JPH10272120A - 磁気共鳴システムの磁場を補償する方法 - Google Patents
磁気共鳴システムの磁場を補償する方法Info
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- JPH10272120A JPH10272120A JP10000209A JP20998A JPH10272120A JP H10272120 A JPH10272120 A JP H10272120A JP 10000209 A JP10000209 A JP 10000209A JP 20998 A JP20998 A JP 20998A JP H10272120 A JPH10272120 A JP H10272120A
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- phase
- pulse
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- eddy current
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/565—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities
- G01R33/56518—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities due to eddy currents, e.g. caused by switching of the gradient magnetic field
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 渦電流によって誘起される空間的に且つ時間
的に変化する磁場を測定すると共に補償することによ
り、画像の歪み、信号強度の低下、ゴースト、暗影及び
渦電流に起因する他のアーティファクトを防止すること
のできる磁気共鳴システムの磁場を補償する方法を提供
する。 【解決手段】 較正走査を用いて、テスト・データ・セ
ットを収集し（２００）、このテスト・データ・セット
から、テスト勾配パルスによって誘起された渦電流を時
間的にも空間的にも分解することができる。補償パラメ
ータを算出し、この補償パラメータを用いて、測定され
た渦電流を相殺する。
的に変化する磁場を測定すると共に補償することによ
り、画像の歪み、信号強度の低下、ゴースト、暗影及び
渦電流に起因する他のアーティファクトを防止すること
のできる磁気共鳴システムの磁場を補償する方法を提供
する。 【解決手段】 較正走査を用いて、テスト・データ・セ
ットを収集し（２００）、このテスト・データ・セット
から、テスト勾配パルスによって誘起された渦電流を時
間的にも空間的にも分解することができる。補償パラメ
ータを算出し、この補償パラメータを用いて、測定され
た渦電流を相殺する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明の分野は、核磁気共鳴イメ
ージングの方法及びシステムである。より具体的には、
本発明は、渦電流によって誘起される空間的に且つ時間
的に変化する磁場の測定及びこれに続く補償に関する。
これらを行うと、画像の歪み、信号強度の低下、ゴース
ト、暗影（shading）及び渦電流に起因する他のアーテ
ィファクトを防止することができる。
ージングの方法及びシステムである。より具体的には、
本発明は、渦電流によって誘起される空間的に且つ時間
的に変化する磁場の測定及びこれに続く補償に関する。
これらを行うと、画像の歪み、信号強度の低下、ゴース
ト、暗影（shading）及び渦電流に起因する他のアーテ
ィファクトを防止することができる。
【０００２】
【従来の技術】人体組織のような物体が均一の磁場（分
極磁場Ｂ0 ）にさらされるときに、組織内のスピンの個
々の磁気モーメントは、この分極磁場に沿って整列しよ
うとするが、各スピン固有のラーモア周波数において乱
雑な状態で磁場の周りを歳差運動する。物体、即ち組織
が、ｘ−ｙ平面内に存在すると共にラーモア周波数に近
い磁場（励起磁場Ｂ1 ）にさらされると、正味の整列磁
気モーメントＭz は、ｘ−ｙ平面に向かって回転する、
即ち「傾斜する」ことが可能であって、その結果、正味
の横（方向）磁気モーメントＭt を発生する。励起した
スピンによって信号が放出され、励起信号Ｂ1 を停止さ
せた後に、この信号を受信すると共に処理して画像を形
成することができる。
極磁場Ｂ0 ）にさらされるときに、組織内のスピンの個
々の磁気モーメントは、この分極磁場に沿って整列しよ
うとするが、各スピン固有のラーモア周波数において乱
雑な状態で磁場の周りを歳差運動する。物体、即ち組織
が、ｘ−ｙ平面内に存在すると共にラーモア周波数に近
い磁場（励起磁場Ｂ1 ）にさらされると、正味の整列磁
気モーメントＭz は、ｘ−ｙ平面に向かって回転する、
即ち「傾斜する」ことが可能であって、その結果、正味
の横（方向）磁気モーメントＭt を発生する。励起した
スピンによって信号が放出され、励起信号Ｂ1 を停止さ
せた後に、この信号を受信すると共に処理して画像を形
成することができる。
【０００３】イメージング及び多くの局在化スペクトロ
スコーピ技術に対して磁気共鳴を応用するときには、特
定の領域を選択的に励起すると共にＮＭＲ信号内の空間
情報をエンコーディングする線形の磁場勾配の使用に依
存する。ＮＭＲ実験の際には、特別に選択された時間的
変動を有する磁場勾配波形が用いられる。従って、理想
的な磁場勾配波形の印加から少しでも逸脱すると、画像
の歪み、強度の低下、ゴースト及びその他のアーティフ
ァクトが導入されるものと予期される。例えば、選択的
時間反転パルス（即ち、１８０°時間反転ＲＦパルスの
使用）の最中に磁場勾配が一定でなければ、核スピンの
リフェイジング（再位相合わせ）が不完全になり、これ
に伴って信号が低下する。この影響は、後のマルチ・エ
コー（Carr-Purcell-Mieboom-Gill）・シーケンスのス
ピン・エコーに組み込まれる。加えて、磁場勾配がゼロ
でなければならないときに（勾配パルスの停止後の残留
減衰に起因して）ゼロでなければ、意図しない位相分散
によって、化学シフト画像（ＣＳＩ）シーケンスでのス
ペクトルが歪み、又、マルチ・エコー・シーケンスでの
スピン−スピン緩和時間（Ｔ2 ）の決定が不正確になる
おそれがある。このように、当業者は、時間変化する磁
場勾配を発生する際の精度にとりわけ関心を寄せてい
る。
スコーピ技術に対して磁気共鳴を応用するときには、特
定の領域を選択的に励起すると共にＮＭＲ信号内の空間
情報をエンコーディングする線形の磁場勾配の使用に依
存する。ＮＭＲ実験の際には、特別に選択された時間的
変動を有する磁場勾配波形が用いられる。従って、理想
的な磁場勾配波形の印加から少しでも逸脱すると、画像
の歪み、強度の低下、ゴースト及びその他のアーティフ
ァクトが導入されるものと予期される。例えば、選択的
時間反転パルス（即ち、１８０°時間反転ＲＦパルスの
使用）の最中に磁場勾配が一定でなければ、核スピンの
リフェイジング（再位相合わせ）が不完全になり、これ
に伴って信号が低下する。この影響は、後のマルチ・エ
コー（Carr-Purcell-Mieboom-Gill）・シーケンスのス
ピン・エコーに組み込まれる。加えて、磁場勾配がゼロ
でなければならないときに（勾配パルスの停止後の残留
減衰に起因して）ゼロでなければ、意図しない位相分散
によって、化学シフト画像（ＣＳＩ）シーケンスでのス
ペクトルが歪み、又、マルチ・エコー・シーケンスでの
スピン−スピン緩和時間（Ｔ2 ）の決定が不正確になる
おそれがある。このように、当業者は、時間変化する磁
場勾配を発生する際の精度にとりわけ関心を寄せてい
る。
【０００４】磁場勾配の発生時の歪みは、勾配磁場が、
（マグネットが超伝導設計である場合ならば）分極マグ
ネットのクライオスタットのような分極マグネット内の
減衰性構造体、シム・コイル系、又はＲＦコイルから勾
配コイルを切り離すのに用いられるＲＦシールドと結合
すると生じ得る。勾配の歪みは、これら周囲の構造体内
の電流の誘起に由来し、又、シム・コイルにおけるエネ
ルギの損失に由来する。これらの誘起電流は渦電流とし
て知られている。渦電流によって、典型的には、勾配コ
イルに台形（trapezoid）の電流パルスを印加している
最中には磁場勾配の指数関数的な増大が、又、電流の印
加後には磁場勾配の指数関数的な減衰が観測される。
（マグネットが超伝導設計である場合ならば）分極マグ
ネットのクライオスタットのような分極マグネット内の
減衰性構造体、シム・コイル系、又はＲＦコイルから勾
配コイルを切り離すのに用いられるＲＦシールドと結合
すると生じ得る。勾配の歪みは、これら周囲の構造体内
の電流の誘起に由来し、又、シム・コイルにおけるエネ
ルギの損失に由来する。これらの誘起電流は渦電流とし
て知られている。渦電流によって、典型的には、勾配コ
イルに台形（trapezoid）の電流パルスを印加している
最中には磁場勾配の指数関数的な増大が、又、電流の印
加後には磁場勾配の指数関数的な減衰が観測される。
【０００５】米国特許第４，６９８，５９１号「磁場勾
配の渦電流を補償する方法」（"A Method for Magnetic
Field Gradient Eddy Current Compensation）には、
勾配の電源内にアナログ・プリエンファシス・フィルタ
を用いて、渦電流によって誘起される勾配磁場の歪みが
減少されるような方式で勾配コイルに印加される電流の
形状を形成する方法が開示されている。このフィルタ
は、多数の指数関数的な減衰成分と、調整可能なポテン
シオメータとを含んでおり、ポテンシオメータは、シス
テム較正の間に設定されなければならない。システム較
正に先立って、無修正の磁場勾配のインパルス応答を測
定し、次いで、プリエンファシス・フィルタ向けのポテ
ンシオメータの設定を算出するという測定手法が用いら
れている。
配の渦電流を補償する方法」（"A Method for Magnetic
Field Gradient Eddy Current Compensation）には、
勾配の電源内にアナログ・プリエンファシス・フィルタ
を用いて、渦電流によって誘起される勾配磁場の歪みが
減少されるような方式で勾配コイルに印加される電流の
形状を形成する方法が開示されている。このフィルタ
は、多数の指数関数的な減衰成分と、調整可能なポテン
シオメータとを含んでおり、ポテンシオメータは、シス
テム較正の間に設定されなければならない。システム較
正に先立って、無修正の磁場勾配のインパルス応答を測
定し、次いで、プリエンファシス・フィルタ向けのポテ
ンシオメータの設定を算出するという測定手法が用いら
れている。
【０００６】このような線形磁場勾配の補償によってＭ
Ｒシステムの性能は向上するが、パルス状の線形磁場勾
配を印加する結果として磁場の歪みは依然として生じる
ことが見出されている。より明確に述べると、測定値の
示すところによれば、磁場勾配パルスによって誘起され
る渦電流は、不要な線形磁場勾配を発生するのみなら
ず、空間的に均一な分極磁場Ｂ0 に時間的な変動を発生
させる。即ち、磁場勾配パルスが原因となって、分極磁
場Ｂ0 の大きさに偽の変化が生ずるのである。米国特許
第４，９５０，９９４号に記載されているように、渦電
流によって誘起されるＢ0 磁場の変化を測定すると共に
補償するための諸手法が開発されてきた。
Ｒシステムの性能は向上するが、パルス状の線形磁場勾
配を印加する結果として磁場の歪みは依然として生じる
ことが見出されている。より明確に述べると、測定値の
示すところによれば、磁場勾配パルスによって誘起され
る渦電流は、不要な線形磁場勾配を発生するのみなら
ず、空間的に均一な分極磁場Ｂ0 に時間的な変動を発生
させる。即ち、磁場勾配パルスが原因となって、分極磁
場Ｂ0 の大きさに偽の変化が生ずるのである。米国特許
第４，９５０，９９４号に記載されているように、渦電
流によって誘起されるＢ0 磁場の変化を測定すると共に
補償するための諸手法が開発されてきた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】渦電流によって発生さ
れる磁場は、その時間的且つ空間的な依存性のため複雑
化している現象である。この問題を単純化するために、
渦電流の測定及び補償を行う従来の補正方法では、米国
特許第４，６９８，５９１号及び同第４，９５０，９９
４号で説明されているように、空間的依存性が０次（即
ち、均一な分極磁場Ｂ0 ）及び１次（即ち、線形磁場勾
配）のみに限定されているものと仮定している。渦電流
によって誘起される磁場のうち、これらよりも高次の空
間的依存性（２次、３次等）は補償されないままとな
り、残留の画像アーティファクト及びスペクトルスコー
ピの質の低下を招いている。米国特許第４，５９１，７
８９号に記載されているように、形状の歪み等の画質の
問題のいくつかを扱う諸方法が開発されているが、ゴー
スト、暗影、強度の低下、スペクトルのシフト及び位相
誤差を含めた他の問題は依然として残されている。
れる磁場は、その時間的且つ空間的な依存性のため複雑
化している現象である。この問題を単純化するために、
渦電流の測定及び補償を行う従来の補正方法では、米国
特許第４，６９８，５９１号及び同第４，９５０，９９
４号で説明されているように、空間的依存性が０次（即
ち、均一な分極磁場Ｂ0 ）及び１次（即ち、線形磁場勾
配）のみに限定されているものと仮定している。渦電流
によって誘起される磁場のうち、これらよりも高次の空
間的依存性（２次、３次等）は補償されないままとな
り、残留の画像アーティファクト及びスペクトルスコー
ピの質の低下を招いている。米国特許第４，５９１，７
８９号に記載されているように、形状の歪み等の画質の
問題のいくつかを扱う諸方法が開発されているが、ゴー
スト、暗影、強度の低下、スペクトルのシフト及び位相
誤差を含めた他の問題は依然として残されている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、渦電流によっ
て誘起される磁場の歪みを測定すると共に補償するのに
用いられる従来法の改良である。これを行うと、上述し
た画像及びスペクトルの質の問題がいずれも解消される
か又は大幅に減少する。より明確に述べると、本発明
は、勾配パルスの印加によって生ずる渦電流の変動を空
間的に且つ時間的に分解する方法を含んでいる。一連の
位相画像が形成され、これらの位相画像から、渦電流に
よって発生されており、空間的に且つ時間的に分解され
た磁場が算出される。ここから、空間的に分解された渦
電流成分の大きさと時定数とを算出することができ、こ
れを後続の走査に用いて、さもなければ発生していた歪
みを補正することができる。
て誘起される磁場の歪みを測定すると共に補償するのに
用いられる従来法の改良である。これを行うと、上述し
た画像及びスペクトルの質の問題がいずれも解消される
か又は大幅に減少する。より明確に述べると、本発明
は、勾配パルスの印加によって生ずる渦電流の変動を空
間的に且つ時間的に分解する方法を含んでいる。一連の
位相画像が形成され、これらの位相画像から、渦電流に
よって発生されており、空間的に且つ時間的に分解され
た磁場が算出される。ここから、空間的に分解された渦
電流成分の大きさと時定数とを算出することができ、こ
れを後続の走査に用いて、さもなければ発生していた歪
みを補正することができる。
【０００９】本発明の目的は、勾配パルスによって発生
される渦電流の空間的且つ時間的な変動を測定すること
にある。これを行うには、較正パルス・シーケンスを用
いて較正走査を実行する。較正パルス・シーケンスはテ
スト勾配Ｇtestで開始し、続いて、最適な傾斜角度（即
ち、エルンスト角度）を有する非選択的ＲＦパルスを印
加する。ＲＦパルスによって誘起されるＦＩＤ（自由誘
導減衰信号）が、位相エンコーディング勾配を用いて
（ファントムの形状に応じて）１次元、２次元又は３次
元で空間エンコーディングされる。空間エンコーディン
グの後にも、ＦＩＤ信号は、渦電流によって発生される
時間変化する磁場の存在下での歳差を続けている。従っ
て、渦電流の時間的挙動も又、ＦＩＤ信号内にエンコー
ディングされている。位相エンコーディング勾配を用い
ているので、時間変化する磁場は、Ｇtest勾配及び位相
エンコーディング勾配の両方によって生ずる渦電流に起
因するものとなる。後者からの影響を除去し、又、静的
なＢ0 磁場の不均一性の影響を除去するために、上述の
パルス・シーケンスが反復されるが、このときにはテス
ト勾配の極性を反転して−Ｇtestとする。
される渦電流の空間的且つ時間的な変動を測定すること
にある。これを行うには、較正パルス・シーケンスを用
いて較正走査を実行する。較正パルス・シーケンスはテ
スト勾配Ｇtestで開始し、続いて、最適な傾斜角度（即
ち、エルンスト角度）を有する非選択的ＲＦパルスを印
加する。ＲＦパルスによって誘起されるＦＩＤ（自由誘
導減衰信号）が、位相エンコーディング勾配を用いて
（ファントムの形状に応じて）１次元、２次元又は３次
元で空間エンコーディングされる。空間エンコーディン
グの後にも、ＦＩＤ信号は、渦電流によって発生される
時間変化する磁場の存在下での歳差を続けている。従っ
て、渦電流の時間的挙動も又、ＦＩＤ信号内にエンコー
ディングされている。位相エンコーディング勾配を用い
ているので、時間変化する磁場は、Ｇtest勾配及び位相
エンコーディング勾配の両方によって生ずる渦電流に起
因するものとなる。後者からの影響を除去し、又、静的
なＢ0 磁場の不均一性の影響を除去するために、上述の
パルス・シーケンスが反復されるが、このときにはテス
ト勾配の極性を反転して−Ｇtestとする。
【００１０】この方法によって発生される２つのＦＩＤ
信号を、Ｓ+ （ｋx ，ｋy ，ｋz ，ｔi ）及びＳ- （ｋ
x ，ｋy ，ｋz ，ｔi ）と表すことができる。ここで、
ｔiはＦＩＤ信号の離散的な時間点（ｉ＝１，２，…，
Ｎ）を表しており、他の３つのパラメータは空間周波数
である。ｋx 、ｋy 及びｋz を変数としてＳ+ 及びＳ -
に対して多次元の高速フーリエ変換（ＦＦＴ）を行う
と、時間で分解された２つのセットの複素画像Ｉ+
（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）及びＩ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）が
形成される。これらの複素画像は、容易に位相画像φ+
（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）及びφ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）に
変換され得る。位相エンコーディング勾配によって生じ
た渦電流の影響を、静的なＢ0 磁場の不均一性の影響と
共に除去するために、この２つのセットの位相画像を減
算すると、テスト勾配によって発生されている渦電流に
直接的に関係付けられる１つのセットの位相差画像が形
成される。即ち、φ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）＝［φ+
（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）−φ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）］／
２とする。φ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）の時間導関数から、
渦電流に起因する時間的に且つ空間的に分解された磁場
Ｂ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）が得られる。Ｂを球面調和関数
分解すると、一連の時間点ｔi における渦電流によって
誘起された磁場の空間分布が得られる。続いて、時間を
横軸として調和関数の係数を指数曲線フィッティング
（fitting）で求めると、適正な補償を行うための空間
的に分解された渦電流成分の大きさ及び時定数が得られ
る。
信号を、Ｓ+ （ｋx ，ｋy ，ｋz ，ｔi ）及びＳ- （ｋ
x ，ｋy ，ｋz ，ｔi ）と表すことができる。ここで、
ｔiはＦＩＤ信号の離散的な時間点（ｉ＝１，２，…，
Ｎ）を表しており、他の３つのパラメータは空間周波数
である。ｋx 、ｋy 及びｋz を変数としてＳ+ 及びＳ -
に対して多次元の高速フーリエ変換（ＦＦＴ）を行う
と、時間で分解された２つのセットの複素画像Ｉ+
（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）及びＩ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）が
形成される。これらの複素画像は、容易に位相画像φ+
（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）及びφ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）に
変換され得る。位相エンコーディング勾配によって生じ
た渦電流の影響を、静的なＢ0 磁場の不均一性の影響と
共に除去するために、この２つのセットの位相画像を減
算すると、テスト勾配によって発生されている渦電流に
直接的に関係付けられる１つのセットの位相差画像が形
成される。即ち、φ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）＝［φ+
（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）−φ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）］／
２とする。φ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）の時間導関数から、
渦電流に起因する時間的に且つ空間的に分解された磁場
Ｂ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）が得られる。Ｂを球面調和関数
分解すると、一連の時間点ｔi における渦電流によって
誘起された磁場の空間分布が得られる。続いて、時間を
横軸として調和関数の係数を指数曲線フィッティング
（fitting）で求めると、適正な補償を行うための空間
的に分解された渦電流成分の大きさ及び時定数が得られ
る。
【００１１】
【実施例】先ず、図１について説明する。同図には、本
発明を組み込んだ好適なＭＲＩシステムの主要な構成要
素が示されている。システムの動作は、キーボード及び
制御パネル１０２と、ディスプレイ１０４とを含んでい
るオペレータ・コンソール１００から制御される。コン
ソール１００はリンク１１６を介して、独立した計算機
システム１０７と交信しており、計算機システム１０７
は、オペレータがスクリーン１０４上での画像の形成及
び表示を制御することを可能にしている。計算機システ
ム１０７は、バックプレーンを介して互いに交信してい
るいくつかのモジュールを含んでいる。これらのモジュ
ールは、画像プロセッサ・モジュール１０６と、ＣＰＵ
モジュール１０８と、画像データ配列を記憶するフレー
ム・バッファとして当業界で知られているメモリ・モジ
ュール１１３とを含んでいる。計算機システム１０７
は、画像データ及びプログラムを記憶するためのディス
ク記憶装置１１１及びテープ・ドライブ１１２に結合さ
れていると共に、高速シリアル・リンク１１５を介して
別個のシステム制御部１２２と交信している。
発明を組み込んだ好適なＭＲＩシステムの主要な構成要
素が示されている。システムの動作は、キーボード及び
制御パネル１０２と、ディスプレイ１０４とを含んでい
るオペレータ・コンソール１００から制御される。コン
ソール１００はリンク１１６を介して、独立した計算機
システム１０７と交信しており、計算機システム１０７
は、オペレータがスクリーン１０４上での画像の形成及
び表示を制御することを可能にしている。計算機システ
ム１０７は、バックプレーンを介して互いに交信してい
るいくつかのモジュールを含んでいる。これらのモジュ
ールは、画像プロセッサ・モジュール１０６と、ＣＰＵ
モジュール１０８と、画像データ配列を記憶するフレー
ム・バッファとして当業界で知られているメモリ・モジ
ュール１１３とを含んでいる。計算機システム１０７
は、画像データ及びプログラムを記憶するためのディス
ク記憶装置１１１及びテープ・ドライブ１１２に結合さ
れていると共に、高速シリアル・リンク１１５を介して
別個のシステム制御部１２２と交信している。
【００１２】システム制御部１２２は、バックプレーン
１１８によってまとめて接続された一組のモジュールを
含んでいる。これらのモジュールは、ＣＰＵモジュール
１１９と、パルス発生器モジュール１２１とを含んでお
り、パルス発生器モジュール１２１は、シリアル・リン
ク１２５を介してオペレータ・コンソール１００に接続
している。リンク１２５を介して、システム制御部１２
２は実行されるべき走査シーケンスを指示する命令（コ
マンド）をオペレータから受け取る。パルス発生器モジ
ュール１２１は、システムの構成要素を動作させて、所
望の走査シーケンスを実行する。モジュール１２１は、
発生されるべきＲＦパルスのタイミング、強度及び形
状、並びにデータ収集ウィンドウのタイミング及び長さ
を指示するデータを発生する。パルス発生器モジュール
１２１は、一組の勾配増幅器１２７に接続しており、走
査中に発生される勾配パルスのタイミング及び形状を指
示する。パルス発生器モジュール１２１は又、患者に接
続されたいくつかの異なるセンサからの信号、例えば電
極からの心電図（ＥＣＧ）信号又はベローズからの呼吸
信号を受信する生理学データ収集制御装置１２９から患
者のデータを受信する。最後になるが、パルス発生器モ
ジュール１２１は、走査室インタフェイス回路１３３に
接続しており、走査室インタフェイス回路１３３は、患
者及びマグネットの状態に関連した様々なセンサからの
信号を受信する。走査室インタフェイス回路１３３を介
して、患者位置決めシステム１３４も又、走査に望まし
い位置に患者を移動させるための命令を受信する。
１１８によってまとめて接続された一組のモジュールを
含んでいる。これらのモジュールは、ＣＰＵモジュール
１１９と、パルス発生器モジュール１２１とを含んでお
り、パルス発生器モジュール１２１は、シリアル・リン
ク１２５を介してオペレータ・コンソール１００に接続
している。リンク１２５を介して、システム制御部１２
２は実行されるべき走査シーケンスを指示する命令（コ
マンド）をオペレータから受け取る。パルス発生器モジ
ュール１２１は、システムの構成要素を動作させて、所
望の走査シーケンスを実行する。モジュール１２１は、
発生されるべきＲＦパルスのタイミング、強度及び形
状、並びにデータ収集ウィンドウのタイミング及び長さ
を指示するデータを発生する。パルス発生器モジュール
１２１は、一組の勾配増幅器１２７に接続しており、走
査中に発生される勾配パルスのタイミング及び形状を指
示する。パルス発生器モジュール１２１は又、患者に接
続されたいくつかの異なるセンサからの信号、例えば電
極からの心電図（ＥＣＧ）信号又はベローズからの呼吸
信号を受信する生理学データ収集制御装置１２９から患
者のデータを受信する。最後になるが、パルス発生器モ
ジュール１２１は、走査室インタフェイス回路１３３に
接続しており、走査室インタフェイス回路１３３は、患
者及びマグネットの状態に関連した様々なセンサからの
信号を受信する。走査室インタフェイス回路１３３を介
して、患者位置決めシステム１３４も又、走査に望まし
い位置に患者を移動させるための命令を受信する。
【００１３】パルス発生器モジュール１２１によって発
生された勾配波形は、Ｇx 増幅器と、Ｇy 増幅器と、Ｇ
z 増幅器とで構成されている勾配増幅器システム１２７
に印加される。各々の勾配増幅器は、全体的に参照番号
１３９で示すアセンブリ内の対応する勾配コイルを励起
して、収集される信号を位置エンコーディングするのに
用いられる線形磁場勾配を発生する。勾配コイル・アセ
ンブリ１３９は、分極マグネット１４０と全身型ＲＦコ
イル１５２とを含んでいるマグネット・アセンブリ１４
１の一部を形成している。システム制御部１２２内の送
受信器モジュール１５０がパルスを発生し、これらのパ
ルスは、ＲＦ増幅器１５１によって増幅されると共に、
送信／受信（Ｔ／Ｒ）スイッチ１５４によってＲＦコイ
ル１５２に結合される。患者内の励起核によって放出さ
れる結果として生ずる信号は、同じＲＦコイル１５２に
よって検知され、送信／受信スイッチ１５４を介して前
置増幅器１５３に結合されることができる。増幅された
ＮＭＲ信号は、送受信器１５０の受信器部において復調
され、濾波されると共にディジタル化される。送信／受
信スイッチ１５４は、パルス発生器モジュール１２１か
らの信号によって制御されて、送信モード中にはＲＦ増
幅器１５１をコイル１５２に電気的に接続し、受信モー
ド中には前置増幅器１５３をコイル１５２に電気的に接
続する。送信／受信スイッチ１５４は又、送信モード又
は受信モードのいずれの場合にも、分離型ＲＦコイル
（例えば、頭部コイル又は表面コイル）を用いることを
可能にしている。
生された勾配波形は、Ｇx 増幅器と、Ｇy 増幅器と、Ｇ
z 増幅器とで構成されている勾配増幅器システム１２７
に印加される。各々の勾配増幅器は、全体的に参照番号
１３９で示すアセンブリ内の対応する勾配コイルを励起
して、収集される信号を位置エンコーディングするのに
用いられる線形磁場勾配を発生する。勾配コイル・アセ
ンブリ１３９は、分極マグネット１４０と全身型ＲＦコ
イル１５２とを含んでいるマグネット・アセンブリ１４
１の一部を形成している。システム制御部１２２内の送
受信器モジュール１５０がパルスを発生し、これらのパ
ルスは、ＲＦ増幅器１５１によって増幅されると共に、
送信／受信（Ｔ／Ｒ）スイッチ１５４によってＲＦコイ
ル１５２に結合される。患者内の励起核によって放出さ
れる結果として生ずる信号は、同じＲＦコイル１５２に
よって検知され、送信／受信スイッチ１５４を介して前
置増幅器１５３に結合されることができる。増幅された
ＮＭＲ信号は、送受信器１５０の受信器部において復調
され、濾波されると共にディジタル化される。送信／受
信スイッチ１５４は、パルス発生器モジュール１２１か
らの信号によって制御されて、送信モード中にはＲＦ増
幅器１５１をコイル１５２に電気的に接続し、受信モー
ド中には前置増幅器１５３をコイル１５２に電気的に接
続する。送信／受信スイッチ１５４は又、送信モード又
は受信モードのいずれの場合にも、分離型ＲＦコイル
（例えば、頭部コイル又は表面コイル）を用いることを
可能にしている。
【００１４】ＲＦコイル１５２によって捕えられたＮＭ
Ｒ信号は、送受信器モジュール１５０によってディジタ
ル化されて、システム制御部１２２内のメモリ・モジュ
ール１６０へ転送される。走査が完了してデータ配列全
体がメモリ・モジュール１６０内に収集されたときに、
アレイ・プロセッサ１６１が動作して、このデータを画
像データ配列へフーリエ変換する。この画像データは、
シリアル・リンク１１５を介して計算機システム１０７
へ伝送されて、ここでディスク・メモリ１１１に記憶さ
れる。オペレータ・コンソール１００から受信された命
令に応答して、この画像データを外部のドライブ１１２
に保管してもよいし、又は、後に詳しく述べるが、画像
プロセッサ１０６によって更に処理してオペレータ・コ
ンソール１００へ伝送すると共にディスプレイ１０４に
表示してもよい。
Ｒ信号は、送受信器モジュール１５０によってディジタ
ル化されて、システム制御部１２２内のメモリ・モジュ
ール１６０へ転送される。走査が完了してデータ配列全
体がメモリ・モジュール１６０内に収集されたときに、
アレイ・プロセッサ１６１が動作して、このデータを画
像データ配列へフーリエ変換する。この画像データは、
シリアル・リンク１１５を介して計算機システム１０７
へ伝送されて、ここでディスク・メモリ１１１に記憶さ
れる。オペレータ・コンソール１００から受信された命
令に応答して、この画像データを外部のドライブ１１２
に保管してもよいし、又は、後に詳しく述べるが、画像
プロセッサ１０６によって更に処理してオペレータ・コ
ンソール１００へ伝送すると共にディスプレイ１０４に
表示してもよい。
【００１５】送受信器１５０に関するより詳細な記載に
ついては、米国特許第４，９５２，８７７号及び同第
４，９９２，７３６号がここに参照されるべきものであ
る。本発明は、図１のＭＲＩシステムに対して、印加さ
れる磁場勾配パルスによって発生される渦電流を測定す
る試験を周期的に行うことを可能にするものである。結
果として得られる空間的且つ時間的な渦電流に関する情
報から、分極マグネット１４０の一部を形成しているシ
ム・コイル（図示されていない）に対して、及び勾配コ
イル１３９自体に対して、相殺電流を印加することがで
きる。この渦電流補償は、１９９０年８月２１日に付与
された米国特許第４，９５０，９９４号「勾配磁場及び
分極磁場の補償」（"Gradient and Polarizing Field C
ompensation"）に記載されており、本特許はここに参照
されるべきものである。
ついては、米国特許第４，９５２，８７７号及び同第
４，９９２，７３６号がここに参照されるべきものであ
る。本発明は、図１のＭＲＩシステムに対して、印加さ
れる磁場勾配パルスによって発生される渦電流を測定す
る試験を周期的に行うことを可能にするものである。結
果として得られる空間的且つ時間的な渦電流に関する情
報から、分極マグネット１４０の一部を形成しているシ
ム・コイル（図示されていない）に対して、及び勾配コ
イル１３９自体に対して、相殺電流を印加することがで
きる。この渦電流補償は、１９９０年８月２１日に付与
された米国特許第４，９５０，９９４号「勾配磁場及び
分極磁場の補償」（"Gradient and Polarizing Field C
ompensation"）に記載されており、本特許はここに参照
されるべきものである。
【００１６】図２を詳細に説明する。較正走査が実行さ
れており、この走査でテスト・データが収集される。こ
の走査では、水を満たした球状のファントムを用いて磁
化率の影響を最小化することができる。ファントムの寸
法は、名目（ノミナル）のイメージング空間（例えば、
２３ｃｍ〜３０ｃｍ）を占有するように選択されてお
り、ファントム内に収容されている水をＣｕ2+等の常磁
性のイオンでドープして、Ｔ1 緩和時間を短縮してい
る。処理ブロック２００によって示すように、第１の工
程は、図３に示すパルス・シーケンスを用いた較正デー
タ・セットの収集である。このときには、正のテスト勾
配パルス２０２を用いる。関心領域（ＲＯＩ）の全体に
わたる横磁化を発生するために、非選択的ＲＦ励起パル
ス２０４を印加し、次いで、３つの独立した位相エンコ
ーディング勾配パルス２０６、２０８及び２１０を印加
して、ｘ軸、ｙ軸及びｚ軸のそれぞれに沿ってＦＩＤ信
号２１２を位相エンコーディングする。ＦＩＤ信号２１
２は、時刻ｔi に、ファントム内に収容されている水の
Ｔ2 によって決定される時間にわたってサンプリングさ
れる。Ｔ2 が短い場合には、ＲＦパルスをテスト勾配か
ら遠くなる方向にシフトさせることができ、そうして、
ＦＩＤの収集を図８に示すように様々なシフト時間間隔
で多数回繰り返してもよい。次いで、このようにして得
られた１つのセットのＦＩＤを連結して、より長い時間
を網羅する単一のＦＩＤを形成する。ＦＩＤ（又はＦＩ
Ｄのセット）の収集を繰り返すと共に位相エンコーディ
ング勾配２０６、２０８及び２１０を複数の値を通じて
段階的に変化させて、３次元のｋ空間をサンプリングす
る。すると、４次元のＮＭＲデータ・セットＳ+ （ｋ
x ，ｋ y ，ｋz ，ｔi ）が発生される。好ましい実施例
では、ｋ空間は、ｋx 軸に沿って１６回〜３２回、ｋy
軸に沿って１６回〜３２回、ｋz 軸に沿って１６回〜３
２回サンプリングされる。
れており、この走査でテスト・データが収集される。こ
の走査では、水を満たした球状のファントムを用いて磁
化率の影響を最小化することができる。ファントムの寸
法は、名目（ノミナル）のイメージング空間（例えば、
２３ｃｍ〜３０ｃｍ）を占有するように選択されてお
り、ファントム内に収容されている水をＣｕ2+等の常磁
性のイオンでドープして、Ｔ1 緩和時間を短縮してい
る。処理ブロック２００によって示すように、第１の工
程は、図３に示すパルス・シーケンスを用いた較正デー
タ・セットの収集である。このときには、正のテスト勾
配パルス２０２を用いる。関心領域（ＲＯＩ）の全体に
わたる横磁化を発生するために、非選択的ＲＦ励起パル
ス２０４を印加し、次いで、３つの独立した位相エンコ
ーディング勾配パルス２０６、２０８及び２１０を印加
して、ｘ軸、ｙ軸及びｚ軸のそれぞれに沿ってＦＩＤ信
号２１２を位相エンコーディングする。ＦＩＤ信号２１
２は、時刻ｔi に、ファントム内に収容されている水の
Ｔ2 によって決定される時間にわたってサンプリングさ
れる。Ｔ2 が短い場合には、ＲＦパルスをテスト勾配か
ら遠くなる方向にシフトさせることができ、そうして、
ＦＩＤの収集を図８に示すように様々なシフト時間間隔
で多数回繰り返してもよい。次いで、このようにして得
られた１つのセットのＦＩＤを連結して、より長い時間
を網羅する単一のＦＩＤを形成する。ＦＩＤ（又はＦＩ
Ｄのセット）の収集を繰り返すと共に位相エンコーディ
ング勾配２０６、２０８及び２１０を複数の値を通じて
段階的に変化させて、３次元のｋ空間をサンプリングす
る。すると、４次元のＮＭＲデータ・セットＳ+ （ｋ
x ，ｋ y ，ｋz ，ｔi ）が発生される。好ましい実施例
では、ｋ空間は、ｋx 軸に沿って１６回〜３２回、ｋy
軸に沿って１６回〜３２回、ｋz 軸に沿って１６回〜３
２回サンプリングされる。
【００１７】較正走査の目的は、ＦＩＤ信号２１２に対
するテスト勾配パルス２０２の影響を測定することにあ
る。しかしながら、位相エンコーディング勾配パルス２
０６、２０８及び２１０も渦電流を誘起するので、ＦＩ
Ｄ信号２１２に対するこれらの影響を、静的なＢ0 磁場
の不均一性の影響と共に相殺しなければならない。処理
ブロック２１６によって示すように、これを達成するた
めに、図３のパルス・シーケンスを用いた較正走査を反
復するが、このとき、極性の反転したテスト勾配パルス
２２０を用いる。その結果、第２のＮＭＲデータ・セッ
トＳ- （ｋx ，ｋy ，ｋz ，ｔi ）が発生される。処理
ブロック２２２に示すように、２つのデータ・セットＳ
+ 及びＳ- は、ｋx 、ｋy 及びｋz を変数として各々の
時間点ｔ i において別個にフーリエ変換される。この演
算は、時間で分解された２つのセットの画像Ｉ+ （ｘ，
ｙ，ｚ，ｔi ）及びＩ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）を発生す
る。これらの時間で分解された画像は実際には複素画像
であり、各々の画像は実数部Ｕと虚数部Ｖとを含んでい
る。処理ブロック２２４に示す次の工程は、これらの複
素画像を対応する位相画像に変換するものである。即
ち、 φ+ （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ） ＝ｔａｎ-1［Ｖ+ （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）／Ｕ+ （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）］ （１ａ） φ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ） ＝ｔａｎ-1［Ｖ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）／Ｕ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）］ （１ｂ） 次いで、処理ブロック２２６で、反転した勾配極性に対
応しているこれら２つのセット（組）の位相画像を互い
に減算して、位相エンコーディング勾配によって生じた
渦電流の影響を除去すると共に、静的な磁場の不均一性
をも除去する。
するテスト勾配パルス２０２の影響を測定することにあ
る。しかしながら、位相エンコーディング勾配パルス２
０６、２０８及び２１０も渦電流を誘起するので、ＦＩ
Ｄ信号２１２に対するこれらの影響を、静的なＢ0 磁場
の不均一性の影響と共に相殺しなければならない。処理
ブロック２１６によって示すように、これを達成するた
めに、図３のパルス・シーケンスを用いた較正走査を反
復するが、このとき、極性の反転したテスト勾配パルス
２２０を用いる。その結果、第２のＮＭＲデータ・セッ
トＳ- （ｋx ，ｋy ，ｋz ，ｔi ）が発生される。処理
ブロック２２２に示すように、２つのデータ・セットＳ
+ 及びＳ- は、ｋx 、ｋy 及びｋz を変数として各々の
時間点ｔ i において別個にフーリエ変換される。この演
算は、時間で分解された２つのセットの画像Ｉ+ （ｘ，
ｙ，ｚ，ｔi ）及びＩ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）を発生す
る。これらの時間で分解された画像は実際には複素画像
であり、各々の画像は実数部Ｕと虚数部Ｖとを含んでい
る。処理ブロック２２４に示す次の工程は、これらの複
素画像を対応する位相画像に変換するものである。即
ち、 φ+ （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ） ＝ｔａｎ-1［Ｖ+ （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）／Ｕ+ （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）］ （１ａ） φ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ） ＝ｔａｎ-1［Ｖ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）／Ｕ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）］ （１ｂ） 次いで、処理ブロック２２６で、反転した勾配極性に対
応しているこれら２つのセット（組）の位相画像を互い
に減算して、位相エンコーディング勾配によって生じた
渦電流の影響を除去すると共に、静的な磁場の不均一性
をも除去する。
【００１８】 φ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ） ＝［φ+ （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）−φ- （ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）］／２ （２） これにより、テスト勾配Ｇtestによって発生された渦電
流に関係付けられる値を有する新たな１つのセットの位
相差画像が得られる。引き続き図２を見ると、処理ブロ
ック２２８に示す次の工程は、渦電流によって発生され
ている時間で分解された磁場Ｂ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）を
算出するものである。これを行うには、位相画像φ
（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）の時間導関数を求める。
流に関係付けられる値を有する新たな１つのセットの位
相差画像が得られる。引き続き図２を見ると、処理ブロ
ック２２８に示す次の工程は、渦電流によって発生され
ている時間で分解された磁場Ｂ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）を
算出するものである。これを行うには、位相画像φ
（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）の時間導関数を求める。
【００１９】 Ｂti（ｘ，ｙ，ｚ） ＝［φ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi+1 ）−φ（ｘ，ｙ，ｚ，ｔi ）］ ／γ（ｔi+1 −ｔi ） （３） ここで、（ｔi+1 −ｔi ）はＦＩＤ信号のサンプリング
時間間隔であり、γは磁気回転比である。任意の所与の
時刻ｔi において、渦電流によって誘起される磁場Ｂti
（ｘ，ｙ，ｚ）を球面調和関数の和として表すことがで
きる。
時間間隔であり、γは磁気回転比である。任意の所与の
時刻ｔi において、渦電流によって誘起される磁場Ｂti
（ｘ，ｙ，ｚ）を球面調和関数の和として表すことがで
きる。
【００２０】
【数１】
【００２１】ここで、Ｃmn,ti 及びＤmn,ti は定数であ
り、Ｐmnは関連するルジャンドル関数であり、ｒ，θ及
びφは極座標であって、以下の式によってデカルト座標
ｘ、ｙ及びｚに関係付けられる。 ｘ＝ｒｓｉｎθｃｏｓφ （５ａ） ｙ＝ｒｓｉｎθｓｉｎφ （５ｂ） ｚ＝ｒｃｏｓθ （５ｃ） Chen及びHoultによって記載されたような公知の球面調
和関数分解手法（『生物医学における磁気共鳴テクノロ
ジー』（"Biomedical Magnetic Resonance Technolog
y"）、C-N Chen及びD.I. Hoult、ロンドン、Institute
of Physics Publishing、１９８９年）を用いて、式
（４）を更に以下のように表すことができる。
り、Ｐmnは関連するルジャンドル関数であり、ｒ，θ及
びφは極座標であって、以下の式によってデカルト座標
ｘ、ｙ及びｚに関係付けられる。 ｘ＝ｒｓｉｎθｃｏｓφ （５ａ） ｙ＝ｒｓｉｎθｓｉｎφ （５ｂ） ｚ＝ｒｃｏｓθ （５ｃ） Chen及びHoultによって記載されたような公知の球面調
和関数分解手法（『生物医学における磁気共鳴テクノロ
ジー』（"Biomedical Magnetic Resonance Technolog
y"）、C-N Chen及びD.I. Hoult、ロンドン、Institute
of Physics Publishing、１９８９年）を用いて、式
（４）を更に以下のように表すことができる。
【００２２】 Ｂti（ｘ，ｙ，ｚ） ＝ζ00,ti ＋ζ10,ti ｚ＋ζ11,ti ｘ＋ζ12,ti ｙ ＋ζ20,ti ｚ2 ＋ζ21,ti （ｘ2 −ｙ2 ）＋ζ22,ti ｘｙ＋ζ23,ti ｙｚ ＋ζ24,ti ｚｘ ＋ζ30,ti ｚ3 ＋… ここで、球面調和関数の係数ζpq,ti の最初の下付き文
字ｐは空間依存性の次数を示しており、第２の下付き文
字は所与の空間次数ｐについてのｑ番目の成分を表して
おり、最後の下付き文字は各係数の時間依存性を示して
いる。所与の空間次数ｐについての成分の総数は、２ｐ
＋１であることがわかる。
字ｐは空間依存性の次数を示しており、第２の下付き文
字は所与の空間次数ｐについてのｑ番目の成分を表して
おり、最後の下付き文字は各係数の時間依存性を示して
いる。所与の空間次数ｐについての成分の総数は、２ｐ
＋１であることがわかる。
【００２３】処理ブロック２３０で、それぞれ別個の時
間点ｔi （ｉ＝１，２，…，Ｎ）について、同じ球面分
解処理をＮ回繰り返す。このようにして得られた完全な
１つのセットの係数を、ζpq（ｔi ）と表すことができ
る。Jehenson等（P. Jehenson、M. Westphal及びN. Sch
uff、J. Magn. Reson.誌、第９０号、第２６４頁〜第２
７８頁、１９９０年）によると、時間に依存する各々の
係数ζpq（ｔi ）は、以下の式によって渦電流の大きさ
αpq,j及び時定数τpq,jに関係付けられる。
間点ｔi （ｉ＝１，２，…，Ｎ）について、同じ球面分
解処理をＮ回繰り返す。このようにして得られた完全な
１つのセットの係数を、ζpq（ｔi ）と表すことができ
る。Jehenson等（P. Jehenson、M. Westphal及びN. Sch
uff、J. Magn. Reson.誌、第９０号、第２６４頁〜第２
７８頁、１９９０年）によると、時間に依存する各々の
係数ζpq（ｔi ）は、以下の式によって渦電流の大きさ
αpq,j及び時定数τpq,jに関係付けられる。
【００２４】
【数２】
【００２５】ここで、「＊」は畳み込み演算を表してお
り、ｊはｊ番目の渦電流成分を表している。最後の工程
は、処理ブロック２３２によって示すように、空間的に
分解された渦電流の大きさαpq,j及び時定数τpq,jを算
出して、補償電流を勾配コイル１３９及び分極磁場コイ
ル１４０内のシム・コイルに対して印加し得るようにす
るものである。これを行うには先ず、式（７）の畳み込
み演算及び積分を解析的に実行し、続いて、時間を横軸
として調和関数の係数を指数曲線フィッティングで求め
る。多元指数関数フィッティングを行ってζpq（ｔ）か
らαpq,j及びτpq,jを抽出する方法の詳細については、
米国特許第４，６９８，５９１号及び同第４，９５０，
９９４号に記載があり、これらの特許はここに参照され
るべきものである。
り、ｊはｊ番目の渦電流成分を表している。最後の工程
は、処理ブロック２３２によって示すように、空間的に
分解された渦電流の大きさαpq,j及び時定数τpq,jを算
出して、補償電流を勾配コイル１３９及び分極磁場コイ
ル１４０内のシム・コイルに対して印加し得るようにす
るものである。これを行うには先ず、式（７）の畳み込
み演算及び積分を解析的に実行し、続いて、時間を横軸
として調和関数の係数を指数曲線フィッティングで求め
る。多元指数関数フィッティングを行ってζpq（ｔ）か
らαpq,j及びτpq,jを抽出する方法の詳細については、
米国特許第４，６９８，５９１号及び同第４，９５０，
９９４号に記載があり、これらの特許はここに参照され
るべきものである。
【００２６】図２及び図３を参照しながら上述した本発
明の３次元における実現方法は、最も一般化されてお
り、最も正確な実現方法である。この方法は、勾配磁場
の任意の高次の空間的変動に対する補償を可能にする。
しかしながら、３次元におけるこの実現方法を完全に実
行すると、完了までに相当な時間を要する。例えば、上
述の方法は、３次元における実現方法を用いて４次の変
動までについてＭＲＩシステムを較正するのに約２時間
を要する。
明の３次元における実現方法は、最も一般化されてお
り、最も正確な実現方法である。この方法は、勾配磁場
の任意の高次の空間的変動に対する補償を可能にする。
しかしながら、３次元におけるこの実現方法を完全に実
行すると、完了までに相当な時間を要する。例えば、上
述の方法は、３次元における実現方法を用いて４次の変
動までについてＭＲＩシステムを較正するのに約２時間
を要する。
【００２７】本発明のもう１つの教示は、勾配磁場の２
番目の次数の空間的変動、即ち「２次」（quadratic）
の空間的変動を３つの１次元テスト走査を用いて測定す
ることができるというものである。３つのテスト走査の
すべてについて、図４に示すパルス・シーケンスを用い
る。このパルス・シーケンスは、前述した３次元パルス
・シーケンスと同じものであるが、単一の位相エンコー
ディング・パルス２４０のみが用いられている点が異な
る。但しその結果として、この第２の実施例を用いた較
正処理が完了までに要求するのは、近似的に１５分間で
ある。
番目の次数の空間的変動、即ち「２次」（quadratic）
の空間的変動を３つの１次元テスト走査を用いて測定す
ることができるというものである。３つのテスト走査の
すべてについて、図４に示すパルス・シーケンスを用い
る。このパルス・シーケンスは、前述した３次元パルス
・シーケンスと同じものであるが、単一の位相エンコー
ディング・パルス２４０のみが用いられている点が異な
る。但しその結果として、この第２の実施例を用いた較
正処理が完了までに要求するのは、近似的に１５分間で
ある。
【００２８】図５に示すように、第１の１次元収集で
は、水で満たされておりｚ軸に沿ってＭＲＩシステムの
中心に配置されている細いロッド２４２を用いている。
図４のパルス・シーケンスにおいてＧz 位相エンコーデ
ィングを用いて、それぞれ正のＧtest及び負のＧtestに
対応している一対の画像セットＩ1,+ （ｚ，ｔi ）及び
Ｉ1,- （ｚ，ｔi ）を前述と同じ一連の工程を用いて収
集し形成する。次いで、式（１）〜式（３）を用いて、
Ｉ1,+ （ｚ，ｔi ）及びＩ1,- （ｚ，ｔi ）を磁場マッ
プＢ1 （ｚ，ｔi ）に変換することができる。任意の所
与の時刻ｔi において、Ｂ1 （ｚ，ｔi ）を帯域球面調
和関数の和として表すことができる。この関数は、ｍ＝
０として式（４）から誘導することができる。
は、水で満たされておりｚ軸に沿ってＭＲＩシステムの
中心に配置されている細いロッド２４２を用いている。
図４のパルス・シーケンスにおいてＧz 位相エンコーデ
ィングを用いて、それぞれ正のＧtest及び負のＧtestに
対応している一対の画像セットＩ1,+ （ｚ，ｔi ）及び
Ｉ1,- （ｚ，ｔi ）を前述と同じ一連の工程を用いて収
集し形成する。次いで、式（１）〜式（３）を用いて、
Ｉ1,+ （ｚ，ｔi ）及びＩ1,- （ｚ，ｔi ）を磁場マッ
プＢ1 （ｚ，ｔi ）に変換することができる。任意の所
与の時刻ｔi において、Ｂ1 （ｚ，ｔi ）を帯域球面調
和関数の和として表すことができる。この関数は、ｍ＝
０として式（４）から誘導することができる。
【００２９】
【数３】
【００３０】ｚを横軸として単純な多項式フィッティン
グを行うと、すべての帯域球面調和関数の係数ηn,tiが
得られる。すべての時間点について同じ工程を繰り返す
ならば、ηn,tiから成る１つの集合を得ることができ
る。これをηn （ｔi ）と表す。ηn （ｔi ）を式
（７）にフィッティングさせることにより、すべての帯
域球面調和関数の成分の各々について渦電流の大きさ及
び時定数を抽出することができる。渦電流の大きさ及び
時定数が既知になれば、米国特許第４，６９８，５９１
号及び同第４，５９０，９９４号に記載された方法を用
いて、ｚ勾配コイルに対して、及びｚ2 ，ｚ2 ，…，ｚ
n といったより高次のシムを行うコイルに対して、補償
電流を印加することができる。
グを行うと、すべての帯域球面調和関数の係数ηn,tiが
得られる。すべての時間点について同じ工程を繰り返す
ならば、ηn,tiから成る１つの集合を得ることができ
る。これをηn （ｔi ）と表す。ηn （ｔi ）を式
（７）にフィッティングさせることにより、すべての帯
域球面調和関数の成分の各々について渦電流の大きさ及
び時定数を抽出することができる。渦電流の大きさ及び
時定数が既知になれば、米国特許第４，６９８，５９１
号及び同第４，５９０，９９４号に記載された方法を用
いて、ｚ勾配コイルに対して、及びｚ2 ，ｚ2 ，…，ｚ
n といったより高次のシムを行うコイルに対して、補償
電流を印加することができる。
【００３１】第２の１次元較正走査では、図６に示すフ
ァントム２４４を用いる。このファントム２４４は、ｚ
軸を中心として、システムの等価中心（isocenter）の
箇所でｘ−ｙ平面内に配向しているリングの周りに配置
された３２個から６４個の小さな水サンプルを含んでい
る。これらのサンプルは、各サンプルのｘ軸への投影
（又は代替的にはｙ軸への投影）がｘ軸に沿って等間隔
で配置されるように、リング２４４の周囲に隔設されて
いる。図４のパルス・シーケンスを用いた第２のテスト
走査が、Ｇx 位相エンコーディング勾配（又は代替的に
はＧy 位相エンコーディング勾配）を用いて実行され
て、それぞれ正のＧtest及び負のＧtestに対応している
第２の一対の較正データ・セットＩ2,+ （Ｐx （ｘ，
ｙ），ｔi ）及びＩ2,- （Ｐx （ｘ，ｙ），ｔi ）を発
生する。これらの式で、Ｐx （ｘ，ｙ）はｘ方向に沿っ
たファントムの投影を表している。式（４）に従って、
これら２つのデータ・セットから得られる所与の時刻ｔ
i における磁場マップを以下のように表すことができ
る。
ァントム２４４を用いる。このファントム２４４は、ｚ
軸を中心として、システムの等価中心（isocenter）の
箇所でｘ−ｙ平面内に配向しているリングの周りに配置
された３２個から６４個の小さな水サンプルを含んでい
る。これらのサンプルは、各サンプルのｘ軸への投影
（又は代替的にはｙ軸への投影）がｘ軸に沿って等間隔
で配置されるように、リング２４４の周囲に隔設されて
いる。図４のパルス・シーケンスを用いた第２のテスト
走査が、Ｇx 位相エンコーディング勾配（又は代替的に
はＧy 位相エンコーディング勾配）を用いて実行され
て、それぞれ正のＧtest及び負のＧtestに対応している
第２の一対の較正データ・セットＩ2,+ （Ｐx （ｘ，
ｙ），ｔi ）及びＩ2,- （Ｐx （ｘ，ｙ），ｔi ）を発
生する。これらの式で、Ｐx （ｘ，ｙ）はｘ方向に沿っ
たファントムの投影を表している。式（４）に従って、
これら２つのデータ・セットから得られる所与の時刻ｔ
i における磁場マップを以下のように表すことができ
る。
【００３２】
【数４】
【００３３】ここで、Ｒは図６のリング２４４の半径で
ある。ｍ＝１に対応する成分について、以下の式が得ら
れる。 ｂ2,ti,m=1＝［Ｃ11,ti Ｒ−（３／２）Ｃ13,ti Ｒ3 ＋…］ｃｏｓφ ＋［Ｄ11,ti Ｒ−（３／２）Ｄ13,ti Ｒ3 ＋…］ｓｉｎφ ＝α1,tiｃｏｓφ＋β1,tiｓｉｎφ （１０） Ｂ2,ti（ｘ，ｙ）のフーリエ変換の第１の調和関数にお
ける実数部及び虚数部から、係数α1,ti及びβ1,tiを得
ることができる。ｃｏｓφ＝ｘ／Ｒであり、ｓｉｎφ＝
ｙ／Ｒであるので、α1,ti及びβ1,tiをＲで除算する
と、それぞれｘ及びｙについての調和関数の係数が発生
される。同様に、ｍ＝２に対応するＢ2,ti（ｘ，ｙ）の
成分は、以下の式で与えられる。
ある。ｍ＝１に対応する成分について、以下の式が得ら
れる。 ｂ2,ti,m=1＝［Ｃ11,ti Ｒ−（３／２）Ｃ13,ti Ｒ3 ＋…］ｃｏｓφ ＋［Ｄ11,ti Ｒ−（３／２）Ｄ13,ti Ｒ3 ＋…］ｓｉｎφ ＝α1,tiｃｏｓφ＋β1,tiｓｉｎφ （１０） Ｂ2,ti（ｘ，ｙ）のフーリエ変換の第１の調和関数にお
ける実数部及び虚数部から、係数α1,ti及びβ1,tiを得
ることができる。ｃｏｓφ＝ｘ／Ｒであり、ｓｉｎφ＝
ｙ／Ｒであるので、α1,ti及びβ1,tiをＲで除算する
と、それぞれｘ及びｙについての調和関数の係数が発生
される。同様に、ｍ＝２に対応するＢ2,ti（ｘ，ｙ）の
成分は、以下の式で与えられる。
【００３４】 ｂ2,ti,m=2＝［３Ｃ22,ti Ｒ2 −（１５／２）Ｃ24,ti Ｒ4 ＋…］ ×ｃｏｓ２φ ＋［３Ｄ22,ti Ｒ2 −（１５／２）Ｄ24,ti Ｒ4 ＋…］ ×ｓｉｎ２φ ＝α2,tiｃｏｓ２φ＋β2,tiｓｉｎ２φ （１１） Ｂ2,ti（ｘ，ｙ）のフーリエ変換の第２の調和関数にお
ける実数部及び虚数部から、係数α2,ti及びβ2,tiを得
ることができる。ｃｏｓ２φ＝（ｘ2 −ｙ2 ）／Ｒ2 で
あり、ｓｉｎ２φ＝２ｘｙ／Ｒ2 であるので、α2,ti及
びβ2,tiをそれぞれＲ2 及びＲ2 ／２で除算すると、
（ｘ2 −ｙ2 ）及びｘｙについての調和関数の係数が得
られる。この方法を用いて、より高次のいくつかの調和
関数を求めることもできる。
ける実数部及び虚数部から、係数α2,ti及びβ2,tiを得
ることができる。ｃｏｓ２φ＝（ｘ2 −ｙ2 ）／Ｒ2 で
あり、ｓｉｎ２φ＝２ｘｙ／Ｒ2 であるので、α2,ti及
びβ2,tiをそれぞれＲ2 及びＲ2 ／２で除算すると、
（ｘ2 −ｙ2 ）及びｘｙについての調和関数の係数が得
られる。この方法を用いて、より高次のいくつかの調和
関数を求めることもできる。
【００３５】すべての時間点についてすべての調和関数
の係数を得た後に、曲線フィッティングによって、対応
する渦電流の大きさ及び時定数を抽出することができ、
ｘ勾配コイル及びｙ勾配コイル、並びにｘｙシム・コイ
ル及びｘ2 −ｙ2 シム・コイルに対して補償電流を印加
することができる。これらについては前述した通りであ
る。
の係数を得た後に、曲線フィッティングによって、対応
する渦電流の大きさ及び時定数を抽出することができ、
ｘ勾配コイル及びｙ勾配コイル、並びにｘｙシム・コイ
ル及びｘ2 −ｙ2 シム・コイルに対して補償電流を印加
することができる。これらについては前述した通りであ
る。
【００３６】第３のテスト走査では、同じファントム・
リング２４４を用いるが、リング２４４は図７に示すよ
うに配置し直されている。より明確に述べると、ファン
トム・リング２４４は、ｚ軸に沿ってｘｙ平面から遠く
なる方向に並進させられている。次いで、第２の較正デ
ータ・セットを発生するために用いられたものと正確に
同じテスト走査を繰り返す。このようにして第３の一対
の較正データ・セットＩ3,+ （Ｐx （ｘ，ｙ），ｔi ）
及びＩ3,- （Ｐx （ｘ，ｙ），ｔi ）が発生され、これ
らを用いて、２次の調和関数の項の残余であるｙｚ及び
ｚｘを算出する。Ｉ3,+ 及びＩ3,- から得られる磁場マ
ップは、以下の式で表される。
リング２４４を用いるが、リング２４４は図７に示すよ
うに配置し直されている。より明確に述べると、ファン
トム・リング２４４は、ｚ軸に沿ってｘｙ平面から遠く
なる方向に並進させられている。次いで、第２の較正デ
ータ・セットを発生するために用いられたものと正確に
同じテスト走査を繰り返す。このようにして第３の一対
の較正データ・セットＩ3,+ （Ｐx （ｘ，ｙ），ｔi ）
及びＩ3,- （Ｐx （ｘ，ｙ），ｔi ）が発生され、これ
らを用いて、２次の調和関数の項の残余であるｙｚ及び
ｚｘを算出する。Ｉ3,+ 及びＩ3,- から得られる磁場マ
ップは、以下の式で表される。
【００３７】
【数５】
【００３８】ここで、ｒ0 及びθ0 は図７に示されてい
る。Ｂ3,tiに対してフーリエ変換を実行すると、第１の
フーリエ調和関数に対する実数及び虚数のフーリエ係数
は以下のようになる。 α3,ti＝Ｃ11,ti ｒ0 ｓｉｎθ0 ＋（３／２）Ｃ12,ti ｒ0 2ｓｉｎ２θ0 … （１３ａ） β3,ti＝Ｄ11,ti ｒ0 ｓｉｎθ0 ＋（３／２）Ｄ12,ti ｒ0 2ｓｉｎ２θ0 … （１３ｂ） ２次よりも高次の項を無視すると、式（１０）及び式
（１３）から、以下の式が得られる。
る。Ｂ3,tiに対してフーリエ変換を実行すると、第１の
フーリエ調和関数に対する実数及び虚数のフーリエ係数
は以下のようになる。 α3,ti＝Ｃ11,ti ｒ0 ｓｉｎθ0 ＋（３／２）Ｃ12,ti ｒ0 2ｓｉｎ２θ0 … （１３ａ） β3,ti＝Ｄ11,ti ｒ0 ｓｉｎθ0 ＋（３／２）Ｄ12,ti ｒ0 2ｓｉｎ２θ0 … （１３ｂ） ２次よりも高次の項を無視すると、式（１０）及び式
（１３）から、以下の式が得られる。
【００３９】 Ｃ12,ti ＝２（α3,tiＲ−α1,tiｒ0 ｓｉｎθ0 ） ／３ｒ0 2ｓｉｎ２θ0 （１４ａ） Ｄ12,ti ＝２（β3,tiＲ−β1,tiｒ0 ｓｉｎθ0 ） ／３ｒ0 2ｓｉｎ２θ0 （１４ｂ） 式（４）から、３Ｃ12,ti 及び３Ｄ12,ti が、それぞれ
ｘｚ及びｙｚについての調和関数の係数と等しいことが
わかる。前述と同様に、各々の調和関数の係数について
時間に関して曲線フィッティングを行うと、渦電流の大
きさ及び時定数が得られる。渦電流の大きさ及び時定数
が既知になれば、ｘｚシム・コイル及びｙｚシム・コイ
ルに対して電流を供給することにより、空間的渦電流成
分ｘｚ及びｙｚを補償することができる。このようにし
て、空間的に変化する２次までの渦電流を、３つの別個
の１次元較正走査を用いて測定することができ、続い
て、対応するＢ0 、３つの線形勾配及び５つの２次シム
・コイルに対して電流を供給することにより補償するこ
とができる。
ｘｚ及びｙｚについての調和関数の係数と等しいことが
わかる。前述と同様に、各々の調和関数の係数について
時間に関して曲線フィッティングを行うと、渦電流の大
きさ及び時定数が得られる。渦電流の大きさ及び時定数
が既知になれば、ｘｚシム・コイル及びｙｚシム・コイ
ルに対して電流を供給することにより、空間的渦電流成
分ｘｚ及びｙｚを補償することができる。このようにし
て、空間的に変化する２次までの渦電流を、３つの別個
の１次元較正走査を用いて測定することができ、続い
て、対応するＢ0 、３つの線形勾配及び５つの２次シム
・コイルに対して電流を供給することにより補償するこ
とができる。
【００４０】本発明を用いると、純然たる位相エンコー
ディング手法を用いて、空間的に分解された渦電流の時
間平均ビューではなく真の「スナップ・ショット」をそ
れぞれ表している一連の画像が形成される。このように
して、渦電流測定の時間分解能が従来の方法よりも格段
に向上すると共に、より正確なより高次の補償電流を算
出することができる。
ディング手法を用いて、空間的に分解された渦電流の時
間平均ビューではなく真の「スナップ・ショット」をそ
れぞれ表している一連の画像が形成される。このように
して、渦電流測定の時間分解能が従来の方法よりも格段
に向上すると共に、より正確なより高次の補償電流を算
出することができる。
【図１】本発明を用いたＭＲＩシステムのブロック図で
ある。
ある。
【図２】本発明の好ましい実施例を遂行するために図１
のＭＲＩシステムによって実行されるプログラムの流れ
図である。
のＭＲＩシステムによって実行されるプログラムの流れ
図である。
【図３】図１のＭＲＩシステムによって実行される３次
元較正パルス・シーケンスのグラフ図である。
元較正パルス・シーケンスのグラフ図である。
【図４】図１のＭＲＩシステムによって実行される代替
的な１次元較正パルス・シーケンスのグラフ図である。
的な１次元較正パルス・シーケンスのグラフ図である。
【図５】図４の較正パルス・シーケンスと共に用いられ
る第１のファントムの概略図である。
る第１のファントムの概略図である。
【図６】図４の較正パルス・シーケンスと共に用いられ
る第２のファントムの概略図である。
る第２のファントムの概略図である。
【図７】図４のパルス・シーケンスと共に用いられると
きに異なる位置に設けられる第２のファントムの概略図
である。
きに異なる位置に設けられる第２のファントムの概略図
である。
【図８】本発明を実施するのに用いられる代替的な較正
パルス・シーケンスのグラフ図である。
パルス・シーケンスのグラフ図である。
１００ オペレータ・コンソール １０２ キーボード及び制御パネル １０４ ディスプレイ １０６ 画像処理装置 １０７ 計算機システム １０８、１１９ ＣＰＵモジュール １１１ ディスク記憶装置 １１２ テープ・ドライブ １１３、１６０ メモリ・モジュール １１５ 高速シリアル・リンク １１６ リンク １１８ バックプレーン １２１ パルス発生器モジュール １２２ システム制御部 １２５ シリアル・リンク １２７ 勾配増幅器 １２９ 生理学データ収集制御装置 １３３ 走査室インタフェイス回路 １３４ 患者位置決めシステム １３９ 勾配コイル・アセンブリ １４０ 分極マグネット １４１ マグネット・アセンブリ １５０ 送受信器 １５１ ＲＦ増幅器 １５２ 全身型ＲＦコイル １５３ 前置増幅器 １５４ 送信／受信（Ｔ／Ｒ）スイッチ １６１ アレイ・プロセッサ ２０２ 正のテスト勾配パルス ２０４ 非選択的ＲＦ励起パルス ２０６、２０８、２１０ 位相エンコーディング勾配パ
ルス ２１２ ＦＩＤ信号 ２２０ 負のテスト勾配パルス ２４０ 単一の位相エンコーディング・パルス ２４２ 細いロッド ２４４ ファントム
ルス ２１２ ＦＩＤ信号 ２２０ 負のテスト勾配パルス ２４０ 単一の位相エンコーディング・パルス ２４２ 細いロッド ２４４ ファントム
Claims (5)
- 【請求項１】 磁気共鳴システムの磁場を補償する方法
であって、 （ａ） １つの極性を有しているテスト勾配パルスを印
加し、 関心領域に横磁化を発生するためにＲＦ励起パルスを印
加し、 位相エンコーディング勾配パルスを印加して、 前記テスト勾配パルスの印加に続く時間（Ｔ）にわたっ
てＮＭＲ信号を収集すると共に、該ＮＭＲ信号を時刻ｔ
i にサンプリングすることを含んでいるパルス・シーケ
ンスを用いて第１の較正データ・セットを収集する工程
であって、該パルス・シーケンスは、複数回繰り返さ
れ、前記位相エンコーディング勾配パルスは、所定の値
を通じて段階的に変化させられる、第１の較正データ・
セットを収集する工程と、 （ｂ） 印加される前記テスト勾配パルスが反転した極
性を有している点以外は工程（ａ）の記載と同じ方法を
用いて第２の較正データ・セットを収集する工程と、 （ｃ） ２つの前記較正データ・セットの各々をフーリ
エ変換して、空間的に且つ時間的に分解された２つのセ
ットの位相画像を発生する工程と、 （ｄ） 前記第２のセットの位相画像を、前記第１のセ
ットの位相画像の対応する位相画像から減算して、位相
差画像セットを形成する工程と、 （ｅ） 該位相差画像に基づいて渦電流補償値を算出す
る工程と、 （ｆ） 後続の走査の間に前記磁気共鳴システムのコイ
ルに対して前記補償値を印加する工程とを備えた磁気共
鳴システムの磁場を補償する方法。 - 【請求項２】 工程（ｅ）は、 前記位相差画像に基づいて、時間的に且つ空間的に分解
された磁場を算出し、 算出された該磁場を、時間的に分解された空間的調和関
数の係数に分解し、 すべての空間的調和関数成分の各々について、渦電流の
大きさ及び時定数を抽出して、 前記渦電流の大きさ及び時定数に基づいて、前記渦電流
補償値を算出することにより実行される請求項１に記載
の磁気共鳴システムの磁場を補償する方法。 - 【請求項３】 前記パルス・シーケンスは、前記較正デ
ータ・セットを収集している間に、所定の値にわたって
それぞれ段階的に変化する３つの位相エンコーディング
勾配パルスを印加することを含んでおり、工程（ｃ）の
フーリエ変換は、３次元の位相画像を発生する３次元フ
ーリエ変換である請求項１に記載の磁気共鳴システムの
磁場を補償する方法。 - 【請求項４】 工程（ａ）から工程（ｄ）までを繰り返
して、第２のセットの位相差画像を形成するが、このと
きに前記パルス・シーケンスの位相エンコーディング・
パルスとして、異なる軸に沿って位相エンコーディング
する位相エンコーディング・パルスを用い、工程（ｅ）
は、両方のセットの位相差画像を用いて実行される請求
項１に記載の磁気共鳴システムの磁場を補償する方法。 - 【請求項５】 前記セットの位相差画像は、前記サンプ
リング時刻ｔi の各々についての位相差画像を含んでい
る請求項１に記載の磁気共鳴システムの磁場を補償する
方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/777,561 US5770943A (en) | 1996-12-30 | 1996-12-30 | Method for measuring and compensating for spatially and temporally varying magnetic fields induced by eddy currents |
| US08/777561 | 1996-12-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10272120A true JPH10272120A (ja) | 1998-10-13 |
| JP4114989B2 JP4114989B2 (ja) | 2008-07-09 |
Family
ID=25110591
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00020998A Expired - Lifetime JP4114989B2 (ja) | 1996-12-30 | 1998-01-05 | 磁気共鳴システムの磁場を補償する方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5770943A (ja) |
| JP (1) | JP4114989B2 (ja) |
| KR (1) | KR100481740B1 (ja) |
| CN (1) | CN1113248C (ja) |
| DE (1) | DE19750637B4 (ja) |
| IL (1) | IL122623A (ja) |
Cited By (16)
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| JP2008022877A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Hitachi Medical Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
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| US9157973B2 (en) | 2011-03-07 | 2015-10-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance imaging apparatus |
| KR101879952B1 (ko) * | 2015-11-10 | 2018-07-18 | 지멘스 헬스케어 게엠베하 | 심 유닛을 작동시키는 방법, 제어 유닛 및 자기 공명 디바이스 |
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| JP2018523258A (ja) * | 2015-05-12 | 2018-08-16 | ティーエーイー テクノロジーズ， インコーポレイテッド | 不所望の渦電流を低減するシステムおよび方法 |
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