JPH1049217A - 3次元測定機 - Google Patents
3次元測定機Info
- Publication number
- JPH1049217A JPH1049217A JP19883496A JP19883496A JPH1049217A JP H1049217 A JPH1049217 A JP H1049217A JP 19883496 A JP19883496 A JP 19883496A JP 19883496 A JP19883496 A JP 19883496A JP H1049217 A JPH1049217 A JP H1049217A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- measurement
- program
- restart
- interference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Numerical Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 自動測定を無人で行っている場合にセンサと
被測定物とが干渉しても被測定物の測定を継続すること
ができる3次元測定機を提供する。 【解決手段】 3次元測定機のセンサと被測定物との干
渉を検出する干渉検出センサ10と、センサを退避させ
るリトラクト動作指令器12と、センサの動作確認を行
うセンサ動作確認実行器13と、測定プログラムの中か
ら測定を再開する箇所を検索するプログラム再開部検索
器14と、被測定物の測定再開箇所にセンサをアプロー
チさせるアプローチ動作指令器15と、測定プログラム
を測定再開箇所から再開させるプログラム再開指令器1
6とを3次元測定機に備える。
被測定物とが干渉しても被測定物の測定を継続すること
ができる3次元測定機を提供する。 【解決手段】 3次元測定機のセンサと被測定物との干
渉を検出する干渉検出センサ10と、センサを退避させ
るリトラクト動作指令器12と、センサの動作確認を行
うセンサ動作確認実行器13と、測定プログラムの中か
ら測定を再開する箇所を検索するプログラム再開部検索
器14と、被測定物の測定再開箇所にセンサをアプロー
チさせるアプローチ動作指令器15と、測定プログラム
を測定再開箇所から再開させるプログラム再開指令器1
6とを3次元測定機に備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は3次元測定機に関す
る。
る。
【0002】
【従来の技術】図2には3次元測定機の構成の一例を示
し、図3には3次元測定機の従来方式の制御ブロック図
を示す。
し、図3には3次元測定機の従来方式の制御ブロック図
を示す。
【0003】図2に示すように、3次元測定機は、X
軸、Y軸及びZ軸の各軸方向に移動するX軸移動部位
1、Y軸移動部位2及びZ軸移動部位3と、Z軸移動部
位3の先端部に設けられX軸移動部位1、Y軸移動部位
2及びZ軸移動部位3の移動によりテーブル5上の被測
定物6に対して移動され被測定物6の計測動作を行うセ
ンサ4とを有してなる。
軸、Y軸及びZ軸の各軸方向に移動するX軸移動部位
1、Y軸移動部位2及びZ軸移動部位3と、Z軸移動部
位3の先端部に設けられX軸移動部位1、Y軸移動部位
2及びZ軸移動部位3の移動によりテーブル5上の被測
定物6に対して移動され被測定物6の計測動作を行うセ
ンサ4とを有してなる。
【0004】3次元測定機による測定には、大きく分類
して手動測定と自動測定の2種類がある。手動測定は、
作業者が3次元測定機を手動で動かし測定箇所を逐一確
認しながら被測定物6の測定を行うものである。一方、
自動測定は、被測定物6を測定する一連の動作を測定プ
ログラムとして作成し、この測定プログラムを3次元測
定機内に記憶させておき、測定時に前記測定プログラム
を実行することにより自動的に被測定物6の測定を実行
させるものである。この自動測定では作業者が3次元測
定機を操作する必要がなく、省人化、無人化が図れる。
して手動測定と自動測定の2種類がある。手動測定は、
作業者が3次元測定機を手動で動かし測定箇所を逐一確
認しながら被測定物6の測定を行うものである。一方、
自動測定は、被測定物6を測定する一連の動作を測定プ
ログラムとして作成し、この測定プログラムを3次元測
定機内に記憶させておき、測定時に前記測定プログラム
を実行することにより自動的に被測定物6の測定を実行
させるものである。この自動測定では作業者が3次元測
定機を操作する必要がなく、省人化、無人化が図れる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】3次元測定を行う場
合、昼間の有人時間帯には手動測定を行い、夜間の無人
時間帯には自動測定を行うことにより効率よく3次元測
定機を運用し、且つ測定時間を短縮することができる。
しかし、一般に被測定物6の形状は同一ではなく、測定
プログラムに従って測定動作を実行した場合、3次元測
定機の一部、特にセンサ部が被測定物と干渉することが
ある。これに対して従来、センサ部に干渉検出手段(テ
ープスイッチやひげセンサ等)を設けて干渉による破損
を最小限にくいとめる手段は提供されていたが、この場
合干渉が検知された後は3次元測定機を停止させたまま
となり測定は中断される。即ち、図3に示すように、干
渉検出センサ10によってセンサ4と被測定物6との干
渉を検出すると、中止指令器11の中止指令によって3
次元測定機を停止させ、そのまま測定は中断される。従
って夜間に無人で行うべき測定作業が翌日に持ち越され
作業日程に大きな影響を与える。
合、昼間の有人時間帯には手動測定を行い、夜間の無人
時間帯には自動測定を行うことにより効率よく3次元測
定機を運用し、且つ測定時間を短縮することができる。
しかし、一般に被測定物6の形状は同一ではなく、測定
プログラムに従って測定動作を実行した場合、3次元測
定機の一部、特にセンサ部が被測定物と干渉することが
ある。これに対して従来、センサ部に干渉検出手段(テ
ープスイッチやひげセンサ等)を設けて干渉による破損
を最小限にくいとめる手段は提供されていたが、この場
合干渉が検知された後は3次元測定機を停止させたまま
となり測定は中断される。即ち、図3に示すように、干
渉検出センサ10によってセンサ4と被測定物6との干
渉を検出すると、中止指令器11の中止指令によって3
次元測定機を停止させ、そのまま測定は中断される。従
って夜間に無人で行うべき測定作業が翌日に持ち越され
作業日程に大きな影響を与える。
【0006】従って本発明は上記従来技術に鑑み、自動
測定を無人で行っている場合にセンサと被測定物とが干
渉しても被測定物の測定を継続することができる3次元
測定機を提供することを課題とする。
測定を無人で行っている場合にセンサと被測定物とが干
渉しても被測定物の測定を継続することができる3次元
測定機を提供することを課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の3次元測定機は、センサとこのセンサの移動手段と
を有し、自動測定手順を記述した測定プログラムを実行
することにより前記センサによる被測定物の測定を自動
的に行う3次元測定機において、前記センサと前記被測
定物との干渉を検出する手段と、この手段によって前記
センサの干渉を検出した後、前記センサを退避させる手
段と、前記センサの動作確認を行い、前記センサによる
前記被測定物の測定継続可否を判断する手段と、前記測
定プログラムの中から前記センサによる前記被測定物の
測定を再開する箇所を検索する手段と、この手段による
検索結果に基づいて前記センサを前記被測定物の測定再
開箇所までアプローチさせる手段と、この手段によって
前記センサを前記測定再開箇所までアプローチさせた
後、前記測定プログラムを再開させる手段とを有するこ
とを特徴とする。
明の3次元測定機は、センサとこのセンサの移動手段と
を有し、自動測定手順を記述した測定プログラムを実行
することにより前記センサによる被測定物の測定を自動
的に行う3次元測定機において、前記センサと前記被測
定物との干渉を検出する手段と、この手段によって前記
センサの干渉を検出した後、前記センサを退避させる手
段と、前記センサの動作確認を行い、前記センサによる
前記被測定物の測定継続可否を判断する手段と、前記測
定プログラムの中から前記センサによる前記被測定物の
測定を再開する箇所を検索する手段と、この手段による
検索結果に基づいて前記センサを前記被測定物の測定再
開箇所までアプローチさせる手段と、この手段によって
前記センサを前記測定再開箇所までアプローチさせた
後、前記測定プログラムを再開させる手段とを有するこ
とを特徴とする。
【0008】従って、上記構成の3次元測定機によれ
ば、センサと被測定物とが干渉すると、このセンサの干
渉が干渉を検出する手段によって検出され、センサを退
避させる手段では、センサの干渉検出を受けてセンサを
退避させる指令を作成しセンサを退避させる。センサに
よる被測定物の測定継続可否を判断する手段では、セン
サが正常に動作するか否かを確認する。例えばセンサ校
正用治具等でセンサが今後の測定に使用できるか否かを
確認する。センサが使用できる場合、プログラム中の測
定再開箇所を検索する手段によって、測定再開箇所を決
定する。その後、測定再開箇所へアプローチさせる手段
によって、センサを被測定物の測定再開箇所へと移動
(アプローチ)させる。これに続いてプログラムを再開
させる手段により、プログラムの再開を指示して測定再
開箇所から測定が再開される。
ば、センサと被測定物とが干渉すると、このセンサの干
渉が干渉を検出する手段によって検出され、センサを退
避させる手段では、センサの干渉検出を受けてセンサを
退避させる指令を作成しセンサを退避させる。センサに
よる被測定物の測定継続可否を判断する手段では、セン
サが正常に動作するか否かを確認する。例えばセンサ校
正用治具等でセンサが今後の測定に使用できるか否かを
確認する。センサが使用できる場合、プログラム中の測
定再開箇所を検索する手段によって、測定再開箇所を決
定する。その後、測定再開箇所へアプローチさせる手段
によって、センサを被測定物の測定再開箇所へと移動
(アプローチ)させる。これに続いてプログラムを再開
させる手段により、プログラムの再開を指示して測定再
開箇所から測定が再開される。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき詳細に説明する。なお、従来と同様の部分には
同一の符号を付し重複する詳細な説明は省略する。
に基づき詳細に説明する。なお、従来と同様の部分には
同一の符号を付し重複する詳細な説明は省略する。
【0010】図1は本発明の実施の形態に係る3次元測
定機の制御ブロック図である。本実施の形態に係る3次
元測定機は、図2に例示する構成等の3次元測定機の制
御装置に図1に示す構成を備えたものである。
定機の制御ブロック図である。本実施の形態に係る3次
元測定機は、図2に例示する構成等の3次元測定機の制
御装置に図1に示す構成を備えたものである。
【0011】即ち、図1に示すように、本実施に形態に
係る3次元測定機の制御装置には、干渉検出センサ1
0、リトラクト動作指令器12、センサ動作確認実行器
13、中止指令器11、プログラム再開部検索器14、
アプローチ動作指令器15、及びプログラム再開指令器
16を有している。
係る3次元測定機の制御装置には、干渉検出センサ1
0、リトラクト動作指令器12、センサ動作確認実行器
13、中止指令器11、プログラム再開部検索器14、
アプローチ動作指令器15、及びプログラム再開指令器
16を有している。
【0012】干渉検出センサ10は、センサ(図2のセ
ンサ4参照)と被測定物(図2の被測定物6参照)との
干渉を検出する。この干渉検出センサ10による干渉の
検出はリトラクト動作指令器12に伝えられる。
ンサ4参照)と被測定物(図2の被測定物6参照)との
干渉を検出する。この干渉検出センサ10による干渉の
検出はリトラクト動作指令器12に伝えられる。
【0013】リトラクト動作指令器12は、センサの干
渉検出を受けてセンサを退避させる指令を作成し、セン
サを安全な箇所へ退避させる。具体的には、被測定物の
周囲に直方体の領域を予め設定しておき(この直方体の
外側ではセンサがどのように移動しても干渉が発生しな
いように設定しておく)、現状のセンサの向きを保った
ままセンサを直方体領域の外側へ移動させる。
渉検出を受けてセンサを退避させる指令を作成し、セン
サを安全な箇所へ退避させる。具体的には、被測定物の
周囲に直方体の領域を予め設定しておき(この直方体の
外側ではセンサがどのように移動しても干渉が発生しな
いように設定しておく)、現状のセンサの向きを保った
ままセンサを直方体領域の外側へ移動させる。
【0014】センサ動作確認実行器13は、退避したセ
ンサが干渉により破損して正常に動作しなくなっていな
いかどうかの確認を行う。具体的には、機械の特定箇所
にセンサ校正用の治具(球形のマスターボールや直方体
の測定モデル等)を取り付けておき、それらの治具を測
定して予め定めておいた許容誤差範囲内の測定結果が得
らればセンサは正常に動作し測定を継続可能であると判
断する。なおここでセンサの破損が確認された場合(測
定の継続が不可能と判断された場合)には、やむなく中
止指令器11によって測定を中止させるか、或いは自動
センサ交換機能を有する場合にはセンサを自動交換して
測定を継続させることとする。
ンサが干渉により破損して正常に動作しなくなっていな
いかどうかの確認を行う。具体的には、機械の特定箇所
にセンサ校正用の治具(球形のマスターボールや直方体
の測定モデル等)を取り付けておき、それらの治具を測
定して予め定めておいた許容誤差範囲内の測定結果が得
らればセンサは正常に動作し測定を継続可能であると判
断する。なおここでセンサの破損が確認された場合(測
定の継続が不可能と判断された場合)には、やむなく中
止指令器11によって測定を中止させるか、或いは自動
センサ交換機能を有する場合にはセンサを自動交換して
測定を継続させることとする。
【0015】プログラム再開部検索器14は、測定プロ
グラム中の測定を再開させる箇所を検索する。通常干渉
を生じた測定点の次の測定点もしくは次の測定面を検索
する。
グラム中の測定を再開させる箇所を検索する。通常干渉
を生じた測定点の次の測定点もしくは次の測定面を検索
する。
【0016】アプローチ動作指令器15は、センサ動作
確認実行器13によってセンサの動作確認を行った場所
から、プログラム再開部検索器14によって検索された
被測定物の測定再開箇所までのアプローチ軌跡を自動生
成し、このアプローチ軌跡に沿ってセンサを測定再開箇
所まで移動させる。通常上記の直方体領域の外側を移動
させ測定再開時のセンサ姿勢を整えて、測定再開箇所の
方線方向にアプローチする。
確認実行器13によってセンサの動作確認を行った場所
から、プログラム再開部検索器14によって検索された
被測定物の測定再開箇所までのアプローチ軌跡を自動生
成し、このアプローチ軌跡に沿ってセンサを測定再開箇
所まで移動させる。通常上記の直方体領域の外側を移動
させ測定再開時のセンサ姿勢を整えて、測定再開箇所の
方線方向にアプローチする。
【0017】プログラム再開指令器16は、センサの測
定再開箇所へのアプローチの完了を確認し、プログラム
再開部検索器14で検索された測定プログラムの再開箇
所からの実行を指令する。
定再開箇所へのアプローチの完了を確認し、プログラム
再開部検索器14で検索された測定プログラムの再開箇
所からの実行を指令する。
【0018】従って、上記構成の3次元測定機によれ
ば、センサと被測定物とが干渉すると、このセンサの干
渉が干渉検出センサ10によって検出され、リトラクト
動作指令器12では、センサの干渉検出を受けてセンサ
を退避させる指令を作成しセンサを安全な箇所へ退避さ
せる。センサ動作確認実行器13では、センサが正常に
動作するか否かを確認する。センサが使用できる場合、
プログラム再開部検索器14手段によって測定再開箇所
を決定する。その後、アプローチ動作指令器15によっ
て、センサを被測定物の測定再開箇所へと移動(アプロ
ーチ)させる。これに続いて、プログラム再開指令器1
6によりプログラムの再開を指示して測定再開箇所から
測定が再開される。このため、本3次元測定機によって
測定プログラムに従い被測定物の自動測定を無人で行っ
ている場合にセンサと被測定物との干渉が発生しても、
センサの動作確認後に被測定物の測定を継続することが
できるため無人測定の効率を上げることができる。
ば、センサと被測定物とが干渉すると、このセンサの干
渉が干渉検出センサ10によって検出され、リトラクト
動作指令器12では、センサの干渉検出を受けてセンサ
を退避させる指令を作成しセンサを安全な箇所へ退避さ
せる。センサ動作確認実行器13では、センサが正常に
動作するか否かを確認する。センサが使用できる場合、
プログラム再開部検索器14手段によって測定再開箇所
を決定する。その後、アプローチ動作指令器15によっ
て、センサを被測定物の測定再開箇所へと移動(アプロ
ーチ)させる。これに続いて、プログラム再開指令器1
6によりプログラムの再開を指示して測定再開箇所から
測定が再開される。このため、本3次元測定機によって
測定プログラムに従い被測定物の自動測定を無人で行っ
ている場合にセンサと被測定物との干渉が発生しても、
センサの動作確認後に被測定物の測定を継続することが
できるため無人測定の効率を上げることができる。
【0019】なお、上記の各動作は通常3次元測定機を
制御する数値制御装置内のソフトウェアとして実現され
る。
制御する数値制御装置内のソフトウェアとして実現され
る。
【0020】
【発明の効果】以上発明の実施の形態と共に具体的に説
明したように、本発明の3次元測定機によれば、この3
次元測定機によって測定プログラムに従い被測定物の自
動測定を無人で行っている場合にセンサと被測定物との
干渉が発生しても、センサの動作確認後に被測定物の測
定を継続することができる。このため無人測定の効率を
上げることができる。
明したように、本発明の3次元測定機によれば、この3
次元測定機によって測定プログラムに従い被測定物の自
動測定を無人で行っている場合にセンサと被測定物との
干渉が発生しても、センサの動作確認後に被測定物の測
定を継続することができる。このため無人測定の効率を
上げることができる。
【図1】本発明の実施の形態に係る3次元測定機の制御
ブロック図である。
ブロック図である。
【図2】3次元測定機の構成の一例を示す斜視図であ
る。
る。
【図3】3次元測定機の従来方式の制御ブロック図であ
る。
る。
4 センサ 6 被測定物 10 干渉検出センサ 12 リトラクト動作指令器 13 センサ動作確認実行器 14 プログラム再開部検索器 15 アプローチ動作指令器 16 プログラム再開指令器
Claims (1)
- 【請求項1】 センサとこのセンサの移動手段とを有
し、自動測定手順を記述した測定プログラムを実行する
ことにより前記センサによる被測定物の測定を自動的に
行う3次元測定機において、 前記センサと前記被測定物との干渉を検出する手段と、 この手段によって前記センサの干渉を検出した後、前記
センサを退避させる手段と、 前記センサの動作確認を行い、前記センサによる前記被
測定物の測定継続可否を判断する手段と、 前記測定プログラムの中から前記センサによる前記被測
定物の測定を再開する箇所を検索する手段と、 この手段による検索結果に基づいて前記センサを前記被
測定物の測定再開箇所までアプローチさせる手段と、 この手段によって前記センサを前記測定再開箇所までア
プローチさせた後、前記測定プログラムを再開させる手
段とを有することを特徴とする3次元測定機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19883496A JPH1049217A (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 3次元測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19883496A JPH1049217A (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 3次元測定機 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1049217A true JPH1049217A (ja) | 1998-02-20 |
Family
ID=16397698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19883496A Withdrawn JPH1049217A (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 3次元測定機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1049217A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007240225A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Keyence Corp | 変位検出装置 |
-
1996
- 1996-07-29 JP JP19883496A patent/JPH1049217A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007240225A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Keyence Corp | 変位検出装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10286556B2 (en) | Method and apparatus for compliant robotic end-effector | |
US10500723B2 (en) | Machining system and machine controller in which a moving robot loads and unloads an article with respect to machining device | |
US5390128A (en) | Robotic processing and inspection system | |
TW201617166A (zh) | 機床的刀具校正值的自動設定裝置以及自動設定方法 | |
JP6456051B2 (ja) | ロボットシステムの制御方法、ロボットシステム、ロボットシステムの制御プログラム、及び記録媒体 | |
US9400497B2 (en) | Numerical control device | |
JP2015052872A (ja) | 工作機械の工具オフセット値の自動設定装置及び自動設定方法 | |
KR20190055777A (ko) | 로봇 제어 방법 및 장치 | |
JP7337664B2 (ja) | 工作機械における位置計測センサの補正値計測方法及び補正値計測システム | |
JP6126353B2 (ja) | 工具長測定方法および工作機械 | |
US7355727B2 (en) | Method and system for checking the position of a mechanical part with a light beam | |
JPH09253979A (ja) | 刃先位置計測装置 | |
CN112775720B (zh) | 机床的对象物的位置测量方法及位置测量***、计算机可读记录介质 | |
WO2018033704A1 (en) | Inspection apparatus and a method of operating an inspection apparatus | |
JPS6365469B2 (ja) | ||
JPH1049217A (ja) | 3次元測定機 | |
JPH08178646A (ja) | 倣い測定制御方法 | |
US4736325A (en) | Method and apparatus for searching for a fiducial point of machining relating to C-axis | |
JPH0725006B2 (ja) | 数値制御工作機械における工具退避方法及びその装置 | |
JP3648054B2 (ja) | 主軸又はアタッチメント補正値の自動決定方法 | |
JP2020069581A (ja) | 搬送装置と工作機械 | |
JPH09267282A (ja) | 多関節ロボットの作業対象物位置検出装置 | |
JP7501943B1 (ja) | といし測定手段及びそれを用いたドレス実施システムと研削盤 | |
JP7443595B1 (ja) | 工作機械におけるワークの測定方法、及び工作機械 | |
WO2021230203A1 (ja) | 工具測定システム及び制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20031007 |