JPH10332326A - 光電子センサ - Google Patents
光電子センサInfo
- Publication number
- JPH10332326A JPH10332326A JP10138023A JP13802398A JPH10332326A JP H10332326 A JPH10332326 A JP H10332326A JP 10138023 A JP10138023 A JP 10138023A JP 13802398 A JP13802398 A JP 13802398A JP H10332326 A JPH10332326 A JP H10332326A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- optical
- optoelectronic
- signals
- evaluation unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V8/00—Prospecting or detecting by optical means
- G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
- G01V8/12—Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver
- G01V8/14—Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver using reflectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
- G01C3/08—Use of electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/04—Systems determining the presence of a target
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/46—Indirect determination of position data
- G01S17/48—Active triangulation systems, i.e. using the transmission and reflection of electromagnetic waves other than radio waves
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/965—Switches controlled by moving an element forming part of the switch
- H03K17/968—Switches controlled by moving an element forming part of the switch using opto-electronic devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/94—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
- H03K2217/941—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated using an optical detector
- H03K2217/94114—Optical multi axis
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/94—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
- H03K2217/965—Switches controlled by moving an element forming part of the switch
- H03K2217/9651—Switches controlled by moving an element forming part of the switch the moving element acting on a force, e.g. pressure sensitive element
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光電子センサを提供する。
【解決手段】 発明は、被監視領域へ送信光ビームを送
信する光送信器及び受信光ビームを受信する光受信器を
有し、受信光ビームが被監視領域中にて品物から光受信
器の方向に反射された送信光によって形成され、受信光
ビームがセンサからの品物の間隔に依存して送信光ビー
ムに対し可変ビ−ム角にあり、光受信器の出力信号を処
理する制御評価ユニットを有している光電子センサに関
する。発明は、光受信器は異なるセンサ素子がビ−ム角
に依存して受信光ビームによって照らされるように互い
に隣接して配置される少なくとも４つの独立したセンサ
素子を有している多素子光センサを有していること特徴
とする。
信する光送信器及び受信光ビームを受信する光受信器を
有し、受信光ビームが被監視領域中にて品物から光受信
器の方向に反射された送信光によって形成され、受信光
ビームがセンサからの品物の間隔に依存して送信光ビー
ムに対し可変ビ−ム角にあり、光受信器の出力信号を処
理する制御評価ユニットを有している光電子センサに関
する。発明は、光受信器は異なるセンサ素子がビ−ム角
に依存して受信光ビームによって照らされるように互い
に隣接して配置される少なくとも４つの独立したセンサ
素子を有している多素子光センサを有していること特徴
とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被監視領域へ送信
光ビームを送信する光送信器及び受信光ビームを受信す
る光受信器を有し、受信光ビームが被監視領域中にて品
物から光受信器の方向に反射された送信光によって形成
され、受信光ビームがセンサからの品物の間隔に依存し
て送信光ビームに対し可変ビ−ム角にあり、光受信器の
出力信号を処理する制御評価ユニットを有している光電
子センサに関する。
光ビームを送信する光送信器及び受信光ビームを受信す
る光受信器を有し、受信光ビームが被監視領域中にて品
物から光受信器の方向に反射された送信光によって形成
され、受信光ビームがセンサからの品物の間隔に依存し
て送信光ビームに対し可変ビ−ム角にあり、光受信器の
出力信号を処理する制御評価ユニットを有している光電
子センサに関する。
【０００２】
【従来の技術】送信光ビーム及び受信光ビーム間のビ−
ム角のそれらの感度の結果、センサは、送信光を反射す
る品物のセンサからの間隔の決定を許し、及び／又は被
監視領域の前景か背景中の品物からの電子的混合ことに
よる被監視領域の限界を定めることができる。この三角
測量方法を実行するために形成されるセンサは様々な具
体例で知られている。
ム角のそれらの感度の結果、センサは、送信光を反射す
る品物のセンサからの間隔の決定を許し、及び／又は被
監視領域の前景か背景中の品物からの電子的混合ことに
よる被監視領域の限界を定めることができる。この三角
測量方法を実行するために形成されるセンサは様々な具
体例で知られている。
【０００３】対応するセンサは、例えばＰＳＤダイオー
ドのような光センサとして空間的解像光学素子を有し、
これらのセンサは２つの出力信号を生成し、これら信号
から光センサを照らす受信光ビームの強度の中心が検出
される。さらに、２つの近接したフォトダイオードから
実質的に成る差動素子が知られている。差動素子を照ら
す受信光ビームの空間解像は、２つのフォトダイオード
それぞれの出力信号の比較及び評価を通して実行され
る。
ドのような光センサとして空間的解像光学素子を有し、
これらのセンサは２つの出力信号を生成し、これら信号
から光センサを照らす受信光ビームの強度の中心が検出
される。さらに、２つの近接したフォトダイオードから
実質的に成る差動素子が知られている。差動素子を照ら
す受信光ビームの空間解像は、２つのフォトダイオード
それぞれの出力信号の比較及び評価を通して実行され
る。
【０００４】受信光ビームがその中心でそれぞれの光セ
ンサを照らさず、光センサの２つの出力信号が対称でな
いビ−ム角に、これらのセンサを調節するために、差動
素子を使用する場合、受信光ビームによる光センサの照
明の対称化は、機械的な調節デバイスによって通常なさ
れる。この機械的な調節デバイスは、例えば、交わる軸
に関して枢動する鏡を含んでいる。機械的な調節デバイ
スの使用は複雑な設計、製造を要し、大きな体積構成
で、さらにセンサの機械的支障によるなど不利になる。
さらに、それは、実行されるには手動調節手続きを必要
とする。
ンサを照らさず、光センサの２つの出力信号が対称でな
いビ−ム角に、これらのセンサを調節するために、差動
素子を使用する場合、受信光ビームによる光センサの照
明の対称化は、機械的な調節デバイスによって通常なさ
れる。この機械的な調節デバイスは、例えば、交わる軸
に関して枢動する鏡を含んでいる。機械的な調節デバイ
スの使用は複雑な設計、製造を要し、大きな体積構成
で、さらにセンサの機械的支障によるなど不利になる。
さらに、それは、実行されるには手動調節手続きを必要
とする。
【０００５】上記の種類の既知のセンサはさらに、欠点
を有している。つまり、それらの２つの出力信号の照明
の中心のアナログ形成は、ビ−ム角及び送信光を反射す
る品物のセンサからの距離の曖昧な決定を単に起こす場
合がある。更に、それらの精度は、望ましくないが、使
用される光センサの光感応場所に不利に依存する。
を有している。つまり、それらの２つの出力信号の照明
の中心のアナログ形成は、ビ−ム角及び送信光を反射す
る品物のセンサからの距離の曖昧な決定を単に起こす場
合がある。更に、それらの精度は、望ましくないが、使
用される光センサの光感応場所に不利に依存する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、機械
的高精度調節デバイスの使用なしで、センサの監視され
た範囲中で品物の様々な参照距離に設定することができ
るような上記種類のセンサを形成することにある。
的高精度調節デバイスの使用なしで、センサの監視され
た範囲中で品物の様々な参照距離に設定することができ
るような上記種類のセンサを形成することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、光受信
器は異なるセンサ素子がビ−ム角に依存して受信光ビー
ムによって照らされるように互いに隣接して配置される
少なくとも４つの独立したセンサ素子を有している多素
子光センサを備えることにより解決される。本発明のセ
ンサの光受信器は、個々に読み出され評価され得る少な
くとも４つの個別のセンサ素子を有している。このよう
に、光受信器を照らす受信光ビームの位置、構造及び強
度は、個々のセンサ素子の信号に関して決定できる。本
発明のセンサの複数の出力信号は２つの出力信号だけが
存在する場合より正確な評価を可能にする。これらは、
光センサの光感応表面全体の受信光信号を介してアナロ
グ積分を実質的に単に生成する。複数の個別のセンサ素
子へ光センサの光感応表面を分割することは、本発明の
センサがより高い空間解像を達成することを支援でき
る。
器は異なるセンサ素子がビ−ム角に依存して受信光ビー
ムによって照らされるように互いに隣接して配置される
少なくとも４つの独立したセンサ素子を有している多素
子光センサを備えることにより解決される。本発明のセ
ンサの光受信器は、個々に読み出され評価され得る少な
くとも４つの個別のセンサ素子を有している。このよう
に、光受信器を照らす受信光ビームの位置、構造及び強
度は、個々のセンサ素子の信号に関して決定できる。本
発明のセンサの複数の出力信号は２つの出力信号だけが
存在する場合より正確な評価を可能にする。これらは、
光センサの光感応表面全体の受信光信号を介してアナロ
グ積分を実質的に単に生成する。複数の個別のセンサ素
子へ光センサの光感応表面を分割することは、本発明の
センサがより高い空間解像を達成することを支援でき
る。
【０００８】本発明の配置の実質的な利点は、本発明の
多素子光センサの相応して大きな構成、複数の個別セン
サ素子により、送信光学系の機械的結合又は調節、所望
の調整又はゼロ点設定が制御評価ユニットへの個々のセ
ンサ素子の可変結合によってもたらすことができる、事
実から分かる。多素子光センサを照らす受信光ビームの
均質でない構造は本発明により解決され、さらにセンサ
の精度を増加させることができるので評価できる。例え
ば送信又は受信光ビームの望まれない反射のような妨害
作用は、センサによって認識評価され、フィルタで分別
される。被監視領域中にて検知されるべき品物以外の品
物の送信光の反射は、センサが種々反射する品物への距
離を識別するという能力があるので、特に認識される。
その結果、品物検出信号の偽りの生成を抑えることがで
きる。
多素子光センサの相応して大きな構成、複数の個別セン
サ素子により、送信光学系の機械的結合又は調節、所望
の調整又はゼロ点設定が制御評価ユニットへの個々のセ
ンサ素子の可変結合によってもたらすことができる、事
実から分かる。多素子光センサを照らす受信光ビームの
均質でない構造は本発明により解決され、さらにセンサ
の精度を増加させることができるので評価できる。例え
ば送信又は受信光ビームの望まれない反射のような妨害
作用は、センサによって認識評価され、フィルタで分別
される。被監視領域中にて検知されるべき品物以外の品
物の送信光の反射は、センサが種々反射する品物への距
離を識別するという能力があるので、特に認識される。
その結果、品物検出信号の偽りの生成を抑えることがで
きる。
【０００９】被監視領域の品物で反射された受信光ビー
ムの多素子光センサの表面に沿った幾何学的な範囲は検
出でき、センサからの品物の距離の決定のためにさらに
詳しい情報として使用できる。光センサの複数の個別の
独立素子の信号情報が利用可能なので、この情報は、非
常に柔軟な方法で、ディジタル及び電子的デバイスの援
助によって処理でき、それはセンサの個々の応用にそれ
ぞれ適応される。この点について、格納され読み出され
る評価プログラムは特に使用され得る。いわゆる「ティ
ーチイン」方法は、さらに有利に単純な方法で個々の適
用の必要条件へのセンサの順応を可能にする。
ムの多素子光センサの表面に沿った幾何学的な範囲は検
出でき、センサからの品物の距離の決定のためにさらに
詳しい情報として使用できる。光センサの複数の個別の
独立素子の信号情報が利用可能なので、この情報は、非
常に柔軟な方法で、ディジタル及び電子的デバイスの援
助によって処理でき、それはセンサの個々の応用にそれ
ぞれ適応される。この点について、格納され読み出され
る評価プログラムは特に使用され得る。いわゆる「ティ
ーチイン」方法は、さらに有利に単純な方法で個々の適
用の必要条件へのセンサの順応を可能にする。
【００１０】特定の参照距離に対応するビ−ム角の設定
は、本発明のセンサによって、１つ又は複数の個々のセ
ンサ素子への、多素子光センサを照らす受信光ビームの
最高光強度の結合によって、なされる。この点におい
て、制御評価ユニットが多素子光センサのセンサ素子を
複数のセンサ領域へ細分できることは特に有利である。
このように、これらのセンサ領域は、その後、被監視領
域の品物から反射された受信光ビームによってそれらが
照らされるかどうかに関して識別できる。この場合、セ
ンサ領域は被監視領域の異なるゾ−ンに、それぞれのビ
−ム角に従って、対応できる。
は、本発明のセンサによって、１つ又は複数の個々のセ
ンサ素子への、多素子光センサを照らす受信光ビームの
最高光強度の結合によって、なされる。この点におい
て、制御評価ユニットが多素子光センサのセンサ素子を
複数のセンサ領域へ細分できることは特に有利である。
このように、これらのセンサ領域は、その後、被監視領
域の品物から反射された受信光ビームによってそれらが
照らされるかどうかに関して識別できる。この場合、セ
ンサ領域は被監視領域の異なるゾ−ンに、それぞれのビ
−ム角に従って、対応できる。
【００１１】好ましい方法においては、センサ素子の分
割は、２又は３のゾ−ン中への被監視領域の分割部分に
対応して、２又は３のセンサ領域に特に行われる。その
後、これらのゾ−ンは例えば、それぞれ目的ゾ−ン及び
前景ゾ−ンそして背景ゾ−ンを形成し、これにおいて
は、品物が、品物検出信号の生成を引き起こし、又は品
物検出信号の生成を故意に引き起こさない。しかしなが
ら、この被監視領域の分割は、さらに例えば、前景ゾ−
ン及び背景ゾ−ンに加えて目的ゾ−ン内に混合されるべ
き更なるゾ−ンを形成するために、本発明のセンサの高
い空間解像の結果、同じ方法で３つを越えるゾ−ンに行
われ得る。
割は、２又は３のゾ−ン中への被監視領域の分割部分に
対応して、２又は３のセンサ領域に特に行われる。その
後、これらのゾ−ンは例えば、それぞれ目的ゾ−ン及び
前景ゾ−ンそして背景ゾ−ンを形成し、これにおいて
は、品物が、品物検出信号の生成を引き起こし、又は品
物検出信号の生成を故意に引き起こさない。しかしなが
ら、この被監視領域の分割は、さらに例えば、前景ゾ−
ン及び背景ゾ−ンに加えて目的ゾ−ン内に混合されるべ
き更なるゾ−ンを形成するために、本発明のセンサの高
い空間解像の結果、同じ方法で３つを越えるゾ−ンに行
われ得る。
【００１２】センサ素子の分割は、一度おこなわれ、特
別の適用に一致する校正調節に基づくことが好ましい。
この目的のために、参照品物は、その被監視領域内のセ
ンサからの特定の参照距離に位置できる。その後、セン
サ素子の対応する信号は検出でき、センサ素子が参照品
物の参照距離に正確に対応するセンサ領域へ細分される
ように評価され得る。相応して異なる被監視領域の複数
のゾ−ンを定義するために、センサは参照距離を測定で
き、上述された方法で評価され得る。多素子光センサ中
のセンサ素子の配置は、一次元の列で実行できる。
別の適用に一致する校正調節に基づくことが好ましい。
この目的のために、参照品物は、その被監視領域内のセ
ンサからの特定の参照距離に位置できる。その後、セン
サ素子の対応する信号は検出でき、センサ素子が参照品
物の参照距離に正確に対応するセンサ領域へ細分される
ように評価され得る。相応して異なる被監視領域の複数
のゾ−ンを定義するために、センサは参照距離を測定で
き、上述された方法で評価され得る。多素子光センサ中
のセンサ素子の配置は、一次元の列で実行できる。
【００１３】センサ素子の数は数２の整数累乗であり、
特に８と１０２４の間にあることが好ましい。これは、
ディジタル電子的手段の援助でセンサ素子の信号の評価
を特に単純化する。その光感応表面の平面中の少なくと
も１つの方向に沿ったセンサ素子の幾何学的な範囲がこ
の方向（図２）に沿った受信光ビームの幾何学的な範囲
より実質的に小さい場合は、更に有利である。この場
合、複数のセンサ素子は受信光ビームによって照らさ
れ、また、受信光ビーム断面の幾何学的な範囲を決定す
る場合、より高い解像度が得られる。
特に８と１０２４の間にあることが好ましい。これは、
ディジタル電子的手段の援助でセンサ素子の信号の評価
を特に単純化する。その光感応表面の平面中の少なくと
も１つの方向に沿ったセンサ素子の幾何学的な範囲がこ
の方向（図２）に沿った受信光ビームの幾何学的な範囲
より実質的に小さい場合は、更に有利である。この場
合、複数のセンサ素子は受信光ビームによって照らさ
れ、また、受信光ビーム断面の幾何学的な範囲を決定す
る場合、より高い解像度が得られる。
【００１４】更に、多素子光センサの光感応表面の平面
中の少なくとも１つの方向に沿った複数のセンサ素子の
配置の幾何学的な範囲がこの方向（図２）に沿った受信
光ビームの幾何学的な範囲より大きな場合も、有利であ
る。これは、光ビームが同時にセンサ素子をすべて照ら
すのを妨げる。したがって、受信光ビームの最も高い光
強度に対応する最大の信号及びさらに残余の光及びバッ
クグラウンドノイズに対応する最小の信号の両方が、多
素子光センサの異なるセンサ素子から生成できる状況
は、さらに達成でき、この中では、多素子光センサの信
号のコントラストが最適化される。さらに、このセンサ
素子の配置は、受信光ビームによってそれらの照明に対
応する異なる領域へのそれらの分割部分に対応する。
中の少なくとも１つの方向に沿った複数のセンサ素子の
配置の幾何学的な範囲がこの方向（図２）に沿った受信
光ビームの幾何学的な範囲より大きな場合も、有利であ
る。これは、光ビームが同時にセンサ素子をすべて照ら
すのを妨げる。したがって、受信光ビームの最も高い光
強度に対応する最大の信号及びさらに残余の光及びバッ
クグラウンドノイズに対応する最小の信号の両方が、多
素子光センサの異なるセンサ素子から生成できる状況
は、さらに達成でき、この中では、多素子光センサの信
号のコントラストが最適化される。さらに、このセンサ
素子の配置は、受信光ビームによってそれらの照明に対
応する異なる領域へのそれらの分割部分に対応する。
【００１５】本発明のセンサは、多素子光センサとして
フォトダイオード行列を有し、これは特に一体的に形成
されている。かかるフォトダイオードアアレイ配列、例
えばシリコンに製造され複数の個別のチャネルを備えた
コスト的に好意な検出器を通常形成し、それらは、小さ
な体積構成で、不光感応面積に対する光感応面積の高い
比率を有している。
フォトダイオード行列を有し、これは特に一体的に形成
されている。かかるフォトダイオードアアレイ配列、例
えばシリコンに製造され複数の個別のチャネルを備えた
コスト的に好意な検出器を通常形成し、それらは、小さ
な体積構成で、不光感応面積に対する光感応面積の高い
比率を有している。
【００１６】それぞれのアンプ手段が多素子光センサの
個々のセンサ素子と協働し、特に、アンプ手段が妨害作
用を回避するためにそれぞれのセンサ素子に近接して空
間的に設けられることは有利である。１つ以上のスイッ
チは各センサ素子ごとにも協働でき、これによりセンサ
素子の信号の読み出しが制御できる。増幅手段及び／又
はスイッチが、単一チップ内の多素子光センサに統合さ
れることは特に有利である。
個々のセンサ素子と協働し、特に、アンプ手段が妨害作
用を回避するためにそれぞれのセンサ素子に近接して空
間的に設けられることは有利である。１つ以上のスイッ
チは各センサ素子ごとにも協働でき、これによりセンサ
素子の信号の読み出しが制御できる。増幅手段及び／又
はスイッチが、単一チップ内の多素子光センサに統合さ
れることは特に有利である。
【００１７】本発明のセンサは、制御評価ユニットがセ
ンサ素子の信号を並列で読み出しする手段を含んでいる
場合、特によく機能する。センサ素子がセンサ領域へ細
分化される場合、制御評価ユニットがセンサ領域の信号
の並列の読み出しする手段を含んでいるとき、それは有
利である。かかる手段は複数の並列ラインによって形成
でき、センサ領域のセンサ素子は並列ラインに協働す
る。
ンサ素子の信号を並列で読み出しする手段を含んでいる
場合、特によく機能する。センサ素子がセンサ領域へ細
分化される場合、制御評価ユニットがセンサ領域の信号
の並列の読み出しする手段を含んでいるとき、それは有
利である。かかる手段は複数の並列ラインによって形成
でき、センサ領域のセンサ素子は並列ラインに協働す
る。
【００１８】並列ラインの数はセンサ領域の数に対応で
きる。しかしながら、並列ライン上の複数のセンサ領域
を組み合わせることによって、それは、さらにセンサ領
域の数より小さくなりうる。制御評価ユニットは、並列
ライン上への個々のセンサ素子のスイッチングが制御さ
れるスイッチ制御装置を好ましく有している。有利な実
施例では、第１スイッチ及び第２スイッチは、それぞれ
各センサ素子と協働し、すべての第１スイッチは第１並
列ラインに接続され、すべての第２スイッチは第２並列
ラインに接続されている。この場合、第３のスイッチが
各センサ素子と協働し、３つのすべてが第３の並列ライ
ンに接続されている。センサ素子が第１、第２又は第３
のスイッチを介して並列ラインを通って互いに接続さ
れ、各々は被監視領域の前景、目的ゾ−ン又は背景を表
わすセンサ領域を形成することが、好ましい。
きる。しかしながら、並列ライン上の複数のセンサ領域
を組み合わせることによって、それは、さらにセンサ領
域の数より小さくなりうる。制御評価ユニットは、並列
ライン上への個々のセンサ素子のスイッチングが制御さ
れるスイッチ制御装置を好ましく有している。有利な実
施例では、第１スイッチ及び第２スイッチは、それぞれ
各センサ素子と協働し、すべての第１スイッチは第１並
列ラインに接続され、すべての第２スイッチは第２並列
ラインに接続されている。この場合、第３のスイッチが
各センサ素子と協働し、３つのすべてが第３の並列ライ
ンに接続されている。センサ素子が第１、第２又は第３
のスイッチを介して並列ラインを通って互いに接続さ
れ、各々は被監視領域の前景、目的ゾ−ン又は背景を表
わすセンサ領域を形成することが、好ましい。
【００１９】各センサ素子は、それぞれの並列ラインの
１つに好ましく単に接続される。しかしながら、さらに
センサ素子は複数の並列ラインに同時に接続できる。こ
れは、例えばセンサ素子が異なるセンサ領域のセンサ素
子間に位置する場合、有利である。更なる好ましい実施
例では、制御評価ユニットが、センサ素子の信号を連続
してすなわち直列で読み出しする手段を含んでいる。こ
れらの手段は、センサ領域中へのセンサ素子の分割部分
で、それらが直列でこれらのセンサ領域を読み取るよう
に設計できる。かかる手段は多重データ送信端末装置で
特に形成でき、これでは、センサ素子の信号又はセンサ
領域のセンサ素子の信号又はセンサ領域の信号が、読み
込まれ、時間方向に交代で送信される。
１つに好ましく単に接続される。しかしながら、さらに
センサ素子は複数の並列ラインに同時に接続できる。こ
れは、例えばセンサ素子が異なるセンサ領域のセンサ素
子間に位置する場合、有利である。更なる好ましい実施
例では、制御評価ユニットが、センサ素子の信号を連続
してすなわち直列で読み出しする手段を含んでいる。こ
れらの手段は、センサ領域中へのセンサ素子の分割部分
で、それらが直列でこれらのセンサ領域を読み取るよう
に設計できる。かかる手段は多重データ送信端末装置で
特に形成でき、これでは、センサ素子の信号又はセンサ
領域のセンサ素子の信号又はセンサ領域の信号が、読み
込まれ、時間方向に交代で送信される。
【００２０】本発明のセンサに対する制御評価ユニット
は、センサ素子の信号の合計を形成する手段を有する。
このように、合計統合された信号は多素子光センサの光
感応表面の特定の領域上に生成でき、この領域はセンサ
素子のセンサ領域への分割部分に従って有利な方法で自
由に選択可能である。合計形成は例えば、センサ領域の
センサ素子の信号を、これらのセンサ素子が共同で切り
替えられる並列ライン上に切り替えることによって、又
はマイクロプロセッサの援助によって、実行される。
は、センサ素子の信号の合計を形成する手段を有する。
このように、合計統合された信号は多素子光センサの光
感応表面の特定の領域上に生成でき、この領域はセンサ
素子のセンサ領域への分割部分に従って有利な方法で自
由に選択可能である。合計形成は例えば、センサ領域の
センサ素子の信号を、これらのセンサ素子が共同で切り
替えられる並列ライン上に切り替えることによって、又
はマイクロプロセッサの援助によって、実行される。
【００２１】制御評価ユニットが信号間の差分を形成す
る手段を有していることは有利である。これらの信号は
センサ素子の出力信号又は、特にセンサ領域のセンサ素
子からの信号の合計である。異なるセンサ領域の全体の
光信号の対照は例えば、これらの差分に関して検出する
ことができ、センサ領域は順番に有利な方法により自由
に選択可能でる。この場合、制御評価ユニットは、セン
サ素子の信号の合計間の差分が定義された閾値より小さ
い及び／又は同じ及び／又は大きい場合、品物認識信号
を生成できる手段を有していることは好ましい。かかる
品物検出信号の生成は、検出された差分が定義された閾
値を囲んだ許容差の内部又は外部にあるときにも、実行
される。
る手段を有していることは有利である。これらの信号は
センサ素子の出力信号又は、特にセンサ領域のセンサ素
子からの信号の合計である。異なるセンサ領域の全体の
光信号の対照は例えば、これらの差分に関して検出する
ことができ、センサ領域は順番に有利な方法により自由
に選択可能でる。この場合、制御評価ユニットは、セン
サ素子の信号の合計間の差分が定義された閾値より小さ
い及び／又は同じ及び／又は大きい場合、品物認識信号
を生成できる手段を有していることは好ましい。かかる
品物検出信号の生成は、検出された差分が定義された閾
値を囲んだ許容差の内部又は外部にあるときにも、実行
される。
【００２２】センサ領域中へのセンサ素子の分割をなす
場合において、制御評価ユニットがセンサ素子の信号又
はセンサ領域のセンサ素子の信号をデジタル化する手段
を含んでいる本発明のセンサの動作の方法はさらに好ま
しい。この場合、例えば、多素子光センサを照らす受信
光ビームの位置、幅又は構造を分析するために、第１の
前記手段に続くディジタル電子的な評価が使用できる。
場合において、制御評価ユニットがセンサ素子の信号又
はセンサ領域のセンサ素子の信号をデジタル化する手段
を含んでいる本発明のセンサの動作の方法はさらに好ま
しい。この場合、例えば、多素子光センサを照らす受信
光ビームの位置、幅又は構造を分析するために、第１の
前記手段に続くディジタル電子的な評価が使用できる。
【００２３】制御評価ユニットは有利な方法でマイクロ
プロセッサを含むことができる。これは、例えば、多素
子光センサのセンサ素子の信号の並列又は連続する読み
出しに対する制御として役立つ。同じ方法で、それは、
センサ素子の信号を処理し分析できる。このマイクロプ
ロセッサは、さらに、格納された計算基礎に基づいたセ
ンサ領域へのセンサ素子の分割部分を評価し指定でき
る。マイクロプロセッサは、評価及び環境上の条件を変
化させるために、センサへの適応又はセンサ領域の分割
を可能にする自己適合可能な論理回路又はプログラムを
特に持つことができる。
プロセッサを含むことができる。これは、例えば、多素
子光センサのセンサ素子の信号の並列又は連続する読み
出しに対する制御として役立つ。同じ方法で、それは、
センサ素子の信号を処理し分析できる。このマイクロプ
ロセッサは、さらに、格納された計算基礎に基づいたセ
ンサ領域へのセンサ素子の分割部分を評価し指定でき
る。マイクロプロセッサは、評価及び環境上の条件を変
化させるために、センサへの適応又はセンサ領域の分割
を可能にする自己適合可能な論理回路又はプログラムを
特に持つことができる。
【００２４】本発明のセンサを調節する目的で、制御評
価ユニットが手動及び／又は自動的な校正調節用手段を
有していることは有利である。この校正調節は、被監視
領域内に位置した参照品物のセンサからの参照間隔に関
係がある。手動の校正調節は、さらに例えば手段の外部
起動により実行され、すなわち、参照品物が被監視領域
内にセンサからの参照距離で存在するとき、所望の出力
信号又は品物検出信号がセンサによって生成されるよう
に実行され、所望の出力信号すなわち品物検出信号がこ
の参照距離に対応する。
価ユニットが手動及び／又は自動的な校正調節用手段を
有していることは有利である。この校正調節は、被監視
領域内に位置した参照品物のセンサからの参照間隔に関
係がある。手動の校正調節は、さらに例えば手段の外部
起動により実行され、すなわち、参照品物が被監視領域
内にセンサからの参照距離で存在するとき、所望の出力
信号又は品物検出信号がセンサによって生成されるよう
に実行され、所望の出力信号すなわち品物検出信号がこ
の参照距離に対応する。
【００２５】自動的校正設定は例えば、センサ素子又は
センサ領域の適切な信号が検出され格納されることにお
いて実行される。これらの信号はセンサからの１つ以上
の参照間隔に対応し、その各々において参照品物が被監
視領域に設けられる。複数のセンサ領域中への多素子光
センサのセンサ素子の分割部分は、校正調節によって特
に自動的な校正調節によって有利な方法で個々に指定で
きる。
センサ領域の適切な信号が検出され格納されることにお
いて実行される。これらの信号はセンサからの１つ以上
の参照間隔に対応し、その各々において参照品物が被監
視領域に設けられる。複数のセンサ領域中への多素子光
センサのセンサ素子の分割部分は、校正調節によって特
に自動的な校正調節によって有利な方法で個々に指定で
きる。
【００２６】校正調節は、センサの実際的な使用のため
に好ましく一度実行される。しかしながら、もし、変更
された環境上条件に一致したセンサ領域へセンサ素子の
分割部分の変更を実行するために要求されれば、さらに
校正調節は実際的な使用中にて順番に繰り返すことがで
きる。したがって、例えば、センサの経時に依存する変
位の影響を償うことができる。
に好ましく一度実行される。しかしながら、もし、変更
された環境上条件に一致したセンサ領域へセンサ素子の
分割部分の変更を実行するために要求されれば、さらに
校正調節は実際的な使用中にて順番に繰り返すことがで
きる。したがって、例えば、センサの経時に依存する変
位の影響を償うことができる。
【００２７】本発明のセンサのさらに有利な実施例は、
被監視領域に位置した品物のセンサからの距離の量的測
定を可能に、少なくともほぼ可能にする。この距離測定
は、センサ素子の信号の評価を参照して実行される。セ
ンサに対する制御評価ユニットはこのための適切な手段
及び検出された距離出力のための適切な手段を持つこと
ができる。距離測量は、被監視領域内のセンサからの異
なる距離で参照品物の存在で検出されたセンサ素子の信
号の評価及び記憶を含んでいる校正調節に特に基づくこ
とができる。
被監視領域に位置した品物のセンサからの距離の量的測
定を可能に、少なくともほぼ可能にする。この距離測定
は、センサ素子の信号の評価を参照して実行される。セ
ンサに対する制御評価ユニットはこのための適切な手段
及び検出された距離出力のための適切な手段を持つこと
ができる。距離測量は、被監視領域内のセンサからの異
なる距離で参照品物の存在で検出されたセンサ素子の信
号の評価及び記憶を含んでいる校正調節に特に基づくこ
とができる。
【００２８】最後に、センサの光送信器がパルス状の光
信号を送信するように設計されていることは好ましい。
この場合、多素子光センサ及び／又は制御評価ユニット
が適切な方法で、パルス状の光信号の周波数と同期され
ることは有利である。本発明の更なる実施例は従属する
請求項に開示され、また、従属する請求項で述べられた
もの以外の個々の実施例の組合せは、さらに可能であ
る。
信号を送信するように設計されていることは好ましい。
この場合、多素子光センサ及び／又は制御評価ユニット
が適切な方法で、パルス状の光信号の周波数と同期され
ることは有利である。本発明の更なる実施例は従属する
請求項に開示され、また、従属する請求項で述べられた
もの以外の個々の実施例の組合せは、さらに可能であ
る。
【００２９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を参
照しつつ説明する。図１は、光電子センサ１の概略構成
を示し、これはセンサ１のハウジングに設けられた送信
光学系３の焦点面に実質的に位置する光送信器２を含ん
でいる。センサ１のハウジングは送信光学系３に隣接し
ている受信光学系４を更に有している。
照しつつ説明する。図１は、光電子センサ１の概略構成
を示し、これはセンサ１のハウジングに設けられた送信
光学系３の焦点面に実質的に位置する光送信器２を含ん
でいる。センサ１のハウジングは送信光学系３に隣接し
ている受信光学系４を更に有している。
【００３０】光センサ５は受信光学系４のセンサ１内に
像平面の領域中に位置し、その光感応表面は受信光学系
４の像平面に平行に実質的に設けられ、また、その光感
応表面の中央点は光送信器２から離れた受信光学系４の
主要な軸から横に変位して配置されている。光センサ５
は、複数のセンサ信号出力６によってセンサ１内に同様
に位置する制御評価ユニット７に接続され、出力の１つ
だけが図１中で示される。
像平面の領域中に位置し、その光感応表面は受信光学系
４の像平面に平行に実質的に設けられ、また、その光感
応表面の中央点は光送信器２から離れた受信光学系４の
主要な軸から横に変位して配置されている。光センサ５
は、複数のセンサ信号出力６によってセンサ１内に同様
に位置する制御評価ユニット７に接続され、出力の１つ
だけが図１中で示される。
【００３１】更に、図１に示される送信光ビーム８は、
光送信器２から送信され、送信光学系３を通り、センサ
１外側のほぼ平行のコースをとる。送信光ビーム８の光
を反射する品物９は、センサ１から距離Ｄのセンサ１の
被監視領域に位置する。受信光学系４を通りセンサ１内
部の光センサ５上へ抜ける反射された光の一部は、受信
光ビーム１０を形成する。光センサ５を照らす光スポッ
トの中央点の距離は、光送信器２から離れた光センサ５
の端部から測定され、ビーム偏向Ａとして指定される。
光送信器２から送信され、送信光学系３を通り、センサ
１外側のほぼ平行のコースをとる。送信光ビーム８の光
を反射する品物９は、センサ１から距離Ｄのセンサ１の
被監視領域に位置する。受信光学系４を通りセンサ１内
部の光センサ５上へ抜ける反射された光の一部は、受信
光ビーム１０を形成する。光センサ５を照らす光スポッ
トの中央点の距離は、光送信器２から離れた光センサ５
の端部から測定され、ビーム偏向Ａとして指定される。
【００３２】送信光ビーム８及び受信光ビーム１０は、
センサ１の外において互いにビ−ム角αを実質的になし
ている。さらに、更なる品物は、図１のセンサ１の被監
視領域の破線で示され、これは、センサ１からの参照距
離Ｄ'で参照品物９'として配置される。光センサ５は空
間解像をなし、つまり、その出力信号は、受信光ビーム
によって照らされるその光感応表面の領域に関する情報
を伝える。センサ１からの品物９の距離Ｄが変化する場
合、ビ−ム角αもさらに変わり、したがって光センサ５
の光感応表面に沿って測定されるようなビーム偏向Ａも
変わる。
センサ１の外において互いにビ−ム角αを実質的になし
ている。さらに、更なる品物は、図１のセンサ１の被監
視領域の破線で示され、これは、センサ１からの参照距
離Ｄ'で参照品物９'として配置される。光センサ５は空
間解像をなし、つまり、その出力信号は、受信光ビーム
によって照らされるその光感応表面の領域に関する情報
を伝える。センサ１からの品物９の距離Ｄが変化する場
合、ビ−ム角αもさらに変わり、したがって光センサ５
の光感応表面に沿って測定されるようなビーム偏向Ａも
変わる。
【００３３】光センサ５の出力信号はセンサ信号出力６
によって制御評価ユニット７に供給される。これは、セ
ンサからの品物９の異なる距離Ｄに対する光センサ５の
異なる出力信号を関連させるように設計されている。し
たがって、図１に示されるセンサ１は、請求項１の前提
部分で指定されたタイプの既知のセンサに相当する。し
かしながら、請求項１の特徴部分に従って多素子光セン
サとしてセンサ１の光センサ５を設計することによっ
て、図１で示される構成は、本発明に従って新規なセン
サの構成に相当する。
によって制御評価ユニット７に供給される。これは、セ
ンサからの品物９の異なる距離Ｄに対する光センサ５の
異なる出力信号を関連させるように設計されている。し
たがって、図１に示されるセンサ１は、請求項１の前提
部分で指定されたタイプの既知のセンサに相当する。し
かしながら、請求項１の特徴部分に従って多素子光セン
サとしてセンサ１の光センサ５を設計することによっ
て、図１で示される構成は、本発明に従って新規なセン
サの構成に相当する。
【００３４】図２は、本発明による多素子光センサ５の
実施例の概略構成を示す。多素子光センサ５は互いに隣
接して配置された直線状に８つのセンサ素子１１からな
り、参照サインＹで記された２つのセンサ素子１１は、
受信光ビーム１０によって少なくとも部分的に照らされ
る。この受信光ビームは円形断面１２を有している。図
１に関して既に記述された光スポットの中央点は、光セ
ンサ５の１つの端部からのビーム偏向Ａによって一定間
隔で配置される。図２中で示される横断面１２の中央点
の位置は、ビーム偏向Ａ'によって特徴づけられる。
実施例の概略構成を示す。多素子光センサ５は互いに隣
接して配置された直線状に８つのセンサ素子１１からな
り、参照サインＹで記された２つのセンサ素子１１は、
受信光ビーム１０によって少なくとも部分的に照らされ
る。この受信光ビームは円形断面１２を有している。図
１に関して既に記述された光スポットの中央点は、光セ
ンサ５の１つの端部からのビーム偏向Ａによって一定間
隔で配置される。図２中で示される横断面１２の中央点
の位置は、ビーム偏向Ａ'によって特徴づけられる。
【００３５】図２において、受信光ビームによって実質
的に照らされないセンサ素子１１は受信光ビームに関す
る一方側でＸによって示されかつ、Ｚによって多素子光
センサ５の他方側が示される。センサ素子１１のための
指示Ｘ、Ｙ及びＺは、３つの異なるセンサ領域への多素
子光センサ５の分割部分に相当する。センサ素子１１の
読み取りとセンサ領域の多素子光センサ５の細分化との
２つの可能性は、図３、４及び５を参照して以下に説明
される。かかる場合、図１で示されるセンサ１内の光セ
ンサとしての多素子光センサ５の使用が想定される。
的に照らされないセンサ素子１１は受信光ビームに関す
る一方側でＸによって示されかつ、Ｚによって多素子光
センサ５の他方側が示される。センサ素子１１のための
指示Ｘ、Ｙ及びＺは、３つの異なるセンサ領域への多素
子光センサ５の分割部分に相当する。センサ素子１１の
読み取りとセンサ領域の多素子光センサ５の細分化との
２つの可能性は、図３、４及び５を参照して以下に説明
される。かかる場合、図１で示されるセンサ１内の光セ
ンサとしての多素子光センサ５の使用が想定される。
【００３６】図３は、図２による多素子光センサ５及び
制御評価ユニット７の概略構成を示す。多素子光センサ
５の各センサ素子１１は、第１スイッチ１３の１つの極
に、第２スイッチ１４の１つの極にそれぞれ電気的に接
続されるセンサ信号出力６を有している。第１スイッチ
１３それぞれの他方の極は第１の並列ライン１５に接続
される。また、第２スイッチ１４それぞれの他方の極は
第２の並列ライン１６に接続される。スイッチ１３，１
４はすべて、スイッチ制御装置１７に更に接続される。
制御評価ユニット７の概略構成を示す。多素子光センサ
５の各センサ素子１１は、第１スイッチ１３の１つの極
に、第２スイッチ１４の１つの極にそれぞれ電気的に接
続されるセンサ信号出力６を有している。第１スイッチ
１３それぞれの他方の極は第１の並列ライン１５に接続
される。また、第２スイッチ１４それぞれの他方の極は
第２の並列ライン１６に接続される。スイッチ１３，１
４はすべて、スイッチ制御装置１７に更に接続される。
【００３７】第１の並列ライン１５は差動アンプ１８の
負入力へ、第２の並列ライン１６がその正入力へ供給さ
れる。差動アンプ１８のアナログ出力信号Ｓはアナログ
／ディジタルコンバータ１９に供給される。Ａ／Ｄコン
バータ１９の出力及びさらにスイッチ制御装置１７は、
出力２１を有するマイクロプロセッサ２０に接続され
る。
負入力へ、第２の並列ライン１６がその正入力へ供給さ
れる。差動アンプ１８のアナログ出力信号Ｓはアナログ
／ディジタルコンバータ１９に供給される。Ａ／Ｄコン
バータ１９の出力及びさらにスイッチ制御装置１７は、
出力２１を有するマイクロプロセッサ２０に接続され
る。
【００３８】センサ素子１１の各信号出力６は、スイッ
チ１３，１４によりスイッチ制御装置１７によって選択
的に切り替えられ、正確に２つの並列ライン１５，１６
の１つ切り替えられる。このように、各場合に、２つの
並列ライン１５，１６の一方に切り替えられるセンサ素
子の信号は合計され、合計された信号を形成する。多素
子光センサ５は、指示Ｘ、Ｙ及びＺとのセンサ素子１１
の印によって、図２に従って図３で特徴づけられる３つ
のセンサ領域をそれぞれ有しているので、３つのセンサ
領域の異なる２つのセンサ素子の出力信号は、２つのラ
イン１５，１６の少なくとも１つに供給されなければな
らない。
チ１３，１４によりスイッチ制御装置１７によって選択
的に切り替えられ、正確に２つの並列ライン１５，１６
の１つ切り替えられる。このように、各場合に、２つの
並列ライン１５，１６の一方に切り替えられるセンサ素
子の信号は合計され、合計された信号を形成する。多素
子光センサ５は、指示Ｘ、Ｙ及びＺとのセンサ素子１１
の印によって、図２に従って図３で特徴づけられる３つ
のセンサ領域をそれぞれ有しているので、３つのセンサ
領域の異なる２つのセンサ素子の出力信号は、２つのラ
イン１５，１６の少なくとも１つに供給されなければな
らない。
【００３９】図３で示されたスイッチ１３，１４の位置
において、センサ領域Ｘ及びＺのセンサ素子１１の信号
が並列ライン１５に供給され、センサ領域Ｙのセンサ素
子１１の信号は、並列ライン１６に供給される。差動ア
ンプ１８の負入力は、このように両方のセンサ領域Ｘ及
びＺのセンサ素子１１の信号の合計を表わす信号を受け
取る。対応して、センサ領域Ｙのセンサ素子１１の信号
が並列ライン１６を介して差動アンプ１８の正入力に供
給され、合計信号が形成される。
において、センサ領域Ｘ及びＺのセンサ素子１１の信号
が並列ライン１５に供給され、センサ領域Ｙのセンサ素
子１１の信号は、並列ライン１６に供給される。差動ア
ンプ１８の負入力は、このように両方のセンサ領域Ｘ及
びＺのセンサ素子１１の信号の合計を表わす信号を受け
取る。対応して、センサ領域Ｙのセンサ素子１１の信号
が並列ライン１６を介して差動アンプ１８の正入力に供
給され、合計信号が形成される。
【００４０】図２に示されるように、例えばセンサ領域
Ｙ中でのみ多素子光センサ５が受信光ビーム１０によっ
て照らされる場合、差動アンプ１８は正出力信号ＳをＡ
／Ｄコンバータ１９に供給する。Ａ／Ｄコンバータ１９
によるデジタル化の後に、この信号は、例えば、マイク
ロプロセッサ２０でさらに処理され、閾値を備えた信号
の比較の後にその出力２１で品物検出信号を生成する。
Ｙ中でのみ多素子光センサ５が受信光ビーム１０によっ
て照らされる場合、差動アンプ１８は正出力信号ＳをＡ
／Ｄコンバータ１９に供給する。Ａ／Ｄコンバータ１９
によるデジタル化の後に、この信号は、例えば、マイク
ロプロセッサ２０でさらに処理され、閾値を備えた信号
の比較の後にその出力２１で品物検出信号を生成する。
【００４１】そこで、今、被監視領域内における品物の
センサ１からの参照間隔Ｄ'に図１の配置に従って図３
で示されるセンサ１を校正することができるようにな
る。このように、被監視領域への前景及び背景は、セン
サが、それらの間に位置する目的ゾ−ン内の品物に単に
反応するように連続測定中で混合されることになってい
る。この目的のために、参照品物９’は、センサ１から
の所望の参照距離で被監視領域中にて設けられている。
参照品物９’が例えば、図２で示される受信光ビーム１
０での多素子光センサの照明に帰着するビ−ム角αで、
受信光ビーム１０として送信光ビーム８を反射する場
合、図２及び３に示されるセンサ領域Ｘ、Ｙ及びＺ中へ
の多素子の光センサ５のセンサ素子１１の分割部分は正
確に適切になる。したがって、この分割部分は制御評価
ユニット７によって認識され、校正設定として保持され
なければならない。
センサ１からの参照間隔Ｄ'に図１の配置に従って図３
で示されるセンサ１を校正することができるようにな
る。このように、被監視領域への前景及び背景は、セン
サが、それらの間に位置する目的ゾ−ン内の品物に単に
反応するように連続測定中で混合されることになってい
る。この目的のために、参照品物９’は、センサ１から
の所望の参照距離で被監視領域中にて設けられている。
参照品物９’が例えば、図２で示される受信光ビーム１
０での多素子光センサの照明に帰着するビ−ム角αで、
受信光ビーム１０として送信光ビーム８を反射する場
合、図２及び３に示されるセンサ領域Ｘ、Ｙ及びＺ中へ
の多素子の光センサ５のセンサ素子１１の分割部分は正
確に適切になる。したがって、この分割部分は制御評価
ユニット７によって認識され、校正設定として保持され
なければならない。
【００４２】この目的のために、マイクロプロセッサ２
０は、スイッチ制御装置１７によって引き起こされたス
イッチ１３，１４の異なる位置で、Ａ／Ｄコンバータ１
９によってディジタル化された差動アンプ１８の出力信
号を見つけて評価することにおいて、最初に、各センサ
素子１１の出力信号を検出する。評価が起こった後、マ
イクロプロセッサ２０は、連続測定のための３つのセン
サ領域Ｘ、Ｙ及びＺへのセンサ素子１１の同様に示され
た分割部分に相当する図３で示された位置にスイッチ１
３，１４を設定するように、スイッチ制御装置１７に正
確に命じる。したがって、多素子光センサ５のこの分割
部分は、連続測定のための校正設定を形成する。
０は、スイッチ制御装置１７によって引き起こされたス
イッチ１３，１４の異なる位置で、Ａ／Ｄコンバータ１
９によってディジタル化された差動アンプ１８の出力信
号を見つけて評価することにおいて、最初に、各センサ
素子１１の出力信号を検出する。評価が起こった後、マ
イクロプロセッサ２０は、連続測定のための３つのセン
サ領域Ｘ、Ｙ及びＺへのセンサ素子１１の同様に示され
た分割部分に相当する図３で示された位置にスイッチ１
３，１４を設定するように、スイッチ制御装置１７に正
確に命じる。したがって、多素子光センサ５のこの分割
部分は、連続測定のための校正設定を形成する。
【００４３】連続測定では、校正設定はそれにセンサ１
から基準となる参照間隔Ｄ'で品物９が被監視領域内に
位置する場合、有効とされたスイッチ１３，１４の設定
結果として差動アンプ１８で、最大の可能な正出力信号
Ｓが読み出される。対照的に、品物９が被監視領域内の
センサ１からの異なる距離Ｄに位置する場合、センサ１
の校正設定が基準値と異なるビ−ム角α及びビーム偏向
Ａは発生する。この場合もはや多素子光センサ５の照明
がセンサ領域Ｙ中で実質的に起こらないので、図２の表
現とは対照的に、差動アンプ１８はスイッチ１３，１４
の位置が保持されるという仮定で正又は負出力信号Ｓを
供給する。
から基準となる参照間隔Ｄ'で品物９が被監視領域内に
位置する場合、有効とされたスイッチ１３，１４の設定
結果として差動アンプ１８で、最大の可能な正出力信号
Ｓが読み出される。対照的に、品物９が被監視領域内の
センサ１からの異なる距離Ｄに位置する場合、センサ１
の校正設定が基準値と異なるビ−ム角α及びビーム偏向
Ａは発生する。この場合もはや多素子光センサ５の照明
がセンサ領域Ｙ中で実質的に起こらないので、図２の表
現とは対照的に、差動アンプ１８はスイッチ１３，１４
の位置が保持されるという仮定で正又は負出力信号Ｓを
供給する。
【００４４】被監視領域に位置した品物９のセンサ１か
らの距離Ｄに関する差動アンプ１８の出力信号Ｓの依存
性は、図３に示すスイッチ１３，１４の位置に対し図４
（ａ）で示されるプロット２２によって与えられる。品
物９が参照間隔Ｄ'に位置する場合、つまり多素子光セ
ンサ５が受信光ビーム１０によってセンサ領域Ｙ中で照
らされる場合、出力信号Ｓが最大の値を伝えるという事
実は、この信号プロット２２から推定できる。
らの距離Ｄに関する差動アンプ１８の出力信号Ｓの依存
性は、図３に示すスイッチ１３，１４の位置に対し図４
（ａ）で示されるプロット２２によって与えられる。品
物９が参照間隔Ｄ'に位置する場合、つまり多素子光セ
ンサ５が受信光ビーム１０によってセンサ領域Ｙ中で照
らされる場合、出力信号Ｓが最大の値を伝えるという事
実は、この信号プロット２２から推定できる。
【００４５】更に、多素子光センサ５が、参照ビーム偏
向Ｄ'の１つの側に受信光ビームによって明白に照らさ
れる場合、差動アンプ１８の出力が負の値Ｓを伝えるこ
とは信号プロット２２から分かる。この関係を示すため
に、センサ領域ＸＹ及びＺの近似の位置は図４（ａ）で
示される。図４（ａ）は図３で示される、それに信号プ
ロット２２が基づいたスイッチ１３，１４の位置がセン
サ領域Ｘ及びＺに従って被監視領域の前景及び背景をそ
れぞれ電子的に混合する単純な方法で使用できることを
明らかにする。この目的のために、差動アンプ１８の出
力信号Ｓが図４（ａ）に示された閾値２３を越える場
合、マイクロプロセッサ２０はその出力２１で例えば単
に品物検出信号を生成する。したがって、センサ領域Ｙ
に対応する被監視領域の目的ゾ−ンに位置する品物だけ
が、品物検出信号のトリガを引き起こすことができる。
向Ｄ'の１つの側に受信光ビームによって明白に照らさ
れる場合、差動アンプ１８の出力が負の値Ｓを伝えるこ
とは信号プロット２２から分かる。この関係を示すため
に、センサ領域ＸＹ及びＺの近似の位置は図４（ａ）で
示される。図４（ａ）は図３で示される、それに信号プ
ロット２２が基づいたスイッチ１３，１４の位置がセン
サ領域Ｘ及びＺに従って被監視領域の前景及び背景をそ
れぞれ電子的に混合する単純な方法で使用できることを
明らかにする。この目的のために、差動アンプ１８の出
力信号Ｓが図４（ａ）に示された閾値２３を越える場
合、マイクロプロセッサ２０はその出力２１で例えば単
に品物検出信号を生成する。したがって、センサ領域Ｙ
に対応する被監視領域の目的ゾ−ンに位置する品物だけ
が、品物検出信号のトリガを引き起こすことができる。
【００４６】センサ領域Ｘ及びＹのセンサ素子１１が第
１の並列ライン１５の上に切り替えられ、センサ領域Ｚ
のセンサ素子１１が第２の並列ライン１６の上に切り替
えられるように、図３に示されるスイッチ１３，１４の
位置が変更される場合、センサ領域Ｘ及びＹは単一の共
通のセンサ領域を単に形成する。この場合、多素子光セ
ンサＳのセンサ素子１１は、２つの識別可能なセンサ領
域、すなわちセンサ領域Ｘ、Ｙ、センサ領域Ｚへ細分さ
れるだけである。
１の並列ライン１５の上に切り替えられ、センサ領域Ｚ
のセンサ素子１１が第２の並列ライン１６の上に切り替
えられるように、図３に示されるスイッチ１３，１４の
位置が変更される場合、センサ領域Ｘ及びＹは単一の共
通のセンサ領域を単に形成する。この場合、多素子光セ
ンサＳのセンサ素子１１は、２つの識別可能なセンサ領
域、すなわちセンサ領域Ｘ、Ｙ、センサ領域Ｚへ細分さ
れるだけである。
【００４７】上述されたスイッチ位置に対応する被監視
領域に位置した品物９のセンサ１からの距離Ｄの差動ア
ンプ１８の出力信号Ｓの依存性、すなわち距離Ｄに対応
するビーム偏向Ａの依存性は、図４（ｂ）の概略的プロ
ット２４から分かる。ビーム偏向Ａが２つのセンサ領域
Ｘ及びＹ内に実質的に位置する限り、差動アンプ１８は
負出力信号Ｓを伝える。対照的に、ビーム偏向Ａがセン
サ領域Ｚ内に実質的に位置する場合、差動アンプ１８は
正出力信号Ｓを供給する。従って、このスイッチ位置
で、閾値の信号Ｓの比較を参照して、ゾ−ン、すなわち
被監視領域の前景、背景は非常に単純な方法で混合され
得る。
領域に位置した品物９のセンサ１からの距離Ｄの差動ア
ンプ１８の出力信号Ｓの依存性、すなわち距離Ｄに対応
するビーム偏向Ａの依存性は、図４（ｂ）の概略的プロ
ット２４から分かる。ビーム偏向Ａが２つのセンサ領域
Ｘ及びＹ内に実質的に位置する限り、差動アンプ１８は
負出力信号Ｓを伝える。対照的に、ビーム偏向Ａがセン
サ領域Ｚ内に実質的に位置する場合、差動アンプ１８は
正出力信号Ｓを供給する。従って、このスイッチ位置
で、閾値の信号Ｓの比較を参照して、ゾ−ン、すなわち
被監視領域の前景、背景は非常に単純な方法で混合され
得る。
【００４８】図４（ａ）と４（ｂ）によって示された混
合の可能性は、単独でマイクロプロセッサ２０によるス
イッチ制御装置１７への命令に関係がある。スイッチ制
御装置１７への様々なスキーム及び命令はマイクロプロ
セッサ２０に格納でき、要求された時読み出される。し
たがって、図３に示される制御評価ユニットは、品物９
の認識に関して、及び被監視領域内の異なるゾ−ンから
の電子的に混じることに関して非常に柔軟である。異な
る校正によって、センサは被監視領域の温帯に反応す
る。特別の応用に合った校正は機械的な影響を及ぼさず
に、自動的に純粋に電子的に実行できる。
合の可能性は、単独でマイクロプロセッサ２０によるス
イッチ制御装置１７への命令に関係がある。スイッチ制
御装置１７への様々なスキーム及び命令はマイクロプロ
セッサ２０に格納でき、要求された時読み出される。し
たがって、図３に示される制御評価ユニットは、品物９
の認識に関して、及び被監視領域内の異なるゾ−ンから
の電子的に混じることに関して非常に柔軟である。異な
る校正によって、センサは被監視領域の温帯に反応す
る。特別の応用に合った校正は機械的な影響を及ぼさず
に、自動的に純粋に電子的に実行できる。
【００４９】センサ素子１１からの読み出し及び様々な
センサ領域へそれらの分割のために図３に示される制御
評価ユニット７つの配置は、さらに、図５で概略的に示
される構成に従って実行できる。この配置では、多素子
光センサ５のセンサ素子１１はすべてそれらのセンサ信
号出力６によって多重データ送信端末装置２５に接続さ
れている。多重データ送信端末装置２５は、Ａ／Ｄコン
バータ１９に接続され、それはマイクロプロセッサ２０
に順番に接続されている。
センサ領域へそれらの分割のために図３に示される制御
評価ユニット７つの配置は、さらに、図５で概略的に示
される構成に従って実行できる。この配置では、多素子
光センサ５のセンサ素子１１はすべてそれらのセンサ信
号出力６によって多重データ送信端末装置２５に接続さ
れている。多重データ送信端末装置２５は、Ａ／Ｄコン
バータ１９に接続され、それはマイクロプロセッサ２０
に順番に接続されている。
【００５０】多素子光センサ５のセンサ素子１１のうち
のセンサ信号出力６に印加された信号は多重データ送信
端末装置２５によって、適切な周波数で一度に時間順に
交代で読み込まれ、それらをＡ／Ｄコンバータ１９に渡
される。これは、信号の各々をディジタル化し、マイク
ロプロセッサ２０にディジタル化された形式でそれらを
渡す。
のセンサ信号出力６に印加された信号は多重データ送信
端末装置２５によって、適切な周波数で一度に時間順に
交代で読み込まれ、それらをＡ／Ｄコンバータ１９に渡
される。これは、信号の各々をディジタル化し、マイク
ロプロセッサ２０にディジタル化された形式でそれらを
渡す。
【００５１】したがって、すべてのセンサ素子の十分な
読み出しの後に、マイクロプロセッサ２０は、この時に
起こった図３に関して記述された方法に類似する異なる
信号の合計なしで、個々に利用可能な信号を生成してい
る。マイクロプロセッサ２０は個々に又は集団的にのい
ずれかの信号を評価できる。センサ１の校正調節が実行
される場合、マイクロプロセッサによる個々の信号の評
価は特に検出可能である。その後、異なるセンサ領域中
へのセンサ素子１１の分割部分が存在するように、図３
に関して記述された方法に類似して評価は実行される。
この配置では、センサ領域は、品物は検知でき又は故意
に検知できない被監視領域内のゾ−ンに再び対応する。
読み出しの後に、マイクロプロセッサ２０は、この時に
起こった図３に関して記述された方法に類似する異なる
信号の合計なしで、個々に利用可能な信号を生成してい
る。マイクロプロセッサ２０は個々に又は集団的にのい
ずれかの信号を評価できる。センサ１の校正調節が実行
される場合、マイクロプロセッサによる個々の信号の評
価は特に検出可能である。その後、異なるセンサ領域中
へのセンサ素子１１の分割部分が存在するように、図３
に関して記述された方法に類似して評価は実行される。
この配置では、センサ領域は、品物は検知でき又は故意
に検知できない被監視領域内のゾ−ンに再び対応する。
【００５２】その後、特に、被監視領域のゾ−ンに対応
するセンサ領域中へのセンサ素子１１の分割部分が既に
実行された場合、マイクロプロセッサ２０でセンサ素子
の信号の集合的な評価は実行される。この場合、センサ
領域のセンサ素子１１の信号は、例えば、得られた合計
値間の差分が形成され、閾値と比較できるように図３に
関して記述されたそれと類似した方法で加算される。し
たがって、マイクロプロセッサは、その出力２１で信号
を生成でき、それは、センサ１の被監視領域に品物が位
置するかどうかに関する記述又はこの品物が位置する被
監視領域のゾ−ンの記述に関係する。
するセンサ領域中へのセンサ素子１１の分割部分が既に
実行された場合、マイクロプロセッサ２０でセンサ素子
の信号の集合的な評価は実行される。この場合、センサ
領域のセンサ素子１１の信号は、例えば、得られた合計
値間の差分が形成され、閾値と比較できるように図３に
関して記述されたそれと類似した方法で加算される。し
たがって、マイクロプロセッサは、その出力２１で信号
を生成でき、それは、センサ１の被監視領域に品物が位
置するかどうかに関する記述又はこの品物が位置する被
監視領域のゾ−ンの記述に関係する。
【００５３】各場合では、マイクロプロセッサ２０は、
信号の評価において順番に非常に柔軟である。それは、
自己適合論理を単純な方法で供給され、これは例えば自
動的校正設定を支援し、望まれない結果に関係のある時
間方向の信号の遅い変更を認識することができる。
信号の評価において順番に非常に柔軟である。それは、
自己適合論理を単純な方法で供給され、これは例えば自
動的校正設定を支援し、望まれない結果に関係のある時
間方向の信号の遅い変更を認識することができる。
【図１】 本発明によるセンサの原理を示す図。
【図２】 本発明による受信光ビームによって照らされ
た多素子光センサのセンサ素子の好ましい配置の概要を
示す図。
た多素子光センサのセンサ素子の好ましい配置の概要を
示す図。
【図３】 本発明によるセンサ素子の並列の読み出しを
備えたセンサを示す図。
備えたセンサを示す図。
【図４】 センサ素子の信号を処理する本発明によるセ
ンサの制御評価ユニットの手段の出力信号の主要な形を
示すグラフ。
ンサの制御評価ユニットの手段の出力信号の主要な形を
示すグラフ。
【図５】 本発明によるセンサ素子の連続する読み出し
を備えたセンサの原理を示す図。
を備えたセンサの原理を示す図。
１ センサ ２ 光送信器 ３ 送信光学系 ４ 受信光学系 ５ 光センサ又は多素子光センサ ６ センサ信号出力 ７ 制御評価ユニット ８ 送信光ビーム ９ 品物 ９' 参照品物 １０ 受信光ビーム １１ センサ素子 １２ 受信光ビームの断面 １３ 第１スイッチ １４ 第２スイッチ １５ 第１の並列ライン １６ 第２の並列ライン １７ スイッチ制御装置 １８ 差動アンプ １９ アナログ／ディジタルコンバータ ２０ マイクロプロセッサ ２１ マイクロプロセッサの出力 ２２ 信号プロット ２３ 閾値 ２４ 信号プロット ２５ 多重データ送信端末装置 Ａ ビーム偏向 Ａ' 参照ビーム偏向 α ビ−ム角 Ｄ センサ１からの品物９の距離 Ｄ' 参照間隔 Ｓ 差動アンプ１８の出力信号 ｘ、ｙ、ｚ センサ範囲
Claims (23)
- 【請求項１】 被監視領域へ送信光ビーム（８）を送信
する光送信器（２）及び受信光ビーム（１０）を受信す
る光受信器を有し、受信光ビームが被監視領域中にて品
物（９、９'）から光受信器の方向に反射された送信光
によって形成され、受信光ビーム（１０）がセンサ
（１）からの品物（９、９'）の間隔に依存して送信光
ビーム（８）に対し可変ビ−ム角にあり、光受信器の出
力信号を処理する制御評価ユニット（７）を有している
光電子センサ（１）であって、光受信器は異なるセンサ
素子（１１）がビ−ム角に依存して受信光ビーム（１
０）によって照らされるように互いに隣接して配置され
る少なくとも４つの独立したセンサ素子（１１）を有し
ている多素子光センサ（５）を有していることを特徴と
する光電子センサ。 - 【請求項２】 制御評価ユニット（７）は、多素子光セ
ンサ（５）のセンサ素子（１１）が、複数のセンサ領域
特に２又は３のセンサ領域中へ可変に細分できる手段を
有することを特徴とする請求項１記載の光電子センサ。 - 【請求項３】 多素子光センサ（５）は、センサ素子
（１１）の次元のない配置を有することを特徴とする請
求項１又は２記載の光電子センサ。 - 【請求項４】 センサ素子（１１）の数は数２の整数累
乗であり、特に８と１０２４の間にあることを特徴とす
る請求項１〜３のいずれか１に記載の光電子センサ。 - 【請求項５】 その光感応表面の平面中の少なくとも１
つの方向に沿ったセンサ素子（１１）の幾何学的な範囲
は、この方向に沿った受信光ビーム（１０）の幾何学的
な範囲より実質的に小さいことを特徴とする請求項１〜
４のいずれか１に記載の光電子センサ。 - 【請求項６】 多素子光センサ（５）の光感応表面の平
面中の少なくとも１つの方向に沿ったセンサ素子（１
１）の配置の幾何学的な範囲は、この方向に沿った受信
光ビーム（１０）の幾何学的な範囲より大きいことを特
徴とする請求項１〜５のいずれか１に記載の光電子セン
サ。 - 【請求項７】 多素子光センサ（５）は、特に一体的に
フォトダイオード行列を有していることを特徴とする請
求項１〜６のいずれか１に記載の光電子センサ。 - 【請求項８】 センサ（１）は、複数の独立のセンサ素
子（１１）とそれぞれ協働したアンプ及び／又はスイッ
チ（１３、１４）を含みかつ、それらは特に多素子光セ
ンサ（５）へ統合されていることを特徴とする請求項１
〜７のいずれか１に記載の光電子センサ。 - 【請求項９】 制御評価ユニット（７）は、センサ素子
（１１）の信号特にセンサ領域へ細分されたセンサ素子
（１１）の信号を並列に読み出す手段を含み、該手段は
特に複数の並列ライン（１５、１６）及び／又はスイッ
チ制御装置（１７）によって形成されていることを特徴
とする請求項１〜８のいずれか１に記載の光電子セン
サ。 - 【請求項１０】 第１及び第２スイッチ（１３、１４）
はそれぞれ各センサ素子（１１）と協働し、すべての第
１スイッチ（１３）は第１並列ライン（１５）に接続さ
れ、すべての第２スイッチ（１４）は第２並列ライン
（１６）に接続されていることを特徴とする請求項１〜
９のいずれか１に記載の光電子センサ。 - 【請求項１１】 各場合においては、第３スイッチが各
センサ素子（１１）と協働し、３つのスイッチすべてが
第３の並列ラインに接続されていることを特徴とする請
求項１０記載の光電子センサ。 - 【請求項１２】 センサ素子は（１１）、第１、第２又
は第３のスイッチ（１３、１４）によって接続され、各
々の素子はセンサ領域を形成することを特徴とする請求
項１０または１１記載の光電子センサ。 - 【請求項１３】 制御評価ユニット（７）は、センサ素
子（１１）の信号の連続読み出しする手段、特に多重デ
ータ送信端末装置（２５）を含んでいることを特徴とす
る請求項１〜１２のいずれか１に記載の光電子センサ。 - 【請求項１４】 制御評価ユニット（７）はセンサ素子
（１１）の信号の合計を成形する手段を有し、合計形成
は１つ以上のセンサ領域のセンサ素子（１１）の信号を
介して、及び／又は、共通の並列ライン（１５、１６）
に切り替えることにより、及び／又はマイクロプロセッ
サ（２０）によって、実行されることを特徴とする請求
項１〜１３のいずれか１に記載の光電子センサ。 - 【請求項１５】 制御評価ユニット（７）は、センサ素
子（１１）の信号間の、又はセンサ素子（１１）の信号
の合計間の差分を形成する手段（１８）を含んでいるこ
とを特徴とする請求項１〜１４のいずれか１に記載の光
電子センサ。 - 【請求項１６】 制御評価ユニット（７）はセンサ素子
（１１）の信号の合計間の差分が定義された閾値（２
３）より小さい及び／又は同じ及び／又は大きい場合、
品物認識信号を生成できる手段を有し、合計形成は１つ
以上のセンサ領域のセンサ素子（１１）の信号を介して
実行されることを特徴とする請求項１〜１５のいずれか
１に記載の光電子センサ。 - 【請求項１７】 制御評価ユニット（７）は、センサ素
子（１１）の信号の合計間の差分が定義された閾値（２
３）を囲んだ許容差の内部又は外部にある場合、品物認
識信号を生成できる手段を有し、合計形成は１つ以上の
センサ領域のセンサ素子（１１）の信号を介して実行さ
れることを特徴とする請求項１〜１６のいずれか１に記
載の光電子センサ。 - 【請求項１８】 制御評価ユニット（７）は、センサ素
子（１１）の信号及び／又はセンサ素子（１１）の信号
の合計又は差分をデジタル化する手段（１９）を含んで
いることを特徴とする請求項１〜１７のいずれか１に記
載の光電子センサ。 - 【請求項１９】 制御評価ユニット（７）は、センサ素
子（１１）の信号の並列又は連続する読み出しの制御、
及び／又はセンサ素子（１１）の信号の処理、及び／又
はセンサ領域へのセンサ素子（１１）の分割部分の特定
をなすマイクロプロセッサ（２０）を含み、マイクロプ
ロセッサ（２０）は変更された適用条件に自己適合でき
る論理プログラムを有していることを特徴とする請求項
１〜１８のいずれか１に記載の光電子センサ。 - 【請求項２０】 制御評価ユニット（７）は、被監視領
域内に位置した参照品物（９'）のセンサ（１）からの
参照間隔の手動及び／又は自動的な校正設定をなす手段
を有し、複数特に２又は３のセンサ領域中への多素子光
センサ（５）のセンサ素子（１１）の分割が校正を設定
することによって実行されることを特徴とする請求項１
〜１９のいずれか１に記載の光電子センサ。 - 【請求項２１】 多素子光センサ（５）の異なるセンサ
領域のセンサ素子（１１）の信号が被監視領域内に位置
した品物（９、９'）のセンサ（１）からの一定の参照
間隔でゆっくり時間に沿って変化する場合、制御評価ユ
ニット（７）は、閾値（２３）の特定、及び／又はセン
サ領域中への多素子光センサ（５）のセンサ素子（１
１）の分割部分が自動的に適応できる手段を含んでいる
ことを特徴とする請求項１〜２０のいずれか１に記載の
光電子センサ。 - 【請求項２２】 光送信器（２）はパルス状の光信号の
送信のために形成され、センサ（１）はパルス状の光信
号でセンサ素子（１１）の信号の読み出しの同期をなす
手段を有することを特徴とする請求項１〜２１のいずれ
か１に記載の光電子センサ。 - 【請求項２３】 センサ領域中への可変分割部分は、拡
散及び反射した反射を識別するため、特に両方のタイプ
の反射が存在することを認識するために使用され、その
結果、拡散したタイプだけの反射は更なる処理に対する
所望の信号値として使用される請求項１〜２２のいずれ
か１に記載の光電子センサの使用方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE197211054 | 1997-05-20 | ||
| DE19721105A DE19721105C5 (de) | 1997-05-20 | 1997-05-20 | Opto-eletronischer Sensor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10332326A true JPH10332326A (ja) | 1998-12-18 |
| JP4219442B2 JP4219442B2 (ja) | 2009-02-04 |
Family
ID=7829997
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13802398A Expired - Lifetime JP4219442B2 (ja) | 1997-05-20 | 1998-05-20 | 光電子センサ |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6157040A (ja) |
| JP (1) | JP4219442B2 (ja) |
| CH (1) | CH693549A5 (ja) |
| DE (1) | DE19721105C5 (ja) |
| FR (1) | FR2763699B1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002162595A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Olympus Optical Co Ltd | ガルバノミラー |
| JP2005251795A (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-15 | Casio Comput Co Ltd | 発光ダイオードを備えた光源及びそれを用いた測距装置 |
| JP2011163901A (ja) * | 2010-02-09 | 2011-08-25 | Sharp Corp | 光学式測距センサおよび電子機器 |
Families Citing this family (54)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19964539B4 (de) * | 1998-03-17 | 2012-10-04 | Leuze Electronic Gmbh & Co. Kg | Optoelektronische Vorrichtung zum Erfassen von Objekten |
| DE10001017B4 (de) * | 1999-01-13 | 2004-02-26 | Ifm Electronic Gmbh | Optoelektronischer Sensor, insbesondere Reflexlichttaster |
| DE19917509C1 (de) * | 1999-04-17 | 2000-05-25 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Optoelektronische Vorrichtung |
| SE9901510D0 (sv) * | 1999-04-27 | 1999-04-27 | Siemens Elema Ab | Breathing gas supply apparatus |
| CH695028A5 (de) * | 1999-12-24 | 2005-11-15 | Hera Rotterdam Bv | Optoelektronischer Distanzsensor und Verfahren zur optoelektronischen Distanzmessung. |
| EP2261695B1 (en) * | 2000-01-14 | 2012-07-04 | Keyence Corporation | Photoelectric switch device |
| US6400460B1 (en) | 2000-04-10 | 2002-06-04 | Honeywell International Inc. | Multifunction optical sensor with variable detection threshold and noise suppression |
| DE10025897B4 (de) * | 2000-05-25 | 2004-07-15 | Sick Ag | Verfahren zum Betreiben einer optoelektronischen Sensoranordnung und optoelektronische Sensoranordnung |
| DE10059156A1 (de) | 2000-11-29 | 2002-06-06 | Sick Ag | Abstandsbestimmung |
| DE10114784A1 (de) * | 2001-03-26 | 2002-10-10 | Sick Ag | Vorrichtung zur Überwachung eines Schutzfeldes |
| DE10138609B4 (de) | 2001-08-07 | 2005-02-17 | Sick Ag | Überwachungsverfahren und optoelektronischer Sensor |
| US20030226968A1 (en) * | 2002-06-10 | 2003-12-11 | Steve Montellese | Apparatus and method for inputting data |
| DE10229408B4 (de) * | 2002-06-29 | 2006-09-07 | Leuze Electronic Gmbh & Co Kg | Optischer Sensor |
| DE10231178B4 (de) * | 2002-07-10 | 2008-12-04 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor |
| DE10312972B3 (de) | 2003-03-24 | 2004-06-24 | Leuze Lumiflex Gmbh + Co. Kg | Optischer Sensor |
| DE10313194B4 (de) * | 2003-03-25 | 2006-07-20 | Leuze Lumiflex Gmbh + Co. Kg | Optoelektronische Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung von Objekten mittels eines optischen Sensors |
| US10148897B2 (en) * | 2005-07-20 | 2018-12-04 | Rearden, Llc | Apparatus and method for capturing still images and video using coded lens imaging techniques |
| DE102006005357B4 (de) * | 2005-10-26 | 2008-07-31 | Sensopart Industriesensorik Gmbh | Verfahren zur Auswertung eines ortsauflösenden optoelektronischen Sensorsystems sowie Sensorsystem |
| DE102006049905B4 (de) * | 2006-10-23 | 2010-07-15 | Pepperl + Fuchs Gmbh | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zu dessen Betrieb |
| DE102006056648A1 (de) * | 2006-11-29 | 2008-06-05 | Sick Ag | Opto-elektronischer Sensor |
| JP5072336B2 (ja) | 2006-12-07 | 2012-11-14 | 株式会社キーエンス | 光学式変位センサ及び光学式変位計 |
| US7623230B2 (en) * | 2007-10-23 | 2009-11-24 | Nokia Corporation | Optical sensor calibration |
| DE202007014849U1 (de) | 2007-10-24 | 2008-01-17 | Pepperl + Fuchs Gmbh | Optoelektronischer Sensor zum Nachweis von Objekten in einem Überwachungsbereich |
| DE102007052700A1 (de) | 2007-11-06 | 2009-05-07 | Micas Ag | Verfahren und Anordnung zur Identifikation von Szenen in einem Erfassungsraum |
| ATE533070T1 (de) | 2008-09-01 | 2011-11-15 | Sick Ag | Objektfeststellungsverfahren und objektfeststellungssensor |
| DE102008061035C5 (de) | 2008-12-08 | 2013-09-05 | Sick Ag | Verfahren und optischer Sensor zur Erfassung von Objekten |
| DE102010038186A1 (de) | 2010-10-14 | 2012-04-19 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor mit Linienanordnung von Einzelemittern |
| EP2676154A1 (en) | 2011-02-15 | 2013-12-25 | Datalogic IP TECH S.r.l. | Method and device for detecting an object with background suppression |
| DE102011000857A1 (de) * | 2011-02-21 | 2012-08-23 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten |
| DE102011000855A1 (de) | 2011-02-21 | 2012-08-23 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten |
| US10488535B2 (en) | 2013-03-12 | 2019-11-26 | Rearden, Llc | Apparatus and method for capturing still images and video using diffraction coded imaging techniques |
| DE202013105533U1 (de) | 2013-12-05 | 2015-03-10 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor |
| DE102014105746C5 (de) | 2013-12-05 | 2020-12-24 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung glänzender Objekte |
| DE102013114325B4 (de) | 2013-12-18 | 2020-09-10 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung glänzender Objekte |
| DE102014007036B4 (de) * | 2014-05-13 | 2017-07-27 | Diehl Ako Stiftung & Co. Kg | Bedienvorrichtung, insbesondere für ein elektronisches Haushaltsgerät |
| DE202014103068U1 (de) | 2014-07-03 | 2015-10-12 | Sick Ag | Sensor zur ortsgenauen Detektion eines relativ zum Sensor in eine Förderrichtung geförderten Objekts |
| EP2963444B1 (de) | 2014-07-03 | 2019-08-28 | Sick Ag | Sensor und Verfahren zur ortsgenauen Detektion eines relativ zum Sensor in einer Förderrichtung geförderten Objekts |
| DE102015116368A1 (de) * | 2015-09-28 | 2017-03-30 | Sick Ag | Verfahren zur Detektion eines Objekts |
| DE102015119668B3 (de) | 2015-11-13 | 2017-03-09 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung eines Objekts |
| DE102016101269A1 (de) * | 2016-01-25 | 2017-07-27 | Balluff Gmbh | Optoelektronischer Multifunktionssensor und Verfahren zu seinem Betrieb |
| CN109075785B (zh) * | 2016-03-21 | 2022-04-15 | 迪尔阿扣基金两合公司 | 操作装置、特别是用于电子家用设备的操作装置 |
| SI3440773T1 (sl) * | 2016-04-07 | 2023-04-28 | Diehl Ako Stiftung & Co. Kg | Krmilna naprava operaterja, zlasti za gospodinjski aparat |
| CN109923342B (zh) * | 2016-11-10 | 2021-08-24 | 赛峰座椅美国有限责任公司 | 同心视频臂枢轴机构 |
| DE102017203215B4 (de) | 2017-02-28 | 2022-01-27 | Ifm Electronic Gmbh | Optoelektronischer Sensor zur Detektion eines Objekts in einem Überwachungsbereich |
| DE102017106380B4 (de) | 2017-03-24 | 2021-10-07 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zum Erfassen von Objekten |
| DE102017107666A1 (de) | 2017-04-10 | 2018-10-11 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung eines Objekts |
| DE102017118083B4 (de) | 2017-08-09 | 2022-11-24 | Sick Ag | Sensor zur Erfassung eines Objekts und Verfahren zum Einstellen eines Schaltpunktes |
| FR3071356B1 (fr) * | 2017-09-21 | 2020-11-13 | Safran Electronics & Defense | Dispositif de detection et de localisation comprenant une pluralite de photodiodes |
| DE102019124266A1 (de) * | 2019-09-10 | 2021-03-11 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zum Erfassen von Objekten in einem Überwachungsbereich |
| US11521328B2 (en) | 2019-10-16 | 2022-12-06 | Banner Engineering Corp | Image-based jam detection |
| DE102021119423A1 (de) | 2021-07-27 | 2023-02-02 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung eines Objekts nach dem Prinzip der Triangulation |
| DE102021130058A1 (de) | 2021-11-17 | 2023-05-17 | Pepperl+Fuchs Se | Triangulationssensor und verfahren zum auswerten von mess-daten eines triangulationssensors |
| EP4202494B1 (de) | 2021-12-21 | 2024-01-31 | Sick Ag | Optische erfassung eines objekts nach dem triangulationsprinzip |
| DE102022101680B4 (de) | 2022-01-25 | 2023-09-21 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zum Erfassen eines Objekts |
Family Cites Families (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT301331B (de) * | 1968-11-25 | 1972-08-25 | Eumig | Einrichtung zur Entfernungsmessung |
| JPS54154351A (en) * | 1978-05-25 | 1979-12-05 | Canon Inc | Distance measuring device |
| JPS58113807A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-06 | Canon Inc | 距離測定装置 |
| US4490037A (en) * | 1982-08-18 | 1984-12-25 | Eastman Kodak Company | Image sensor and rangefinder device having background subtraction with bridge network |
| US4701048A (en) * | 1983-02-23 | 1987-10-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Input circuit for distance measuring apparatus |
| DE3506304C1 (de) * | 1985-02-22 | 1986-04-10 | Harms, Paul G., 6253 Hadamar | Optoelektronischer Messempfaenger und Verfahren zum Steuern des optoelektronischen Messempfaengers |
| DE3513671C3 (de) * | 1985-04-16 | 1995-03-23 | Sick Optik Elektronik Erwin | Lichttaster |
| US4920260A (en) * | 1988-08-30 | 1990-04-24 | Msc Technologies, Inc. | Detector system for optical mouse |
| DE4017485A1 (de) * | 1990-05-31 | 1991-12-05 | Thomson Brandt Gmbh | Verfahren zur kompensation des offsets eines photodetektors |
| DE4040225C2 (de) * | 1990-12-15 | 1994-01-05 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Reflexions-Lichttaster |
| US5245398A (en) * | 1991-06-21 | 1993-09-14 | Eastman Kodak Company | Time-multiplexed multi-zone rangefinder |
| DE4204013A1 (de) * | 1992-02-12 | 1993-08-19 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Reflexionslichttaster |
| DE4311691C2 (de) * | 1993-04-08 | 1996-07-04 | Sick Erwin Gmbh | Verfahren zum Justieren eines Lichtabstandstasters und Lichtabstandstaster |
| DE69316354T2 (de) * | 1993-08-03 | 1998-04-30 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Verfahren und Gerät zur photoelektrischen Detektion |
| KR970011144B1 (ko) * | 1993-11-11 | 1997-07-07 | 엘지전자 주식회사 | 반도체 레이저를 이용한 센서 |
| PL175757B1 (pl) * | 1994-03-03 | 1999-02-26 | Geberit Technik Ag | Urządzenie do bezdotykowego sterowania instalacją sanitarną |
| DE4422497C2 (de) * | 1994-06-28 | 1996-06-05 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Vorrichtung und Verfahren zum optoelektronischen Erfassen von Gegenständen |
| DE29501836U1 (de) * | 1994-08-04 | 1995-03-30 | Leuze Electronic Gmbh + Co, 73277 Owen | Reflexions-Lichttaster |
| JP3254928B2 (ja) * | 1994-09-12 | 2002-02-12 | 日産自動車株式会社 | レーダ用位置検出センサおよびこれを用いたレーダ |
| DE19520242C2 (de) * | 1995-06-02 | 2002-07-18 | Abb Patent Gmbh | Vorrichtung zur Bewegungsmeldung mit mindestens einem optoelektrischen Sensor zur Erfassung von Lichtstrahlen aus einem zu überwachenden Raumbereich |
| DE19523843C1 (de) * | 1995-06-30 | 1997-01-02 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Verfahren zum Erfassen von Objekten in einem Überwachungsbereich und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| DE19964539B4 (de) * | 1998-03-17 | 2012-10-04 | Leuze Electronic Gmbh & Co. Kg | Optoelektronische Vorrichtung zum Erfassen von Objekten |
-
1997
- 1997-05-20 DE DE19721105A patent/DE19721105C5/de not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-05-12 CH CH01056/98A patent/CH693549A5/de not_active IP Right Cessation
- 1998-05-18 US US09/080,490 patent/US6157040A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-05-18 FR FR9806234A patent/FR2763699B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1998-05-20 JP JP13802398A patent/JP4219442B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002162595A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Olympus Optical Co Ltd | ガルバノミラー |
| JP2005251795A (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-15 | Casio Comput Co Ltd | 発光ダイオードを備えた光源及びそれを用いた測距装置 |
| JP2011163901A (ja) * | 2010-02-09 | 2011-08-25 | Sharp Corp | 光学式測距センサおよび電子機器 |
| US8390793B2 (en) | 2010-02-09 | 2013-03-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical ranging sensor and electronic equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2763699A1 (fr) | 1998-11-27 |
| JP4219442B2 (ja) | 2009-02-04 |
| US6157040A (en) | 2000-12-05 |
| DE19721105A1 (de) | 1998-11-26 |
| DE19721105C5 (de) | 2008-07-10 |
| CH693549A5 (de) | 2003-09-30 |
| FR2763699B1 (fr) | 2007-09-07 |
| DE19721105C2 (de) | 2002-11-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH10332326A (ja) | 光電子センサ | |
| RU2538418C2 (ru) | Оптический дальномер | |
| CN108627848B (zh) | 用于检测对象的光电传感器和方法 | |
| RU2602734C2 (ru) | Измерительное устройство для измерения расстояния между ним и целевым объектом с помощью измерительного оптического излучения | |
| JP7242849B2 (ja) | 再帰反射体のマッピングのための方法およびシステム | |
| CN109696688A (zh) | 用于光电传感器的发射-接收模块和检测对象的方法 | |
| US11275146B2 (en) | LIDAR system with non-uniform sensitivity response | |
| US4899041A (en) | Light sensor for detecting an object in a certain distance | |
| US20170082738A1 (en) | Method for propagation time calibration of a lidar sensor | |
| US20230213634A1 (en) | Method for calibrating and/or adjusting, and control unit for a lidar system, lidar system, and working device | |
| US20210173051A1 (en) | Optoelectronic sensor and method for detecting an object | |
| JP6873440B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH0670592B2 (ja) | コンパクト連続波波面センサー | |
| US6852991B2 (en) | Optoelectronic sensor with adjustable depth of field range | |
| EP1381881B1 (en) | System and method for optically sensing motion of objects | |
| EP1381880B1 (en) | Trainable laser optical sensing system for target characterisation | |
| CN110132227A (zh) | 三角测量光传感器 | |
| WO2001020361A1 (en) | Optical angle sensor for use in a position and/or attitude determination system | |
| JP4546047B2 (ja) | 光学距離測定デバイス | |
| WO2021126081A1 (en) | Lidar with multi-range channels | |
| WO2019131307A1 (ja) | 走査装置及び光検出装置 | |
| JP2004514917A (ja) | マルチプルレーザ光学検出システム及び方法 | |
| EP2881756B1 (en) | Active object detection sensor | |
| JPH09257417A (ja) | 受光装置 | |
| JP3319666B2 (ja) | エッジ検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050401 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070703 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20070925 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20070928 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071227 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080527 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080724 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081014 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081112 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111121 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111121 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121121 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121121 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131121 Year of fee payment: 5 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |