JPH1116361A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH1116361A
JPH1116361A JP9172012A JP17201297A JPH1116361A JP H1116361 A JPH1116361 A JP H1116361A JP 9172012 A JP9172012 A JP 9172012A JP 17201297 A JP17201297 A JP 17201297A JP H1116361 A JPH1116361 A JP H1116361A
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JP
Japan
Prior art keywords
output
data
sense amplifiers
cycle
sense amplifier
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JP9172012A
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English (en)
Inventor
Yasuharu Takagi
木 康 晴 高
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 リードサイクルを短縮化して、データ読み出
しの高速化を計ると共に、センスアンプリファイアの低
消費電力化を実現する。 【解決手段】 複数のセクションのアドレスを同時に確
定し、クロック形成器4により生成された早いクロック
CLK2に基づき、第1のバーストカウンタ1を通じ
て、順次制御される順方向スイッチ10A、10B、1
0C、10Dにより、セクション1〜4の出力ラインの
データを、それぞれの出力タイミングに応じて異なる駆
動能力を与えられているメインセンスアンプリファイア
3A、3B、3C、3Dに与え、外部クロックCLKに
基づきリードサイクルを制御する第2のバーストカウン
タ2により、順次制御される順方向スイッチ13A、1
3B、13C、13Dにより、それぞれの能力に応じて
異なる時間にデータ確定するメインセンスアンプリファ
イア3A、3B、3C、3Dの出力信号を順次導出す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体記憶装置に
係り、特に、半導体メモリ内でのデータ読み出しにおけ
るバーストモードに適した回路構成に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図5は、従来の半導体記憶装置における
バーストモードによるデータ読み出しを説明するための
タイミングチャートであり、特にパイプラインバースト
機能を示すものである。図において、(A)は外部クロ
ックCLK、(B)は外部から与えるアドレスAD、
(C)はデータ出力Dout、(D)はアドレスセット
信号/ADS、(E)はデバイス内部のアドレスであ
る。図においては、外部から与える外部クロックCLK
の、サイクルCycle1からサイクルCycle6ま
での各信号の関係を示している。
【0003】今、外部クロックCLKのサイクルCyc
le1において、アドレスADとしてA0を与え、併せ
てアドレスセット信号/ADSを与えると、デバイス内
部にアドレスA0がセットされる。
【0004】このアドレスA0に対応する半導体メモリ
のデータ出力であるD0は、サイクルCycle3に、
データ出力Doutとして出力される。
【0005】なお、半導体メモリのデバイス内部では、
アドレスA0の設定に伴い、サイクルCycle2、
3、4において、連続して、アドレスA1、A2、A3
が生成される。その結果、これらのアドレスA1、A
2、A3に対応する半導体メモリのデータ出力であるD
1、D2、D3は、それぞれサイクルCycle4、
5、6に順次連続して出力されることになる。
【0006】以上のようなデータ読み出しをパイプライ
ンバースト機能と呼び、連続して4番地分のデータがデ
ータ出力Doutとして出力される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体記憶装置
では、パイプラインバーストモードにおいて、以上のよ
うに半導体メモリを制御していたので、外部クロックC
LKのサイクルタイムは、アドレス確定からデータが出
力レジスタに格納される時間以上に確保しておく必要が
あった。このため、動作の高速化が困難であり、更にデ
ータ読み出しに用いるセンスアンプリファイアの消費電
力の低減が困難であるという問題点があった。
【0008】本発明の目的は、上記のような従来技術の
問題点を解消し、半導体メモリに複数のアドレスを同時
に与えると共に、データ出力の順序にしたがって、能力
に差を持たせたセンスアンプリファイアを通じてデータ
読み出しを行わせることにより、読み出しの高速化と低
消費電力化を実現できる半導体記憶装置を得ることにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、請求項1に記載の半導体記憶装置とし
て、複数のセクションのそれぞれにおけるメモリセルの
アドレスを同時に確定する手段と、前記各メモリセルの
出力ラインに読み出されたデータを確定させるべく、前
記メモリセルの各セクションに対応して配置された、複
数のセンスアンプリファイアと、リードサイクルよりも
早いクロックに基づき、前記各センスアンプリファイア
に、順次各メモリセルから各出力ラインに読み出された
データを与える第1のスイッチ手段と、前記各センスア
ンプリファイアから、リードサイクルに基づく順序で、
データを出力させる第2のスイッチ手段と、を備える半
導体記憶装置を提供するものである。
【0010】上記目的を達成するために、本発明は、請
求項4に記載の半導体記憶装置として、複数のセクショ
ンのそれぞれにおけるメモリセルのアドレスを同時に確
定する手段と、前記各メモリセルから出力ラインに読み
出されたデータを確定させるべく、前記メモリセルの各
セクションに対応して配置された、駆動能力可変の複数
のセンスアンプリファイアと、前記各センスアンプリフ
ァイアから、リードサイクルに応じて順次出力させた出
力データを格納する複数のレジスタと、前記複数のセン
スアンプリファイアのデータの読み出し順序に対応して
それらのセンスアンプリファイアのそれぞれに異なる駆
動能力を与える制御手段と、を備える半導体記憶装置を
提供するものである。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明の実施形を説明する。 実施形1.図1は、本発明の実施形1の半導体記憶装置
のブロック図である。図において示すように、メモリセ
ルアレイMCAは4つのセクションSection1、
2、3、4を有する。各セクションは例えば8カラムを
有し、各カラムにおいてはカラム方向に複数のメモリセ
ルが並んでいる。各メモリセルは相補のデータを出力す
る。このメモリセルアレイMCAにはローデコーダRD
とカラムデコーダCDが設けられている。これらのデコ
ーダRD,CDは、加えられたアドレスADに基づい
て、各セクションにおいて1つ宛メモリセルを選択し、
選択した都合4つのメモリセルからのデータを、4組の
相補ビット線BL,/BLからなるビット線群BLGに
出力する。以上の動作において、カラムデコーダCDか
らのデコード出力についてみれば、このデコード出力に
よってメモリセルアレイMCAにおいて4つのメモリセ
ルからの出力が同時に確定し、4組のビット線を有する
ビット線群BLGに対して同時に出力され、カラムスイ
ッチ6に加えられる。
【0012】外部から入力される外部クロックCLK
は、クロック形成器4に与えられ、ここで外部クロック
CLKの1/2の周期のクロックCLK2が形成され
る。このクロックCLK2は、第1のバーストカウンタ
1に与えられる。
【0013】外部から与えられるアドレスADは、第1
のバーストカウンタ1に入力される。第1のバーストカ
ウンタ1には、このアドレスADを設定するためにアド
レスセット信号/ADSが与えられる。
【0014】第1のバーストカウンタ1は、クロック形
成器4からのクロックCLK2に基づいて、設定された
アドレスADを起点として、バーストカウント信号をバ
イナリ出力する。
【0015】メモリセルアレイMCAからの非反転側ビ
ットラインBLおよび反転側ビットライン/BLに読み
出された読み出し信号は、カラムスイッチ6、順方向ス
イッチ10A、10B、10C、10Dを介して、メイ
ンセンスアンプリファイア3A、3B、3C、3Dでセ
ンスされる。
【0016】メインセンスアンプリファイア3Aの出力
は非反転側ラッチ11A、反転側ラッチ12Aでラッチ
され、順方向スイッチ13Aを介して、出力ラッチ14
0、出力ラッチ141に転送され、データ出力Dout
として出力される。
【0017】メインセンスアンプリファイア3Bの出力
は非反転側ラッチ11B、反転側ラッチ12Bでラッチ
され、順方向スイッチ13Bを介して、出力ラッチ14
0、出力ラッチ141に転送され、データ出力Dout
として出力される。
【0018】メインセンスアンプリファイア3Cの出力
は非反転側ラッチ11C、反転側ラッチ12Cでラッチ
され、順方向スイッチ13Cを介して、出力ラッチ14
0、出力ラッチ141に転送され、データ出力Dout
として出力される。
【0019】メインセンスアンプリファイア3Dの出力
は非反転側ラッチ11D、反転側ラッチ12Dでラッチ
され、順方向スイッチ13Dを介して、出力ラッチ14
0、出力ラッチ141に転送され、データ出力Dout
として出力される。
【0020】なお、カラムスイッチ6には第1のバース
トカウンタ1からのバースト信号が与えられ、これによ
りメモリセルアレイMCAからの4組の出力が順次出力
される。
【0021】また、第1のバーストカウンタ1からのバ
イナリカウント出力は、ノア回路7A、7B、7C、7
Dおよびノット回路91、92、93、94からなる論
理回路に与えられ、あらかじめ定められたデコード論理
に基づき、順方向スイッチ10A、10B、10C、1
0Dに対する順次選択信号に変換される。
【0022】また、第2のバーストカウンタ2からのバ
イナリカウント出力は、ノア回路8A、8B、8C、8
Dおよびノット回路95、96、97、98からなる論
理回路に与えられ、あらかじめ定められたデコード論理
に基づき、順方向スイッチ13A、13B、13C、1
3Dに対する順次選択信号に変換される。
【0023】以上述べたような構成において、次に、そ
の動作を図2のタイミングチャートにしたがって説明す
る。同図(A)は外部クロックCLK、同図(B)はク
ロック形成器4によって形成されるクロックCLK2、
同図(C)は外部から与えられるアドレスAD、同図
(D)はメモリセルアレイMCAの内部で指定される内
部アドレスA0、A1、A2、A3、同図(E)はメイ
ンセンスアンプリファイア3Aの動作、同図(F)はメ
インセンスアンプリファイア3Bの動作、同図(G)は
メインセンスアンプリファイア3Cの動作、同図(H)
はメインセンスアンプリファイア3Dの動作、同図
(I)はデータ出力Dout、同図(J)はアドレスセ
ット信号/ADSをそれぞれ示すものである。
【0024】さて、サイクルCycle1に、図2
(C)に示すように、第1のバーストカウンタ1にアド
レスADとしてA0が与えられ、併せて同図(J)に示
すように、アドレスセット信号/ADSが与えられる
と、第1のバーストカウンタ1にはアドレスA0がセッ
トされ、これに基づき、カラムスイッチ6に対するバー
スト信号がサイクルCycle2の前半で与えられる。
つまり、図2(D)に示す4つのアドレスに対応しての
各セクションからの非反転ビットラインBLの出力と、
反転ビットライン/BLの出力が、後述の順方向スイッ
チ10A〜10Dの選択順序と同期して、データ出力さ
れる。
【0025】一方、第1のバーストカウンタ1からは、
クロックCLK2に同期したバイナリ信号が出力され、
ノア回路7A、7B、7C、7Dおよびノット回路9
1、92、93、94からなる論理回路を通じてデコー
ドされ、これらの信号が順方向スイッチ10A、10
B、10C、10Dに与えられる。その結果、図2
(E)に示すように、サイクルCycle2の前半に順
方向スイッチ10Aが選択され、図2(F)に示すよう
に、サイクルCycle2の後半に順方向スイッチ10
Bが選択され、図2(G)に示すように、サイクルCy
cle3の前半に順方向スイッチ10Cが選択され、図
2(H)に示すように、サイクルCycle3の後半に
順方向スイッチ10Dが選択される。つまり、クロック
CLK2に同期して、順次順方向スイッチ10A、10
B、10C、10Dが選択されることになる。
【0026】その結果、メインセンスアンプリファイア
3A、3B、3C、3Dは、それぞれ図2(E)、
(F)、(G)、(H)に示すタイミングで、セクショ
ン1〜4から各出力を取り込みセンスすることになる。
【0027】メインセンスアンプリファイア3A、3
B、3C、3Dでセンスされたメモリ出力は、それぞれ
非反転側が非反転側ラッチ11A、11B、11C、1
1Dにラッチされ、それぞれ反転側が反転側ラッチ12
A、12B、12C、12Dにラッチされ、メインセン
スアンプリファイア3A、3B、3C、3Dの能力に応
じた時間経過後にこれらのラッチ信号のハイレベルまた
はロウレベルが確定することになる。
【0028】一方、第2のバーストカウンタ2からは、
外部クロックCLKに同期したバイナリ信号が出力さ
れ、ノア回路8A、8B、8C、8Dおよびノット回路
95、96、97、98からなる論理回路を通じてデコ
ードされ、これらの信号が順方向スイッチ13A、13
B、13C、13Dに与えられる。その結果、サイクル
Cycle3に順方向スイッチ13Aが選択され、サイ
クルCycle4に順方向スイッチ13Bが選択され、
サイクルCycle5に順方向スイッチ10Cが選択さ
れ、サイクルCycle6に順方向スイッチ13Dが選
択される。つまり、外部クロックCLKに同期して、順
次順方向スイッチ13A、13B、13C、13Dが選
択されることになる。
【0029】その結果、非反転側ラッチ11A、反転側
ラッチ12Aにおいて確定されたセクション1からの出
力信号であるD0は、図2(I)に示すように、サイク
ルCycle3に順方向スイッチ13Aを通じて、出力
ラッチ140、141にラッチされ、データ出力Dou
tとして出力される。また、非反転側ラッチ11B、反
転側ラッチ12Bにおいて確定されたセクション2から
の出力信号であるD1は、図2(I)に示すように、サ
イクルCycle4に順方向スイッチ13Bを通じて、
出力ラッチ140、141にラッチされ、データ出力D
outとして出力される。更に、非反転側ラッチ11
C、反転側ラッチ12Cにおいて確定されたセクション
3からの出力信号であるD2は、図2(I)に示すよう
に、サイクルCycle5に順方向スイッチ13Cを通
じて、出力ラッチ140、141にラッチされ、データ
出力Doutとして出力される。そして、非反転側ラッ
チ11D、反転側ラッチ12Dにおいて確定されたセク
ション4からの出力信号であるD3は、図2(I)に示
すように、サイクルCycle6に順方向スイッチ13
Dを通じて、出力ラッチ140、141にラッチされ、
データ出力Doutとして出力される。
【0030】さて、各メインセンスアンプリファイア3
A、3B、3C、3Dに順方向スイッチ10A、10
B、10C、10Dを通じて、セクション1〜4からの
信号出力が与えられてから、実際に順方向スイッチ13
A、13B、13C、13Dを通じて、出力されるまで
に許容される時間は、図2(E)、(F)、(G)、
(H)に示すように、T1、T2、T3、T4とそれぞ
れ異なる。つまり、メインセンスアンプリファイア3A
の出力は、サイクルCycle3の終わりまでに確定し
ている必要があるのに対して、メインセンスアンプリフ
ァイア3Bの出力は、サイクルCycle4の終わりま
でに確定していれば良く、メインセンスアンプリファイ
ア3Cの出力は、サイクルCycle5の終わりまでに
確定していれば良く、メインセンスアンプリファイア3
Dの出力は、サイクルCycle6の終わりまでに確定
していれば良い。
【0031】つまり、メインセンスアンプリファイア3
Aの駆動能力は最も高い必要があるのに対して、メイン
センスアンプリファイア3B、3C、3Dのそれぞれの
駆動能力は、順次、低くても良いことになる。そして、
この実施形1では、この実情に合わせて、メインセンス
アンプリファイア3A、3B、3C、3Dに対して、必
要最小限度の駆動能力を、個別に与えている。
【0032】その結果、メインセンスアンプリファイア
3A、3B、3C、3Dに等しい駆動能力を与え、外部
クロックCLKに同期して、セクション1〜4からの信
号を順次読み出すようにした、従来方式に比較して、セ
クション1〜4の内部アドレスA0、A1、A2、A3
を最初に同時確定してしまうことから、外部クロックC
LKを高速化でき、同時に、データ確定までの時間に
は、余裕ができるため、センスアンプリファイアのトー
タルの消費電力を低減することができる。
【0033】なお、本実施形では、一例として、外部ク
ロックCLKからクロックCLK2を作り出すためのク
ロック形成器4を用いたり、順方向スイッチによるデー
タの読み出し系を例示したが、セクション1〜4の内部
アドレスを同時確定させ、センスアンプリファイア群に
早いタイミングで信号を与え、後に外部クロックCLK
に同期して、順次データ出力Doutに導出するような
構成であれば、どのような構成でも適用可能である。 実施形2.図3は、本発明の実施形2の半導体記憶装置
のブロック図である。図3において、図1と同等の回路
要素には同一の符号を付している。外部から入力される
外部クロックCLKは、第1のバーストカウンタ1に与
えられる。メモリセルアレイMCAからの非反転側BL
および反転側/BLの各ビットラインの読み出し信号
は、そのまま能力可変センスアンプリファイア30A、
30B、30C、30Dに与えられる。
【0034】能力可変センスアンプリファイア30A、
30B、30C、30Dの出力は、出力データレジスタ
150、151、152、153を介して、出力ラッチ
140、出力ラッチ141に転送され、データ出力Do
utとして出力される。
【0035】なお、バーストカウンタ16から能力可変
センスアンプリファイア30A、30B、30C、30
Dには、センスアンプリファイア能力制御信号SCが出
力され、それぞれ対応するメモリセル50、51、5
2、53のアドレス確定から、実際にデータ出力Dou
tにデータ出力されるまでの時間余裕に応じて、異なる
センス能力を与えるように構成される。
【0036】また、バーストカウンタ16から、出力デ
ータレジスタ150、151、152、153に対して
は、出力データレジスタ制御信号RCが与えられ、能力
可変センスアンプリファイア30A、30B、30C、
30Dの各センス出力を順次、外部クロックCLKに同
期してデータ出力Doutに導出するように制御してい
る。
【0037】以上述べたような構成において、次に、そ
の動作を図4のタイミングチャートにしたがって説明す
る。同図(A)は外部クロックCLK、同図(B)は外
部から与えられるアドレスAD、同図(C)はメモリセ
ルアレイMCAの内部で指定される内部アドレスA0、
A1、A2、A3、同図(D)は能力可変センスアンプ
リファイア30Aの動作、同図(E)は能力可変センス
アンプリファイア30Bの動作、同図(F)は能力可変
センスアンプリファイア30Cの動作、同図(G)は能
力可変センスアンプリファイア30Dの動作、同図
(H)はデータ出力Dout、同図(I)はアドレスセ
ット信号/ADSをそれぞれ示すものである。
【0038】さて、サイクルCycle1に、図4
(A)に示すように、バーストカウンタ16にアドレス
ADとしてA0が与えられ、併せて同図(I)に示すよ
うに、アドレスセット信号/ADSが与えられると、バ
ーストカウンタ16にはアドレスA0がセットされる。
同時に、図4(C)に示すように、4つのセクションか
らの非反転ビットラインBLの出力と、反転ビットライ
ン/BLの出力が、同時に確定してデータ出力される。
【0039】これらのデータは、ぞれぞれ対応する能力
可変センスアンプリファイア30A、30B、30C、
30Dに与えられ、それぞれ図4(D)、(E)、
(F)、(G)に示すタイミングで、つまり、サイクル
Cycle2の時点からセクション1〜4の各出力を取
り込みセンスすることになる。
【0040】能力可変センスアンプリファイア30A、
30B、30C、30Dでセンスされたメモリ出力は、
それぞれバーストカウンタ16からのセンスアンプリフ
ァイア能力制御信号SCによって制御されるセンス能力
に応じた時間経過後に、ハイレベルまたはロウレベルが
確定することになる。
【0041】なお、能力可変センスアンプリファイア3
0A、30B、30C、30Dでセンスされたメモリ出
力は、出力データレジスタ150、151、152、1
53を通じて出力ラッチ140、141に出力される
が、この出力タイミングは、バーストカウンタ16から
出力データレジスタ150、151、152、153に
与えられる、出力データレジスタ制御信号RCにより制
御される。
【0042】その結果、セクション1からの出力信号で
あるD0は、図4(I)に示すように、サイクルCyc
le3に出力データレジスタ151を通じて、出力ラッ
チ140、141にラッチされ、データ出力Doutと
して出力される。また、セクション2からの出力信号で
あるD1は、図4(I)に示すように、サイクルCyc
le4に出力データレジスタ152を通じて、出力ラッ
チ140、141にラッチされ、データ出力Doutと
して出力される。更に、セクション3からの出力信号で
あるD2は、図4(I)に示すように、サイクルCyc
le5に出力データレジスタ152を通じて、出力ラッ
チ140、141にラッチされ、データ出力Doutと
して出力される。そして、セクション4からの出力信号
であるD3は、図4(I)に示すように、サイクルCy
cle6に出力データレジスタ153を通じて、出力ラ
ッチ140、141にラッチされ、データ出力Dout
として出力される。
【0043】さて、各能力可変センスアンプリファイア
30A、30B、30C、30Dに、セクション1〜4
からの信号出力が与えられてから、実際に出力データレ
ジスタ150、151、152、153を通じて、出力
されるまでに許容される時間は、図4(D)、(E)、
(F)、(G)に示すように、T1、T2、T3、T4
とそれぞれ異なる。つまり、能力可変センスアンプリフ
ァイア30Aの出力は、サイクルCycle3の終わり
までに確定している必要があるのに対して、能力可変セ
ンスアンプリファイア30Bの出力は、サイクルCyc
le4の終わりまでに確定していれば良く、能力可変セ
ンスアンプリファイア30Cの出力は、サイクルCyc
le5の終わりまでに確定していれば良く、能力可変セ
ンスアンプリファイア30Dの出力は、サイクルCyc
le6の終わりまでに確定していれば良い。
【0044】つまり、能力可変センスアンプリファイア
30Aの駆動能力は最も高い必要があるのに対して、能
力可変センスアンプリファイア30B、30C、30D
のそれぞれの駆動能力は、順次、低くても良いことにな
る。そして、この実施形2では、この実情に合わせて、
バーストカウンタ16からのセンスアンプリファイア能
力制御信号SCにより、各能力可変センスアンプリファ
イア30A、30B、30C、30Dの必要最小限度の
駆動能力を、個別に制御している。
【0045】その結果、メインセンスアンプリファイア
3A、3B、3C、3Dに等しい駆動能力を与え、外部
クロックCLKに同期して、メモリセル50、51、5
2、53の信号を順次読み出すようにした、従来方式に
比較して、セクション1〜4の内部アドレスA0、A
1、A2、A3を最初に同時確定してしまうことから、
外部クロックCLKを高速化でき、同時に、データ確定
までの時間には、余裕ができるため、センスアンプリフ
ァイアのトータルの消費電力を低減することができる。
【0046】ちなみに、能力可変センスアンプリファイ
ア30A、30B、30C、30Dの駆動能力の制御で
あるが、内部の増幅段数、増幅器の組み合わせ、トラン
ジスタサイズの切り替えなどにより、実施する。この能
力可変方法については、他にもさまざまな方式が考えら
れることはもちろんである。また、切り替え段数も、同
時に読み出すアドレス数に対応して、何段階に設定して
もよい。
【0047】
【発明の効果】本発明は、以上のように異なるセクショ
ンのメモリセルのアドレスを同時に確定して、読み出し
だけをバーストモードで読み出すように構成したので、
メモリセルからデータ読み出しを行うためのセンスアン
プリファイアのデータ確定までに必要な時間が、アドレ
ス毎に異なるため、各リードサイクル毎にアドレス確定
して、それぞれセンスアンプリファイアを駆動するとい
う制御が不要となり、サイクルタイムを短縮でき、デバ
イスの高速化が可能となり、また、データ確定までの時
間に余裕のあるセンスアンプリファイアは、その駆動能
力を適宜、低減させることができるので、消費電力低減
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形1の半導体記憶装置のブロック
図である。
【図2】図1の動作を説明するためのタイミングチャー
トである。
【図3】本発明の実施形2の半導体記憶装置のブロック
図である。
【図4】図3の動作を説明するためのタイミングチャー
トである。
【図5】従来の、半導体記憶装置における、バーストモ
ードによるデータ読み出しを説明するためのタイミング
チャートである。
【符号の説明】
1 第1のバーストカウンタ 2 第2のバーストカウンタ 3A、3B、3C、3D メインセンスアンプリファイ
ア 4 クロック形成器 6 カラムスイッチ 7A、7B、7C、7D、8A、8B、8C、8D ノ
ア回路 10A、10B、10C、10D、13A、13B、1
3C、13D 順方向スイッチ 11A、11B、11C、11D 非反転側ラッチ 12A、12B、12C、12D 反転側ラッチ 16 バーストカウンタ 30A、30B、30C、30D 能力可変センスアン
プリファイア 91、92、93、94、95、96、97、98 ノ
ット回路 140、141 出力ラッチ 150、151、152、153 出力データレジスタ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数のセクションのそれぞれにおけるメモ
    リセルのアドレスを同時に確定する手段と、 前記各メモリセルの出力ラインに読み出されたデータを
    確定させるべく、前記メモリセルの各セクションに対応
    して配置された、複数のセンスアンプリファイアと、 リードサイクルよりも早いクロックに基づき、前記各セ
    ンスアンプリファイアに、順次各メモリセルから各出力
    ラインに読み出されたデータを与える第1のスイッチ手
    段と、 前記各センスアンプリファイアから、リードサイクルに
    基づく順序で、データを出力させる第2のスイッチ手段
    と、 を備えることを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】前記各センスアンプリファイアの駆動能力
    は異なるものとして設定されており、それらの駆動能力
    は、データ出力のリードサイクル中で、早いものほど高
    く、遅いものほど低く設定されている請求項1の半導体
    記憶装置。
  3. 【請求項3】前記第1のスイッチ手段が、リードサイク
    ルを与えるクロックの2分の1の周期のクロックで制御
    される請求項1又は2の半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】複数のセクションのそれぞれにおけるメモ
    リセルのアドレスを同時に確定する手段と、 前記各メモリセルから出力ラインに読み出されたデータ
    を確定させるべく、前記メモリセルの各セクションに対
    応して配置された、駆動能力可変の複数のセンスアンプ
    リファイアと、 前記各センスアンプリファイアから、リードサイクルに
    応じて順次出力させた出力データを格納する複数のレジ
    スタと、 前記複数のセンスアンプリファイアのデータの読み出し
    順序に対応して、それらのセンスアンプリファイアのそ
    れぞれに異なる駆動能力を与える制御手段と、 を備えることを特徴とする半導体記憶装置。
  5. 【請求項5】前記制御手段が、各センスアンプリファイ
    アの駆動能力を、データ出力のリードサイクル中で、早
    いものほど高く、遅いものほど低く制御する、請求項4
    の半導体記憶装置。
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