JPH1064880A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH1064880A
JPH1064880A JP22290496A JP22290496A JPH1064880A JP H1064880 A JPH1064880 A JP H1064880A JP 22290496 A JP22290496 A JP 22290496A JP 22290496 A JP22290496 A JP 22290496A JP H1064880 A JPH1064880 A JP H1064880A
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JP
Japan
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nozzles
substrate
wafer
processing liquid
arm
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JP22290496A
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English (en)
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Tatsumi Shimomura
辰美 下村
Katsuyuki Miyake
克之 三宅
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】処理液を途切れることなくウエハの下面に到達
させ、ウエハ下面の処理を均一に行う基板処理装置を提
供する。 【解決手段】回転板21は、周方向に沿って等角度間隔に
設けられたアーム24および隣接するアーム24の間に形成
された処理液通路70を含む。回転板21の斜め下方には、
薬液A、薬液Bおよび純水Cを噴射するためのノズル11
a,11b 、11c,11d 、11e,11f が配設されている。ノズル
は、周方向に沿って等角度間隔に配設されているのでは
なく、中心軸Oから同種の処理液を噴射する2個のノズ
ルを見込む角度が90度となるように配設されている。そ
の結果、たとえばノズル11a からの薬液Aがアーム24で
遮られるときノズル11b からの薬液Aは通路70を通って
ウエハWの下面に到達し、逆に、ノズル11b からの薬液
Aがアーム24で遮られるときにはノズル11a からの薬液
Aが通路70を通ってウエハWの下面に到達する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえばLCD(L
iquid Crystal Display)製造装置、PDP(Plasma Disp
lay Panel)製造装置または半導体製造装置に適用され、
LCD用ガラス基板やPDP用ガラス基板、半導体ウエ
ハなどの基板に処理を施すための基板処理装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】LCD、PDPおよびIC(Integrated
Circuit)の製造工程には、ガラス基板や半導体ウエハな
どに電子回路を形成する工程が含まれている。電子回路
を基板に形成する工程では、基板表面を洗浄したり基板
表面に薄膜パターンを形成したりするために、これら各
表面処理を施すための基板処理装置が用いられる。この
種の基板処理装置は、たとえば特公平3−9607号公
報に開示されている。
【0003】この公告公報に開示されている装置には、
回転可能に設けられた回転軸、および回転軸の上端部に
設けられ、基板を挾持するためのスピンチャックが備え
られている。スピンチャックには、回転軸の上端部に取
り付けられた回転ヘッド、回転ヘッドから径方向に等角
度間隔で突設された6本のスピンアーム、スピンアーム
の先端部に立設され、基板を挾持するための挾持爪が含
まれる。
【0004】スピンチャックの斜め下方には、基板の下
面に向けて処理液をほぼ直線的に噴射するための6個の
ノズルが平面視においてスピンチャックを包囲する円周
に沿ってほぼ等角度間隔で配設されている。ノズルは、
同種の処理液を噴射するノズルが2個ずつ対になってい
る。挾持爪に基板が挾持されている状態で処理が開始さ
れると、スピンチャックが回転させられ、その一方で所
定の対のノズルから処理液が同時に噴射される。その結
果、ノズルから噴射された処理液はスピンアームの間を
通り抜けて基板の下面に吹き付けられる。これにより、
基板の下面に処理が施される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記公告公
報に開示されている装置では、スピンアームおよびノズ
ルがいずれも平面視において6つずつ等角度間隔で設け
られているために、対となっているノズルから噴射され
る処理液がスピンアームによって同時に遮られる場合が
ある。具体的には、スピンアームが1回転する間に処理
液が同時に遮られるタイミングは6回存在する。
【0006】その結果、処理液の種類によっては、基板
に施される処理にむらが生じ、処理が均一に進まないお
それがある。たとえば、基板にエッチング液を供給する
ことで基板に形成されている薄膜を削るエッチング処理
では、エッチング液が当たっているときには薄膜の浸食
が速やかに進行し、エッチング液がスピンアームで遮ら
れているときには薄膜の浸食速度が遅くなる。そのた
め、基板全面にわたって高精度な加工を均一に施すこと
ができないという不具合がある。
【0007】そこで、本発明の目的は、前述の技術的課
題を解決し、処理液を途切れることなく基板に供給する
ことができる基板処理装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の請求項1記載の発明は、回転可能に設けられ、上面お
よび下面を有し、この上面と下面とを貫通する貫通部が
形成された回転部材を備え、この回転部材の上面側で基
板を保持するための基板保持部と、この基板保持部の下
方に設けられ、同種の処理液を前記基板保持部に保持さ
れる基板の下面に向けて同時に供給するための複数のノ
ズルとを含み、前記貫通部と前記複数のノズルから供給
される各処理液の経路との位置関係は、前記複数のノズ
ルのうち少なくともいずれか1つのノズルから供給され
る処理液が前記基板保持部に形成された貫通部を通過し
て基板の下面に到達するように定められていることを特
徴とする基板処理装置である。
【0009】本発明によれば、複数のノズルのうち少な
くともいずれか1つのノズルから供給される処理液が前
記回転部材に形成された貫通部を通過して基板の下面に
到達するようにされている。具体的には、たとえば、複
数の貫通部が回転中心を中心にした円周に沿って形成さ
れ、かつ一対のノズルが回転中心を中心にした円周に沿
って配設されている場合、回転中心と任意の一対の貫通
部とがなす角度と、回転中心と同種の処理液を基板の下
面に供給する一対のノズルとの間をなす角度とが異なる
ように設定される。さらに具体的には、回転中心と同種
の処理液を基板の下面に供給する一対のノズルとの間を
なす角度は、平面視において、回転中心と各ノズルの処
理液の経路とがなす角度である。
【0010】このように、複数のノズルのうち少なくと
もいずれか1つのノズルから供給される処理液が基板の
下面に到達するようにされているから、基板の下面には
途切れることなく処理液が供給される。
【0011】
【発明の実施の形態】以下では、本発明の実施の形態
を、添付図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発
明の一実施形態が適用される基板処理装置の構成を簡略
化して示す断面図である。この基板処理装置は、挾持機
構1に挾持されている半導体ウエハ(以下、単に「ウエ
ハ」という。)Wをカップ2内で高速回転させつつ当該
ウエハWの下面に処理液を供給して当該ウエハWに薬液
による処理や純水による洗浄処理を施すためのものであ
る。
【0012】挾持機構1には、挾持されている状態のウ
エハWの中心を中心軸Oが通るように設けられた円筒状
の回転構造物3が連結されている。回転構造物3は、円
筒状の回転軸4および回転軸4に内設されたチャック軸
5を含む。回転軸4は、この装置の土台となる基台6に
取付部材7を介して固定された固定筒体8の上端部およ
び下端部の内壁面にそれぞれ配置された軸受9a,9b
を介して軸支されており、モータMの駆動力によって所
定の回転方向に回転される。チャック軸5は、回転軸4
の上端付近から基台6の下方まで延びた小径部5aと、
小径部5aの上方に一体的に形成されている大径部5b
とを有し、小径部5aと大径部5bとの間で形成される
段差面が回転軸4の上端面に支持されている。
【0013】なお、本実施形態では、挾持機構1、回転
構造物3およびチャック駆動機構30が基板保持部に相
当する。カップ2は、固定配置された支持板10に支持
されており、下方に向かって径が小さくなるように傾斜
した筒状の外縁部2aによって外観が形成され、上面は
開口している。カップ2の底央部分には起伏部2bが形
成されており、底上げ状になっている。起伏部2bの中
央には円形の穴が形成されており、この穴に回転構造物
3が挿通され、その上端に連結された挾持機構1がカッ
プ2内に収容されるようになっている。カップ2の底部
には、排液パイプ2cが連結された排液口2dが形成さ
れており、ノズル11から噴射され、カップ2内に飛び
散った処理液を外部に排出できるようにされている。
【0014】カップ2の外縁部2aの内壁には、ウエハ
Wの下面に処理液を供給するための6個(図1では2個
だけが表されている。)のノズル11が配設されてい
る。ノズル11は、図示しない処理液供給タンクに接続
されており、挾持機構1に挾持されているウエハWの下
面に対して斜め下方から処理液が噴射されるようになっ
ている。ノズル11は、同種の処理液を噴射する2個の
ノズル11同士で対となっている。たとえば、薬液Aを
噴射するノズル対、薬液Bを噴射するノズル対、および
純水を噴射するノズル対というように分かれており、各
ノズル対からは処理液が同時に噴射されるようになって
いる。
【0015】挾持機構1は、回転軸4の上端部に取り付
けられた回転ヘッド20を備えている。回転ヘッド20
の下面には、固定筒体8の上端面に取り付けられた保護
筒部8aを間に挟むように、内周筒部20aおよび中間
筒部20bが一体的に形成されており、内周筒部20a
は、その内周面が回転軸4の外周面に密接するように、
回転軸4に取り付けられている。回転ヘッド20の下面
にはまた、外周筒部20cがカップ2の起伏部2bに沿
うように設けられている。
【0016】回転ヘッド20の上面には、回転板21が
ボルト22で取り付けられている。回転板21は、中心
軸Oまわりに設けられたアーム取付部23、およびアー
ム取付部23に一体的に形成された6本(図1では2本
だけが表されている。)のスピンアーム24を含む。ス
ピンアーム24は、アーム取付部23から径方向に放射
状に延びている。
【0017】スピンアーム24の先端部には、ウエハW
を挾持するための挾持爪25が設けられている。6本の
挾持爪25の中には3本の固定爪25aおよび3本の可
動爪25bが含まれており、固定爪25aおよび可動爪
25bは交互に配置されている。固定爪25aは、スピ
ンアーム24の先端部にボルト(図示せず。)で固定さ
れている。可動爪25bは、スピンアーム24の先端部
に鉛直軸まわりに回動自在に取り付けられており、その
下端部には揺動腕26が一体的に形成されている。
【0018】揺動腕26の先端部には爪操作リンク27
の一端が連結されており、爪操作リンク27の他端はチ
ャック軸5の上端に取り付けられた爪操作部材28に回
動可能に連結されている。爪操作リンク27は、チャッ
ク軸5の回動に連動して揺動するようになっている。こ
の揺動に伴って可動爪25bが鉛直軸まわりに回動し、
可動爪25bがチャック状態/チャック解除状態に変位
する。
【0019】回転軸4の下端部付近には、チャック軸5
を回転軸4に対して相対的に回動させるためのチャック
駆動機構30が設けられている。チャック駆動機構30
は、回転軸4の外周面に取り付けられたフランジ30
a、フランジ30aから下方に突出したベースピン30
b、チャック軸5に垂直に突設したシリンダ用ピン30
c、ベースピン30bとシリンダ用ピン30cとの間に
介装されたコイルばね30d、およびエアシリンダ30
eを含む。チャック軸5は、コイルばね30dにより可
動爪25bがチャック状態となる方向に向けて付勢され
ている。
【0020】エアシリンダ30eは、回転軸4が後述す
る搬入/搬出位置に停止している状態でロッド30gが
シリンダ用ピン30cに対向するように、基台6の下面
に配設されている。ロッド30gを突出させるようにエ
アシリンダ30eに図外の空気供給源から加圧空気が供
給されると、エアシリンダ30eから突出したロッド3
0gは、コイルばね30dのばね力に抗してシリンダ用
ピン30cを押す。その結果、チャック軸5が回転軸4
に対して相対的に回動する。これに伴い、チャック軸5
の上端側に設けられた爪操作リンク27が揺動し、可動
爪25bをチャック状態からチャック解除状態に回動さ
せる。
【0021】エアシリンダ30eのロッド30gを引っ
込ませると、チャック軸5はコイルばね30dのばね力
によって元の位置に復帰する。その結果、爪操作リンク
27がチャック解除状態に変位するときとは逆方向に動
作し、可動爪25bは元のチャック状態に戻る。なお、
参照符号30fは停止ピンである。停止ピン30fは、
ウエハWが挾持機構1に挾持されていない状態で、かつ
エアシリンダ30eによりシリンダ用ピン30cが押さ
れていないときに、ベースピン30bに当接するように
されており、これによりチャック軸5の変位が規制され
る。
【0022】基台6には、回転軸4を回転させるための
モータMが取り付けられている。モータMは、たとえば
交流(AC)サーボモータであり、その回転は制御部3
5によって制御されるようになっている。モータMは、
プーリ36が固定された駆動軸37を上向きにして取り
付けられている。また、回転軸4には、駆動軸37のプ
ーリ36に対応する位置にプーリ38が固定されてお
り、プーリ36,38の間には無端状のベルト39が掛
け回されている。
【0023】制御部35によってモータMが駆動される
と、その駆動力は、駆動軸37に伝達され、さらにプー
リ36、ベルト39およびプーリ38を介して回転軸4
に伝達される。その結果、回転軸4の上端に固定された
回転ヘッド20が高速回転する。また、回転ヘッド20
にスピンアーム24、可動爪25b、爪操作リンク2
7、および爪操作部材28を介して連結されたチャック
軸5も高速回転する。すなわち、ウエハWを挾持するた
めの挾持機構1全体が回転軸4とともに回転する。この
とき、固定筒体8およびカップ2は回転することなく、
静止している。
【0024】回転軸4の下端側の部位に関連して、回転
軸4の回転位置を検出するための位置検出機構40が備
えられている。位置検出機構40は、回転軸4の外周面
に取り付けられ、所定の位置に切欠きを有する回転円板
40a、および回転円板40aを発光素子と受光素子と
で挟むように配置された透過型の光電センサ40bを含
む。光電センサ40bは、回転円板40aに形成された
切欠きが光電センサ40bの発光素子と受光素子との間
に位置すればオン信号を出力し、さもなければオフ信号
を出力する。オン/オフ信号は制御部35に与えられ
る。
【0025】制御部35は、光電センサ40bから与え
られるオン/オフ信号に基づいて、モータMの回転を制
御する。たとえば、搬送ロボットのアームによって運ば
れてきたウエハWを受け取るとき、制御部35は、前記
オン/オフ信号に基づいて回転軸4の回転位置を監視
し、回転軸4が所定の回転位置(以下「搬入/搬出位
置」という。)になったと判断した場合に、モータMの
回転を停止させる。これにより、回転軸4および挾持機
構1を搬入/搬出位置近傍に粗位置決めすることができ
る。なお、粗位置決めされた回転軸4および挾持機構1
は、位置決め機構50によって搬入/搬出位置に正確に
位置決めされる。
【0026】前記搬入/搬出位置は、搬送ロボットのア
ームがウエハWを挾持機構1に受け渡したり挾持機構1
から取り出すときに、挾持爪25がアームの邪魔になら
ないようにするための位置である。したがって、挾持機
構1が搬入/搬出位置に停止している場合には、ウエハ
Wの搬入/搬出をスムーズに行うことができる。基台6
は、昇降シリンダ45のロッド45aに取り付けられて
おり、昇降シリンダ45が伸長作動/収縮作動すると、
実線で示すホームポジションと二点鎖線で示すウエハ受
取位置との間をガイド46a,46bに沿って上下方向
に移動する。基台6が上昇/下降すると、基台6に取り
付けられている回転構造物3、モータM、および固定筒
体8も上昇/下降し、さらに回転構造物3の上端部に設
けられている挾持機構1も上昇/下降する。
【0027】位置決め機構50は、粗位置決めされた挾
持機構1を搬入/搬出位置に正確に位置決めするための
もので、回転軸4の外周に取り付けられたピンホルダ5
0a、ピンホルダ50aに取り付けられ、回転軸4の長
手方向に垂直な方向に延びた円柱状の位置決め用ピン5
0b、および位置決め部材50cを含む。位置決め部材
50cは、図2に示すように、固定部材60に固定され
た略直方体状のもので、その下面61のほぼ中央部に
は、逆V字状の溝62が回転軸4の長手方向P1に対し
て垂直な方向P2に沿って形成されている。位置決め部
材50cは、基台6をウエハ受取位置に上昇させたとき
に位置決め用ピン50bが溝62に係合でき、かつこの
状態で挾持機構1が搬入/搬出位置に正確に位置決めさ
れるような位置に、配設されている。
【0028】挾持機構1が粗位置決めされたとき、位置
決め用ピン50bは、図2に実線で示すように、位置決
め部材50cの溝62のほぼ真下に位置している。この
状態から基台6を上昇させると、回転軸4が上昇し、こ
れに伴ってピンホルダ50aおよび位置決め用ピン50
bも上昇する。基台6がウエハ受取位置に達するとき、
位置決め用ピン50bは、図2に二点鎖線で示すよう
に、溝62に係合した状態となる。このようにして、挾
持機構1の正確な位置決めが達成される。
【0029】この基板処理装置によるウエハWの処理に
ついて概説すれば、次のとおりである。すなわち、処理
対象のウエハWが、図示しない搬送ロボットのアームに
よって搬送されてくるのに先立ち、回転軸4が回転させ
られ、位置検出機構40の検出結果に基づいて搬入/搬
出位置近傍で停止させられる。これにより、挾持機構1
が粗位置決めされ、位置決め用ピン50bが位置決め部
材50cに形成された溝62の真下付近に移動される。
【0030】その後、エアシリンダ30eのロッド30
gを突出させ、シリンダ用ピン30cがコイルばね30
dのばね力に抗して押される。その結果、チャック軸5
が回転軸4に対して相対的に回動し、これに連動して爪
操作リンク27が動く。これにより、挾持爪25はチャ
ック解除状態となる。次いで、昇降シリンダ45が伸長
作動させられる。その結果、ホームポジションにあった
基台6が上昇し、これに伴い回転軸4および挾持機構1
なども上昇する。昇降シリンダ45の伸長作動は、挾持
機構1がウエハ受取位置まで上昇したときに停止させら
れる。ここで、搬送ロボットのアームによってウエハW
が搬送され、挾持機構1に受け渡される。
【0031】一方、挾持機構1がウエハ受取位置まで上
昇したときには、回転軸4に取り付けられている位置決
め用ピン50bも上昇し、位置決め部材50cの溝62
に係合する。すなわち、挾持機構1がウエハ受取位置ま
で上昇した結果挾持機構1が搬入/搬出位置に正確に位
置決めされる。そのため、ウエハWが受け渡されるとき
に、搬送ロボットのアームと挾持爪25とが干渉するこ
とはない。
【0032】その後、エアシリンダ30eのロッド30
gを引っ込ませ、シリンダ用ピン30cがコイルばね3
0dのばね力によって元の位置に戻る。その結果、挾持
爪25はチャック状態に戻る。これにより、ウエハWが
挾持爪25にチャックされる。その後、昇降シリンダ4
5を収縮作動させ、基台6を下降させる。その結果、挾
持爪25も下降し、ウエハWがカップ2内に収容され
る。このとき、位置決め用ピン50bの位置決め部材5
0cへの係合状態も解除され、位置決め用ピン50bは
図2の実線に示すような位置に下降する。
【0033】その後、モータMが駆動され、回転軸4が
高速回転させられる。また、処理液供給手段からノズル
11に処理液が供給され、処理液がノズル11から斜め
上方に噴射される。その結果、ウエハWの下面に処理液
が供給される。このようにして、ウエハWの下面への処
理が行われる。ウエハWに対する処理を終了するときに
は、モータMの駆動および処理液の供給が停止される。
処理終了後、回転軸4を回転させて挾持機構1を粗位置
決めし、昇降シリンダ45を伸長作動させて挾持機構1
をウエハ受取位置まで上昇させる。このとき、挾持機構
1は位置決め機構50で搬入/搬出位置に正確に位置決
めされる。
【0034】そして、エアシリンダ30eのロッド30
gを突出させ、挾持機構1をチャック解除状態にする。
また、搬送ロボットのアームがウエハWの下面側に挿入
される。この場合、挾持機構1は搬入/搬出位置に正確
に位置決めされているから、挿入時のアームと挾持爪2
5とが干渉することはない。このように本実施形態によ
れば、位置決め機構50により装置を上昇させるだけで
挾持機構1の正確な位置決めを行うことができるから、
位置決めした後装置を上昇させるという2段階の動作が
必要である場合に比べて、全体的に処理時間の短縮化を
実現できる。これにより、処理スピードの高速化を図る
ことができ、処理効率を格段に向上できる。
【0035】また、位置決め用のシリンダが不要となる
から、装置全体の構成が簡単になるとともに、装置コス
トを低減できる。図3は、カップ2内の構成を示す平面
図である。挾持機構1に含まれる6本のスピンアーム2
4は、前述のように、径方向に放射状に延びており、隣
接するスピンアーム24の間には、貫通部に相当する切
欠き状の処理液通路70が形成されている。一方、ノズ
ル11は、隣接するスピンアーム24の間に形成された
処理液通路70を通過してウエハWの下面に処理液が供
給されるように、スピンアーム24の斜め下方のカップ
2の内壁に配設されている。
【0036】ノズル11は、前述のように、同種の処理
液を噴射する2個のノズル11同士で対になっており、
薬液Aを噴射する2個のノズル11a,11b、薬液B
を噴射する2個のノズル11c,11d、および純水C
を噴射する2個のノズル11e,11fに分かれてい
る。ノズル11a,11bから噴射される薬液Aの経路
71a,71bは異なる経路となっている。同様に、ノ
ズル11c,11dから噴射される薬液Bの経路71
c,71d、およびノズル11e,11fから噴射され
る純水Cの経路71e,71fもそれぞれ異なる経路と
なっている。すなわち、対となっているノズルから噴射
される処理液は、ウエハWの下面の異なる位置に供給さ
れることになる。なお、経路71a〜71fは、平面視
において、いずれも中心軸Oに向いている。
【0037】スピンアーム24は、平面視において径方
向に等角度間隔に形成されている。すなわち、中心軸O
から隣接するスピンアーム24の先端を見込む角度(以
下「アーム間角度」という。)は、図4(a) に示すよう
に、60度となっている。一方、ノズル11は、平面視
において中心軸Oを包囲する円周に沿って等角度間隔に
配設されているのではなく、図4(b) に示すように、中
心軸Oからノズル対を構成する2個のノズルを見込む角
度(以下「ノズル間角度」という。)が60×n(nは
自然数)度とならないように、中心軸Oを包囲する円周
に沿って配設されている。
【0038】具体的には、ノズル11a,11bは、図
4(b) に示すように、中心軸Oからノズル11aに至る
半直線72aと中心軸Oからノズル11bに至る半直線
72bとがなす角度が90度となるように、配設されて
いる。他のノズル11c,11dおよびノズル11e,
11fについても同様に、それぞれ90度離されて配設
されている。
【0039】たとえば薬液Aによる処理を実行する場
合、薬液Aを噴射するノズル11a,11bから噴射さ
れる薬液Aが回転中のスピンアーム24のいずれかによ
って遮られるときがある。一方、ノズル11a,11b
はノズル間角度が60×n度ではなく90度に設定され
ており、またアーム間角度は60度に設定されているか
ら、2個のノズル11a,11bから噴射される薬液A
の経路がスピンアーム24で同時に遮られることはな
い。
【0040】具体的には、図5(a) に示すように、ノズ
ル11aから噴射される薬液Aがスピンアーム24で遮
られるときにはノズル11bから噴射される薬液Aは遮
られない。反対に、図5(b) に示すように、ノズル11
bから噴射される薬液Aがスピンアーム24で遮られる
ときにはノズル11aから噴射される薬液Aは遮られな
い。
【0041】以上のことは、薬液Bによる処理を実行す
る場合や純水Cによる処理を実行する場合も同様であ
る。すなわち、薬液Bを噴射するノズル11c,11
d、および純水Cを噴射するノズル11e,11fは、
いずれも、薬液Aを噴射するノズル11a,11bと同
じく、ノズル間角度が90度になるように配設されてい
るからである。
【0042】このように、スピンアーム24の形成パタ
ーンと異なるパターンでノズル11を配設しているか
ら、同種の処理液を噴射する2個のノズルのうちいずれ
かから噴射される処理液は常にウエハWの下面に達す
る。したがって、処理を均一に進めることができる。そ
のため、高精度な処理を実現できるから、ウエハWの高
品質化を図ることができる。
【0043】図6は、本発明の第2実施形態の基板処理
装置におけるスピンアーム24の形成パターンとノズル
11の配設パターンを説明するための図である。前記第
1実施形態では、アーム間角度を等角度とするとともに
ノズル間角度を等角度としないことでスピンアーム24
の形成パターンとノズル11の配設パターンを異なるも
のにしているのに対して、この第2実施形態では、前記
第1実施形態とは逆に、6個のノズルのノズル間角度を
等角度とするとともに6本のスピンアーム24のアーム
間角度を60度とは異なる角度とすることで、スピンア
ーム24の形成パターンとノズル11の配設パターンと
を異なるものとしている。より具体的には、アーム間角
度として、たとえばθ1 =θ3 =θ4 =θ6 =70度、
θ2 =θ5 =40度となるように、スピンアーム24を
配設する。
【0044】この構成では、ノズル11a,11bおよ
びノズル11c,11dの各ノズル間角度は120度で
あり、またノズル11e,11fのノズル間角度は60
度となっている。これに対して、スピンアーム24は、
1本のスピンアーム24を基準にした場合に、当該スピ
ンアーム24と他の任意のスピンアーム24との間の角
度が60×n度とならないように、形成されている。し
たがって、同種の処理液を噴射する2個のノズルのうち
いずれかから噴射される処理液は常にウエハWの下面に
達する。そのため、処理が均一に進むから、高精度な処
理を実現できる。
【0045】図7は、本発明の第3実施形態の基板処理
装置におけるスピンアーム24の形成パターンとノズル
11の配設パターンとを説明するための図である。前記
第1実施形態では、アーム間角度を等角度とするととも
にノズル間角度を等角度からずらすことでスピンアーム
24の形成パターンとノズル11の配設パターンを異な
るものにしているのに対して、この第3実施形態では、
スピンアーム24の本数をノズルの個数と異ならせるこ
とで各パターンを異なるものとしている。より具体的に
は、図6(b) のように等角度間隔で配設された6個のノ
ズル11に対してスピンアーム24を5本にし、そのう
えスピンアーム24を60度とは異なる角度間隔となる
ように形成している。すなわち、アーム間角度が72度
に設定されている。
【0046】この構成においても、前記第2実施形態と
同様に、ノズル11a,11b、ノズル11c,11d
およびノズル11e,11fのノズル間角度は、それぞ
れ、120度、120度および60度であるのに対し
て、スピンアーム24は、1本のスピンアーム24を基
準にした場合に、当該スピンアーム24と他の任意のス
ピンアーム24との間の角度が60×n度とならないよ
うに形成されているから、同種の処理液を噴射する2個
のノズルのうちいずれかから噴射される処理液は常にウ
エハWの下面に達する。そのため、処理が均一に進むか
ら、高精度な処理を実現できる。
【0047】本発明の実施の形態の説明は以上のとおり
であるが、本発明は前述の実施形態に限定されるもので
はない。たとえば前記実施形態では、2個のノズルから
同種の処理液を噴射する場合について説明しているが、
たとえば3個以上のノズルから同種の処理液を噴射する
ようにしてもよい。たとえば3個のノズルから同種の処
理液を噴射するようにした場合、少なくとも2個のノズ
ルのノズル間角度をアーム間角度の整数倍と異なる角度
にすれば、前記3個のノズルのうちいずれかから噴射さ
れる処理液は常にウヘハWの下面に達することになる。
そのため、処理が均一に進むから、高精度な処理を実現
できる。
【0048】また、前記実施形態では、回転板21の構
成として、アーム取付部23、およびアーム取付部23
に一体的に形成された6本のスピンアーム24を有し、
隣接するスピンアーム24の間に切欠き状の処理液通路
70が形成された構成を採用しているが、このような構
成の回転板21の代わりにたとえば図8に示すような円
盤状の回転板80を採用してもよい。回転板80には、
処理液を通過させるための円形の処理液通路81が中心
軸Oを中心にした円周に沿って等角度間隔で形成されて
いる。
【0049】この構成の回転板80では、ノズル11を
等角度間隔で配設するとともに処理液通路81を等角度
間隔で形成すれば、従来と同様に、対となっている2個
のノズル11から噴射される処理液は、隣接する処理液
通路81の間の回転板80の下面において同時に遮られ
る。したがって、この構成の回転板80を採用した場合
にも、前記各実施形態のように、対となっている2個の
ノズル11の間の角度を90度にしたり、処理液通路8
1の間の角度を60度でなく40度や70度にしたり、
処理液通路81の数を減らしたりすれば、対となってい
る2個のノズル11から噴射される処理液が回転板80
で同時に遮られることはない。
【0050】さらに、以上の本発明の実施形態では、I
Cの製造に用いられるウエハWに処理を施すための基板
処理装置に本発明を適用する場合を説明しているが、本
発明は、たとえばLCD用ガラス基板やPDP用ガラス
基板に対して処理を施すための基板処理装置に適用する
ことができるのはもちろんである。その他、特許請求の
範囲に記載された範囲内で種々の設計変更を施すことが
可能である。
【0051】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、複数のノ
ズルから同時に供給される処理液のうちいずれか1つの
ノズルから供給される処理液が必ず基板の下面に到達す
るから、基板の下面には途切れることなく処理液が供給
される。そのため、基板に施すべき処理を均一に進める
ことができるから、高精度な処理を実現することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態が適用される基板処理装
置の構成を簡略化して示す縦断面図である。
【図2】位置決め機構の構成を説明するための概略図で
ある。
【図3】カップ内の構成を示す平面図である。
【図4】スピンアームの形成パターンとノズルの配設パ
ターンとを説明するための図である。
【図5】2個のノズルから噴射される薬液Aがスピンア
ームで同時に遮られることがないことを説明するための
図である。
【図6】本発明の第2実施形態が適用される基板処理装
置におけるスピンアームの形成パターンとノズルの配設
パターンとを説明するための図である。
【図7】本発明の第3実施形態が適用される基板処理装
置におけるスピンアームの形成パターンとノズルの配設
パターンとを説明するための図である。
【図8】回転板の他の構成例を示す平面図である。
【符号の説明】
1 挾持機構 3 回転構造物 4 回転軸 5 チャック軸 11,11a〜11f ノズル 21,80 回転板 23 アーム取付部 24 スピンアーム 25 挾持爪 26 揺動腕 27 爪操作リンク 28 爪操作部材 30 チャック駆動機構 70,81 処理液通路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】回転可能に設けられ、上面および下面を有
    し、この上面と下面とを貫通する貫通部が形成された回
    転部材を備え、この回転部材の上面側で基板を保持する
    ための基板保持部と、 この基板保持部の下方に設けられ、同種の処理液を前記
    基板保持部に保持される基板の下面に向けて同時に供給
    するための複数のノズルとを含み、 前記貫通部と前記複数のノズルから供給される各処理液
    の経路との位置関係は、前記複数のノズルのうち少なく
    ともいずれか1つのノズルから供給される処理液が前記
    基板保持部に保持される基板の下面に前記貫通部を通過
    して到達するように定められていることを特徴とする基
    板処理装置。
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