JPH11160440A - 放射線検出装置及び放射線検出方法 - Google Patents
放射線検出装置及び放射線検出方法Info
- Publication number
- JPH11160440A JPH11160440A JP9328618A JP32861897A JPH11160440A JP H11160440 A JPH11160440 A JP H11160440A JP 9328618 A JP9328618 A JP 9328618A JP 32861897 A JP32861897 A JP 32861897A JP H11160440 A JPH11160440 A JP H11160440A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- scintillator
- radiation
- transfer
- noise
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 87
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 32
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 102100037009 Filaggrin-2 Human genes 0.000 claims description 8
- 101000878281 Homo sapiens Filaggrin-2 Proteins 0.000 claims description 8
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 45
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 8
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 5
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000001959 radiotherapy Methods 0.000 description 4
- 101100194362 Schizosaccharomyces pombe (strain 972 / ATCC 24843) res1 gene Proteins 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4228—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2006—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of a scintillator and photodetector which measures the means radiation intensity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/02—Dosimeters
- G01T1/026—Semiconductor dose-rate meters
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4242—Modulated light, e.g. for synchronizing source and detector circuit
Abstract
し方法をとることで、雑音が小さく、ばらつきの小さ
い、所望のSNの信号を読み出すことができる放射線検
出装置を実現する。 【解決手段】 シンチレーター14と、複数の画素Sを
有する光電変換装置と、転送用TFT(T)と、を有す
る放射線検出装置において、所望の信号対雑音をSNと
した時、該SNを得るため、放射線の照射が停止した
後、(n×τ1 )[ただし、τ1 はシンチレーター14
の蛍光面残光特性の時定数、nはln(SN)であ
る。]以上遅延させる手段(図中、制御回路、CPU、
プログラムメモリ)により遅延した後、最初の上記転送
用TFTをonさせて前記画素に蓄積した信号を転送す
る手段(図中シフトレジスタ102)を有することを特
徴とする。
Description
ンサ素子を用いる放射線検出装置及び方法に関し、特
に、画像処理機能を有するリアルタイム放射線診断装置
や、放射線治療装置に利用される放射線検出装置に関す
る。
装置では、X線等の放射線を直接光センサで検出すると
効率が悪く、放射線を可視光に変換するシンチレーター
と光センサを組み合わせて用いることは従来より行われ
ていた。
残光特性と呼ばれる特性が有り、図5に示すように、シ
ンチレーターの光の発生、消滅はある関数で発生、減衰
し、遅い成分では数百ミリ秒の長い時定数を有すること
が指摘されている。その対策として、たとえば特開平5
−237091ではアフターグローの減衰を補正するた
め、多数の信号サンプルを検出し、複雑な計算により補
償値を算出し、信号から減じている。さらにこの計算の
ためには初期の減衰成分が無視出来るまで、遅延させて
いる。
ターと組み合わせてX線等による放射線診断装置、X線
撮影装置に用いることがたとえば特表平7−50286
5で提案されている。この従来技術では、薄膜半導体か
らなるセンサとトランジスタによる時定数と装置の読み
取り速度、S/Nの関係をあらわしている。この特表平
7−502865ではX線が連続照射のときの透視モー
ドの読み取り方法と、X線がある短時間のみ照射し、す
べてのセンサが同時に信号を蓄積する写真モードが紹介
されている。
術では、たとえば、特開平5−237091のように多
数回信号を取り補償値を計算し補償値を信号から減じる
計算をするためには高価な信号処理回路、演算装置が必
要となる。さらに初期の減衰成分が無視出来るまで、遅
延させているため、検出器からの信号を取り出すまで遅
延時間分待たなければならない。
射のときの透視モードと、X線がある短時間のみ照射す
る写真モードが紹介されているが、透視モードでX線が
照射し続けていると人体のX線の被爆量が多くなるとい
う心配がある。一方、写真モードでは、シンチレーター
の光の発生、減衰の時定数が考慮されておらず、X線が
終了してから瞬時に読み出しを開始すると、シンチレー
ターの光の減衰の時定数のために、読み出しの始めのラ
インでは暗電流が大きい間に読み出し、最後の方の読み
出しラインでは暗電流成分が積分された信号が読み出さ
れる。このため、信号に混在するシンチレーターの遅延
のある減衰特性による暗電流が読み取るラインの順番に
より大きく異なるという問題があった。
りなるセンサと薄膜トランジスタからなる大画面センサ
パネルを用いた、X線診断装置、あるいは放射線治療装
置を紹介している。そしてリアルタイムイメージセンサ
として必要な、センサの容量と薄膜トランジスタのon
抵抗をかけた時定数と、S/N、フレーム周波数の関係
を導いている。しかし、X線が連続で照射されている場
合を想定しており、上述したようなシンチレーターの減
衰特性については言及しておらず、X線が間欠で照射す
る場合の読み取りの設計については触れられていなかっ
た。
モードのような場合は時間的に余裕があり、それほど問
題になることはないが、循環器系の診断のようにフレー
ム数の多いフル動画の場合、光の残存成分がノイズとし
て影響を及ぼす事が考えられる。
レーターの減衰特性と、センサパネルのセンサの容量と
薄膜トランジスタのon抵抗からなる時定数読み取り特
性と結び付け、設計することは提案されていなかった。
放射線の照射を間欠にし、被爆線量を低減した放射線診
断装置等の放射線検出装置において、シンチレーターの
減衰特性を考慮した読み出し方法をとることで、雑音が
小さく、ばらつきの小さい、所望のSNの信号を読み出
すことにある。
断、治療において、シンチレーターの減衰特性を考慮し
最適な信号対雑音(SN)を得るための関係を導くこと
にある。
記課題を解決するための手段として、被写体を照射する
放射線源と、前記放射線を光電変換可能な光に変換する
シンチレーターと、該光を電気に変換するべくマトリク
ス状に配列された複数の画素を有するセンサ素子と、前
記各画素の信号を順次転送すべく各画素に接続された転
送用TFTと、を有する放射線検出装置において、所望
の信号対雑音(SN)を得るため、前記放射線の照射が
停止した後、(n×τ1 )[ただし、τ1 は前記シンチ
レーターの蛍光面残光特性の時定数、nはln(SN)
である。]以上遅延してから、最初の上記転送用TFT
をonさせて前記画素に蓄積した信号を転送する手段を
有することを特徴とする放射線検出装置を提供するもの
である。
する放射線源と、前記放射線を光電変換可能な光に変換
するシンチレーターと、該光を電気に変換するべくマト
リクス状に配列された複数の画素を有するセンサ素子
と、前記各画素の信号を順次転送すべく各画素に接続さ
れた転送用TFTと、を有する放射線検出装置におい
て、装置全体の所望の信号対雑音をSNとした場合、該
SNを得るために、以下の関係式を満たすことを特徴と
する放射線検出装置である。
レーム数; τ1 :シンチレーターの発光の立ち上がり及び減衰の時
定数; τ2 :センサ素子容量と転送用TFTのon抵抗を掛け
て得られる時定数; α:シンチレーターに要求される信号対雑音をSN1 と
した場合の、 α=ln(SN1 ) また、α=[(センサ素子の光信号の蓄積時間)/τ
1 ]の倍数でもある; β:転送用TFTがセンサ素子の容量に蓄積された信号
の転送に要求される信号対雑音をSN2 とした場合の、 β=ln(SN2 ) また、β=転送用TFTがonする時間の時定数の倍数
でもある;また、放射線を光電変換可能な光に変換する
シンチレーターと、該光を電気信号に変換するべくマト
リクス状に配列された複数の画素を有するセンサ素子
と、前記各画素の信号を順次転送すべく各画素に接続さ
れた転送用TFTと、を有する放射線検出装置におい
て、所望の信号対雑音をSNとした時、該SNを得るた
め、前記放射線の照射が停止した後、(n×τ1 )[た
だし、τ1 は前記シンチレーターの蛍光面残光特性の時
定数、nはln(SN)である。]以上遅延した後、最
初の上記転送用TFTをonさせて前記画素に蓄積した
信号を転送することを特徴とする放射線検出方法でもあ
る。
ス時間の照射で行われる放射線を用いる放射線写真撮影
に用いられる放射線検出装置であって、前記放射線を可
視光領域の波長の輻射線に変換し蛍光面残光特性の時定
数を有するシンチレーターと、各々が所定の容量を有す
る薄膜センサ素子と前記薄膜センサ素子に1対1で対応
する所定のon抵抗を有する薄膜トランジスタ(転送用
TFT)で構成される画素がマトリクス状に配列し、1
以上の所定の列毎に薄膜トランジスタ(転送用TFT)
をonさせて駆動する光センサを有する放射線検出装置
において、前記シンチレーターの蛍光面残光特性の時定
数をτ1 とすると、前記放射線の照射が停止した後、時
間(n×τ1 )以上経過した後、薄膜トランジスタをo
nさせて前記薄膜センサ素子に蓄積した信号を転送する
放射線検出装置であり、 SN:システムが要求する信号対雑音 n=ln(SN) n×τ1 =ln(SN)×τ1 の関係を満たすようにシステムを設計することで、上記
目的を達成出来る。
射線撮影、放射線診断装置もしくは放射線治療装置に用
いられる放射線検出装置であって、前記放射線を可視光
領域の波長の輻射線に変換し、蛍光面残光特性の時定数
を有するシンチレーターと、各々が所定の容量を有する
薄膜センサ素子と前記薄膜センサ素子に1対1で対応す
る所定のon抵抗を有する薄膜トランジスタで構成され
る画素がマトリクス状に配列し、1以上の所定の列毎に
薄膜トランジスタをonさせて駆動する光センサを有す
る放射線検出装置において、前記シンチレーターの蛍光
残光特性の時定数をτ1 とし、前記薄膜センサ素子の容
量Cと薄膜トランジスタのon抵抗Rを乗じた時定数τ
2 、 IFPS:放射線検出装置の読み取りの1秒あたりのフ
レーム数、 α:センサの光信号の蓄積時間の、シンチレーターの発
光の立ち上がり、減衰の時定数の倍数、またはシンチレ
ーターに要求されるSN1 に対して α=ln(SN1 )、 β:転送用TFTがonする時間の時定数の倍数、また
は薄膜トランジスタが薄膜センサ素子の容量に蓄積され
た信号の転送に要求されるSN2 に対して α=ln(SN2 )、 また、システムとして必要な信号対雑音(SN)を、 SN=exp(α+β)、1/SN=exp(−α−
β)とすると、以下の式、 (α×τ1 +β×τ2 )≦1/IFPS で表わされる関係を満たす放射線検出装置とすることに
より、所望の信号対雑音(SN)を得ることができ、上
記目的を達成できる。
の照射を間欠にし、被爆線量を低減した放射線診断装置
において、シンチレーターの減衰特性を考慮した読み出
し方法をとることで、雑音が小さく、ばらつきの小さ
い、所望のSNの信号を読み出すことができる。
断、治療においてシンチレーターの減衰特性を考慮し最
適な信号対雑音(SN)を得るための関係を導くことに
より、所望のSNの放射線検出装置の設計を容易にする
ことができるものである。
−Siからなる薄膜のセンサと薄膜トランジスタをマト
リクス上に2次元に複数個並べた大画面センサパネルと
大画面センサ表面にシンチレーターを配置した放射線検
出装置において、センサの容量Cと薄膜トランジスタの
on抵抗Rを掛けて得られる時定数τと読み取り速度と
S/Nとシンチレーターの減衰特性とX線の照射タイミ
ングを関係付けることにより、所望のSNの放射線検出
装置を、容易に設計して得ることができるものである。
に説明する。
明するための、放射線検出装置100を中心とした回路
図である。
光電変換可能な光に変換するシンチレーター14と、該
光を電気信号に変換するべくマトリクス状に配列された
複数の画素を有するセンサ素子と、前記各画素の信号を
順次転送すべく各画素に接続された転送用TFT(T)
と、を有する放射線検出装置において、所望の信号対雑
音をSNとした時、該SNを得るため、放射線の照射が
停止した後、(n×τ1 )[ただし、τ1 は前記シンチ
レーターの蛍光面残光特性の時定数、nはln(SN)
である。]以上遅延させる手段(図中、制御回路、CP
U、プログラムメモリ)により遅延した後、最初の上記
転送用TFTをonさせて前記画素に蓄積した信号を転
送する手段(図中、シフトレジスタ102)を有するこ
とを特徴とする放射線検出装置である。
視光に変換するシンチレーター14と、可視光を受光し
電気信号に変換するためのa−Siからなる薄膜センサ
素子(S1-1 〜S3-3 )と、薄膜センサ素子で光電変換
された信号電荷をマトリクス信号配線M1〜M3側へ転
送するためのa−Siからなる薄膜トランジスタ(転送
用TFT)(T1-1 〜T3-3 )による画素が2次元のマ
トリクス状に並んだ光電変換回路101と、薄膜トラン
ジスタのゲート線(G1〜G3)を駆動するシフトレジ
スタからなる。なお、ここでは説明を簡単にするために
画素を3×3の構成にしてある。
ジスタの電極間容量(Cgs)の3個分の容量が転送時
において付加されており、図1内では容量素子としての
表記をしていない。他のマトリクス信号配線M2,M3
についても同様である。光電変換素子S1-1 〜S3-3 と
スイッチング素子T1-1 〜T1-3 とゲート駆動配線G1
〜G3とマトリクス信号配線M1〜M3が、図中光電変
換回路部101内に表示されており、図示されていない
が、それぞれ1つの絶縁基板上に配置されている。10
2はスイッチ素子T1-1 〜T3-3 を開閉するためのシフ
トレジスタ(SR1)で構成される駆動用回路部であ
る。
M3の信号電荷を増幅し、インピーダンス変換するため
のオペアンプであり、図中においては電圧ホロワ回路を
構成したバッファーアンプとしてのみ記載してある。S
n1からSn3はオペアンプL1〜L3の出力すなわち
各マトリクス信号配線M1〜M3の出力を読み出し、コ
ンデンサCL1 〜CL3 へ転送する転送スイッチであ
る。読み出しコンデンサCL1 〜CL3 は、電圧ホロワ
回路を構成したバッファアンプB1〜B3を介して読み
出し用スイッチSr1 〜Sr3 により読み出される。
3 を切り替えるためのシフトレジスタ(SR2)であ
る。CL1 〜CL3 の並列信号は、Sr1 〜Sr3 とシ
フトレジスタ(SR2)103により直列変換され、最
終段の電圧ホロワ回路を構成したオペアンプ104に入
力され、さらにA/D変換回路部105でディジタル化
される。RES1〜RES3はマトリクス信号配線M1
〜M3に付加された容量(3個分のCgs)に蓄えられ
た信号成分をリセットするためのリセット用スイッチで
あり、CRES端子からのパルスによりあるリセット電
位にリセット(図中ではGND電位にリセット)され
る。
3-3 にバイアスを与えるための電源である。読み出し用
回路部107は、バッファアンプL1〜L3、転送スイ
ッチSn1〜Sn3、読み出しコンデンサCL1 〜CL
3 、バッファアンプB1〜B3、読み出し用スイッチS
r1 〜Sr3 、シフトレジスタSR2、最終段のオペア
ンプ104、リセット用スイッチRES1〜RES3で
構成されている。
ング素子をアモルファスシリコン半導体薄膜を用いて構
成した時の光電変換回路部の概略的上面図である、図6
(b)は、図6(a)中A−Bにおける概略的断面構成
図である。薄膜センサ素子301及び薄膜トランジスタ
302(アモルファスシリコンTFT、以下単にTFT
と記す)は、同一のガラス基板303上に形成されてお
り、薄膜センサ素子301の下部電極は、TFT302
の下部電極(ゲート電極)と同一の第1の金属薄膜層3
04で共有されており、薄膜センサ素子301の上部電
極は、TFT302の上部電極(ソース電極、ドレイン
電極)と同一の第2の金属薄膜層305で共有されてい
る。また、第1、第2の金属薄膜層は、光電変換回路部
内の、ゲート駆動用配線306、マトリクス信号配線3
07も共有している。図6(a)においては、画素数と
して2×2の計4画素分が記載されている。図6(a)
中ハッチング部は、薄膜センサ素子の受光面である。3
09は薄膜センサ素子にバイアスを与える電源ラインで
ある。また、310は薄膜センサ素子301とTFT3
02を接続するためのコンタクトホールである。
302と同じMIS型の構造をしており、薄膜センサ素
子301とTFT302の絶縁膜311は、同時に形成
された絶縁膜を用いている。
である。薄膜センサ素子とTFTからなる画素を便宜上
四角形で表わしている。
4系統(Vs1〜Vs4)に分けてあり、センサのリセット
を4系統に分けて行うことができる。
並んでいる例を示しているが、センサバイアスを4系統
に分けているので列数mは4の倍数となっている。
図2は、図1に示される放射線写真撮影時の放射線検出
装置の動作を示すタイミングチャートである。図を用い
て動作の詳細を説明する。
めた後、配線M1,M2,M3に残留している電荷をC
RES電位をonさせトランジスタRES1〜RES3
をonすることで除去し、M1,M2,M3を接地電位
とする。
したX線12はシンチレーター14を照射し、透過した
X線の量に応じた光をシンチレーター14に発光させ
る。
線検出装置100内の各光電変換素子S1-1 ,S1-2 ,
…S3-3 を照射し、各光電変換素子に入射した光の量に
応じた信号電荷を発生させる。
子内で形成されている容量成分に一定の期間だけ蓄積さ
れる。第1行の光電変換素子S1-1 〜S3-3 に蓄積され
ていた信号電荷は、シフトレジスタ(SR1)102の
ゲートパルス信号G1によりスイッチング素子T1-1 〜
T1-3 がt1時間だけ“ON”し、マトリクス信号配線
M1〜M3の各配線に形成される容量成分(スイッチン
グ素子T1-1 〜T3-3のCgs3個分の容量)に転送さ
れる。図2中M1〜M3はその転送を示しており、各光
電変換素子内に蓄えられた信号量が異なった場合を示し
ている。すなわち、第1行の光電変換素子(S1-1 から
S1-3 )においては、その出力レベルがS1-2 >S1-1
>S1-3 である。マトリクス信号配線M1〜M3の信号
出力は、それぞれオペアンプL1〜L3により増幅され
る。
グ素子Sn1〜SN3が、図中に示されるSMPLパル
スによりt2時間だけ“ON”し、読み出しコンデンサ
CL 1 〜CL3 にそれぞれ転送される。読み出しコンデ
ンサCL1 〜CL3 の信号は、それぞれバッファアンプ
B1〜B3によりインピーダンス変換される。その後読
み出し用スイッチSr1 〜Sr3 がシフトレジスタ(S
R2)103からのシフトパルスSp1〜Sp3により
順次“ON”することにより、読み出し用コンデンサC
L1 〜CL3 に転送されていた並列の信号電荷が、直列
変換され読み出される。Sp1,Sp2,Sp3のシフ
トパルスのパルス幅をSp1=Sp2=Sp3=t3と
すると、この直列変換読み出しに必要な時間はt3×3
となる。直列変換された信号は最終段のオペアンプ10
4から出力され、さらにA/D変換回路部105により
ディジタル化される。
路部に入力される前のアナログ信号を示している。図に
示しているように、第1行のS1-1 〜S1-3 の並列信号
すなわちマトリクス信号配線M1〜M3の信号電位の並
列信号が、それらの信号の大小に比例してVout信号
上で、直列変換されている。
信号電位はCRESパルスがt4時間だけ“ON”する
ことによりリセット用スイッチ素子RES1〜RES3
を介して一定のリセット電位(GND電位)にリセット
され、次の光電変換素子S2- 1 〜S2-3 の第2行の信号
電荷の転送に備える。以下同様に第2行、第3行の光電
変換された信号が繰り返し読み出される。
1〜G3)がonするまでの時間、信号を蓄積する。従
って、センサ信号を転送するために最初にonするG1
のonまでの時間と最後にonするG3のonまでの時
間にずれがあり、そのためシンチレーターの発光の減衰
の影響がライン毎に異なる。これについて、図4を用い
て説明する。図4は放射線照射が停止した後センサ出力
がどのように変化するかを示したものである。
る部分においては、減衰成分が信号成分として蓄積され
ていると考えられるため、図に示すように、減衰成分を
信号成分Sとする。また、例えば、放射線がoffして
からTm1時点で転送用TFTをonさせて、蓄積され
た信号電荷を読み出す場合、すでに蓄積されているS’
成分は信号として読み出すことが出来るが、Tm1以降
発生するN’成分はまだ蓄積されていないため転送する
ことができない残留成分となる。従って、この残留成分
は、信号成分以外の雑音成分N’と言うことができる。
FTのゲートがonしたラインのセンサは放射線が停止
した後短い蓄積時間で転送が始まるために信号対雑音
(S′/N′)は小さく、後で(例えば、Tm2で)ゲ
ートがonしたラインのセンサは信号対雑音(S/N)
が大きくなる。このため、ラインによりばらつくことに
なり、システムとしての信号対雑音を低下させることに
なる。
1 に対してシステムとして必要な信号対雑音(SN)に
対応する時間を、転送用TFTのゲート電圧をonする
までに設定することにより、システムとして必要なSN
を得ることが出来る。
光量を1とすると、シンチレーターの減衰の時定数τ1
により放射線の照射が停止したn×τ1 後のシンチレー
ターの発光量は、exp(−n×τ1 )になる。従っ
て、この時システムとして必要なSNに対して1/SN
=exp(−n)、ln(SN)=nとおく事が出来
る。
を取り出すために転送用TFTが最初にonするまでの
時間を、図4に示すようにTm2=n×τ1 以上に設定
すれば、所望のSNが得られることになる。
めの本実施例の手段について、簡単に説明する。
時間をn×τ1 以上に制御するための手段としては、例
えば、マイクロコンピュータ(CPU)により、制御プ
ログラムを駆動し、図1の回路を例にとれば、放射線源
11の照射終了時から、カウントを開始し、n×τ1 以
上遅延させてから、シフトレジスタSR1のG1出力を
駆動すること等により、通常の技術で、容易に実施可能
である。
11との間に、同期信号線と遅延回路を設けて、放射線
源11の照射終了信号を遅延回路で遅延した後、シフト
レジスタのスタート信号として入力すること等によって
も、容易に実施することができる。
するために、多数のフレーム画像を連続的に読み出す場
合について、所望のSNを得る例について説明する。
の画素は3×3であったが、本実施例では、画素がm行
×n列マトリクス状に並んで形成されている場合につい
て述べる。この場合、一般的なのは、1秒間あたり30
フレームでセンサアレイを読み出す場合である。この
時、1フレームのスキャン時間は1/30(sec)=
33msecとなる。
ングチャートを示す。図3(A)に示すように、放射線
は連続で照射している。
は信号の蓄積を行う場合である。
後、次の読み出しが始まるまで休止する場合(図中、点
線部)である。この休止時間は、1フレーム当たりのス
キャン時間tf 、各列の読み出し時間tX 、読み出す列
数q(≦n)により、最大t f −tX ・qだけ設定する
ことができる。
み取るが、各列の読み出し時間の間に休止(蓄積はして
いる)の時間が設けてある場合である。
読み出し時間の間に休止が設定されている場合である。
この休止の時間は、各列で蓄積も休みも行わない時間で
ある。例えば、読み出しによってセンサから放電(充
電)された後の、残留成分を除去する(リフレッシュ)
駆動を行うことにより、さらにS/N比を向上させるこ
とができる。
に関係するパラメーターは、 (1)システムが要求するSN (2)画素毎のスイッチとセンサからなるCR時定数τ
2 (3)装置が必要としているスキャン速度(フレーム
数) (4)シンチレーターの発光のX線が当たった時の立ち
上がり、X線が当たらなくなった時の減衰の時定数τ1 以上4つが必要である。以下、上記(1)〜(4)を更
に説明する。
イッチにより転送された信号量Sと転送残り信号量Nで
定義する。
積容量Cと画素毎のスイッチ(TFT)のon抵抗Rを
掛けたものである。
あたりのn列(必要に応じてq<n列)のスキャン数
(フレーム数)である。通常のモニターでは30フレー
ム/秒である。
ターの発光、放射線の入射が終了した後のシンチレータ
ーの発光の減衰は、多重指数関数(Σαtn )的な変化
を示すが、ここでは時定数τ1 による指数関数で表わさ
れるものとする。
送残りの関係を示す図であり、光電変換素子(図1で言
えば、S11〜S33)内の容量に蓄積された信号電荷を1
としたときの転送量を示すグラフである。図8を参照し
ながら、上記パラメータを用いて考察してみる。
送を時定数τ2 のβ倍行った場合(ただし、β=t/τ
2 )、図8に示すように、信号成分Sの転送量のグラフ
は、S=1−exp(−β)と表わすことができる。ま
た、転送残り成分N2 は、図8に示すように、N2 =e
xp(−β)となる。転送した信号成分をSとすると、
S=1−N2 =1−exp(−β)であるが、exp
(−β)≪1であるため、規格化した場合、S≒1と近
似することができる。
2 =S/N2 =1/exp(−β)となり、これより、
逆数をとると、1/SN2 =exp(−β)=N2 とな
る。つまり、転送残り成分N2 は、SN2 の逆数とな
る。あるいはβ=lnSN2 となる。
ばらつきについて、図4を参照しながら考えてみる。
の発光の立ち上がりによる時間t後の出力Sは、飽和し
たときのセンサ出力をS0 とすると、t/τ1 =αとお
いた場合、 S=S0 ・(1−exp(−α)) シンチレーターの発光の減衰の遅延による出力の変化
は、 S=S0 ・exp(−α) シンチレーターの立ち上がり、減衰の時定数が0すなわ
ち瞬時で変化する場合はノイズがないが、時定数τ1 を
有するために、ノイズ成分の割合として、exp(−
α)のノイズ成分の割合が発生する。この時、出力の方
は1で近似している。実際の読み取りでは、蓄積時間
は、ほぼフレーム数の逆数で、たとえば30フレーム/
秒ならば33msで、シンチレーターの時定数がmsオ
ーダーであれば良い近似となる。
SN1 =exp(−α)となる。
FTの時定数から生じるSN2 =exp(β)とシンチ
レーターの時定数から生じるSN1 =exp(α)の合
成SNとなる。
(−α−β)とおく事が出来る。
2 であり、シンチレーターからの光をセンサが受け信号
を蓄積する時間はα×τ1 であり、α×τ1 とβ×τ2
の合計時間は1フレームの時間を超えることは出来な
い。
ーム数 τ1 :シンチレーターに放射線が照射されたとき、放射
線の照射が停止したときの発光の立ち上がり、減衰の時
定数 τ2 :センサ容量とTFTのon抵抗を掛けて得られる
時定数 α:センサの光信号の蓄積時間の、シンチレーターの発
光の立ち上がり、減衰の時定数の倍数 β:転送用TFTがonする時間の時定数の倍数 従って、例えば、マイクロコンピュータを用いた制御シ
ステムで、センサの1フレームのスキャン時間を(α×
τ1 +β×τ2 )以上に設定することにより、所望の信
号対雑音SN=ln(α+β)を持つ放射線装置を得る
ことが容易にできる。
有する放射線検出装置を用いた、放射線写真撮影装置、
放射線撮影装置、放射線診断装置、放射線治療装置のシ
ステムも必要なSNと読み取り速度の関係を最適に設定
することで、蛍光体の残光特性の時定数、薄膜センサ素
子と薄膜トランジスタから生じる時定数を考慮したSN
の良い各種放射線検出装置を提供することが出来る。
ある。
動作を示すタイミングチャートである。
装置の動作を示すタイミングチャートである。
グラフである。
る。
断面図(b)である。
る。
係を示すグラフである。
Claims (3)
- 【請求項1】 放射線を光電変換可能な光に変換するシ
ンチレーターと、 該光を電気信号に変換するべくマトリクス状に配列され
た複数の画素を有するセンサ素子と、 前記各画素の信号を順次転送すべく各画素に接続された
転送用TFTと、を有する放射線検出装置において、 所望の信号対雑音をSNとした時、該SNを得るため、
前記放射線の照射が停止した後、 (n×τ1 )[ただし、τ1 は前記シンチレーターの蛍
光面残光特性の時定数、nはln(SN)である。]以
上遅延した後、最初の上記転送用TFTをonさせて前
記画素に蓄積した信号を転送する手段を有することを特
徴とする放射線検出装置。 - 【請求項2】 放射線を光電変換可能な光に変換するシ
ンチレーターと、 該光を電気信号に変換するべくマトリクス状に配列され
た複数の画素を有するセンサ素子と、 前記各画素の信号を順次転送すべく各画素に接続された
転送用TFTと、を有する放射線検出装置において、 装置全体の所望の信号対雑音をSNとした場合、該SN
を得るために、以下の関係式を満たすことを特徴とする
放射線検出装置。 (α×τ1 +β×τ2 )≦1/IFPS SN=exp(α+β); ただし、 IFPS:放射線検出装置の読み取りの1秒あたりのフ
レーム数; τ1 :シンチレーターの発光の立ち上がり及び減衰の時
定数; τ2 :センサ素子容量と転送用TFTのon抵抗を掛け
て得られる時定数; α:[(センサ素子の光信号の蓄積時間)/τ1 ]の倍
数: また、シンチレーターに要求される信号対雑音をSN1
とした場合、 α=ln(SN1 )でもある; β:転送用TFTがonする時間の時定数の倍数: また、転送用TFTがセンサ素子の容量に蓄積された信
号の転送に要求される信号対雑音をSN2 とした場合、 β=ln(SN2 )でもある; - 【請求項3】 放射線を光電変換可能な光に変換するシ
ンチレーターと、 該光を電気信号に変換するべくマトリクス状に配列され
た複数の画素を有するセンサ素子と、 前記各画素の信号を順次転送すべく各画素に接続された
転送用TFTと、を有する放射線検出装置において、 所望の信号対雑音をSNとした時、該SNを得るため、
前記放射線の照射が停止した後、 (n×τ1 )[ただし、τ1 は前記シンチレーターの蛍
光面残光特性の時定数、nはln(SN)である。]以
上遅延した後、最初の上記転送用TFTをonさせて前
記画素に蓄積した信号を転送することを特徴とする放射
線検出方法。
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32861897A JP3839941B2 (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 放射線検出装置及び放射線検出方法 |
SG1998004894A SG73587A1 (en) | 1997-11-28 | 1998-11-23 | Radiation detecting device and radiation detecting method |
US09/197,476 US6239439B1 (en) | 1997-11-28 | 1998-11-23 | Radiation detecting device and radiation detecting method |
TW087119502A TW406194B (en) | 1997-11-28 | 1998-11-24 | Rediation detecting device and rediation detecting method |
EP98309729A EP0922943B1 (en) | 1997-11-28 | 1998-11-26 | Radiation detecting device and radiation detecting method |
EP05076404A EP1580540A3 (en) | 1997-11-28 | 1998-11-26 | Radiation detecting device and radiation detecting method |
DE69836720T DE69836720T2 (de) | 1997-11-28 | 1998-11-26 | Strahlungsdetektor und Verfahren zur Strahlungsdetektion |
CNB981261590A CN1133879C (zh) | 1997-11-28 | 1998-11-27 | 辐射检测装置和辐射检测方法 |
KR1019980051388A KR100313688B1 (ko) | 1997-11-28 | 1998-11-27 | 방사선검출장치및검출방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32861897A JP3839941B2 (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 放射線検出装置及び放射線検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11160440A true JPH11160440A (ja) | 1999-06-18 |
JP3839941B2 JP3839941B2 (ja) | 2006-11-01 |
Family
ID=18212289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32861897A Expired - Fee Related JP3839941B2 (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 放射線検出装置及び放射線検出方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6239439B1 (ja) |
EP (2) | EP0922943B1 (ja) |
JP (1) | JP3839941B2 (ja) |
KR (1) | KR100313688B1 (ja) |
CN (1) | CN1133879C (ja) |
DE (1) | DE69836720T2 (ja) |
SG (1) | SG73587A1 (ja) |
TW (1) | TW406194B (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002055164A (ja) * | 2000-08-11 | 2002-02-20 | Canon Inc | 画像撮影装置、画像撮影方法 |
JP2003522576A (ja) * | 2000-02-18 | 2003-07-29 | ウィリアム・ボーモント・ホスピタル | 平坦なパネル画像装置を有するコーンビームコンピュータ断層撮像装置 |
JP2006314772A (ja) * | 2005-04-15 | 2006-11-24 | Toshiba Corp | Ctスキャナ |
US8983024B2 (en) | 2006-04-14 | 2015-03-17 | William Beaumont Hospital | Tetrahedron beam computed tomography with multiple detectors and/or source arrays |
US9192786B2 (en) | 2006-05-25 | 2015-11-24 | William Beaumont Hospital | Real-time, on-line and offline treatment dose tracking and feedback process for volumetric image guided adaptive radiotherapy |
US9320917B2 (en) | 2010-01-05 | 2016-04-26 | William Beaumont Hospital | Intensity modulated arc therapy with continuous coach rotation/shift and simultaneous cone beam imaging |
US9339243B2 (en) | 2006-04-14 | 2016-05-17 | William Beaumont Hospital | Image guided radiotherapy with dual source and dual detector arrays tetrahedron beam computed tomography |
US9421399B2 (en) | 2002-12-18 | 2016-08-23 | Varian Medical Systems, Inc. | Multi-mode cone beam CT radiotherapy simulator and treatment machine with a flat panel imager |
US9498167B2 (en) | 2005-04-29 | 2016-11-22 | Varian Medical Systems, Inc. | System and methods for treating patients using radiation |
US9630025B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-04-25 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US10004650B2 (en) | 2005-04-29 | 2018-06-26 | Varian Medical Systems, Inc. | Dynamic patient positioning system |
USRE46953E1 (en) | 2007-04-20 | 2018-07-17 | University Of Maryland, Baltimore | Single-arc dose painting for precision radiation therapy |
US10773101B2 (en) | 2010-06-22 | 2020-09-15 | Varian Medical Systems International Ag | System and method for estimating and manipulating estimated radiation dose |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1168451A3 (en) * | 2000-06-27 | 2005-11-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor device, and radiation detection device and radiation detection system having same |
JP5016746B2 (ja) * | 2000-07-28 | 2012-09-05 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその駆動方法 |
JP2002052015A (ja) * | 2000-08-07 | 2002-02-19 | Shimadzu Corp | 平面型放射線検出器ユニット及びx線撮像装置 |
CN1316634C (zh) * | 2001-10-03 | 2007-05-16 | 株式会社东芝 | X光平面检测器 |
US7122804B2 (en) * | 2002-02-15 | 2006-10-17 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | X-ray imaging device |
US7317190B2 (en) * | 2004-09-24 | 2008-01-08 | General Electric Company | Radiation absorbing x-ray detector panel support |
US7282719B2 (en) * | 2004-09-30 | 2007-10-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Image pickup apparatus and radiation image pickup apparatus |
US7046764B1 (en) | 2004-10-04 | 2006-05-16 | General Electric Company | X-ray detector having an accelerometer |
US7866163B2 (en) * | 2004-10-04 | 2011-01-11 | General Electric Company | Radiographic detector docking station with dynamic environmental control |
US7189972B2 (en) * | 2004-10-04 | 2007-03-13 | General Electric Company | X-ray detector with impact absorbing cover |
US7342998B2 (en) * | 2004-11-18 | 2008-03-11 | General Electric Company | X-ray detector quick-connect connection system |
US7381964B1 (en) | 2004-11-24 | 2008-06-03 | General Electric Company | Method and system of x-ray data calibration |
US7581885B2 (en) * | 2004-11-24 | 2009-09-01 | General Electric Company | Method and system of aligning x-ray detector for data acquisition |
GB0505523D0 (en) * | 2005-03-17 | 2005-04-27 | E2V Tech Uk Ltd | X-ray sensor |
EP2010058B1 (en) * | 2006-04-14 | 2017-05-17 | William Beaumont Hospital | Computed Tomography System and Method |
JP4868926B2 (ja) * | 2006-04-21 | 2012-02-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
CN101997010B (zh) * | 2009-08-11 | 2012-12-05 | 元太科技工业股份有限公司 | 数字x光探测面板及其制作方法 |
JP5488237B2 (ja) | 2010-06-16 | 2014-05-14 | 日産自動車株式会社 | 車両用空調装置 |
JP5508340B2 (ja) * | 2011-05-30 | 2014-05-28 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及び放射線画像検出装置の制御方法 |
JP5848047B2 (ja) | 2011-07-07 | 2016-01-27 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出素子、放射線画像撮影装置、及び放射線画像撮影システム |
CN102353974B (zh) * | 2011-07-15 | 2013-12-25 | 上海奕瑞光电子科技有限公司 | 一种平板x射线探测器及其制备方法 |
JP2014081358A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-05-08 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置 |
CN103698796A (zh) * | 2013-11-28 | 2014-04-02 | 兰州空间技术物理研究所 | 一种航天器舱外辐射剂量测量装置 |
CN105651794A (zh) * | 2016-02-29 | 2016-06-08 | 江苏美伦影像***有限公司 | 一种x射线探测器电路 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4689487A (en) | 1984-09-03 | 1987-08-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiographic image detection apparatus |
US5262649A (en) | 1989-09-06 | 1993-11-16 | The Regents Of The University Of Michigan | Thin-film, flat panel, pixelated detector array for real-time digital imaging and dosimetry of ionizing radiation |
US5517544A (en) * | 1991-02-20 | 1996-05-14 | Elscint Ltd. | Afterglow artifact reduction |
JPH05130510A (ja) * | 1991-11-05 | 1993-05-25 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | イメージセンサ |
US5331682A (en) | 1991-11-25 | 1994-07-19 | General Electric Company | Radiation detector offset and afterglow compensation technique |
US5587591A (en) * | 1993-12-29 | 1996-12-24 | General Electric Company | Solid state fluoroscopic radiation imager with thin film transistor addressable array |
US5962856A (en) | 1995-04-28 | 1999-10-05 | Sunnybrook Hospital | Active matrix X-ray imaging array |
JP3415348B2 (ja) * | 1995-11-07 | 2003-06-09 | 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 | X線撮像装置 |
US5818898A (en) * | 1995-11-07 | 1998-10-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray imaging apparatus using X-ray planar detector |
JP3957803B2 (ja) * | 1996-02-22 | 2007-08-15 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
JP3897389B2 (ja) * | 1996-02-22 | 2007-03-22 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置の駆動方法及び光電変換装置 |
JP4035194B2 (ja) * | 1996-03-13 | 2008-01-16 | キヤノン株式会社 | X線検出装置及びx線検出システム |
US5644610A (en) * | 1996-06-27 | 1997-07-01 | Analogic Corporation | Multi-processor afterglow artifact correction filter for use with computed tomography scanners |
-
1997
- 1997-11-28 JP JP32861897A patent/JP3839941B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-11-23 SG SG1998004894A patent/SG73587A1/en unknown
- 1998-11-23 US US09/197,476 patent/US6239439B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-11-24 TW TW087119502A patent/TW406194B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-11-26 EP EP98309729A patent/EP0922943B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-11-26 EP EP05076404A patent/EP1580540A3/en not_active Withdrawn
- 1998-11-26 DE DE69836720T patent/DE69836720T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-11-27 KR KR1019980051388A patent/KR100313688B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1998-11-27 CN CNB981261590A patent/CN1133879C/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013223731A (ja) * | 2000-02-18 | 2013-10-31 | William Beaumont Hospital | 放射線治療手順のオンラインコーンビームコンピュータ断層撮像ガイダンスの方法 |
JP2003522576A (ja) * | 2000-02-18 | 2003-07-29 | ウィリアム・ボーモント・ホスピタル | 平坦なパネル画像装置を有するコーンビームコンピュータ断層撮像装置 |
US7826592B2 (en) | 2000-02-18 | 2010-11-02 | William Beaumont Hospital | Cone-beam computed tomography with a flat-panel imager |
JP2011072818A (ja) * | 2000-02-18 | 2011-04-14 | William Beaumont Hospital | 放射線治療システムを較正する方法 |
US8135111B2 (en) | 2000-02-18 | 2012-03-13 | William Beaumont Hospital | Cone beam computed tomography with a flat panel imager |
JP2013146637A (ja) * | 2000-02-18 | 2013-08-01 | William Beaumont Hospital | 画像システム |
JP2002055164A (ja) * | 2000-08-11 | 2002-02-20 | Canon Inc | 画像撮影装置、画像撮影方法 |
JP4724277B2 (ja) * | 2000-08-11 | 2011-07-13 | キヤノン株式会社 | 画像撮影装置、画像撮影方法 |
US9901750B2 (en) | 2002-12-18 | 2018-02-27 | Varian Medical Systems, Inc. | Multi-mode cone beam CT radiotherapy simulator and treatment machine with a flat panel imager |
US9421399B2 (en) | 2002-12-18 | 2016-08-23 | Varian Medical Systems, Inc. | Multi-mode cone beam CT radiotherapy simulator and treatment machine with a flat panel imager |
US11344748B2 (en) | 2002-12-18 | 2022-05-31 | Varian Medical Systems, Inc. | Multi-mode cone beam CT radiotherapy simulator and treatment machine with a flat panel imager |
JP2006314772A (ja) * | 2005-04-15 | 2006-11-24 | Toshiba Corp | Ctスキャナ |
US9498167B2 (en) | 2005-04-29 | 2016-11-22 | Varian Medical Systems, Inc. | System and methods for treating patients using radiation |
US9974494B2 (en) | 2005-04-29 | 2018-05-22 | Varian Medical Systems, Inc. | System and methods for treating patients using radiation |
US10004650B2 (en) | 2005-04-29 | 2018-06-26 | Varian Medical Systems, Inc. | Dynamic patient positioning system |
US9687676B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-06-27 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US10595774B2 (en) | 2005-07-25 | 2020-03-24 | Varian Medical Systems International | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US11642027B2 (en) | 2005-07-25 | 2023-05-09 | Siemens Healthineers International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US9687673B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-06-27 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US9687675B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-06-27 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US9687677B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-06-27 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US9687678B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-06-27 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US9764159B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-09-19 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US9788783B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-10-17 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US9687674B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-06-27 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US9630025B2 (en) | 2005-07-25 | 2017-04-25 | Varian Medical Systems International Ag | Methods and apparatus for the planning and delivery of radiation treatments |
US8983024B2 (en) | 2006-04-14 | 2015-03-17 | William Beaumont Hospital | Tetrahedron beam computed tomography with multiple detectors and/or source arrays |
US9339243B2 (en) | 2006-04-14 | 2016-05-17 | William Beaumont Hospital | Image guided radiotherapy with dual source and dual detector arrays tetrahedron beam computed tomography |
US9192786B2 (en) | 2006-05-25 | 2015-11-24 | William Beaumont Hospital | Real-time, on-line and offline treatment dose tracking and feedback process for volumetric image guided adaptive radiotherapy |
USRE46953E1 (en) | 2007-04-20 | 2018-07-17 | University Of Maryland, Baltimore | Single-arc dose painting for precision radiation therapy |
US9320917B2 (en) | 2010-01-05 | 2016-04-26 | William Beaumont Hospital | Intensity modulated arc therapy with continuous coach rotation/shift and simultaneous cone beam imaging |
US10773101B2 (en) | 2010-06-22 | 2020-09-15 | Varian Medical Systems International Ag | System and method for estimating and manipulating estimated radiation dose |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100313688B1 (ko) | 2002-02-19 |
EP0922943B1 (en) | 2006-12-27 |
CN1227926A (zh) | 1999-09-08 |
EP0922943A3 (en) | 2002-07-24 |
EP1580540A2 (en) | 2005-09-28 |
JP3839941B2 (ja) | 2006-11-01 |
TW406194B (en) | 2000-09-21 |
EP0922943A2 (en) | 1999-06-16 |
DE69836720T2 (de) | 2007-10-25 |
CN1133879C (zh) | 2004-01-07 |
EP1580540A3 (en) | 2005-10-12 |
DE69836720D1 (de) | 2007-02-08 |
KR19990045663A (ko) | 1999-06-25 |
US6239439B1 (en) | 2001-05-29 |
SG73587A1 (en) | 2000-06-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3839941B2 (ja) | 放射線検出装置及び放射線検出方法 | |
JP4965931B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、その制御方法、及び制御プログラム | |
US7109492B2 (en) | Radiographic apparatus | |
RU2379712C1 (ru) | Устройство формирования изображений методом излучения, способ управления для него и машиночитаемый носитель, хранящий программу осуществления способа | |
US7227926B2 (en) | Imaging apparatus and imaging system | |
US6818899B2 (en) | Radiographic image pickup apparatus and method of driving the apparatus | |
US20090066475A1 (en) | Radiographic apparatus and control method therefor | |
JPH09131337A (ja) | X線撮像装置 | |
JP2010011033A (ja) | 光電変換装置及び放射線検出装置 | |
JP5509032B2 (ja) | 放射線画像検出器 | |
WO2018135293A1 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP3740435B2 (ja) | 放射線撮像装置とその駆動方法、及び放射線撮像システム | |
WO2020085064A1 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP4546560B2 (ja) | 放射線撮像装置、その駆動方法及び放射線撮像システム | |
JP2018195949A (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP2004186432A (ja) | 放射線撮像装置およびその駆動方法 | |
JP2001108752A (ja) | 放射線撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050228 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050725 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050926 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060731 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060804 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090811 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100811 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110811 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120811 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120811 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130811 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |