JPH11102764A - アダプターボード - Google Patents
アダプターボードInfo
- Publication number
- JPH11102764A JPH11102764A JP9260696A JP26069697A JPH11102764A JP H11102764 A JPH11102764 A JP H11102764A JP 9260696 A JP9260696 A JP 9260696A JP 26069697 A JP26069697 A JP 26069697A JP H11102764 A JPH11102764 A JP H11102764A
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- Connecting Device With Holders (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Abstract
価用基板に装着してICの測定評価を行うにあたり、I
Cリードの配列等が異なっても、共通のIC測定評価用
基板を使用できるようにする。 【解決手段】 基板の一方の面に、ICリード2の配列
に対応して配設された第1のコンタクトピン11が接触
するIC側リードの配列を有し、他方の面に、IC測定
評価用基板30の端子31の配列に対応して配設された
第2のコンタクトピン12が接触する基板側リード15
の配列を有し、IC側リードと当該IC側リードに対応
する基板側リードとが導通しているICソケット用アダ
プターボード13Aにおいて、IC側リード14の配列
と基板側リード15の配列とを反転させる。
Description
の測定評価用のICソケットに使用されるアダプターボ
ードに関する。
として、図6に示したように、測定するIC1をICソ
ケット10に着脱自在に取り付け、これを電子部品(図
示せず)を搭載したIC測定評価用基板(Device Unit
Testing 基板)30に取り付け、種々の検査を行うこと
がなされている。
接触する第1のコンタクトピン11と、IC測定評価用
基板30の端子31に接触する第2のコンタクトピン1
2と、アダプターボード13からなっている。アダプタ
ーボード13は、ICソケット基板とも称されるもの
で、その上面に第1のコンタクトピン11と接触するI
C側リード14を有し、下面に第2のコンタクトピン1
2と接触する基板側リード15を有し、これらIC側リ
ード14と基板側リード15とが、スルーホール16で
導通している。
のコンタクトピン12は、それぞれ表面が金等でメッキ
されたS字状弾性体からなり、ゴム製のエラストマー1
7,18の弾性力によりICリード2あるいはIC測定
評価用基板30の端子31に押しつけられる。
リード2の配列に対応して配設されており、第1のコン
タクトピン11と接触するIC側リード14もICリー
ド2の配列に対応した配列を有している。したがって、
例えば、図7(a)に示したように、IC1aが2列の
ICリード2(A,B,C,・・・/P,O,N・・・)を有する場
合、同図(b)に実線で示したように、アダプターボー
ド13の上面のIC側リード14の配列もICリード2
の配列に対応したものとなり、また、同様に、同図
(b)に破線で示したように、アダプターボード13の
下面の基板側リード15の配列もICリード2の配列
(A,B,C・・・/P,O,N・・・)に対応したものとなる。
価用基板30及びICソケット10が、図7(a)に示
したICリードの配列(A,B,C・・・/P,O,N・・・)の
IC1a用の測定評価用に作製されている場合に、この
IC測定評価用基板30及びICソケット10を用い
て、図8に示したIC1bのように、図7に示したIC
1aに対してICリード2の数や形状が同じであって
も、配列が(P,O,N・・・/A,B,C・・・)と反転してい
るものは測定評価することができない。
ット10に取り付けた場合、アダプターボード13にお
ける各IC側リード14や基板側リード15は、IC1
bのICリード2のリードとして機能するが、IC測定
評価用基板30の端子31は、図7(a)に示したIC
1aのICリード2の配列に適合するものとなってお
り、図8に示したIC1bのICリード2の配列に適合
していないためである。
っても、配列が反転したICを測定評価する場合には、
そようなICの測定評価の度ごとに、新たに、それ専用
の測定評価用基板30を作製することが必要とされ、測
定評価に要する時間とコストの増大が招かれていた。
Cリード間をショートさせて測定評価する場合がある
が、この場合にも測定評価用基板30をそのような測定
評価用に新たに作製することが必要とされ、測定評価に
要する時間とコストの増大が招かれていた。
解決しようとするものであり、ICソケットにICを取
り付け、IC測定評価用基板に装着してICの測定評価
を行うにあたり、ICリードの配列等が異なっても、I
Cリードの数や形状が同じICに対しては共通の測定評
価用基板を使用できるようにし、ICの測定評価に要す
る時間とコストを低減させることを目的としている。
ト内のアダプターボードのIC側リードと基板側リード
の位置関係を調整することにより、ICリードの配列等
が異なっても、ICリードの数や形状が同じICに対し
ては共通のIC測定評価用基板を使用することができ、
専用の測定評価用基板の作製が不要となることを見出
し、本発明を完成させるに至った。
面に、ICリードの配列に対応して配設された第1のコ
ンタクトピンが接触するIC側リードの配列を有し、他
方の面に、IC測定評価用基板の端子の配列に対応して
配設された第2のコンタクトピンが接触する基板側リー
ドの配列を有し、IC側リードと当該IC側リードに対
応する基板側リードとが導通しているICソケット用ア
ダプターボードであって、IC側リードの第1のコンタ
クトピンとの接触部位の配列と、該IC側リードに対応
する基板側リードの第2のコンタクトピンとの接触部位
の配列とが反転していることを特徴とするアダプターボ
ードを提供する。
に、ICリードの配列に対応して配設された第1のコン
タクトピンが接触するIC側リードの配列を有し、他方
の面に、IC測定評価用基板の端子の配列に対応して配
設された第2のコンタクトピンが接触する基板側リード
の配列を有し、IC側リードと当該IC側リードに対応
する基板側リードとが導通しているICソケット用アダ
プターボードであって、複数のIC側リードの一部又は
複数の基板側リードの一部が互いに接続したパターンに
形成されていることを特徴とするアダプターボードを提
供する。
面のIC側リード上に、ICリードの配列に対応する第
1のコンタクトピンを配設し、また、アダプターボード
の他方の面の基板側リード上に、IC測定評価用基板の
端子の配列に対応する第2のコンタクトピンを配設する
ことによりICソケットを構成すると、アダプターボー
ドのIC側リードの配列とそのIC側リードに対応する
基板側リードの配列とが反転しているので、これらの配
列が反転していないアダプターボードを使用した場合に
測定評価できるICに対して、そのICリードの配列が
反転しているICを、IC測定評価用基板を変えること
なく測定評価することができる。
一方の面のIC側リード上に、ICリードの配列に対応
する第1のコンタクトピンを配設し、また、アダプター
ボードの他方の面の基板側リード上に、IC測定評価用
基板の端子の配列に対応する第2のコンタクトピンを配
設することによりICソケットを構成すると、アダプタ
ーボードに形成されている複数のIC側リードの一部又
は複数の基板側リードの一部が互いに接続されているの
で、ICリード間をショートさせた状態でのICの測定
評価を容易に行うことができる。
に基づいて詳細に説明する。なお、各図中、同一符号は
同一又は同等の構成要素を表している。
10のアダプターボード13に代えて、第1の本発明の
アダプターボード13Aを用いたICソケット10Aの
説明図である。図2は、図1のアダプターボード13A
の上面図であり、図中、実線のリードは、アダプターボ
ード13Aの上面に形成されているIC側リード14を
表し、破線はアダプターボード13Aの下面に形成され
ている基板側リード15を表している。また、図3はア
ダプターボード13Aの底面(下面)図である。
した従来のアダプターボード13と同様に、ICソケッ
ト10A内に組み込まれて使用されるものである。アダ
プターボード13Aの上面にはIC側リード14が形成
されており、このIC側リード14には、測定評価する
当該IC1のICリード2の配列に対応して配設された
第1のコンタクトピン11が接触する。またアダプター
ボード13Aの下面には基板側リード15が形成されて
おり、この基板側リード15には、IC測定評価用基板
30の端子31の配列に対応して配設された第2のコン
タクトピン12が接触する。この第1のコンタクトピン
11及び第2のコンタクトピン12としても、図6の従
来のICソケット10と同様に、ぞれぞれそれぞれ表面
が金等でメッキされたS字状弾性体が使用されている。
Aは、そのIC側リード14と、各IC側リード14に
スルーホール16で導通している基板側リード15とが
スルーホール16を挟んで反対側に形成されており、そ
れ故に、IC側リード14が第1のコンタクトピン11
と接触する部位Pの配列(PA、PB、PC・・・)と、
IC側リード14に対応する基板側リード15が第2の
コンタクトピン12と接触する部位Qの配列(QA、
QB、QC・・・)とがスルーホール16を挟んで線対称
となるよう反転していることが特徴的となっている。
て、図7(a)に示したICリードの配列(A,B,C・・
・/P,O,N・・・)のIC1aの測定評価用に作製された
既存のものがある場合に、本発明のICソケット10A
を使用すると、この既存のIC測定評価用基板30をそ
のまま用いて、図8に示したように、図7に示したIC
1aに対してICリード2の数や形状が同じであって
も、配列が(P,O,N・・・/A,B,C・・・)と反転してい
るIC1bを測定評価することが可能となる。
13Bの上面図であり、図中、実線のリードは、アダプ
ターボード13Bの上面に形成されているIC側リード
14を表し、破線はアダプターボード13Bの下面に形
成されている基板側リード15を表している。また、図
5はアダプターボード13Bの底面(下面)図である。
ド13Bも、図6に示した従来のアダプターボード1
3、あるいは上述の第1の本発明のアダプターボード1
3Aと同様に、ICソケット内に組み込まれて使用され
るものである。アダプターボード13Bの上面にはIC
側リード14が形成されており、アダプターボード13
Bの下面には基板側リード15が形成されており、これ
らIC側リード14、基板側リード15には、それぞれ
ICリードの配列に対応して配設されたS字状弾性体か
らなる第1のコンタクトピン、IC測定評価用基板の端
子の配列に対応して配設されたS字状弾性体からなる第
2のコンタクトピンが接触する。また、IC側リード1
4とそのICリード14に対応する基板側リード15と
はスルーホール16で導通しているが、これらの配列
は、上述の第1の本発明のアダプターボード13Aのよ
うに反転しておらず、図6の従来のアダプターボード1
3と同様に、IC側リード14とそのICリード14に
対応する基板側リード15とがアダプターボード13B
の同一辺側に位置している。
図4に示したように、複数のIC側リード14の一部が
接続したパターンに形成されていることを特徴としてい
る。
を使用すると、上述の、ICリード間をショートさせな
い状態でICの測定評価を行うためのIC測定評価用基
板30を用いて、ICリード間をショートさせた状態で
のICの測定評価を容易に行うことができる。
形態について詳細に説明したが、図示した態様に限ら
ず、本発明は種々の態様をとることができる。例えば、
第2の本発明のアダプターボードとしては、上述の複数
のIC側リード14の一部を接続したパターンに形成す
ることに代えて、複数の基板側リード15の一部を接続
したパターンとしてもよい。
ード15の配列とを反転させた第1の本発明のアダプタ
ーボードにおいて、その一部のIC側リード14あるい
は基板側リード15を接続したパターンに形成してもよ
い。これにより、或るICリードの配列のICを、IC
リード間をショートさせない状態で測定評価するために
作製されたIC測定評価用基板30を用いて、そのIC
に対してICリード配列が反転しているICについて、
ICリード間をショートさせた状態で測定評価すること
が容易に行えるようになる。
ソケットに使用すると、IC測定評価用基板が或るリー
ド配列のICの測定評価用に作製されたものである場合
に、そのICとICリードの数や形状が同じで、配列が
反転したICの測定評価を、IC測定評価用基板を作製
しなおすことなく、ICリードの配列が反転していない
IC用のIC測定評価用基板を用いて行うことが可能と
なり、測定評価に要する時間とコストを低減させること
が可能となる。
Cソケットに使用すると、ICリード間をショートさせ
ない状態でICの測定評価を行うためのIC測定評価用
基板を用いて、ICリード間をショートさせた状態での
ICの測定評価を容易に行うことができ、これによって
も測定評価に要する時間とコストを低減させることが可
能となる。
転しているICの測定評価や、ICリードの一部をショ
ートさせた状態でのICの測定評価を、共通のIC測定
評価用基板を用いて測定することができるので、これら
のデータの比較も容易に行えるようになる。
ソケットの説明図である。
る。
る。
る。
る。
の配列の説明図(同図(a))と、そのICに対応した
アダプターボードのIC側リード及び基板側リードの配
列の説明図である(同図(b))。
図である。
ード、 10…ICソケット、 10A…ICソケッ
ト、 11…第1のコンタクトピン、 12…第2のコ
ンタクトピン、 13…ICソケット用アダプターボー
ド、 13A…本発明のICソケット用アダプターボー
ド、 13B…本発明のICソケット用アダプターボー
ド、 14…IC側リード、 15…基板側リード、
16…スルーホール、 17…エラストマー、 18…
エラストマー、 30…IC測定評価用基板、 31…
端子、
Claims (4)
- 【請求項1】 基板の一方の面に、ICリードの配列に
対応して配設された第1のコンタクトピンが接触するI
C側リードの配列を有し、他方の面に、IC測定評価用
基板の端子の配列に対応して配設された第2のコンタク
トピンが接触する基板側リードの配列を有し、IC側リ
ードと当該IC側リードに対応する基板側リードとが導
通しているICソケット用アダプターボードであって、
IC側リードの第1のコンタクトピンとの接触部位の配
列と、該IC側リードに対応する基板側リードの第2の
コンタクトピンとの接触部位の配列とが反転しているこ
とを特徴とするアダプターボード。 - 【請求項2】 第1のコンタクトピン及び第2のコンタ
クトピンがそれぞれS字状弾性体からなる請求項1記載
のアダプターボード。 - 【請求項3】 基板の一方の面に、ICリードの配列に
対応して配設された第1のコンタクトピンが接触するI
C側リードの配列を有し、他方の面に、IC測定評価用
基板の端子の配列に対応して配設された第2のコンタク
トピンが接触する基板側リードの配列を有し、IC側リ
ードと当該IC側リードに対応する基板側リードとが導
通しているICソケット用アダプターボードであって、
複数のIC側リードの一部又は複数の基板側リードの一
部が互いに接続したパターンに形成されていることを特
徴とするアダプターボード。 - 【請求項4】 第1のコンタクトピン及び第2のコンタ
クトピンがそれぞれS字状弾性体からなる請求項3記載
のアダプターボード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9260696A JPH11102764A (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | アダプターボード |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9260696A JPH11102764A (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | アダプターボード |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11102764A true JPH11102764A (ja) | 1999-04-13 |
Family
ID=17351514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9260696A Abandoned JPH11102764A (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | アダプターボード |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11102764A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7632106B2 (en) | 2007-08-09 | 2009-12-15 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | IC socket to be mounted on a circuit board |
US7914295B2 (en) | 2008-11-12 | 2011-03-29 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | Electrical connecting device |
-
1997
- 1997-09-25 JP JP9260696A patent/JPH11102764A/ja not_active Abandoned
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7632106B2 (en) | 2007-08-09 | 2009-12-15 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | IC socket to be mounted on a circuit board |
US7914295B2 (en) | 2008-11-12 | 2011-03-29 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | Electrical connecting device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20031212 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20031212 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050510 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051129 |
|
A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20060126 |