
段階のレベルで光学的に分岐させる手段である。この光
量取出手段は、ビームスプリッタとされる。
とはテーブル化されており、前記光量取出手段は、前記
複数のディテクタのダイナミックレンジを考慮して複数
段階のレベルで光学的に分岐させる手段である。この光
量取出手段は、ビームスプリッタとされる。
【００１２】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の一実施
形態による測距装置の構成図である。
図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の一実施
形態による測距装置の構成図である。
【００１３】本発明の一実施形態による測距装置は、レ
ーザ光を生成するレーザ発生部１と、レーザ発生部１か
ら出射されたレーザ光を所望の拡がり角に拡げる送光光
学系３と、レーザ発生部１からのレーザ光の発光を検知
しスタートパルスを生成するスタート検知回路２と、目
標物１１からの反射光を受光回路に導く受光光学系４
と、目標物１１からの反射光の一部を、それぞれ所定の
ダイナミックレンジで、Ｍ例えば、入射光の１／１０，
１／１００，・・・１／Ｎの光量の光を取り出すための
複数のビームスプリッタ５Ａ〜５Ｃと、ビームスプリッ
タ５Ａ〜５Ｃで取り出された目標物１１からの反射光
を、それぞれ異なる検知する複数のディテクタ６Ａ〜６
Ｃと、この複数のディテクタ６Ａ〜６Ｃからの出力のそ
れぞれのピーク値を検出するピーク検出回路７Ａ〜７Ｃ
と、目標物１１の反射光を検知してストップパルスを生
成する受光回路８と、スタート検知回路２から出力され
るスタートパルスと受光回路８から出力されるストップ
パルスの発生時間間隔を測定するカウンタ回路９と、カ
ウンタ回路９からのカウントデータとピーク検出回路７
Ａ〜７Ｃから出力される受光のピーク値とを用いて距離
補正を行う演算部１０とを備える。
ーザ光を生成するレーザ発生部１と、レーザ発生部１か
ら出射されたレーザ光を所望の拡がり角に拡げる送光光
学系３と、レーザ発生部１からのレーザ光の発光を検知
しスタートパルスを生成するスタート検知回路２と、目
標物１１からの反射光を受光回路に導く受光光学系４
と、目標物１１からの反射光の一部を、それぞれ所定の
ダイナミックレンジで、Ｍ例えば、入射光の１／１０，
１／１００，・・・１／Ｎの光量の光を取り出すための
複数のビームスプリッタ５Ａ〜５Ｃと、ビームスプリッ
タ５Ａ〜５Ｃで取り出された目標物１１からの反射光
を、それぞれ異なる検知する複数のディテクタ６Ａ〜６
Ｃと、この複数のディテクタ６Ａ〜６Ｃからの出力のそ
れぞれのピーク値を検出するピーク検出回路７Ａ〜７Ｃ
と、目標物１１の反射光を検知してストップパルスを生
成する受光回路８と、スタート検知回路２から出力され
るスタートパルスと受光回路８から出力されるストップ
パルスの発生時間間隔を測定するカウンタ回路９と、カ
ウンタ回路９からのカウントデータとピーク検出回路７
Ａ〜７Ｃから出力される受光のピーク値とを用いて距離
補正を行う演算部１０とを備える。
【００１４】次に、本発明の実施の形態の動作について
説明する。レーザ発生部１から出射されたレーザ光は、
送光光学系３を通って所望のビーム拡がり角に拡げら
れ、目標物１１に向けて出射される。レーザ発生部１か
ら出射されたレーザ光の一部は、スタート検知器回路２
に取り込まれ、取り込まれたタイミングでスタートパル
スが生成される。こうして生成されたスタートパルス
は、カウンタ回路９へ送出され、カウンタ回路内部のカ
ウンタ動作をスタートさせる。
説明する。レーザ発生部１から出射されたレーザ光は、
送光光学系３を通って所望のビーム拡がり角に拡げら
れ、目標物１１に向けて出射される。レーザ発生部１か
ら出射されたレーザ光の一部は、スタート検知器回路２
に取り込まれ、取り込まれたタイミングでスタートパル
スが生成される。こうして生成されたスタートパルス
は、カウンタ回路９へ送出され、カウンタ回路内部のカ
ウンタ動作をスタートさせる。
【００１５】前述のように、通常、入射光強度が著しく
高い場合には、ディテクタの出力レベルは飽和してしま
い、上述のようなカウンタによるカウント動作のストッ
プパルスの発生タイミングが早まり、距離として小さめ
な値が得られてしまう。本実施形態では、そこで、上述
のように、入射光の１／１０，１／１００，・・・１／
Ｎの光量の光を取り出すための複数のビームスプリッタ
５Ａ〜５Ｃと、ビームスプリッタ５Ａ〜５Ｃで取り出さ
れた目標物１１からの反射光を、それぞれ検知する複数
のディテクタ６Ａ〜６Ｃと、この複数のディテクタ６Ａ
〜６Ｃからの出力のそれぞれのピーク値を検出するピー
ク検出回路７Ａ〜７Ｃ、更には演算部１０を設けてい
る。
高い場合には、ディテクタの出力レベルは飽和してしま
い、上述のようなカウンタによるカウント動作のストッ
プパルスの発生タイミングが早まり、距離として小さめ
な値が得られてしまう。本実施形態では、そこで、上述
のように、入射光の１／１０，１／１００，・・・１／
Ｎの光量の光を取り出すための複数のビームスプリッタ
５Ａ〜５Ｃと、ビームスプリッタ５Ａ〜５Ｃで取り出さ
れた目標物１１からの反射光を、それぞれ検知する複数
のディテクタ６Ａ〜６Ｃと、この複数のディテクタ６Ａ
〜６Ｃからの出力のそれぞれのピーク値を検出するピー
ク検出回路７Ａ〜７Ｃ、更には演算部１０を設けてい
る。
【００１６】さて、送光光学系３からの所定の拡がり角
を持ったレーザ光は、目標物１１に照射され、反射され
たレーザ光の一部が戻り、受光光学系４を通して複数の
ビームスプリッタ５Ａ〜５Ｃへ導かれる。複数のビーム
スプリッタ５Ａ〜５Ｃでは、上記反射光を受光し、例え
ば、１／１０、１／１００、・・・、１／Ｎのダイナミ
ックレンジで、それぞれ対応するディテクタ６Ａ〜６Ｃ
に出力する。ビームスプリッタ５Ａ〜５Ｃを通過した残
りの反射光は、受光回路８に導かれる。
を持ったレーザ光は、目標物１１に照射され、反射され
たレーザ光の一部が戻り、受光光学系４を通して複数の
ビームスプリッタ５Ａ〜５Ｃへ導かれる。複数のビーム
スプリッタ５Ａ〜５Ｃでは、上記反射光を受光し、例え
ば、１／１０、１／１００、・・・、１／Ｎのダイナミ
ックレンジで、それぞれ対応するディテクタ６Ａ〜６Ｃ
に出力する。ビームスプリッタ５Ａ〜５Ｃを通過した残
りの反射光は、受光回路８に導かれる。
【００１７】より具体的には、最初のビームスプリッタ
５Ａでは、受光光学系４を通過して受光した光のうち１
／１０の光量をディテクタ６Ａに送出する。また、次の
ビームスプリッタ５Ｂでは、ディテクタ６Ｂを通過して
受光した光のうち１／１００の光量をディテクタ６Ｂに
送出する。更にビームスプリッタ５Ｃでは、前段のビー
ムスプリッタを通過して受光した光のうち１／Ｎの光量
をディテクタ６Ｃに送出している。
５Ａでは、受光光学系４を通過して受光した光のうち１
／１０の光量をディテクタ６Ａに送出する。また、次の
ビームスプリッタ５Ｂでは、ディテクタ６Ｂを通過して
受光した光のうち１／１００の光量をディテクタ６Ｂに
送出する。更にビームスプリッタ５Ｃでは、前段のビー
ムスプリッタを通過して受光した光のうち１／Ｎの光量
をディテクタ６Ｃに送出している。
【００１８】複数のディテクタ６Ａ〜６Ｃに導かれ、電
気信号に変換された反射信号は、対応する複数のピーク
検出回路７Ａ〜７Ｃに送出され、そこでピーク値が検出
される。検出されたピーク値は演算部１０に出力され
る。
気信号に変換された反射信号は、対応する複数のピーク
検出回路７Ａ〜７Ｃに送出され、そこでピーク値が検出
される。検出されたピーク値は演算部１０に出力され
る。
【００１９】一方、受光回路８は、入射された反射光に
応答してストップパルスを生成してカウンタ部９に送出
される。カウンタ部９に送出されたストップパルスは、
スタートパルスで動き出したカウンタ動作を止める。こ
うして得られたスタートパルスからストップパルスまで
の測定時間間隔が演算部１０に出力される。
応答してストップパルスを生成してカウンタ部９に送出
される。カウンタ部９に送出されたストップパルスは、
スタートパルスで動き出したカウンタ動作を止める。こ
うして得られたスタートパルスからストップパルスまで
の測定時間間隔が演算部１０に出力される。
【００２０】演算部１０は、ピーク検出回路７Ａ〜７Ｃ
から出されたピーク値の中から適切な値のピーク値を選
び出し、その値を基に補正値を決定し、カウンタ回路か
ら出力されるデータにその補正値をくわえて距離データ
として出力する。
から出されたピーク値の中から適切な値のピーク値を選
び出し、その値を基に補正値を決定し、カウンタ回路か
ら出力されるデータにその補正値をくわえて距離データ
として出力する。
【００２１】具体的には、入射光レベルが非常に高い場
合、ディテクタ６Ａの動作が飽和し、ピーク検出回路７
Ａの出力も飽和レベルとなるが、この飽和レベルは予め
実験的に得ることができるので、得られた飽和レベルよ
りも若干低い（例えば、８０％）レベルをしきい値とし
て設定しておけば、このしきい値以下のピーク値が検出
されれば、ディテクタは正常動作していると判断でき
る。
合、ディテクタ６Ａの動作が飽和し、ピーク検出回路７
Ａの出力も飽和レベルとなるが、この飽和レベルは予め
実験的に得ることができるので、得られた飽和レベルよ
りも若干低い（例えば、８０％）レベルをしきい値とし
て設定しておけば、このしきい値以下のピーク値が検出
されれば、ディテクタは正常動作していると判断でき
る。
【００２２】したがって、上記ディテクタ６Ａ〜６Ｃ毎
にしきい値を設定しておき、実際に得られたピーク検出
回路７Ａ〜７Ｃの検出レベルと上記しきい値とを比較す
れば、正常に動作しているディテクタと飽和動作状態に
あるディテクタとを識別でき、正常動作しているディテ
クタから入射光レベルが判断できるので、カウンタ回路
９で得られた距離値に所定値だけ加算して補正すること
ができる。
にしきい値を設定しておき、実際に得られたピーク検出
回路７Ａ〜７Ｃの検出レベルと上記しきい値とを比較す
れば、正常に動作しているディテクタと飽和動作状態に
あるディテクタとを識別でき、正常動作しているディテ
クタから入射光レベルが判断できるので、カウンタ回路
９で得られた距離値に所定値だけ加算して補正すること
ができる。
【００２３】上記ディテクタと加算する値との関係は予
めテーブル化しておけば、簡単に読み出せ、補正処理が
可能となる。
めテーブル化しておけば、簡単に読み出せ、補正処理が
可能となる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による測距
装置、１発１発のレーザ光に対して反射光のレベルによ
る補正をかけているため、あらゆるレベルの受光信号に
対しても精度良く距離測定ができる。
装置、１発１発のレーザ光に対して反射光のレベルによ
る補正をかけているため、あらゆるレベルの受光信号に
対しても精度良く距離測定ができる。
【図１】本発明による測距装置の一実施形態例を示す構
成図である。
成図である。
１ レーザ発生部 ２ スタート検知回路 ３ 送光光学系 ４ 受光光学系 ５Ａ〜５Ｃ ビームスプリッタ ６Ａ〜６Ｃ ディテクタ ７Ａ〜７Ｃ ピーク検出回路 ８ 受光回路 ９ カウンタ回路 １０ 演算部 １１ 目標物
Claims (6)
- 【請求項１】目標に向けて出射されたレーザ光の出射タ
イミングと、前記目標からの反射光を受光した受光タイ
ミングに基づいて前記目標までの距離を測定する距離計
測手段を有する測距装置において、 前記目標からの反射光の光量を順次少ない光量となるよ
うに取り出す複数の光量取出手段と、 前記複数の光量取出手段からのそれぞれの光を検出して
電気信号に変換する複数のディテクタ手段と、 前記複数のディテクタ手段の出力のそれぞれのピーク値
を検出するピーク検出手段と、 前記ピーク検出手段で得られた前記複数のディテクタ手
段のピーク値に基づいて前記距離計測手段で得られた距
離を補正する演算手段と、を備えて成ることを特徴とす
る測距装置。 - 【請求項２】前記演算手段は、 前記ピーク検出手段で
得られた前記複数のディテクタ手段のピーク値に基づい
て定まる所定値を前記距離計測手段で得られた距離して
補正する請求項１に記載の測距装置。 - 【請求項３】前記演算手段は、 前記複数のディテクタ
手段のピーク値のうち各ディテクタ毎に予め定めたしき
い値以下のピーク値を有するディテクタに基づいて定ま
る所定値を前記距離計測手段で得られた距離を補正する
請求項１乃至２に記載の測距装置。 - 【請求項４】前記複数のディテクタと前記所定値とはテ
ーブル化されている請求項１乃至３に記載の測距装置。 - 【請求項５】前記光量取出手段は、前記複数のディテク
タのダイナミックレンジを考慮して複数段階のレベルで
光学的に分岐させる手段である請求項１乃至４に記載の
測距装置。 - 【請求項６】前記光量取出手段は、ビームスプリッタで
ある請求項１乃至５に記載の測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18913897A JPH1123710A (ja) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18913897A JPH1123710A (ja) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1123710A true JPH1123710A (ja) | 1999-01-29 |
Family
ID=16236055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18913897A Pending JPH1123710A (ja) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1123710A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006105605A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | Sunx Ltd | 距離センサ |
| JP2008107205A (ja) * | 2006-10-25 | 2008-05-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 空間情報の検出装置 |
| JP2008275331A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-13 | Ihi Corp | レーザレーダ装置とその測距方法 |
| JP2012122951A (ja) * | 2010-12-10 | 2012-06-28 | Denso Corp | 距離測定装置および距離測定プログラム |
| JP2012202776A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Toyota Central R&D Labs Inc | 距離測定装置 |
| JP2017049230A (ja) * | 2015-09-04 | 2017-03-09 | 株式会社デンソーウェーブ | レーザレーダ装置 |
| CN107390225A (zh) * | 2017-08-14 | 2017-11-24 | 杭州欧镭激光技术有限公司 | 一种激光测距装置及其使用方法 |
| EP3567398A1 (de) * | 2018-05-09 | 2019-11-13 | Pepperl & Fuchs GmbH | Verfahren und optoelektronischer sensor zum messen einer entfernung von objekten |
-
1997
- 1997-06-30 JP JP18913897A patent/JPH1123710A/ja active Pending
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