JPH11194096A - 塗装面の評価方法および塗装面の検査装置 - Google Patents
塗装面の評価方法および塗装面の検査装置Info
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- JPH11194096A JPH11194096A JP24865798A JP24865798A JPH11194096A JP H11194096 A JPH11194096 A JP H11194096A JP 24865798 A JP24865798 A JP 24865798A JP 24865798 A JP24865798 A JP 24865798A JP H11194096 A JPH11194096 A JP H11194096A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 塗装面の仕上がり状態の評価、特にちり感に
関する評価の定量化を図る。 【解決手段】 明暗の繰り返しパターンである明暗パタ
ーン光を評価対象面に投射し、評価対象面上に形成され
た明暗パターンを撮影する。この撮影された映像から、
輝度分布算出部２４が明暗の繰り返し方向の輝度分布を
算出する。そして、波長分布算出部２６は、前記の輝度
分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分布である
波長分布を算出する。区間積分部２８は、前記波長分布
の、ちり感にかかる波長域（０．２〜２．０ｍｍ）に対
応する区間の積分値を算出する。この積分値に基づきち
り感の評価、および振幅の大きい波長域を判断する。
関する評価の定量化を図る。 【解決手段】 明暗の繰り返しパターンである明暗パタ
ーン光を評価対象面に投射し、評価対象面上に形成され
た明暗パターンを撮影する。この撮影された映像から、
輝度分布算出部２４が明暗の繰り返し方向の輝度分布を
算出する。そして、波長分布算出部２６は、前記の輝度
分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分布である
波長分布を算出する。区間積分部２８は、前記波長分布
の、ちり感にかかる波長域（０．２〜２．０ｍｍ）に対
応する区間の積分値を算出する。この積分値に基づきち
り感の評価、および振幅の大きい波長域を判断する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、塗装面の仕上がり
状態の評価を行う塗装面の評価方法、および仕上がり状
態の良否の検査を行う検査装置に関する。
状態の評価を行う塗装面の評価方法、および仕上がり状
態の良否の検査を行う検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】塗装面の仕上がり品質は、その塗装面の
表面の凹凸に大きな影響を受ける。また、凹凸の波長域
によって、人が受ける仕上がり状態の感じ方が異なるこ
とも知られている。たとえば、約０．２ｍｍ以下の波長
を有する凹凸は塗装面のつやに影響を与え、約２．０ｍ
ｍ以上のものは面の平滑感に影響を与える。これらの
間、すなわち約０．２〜２．０ｍｍの波長を有するもの
については、いわゆるちり感に影響を与える。
表面の凹凸に大きな影響を受ける。また、凹凸の波長域
によって、人が受ける仕上がり状態の感じ方が異なるこ
とも知られている。たとえば、約０．２ｍｍ以下の波長
を有する凹凸は塗装面のつやに影響を与え、約２．０ｍ
ｍ以上のものは面の平滑感に影響を与える。これらの
間、すなわち約０．２〜２．０ｍｍの波長を有するもの
については、いわゆるちり感に影響を与える。
【０００３】このような塗装面の仕上がり評価は、従来
熟練者による官能評価や、塗装面を接触子によりなぞ
り、接触子の進退により凹凸を測定する方法が採られて
いた。しかし、官能評価するためには評価者の熟練が必
要であり、接触子による凹凸測定では、定量的に評価で
きるものの塗装面に傷をつける可能性がある。近年、所
定の明暗パターンを評価対象となる塗装面に映し込み、
この映し込まれた像の明暗パターンを解析することで塗
装面の仕上がり状態を評価する方法が提案されている。
この方法によれば、非接触で定量的な評価を行うことが
できる。このような評価方法の一つが特開平４−５０７
１４号公報に開示されている。
熟練者による官能評価や、塗装面を接触子によりなぞ
り、接触子の進退により凹凸を測定する方法が採られて
いた。しかし、官能評価するためには評価者の熟練が必
要であり、接触子による凹凸測定では、定量的に評価で
きるものの塗装面に傷をつける可能性がある。近年、所
定の明暗パターンを評価対象となる塗装面に映し込み、
この映し込まれた像の明暗パターンを解析することで塗
装面の仕上がり状態を評価する方法が提案されている。
この方法によれば、非接触で定量的な評価を行うことが
できる。このような評価方法の一つが特開平４−５０７
１４号公報に開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記公報の方法によれ
ば、ちり感にかかる波長域全体に対して一つの評価を行
っているのみであり、この波長域の中のどの波長に特徴
があるのかの評価を行っていない。したがって、どの波
長帯に問題があるのか解析できないという問題があっ
た。そして、どの波長帯に問題があるかが分からない
と、その原因を特定できず、工程にフィードバックする
ことができないという問題がある。
ば、ちり感にかかる波長域全体に対して一つの評価を行
っているのみであり、この波長域の中のどの波長に特徴
があるのかの評価を行っていない。したがって、どの波
長帯に問題があるのか解析できないという問題があっ
た。そして、どの波長帯に問題があるかが分からない
と、その原因を特定できず、工程にフィードバックする
ことができないという問題がある。
【０００５】また、明暗パターンの解析において、解析
対象となる領域が異なると解析結果が変わってしまうと
いう問題があった。特に、解析の対象領域の端と、明暗
パターンの位相の関係が変化すると、解析結果が異なる
という問題があった。
対象となる領域が異なると解析結果が変わってしまうと
いう問題があった。特に、解析の対象領域の端と、明暗
パターンの位相の関係が変化すると、解析結果が異なる
という問題があった。
【０００６】本発明は、前記の課題を解決するためにな
されたものであり、ちり感にかかる波長域に関して、定
量的に評価を行うための方法および検査装置を提供する
ことを目的とする。
されたものであり、ちり感にかかる波長域に関して、定
量的に評価を行うための方法および検査装置を提供する
ことを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めに、本発明にかかる塗装面の評価方法は、明暗の繰り
返しパターンである明暗パターン光を評価対象面に投射
し、前記評価対象面上に形成された明暗パターンを撮影
して明暗の繰り返し方向の輝度分布を得、前記輝度分布
をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分布である波長
分布を算出し、前記波長分布の、所定波長域に対応する
区間の積分値を算出し、前記積分値に基づき塗装面の評
価を行うものである。
めに、本発明にかかる塗装面の評価方法は、明暗の繰り
返しパターンである明暗パターン光を評価対象面に投射
し、前記評価対象面上に形成された明暗パターンを撮影
して明暗の繰り返し方向の輝度分布を得、前記輝度分布
をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分布である波長
分布を算出し、前記波長分布の、所定波長域に対応する
区間の積分値を算出し、前記積分値に基づき塗装面の評
価を行うものである。
【０００８】これによれば、波長分布を求めることによ
り、どの波長に特徴があるかを判断することができる。
また、積分値は、前記所定波長域内の波長分布の特徴を
表すので、この積分値のみでも、どの波長に特徴がある
のかを判断することができる。
り、どの波長に特徴があるかを判断することができる。
また、積分値は、前記所定波長域内の波長分布の特徴を
表すので、この積分値のみでも、どの波長に特徴がある
のかを判断することができる。
【０００９】また、本発明にかかる他の塗装面の評価方
法は、明暗の繰り返しパターンである明暗パターン光を
評価対象面に投射し、前記評価対象面上に形成された明
暗パターンを撮影して明暗の繰り返し方向の輝度分布を
得、前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅
の分布である波長分布を算出し、所定間隔ごとの前記波
長分布の振幅について隣接する振幅の差分を算出し、当
該差分の所定波長域に対応する区間における総和を算出
し、前記差分の総和に基づき塗装面の評価を行うもので
ある。
法は、明暗の繰り返しパターンである明暗パターン光を
評価対象面に投射し、前記評価対象面上に形成された明
暗パターンを撮影して明暗の繰り返し方向の輝度分布を
得、前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅
の分布である波長分布を算出し、所定間隔ごとの前記波
長分布の振幅について隣接する振幅の差分を算出し、当
該差分の所定波長域に対応する区間における総和を算出
し、前記差分の総和に基づき塗装面の評価を行うもので
ある。
【００１０】これによれば、波長分布を求めることによ
り、どの波長に特徴があるかを判断することができる。
また、差分の総和は、前記所定波長域内の波長分布の特
徴を表すので、これのみでも、どの波長に特徴があるの
かを判断することができる。
り、どの波長に特徴があるかを判断することができる。
また、差分の総和は、前記所定波長域内の波長分布の特
徴を表すので、これのみでも、どの波長に特徴があるの
かを判断することができる。
【００１１】また、本発明の他の態様である塗装面の検
査装置は、明暗の繰り返しパターンである明暗パターン
光を検査対象面に投射する光源と、前記検査対象面上に
形成された明暗パターンを撮影する撮影手段と、前記撮
影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度分布算
出手段と、前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関す
る振幅の分布を算出する波長分布算出部と、前記波長分
布の、所定波長域に対応する区間の積分値を算出する区
間積分手段と、を有している。
査装置は、明暗の繰り返しパターンである明暗パターン
光を検査対象面に投射する光源と、前記検査対象面上に
形成された明暗パターンを撮影する撮影手段と、前記撮
影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度分布算
出手段と、前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関す
る振幅の分布を算出する波長分布算出部と、前記波長分
布の、所定波長域に対応する区間の積分値を算出する区
間積分手段と、を有している。
【００１２】これによれば、波長分布が算出されるの
で、これを見れば、どの波長に特徴があるかを判断する
ことができる。また、積分値は、前記所定波長域内の波
長分布の特徴を表すので、この積分値のみでも、どの波
長に特徴があるのかを判断することができる。
で、これを見れば、どの波長に特徴があるかを判断する
ことができる。また、積分値は、前記所定波長域内の波
長分布の特徴を表すので、この積分値のみでも、どの波
長に特徴があるのかを判断することができる。
【００１３】また、本発明の他の態様である他の塗装面
の検査装置は、明暗の繰り返しパターンである明暗パタ
ーン光を検査対象面に投射する光源と、前記検査対象面
上に形成された明暗パターンを撮影する撮影手段と、前
記撮影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度分
布算出手段と、前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に
関する振幅の分布を算出する波長分布算出手段と、所定
間隔ごとの前記波長分布の振幅について隣接する振幅の
差分を算出し、当該差分の所定波長域に対応する区間に
おける総和を算出する差分総和算出手段と、を有する。
の検査装置は、明暗の繰り返しパターンである明暗パタ
ーン光を検査対象面に投射する光源と、前記検査対象面
上に形成された明暗パターンを撮影する撮影手段と、前
記撮影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度分
布算出手段と、前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に
関する振幅の分布を算出する波長分布算出手段と、所定
間隔ごとの前記波長分布の振幅について隣接する振幅の
差分を算出し、当該差分の所定波長域に対応する区間に
おける総和を算出する差分総和算出手段と、を有する。
【００１４】これによれば、波長分布を求めることによ
り、どの波長に特徴があるかを判断することができる。
また、差分の総和は、前記所定波長域内の波長分布の特
徴を表すので、これのみでも、どの波長に特徴があるの
かを判断することができる。
り、どの波長に特徴があるかを判断することができる。
また、差分の総和は、前記所定波長域内の波長分布の特
徴を表すので、これのみでも、どの波長に特徴があるの
かを判断することができる。
【００１５】さらに、前述の塗装面の評価方法におい
て、得られた輝度分布の基本波形の所定の位相位置を基
準に所定幅の対象領域を設定し、この対象領域内の輝度
分布に関し前記フーリエ変換を行うようにすることがで
きる。
て、得られた輝度分布の基本波形の所定の位相位置を基
準に所定幅の対象領域を設定し、この対象領域内の輝度
分布に関し前記フーリエ変換を行うようにすることがで
きる。
【００１６】また、前述の塗装面の検査装置において
は、さらに得られた輝度分布の基本波形の所定の位相位
置を基準に所定幅の対象領域を設定する対象領域設定手
段を設け、前記波長分布算出手段は、前記対象領域内の
輝度分布に関し前記フーリエ変換を行うものとすること
ができる。
は、さらに得られた輝度分布の基本波形の所定の位相位
置を基準に所定幅の対象領域を設定する対象領域設定手
段を設け、前記波長分布算出手段は、前記対象領域内の
輝度分布に関し前記フーリエ変換を行うものとすること
ができる。
【００１７】このように、対象領域を輝度分布の基本波
形の所定位相位置を基準に固定することで、波長分布に
対する対象領域の端部の影響を低減することができる。
形の所定位相位置を基準に固定することで、波長分布に
対する対象領域の端部の影響を低減することができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態（以下
実施形態という）を、図面に従って説明する。図１およ
び図２には、本実施形態の塗装面の検査装置の概略構成
が示されている。撮影部１０は、車両１２の検査対象面
１４に明暗の縞模様のパターンを投射し、検査対象面１
４上の明暗パターンの像を撮影する。撮影部１０は、図
２に示すように、明暗を繰り返す縞模様の光を照射する
光源１６を有し、検査対象面１４上の像を撮影するカメ
ラ１８を有している。検査対象面１４上では、この面の
凹凸に応じて縞模様が変形し、また明暗の境界もシャー
プなものとならず、ぼやける。この明暗の境界のぼやけ
は、回折によるもの以外に検査対象面１４の凹凸を反映
したものとなっている。したがって、検査対象面１４上
の像の、図中一点鎖線で示す明暗の繰り返し方向２０の
輝度分布は、きれいな方形状とならずに、角が取れ、さ
らに短い波長成分を含んだものとなる。投射されるパタ
ーンが本来方形であることから高調波成分を含むことに
なるが、これらの成分は検査対象によらず一定であるの
で、検査面の凹凸を相対評価する上では、Ｓ／Ｎさえ確
保できれば問題とならない。カメラ１８は、検査対象面
１４上の縞模様の像を撮影し、この情報をデータ処理部
２２に送出する。
実施形態という）を、図面に従って説明する。図１およ
び図２には、本実施形態の塗装面の検査装置の概略構成
が示されている。撮影部１０は、車両１２の検査対象面
１４に明暗の縞模様のパターンを投射し、検査対象面１
４上の明暗パターンの像を撮影する。撮影部１０は、図
２に示すように、明暗を繰り返す縞模様の光を照射する
光源１６を有し、検査対象面１４上の像を撮影するカメ
ラ１８を有している。検査対象面１４上では、この面の
凹凸に応じて縞模様が変形し、また明暗の境界もシャー
プなものとならず、ぼやける。この明暗の境界のぼやけ
は、回折によるもの以外に検査対象面１４の凹凸を反映
したものとなっている。したがって、検査対象面１４上
の像の、図中一点鎖線で示す明暗の繰り返し方向２０の
輝度分布は、きれいな方形状とならずに、角が取れ、さ
らに短い波長成分を含んだものとなる。投射されるパタ
ーンが本来方形であることから高調波成分を含むことに
なるが、これらの成分は検査対象によらず一定であるの
で、検査面の凹凸を相対評価する上では、Ｓ／Ｎさえ確
保できれば問題とならない。カメラ１８は、検査対象面
１４上の縞模様の像を撮影し、この情報をデータ処理部
２２に送出する。
【００１９】図３には、データ処理部２２の構成ブロッ
ク図が示されている。データ処理部２２は所定のプログ
ラムに基づき作動するコンピュータであり、前記プログ
ラムによって、図示する輝度分布算出部２４、波長分布
算出部２６、区間積分部２８および評価部３０として機
能する。輝度分布算出部２４は、カメラ１８からの映像
情報から明暗の繰り返し方向２０に沿った方向の輝度分
布を作成する。図示するように、この輝度分布の波形
は、明暗の繰り返し周期を基本周期とし、これに高調波
がのったものとなっている。前述したように、この輝度
分布は、光源１６の明暗パターンが方形波状となってい
るために高調波が含まれるが、この高調波以外に、検査
対象面１４の凹凸によって生じる像の乱れによる高調波
も含まれる。
ク図が示されている。データ処理部２２は所定のプログ
ラムに基づき作動するコンピュータであり、前記プログ
ラムによって、図示する輝度分布算出部２４、波長分布
算出部２６、区間積分部２８および評価部３０として機
能する。輝度分布算出部２４は、カメラ１８からの映像
情報から明暗の繰り返し方向２０に沿った方向の輝度分
布を作成する。図示するように、この輝度分布の波形
は、明暗の繰り返し周期を基本周期とし、これに高調波
がのったものとなっている。前述したように、この輝度
分布は、光源１６の明暗パターンが方形波状となってい
るために高調波が含まれるが、この高調波以外に、検査
対象面１４の凹凸によって生じる像の乱れによる高調波
も含まれる。
【００２０】波長分布算出部２６は、前記輝度分布波形
をフーリエ変換し、図示するような波長に関する振幅の
分布（以下、波長分布と記す）を得る。この分布におい
て、横軸の右へ行くほど短い波長の振幅を表しており、
逆に左が長い波長の振幅を表している。そして、区間積
分部２８は、ちり感にかかる波長領域０．２〜２．０ｍ
ｍに相当する区間において、前記波長分布の区間積分を
算出する。評価部３０は、この区間積分値に基づき、前
記検査対象面１４を評価対象面として塗装面の仕上がり
状態の評価を行う。前記積分値が小さいほど、ちり感が
少ないと評価される。また、図４に示すように、（ａ）
の短い波長の振幅が目立つ場合の方が、（ｂ）の長い波
長の振幅が目立つ場合に比べて、積分値が小さくなる傾
向があるので、積分値によって短い波長域にピークが多
いのか、長い波長域にピークが多いのかの判断ができ
る。
をフーリエ変換し、図示するような波長に関する振幅の
分布（以下、波長分布と記す）を得る。この分布におい
て、横軸の右へ行くほど短い波長の振幅を表しており、
逆に左が長い波長の振幅を表している。そして、区間積
分部２８は、ちり感にかかる波長領域０．２〜２．０ｍ
ｍに相当する区間において、前記波長分布の区間積分を
算出する。評価部３０は、この区間積分値に基づき、前
記検査対象面１４を評価対象面として塗装面の仕上がり
状態の評価を行う。前記積分値が小さいほど、ちり感が
少ないと評価される。また、図４に示すように、（ａ）
の短い波長の振幅が目立つ場合の方が、（ｂ）の長い波
長の振幅が目立つ場合に比べて、積分値が小さくなる傾
向があるので、積分値によって短い波長域にピークが多
いのか、長い波長域にピークが多いのかの判断ができ
る。
【００２１】図５には、データ処理部の他の例の構成ブ
ロック図が示されている。データ処理部３２は所定のプ
ログラムに基づき作動するコンピュータであり、前記プ
ログラムによって、図示する輝度分布算出部３４、波長
分布算出部３６、差分総和算出部３８および評価部４０
として機能する。輝度分布算出部３４および波長分布算
出部３６は、前述の輝度分布算出部２４および波長分布
算出部２６と全く同様のものであるので、説明を省略す
る。
ロック図が示されている。データ処理部３２は所定のプ
ログラムに基づき作動するコンピュータであり、前記プ
ログラムによって、図示する輝度分布算出部３４、波長
分布算出部３６、差分総和算出部３８および評価部４０
として機能する。輝度分布算出部３４および波長分布算
出部３６は、前述の輝度分布算出部２４および波長分布
算出部２６と全く同様のものであるので、説明を省略す
る。
【００２２】差分総和算出部３８は、ちり感にかかる波
長領域０．２〜２．０ｍｍに相当する区間において、所
定間隔ごとの波長について隣接する振幅Ａの差分ΔＡi
（＝Ａi−Ａi-1）を算出する。この差分ΔＡiの、ちり
感にかかる波長領域内の総和を算出する。評価部４０
は、この差分の総和に基づき、前記検査対象面１４を評
価対象面として塗装面の仕上がり状態の評価を行う。前
記差分の総和が小さいほど、ちり感が少ないと評価され
る。また、図６に示すように、（ａ）の短い波長の振幅
が目立つ場合の方が、（ｂ）の長い波長の振幅が目立つ
場合に比べて、差分の総和が小さくなる傾向があるの
で、差分の総和によって短い波長域にピークが多いの
か、長い波長域にピークが多いのかの判断ができる。
長領域０．２〜２．０ｍｍに相当する区間において、所
定間隔ごとの波長について隣接する振幅Ａの差分ΔＡi
（＝Ａi−Ａi-1）を算出する。この差分ΔＡiの、ちり
感にかかる波長領域内の総和を算出する。評価部４０
は、この差分の総和に基づき、前記検査対象面１４を評
価対象面として塗装面の仕上がり状態の評価を行う。前
記差分の総和が小さいほど、ちり感が少ないと評価され
る。また、図６に示すように、（ａ）の短い波長の振幅
が目立つ場合の方が、（ｂ）の長い波長の振幅が目立つ
場合に比べて、差分の総和が小さくなる傾向があるの
で、差分の総和によって短い波長域にピークが多いの
か、長い波長域にピークが多いのかの判断ができる。
【００２３】その他、評価対象の多くのサンプルに対し
官能評価を行い、一方で波長分布のちり感にかかる領域
内でいくつかの大きいピークの波長λと、その振幅Ａに
前記官能評価と相関が取れるような係数Ｃ11，Ｃ12，Ｃ
21，・・・を定めて下に示す多項式を作成し、この多項式
の値ｙに基づき評価をすることもできる。
官能評価を行い、一方で波長分布のちり感にかかる領域
内でいくつかの大きいピークの波長λと、その振幅Ａに
前記官能評価と相関が取れるような係数Ｃ11，Ｃ12，Ｃ
21，・・・を定めて下に示す多項式を作成し、この多項式
の値ｙに基づき評価をすることもできる。
【数１】ｙ＝Ｃ11λ1＋Ｃ12Ａ1＋Ｃ21λ2＋Ｃ22Ａ2＋・・
・
・
【００２４】次に、解析の対象領域、すなわち輝度分布
波形をフーリエ変換する際のウインドウの位置によって
解析結果が異なる場合の処理について説明する。
波形をフーリエ変換する際のウインドウの位置によって
解析結果が異なる場合の処理について説明する。
【００２５】前述したように、輝度分布は、図７のよう
に明暗パターンの周期の基本波形に塗装面の凹凸を反映
した高調波を含む波形となる。図７に示す二つの区間Ｓ
1、Ｓ2は、前述のフーリエ変換の対象となる領域の例を
示している。これらの区間Ｓ1、Ｓ2は、その長さは等し
いが、輝度分布の基本周期に対する位相が異なってい
る。このような二つの区間に関してフーリエ変換を行う
と、対象領域の端部の影響を受け、その結果が違ったも
のになるということが知られている。本来、同一の対象
について解析しているのであるから、結果は同一である
べきであるが、前述のようにそうはならない。そこで、
本実施形態においては、輝度分布の基本波形に対する対
象領域の位置を一定として、解析の対象領域の端部の影
響を少なくしている。
に明暗パターンの周期の基本波形に塗装面の凹凸を反映
した高調波を含む波形となる。図７に示す二つの区間Ｓ
1、Ｓ2は、前述のフーリエ変換の対象となる領域の例を
示している。これらの区間Ｓ1、Ｓ2は、その長さは等し
いが、輝度分布の基本周期に対する位相が異なってい
る。このような二つの区間に関してフーリエ変換を行う
と、対象領域の端部の影響を受け、その結果が違ったも
のになるということが知られている。本来、同一の対象
について解析しているのであるから、結果は同一である
べきであるが、前述のようにそうはならない。そこで、
本実施形態においては、輝度分布の基本波形に対する対
象領域の位置を一定として、解析の対象領域の端部の影
響を少なくしている。
【００２６】図８は、本実施形態の構成を示すブロック
図である。本実施形態は、図３に示す実施形態に、平滑
化処理部４２および領域設定部４４を加えたものであ
る。すでに説明した構成については同一の符号を付し、
その説明を省略する。また、前述の用にデータ処理部２
２は、所定のプログラムに基づき作動するコンピュータ
であり、前記プログラムによって図示する平滑化処理部
４２および領域設定部４４として機能する。
図である。本実施形態は、図３に示す実施形態に、平滑
化処理部４２および領域設定部４４を加えたものであ
る。すでに説明した構成については同一の符号を付し、
その説明を省略する。また、前述の用にデータ処理部２
２は、所定のプログラムに基づき作動するコンピュータ
であり、前記プログラムによって図示する平滑化処理部
４２および領域設定部４４として機能する。
【００２７】輝度分布算出部２４で得られた輝度分布波
形は、平滑化処理部４２により平滑化処理、すなわち高
調波を除去する処理がなされる。高調波を除去して得ら
れた基本波の波形（以下、基本波形と記す）は、明暗パ
ターンの基本波形をほぼ示している。この基本波形の所
定の位相位置、例えば谷の底の位置から、所定の長さの
区間Ｓを設定する。そして、波長分布算出部２６は、区
間Ｓを対象領域としてフーリエ変換を行う。これによ
り、フーリエ変換対象領域の端部の影響が少ない評価を
行うことができる。
形は、平滑化処理部４２により平滑化処理、すなわち高
調波を除去する処理がなされる。高調波を除去して得ら
れた基本波の波形（以下、基本波形と記す）は、明暗パ
ターンの基本波形をほぼ示している。この基本波形の所
定の位相位置、例えば谷の底の位置から、所定の長さの
区間Ｓを設定する。そして、波長分布算出部２６は、区
間Ｓを対象領域としてフーリエ変換を行う。これによ
り、フーリエ変換対象領域の端部の影響が少ない評価を
行うことができる。
【００２８】図９は、図５に示す実施形態に前述の平滑
化処理部４２および領域設定部４４を適用した実施形態
の構成を示すブロック図である。各構成については、す
でに説明済みである。本実施形態においても、フーリエ
変換対象領域の端部の影響が少ない評価を行うことがで
きる。
化処理部４２および領域設定部４４を適用した実施形態
の構成を示すブロック図である。各構成については、す
でに説明済みである。本実施形態においても、フーリエ
変換対象領域の端部の影響が少ない評価を行うことがで
きる。
【図１】 本実施形態の塗装面の検査装置の概略構成を
示す図である。
示す図である。
【図２】 撮影部の構成を示す図である。
【図３】 データ処理部の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図４】 図３に示すデータ処理部の評価の一例を示す
図である。
図である。
【図５】 データ処理部の他の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図６】 図５に示すデータ処理部の評価の一例を示す
図である。
図である。
【図７】 輝度分布に対するフーリエ変換対象領域を示
す図である。
す図である。
【図８】 データ処理部のさらに他の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図９】 データ処理部のさらに他の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
１０ 撮影部、１４ 検査対象面（評価対象面）、１６
光源、１８ カメラ、２０ 明暗の繰り返し方向、２
２，３２ データ処理部、２４，３４ 輝度分布算出
部、２６，３６ 波長分布算出部、２８ 区間積分部、
３０，４０ 評価部、３８ 差分総和算出部、４２ 平
滑化処理部、４４ 領域設定部。
光源、１８ カメラ、２０ 明暗の繰り返し方向、２
２，３２ データ処理部、２４，３４ 輝度分布算出
部、２６，３６ 波長分布算出部、２８ 区間積分部、
３０，４０ 評価部、３８ 差分総和算出部、４２ 平
滑化処理部、４４ 領域設定部。
Claims (6)
- 【請求項１】 明暗の繰り返しパターンである明暗パタ
ーン光を評価対象面に投射し、 前記評価対象面上に形成された明暗パターンを撮影して
明暗の繰り返し方向の輝度分布を得、 前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分
布である波長分布を算出し、 前記波長分布の、所定波長域に対応する区間の積分値を
算出し、 前記積分値に基づき塗装面の評価を行う、塗装面の評価
方法。 - 【請求項２】 明暗の繰り返しパターンである明暗パタ
ーン光を評価対象面に投射し、 前記評価対象面上に形成された明暗パターンを撮影して
明暗の繰り返し方向の輝度分布を得、 前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分
布である波長分布を算出し、 所定間隔ごとの前記波長分布の振幅について隣接する振
幅の差分を算出し、当該差分の所定波長域に対応する区
間における総和を算出し、 前記差分の総和に基づき塗装面の評価を行う、塗装面の
評価方法。 - 【請求項３】 明暗の繰り返しパターンである明暗パタ
ーン光を検査対象面に投射する光源と、 前記検査対象面上に形成された明暗パターンを撮影する
撮影手段と、 前記撮影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度
分布算出手段と、 前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分
布を算出する波長分布算出部と、 前記波長分布の、所定波長域に対応する区間の積分値を
算出する区間積分手段と、を有する塗装面の検査装置。 - 【請求項４】 明暗の繰り返しパターンである明暗パタ
ーン光を検査対象面に投射する光源と、 前記検査対象面上に形成された明暗パターンを撮影する
撮影手段と、 前記撮影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度
分布算出手段と、 前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分
布を算出する波長分布算出手段と、 所定間隔ごとの前記波長分布の振幅について隣接する振
幅の差分を算出し、当該差分の所定波長域に対応する区
間における総和を算出する差分総和算出手段と、を有す
る塗装面の検査装置。 - 【請求項５】 請求項１または２に記載の塗装面の評価
方法において、前記得られた輝度分布の基本波形の所定
の位相位置を基準に所定幅の対象領域を設定し、この対
象領域内の輝度分布に関し前記フーリエ変換を行う、塗
装面の評価方法。 - 【請求項６】 請求項３または４に記載の塗装面の検査
装置において、 さらに、前記得られた輝度分布の基本波形の所定の位相
位置を基準に所定幅の対象領域を設定する対象領域設定
手段を有し、 前記波長分布算出手段は、前記対象領域内の輝度分布に
関し前記フーリエ変換を行うものである、塗装面の検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24865798A JPH11194096A (ja) | 1997-10-29 | 1998-09-02 | 塗装面の評価方法および塗装面の検査装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9-297391 | 1997-10-29 | ||
| JP29739197 | 1997-10-29 | ||
| JP24865798A JPH11194096A (ja) | 1997-10-29 | 1998-09-02 | 塗装面の評価方法および塗装面の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11194096A true JPH11194096A (ja) | 1999-07-21 |
Family
ID=26538885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24865798A Pending JPH11194096A (ja) | 1997-10-29 | 1998-09-02 | 塗装面の評価方法および塗装面の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11194096A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008066129A1 (fr) * | 2006-11-29 | 2008-06-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | Appareil d'analyse, procédé d'analyse, système d'analyse de prise d'image, procédé de fabrication d'un filtre coloré, et programme d'analyse |
| JP2009036592A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Sharp Corp | スジムラ評価装置、スジムラ評価方法、スジムラ評価プログラム、記録媒体及びカラーフィルタの製造方法 |
| US7889358B2 (en) | 2006-04-26 | 2011-02-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Color filter inspection method, color filter manufacturing method, and color filter inspection apparatus |
| WO2011145351A1 (ja) * | 2010-05-20 | 2011-11-24 | パナソニック株式会社 | 薬液判定装置及び薬液判定方法 |
| WO2022269300A1 (ja) | 2021-06-21 | 2022-12-29 | 日産自動車株式会社 | 塗装評価装置及び塗装評価方法 |
-
1998
- 1998-09-02 JP JP24865798A patent/JPH11194096A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7889358B2 (en) | 2006-04-26 | 2011-02-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Color filter inspection method, color filter manufacturing method, and color filter inspection apparatus |
| WO2008066129A1 (fr) * | 2006-11-29 | 2008-06-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | Appareil d'analyse, procédé d'analyse, système d'analyse de prise d'image, procédé de fabrication d'un filtre coloré, et programme d'analyse |
| JP2009036592A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Sharp Corp | スジムラ評価装置、スジムラ評価方法、スジムラ評価プログラム、記録媒体及びカラーフィルタの製造方法 |
| WO2011145351A1 (ja) * | 2010-05-20 | 2011-11-24 | パナソニック株式会社 | 薬液判定装置及び薬液判定方法 |
| JP5260793B2 (ja) * | 2010-05-20 | 2013-08-14 | パナソニック株式会社 | 薬液判定装置及び薬液判定方法 |
| WO2022269300A1 (ja) | 2021-06-21 | 2022-12-29 | 日産自動車株式会社 | 塗装評価装置及び塗装評価方法 |
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