JPH1029083A - レーザ加工装置用ノズルハイトセンサ - Google Patents

レーザ加工装置用ノズルハイトセンサ

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JPH1029083A
JPH1029083A JP8203004A JP20300496A JPH1029083A JP H1029083 A JPH1029083 A JP H1029083A JP 8203004 A JP8203004 A JP 8203004A JP 20300496 A JP20300496 A JP 20300496A JP H1029083 A JPH1029083 A JP H1029083A
Authority
JP
Japan
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circuit
sensor electrode
capacitance
voltage
workpiece
Prior art date
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Application number
JP8203004A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Kotani
弘幸 小谷
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Daihen Corp
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Daihen Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザ加工装置用ノズルハイトセンサにお
いて、センサ電極と被加工物との間の静電容量を正確に
検出すること。 【解決手段】 センサ電極と被加工物との間に定周波
数の正弦波交流電圧を供給する発振回路と、センサ電極
に近接して取付けた前記センサ電極と前記被加工物との
間の静電容量を流れる電流を電圧信号に変換するための
変換回路と、前記発振回路と前記変換回路との出力とか
らセンサ電極と被加工物との間の静電容量を演算する演
算回路とを備えたレーザ加工装置用ノズルハイトセン
サ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ加工装置に
おいて、レーザ光を出射するノズルを被加工物に対して
所定の距離に保つための位置検出器として用いるハイト
センサの改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】レーザ加工装置は、レーザ共振器から出
力されたレーザ光を集光レンズを通してトーチに導き、
トーチ先端に取付けたノズル部から被加工物に出射して
加工するものであるが、このとき、レーザ光の集束位置
を被加工物の表面に対して所定の位置に保つ必要があ
る。このためにノズル先端と被加工物との間隔を常に所
定の距離に保つようにトーチの位置を制御する工夫がな
されており、このためにはノズルと被加工物表面との間
隔を検出することが必要となる。通常、この間隔検出の
ための機構をハイトセンサと呼び、ノズル先端と被加工
物表面との距離とこれら両者間の静電容量とが反比例す
ることを利用して検出している。
【0003】図3に従来のハイトセンサの例を示す。同
図において、11はレーザ加工用トーチであり、図示を
省略したレーザ共振器からのレーザ光を集光レンズ13
にて集束し、先端のノズル12から被加工物1に向かっ
て出射する。またトーチ11は図示しない駆動手段によ
って加工線に沿って移動されるとともに被加工物1に対
して垂直方向に位置制御される。2はトーチ先端のノズ
ル12の近傍に設けられたセンサ電極であり、被加工物
1との間に両者間の距離dによって定まる静電容量Cx
を形成する。7は演算回路部であり、定周波数の正弦波
交流電圧Vsを発生する発振回路72と、前記距離dに
相当する出力電圧Voを演算する演算回路71と、発振
回路72の出力電流を電圧信号に変換する変換回路6と
から構成されている。変換回路6は、抵抗器62と前記
抵抗器62の両端の電位差を検出する電圧検出回路61
とから構成されている。また、図中Cfは演算回路部7
とセンサ電極2との間を接続するケ−ブル3と、被加工
物1または大地との間に形成される浮遊容量を示す。
【0004】図3の装置において、演算回路部7の発振
回路72からの出力電流Iは、抵抗器62、ケーブル
3、浮遊容量Cfを通り大地へ流れるルートと、抵抗器
62、ケーブル3、センサ電極2、静電容量Cx、被加
工物1を通り大地へ流れるルートとがある。この結果、
センサ電極2と被加工物1との間の電圧、即ち静電容量
Cxの端子電圧Vxは発振回路72の出力電圧をVs、
抵抗器62の端子電圧をVrとすると、 Vx=Vs−Vr (1) である。また、抵抗器62の抵抗値をRとするとこの抵
抗器62を流れる電流Iは、 I=Vr/R (2) である。ここで、静電容量Cxの端子電圧Vxは、この
電流Iによって静電容量Cxと浮遊容量Cfとの並列回
路に発生する電圧に等しいから Vx=(1/(jω(Cx+Cf)))・I (3) また、式(2)および式(3)より Vx=(1/(jω(Cx+Cf)))・(Vr/R) (4) となる。(但し、jは虚数単位、ωは角周波数)式
(1)および式(4)より jω(Cx+Cf)=Vr/(R(Vs−Vr)) (5) となる。ここで演算回路71は、発振回路72の出力電
圧Vsと抵抗器62の端子電圧Vrとを入力とし、出力
電圧Voを Vo=Vr/(Vs−Vr) (6) として求める演算回路である。したがって、式(5)お
よび式(6)より Vo=jωR(Cx+Cf) =A(Cx+Cf) (但し、A=jωR) (7) となる。式(7)において、発振回路72の出力電圧V
sの角周波数ωおよび抵抗値Rは夫々定数であるため、
演算回路71の出力電圧Voは静電容量Cxと浮遊容量
Cfとの和に比例した値となる。ここで、ケーブル3の
長さや引回し状態が変化しないと仮定すると浮遊容量C
fは一定である。したがって既知の距離d1 ,d2 に対
する演算回路71の出力電圧Vo1 ,Vo2 を測定する
ことによって浮遊容量Cfを知ることができる。このよ
うにして求めた浮遊容量Cfを用いて未知の距離dに対
する静電容量Cxを知ることができる。
【0005】また、センサ電極2と被加工物1の表面と
の間の距離dの変化量Δdと、静電容量Cxの変化量Δ
Cxとは反比例の関係がある。それ故、演算回路71の
出力電圧Voの変化量ΔVoとΔCxとの間には、浮遊
容量Cfが一定であると仮定するなら、式(7)より ΔVo=AΔCx (8) が成立する。したがって、浮遊容量Cfが一定であると
仮定するなら、出力電圧Voおよびその変化量ΔVoか
ら静電容量Cxおよびその変化量ΔCxを知ることがで
きる。したがって、出力電圧Voとその変化量ΔVoを
求めることによって、式(7)および式(8)からセン
サ電極2と被加工物1の表面との間の距離dとその変化
量Δdを1/Cxおよび1/ΔCxの関数として求める
ことができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来装置において
は、距離dおよびその変化量Δdは浮遊容量Cfが一定
であるという条件が成立する限りにおいては式(7)お
よび式(8)から静電容量Cxおよびその変化量ΔCx
の関数となり、演算回路71の出力電圧Voとその変化
量ΔVoによって直接的に求めることができる。しかる
に、センサ電極2と被加工物1との間の静電容量Cxは
数ピコファラッド[PF]程度の値であるのに対して、
ケーブル3と被加工物1または大地との間の浮遊容量C
fは数ピコファラッド[PF]ないし数10ピコファラ
ッド[PF]の値となり、式(7)に占める割合が極め
て大きい。さらにこの浮遊容量Cfはケーブル3の引回
し方や取付け等によって異なり、特にトーチ11をロボ
ットに取付けて加工線に沿って移動させるときは、ケー
ブル3と大地との位置関係が刻々と変化するために浮遊
容量Cfもこれに伴って大きく変化する。浮遊容量Cf
が変化すると式(7)によって静電容量Cxが求められ
なくなり、また式(8)が成立しなくなるので静電容量
Cxおよびその変化量ΔCxを知ることができず、セン
サ電極2と被加工物1の表面との間の距離dおよびその
変化量Δdを正確に求めることができない。またトーチ
11を固定とし、被加工物1をXYテーブル等に乗せて
移動させるものにおいても保守・点検等においてケーブ
ル3を取り替えたときにはやはり浮遊容量Cfが変化
し、正確な距離を検出するためにはその都度調整をやり
直すことが必要となる。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記従来装置の
問題点を解決して、センサ電極と被加工物との間の静電
容量を正確に検出するために、以下の構成からなるレー
ザ加工装置用ノズルハイトセンサを提案するものであ
る。すなわち、センサ電極と被加工物との間に定周波数
の正弦波交流電圧を供給する発振回路と、センサ電極に
近接して取付けた前記センサ電極と前記被加工物との間
の静電容量に流れる電流を電圧信号に変換する変換回路
と、前記発振回路の出力電圧および前記変換回路の出力
電圧を入力として前記センサ電極と前記被加工物との間
の静電容量を演算する演算回路とを備えたものである。
さらにこの演算回路としては、前記発振回路の出力信号
Vsと前記変換回路の出力信号Vrとを入力として、出
力信号Voが次式 Vo=Vr/(Vs−Vr)=ACx (但し、A
は定数) となる回路であり、この出力信号Voから前記静電容量
Cxを得ることができる。また前記変換回路は、前記静
電容量Cxを流れる電流を検出する電流検出素子と、こ
の電流検出素子の両端の電位差を検出する電圧検出回路
とから構成される。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態を示す
図である。同図において4はセンサ電極2に近接して取
付けた変換回路であり、センサ電極2と被加工物1との
間の静電容量Cxを流れる電流を電圧信号に変換する回
路である。また、5は定周波数の正弦波交流電圧Vsを
供給する発振回路52と、前記センサ電極2と被加工物
1との両者間の距離dに相当する出力電圧Voを演算す
る演算回路51とから構成される演算回路部である。同
図においてその他は図3に示した従来装置と同機能のも
のに同符号を付して詳細な説明は省略する。
【0009】同図の装置においては、ケ−ブル3と大地
との間の浮遊容量Cfに発振回路52からの出力電流が
分流しても変換回路4には静電容量Cxを流れる電流に
相当する電圧のみが検出されるので、ケーブル3と大地
との間の浮遊容量Cfに影響されることなくセンサ電極
2と被加工物1との間の正確な静電容量Cxの検出が可
能となる。
【0010】図2は図1において、変換回路4と演算回
路部5との動作を説明するためにノズル等の変換回路4
および演算回路部5に直接関係しない部分の図示を省略
した図である。同図において、変換回路4は発振回路5
2からの出力電流Iを検出する発振回路52とセンサ電
極2との間に接続された電流検出素子、例えば抵抗器4
2と、この抵抗器42の両端の電位差を検出する電圧検
出回路41とから構成されている。電圧検出回路41
は、抵抗器R1ないしR4とオペアンプOP1ないしO
P3とから構成された差動増幅回路である。一般的に、
この差動増幅回路の抵抗器R1ないしR4の抵抗値は同
じ値である。また、オペアンプOP1ないしOP3のマ
イナス側の入力端子とプラス側の入力端子の電位はほぼ
同電位であり、この2端子間のインピーダンス、すなわ
ち入力インピーダンスは非常に大きい(理想オペアンプ
では無限大)。したがって、電圧検出回路41では、抵
抗器42の両端の電位差を検出してこの電位差に等しい
電圧信号をケ−ブル31を経由し、演算回路51に出力
する。すなわち、変換回路4は、静電容量Cxを流れる
電流に相当する電圧を出力する。
【0011】図2の装置において、発振回路52からの
出力電流Iは、ケーブル3、浮遊容量Cfを通り大地へ
流れるルートと、ケーブル3、抵抗器42、センサ電極
2、静電容量Cx、被加工物1を通り大地へ流れるルー
トとがある。すなわち、静電容量Cxを流れる電流のみ
が抵抗器42へ流れる。したがって、抵抗器42を流れ
る電流Iは抵抗器42の抵抗値をR、抵抗器の端子電圧
をVrとすれば、 I=Vr/R (9) となる。また、センサ電極2と被加工物1との間の電圧
Vxは、 Vx=Vs−Vr (10) である。この電圧Vxは抵抗器42に流れる電流Iによ
って静電容量Cxに発生する電圧に等しいから Vx=(1/(jω・Cx))・I (但しjは虚数単
位、ωは角周波数) となり、式(9)を代入すると、 Vx=(1/(jω・Cx))・(Vr/R) (11) となる。式(10)および式(11)から jω・Cx=Vr/(R(Vs−Vr)) (12) となる。したがって演算回路部5の演算回路51は、前
述した電圧検出回路41からの出力電圧Vrと発振回路
52の出力電圧Vsとを入力として、Vr/(Vs−V
r)を演算し出力する演算回路とすれば、その出力電圧
をVoとすると式(12)より、 Vo=Vr/(Vs−Vr) =jω・R・Cx =ACx (但し、A=jω・R) (13) となる。ここで、式(13)において、角周波数ωおよ
び抵抗値Rは夫々定数であるため、演算回路51の出力
電圧Voは静電容量Cxの値に比例する。またこの静電
容量Cxは、センサ電極2と被加工物1との間の距離d
に反比例するから、演算回路51によって距離dの値を
ケーブル3と被加工物1または大地との間の浮遊容量C
fに関係なく検出することができる。
【0012】なお、発振回路52からの出力電流Iを検
出する電流検出素子の一例として抵抗器42を使用した
が、前記抵抗器42を他の電流検出素子の例えばコンデ
ンサに置き換えても、コンデンサと抵抗器との組合わせ
等に置き換えても、演算回路51の出力電圧Voは静電
容量Cxに比例した出力となり、静電容量Cxおよびそ
の変化量ΔCxに反比例する距離dおよびその変化量Δ
dを直接的に検出することができるのは勿論である。
【0013】また、上記においては変換回路4のみをセ
ンサ電極2に近接して設けたが、演算回路部5もセンサ
電極2に近接して設けるようにすればケーブル3から混
入するノイズをなくすことができる。
【0014】
【発明の効果】本発明のハイトセンサは上記の通りであ
るので、ケーブルの浮遊容量の影響を全く受けず正確な
検出が可能である。それ故、レーザトーチをロボットに
取付けて2次元や3次元の加工線に沿って移動させると
きにも全く誤差を生じることがない。また、保守・点検
等において、ケーブルを取り替えた場合においても何ら
調整し直す必要がなく常に安定した検出精度が確保でき
るものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のハイトセンサの実施の形態を示す図で
ある。
【図2】本発明のハイトセンサに用いる変換回路と演算
回路部との例を他の部分を一部省略して示した図であ
る。
【図3】従来のハイトセンサの例を示す図である。
【符号の説明】
1 被加工物 2 センサ電極 3,31 ケーブル 4,6 変換回路 5,7 演算回路部 11 トーチ 12 ノズル 13 集光レンズ 41,61 電圧検出回路 42,62 抵抗器 51,71 演算回路 52,72 発振回路 Cx センサ電極と被加工物との間の静電容量 Cf ケーブルと大地(被加工物)との間の浮遊容量 Vo 演算回路の出力電圧 Vs 発振回路の出力電圧 d センサ電極と被加工物との間の距離 R1ないしR4 抵抗器 OP1ないしOP3 オペアンプ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光を出射するノズル先端部と被加
    工物との間の距離を検出するためのレーザ加工装置用ノ
    ズルハイトセンサにおいて、前記ノズル先端部近傍に取
    りつけたセンサ電極と、前記センサ電極と被加工物との
    間に定周波数の正弦波交流電圧を供給する発振回路と、
    前記センサ電極に近接して取付けた前記センサ電極と前
    記被加工物との間の静電容量に流れる電流を電圧信号に
    変換するための変換回路と、前記発振回路の出力電圧と
    前記変換回路の出力電圧とを入力として前記センサ電極
    と前記被加工物との間の静電容量を演算する演算回路と
    を具備したレーザ加工装置用ノズルハイトセンサ。
  2. 【請求項2】 前記演算回路は、前記発振回路の出力信
    号Vsと前記変換回路の出力信号Vrとを入力として出
    力信号 Vo=Vr/(Vs−Vr) を得る請求項1に記載のレーザ加工装置用ノズルハイト
    センサ。
  3. 【請求項3】 前記変換回路は、前記発振回路と前記セ
    ンサ電極との間に接続された電流検出素子と、前記電流
    検出素子の両端の電位差を検出する電圧検出回路とから
    なる請求項1に記載のレーザ加工装置用ノズルハイトセ
    ンサ。
JP8203004A 1996-07-12 1996-07-12 レーザ加工装置用ノズルハイトセンサ Pending JPH1029083A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007060008A1 (de) * 2005-11-25 2007-05-31 Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg Laserbearbeitungsdüse
JP2011227094A (ja) * 2011-08-01 2011-11-10 Mitsubishi Electric Corp 状態検出装置およびレーザ加工装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007060008A1 (de) * 2005-11-25 2007-05-31 Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg Laserbearbeitungsdüse
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