JPH11201888A - サーボ式材料試験機の応答特性調整方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 運転中にもリアルタイムで前向きゲインを調
整できるようにしたサーボ式材料試験機の応答特性調整
方法及び装置を提供する。 【解決手段】 サーボ式材料試験機の応答特性を同定す
る重み係数をオブザーバ係数として予め記憶した記憶手
段２０を備える。サーボ式材料試験機を作動したときの
目標信号が入力された適応フィルタ８の出力に得られる
信号とサーボ式材料試験機において得られる検知信号と
が等しくなるように係数調整手段１０が適応フィルタ８
の重み係数を自動調整する。係数調整手段によって調整
された適応フィルタの各項の重み係数と記憶手段に予め
記憶されたオブザーバ係数との各項毎にとった差の和が
最小になるように、ゲイン調整手段３０がゲイン手段７
の前向きゲインを自動調整する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はサーボ方式の材料試
験機の応答特性を調整するサーボ式材料試験機の応答特
性調整方法及び装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】材料試験機において応答特性を決める前
向き伝達関数のゲイン調整は、材料試験機の安定性を左
右する重要な作業である。このゲインが比例ゲインＫｐ
である場合、これを大きくすると不安定発振現象を生
じ、また小さくすると応答性が下がり入力加振信号に追
従しなくなるが、このＫｐ値には、各材料試験機に最適
な固有値がある。

【０００３】従来、このＫｐ値の調整は、試験を開始す
る以前にシステムを仮運転し、入力と出力の関係を観察
して最適固有値を求めることによって行っている。な
お、Ｋｐは閉ループ伝達関数のパラメータの一つであ
り、閉ループの中に含まれる試料の静的特性や動的特性
にも関係しているので、試料を取り付けた後に仮運転に
より最適値の計測を行っている。

【０００４】図３は標準的な荷重制御閉ループ材料試験
機の構成例を示し、同図において、１はサーボ弁（Ｓ／
Ｖ）１１と、シリンダ１２と、ピストンロット１３とを
有する電気油圧式の加振アクチュエータである。アクチ
ュエータ１はシリンダ１２内にＳ／Ｖ１１を介して供給
される圧油によってピストンロット１３が作動されるよ
うになっている。Ｓ／Ｖ１１は、これに印加される作動
信号の極性と大きさによって、弁開の方向と弁開度が調
整されるとともに、弁を通じて圧油を供給するシリンダ
１２のシリンダ室が決定される。このことによって、ピ
ストンロット１３が作動信号の極性に応じた方向に大き
さに応じた速度で移動されるようになる。

【０００５】２は一端がピストンロット１３の下側の先
端に連結され、他端がロードセル（Ｌ／Ｃ）３を介して
固定された試料（ＴＰ）である。Ｌ／Ｃ３はピストンロ
ット１３によってＴＰ２に加えられる荷重を検知し、荷
重の大きさに応じた大きさの荷重検知信号を発生する。

【０００６】４はＴＰ２に加えるべき時間と共に変化す
る荷重の目標値を定める荷重目標信号を発生する関数発
生器であり、この関数発生器４からの荷重目標信号は、
反転入力にＬ／Ｃ３からの荷重検知信号がセンサアンプ
５を介して印加されている加算点６の非反転入力に印加
されている。加算点６は、荷重目標信号と荷重検知信号
との差をとって偏差信号として出力し、これをサーボア
ンプ７を介して加振アクチュエータ１のＳ／Ｖ１１に作
動信号として印加し、入力信号である荷重目標信号Ｅｉ
（ｔ）と出力信号である荷重検知信号Ｅｏ（ｔ）とが等
しくなって、偏差信号が０になるような荷重をＴＰ２に
加えるように加振アクチュエータ１を作動させる。サー
ボアンプ７は、前向きゲインとして調整可能な比例ゲイ
ンＫｐを有している。

【０００７】上記閉ループ材料試験機は、Ｓ／Ｖ１１と
加振アクチュエータ１とＴＰ２とは時間関数を有する
が、一般には、ＴＰ２の性質上、閉ループ伝達関数全体
を左右する時間関数を持つ要素はＳ／Ｖ１１と加振アク
チュエータ１であってＴＰ２についての時間関数は実際
上無視できるという前提でＫｐの調整が行われているに
過ぎない。

【０００８】ところで、一般的なＫｐの調整方法とし
て、材料試験機への入力信号である荷重目標信号Ｅｉ
（ｔ）に広い周波数スペクトルをもつ図４（ｄ）に示す
ような矩形波信号を用い、この荷重目標信号の入力に対
する出力信号である荷重検知信号Ｅｏ（ｔ）の波形を観
測することによって決定するものがある。この場合、観
測の結果得られる荷重検知信号Ｅｏ（ｔ）の波形が図４
（ａ）に示すような波形であるとき、Ｋｐが大きすぎ不
安定性が増大していると判断し、図４（ｃ）に示すよう
な波形のときには、Ｋｐが小さすぎると判断し、図４
（ｂ）に示すような波形のときにはＫｐが最適な大きさ
であると判断することになる。上述した荷重検知信号Ｅ
ｏ（ｔ）の波形を観測して行う調整は単純明快で現場で
の調整に適している。

【０００９】他のＫｐの調整方法として、入力信号であ
る荷重目標信号Ｅｉ（ｓ）と出力信号である荷重検知信
号Ｅｏ（ｓ）とによって表現した図５に示す標準的な材
料試験機の応答特性を利用するものがある。この方法で
は、正弦波を入力に印加したときに出力に出現する波形
の振幅を観察し、各周波数毎に振幅を求め、図５の最適
曲線になるようにＫｐを操作して最適値に固定する。振
幅を観測する方法が一般的であるが、位相で観測する方
法もある。なお、位相で観測するには、予め最適Ｋｐの
ときの位相値を控えておき、その値に合わせることで調
整することになる。この図５の最適曲線を使用して行う
調整方法は、簡単で実用的であり広く使われている手法
である。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した荷重
検知信号Ｅｏ（ｔ）の波形を観測して行う調整は過大な
振幅で加振するとＴＰに損傷を生じさせる危険がある。
また、波形の立ち上がりと立ち下がり時に、Ｓ／Ｖ１１
への信号値が大きくなり、Ｓ／Ｖ１１内部の油圧系を含
めた機械系に過大な負荷を与える危険がある他、飽和現
象により正常な閉ループを形成できなくなって観測した
波形からＫｐ値を決定することができなくなる危険もあ
る。そこで、できるだけ小さな荷重目標信号で計測する
ことになるが、このようにすると、Ｓ／Ｖ１１及び機械
系のもつ非線形性のためＫｐが小さくても、荷重検知信
号Ｅｏ（ｔ）で観測すると、トランジェント特性を示す
ことがあり、波形観測からＫｐを調整するには経験が必
要であった。

【００１１】また、図５の最適曲線を使用して行う調整
方法では、観測において周波数掃引が必要であることの
他、信号は正弦波でなければならないなどの制約があ
る。

【００１２】何れにしても、上述した従来の調整方法で
は、運転前に前向きゲインであるＫｐを一度調整した後
は、運転中調整が行われることはなく、運転中にリアル
タイムで前向きゲインの調整を行うことはできるように
はなっていなかった。

【００１３】よって本発明は、上述した従来の問題点に
鑑み、運転中にもリアルタイムで前向きゲインを調整で
きるようにしたサーボ式材料試験機の応答特性調整方法
及び装置を提供することを課題としている。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明により成された請求項１に記載のサーボ式材料試
験機の応答特性調整方法は、加振アクチュエータにより
試験材料である試料に加えた加振を検知してセンサが発
生する検知信号と、前記試料に加える加振の目標値を示
す目標信号との差を求めて偏差信号を得、前向きゲイン
を有するゲイン手段を介して前記偏差信号を前記加振ア
クチュエータに加え、前記差が０になるように前記加振
アクチュエータを作動するサーボ式材料試験機の応答特
性を前記前向きゲインを変更して調整する応答特性調整
方法において、前記前向きゲインを最適値に設定した状
態で前記サーボ式材料試験機を作動したときの目標信号
を適応フィルタに入力し、このとき前記適応フィルタの
出力に得られる周波数伝達関数に応じた信号と、このと
き前記サーボ式材料試験機において得られる前記検知信
号とが等しくなるように自動調整した前記適応フィルタ
の周波数伝達関数の各項の重み係数によって前記サーボ
式材料試験機の応答特性を同定し、該同定によって得た
前記重み係数をオブザーバ係数として予め記憶してお
き、その後の試験時に自動調整される前記適応フィルタ
の重み係数と前記オブザーバ係数との各項毎の差の和が
最小になるように前記ゲイン手段の前向きゲインを自動
調整するようにしたことを特徴とするサーボ式材料試験
機の応答特性調整方法に存する。

【００１５】上記方法により、前向きゲインを最適値に
設定した状態でサーボ式材料試験機を作動したときの目
標信号を適応フィルタに入力し、このとき適応フィルタ
の出力に得られる周波数伝達関数に応じた信号と、この
ときサーボ式材料試験機において得られる検知信号とが
等しくなるように自動調整した適応フィルタの周波数伝
達関数の各項の重み係数によってサーボ式材料試験機の
応答特性を同定し、該同定によって得た重み係数をオブ
ザーバ係数として予め記憶しておく。そして、その後の
試験時に自動調整される適応フィルタの重み係数とオブ
ザーバ係数との各項毎の差の和が最小になるようにゲイ
ン手段の前向きゲインを調整している。したがって、サ
ーボ式材料試験機は目標信号に等しい検知信号が得られ
るとともにその特性が理想値に近づくように調整される
ようになる。

【００１６】上記課題を解決するため本発明により成さ
れた請求項２に記載のサーボ式材料試験機の応答特性調
整方法は、請求項１記載のサーボ式材料試験機の応答特
性調整方法において、前記目標信号がサーボ式材料試験
機の応答特性を支配する要素の共振点に近い周波数成分
を含むものであることを特徴とするサーボ式材料試験機
の応答特性調整方法に存する。

【００１７】上記方法により、サーボ式材料試験機の応
答特性（周波数特性）の問題となりそうな周波数に対し
て入力／出力を最適応答特性に保持できる。

【００１８】上記課題を解決するため本発明により成さ
れた請求項３に記載のサーボ式材料試験機の応答特性調
整装置は、加振アクチュエータと、該加振アクチュエー
タにより試験材料である試料に加えた加振を検知して検
知信号を発生するセンサと、該センサが発生する検知信
号と前記試料に加える加振の目標値を示す目標信号との
差を求めて偏差信号を得る加算手段と、前向きゲインを
有するゲイン手段と、該ゲイン手段を介して前記偏差信
号を前記加振アクチュエータに加え、前記差が０になる
ように前記加振アクチュエータを作動するサーボ式材料
試験機の応答特性調整装置において、前記サーボ式材料
試験機の応答特性を同定する重み係数をオブザーバ係数
として予め記憶した記憶手段と、前記サーボ式材料試験
機を作動したときの目標信号が入力される適応フィルタ
と、該適応フィルタの出力に得られる信号と前記サーボ
式材料試験機において得られる前記検知信号とが等しく
なるように前記適応フィルタの重み係数を自動調整する
係数調整手段と、該係数調整手段によって調整された前
記適応フィルタの各項の重み係数と前記オブザーバ係数
との各項毎にとった差の和が最小になるように前記ゲイ
ン手段の前向きゲインを自動調整するゲイン調整手段と
を備えることを特徴とするサーボ式材料試験機の応答特
性調整装置に存する。

【００１９】上記構成により、サーボ式材料試験機の応
答特性を同定する重み係数をオブザーバ係数として予め
記憶した記憶手段を備え、サーボ式材料試験機を作動し
たときの目標信号が入力された適応フィルタの出力に得
られる信号とサーボ式材料試験機において得られる検知
信号とが等しくなるように係数調整手段が適応フィルタ
の重み係数を自動調整し、係数調整手段によって調整さ
れた適応フィルタの各項の重み係数と記憶手段に予め記
憶されたオブザーバ係数との各項毎にとった差の和が最
小になるように、ゲイン調整手段がゲイン手段の前向き
ゲインを自動調整する。したがって、サーボ式材料試験
機は目標信号に等しい検知信号が得られるとともにその
特性が理想値に近づくように調整されるようになる。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図１は本発明によるサーボ式材料
試験機の応答特性調整方法を実施する装置の一実施の形
態を示すが、以下の説明では、図３について上述した従
来の材料試験機と同等の部分には同一の符号を付してそ
の詳細な説明は省略している。

【００２１】図１において、電気油圧式の加振アクチュ
エータ１、この加振アクチュエータ１が有するサーボ弁
（Ｓ／Ｖ）１１、シリンダ１２及びピストンロット１
３、試料（ＴＰ）２、ロードセル（Ｌ／Ｃ）３、センサ
アンプ５、加算点６並びにサーボアンプ７は、図３につ
いて上述した同一符号で示したものと同一のものである
が、図３に示している関数発生器４については図示を省
略している。

【００２２】８はＦＩＲ（有限長インパルスレスポン
ス）型適応フィルタであり、その入力は図示しない関数
発生器に接続され、その出力は非反転入力に材料試験機
の出力信号Ｅｏ（ｔ）が入力される加算点９の反転入力
に接続されている。加算点９の反転入力には適応フィル
タ８を通過した関数発生器からの荷重目標信号Ｅｉ
（ｔ）が入力されており、その出力には、材料試験機の
出力信号Ｅｏ（ｔ）と適応フィルタ８の出力信号との差
である誤差信号ｅを出力する。すなわち、材料試験機の
伝達関数と適応フィルタ８の伝達関数との相違に起因す
る信号の差に相当する信号を出力する。

【００２３】適応フィルタ８は、図示のように、直列に
接続したｎ個の遅延素子と、加算器と、各遅延素子の入
出力と加算器との間に介在されたｎ＋１個の乗算器とに
よって構成されている。各遅延素子は四角の枠内にｚ^-1
という、ｚ変換の１サンプル分の遅延を表す記号を書い
て示され、乗算器はそのそばに乗数（重み係数）を書い
て示され、加算器は丸の中に＋記号を書いて示されてい
る。

【００２４】１０は加算点９の出力に得られる誤差信号
に基づいて誤差信号ｅが０となるように適応フィルタ８
の各乗算器の重み係数を設定する演算を行うＬＭＳ（Le
ast-Mean-Square）アルゴリズム回路網である。２０は
後述する特定の条件の下でＬＭＳアルゴリズム回路網１
０により求めた適応フィルタ８の重み係数をオブザーバ
係数として記憶する係数メモリである。３０は実際の運
転時にＬＭＳアルゴリズム回路網１０が求めた適応フィ
ルタ８の重み係数と、係数メモリ２０に記憶されている
オブザーバ係数との各項についての差の和を演算し、こ
の和が最小となるようにサーボアンプ７内のＫｐを調整
するゲイン調整信号を生成するゲイン調整信号生成部で
ある。

【００２５】以上のような構成の材料試験機において、
試験の開始に先立ちまず、サーボアンプ７内のＫｐを最
適な値に調整した状態の材料試験機を未知システムと
し、このシステムの同定を行い、その結果を係数メモリ
２０に記憶する。この未知システムの同定は、図２に示
すように、未知システムと適応フィルタとに同一の信号
ｘ（ｎ）（ｎはサンプリング時の時刻を示す）を入力し
たとき加算点の出力に得られる両者の出力信号の差ｅ
（ｎ）が０になるように、適応フィルタの重み係数を調
整し、差ｅ（ｎ）が０になったときの適応フィルタの重
み係数を用いて行う。すなわち、最適なＫｐに調整した
材料試験機を未知システムとして、ｈ₀ ，ｈ ₁ ，…，ｈ
_N-1 で示される適応フィルタ８の重み係数をＬＭＳアル
ゴリズム回路網１０が最急降下法により求め、これらの
重み係数ｈ₀ ，ｈ₁ ，…，ｈ_N-1 を未知システムの重み
係数、すなわちオブザーバ係数ｈ_0s，ｈ_1s，…，ｈ
_(N-1)sとして係数メモリ２０に記憶する。

【００２６】ところで、未知システムを周波数領域で考
えたとき、サーボアンプ７内のＫｐの変化に対応して未
知システムの周波数伝達関数も変化する。このことか
ら、時間領域で考えた適応フィルタの重み係数も前向き
ゲインＫｐに対応しているはずである。本発明はこのこ
とに着目して未知システムのＫｐの最適化を図ろうとす
るものであり、以下その具体的な手法を説明する。

【００２７】ある未知システムを同定するときには、そ
のシステムの状態を効率よく求めるための入力信号Ｅｉ
（ｔ）の性質は実用上一番システムが影響を受けるスペ
クトルを多く含んだ信号であることが必要である。電気
油圧式の加振アクチュエータを用いたサーボ材料試験機
における周波数伝達関数の支配項は、一番複雑な要素で
ある加振アクチュエータのサーボ弁（Ｓ／Ｖ）の特性に
ある。一般に材料試験機の応答限界を支配するのはこの
サーボ弁（Ｓ／Ｖ）の応答特性であり、一般に用いられ
るサーボ弁では１５〜４０Ｈｚの間に共振点がある。よ
って、未知システムの同定の際には、入力信号にこの近
傍の周波数成分を多く含んだ信号を用いて計測を行う。

【００２８】上述のように未知システムの同定によって
求めたその重み係数ｈ_0s，ｈ_1s，…，ｈ_(N-1)sを係数メ
モリ２０に記憶した後に、試料（ＴＰ）を加振アクチュ
エータ１のピストンロット１３とロードセル（Ｌ／Ｃ）
３との間に連結して実際の運転を開始し、図示しない関
数発生器に上記周波数成分を有する荷重目標信号Ｅｉ
（ｔ）を発生させる。荷重目標信号Ｅｉ（ｔ）は、加算
点６の非反転入力とともに適応フィルタ８の入力に印加
される。加算点６に入力された荷重目標信号Ｅｉ（ｔ）
は、センサアンプ５を介して反転入力に印加されている
材料試験機の出力信号である荷重検知信号Ｅｏ（ｔ）と
加算され、加算点６の出力に両信号の差が偏差信号とし
て出力される。偏差信号はサーボアンプ７の前向きゲイ
ンＫｐにて増幅されて加振アクチュエータ１のＳ／Ｖ１
１に印加され、これにより加振アクチュエータ１は荷重
検知信号Ｅｏ（ｔ）が荷重目標信号Ｅｉ（ｔ）と等しく
なって偏差信号が０になるように作動される。

【００２９】適応フィルタ８を透過した荷重目標信号Ｅ
ｉ（ｔ）は加算点９の反転入力に印加され、加算点９に
おいてその非反転入力に印加されている荷重検知信号Ｅ
ｏ（ｔ）と加算される。加算点９の出力には、適応フィ
ルタ８を透過した荷重目標信号Ｅｉ（ｔ）と、荷重目標
信号Ｅｉ（ｔ）によって動作した材料試験機の出力信号
である荷重検知信号Ｅｏ（ｔ）との差である差信号ｅが
得られ、これが係数調整手段であるＬＭＳアルゴリズム
回路網１０に入力される。ＬＭＳアルゴリズム回路網１
０は、差信号ｅに基づいて、加算点９の出力が０になる
ように適応フィルタ８中の乗算器の重み係数ｈ₀ ，
ｈ₁ ，…，ｈ_N-1 を設定する信号を生成し、これを適応
フィルタ８に供給してその周波数伝達関数の係数を調整
するとともにゲイン調整手段としてのゲイン調整信号生
成部３０に供給する。

【００３０】ところで、ＬＭＳアルゴリズム回路網１０
による係数の設定によって加算点９の出力が０になると
いうことは、材料振動材料試験機からの荷重検知信号Ｅ
ｏ（ｔ）と適応フィルタ８を通過後の荷重目標信号Ｅｉ
（ｔ）とが等しくなっていることを意味し、このときに
は、適応フィルタ８の周波数伝達関数はサーボ式材料試
験機１０の周波数伝達関数に等しくなっていることにな
る。

【００３１】ゲイン調整信号生成部３０は、ＬＭＳアル
ゴリズム回路網１０が求めた適応フィルタ８の重み係数
と、係数メモリ２０に記憶されているオブザーバ係数と
の各項についての差の和Ｅを下式 Ｅ=（ｈ₀ −ｈ_0s）＋（ｈ₁ −ｈ_1s ）＋…（ｈ_N-1 −ｈ
_(N-1)s） により演算し、この和Ｅが最小となるようにサーボアン
プ７内のＫｐを調整するゲイン調整信号を生成し、この
ゲイン調整信号によって、材料試験機の特性が最適とな
る最適値にサーボアンプ７内の前向きゲインＫｐ値を調
整する。よって、材料試験機は、荷重目標信号Ｅｉ
（ｔ）に等しい荷重検知信号Ｅｏ（ｔ）が得られるとと
もにその特性が理想値に近づくように調整されるように
なる。

【００３２】

【発明の効果】以上説明したように請求項１〜３記載の
本発明によれば、サーボ式材料試験機は目標信号に等し
い検知信号が得られるように制御されるとともに、その
特性が理想値に近づくように運転中にもリアルタイムで
前向きゲインを調整できるようにしたサーボ式材料試験
機の応答特性調整方法及び装置が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるサーボ式材料試験機の応答特性調
整方法を実施する装置の実施の形態の全体を示す図であ
る。

【図２】未知システムの周波数伝達関数の同定の仕方を
説明するための図である。

【図３】従来の一般的なサーボ式振動試験機を示す図で
ある。

【図４】矩形波入力と、Ｋｐの大きさによって変化する
出力波形を示す波形図である。

【図５】Ｋｐの大きさによって変化する周波数及び位相
応答特性を示すグラフである。

【符号の説明】

１ 加振アクチュエータ ２ 試料 ３ センサ（ロードセル） ７ ゲイン手段（サーボアンプ） ８ 適応フィルタ １０ 係数調整手段（ＬＭＳアルゴリズム回路網） ２０ 記憶手段（係数メモリ） ３０ ゲイン調整手段（ゲイン調整信号生成部）

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 加振アクチュエータにより試験材料であ
   る試料に加えた加振を検知してセンサが発生する検知信
   号と、前記試料に加える加振の目標値を示す目標信号と
   の差を求めて偏差信号を得、前向きゲインを有するゲイ
   ン手段を介して前記偏差信号を前記加振アクチュエータ
   に加え、前記差が０になるように前記加振アクチュエー
   タを作動するサーボ式材料試験機の応答特性を前記前向
   きゲインを変更して調整する応答特性調整方法におい
   て、 前記前向きゲインを最適値に設定した状態で前記サーボ
   式材料試験機を作動したときの目標信号を適応フィルタ
   に入力し、このとき前記適応フィルタの出力に得られる
   周波数伝達関数に応じた信号と、このとき前記サーボ式
   材料試験機において得られる前記検知信号とが等しくな
   るように自動調整した前記適応フィルタの周波数伝達関
   数の各項の重み係数によって前記サーボ式材料試験機の
   応答特性を同定し、該同定によって得た前記重み係数を
   オブザーバ係数として予め記憶しておき、 その後の試験時に自動調整される前記適応フィルタの重
   み係数と前記オブザーバ係数との各項毎の差の和が最小
   になるように前記ゲイン手段の前向きゲインを自動調整
   するようにしたことを特徴とするサーボ式材料試験機の
   応答特性調整方法。
2. 【請求項２】 前記目標信号がサーボ式材料試験機の応
   答特性を支配する要素の共振点に近い周波数成分を含む
   ものであることを特徴とする請求項１記載のサーボ式材
   料試験機の応答特性調整方法。
3. 【請求項３】 加振アクチュエータと、該加振アクチュ
   エータにより試験材料である試料に加えた加振を検知し
   て検知信号を発生するセンサと、該センサが発生する検
   知信号と前記試料に加える加振の目標値を示す目標信号
   との差を求めて偏差信号を得る加算手段と、前向きゲイ
   ンを有するゲイン手段と、該ゲイン手段を介して前記偏
   差信号を前記加振アクチュエータに加え、前記差が０に
   なるように前記加振アクチュエータを作動するサーボ式
   材料試験機の応答特性調整装置において、 前記サーボ式材料試験機の応答特性を同定する重み係数
   をオブザーバ係数として予め記憶した記憶手段と、 前記サーボ式材料試験機を作動したときの目標信号が入
   力される適応フィルタと、 該適応フィルタの出力に得られる周波数伝達関数に応じ
   た信号と前記サーボ式材料試験機において得られる前記
   検知信号とが等しくなるように前記適応フィルタの周波
   数伝達関数の重み係数を自動調整する係数調整手段と、 該係数調整手段によって調整された前記適応フィルタの
   周波数伝達関数の各項の重み係数と前記オブザーバ係数
   との各項毎にとった差の和が最小になるように前記ゲイ
   ン手段の前向きゲインを自動調整するゲイン調整手段と
   を備えることを特徴とするサーボ式材料試験機の応答特
   性調整装置。