JPH11125783A - 走査光学系及びそれを用いた光造形装置、レーザマーカ、レーザ加工機 - Google Patents

走査光学系及びそれを用いた光造形装置、レーザマーカ、レーザ加工機

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JPH11125783A
JPH11125783A JP9306508A JP30650897A JPH11125783A JP H11125783 A JPH11125783 A JP H11125783A JP 9306508 A JP9306508 A JP 9306508A JP 30650897 A JP30650897 A JP 30650897A JP H11125783 A JPH11125783 A JP H11125783A
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laser light
rotating
laser
scanning
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JP9306508A
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Shinji Ueda
伸治 上田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 モータでの発熱量を増やすことなしに、該モ
ータの回転角に対してレーザ光の反射光線(光軸)を大
きく振ることができる走査光学系及びそれを用いた光造
形装置、レーザマーカ、レーザ加工機を得ること。 【解決手段】 光源手段から出射したレーザ光を結像手
段により直交する二方向に関して二次元的に偏向可能な
偏向手段を介して偏向させた後、被走査面上に結像さ
せ、被走査面上を二次元的に走査する際、偏向手段はレ
ーザ光を第1の方向に偏向する第1の回動部と、第1の
回動部で偏向された第1の方向に対して直角な第2の方
向に偏向する第2の回動部を有し、第1の回動部及び第
2の回動部は各々任意の位置を中心に振動する第1の反
射部材と、固定の第2の反射部材とを有し、各々の回動
部は入射レーザ光を第1の反射部材で反射させ、反射さ
れたレーザ光を第2の反射部材で反射させ、さらに反射
されたレーザ光を再度該第1の反射部材で反射させるこ
と。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は走査光学系及びそれ
を用いた光造形装置、レーザマーカ、レーザ加工機に関
し、特に偏向手段の各要素を適切に構成することによ
り、該偏向手段用のモータでの発熱量を増やすことなし
に、該モータの回転角に対してレーザ光の反射光線を大
きく振ることができるものである。
【0002】
【従来の技術】従来より光硬化樹脂で形成された被走査
面(ターゲット面)上を光スポットで二次元的に走査し
て立体モデルを造形した光造形装置が種々と提案されて
いる。
【0003】図5はこの種の従来の光造形装置の要部斜
視図である。
【0004】同図において51はレーザ光源であり、例
えば半導体レーザ、CO2 レーザ、第2高調波型レーザ
等より成っている。52は折り返しミラーであり、光路
を折り曲げている。53は結像レンズ(焦点レンズ)で
あり、画像情報(例えばCADデータ)に基づくレーザ
光(光束)を後述する被走査面(ターゲット面)上に結
像させている。
【0005】50は直交する二方向に関して二次元的に
偏向可能な偏向手段であり、レーザ光を第1の方向に偏
向するX軸スキャン部54、該X軸スキャン部54で偏
向された第1の方向に対して直角な第2の方向に偏向す
るY軸スキャン部56を有し、該X軸スキャン部54及
びY軸スキャン部56は各々任意の位置を中心に振動
(回動)するスキャンミラーを有している。
【0006】X軸用及びY軸用のスキャンミラーは各々
対応するモータに取り付けられており、対応するX軸用
及びY軸用のサーボアンプ55,57で振動される。
【0007】58は被走査面としてのターゲット面であ
り、光硬化樹脂より形成されており、該光硬化樹脂にレ
ーザ光を照射することにより該光硬化樹脂を硬化させ、
樹脂の層を積み重ねることによって、立体モデルを造形
している。59はレーザ電源、60はロジックインター
フェースである。
【0008】同図においてレーザ光源51から出射され
たCADデータに基づくレーザ光は折り返しミラー52
で反射され、結像レンズ53によりX軸スキャン部54
及びY軸スキャン部56を介してターゲット面58をX
軸方向及びY軸方向に二次元的に走査し、該ターゲット
面58に軌跡を描いて立体モデルを造形している。
【0009】このように光造形装置においてはターゲッ
ト面に光硬化樹脂を設けておき、該光硬化樹脂にレーザ
光を照射することにより樹脂を硬化させ、該樹脂の層を
積み重ねることによって、立体モデルを造形することが
できる。
【0010】またこの種の光造形装置において立体モデ
ルの造形にかかる時間は、レーザ光の出力、光硬化樹脂
の特性、結像レンズの位置合わせ、X軸スキャン部及び
Y軸スキャン部の走査時間等により決定される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】光造形装置は別名「ラ
ピッドプロトタイピング」と呼ばれており、短時間でC
ADデータから立体モデルを製作する装置である。光造
形装置の性能としては、加工精度、造形時間、樹脂材料
等でほぼ決定される。特に造形時間はX軸スキャン部、
Y軸スキャン部の走査時間により決定される為、立体モ
デルの造形のスループットを高める上でボトルネック
(進行の妨げ)となっている。
【0012】図6は図5に示したY軸スキャン部56周
辺の光学系の要部概略図である。同図に示すようにY軸
用のスキャンミラー61で反射される反射光線Aを例え
ば2θだけ向きを変化させる為には、該スキャンミラー
61をモータにより任意の位置Oを中心に回転角θだけ
回動(振動)させる必要がある。
【0013】またX軸スキャン部54及びY軸スキャン
部56の走査時間を短縮するためには、モータの回転速
度を高める必要がある。
【0014】しかしながら、同一時間でモータの回転速
度を高める(回転角を増やす)ことは、該モータでの発
熱量を大きくすることになり、放熱等の問題点が生じて
くるので良くない。
【0015】本発明は上記の問題点を解決する為に偏向
手段を構成する第1の回動部及び第2の回動部を各々回
動(振動)可能な第1の反射部材と、少なくとも1つの
固定の第2の反射部材とで構成することにより、モータ
の回転角に対してレーザ光の反射光線(光軸)を大きく
振ることができ、これにより同一モータを用いても、該
モータでの発熱量を増やすことなしに単位時間あたりの
反射光線の走査角を大きくとることができ、また第1の
回動部及び第2の回動部の走査時間の短縮化を図ること
ができる走査光学系及びそれを用いた光造形装置、レー
ザマーカ、レーザ加工機の提供を目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の走査光学系は、
(1-1)光源手段から出射したレーザ光を結像手段により
直交する二方向に関して二次元的に偏向可能な偏向手段
を介して偏向させた後、被走査面上に結像させ、該被走
査面上を二次元的に走査する走査光学系において、該偏
向手段はレーザ光を第1の方向に偏向する第1の回動部
と、該第1の回動部で偏向された第1の方向に対して直
角な第2の方向に偏向する第2の回動部を有し、該第1
の回動部及び第2の回動部は各々任意の位置を中心に振
動する第1の反射部材と、固定の第2の反射部材とを有
し、該各々の回動部は入射レーザ光を該第1の反射部材
で反射させ、該反射されたレーザ光を該第2の反射部材
で反射させ、さらに該反射されたレーザ光を再度該第1
の反射部材で反射させることを特徴としている。
【0017】(1-2)光源手段から出射したレーザ光を結
像手段により直交する二方向に関して二次元的に偏向可
能な偏向手段を介して偏向させた後、被走査面上に結像
させ、該被走査面上を二次元的に走査する走査光学系に
おいて、該偏向手段はレーザ光を第1の方向に偏向する
第1の回動部と、該第1の回動部で偏向された第1の方
向に対して直角な第2の方向に偏向する第2の回動部を
有し、該第1の回動部及び第2の回動部は各々任意の位
置を中心に振動する第1の反射部材と、固定の複数の第
2の反射部材とを有し、該各々の回動部は入射レーザ光
を該第1の反射部材で反射させ、該反射されたレーザ光
を該複数の第2の反射部材で順次反射させ、さらに該反
射されたレーザ光を再度該第1の反射部材で反射させる
ことを特徴とする走査光学系。
【0018】(1-3)光源手段から出射したレーザ光を結
像手段により直交する二方向に関して二次元的に偏向可
能な偏向手段を介して偏向させた後、被走査面上に結像
させ、該被走査面上を二次元的に走査する走査光学系に
おいて、該偏向手段はレーザ光を第1の方向に偏向する
第1の回動部と、該第1の回動部で偏向された第1の方
向に対して直角な第2の方向に偏向する第2の回動部を
有し、該第1の回動部及び第2の回動部は各々任意の位
置を中心に振動する第1の反射部材と、固定の複数の第
2の反射部材とを有し、該各々の回動部は入射レーザ光
を該第1の反射部材の表面で反射させ、該反射されたレ
ーザ光を該複数の第2の反射部材で順次反射させ、さら
に該反射されたレーザ光を該第1の反射部材の裏面で反
射させることを特徴としている。
【0019】本発明の光造形装置は、(2)上記(1-1),(1-
2),(1-3) のいずれか一項記載の走査光学系を光造形装
置に用いたことを特徴としている。
【0020】本発明のレーザマーカは、(3)上記(1-1),
(1-2),(1-3) のいずれか一項記載の走査光学系をレーザ
マーカに用いたことを特徴としている。
【0021】本発明のレーザ加工機は、(4)上記(1-1),
(1-2),(1-3) のいずれか一項記載の走査光学系をレーザ
加工機に用いたことを特徴としている。
【0022】
【発明の実施の形態】図1は本発明を光造形装置に用い
たときの実施形態1の要部斜視図である。
【0023】同図において1は光源手段(レーザ光源)
であり、例えば半導体レーザ、CO2 レーザ、第2高調
波型レーザ等より成っている。2は折り返しミラーであ
り、光路を折り曲げている。3は結像レンズ(焦点レン
ズ)であり、画像情報(例えばCADデータ)に基づく
レーザ光(光束)を後述する被走査面上に結像させてい
る。
【0024】20は光源手段1から出射したレーザ光を
直交する二方向に関して二次元的に偏向可能な偏向手段
であり、レーザ光を第1の方向に偏向する第1の回動部
としてのX軸スキャン部4、該X軸スキャン部4で偏向
された第1の方向に対して直角な第2の方向に偏向する
第2の回動部としてのY軸スキャン部6を有し、該X軸
スキャン部4及びY軸スキャン部6は各々任意の位置を
中心に振動(回動)する第1の反射部材としてのスキャ
ンミラーと、第2の反射部材としての固定の反射ミラー
とを有している。
【0025】X軸用及びY軸用のスキャンミラーは各々
対応するモータに取り付けられており、対応するX軸用
及びY軸用のサーボアンプ5,7で振動される。
【0026】8は被走査面としてのターゲット面であ
り、光硬化樹脂より形成されており、該光硬化樹脂にレ
ーザ光を照射することにより該光硬化樹脂を硬化させ、
樹脂の層を積み重ねることによって、立体モデルを造形
している。9はレーザ電源、10はロジックインターフ
ェースである。
【0027】本実施形態においてレーザ光源1から出射
されたCADデータに基づくレーザ光は折り返しミラー
2で反射され、結像レンズ3によりX軸スキャン部4及
びY軸スキャン部6を介してターゲット面8上に結像
し、該ターゲット面8をX軸方向及びY軸方向に二次元
的に走査し、該ターゲット面8に軌跡を描いて立体モデ
ルを造形している。
【0028】次に本実施形態に関わるX軸スキャン部
(第1の回動部)4とY軸スキャン部(第2の回動部)
6の光学的作用について説明する。尚、X軸スキャン部
とX軸スキャン部の基本的な光学的作用は同様なので、
ここではY軸スキャン部を例にとり説明する。
【0029】図2はこのY軸スキャン部周辺の光学系の
要部概略図である。
【0030】同図におけるY軸スキャン部はレーザ光源
1から出射したレーザ光をスキャンミラー11で反射さ
せ、その反射光を反射ミラー12で反射させ、その反射
光を再度スキャンミラー11で反射させてターゲット面
8に照射する構成となっている。
【0031】このとき本実施形態ではスキャンミラー1
1をθ度、回動させることにより反射光線を4θだけ向
きを変えている。これは図5に示した従来の光造形装置
に比べて、2倍の走査角でターゲット面8を走査してい
ることになる。
【0032】ここでレーザ光源1から出射したレーザ光
がスキャンミラー11に入射角45度で入射した場合を
考える。
【0033】レーザ光源1からは図2に示すように座標
系Y軸方向にレーザ光が出射され、入射角45度でスキ
ャンミラー11に入射する。ここでスキャンミラー11
によってレーザ光AはX軸方向に反射される。X軸方向
に反射されたレーザ光Aは反射ミラー12によってY軸
方向に反射される。Y軸方向に反射されたレーザ光Aは
再度スキャンミラー11によってX軸方向に反射され、
ターゲット面8を走査する。
【0034】次にレーザ光源1から出射したレーザ光が
スキャンミラー11に入射角(45+θ)度で入射した
場合(スキャンミラー11が元の位置からθ°回動す
る)を考える。
【0035】レーザ光源1からは図2に示すように座標
系Y軸方向にレーザ光が出射され、入射角(45+θ)
度でスキャンミラー11に入射する。ここでスキャンミ
ラー11によってレーザ光Bは反射角(45+θ)度で
X軸方向から2θずれた方向に反射される。この反射光
Bは反射ミラー12に入射角(45+2θ)度で入射
し、反射角(45+2θ)度でY軸方向から2θずれた
方向に反射される。さらにこの反射光Bは再度スキャン
ミラー11に入射角(45+3θ)度で入射し、反射角
(45+3θ)度でX軸方向から4θずれた方向に反射
され、ターゲット面8を走査する。尚、図面上(45−
θ)、(45−2θ)、(45−3θ)は90°から入
射角を引いた値を示している。
【0036】このように本実施形態では上述の如くスキ
ャンミラー11をθ度、回動させることにより反射光線
を4θだけ向きを変えることができる。これにより同一
モータを用いても、該モータでの発熱量を増やすことな
しに単位時間あたりの反射光線の走査角を大きくとるこ
とができ、またX軸スキャン部4及びY軸スキャン部6
の走査時間の短縮化も図ることができる。
【0037】尚、反射ミラー12をスキャンミラー11
と同期させて、該スキャンミラー11と反対方向に回動
させるようにしても良い。これによれば更に反射光線の
向きを大きく変えることができる。
【0038】図3は本発明を光造形装置に用いたときの
実施形態2のY軸スキャン部周辺の光学系の要部概略図
である。同図において図2に示した要素と同一要素には
同符番を付している。
【0039】本実施形態において前述の実施形態1と異
なる点は第1の回動部(X軸スキャン部)及び第2の回
動部(Y軸スキャン部)を各々任意の位置を中心に振動
(回動)する第1の反射部材(スキャンミラー)と、固
定の複数の第2の反射部材(反射ミラー)とで構成し、
かつ第1の反射部材の裏面にも反射ミラーを設けたこと
である。その他の構成及び光学的作用は前述の実施形態
1と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。
【0040】尚、本実施形態においても前述の実施形態
1と同様にX軸スキャン部(第1の回動部)とY軸スキ
ャン部(第2の回動部)の基本的な光学的作用は同様な
ので、ここではY軸スキャン部の光学的作用について説
明する。
【0041】即ち、同図において21は第1の反射部材
としてのスキャンミラーであり、該スキャンミラー21
の表面側及び裏面側に各々反射ミラーを取り付けてい
る。22a,22b,22cは各々第2の反射部材とし
ての第1、第2、第3の固定の反射ミラーであり、それ
らの反射ミラー22a,22b,22cは直交してい
る。
【0042】同図におけるY軸スキャン部はレーザ光源
1から出射したCADデータに基づくレーザ光(光束)
をスキャンミラー21の表面側の反射ミラーで反射さ
せ、その反射光を第1、第2、第3の反射ミラー22
a,22b,22cで順次反射させ、さらにその反射光
をスキャンミラー11の裏面側の反射ミラーで反射させ
てターゲット面8に照射する構成となっている。
【0043】このとき本実施形態ではスキャンミラー2
1をθ度、回動させることにより反射光線を4θだけ向
きを変えている。これは図5に示した従来の光造形装置
に比べて、2倍の走査角でターゲット面を走査している
ことになる。
【0044】ここでレーザ光源1から出射したレーザ光
がスキャンミラー21に入射角45度で入射した場合を
考える。
【0045】レーザ光源1からは同図に示すように座標
系Y軸方向にレーザ光が出射され、入射角45度でスキ
ャンミラー21に入射する。ここでスキャンミラー21
によってレーザ光AはX軸方向に反射される。X軸方向
に反射されたレーザ光Aは第1、第2、第3の反射ミラ
ー22a,22b,22cを介すことによって最終的に
−Y軸方向に反射される。−Y軸方向に反射されたレー
ザ光Aはスキャンミラー21の裏面側の反射ミラーによ
って−X軸方向に反射され、ターゲット面を走査する。
【0046】次にレーザ光源1から出射したレーザ光が
スキャンミラー21に入射角(45+θ)度で入射した
場合(スキャンミラー21が元の位置からθ°回動す
る)を考える。
【0047】レーザ光源1からは同図に示すように座標
系Y軸方向にレーザ光が出射され、入射角(45+θ)
度でスキャンミラー21の表面に入射する。ここでスキ
ャンミラー21によってレーザ光Bは反射角(45+
θ)度でX軸方向から2θずれた方向に反射される。こ
の反射光Bは第1、第2、第3の反射ミラー22a,2
2b,22cに各々入射角(45+2θ)度で入射し、
該第1、第2、第3の反射ミラー22a,22b,22
cにて3回反射して、最終的に反射角(45+2θ)度
で−Y軸方向から2θずれた方向に反射される。さらに
この反射光Bはスキャンミラー21の裏面に入射角(4
5+3θ)度で入射し、反射角(45+3θ)度で−X
軸方向から4θずれた方向に反射され、ターゲット面8
を走査する。尚、図面上(45−θ)、(45−2
θ)、(45−3θ)は90°から入射角を引いた値を
示している。
【0048】このように本実施形態では上述の如くスキ
ャンミラー21をθ度、回動させることにより反射光線
を4θだけ向きを変えることができる。これにより同一
モータを用いても、該モータでの発熱量を増やすことな
しに単位時間あたりの反射光線の走査角を大きくとるこ
とができ、またX軸スキャン部4及びY軸スキャン部6
の走査時間の短縮化も図ることができる。
【0049】尚、上述した実施形態1及び実施形態2に
おいて第2の反射部材(反射ミラー)の構成枚数を増や
してレーザ光源からのレーザ光を第1の反射部材(スキ
ャンミラー)にて反射させる回数を増やすように構成す
れば、よりモータの回転角を少なくすることができ、こ
れにより同一モータを用いても、さらに該モータでの発
熱量を増やすことなしに単位時間あたりの反射光線の走
査角を大きくとることができる。
【0050】また以上の各実施形態では光造形装置に本
発明を適用した場合を示したが、例えば図4に示すレー
ザマーカやレーザ加工機等においても本発明は前述の各
実施形態と同様に適用することができる。
【0051】
【発明の効果】本発明は前述の如く偏向手段を構成する
第1の回動部(X軸スキャン部)及び第2の回動部(Y
軸スキャン部)を各々回動(振動)可能な第1の反射部
材と、少なくとも1つの固定の第2の反射部材とで構成
することにより、モータの回転角に対してレーザ光の反
射光線(光軸)を大きく振ることができ、これにより同
一モータを用いても、該モータでの発熱量を増やすこと
なしに単位時間あたりの反射光線の走査角を大きくとる
ことができ、またX軸スキャン部及びY軸スキャン部の
走査時間の短縮化を図ることができる走査光学系及びそ
れを用いた光造形装置、レーザマーカ、レーザ加工機を
達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明を光造形装置に適用したときの実施形
態1の要部斜視図
【図2】 本発明の実施形態1の主要部分の光学系の要
部概略図
【図3】 本発明の実施形態2の主要部分の光学系の要
部概略図
【図4】 本発明をレーザマーカに適用したときの要部
斜視図
【図5】 従来の光造形装置の要部斜視図
【図6】 図5に示した主要部分の光学系の要部概略図
【符号の説明】
1 レーザ光源 2 折り返しミラー 3 結像レンズ(焦点レンズ) 4 第1の回動部(X軸スキャン部) 5 X軸サーボアンプ 6 第2の回動部(Y軸スキャン部) 7 Y軸サーボアンプ 8 被走査面(ターゲット面) 9 レーザ電源 10 ロジックインターフェース 11,21 第1の反射部材(スキャンミラー) 12 第2の反射部材(反射ミラー) 22a,22b,22c 第2の反射部材(反射ミラ
ー)

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源手段から出射したレーザ光を結像手
    段により直交する二方向に関して二次元的に偏向可能な
    偏向手段を介して偏向させた後、被走査面上に結像さ
    せ、該被走査面上を二次元的に走査する走査光学系にお
    いて、 該偏向手段はレーザ光を第1の方向に偏向する第1の回
    動部と、該第1の回動部で偏向された第1の方向に対し
    て直角な第2の方向に偏向する第2の回動部を有し、 該第1の回動部及び第2の回動部は各々任意の位置を中
    心に振動する第1の反射部材と、固定の第2の反射部材
    とを有し、 該各々の回動部は入射レーザ光を該第1の反射部材で反
    射させ、該反射されたレーザ光を該第2の反射部材で反
    射させ、さらに該反射されたレーザ光を再度該第1の反
    射部材で反射させることを特徴とする走査光学系。
  2. 【請求項2】 光源手段から出射したレーザ光を結像手
    段により直交する二方向に関して二次元的に偏向可能な
    偏向手段を介して偏向させた後、被走査面上に結像さ
    せ、該被走査面上を二次元的に走査する走査光学系にお
    いて、 該偏向手段はレーザ光を第1の方向に偏向する第1の回
    動部と、該第1の回動部で偏向された第1の方向に対し
    て直角な第2の方向に偏向する第2の回動部を有し、 該第1の回動部及び第2の回動部は各々任意の位置を中
    心に振動する第1の反射部材と、固定の複数の第2の反
    射部材とを有し、 該各々の回動部は入射レーザ光を該第1の反射部材で反
    射させ、該反射されたレーザ光を該複数の第2の反射部
    材で順次反射させ、さらに該反射されたレーザ光を再度
    該第1の反射部材で反射させることを特徴とする走査光
    学系。
  3. 【請求項3】 光源手段から出射したレーザ光を結像手
    段により直交する二方向に関して二次元的に偏向可能な
    偏向手段を介して偏向させた後、被走査面上に結像さ
    せ、該被走査面上を二次元的に走査する走査光学系にお
    いて、 該偏向手段はレーザ光を第1の方向に偏向する第1の回
    動部と、該第1の回動部で偏向された第1の方向に対し
    て直角な第2の方向に偏向する第2の回動部を有し、 該第1の回動部及び第2の回動部は各々任意の位置を中
    心に振動する第1の反射部材と、固定の複数の第2の反
    射部材とを有し、 該各々の回動部は入射レーザ光を該第1の反射部材の表
    面で反射させ、該反射されたレーザ光を該複数の第2の
    反射部材で順次反射させ、さらに該反射されたレーザ光
    を該第1の反射部材の裏面で反射させることを特徴とす
    る走査光学系。
  4. 【請求項4】 前記請求項1乃至3のいずれか一項記載
    の走査光学系を光造形装置に用いたことを特徴とする光
    造形装置。
  5. 【請求項5】 前記請求項1乃至3のいずれか一項記載
    の走査光学系をレーザマーカに用いたことを特徴とする
    レーザマーカ。
  6. 【請求項6】 前記請求項1乃至3のいずれか一項記載
    の走査光学系をレーザ加工機に用いたことを特徴とする
    レーザ加工機。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100943795B1 (ko) 2002-05-31 2010-02-23 소니 주식회사 광 주사 장치 및 2차원 화상 형성 장치
CN111007663A (zh) * 2020-03-09 2020-04-14 瑞声通讯科技(常州)有限公司 一种激光扫描显示方法及***
JP2020073966A (ja) * 2014-11-13 2020-05-14 キヤノン株式会社 光学装置及び加工装置

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