JPH10300676A - 微細欠陥検査装置 - Google Patents

微細欠陥検査装置

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JPH10300676A
JPH10300676A JP10631197A JP10631197A JPH10300676A JP H10300676 A JPH10300676 A JP H10300676A JP 10631197 A JP10631197 A JP 10631197A JP 10631197 A JP10631197 A JP 10631197A JP H10300676 A JPH10300676 A JP H10300676A
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inspection
defect
observation
microscope
fine
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JP10631197A
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English (en)
Inventor
Yoshitaka Shinomiya
由隆 四宮
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Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査作業の効率化及び合理化を図ることがで
き、ひいては検査処理量の増大及び検査作業エリアの省
スペース化を図る得る微細欠陥検査装置を提供する。 【解決手段】 カラーフィルタの微細欠陥を目視検査す
るための検査作業台10を備える。微細欠陥を拡大観察
するためのマイクロスコープ21を前後左右に自在に移
動して検査し得る欠陥拡大観察装置3が検査作業台10
に設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばカラーフィ
ルタ等のフィルムやシート等の検体の傷等の微細欠陥を
検査するための微細欠陥検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】薄膜トランジスタ駆動式液晶表示装置
(TFT−LCD)の構成部品の1つであるカラーフィ
ルタは、例えば、顔料分散式製造法にて製造される。こ
のカラーフィルタは製造されると、全品、検査工程にて
目視による欠陥の視認が行われる。
【0003】ところで、カラーフィルタに生じる欠陥の
大きさは、製品の性格上、数十μm程度である。このた
め、肉眼にて、その欠陥の大きさを十分に把握すること
は困難である。
【0004】そこで、従来から、欠陥検査においては、
最初に目視検査を行い、この目視検査にて欠陥があると
視認されたときには、市販されている大型基板用顕微鏡
を用いてこの欠陥を拡大観察するという手法が採用され
ている。
【0005】具体的には、カラーフィルタを所定の検査
エリアで目視検査した後、その場で例えばマジック等に
て○印を付ける等の方法で欠陥位置を記録する。次い
で、その○印を付したカラーフィルタを別の顕微鏡観察
エリアに持って行き、予め設置された光学顕微鏡の下に
そのカラーフィルタを置き、カラーフィルタを動かして
その欠陥位置が光学顕微鏡の対物レンズの直下となるよ
うにセットして観察する。そして、この欠陥が製品とし
て許容範囲内のものであるか否かを判定する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の微細欠陥の検査装置では、カラーフィルタを所定の
検査エリアで目視検査した後、欠陥位置を記録し、次い
で、別の顕微鏡観察エリアにて、光学顕微鏡をセットし
て観察するという作業が必要となる。
【0007】このため、目視検査エリアから顕微鏡設置
位置までカラーフィルタを運搬する必要があるので、検
査処理量の増大を図ることが困難であるという問題点を
有している。
【0008】本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされ
たものであって、その目的は、検査作業の効率化及び合
理化を図ることができ、ひいては検査処理量の増大及び
検査作業エリアの省スペース化を図り得る微細欠陥検査
装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明の微
細欠陥検査装置は、上記課題を解決するために、検体の
微細欠陥を目視検査するための検査作業台を備えた微細
欠陥検査装置において、上記微細欠陥を拡大観察するた
めの顕微鏡を前後左右に自在に移動して検査し得る欠陥
拡大観察装置が上記検査作業台に設けられていることを
特徴としている。
【0010】上記の発明によれば、目視検査するための
検査作業台に、微細欠陥を拡大観察するための顕微鏡を
前後左右に自在に移動して検査し得る欠陥拡大観察装置
が付加されている。
【0011】即ち、従来では、目視検査と欠陥拡大観察
検査とは別の場所及び装置で行われていたが、本発明で
は、これを同一場所及び同一装置にて行うことができ
る。従って、目視検査位置から欠陥拡大観察検査位置ま
での検体の運搬の必要性が無くなり、これによって、検
査作業の効率化及び合理化を図ることができ、ひいては
検査処理量の増大及び検査作業エリアの省スペース化を
図ることができる。
【0012】また、欠陥拡大観察検査に際して、従来で
あれば、顕微鏡を固定状態とし、検体を移動させていた
ので、欠陥拡大検査作業が煩雑であった。しかし、本発
明では、検体は目視検査するための検査作業台に載置し
た状態を維持し、顕微鏡を前後左右に自在に移動させる
ようになっている。
【0013】このため、目視による欠陥の発見と同時に
拡大検査ができると共に、その欠陥の発見した状態を維
持して拡大検査ができる。
【0014】この結果、欠陥拡大検査における作業性の
向上及び検査時間の短縮を図ることができる。
【0015】請求項2に係る発明の微細欠陥検査装置
は、上記課題を解決するために、請求項1記載の微細欠
陥検査装置において、上記の欠陥拡大観察装置には、顕
微鏡を前後左右に移動させるに際して位置を微調整し得
る位置決め微調整機構が設けられていることを特徴とし
ている。
【0016】一般に、欠陥拡大観察を行う場合に、顕微
鏡を欠陥位置に合わせるのは容易ではない。
【0017】しかし、本発明によれば、欠陥拡大観察装
置には、顕微鏡を前後左右に移動させるに際して位置を
微調整し得る位置決め微調整機構が設けられている。
【0018】このため、欠陥位置に対して、顕微鏡を手
動で大凡の位置に合わせておけば、微小誤差については
この位置決め微調整機構にて精度良く位置合わせするこ
とができる。
【0019】従って、欠陥拡大観察をするに際して、顕
微鏡の位置決めが容易となり、作業性の向上を図ること
ができる。
【0020】請求項3に係る発明の微細欠陥検査装置
は、上記課題を解決するために、請求項1又は2記載の
微細欠陥検査装置において、上記の欠陥拡大観察装置
は、顕微鏡及びカメラ本体を備えた観察鏡体部が移動自
在に形成されると共に、上記顕微鏡及びカメラ本体のた
めの落射光源、カメラ本体を駆動する駆動ユニット並び
にモニタは、検査作業台における観察鏡体部とは異なる
場所に設けられていることを特徴としている。
【0021】上記の発明によれば、欠陥拡大観察装置
は、顕微鏡及びカメラ本体を備えた観察鏡体部、顕微鏡
及びカメラ本体のための落射光源、カメラ本体を駆動す
る駆動ユニット並びにモニタを備えている。
【0022】このため、欠陥拡大観察に際して、顕微鏡
を覗くのではなく、モニタを見れば良いので、欠陥拡大
観察の作業性を向上させることができる。
【0023】また、顕微鏡の位置決めに際して、動くの
は顕微鏡及びカメラ本体を備えた観察鏡体部であり、顕
微鏡及びカメラ本体のための落射光源、カメラ本体を駆
動する駆動ユニット並びにモニタは、検査作業台におけ
る観察鏡体部とは異なる場所に設けられている。
【0024】従って、移動部分である観察鏡体部を軽量
に形成することができる。この結果、顕微鏡の位置決め
に際して、大凡の位置決めを手動にて行うときに手に加
わる負荷を小さくできる一方、微小位置の調整を行う際
にも、例えば駆動モータを用いるときにはその負荷容量
を小さなものとすることができる。
【0025】このため、顕微鏡の位置決め作業の容易化
及び駆動モータのコスト低減を図ることができる。
【0026】請求項4に係る発明の微細欠陥検査装置
は、上記課題を解決するために、請求項3記載の微細欠
陥検査装置において、上記の欠陥拡大観察装置における
顕微鏡及びカメラ本体にて撮影した画像データに基づく
微細欠陥に関する検査データを記憶し、かつこの検査デ
ータに基づきデータの処理を行うデータ処理装置が設け
られていることを特徴としている。
【0027】上記の発明によれば、データ処理装置は、
欠陥拡大観察装置における顕微鏡及びカメラ本体にて撮
影した画像データに基づく微細欠陥に関する検査データ
を記憶し、かつこの検査データに基づきデータの処理を
行う。
【0028】このため、検査データにおける自動集計等
のデータ処理を行うことができるので、検査作業の効率
化を図ることができる。また、この検査データは記憶さ
れるので、検体の微細欠陥に関して、後日、欠陥の解析
や不良原因の調査等を行うことができる。
【0029】この結果、製品の歩留りの向上を図ること
ができる。
【0030】
【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態について図
1ないし図10に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。
【0031】本実施の形態の微細欠陥検査装置1は、図
1に示すように、例えばカラーフィルタ等のフィルムや
シートの微細欠陥を目視検査するための検査作業台10
に、この検査作業台10にて目視観察された微細欠陥を
その場で拡大観察するための欠陥拡大観察装置3が付加
されたものとして構成されている。
【0032】上記微細欠陥を目視検査するための検査作
業台10は、図2に示すように、方形箱状の検体載置台
11を備えている。この検体載置台11は、例えば、横
幅500〜800mm、奥行き500〜700mm、及
び深さ50〜100mmの箱状となっており、表面には
乳白色の例えばアクリル板にて形成された載置パネル1
2が設けられている。
【0033】上記載置パネル12の下側には、図示しな
い透過光源蛍光灯ユニットが収容されており、目視観察
の際及び顕微鏡観察の際に、載置パネル12に載置され
た検体であるカラーフィルタに対して下側から複数の蛍
光灯にて透過光を照射し得るようになっている。尚、上
記透過光源蛍光灯ユニットに収容されている複数の蛍光
灯には、ちらつきを抑制するためのインバータが組み込
まれている。さらに、蛍光灯の光量は調節可能となって
いる。
【0034】また、上記の検査作業台10は、図1に示
すように、検体載置台11の左側縁に立設される斜光検
査用高照度ランプ14を有している。この斜光検査用高
照度ランプ14は、載置パネル12に載置されたカラー
フィルタを目視観察する際に、カラーフィルタに向けて
斜め上方位置から光を照射するものであり、その反射光
によりカラーフィルタの欠陥を視認するためのものであ
る。
【0035】さらに、検査作業台10は、傾斜状態に置
かれており、大きなカラーフィルタに対しても目視観察
が容易に行い得るものとなっている。但し、小さいサイ
ズのカラーフィルタのみを対象とする場合には、必ずし
も傾斜を設ける必要はない。
【0036】次に、上記欠陥拡大観察装置3は、顕微鏡
を備えた移動部である観察鏡体部20と、この観察鏡体
部20を上記検査作業台10の上方で前後左右に移動す
るための移動機構4と、上記観察鏡体部20の駆動及び
上記移動機構4における位置決め微調整機構の操作を行
うための制御操作部50とからなっている。
【0037】上記の移動機構4は、観察鏡体部20を検
査作業台10の上方で大きく前後左右に移動させる粗動
機構部30と、この粗動機構部30にて大凡の位置を決
めた後、さらにその位置を微調整するための位置決め微
調整機構としての後述する微動XYステージ機構部40
とからなっている。
【0038】上記粗動機構部30は、図2に示すよう
に、検体載置台11の左右の両端に設けられた縦リニア
ガイドレール31・31と、これら縦リニアガイドレー
ル31・31に摺動自在に設けられるベアリングスライ
ド32・32と、これらベアリングスライド32・32
に横架される横リニアガイドレール33と、上記観察鏡
体部20を任意の粗動位置にロックすべく、一方の縦リ
ニアガイドレール31に設けられる縦スライドロックエ
アチャック34及び横リニアガイドレール33に設けら
れる横スライドロックエアチャック35とからなってい
る。尚、上記縦スライドロックエアチャック34はベア
リングスライド32に一体固定される一方、上記横スラ
イドロックエアチャック35は観察鏡体部20と一体固
定されている。
【0039】上記の横スライドロックエアチャック35
には、図3にも示すように、粗動スライドハンドル36
が設けられており、この粗動スライドハンドル36のグ
リップ36aを握って粗動スライドハンドル36を手動
操作することにより、観察鏡体部20を前後左右に移動
することができるようになっている。
【0040】また、上記の縦スライドロックエアチャッ
ク34及び横スライドロックエアチャック35は、後述
するコンプレッサ38にて、圧縮空気が供給されること
により、図4に示すチャック34a・34a(横スライ
ドロックエアチャック35のときはチャック35a・3
5a)が開閉され、これによって、縦スライドロックエ
アチャック34及び横スライドロックエアチャック35
が、同期して、縦リニアガイドレール31・31又は横
リニアガイドレール33に固定又は固定解除されるよう
になっている。
【0041】詳細には、図3に示すように、粗動スライ
ドハンドル36には、押しボタン式のロック解除スイッ
チ36bがグリップ36aの横に設けられている。この
ロック解除スイッチ36bは、押し続けている間は、縦
スライドロックエアチャック34及び横スライドロック
エアチャック35のロックが解除される一方、ロック解
除スイッチ36bを離すとロックされるようになってい
る。
【0042】即ち、縦スライドロックエアチャック34
及び横スライドロックエアチャック35は、通常は、縦
リニアガイドレール31・31又は横リニアガイドレー
ル33にロックされた状態で保持されており、粗動時の
み、ロック解除スイッチ36bを押圧することによりロ
ック解除して観察鏡体部20を任意の位置に移動させる
一方、大凡の位置決めができると、このロック解除スイ
ッチ36bの押圧を解除することにより、縦スライドロ
ックエアチャック34及び横スライドロックエアチャッ
ク35がロックされ、観察鏡体部20がその位置で固定
されるようになっている。尚、チャック34a・34a
及びチャック35a・35aには、縦リニアガイドレー
ル31・31又は横リニアガイドレール33への固定を
確実に行うために、例えばロックグリップ樹脂パッキン
等が設けられている。
【0043】このように、ロック解除スイッチ36b
は、スムーズに位置決め操作ができるように、粗動スラ
イドハンドル36のグリップ36aの横に設けたものと
なっている。
【0044】ここで、上記縦スライドロックエアチャッ
ク34及び横スライドロックエアチャック35を動作さ
せるエアチャックロックシステムについて、詳細に説明
する。
【0045】エアチャックロックシステムは、図5に示
すように、縦スライドロックエアチャック34及び横ス
ライドロックエアチャック35と、縦スライドロックエ
アチャック34を駆動する縦エアチャック用ソレノイド
バルブ37a及び横スライドロックエアチャック35を
駆動する横エアチャック用ソレノイドバルブ37bと、
圧縮空気を供給するコンプレッサ38と、このコンプレ
ッサ38の圧縮空気をこれら縦エアチャック用ソレノイ
ドバルブ37a及び横エアチャック用ソレノイドバルブ
37bに供給すべく所定圧力に調整するエアレギュレー
タ39とからなっている。
【0046】同図に示すように、上記の縦スライドロッ
クエアチャック34及び横スライドロックエアチャック
35が閉じた状態においては、縦エアチャック用ソレノ
イドバルブ37a及び横エアチャック用ソレノイドバル
ブ37bは、縦スライドロックエアチャック34及び横
スライドロックエアチャック35のピストン34b・3
5bをチャック後方へ移動させてチャック間距離を縮め
るように圧縮空気を連通させる。
【0047】一方、図6に示すように、縦スライドロッ
クエアチャック34及び横スライドロックエアチャック
35が開いた状態においては、縦エアチャック用ソレノ
イドバルブ37a及び横エアチャック用ソレノイドバル
ブ37bは、縦スライドロックエアチャック34及び横
スライドロックエアチャック35のピストン34b・3
5bをチャック側へ移動させてチャック間距離を拡げる
ように圧縮空気を連通させるようになっている。
【0048】次に、上記微動XYステージ機構部40
は、図7に示すように、横リニアガイドレール33を摺
動する摺動台41と、図8(b)に示すように、この摺
動台41の上面の前後の両端部に設けられた横レール4
2・42に沿って左右移動する左右プレート43と、こ
の左右プレート43の上面の左右の両端部に設けられた
縦レール44・44に沿って左右移動する前後プレート
45とを備えている。そして、この前後プレート45の
上に、図8(a)に示す観察鏡体部20が載置されるよ
うになっている。
【0049】また、上記左右プレート43及び前後プレ
ート45には、それぞれ、駆動モータとしての微動モー
タ46・46が備えられており、前記制御操作部50に
設けられた後述する微動ステージコントローラ53を操
作することにより、これら微動モータ46・46が駆動
して、前後プレート45及び左右プレート43を前後左
右にμm単位で微動させ、これによって、前後プレート
45に載置された観察鏡体部20における顕微鏡として
のマイクロスコープ21の位置を前後左右に微調整し得
るようになっている。
【0050】上記の観察鏡体部20は、図8(a)に示
すように、マイクロスコープ架台22と、このマイクロ
スコープ架台22に取り付けられるマイクロスコープ2
1及びその上に設けられるカメラ本体としてのCCD(C
harge Coupled Device) カメラ23とからなっている。
【0051】上記のマイクロスコープ架台22は、フォ
ーカスダイヤル22aを有しており、これを手動で回す
ことにより、上下方向に図示しないラックピニオンを備
えた一軸スライドステージ22bが上下に移動し、これ
によって、一軸スライドステージ22bに取り付けられ
たマイクロスコープ21における図示しないスコープレ
ンズのピント調整が行えるようになっている。
【0052】即ち、観察対象であるカラーフィルタは、
基板の厚みが約1mm程度のものであるため、カラーフ
ィルタの撓みにより、カラーフィルタにおける基板面内
でのZ方向の位置がばらつく。そこで、本実施の形態で
は、このフォーカスダイヤル22aにて、焦点深度を手
動により調節し得るようになっている。
【0053】次に、上記のマイクロスコープ21は、円
筒状にてなり、スコープレンズを内蔵している。このス
コープレンズは、市販品のものが使用されており、倍率
4〜8倍程度の拡大レンズとなっている。また、このス
コープレンズは、小型軽量で安価なものとなっている。
【0054】さらに、カラーフィルタの拡大観察による
検査においては、落射光による反射検査が必要である。
このため、本実施の形態のマイクロスコープ21では、
光ファイバケーブルによる同軸落射照明が接続可能なス
コープレンズを使用している。
【0055】即ち、円筒状のマイクロスコープ21の側
方には、落射光挿入筒21aが貫入されており、光ファ
イバケーブルにより光をスコープレンズに落射させるこ
とにより、被写体となるカラーフィルタの映像をCCD
カメラ23にて撮影し、後述するモニタとしてのLCD
(Liquid Crystal Display)観察モニタ55に写し出すよ
うになっている。
【0056】上記のCCDカメラ23は、1/2インチ
CCDカラーカメラである。但し、必ずしもこれに限ら
ず、倍率や観察視野によっては、2/3インチのものも
交換可能となっている。現状では、例えば6倍のスコー
プレンズと1/2インチCCDカメラとにより、約20
0倍の拡大が実現されている。
【0057】次に、制御操作部50は、図1に示すよう
に、検査作業台10の右側に設けられている。この制御
操作部50には、前側に落射・透過光切替スイッチ51
とOK−NG判定記録ボタン52と、微動ステージコン
トローラ53とが設けられていると共に、制御操作部5
0の中央にはデータ管理用パーソナルコンピュータ54
及びLCD観察モニタ55が設けられ、さらに、制御操
作部50の後側には、駆動ユニットとしてのCCDカメ
ラドライバユニット56と落射光源としての落射光源ユ
ニット57とが設けられている。
【0058】上記の落射・透過光切替スイッチ51は、
落射光切替スイッチ51aと透過光切替スイッチ51b
とからなっており、これらが集中して設けられたものと
なっている。
【0059】落射光切替スイッチ51aは、載置パネル
12に載置されたカラーフィルタに対して、上記落射光
源ユニット57に設けられた例えば100W以上のハロ
ゲン光源により、光ファイバケーブルにてマイクロスコ
ープ21のスコープレンズ内に導かれる落射光をON/
OFFするためのスイッチである。
【0060】また、透過光切替スイッチ51bは、載置
パネル12に載置されたカラーフィルタに対して、前記
検査作業台10に内蔵された図示しない透過光源蛍光灯
ユニットの蛍光灯にて透過光を照射するためのON/O
FFスイッチである。
【0061】上記のOK−NG判定記録ボタン52は、
観察した欠陥に対し、検査作業員が判定を下す際に、判
定結果をデータ管理用パーソナルコンピュータ54に手
動操作して入力するためのものである。このOK−NG
判定記録ボタン52によって、判定された判定データ及
び画像データは、自動的に基板毎のデータとしてデータ
処理装置としてのデータ管理用パーソナルコンピュータ
54に記録され、検査システムサーバへ転送される。こ
れにより、作業者の記録作業や、データ集計作業が省略
される。
【0062】上記の微動ステージコントローラ53は、
操作性を考慮していわゆるジョイスティック型コントロ
ーラからなっている。そして、ジョイスティックを前後
左右に傾倒操作することによって、上記微動XYステー
ジ機構部40の微動モータ46・46が駆動し、これに
よって、観察鏡体部20のマイクロスコープ21を数μ
m単位で前後左右に微調整し得るものとなっている。
【0063】上記データ管理用パーソナルコンピュータ
54には、一般に市販されている例えばノート型パソコ
ン等のパーソナルコンピュータが使用されている。この
データ管理用パーソナルコンピュータ54は、その制御
の一つとして、欠陥観察映像信号をCCDカメラドライ
バユニット56から受信し、それをLCD観察モニタ5
5に表示させるようになっている。
【0064】また、このとき、このデータ管理用パーソ
ナルコンピュータ54は、上記受信した映像を電子ファ
イル化し、保存記憶することが可能である。さらに、デ
ータ管理用パーソナルコンピュータ54は、各カラーフ
ィルタにおける基板毎の判定データを、作業者のOK−
NG判定記録ボタン52による入力に基づき記録及び保
存する。これらの保存された検査データは、社内パーソ
ナルコンピュータネットワークを経由し、検査システム
サーバヘデータ登録されるようになっている。
【0065】また、登録されたデータは、必要に応じ、
編集解析され、歩留り把握や工程管理に利用されるもの
となっている。
【0066】上記LCD観察モニタ55は、マイクロス
コープ21にて拡大投影された映像や検査データを表示
するディスプレイである。本実施の形態では、検査作業
エリアは、限られた範囲内であるため、作業性や作業環
境の整備の観点から、省スペース型の液晶ディスプレイ
を採用したものとなっている。このLCD観察モニタ5
5には、例えば、画面の半分に拡大投影された映像を映
し出し、画面の他の半分に検査データを表示させること
が可能である。
【0067】上記CCDカメラドライバユニット56
は、前記マイクロスコープ21のCCDカメラ23を駆
動するためのものであり、受信信号を映像化する電気回
路が組み込まれている。即ち、本実施の形態では、観察
対象であるカラーフィルタを動かすのではなく、観察鏡
体部20が可動することにより、位置決めを行う。この
ため、マイクロスコープ21及びCCDカメラ23を備
える観察鏡体部20は、小型軽量が必須条件となる。そ
こで、本実施の形態では、映像受光素子(実質のカメラ
本体)と受光信号を映像化する電気回路部分(実質の駆
動ユニット)とが分離しているものを採用している。
【0068】上記落射光源ユニット57は、100W以
上のハロゲン光源を内蔵しており、ボリューム57aに
より光量調整が可能となっている。
【0069】即ち、カラーフィルタの欠陥観察では、落
射光による観察が検査項目として設定されている。そこ
で、落射光をマイクロスコープ21に供給する光源とし
て本ユニットを制御操作部50に配置したものとなって
いる。従って、これによっても観察鏡体部20の軽量化
が図られている。
【0070】次に、上記構成を有する微細欠陥検査装置
1を用いた検査の具体的動作について、既述の薄膜トラ
ンジスタ駆動式液晶表示装置(TFT−LCD)の構成
部品の1つであるカラーフィルタを検査する場合を例示
して説明する。
【0071】上記のカラーフィルタは、例えば顔料分散
式製造法にて製造される。このカラーフィルタは製造さ
れると、全品、検査工程に移され、所定の検査エリアに
設けられた本実施の形態の微細欠陥検査装置1にて、目
視による欠陥の視認が行われる。そして、目視により欠
陥が発見された場合には、引続きその場で、この微細欠
陥検査装置1にて顕微鏡観察が行われる。
【0072】具体的には、図9に示すように、カラーフ
ィルタ7が載置パネル12の上に載置され、目視観察が
行われる。
【0073】ところで、このカラーフィルタ7は、顔料
分散法により、例えば約0.7mmのガラス基板の上に
R(Red)、G(Green)、B(BLue) 、BL(Black)の各
着色樹脂をエッチング等の方法によりマトリックス状に
分散したものからなっている。
【0074】カラーフィルタ7の製造においては、例え
ば傷、色抜け、色違い、色重ね、異物発生等の欠陥が発
生する。欠陥の大きさは、例えば数十μm程度である。
そして、斜光検査用高照度ランプ14を点灯してカラー
フィルタ7に対して斜め上から照射することにより、又
は図示しない透過光源蛍光灯ユニットの蛍光灯を点灯し
てカラーフィルタ7に対して下から照射することによ
り、この欠陥部分には、異常な輝きを呈している又は黒
ずんでいる等の他の部分と異なる現象が観察される。こ
れによって、目視にてその部分が欠陥であることを視認
することができる。
【0075】上記のことを踏まえて、微細欠陥検査装置
1での目視観察に際しては、例えば縦400×横500
mm又は縦600×横700mm等のカラーフィルタ7
が載置パネル12の上に載置された後、斜光検査用高照
度ランプ14又は上記透過光源蛍光灯ユニットの蛍光灯
が点灯される。尚、上記のカラーフィルタ7のサイズ
は、特に限定されるものではないが、本実施の形態で
は、上記のように、大きなサイズのカラーフィルタ7も
容易に検査可能となっている。
【0076】次いで、目視検査にて欠陥部分が視認され
た場合には、その部分に例えば、マジック等にて径約1
〜2cm程度の○印が付されると共に、この欠陥の大き
さ、種類、色、及び状態等を観察するために、マイクロ
スコープ21による欠陥拡大観察が行われる。尚、目視
検査にて欠陥が視認されない場合には、欠陥拡大観察は
省略される。
【0077】上記の欠陥拡大観察に際しては、図7に示
すように、先ず、粗動スライドハンドル36のグリップ
36aを握り、ロック解除スイッチ36bを押した状態
で、粗動スライドハンドル36を手動操作することによ
り、観察鏡体部20を前後左右に移動させ、上記○印を
付した欠陥部分の大凡の位置に持ってくる。この移動
は、観察鏡体部20が非常に軽いので、非力な作業者が
座したままでも極めて容易に行うことができる。
【0078】このとき、データ管理用パーソナルコンピ
ュータ54をONして動作状態にしておき、LCD観察
モニタ55にカラーフィルタ7の映像を映し出してお
く。
【0079】次いで、大凡の位置決めができたところ
で、粗動スライドハンドル36のロック解除スイッチ3
6bを離す。これによって、観察鏡体部20が粗動位置
で固定される。
【0080】次いで、微動XYステージ機構部40を操
作して、観察鏡体部20のマイクロスコープ21がカラ
ーフィルタ7の欠陥位置の直上になるように微調整を行
うが、それに先立ち、図1及び図10に示すように、制
御操作部50に設けられた落射・透過光切替スイッチ5
1の落射光切替スイッチ51a又は透過光切替スイッチ
51bの何れかを選択してONすることにより、カラー
フィルタ7に対して落射光又は透過光の何れかを照射さ
せる。
【0081】具体的には、透過光切替スイッチ51bを
ONすることにより、透過光源蛍光灯ユニット13の図
示しない蛍光灯が点灯してカラーフィルタ7の下側から
透過光が照射される一方、落射光切替スイッチ51aを
ONすることにより、落射光源ユニット57のハロゲン
光源が点灯し、光ファイバケーブル及び落射光挿入筒2
1aを通してマイクロスコープ21に落射される。
【0082】これによって、カラーフィルタ7には、透
過光又は落射光の何れかが照射される。そして、カラー
フィルタ7をマイクロスコープ21にて観察し、CCD
カメラ23にて撮影することにより、CCDカメラドラ
イバユニット56、データ管理用パーソナルコンピュー
タ54を介して、カラーフィルタ7がLCD観察モニタ
55に映し出される。
【0083】この状態で、制御操作部50に設けられた
ジョイスティック型コントローラからなる微動ステージ
コントローラ53のジョイスティックを傾倒操作する。
これにより、図8(b)に示すように、微動モータ46
・46が駆動して、前後プレート45及び左右プレート
43が前後左右に微動する。これによって、前後プレー
ト45に載置された観察鏡体部20のマイクロスコープ
21が前後左右に微動する。このとき、LCD観察モニ
タ55を見ながら、カラーフィルタ7の欠陥が中央位置
に写し出されるようにする。
【0084】次いで、欠陥が中央位置に写し出される
と、検査作業員は、この欠陥が許容範囲内の欠陥である
か否かの判定を行う。判定基準は、例えば、傷の大きさ
等が基準値よりも小さいか否か等である。そして、不合
格の判定をするときには、OK−NG判定記録ボタン5
2におけるNG判定記録ボタン52aを押すことによ
り、不合格の判定結果がデータ管理用パーソナルコンピ
ュータ54に入力される。
【0085】また、合格の判定をするときには、OK−
NG判定記録ボタン52におけるOK判定記録ボタン5
2bを押すことにより、合格の判定結果がデータ管理用
パーソナルコンピュータ54に入力される。
【0086】上記の判定データは、自動的に基板毎のデ
ータとしてデータ管理用パーソナルコンピュータ54に
記録され、検査システムサーバへ転送される。これによ
り、検査作業者の記録作業や、データ集計作業が省略さ
れる。尚、特記事項を入力する場合には、データ管理用
パーソナルコンピュータ54の図示しないキーボードか
らのコメント入力が可能である。
【0087】上記の不合格の判定データは、欠陥の解析
や不良原因の調査等に寄与され、これによって、歩留り
に向上に役立てられる。
【0088】このように、本実施の形態の微細欠陥検査
装置1では、目視検査するための検査作業台10に、微
細欠陥を拡大観察するためのマイクロスコープ21を前
後左右に自在に移動して検査し得る欠陥拡大観察装置3
が付加されている。
【0089】即ち、従来では、目視検査と欠陥拡大観察
検査とは別の場所及び装置で行われていたが、本実施の
形態では、これを同一場所及び同一装置にて行うことが
できる。
【0090】従って、目視検査位置から欠陥拡大観察検
査位置までの検体の運搬の必要性が無くなり、作業者一
人でも容易に検査することができ、これによって、検査
作業の効率化及び合理化を図ることができ、ひいては検
査処理量の増大及び検査作業エリアの省スペース化を図
ることができる。
【0091】また、欠陥拡大観察検査に際して、従来で
あれば、光学顕微鏡を固定状態とし、カラーフィルタ7
を移動させていたので、欠陥拡大検査作業が煩雑であっ
た。
【0092】しかし、本実施の形態では、カラーフィル
タ7は目視検査するための検査作業台10に載置した状
態を維持し、マイクロスコープ21を前後左右に自在に
移動させるようになっている。
【0093】このため、目視による欠陥の発見と同時に
拡大検査ができると共に、その欠陥の発見した状態を維
持して拡大検査ができる。
【0094】この結果、欠陥拡大検査における作業性の
向上及び検査時間の短縮を図ることができる。
【0095】一方、一般に、欠陥拡大観察を行う場合
に、マイクロスコープ21を欠陥位置に合わせるのは容
易ではない。特に、カラーフィルタ7の欠陥の大きさは
数十μm程度の非常に微小なものであるため、欠陥位置
を観察画面の中央に移動させたり、欠陥のサイズを測定
するのは、手動では非常に困難である。
【0096】しかし、本実施の形態の微細欠陥検査装置
1によれば、欠陥拡大観察装置3には、マイクロスコー
プ21を前後左右に移動させるに際して、位置を数μm
単位で微調整し得る微動XYステージ機構部40が設け
られている。
【0097】このため、欠陥位置に対して、マイクロス
コープ21を手動で大凡の位置に合わせておけば、微小
誤差についてはこの微動XYステージ機構部40にて精
度良く位置合わせすることができる。
【0098】従って、欠陥拡大観察をするに際して、マ
イクロスコープ21の位置決めが容易となり、作業性の
向上を図ることができる。
【0099】また、本実施の形態の微細欠陥検査装置1
では、欠陥拡大観察装置3は、マイクロスコープ21及
びCCDカメラ23を備えた観察鏡体部20、マイクロ
スコープ21及びCCDカメラ23のための落射光源ユ
ニット57、CCDカメラ23を駆動するCCDカメラ
ドライバユニット56並びにLCD観察モニタ55を備
えている。
【0100】このため、欠陥拡大観察に際して、マイク
ロスコープ21を覗くのではなく、LCD観察モニタ5
5を見れば良いので、欠陥拡大観察の作業性を向上させ
ることができる。
【0101】また、マイクロスコープ21の位置決めに
際して、動くのはマイクロスコープ21及びCCDカメ
ラ23を備えた観察鏡体部20であり、マイクロスコー
プ21及びCCDカメラ23のための落射光源ユニット
57、CCDカメラ23を駆動するCCDカメラドライ
バユニット56並びにLCD観察モニタ55は、検査作
業台10における観察鏡体部20とは異なる場所である
制御操作部50に静止状態に設けられている。
【0102】従って、移動部分である観察鏡体部20を
軽量に形成することができる。この結果、マイクロスコ
ープ21の位置決めに際して、大凡の位置決めを手動に
て行うときに手に加わる負荷を小さくできる一方、微小
位置の調整を行う際にも、例えばその微動モータ46・
46を用いるときにはその負荷容量を小さなものとする
ことができる。
【0103】このため、マイクロスコープ21の位置決
め作業の容易化及び微動モータ46・46のコスト低減
を図ることができる。
【0104】また、本実施の形態の微細欠陥検査装置1
では、データ管理用パーソナルコンピュータ54は、欠
陥拡大観察装置3におけるマイクロスコープ21及びC
CDカメラ23にて撮影した画像データに基づく微細欠
陥に関する検査データを記憶し、かつこの検査データに
基づきデータの処理を行う。
【0105】このため、検査データにおける自動集計等
のデータ処理を行うことができるので、検査作業の効率
化を図ることができる。また、この検査データは記憶さ
れるので、検体の微細欠陥に関して、後日、欠陥の解析
や不良原因の調査等を行うことができる。
【0106】この結果、製品の歩留りの向上を図ること
ができる。
【0107】なお、本実施の形態においては、微細欠陥
検査装置にて検査するための検体として、フィルムやシ
ートであるカラーフィルタについて説明したが、検体
は、必ずしもこれに限らず、例えば、アクリル板等の厚
みのある板状のものであっても良い。また、検体の透
明、不透明等についても関係なく検査し得るものであ
る。
【0108】
【発明の効果】請求項1に係る発明の微細欠陥検査装置
は、以上のように、微細欠陥を拡大観察するための顕微
鏡を前後左右に自在に移動して検査し得る欠陥拡大観察
装置が上記検査作業台に設けられているものである。
【0109】それゆえ、目視検査と欠陥拡大観察検査と
を同一場所及び同一装置にて行うことができる。従っ
て、目視検査位置から欠陥拡大観察検査位置までの検体
の運搬の必要性が無くなり、これによって、検査作業の
効率化及び合理化を図ることができ、ひいては検査処理
量の増大及び検査作業エリアの省スペース化を図ること
ができるという効果を奏する。
【0110】また、検体を目視検査するための検査作業
台に載置した状態を維持し、顕微鏡を前後左右に自在に
移動させるようになっているので、目視による欠陥の発
見と同時に拡大検査ができると共に、その欠陥の発見し
た状態を維持して拡大検査ができる。
【0111】この結果、欠陥拡大検査における作業性の
向上及び検査時間の短縮を図ることができるという効果
を奏する。
【0112】請求項2に係る発明の微細欠陥検査装置
は、以上のように、請求項1記載の微細欠陥検査装置に
おいて、上記の欠陥拡大観察装置には、顕微鏡を前後左
右に移動させるに際して位置を微調整し得る位置決め微
調整機構が設けられているものである。
【0113】それゆえ、欠陥位置に対して、顕微鏡を手
動で大凡の位置に合わせておけば、微小誤差については
この位置決め微調整機構にて精度良く位置合わせするこ
とができる。
【0114】従って、欠陥拡大観察をするに際して、顕
微鏡の位置決めが容易となり、作業性の向上を図ること
ができるという効果を奏する。
【0115】請求項3に係る発明の微細欠陥検査装置
は、以上のように、請求項1又は2記載の微細欠陥検査
装置において、上記の欠陥拡大観察装置は、顕微鏡及び
カメラ本体を備えた観察鏡体部が移動自在に形成される
と共に、上記顕微鏡及びカメラ本体のための落射光源、
カメラ本体を駆動する駆動ユニット並びにモニタは、検
査作業台における観察鏡体部とは異なる場所に設けられ
ているものである。
【0116】それゆえ、欠陥拡大観察に際して、顕微鏡
を覗くのではなく、モニタを見れば良いので、欠陥拡大
観察の作業性を向上させることができる。
【0117】また、顕微鏡の位置決めに際して、動くの
は顕微鏡及びカメラ本体を備えた観察鏡体部であり、顕
微鏡及びカメラ本体のための落射光源、カメラ本体を駆
動する駆動ユニット並びにモニタは、検査作業台におけ
る観察鏡体部とは異なる場所に設けられている。
【0118】従って、移動部分である観察鏡体部を軽量
に形成することができる。この結果、顕微鏡の位置決め
に際して、大凡の位置決めを手動にて行うときに手に加
わる負荷を小さくできる一方、微小位置の調整を行う際
にも、例えば駆動モータを用いるときにはその負荷容量
を小さなものとすることができる。
【0119】このため、顕微鏡の位置決め作業の容易化
及び駆動モータのコスト低減を図ることができるという
効果を奏する。
【0120】請求項4に係る発明の微細欠陥検査装置
は、以上のように、請求項3記載の微細欠陥検査装置に
おいて、上記の欠陥拡大観察装置における顕微鏡及びカ
メラ本体にて撮影した画像データに基づく微細欠陥に関
する検査データを記憶し、かつこの検査データに基づき
データの処理を行うデータ処理装置が設けられているも
のである。
【0121】それゆえ、検査データにおける自動集計等
のデータ処理を行うことができるので、検査作業の効率
化を図ることができる。また、この検査データは記憶さ
れるので、検体の微細欠陥に関して、後日、欠陥の解析
や不良原因の調査等を行うことができる。
【0122】この結果、製品の歩留りの向上を図ること
ができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における微細欠陥検査装置の実施の一形
態を示す斜視図である。
【図2】上記微細欠陥検査装置の検体載置台を示す斜視
図である。
【図3】上記微細欠陥検査装置の粗動スライドハンドル
を示す斜視図である。
【図4】上記微細欠陥検査装置における縦スライドロッ
クエアチャック及び横スライドロックエアチャックを示
す斜視図である。
【図5】上記微細欠陥検査装置におけるエアチャックロ
ックシステムを示すものであり、エアチャックの閉状態
を示す系統図である。
【図6】上記微細欠陥検査装置におけるエアチャックロ
ックシステムを示すものであり、エアチャックの開状態
を示す系統図である。
【図7】上記微細欠陥検査装置における観察鏡体部及び
微動XYステージ機構部を示す斜視図である。
【図8】同図(a)は上記観察鏡体部を示す斜視図であ
り、同図(b)は上記微動XYステージ機構部を示す斜
視図である。
【図9】上記微細欠陥検査装置の検体載置台に載置され
たカラーフィルタを示す説明図である。
【図10】上記微細欠陥検査装置を示すブロック図であ
る。
【符号の説明】
1 微細欠陥検査装置 3 欠陥拡大観察装置 4 移動機構 10 検査作業台 11 検体載置台 20 観察鏡体部 21 マイクロスコープ(顕微鏡) 23 CCDカメラ(カメラ本体) 30 粗動機構部 31 縦リニアガイドレール 32 ベアリングスライド 33 横リニアガイドレール 34 縦スライドロックエアチャック 35 横スライドロックエアチャック 36 粗動スライドハンドル 36b ロック解除スイッチ 40 微動XYステージ機構部(位置決め微調整機
構) 46 微動モータ(駆動モータ) 50 制御操作部 54 データ管理用パーソナルコンピュータ(データ
処理装置) 55 LCD観察モニタ(モニタ) 56 CCDカメラドライバユニット(駆動ユニッ
ト) 57 落射光源ユニット(落射光源)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】検体の微細欠陥を目視検査するための検査
    作業台を備えた微細欠陥検査装置において、 上記微細欠陥を拡大観察するための顕微鏡を前後左右に
    自在に移動して検査し得る欠陥拡大観察装置が上記検査
    作業台に設けられていることを特徴とする微細欠陥検査
    装置。
  2. 【請求項2】上記の欠陥拡大観察装置には、顕微鏡を前
    後左右に移動させるに際して位置を微調整し得る位置決
    め微調整機構が設けられていることを特徴とする請求項
    1記載の微細欠陥検査装置。
  3. 【請求項3】上記の欠陥拡大観察装置は、顕微鏡及びカ
    メラ本体を備えた観察鏡体部が移動自在に形成されると
    共に、上記顕微鏡及びカメラ本体のための落射光源、カ
    メラ本体を駆動する駆動ユニット並びにモニタは、検査
    作業台における観察鏡体部とは異なる場所に設けられて
    いることを特徴とする請求項1又は2記載の微細欠陥検
    査装置。
  4. 【請求項4】上記の欠陥拡大観察装置における顕微鏡及
    びカメラ本体にて撮影した画像データに基づく微細欠陥
    に関する検査データを記憶し、かつこの検査データに基
    づきデータの処理を行うデータ処理装置が設けられてい
    ることを特徴とする請求項3記載の微細欠陥検査装置。
JP10631197A 1997-04-23 1997-04-23 微細欠陥検査装置 Pending JPH10300676A (ja)

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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005107155A (ja) * 2003-09-30 2005-04-21 Dainippon Printing Co Ltd カラーフィルタの製造方法
WO2005047874A1 (ja) * 2003-11-13 2005-05-26 Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd. 基板検査装置、基板検査方法およびプログラム
US6954262B2 (en) 2002-03-18 2005-10-11 Mike Buzzetti Automated fiber optic inspection system
US6989895B2 (en) 2002-03-18 2006-01-24 Mike Buzzetti Automated fiber optic inspection system
KR100547439B1 (ko) * 2002-04-19 2006-01-31 주식회사 디엠에스 평판 디스플레이 검사 현미경
JP2006266722A (ja) * 2005-03-22 2006-10-05 Olympus Corp 基板検査システム及び基板検査方法
JP2010085152A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Fujifilm Corp 撮影装置
KR101282020B1 (ko) * 2006-08-09 2013-07-04 엘아이지에이디피 주식회사 매크로형 기판 검사 장치
CN107941820A (zh) * 2017-12-21 2018-04-20 苏州精濑光电有限公司 一种面板缺陷检查装置
CN113923915A (zh) * 2021-10-28 2022-01-11 贵州航天南海科技有限责任公司 一种电气元件微调机构及其使用方法
WO2023101386A1 (ko) * 2021-11-30 2023-06-08 연세대학교 산학협력단 스페로이드 관찰장치 및 관찰 시스템

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6954262B2 (en) 2002-03-18 2005-10-11 Mike Buzzetti Automated fiber optic inspection system
US6989895B2 (en) 2002-03-18 2006-01-24 Mike Buzzetti Automated fiber optic inspection system
KR100547439B1 (ko) * 2002-04-19 2006-01-31 주식회사 디엠에스 평판 디스플레이 검사 현미경
JP2005107155A (ja) * 2003-09-30 2005-04-21 Dainippon Printing Co Ltd カラーフィルタの製造方法
JP4515739B2 (ja) * 2003-09-30 2010-08-04 大日本印刷株式会社 カラーフィルタの製造方法
WO2005047874A1 (ja) * 2003-11-13 2005-05-26 Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd. 基板検査装置、基板検査方法およびプログラム
JP2006266722A (ja) * 2005-03-22 2006-10-05 Olympus Corp 基板検査システム及び基板検査方法
KR101282020B1 (ko) * 2006-08-09 2013-07-04 엘아이지에이디피 주식회사 매크로형 기판 검사 장치
JP2010085152A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Fujifilm Corp 撮影装置
CN107941820A (zh) * 2017-12-21 2018-04-20 苏州精濑光电有限公司 一种面板缺陷检查装置
CN113923915A (zh) * 2021-10-28 2022-01-11 贵州航天南海科技有限责任公司 一种电气元件微调机构及其使用方法
CN113923915B (zh) * 2021-10-28 2023-08-04 贵州航天南海科技有限责任公司 一种电气元件微调机构及其使用方法
WO2023101386A1 (ko) * 2021-11-30 2023-06-08 연세대학교 산학협력단 스페로이드 관찰장치 및 관찰 시스템

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