JPH1040770A - アナログマルチプレクサ回路 - Google Patents
アナログマルチプレクサ回路Info
- Publication number
- JPH1040770A JPH1040770A JP19177096A JP19177096A JPH1040770A JP H1040770 A JPH1040770 A JP H1040770A JP 19177096 A JP19177096 A JP 19177096A JP 19177096 A JP19177096 A JP 19177096A JP H1040770 A JPH1040770 A JP H1040770A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- charge capacitor
- relays
- circuit
- buffer amplifier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Relay Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】フライングキャパシタ式マルチプレクサ回路
で、入力チャンネルが多数となってもチャージコンデン
サを１個のみとすることにより、部品点数の削減を図
る。 【解決手段】入力チャンネル１，２，…ｎとチャージコ
ンデンサ３との接続の開閉を行うリレー１１，１２，２
１，２２，…ｎ１，ｎ２と、チャージコンデンサ３と入
力バッファアンプ４との接続の開閉を行うリレー１，２
よりなる。入力チャンネル１の測定を行う場合はリレー
１１，１２を閉塞してチャージコンデンサ３に入力信号
を記憶し、チャージコンデンサ３に入力信号が充電され
るだけの十分な時間経過後、リレー１１，１２を開放
し、次に、リレー１，２を閉塞してチャージコンデンサ
３に記憶したアナログ信号を入力バッファアンプ４に伝
える。
で、入力チャンネルが多数となってもチャージコンデン
サを１個のみとすることにより、部品点数の削減を図
る。 【解決手段】入力チャンネル１，２，…ｎとチャージコ
ンデンサ３との接続の開閉を行うリレー１１，１２，２
１，２２，…ｎ１，ｎ２と、チャージコンデンサ３と入
力バッファアンプ４との接続の開閉を行うリレー１，２
よりなる。入力チャンネル１の測定を行う場合はリレー
１１，１２を閉塞してチャージコンデンサ３に入力信号
を記憶し、チャージコンデンサ３に入力信号が充電され
るだけの十分な時間経過後、リレー１１，１２を開放
し、次に、リレー１，２を閉塞してチャージコンデンサ
３に記憶したアナログ信号を入力バッファアンプ４に伝
える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はアナログマルチプレ
クサ回路に関する。
クサ回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、図２に示すように測定対象と入
力装置間の電気的絶縁を行うアナログマルチプレクサ回
路として、有接点リレーを用いたフライングキャパシタ
式マルチプレクサ回路が知られている。この回路ではア
ナログ信号を記憶するチャージコンデンサ３１，３２，
…３ｎの両端に、測定時に開放と閉塞を行う二つの接点
を持つｃ接点リレーが接続されており、測定対象側には
測定時に開放するｂ接点が、入力装置側には測定時に閉
塞するａ接点が接続されている。ここで、チャージコン
デンサ３１，３２，…３ｎはアナログマルチプレクサ回
路を構成する入力チャンネル数１，２，…ｎと同数が設
けられ、常時測定対象とするアナログ信号で充電され、
そのアナログ信号を記憶している。この回路ではチャー
ジコンデンサは入力回路の点数分だけ設ける必要があ
る。また、図３に示すように、有接点リレーを半導体無
接点リレーに置き換えた場合についても同様である。
力装置間の電気的絶縁を行うアナログマルチプレクサ回
路として、有接点リレーを用いたフライングキャパシタ
式マルチプレクサ回路が知られている。この回路ではア
ナログ信号を記憶するチャージコンデンサ３１，３２，
…３ｎの両端に、測定時に開放と閉塞を行う二つの接点
を持つｃ接点リレーが接続されており、測定対象側には
測定時に開放するｂ接点が、入力装置側には測定時に閉
塞するａ接点が接続されている。ここで、チャージコン
デンサ３１，３２，…３ｎはアナログマルチプレクサ回
路を構成する入力チャンネル数１，２，…ｎと同数が設
けられ、常時測定対象とするアナログ信号で充電され、
そのアナログ信号を記憶している。この回路ではチャー
ジコンデンサは入力回路の点数分だけ設ける必要があ
る。また、図３に示すように、有接点リレーを半導体無
接点リレーに置き換えた場合についても同様である。
【０００３】また、特開昭62−30418 号公報のように、
有接点リレーを用いたアナログマルチプレクサ回路と、
半導体アナログスイッチを組合せ高速動作を可能とした
方式や、特開昭59−147533号公報のように、チャージコ
ンデンサの電位の変化を比較的小さなレベルにすること
で高速化を図る方式には公知例がある。
有接点リレーを用いたアナログマルチプレクサ回路と、
半導体アナログスイッチを組合せ高速動作を可能とした
方式や、特開昭59−147533号公報のように、チャージコ
ンデンサの電位の変化を比較的小さなレベルにすること
で高速化を図る方式には公知例がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、入出
力間の電気的絶縁特性やアナログマルチプレクサ回路と
しての機能を従来の方式と同等に持ち、かつ、装置の小
型化を目的とし部品点数の削減を図ることにある。従来
のいずれのアナログマルチプレクサ回路もこれらの要求
を十分に満たすことはできない。
力間の電気的絶縁特性やアナログマルチプレクサ回路と
しての機能を従来の方式と同等に持ち、かつ、装置の小
型化を目的とし部品点数の削減を図ることにある。従来
のいずれのアナログマルチプレクサ回路もこれらの要求
を十分に満たすことはできない。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題は、通常状態で
はチャージコンデンサは測定時のみ閉塞するａ接点を持
つリレーにより測定対象とは切り離しておき、あるチャ
ンネルを測定する際にのみリレーを閉塞し、チャージコ
ンデンサにより測定するアナログ信号を記憶する方式に
することにより解決される。
はチャージコンデンサは測定時のみ閉塞するａ接点を持
つリレーにより測定対象とは切り離しておき、あるチャ
ンネルを測定する際にのみリレーを閉塞し、チャージコ
ンデンサにより測定するアナログ信号を記憶する方式に
することにより解決される。
【０００６】本発明によるフライングキャパシタ式マル
チプレクサ回路は、通常、チャージコンデンサは測定対
象物から切り離しておくため、マルチプレクサ回路の入
力チャンネル数が何点であろうとチャージコンデンサは
１点のみとすることができる。また、チャージコンデン
サと入力バッファアンプの接続の開閉を行うリレーは入
力チャンネル数に関係なく一組のみとすることができ
る。
チプレクサ回路は、通常、チャージコンデンサは測定対
象物から切り離しておくため、マルチプレクサ回路の入
力チャンネル数が何点であろうとチャージコンデンサは
１点のみとすることができる。また、チャージコンデン
サと入力バッファアンプの接続の開閉を行うリレーは入
力チャンネル数に関係なく一組のみとすることができ
る。
【０００７】従って、従来のフライングキャパシタ式マ
ルチプレクサ回路と同等の機能を有し、かつ、部品点数
の削減を図ることができる。
ルチプレクサ回路と同等の機能を有し、かつ、部品点数
の削減を図ることができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図１を用
いて詳細に説明する。
いて詳細に説明する。
【０００９】図１に示すように本発明の実施例では、３
は入力するアナログ信号を記憶するチャージコンデン
サ、４はチャージコンデンサに記憶したアナログ信号を
後段の入力処理回路（図示せず）に伝える入力バッファ
アンプ、１，２はチャージコンデンサに記憶したアナロ
グ信号を入力バッファアンプ４に伝えるときに閉塞する
リレー、１１，１２は入力チャンネル１に入力するアナ
ログ信号を測定するときに閉塞するリレー、２１，２２
は入力チャンネル２に入力するアナログ信号を測定する
ときに閉塞するリレー、ｎ１，ｎ２は入力チャンネルｎ
に入力するアナログ信号を測定するときに閉塞するリレ
ーである。
は入力するアナログ信号を記憶するチャージコンデン
サ、４はチャージコンデンサに記憶したアナログ信号を
後段の入力処理回路（図示せず）に伝える入力バッファ
アンプ、１，２はチャージコンデンサに記憶したアナロ
グ信号を入力バッファアンプ４に伝えるときに閉塞する
リレー、１１，１２は入力チャンネル１に入力するアナ
ログ信号を測定するときに閉塞するリレー、２１，２２
は入力チャンネル２に入力するアナログ信号を測定する
ときに閉塞するリレー、ｎ１，ｎ２は入力チャンネルｎ
に入力するアナログ信号を測定するときに閉塞するリレ
ーである。
【００１０】次に、この図に示す実施例の動作を説明す
る。
る。
【００１１】ここで、この回路がどのチャンネルの測定
も行っていない平常状態にある場合には、リレー１，２
及びリレー１１，１２，２１，２２，…ｎ１，ｎ２は開
放状態であり、チャージコンデンサ３には何も記憶され
ていない。
も行っていない平常状態にある場合には、リレー１，２
及びリレー１１，１２，２１，２２，…ｎ１，ｎ２は開
放状態であり、チャージコンデンサ３には何も記憶され
ていない。
【００１２】次に、入力チャンネル１に入力されるアナ
ログ信号を測定する場合には、リレー１１，１２を閉塞
し、チャージコンデンサ３にチャンネル１に入力される
アナログ信号を記憶する。チャンネル１からのアナログ
信号がチャージコンデンサ３に充電されるだけの十分な
時間の経過後、リレー１１，１２を開放し、測定対象物
とチャージコンデンサ３を切り離す。次にリレー１，２
を閉塞し、チャージコンデンサ３と入力バッファアンプ
４を接続し、チャージコンデンサ３に記憶されたチャン
ネル１のアナログ信号を入力バッファアンプ４の後段に
ある入力処理回路（図示せず）に伝える。そして、入力
処理回路（図示せず）でのアナログ信号の処理終了後、
リレー１，２を開放する。
ログ信号を測定する場合には、リレー１１，１２を閉塞
し、チャージコンデンサ３にチャンネル１に入力される
アナログ信号を記憶する。チャンネル１からのアナログ
信号がチャージコンデンサ３に充電されるだけの十分な
時間の経過後、リレー１１，１２を開放し、測定対象物
とチャージコンデンサ３を切り離す。次にリレー１，２
を閉塞し、チャージコンデンサ３と入力バッファアンプ
４を接続し、チャージコンデンサ３に記憶されたチャン
ネル１のアナログ信号を入力バッファアンプ４の後段に
ある入力処理回路（図示せず）に伝える。そして、入力
処理回路（図示せず）でのアナログ信号の処理終了後、
リレー１，２を開放する。
【００１３】ここで、リレー１，２とリレー１１，１２
は同時に閉塞することはない。従って必ずどちらか一方
のリレーが開放していることから本回路は測定対象物と
絶縁することができる。
は同時に閉塞することはない。従って必ずどちらか一方
のリレーが開放していることから本回路は測定対象物と
絶縁することができる。
【００１４】その後、チャンネル２の測定を行う際は、
同様の動作を繰り返すことにより、測定対象物と入力装
置間の絶縁されたアナログマルチプレクサ回路を、チャ
ージコンデンサ１個と少数のリレーにより構成すること
ができる。
同様の動作を繰り返すことにより、測定対象物と入力装
置間の絶縁されたアナログマルチプレクサ回路を、チャ
ージコンデンサ１個と少数のリレーにより構成すること
ができる。
【００１５】
【発明の効果】本発明は、測定対象物からのアナログ信
号を入力する際にのみチャージコンデンサをリレーによ
り測定対象物と接続することにより、従来、マルチプレ
クサ回路を構成する入力チャンネル数と同数を必要とし
ていたチャージコンデンサを、入力チャンネルの数に関
係なく１個のみとすることができる。また、チャージコ
ンデンサを１個のみとすることにより、チャージコンデ
ンサと入力バッファアンプとの接続の開閉を行うリレー
も一組でよい。
号を入力する際にのみチャージコンデンサをリレーによ
り測定対象物と接続することにより、従来、マルチプレ
クサ回路を構成する入力チャンネル数と同数を必要とし
ていたチャージコンデンサを、入力チャンネルの数に関
係なく１個のみとすることができる。また、チャージコ
ンデンサを１個のみとすることにより、チャージコンデ
ンサと入力バッファアンプとの接続の開閉を行うリレー
も一組でよい。
【図１】本発明の一実施例の回路図。
【図２】有接点リレーを使用した従来のフライングキャ
パシタ式マルチプレクサ回路図。
パシタ式マルチプレクサ回路図。
【図３】回路の有接点リレーを半導体無接点リレーに置
き換えた場合のフライングキャパシタ式マルチプレクサ
回路図。
き換えた場合のフライングキャパシタ式マルチプレクサ
回路図。
１，２，１１，１２，２１，２２，ｎ１，ｎ２，１１
ａ，１１ｂ，１２ａ，１２ｂ，２１ａ，２１ｂ，２２
ａ，２２ｂ，ｎ１ａ，ｎ１ｂ，ｎ２ａ，ｎ２ｂ…半導体
無接点リレー、１１ｃ，１２ｃ，２１ｃ，２２ｃ，ｎ１
ｃ，ｎ２ｃ…有接点リレー、３，３１，３２，３ｎ…チ
ャージコンデンサ、４…入力バッファアンプ。
ａ，１１ｂ，１２ａ，１２ｂ，２１ａ，２１ｂ，２２
ａ，２２ｂ，ｎ１ａ，ｎ１ｂ，ｎ２ａ，ｎ２ｂ…半導体
無接点リレー、１１ｃ，１２ｃ，２１ｃ，２２ｃ，ｎ１
ｃ，ｎ２ｃ…有接点リレー、３，３１，３２，３ｎ…チ
ャージコンデンサ、４…入力バッファアンプ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 土肥 治 茨城県ひたちなか市市毛1070番地 株式会 社日立製作所水戸工場内
Claims (2)
- 【請求項１】複数の測定対象を一つの入力装置で測定す
る際に用いるアナログマルチプレクサ回路のうち、測定
対象と入力装置間の電気的絶縁に用いられ、測定時に閉
塞する第一のリレーと、測定対象とするアナログ信号を
記憶するチャージコンデンサと、前記チャージコンデン
サに記憶されたアナログ信号を後段の入力処理回路に伝
える入力バッファアンプと、測定時に前記チャージコン
デンサと前記入力バッファアンプを接続するため閉塞す
る第二のリレーからなるアナログマルチプレクサ回路に
おいて、前記チャージコンデンサを一つしか持たないこ
とを特徴とするアナログマルチプレクサ回路。 - 【請求項２】請求項１において、前記チャージコンデン
サと前記入力バッファアンプ間の電気的絶縁に用いる前
記第二のリレーを、測定対象が多数となっても一組しか
持たないようにしたアナログマルチプレクサ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19177096A JPH1040770A (ja) | 1996-07-22 | 1996-07-22 | アナログマルチプレクサ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19177096A JPH1040770A (ja) | 1996-07-22 | 1996-07-22 | アナログマルチプレクサ回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1040770A true JPH1040770A (ja) | 1998-02-13 |
Family
ID=16280238
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19177096A Pending JPH1040770A (ja) | 1996-07-22 | 1996-07-22 | アナログマルチプレクサ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1040770A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999045402A1 (fr) * | 1998-03-06 | 1999-09-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Instrument de mesure de tension a condensateur volant |
| JP2002156392A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Denso Corp | 組電池の電圧検出装置 |
| WO2005099062A1 (ja) * | 2004-04-07 | 2005-10-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | キャパシタ制御システム |
| JP2009188696A (ja) * | 2008-02-06 | 2009-08-20 | Denso Corp | アナログデジタル変換装置 |
| JP2018128320A (ja) * | 2017-02-07 | 2018-08-16 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
| JP2018128440A (ja) * | 2017-02-07 | 2018-08-16 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
| JP2019086289A (ja) * | 2017-11-01 | 2019-06-06 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
| JP2019113431A (ja) * | 2017-12-25 | 2019-07-11 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
-
1996
- 1996-07-22 JP JP19177096A patent/JPH1040770A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999045402A1 (fr) * | 1998-03-06 | 1999-09-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Instrument de mesure de tension a condensateur volant |
| EP0990913A1 (en) * | 1998-03-06 | 2000-04-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Voltage measuring instrument with flying capacitor |
| EP0990913A4 (en) * | 1998-03-06 | 2006-03-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | VOLTAGE CONDENSER VOLTAGE MEASURING INSTRUMENT |
| JP2002156392A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Denso Corp | 組電池の電圧検出装置 |
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| US7531987B2 (en) | 2004-04-07 | 2009-05-12 | Panasonic Corporation | Capacitor control system |
| JP2009188696A (ja) * | 2008-02-06 | 2009-08-20 | Denso Corp | アナログデジタル変換装置 |
| JP2018128320A (ja) * | 2017-02-07 | 2018-08-16 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
| JP2018128440A (ja) * | 2017-02-07 | 2018-08-16 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
| CN108490302A (zh) * | 2017-02-07 | 2018-09-04 | 矢崎总业株式会社 | 接地故障检测器 |
| US10379150B2 (en) | 2017-02-07 | 2019-08-13 | Yazaki Corporation | Earth fault detector |
| CN108490302B (zh) * | 2017-02-07 | 2020-09-15 | 矢崎总业株式会社 | 接地故障检测器 |
| JP2019086289A (ja) * | 2017-11-01 | 2019-06-06 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
| JP2019113431A (ja) * | 2017-12-25 | 2019-07-11 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
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