JPH11125579A - Ｌｅｄチップの特性測定装置 - Google Patents
Ｌｅｄチップの特性測定装置Info
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- JPH11125579A JPH11125579A JP18695098A JP18695098A JPH11125579A JP H11125579 A JPH11125579 A JP H11125579A JP 18695098 A JP18695098 A JP 18695098A JP 18695098 A JP18695098 A JP 18695098A JP H11125579 A JPH11125579 A JP H11125579A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定すべきＬＥＤチップ１０を載置するチッ
プ台３０からセンサを分離し、任意のセンサの使用を可
能にする。チップ台３０とセンサを接続する光ファイバ
ー４０の劣化を防止する。 【構成】 ＬＥＤチップ１０をピックアップするため
に、プローブ２０が測定位置で軸方向に往復移動する。
プローブ２０との干渉を回避するために、チップ台３０
が測定位置と退避位置の間を移動する。チップ台３０と
センサを接続する光ファイバー４０が固定され、測定位
置に移動したチップ台３０の光射出口３３に光ファイバ
ー４０の一端が対向する。光ファイバー４０の他端にセ
ンサが接続される。
プ台３０からセンサを分離し、任意のセンサの使用を可
能にする。チップ台３０とセンサを接続する光ファイバ
ー４０の劣化を防止する。 【構成】 ＬＥＤチップ１０をピックアップするため
に、プローブ２０が測定位置で軸方向に往復移動する。
プローブ２０との干渉を回避するために、チップ台３０
が測定位置と退避位置の間を移動する。チップ台３０と
センサを接続する光ファイバー４０が固定され、測定位
置に移動したチップ台３０の光射出口３３に光ファイバ
ー４０の一端が対向する。光ファイバー４０の他端にセ
ンサが接続される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＬＥＤチップ選別
機等においてＬＥＤチップの光学的特性を測定するため
に使用されるＬＥＤチップの特性測定装置に関する。
機等においてＬＥＤチップの光学的特性を測定するため
に使用されるＬＥＤチップの特性測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近時、ＬＥＤチップの光学的特性を揃え
るために、そのＬＥＤチップをベアチップ状態で１個ず
つ特性測定し、ランク別に選別することが行われてい
る。ここに使用される特性測定装置は、粘着シート上に
固定された多数のＬＥＤチップを順にピックアップする
ために測定位置で軸方向に往復移動するプローブと、測
定位置と退避位置の間を往復移動し、測定位置でプロー
ブにより載置されたＬＥＤチップをプローブと共同して
点灯させる可動式のチップ台と、チップ台上で点灯した
ＬＥＤチップの明るさなどを測定するセンサとを備えて
いる。
るために、そのＬＥＤチップをベアチップ状態で１個ず
つ特性測定し、ランク別に選別することが行われてい
る。ここに使用される特性測定装置は、粘着シート上に
固定された多数のＬＥＤチップを順にピックアップする
ために測定位置で軸方向に往復移動するプローブと、測
定位置と退避位置の間を往復移動し、測定位置でプロー
ブにより載置されたＬＥＤチップをプローブと共同して
点灯させる可動式のチップ台と、チップ台上で点灯した
ＬＥＤチップの明るさなどを測定するセンサとを備えて
いる。
【０００３】ここでセンサは、ＬＥＤチップの明るさを
測定する場合は、可動式のチップ台に直接搭載されてい
る。しかし、ＬＥＤチップから発せられる光の波長等ま
で測定しようとした場合は、センサが大型化し、そのセ
ンサをチップ台に搭載するのが困難になるために、セン
サをチップ台から離れた位置に固定することが必要とな
る。そして、この場合は可動式のチップと固定センサの
間がフレキシブルな光ファイバーにより接続される。
測定する場合は、可動式のチップ台に直接搭載されてい
る。しかし、ＬＥＤチップから発せられる光の波長等ま
で測定しようとした場合は、センサが大型化し、そのセ
ンサをチップ台に搭載するのが困難になるために、セン
サをチップ台から離れた位置に固定することが必要とな
る。そして、この場合は可動式のチップと固定センサの
間がフレキシブルな光ファイバーにより接続される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、可動式
のチップ台と固定センサの間をフレキシブルな光ファイ
バーにより接続した場合は、チップ台が測定位置と退避
位置の間を繰り返し移動し、その移動のたびに光ファイ
バーが撓むために、光ファイバーが早期に劣化し、その
劣化による測定値の変動が問題になる。
のチップ台と固定センサの間をフレキシブルな光ファイ
バーにより接続した場合は、チップ台が測定位置と退避
位置の間を繰り返し移動し、その移動のたびに光ファイ
バーが撓むために、光ファイバーが早期に劣化し、その
劣化による測定値の変動が問題になる。
【０００５】可動式のチップ台にセンサを直接搭載した
場合はこの問題は生じないが、この場合は前述したよう
にセンサが小型であることを必要とするため、光の波長
のような高度の測定は不可能である。
場合はこの問題は生じないが、この場合は前述したよう
にセンサが小型であることを必要とするため、光の波長
のような高度の測定は不可能である。
【０００６】本発明はかかる事情に鑑みて創案されたも
のであり、可動式のチップ台から離れた位置にセンサを
固定し、両者の間を光ファイバーによって接続する構造
であるにもかかわらず、光ファイバーの劣化に伴う測定
値の変動を防止することができるＬＥＤチップの特性測
定装置を提供することを目的とする。
のであり、可動式のチップ台から離れた位置にセンサを
固定し、両者の間を光ファイバーによって接続する構造
であるにもかかわらず、光ファイバーの劣化に伴う測定
値の変動を防止することができるＬＥＤチップの特性測
定装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係るＬＥＤチッ
プの特性測定装置は、ＬＥＤチップをピックアップする
ために測定位置で軸方向に往復移動するプローブと、測
定位置と退避位置の間を往復移動し、測定位置でプロー
ブにより載置されたＬＥＤチップを点灯させると共に、
そのＬＥＤチップから発する光を射出口から外部に射出
する可動式のチップ台と、測定位置に移動したチップ台
の射出口に先端が対向するように固定され、射出口から
射出される光を、後端に接続されたセンサに導く固定式
の光ファイバーとを備えている。
プの特性測定装置は、ＬＥＤチップをピックアップする
ために測定位置で軸方向に往復移動するプローブと、測
定位置と退避位置の間を往復移動し、測定位置でプロー
ブにより載置されたＬＥＤチップを点灯させると共に、
そのＬＥＤチップから発する光を射出口から外部に射出
する可動式のチップ台と、測定位置に移動したチップ台
の射出口に先端が対向するように固定され、射出口から
射出される光を、後端に接続されたセンサに導く固定式
の光ファイバーとを備えている。
【０００８】前記チップ台としては、ＬＥＤチップから
発する光を内面で反射して射出口に導く導光路と、導光
路内にＬＥＤチップを挿入するためにプローブが差し込
まれるプローブ差込口とを有する集光式のものが好まし
い。
発する光を内面で反射して射出口に導く導光路と、導光
路内にＬＥＤチップを挿入するためにプローブが差し込
まれるプローブ差込口とを有する集光式のものが好まし
い。
【０００９】本発明に係るＬＥＤチップの特性測定装置
においては、光ファイバーが固定式とされているので、
チップ台の移動による光ファイバーの撓みが回避され
る。可動式のチップ台が測定位置へ移動したときにチッ
プ台の射出口に光ファイバーの先端が対向することによ
り、チップ台に載置されたＬＥＤチップから発する光が
光ファイバーを介してセンサに導かれる。
においては、光ファイバーが固定式とされているので、
チップ台の移動による光ファイバーの撓みが回避され
る。可動式のチップ台が測定位置へ移動したときにチッ
プ台の射出口に光ファイバーの先端が対向することによ
り、チップ台に載置されたＬＥＤチップから発する光が
光ファイバーを介してセンサに導かれる。
【００１０】チップ台として前述した集光式のものを使
用した場合は、ＬＥＤチップから発する光が効率よくセ
ンサに集光される。また、測定時に射出口が光ファイバ
ーにより閉鎖され、プローブ差込口がプローブにより閉
塞されるので、外乱光の影響による測定値の変動が回避
される。
用した場合は、ＬＥＤチップから発する光が効率よくセ
ンサに集光される。また、測定時に射出口が光ファイバ
ーにより閉鎖され、プローブ差込口がプローブにより閉
塞されるので、外乱光の影響による測定値の変動が回避
される。
【００１１】さらに、本発明に係るＬＥＤチップの特性
測定装置は、プローブの先端でＬＥＤチップの上面電極
に接触する部分と、チップ台のうちＬＥＤチップの下面
電極に接触する部分とには、ロジウムメッキが施されて
いる。
測定装置は、プローブの先端でＬＥＤチップの上面電極
に接触する部分と、チップ台のうちＬＥＤチップの下面
電極に接触する部分とには、ロジウムメッキが施されて
いる。
【００１２】すると、プローブとＬＥＤチップの上面電
極との間の接触抵抗と、チップ台とＬＥＤチップの下面
電極との間の接触抵抗を低い値で安定させることが可能
となる。
極との間の接触抵抗と、チップ台とＬＥＤチップの下面
電極との間の接触抵抗を低い値で安定させることが可能
となる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図１は本発明の実施形態に係るＬＥ
Ｄチップの特性測定装置の概略的三面図で測定状態を示
し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ線矢示図
に対応する側面図、（ｃ）は底面図である。また、図２
は同ＬＥＤチップの特性測定装置のピックアップ状態を
説明するための、図１（ｂ）のＡ−Ａ線矢示図に対応す
る側面図、図３は本発明の実施形態に係るＬＥＤチップ
の特性測定装置のプローブとチップ台との概略的拡大斜
視図である。
基づいて説明する。図１は本発明の実施形態に係るＬＥ
Ｄチップの特性測定装置の概略的三面図で測定状態を示
し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ線矢示図
に対応する側面図、（ｃ）は底面図である。また、図２
は同ＬＥＤチップの特性測定装置のピックアップ状態を
説明するための、図１（ｂ）のＡ−Ａ線矢示図に対応す
る側面図、図３は本発明の実施形態に係るＬＥＤチップ
の特性測定装置のプローブとチップ台との概略的拡大斜
視図である。
【００１４】本発明の実施形態に係るＬＥＤチップの特
性測定装置は、粘着シート１１上に固定された多数のＬ
ＥＤチップ１０，１０・・を順にピックアップするため
の垂直なプローブ２０と、測定位置と退避位置の間を水
平方向に往復移動し、測定位置でプローブ２０により載
置されたＬＥＤチップ１０をプローブ２０と共同して点
灯させる可動式のチップ台３０と、チップ台３０から離
れた位置に固定されたセンサとチップ台３０を光学的に
接続する固定式の光ファイバー４０とを備えている。
性測定装置は、粘着シート１１上に固定された多数のＬ
ＥＤチップ１０，１０・・を順にピックアップするため
の垂直なプローブ２０と、測定位置と退避位置の間を水
平方向に往復移動し、測定位置でプローブ２０により載
置されたＬＥＤチップ１０をプローブ２０と共同して点
灯させる可動式のチップ台３０と、チップ台３０から離
れた位置に固定されたセンサとチップ台３０を光学的に
接続する固定式の光ファイバー４０とを備えている。
【００１５】プローブ２０は、ＬＥＤチップ１０をピッ
クアップするために、図示されない駆動部により測定位
置で軸方向に昇降駆動されると共に、下端にＬＥＤチッ
プ１０を吸着する構成となっている。また、ピックアッ
プしたＬＥＤチップ１０を点灯させるために、プローブ
２０は点灯用電源の一方の極に接続されている。プロー
ブ２０の下方には、突き上げピン５０が同心状に配設さ
れている。突き上げピン５０は、ピックアップすべき粘
着シート１１上のＬＥＤチップ１０を下方から突き上げ
て、ピックアップ操作を容易にする。
クアップするために、図示されない駆動部により測定位
置で軸方向に昇降駆動されると共に、下端にＬＥＤチッ
プ１０を吸着する構成となっている。また、ピックアッ
プしたＬＥＤチップ１０を点灯させるために、プローブ
２０は点灯用電源の一方の極に接続されている。プロー
ブ２０の下方には、突き上げピン５０が同心状に配設さ
れている。突き上げピン５０は、ピックアップすべき粘
着シート１１上のＬＥＤチップ１０を下方から突き上げ
て、ピックアップ操作を容易にする。
【００１６】また、当該プローブ２０の先端部分のう
ち、ＬＥＤチップ１０の上面電極１０１に接触する部分
２０１、すなわち図３において斜線で示す部分には、ロ
ジウムメッキが施されている。
ち、ＬＥＤチップ１０の上面電極１０１に接触する部分
２０１、すなわち図３において斜線で示す部分には、ロ
ジウムメッキが施されている。
【００１７】チップ台３０は、水平方向に延びる導光路
３１を内部に有すると共に、導光路３１に連通する垂直
なプローブ差込口３２を上面部に有し、測定位置でプロ
ーブ差込口３２がプローブ２０と同心になる。そして、
下端にＬＥＤチップ１０を吸着したプローブ２０がプロ
ーブ差込口３２から導光路３１内に挿入されることによ
り、そのＬＥＤチップ１０が導光路３１内の定位置に載
置される。
３１を内部に有すると共に、導光路３１に連通する垂直
なプローブ差込口３２を上面部に有し、測定位置でプロ
ーブ差込口３２がプローブ２０と同心になる。そして、
下端にＬＥＤチップ１０を吸着したプローブ２０がプロ
ーブ差込口３２から導光路３１内に挿入されることによ
り、そのＬＥＤチップ１０が導光路３１内の定位置に載
置される。
【００１８】導光路３１の一端は開口して射出口３３と
なっており、導光路３１内の定位置に載置されたＬＥＤ
チップ１０から発せられる光を内面で反射させて射出口
３３に導くように、その内面は鏡面仕上げとされてい
る。また、導光路３１内の定位置に載置されたＬＥＤチ
ップ１０をプローブ２０と共同して点灯させるために、
チップ台３０は前記点灯用電源の他方の極に接続されて
いる。
なっており、導光路３１内の定位置に載置されたＬＥＤ
チップ１０から発せられる光を内面で反射させて射出口
３３に導くように、その内面は鏡面仕上げとされてい
る。また、導光路３１内の定位置に載置されたＬＥＤチ
ップ１０をプローブ２０と共同して点灯させるために、
チップ台３０は前記点灯用電源の他方の極に接続されて
いる。
【００１９】なお、チップ台３０の上面部には、導光路
３１の他端部に連通する円形の開口部３４が設けられて
いるが、これは図示しない圧縮空気噴射部があてがわれ
る部分である。この圧縮空気噴射部は、チップ台３０が
退避位置にある場合に前記開口部３４にあてがわれるよ
うになっている。この圧縮空気噴射部は、ＬＥＤチップ
１０を繰り返して測定することにより、ＬＥＤチップ１
０のブレーキングの際の残滓がチップ台３０に残置さ
れ、これが測定に悪影響を及ぼすことを防ぐためのもの
である。すなわち、開口部３４から圧縮空気を噴射する
ことにより、チップ台３０に残置された残滓を射出口３
３を介して外部に排出するのである。この圧縮空気の噴
射は、所定個のＬＥＤチップ１０を測定するたびに行う
ようにする。
３１の他端部に連通する円形の開口部３４が設けられて
いるが、これは図示しない圧縮空気噴射部があてがわれ
る部分である。この圧縮空気噴射部は、チップ台３０が
退避位置にある場合に前記開口部３４にあてがわれるよ
うになっている。この圧縮空気噴射部は、ＬＥＤチップ
１０を繰り返して測定することにより、ＬＥＤチップ１
０のブレーキングの際の残滓がチップ台３０に残置さ
れ、これが測定に悪影響を及ぼすことを防ぐためのもの
である。すなわち、開口部３４から圧縮空気を噴射する
ことにより、チップ台３０に残置された残滓を射出口３
３を介して外部に排出するのである。この圧縮空気の噴
射は、所定個のＬＥＤチップ１０を測定するたびに行う
ようにする。
【００２０】また、当該チップ台３０のプローブ差込口
３２の真下部分、すなわちＬＥＤチップ１０の下面電極
１０２に接触する部分３０１には、ロジウムメッキが施
されている。
３２の真下部分、すなわちＬＥＤチップ１０の下面電極
１０２に接触する部分３０１には、ロジウムメッキが施
されている。
【００２１】光ファイバー４０は、チップ台３０から分
離されて固定部材４１に取り付けられており、その一端
はチップ台３０が測定位置に移動したときにチップ台３
０の射出口３３に対向する。光ファイバー４０の他端に
は、図示されないセンサが接続されている。
離されて固定部材４１に取り付けられており、その一端
はチップ台３０が測定位置に移動したときにチップ台３
０の射出口３３に対向する。光ファイバー４０の他端に
は、図示されないセンサが接続されている。
【００２２】次に、本発明の実施形態に係るＬＥＤチッ
プの特性測定装置の動作について説明する。
プの特性測定装置の動作について説明する。
【００２３】図２に示すように、チップ台３０が退避位
置に移動した状態で、プローブ２０が下降することによ
り、その下端に粘着シート１１上の特定のＬＥＤチップ
１０が吸着される。ＬＥＤチップ１０を吸着した後、プ
ローブ２０が上昇し、チップ台３０が測定位置に移動す
る。この移動により、チップ台３０の射出口３３に光フ
ァイバー４０の一端が対向する。
置に移動した状態で、プローブ２０が下降することによ
り、その下端に粘着シート１１上の特定のＬＥＤチップ
１０が吸着される。ＬＥＤチップ１０を吸着した後、プ
ローブ２０が上昇し、チップ台３０が測定位置に移動す
る。この移動により、チップ台３０の射出口３３に光フ
ァイバー４０の一端が対向する。
【００２４】チップ台３０が測定位置に移動すると、プ
ローブ２０が再び下降する。これにより、プローブ２０
の下端部がプローブ差込口３２から導光路３１内に挿入
され、プローブ２０の下端に吸着されているＬＥＤチッ
プ１０が導光路３１内の定位置に載置される。この状態
が図１である。
ローブ２０が再び下降する。これにより、プローブ２０
の下端部がプローブ差込口３２から導光路３１内に挿入
され、プローブ２０の下端に吸着されているＬＥＤチッ
プ１０が導光路３１内の定位置に載置される。この状態
が図１である。
【００２５】この状態で導光路３１内の定位置に載置さ
れたＬＥＤチップ１０が点灯する。ＬＥＤチップ１０か
ら発せられた光は、導光路３１の内面で反射して射出口
３３に導かれ、更に光ファイバー４０を経由してセンサ
に導かれる。
れたＬＥＤチップ１０が点灯する。ＬＥＤチップ１０か
ら発せられた光は、導光路３１の内面で反射して射出口
３３に導かれ、更に光ファイバー４０を経由してセンサ
に導かれる。
【００２６】この状態にある場合、ＬＥＤチップ１０に
接触しているプローブ２０と、チップ台３０とにはロジ
ウムメッキが施されているため、接触抵抗値を低く安定
させることができる。
接触しているプローブ２０と、チップ台３０とにはロジ
ウムメッキが施されているため、接触抵抗値を低く安定
させることができる。
【００２７】センサによる特性測定が終わると、プロー
ブ２０が上昇することにより、導光路３１内からＬＥＤ
チップ１０が取り出される。その後、チップ台３０は退
避位置に移動し、プローブ２０は図外の再配列部へと移
動する。この再配列部は、ＬＥＤチップ１０が特性別に
再配列される部分であり、この再配列部にプローブ２０
が下降することにより、ＬＥＤチップ１０が特性別に区
分けされるのである。その後、次のＬＥＤチップ１０の
特性測定に備えて粘着シート１１が移動する。
ブ２０が上昇することにより、導光路３１内からＬＥＤ
チップ１０が取り出される。その後、チップ台３０は退
避位置に移動し、プローブ２０は図外の再配列部へと移
動する。この再配列部は、ＬＥＤチップ１０が特性別に
再配列される部分であり、この再配列部にプローブ２０
が下降することにより、ＬＥＤチップ１０が特性別に区
分けされるのである。その後、次のＬＥＤチップ１０の
特性測定に備えて粘着シート１１が移動する。
【００２８】このような特性測定においては、センサは
チップ台３０に搭載されておらず、そのチップ台３０か
ら離れた位置に固定されているので、明るさの測定だけ
でなく、大型化を伴う波長の測定等も可能である。
チップ台３０に搭載されておらず、そのチップ台３０か
ら離れた位置に固定されているので、明るさの測定だけ
でなく、大型化を伴う波長の測定等も可能である。
【００２９】チップ台３０から離れた位置にセンサを固
定した場合、両者を光ファイバー４０で接続する必要が
ある。ここで、プローブ２０の昇降によるチップ台３０
へのＬＥＤチップ１０の載置を可能にするために、チッ
プ台３０は測定のたびに測定位置と退避位置の間を往復
移動するが、チップ台３０とセンサの間を接続する光フ
ァイバー４０は、チップ台３０から分離されているの
で、チップ台３０が移動しても撓み変形を生じない。そ
のため、繰り返し測定を行っても、光ファイバー４０に
劣化が生じない。
定した場合、両者を光ファイバー４０で接続する必要が
ある。ここで、プローブ２０の昇降によるチップ台３０
へのＬＥＤチップ１０の載置を可能にするために、チッ
プ台３０は測定のたびに測定位置と退避位置の間を往復
移動するが、チップ台３０とセンサの間を接続する光フ
ァイバー４０は、チップ台３０から分離されているの
で、チップ台３０が移動しても撓み変形を生じない。そ
のため、繰り返し測定を行っても、光ファイバー４０に
劣化が生じない。
【００３０】測定位置では、チップ台３０の射出口３３
に光ファイバー４０の一端が対向し射出口３３を閉塞す
るので、光ファイバー４０をチップ台３０から分離した
にもかかわらず、支障のない特性測定が行われる。
に光ファイバー４０の一端が対向し射出口３３を閉塞す
るので、光ファイバー４０をチップ台３０から分離した
にもかかわらず、支障のない特性測定が行われる。
【００３１】更に、本実施形態では、測定時に射出口３
３が光ファイバー４０により閉鎖されると共に、プロー
ブ差込口３２がプローブ２０により閉鎖されるので、外
乱光の影響による測定値の変動が効果的に回避される。
３が光ファイバー４０により閉鎖されると共に、プロー
ブ差込口３２がプローブ２０により閉鎖されるので、外
乱光の影響による測定値の変動が効果的に回避される。
【００３２】なお、上記実施形態では、特性測定を終え
たＬＥＤチップ１０を再配列部に再配列させているが、
粘着シート１１上の元の位置に戻すようにすることも可
能である。この場合には、各ＬＥＤチップ１０の特性と
位置座標とをデータとして図外の記憶装置に記憶させて
おくことが重要である。
たＬＥＤチップ１０を再配列部に再配列させているが、
粘着シート１１上の元の位置に戻すようにすることも可
能である。この場合には、各ＬＥＤチップ１０の特性と
位置座標とをデータとして図外の記憶装置に記憶させて
おくことが重要である。
【００３３】
【発明の効果】以上に説明したとおり、本発明に係るＬ
ＥＤチップの特性測定装置は、第１にセンサをチップ台
に搭載せずチップ台から離れた位置に固定して、両者の
間を光ファイバーにより接続しているので、センサの大
型化に対応できる。従って、任意のセンサを使用でき、
波長等を含めた高度の特性測定も行うことができる。第
２に、チップ台とセンサを接続する光ファイバーを固定
式としているので、チップ台の移動に起因する光ファイ
バーの劣化による測定値の変動を回避することができ
る。第３に、測定時にＬＥＤチップの射出口が光ファイ
バーにより閉塞されるので、外乱光の影響による測定値
の変動を回避することができる。
ＥＤチップの特性測定装置は、第１にセンサをチップ台
に搭載せずチップ台から離れた位置に固定して、両者の
間を光ファイバーにより接続しているので、センサの大
型化に対応できる。従って、任意のセンサを使用でき、
波長等を含めた高度の特性測定も行うことができる。第
２に、チップ台とセンサを接続する光ファイバーを固定
式としているので、チップ台の移動に起因する光ファイ
バーの劣化による測定値の変動を回避することができ
る。第３に、測定時にＬＥＤチップの射出口が光ファイ
バーにより閉塞されるので、外乱光の影響による測定値
の変動を回避することができる。
【００３４】また、プローブとチップ台のうち、ＬＥＤ
チップに接触する部分には、ロジウムメッキが施されて
いるので、接触抵抗値を低く安定させることができるの
で、より安定してＬＥＤチップの測定が可能になる。し
かも、ロジウムメッキを施すことにより、硬度を向上さ
せることができるので、より長期間にわたって使用する
ことができるようになった。
チップに接触する部分には、ロジウムメッキが施されて
いるので、接触抵抗値を低く安定させることができるの
で、より安定してＬＥＤチップの測定が可能になる。し
かも、ロジウムメッキを施すことにより、硬度を向上さ
せることができるので、より長期間にわたって使用する
ことができるようになった。
【図１】本発明の実施形態に係るＬＥＤチップの特性測
定装置の概略的三面図で測定状態を示し、（ａ）は平面
図、（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ線矢示図に対応する側面
図、（ｃ）は底面図である。
定装置の概略的三面図で測定状態を示し、（ａ）は平面
図、（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ線矢示図に対応する側面
図、（ｃ）は底面図である。
【図２】同ＬＥＤチップの特性測定装置のピックアップ
状態を説明するための、図１（ｂ）のＡ−Ａ線矢示図に
対応する側面図である。
状態を説明するための、図１（ｂ）のＡ−Ａ線矢示図に
対応する側面図である。
【図３】本発明の実施形態に係るＬＥＤチップの特性測
定装置のプローブとチップ台との概略的拡大斜視図であ
る。
定装置のプローブとチップ台との概略的拡大斜視図であ
る。
１０ ＬＥＤチップ ２０ プローブ ３０ チップ台 ３１ 導光路 ３２ プローブ差込口 ３３ 導出口 ４０ 光ファイバー ５０ 突き上げピン
Claims (3)
- 【請求項１】 ＬＥＤチップをピックアップするために
測定位置で軸方向に往復移動するプローブと、測定位置
と退避位置の間を往復移動し、測定位置でプローブによ
り載置されたＬＥＤチップを点灯させると共に、そのＬ
ＥＤチップから発する光を射出口から外部に射出する可
動式のチップ台と、測定位置に移動したチップ台の射出
口に先端が対向するように固定され、射出口から射出さ
れる光を、後端に接続されたセンサに導く固定式の光フ
ァイバーとを具備することを特徴とするＬＥＤチップの
特性測定装置。 - 【請求項２】 前記チップ台は、ＬＥＤチップから発す
る光を内面で反射して射出口に導く導光路と、導光路内
にＬＥＤチップを挿入するためにプローブが差し込まれ
るプローブ差込口とを有する集光式であることを特徴と
する請求項１に記載のＬＥＤチップの特性測定装置。 - 【請求項３】 前記プローブの先端でＬＥＤチップの上
面電極に接触する部分と、前記チップ台のうちＬＥＤチ
ップの下面電極に接触する部分とには、ロジウムメッキ
が施されていることを特徴とする請求項１又は２記載の
ＬＥＤチップの特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18695098A JPH11125579A (ja) | 1997-08-22 | 1998-06-16 | Ｌｅｄチップの特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9-242084 | 1997-08-22 | ||
| JP24208497 | 1997-08-22 | ||
| JP18695098A JPH11125579A (ja) | 1997-08-22 | 1998-06-16 | Ｌｅｄチップの特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11125579A true JPH11125579A (ja) | 1999-05-11 |
Family
ID=26504068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18695098A Pending JPH11125579A (ja) | 1997-08-22 | 1998-06-16 | Ｌｅｄチップの特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11125579A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011504605A (ja) * | 2007-11-15 | 2011-02-10 | クリー インコーポレイテッド | 透過性ディスプレイ用の発光器を選択するための機器および方法 |
| CN103257308A (zh) * | 2013-05-14 | 2013-08-21 | 陕西科技大学 | 一种oled光电特性测试***及测试方法 |
| CN111679179A (zh) * | 2020-06-15 | 2020-09-18 | 中国科学院半导体研究所 | 半封装式探测器芯片测试装置及使用方法 |
-
1998
- 1998-06-16 JP JP18695098A patent/JPH11125579A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011504605A (ja) * | 2007-11-15 | 2011-02-10 | クリー インコーポレイテッド | 透過性ディスプレイ用の発光器を選択するための機器および方法 |
| US8878766B2 (en) | 2007-11-15 | 2014-11-04 | Cree, Inc. | Apparatus and methods for selecting light emitters for a transmissive display |
| CN103257308A (zh) * | 2013-05-14 | 2013-08-21 | 陕西科技大学 | 一种oled光电特性测试***及测试方法 |
| CN111679179A (zh) * | 2020-06-15 | 2020-09-18 | 中国科学院半导体研究所 | 半封装式探测器芯片测试装置及使用方法 |
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