JPH11174514A - Position controller for correcting means - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make the whole of a device compact and to enhance position detecting accuracy, even if a compact position detecting means with low accuracy is used. SOLUTION: The position controller for a correcting means is provided with a first position detecting means 113pa for detecting the position of a blur correcting means for correcting a blur, a control means for controlling the position of the correcting means based on the output of the first position detecting means 113pa, a second position detecting means 113pb for detecting the position of the correcting means and calibration means 118-123 for calibrating the output of the first position detecting means 113pa based on the output of the second position detecting means 113pb. In the above-mentioned constitution, compact photoreflectors are used as the first/second position detecting means 113pa and 113pb and the lowness of the accuracy of the photoreflectors is made high in such a manner that the output of the first position detecting means 113pa is calibrated (sensitivity, the linearity of the output and absolute position output are corrected) on the basis of the output of the second position detecting means 113pb.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、像振れ等の振れ補
正する補正手段用位置制御装置の改良に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in a position control device for correcting means for correcting a shake such as an image shake.

【０００２】[0002]

【従来の技術】現在のカメラは露出決定やピント合せ等
の撮影にとって重要な作業は全て自動化されているた
め、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起す可能性は
非常に少なくなっている。2. Description of the Related Art In a current camera, all operations important for photographing, such as exposure determination and focusing, are automated, so that even an inexperienced person in camera operation is very unlikely to fail in photographing.

【０００３】また、最近では、カメラに加わる手振れを
防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影失敗を誘
発する要因は殆ど無くなってきている。In recent years, a system for preventing a camera shake from being applied to a camera has been studied, and a factor which causes a photographer to fail in photographing has almost disappeared.

【０００４】ここで、手振れを防ぐシステムについて簡
単に説明する。Here, a system for preventing camera shake will be briefly described.

【０００５】撮影時のカメラの手振れは、周波数として
通常１Ｈｚ乃至１２Ｈｚの振動であるが、シャッタのレ
リーズ時点においてこのような手振れを起していても像
振れの無い写真を撮影可能とする為の基本的な考えとし
て、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その検出
値に応じて補正レンズを変位させてやらなければならな
い。従って、カメラの振れが生じても像振れを生じない
写真を撮影できることを達成するためには、第１にカメ
ラの振動を正確に検出し、第２に手振れによる光軸変化
を補正することが必要となる。The camera shake at the time of photographing is generally a vibration of 1 Hz to 12 Hz as a frequency. At the time of release of the shutter, even if such camera shake occurs, it is possible to take a picture without image shake. As a basic idea, it is necessary to detect the camera shake caused by the camera shake and to displace the correction lens according to the detected value. Therefore, in order to achieve a photograph that does not cause image shake even if camera shake occurs, first, it is necessary to accurately detect camera shake, and second, to correct optical axis change due to camera shake. Required.

【０００６】この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的
にいえば、角加速度，角速度，角変位等を検出する振動
検出センサと、該センサの出力信号を電気的或は機械的
に積分して角変位を出力する積分器等を含み、その角変
位に相当する信号を出力する振動検出回路等をカメラに
搭載することによって行うことができる。そして、この
検出情報に基づいて撮影光軸を偏心させる補正光学装置
を駆動させることにより、像振れ抑制が可能となる。In principle, this vibration (camera shake) is detected by a vibration detection sensor for detecting angular acceleration, angular velocity, angular displacement, and the like, and an output signal of the sensor is electrically or mechanically integrated. This can be performed by mounting an integrator or the like that outputs an angular displacement and a vibration detection circuit that outputs a signal corresponding to the angular displacement on a camera. Then, by driving a correction optical device that decenters the photographing optical axis based on this detection information, image blur can be suppressed.

【０００７】ここで、振動検出回路を用いた防振システ
ムについて、図１５を用いてその概要を説明する。Here, an outline of an anti-vibration system using a vibration detection circuit will be described with reference to FIG.

【０００８】図１５の例は、図示矢印８１方向のカメラ
縦振れ８１ｐ及び横振れ８１ｙに由来する像振れを抑制
するシステムの図である。The example of FIG. 15 is a diagram of a system for suppressing an image blur caused by a camera vertical shake 81p and a horizontal shake 81y in a direction indicated by an arrow 81.

【０００９】同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３
ｙは各々カメラ縦振れ振動、カメラ横振れ振動を検出す
る振動検出回路で、それぞれの振動検出方向を８４ｐ，
８４ｙで示してある。８５は補正光学装置（８７ｐ，８
７ｙは各々補正光学装置８５に推力を与えるコイル、８
６ｐ，８６ｙは補正手段８５の位置を検出する位置検出
素子）であり、該補正光学装置８５には後述する位置制
御ループを設けており、振動検出回路８３ｐ，８３ｙの
出力を目標値として駆動され、像面８８での安定を確保
する。In the figure, reference numeral 82 denotes a lens barrel, 83p, 83
y is a vibration detection circuit for detecting camera vertical vibration and camera horizontal vibration, respectively.
This is indicated by 84y. 85 is a correction optical device (87p, 8
7y are coils for applying a thrust to the correction optical device 85, 8
Reference numerals 6p and 86y denote position detecting elements for detecting the position of the correcting means 85. The correcting optical device 85 is provided with a position control loop described later, and is driven by using the outputs of the vibration detecting circuits 83p and 83y as target values. , The stability on the image plane 88 is ensured.

【００１０】図１６はかかる目的に好的に用いられる振
れ補正装置（詳細は後述するが、補正手段や該補正手段
を支持したり、係止したりする手段より成る）の構造を
示す分解斜視図であり、以下図１６〜図２４を参照しつ
つ、この構造について説明する。FIG. 16 is an exploded perspective view showing the structure of a shake correcting device (which will be described later in detail, which includes correcting means and means for supporting and locking the correcting means) which is preferably used for this purpose. This structure will be described below with reference to FIGS. 16 to 24.

【００１１】地板７１（図１９に拡大図あり）の背面突
出耳７１ａ（３ケ所（１ケ所は隠れて見えない））は不
図示の鏡筒に嵌合し、公知の鏡筒コロ等が孔７１ｂにネ
ジ止めされ、鏡筒に固定される。The rear protruding ears 71a (three places (one place is hidden and invisible)) of the base plate 71 (an enlarged view in FIG. 19) are fitted into a lens barrel (not shown), and a known lens barrel or the like has holes. It is screwed to 71b and fixed to the lens barrel.

【００１２】磁性体であり光択メッキが施された第２ヨ
ーク７２は、孔７２ａを貫通するネジで地板７１の孔７
１ｃにネジ止めされる。又、第２ヨーク７２にはネオジ
ウムマグネット等の永久磁石（シフト用マグネット）７
３が磁気的に吸着されている。なお、各永久磁石７３の
磁化方向は図１６に図示した矢印７３ａの方向である。The second yoke 72, which is made of a magnetic material and selectively plated, is screwed through the hole 72a into the hole 7 of the base plate 71.
1c. The second yoke 72 has a permanent magnet (shift magnet) 7 such as a neodymium magnet.
3 are magnetically attracted. The magnetization direction of each permanent magnet 73 is the direction of the arrow 73a shown in FIG.

【００１３】補正レンズ７４がＣリング等で固定された
支持枠７５（図２０に拡大図あり）にはコイル７６ｐ，
７６ｙ（シフト用コイル）が強引に押し込まれて接合
（以下、この事を「パッチン接着」と記す）され（図２
０は未接着）、又、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７
ｙも支持枠７５の背面に接着され、スリット７５ａｐ，
７５ａｙを通してその射出光が後述するＰＳＤ等の位置
検出素子７８ｐ，７８ｙに入射する。A supporting frame 75 (an enlarged view in FIG. 20) to which a correction lens 74 is fixed by a C-ring or the like is provided with a coil 76p,
76y (coil for shifting) is forcibly pushed and joined (hereinafter, this is referred to as "patch-in bonding") (FIG. 2).
0 is not adhered), and light emitting elements 77p and 77 such as IRED
y is also adhered to the back of the support frame 75, and the slits 75ap,
The emitted light is incident on position detection elements 78p and 78y such as PSDs described later through 75ay.

【００１４】支持枠７５の孔７５ｂ（３ケ所）にはＰＯ
Ｍ（ポリアセタール樹脂）等の先端球状の支持球７９
ａ，７９ｂ及びチャージバネ７１０が挿入され（図１７
及び図１８も参照）、支持球７９ａが支持枠７５に熱カ
シメされ固定される（支持球７９ｂはチャージバネ７１
０のバネ力に逆らって孔７５ｂの延出方向に摺動可能で
ある）。In the holes 75b (three places) of the support frame 75, PO
Support ball 79 with a spherical tip such as M (polyacetal resin)
a, 79b and the charge spring 710 are inserted (FIG. 17).
And FIG. 18), the support ball 79a is thermally caulked and fixed to the support frame 75 (the support ball 79b is a charge spring 71).
(It can slide in the extending direction of the hole 75b against the spring force of 0).

【００１５】上記図１７は振れ補正装置の組立後の横断
面図であり、支持枠７５の孔７５ｂに矢印７９ｃ方向に
支持球７９ｂ，チャージしたチャージバネ７１０，支持
球７９ａの順に挿入してゆき（支持球７９ａ，７９ｂは
同形状の部品）、最後に孔７５ｂの周端部７５ｃを熱カ
シメして支持球７９ａの抜け止めを行う。FIG. 17 is a cross-sectional view after assembling the vibration correcting device. The supporting ball 79b, charged charge spring 710, and supporting ball 79a are inserted into the hole 75b of the supporting frame 75 in the direction of arrow 79c in this order. (The supporting balls 79a and 79b are parts having the same shape.) Finally, the peripheral end portion 75c of the hole 75b is thermally caulked to prevent the supporting ball 79a from coming off.

【００１６】孔７５ｂの図１７と直交する方向の断面図
を図１８（ａ）に示し、又図１８（ａ）の断面図を矢印
７９ｃ方向より見た平面図を図１８（ｂ）に示してお
り、図１８（ｂ）の符合Ａ〜Ｄに示す範囲の深さを図１
８（ａ）のＡ〜Ｄに示す。FIG. 18A is a sectional view of the hole 75b in a direction orthogonal to FIG. 17, and FIG. 18B is a plan view of the sectional view of FIG. FIG. 1B shows the depth of the range indicated by reference numerals A to D in FIG.
The results are shown in FIGS. 8A to 8D.

【００１７】ここで、支持球７９ａの羽根部７９ａａの
後端部は深さＡ面の範囲で受けられ規制される為、周端
部７５ａを熱カシメする事で支持球７９ａは支持枠７５
に固定される。Here, since the rear end of the wing portion 79aa of the supporting ball 79a is received and regulated in the range of the depth A, the supporting ball 79a is thermally caulked at the peripheral end portion 75a so that the supporting ball 79a is supported by the supporting frame 75.
Fixed to

【００１８】支持球７９ｂの羽根部７９ｂａの先端部は
深さＢ面の範囲で受けられる為に、該支持球７９ｂがチ
ャージバネ７１０のチャージバネ力で孔７５ｂより矢印
７９ｃの方向に抜けてしまう事はない。Since the tip of the blade 79ba of the support ball 79b is received in the range of the depth B plane, the support ball 79b comes out of the hole 75b in the direction of the arrow 79c by the charge spring force of the charge spring 710. Nothing.

【００１９】勿論振れ補正装置の組立が終了すると支持
球７９ｂは図１７に示す様に第２ヨーク７２に受けられ
る為、支持枠７５より抜け出る事はなくなるが、組立性
を考慮して抜け止め範囲Ｂ面を設けている。Of course, when the assembling of the shake correcting device is completed, the support ball 79b is received by the second yoke 72 as shown in FIG. 17, so that the support ball 79b does not come off from the support frame 75. The B side is provided.

【００２０】図１７及び図１８に示す支持枠７５の孔７
５ｂの形状は、該支持枠７５を成形で作る場合において
も複雑な内径スライド型を必要とせず、矢印７９ｃと反
対側に型を抜く単純な２分割型で成形可能な為、その分
寸法精度を厳しく設定出来る。The holes 7 of the support frame 75 shown in FIGS.
The shape of 5b does not require a complicated inner diameter slide mold even when the support frame 75 is formed by molding, and can be molded by a simple two-part mold in which the mold is pulled out on the side opposite to the arrow 79c. Can be set strictly.

【００２１】この様に、支持球７９ａ，７９ｂが同一部
品となっている為に部品コストが下がるばかりでなく、
組立ミスが無く、部品管理上も有利である。As described above, since the support balls 79a and 79b are the same parts, not only the parts cost is reduced, but also
There is no assembling error, which is advantageous in parts management.

【００２２】上記支持枠７５の軸受部７５ｄには例えば
フッソ系のグリスを塗布し、ここにＬ字形の軸７１１
（非磁性のステンレス材）を挿入し（図１６参照）、Ｌ
字軸７１１の他端は地板７１に形成された軸受部７１ｄ
（同様にグリスを塗布し）に挿入し、３カ所の支持球７
９ｂを共に第２ヨーク７２に乗せて支持枠７５を地板７
１内に収める。The bearing portion 75d of the support frame 75 is coated with, for example, fluorine-based grease, and an L-shaped shaft 711 is applied thereto.
(Non-magnetic stainless steel) (see FIG. 16).
The other end of the character shaft 711 is a bearing 71 d formed on the main plate 71.
(Grease is applied in the same manner), and three supporting balls 7
9b is placed on the second yoke 72, and the support frame 75 is
Put in one.

【００２３】次に、図１６に示す第１ヨーク７１２の位
置決め孔７１２ａ（３ケ所）を地板７１の図１９に示す
ピン７１ｆ（３ケ所）に嵌合させ、同じく図１９に示す
受け面７１ｅ（５ケ所）にて第１ヨーク７１２を受けて
地板７１に対し磁気的に結合する（永久磁石７３の磁力
により）。Next, the positioning holes 712a (three places) of the first yoke 712 shown in FIG. 16 are fitted to the pins 71f (three places) shown in FIG. At five locations), the first yoke 712 is received and magnetically coupled to the ground plate 71 (by the magnetic force of the permanent magnet 73).

【００２４】これにより、第１ヨーク７１２の背面が支
持球７９ａと当接し、図１７に示す様に支持枠７５は第
１ヨーク７１２と第２ヨーク７２にて挟持され、光軸方
向の位置決めが為される。As a result, the back surface of the first yoke 712 abuts on the support ball 79a, and the support frame 75 is sandwiched between the first yoke 712 and the second yoke 72 as shown in FIG. Done.

【００２５】支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１
２，第２ヨーク７２の互いの当接面にもフッソ系グリス
が塗布してあり、支持枠７５は地板７１に対して光軸と
直交する平面内にて自由に摺動可能である。The support balls 79a, 79b and the first yoke 71
2. Fluoro-based grease is also applied to the contact surfaces of the second yoke 72 with each other, and the support frame 75 is freely slidable with respect to the base plate 71 in a plane orthogonal to the optical axis.

【００２６】上記Ｌ字軸７１１は支持枠７５が地板７１
に対し矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向にのみ摺動可能に支
持していることになり、これにより支持枠７５の地板７
１に対する光軸回りの相対的回転（ローリング）を規制
している。The L-shaped shaft 711 is supported by the support frame 75 and the base plate 71.
Is supported so as to be slidable only in the directions of arrows 713p and 713y.
Relative rotation (rolling) around the optical axis with respect to 1 is regulated.

【００２７】尚、前記Ｌ字軸７１１と軸受部７１ｄ，７
５ｄの嵌合ガタは光軸方向には大きく設定しており、支
持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７
２の挾持による光軸方向規制と重複嵌合してしまうこと
を防いでいる。The L-shaped shaft 711 and the bearings 71d, 7d
The fitting play of 5d is set large in the optical axis direction, and the supporting balls 79a, 79b, the first yoke 712, and the second yoke 7
This prevents overlapping with the optical axis direction regulation due to the clamping of 2.

【００２８】前記第１ヨーク７１２の表面には絶縁用シ
ート７１４が被せられ、その上に複数のＩＣを有するハ
ード基板７１５（位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、出力増
幅用ＩＣ，コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用ＩＣ等）が位置
決め孔７１５ａ（２ケ所）を地板７１の図１８に示すピ
ン７１ｈ（２ケ所）に嵌合され、孔７１５ｂ，第１ヨー
ク７１２の孔７１２ｂとともに地板７１の孔７１ｇにネ
ジ結合される。An insulating sheet 714 is covered on the surface of the first yoke 712, and a hard substrate 715 having a plurality of ICs (position detecting elements 78p, 78y, output amplifying ICs, coils 76p, 76y) is provided thereon. ICs, etc.) are fitted with the positioning holes 715a (two places) to the pins 71h (two places) shown in FIG. 18 of the base plate 71, and screwed together with the holes 715b and the holes 712b of the first yoke 712 to the holes 71g of the base plate 71. You.

【００２９】ここで、ハード基板７１５には位置検出素
子７８ｐ，７８ｙが工具にて位置決めされて半田付けさ
れ、又信号伝達用のフレキシブル基板７１６も面７１６
ａがハード基板７１５の背面に破線で囲む範囲７１５ｃ
（図１６参照）に熱により圧着される。Here, the position detecting elements 78p and 78y are positioned on the hard substrate 715 by a tool and soldered, and the flexible substrate 716 for signal transmission is also provided on the surface 716.
a is a range 715c surrounded by a broken line on the back surface of the hard substrate 715
(See FIG. 16).

【００３０】前記フレキシブル基板７１６から光軸と直
交する平面方向に一対の腕７１６ｂｐ，７１６ｂｙが延
出しており、各々支持枠７５の引っ掛け部７５ｅｐ，７
５ｅｙ（図２０参照）に引っ掛けられ、投光素子７７
ｐ，７７ｙの端子及びコイル７６ｐ，７６ｙの端子が半
田付けされる。A pair of arms 716 bp and 716 by extend from the flexible substrate 716 in a plane direction orthogonal to the optical axis, and hook portions 75 ep and 7 ep of the support frame 75 respectively.
5ey (see FIG. 20), and the light emitting element 77
The terminals p and 77y and the terminals of the coils 76p and 76y are soldered.

【００３１】これにより、ＩＲＥＤ等の投光素子７７
ｐ，７７ｙ、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動はハード基板
７１５よりフレキシブル基板７１６を介在して行われる
ことになる。Thus, the light emitting element 77 such as an IRED
The driving of p, 77y and the coils 76p, 76y is performed from the hard substrate 715 via the flexible substrate 716.

【００３２】前記フレキシブル基板７１６の腕部７１６
ｂｐ，７１６ｂｙ（図１６参照）には各々屈折部７１６
ｃｐ，７１６ｃｙを有しており、この屈折部の弾性によ
り支持枠７５が光軸と直交する平面内に動き回る事に対
する該腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙの負荷を低減してい
る。The arm 716 of the flexible substrate 716
bp and 716by (see FIG. 16) are each a refraction portion 716.
cp, 716 cy, and the elasticity of the refraction reduces the load on the arms 716 bp, 716 by for the support frame 75 moving around in a plane perpendicular to the optical axis.

【００３３】前記第１ヨーク７１２は型抜きによる突出
面７１２ｃを有し、該突出面７１２ｃは絶縁シート７１
４の孔７１４ａを通り、ハード基板７１５と直接接触し
ている。この接触面のハード基板７１５側にはアース
（ＧＮＤ：グランド）パターンが形成されており、ハー
ド基板７１５を地板にネジ結合する事で第１ヨーク７１
２はアースされ、アンテナになってハード基板７１５に
ノイズを与える事を無くしている。The first yoke 712 has a projecting surface 712c formed by die cutting, and the projecting surface 712c is
4 and directly contacts the hard substrate 715 through the hole 714a. A ground (GND: ground) pattern is formed on the hard board 715 side of this contact surface, and the first yoke 71 is screwed to the ground board to connect the hard board 715 to the ground plate.
Numeral 2 is grounded to prevent an antenna from giving noise to the hard substrate 715.

【００３４】図１６に示すマスク７１７は地板７１のピ
ン７１ｈに位置決めされ、前記ハード基板７１５上に両
面テープにて固定される。The mask 717 shown in FIG. 16 is positioned on the pins 71h of the base plate 71, and is fixed on the hard substrate 715 with a double-sided tape.

【００３５】前記地板７１には永久磁石貫通孔７１ｉ
（図１６，図１９参照）が開けられており、ここから第
２ヨーク７２の背面が露出している。そして、この貫通
孔７１ｉに永久磁石７１８（ロック用マグネット）が組
み込まれ、第２ヨーク７２と磁気結合している（図１７
参照）。The base plate 71 has a permanent magnet through hole 71i.
(See FIGS. 16 and 19), from which the back surface of the second yoke 72 is exposed. A permanent magnet 718 (locking magnet) is incorporated in the through hole 71i, and is magnetically coupled to the second yoke 72 (FIG. 17).
reference).

【００３６】ロックリング７１９（図１６，図１７，図
２２参照）にはコイル７２０（ロック用コイル）が接着
され、又ロックリング７１９の耳部７１９ａの背面には
軸受７１９ｂ（図２２参照）があり、アマーチュアピン
７２１（図１６参照）にアマーチュアゴム７２２を通
し、該アマーチュアピン７２１を軸受７１９ｂに通した
後、該アマーチュアピン７２１にアマーチュアバネ７２
３を通し、アマーチュア７２４に嵌入してカシメ固定す
る。A coil 720 (locking coil) is bonded to the lock ring 719 (see FIGS. 16, 17 and 22), and a bearing 719b (see FIG. 22) is provided on the back surface of the ear 719a of the lock ring 719. The armature pin 721 (see FIG. 16) is passed through an armature rubber 722, and the armature pin 721 is passed through a bearing 719b.
3 and fit into the armature 724 to fix it by caulking.

【００３７】従って、アマーチュア７２４はアマーチュ
アバネ７２３のチャージ力に逆らってロックリング７１
９に対し矢印７２５方向に摺動出来る。Accordingly, the armature 724 causes the lock ring 71 to move against the charging force of the armature spring 723.
9 can slide in the direction of arrow 725.

【００３８】図２２は組立終了後の振れ補正装置を、図
１６の背面方向から見た平面図であり、この図におい
て、ロックリング７１９の外径切り欠き部７１９ｃ（３
ケ所）を地板７１の内径突起７１ｊ（３ケ所）に合せて
ロックリング７１９を地板７１に押し込み、その後ロッ
クリングを反時計方向に回して抜け止めを行う公知のバ
ヨネット結合により、ロックリング７１９は地板７１に
取り付いている。FIG. 22 is a plan view of the shake correcting device after the assembly is completed, as viewed from the rear side in FIG. 16. In this figure, the outer diameter cutout portion 719c (3c) of the lock ring 719 is shown.
The lock ring 719 is pushed into the base plate 71 by aligning the lock ring 719 with the inner platen projections 71j (three places) of the base plate 71, and then the lock ring 719 is turned counterclockwise to prevent the lock ring 719 from coming off. It is attached to 71.

【００３９】従って、ロックリング７１９は地板７１に
対し光軸回りに回転可能である。しかし、ロックリング
７１９が回転して再びその切り欠き７１９ｃが突起７１
ｊと同位相になり、バヨネット結合が外れてしまうのを
防ぐ為にロックゴム７２６（図１６，図２２参照）を地
板７１に圧入して、該ロックリング７１９がロックゴム
７２６に規制される切り欠き部７１９ｄの角度θ（図２
２参照）しか回転出来ない様に回転規制している。Accordingly, the lock ring 719 is rotatable around the optical axis with respect to the main plate 71. However, the lock ring 719 rotates, and the notch 719 c again
j, the lock rubber 726 (see FIGS. 16 and 22) is pressed into the main plate 71 to prevent the bayonet connection from coming off, and the lock ring 719 is restricted by the lock rubber 726. The angle θ of the notch 719d (FIG. 2
(See 2).

【００４０】磁性体のロック用ヨーク７２７（図１６参
照）にも永久磁石７１８（ロック用マグネット）が取り
付けられ、その孔７２７ａ（２ケ所）を地板７１のピン
７１ｋ（図２２参照）に嵌合して嵌め込み、孔７２７ｂ
（２ケ所）と７１ｎ（２ケ所）によりねじ結合してい
る。A permanent magnet 718 (locking magnet) is also attached to the magnetic yoke 727 (see FIG. 16), and its holes 727a (two locations) are fitted to pins 71k (see FIG. 22) of the main plate 71. And fit into the hole 727b
(2 places) and 71n (2 places).

【００４１】地板７１側の永久磁石７１８とロック用ヨ
ーク７２７側の永久磁石７１８、及び、第２のヨーク７
２，ロック用ヨーク７２７により、公知の閉磁路を形成
している。The permanent magnet 718 on the base plate 71 side, the permanent magnet 718 on the locking yoke 727 side, and the second yoke 7
2. A known closed magnetic path is formed by the locking yoke 727.

【００４２】又、前記ロックゴム７２６はロック用ヨー
ク７２７がネジ結合される事で抜け止めされる。尚、図
２２においては上記の説明の為にロックヨーク７２７は
省いて図示している。The lock rubber 726 is prevented from coming off by the screw connection of the locking yoke 727. In FIG. 22, the lock yoke 727 is omitted for the above description.

【００４３】前記ロックリング７１９のフック７１９ｅ
と地板７１のフック７１ｍ間（図１９参照）にはロック
バネ７２８が掛けられており、ロックリング７１９を時
計まわりに付勢している。吸着ヨーク７２９（図１６，
図２２参照）には吸着コイル７３０が差し込まれ、地板
７１の孔７２９ａによりネジ結合される。The hook 719e of the lock ring 719
A lock spring 728 is hung between the hook 71m of the main plate 71 and the hook 71m (see FIG. 19), and urges the lock ring 719 clockwise. The suction yoke 729 (FIG. 16,
The suction coil 730 is inserted into the base plate 71 (see FIG. 22), and is screwed to the bottom plate 71 with a hole 729a.

【００４４】コイル７２０の端子及び吸着コイル７３０
の端子は、例えば４本縒り線のテトロン被覆線のツイス
トペア構成にしてフレキシブル基板７１６の幹部７１６
ｄに半田付けされる。Terminal of Coil 720 and Adsorption Coil 730
The terminal of the flexible substrate 716 has a twisted pair configuration of, for example, a four-stranded tetron covered wire.
d.

【００４５】以上説明した振れ補正装置の機構部は大別
すると、光軸を偏心させる補正手段と、該補正手段を支
持する支持手段と、前記補正手段を係止する係止手段の
３つの要素で構成されている。The mechanism of the shake correcting apparatus described above is roughly divided into three components: a correcting means for decentering the optical axis, a supporting means for supporting the correcting means, and a locking means for locking the correcting means. It is composed of

【００４６】前記補正手段は、レンズ７４、支持枠７
５、コイル７６ｐ，７６ｙ、ＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙ、
位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１
ｙ、支持球７９ａ，７９ｙ、チャージバネ７１０、支持
軸７１１で組み立てられている。また、支持手段は、地
板７１、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７
１２で構成されている。又係止手段は、永久磁石７１
８、ロックリング７１９、コイル７２０、アーマチュア
軸７２１、アーマチュアゴム７２２、アーマチュアバネ
７２３、アーマチュア７２４、ロックゴム７２６、ヨー
ク７２７、ロックバネ７２８、吸着ヨーク７２９、吸着
コイル７３０で構成されている。The correcting means includes a lens 74, a support frame 7
5, coils 76p and 76y, IREDs 77p and 77y,
Position detecting elements 78p, 78y, ICs 731p, 731
y, support balls 79a and 79y, a charge spring 710, and a support shaft 711. The support means includes a base plate 71, a second yoke 72, a permanent magnet 73, a first yoke 7
12. The locking means is a permanent magnet 71
8, a lock ring 719, a coil 720, an armature shaft 721, an armature rubber 722, an armature spring 723, an armature 724, a lock rubber 726, a yoke 727, a lock spring 728, a suction yoke 729, and a suction coil 730.

【００４７】また、前記補正手段を構成するうちの、レ
ンズ７４、支持枠７５により補正光学系を成し、ＰＳＤ
７８ｐ，７９ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ、ＩＲＥＤ７
７ｐ，７７ｙが位置検出回路を成し、コイル７６ｐ，７
６ｙ、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７１
２が駆動回路を成す。つまり、補正手段は、補正光学
系，位置検出回路，前記補正光学系を駆動する駆動回路
を主たる構成要素として成るものである。The lens 74 and the support frame 75, which constitute the correction means, form a correction optical system,
78p, 79y, IC731p, 731y, IRED7
7p and 77y form a position detection circuit, and coils 76p and 7y
6y, second yoke 72, permanent magnet 73, first yoke 71
2 forms a drive circuit. In other words, the correction means mainly includes a correction optical system, a position detection circuit, and a drive circuit for driving the correction optical system.

【００４８】そして、前記振れ補正装置と振動検出回路
（図１５参照）と以下の図２２に示す演算回路により、
防振システムが構成される。Then, the shake correcting device, the vibration detecting circuit (see FIG. 15) and the arithmetic circuit shown in FIG.
An anti-vibration system is configured.

【００４９】前記ハード基板７１５上のＩＣ７３１ｐ，
７３１ｙは各々位置検出端子７８ｐ，７８ｙの出力増幅
用のＩＣであるが、その内部構成は図２２の様になって
いる（ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは同構成の為、ここでは
７３１ｐのみ示す）。The IC 731p on the hard substrate 715,
731y is an IC for amplifying the output of the position detection terminals 78p and 78y, respectively. The internal configuration thereof is as shown in FIG. 22 (since the ICs 731p and 731y have the same configuration, only 731p is shown here).

【００５０】図２３において、電流−電圧変換アンプ７
３１ａｐ，７３１ｂｐは投光素子７７ｐにより位置検出
素子７８ｐ（抵抗Ｒ１，Ｒ２より成る）に生じる光電流
７８ｉ１ｐ，７８ｉ２ｐを電圧に変換し、差動アンプ７
３１ｃｐは各電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１
ｂｐの差出力を求め増幅している。In FIG. 23, the current-voltage conversion amplifier 7
31 ap and 731 bp convert light currents 78 i 1 p and 78 i 2 p generated in the position detection element 78 p (consisting of resistors R 1 and R 2) by the light projection element 77 p into voltages, and
31cp is each current-voltage conversion amplifier 731ap, 731
The difference output of bp is obtained and amplified.

【００５１】投光素子７７ｐ，７７ｙの射出光は、前述
した通り、スリット７５ａｐ，７５ａｙを経由して位置
検出素子７８ｐ，７８ｙ上に入射するが、支持枠７５が
光軸と垂直な平面内で移動すると位置検出素子７８ｐ，
７８ｙへの入射位置が変化する。The light emitted from the light projecting elements 77p and 77y is incident on the position detecting elements 78p and 78y via the slits 75ap and 75ay as described above, but the support frame 75 is positioned on a plane perpendicular to the optical axis. When moved, the position detecting element 78p,
The position of incidence on 78y changes.

【００５２】前記位置検出素子７８ｐは矢印７８ａｐ方
向（図１６参照）に感度を持っており、又スリット７５
ａｐは矢印７８ａｐとは直交する方向（７８ａｙ方向）
に光束が拡がり、矢印７８ａｐ方向には光束が絞られる
形状をしている為、支持枠７５が矢印７１３ｐ方向に動
いた時のみ該位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，
７８ｉ₂ ｐのバランスは変化し、差動アンプ７３１ｃｐ
は支持枠７５の矢印７１３ｐ方向に応じた出力をする。The position detecting element 78p has sensitivity in the direction of an arrow 78ap (see FIG. 16).
ap is a direction orthogonal to the arrow 78ap (78ay direction).
Spread is the light beam in the arrow 78ap direction because of the shape which the light beam is squeezed in, the photocurrent 78i ₁ p of viewing the position detecting elements 78p when the support frame 75 is moved in the arrow 713p direction,
The balance of 78i ₂ p changes and the differential amplifier 731 cp
Outputs an output according to the direction of the arrow 713p of the support frame 75.

【００５３】又位置検出素子７８ｙは矢印７８ａｙ方向
（図１６参照）に検出感度を持ち、スリット７５ａｙは
矢印７８ａｙとは直交する方向（７８ａｐ方向）に延出
する形状の為に、支持枠７５が矢印７１３ｙ方向に動い
た時のみ該位置検出素子７８ｙは出力を変化させる。The position detecting element 78y has a detection sensitivity in the direction of the arrow 78ay (see FIG. 16), and the slit 75ay extends in the direction (78ap direction) perpendicular to the arrow 78ay. Only when it moves in the direction of arrow 713y, the position detecting element 78y changes its output.

【００５４】加算アンプ７３１ｄｐは電流−電圧変換ア
ンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの出力の和（位置検出素子
７８ｐの受光量総和）を求め、この信号を受ける駆動ア
ンプ７３１ｅｐはこれに従って投光素子７７ｐを駆動す
る。The addition amplifier 731dp obtains the sum of the outputs of the current-voltage conversion amplifiers 731ap and 731bp (total light receiving amount of the position detecting element 78p), and the driving amplifier 731ep receiving this signal drives the light emitting element 77p accordingly.

【００５５】上記投光素子７７ｐは温度等に極めて不安
定にその投光量が変化する為、それに伴い位置検出素子
７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，７８ｉ₁ ｐの絶対量（７８
ｉ₁ｐ＋７８ｉ₂ ｐ）が変化する。その為、支持枠７５
の位置を示す（７８ｉ₁ ｐ−７８ｉ₂ ｐ）である差動ア
ンプ７３１ｃｐの出力も変化してしまう。Since the amount of light emitted from the light emitting element 77p changes extremely unstable with temperature or the like, the absolute amount (78i) of the photocurrents 78i ₁ p and 78i ₁ p of the position detecting element 78p is accordingly changed.
i ₁ p + 78i ₂ p) changes. Therefore, the support frame 75
The output of the differential amplifier 731cp a showing the position _{(78i 1 p-78i 2 p} ) also changes.

【００５６】しかし、上記の様に受光量の総和が一定と
なる様に前述の駆動回路によって投光素子７７ｐを制御
すれば、差動アンプ７３１ｃｐの出力変化が無くなる。However, if the light emitting element 77p is controlled by the above-described drive circuit so that the total amount of received light is constant as described above, the output of the differential amplifier 731cp does not change.

【００５７】図１６に示すコイル７６ｐ，７６ｙは永久
磁石７３，第１のヨーク７１２，第２のヨーク７２で形
成される閉磁路内に位置し、コイル７６ｐに電流を流す
事で支持枠７５は矢印７１３ｐ方向に駆動され（公知の
フレミングの左手の法則）、コイル７６ｙに電流を流す
事で支持枠７５は矢印７１３ｙ方向に駆動される。The coils 76p and 76y shown in FIG. 16 are located in a closed magnetic path formed by the permanent magnet 73, the first yoke 712, and the second yoke 72. The support frame 75 is driven in the direction of the arrow 713y by being driven in the direction of the arrow 713p (known Fleming's left-hand rule) and flowing current through the coil 76y.

【００５８】一般に位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙで増幅し、その出力でコイル
７６ｐ，７６ｙを駆動すると、支持枠７５が駆動されて
位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が変化する構成とな
る。Generally, when the outputs of the position detecting elements 78p and 78y are amplified by the ICs 731p and 731y and the coils 76p and 76y are driven by the outputs, the support frame 75 is driven and the outputs of the position detecting elements 78p and 78y change. Becomes

【００５９】ここで、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動方向
（極性）を位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が小さく
なる方向に設定すると（負帰還）、該コイル７６ｐ，７
６ｙの駆動力により位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
がほぼ零になる位置で支持枠７５は安定する。Here, when the driving direction (polarity) of the coils 76p and 76y is set so as to decrease the output of the position detecting elements 78p and 78y (negative feedback), the coils 76p and 76y are turned off.
The support frame 75 is stabilized at a position where the outputs of the position detecting elements 78p and 78y become substantially zero by the driving force of 6y.

【００６０】この様に位置検出出力を負帰還して駆動を
行う手法を位置制御手法と云い、例えば外部から目標値
（例えば手振れ角度信号）をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙに
混合させると、支持枠７５は目標値に従って極めて忠実
に駆動される。A method of performing driving by negatively feeding back the position detection output is called a position control method. For example, when a target value (for example, a shake angle signal) is externally mixed with the ICs 731p and 731y, the support frame 75 moves to the target position. It is driven very faithfully according to the value.

【００６１】実際には差動アンプ７３１ｃｐ，７３１ｃ
ｙの出力はフレキシブル基板７１６を経由して不図示の
メイン基板に送られ、そこでアナログ／ディジタル変換
（Ａ／Ｄ変換）が行われ、マイコンに取り込まれる。Actually, the differential amplifiers 731cp and 731c
The output of y is sent to a main board (not shown) via a flexible board 716, where analog / digital conversion (A / D conversion) is performed and taken into a microcomputer.

【００６２】マイコン内では適宜目標値（手振れ角度信
号）と比較増幅され、公知のディジタルフィルタ手法に
よる位相進み補償（位置制御をより安定させる為）が行
われた後、再びフレキシブル基板７１６を通り、ＩＣ７
３２（コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用）に入力する。ＩＣ
７３２は入力される信号を基に前記コイル７６ｐ，７６
ｙを公知のＰＷＭ（パルス幅変調）駆動を行い、支持枠
７５を駆動する。In the microcomputer, the signal is appropriately compared and amplified with a target value (camera shake angle signal), compensated for a phase advance by a known digital filter technique (to make position control more stable), and then passed through the flexible board 716 again. IC7
32 (for driving the coils 76p and 76y). IC
732 indicates the coils 76p and 76 based on the input signal.
y is driven by a known PWM (pulse width modulation) to drive the support frame 75.

【００６３】支持枠７５は前述した様に矢印７１３ｐ，
７１３ｙ方向に摺動可能であり、上述した位置制御手法
により位置を安定させている訳であるが、カメラ等の民
生用光学機器においては電源消耗防止の観点からも常に
該支持枠７５を制御しておく事は出来ない。As described above, the support frame 75 has the arrow 713p,
713y can be slid, and the position is stabilized by the above-described position control method. However, in a consumer optical device such as a camera, the support frame 75 is always controlled from the viewpoint of preventing power consumption. I can't keep it.

【００６４】また、支持枠７５は非制御状態時には光軸
と直交する平面内にて自由に動き回る事が出来る様にな
る為、その時のストローク端での衝突の音発生や損傷に
対しても対策しておく必要がある。Further, since the support frame 75 can freely move around in a plane perpendicular to the optical axis in the non-control state, measures against noise and damage due to collision at the stroke end at that time are taken. It is necessary to keep.

【００６５】図２０及び図２２に示す様に支持枠７５の
背面には３ケ所の放射状に突出した突起７５ｆを設けて
あり、図２２に示す様に突起７５ｆの先端がロックリン
グ７１９の内周面７１９ｇに嵌合している。従って、支
持枠７５は地板７１に対して全ての方向に拘束されてい
る。As shown in FIGS. 20 and 22, three radially projecting projections 75f are provided on the back surface of the support frame 75, and the tips of the projections 75f are formed on the inner periphery of the lock ring 719 as shown in FIG. It is fitted to the surface 719g. Therefore, the support frame 75 is restrained in all directions with respect to the main plate 71.

【００６６】図２４（ａ），（ｂ）はロックリング７１
９と支持枠７５の動作の関係を示す平面図であり、図２
１の平面図から要部のみ抜出した図である。尚、説明を
解り易くする為に実際の組立状態とは若干レイアウトを
変化させている。又、図２３（ａ）のカム部７１９ｆ
（３ケ所）は、図２０，図２１に示す通り、ロックリン
グ７１９の円筒の母線方向全域に渡って設けられている
訳ではないので図２１の方向からは実際には見えない
が、説明の為に図示している。FIGS. 24A and 24B show the lock ring 71.
9 is a plan view showing the relationship between the operation of the support frame 9 and the support frame 75, FIG.
FIG. 2 is a diagram in which only essential parts are extracted from the plan view of FIG. Note that the layout is slightly changed from the actual assembled state to make the description easy to understand. Also, the cam portion 719f shown in FIG.
As shown in FIGS. 20 and 21, the (three places) are not provided over the entire area of the cylinder of the lock ring 719 in the generatrix direction, so they are not actually seen from the direction of FIG. It is shown for the sake of illustration.

【００６７】図１７に示した通り、コイル７２０（７２
０ａは図示しないフレキシブル基板等でロックリング７
１９の外周を通り、端子７１９ｈよりフレキシブル基板
７１６の幹部７１６ｄ上の端子７１６ｅに接続される４
本縒り線の引き出し線）は永久磁石７１８で挟まれた閉
磁路内に入っており、コイル７２０に電流を流す事でロ
ックリング７１９を光軸回りに回転させるトルクを発生
する。As shown in FIG. 17, the coils 720 (72
0a is a flexible substrate or the like (not shown) which is a lock ring 7
19, which is connected to the terminal 716e on the trunk 716d of the flexible substrate 716 from the terminal 719h through the outer periphery of the terminal 19
The main stranded wire (lead wire) is in a closed magnetic path sandwiched by the permanent magnets 718, and generates a torque for rotating the lock ring 719 around the optical axis by flowing a current through the coil 720.

【００６８】このコイル７２０の駆動も不図示のマイコ
ンからフレキシブル基板７１６を介してハード基板７１
５上の駆動用ＩＣ７３３に入力する指令信号で制御さ
れ、ＩＣ７３３はコイル７２０をＰＷＭ駆動する。The driving of the coil 720 is also performed by a microcomputer (not shown) via a flexible substrate 716 on the hard substrate 71.
5 is controlled by a command signal input to the driving IC 733 on the IC 5, and the IC 733 performs PWM driving of the coil 720.

【００６９】図２４（ａ）において、コイル７２０に通
電するとロックリング７１９に反時計回りのトルクが発
生する様にコイル７２０の巻き方向が設定されており、
これによりロックリング７１９はロックバネ７２８のバ
ネ力に逆らって反時計方向に回転する。In FIG. 24A, the winding direction of the coil 720 is set so that when the coil 720 is energized, a counterclockwise torque is generated in the lock ring 719.
Accordingly, the lock ring 719 rotates counterclockwise against the spring force of the lock spring 728.

【００７０】尚、ロックリング７１９は、コイル７２０
に通電前はロックバネ７２８の力によりロックゴム７２
６に当接して安定している。The lock ring 719 includes a coil 720
Before power is supplied to the lock rubber 72, the force of the lock spring 728 is used.
6 and stable.

【００７１】ロックリング７１９が回転すると、アマー
チュア７２４が吸着ヨーク７２９に当接してアマーチュ
アバネ７２３を縮め、吸着ヨーク７２９とアマーチュア
７２４の位置関係をイコライズしてロックリング７１９
は図２４（ｂ）の様に回転を止める。When the lock ring 719 rotates, the armature 724 comes into contact with the suction yoke 729 to contract the armature spring 723, and the positional relationship between the suction yoke 729 and the armature 724 is equalized to lock the lock ring 719.
Stops the rotation as shown in FIG.

【００７２】図２５はロックリング駆動のタイミングチ
ャートである。FIG. 25 is a timing chart of the lock ring drive.

【００７３】図２５の矢印７１９ｉでコイル７２０に通
電（７２０ｂに示すＰＷＭ駆動）すると同時に吸着マグ
ネット７３０にも通電（７３０ａ）する。その為、吸着
ヨーク７２９にアマーチュア７２４が当接し、イコライ
ズされた時点でアマーチュア７２４は吸着ヨーク７２９
に吸着される。The coil 720 is energized (PWM drive indicated by 720b) at the same time as the arrow 719i in FIG. 25, and the energizing magnet 730 is energized (730a) at the same time. Therefore, the armature 724 comes into contact with the suction yoke 729 and, when equalized, the armature 724 is moved to the suction yoke 729.
Is adsorbed.

【００７４】次に、図２５の７２０ｃに示す時点でコイ
ル７２０への通電を止めると、ロックリング７１９はロ
ックバネ７２８の力で時計回りに回転しようとするが、
上述した様にアマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に
吸着されている為、回転は規制される。この時、支持枠
７５の突起７５ｆはカム部７１９ｆと対向する位置に在
る（カム部７１９ｆが回転して来る）為、支持枠７５は
突起７５ｆとカム部７１９ｆの間のクリアランス分だけ
動ける様になる。Next, when the energization of the coil 720 is stopped at the time indicated by 720c in FIG. 25, the lock ring 719 tries to rotate clockwise by the force of the lock spring 728.
Since the armature 724 is adsorbed by the adsorption yoke 729 as described above, the rotation is restricted. At this time, since the protrusion 75f of the support frame 75 is located at a position facing the cam portion 719f (the cam portion 719f rotates), the support frame 75 can be moved by the clearance between the protrusion 75f and the cam portion 719f. become.

【００７５】この為、重力Ｇ（図２４（ｂ）参照）の方
向に支持枠７５が落下する事になるが、図２１の矢印７
１９ｉの時点で支持枠７５も制御状態にする為、落下す
る事は無い。For this reason, the support frame 75 falls in the direction of the gravity G (see FIG. 24B).
Since the support frame 75 is also in the control state at the time of 19i, it does not fall.

【００７６】支持枠７５は非制御時はロックリング７１
９の内周で拘束されているが、実際には突起７５ｆと内
周壁７１９ｇの嵌合ガタ分だけガタを有する。即ち、こ
のガタ分だけ支持枠７５は重力Ｇ方向に落ちており、支
持枠７５の中心と地板７１の中心がずれている事にな
る。その為、矢印７１９ｉの時点から例えば１秒費やし
てゆっくり地板７１の中心（光軸の中心）に移動させる
制御をしている。When the support frame 75 is not controlled, the lock ring 71
9, but actually has a play corresponding to the fitting play between the projection 75f and the inner peripheral wall 719g. That is, the support frame 75 has dropped in the direction of gravity G by this play, and the center of the support frame 75 and the center of the main plate 71 are shifted. For this reason, control is performed such that, for example, one second is spent from the time of the arrow 719i to slowly move to the center of the main plate 71 (the center of the optical axis).

【００７７】これは急激に中心に移動させると補正レン
ズ７４を通して像の揺れを撮影者が感じて不快である為
であり、この間に露光が行われても、支持枠７５の移動
による像劣化が生じない様にする為である。（例えば１
／８秒で支持枠を５μｍ移動させる） 詳しくは、図２５の矢印７１９ｉ時点での位置検出素子
７８ｐ，７８ｙの出力を記憶し、その値を目標値として
支持枠７５の制御を始め、その後１秒間費やしてあらか
じめ設定した光軸中心の時の目標値に移動してゆく（図
２４の７５ｇ参照）。This is because if the photographer is suddenly moved to the center, the photographer feels the image shake through the correction lens 74 and is uncomfortable. Even if the exposure is performed during this time, the image deterioration due to the movement of the support frame 75 will not occur. This is to prevent it from occurring. (Eg 1
Specifically, the outputs of the position detection elements 78p and 78y at the time point indicated by an arrow 719i in FIG. 25 are stored, and the control of the support frame 75 is started using the values as target values. It spends for a second and moves to the preset target value for the center of the optical axis (see 75g in FIG. 24).

【００７８】ロックリング７１９が回転され（アンロッ
ク状態）た後、振動検出手段からの目標値を基にして
（前述した支持枠７５の中心位置移動動作に重なって）
支持枠７５が駆動され、防振が始まる事になる。After the lock ring 719 is rotated (unlocked state), based on the target value from the vibration detecting means (overlapping the above-mentioned center position moving operation of the support frame 75).
The support frame 75 is driven, and the image stabilization starts.

【００７９】ここで、防振を終わる為に矢印７１９ｊの
時点で防振オフにすると、振動検出回路からの目標値が
補正手段を駆動する駆動回路に入力されなくなり、支持
枠７５は中心位置に制御されて止まる。この時に吸着コ
イル７３０への通電を止める（７３０ｂ）。すると、吸
着ヨーク７２９によるアマーチュア７２４の吸着力が無
くなり、ロックリング７１９はロックバネ７２８により
時計回りに回転され、図２１（ａ）の状態に戻る。この
時、ロックリング７１９はロックゴム７２６に当接して
回転規制される為に回転終了時の該ロックリング７１９
の衝突音は小さく抑えられる。Here, when the image stabilization is turned off at the time of arrow 719j in order to end the image stabilization, the target value from the vibration detection circuit is not input to the drive circuit for driving the correction means, and the support frame 75 is moved to the center position. Stop under control. At this time, the power supply to the attraction coil 730 is stopped (730b). Then, the suction force of the armature 724 by the suction yoke 729 is lost, and the lock ring 719 is rotated clockwise by the lock spring 728 to return to the state of FIG. At this time, the lock ring 719 comes into contact with the lock rubber 726 and its rotation is restricted.
Collision noise can be kept low.

【００８０】その後（例えば２０ｍｓｅｃ後）、駆動回
路への制御を断ち、図２５のタイミングチャートは終了
する。Thereafter (for example, after 20 msec), control of the drive circuit is cut off, and the timing chart of FIG. 25 ends.

【００８１】図２６〜図２８は防振システムの概要を示
すもので、図２６は全体の構成を示すブロック図であ
り、図２７と図２８は、図２６の各回路の詳細を示すブ
ロック図である。更に詳しくは、図２６の上段の各部を
図２７に示し、図２６の下段の各部を図２８に示すと共
に、上段と下段の各部の接続関係の明確化の為、それぞ
れの信号ラインにａ〜ｇの符号を付してある。FIGS. 26 to 28 show the outline of the vibration isolation system. FIG. 26 is a block diagram showing the overall configuration. FIGS. 27 and 28 are block diagrams showing the details of each circuit in FIG. It is. More specifically, FIG. 27 shows each part in the upper part of FIG. 26, and FIG. 28 shows each part in the lower part of FIG. 26. To clarify the connection relationship between the upper part and the lower part, a to The symbol of g is attached.

【００８２】これらの図において、９１は図１５の振動
検出回路８３ｐ，８３ｙに相当する振動検出回路であ
り、振動ジャイロ等の角速度を検出する振れ検出センサ
と該振れ検出センサ出力のＤＣ成分をカットした後に積
分して角変位を得るセンサ出力演算部より構成される。In these figures, reference numeral 91 denotes a vibration detecting circuit corresponding to the vibration detecting circuits 83p and 83y shown in FIG. 15, and a vibration detecting sensor for detecting an angular velocity of a vibration gyro or the like and a DC component of the output of the vibration detecting sensor are cut. And a sensor output calculation unit for integrating to obtain an angular displacement.

【００８３】この振動検出回路９１からの角変位信号は
目標値設定回路９２に入力される。この目標値設定回路
９２は、図２８に示す様に、可変差動増幅器９２ａとサ
ンプルホールド器９２ｂより構成されており、サンプル
ホールド器９２ｂは常にサンプル中の為に可変差動増幅
器９２ａに入力される両信号は常に等しく、その出力は
ゼロである。しかし、後述する遅延回路９３からの出力
にて前記サンプルホールド器９２ｂがホールド状態にな
ると、可変差動増幅器９２ａはその時点をゼロとして連
続的に出力を始める。The angular displacement signal from the vibration detecting circuit 91 is input to a target value setting circuit 92. As shown in FIG. 28, the target value setting circuit 92 includes a variable differential amplifier 92a and a sample-and-hold device 92b. Since the sample-and-hold device 92b is always sampling, it is input to the variable differential amplifier 92a. Are always equal and their output is zero. However, when the sample-and-hold unit 92b enters the hold state with the output from the delay circuit 93, which will be described later, the variable differential amplifier 92a starts outputting continuously with the time being zero.

【００８４】可変差動増幅器９２ａの増幅率は防振敏感
度設定回路９４の出力により可変になっている。何故な
らば、目標値設定回路９２の目標値信号は補正手段９１
０を追従させる目標値（指令信号）であるが、該補正手
段９１０の駆動量に対する像面の補正量（防振敏感度）
はズーム，フォーカス等の焦点変化に基づく光学特性に
より変化するために、その防振敏感度変化を補う為であ
る。The gain of the variable differential amplifier 92a is variable by the output of the image stabilizing sensitivity setting circuit 94. This is because the target value signal of the target value setting circuit 92 is
0 is the target value (command signal) to follow, but the amount of correction of the image plane with respect to the amount of drive of the correcting means 910 (anti-vibration sensitivity)
This is for compensating for the change in the image stabilization sensitivity due to the change due to the optical characteristics based on the focus change such as zoom and focus.

【００８５】従って、防振敏感度設定回路９４は、図２
７に示す様に、ズーム情報出力回路９５からのズーム焦
点距離情報と露光準備回路９６の測距情報に基づくフォ
ーカス焦点距離情報が入力されており、その情報を基に
防振敏感度を演算あるいはその情報を基にあらかじめ設
定した防振敏感度情報を引き出して、目標値設定回路９
２内の可変差動増幅器９２ａの増幅率を変更させる。Therefore, the anti-vibration sensitivity setting circuit 94 is configured as shown in FIG.
As shown in FIG. 7, zoom focal length information from the zoom information output circuit 95 and focus focal length information based on the distance measurement information of the exposure preparation circuit 96 are input, and the anti-shake sensitivity is calculated or calculated based on the information. On the basis of the information, the preset vibration isolation sensitivity information is extracted, and the target value setting circuit 9 is extracted.
2, the amplification factor of the variable differential amplifier 92a is changed.

【００８６】補正駆動回路９７は、図１６のハード基板
７１５上に実装されたＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ，７３２
に相当し、目標値設定回路９２からの目標値が指令信号
として入力される。The correction driving circuit 97 includes ICs 731p, 731y, and 732 mounted on the hard board 715 in FIG.
, And the target value from the target value setting circuit 92 is input as a command signal.

【００８７】補正起動回路９８は、図１６のハード基板
７１５上のＩＣ７３２と補正手段９１０に具備されたコ
イル７６ｐ，７６ｙの接続を制御するスイッチであり、
図２７に示す様に、通常時はスイッチ９８ａを端子９８
ｃに接続させておく事でコイル７６ｐ，７６ｙの各々の
両端を短絡しておき、論理積回路９９の信号が入力され
るとスイッチ９８ａを端子９８ｂに接続し、補正手段９
１０を制御状態（未だ振れ補正は行わないが、コイル７
６ｐ，７６ｙに電力を供給し、位置検出素子７８ｐ，７
８ｙの信号がほぼゼロになる位置に補正手段９１０を安
定させておく）にする。又この時同時に論理積回路９９
の出力信号は係止手段９１４にも入力され、これにより
係止手段９１４は補正手段９１０の係止を解除する。The correction start circuit 98 is a switch for controlling the connection between the IC 732 on the hard board 715 in FIG. 16 and the coils 76p and 76y provided in the correction means 910.
As shown in FIG. 27, normally, the switch 98a is connected to the terminal 98.
c, both ends of each of the coils 76p and 76y are short-circuited. When a signal from the AND circuit 99 is input, the switch 98a is connected to the terminal 98b, and the correcting means 9
10 is in the control state (vibration correction is not yet performed,
6p, 76y, and supplies power to the position detecting elements 78p, 7y.
The correction means 910 is stabilized at a position where the signal of 8y becomes almost zero). At the same time, the AND circuit 99
Is also input to the locking means 914, whereby the locking means 914 releases the locking of the correcting means 910.

【００８８】尚、補正手段９１０はその位置検出素子７
８ｐ，７８ｙの位置信号を補正駆動回路９７に入力し、
前述した様に位置制御を行っている。The correcting means 910 is provided in the position detecting element 7.
The 8p, 78y position signal is input to the correction drive circuit 97,
Position control is performed as described above.

【００８９】論理積回路９９はレリーズ操作部材９１１
の半押しによるＳＷ１信号と防振切換操作部材９１２の
オン信号がそれぞれ入力された時に、その構成要素であ
るアンドゲード９９ａ（図２７参照）が信号を出力す
る。つまり、防振切換操作部材９１２である防振メイン
スイッチを撮影者が操作し、且つレリーズ操作部材９１
１の半押しを行った時に、前記補正手段９１０は係止解
除され、制御状態になる。The logical product circuit 99 includes a release operation member 911
When the SW1 signal and the ON signal of the image stabilization switching operation member 912 are respectively input by half-pressing, the AND gate 99a (see FIG. 27) as a component thereof outputs a signal. That is, the photographer operates the image stabilization main switch which is the image stabilization switching operation member 912, and the release operation member 91
When the half-press of 1 is performed, the correction means 910 is unlocked and enters the control state.

【００９０】レリーズ操作部材９１１の半押しにより発
生するＳＷ１信号は、図２６及び図２７に示す様に、露
光準備回路９６に入力され、これにより測光，測距，レ
ンズ合焦駆動が行われ、ここで得られたフォーカス情報
が防振敏感度設定回路９４に入力される。The SW1 signal generated by half-pressing the release operation member 911 is input to the exposure preparation circuit 96 as shown in FIGS. 26 and 27, whereby photometry, distance measurement, and lens focusing drive are performed. The focus information obtained here is input to the image stabilization sensitivity setting circuit 94.

【００９１】遅延回路９３は論理積回路９９の出力信号
を受けて、例えば１秒後に出力して前述した様に目標値
設定回路９２より目標値信号を出力させる。The delay circuit 93 receives the output signal of the AND circuit 99 and outputs it one second later, for example, and outputs the target value signal from the target value setting circuit 92 as described above.

【００９２】図示していないが、レリーズ操作部材９１
１の半押しにより発生するＳＷ１信号に同期して振動検
出回路９１も起動を始める。そして、前述した様に積分
器等、大時定回路を含むセンサ出力演算は起動から出力
が安定する迄に、ある程度の時間を要する。Although not shown, the release operation member 91
The vibration detection circuit 91 also starts to synchronize with the SW1 signal generated by half-pressing of 1. As described above, the sensor output calculation including the large time constant circuit such as the integrator requires a certain period of time from the start until the output is stabilized.

【００９３】前記遅延回路９３は前記振動検出回路９１
の出力が安定する迄待機した後に、補正手段９１０へ目
標値信号を出力させる役割を演じ、振動検出回路９１の
出力が安定してから防振を始める構成にしている。The delay circuit 93 is connected to the vibration detecting circuit 91.
After waiting for the output to stabilize, it plays a role of outputting the target value signal to the correction means 910, and starts the image stabilization after the output of the vibration detection circuit 91 is stabilized.

【００９４】露光回路９１３はレリーズ操作部材９１１
の押し切り（全押し）操作により発生するＳＷ２信号入
力によりミラーアップを行い、露光準備回路９６の測光
値を基に求められたシャッタスピードでシャッタを開閉
して露光を行い、ミラーダウンして撮影を終了する。The exposure circuit 913 includes a release operation member 911
The mirror is raised by the SW2 signal input generated by the push-off (full-press) operation, the shutter is opened and closed at the shutter speed determined based on the photometry value of the exposure preparation circuit 96, and the exposure is performed. finish.

【００９５】撮影終了後、撮影者がレリーズ操作部材９
１１から手を離し、ＳＷ１信号をオフにすると、論理積
回路９９は出力を止め、目標値設定回路９２のサンプル
ホールド回路９２ｂはサンプリング状態になり、可変差
動増幅器９２ａの出力はゼロになる。従って、補正手段
９１０は補正駆動を止めた制御状態に戻る。After the photographing, the photographer operates the release operation member 9
When the switch 11 is released and the SW1 signal is turned off, the AND circuit 99 stops outputting, the sample and hold circuit 92b of the target value setting circuit 92 enters a sampling state, and the output of the variable differential amplifier 92a becomes zero. Therefore, the correction unit 910 returns to the control state in which the correction driving is stopped.

【００９６】論理積回路９９の出力がオフになった事に
より、係止手段９１４は補正手段９１０を係止し、その
後に補正起動回路９８のスイッチ９８ａは端子９８ｃに
接続され、補正手段９１０は制御されなくなる。When the output of the AND circuit 99 is turned off, the locking means 914 locks the correcting means 910. Thereafter, the switch 98a of the correction starting circuit 98 is connected to the terminal 98c, and the correcting means 910 is turned off. You lose control.

【００９７】振動検出回路９１は、不図示のタイマによ
り、レリーズ操作部材９１１の操作が停止された後も一
定時間（例えば５秒）は動作を継続し、その後に停止す
る。これは、撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き
続きレリーズ操作を行う事は頻繁にあるわけで、その様
な時に毎回振動検出回路９１を起動するのを防ぎ、その
出力安定迄の待機時間を短くする為であり、振動検出回
路９１が既に起動している時には該振動検出回路９１は
起動既信号を遅延回路９３に送り、その遅延時間を短く
している。The vibration detection circuit 91 continues to operate for a certain time (for example, 5 seconds) even after the operation of the release operation member 911 is stopped by a timer (not shown), and then stops. This is because the photographer frequently performs the release operation after the release operation is stopped, so that the vibration detection circuit 91 is not activated every time in such a case, and the waiting time until the output stabilizes is shortened. When the vibration detection circuit 91 has already started, the vibration detection circuit 91 sends a start-up signal to the delay circuit 93 to shorten the delay time.

【００９８】図２９は、上記の動作をマイクロコンピュ
ータにより処理した場合の一連の動作を示すフローチャ
ートであり、以下これに従って簡単に説明する。FIG. 29 is a flowchart showing a series of operations when the above operations are processed by the microcomputer, and will be briefly described below.

【００９９】カメラに電源が投入されると、マイクロコ
ンピュータは、まず防振スイッチの状態を調べ、オンで
あれば次にレリーズ操作部材９１１の半押しによりＳＷ
１信号が発生しているか否かを判別する（＃５００１→
＃５００２）。ＳＷ１信号が発生していれば、内部タイ
マをスタートさせ（＃５００３）、次に測光，測距、振
れ検出の開始、更には補正手段９１０による防振制御を
可能にする為にその係止解除を行う（＃５００４）。When the power is turned on to the camera, the microcomputer first checks the state of the anti-vibration switch.
It is determined whether or not one signal is generated (# 5001 →
# 5002). If the SW1 signal has been generated, the internal timer is started (# 5003), then the photometry, the distance measurement, the start of the shake detection, and the release of the lock to enable the anti-shake control by the correction means 910 are performed. Is performed (# 5004).

【０１００】次に、上記タイマでの計時内容が所定の時
間ｔ１に達したか否かを調べ、達していなければ達する
までこのステップに留まる（＃５００５）。これは、前
述した様にセンサ出力が安定するまでの時間待機する為
の処理である。その後、所定の時間ｔ１が経過すると、
目標値信号に基づいて補正手段９１０を駆動し、防振制
御を開始する（＃５００６）。Next, it is checked whether or not the content of the time counted by the timer has reached a predetermined time t1, and if not, the process remains at this step until it reaches (# 5005). This is a process for waiting for a time until the sensor output is stabilized as described above. Thereafter, when a predetermined time t1 elapses,
The correcting unit 910 is driven based on the target value signal to start the image stabilization control (# 5006).

【０１０１】次に、レリーズ操作部材９１１の押し切り
によりＳＷ２信号が発生しているか否かを調べ（＃５０
０７）、発生していなければ再びＳＷ１信号が発生して
いるか否かの判別を行い、もしＳＷ１信号も発生してい
なければ（＃５００８のＮＯ）、防振制御を停止すると
共に、補正手段９１０を所定の位置に係止する（＃５０
１１→＃５０１２）。Next, it is checked whether or not the SW2 signal is generated by pushing and releasing the release operation member 911 (# 50).
07) If it has not occurred, it is determined again whether or not the SW1 signal has been generated. If the SW1 signal has not been generated (NO in # 5008), the image stabilization control is stopped and the correction means 910 is set. At a predetermined position (# 50
11 → # 5012).

【０１０２】また、ＳＷ２信号は発生していないが、Ｓ
Ｗ１信号は発生していれば、ステップ＃５００７→＃５
００８→＃５００７……の動作を繰り返す。この状態時
にレリース回路９１１の押し切り操作が為されてＳＷ２
信号が発生すると（＃５００７のＹＥＳ）、フィルムへ
の露光動作を行う（＃５００９）。そして、ＳＷ１信号
の状態を調べ（＃５０１０）、該ＳＷ１信号が発生しな
くなったら防振制御を停止すると共に、補正手段９１０
を所定の位置に係止する（＃５０１１→＃５０１２）。Although no SW2 signal is generated,
If the W1 signal has been generated, step # 5007 → # 5
008 → # 5007... Are repeated. In this state, the release circuit 911 is pushed and turned off, and the switch SW2 is pressed.
When a signal is generated (YES in # 5007), the film is exposed (# 5009). Then, the state of the SW1 signal is checked (# 5010). When the SW1 signal is no longer generated, the image stabilization control is stopped, and the correction means 910 is set.
Is locked in a predetermined position (# 5011 → # 5012).

【０１０３】以上の動作を終了すると、次に上記タイマ
を一旦リセットして再度スタートさせ（＃５０１３）、
再びＳＷ１信号が所定時間内（ここでは５秒以内）に発
生するかどうかの判別を行う（＃５０１４→＃５０１５
→＃５０１４……）。もし防振を停止してから５秒以内
に再度ＳＷ１信号が発生したならば（＃５０１５のＹＥ
Ｓ）、測光，測距動作及び補正手段９１０の係止解除を
行い（＃５０１６）、振れ検出はそのまま継続されてい
るので、直ちに目標値信号に基づいて補正手段９１０の
駆動制御を行い（＃５００６）、以下前述と同様の動作
を繰り返す。When the above operation is completed, the timer is reset once and restarted (# 5013).
It is determined again whether the SW1 signal is generated within a predetermined time (here, within 5 seconds) (# 5014 → # 5015).
→ # 5014 ...). If the SW1 signal is generated again within 5 seconds after stopping the image stabilization (YE in # 5015)
S), the photometry, the distance measurement operation, and the unlocking of the correcting means 910 are performed (# 5016). Since the shake detection is continued as it is, the drive control of the correcting means 910 is immediately performed based on the target value signal (# 50). 5006) Then, the same operation as described above is repeated.

【０１０４】つまり、この様な処理をすることにより、
前述した様に撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き
続きレリーズ操作をした際に、その度に振動検出回路９
１を起動してその出力安定迄待機するといった不都合を
無くすことが可能になる。That is, by performing such processing,
As described above, when the photographer stops the release operation and subsequently performs the release operation, the vibration detection circuit 9
This makes it possible to eliminate the inconvenience of starting the device 1 and waiting for its output to stabilize.

【０１０５】一方、防振を停止してから５秒以内にＳＷ
１信号が発生しなかった場合は（＃５０１４のＹＥ
Ｓ）、振れ検出を停止（振動検出回路９１の駆動を停
止）する（＃５０１７）。その後はステップ＃５００１
に戻り、防振スイッチのオン待機の状態に入る。On the other hand, within 5 seconds after stopping the image stabilization,
When one signal is not generated (YE of # 5014)
S), the shake detection is stopped (the drive of the vibration detection circuit 91 is stopped) (# 5017). After that, step # 5001
To return to the state of waiting for the anti-vibration switch to turn on.

【０１０６】[0106]

【発明が解決しようとする課題】以上説明した防振シス
テムにおいて、補正手段の振れ補正駆動は高い精度で行
う必要があり、その為に前述した様に補正手段の位置を
検出する位置検出手段の出力を基に、該補正手段の位置
制御を行う手法を用いている。勿論、位置検出手段の検
出精度も高精度を求められており、図１６の従来例にお
いては位置検出手段の構成要素の一つである位置検出素
子７８ｐ，７８ｙとして、ＰＳＤを用いている。このＰ
ＳＤは長い検出範囲を高精度に（直線性良く）検出可能
であり、前述した様に入射投光量の総和を制御する事
で、固体差や温度、経時的な感度のバラツキを抑えるこ
とが出来る。In the anti-vibration system described above, it is necessary to perform the shake correction driving of the correcting means with high accuracy. For this reason, as described above, the position detecting means for detecting the position of the correcting means is required. A method of controlling the position of the correction means based on the output is used. Of course, the detection accuracy of the position detecting means is also required to be high accuracy. In the conventional example of FIG. 16, PSD is used as the position detecting elements 78p and 78y which are one of the components of the position detecting means. This P
SD can detect a long detection range with high accuracy (with good linearity), and by controlling the total amount of incident light as described above, it is possible to suppress variations in individual differences, temperature, and sensitivity over time. .

【０１０７】しかしながら、パッケージングそのものが
大きい事、投光素子（ＩＲＥＤ）７７ｐ，７７ｙが別に
対向して必要な事から、位置検出手段としては大型とな
ってしまい、補正光学装置上の配置設計自由度が少な
く、該補正光学装置をコンパクトに出来ないという問題
があった。However, since the packaging itself is large and the light emitting elements (IREDs) 77p and 77y need to be separately opposed to each other, the position detecting means becomes large, and the layout design on the correction optical device is free. There is a problem that the correction optical device cannot be made compact because of its low degree.

【０１０８】（発明の目的）本発明の目的は、装置全体
をコンパク化すると共に、精度の低い小型の位置検出手
段を用いても、位置検出精度を向上させることのできる
補正手段用位置制御装置を提供しようとするものであ
る。(Object of the Invention) It is an object of the present invention to provide a position control device for a correction means capable of improving the position detection accuracy by using a compact position detection means having a low accuracy while making the whole apparatus compact. It is intended to provide.

【０１０９】[0109]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１〜５及び９記載の本発明は、振れを補正す
る振れ補正手段の位置を検出する第１の位置検出手段
と、該第１の位置検出手段の出力を基に前記補正手段を
位置制御を行う制御手段と、前記補正手段の位置を検出
する第２の位置検出手段と、該第２の位置検出手段の出
力を基に前記第１の位置検出手段の出力を較正する較正
手段とを有した補正手段用位置制御装置とするものであ
る。To achieve the above object, according to the present invention, there is provided a first position detecting means for detecting a position of a shake correcting means for correcting a shake, Control means for controlling the position of the correcting means based on the output of the first position detecting means; second position detecting means for detecting the position of the correcting means; and output of the second position detecting means. And a calibration means for calibrating the output of the first position detection means.

【０１１０】上記構成においては、第１及び第２の位置
検出手段として、小型のフォトリフレクタを用い、該フ
トリフレクタの精度の低さを、第２の位置検出手段の出
力を基に第１の位置検出手段の出力を較正（感度、出力
の直線性、絶対位置出力を補正）することで、高めるよ
うにしている。In the above arrangement, a small photo reflector is used as the first and second position detecting means, and the low accuracy of the foot reflector is determined based on the output of the second position detecting means. The output of the position detecting means is increased by calibrating (correcting the sensitivity, the linearity of the output, and the absolute position output).

【０１１１】同じく上記目的を達成するために、請求項
６及び９記載の本発明は、振れを補正する補正手段と、
該補正手段の位置変位に対しアナログ出力する第１の位
置検出手段と、前記補正手段の位置変位に対しパルス状
の出力をする第２の位置検出手段と、前記第１の位置検
出手段と前記第２の位置検出手段の出力を基に前記補正
手段の位置制御を行う制御手段とを有した補正手段用位
置制御装置とするものである。In order to achieve the above object, the present invention according to claims 6 and 9 comprises a correcting means for correcting shake,
A first position detecting means for outputting an analog signal with respect to the position displacement of the correcting means, a second position detecting means for outputting a pulse-shaped signal for the position displacement of the correcting means, the first position detecting means, And a control means for controlling the position of the correction means based on the output of the second position detection means.

【０１１２】同じく上記目的を達成するために、請求項
７及び１０記載の本発明は、異なる第１と第２の方向に
独立に駆動される事で振れを補正する補正手段と、該補
正手段に設けられた格子状パターンと、該格子状パター
ンに応答するパルス信号を出力する位置検出手段とを有
し、前記位置検出手段のパルス出力を計測することで、
前記補正手段の前記第１と第２の方向の位置を検出する
補正手段用位置制御装置とするものである。According to another aspect of the present invention, there is provided a correcting means for correcting a shake by being driven independently in different first and second directions, and the correcting means. Has a lattice pattern provided in, and position detection means for outputting a pulse signal responsive to the lattice pattern, by measuring the pulse output of the position detection means,
According to another aspect of the present invention, there is provided a position control device for a correction unit that detects a position of the correction unit in the first and second directions.

【０１１３】同じく上記目的を達成するために、請求項
８及び９記載の本発明は、異なる第１と第２の方向に独
立に駆動される事で振れを補正する補正手段と、該補正
手段の前記第１の方向の位置を検出する第１の位置検出
手段と、前記補正手段の前記第２の方向の位置を検出す
る第２の位置検出手段と、前記補正手段が一方の方向に
駆動される際に、前記第２の位置検出手段の出力によっ
て前記第１の位置検出手段の出力を較正する第１の較正
手段と、前記補正手段が他の方向に駆動される際に、前
記第１の位置検出手段の出力により前記第２の位置検出
手段の出力を較正する第２の較正手段とを有した補正手
段用位置制御装置とするものである。In order to achieve the above object, the present invention according to claims 8 and 9 comprises a correcting means for correcting a shake by being independently driven in different first and second directions, and the correcting means. First position detecting means for detecting the position in the first direction, second position detecting means for detecting the position in the second direction of the correcting means, and the correcting means being driven in one direction. The first calibration means for calibrating the output of the first position detection means with the output of the second position detection means, and the second correction means, when the correction means is driven in another direction. A second control means for calibrating the output of the second position detection means based on the output of the first position detection means.

【０１１４】[0114]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail based on illustrated embodiments.

【０１１５】図１〜図３は、本発明の実施の第１の形態
に係る、防振システムに用いられる補正光学装置の構造
を示す図であり、詳しくは、図１は補正光学装置の平面
図（図１５の鏡筒８２の物体側から見た図）、図２
（ａ）は図１の矢印Ａの方向より見た側面図、図１
（ｂ），（ｃ）は各々図１のＤ１−Ｄ１，Ｄ２−Ｄ２断
面図、図３は図１の裏面図である。FIGS. 1 to 3 are views showing the structure of a correction optical device used in a vibration control system according to a first embodiment of the present invention. More specifically, FIG. 1 is a plan view of the correction optical device. FIG. 2 (view from the object side of the lens barrel 82 in FIG. 15), FIG.
(A) is a side view seen from the direction of arrow A in FIG.
(B) and (c) are sectional views taken along lines D1-D1 and D2-D2 of FIG. 1, and FIG. 3 is a rear view of FIG.

【０１１６】これらの図において、１１ａは地板１１に
３ケ所に等分に設けられた嵌合枠であり、図１５の鏡筒
８２の内周に嵌合し、両者を孔１１ｂ（図２（ｂ）参
照）を利用して結合させている。地板１１にはボビンに
巻かれたシフトコイル１２ｐ，１２ｙ（図２（ａ），
（ｂ）参照）が固定され、又ロックコイル１３が巻かれ
たステータ１４が固定されている。In these figures, reference numeral 11a denotes a fitting frame provided at three places on the base plate 11 and is fitted to the inner periphery of the lens barrel 82 in FIG. 15 and both holes 11b (FIG. b)). The base plate 11 has shift coils 12p and 12y wound on a bobbin (FIG. 2A,
(See (b)), and the stator 14 around which the lock coil 13 is wound is fixed.

【０１１７】ロータ１５はその軸まわりに回転可能に地
板１１に取り付けられ、該ロータ１５、ステータ１４及
びロックコイル１３により、公知のステップモータを構
成している。The rotor 15 is attached to the base plate 11 so as to be rotatable around its axis. The rotor 15, the stator 14 and the lock coil 13 constitute a known step motor.

【０１１８】地板１１にはその外周側面の３ケ所に等分
の長孔１１ｃ（図２（ａ），（ｃ）にのみ図示し、図１
ではその位置を矢印で示している）が設けられている。
また、地板１１の裏面には図３に示す様に、ロックリン
グ１６が矢印１８ｒまわりに回転可能に取り付けられて
おり、ロータ１５のピニオン１５ａと歯車１６ｂが噛み
合って、該ロックリング１６はステップモータにより矢
印１８ｒまわりに駆動される。The base plate 11 has equally long slots 11c at three locations on the outer peripheral side surface (only shown in FIGS. 2 (a) and 2 (c), and FIG. 1).
The position is indicated by an arrow).
As shown in FIG. 3, a lock ring 16 is attached to the back surface of the main plate 11 so as to be rotatable around an arrow 18r. A pinion 15a of the rotor 15 meshes with a gear 16b. Is driven around the arrow 18r.

【０１１９】補正レンズ（図示しない）を保持する支持
枠１７には外周放射方向に３等分に延出する支持軸１７
ａを有しており、その先端部が地板１１の長孔１１ｃと
嵌合している。この３ケ所の嵌合部は、図２（ａ）の長
孔１１ｃ、支持軸１７ａの関係と同一であり、この図か
ら明らかな様に、各々の関係は光軸１０の方向には固定
され、光軸１０と直角な方向には互いに摺動可能になっ
ている（孔１１ｃが長孔の為）。A support frame 17 that holds a correction lens (not shown) has a support shaft 17 that extends into three equal parts in the radial direction of the outer periphery.
a of which is fitted into the long hole 11 c of the main plate 11. These three fitting portions are the same as the relationship between the elongated hole 11c and the support shaft 17a in FIG. 2A, and as is apparent from this drawing, each relationship is fixed in the direction of the optical axis 10. Are slidable in a direction perpendicular to the optical axis 10 (since the hole 11c is a long hole).

【０１２０】すなわち、支持枠１７は地板１１に対し光
軸方向には移動規制されるが、その垂直な平面内におい
ては自由に動くことができる。この動く方向を分解する
と、矢印１８ｐの方向（ピッチ方向）、矢印１８ｙの方
向（ヨー方向）、矢印１８ｒの方向（ロール方向）に分
けられる。That is, the support frame 17 is restricted from moving in the optical axis direction with respect to the base plate 11, but can freely move in a vertical plane. When this moving direction is disassembled, it is divided into the direction of arrow 18p (pitch direction), the direction of arrow 18y (yaw direction), and the direction of arrow 18r (roll direction).

【０１２１】支持枠１７のピン１７ａと地板１１のピン
１１ｂの間には対の引っ張りバネ１９が掛けられてお
り、支持枠１７を両側から引っ張っている。また、支持
枠１７にはシフトマグネット１１０が吸着されたシフト
ヨーク１１１が取り付けられており、地板１１上のシフ
トコイル１２ｐ，１２ｙと対向している。そして、両者
の関連により、シフトコイル１２ｐに電流を流すと、支
持枠１７は矢印１８ｐの方向に引っ張りバネ１９の弾性
力に逆らって駆動され、シフトコイル１２ｙに電流を流
すと、同様に支持枠１７は引っ張りバネ１９の弾性力に
逆らって矢印１８ｙの方向に駆動される。矢印１８ｒの
方向には回転力は生じない事、及び、支持枠１７は引っ
張りバネ１９により両側から引っ張られている事によっ
てこの方向に弾性的に回転規制されている為、支持枠１
７がこの方向に回転する事は無い。A pair of tension springs 19 is hung between the pins 17a of the support frame 17 and the pins 11b of the base plate 11, and pulls the support frame 17 from both sides. A shift yoke 111 on which a shift magnet 110 is attracted is attached to the support frame 17 and faces the shift coils 12p and 12y on the base plate 11. When a current flows through the shift coil 12p, the support frame 17 is driven against the elastic force of the tension spring 19 in the direction of the arrow 18p, and a current flows through the shift coil 12y. 17 is driven in the direction of arrow 18y against the elastic force of the extension spring 19. Since no rotational force is generated in the direction of the arrow 18r and the support frame 17 is elastically restricted in this direction by being pulled from both sides by the tension spring 19, the support frame 1 is restricted.
7 does not rotate in this direction.

【０１２２】今、カメラ振れ検出手段の情報に基づき支
持枠１７を矢印１８ｐ，１８ｙの方向に駆動すると（シ
フトコイル１２ｐ，１２ｙに通電して）、前述した様に
像面の安定化が図れる訳であるが、防振システムを使用
していない時には支持枠１７が地板１１に対し不動にし
ておく必要がある。何故ならば、携帯時等の外乱振動に
より支持枠１７が揺れ、地板１１との間で衝撃音が発生
する事、及び、それによる破損を避ける為である。Now, when the support frame 17 is driven in the directions of arrows 18p and 18y based on information from the camera shake detecting means (by energizing the shift coils 12p and 12y), the image plane can be stabilized as described above. However, when the anti-vibration system is not used, the support frame 17 needs to be immovable with respect to the main plate 11. This is to prevent the support frame 17 from swinging due to disturbance vibrations when the mobile phone is carried, generating an impact sound between the support frame 17 and the ground plate 11, and to avoid damage due to the impact noise.

【０１２３】図３においては、支持枠１７の４ケ所の突
起１７ｅはロックリング１６の内周壁１６ａと当接して
いる。故に支持枠１７は矢印１８ｐ，１８ｙの方向の移
動は規制されている（防振システムを使用しない時）。In FIG. 3, the four projections 17 e of the support frame 17 are in contact with the inner peripheral wall 16 a of the lock ring 16. Therefore, the movement of the support frame 17 in the directions of the arrows 18p and 18y is restricted (when the anti-vibration system is not used).

【０１２４】一方、防振システムを使用する時は、ステ
ップモータによりロックリング１６を図３の時計回りに
回転させる。すると、突起１７ｅと対向する面はカム部
１６ｃとなり互いに当接が離れる。よって、支持枠１７
はロックリング１６に対しフリーになり、矢印１８ｐ，
１８ｙ方向に駆動可能となる。On the other hand, when using the anti-vibration system, the lock ring 16 is rotated clockwise in FIG. 3 by the step motor. Then, the surface facing the projection 17e becomes the cam portion 16c, and the contact is separated from each other. Therefore, the support frame 17
Becomes free with respect to the lock ring 16, and arrows 18p,
It becomes possible to drive in the 18y direction.

【０１２５】以上説明した補正光学装置を要素別にまと
めると、以下の様になる。The correction optical device described above can be summarized as follows for each element.

【０１２６】・支持手段……地板１１、シフトコイル１
２ｐ，１２ｙ、引っ張りバネ１９ ・補正手段……支持枠１７、シフトマグネット１１０、
シフトヨーク１１１、補正レンズ ・係止手段……ロックリング１６ ・係止手段を駆動する駆動手段……ロックコイル１３、
ステータ１４、ロータ１５ 図１６〜図２１の従来例においては、補正手段は位置検
出素子７８ｐ，７８ｙにより位置制御駆動され、駆動精
度を保っているが、本実施の形態においても同様な構成
が取られている。Support means: base plate 11, shift coil 1
2p, 12y, tension spring 19 · Correction means ··· support frame 17, shift magnet 110,
Shift yoke 111, correction lens Locking means Lock ring 16 Driving means for driving locking means Lock coil 13,
Stator 14 and rotor 15 In the conventional examples shown in FIGS. 16 to 21, the correcting means is position-controlled and driven by the position detecting elements 78p and 78y to maintain the driving accuracy. However, the same configuration is adopted in the present embodiment. Have been.

【０１２７】図１において、ヨーク１１１の上にはター
ゲット１１２が設けられている。このターゲット１１２
は、明パターン１１２ａ，暗パターン１１２ｂ、パルス
パターン１１２ｃにより構成されており、明パターン１
１２ａ，暗パターン１１２ｂの境界部に対向して第１の
位置検出手段であるところのフォトリフレクタ１１３ｐ
ａ，１１３ｙａが、パルスタターン１１２ｃに対向して
第２の位置検出手段であるところのフォトリフレクタ１
１３ｐｂ，１１３ｙｂが、それぞれ設けられている。In FIG. 1, a target 112 is provided on a yoke 111. This target 112
Is composed of a bright pattern 112a, a dark pattern 112b, and a pulse pattern 112c.
12a and a photoreflector 113p which is a first position detecting means facing the boundary between the dark patterns 112b.
a, 113ya, which is the second position detecting means facing the pulse pattern 112c;
13pb and 113yb are provided, respectively.

【０１２８】各々のフォトリフレクタは、図２（ｂ）に
示す様に、ターゲット１１２から適切な距離が保たれ、
基板１１４（図２（ｂ）にのみ図示している）に設けら
れている。フォトリフレクタは自ら投光して、その反射
光の強弱を検出するセンサであり、従来例のＰＳＤ，Ｉ
ＲＥＤの様に２素子を対向して設け、且つ、支持枠にス
リットを設けなくてはならないのに比べ、配置の自由度
が大幅に広がり、装置全体を小さく出来、又、素子その
ものも小さいと云うメリットを持つが、その感度の固体
差のバラツキが大きく、リニアリティ（出力の直線性）
も悪い為に精密駆動制御用には今迄用いられる事は無か
った。Each photoreflector is kept at an appropriate distance from the target 112 as shown in FIG.
It is provided on a substrate 114 (only shown in FIG. 2B). The photoreflector is a sensor that emits light by itself and detects the intensity of the reflected light.
Compared to providing two elements facing each other like a RED and providing a slit in the support frame, the degree of freedom of arrangement is greatly expanded, the whole device can be made smaller, and if the element itself is small, Although it has the advantage described above, there is a large variation in its sensitivity, and linearity (linearity of output)
However, it has not been used for precision drive control.

【０１２９】図１及び図２（ｂ）に示す配置において、
支持枠１７を矢印１８ｐの方向に駆動した時のフォトリ
フレクタ１１３ｐａの出力は図４に示す様になり、実際
にリニアリティが精度よく得られているのはｘ₁ の範囲
だけであり、それ以上支持枠１７が変化すると出力が変
化していく。又、変位に対する出力も実線１１５ａ、破
線１１５ｂの様に固体差を有している。これに対し、フ
ォトリフレクタ１１３ｐｂの出力は、図５に示す様に、
変位に対しパルス状の出力１１６をする。勿論このパル
ス出力の高さも固体差は有るが、一定のしきい値１１７
に対して出力を比較して用いる場合にはこの固体差は問
題とはならない。すなわち、フォトリフレクタ１１３ｐ
ｂは補正手段の駆動位置に忠実に対応してパルス出力を
行う。In the arrangement shown in FIGS. 1 and 2B,
The output of the photo reflector 113pa when driving the support frame 17 in the direction of the arrow 18p becomes as shown in FIG. 4, only the range of x ₁ is the actually obtained good linearity accuracy, more support When the frame 17 changes, the output changes. Also, the output with respect to the displacement has individual differences as indicated by the solid line 115a and the broken line 115b. On the other hand, the output of the photo reflector 113pb is, as shown in FIG.
A pulse-like output 116 is generated for the displacement. Of course, the height of this pulse output also varies depending on the individual,
This difference is not a problem when the outputs are compared with each other. That is, the photoreflector 113p
b outputs a pulse faithfully corresponding to the drive position of the correction means.

【０１３０】しかしながら、この出力では補正手段の駆
動方向が解らない為（パルス出力の為）、このまま該出
力のみで補正手段の制御を行う事は出来ない。逆にフォ
トリフレクタ１１３ｐａは位置出力の精度は低いが、補
正手段が駆動されている方向が解る為（アナログ出力の
為）、こちらの方が補正手段の制御に向いている。However, since the driving direction of the correction means is not known from this output (because of the pulse output), it is not possible to control the correction means only with the output. On the other hand, although the accuracy of the position output of the photoreflector 113pa is low, since the direction in which the correction means is driven is known (because of analog output), this is more suitable for controlling the correction means.

【０１３１】そこで、フォトリフレクタ１１３ｐｂのパ
ルス出力を基に、フォトリフレクタ１１３ｐａの出力を
較正して、位置検出精度を高める事を考える。Therefore, it is considered that the output of the photoreflector 113pa is calibrated based on the pulse output of the photoreflector 113pb to improve the position detection accuracy.

【０１３２】図６は較正方法を説明するブロック図であ
り、破線で囲まれているブロックが第１の位置検出手段
（フォトリフレクタ１１３ｐａ）の出力を較正する較正
手段を構成している。フォトリフレクタ１１３ｐｂ（第
２の位置検出手段）の出力はしきい値１１７を基にコン
パレータ１１８で２値化され、パルス計測回路１１９で
補正手段の駆動に伴う出力パルス数を計測される。FIG. 6 is a block diagram for explaining the calibration method. Blocks surrounded by broken lines constitute calibration means for calibrating the output of the first position detecting means (photoreflector 113pa). The output of the photoreflector 113pb (second position detecting means) is binarized by the comparator 118 based on the threshold value 117, and the pulse measuring circuit 119 measures the number of output pulses accompanying the driving of the correcting means.

【０１３３】尚、パルス計測回路１１９には方向判別回
路（フォトリフレクタ１１３ｐａの出力を基に補正手段
の駆動している方向を判別する為の回路）１２１の信号
も入力している。The pulse measuring circuit 119 also receives a signal from a direction discriminating circuit (a circuit for discriminating the driving direction of the correction means based on the output of the photoreflector 113pa) 121.

【０１３４】前述した様に補正手段は振れ補正を行うま
では補正中心にロックされている。そして、振れ補正開
始時にロック位置におけるフォトリフレクタ１１３ｐ
ａ，１１３ｙａの出力を基に該補正手段を位置制御しつ
つ、ロックを解除し、その後振れ補正を始める訳である
が、ロック位置におけるパルスカウントをゼロにして方
向判別回路１２１の出力を基にパルス計測回路１１９は
発生パルスを加算或いは減算して現在の位置を確認して
いる。方向判別回路１２１の出力信号は発生したパルス
を加算すべきか、或いは減算すべきかの判断に用いられ
る。As described above, the correction means is locked at the correction center until the shake correction is performed. Then, at the start of the shake correction, the photo reflector 113p at the lock position is set.
a, while releasing the lock while controlling the position of the correcting means based on the outputs of 113a and 113ya, and then starting the shake correction. The pulse measurement circuit 119 confirms the current position by adding or subtracting the generated pulses. The output signal of the direction discriminating circuit 121 is used to determine whether the generated pulse should be added or subtracted.

【０１３５】パルスがアップ、又は、ダウンする度にそ
の信号は較正出力発生回路１２０に入力される。この較
正出力発生回路１２０内には、補正手段の位置ｘ₁ ，ｘ
₂ ，……，ｘ_n に応じてフォトリフレクタ１１３ｐａが
理想とすべき出力Ｖ₀₁，Ｖ₀₂，……，Ｖ_0nが記憶されて
おり、パルスの変化毎にその位置ｘ_k に対応する理想出
力Ｖ_0kを出力する。Each time the pulse goes up or down, the signal is input to the calibration output generation circuit 120. In the calibration output generation circuit 120, the positions x ₁ , x
_2, ..., output V _01, V ₀₂ to be photo-reflector 113pa is ideal according to x _n, ..., V _0n is stored, ideal output corresponding to the position x _k for each pulse changes in Output _V0k .

【０１３６】この補正手段が位置ｘ_k の時、フォトリフ
レクタ１１３ｐａ（第１の位置検出手段）は固体差やリ
ニアリティ（出力の直線性）の悪化した出力Ｖ_k を出力
しており、除算回路１２２は「Ｖ_0k／Ｖ_k 」の演算結果
を求める。そして、この出力は増幅率可変回路１２３に
てフォトリフレクタ１１３ｐａの出力と乗算される。そ
の為に増幅率可変回路１２３の補正手段の変位に対する
出力は、図７に示す様に、固体差，リニアリティが補正
される。When the correcting means is at the position x _k , the photoreflector 113pa (first position detecting means) outputs the output V _k with the individual difference and the linearity (linearity of the output) deteriorated. Calculates the calculation result of “V _0k / V _k ”. This output is multiplied by the output of the photoreflector 113pa in the variable amplification factor circuit 123. Therefore, the output of the variable amplification factor circuit 123 with respect to the displacement of the correction means is corrected for individual differences and linearity as shown in FIG.

【０１３７】この様に振れ補正前の出力１１５ａに比
べ、振れ補正後の出力１２６はパルス出力に応じて若干
の階段状になっているが、固体差，リニアリティも補正
出来る。そして、この出力と目標値発生回路（振れ検出
センサからの振れ補正目標値を出力する回路）１２６の
出力の差を差動回路１２４で求め（振れ補正誤差）、そ
の出力に応じた電流をコイル駆動回路１２５を介してコ
イル１２ｐに流せば、補正手段は精度良く振れ補正を行
う事が可能となる。勿論、図１の矢印１８ｙの方向の駆
動（フォトリフレクタ１１３ｙａ，１１３ｙｂ，コイル
１２ｙ）に対しても、図６と同様な構成になっている。As described above, the output 126 after the shake correction is slightly stepped according to the pulse output as compared with the output 115a before the shake correction, but the individual difference and the linearity can also be corrected. The difference between this output and the output of a target value generating circuit (a circuit for outputting a shake correction target value from a shake detection sensor) 126 is obtained by a differential circuit 124 (a shake correction error), and a current corresponding to the output is obtained by a coil. If the current flows through the coil 12p via the drive circuit 125, the correction means can accurately perform the shake correction. Of course, the driving (photoreflectors 113ya, 113yb, coil 12y) in the direction of arrow 18y in FIG. 1 has the same configuration as in FIG.

【０１３８】この様に第２の位置検出手段のパルス計測
で補正手段の位置を精度良く求め、その出力でアナログ
出力の第１の位置検出手段の出力を較正する事で、高精
度な補正光学装置をコンパクトにまとめる事が出来る。As described above, the position of the correcting means is accurately obtained by the pulse measurement of the second position detecting means, and the output of the correcting means is used to calibrate the analog output of the first position detecting means. Equipment can be compacted.

【０１３９】（実施の第２の形態）上記実施の第１の形
態においては、第２の位置検出手段の出力で第１の位置
検出手段の出力を較正しつつ、振れ補正を行っていた。
すなわち、振れ補正を行っている間に較正手段を動作さ
せている。しかしながら、較正手段の動作はこの様に振
れ補正中に行う場合ばかりでなく、振れ補正に先だって
行うようにしても良い。例えば、カメラのメインスイッ
チがオンされた時、或いは、防振スイッチがオンされた
時に、較正手段を動作させて第１の位置検出手段の出力
を較正し、その後に振れ補正を行えば良い。(Second Embodiment) In the first embodiment, the shake correction is performed while the output of the first position detecting means is calibrated with the output of the second position detecting means.
That is, the calibration unit is operated during the shake correction. However, the operation of the calibrating means may be performed not only during the shake correction as described above, but also before the shake correction. For example, when the main switch of the camera is turned on or when the image stabilization switch is turned on, the output of the first position detecting means may be calibrated by operating the calibrating means, and then the shake correction may be performed.

【０１４０】図８は本発明の実施の第２の形態に係るブ
ロック図であり、上記実施の第１の形態における図６と
同一符号のブロックは同じ機能のブロックである為、こ
こではその説明は省く。また、その他の構成は実施の第
１の形態と同様であるものとする。FIG. 8 is a block diagram according to the second embodiment of the present invention. Blocks having the same reference numerals as those in FIG. 6 in the first embodiment are blocks having the same functions. Omitted. Other configurations are the same as those in the first embodiment.

【０１４１】図８において、フォトリフレクタ１１３ｐ
ａの出力はパルス計測回路１１９から新たなパルスが出
力される毎に感度較正回路２１にてサンプリングされ
る。そして、感度較正回路２１では、入力パルスに対応
するフォトリフレクタ１１３ｐａの出力差「Ｖ_K −Ｖ
_K-1 」（Ｖ_K-1 は補正手段の変位ｘ_K-1 に対応するパル
ス出力時にサンプリングしたフォトリフレクタ１１３ｐ
ａ出力、同様にＶ_K は変位ｘ_K に対応する出力）を求め
る構成になっている。In FIG. 8, the photo reflector 113p
The output of “a” is sampled by the sensitivity calibration circuit 21 every time a new pulse is output from the pulse measurement circuit 119. Then, in the sensitivity calibration circuit 21, the output difference “V _K −V” of the photoreflector 113pa corresponding to the input pulse is output.
_K-1 "(V _K-1 is the photoreflector 113p sampled at the time of outputting the pulse corresponding to the displacement x _K-1 of the correction means.
a output, similarly V _K is an output corresponding to the displacement x _K ).

【０１４２】まず、カメラのメインスイッチのオン、或
いは、防振スイッチがオンすると、較正駆動回路２４が
駆動信号をコイル駆動回路１２５に出力し、補正手段を
図１の矢印１８ｐの方向に所定範囲駆動する。この時の
駆動信号は、図８から解る様に直接コイル駆動回路１２
５に入力されており、フォトリフレクタ１１３ｐａに制
御されずにオープンに駆動される。そして、この時前述
した様にフォトリフレクタ１１３ｐｂのパルス出力を基
にフォトリフレクタ１１３ｐａの出力をサンプリング
し、感度較正回路２１は「Ｖ_K −Ｖ_K-1 」を求め、記憶
回路２３に格納する。First, when the main switch of the camera is turned on or the anti-vibration switch is turned on, the calibration drive circuit 24 outputs a drive signal to the coil drive circuit 125, and the correction means is moved to a predetermined range in the direction of arrow 18p in FIG. Drive. The driving signal at this time is directly transmitted from the coil driving circuit 12 as shown in FIG.
5 and is driven open without being controlled by the photoreflector 113pa. Then, this time to sample the output of the photo reflector 113pa based on the pulse output of the photo-reflector 113pb As described above, the sensitivity calibration circuit 21 obtains the "V _K -V _K-1", stored in the storage circuit 23.

【０１４３】次に、同様に較正駆動回路２４は補正手段
を図１の矢印１８ｙの方向に駆動し、フォトリフレクタ
１１３ｙａの出力についても同様の処理を行う。その
後、振れ補正を始める訳であるが、フォトリフレクタ１
１３ｐａの出力は出力範囲検出回路２２に入力され、現
在の出力Ｖ_i がどの範囲（例えば、Ｖ_K-1 ＜Ｖ_i ＜
Ｖ_K）にあるかクラス分けする。そして、そのクラスの
信号を記憶回路２３に送り、記憶値「Ｖ_K −Ｖ_K-1 」を
引き出す。この値を増幅率可変回路１２３に出力され、
フォトリフレクタ１１３ｐａの増幅率を「１／（Ｖ_K −
Ｖ_K-1 ）」にする。それにより、フォトリフレクタ１１
３ｐａの出力は正規化され、リニアリティが補正され
る。Next, the calibration drive circuit 24 similarly drives the correction means in the direction of the arrow 18y in FIG. 1, and performs the same processing for the output of the photoreflector 113ya. After that, shake correction is started.
The output of 13 pa is input to the output range detection circuit 22, and the range of the current output V _i (for example, V _K−1 <V _i <
V _K ) or classify. Then, the signal of that class is sent to the storage circuit 23 to derive the stored value “V _K −V _K−1 ”. This value is output to the amplification factor variable circuit 123,
The amplification factor of the photoreflector 113pa is set to “1 / (V _K −
V _K-1 ) ". Thereby, the photoreflector 11
The output of 3pa is normalized, and the linearity is corrected.

【０１４４】例えば、図９のフォトリフレクタ１１３ｐ
ａの出力において、補正手段が大きく変位していくとそ
の角度は低くなっていくが、この時の「Ｖ_K −Ｖ_K-1 」
も補正手段の変位が小さい時に比べて小さい値の為に
「１／（Ｖ_K −Ｖ_K-1 ）」は補正手段の変位が小さい時
に比べて大きくなり、感度は増幅され、リニアリティが
補正される。For example, the photoreflector 113p shown in FIG.
In the output of a, the angle decreases as the correcting means is greatly displaced, but at this time, "V _K -V _K-1 "
Is smaller than when the displacement of the correction means is small, "1 / (V _K -V _{K -1} )" is larger than when the displacement of the correction means is small, the sensitivity is amplified, and the linearity is corrected. You.

【０１４５】この様に予め感度較正値を求めておく事
で、振れ補正時の演算負荷を減らす事が出来、システム
全体を統合するマイクロコンピュータの負荷を軽くする
ことが出来る。By obtaining the sensitivity calibration value in advance in this way, it is possible to reduce the calculation load at the time of shake correction, and to reduce the load on the microcomputer that integrates the entire system.

【０１４６】（実施の第３の形態）図１０は本発明の実
施の第３の形態に係る補正光学装置の平面図であり、図
１ａと異なるのは、ターゲット１１２は明パターン１１
２ａと暗パターン１１２ｂで構成され、パルスパターン
１１２ｃが無い事、そして、フォトリフレクタ１１３ｐ
ｂ，１１３ｙｂが無い事であり、代わりに、支持枠１７
上に格子状パターン３１（図１１に拡大図を示してい
る）が設けられ、この格子状パターン３１に対向して基
板１１４にフォトリフレクタ３２が設けられている。(Third Embodiment) FIG. 10 is a plan view of a correction optical device according to a third embodiment of the present invention. The difference from FIG.
2a and dark pattern 112b, no pulse pattern 112c, and photoreflector 113p
b, 113yb are not present.
A lattice pattern 31 (an enlarged view is shown in FIG. 11) is provided thereon, and a photoreflector 32 is provided on the substrate 114 so as to face the lattice pattern 31.

【０１４７】格子状パターン３１は、矢印１８ｐの方向
と平行なパターン３１ｐと、矢印１８ｙの方向と平行な
パターン３１ｙで構成されており、対向してフォトリフ
レクタ３２が設けられている。格子状パターン３１が矢
印１８ｐの方向に動く時はパターン３１ｙの変化をフォ
トリフレクタ３２が検出し（この時、パターン３１ｐは
進行方向と平行の為にフォトリフレクタ３２を横切らな
い）、格子状パターン３１が矢印１８ｙの方向に動く時
はパターン３１ｐの変化をフォトリフレクタ３２が検出
する（この時、パターン３１ｙは進行方向と平行の為に
フォトリフレクタ３２を横切らない）。The grid pattern 31 is composed of a pattern 31p parallel to the direction of the arrow 18p and a pattern 31y parallel to the direction of the arrow 18y, and a photo reflector 32 is provided to face the pattern 31p. When the lattice pattern 31 moves in the direction of the arrow 18p, the photoreflector 32 detects a change in the pattern 31y (at this time, the pattern 31p is parallel to the traveling direction and does not cross the photoreflector 32). When moves in the direction of arrow 18y, the photoreflector 32 detects a change in the pattern 31p (at this time, since the pattern 31y is parallel to the traveling direction, it does not cross the photoreflector 32).

【０１４８】よって、上記実施の第２の形態の様に、振
れ補正前に補正手段を矢印１８ｐの方向にのみ駆動する
時には、フォトリフレクタ１１３ｐａの出力はフォトリ
フレクタ３２の出力パルスで較正され、補正手段を矢印
１８ｙの方向にのみ駆動する時には、フォトリフレクタ
１１３ｙａの出力はフォトリフレクタ３２の出力パルス
で較正できる。Therefore, when the correction means is driven only in the direction of arrow 18p before the shake correction as in the second embodiment, the output of the photoreflector 113pa is calibrated by the output pulse of the photoreflector 32, and the correction is performed. When driving the means only in the direction of arrow 18y, the output of photoreflector 113ya can be calibrated with the output pulse of photoreflector 32.

【０１４９】この様に格子状パターンとする事で、異な
る２方向の動きを一つのセンサで検出出来る為に、２方
向各々の位置検出手段の較正を一つのセンサで可能に出
来る。By using the lattice pattern as described above, since the movement in two different directions can be detected by one sensor, the calibration of the position detecting means in each of the two directions can be performed by one sensor.

【０１５０】（実施の第４の形態）図１２は本発明の実
施の第４の形態に係る補正光学装置の平面図であり、タ
ーゲット１１２は、明パターン１１２ａ，暗パターン１
１２ｂとパルスパターン１１２ｃで構成され、明パター
ン１１２ａと暗パターン１１２ｂの境界線を中心として
フォトリフレクタ１１３ｐａ，１１３ｙａがターゲット
１１２に対向している。(Fourth Embodiment) FIG. 12 is a plan view of a correction optical device according to a fourth embodiment of the present invention.
The photoreflectors 113pa and 113ya face the target 112 about the boundary between the light pattern 112a and the dark pattern 112b.

【０１５１】よって、フォトリフレクタ１１３ｐａ，１
１３ｙａのアナログ出力により補正手段は、各々矢印１
８ｐ，１８ｙの方向に駆動制御される。このフォトリフ
レクタ１１３ｐａ，１１３ｙａの出力較正方法を以下に
述べる。Therefore, the photoreflector 113pa, 1
With the analog output of 13 ya, the correction means respectively
Drive control is performed in the directions of 8p and 18y. The output calibration method of the photoreflectors 113pa and 113ya will be described below.

【０１５２】振れ補正を開始する前に、補正手段を矢印
１８ｙの紙面右方向に大変位させると、フォトリフレク
タ１１３ｙａはパルスパターン１１２ｃと対向する様に
なる。よって、この状態で補正手段を矢印１８ｐの方向
に駆動すると、フォトリフレクタ１１３ｐａはその方向
の位置変化をアナログ出力し、フォトリフレクタ１１３
ｙａはその方向の位置変化をパルス出力する。その為、
上記実施の第２の形態と同様の構成で、フォトリフレク
タ１１３ｐａの出力をフォトリフレクタ１１３ｙａのパ
ルス出力で較正出来る。If the correcting means is largely displaced rightward on the sheet of the arrow 18y before starting the shake correction, the photoreflector 113ya comes to face the pulse pattern 112c. Therefore, when the correction means is driven in the direction of arrow 18p in this state, the photoreflector 113pa outputs a position change in that direction in an analog manner, and the photoreflector 113pa
ya outputs a pulse indicating a change in position in that direction. For that reason,
With the same configuration as the second embodiment, the output of the photoreflector 113pa can be calibrated with the pulse output of the photoreflector 113ya.

【０１５３】次に、補正手段を矢印１８ｐの紙面上方向
に大変位させると、フォトリフレクタ１１３ｐａはパル
スパターン１１２ｃと対向する為、この状態で補正手段
を矢印１８ｙの方向に駆動して、同様にフォトリフレク
タ１１３ｙａの出力をフォトリフレクタ１１３ｐａのパ
ルス出力で較正出来る。Next, when the correcting means is largely displaced upward in the direction of the arrow 18p, the photoreflector 113pa is opposed to the pulse pattern 112c. In this state, the correcting means is driven in the direction of the arrow 18y. The output of the photoreflector 113ya can be calibrated with the pulse output of the photoreflector 113pa.

【０１５４】この様に２方向の位置を検出する二つの位
置検出手段を利用して、互いにその出力を較正する事
で、較正用の為の専用の位置検出手段を設ける必要がな
くなる。By using the two position detecting means for detecting the positions in two directions and calibrating the outputs thereof, it is not necessary to provide a dedicated position detecting means for calibration.

【０１５５】（実施の第５の形態）上記実施の第１〜第
４の形態においては、アナログ出力の位置検出手段の較
正用にパルス出力の位置検出手段を用いてきた。しかし
ながら出力較正はフォトリフレクタのパルス出力を用い
なくても、もっと安価な方法で行う事も出来る。(Fifth Embodiment) In the first to fourth embodiments, the pulse output position detecting means has been used for calibrating the analog output position detecting means. However, the output calibration can be performed in a less expensive manner without using the pulse output of the photoreflector.

【０１５６】図１３は本発明の実施の第５の形態に係る
補正光学装置の裏面図であり、地板１１上のピン５２ｐ
ａ，５２ｐｂ，５２ｙａ，５２ｙｂに、線バネ５１ｐ
ａ，５１ｐｂ，５１ｙａ，５１ｙｂが巻かれ、フック５
３ｐａ，５３ｐｂ，５３ｙａ，５３ｙｂに引っ掛けられ
ている。FIG. 13 is a rear view of the correcting optical device according to the fifth embodiment of the present invention,
a, 52pb, 52ya, 52yb, a wire spring 51p
a, 51pb, 51ya, 51yb are wound, and the hook 5
It is hooked on 3pa, 53pb, 53ya, 53yb.

【０１５７】よって、線バネ５１ｐａ，５１ｐｂ，５１
ｙａ，５１ｙｂは各々矢印５６ａ，５６ｂ，５６ｃ，５
６ｄの方向にバネ力を発生しているが、フック５４ｐ
ａ，５４ｐｂ，５４ｙａ，５４ｙｂにプリチャージされ
て位置決めされている。各々の線バネ５１ｐａ，５１ｐ
ｂ，５１ｙａ，５１ｙｂは電気的に接地されており、
又、図１３の状態では離間している導電性のピン５５ｐ
ａ，５５ｐｂ，５５ｙａ，５５ｙｂは一定電圧にプルア
ップされている。Thus, the wire springs 51pa, 51pb, 51
ya and 51yb are arrows 56a, 56b, 56c and 5, respectively.
Although a spring force is generated in the direction of 6d, the hook 54p
a, 54pb, 54ya and 54yb are precharged and positioned. Each wire spring 51pa, 51p
b, 51ya, 51yb are electrically grounded,
Further, in the state of FIG.
a, 55pb, 55ya, and 55yb are pulled up to a constant voltage.

【０１５８】そして、支持枠１７の駆動に伴い突起１７
ｅが線バネ５１ｐａ，５１ｐｂ，５１ｙａ，５１ｙｂの
いずれかを押していくと、線バネがピン５５ｐａ，５５
ｐｂ，５５ｙａ，５５ｙｂを接触する。すると、ピン５
５ｐａ，５５ｐｂ，５５ｙａ，５５ｙｂの電位が変化
し、それにより線バネ５１ｐａ，５１ｐｂ，５１ｙａ，
５１ｙｂが一定量撓んだ事を検出出来る。The projections 17 are driven by the driving of the support frame 17.
When e pushes any of the wire springs 51pa, 51pb, 51ya, 51yb, the wire springs
pb, 55ya, 55yb. Then pin 5
The potentials of 5pa, 55pb, 55ya, 55yb change, whereby the wire springs 51pa, 51pb, 51ya,
It is possible to detect that 51yb is bent by a fixed amount.

【０１５９】そこで、振れ補正中に支持枠１７が一定量
変位して線バネ５１ｐａ，５１ｐｂ，５１ｙａ，５１ｙ
ｂがピン５５ｐａ，５５ｐｂ，５５ｙａ，５５ｙｂと接
触した時（この時の支持枠１７の変位量は定まってい
る）のフォトリフレクタ１１３ｐａ，１１３ｙａ（図１
３では不図示であるが、実施の第１〜第４の形態と同
様）の出力が一定値になる様にその感度（増幅率）を調
整すれば、フォトリフレクタの固体差による感度変化
（図４の波形１１５ａと１１５ｂ）を補正する事が出来
る。Therefore, the support frame 17 is displaced by a fixed amount during the shake correction, and the linear springs 51pa, 51pb, 51ya, 51y are displaced.
When b contacts the pins 55pa, 55pb, 55ya, and 55yb (the displacement of the support frame 17 is fixed at this time), the photoreflectors 113pa and 113ya (FIG. 1)
3, the sensitivity (amplification factor) is adjusted so that the output of the photo-reflector becomes a constant value (similar to the first to fourth embodiments). 4 waveforms 115a and 115b) can be corrected.

【０１６０】勿論、振れ補正前に支持枠１７を矢印１８
ｐ，１８ｙ方向に各々大変位させ、その時のピン５５ｐ
ａ，５５ｐｂ，５５ｙａ，５５ｙｂの出力から予めフォ
トリフレクタ１１３ｐａ，１１３ｙａの感度を較正して
おいても良く、この動作も例えば支持枠１７を紙面斜め
４５度に１往復大変位させる事で、線バネ５１ｐａ，５
１ｙｂ及び５１ｐｂ，５１ｙａを各々同時に撓ませる事
が出来、較正時間を短かく出来る。Of course, before the shake correction, the support frame 17 is moved by the arrow 18.
A large displacement is made in each of the p and 18y directions.
The sensitivity of the photoreflectors 113pa and 113ya may be calibrated in advance from the outputs of the signals a, 55pb, 55ya and 55yb. 51pa, 5
1yb and 51pb, 51ya can be simultaneously bent, respectively, and the calibration time can be shortened.

【０１６１】この様に線バネを用いたスイッチ構成によ
っても位置検出手段の較正が可能であり、パルスを計測
していく実施の第１〜第４の形態に比べて、回路規模を
小さくすることが可能になる。As described above, the position detecting means can be calibrated by the switch configuration using the wire spring, and the circuit scale can be reduced as compared with the first to fourth embodiments in which the pulse is measured. Becomes possible.

【０１６２】（実施の第６の形態）上記実施の第１〜第
５の形態において、補正手段が中央に位置している時の
フォトリフレクタ１１３ｐａ，１１３ｙａの出力も、補
正手段がロックリング１６にロックされている時（中央
に位置している。）のフォトリフレクタ１１３ｐａ，１
１３ｙａの出力を検出する事で較正出来る。(Sixth Embodiment) In the first to fifth embodiments, the output of the photoreflectors 113pa and 113ya when the correction means is located at the center is also transmitted to the lock ring 16 by the correction means. The photoreflector 113pa, 1 when locked (located at the center)
It can be calibrated by detecting the output of 13 ya.

【０１６３】これは、組立時にフォトリフレクタを取り
付ける時の位置誤差やターゲット１１２の反射率，温度
等により、補正手段の中心位置におけるフォトリフレク
タの出力がばらつくのを補正する為である。その為、ロ
ック機構の無い様な簡易的な補正光学装置の場合には、
上記出力較正が困難となる。This is for correcting variations in the output of the photoreflector at the center position of the correction means due to a position error when the photoreflector is attached during assembly, the reflectance of the target 112, temperature, and the like. Therefore, in the case of a simple correction optical device without a lock mechanism,
The above output calibration becomes difficult.

【０１６４】図１４は、ロック機構の無い、本発明の実
施の第６の形態に係る補正光学装置の裏面図であり、図
３に示した補正光学装置からロックリング１６を省いた
ものである。FIG. 14 is a rear view of a correction optical device according to a sixth embodiment of the present invention without a lock mechanism, in which the lock ring 16 is omitted from the correction optical device shown in FIG. .

【０１６５】ここで、地板１１上のピン６２ａ，６２
ｂ，６２ｃには線バネ６１ａ，６１ｂ，６１ｃが巻つけ
られており、一端がフック６３ａ，６３ｂ，６３ｃに引
っ掛けられている。その為、線バネ６１ａ，６１ｂ，６
１ｃは各々矢印６５ａ，６５ｂ，６５ｃの方向にバネ力
を有しているが、導電性のピン６４ａ，６４ｂ，６４ｃ
によりプリチャージされて位置決めされている。ピン６
４ａ，６４ｂ，６４ｃは一定電圧にプルアップされてい
るが、線バネ６１ａ，６１ｂ，６１ｃは電気的に接地さ
れており、線バネ６１ａ，６１ｂ，６１ｃが、図１４の
様に、ピン６４ａ，６４ｂ，６４ｃと接触している時は
ピンは低電位（アース電位）になっている。Here, the pins 62a, 62 on the main plate 11
Wire springs 61a, 61b, 61c are wound around b, 62c, and one end is hooked on hooks 63a, 63b, 63c. Therefore, the wire springs 61a, 61b, 6
1c has a spring force in the directions of arrows 65a, 65b, 65c, respectively, but has conductive pins 64a, 64b, 64c.
And is positioned by precharging. Pin 6
4a, 64b and 64c are pulled up to a constant voltage, but the wire springs 61a, 61b and 61c are electrically grounded, and the wire springs 61a, 61b and 61c are connected to the pins 64a and 64b as shown in FIG. When the pins are in contact with 64b and 64c, the pins are at a low potential (ground potential).

【０１６６】そして、支持枠１７の突起１７ｅが線バネ
６１ａ，６１ｂ，６１ｃを撓ませると、線バネ６１ａ，
６１ｂ，６１ｃとピン６４ａ，６４ｂ，６４ｃのいずれ
かの接触が外れ、そのピンの電位は高電位に変位する。
すなわち、ピン６４ａ，６４ｂ，６４ｃの電位が全て低
電位の時には、支持枠１７は地板１１に対して中央に位
置している事になり、この時のフォトリフレクタ１１３
ｐａ，１１３ｙａ（図１４では不図示であるが、実施の
第１〜第４の形態と同様）の出力を検出し、その出力が
一定値になる様に感度やオフセットの調整を行えば、フ
ォトリフレクタ１１３ｐａ，１１３ｙａの位置検出精度
を高くすることが出来る。When the projections 17e of the support frame 17 deflect the wire springs 61a, 61b, 61c, the wire springs 61a, 61b, 61c are bent.
Contact between the pins 61b and 61c and any of the pins 64a, 64b and 64c is released, and the potential of the pin is changed to a high potential.
That is, when all the potentials of the pins 64a, 64b, and 64c are low, the support frame 17 is located at the center with respect to the base plate 11, and the photo reflector 113 at this time is located.
If the outputs of pa and 113ya (not shown in FIG. 14 but similar to those of the first to fourth embodiments) are detected and the sensitivity and offset are adjusted so that the output becomes a constant value, the photo The position detection accuracy of the reflectors 113pa and 113ya can be increased.

【０１６７】この様にロック機構が無い構成において
も、バネによるスイッチを設ける事で位置検出精度を高
める事が出来る。 （変形例）本発明は、上記の実施の各形態の構成に限定
されるものではなく、請求項で示した機能、又は実施の
形態がもつ機能が達成できる構成であればどのようなも
のであってもよいことは言うまでもない。Even in the configuration without the lock mechanism, the position detection accuracy can be improved by providing a switch using a spring. (Modification) The present invention is not limited to the configuration of each of the above embodiments, but may be any configuration that can achieve the functions described in the claims or the functions of the embodiments. Needless to say, there may be.

【０１６８】また、本発明は、補正手段として、光軸に
垂直な面内で光学部材を動かすシスト光学系や可変頂角
プリズム等の光束変更手段や、光軸に垂直な画面内で撮
影面を動かすものであっても良い。Further, the present invention provides a correcting means such as a luminous flux changing means such as a cyst optical system for moving an optical member in a plane perpendicular to the optical axis, a variable apex prism, or a photographing surface in a screen perpendicular to the optical axis. May be used to move.

【０１６９】また、本発明は、レンズシャッタカメラや
一眼レフカメラに適用した例を述べているが、ビデオカ
メラや電子スチルカメラにも適用可能である。Although the present invention has been described as applied to a lens shutter camera or a single-lens reflex camera, it is also applicable to a video camera or an electronic still camera.

【０１７０】更に、本発明は、以上の実施の各形態、又
はそれらの技術を適当に組み合わせた構成にしてもよ
い。Furthermore, the present invention may have a configuration in which the above embodiments or their techniques are appropriately combined.

【０１７１】[0171]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
例えば、第１及び第２の位置検出手段として、小型のフ
ォトリフレクタを用い、該フトリフレクタの精度の低さ
を、第２の位置検出手段の出力を基に第１の位置検出手
段の出力を較正（感度、出力の直線性、絶対位置出力を
補正）することで、高めるようにするようにしている
為、装置全体をコンパク化でき、かつ、精度の低い小型
の位置検出手段を用いても、位置検出精度を向上させる
ことができる補正手段用位置制御装置を提供できるもの
である。As described above, according to the present invention,
For example, a small-sized photo reflector is used as the first and second position detecting means, and the low accuracy of the foot reflector is determined based on the output of the first position detecting means based on the output of the second position detecting means. The calibration (correction of the sensitivity, output linearity, and absolute position output) is performed so as to increase the size of the apparatus. It is possible to provide a position control device for correction means that can improve the position detection accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の実施の第１の形態に係る補正光学装置
の平面図である。FIG. 1 is a plan view of a correction optical device according to a first embodiment of the present invention.

【図２】図１の矢印Ａの方向より見た側面及び図１のＤ
１−Ｄ１，Ｄ２−Ｄ２断面を示す図である。FIG. 2 is a side view seen from the direction of arrow A in FIG. 1 and FIG.
It is a figure which shows 1-D1, D2-D2 cross section.

【図３】図１の裏面図である。FIG. 3 is a rear view of FIG. 1;

【図４】図１のフォトリフレクタ１１３ｐａの出力状態
を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an output state of the photoreflector 113pa of FIG.

【図５】図１のフォトリフレクタ１１３ｐｂの出力状態
を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an output state of the photo reflector 113pb of FIG.

【図６】本発明の実施の第１の形態に係る較正手段の回
路構成を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram illustrating a circuit configuration of a calibration unit according to the first embodiment of the present invention.

【図７】図６の増幅率可変回路の補正手段の変位に対す
る出力する示す図である。FIG. 7 is a diagram showing an output with respect to a displacement of a correcting means of the variable amplification factor circuit of FIG. 6;

【図８】本発明の実施の第２の形態に係る較正手段の回
路構成を示すブロック図である。FIG. 8 is a block diagram illustrating a circuit configuration of a calibration unit according to a second embodiment of the present invention.

【図９】図８の増幅率可変回路の補正手段の変位に対す
る出力する示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating an output with respect to a displacement of a correction unit of the variable amplification factor circuit of FIG. 8;

【図１０】本発明の実施の第３の形態に係る補正光学装
置の平面図である。FIG. 10 is a plan view of a correction optical device according to a third embodiment of the present invention.

【図１１】図１０の格子状パターンの拡大図である。FIG. 11 is an enlarged view of the lattice pattern of FIG. 10;

【図１２】本発明の実施の第４の形態に係る補正光学装
置の平面図である。FIG. 12 is a plan view of a correction optical device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図１３】本発明の実施の第５の形態に係る補正光学装
置の平面図である。FIG. 13 is a plan view of a correction optical device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図１４】本発明の実施の第６の形態に係る補正光学装
置の平面図である。FIG. 14 is a plan view of a correction optical device according to a sixth embodiment of the present invention.

【図１５】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図
である。FIG. 15 is a perspective view showing a schematic configuration of a conventional vibration isolation system.

【図１６】図１５の振れ補正装置の構造を示す分解斜視
図である。16 is an exploded perspective view showing the structure of the shake correction device of FIG.

【図１７】図１６の地板に支持枠を組み込んだ時の様子
を示す断面図である。FIG. 17 is a cross-sectional view showing a state where a support frame is incorporated into the main plate of FIG.

【図１８】図１７の支持球やチャージバネが挿入される
孔について説明する為の図である。FIG. 18 is a diagram for explaining a hole into which a support ball and a charge spring of FIG. 17 are inserted.

【図１９】図１６の地板を示す斜視図である。FIG. 19 is a perspective view showing the main plate of FIG. 16;

【図２０】図１６の支持枠を示す斜視図である。FIG. 20 is a perspective view showing the support frame of FIG.

【図２１】図１６のロックリングを示す斜視図である。FIG. 21 is a perspective view showing the lock ring of FIG. 16;

【図２２】図１６の支持枠等を示す正面図である。FIG. 22 is a front view showing the support frame and the like in FIG. 16;

【図２３】図１６の位置検出素子の出力を増幅するＩＣ
の構成を示す回路図である。23 is an IC for amplifying the output of the position detecting element in FIG.
FIG. 3 is a circuit diagram showing the configuration of FIG.

【図２４】図１６のロックリングが駆動される時の様子
を示す図である。24 is a diagram showing a state when the lock ring of FIG. 16 is driven.

【図２５】図２３のロックリング駆動時における信号波
形を示す図である。FIG. 25 is a diagram showing signal waveforms at the time of lock ring driving in FIG. 23;

【図２６】防振システムが搭載されたカメラの防振系の
回路構成を示すブロック図である。FIG. 26 is a block diagram illustrating a circuit configuration of an image stabilization system of a camera equipped with the image stabilization system.

【図２７】図２６に示す各回路の一部の詳細を示すブロ
ック図である。FIG. 27 is a block diagram showing details of a part of each circuit shown in FIG. 26;

【図２８】図２６に示す各回路の残りの詳細を示すブロ
ック図である。FIG. 28 is a block diagram showing the remaining details of each circuit shown in FIG. 26;

【図２９】図２６〜図２８の回路構成におけるカメラの
概略動作を示すフローチャートである。FIG. 29 is a flowchart showing a schematic operation of the camera in the circuit configurations of FIGS. 26 to 28;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１１ 地板 １７ 支持枠 １１２ ターゲット １１３ｐａ，１１３ｙａ フォトリフレクタ １１３ｐｂ，１１３ｙｂ フォトリフレクタ １１８ コンパレータ １１９ パルス計測回路 １２０ 較正出力発生回路 １２１ 方向判別回路 １２２ 除算回路 １２３ 増幅率可変回路 １２４ 差動回路 １２５ コイル駆動回路 １２６ 目標値発生回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Main plate 17 Support frame 112 Target 113pa, 113ya Photoreflector 113pb, 113yb Photoreflector 118 Comparator 119 Pulse measurement circuit 120 Calibration output generation circuit 121 Direction discrimination circuit 122 Divider circuit 123 Variable amplification circuit 124 Differential circuit 125 Coil drive circuit 126 Target Value generation circuit

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 振れを補正する振れ補正手段の位置を検
出する第１の位置検出手段と、該第１の位置検出手段の
出力を基に前記補正手段を位置制御を行う制御手段と、
前記補正手段の位置を検出する第２の位置検出手段と、
該第２の位置検出手段の出力を基に前記第１の位置検出
手段の出力を較正する較正手段とを有したことを特徴と
する補正手段用位置制御装置。A first position detecting means for detecting a position of a shake correcting means for correcting a shake; a control means for performing position control of the correcting means based on an output of the first position detecting means;
Second position detecting means for detecting the position of the correcting means;
And a calibration means for calibrating the output of the first position detection means based on the output of the second position detection means. 【請求項２】 前記第１の位置検出手段は、前記補正手
段の位置変位に対しアナログ出力する位置センサであ
り、前記第２の位置検出手段は、前記補正手段の位置変
位に対しパルス状の出力をする位置センサであり、 前記較正手段は、前記第２の位置検出手段にて得られる
前記補正手段の変位量に基づいて、前記第１の位置検出
手段の感度、出力の直線性、絶対位置出力の少なくとも
一つを補正することを特徴とする請求項１記載の補正手
段用位置制御装置。2. The apparatus according to claim 1, wherein said first position detecting means is a position sensor which outputs an analog signal in response to a position displacement of said correcting means, and said second position detecting means is a pulse-shaped signal in response to the position displacement of said correcting means. A position sensor for outputting, wherein the calibrating means is based on a displacement amount of the correcting means obtained by the second position detecting means, the sensitivity of the first position detecting means, the linearity of the output, and the absolute value. 2. The position control device according to claim 1, wherein at least one of the position outputs is corrected. 【請求項３】 前記第１の位置検出手段は、前記補正手
段の位置変位に対しアナログ出力する位置センサであ
り、前記第２の位置検出手段は、前記補正手段の所定位
置を検出するスイッチであり、 前記較正手段は、前記第２の位置検出手段にて得られる
前記補正手段の所定位置に基づいて、前記第１の位置検
出手段の感度、出力の直線性、絶対位置出力の少なくと
も一つを補正することを特徴とする請求項１記載の補正
手段用位置制御装置。3. The first position detecting means is a position sensor which outputs an analog signal to the displacement of the correcting means, and the second position detecting means is a switch for detecting a predetermined position of the correcting means. The calibration means may include at least one of sensitivity, linearity of output, and absolute position output of the first position detection means based on a predetermined position of the correction means obtained by the second position detection means. 2. The position control device for correcting means according to claim 1, wherein the position is corrected. 【請求項４】 前記較正手段は、前記補正手段が振れ補
正を開始する前に動作することを特徴とする請求項１，
２，又は３記載の補正手段用位置制御装置。4. The apparatus according to claim 1, wherein said calibrating means operates before said correcting means starts shake correction.
4. The position control device for correction means according to 2, 3 or 4. 【請求項５】 前記較正手段は、前記補正手段が振れ補
正を行っている間に動作することを特徴とする請求項
１，２，又は３記載の補正手段用位置制御装置。5. The position control device for correction means according to claim 1, wherein said calibration means operates while said correction means performs shake correction. 【請求項６】 振れを補正する補正手段と、該補正手段
の位置変位に対しアナログ出力する第１の位置検出手段
と、前記補正手段の位置変位に対しパルス状の出力をす
る第２の位置検出手段と、前記第１の位置検出手段と前
記第２の位置検出手段の出力を基に前記補正手段の位置
制御を行う制御手段とを有したことを特徴とする補正手
段用位置制御装置。6. A correcting means for correcting a shake, a first position detecting means for outputting an analog signal in response to a displacement of the correcting means, and a second position for outputting a pulse-like signal in response to the displacement of the correcting means. A position control device for correction means, comprising: detection means; and control means for controlling the position of said correction means based on outputs of said first position detection means and said second position detection means. 【請求項７】 異なる第１と第２の方向に独立に駆動さ
れる事で振れを補正する補正手段と、該補正手段に設け
られた格子状パターンと、該格子状パターンに応答する
パルス信号を出力する位置検出手段とを有し、 前記位置検出手段のパルス出力を計測することで、前記
補正手段の前記第１と第２の方向の位置を検出すること
を特徴とする補正手段用位置制御装置。7. A correcting means for correcting a shake by being independently driven in different first and second directions, a grid pattern provided in the correcting means, and a pulse signal responsive to the grid pattern. A position detecting means for outputting the position of the correcting means, wherein the position of the correcting means in the first and second directions is detected by measuring a pulse output of the position detecting means. Control device. 【請求項８】 異なる第１と第２の方向に独立に駆動さ
れる事で振れを補正する補正手段と、該補正手段の前記
第１の方向の位置を検出する第１の位置検出手段と、前
記補正手段の前記第２の方向の位置を検出する第２の位
置検出手段と、前記補正手段が一方の方向に駆動される
際に、前記第２の位置検出手段の出力によって前記第１
の位置検出手段の出力を較正する第１の較正手段と、前
記補正手段が他の方向に駆動される際に、前記第１の位
置検出手段の出力により前記第２の位置検出手段の出力
を較正する第２の較正手段とを有したことを特徴とする
補正手段用位置制御装置。8. A correcting means for correcting a shake by being independently driven in different first and second directions, and a first position detecting means for detecting a position of the correcting means in the first direction. A second position detecting means for detecting a position of the correcting means in the second direction, and a first position detecting means for detecting the position of the first position by an output of the second position detecting means when the correcting means is driven in one direction.
First calibration means for calibrating the output of the position detection means, and when the correction means is driven in another direction, the output of the second position detection means is output by the output of the first position detection means. A position control device for correction means, comprising: a second calibration means for performing calibration. 【請求項９】 前記第１及び第２の位置検出手段は、フ
ォトリフレクタであることを特徴とする請求項１，６又
は８記載の補正手段用位置制御装置。9. The position control device for correction means according to claim 1, wherein said first and second position detection means are photoreflectors. 【請求項１０】 前記位置検出手段は、フォトリフレク
タであることを特徴とする請求項７記載の補正手段用位
置制御装置。10. The position control device for correction means according to claim 7, wherein said position detection means is a photo reflector.