JPH11118885A - 試験用取付け装置 - Google Patents
試験用取付け装置Info
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- JPH11118885A JPH11118885A JP9325910A JP32591097A JPH11118885A JP H11118885 A JPH11118885 A JP H11118885A JP 9325910 A JP9325910 A JP 9325910A JP 32591097 A JP32591097 A JP 32591097A JP H11118885 A JPH11118885 A JP H11118885A
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- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明はプリント回路基板試験用取付け装置
に関し、アッセンブリの精度を向上させ、従来の取付け
装置と比較して小型化が可能でかつ試験用プローブの保
持方法の費用が安価な、試験用プロ−ブとプローブ板と
可動の上部板とを有する回路基板試験用取付け装置を提
供することを目的とする。 【解決手段】 プローブ板18と上部板20とは試験用
プローブ24を通すための選択された配列の穴26を有
する。プローブ板18を貫通する試験用プローブ24が
プローブ保持シート38を通るように、該プローブ保持
シート38はプローブ板18の下方に位置する。プロー
ブ保持シート38はプローブ保持シート38を貫通する
試験用プローブ24の外径よりも小さな開口部を含み、
この保持シート38は試験用取付け装置に試験用プロー
ブを保持するに十分な水準の圧縮力をシートを貫通する
試験用プローブ24のまわりに作用させる。
に関し、アッセンブリの精度を向上させ、従来の取付け
装置と比較して小型化が可能でかつ試験用プローブの保
持方法の費用が安価な、試験用プロ−ブとプローブ板と
可動の上部板とを有する回路基板試験用取付け装置を提
供することを目的とする。 【解決手段】 プローブ板18と上部板20とは試験用
プローブ24を通すための選択された配列の穴26を有
する。プローブ板18を貫通する試験用プローブ24が
プローブ保持シート38を通るように、該プローブ保持
シート38はプローブ板18の下方に位置する。プロー
ブ保持シート38はプローブ保持シート38を貫通する
試験用プローブ24の外径よりも小さな開口部を含み、
この保持シート38は試験用取付け装置に試験用プロー
ブを保持するに十分な水準の圧縮力をシートを貫通する
試験用プローブ24のまわりに作用させる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント回路基板
の回路内試験装置に関し、更に詳細には、静止のプロー
ブ板と、試験品と試験用電子機器へのインターフェイス
との間に位置する試験用取付け装置内で自由に浮動する
複数のバネ負荷された試験用プローブを有する可動の上
部板とを有する回路内試験用取付け装置に関する。
の回路内試験装置に関し、更に詳細には、静止のプロー
ブ板と、試験品と試験用電子機器へのインターフェイス
との間に位置する試験用取付け装置内で自由に浮動する
複数のバネ負荷された試験用プローブを有する可動の上
部板とを有する回路内試験用取付け装置に関する。
【0002】
【従来の技術】プリント回路基板をチェックするための
自動試験装置は試験中にプリント回路基板を取付ける
「クギのベッド」試験用取付け装置を長い間使用してき
た。この試験用取付け装置は、バネ圧力がかかった状態
で試験を受けるプリント回路基板の指定された試験点と
電気的接触をするように配置されている複数のバネ負荷
された試験用プローブを有する。プリント回路基板に割
り付けられた特定な回路は他の回路とは異なることが多
く、従って、特定の基板の試験点と接触するためのクギ
のベットの構成は個々の回路基板に特別仕様としなくて
はならない。試験されるべき回路が設計されると、回路
基板をチェックするのに用される試験点の配列が選択さ
れ、試験用取付け装置内の試験用プローブの対応するア
レイが構成される。これは、典型的に、特別仕様の試験
用プローブのアレイに合わるためにプローブ板に精度良
く所定の配列の穴を開け、試験用プローブをプローブ板
に穿設された穴に取付けることを必要とする。次に、回
路基板を試験用取付け装置に取付けし、試験用プローブ
のアレイの上に重ね合わせる。試験の間、バネ負荷され
た試験用プローブは試験を受ける回路基板の試験点とバ
ネ圧力によって接触する。回路基板の回路の多数の試験
点の完全さ及び完全さの欠陥を検出する高速試験用電子
分析機に通信するために、試験電気信号が回路基板から
試験用プローブへ、それから、取付け装置の外部へと伝
えられる。
自動試験装置は試験中にプリント回路基板を取付ける
「クギのベッド」試験用取付け装置を長い間使用してき
た。この試験用取付け装置は、バネ圧力がかかった状態
で試験を受けるプリント回路基板の指定された試験点と
電気的接触をするように配置されている複数のバネ負荷
された試験用プローブを有する。プリント回路基板に割
り付けられた特定な回路は他の回路とは異なることが多
く、従って、特定の基板の試験点と接触するためのクギ
のベットの構成は個々の回路基板に特別仕様としなくて
はならない。試験されるべき回路が設計されると、回路
基板をチェックするのに用される試験点の配列が選択さ
れ、試験用取付け装置内の試験用プローブの対応するア
レイが構成される。これは、典型的に、特別仕様の試験
用プローブのアレイに合わるためにプローブ板に精度良
く所定の配列の穴を開け、試験用プローブをプローブ板
に穿設された穴に取付けることを必要とする。次に、回
路基板を試験用取付け装置に取付けし、試験用プローブ
のアレイの上に重ね合わせる。試験の間、バネ負荷され
た試験用プローブは試験を受ける回路基板の試験点とバ
ネ圧力によって接触する。回路基板の回路の多数の試験
点の完全さ及び完全さの欠陥を検出する高速試験用電子
分析機に通信するために、試験電気信号が回路基板から
試験用プローブへ、それから、取付け装置の外部へと伝
えられる。
【0003】従来より、試験用プローブを回路内試験の
ために圧力のかかった状態で回路基板に接触させるため
に種種の方策が採られてきた。これら試験用取付け装置
の種類の1つが配線式試験用取付け装置で、この取付け
装置では、個々の試験用プローブが試験信号を外部の試
験用分析機に伝達するために使用されるインターフェイ
スの接点に個別に配線されている。これらの配線式試験
用取付け装置はしばしば「真空式試験用取付け装置」と
呼ばれる。これは、試験の間、回路基板を試験用プロー
ブに引きつけて接触させるために、試験用取付け装置の
ハウジングの内部に真空が加えられるからである。空気
圧式や機械式タイプの試験用取付け装置も普及してい
る。真空式試験用取付け装置では、可動の上部板は静止
のプローブ板の上に取付けられ、真空シールが上部板と
プローブ板との間に形成される。第二の真空シールが上
部板の上に取付けられており、第二の真空シールは、プ
リント回路基板の下側と整列するように上部板に穿設し
たアクセス穴を通って突出するバネプローブの上に、プ
リント回路基板を保持するのに十分な高さを持ってい
る。使用時には、プローブ板と上部板との間に加えられ
る真空はプリント回路基板の下面にも加えられる。この
真空は両方の真空シールを圧縮し、プリント回路基板を
試験用プローブに向かって引っ張り、電気的に接触す
る。真空シールを維持することにより、プリント回路基
板の試験中、試験用プローブは基板の試験点にバネ圧力
が作用した状態の接触を持続する。
ために圧力のかかった状態で回路基板に接触させるため
に種種の方策が採られてきた。これら試験用取付け装置
の種類の1つが配線式試験用取付け装置で、この取付け
装置では、個々の試験用プローブが試験信号を外部の試
験用分析機に伝達するために使用されるインターフェイ
スの接点に個別に配線されている。これらの配線式試験
用取付け装置はしばしば「真空式試験用取付け装置」と
呼ばれる。これは、試験の間、回路基板を試験用プロー
ブに引きつけて接触させるために、試験用取付け装置の
ハウジングの内部に真空が加えられるからである。空気
圧式や機械式タイプの試験用取付け装置も普及してい
る。真空式試験用取付け装置では、可動の上部板は静止
のプローブ板の上に取付けられ、真空シールが上部板と
プローブ板との間に形成される。第二の真空シールが上
部板の上に取付けられており、第二の真空シールは、プ
リント回路基板の下側と整列するように上部板に穿設し
たアクセス穴を通って突出するバネプローブの上に、プ
リント回路基板を保持するのに十分な高さを持ってい
る。使用時には、プローブ板と上部板との間に加えられ
る真空はプリント回路基板の下面にも加えられる。この
真空は両方の真空シールを圧縮し、プリント回路基板を
試験用プローブに向かって引っ張り、電気的に接触す
る。真空シールを維持することにより、プリント回路基
板の試験中、試験用プローブは基板の試験点にバネ圧力
が作用した状態の接触を持続する。
【0004】試験用プローブがプリント回路基板の正し
い試験点と接触するために、下段に設けられているプロ
ーブ板とプリント回路基板を支持する可動の上部板と
は、プリント回路基板を平担に保つ一方でプローブの領
域に垂直な関係を維持するために、平行を保たなければ
ならない。また、信頼できる真空シールが必要である。
別な種類の試験用取付け装置は、専用型試験用取付け装
置と呼ばれ、「格子型取付け装置」としても知られてお
り、そこでは、プリント回路基板のランダムな配列の試
験点がトランスレータピンと接触するようになってお
り、このトランスレーターピンは試験信号をレシーバー
に格子型に配置されたインターフェイスピンに伝達す
る。格子型試験機では、取付けは一般に、特別仕様の配
線式試験用取付け装置と比較して複雑ではなく簡単であ
るが、格子型システムの場合、格子型インタフェースと
試験用電子機器がより複雑で高価である。インターフェ
イスピンは一般にレシーバーに保持された片側端部のバ
ネプローブである。
い試験点と接触するために、下段に設けられているプロ
ーブ板とプリント回路基板を支持する可動の上部板と
は、プリント回路基板を平担に保つ一方でプローブの領
域に垂直な関係を維持するために、平行を保たなければ
ならない。また、信頼できる真空シールが必要である。
別な種類の試験用取付け装置は、専用型試験用取付け装
置と呼ばれ、「格子型取付け装置」としても知られてお
り、そこでは、プリント回路基板のランダムな配列の試
験点がトランスレータピンと接触するようになってお
り、このトランスレーターピンは試験信号をレシーバー
に格子型に配置されたインターフェイスピンに伝達す
る。格子型試験機では、取付けは一般に、特別仕様の配
線式試験用取付け装置と比較して複雑ではなく簡単であ
るが、格子型システムの場合、格子型インタフェースと
試験用電子機器がより複雑で高価である。インターフェ
イスピンは一般にレシーバーに保持された片側端部のバ
ネプローブである。
【0005】真空式試験用取付け装置と格子型試験用取
付け装置のバネプローブは従来の2つの方法で試験用取
付け装置に保持される。第一の方法では、バネプローブ
の収容器はプレスリングを含み且つ、プローブ板の穴に
しっかりと取付けられる。プレスリングは収容器を保持
し、結果的にバネプローブを試験用取付け装置に保持す
る。収容器の移動止めはプローブプランジャーを収容器
に挿入し、保持するのを許容する。プローブアッセンブ
リへの電気的接続は一般に収容器に設けられた方形ピン
のまわりにワイヤーラップを使用して行う。他に一般的
な電気接続方法はけん縮されたワイヤを用いたり、端子
に押したり、収容器にワイヤをハンダ付けして行われ
る。両側端部のバネプローブが格子型試験でも使用さ
れ、両側端部のバネプローブの収容器はプレスリングに
よってプローブ板にしっかりと保持される。両側端部の
バネプローブアッセンブリへの電気接続は多くの場合、
ワイヤを使用する代わりに内部に設置されたプリント回
路基板を使用して行う。これらは一般に無配線式試験取
付け装置と呼ばれる。バネプローブの一端は試験品に接
触し、他端は試験用取付け装置のプリント回路基板と電
気的接触をする。
付け装置のバネプローブは従来の2つの方法で試験用取
付け装置に保持される。第一の方法では、バネプローブ
の収容器はプレスリングを含み且つ、プローブ板の穴に
しっかりと取付けられる。プレスリングは収容器を保持
し、結果的にバネプローブを試験用取付け装置に保持す
る。収容器の移動止めはプローブプランジャーを収容器
に挿入し、保持するのを許容する。プローブアッセンブ
リへの電気的接続は一般に収容器に設けられた方形ピン
のまわりにワイヤーラップを使用して行う。他に一般的
な電気接続方法はけん縮されたワイヤを用いたり、端子
に押したり、収容器にワイヤをハンダ付けして行われ
る。両側端部のバネプローブが格子型試験でも使用さ
れ、両側端部のバネプローブの収容器はプレスリングに
よってプローブ板にしっかりと保持される。両側端部の
バネプローブアッセンブリへの電気接続は多くの場合、
ワイヤを使用する代わりに内部に設置されたプリント回
路基板を使用して行う。これらは一般に無配線式試験取
付け装置と呼ばれる。バネプローブの一端は試験品に接
触し、他端は試験用取付け装置のプリント回路基板と電
気的接触をする。
【0006】試験用プローブを保持する第二の方法はマ
イラーシートを使用したもので、この場合には、バネプ
ローブはレシーバーやプローブ板の穴を貫通してレシー
バーやプローブ板の下方へ延び、バネプローブはレシー
バーやプローブ板の下に確実に固定されたマイラーシー
トによって支えられている。バネプローブは幅広の溝を
含み、この溝はプローブの胴の直径を縮めた円筒で、マ
イラーシートがこの溝にはめ込まれ、バネプローブはこ
の溝によってレシーバーとプローブ板に対し溝の高さ分
上下に動くことが出来る。
イラーシートを使用したもので、この場合には、バネプ
ローブはレシーバーやプローブ板の穴を貫通してレシー
バーやプローブ板の下方へ延び、バネプローブはレシー
バーやプローブ板の下に確実に固定されたマイラーシー
トによって支えられている。バネプローブは幅広の溝を
含み、この溝はプローブの胴の直径を縮めた円筒で、マ
イラーシートがこの溝にはめ込まれ、バネプローブはこ
の溝によってレシーバーとプローブ板に対し溝の高さ分
上下に動くことが出来る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】これら両方のタイプの
バネ負荷された試験用プローブ保持システムは、最近の
プリント回路基板の試験環境に由来する次の問題点を含
む。第一の問題点は、現行のバネプローブと収容器のア
ッセンブリが不正確になりやすいことである。収容器が
レシーバーやプローブ板を貫通する穴に角度を持って設
置されたり、穴にあるプレスリングの回りで傾いたり旋
回してしまうこともある。プレスリングがレシーバーや
プローブ板で位置する高さによっても更なる不正確さが
生じることがある。加えて、バネプローブが収容器の筒
内に位置することが、材料の変動やプローブプランジャ
ーが筒内でスライドしたり筒が収容器内でスライドする
のにクリアランスが必要となることにより、不正確さを
生じる。もう一つの問題は、同中心に取付けられた2つ
の管を有することにより、バネに利用できる場所が減
り、そのために、より高いバネ力が出せなくなりバネプ
ローブのバネの寿命を短くしてしまうことである。更
に、プレスリングを装着した収容器を有するバネプロー
ブの使用は小型化が進む傾向に反している。収容器上で
突出したプレスリングのためにバネプローブを狭い間隔
で並べる余裕が少なくなり、もし、要求されるピン密度
を密集した試験点に合わるために上げなくてはならない
なら、望ましくはない。
バネ負荷された試験用プローブ保持システムは、最近の
プリント回路基板の試験環境に由来する次の問題点を含
む。第一の問題点は、現行のバネプローブと収容器のア
ッセンブリが不正確になりやすいことである。収容器が
レシーバーやプローブ板を貫通する穴に角度を持って設
置されたり、穴にあるプレスリングの回りで傾いたり旋
回してしまうこともある。プレスリングがレシーバーや
プローブ板で位置する高さによっても更なる不正確さが
生じることがある。加えて、バネプローブが収容器の筒
内に位置することが、材料の変動やプローブプランジャ
ーが筒内でスライドしたり筒が収容器内でスライドする
のにクリアランスが必要となることにより、不正確さを
生じる。もう一つの問題は、同中心に取付けられた2つ
の管を有することにより、バネに利用できる場所が減
り、そのために、より高いバネ力が出せなくなりバネプ
ローブのバネの寿命を短くしてしまうことである。更
に、プレスリングを装着した収容器を有するバネプロー
ブの使用は小型化が進む傾向に反している。収容器上で
突出したプレスリングのためにバネプローブを狭い間隔
で並べる余裕が少なくなり、もし、要求されるピン密度
を密集した試験点に合わるために上げなくてはならない
なら、望ましくはない。
【0008】もう一つの問題は、両側端部のバネプロー
ブは、底側のプローブが小型であること及び組立工程が
原因で、損傷を受けやすいことである。ほとんどの事例
では、両側端部のバネプローブを保持する板と試験用取
付け装置のプリント回路基板は孤立端子を使用して組み
立てられる。もし、孤立端子を通ってプリント回路基板
を決まった位置に引きつけるネジが水平に締められてい
ない場合、バネプローブは損傷したり壊れてしまう。こ
のことは、壊れたり損傷したバネプローブを交換するた
めに無配線式試験用取付け装置を分解する必要がある場
合にも重大な問題となりうる。
ブは、底側のプローブが小型であること及び組立工程が
原因で、損傷を受けやすいことである。ほとんどの事例
では、両側端部のバネプローブを保持する板と試験用取
付け装置のプリント回路基板は孤立端子を使用して組み
立てられる。もし、孤立端子を通ってプリント回路基板
を決まった位置に引きつけるネジが水平に締められてい
ない場合、バネプローブは損傷したり壊れてしまう。こ
のことは、壊れたり損傷したバネプローブを交換するた
めに無配線式試験用取付け装置を分解する必要がある場
合にも重大な問題となりうる。
【0009】最近の小型化の傾向で電気接合部に「非清
浄フラックス」を使用するようになった。この種のフラ
ックスの使用は、試験対象を覆い隠してしまう汚染を多
く伴いやすく、確実に電気的接触をさせることをより困
難とする。産業的な解決としては、より高いバネ力およ
びより細いプローブの使用がある。しかしながら、該当
する高いバネ力は従来の小径バネプローブで達成するに
は困難である。
浄フラックス」を使用するようになった。この種のフラ
ックスの使用は、試験対象を覆い隠してしまう汚染を多
く伴いやすく、確実に電気的接触をさせることをより困
難とする。産業的な解決としては、より高いバネ力およ
びより細いプローブの使用がある。しかしながら、該当
する高いバネ力は従来の小径バネプローブで達成するに
は困難である。
【0010】更に、従来のバネプローブを保持する方法
に由来して従来の試験用取付け装置で起こるもう一つの
問題は、費用が高いことである。特定の試験用取付け装
置では数千もの試験用プローブが使用されることを考え
た場合、マイラーを使用するために胴に溝を形成する円
筒やプレスリングの組み付けに関連して付加的な製造手
順が増える。加えて、両側端部のバネプローブは元来高
価なものである。
に由来して従来の試験用取付け装置で起こるもう一つの
問題は、費用が高いことである。特定の試験用取付け装
置では数千もの試験用プローブが使用されることを考え
た場合、マイラーを使用するために胴に溝を形成する円
筒やプレスリングの組み付けに関連して付加的な製造手
順が増える。加えて、両側端部のバネプローブは元来高
価なものである。
【0011】従って、本発明の目的は、従来技術の方法
で生じた試験用プローブを試験用取付け装置に保持する
方法の問題を解決するプリント回路基板の回路内試験用
取付け装置を提供することである。
で生じた試験用プローブを試験用取付け装置に保持する
方法の問題を解決するプリント回路基板の回路内試験用
取付け装置を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】簡単に説明すれば、本発
明の実施例はプリント回路基板を試験するための回路内
試験用取付け装置を提供するものである。この試験用取
付け装置は、静止のプローブ板と可動の上部板との間に
真空室を有する。試験用取付け装置の各四隅に個別に設
けた調節可能な線形ベアリングは可動の上部板とプロー
ブ板を平行に整列させる。プローブ板と上部板の間に設
けられた切目なく囲った真空シールは、線形ベアリング
が真空シールの外側にあるように、線形ベアリングを迂
回している。収容器を持たないバネ負荷された試験用プ
ローブは、上部板の上の第二の真空シールの上に支持さ
れたプリント回路基板へのアクセスのためにプローブ板
と上部板に設けられた穴を貫通する。上部板の底部に真
空を加えられた状態で上部板が試験用バネプローブに向
かって下げられると、バネプローブはバネに負荷されて
プリント回路基板と電気的接触をする。上部板は、線型
ベアリングを通る簡易連結具(クイックリリースラッ
チ)によってプローブ板に確実に保持される。線形ベア
リングとの連結接続の開放は、試験を受けるプリント回
路基板をプローブの領域と正確に整列させるために、上
部板を上部板の表面と整列した平面に動かすことを許容
する。
明の実施例はプリント回路基板を試験するための回路内
試験用取付け装置を提供するものである。この試験用取
付け装置は、静止のプローブ板と可動の上部板との間に
真空室を有する。試験用取付け装置の各四隅に個別に設
けた調節可能な線形ベアリングは可動の上部板とプロー
ブ板を平行に整列させる。プローブ板と上部板の間に設
けられた切目なく囲った真空シールは、線形ベアリング
が真空シールの外側にあるように、線形ベアリングを迂
回している。収容器を持たないバネ負荷された試験用プ
ローブは、上部板の上の第二の真空シールの上に支持さ
れたプリント回路基板へのアクセスのためにプローブ板
と上部板に設けられた穴を貫通する。上部板の底部に真
空を加えられた状態で上部板が試験用バネプローブに向
かって下げられると、バネプローブはバネに負荷されて
プリント回路基板と電気的接触をする。上部板は、線型
ベアリングを通る簡易連結具(クイックリリースラッ
チ)によってプローブ板に確実に保持される。線形ベア
リングとの連結接続の開放は、試験を受けるプリント回
路基板をプローブの領域と正確に整列させるために、上
部板を上部板の表面と整列した平面に動かすことを許容
する。
【0013】分離された支持板とスペーサー板はバネプ
ローブをガイドするための複数の穴を収めたプローブ板
の下に位置する。プローブ板の下面と支持板の上面との
間に空間が設けられ、薄い可撓性のプローブ保持シート
がこの空間に設けられ、このプローブ保持シートは、望
ましくはプローブ板と支持板との間の空間で基本的には
浮動可能な弾性材料よりなる。プローブ保持シートは、
このプローブ保持シートをシートを通る試験用プローブ
の大きさよりも小さなあらかじめある型に配列された開
口部を有し、この開口部により圧縮力を開口部周辺のシ
ートの弾性特性が試験用プローブのまわりに自然と加え
る。この圧縮力は試験用取付け装置に試験用バネプロー
ブを保持し、試験用取付け装置板にとは独立的に動くこ
とができ、該試験用バネプローブは、他のバネプローブ
や試験用取付け装置のプローブ板に影響を受けることな
く、バネプローブに作用する圧縮力によってプローブ保
持シートと一緒に動くことができる。
ローブをガイドするための複数の穴を収めたプローブ板
の下に位置する。プローブ板の下面と支持板の上面との
間に空間が設けられ、薄い可撓性のプローブ保持シート
がこの空間に設けられ、このプローブ保持シートは、望
ましくはプローブ板と支持板との間の空間で基本的には
浮動可能な弾性材料よりなる。プローブ保持シートは、
このプローブ保持シートをシートを通る試験用プローブ
の大きさよりも小さなあらかじめある型に配列された開
口部を有し、この開口部により圧縮力を開口部周辺のシ
ートの弾性特性が試験用プローブのまわりに自然と加え
る。この圧縮力は試験用取付け装置に試験用バネプロー
ブを保持し、試験用取付け装置板にとは独立的に動くこ
とができ、該試験用バネプローブは、他のバネプローブ
や試験用取付け装置のプローブ板に影響を受けることな
く、バネプローブに作用する圧縮力によってプローブ保
持シートと一緒に動くことができる。
【0014】バネプローブの収容器の必要性をなくすこ
とにより、収容器や従来技術の取付け装置が許容してい
る収容器の傾きに関して発生する組立の問題をなくし、
より高い精度を提供する。バネプローブは今やプローブ
板に穿設された貫通穴に着座し、その位置は穴あけの精
度と同じである。収容器はもはやバネプローブには不要
となるので、バネプローブの筒と収容器とに関連するあ
そびは除去された。収容器が無くなることでバネプロー
ブの大きさを大きくすることが許容され、より高いバネ
力を達成出来る一方より丈夫なバネプローブを使用でき
るので、付加的な利点であるより高いバネ力が利用可能
となる。バネ力が増加するとともに、バネの寿命とこれ
によるバネプローブ寿命が大幅に改善される。両側端部
のバネプローブの必要性とバネプローブの胴に溝を形成
する円筒やプレスリングに関する付加的な製造工程を削
除することによって、本装置の設計は更に大幅な費用が
削減される。更に、本発明の設計の試験用取付け装置
は、試験用取付け装置により少ない収容空間を求められ
るより低い形状を取り入れることを許容する。
とにより、収容器や従来技術の取付け装置が許容してい
る収容器の傾きに関して発生する組立の問題をなくし、
より高い精度を提供する。バネプローブは今やプローブ
板に穿設された貫通穴に着座し、その位置は穴あけの精
度と同じである。収容器はもはやバネプローブには不要
となるので、バネプローブの筒と収容器とに関連するあ
そびは除去された。収容器が無くなることでバネプロー
ブの大きさを大きくすることが許容され、より高いバネ
力を達成出来る一方より丈夫なバネプローブを使用でき
るので、付加的な利点であるより高いバネ力が利用可能
となる。バネ力が増加するとともに、バネの寿命とこれ
によるバネプローブ寿命が大幅に改善される。両側端部
のバネプローブの必要性とバネプローブの胴に溝を形成
する円筒やプレスリングに関する付加的な製造工程を削
除することによって、本装置の設計は更に大幅な費用が
削減される。更に、本発明の設計の試験用取付け装置
は、試験用取付け装置により少ない収容空間を求められ
るより低い形状を取り入れることを許容する。
【0015】本発明の新しい概念は同様に、レシーバー
の格子型の穴に位置し且つ、場合によってはレシーバー
に設けたプローブ保持シートにより保持された、標準の
片側端部のバネプローブを利用することによって試験機
ブロックやレシーバーにバネプローブを保持する目的
で、格子上試験器にも適用することができる。プローブ
保持シートはレシーバーの上部板と底板との間の空間に
設けることになる。本発明の概念は、配線式試験用取付
け装置の試験用バネプローブの保持にも適用することが
できる。
の格子型の穴に位置し且つ、場合によってはレシーバー
に設けたプローブ保持シートにより保持された、標準の
片側端部のバネプローブを利用することによって試験機
ブロックやレシーバーにバネプローブを保持する目的
で、格子上試験器にも適用することができる。プローブ
保持シートはレシーバーの上部板と底板との間の空間に
設けることになる。本発明の概念は、配線式試験用取付
け装置の試験用バネプローブの保持にも適用することが
できる。
【0016】本発明のこれら及びその他の特徴は、以下
の詳細な説明及び添付図を参照することによって、より
十分に理解されるであろう。
の詳細な説明及び添付図を参照することによって、より
十分に理解されるであろう。
【0017】
【発明の実施の形態】図1は本発明の原理による試験用
取付け装置10の実施例の1つを説明する斜視図であ
る。試験用取付け装置10は支持板12とこの支持板1
2の上に取付けられた真空ウェルサブアッセンブリ14
とを有する長方形の真空ハウジングを有する。理解され
るべきは、本発明をここでは真空式試験用取付け装置と
して説明するが、空気圧式や機械式で作動する取付け装
置のようなその他のタイプの基板装填用取付け装置も本
発明に含まれることである。真空ウェルサブアッセンブ
リ14は試験用取付け装置10の周囲を延びる直立長方
形の外壁16により形成された長方形の真空ウェルを含
む。真空ウェルの底部は外壁16の境界内において静止
の長方形の硬いプローブ板18により形成されている。
この真空ウェルサブアッセンブリ14は、更に真空ウェ
ルの外壁16の内側に設けられたガスケットシール22
の上に設置された平坦な長方形の可動な上部板20を含
む。上部板20はプローブ板18の表面の上に且つプロ
ーブ板18の表面に平行に延びる。複数の収容器のない
バネ負荷された試験用プローブ24(簡単化のために数
本のみ示される)は支持板12、プローブ板18、可動
の上部板20に穿設された別々の貫通穴26を通って取
付けられている。穴26は試験用取付け装置の3つの板
に精度良穿設される。試験用バネプローブ24は、試験
品28にある試験パッドと接触するために、可動の上部
板20を貫通して上方へ突き出ている。プローブ板18
の穴26の径はなるべく試験用バネプローブ24の径よ
りも大きい方がよい。プローブ板18と上部板20との
間にわずかな整列の狂いがある場合に、試験用バネプロ
ーブ24が固着することを防ぐため、穴26のほうが大
きいほうがよいのである。
取付け装置10の実施例の1つを説明する斜視図であ
る。試験用取付け装置10は支持板12とこの支持板1
2の上に取付けられた真空ウェルサブアッセンブリ14
とを有する長方形の真空ハウジングを有する。理解され
るべきは、本発明をここでは真空式試験用取付け装置と
して説明するが、空気圧式や機械式で作動する取付け装
置のようなその他のタイプの基板装填用取付け装置も本
発明に含まれることである。真空ウェルサブアッセンブ
リ14は試験用取付け装置10の周囲を延びる直立長方
形の外壁16により形成された長方形の真空ウェルを含
む。真空ウェルの底部は外壁16の境界内において静止
の長方形の硬いプローブ板18により形成されている。
この真空ウェルサブアッセンブリ14は、更に真空ウェ
ルの外壁16の内側に設けられたガスケットシール22
の上に設置された平坦な長方形の可動な上部板20を含
む。上部板20はプローブ板18の表面の上に且つプロ
ーブ板18の表面に平行に延びる。複数の収容器のない
バネ負荷された試験用プローブ24(簡単化のために数
本のみ示される)は支持板12、プローブ板18、可動
の上部板20に穿設された別々の貫通穴26を通って取
付けられている。穴26は試験用取付け装置の3つの板
に精度良穿設される。試験用バネプローブ24は、試験
品28にある試験パッドと接触するために、可動の上部
板20を貫通して上方へ突き出ている。プローブ板18
の穴26の径はなるべく試験用バネプローブ24の径よ
りも大きい方がよい。プローブ板18と上部板20との
間にわずかな整列の狂いがある場合に、試験用バネプロ
ーブ24が固着することを防ぐため、穴26のほうが大
きいほうがよいのである。
【0018】真空式試験用取付け装置の幾つかの特徴は
既知のものであり、技術的には従来のものなので図示は
しない。この中には、可動の上部板20と静止のプロー
ブ板18との間の真空室空間に真空を引き込むための試
験用取付け装置内部への真空の接続も含まれる。試験用
取付け装置には更に技術的には良く知られた米国特許N
o.5422575で開示された上部板の動作に用いら
れる簡易連結具付きの線形ベアリングが含まれる。この
米国特許の開示はここで参考として組み込まれる。
既知のものであり、技術的には従来のものなので図示は
しない。この中には、可動の上部板20と静止のプロー
ブ板18との間の真空室空間に真空を引き込むための試
験用取付け装置内部への真空の接続も含まれる。試験用
取付け装置には更に技術的には良く知られた米国特許N
o.5422575で開示された上部板の動作に用いら
れる簡易連結具付きの線形ベアリングが含まれる。この
米国特許の開示はここで参考として組み込まれる。
【0019】試験品28は上部板20の上にあり、別の
真空シールガスケット30の上に載置される。(ある場
合には、試験品28は試験用バネプローブ24上に直接
置かれ、試験の間、電気的接続をするために試験品28
に力が加えられる。)図示された試験品28は負荷され
た回路基板である。上部板20に取り付けられた真空シ
ールガスケット30はプローブの領域を取り囲んで、試
験用バネプローブ24の先端の上に間隔をあけて回路基
板を支持する。試験用バネプローブ24は、試験品28
の試験点と接触するために整列されており、真空室に真
空がかけられると、真空は回路基板の下で且つ上部板2
0の上の空間にも加わる。これが回路基板を圧縮し下方
に引っ張り、回路の完全さの試験を行うために使用する
試験用バネプローブ24と電気的接触をする。前記の通
り、上部板20は直立した線形ベアリングシステム(図
示していない)でプローブ板18から遠ざかったり近づ
いたりする動くことができるように支持されており、線
形ベアリングは好ましくは試験用取付け装置10の周囲
に間隔をあけて四隅に設けられる。好ましい構成では、
線形ベアリングはプローブ板18の四隅に設けられる。
上部板20に支持された回路基板が試験用プローブの領
域と正確に整列するように、線形ベアリングは上部板2
0をプローブ板18に対して一定の位置に保持する。
真空シールガスケット30の上に載置される。(ある場
合には、試験品28は試験用バネプローブ24上に直接
置かれ、試験の間、電気的接続をするために試験品28
に力が加えられる。)図示された試験品28は負荷され
た回路基板である。上部板20に取り付けられた真空シ
ールガスケット30はプローブの領域を取り囲んで、試
験用バネプローブ24の先端の上に間隔をあけて回路基
板を支持する。試験用バネプローブ24は、試験品28
の試験点と接触するために整列されており、真空室に真
空がかけられると、真空は回路基板の下で且つ上部板2
0の上の空間にも加わる。これが回路基板を圧縮し下方
に引っ張り、回路の完全さの試験を行うために使用する
試験用バネプローブ24と電気的接触をする。前記の通
り、上部板20は直立した線形ベアリングシステム(図
示していない)でプローブ板18から遠ざかったり近づ
いたりする動くことができるように支持されており、線
形ベアリングは好ましくは試験用取付け装置10の周囲
に間隔をあけて四隅に設けられる。好ましい構成では、
線形ベアリングはプローブ板18の四隅に設けられる。
上部板20に支持された回路基板が試験用プローブの領
域と正確に整列するように、線形ベアリングは上部板2
0をプローブ板18に対して一定の位置に保持する。
【0020】支持板12の下には、スペーサーピン34
を収める複数の穴を有するスペーサー板32が位置す
る。試験品28が負荷された回路基板であると考える
と、試験パッドや試験位置は試験品28に沿って様々な
高さを有しうる。その結果、もし試験用バネプローブ2
4が全て同じ長さとすれば、異なる大きさのスペーサー
ピン34が試験位置の様々な高さを吸収するように組み
入れる。あるいは、様々な長さの試験用バネプローブ2
4がスペーサーピン34なしに使用され、スペーサー板
32の穴を貫通することになる。
を収める複数の穴を有するスペーサー板32が位置す
る。試験品28が負荷された回路基板であると考える
と、試験パッドや試験位置は試験品28に沿って様々な
高さを有しうる。その結果、もし試験用バネプローブ2
4が全て同じ長さとすれば、異なる大きさのスペーサー
ピン34が試験位置の様々な高さを吸収するように組み
入れる。あるいは、様々な長さの試験用バネプローブ2
4がスペーサーピン34なしに使用され、スペーサー板
32の穴を貫通することになる。
【0021】スペーサーピン34は、あるいはスペーサ
ーピンを利用しない場合には試験用バネプローブ24
は、スペーサー板32の下方に設けられたプリント回路
基板36と電気的接触をし、技術的に良く知られた方法
で回路基板の回路内試験を行うための外部の試験用電子
分析機に電気的に接続される。試験用電子分析機は、任
意の指定された二つの試験位置間に電気的接続があるか
ないかを判定するために、試験品28の別々の試験点を
電気的に調べる電子試験用回路を含む。試験される回路
基板の試験点間で検出された電気的接続は、試験点のを
事前調査や誤りのないマスターのプリント回路基板から
得た参考結果を記憶したものと電気的に比較される。試
験される回路基板が良品であるということは試験の結果
が記憶された参考結果と一致するということである。
が、もし回路基板の回路になんらかの問題があれば、試
験結果から問題が検出され、不良基板は良品基板から分
離することができる。
ーピンを利用しない場合には試験用バネプローブ24
は、スペーサー板32の下方に設けられたプリント回路
基板36と電気的接触をし、技術的に良く知られた方法
で回路基板の回路内試験を行うための外部の試験用電子
分析機に電気的に接続される。試験用電子分析機は、任
意の指定された二つの試験位置間に電気的接続があるか
ないかを判定するために、試験品28の別々の試験点を
電気的に調べる電子試験用回路を含む。試験される回路
基板の試験点間で検出された電気的接続は、試験点のを
事前調査や誤りのないマスターのプリント回路基板から
得た参考結果を記憶したものと電気的に比較される。試
験される回路基板が良品であるということは試験の結果
が記憶された参考結果と一致するということである。
が、もし回路基板の回路になんらかの問題があれば、試
験結果から問題が検出され、不良基板は良品基板から分
離することができる。
【0022】本発明中の試験用プローブの保持システム
は支持板12の上面とプローブ板18の下面との間の空
間40の中に位置するプローブ保持シート38によって
構成されている。試験用バネプローブ24用の開口部は
プローブ保持シート38を貫通するドリル穴またはシー
トを切削加工したスリットにより形成される。プローブ
保持シート38は薄い平坦な可撓性の合成ゴムまたは天
然ゴムよりなる独立気泡ゴム材料のシートよりなるもの
がよい。望ましいゴムは天然と合成のラテックスゴムの
両者からなるゴムである。ゴムはプローブ保持シート3
8には好ましい材料であるが、プローブ板18中に試験
用バネプローブ24を保持できる限り他のシート用材料
も使用することができる。そのような材料の例は、商品
名ポロンで一般に流通している連続気泡ウレタン、スポ
ンジネオプレンフォーム、シリコンフォームがある。弾
力性のあるシートは弾性圧縮力を試験用バネプローブ2
4に加える能力があるために使用される。
は支持板12の上面とプローブ板18の下面との間の空
間40の中に位置するプローブ保持シート38によって
構成されている。試験用バネプローブ24用の開口部は
プローブ保持シート38を貫通するドリル穴またはシー
トを切削加工したスリットにより形成される。プローブ
保持シート38は薄い平坦な可撓性の合成ゴムまたは天
然ゴムよりなる独立気泡ゴム材料のシートよりなるもの
がよい。望ましいゴムは天然と合成のラテックスゴムの
両者からなるゴムである。ゴムはプローブ保持シート3
8には好ましい材料であるが、プローブ板18中に試験
用バネプローブ24を保持できる限り他のシート用材料
も使用することができる。そのような材料の例は、商品
名ポロンで一般に流通している連続気泡ウレタン、スポ
ンジネオプレンフォーム、シリコンフォームがある。弾
力性のあるシートは弾性圧縮力を試験用バネプローブ2
4に加える能力があるために使用される。
【0023】試験用取付け装置10は空間40の中で支
持板12の上面にラテックスシートを載せ、支持板12
に粘着されずに支持板12に横たわることを許容するこ
とによって組み立てられる。可撓性で弾力性のあるプロ
ーブ保持シート38は特に試験用バネプローブ24がプ
ローブ保持シート38を貫通する領域において支持板1
2に付着されない。プローブ保持シート38はそのため
に空間内で試験用バネプローブ24とともに支持板12
から遠ざかったり近づいたり自由に動くことができる、
即ち、「浮動する」ことができる。位置だしピン(図示
していない)はプローブ保持シート38を正しく揃える
ために使用されており、プローブ保持シート38の1又
は1以上の角を通るように支持板12に設けられる。
持板12の上面にラテックスシートを載せ、支持板12
に粘着されずに支持板12に横たわることを許容するこ
とによって組み立てられる。可撓性で弾力性のあるプロ
ーブ保持シート38は特に試験用バネプローブ24がプ
ローブ保持シート38を貫通する領域において支持板1
2に付着されない。プローブ保持シート38はそのため
に空間内で試験用バネプローブ24とともに支持板12
から遠ざかったり近づいたり自由に動くことができる、
即ち、「浮動する」ことができる。位置だしピン(図示
していない)はプローブ保持シート38を正しく揃える
ために使用されており、プローブ保持シート38の1又
は1以上の角を通るように支持板12に設けられる。
【0024】プローブ保持シート38を貫通する開口部
は支持板12とプローブ板18とに穿設された貫通穴2
6の配列に合わせて設けられる。試験用バネプローブ2
4はプローブ保持シート38の開口部を貫通して挿入さ
れる。プローブ保持シート38の開口部は試験用バネプ
ローブ24の外径よりも小さくなっている。これに対
し、支持板12の穴は試験用バネプローブ24の外径よ
りわずかに大きくなっている。プローブ保持シート38
の開口部は、プローブ保持シート38に円形の穴を形成
せず、代わりにほぼS字形の溝状の穴ができる(不規則
形状の溝状の穴とも言う)ドリルビットによってあけら
れる。ドリルビットが回転すると、シートを削り取り、
シートが動いてしまい、反対側に柔らかい弾性のあるひ
らひらのついたほぼS字形状の開口部が残る。ひらひら
は弾性的に試験用バネプローブ24の側面にまとわりつ
き、試験用バネプローブ24を正しい位置に保持する弾
性圧縮保持力を生み出す。開口部は試験用バネプローブ
24の外径よりも小さいと見なしているが、これはほぼ
S字形状の溝の開口断面は試験用バネプローブ24の断
面よりも小さいからである。どちらかといえば、プロー
ブ保持シート38は厚さ約0.02インチから0.04
インチ、より良いのは約0.03インチの天然ラッテク
スの独立気泡弾性ゴムの可撓性シートよりなるものがよ
い。
は支持板12とプローブ板18とに穿設された貫通穴2
6の配列に合わせて設けられる。試験用バネプローブ2
4はプローブ保持シート38の開口部を貫通して挿入さ
れる。プローブ保持シート38の開口部は試験用バネプ
ローブ24の外径よりも小さくなっている。これに対
し、支持板12の穴は試験用バネプローブ24の外径よ
りわずかに大きくなっている。プローブ保持シート38
の開口部は、プローブ保持シート38に円形の穴を形成
せず、代わりにほぼS字形の溝状の穴ができる(不規則
形状の溝状の穴とも言う)ドリルビットによってあけら
れる。ドリルビットが回転すると、シートを削り取り、
シートが動いてしまい、反対側に柔らかい弾性のあるひ
らひらのついたほぼS字形状の開口部が残る。ひらひら
は弾性的に試験用バネプローブ24の側面にまとわりつ
き、試験用バネプローブ24を正しい位置に保持する弾
性圧縮保持力を生み出す。開口部は試験用バネプローブ
24の外径よりも小さいと見なしているが、これはほぼ
S字形状の溝の開口断面は試験用バネプローブ24の断
面よりも小さいからである。どちらかといえば、プロー
ブ保持シート38は厚さ約0.02インチから0.04
インチ、より良いのは約0.03インチの天然ラッテク
スの独立気泡弾性ゴムの可撓性シートよりなるものがよ
い。
【0025】本発明のプローブ保持シート38を使用す
る利点は、弾性ラテックスゴム材が破断抵抗力が強く、
記憶力が強い(復元力が強い)ということであり、合理
的に安価ある材料であることである。使用している間、
弾性材料は試験用取付け装置10の他の構成部材と独立
的に、試験用バネプローブ24を試験用取付け装置10
中の正しい位置に保持するために十分なレベル又は保持
力を試験用バネプローブ24の側部に横からかける。隣
接する試験用バネプローブ24が試験を受ける回路基板
の異なる高さの目標物に接触する様な場合でも、プロー
ブ保持シート38は試験用バネプローブ24の動きに合
わせ自由に上下に動くことができる。
る利点は、弾性ラテックスゴム材が破断抵抗力が強く、
記憶力が強い(復元力が強い)ということであり、合理
的に安価ある材料であることである。使用している間、
弾性材料は試験用取付け装置10の他の構成部材と独立
的に、試験用バネプローブ24を試験用取付け装置10
中の正しい位置に保持するために十分なレベル又は保持
力を試験用バネプローブ24の側部に横からかける。隣
接する試験用バネプローブ24が試験を受ける回路基板
の異なる高さの目標物に接触する様な場合でも、プロー
ブ保持シート38は試験用バネプローブ24の動きに合
わせ自由に上下に動くことができる。
【0026】図1に示した発明は、無配線式試験用取付
け装置との接続に使用しているが、本発明の概念は図2
に示した配線式試験用取付け装置に適用した場合も同じ
である。配線式試験用取付け装置50は試験用取付け装
置50の周囲に延びた直立する長方形の外壁54によっ
て形成された長方形の真空ウェルを有する長方形の真空
ハウジング52を含む。真空ウェルの底部は、外壁54
の境界内の静止の長方形の硬いプローブ板56によって
形成されている。配線式試験用取付け装置50はプロー
ブ板56の表面の上に且つ該表面に平行に延びた可動の
上部板58も含む。図には1つが簡略して示してある
が、複数のバネ負荷された試験用プローブ60が配線式
試験用取付け装置50に設けられ、プローブ板56と可
動の上部板58の穴を貫通している。試験用プローブ6
0は技術的に良く知られた従来のバネ負荷された試験用
プローブである。試験用プローブ60は試験品62の試
験パッドと電気的接触をするために上部板58を上方へ
貫通している。試験品62は上部板58の上面に位置す
る真空シール64に横たわり、もう1つの真空シール6
6は上部板58の下面とプローブ板56の上面との間に
位置している。
け装置との接続に使用しているが、本発明の概念は図2
に示した配線式試験用取付け装置に適用した場合も同じ
である。配線式試験用取付け装置50は試験用取付け装
置50の周囲に延びた直立する長方形の外壁54によっ
て形成された長方形の真空ウェルを有する長方形の真空
ハウジング52を含む。真空ウェルの底部は、外壁54
の境界内の静止の長方形の硬いプローブ板56によって
形成されている。配線式試験用取付け装置50はプロー
ブ板56の表面の上に且つ該表面に平行に延びた可動の
上部板58も含む。図には1つが簡略して示してある
が、複数のバネ負荷された試験用プローブ60が配線式
試験用取付け装置50に設けられ、プローブ板56と可
動の上部板58の穴を貫通している。試験用プローブ6
0は技術的に良く知られた従来のバネ負荷された試験用
プローブである。試験用プローブ60は試験品62の試
験パッドと電気的接触をするために上部板58を上方へ
貫通している。試験品62は上部板58の上面に位置す
る真空シール64に横たわり、もう1つの真空シール6
6は上部板58の下面とプローブ板56の上面との間に
位置している。
【0027】プローブ板56の下にはガスケット68に
よりプローブ板56から間隔をあけて支持板67が設け
られている。支持板67の下にはピンの尾74を有する
複数のパーソナリティーピン72を収めるパーソナリテ
ィーピンフレーム70が位置し、ピンの尾74は試験用
プローブ60のピンの尾と配線されている。ピンの尾7
4は技術的に従来のものである試験用電子機器(図示し
ていない)中に位置する複数のバネプローブと電気的接
触をしている。
よりプローブ板56から間隔をあけて支持板67が設け
られている。支持板67の下にはピンの尾74を有する
複数のパーソナリティーピン72を収めるパーソナリテ
ィーピンフレーム70が位置し、ピンの尾74は試験用
プローブ60のピンの尾と配線されている。ピンの尾7
4は技術的に従来のものである試験用電子機器(図示し
ていない)中に位置する複数のバネプローブと電気的接
触をしている。
【0028】試験用プローブ60はプローブ板56内で
プローブ保持シート76によって保持されており、プロ
ーブ保持シート76には図1の試験用取付け装置に関し
て上述したようにラテックスシートが望ましい。図1と
異なり、プローブ保持シート76は支持板67から上方
に突き出ただぼピン78によってX、Y軸に位置し、支
持板67にはプローブ保持シート76の各角に一致する
別なだぼピンがある。代わりに図1又は図2の取付け装
置の試験用プローブは、プローブ保持シートを使用せず
に、試験品と試験電子機器へのインターフェイスとの間
で固定することが可能である。
プローブ保持シート76によって保持されており、プロ
ーブ保持シート76には図1の試験用取付け装置に関し
て上述したようにラテックスシートが望ましい。図1と
異なり、プローブ保持シート76は支持板67から上方
に突き出ただぼピン78によってX、Y軸に位置し、支
持板67にはプローブ保持シート76の各角に一致する
別なだぼピンがある。代わりに図1又は図2の取付け装
置の試験用プローブは、プローブ保持シートを使用せず
に、試験品と試験電子機器へのインターフェイスとの間
で固定することが可能である。
【0029】図3は、本発明のプローブ保持システム
が、試験用取付け装置から試験用電子分析機へ試験信号
の伝送を行うためにある格子型試験器の万能格子型カー
トリッジ(レシーバー)の収容器のない試験用プローブ
の保持に、どの様に適用されうるかを図示している。図
3では、万能格子型カートリッジ80は上部板82と底
板84よりなる。空間86は、上部板82と底板84の
端に位置するスペーサー板88によって、上部板82と
底板84の間に形成される。複数の試験用バネプローブ
90は、上部板82と底板84を貫通する穴に位置し、
上部板82と底板84の間の空間86に設けられたプロ
ーブ保持シート92によって万能格子型カートリッジ8
0内に保持される。ここでも、プローブ保持シート92
は図1と図2の実施例で述べたようにラテックスシート
が望ましい。
が、試験用取付け装置から試験用電子分析機へ試験信号
の伝送を行うためにある格子型試験器の万能格子型カー
トリッジ(レシーバー)の収容器のない試験用プローブ
の保持に、どの様に適用されうるかを図示している。図
3では、万能格子型カートリッジ80は上部板82と底
板84よりなる。空間86は、上部板82と底板84の
端に位置するスペーサー板88によって、上部板82と
底板84の間に形成される。複数の試験用バネプローブ
90は、上部板82と底板84を貫通する穴に位置し、
上部板82と底板84の間の空間86に設けられたプロ
ーブ保持シート92によって万能格子型カートリッジ8
0内に保持される。ここでも、プローブ保持シート92
は図1と図2の実施例で述べたようにラテックスシート
が望ましい。
【0030】本発明はそれの三つの実施例に関して前述
し、図示をしたが、理解されるべきは、他の変更や修正
が前記の文で請求したように本発明が意図する十分な範
囲内で成されうるのであって、本発明をそのように制限
するものではないということである。
し、図示をしたが、理解されるべきは、他の変更や修正
が前記の文で請求したように本発明が意図する十分な範
囲内で成されうるのであって、本発明をそのように制限
するものではないということである。
【図1】図1は本発明による回路内真空式試験用取付け
装置を示す部分断面斜視略図である。
装置を示す部分断面斜視略図である。
【図2】図2は本発明のもう1つの実施例の配線式試験
用真空式取付け装置を示す概略図である。
用真空式取付け装置を示す概略図である。
【図3】図3は万能格子型試験器とともに使用される本
発明の概念を説明するための本発明の他の実施例の部分
正面図である。
発明の概念を説明するための本発明の他の実施例の部分
正面図である。
10…試験用取付け装置 12…支持板 18…プローブ板 20…上部板 24…試験用バネプローブ 26…穴 28…試験品 32…スペーサー板 34…スペーサーピン 36…プリント回路基板 38…プローブ保持シート 50…配線式試験用取付け装置 56…プローブ板 58…上部板 60…試験用プローブ 62…試験を受ける基板 67…支持板 70…パーソナリティーピンフレーム 72…パーソナリティーピン 76…プローブ保持シート 80…万能格子型カートリッジ 82…上部板 84…底板 88…スペーサー板 90…試験用バネプローブ
フロントページの続き (72)発明者 ゲーリー エフ.セイント オンジ アメリカ合衆国,ニューヨーク 12019, ボールストン レイク,メイプルウッド ドライブ 15 (72)発明者 マーク エー.スワート アメリカ合衆国,カリフォルニア 92807, アナヘイム ヒルズ,ティスバリー コー ト 5329
Claims (12)
- 【請求項1】 試験用プローブを試験を受けるプリント
回路基板の回路と整列させるのに適した試験用取付け装
置であって、 固定されたプローブ板を有する試験用取付け装置のベー
スと、 プローブ板を貫通し且つプローブ板を通る軸方向に個別
に動くことのできる試験用プローブのアレイと、 プローブ板とほぼ平行に位置し且つプローブ板及び試験
用プローブのアレイから遠ざかったり近づいたり動くの
に適した上部板と、該上部板は、該上部板とプローブ板
とが互いに接近するように動かされたときに試験用プロ
ーブが試験を受けるプリント回路基板の回路に接触する
ことができるように、試験を受けるプリント回路基板を
上部板とほぼ平行な位置に支持し、 プローブ板の下方に配置されたプローブ保持シートと、
を備え、該プローブ保持シートは、プローブ板を貫通す
る試験用プローブがプローブ保持シートを貫通するよう
に試験用プローブの領域においてプローブ板の下面にゆ
るく隣接し且つ結合されずに横たわることを特徴とする
試験用取付け装置。 - 【請求項2】 前記プローブ保持シートは天然または合
成ラテックスゴムの薄い可撓性のシートからなることを
特徴とする請求項1に記載の試験用取付け装置。 - 【請求項3】 別々の試験用プローブに個別に配線され
た複数のパーソナリティーピンを収めたフレームを更に
備えることを特徴とする請求項1に記載の試験用取付け
装置。 - 【請求項4】 プローブ板の下方に隣接して位置する支
持板と、該支持板の下に位置し1又は1以上のスペーサ
ーピンを収めるスペーサー板とを更に備えることを特徴
とする請求項1に記載の試験用取付け装置。 - 【請求項5】 固定されたプローブ板と該プローブ板か
ら遠ざかったり近づいたり動くのに適した上部板とを貫
通する所定の配列の試験用プローブを有する負荷された
プリント回路基板の試験用取付け装置のための試験用プ
ローブ保持システムであって、プローブ板と上部板と
が、試験用プローブが試験用取付け装置の一端に支持さ
れたプリント回路基板の試験点と接触するために試験用
プローブの通過のための選択された配列の穴を有し、該
試験用プローブ保持システムはプローブ板の下方に配置
されたプローブ保持シートを含み、該プローブ保持シー
トはプローブ板を貫通する試験用プローブがプローブ保
持シートを貫通するように試験用プローブの領域に配置
され、該プローブ保持シートが試験用取付け装置に試験
用プローブを保持するのに十分なレベルの力を該プロー
ブ保持シートを貫通する試験用プローブの周囲に加える
ことを特徴とする試験用プローブ保持システム。 - 【請求項6】 第一のプローブ板と、 第一のプローブ板と平行でかつ該第一のプローブ板から
スペーサー板によって間隔をあけて設けられた第二のプ
ローブ板と、 前記第一及び第二のプローブ板がバネプローブを受ける
ために自在の間隔で穿設された複数の貫通穴を有するこ
とと、 第一及び第二のプローブ板の間に配置された可撓性のプ
ローブ保持シートとからなり、該プローブ保持シート
は、第一及び第二のプローブ板を貫通する試験用プロー
ブがプローブ保持シートを貫通するように該バネプロー
ブの領域において第一及び第二のプローブ板の間にゆる
く横たわることを特徴とする格子型試験器用のレシーバ
ー。 - 【請求項7】 試験位置から外部の試験用電子機器に試
験信号が伝わるように試験用プローブを試験を受けるプ
リント回路基板の試験位置と整列させるのに適した試験
用取付け装置であって、 複数の貫通穴を有する静止のプローブ板と、 プローブ板の穴を貫通し、プローブ板を通る軸方向に個
別に動くことのできる試験用プローブのアレイと、 試験用プローブが試験位置に接触することができるよう
に、試験を受けるプリント回路基板を可動に且つプロー
ブ板とほぼ平行に支持するための手段と、 プローブ板の下に位置し且つ試験を受けるプリント回路
基板とプローブ板が互いに接近するように動かされた時
に試験信号を外部の試験用電子機器に伝えるために試験
用プローブと接触するインターフェイスとからなること
を特徴とする試験用取付け装置。 - 【請求項8】 プローブ板の下方に位置するプローブ保
持シートを更に備え、プローブ板を貫通する試験用プロ
ーブが該プローブ保持シートを貫通することを特徴とす
る請求項7に記載の試験用取付け装置。 - 【請求項9】 試験を受ける基板を支持する手段がプロ
ーブ板と平行に位置し且つプローブ板から遠ざかったり
近づいたりする動作に適した上部板であり、前記上部板
がそれを貫通する試験用プローブを試験位置へと導く複
数の穴を有することを特徴とする請求項7に記載の試験
用取付け装置。 - 【請求項10】 インターフェイスがプリント回路基板
であることを特徴とする請求項7に記載の試験用取付け
装置。 - 【請求項11】 インターフェイスが配線により接続さ
れた複数のピンであることを特徴とする請求項7に記載
の試験用取付け装置。 - 【請求項12】 プローブ板に開けられた穴の径が試験
用プローブの径よりも大きいことを特徴とする請求項7
に記載の試験用取付け装置。
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- 1997-11-27 JP JP32591097A patent/JP3259904B2/ja not_active Expired - Fee Related
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