JPH11194096A - Evaluation method and inspection apparatus of painted face - Google Patents
Evaluation method and inspection apparatus of painted faceInfo
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- JPH11194096A JPH11194096A JP24865798A JP24865798A JPH11194096A JP H11194096 A JPH11194096 A JP H11194096A JP 24865798 A JP24865798 A JP 24865798A JP 24865798 A JP24865798 A JP 24865798A JP H11194096 A JPH11194096 A JP H11194096A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、塗装面の仕上がり
状態の評価を行う塗装面の評価方法、および仕上がり状
態の良否の検査を行う検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a paint surface evaluation method for evaluating the finish of a painted surface and an inspection apparatus for inspecting the quality of the finished surface.
【０００２】[0002]
【従来の技術】塗装面の仕上がり品質は、その塗装面の
表面の凹凸に大きな影響を受ける。また、凹凸の波長域
によって、人が受ける仕上がり状態の感じ方が異なるこ
とも知られている。たとえば、約０．２ｍｍ以下の波長
を有する凹凸は塗装面のつやに影響を与え、約２．０ｍ
ｍ以上のものは面の平滑感に影響を与える。これらの
間、すなわち約０．２〜２．０ｍｍの波長を有するもの
については、いわゆるちり感に影響を与える。2. Description of the Related Art The finish quality of a painted surface is greatly affected by unevenness of the surface of the painted surface. It is also known that a person receives a different feeling of a finished state depending on the wavelength range of the unevenness. For example, unevenness having a wavelength of about 0.2 mm or less affects the gloss of the painted surface, and is about 2.0 m.
Those having m or more affect the smoothness of the surface. Between them, that is, those having a wavelength of about 0.2 to 2.0 mm, affect the so-called dust feeling.
【０００３】このような塗装面の仕上がり評価は、従来
熟練者による官能評価や、塗装面を接触子によりなぞ
り、接触子の進退により凹凸を測定する方法が採られて
いた。しかし、官能評価するためには評価者の熟練が必
要であり、接触子による凹凸測定では、定量的に評価で
きるものの塗装面に傷をつける可能性がある。近年、所
定の明暗パターンを評価対象となる塗装面に映し込み、
この映し込まれた像の明暗パターンを解析することで塗
装面の仕上がり状態を評価する方法が提案されている。
この方法によれば、非接触で定量的な評価を行うことが
できる。このような評価方法の一つが特開平４−５０７
１４号公報に開示されている。[0003] The finish evaluation of such a painted surface has conventionally employed a sensory evaluation by a skilled person, a method of tracing the painted surface with a contact, and measuring unevenness by advancing and retreating the contact. However, the sensory evaluation requires the skill of an evaluator, and the measurement of unevenness using a contact can be quantitatively evaluated, but may damage the painted surface. In recent years, a predetermined light / dark pattern is reflected on the painted surface to be evaluated,
There has been proposed a method of evaluating a finished state of a painted surface by analyzing a light-dark pattern of the projected image.
According to this method, quantitative evaluation can be performed without contact. One such evaluation method is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 4-507.
No. 14 discloses this.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】前記公報の方法によれ
ば、ちり感にかかる波長域全体に対して一つの評価を行
っているのみであり、この波長域の中のどの波長に特徴
があるのかの評価を行っていない。したがって、どの波
長帯に問題があるのか解析できないという問題があっ
た。そして、どの波長帯に問題があるかが分からない
と、その原因を特定できず、工程にフィードバックする
ことができないという問題がある。According to the method disclosed in the above-mentioned publication, only one evaluation is performed for the entire wavelength range related to dustiness, and any wavelength in this wavelength range has a characteristic. Has not been evaluated. Therefore, there is a problem that it is not possible to analyze which wavelength band has a problem. Then, if it is not known which wavelength band has a problem, the cause cannot be specified and there is a problem that it cannot be fed back to the process.
【０００５】また、明暗パターンの解析において、解析
対象となる領域が異なると解析結果が変わってしまうと
いう問題があった。特に、解析の対象領域の端と、明暗
パターンの位相の関係が変化すると、解析結果が異なる
という問題があった。[0005] Further, in the analysis of the light and dark patterns, there is a problem that the analysis result changes if the region to be analyzed is different. In particular, there is a problem that the analysis result is different when the relationship between the edge of the analysis target area and the phase of the light and dark pattern changes.
【０００６】本発明は、前記の課題を解決するためにな
されたものであり、ちり感にかかる波長域に関して、定
量的に評価を行うための方法および検査装置を提供する
ことを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and has as its object to provide a method and an inspection apparatus for quantitatively evaluating a wavelength range that causes dust.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めに、本発明にかかる塗装面の評価方法は、明暗の繰り
返しパターンである明暗パターン光を評価対象面に投射
し、前記評価対象面上に形成された明暗パターンを撮影
して明暗の繰り返し方向の輝度分布を得、前記輝度分布
をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分布である波長
分布を算出し、前記波長分布の、所定波長域に対応する
区間の積分値を算出し、前記積分値に基づき塗装面の評
価を行うものである。In order to solve the above-mentioned problems, a method for evaluating a painted surface according to the present invention comprises projecting light / dark pattern light, which is a repetitive pattern of light and dark, onto the surface to be evaluated. The brightness distribution in the light-dark repetition direction is obtained by photographing the light-dark pattern formed above, and the brightness distribution is Fourier-transformed to calculate a wavelength distribution that is an amplitude distribution with respect to wavelength. Is calculated, and the evaluation of the painted surface is performed based on the integrated value.
【０００８】これによれば、波長分布を求めることによ
り、どの波長に特徴があるかを判断することができる。
また、積分値は、前記所定波長域内の波長分布の特徴を
表すので、この積分値のみでも、どの波長に特徴がある
のかを判断することができる。According to this, by determining the wavelength distribution, it is possible to determine which wavelength has a characteristic.
Further, since the integral value represents the characteristic of the wavelength distribution within the predetermined wavelength range, it is possible to determine which wavelength has the characteristic only by this integral value.
【０００９】また、本発明にかかる他の塗装面の評価方
法は、明暗の繰り返しパターンである明暗パターン光を
評価対象面に投射し、前記評価対象面上に形成された明
暗パターンを撮影して明暗の繰り返し方向の輝度分布を
得、前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅
の分布である波長分布を算出し、所定間隔ごとの前記波
長分布の振幅について隣接する振幅の差分を算出し、当
該差分の所定波長域に対応する区間における総和を算出
し、前記差分の総和に基づき塗装面の評価を行うもので
ある。In another method for evaluating a painted surface according to the present invention, a light-dark pattern light, which is a repetitive pattern of light-dark, is projected onto a surface to be evaluated, and a light-dark pattern formed on the surface to be evaluated is photographed. Obtain a luminance distribution in the light-dark repetition direction, Fourier transform the luminance distribution, calculate a wavelength distribution that is a distribution of amplitudes related to wavelengths, calculate a difference between adjacent amplitudes for the amplitude of the wavelength distribution at predetermined intervals, The sum of the differences in a section corresponding to a predetermined wavelength range is calculated, and the painted surface is evaluated based on the sum of the differences.
【００１０】これによれば、波長分布を求めることによ
り、どの波長に特徴があるかを判断することができる。
また、差分の総和は、前記所定波長域内の波長分布の特
徴を表すので、これのみでも、どの波長に特徴があるの
かを判断することができる。According to this, it is possible to determine which wavelength has a characteristic by obtaining the wavelength distribution.
Further, since the sum of the differences indicates the characteristic of the wavelength distribution within the predetermined wavelength range, it is possible to judge which wavelength has the characteristic using only this.
【００１１】また、本発明の他の態様である塗装面の検
査装置は、明暗の繰り返しパターンである明暗パターン
光を検査対象面に投射する光源と、前記検査対象面上に
形成された明暗パターンを撮影する撮影手段と、前記撮
影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度分布算
出手段と、前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関す
る振幅の分布を算出する波長分布算出部と、前記波長分
布の、所定波長域に対応する区間の積分値を算出する区
間積分手段と、を有している。According to another aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a painted surface, comprising: a light source for projecting light / dark pattern light, which is a repetitive pattern of light / dark, onto the surface to be inspected; Photographing means for photographing; a luminance distribution calculating means for calculating a luminance distribution of the photographed light-dark pattern; a Fourier transform of the luminance distribution; a wavelength distribution calculating unit for calculating an amplitude distribution with respect to wavelength; and the wavelength distribution And a section integrating means for calculating an integrated value of a section corresponding to a predetermined wavelength range.
【００１２】これによれば、波長分布が算出されるの
で、これを見れば、どの波長に特徴があるかを判断する
ことができる。また、積分値は、前記所定波長域内の波
長分布の特徴を表すので、この積分値のみでも、どの波
長に特徴があるのかを判断することができる。According to this, since the wavelength distribution is calculated, it is possible to determine which wavelength has a characteristic by looking at the wavelength distribution. Further, since the integral value represents the characteristic of the wavelength distribution within the predetermined wavelength range, it is possible to determine which wavelength has the characteristic only by this integral value.
【００１３】また、本発明の他の態様である他の塗装面
の検査装置は、明暗の繰り返しパターンである明暗パタ
ーン光を検査対象面に投射する光源と、前記検査対象面
上に形成された明暗パターンを撮影する撮影手段と、前
記撮影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度分
布算出手段と、前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に
関する振幅の分布を算出する波長分布算出手段と、所定
間隔ごとの前記波長分布の振幅について隣接する振幅の
差分を算出し、当該差分の所定波長域に対応する区間に
おける総和を算出する差分総和算出手段と、を有する。According to another aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a painted surface, the method comprising: a light source for projecting light / dark pattern light, which is a repeated pattern of light and dark, onto the surface to be inspected; A photographing means for photographing a light and dark pattern; a luminance distribution calculating means for calculating a luminance distribution of the photographed light and dark pattern; a wavelength distribution calculating means for performing a Fourier transform on the luminance distribution to calculate an amplitude distribution with respect to wavelength; And a difference sum calculating means for calculating a difference between adjacent amplitudes for the amplitude of the wavelength distribution for each interval, and calculating a sum of the differences in a section corresponding to a predetermined wavelength range.
【００１４】これによれば、波長分布を求めることによ
り、どの波長に特徴があるかを判断することができる。
また、差分の総和は、前記所定波長域内の波長分布の特
徴を表すので、これのみでも、どの波長に特徴があるの
かを判断することができる。According to this, it is possible to determine which wavelength has a characteristic by obtaining the wavelength distribution.
Further, since the sum of the differences indicates the characteristic of the wavelength distribution within the predetermined wavelength range, it is possible to judge which wavelength has the characteristic using only this.
【００１５】さらに、前述の塗装面の評価方法におい
て、得られた輝度分布の基本波形の所定の位相位置を基
準に所定幅の対象領域を設定し、この対象領域内の輝度
分布に関し前記フーリエ変換を行うようにすることがで
きる。Further, in the above-described method for evaluating a painted surface, a target area having a predetermined width is set based on a predetermined phase position of the obtained basic waveform of the luminance distribution, and the Fourier transform is performed on the luminance distribution in the target area. Can be done.
【００１６】また、前述の塗装面の検査装置において
は、さらに得られた輝度分布の基本波形の所定の位相位
置を基準に所定幅の対象領域を設定する対象領域設定手
段を設け、前記波長分布算出手段は、前記対象領域内の
輝度分布に関し前記フーリエ変換を行うものとすること
ができる。In the above-mentioned inspection apparatus for a painted surface, there is further provided a target area setting means for setting a target area having a predetermined width with reference to a predetermined phase position of the obtained basic waveform of the luminance distribution, The calculating means may perform the Fourier transform on the luminance distribution in the target area.
【００１７】このように、対象領域を輝度分布の基本波
形の所定位相位置を基準に固定することで、波長分布に
対する対象領域の端部の影響を低減することができる。As described above, by fixing the target area with reference to the predetermined phase position of the basic waveform of the luminance distribution, the influence of the end of the target area on the wavelength distribution can be reduced.
【００１８】[0018]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態（以下
実施形態という）を、図面に従って説明する。図１およ
び図２には、本実施形態の塗装面の検査装置の概略構成
が示されている。撮影部１０は、車両１２の検査対象面
１４に明暗の縞模様のパターンを投射し、検査対象面１
４上の明暗パターンの像を撮影する。撮影部１０は、図
２に示すように、明暗を繰り返す縞模様の光を照射する
光源１６を有し、検査対象面１４上の像を撮影するカメ
ラ１８を有している。検査対象面１４上では、この面の
凹凸に応じて縞模様が変形し、また明暗の境界もシャー
プなものとならず、ぼやける。この明暗の境界のぼやけ
は、回折によるもの以外に検査対象面１４の凹凸を反映
したものとなっている。したがって、検査対象面１４上
の像の、図中一点鎖線で示す明暗の繰り返し方向２０の
輝度分布は、きれいな方形状とならずに、角が取れ、さ
らに短い波長成分を含んだものとなる。投射されるパタ
ーンが本来方形であることから高調波成分を含むことに
なるが、これらの成分は検査対象によらず一定であるの
で、検査面の凹凸を相対評価する上では、Ｓ／Ｎさえ確
保できれば問題とならない。カメラ１８は、検査対象面
１４上の縞模様の像を撮影し、この情報をデータ処理部
２２に送出する。Embodiments of the present invention (hereinafter referred to as embodiments) will be described below with reference to the drawings. 1 and 2 show a schematic configuration of a coating surface inspection apparatus according to the present embodiment. The imaging unit 10 projects a light and dark striped pattern on the inspection target surface 14 of the vehicle 12 and
4. An image of the light and dark pattern on 4 is taken. As shown in FIG. 2, the imaging unit 10 includes a light source 16 that emits light of a stripe pattern that repeats light and dark, and a camera 18 that captures an image on the inspection target surface 14. On the inspection target surface 14, the stripe pattern is deformed in accordance with the unevenness of this surface, and the boundary between light and dark is not sharp but blurred. The blur at the boundary between light and dark reflects not only the diffraction but also the unevenness of the inspection target surface 14. Therefore, the luminance distribution of the image on the inspection target surface 14 in the light-dark repetition direction 20 indicated by a dashed line in the drawing does not have a clean square shape, but has sharp corners and includes shorter wavelength components. Since the projected pattern is essentially rectangular, it contains harmonic components. However, these components are constant regardless of the inspection target. There is no problem if it can be secured. The camera 18 captures an image of a striped pattern on the inspection target surface 14 and sends this information to the data processing unit 22.
【００１９】図３には、データ処理部２２の構成ブロッ
ク図が示されている。データ処理部２２は所定のプログ
ラムに基づき作動するコンピュータであり、前記プログ
ラムによって、図示する輝度分布算出部２４、波長分布
算出部２６、区間積分部２８および評価部３０として機
能する。輝度分布算出部２４は、カメラ１８からの映像
情報から明暗の繰り返し方向２０に沿った方向の輝度分
布を作成する。図示するように、この輝度分布の波形
は、明暗の繰り返し周期を基本周期とし、これに高調波
がのったものとなっている。前述したように、この輝度
分布は、光源１６の明暗パターンが方形波状となってい
るために高調波が含まれるが、この高調波以外に、検査
対象面１４の凹凸によって生じる像の乱れによる高調波
も含まれる。FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the data processing unit 22. The data processing section 22 is a computer that operates based on a predetermined program, and functions as a luminance distribution calculation section 24, a wavelength distribution calculation section 26, a section integration section 28, and an evaluation section 30 according to the program. The brightness distribution calculation unit 24 creates a brightness distribution in the direction along the light / dark repetition direction 20 from the video information from the camera 18. As shown in the figure, the waveform of the luminance distribution has a repetition cycle of light and dark as a basic cycle, and a harmonic is superimposed thereon. As described above, this luminance distribution includes harmonics because the light and dark pattern of the light source 16 has a square wave shape. In addition to the harmonics, harmonics due to image disturbance caused by unevenness of the inspection target surface 14 are included. Waves are also included.
【００２０】波長分布算出部２６は、前記輝度分布波形
をフーリエ変換し、図示するような波長に関する振幅の
分布（以下、波長分布と記す）を得る。この分布におい
て、横軸の右へ行くほど短い波長の振幅を表しており、
逆に左が長い波長の振幅を表している。そして、区間積
分部２８は、ちり感にかかる波長領域０．２〜２．０ｍ
ｍに相当する区間において、前記波長分布の区間積分を
算出する。評価部３０は、この区間積分値に基づき、前
記検査対象面１４を評価対象面として塗装面の仕上がり
状態の評価を行う。前記積分値が小さいほど、ちり感が
少ないと評価される。また、図４に示すように、（ａ）
の短い波長の振幅が目立つ場合の方が、（ｂ）の長い波
長の振幅が目立つ場合に比べて、積分値が小さくなる傾
向があるので、積分値によって短い波長域にピークが多
いのか、長い波長域にピークが多いのかの判断ができ
る。The wavelength distribution calculator 26 performs a Fourier transform on the luminance distribution waveform to obtain an amplitude distribution (hereinafter, referred to as a wavelength distribution) with respect to the wavelength as shown in the figure. In this distribution, the amplitude of the shorter wavelength is shown toward the right of the horizontal axis,
Conversely, the left side shows the amplitude of the long wavelength. Then, the section integration section 28 has a wavelength range of 0.2 to 2.0 m
In the section corresponding to m, the section integral of the wavelength distribution is calculated. The evaluation unit 30 evaluates the finished state of the painted surface using the inspection target surface 14 as an evaluation target surface based on the section integral value. It is evaluated that the smaller the integral value is, the less dustiness is felt. Also, as shown in FIG.
In the case where the amplitude of the short wavelength is conspicuous, the integrated value tends to be smaller than in the case where the amplitude of the long wavelength in (b) is conspicuous. It can be determined whether there are many peaks in the wavelength range.
【００２１】図５には、データ処理部の他の例の構成ブ
ロック図が示されている。データ処理部３２は所定のプ
ログラムに基づき作動するコンピュータであり、前記プ
ログラムによって、図示する輝度分布算出部３４、波長
分布算出部３６、差分総和算出部３８および評価部４０
として機能する。輝度分布算出部３４および波長分布算
出部３６は、前述の輝度分布算出部２４および波長分布
算出部２６と全く同様のものであるので、説明を省略す
る。FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of another example of the data processing unit. The data processing unit 32 is a computer that operates based on a predetermined program, and the brightness distribution calculation unit 34, the wavelength distribution calculation unit 36, the difference total calculation unit 38, and the evaluation unit 40 are illustrated by the program.
Function as The luminance distribution calculation unit 34 and the wavelength distribution calculation unit 36 are completely the same as the above-described luminance distribution calculation unit 24 and the wavelength distribution calculation unit 26, and thus description thereof is omitted.
【００２２】差分総和算出部３８は、ちり感にかかる波
長領域０．２〜２．０ｍｍに相当する区間において、所
定間隔ごとの波長について隣接する振幅Ａの差分ΔＡi
（＝Ａi−Ａi-1）を算出する。この差分ΔＡiの、ちり
感にかかる波長領域内の総和を算出する。評価部４０
は、この差分の総和に基づき、前記検査対象面１４を評
価対象面として塗装面の仕上がり状態の評価を行う。前
記差分の総和が小さいほど、ちり感が少ないと評価され
る。また、図６に示すように、（ａ）の短い波長の振幅
が目立つ場合の方が、（ｂ）の長い波長の振幅が目立つ
場合に比べて、差分の総和が小さくなる傾向があるの
で、差分の総和によって短い波長域にピークが多いの
か、長い波長域にピークが多いのかの判断ができる。The difference sum calculator 38 calculates a difference ΔAi between adjacent amplitudes A for wavelengths at predetermined intervals in a section corresponding to a wavelength range of 0.2 to 2.0 mm related to dust.
(= Ai-Ai-1) is calculated. The sum of the difference ΔAi in the wavelength region related to dustiness is calculated. Evaluation unit 40
Evaluates the finished state of the painted surface using the inspection target surface 14 as the evaluation target surface based on the sum of the differences. It is evaluated that the smaller the sum of the differences, the less the dustiness. As shown in FIG. 6, the sum of the differences tends to be smaller in the case where the amplitude of the short wavelength (a) is conspicuous than in the case where the amplitude of the long wavelength in (b) is conspicuous. From the sum of the differences, it can be determined whether there are many peaks in the short wavelength region or many peaks in the long wavelength region.
【００２３】その他、評価対象の多くのサンプルに対し
官能評価を行い、一方で波長分布のちり感にかかる領域
内でいくつかの大きいピークの波長λと、その振幅Ａに
前記官能評価と相関が取れるような係数Ｃ11，Ｃ12，Ｃ
21，・・・を定めて下に示す多項式を作成し、この多項式
の値ｙに基づき評価をすることもできる。In addition, sensory evaluation is performed on many samples to be evaluated. On the other hand, the wavelength A of some large peaks and the amplitude A in the region where dustiness of the wavelength distribution is related to the sensory evaluation. Coefficients C11, C12, C
.. Can be determined to create a polynomial shown below, and evaluation can be performed based on the value y of this polynomial.
【数１】ｙ＝Ｃ11λ1＋Ｃ12Ａ1＋Ｃ21λ2＋Ｃ22Ａ2＋・・
・## EQU1 ## y = C11λ1 + C12A1 + C21λ2 + C22A2 +.
・
【００２４】次に、解析の対象領域、すなわち輝度分布
波形をフーリエ変換する際のウインドウの位置によって
解析結果が異なる場合の処理について説明する。Next, a description will be given of a process in the case where the analysis result differs depending on the region to be analyzed, that is, the position of the window when the luminance distribution waveform is Fourier-transformed.
【００２５】前述したように、輝度分布は、図７のよう
に明暗パターンの周期の基本波形に塗装面の凹凸を反映
した高調波を含む波形となる。図７に示す二つの区間Ｓ
1、Ｓ2は、前述のフーリエ変換の対象となる領域の例を
示している。これらの区間Ｓ1、Ｓ2は、その長さは等し
いが、輝度分布の基本周期に対する位相が異なってい
る。このような二つの区間に関してフーリエ変換を行う
と、対象領域の端部の影響を受け、その結果が違ったも
のになるということが知られている。本来、同一の対象
について解析しているのであるから、結果は同一である
べきであるが、前述のようにそうはならない。そこで、
本実施形態においては、輝度分布の基本波形に対する対
象領域の位置を一定として、解析の対象領域の端部の影
響を少なくしている。As described above, the luminance distribution has a waveform including harmonics reflecting the unevenness of the painted surface in the basic waveform of the period of the light and dark pattern as shown in FIG. Two sections S shown in FIG.
1, S 2 shows an example of a region of interest of the Fourier transform of the above. These sections S 1 and S 2 have the same length but different phases with respect to the basic period of the luminance distribution. It is known that when the Fourier transform is performed on such two sections, the result is affected by the end of the target area, and the result is different. Originally, since the analysis is performed for the same object, the result should be the same, but this is not the case as described above. Therefore,
In the present embodiment, the position of the target region with respect to the basic waveform of the luminance distribution is fixed, and the influence of the end of the target region for analysis is reduced.
【００２６】図８は、本実施形態の構成を示すブロック
図である。本実施形態は、図３に示す実施形態に、平滑
化処理部４２および領域設定部４４を加えたものであ
る。すでに説明した構成については同一の符号を付し、
その説明を省略する。また、前述の用にデータ処理部２
２は、所定のプログラムに基づき作動するコンピュータ
であり、前記プログラムによって図示する平滑化処理部
４２および領域設定部４４として機能する。FIG. 8 is a block diagram showing the configuration of this embodiment. This embodiment is obtained by adding a smoothing processing unit 42 and an area setting unit 44 to the embodiment shown in FIG. The same reference numerals are given to the components already described,
The description is omitted. In addition, as described above, the data processing unit 2
Reference numeral 2 denotes a computer that operates based on a predetermined program, and functions as a smoothing processing unit 42 and an area setting unit 44 illustrated by the program.
【００２７】輝度分布算出部２４で得られた輝度分布波
形は、平滑化処理部４２により平滑化処理、すなわち高
調波を除去する処理がなされる。高調波を除去して得ら
れた基本波の波形（以下、基本波形と記す）は、明暗パ
ターンの基本波形をほぼ示している。この基本波形の所
定の位相位置、例えば谷の底の位置から、所定の長さの
区間Ｓを設定する。そして、波長分布算出部２６は、区
間Ｓを対象領域としてフーリエ変換を行う。これによ
り、フーリエ変換対象領域の端部の影響が少ない評価を
行うことができる。The luminance distribution waveform obtained by the luminance distribution calculator 24 is subjected to a smoothing process by the smoothing processor 42, that is, a process of removing harmonics. The waveform of the fundamental wave obtained by removing the harmonics (hereinafter, referred to as the fundamental waveform) substantially indicates the fundamental waveform of the light and dark pattern. A section S of a predetermined length is set from a predetermined phase position of the basic waveform, for example, a position at the bottom of a valley. Then, the wavelength distribution calculation unit 26 performs a Fourier transform using the section S as a target area. As a result, it is possible to perform an evaluation in which the influence of the end of the Fourier transform target area is small.
【００２８】図９は、図５に示す実施形態に前述の平滑
化処理部４２および領域設定部４４を適用した実施形態
の構成を示すブロック図である。各構成については、す
でに説明済みである。本実施形態においても、フーリエ
変換対象領域の端部の影響が少ない評価を行うことがで
きる。FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of an embodiment in which the aforementioned smoothing processing section 42 and area setting section 44 are applied to the embodiment shown in FIG. Each configuration has already been described. Also in the present embodiment, it is possible to perform the evaluation with little influence of the end of the Fourier transform target area.
【図１】 本実施形態の塗装面の検査装置の概略構成を
示す図である。FIG. 1 is a view showing a schematic configuration of a coating surface inspection apparatus according to an embodiment.
【図２】 撮影部の構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a photographing unit.
【図３】 データ処理部の構成を示すブロック図であ
る。FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of a data processing unit.
【図４】 図３に示すデータ処理部の評価の一例を示す
図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of evaluation of the data processing unit illustrated in FIG. 3;
【図５】 データ処理部の他の構成を示すブロック図で
ある。FIG. 5 is a block diagram showing another configuration of the data processing unit.
【図６】 図５に示すデータ処理部の評価の一例を示す
図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of evaluation of the data processing unit illustrated in FIG. 5;
【図７】 輝度分布に対するフーリエ変換対象領域を示
す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a Fourier transform target area with respect to a luminance distribution.
【図８】 データ処理部のさらに他の構成を示すブロッ
ク図である。FIG. 8 is a block diagram showing still another configuration of the data processing unit.
【図９】 データ処理部のさらに他の構成を示すブロッ
ク図である。FIG. 9 is a block diagram showing still another configuration of the data processing unit.
１０ 撮影部、１４ 検査対象面（評価対象面）、１６
光源、１８ カメラ、２０ 明暗の繰り返し方向、２
２，３２ データ処理部、２４，３４ 輝度分布算出
部、２６，３６ 波長分布算出部、２８ 区間積分部、
３０，４０ 評価部、３８ 差分総和算出部、４２ 平
滑化処理部、４４ 領域設定部。10 imaging unit, 14 inspection target surface (evaluation target surface), 16
Light source, 18 cameras, 20 light and dark repetition directions, 2
2, 32 data processing section, 24, 34 luminance distribution calculating section, 26, 36 wavelength distribution calculating section, 28 section integrating section,
30, 40 evaluation unit, 38 difference sum calculation unit, 42 smoothing processing unit, 44 area setting unit.
Claims (6)
ーン光を評価対象面に投射し、 前記評価対象面上に形成された明暗パターンを撮影して
明暗の繰り返し方向の輝度分布を得、 前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分
布である波長分布を算出し、 前記波長分布の、所定波長域に対応する区間の積分値を
算出し、 前記積分値に基づき塗装面の評価を行う、塗装面の評価
方法。1. A light-dark pattern light, which is a light-dark repetition pattern, is projected onto an evaluation target surface, and a light-dark pattern formed on the evaluation target surface is photographed to obtain a luminance distribution in a light-dark repetition direction. Fourier transform, calculate a wavelength distribution that is a distribution of amplitudes with respect to wavelength, calculate an integral value of a section corresponding to a predetermined wavelength range of the wavelength distribution, and perform a coating surface evaluation based on the integral value. Surface evaluation method.
ーン光を評価対象面に投射し、 前記評価対象面上に形成された明暗パターンを撮影して
明暗の繰り返し方向の輝度分布を得、 前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分
布である波長分布を算出し、 所定間隔ごとの前記波長分布の振幅について隣接する振
幅の差分を算出し、当該差分の所定波長域に対応する区
間における総和を算出し、 前記差分の総和に基づき塗装面の評価を行う、塗装面の
評価方法。2. A light / dark pattern light, which is a light / dark repetition pattern, is projected onto an evaluation target surface, and a light / dark pattern formed on the evaluation target surface is photographed to obtain a luminance distribution in a light / dark repetition direction. Is Fourier-transformed, a wavelength distribution that is a distribution of amplitudes related to wavelengths is calculated, a difference between adjacent amplitudes is calculated for the amplitude of the wavelength distribution at predetermined intervals, and a sum of the differences in a section corresponding to a predetermined wavelength range is calculated. A method for evaluating a painted surface, comprising calculating and evaluating the painted surface based on the sum of the differences.
ーン光を検査対象面に投射する光源と、 前記検査対象面上に形成された明暗パターンを撮影する
撮影手段と、 前記撮影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度
分布算出手段と、 前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分
布を算出する波長分布算出部と、 前記波長分布の、所定波長域に対応する区間の積分値を
算出する区間積分手段と、を有する塗装面の検査装置。3. A light source for projecting light / dark pattern light, which is a light / dark repetitive pattern, onto a surface to be inspected, photographing means for photographing a light / dark pattern formed on the surface to be inspected, and brightness of the photographed light / dark pattern A luminance distribution calculating means for calculating a distribution; a wavelength distribution calculating unit for performing a Fourier transform on the luminance distribution to calculate an amplitude distribution with respect to a wavelength; and calculating an integral value of a section of the wavelength distribution corresponding to a predetermined wavelength range. A coating surface inspection apparatus having section integration means.
ーン光を検査対象面に投射する光源と、 前記検査対象面上に形成された明暗パターンを撮影する
撮影手段と、 前記撮影された明暗パターンの輝度分布を算出する輝度
分布算出手段と、 前記輝度分布をフーリエ変換し、波長に関する振幅の分
布を算出する波長分布算出手段と、 所定間隔ごとの前記波長分布の振幅について隣接する振
幅の差分を算出し、当該差分の所定波長域に対応する区
間における総和を算出する差分総和算出手段と、を有す
る塗装面の検査装置。4. A light source for projecting light / dark pattern light, which is a light / dark repetitive pattern, onto a surface to be inspected, photographing means for photographing a light / dark pattern formed on the surface to be inspected, and brightness of the photographed light / dark pattern A luminance distribution calculating means for calculating a distribution; a wavelength distribution calculating means for performing a Fourier transform on the luminance distribution to calculate an amplitude distribution with respect to wavelength; calculating a difference between adjacent amplitudes for the amplitude of the wavelength distribution at predetermined intervals. And a sum total difference calculating means for calculating a sum total of the differences in a section corresponding to a predetermined wavelength range.
方法において、前記得られた輝度分布の基本波形の所定
の位相位置を基準に所定幅の対象領域を設定し、この対
象領域内の輝度分布に関し前記フーリエ変換を行う、塗
装面の評価方法。5. The method for evaluating a painted surface according to claim 1, wherein a target region having a predetermined width is set based on a predetermined phase position of the obtained basic waveform of the luminance distribution, A method for evaluating a painted surface, wherein the Fourier transform is performed on the luminance distribution of the painted surface.
装置において、 さらに、前記得られた輝度分布の基本波形の所定の位相
位置を基準に所定幅の対象領域を設定する対象領域設定
手段を有し、 前記波長分布算出手段は、前記対象領域内の輝度分布に
関し前記フーリエ変換を行うものである、塗装面の検査
装置。6. The object inspection apparatus according to claim 3, further comprising: setting a target area having a predetermined width based on a predetermined phase position of the obtained basic waveform of the luminance distribution. Means for performing a Fourier transform on the luminance distribution in the target area, wherein the wavelength distribution calculating means performs the Fourier transform.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24865798A JPH11194096A (en) | 1997-10-29 | 1998-09-02 | Evaluation method and inspection apparatus of painted face |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9-297391 | 1997-10-29 | ||
| JP29739197 | 1997-10-29 | ||
| JP24865798A JPH11194096A (en) | 1997-10-29 | 1998-09-02 | Evaluation method and inspection apparatus of painted face |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11194096A true JPH11194096A (en) | 1999-07-21 |
Family
ID=26538885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24865798A Pending JPH11194096A (en) | 1997-10-29 | 1998-09-02 | Evaluation method and inspection apparatus of painted face |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11194096A (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008066129A1 (en) * | 2006-11-29 | 2008-06-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | Testing apparatus, testing method, image pickup testing system, color filter manufacturing method, and testing program |
| JP2009036592A (en) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Sharp Corp | Streaky irregularity evaluator, evaluation method, evaluation program, recording medium, and manufacturing method for color filter |
| US7889358B2 (en) | 2006-04-26 | 2011-02-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Color filter inspection method, color filter manufacturing method, and color filter inspection apparatus |
| WO2011145351A1 (en) * | 2010-05-20 | 2011-11-24 | パナソニック株式会社 | Drug solution determination device and drug solution determination method |
| WO2022269300A1 (en) | 2021-06-21 | 2022-12-29 | 日産自動車株式会社 | Coating evaluation device and coating evaluation method |
-
1998
- 1998-09-02 JP JP24865798A patent/JPH11194096A/en active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7889358B2 (en) | 2006-04-26 | 2011-02-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Color filter inspection method, color filter manufacturing method, and color filter inspection apparatus |
| WO2008066129A1 (en) * | 2006-11-29 | 2008-06-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | Testing apparatus, testing method, image pickup testing system, color filter manufacturing method, and testing program |
| JP2009036592A (en) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Sharp Corp | Streaky irregularity evaluator, evaluation method, evaluation program, recording medium, and manufacturing method for color filter |
| WO2011145351A1 (en) * | 2010-05-20 | 2011-11-24 | パナソニック株式会社 | Drug solution determination device and drug solution determination method |
| JP5260793B2 (en) * | 2010-05-20 | 2013-08-14 | パナソニック株式会社 | Chemical determination device and chemical determination method |
| WO2022269300A1 (en) | 2021-06-21 | 2022-12-29 | 日産自動車株式会社 | Coating evaluation device and coating evaluation method |
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