JPH10505898A - イメージ取得システムによって得られた三次元測定値を相関させるための方法及びそれを実現するための装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 少なくとも第１のイメージ取得装置Ｉと第２のイメージ取得装置IIによって得られた三次源測定値を相関させる方法である。この方法は、校正段階に対して、軸（７）のまわりに回転可能に取り付けられた校正用の球（４）を作製する段階と、この校正用の球（４）を順々に回転させて、取得装置から見える測定位置へこの標準球を移動する段階と、各測定位置に対して、各イメージ取得装置から見える球状のキャップを測定する段階と、各測定位置に対して、校正用の球の中心を決定することによって、それぞれ第１及び第２のイメージ取得装置から見た第１及び第２の基準マークにおいて同じ基準フレームを表す段階と、第１の基準マークから第２の基準マークへの変換行列を計算して、第１及び第２の光学式イメージ取得装置の間て測定値を相関させる段階とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】 イメージ取得システムによって得られた三次元測定値を 相関させるための方法及びそれを実現するための装置技術分野 この発明は、光学式イメージ取得システムの補助で行われる、一般的な意味で の物体を三次元測定する技術に関し、詳しくは、この発明は縞投影技術と、物体 上の縞の変形を解析を用いた測定方法に関する。 この発明は、人体の各部を測定し、測定した人体の各部の部分的あるいは全体 的な複製を得ることを目的とする分野において特に利点がある。 好ましい適用分野におけるこの発明の目的は、人の胴体を三次元的に測定して 、整形外科のコルセットを自動製造することであるが、それに限定されるわけで はない。従来の技術 カメラなどのイメージ取得システムの補助による測定においては、多くの適用 において、カメラの視角が、イメージ取得しようとする物体の表面をカバーする のに十分でない状況がしばしば起きる。この問題を解決するために、様々な写真 を取って、これらのイメージを互いに相関させることが行われている。 イメージを相関させるための第１の技術がフランス国特許出願第88-15,483 号 で提案されている。この技術は、物体の上にマーカを固定する段階と、写真を取 るときにカメラを物体に対して移動させる段階とを有している。実際には、物体 の上にマーカを設置するのは、特にこの物体が人の一部であるような場合には実 施が困難な作業であるということがわかっている。特にこうしたタイプの用途に おいては、写真を取るときに人が動くために、測定に誤差が生じる可能性のある ことに注目すべきである。それに加えて、この方法の大原則は、マーカが常にカ メラから見えることが必要とされることであり、これによって写真を取る視野が 制限される。従って、この技術においては、特に、360°にわたる完全な形を復 元することが不可能である。 物体の上にマーカを設定するという欠点を克服するために、イメージを相関さ せるための別の技術が提案されており、この技術は、互いに対する位置が既知で あり予め決められている複数のカメラを使用することからなる。この方法では、 寸法読み取りが必要であり、これは時間が掛かり、実施が困難で面倒なことがわ かっている。それに加えて、測定の精度を維持するためには、カメラのサポート が非常に頑丈で堅固でなければならない。 従ってこの発明の目的は、物体の上のマーカが不要で、イメージ取得システム の間で寸法読み取りを必要としない利点をもたらす、少なくとも二つの光学式イ メージ取得システムによって得られた三次元測定値を相関させるための方法を提 供して、これにより従来の技術の欠点を克服することにある。発明の概要 この目的を達成するために、この発明の相関方法は、校正段階に対して以下の 段階を有している。 −球の中心を通る軸とは異なる軸のまわりに回転するように取り付けられている 標準球を作製する。 −標準球を順々に回転させることによって、二つの光学式イメージ取得システム によって同時に見ることのできる少なくとも第１及び第２の測定位置に標準球を 位置させる。 −標準球を回転させることによって、少なくとも第１の光学式イメージ取得シス テムから見え、しかも第１及び第２の測定位置とは異なる少なくとも一つの測定 位置に標準球を位置させる。 −標準球を回転させることによって、少なくとも第２の光学式イメージ取得シス テムから見え、しかも第１及び第２の測定位置とは異なる少なくとも一つの測定 位置へ標準球を位置させる。 −測定位置の各々に対して、各光学式イメージ取得システムから見た標準球のキ ャップを測定する。 −測定位置の各々に対して、各光学式イメージ取得システムから見た標準球のキ ャップの中心を決定し、第１の光学式イメージ読み取りシステムから見た第１の 座標フレームと第２の光学式イメージ読み取りシステムから見た第２の座標フレ ームにおいて同じ基準システムを表すことができるようにする。 −第１と第２の座標フレームの間の変換行列を計算することによって、第１と第 ２の光学式イメージ取得システムの測定値の間を相関させる。 このタイプの方法によれば、少なくとも二つの光学式イメージ取得システムを 校正することが可能であり、これらのシステムによって測定された様々な面を単 一の座標フレームにおいて連結することが可能になる。 この発明の別の目的は、照明方向に応じて物体の凹凸によって投影された陰の 影響を排除することによって、観測された面の復元を改良することである。 この目的を達成するために、この発明の方法は以下の段階を有している。 −少なくとも一つの光学式イメージ取得システムに対して、それぞれカメラと縞 投影機によって構成されている二つのセンサを使用する。 −二つのセンサに共通の物理的な基準を提供する面を利用することによって、二 つのセンサの間を相関させる。 他の様々な特性が、添付図面を参照して行う以下の説明から明かになろう。添 付図面はこの発明の実施の形態やその実現方法を示した例であり、発明を限定す るものではない。図面の簡単な説明 図１は、この発明の方法を実現するための装置を示す、上側からの断面図であ る。 図２は、図１のｘ−ｘ線にほぼ沿った断面正面図である。 図３Ａ〜３Ｄは、この発明による方法の特徴的な段階を示す概略図である。 図４は、図２と同様な正面図であり、この発明による方法の特徴を実現するこ とが可能な装置を示すものである。 図５Ａ〜図５Ｃはテストパターンを示す図であり、これらのテストパターンの 各々は、透過率及び／もしくはピッチに関して特定の特性を有しており、この発 明において使用される縞投影機に適合したものである。発明の実施の形態 図１に示されているように、装置１は、少なくとも第１の光学式イメージ取得 システムＩと第２の光学式イメージ読み取りシステムIIの補助で、一般的な意味 での物体、特に人の胴体の三次元測定を行うように構成されている。各光学式イ メージ取得システムは、物体を表す一組の点を提供する機能を有している。これ らの点は、光学式イメージ取得システムと連結された三次元座標フレームにおい て次元的に制御されている。簡単化し、わかりやすくするために、光学式イメー ジ取得システムは以下の説明では取得システムと呼ぶことにする。図示した例に おいては、この装置は４つの取得システムＩ〜IVを有している。これらの取得シ ステムは各対の間が90°ずれていて、周辺全体にわたって物体を測定できるよう になっている。各取得システムＩ〜IVは、取得システムＩ〜IVの光軸Ｏ1〜Ｏ4 の交点の近傍の領域Ｚの内側に設置された物体の異なる部分を測定する。取得シ ステムＩ〜IVは制御及び処理用のユニット（図示しない）へ接続されており、こ のユニットは測定を制御し、測定値を取り込んで、イメージを互いにマッチング させて物体を復元するように構成されている。 この発明の目的は、種々の取得システムＩ〜IVの間で校正を行い、取得システ ムから見た各面を一体に連結する方法を提供することである。この発明による方 法の理解を容易にするために、以下において第１及び第２の取得システムのマッ チングについて説明する。もちろん、この方法は隣接する取得システムの各対に 対して様々なステップを繰り返すことによって実現される。 取得システムを校正するために、図２に示されているように、この方法はアー ム５に支持された標準球４を利用している。アーム５はサポート６の上で回転軸 ７のまわりに回転できるように取り付けられている。回転軸７は標準球４の中心 を通る軸とは異なっている。図３Ａからより正確にわかるように、標準球４は標 準球４が取得システムＩ及びIIによって同時に見える第１の位置ａに位置される 。簡単のために、標準球４は第１の取得システムＩの光軸Ｏ1 のほぼ中心にくる ような位置ａに位置される。次に各取得システムＩ及びIIにより標準球４の見え ている部分である球状のキャップを測定する。次にこの方法では、便宜的な計算 方法を用いて、それぞれ取得システムＩ及びIIから見える標準球の中心Ｓ^I ₁、Ｓ^II ₀ を決定する。 この発明の方法は、回転軸７のまわりに回転することによって、標準球が二つ の取得システムＩ及びIIによって同時に見ることができる第２の測定位置ｂに標 準球４を位置させる段階を有する（図３Ｂ参照）。簡単のために、位置ｂにおい て、標準球４を取得システムＩの光軸Ｏ2 上のほぼ中心に位置させる。位置ｂに おいて、取得システムＩ及びIIにより標準球４の見える部分である球状のキャッ プを測定する。この方法は、次にそれぞれ取得システムＩ及びIIから見える標準 球の中心Ｓ^I ₂、Ｓ^II ₁を決定する。 この発明による方法は、回転軸７のまわりに回転して標準球４を回転すること によって、標準球４を少なくとも第１の取得システムＩから見え、かつ位置ａ、 ｂとは異なる第３の位置ｃに設置する段階を有する。図３Ｃに示されている例に おいては、位置ｃは第１の取得システムＩの光軸Ｏ1 に関して位置ｂと対称であ る。取得システムＩから見える球状のキャップを測定し、取得システムＩから見 える標準球４の中心Ｓ^I ₀を計算する。 図３Ｄからわかるように、標準球４は、少なくとも第２の取得システムIIから 球が見えかつ位置ａ、ｂとは異なる位置ｄに設置される。図面に示されている例 においては、位置ｄにおける標準球４の配置は、取得システムIIの光軸Ｏ2 に関 して、位置ａとほぼ対称な位置に相当している。次に、第２の取得システムIIか ら見える標準球４の球状のキャップを測定する。この方法では次に、取得システ ムIIから見える標準球の中心Ｓ^II ₂を決定する。上述した説明から理解されるよ うに、取得システムＩ及びIIの各々は、同じ平面内の同じ円上に位置するそれぞ れ三つの点Ｓ^I ₀，Ｓ^I ₁，Ｓ^I ₂及びＳ^II ₀，Ｓ^II ₁，Ｓ^II ₂を決定できる。なぜなら 、標準球４は固定された偏心回転軸７のまわりに順々に回転されるからである。 この方法は、それ自身は周知の適当な方法によって点Ｓ^I ₀，Ｓ^I ₁，Ｓ^I ₂を通る 円の中心Ａ^Iを計算する段階を有する。点Ａ^Iは、標準球４の回転軸７と、球の中 心で決まる面との交点として決定される。 決定することができる。この座標フレームは座標フレームの中心をなす原点Ａ^I (basis)Ｂ^Iとから構成される。 同様に、点Ｓ^II ₀，Ｓ^II ₁，Ｓ^II ₂を通る円の中心Ａ^IIを計算することができ 成される基準(basis)Ｂ^IIとから構成される。 標準球の様々な位置によって具体化され、異なる二つの座標フレームＲ_I，Ｒ_{I I} で表現される基準システムを知ることによって、第１の座標フレームから第２ の座標フレームへの変換行列を数学的に計算することが、従って第１の座標フレ ームで測定された任意の点を第２の座標フレームで表すことやその逆が可能にな る。この変換行列によって、取得システムＩ、IIによって取り込まれた物体の測 定値を単一の座標フレームにおいて表すことができるようになる。 上記のように、この発明の方法は、取得システムを校正する段階が設けられて おり、一旦この校正を実行すれば、物体の上にマーカを設置する必要なく、物体 の凹凸を測定することが可能である。唯一の制約は、測定しようとする物体を取 得システムの視野によって境界が決められる領域Ｚの中に配置するということに 関するものである。また、このタイプの校正方法によれば、取得システムの相対 的な配置を正確に知ることができ、実施がいつもは困難な寸法的読み取りを行う 必要がない。 もちろん、この校正方法は任意の数の取得システムの対に拡張することができ る。また、この校正方法は取得システムが標準球を見る角度に関係なく、見えて いる面が常に空間中の一点すなわちその中心に関連する球状のキャップである標 準球を用いる限り、所定の面を基準にして、物理的な点を比較的容易に決定する ことができるという利点がある。この発明による方法は、校正に必要なすべての 点を同時に得られれば、標準の物体を決定しなくてもよいという利点がある。そ れに加えて、この方法では校正に必要な点の正確な位置を知る必要がない。 実際に、この発明による校正方法は実施が比較的容易である。取得システムＩ 、IIを相関させるためには、以下の手順が考えられる。 −標準球４を位置ｃに配置し、第１の取得システムＩを用いて測定値を取得し、 第１の取得システムＩに関する球の中心Ｓ^I ₀を決定する。 −所定の方向で、例えば反時計方向に、標準球４を１／４回転だけ回転させて位 置ａに位置させ、第１及び第２の取得システムＩ、IIを用いて測定値を取得し、 取得システムＩ、IIのそれぞれから見た中心Ｓ^I ₁、Ｓ^II ₀を決定する。 −標準球４を反時計方向に１／４回転だけ回転して位置ｂに位置させ、第１及び 第２の取得システムＩ、IIを用いて測定値を取得し、取得システムＩ、IIのそれ ぞれから見た中心Ｓ^I ₂、Ｓ^II ₁を決定する。 −標準球４を反時計方向に１／４回転だけ回転させて位置ｄに位置させ、第２の 取得システムIIを用いて測定値を取得し、第２の取得システムIIから見た中心Ｓ^II ₂ を決定する。 この例においては、各々が取得システムのうちの一つからしか見えない二つの 異なる位置ｃ、ｄの選択がなされている。もちろん、少なくとも第１の取得シス テムから見える測定位置ｃに対して、また少なくとも第２の取得システムから見 える測定位置ｄに対して、二つの取得システムから同時に見える単一の測定位置 を選択することも考えられる。この仮定においては、校正段階を行うには、位置 ａと位置ｂの間の第３の位置に標準球を位置させるだけで十分である。 取得システムＩ〜IVが各々センサからなり、各センサの像が隣接するカメラの 像と関連付けられるようにすることも考えるべきでる。それに制限されるわけで はないが、一つの実施の形態においては、例えば、少なくとも一つの取得システ ム、例えば各取得システムＩ〜IVは、カメラと投影機から各々構成され２つのセ ンサＩｓ−Ｉｉ〜ＩＶｓ−ＩＶｉによって構成される。投影機は適当なテストパ ターンから生じる縞を発生するものであり、以下の説明では縞投影機と称する。 好ましい実施の形態においては、同じ取得システムの二つのセンサに対して共通 のカメラが利用される。つまり、図４からより正確にわかるように、各センサＩ ｓ〜ＩＶｓはカメラＩｃ〜ＩＶｃと、いわゆる上側縞投影機Ｉｐｓ〜ＩＶｐｓと からなっている。一方、各センサＩｉ〜ＩＶｉはカメラＩｃ〜ＩＶｃと、いわゆ る下側縞投影機Ｉｐｉ〜ＩＶｐｉとからなっている。図４から明かなように、取 得システムＩの投影機ＩｐｓとＩｐｉは、直立のコラムすなわちサポート１０₁ に固定されており、同サポート１０₁に同様に固定されたカメラＩｃに対してほ ぼ対称な面内に配置されている。各投影機Ｉｐｓ、Ｉｐｉは、それぞれ所定の距 離Ｖｐｓ、ＶｐｉだけカメラＩｃから離間されている。取得システムII〜IVは、 取得システムＩと同様に構成されており、それぞれ直立部１０₂〜１０₄に取り付 けられている。従って装置１は上部及び下部の横片によって互いに連結された４ つのコラム１０₁〜１０₄と、ベース１１とを有しており、ベース１１の上に測定 しようとする物体２が設置される。測定用の装置１は４つのコラム１０₁〜１０₄ から構成された堅固で一体化された構造からなっており、コラムは各々取得シス テムＩ〜IVをしっかりと支持しており、互いに強固に固定されている。 カメラ／投影機の対Ｉｓ〜ＩＶｓ、Ｉｉ〜ＩＶｉのそれぞれは、自律センサを 構成し、この自律センサはそれ自身の校正基準と、それ自身の数学的基準を有し 、それで測定値が表される。これらの数学的な基準はカメラ／投影機の各対に対 して平行２平面法(technique of two parallel planes)によって決定される。こ の方法はそれ自身周知のものであり、特にケー・ディー・グレンバン（Gremban K.D.）、シー・イー・ソルペ(Thorpe C.E.)及びティー・カナーデ(Kanade T.)に よる論文、線形方程式の系を利用した幾何学的カメラ校正(Geometric Camera Ca libration Using System of Linear Equation)，ロボティック及びオートメーシ ョンに関する国際会議の電気電子技術者協会会報(Pro-ceedings IEEE of Int.Co nference on Robotics and Automation)，第９４７〜９５１頁（１９８８）[sic ]に記載されている。この校正方法は、一つのカメラＩｃ〜ＩＶｃからの距離が Ｌｃであり、投影機Ｉｐｓ〜ＩＶｐｓ、Ｉｐｉ〜ＩＶｐｉからの距離がそれぞれ Ｌｐｓ、Ｌｐｉである基準面を限定するパネル１５を配置する段階を有している 。同じ取得システムに属するセンサの二つの基準をマッチングさせるために、カ メラ／投影機の二つの対によって確認できる共通の物理的な座標フレームが便宜 的に以下で定義される。 −カメラの光軸と基準面との交点として定義される原点。 −光軸に平行であり、カメラの方へ向かうベクトルＺ。 −基準面内に位置し、カメラの感光性セルからなる行と列に平行な二つの直交ベ クトルＸ、Ｙ，ここでベクトルＸ、Ｙ、Ｚは正の方向を向いたベースを形成して いる。 各取得システムＩ〜IVを形成する二つのベースの正確な座標付けを行うため、 一方は対Ｉｉ〜ＩＶｉの校正に関係し他方は対Ｉｓ〜ＩＶｓの校正と関係する基 準面は互いに一致するか、平行であるか、あるいは正確に既知の距離だけずれて いなければならない。 幾何学的なモデルを簡単化するために、カメラの対物レンズの軸を基準面に対 して直角に設定する。 この方法は、取得システムＩに対しては、パネル１５の上に形成され、例えば 投影機Ｉｐｓなど投影機の一つによって投影される縞からなっているイメージを まず取得する段階と、パネルの上に形成され、例えば投影機Ｉｐｉなどの他の投 影機によって投影される縞からなっているイメージを取得する段階とを有する。 この方法は次にパネルを基準面に対して距離Ｐｆだけ移動させる段階を有する。 この方法は次に、パネル１５の上に形成され、例えば投影機Ｉｐｓなどの投影機 の一つによって投影される縞からなっているイメージをまず取得する段階と、次 にパネル１５の上に形成され、他の投影機すなわち投影機Ｉｐｉによって投影さ れる縞からなっているイメージを取得する段階とを有する。上述した操作を取得 システムII〜IVに対して繰り返す。 カメラは視野の深さが距離Ｐｆでカメラに最も近いシャープな面が基準面にな るように焦点を合わされることに留意すべきである。同様に、投影機の対物レン ズは視野の深さが距離Ｐｆでカメラに最も近い面が基準面になるように焦点が合 わされる。カメラと基準面との間の距離Ｌｃと、基準面と移動した面との間の距 離Ｐｆが正確に測定される。さらに、基準面に投影された縞はカメラの中の感光 性セルの行と平行である。 また、距離Ｌｐｉ、Ｌｐｓ、Ｖｐｉ、Ｖｐｓは、上述した２平面法によって抽 出される[sic]。パラメータＬｐ、Ｖｐ、Ｌｃを決定し、カメラの画素のピッチ を決めるパラメータＰccd の値を知ることによって、各センサを校正することが 可能になる。実際、基準面に対する空間中の任意の点Ｍｉの高さΔＺｉは下記の 形式の関数Ｆによってモデル化できる。 ΔＺｉ＝ＦLc，Lp，Vp，Pccd（ΔΦｉ） 量ΔＺｉは測定する物体２の点Ｍｉの高さ、すなわち、点Ｍｉから基準面まで の垂直距離である。量ΔΦｉは、カメラから見た点Ｍｉと接触している縞のシフ トである。このシフトは基準面上の同様な縞の位置に対して、基準面内で規定さ れる。基準面に投影された各縞は、それが移動後の面へ達したとき、デジタル化 されたイメージの上でΔΦｉだけ位相がシフトする。各位相シフトΔΦｉには光 線ｉに関係なく一定の高さΔＺｉが対応する。なぜなら、シフト後の面は基準面 に平行だからである。多くの（ΔΦ、ΔＺｉ）の組をもとにして、パラメータＬ ｐ、Ｖｐを関数Ｆに適用して適当な計算方法で最適化することができる。 各取り込むシステムに対して２つのセンサを使用することによって、観測した 面の復元を改善し、照明方向の応じて凹凸によって投影される陰の影響を排除す ることができる。二つのセンサに対して共通のカメラを使用することによって、 二つのセンサの座標フレームの物理的な座標付けが簡単にできる。 上述した実施の形態においては、縞投影機Ｉｐｓ〜ＩＶｐｓ、Ｉｐｉ〜ＩＶｐ ｉは基準面の垂線に対して傾斜していることに注意すべきである。この結果、照 明は基準面内のある点と別の点では大きく変わる。従って、投影機が大きく傾く ことによる物体への照明の変化をバランスさせるために、図５Ａに示されている ようなテストパターン１６が作成される。このテストパターン１６の透過率は幾 何学的な状況に適った法則に従って変化する。同様に、縞投影機の傾斜によって テストパターンの見かけのピッチが変化する。この投影されるピッチの変動を補 償するために、図５Ｂに示されているようなテストパターン１７を作成する。こ のテストパターン１７のピッチは幾何学的な状況に適った法則に従う。こうした 構成によれば、横方向(transverse field)におけるセンサの分解能をバランスさ せることが可能である。好ましい実施の形態においては、各縞投影機には、テス トパターン１６、１７の特性を組み合わせた、すなわち可変ピッチと可変光学的 透過率を有する単一のテストパターン１８（図４及び図５Ｃ）を備えている。産業上の利用可能性 この発明の主題は、一般的な意味での物体を光学測定し、物体を複製するよう な分野に利用される。この発明の特に有利な用途は人体の各部の測定に関する用 途である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．少なくとも第１の光学式イメージ取得システム（Ｉ）と第２の光学式イメー ジ取得システム（II）とによって取り込まれた三次元測定値を相関させるための 方法であって、校正段階に対して、 −標準球（４）の中心を通る軸とは異なる回転軸（７）のまわりに回転するよう に取り付けられる標準球（４）を作製する段階と、 −標準球（４）を順々に回転させることによって、二つの光学式イメージ取得シ ステムによって同時に見ることのできる少なくとも第１の測定位置（ａ）と第２ の測定位置（ｂ）に標準球（４）を位置させる段階と、 −標準球を回転させることによって、少なくとも第１の光学式イメージ取得シス テム（Ｉ）から見え、かつ第１及び第２の測定位置とは異なる少なくとも一つの 測定位置（ｃ）に標準球を位置させる段階と、 −標準球を回転させることによって、少なくとも第２の光学式イメージ取得シス テム（II）から見え、かつ第１及び第２の測定位置とは異なる少なくとも一つの 測定位置（ｄ）に標準球を位置させる段階と、 −測定位置の各々に対して、各光学式イメージ取得システムから見た標準球のキ ャップを測定する段階と、 −測定位置の各々に対して、各光学式イメージ取得システムから見た標準球の中 心を決定することによって、第１の光学式イメージ読み取りシステムから見た第 １の座標フレームと第２の光学式イメージ読み取りシステムから見た第２の座標 フレームとにおいて同じ基準システムを表すことを可能にする段階と、 −第１と第２の座標フレームの間の変換行列を計算することによって、第１と第 ２の光学式イメージ取得システムの測定値の間を相関させる段階と、 を有する方法。 ２．少なくとも前記第１の光学式イメージ取得システムによって見える測定位置 （ｃ）と、少なくとも前記第２の光学式イメージ取得システムによって見える測 定位置（ｄ）とに対して、これら２つの光学式イメージ取得システムによって同 時に見える単一の測定位置を選択する請求項１記載の方法。 ３．少なくとも前記第１の光学式イメージ取得システムによって見える測定位置 （ｃ）と、少なくとも前記第２の光学式イメージ取得システムによって見える測 定位置（ｄ）とに対して、これらの光学式イメージ取得システムの一方によって 各々が見える２つの異なる測定位置を選択する請求項１記載の方法。 ４．光学式イメージ取得システムの一方によって各々が見える二つの異なる測定 位置に対して、当該システムの光軸に関して標準球がとる位置とほぼ対称でかつ ２つの光学式イメージ取得システムから見える位置に標準球（４）を位置させる 請求項３記載の方法。 ５．前記２つの光学式イメージ取得システムによって同時に見える第１の測定位 置（ａ）と第２の測定位置（ｂ）に対して、標準球を、ほぼそれぞれ第１の光学 式イメージ取得システム（Ｉ）と第２の光学式イメージ取得システム（II）の光 軸上に位置させる請求項１記載の方法。 ６．少なくとも一つの光学式イメージ取得システム（Ｉ〜IV）に対して、それぞ れカメラ（Ｉｃ〜ＩＶｃ）と縞投影機（Ｉｐｓ−Ｉｐｉ〜Ｉｐｓ−ＩＶｐｉ）に よって構成される二つのセンサ（Ｉｓ−Ｉｉ〜ＩＶｓ−ＩＶｉ）を利用し、２つ のセンサに共通の物理的な基準を限定する面を利用することによって、二つのセ ンサ間を相関させる請求項１記載の方法。 ７．前記二つのセンサに対して共通のカメラ（Ｉｃ〜Ｉｖｃ）を選択する請求項 ６記載の方法。 ８．前記２つのセンサに共通な物理的基準を限定する面を利用して２つのセンサ の間を相関させるために、 −カメラからの距離が（Ｌｃ）で投影機からの距離が（Ｌｐｉ、Ｌｐｓ）のとこ ろに基準面を形成するパネル（１５）を設置し、 −パネルにつくられ、投影機の一方によって投影された縞からなる、イメージを 得、 −パネルにつくられ、投影機の他方によって投影された縞からなる、イメージを 得、 −パネルを基準面に対して距離（Ｐｆ）だけ移動させ、 −パネルにつくられ、投影機の一方によって投影された縞からなる、イメージを 得、 −パネルにつくられ、投影機の他方によって投影された縞からなる、イメージを 得、 −カメラからと、投影機からの基準面の距離を決定して、二つのセンサの間を相 関させる、 請求項６記載の方法。 ９．各投影機（Ｉｐｓ−ＩＶｐｓ〜Ｉｐｉ−ＩＶｐｉ）は、透過率が幾何学的な 状況に適った法則に従って変化するテストパターン（１６）を備えており、縞が 投影されている表面に対する、投影機の傾きによる照明の変動をバランスさせる ようになっている請求項６記載の方法。 １０．各投影機（Ｉｐｓ〜ＩＶｐｓ〜Ｉｐｉ〜ＩＶｐｉ）は、ピッチが幾何学的 な状況に適った法則に従うテストパターン（１７）を備えており、投影されたピ ッチの変動を補正するようになっている請求項６記載の方法。 １１．各投影機（Ｉｐｓ〜ＩＶｐｓ〜Ｉｐｉ〜ＩＶｐｉ）がテストパターン（１ ８）を備えており、このテストパターンが可変ピッチと可変光学透過率を有して いる請求項６記載の方法。 １２．制御及び処理用のユニットによって互いに接続されている少なくとも第１ の光学式イメージ取得システム（Ｉ）と第２の光学式イメージ取得システム（II ）によって取得された三次元測定値を相関させるための装置であって、 請求項１に記載されている校正段階を実行するために、アーム（５）に取り付 けられた標準球（４）が設けられており、この標準球（４）が球の中心を通る軸 とは異なる回転軸（７）のまわりに自由回転可能に取り付けられている装置。 １３．光学式イメージ取得システムとしてカメラ（Ｉｃ〜ＩＶｃ）を有しており 、このカメラの両側において、コラムを形成するサポート（１０₁〜１０₄）にほ ぼ対称に２つの縞投影機（Ｉｐｓ−Ｉｐｉ〜ＩＶｐｓ〜ＩＶｐｉ）が取り付けら れている請求項１２記載の装置。 １４．前記光学式イメージ取得システムのサポート（１０₁〜１０₄）が一体に固 定されていて、堅固な測定構造を形成している請求項１３記載の装置。