JPH10322401A - アイパターン測定装置及び方法 - Google Patents

アイパターン測定装置及び方法

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JPH10322401A
JPH10322401A JP12428897A JP12428897A JPH10322401A JP H10322401 A JPH10322401 A JP H10322401A JP 12428897 A JP12428897 A JP 12428897A JP 12428897 A JP12428897 A JP 12428897A JP H10322401 A JPH10322401 A JP H10322401A
Authority
JP
Japan
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eye pattern
quality information
line quality
signal
channel quality
Prior art date
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Pending
Application number
JP12428897A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukinori Sugishita
幸則 杉下
Hiroyuki Tamura
裕之 田村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Platforms Ltd
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
NEC AccessTechnica Ltd
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Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC AccessTechnica Ltd filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 アイパターンの観測と回線品質の定量的な測
定とを行う。 【解決手段】 回線から入力されたキャリア信号を復調
してアイパターン信号を出力するモデム部と、前記アイ
パターン信号に基づいて回線品質を示す回線品質情報を
算出するアイパターン解析部と、前記回線品質情報とア
イパターン信号とを合成して表示手段に出力するアイパ
ターン回線品質情報合成部とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アイパターン測定
装置及び方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】特開昭
57−33856号公報あるいは特開平6−32673
5号公報に記載された技術では、オシロスコープ等のア
イパターン表示装置ではアイパターンの観測しかできな
いために、定量的な回線品質を確認する手段としてはア
イパターン表示装置以外の手段を用いている。このよう
にオシロスコープ等のアイパターン表示装置では、アイ
パターンの観測は可能であるが、回線品質を定量的に測
定することができない。
【0003】本発明は、上述する問題点に鑑みてなされ
たものであり、アイパターンの観測と回線品質の定量的
な測定とを行うことが可能なアイパターン測定装置及び
方法の提供を目的としている。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、アイパターン測定装置に係わる手段として、回線か
ら入力されたキャリア信号を復調してアイパターン信号
を出力するモデム部と、前記アイパターン信号に基づい
て回線品質を示す回線品質情報を算出するアイパターン
解析部と、前記回線品質情報とアイパターン信号とを合
成して表示手段に出力するアイパターン回線品質情報合
成部とを具備する手段が採用される。
【0005】また、上記アイパターン測定装置に係わる
手段として、表示手段をオシロスコープとするという手
段が採用される。
【0006】アイパターン測定方法に係わる手段とし
て、回線から入力されたキャリア信号を復調して得られ
たアイパターン信号から回線の品質を示す回線品質情報
を取り出し、該回線品質情報をアイパターン信号に基づ
くアイパターンとともに文字情報として同一画面上に表
示するという手段が採用される。
【0007】また、上記アイパターン測定方法に係わる
手段として、回線品質情報はアイパターンとともにオシ
ロスコープに表示されるという手段が採用される。
【0008】
【作用】上記手段においては、アイパターン回線品質情
報合成部によってアイパターン信号が文字情報と合成さ
れてアイパターン表示装置に出力されるため、アイパタ
ーン信号に基づいてアイパターンを観測することができ
るばかりでなく、文字情報に基づいて回線品質を定量的
に確認することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明に
係わるアイパターン測定装置及び方法の一実施形態につ
いて説明する。
【0010】[1]構成の説明 まず、本実施形態の機能構成について、図1に示すブロ
ック図を参照して説明する。この図において、モデム部
1は、A/D変換回路と復調回路等から構成され、回線
から入力されたキャリア信号を復調してアイパターン信
号を取り出し、該アイパターン信号をアイパターン解析
部2とアイパターン回線品質情報合成部3に出力する。
【0011】アイパターン解析部2は、モデム部1から
出力される上記アイパターン信号から回線品質情報を算
出し、該回線品質情報をアイパターン回線品質情報合成
部3に出力する。ここで、アイパターン解析部2は、回
線品質情報として位相ジッタ、ゲインヒット、ドロップ
アウト、S/N等をアイパターン信号から算出し、該算
出の結果を文字情報としてアイパターン回線品質情報合
成部3に出力する。
【0012】アイパターン回線品質情報合成部3は、モ
デム部1から出力される上記アイパターン信号とアイパ
ターン解析部2から出力される上記回線品質情報とを合
成してアイパターン表示装置4に出力する。アイパター
ン表示装置4は、上記アイパターン回線品質情報合成部
3から入力されたアイパターン信号と回線品質情報とに
基づいて同一画面上にアイパターンと回線品質情報とを
表示する。
【0013】[2]動作の説明 次に、上記構成のアイパターン測定装置の動作につい
て、図2に示すタイミングチャートを参照して説明す
る。なお、このタイミングチャートは、アイパターン回
線品質情報合成部3における信号のタイミングを示すも
のである。
【0014】上述したようにモデム部1から入力された
アイパターン信号とアイパターン解析部2から入力され
た回線品質情報(文字情報)とに対して、アイパターン
回線品質情報合成部3では、この図に示すように、通
常、アイパターン信号のみが入力された場合にアイパタ
ーン表示装置4に一点を描画させるための単位時間を等
分し、該単位時間の前半をアイパターン信号に対する描
画に割り当て、後半を回線品質情報(文字情報)に対す
る描画に割り当てる。
【0015】そして、アイパターン回線品質情報合成部
3は、このようにして合成されたアイパターン信号と回
線品質情報(文字情報)とをアイパターン表示装置4に
出力し、アイパターンと回線品質情報(文字情報)とを
描画させる。図3は、その描画例を示す図であり、回線
品質情報が文字情報として描画されている。
【0016】なお、アイパターン信号と回線品質情報
(文字情報)の合成における時間割り当ては、上記の場
合(等分)に限定されるものではない。すなわち、アイ
パターン信号と回線品質情報(文字情報)との双方のデ
ータ量に応じて配分を決定することが考えられる。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係わるア
イパターン測定装置及び方法によれば、以下のような効
果を奏する。 (1)アイパターンと共に回線品質情報を文字情報とし
て同時に表示するので、アイパターンの観察と共に回線
品質を定量的に測定することが可能である。 (2)アイパターンと共に回線品質情報をオシロスコー
プに表示するので、既存の測定器であるオシロスコープ
を有効利用した回線品質の測定が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係わるアイパターン測定装置及び方
法の一実施形形態の機能構成を示すブロック図である。
【図2】 本発明に係わるアイパターン測定装置及び方
法の一実施形形態において、その動作を説明するための
タイミングチャートである。
【図3】 本発明に係わるアイパターン測定装置及び方
法の一実施形形態において、その表示例を示す平面図で
ある。
【符号の説明】
1……モデム部 2……アイパターン解析部 3……アイパターン回線品質情報合成部 4……アイパターン表示装置
フロントページの続き (72)発明者 田村 裕之 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気株 式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回線から入力されたキャリア信号を復調
    してアイパターン信号を出力するモデム部(1)と、 前記アイパターン信号に基づいて回線品質を示す回線品
    質情報を算出するアイパターン解析部(2)と、 前記回線品質情報とアイパターン信号とを合成して表示
    手段(4)に出力するアイパターン回線品質情報合成部
    (3)と、 を具備することを特徴とするアイパターン測定装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のアイパターン測定装置に
    おいて、表示手段がオシロスコープであることを特徴と
    するアイパターン測定装置。
  3. 【請求項3】 回線から入力されたキャリア信号を復調
    して得られたアイパターン信号から回線の品質を示す回
    線品質情報を取り出し、該回線品質情報をアイパターン
    信号に基づくアイパターンとともに文字情報として同一
    画面上に表示する、 ことを特徴とするアイパターン測定方法。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のアイパターン測定方法に
    おいて、回線品質情報はアイパターンとともにオシロス
    コープに表示されることを特徴とするアイパターン測定
    方法。
JP12428897A 1997-05-14 1997-05-14 アイパターン測定装置及び方法 Pending JPH10322401A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005036549A1 (en) * 2003-10-10 2005-04-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for measuring signal quality using eye pattern
KR100879942B1 (ko) 2002-02-16 2009-01-22 엘지전자 주식회사 채널품질지시자 코딩을 위한 기저수열 생성방법

Cited By (3)

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KR100879942B1 (ko) 2002-02-16 2009-01-22 엘지전자 주식회사 채널품질지시자 코딩을 위한 기저수열 생성방법
WO2005036549A1 (en) * 2003-10-10 2005-04-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for measuring signal quality using eye pattern
US7324903B2 (en) 2003-10-10 2008-01-29 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for measuring signal quality using eye pattern

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Effective date: 20000118