JPH1021149A - メモリ装置 - Google Patents

メモリ装置

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JPH1021149A
JPH1021149A JP8170517A JP17051796A JPH1021149A JP H1021149 A JPH1021149 A JP H1021149A JP 8170517 A JP8170517 A JP 8170517A JP 17051796 A JP17051796 A JP 17051796A JP H1021149 A JPH1021149 A JP H1021149A
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JP8170517A
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English (en)
Inventor
Tatsunari Hashizume
達成 橋爪
Shigeru Tatezawa
茂 立澤
Susumu Asaki
奨 麻木
Hiroshi Takeuchi
弘 武内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 メモリに固定故障が発生してもアクセス処理
の信頼性を落とさない。 【解決手段】 制御回路3はSIMM1に固定故障が発
生してコピー動作指示信号Gを受信すると、アドレスデ
ータB´で指定したSIMM1のワードのデータ部10
1とECC部102からECC付き対象データを読み出
し、エラーチェック/訂正回路7でビットエラーを訂正
し、このデータ(データI′)の固定故障発生ビットを
代替データ選択回路10により選択してその値をSIM
M1の予備部103に書き込むコピーサイクルを、SI
MM1の全てのワードに対して行い、これにより予備部
103に固定故障発生ビットの正しいデータがコピーさ
れる。これ以降、読み出しアクセスに対しては、SIM
M1から読み出したECC付き対象データの固定故障発
生ビットの値を予備部103のデータに置換し、この置
換したECC付き対象データをエラーチェック/訂正回
路7に送る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータシス
テム等に用いられるメモリ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、コンピュータシステム等におい
て主記憶装置として用いられるメモリ装置はDRAM等
の記憶部とその制御部により構成されている。DRAM
には、パッケージから出されるα線により記憶内容が反
転(ビット反転)するソフトエラー、あるいは出力ビッ
ト値が論理値0または1に固定してしまう縮退故障等が
発生する可能性がある。前者は間欠的な故障であり、後
者は永久的な固定故障である。
【0003】信頼性が要求されるメモリ装置において
は、これらの故障により誤ったデータが読み出され、そ
のままアクセス元に返送されることを防ぐために、記憶
対象データにECC(Error Correcting Code 、冗長コ
ード)を付加し、エラーの検出や訂正を行う。例えば、
1ワード(最小アクセス単位)が32ビットの場合に
は、1ワード内の1ビット誤りを訂正し、2ビット誤り
を検出するには、最低7ビットのECCが必要となる。
つまり32ビットの対象データと7ビットのECCの合
計39ビットにより1ワードが構成される。
【0004】また、DRAMの実装面積を少なくするた
めに、DRAM素子を多数搭載したSIMM(Single I
nline Memory Module )がしばしば用いられる。このS
IMMには、1ワードが32ビット、36ビット、40
ビット等のものがある。
【0005】図3はこのような従来のメモリ装置を示す
構成図である。このメモリ装置の対象データは32ビッ
トであり、そのECCは7ビットである。SIMM1の
1ワードは40ビットであり、それぞれのワードは32
ビットの対象データに割り当てられたデータ部101
と、7ビットのECCに割り当てられたECC部102
と、使用されない1ビットの予備部104からなる。
【0006】図3のメモリ装置において、アクセス元か
らアクセス信号Aにより読み出しアクセスを受けると、
制御回路11はSIMM1に読み出し動作を実行させ、
アクセス元からのアドレスデータAによって指定された
SIMM1のワードのデータ部101およびECC部1
02からデータが読み出され、このECC付き対象デー
タはリードデータ一時記憶バッファ6を介してエラーチ
ェック/訂正回路12に送られ、ビットエラーをチェッ
クされる。
【0007】エラーチェック/訂正回路12において、
チェック結果が正常の場合には、読み出された対象デー
タをそのままリードデータDとしてアクセス元に返送
し、ステータス信号Eによりチェック結果(正常)をア
クセス元に通知する。またチェック結果が1ビットエラ
ーの場合には、エラービットの値を訂正し、この訂正処
理した対象データをリードデータDとしてアクセス元に
返送し、ステータス信号Eによりチェック結果(1ビッ
トエラー)をアクセス元に通知する。このとき、制御回
路11は訂正されたECC付き対象データを選択回路9
を介してSIMM1に送り、SIMM1に書き込み動作
を実行させて、アクセスされたワードのデータを訂正さ
れたデータに書き換える。またチェック結果が2ビット
エラーの場合には、ステータス信号Eによりチェック結
果(2ビットエラー)をアクセス元に通知する。このと
きリードデータDは無効となる。
【0008】次にアクセス元からアクセス信号Aにより
書き込みアクセスを受けると、制御回路11はアクセス
元からのライトデータCのECCをECC生成回路8に
より生成させ、対象データ(ライトデータC)とそのE
CCをSIMM1に送り、SIMM1に書き込み動作を
実行させ、アドレスデータBによって指定されたワード
にこのECC付き対象データを書き込む。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述した
従来のメモリ装置では、SIMM1に1ビットの固定故
障が発生した場合にはそのビットから読み出したデータ
の値が誤っている可能性が非常に高くなり、さらに別の
1ビットにソフトエラー等の間欠障害が発生した場合に
は2ビットエラーとなる可能性が非常に高くなってしま
うため、メモリ装置のアクセス処理の信頼性が落ちると
いう欠点があった。
【0010】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、記憶部に固定故障が発生しても信頼性が
落ちないないメモリ装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明の請求項1に記載のメモリ装置は、書き込み
アクセスにおいて入力された対象データに冗長コードを
付加して記憶部に書き込み、読み出しアクセスに応じて
前記記憶部から前記冗長コード付き対象データを読み出
し、このデータに所定数以下のビットエラーが発生した
ときにはエラービットの値を訂正し、このエラー訂正処
理した対象データを出力するメモリ装置において、前記
冗長コード付き対象データの部分データが書き込まれる
予備記憶部と、前記記憶部のあるビットに固定故障が発
生したことを認識すると、前記記憶部から前記冗長コー
ド付き対象データを読み出して前記エラー訂正処理を行
い、このデータの前記固定故障発生ビットの値を前記予
備記憶部にコピーするデータコピー手段と、前記コピー
処理の完了以降の読み出しアクセスに際して、前記冗長
コード付き対象データの固定故障発生ビットの値を前記
予備記憶部から読み出すデータ読み出し手段と、前記固
定故障の発生以降の書き込みアクセスに際して、前記冗
長コード付き対象データの固定故障発生ビットの値を前
記予備記憶部に書き込むデータ書き込み手段とを設けた
ことを特徴とするものである。
【0012】また請求項2に記載のメモリ装置は、書き
込みアクセスにおいて入力された対象データに冗長コー
ドを付加して記憶部に書き込み、読み出しアクセスに応
じて前記記憶部から前記冗長コード付き対象データを読
み出し、このデータに所定数以下のビットエラーが発生
したときにはエラービットの値を訂正し、このエラー訂
正処理した対象データを出力するメモリ装置において、
前記冗長コード付き対象データが書き込まれる予備記憶
部と、前記書き込みアクセスに際して、前記冗長コード
付き対象データを前記予備記憶部に書き込むデータ書き
込み手段と、前記記憶部のあるビットに固定故障が発生
したことを認識すると、これ以降の読み出しアクセスに
際して、前記冗長コード付き対象データの固定故障発生
ビットの値を前記予備記憶部の対応するビットから読み
出すデータ読み出し手段とを設けたことを特徴とするも
のである。
【0013】従って上記請求項1に記載のメモリ装置に
よれば、前記記憶部のあるビットに固定故障が発生した
ことを認識すると、データコピー手段により記憶部から
冗長コード付き対象データを読み出してエラー訂正処理
を行い、このデータの固定故障発生ビットの値を予備記
憶部にコピーし、コピー処理の完了以降の読み出しアク
セスに際して、データ読み出し手段により前記冗長コー
ド付き対象データの固定故障発生ビットの値を予備記憶
部から読み出し、また固定故障の発生以降の書き込みア
クセスに際して、データ書き込み手段により冗長コード
付き対象データの固定故障発生ビットの値を予備記憶部
に書き込み、固定故障発生ビットを予備記憶部の正常な
ビットで代替することにより、固定故障の発生に起因す
る訂正可能個数を越えるビットエラーの発生増加を抑え
ることができるので、固定故障が発生してもアクセス処
理の信頼性低下を回避することができる。
【0014】また上記請求項2に記載のメモリ装置によ
れば、書き込みアクセスに際して、データ書き込み手段
により冗長コード付き対象データを予め予備記憶部に書
き込んでおき、固定故障が発生したことを認識してから
の読み出しアクセスに際して、データ読み出し手段によ
り冗長コード付き対象データの固定故障発生ビットの値
を予備記憶部の対応するビットから読み出し、固定故障
発生ビットを予備記憶部の正常なビットで代替すること
により、請求項1のメモリ装置と同様に固定故障が発生
してもアクセス処理の信頼性低下を回避することができ
る。またデータコピーを実行する必要がない。
【0015】尚、上記本発明のメモリ装置は、訂正可能
なエラービット数が1ビットである場合に最も効果的で
ある。
【0016】
【発明の実施の形態】
第1の実施形態 図1は本発明の第1の実施形態のメモリ装置を示す構成
図であり、このメモリ装置は固定故障発生ビットのデー
タをメモリモジュール内の予備部にコピーすることによ
り、故障ビットを予備部のビットで代替するものであ
る。図1のメモリ装置は、SIMM1と、アドレス選択
回路2と、制御回路3と、代替データ一時記憶バッファ
4と、リードデータ置換回路5と、リードデータ一時記
憶バッファ6と、エラーチェック/訂正回路7と、EC
C生成回路8と、ライトデータ選択回路9と、代替デー
タ選択回路10とを有する。
【0017】SIMM1は、多数のDRAMを搭載した
メモリモジュールであり、それぞれのワードは対象デー
タ(ライトデータC等のアクセス対象となるデータ)を
記憶するデータ部101と、対象データのECC(冗長
コード)を記憶するECC部102と、固定故障が発生
したときに固定故障発生ビットの代替ビットとして用い
られる予備部103からなり、データ部101とECC
部102は記憶部を構成し、予備部103は予備記憶部
に該当する。ここでは1ワードのビット数を40ビット
とし、対象データを32ビット、ECCを7ビット、予
備部103を1ビットとする。このSIMM1は、制御
回路3からの書き込み指示あるいは読み出し指示に従っ
て、アドレスデータBまたはB′によって指定されたワ
ードのデータ部101、ECC部102、および予備部
103からそれぞれデータを読み出す、あるいは指定さ
れたワードにデータを書き込む。
【0018】アドレス選択回路2は、読み出しアクセス
または書き込みアクセスに応じたデータ読み出し動作ま
たはデータ書き込み動作時はアクセス元からのアドレス
データBを選択し、またデータコピー動作時はアドレス
データB′を選択してSIMM1に送る回路である。
【0019】リードデータ一時記憶バッファ6は、SI
MM1のデータ部101およびECC部102から読み
出されたECC付き対象データを一時的に保持する回路
である。また代替データ一時記憶バッファ4は、SIM
M1の予備部103から読み出されたデータを一時的に
記憶する回路である。
【0020】リードデータ置換回路5は、制御回路3か
ら置換ビット(固定故障発生ビット)を指定したデータ
置換指示があると、SIMM1から読み出されたECC
付き対象データの上記置換ビットの値を予備部103か
ら読み出されたデータに置換し、この置換処理したEC
C付き対象データをエラーチェック/訂正回路7に送
り、また上記のデータ置換指示がないときには、SIM
M1から読み出されたECC付き対象データをそのまま
エラーチェック/訂正回路7に送る回路である。
【0021】エラーチェック/訂正回路7は、リードデ
ータ置換回路5からのECC付き対象データの値が正常
/1ビットエラー/2ビットエラーのいずれであるかを
対象データとそのECCとの相互比較処理によってチェ
ックし、1ビットエラーを検出したときはエラービット
の値を訂正し、このエラーチェック/訂正された対象デ
ータを32ビットのリードデータDとしてアクセス元に
返送し、同時にこのエラーチェック/訂正されたECC
付き対象データ(データI′とする)をライトデータ選
択回路9に送る。また上記のチェック結果(正常/1ビ
ットエラー/2ビットエラーのいずれか)を示すステー
タス信号Eをアクセス元に返送するとともに、制御回路
3に送る。さらに1ビットエラーを検出/訂正したとき
には、ECC付き対象データのどのビットでエラーが発
生したかを示すエラービット通知信号Fをアクセス元に
返送する。尚、2ビットエラーを検出したときはリード
データDは無効となる。
【0022】ECC生成回路8は、書き込みアクセス時
にアクセス元から送信される32ビットのライトデータ
C(データ部101に書き込む対象データ)から7ビッ
トのECCを生成する回路である。またライトデータ選
択回路9は、データ書き込み動作時はライトデータCと
そのECCからなるECC付き対象データ(データIと
する)を選択してSIMM1に送り、データ読み出し動
作およびデータコピー動作時はデータI′を選択してS
IMM1に転送する回路である。また代替データ選択回
路10は、制御回路3から選択ビット(固定故障発生ビ
ット)を指定したデータ選択指示があると、データIま
たはデータI′の上記選択ビットの値を予備部103に
送る回路である。
【0023】制御回路3は、アクセス元からのアクセス
信号A、コピー動作指示信号G、アドレスデータB、お
よびエラーチェック/訂正回路7からのステータス信号
Eに基づいて、SIMM1、アドレス選択回路2、リー
ドデータ置換回路5、エラーチェック/訂正回路7、E
CC生成回路8、ライトデータ選択回路9、代替データ
選択回路10の動作を制御し、アクセス元からのアクセ
ス信号Aによる読み出し/書き込みアクセスに応じてデ
ータ読み出し動作およびデータ書き込み動作を実行させ
る。またアクセス元がSIMM1に固定故障が発生した
と判断したときに送信してくるコピー動作指示信号Gに
応じて、SIMM1の全てのワードの固定故障発生ビッ
トの値を予備部103へコピーするデータコピー動作を
実行させ、データコピーを完了したワードに対する読み
出しアクセスに対しては、読み出したECC付き対象デ
ータの故障発生ビットの値を予備部103のデータ(代
替データ)に置換するデータ読み出し動作(代替ビット
を用いたデータ読み出し動作)を実行させ、コピー動作
指示信号Gの受信以降の書き込みアクセスに対しては、
ECC付き対象データIの固定故障発生ビットの値を予
備部103に書き込むデータ書き込み動作(代替ビット
を用いたデータ書き込み動作)を実行させる。この制御
部3は、データコピー動作の実行中あるいは終了を示す
データが書き込まれるコピー動作実行レジスタ301
と、データコピー動作においてSIMM1のワードを指
定するアドレスデータB′が書き込まれるコピーアドレ
スレジスタ302と、固定故障発生ビットを指定するデ
ータが書き込まれる故障ビット指定レジスタ303とを
有する。
【0024】尚、リードデータ一時記憶バッファ6とリ
ードデータ置換回路5とエラーチェック/訂正回路7と
ライトデータ選択回路9と代替データ選択回路10と制
御部3は、データコピー手段を構成し、SIMM1から
ECC付き対象データを読み出してエラーチェック/訂
正回路7においてエラー訂正処理を行い、このデータの
固定故障発生ビットの値を代替データ選択回路10によ
って予備部103に送りこれにコピーする。また代替デ
ータ一時記憶バッファ4とリードデータ置換回路5と制
御部3はデータ読み出し手段を構成し、データコピーを
完了したワードに対する読み出しアクセスに際して、E
CC付き対象データの固定故障発生ビットの値を予備部
103から読み出す。また代替データ選択回路10と制
御部3はデータ書き込み手段を構成し、固定故障の発生
以降の書き込みアクセスに際して、ライトデータCにE
CCを付加したデータIの固定故障発生ビットの値を予
備部103に書き込む。
【0025】次に、上記の構成を有するメモリ装置の動
作について説明する。本メモリ装置の動作はSIMM1
に縮退故障等の固定故障が発生する以前における代替ビ
ットを用いないデータ読み出し動作およびデータ書き込
み動作と、固定故障が発生して代替ビットを用いた動作
に移行するために、固定故障発生ビットの値をチェック
/訂正して予備部103にコピーするデータコピー動作
と、固定故障発生以降における代替ビットを用いたデー
タ読み出し動作およびデータ書き込み動作とに分類でき
る。
【0026】まず、固定故障が発生する以前の代替ビッ
トを用いないデータ読み出し/書き込み動作について説
明する。このとき、コピー動作実行レジスタ301には
予備部103へのデータコピーの未実行を示すデータが
初期データとして書き込まれている。またリードデータ
置換回路5はデータ置換処理を行わず、アドレス選択回
路2はアクセス元からのアドレスデータBをSIMM1
に送る。尚、代替データ選択回路10が選択するビット
は任意である。
【0027】データ書き込み動作は次のようになる。ア
クセス元がアクセス信号Aによって読み出しアクセスを
制御回路3に通知し、アクセスするワードを指定するア
ドレスデータBを送信すると、制御回路3はSIMM1
にデータ読み出しを指示し、またアドレスデータBはア
ドレス選択回路2を介してSIMM1に入力される。そ
してSIMM1においてアドレスデータBにより指定さ
れたワード(W1とする)のデータ部101およびEC
C部102からECC付き対象データがリードデータ一
時記憶バッファ6に読み出され、このときリードデータ
置換回路5には制御回路3からデータ置換が指示されな
いので、リードデータ一時記憶バッファ6に読み出され
たデータはそのままエラーチェック/訂正回路7に送ら
れる。
【0028】エラーチェック/訂正回路7において、E
CC付き対象データのビットエラーがチェック/訂正さ
れ、このエラーチェック/訂正された対象データがリー
ドデータDとしてアクセス元に返送される。ここでチェ
ック結果が1ビットエラーであったときには、エラーチ
ェック/訂正回路7はエラービット通知信号Fによりエ
ラーが発生したビットをアクセス元に通知し、制御回路
3はステータス信号Eによって1ビットエラーの発生を
認識し、エラー訂正されたECC付き対象データI′を
ライトデータ選択回路9を介してSIMM1に送り、S
IMM1のワードW1のデータをデータI′に書き換え
る。
【0029】またデータ書き込み動作は次のようにな
る。アクセス元がアクセス信号Aによって書き込みアク
セスを制御回路3に通知し、アクセスするワードを指定
するアドレスデータBおよびデータ部101への書き込
みデータとなるライトデータCを送信すると、制御回路
3はライトデータCのECCをECC生成回路8で生成
させ、このライトデータCとそのECCからなるデータ
Iはライトデータ選択回路9を介してSIMM1に送ら
れ、またアドレスデータBはアドレス選択回路2を介し
てSIMM1に送られる。そして制御回路3がSIMM
1にデータ書き込みを指示すると、アドレスデータBに
より指定されたワードのデータ部101およびECC部
102にECC付き対象データIが書き込まれる。
【0030】次に、データコピー動作について説明す
る。アクセス元はリードアクセスに対してエラーチェッ
ク/訂正回路7から返送されるステータス信号Eおよび
エラービット通知信号Fのソフトウェア等による解析に
より、例えば「1ビットエラーが頻発し、エラーが発生
しているビットとそのデータ値が毎回同一である」とい
う条件が成立すれば、SIMM1の1ビットに縮退故障
等の固定故障が発生していると推定できる。アクセス元
はSIMM1の1ビットに固定故障が発生したと判断す
ると、制御回路3に対してコピー動作指示信号Gを送信
し、どのビットが固定故障発生ビットであるかを通知
し、この固定故障発生ビットの値の予備部103へのコ
ピーを指示する。制御回路3はこのコピー動作指示信号
Gを受信して固定故障発生ビットを示すデータを故障ビ
ット指定レジスタ303に書き込み、コピー動作実行レ
ジスタ301のデータをコピー動作の開始を示すものに
書き換え、コピーアドレスレジスタ302にSIMM1
の先頭ワードを指定するアドレスデータを書き込み、代
替データ選択回路10に故障ビット指定レジスタ303
のデータを送って選択ビットを通知し、固定故障発生ビ
ットのデータ選択転送を指示し、リードデータ置換回路
5に対してはデータ置換を指示しない。またこのときア
ドレス選択回路2はコピーアドレスレジスタ302のデ
ータ(アドレスデータA´)を選択し、ライトデータ選
択回路9はエラーチェック/訂正回路7からのデータI
´を選択する。そして以下に示すデータコピーサイクル
をSIMM1の全てのワードに対して実行する。
【0031】制御回路3からSIMM1にデータ読み出
し指示が送られ、アドレスデータB´によって指定され
るワード(W2とする)のデータ部101およびECC
部102から対象データとそのECCが読み出され、リ
ードデータ一時記憶バッファ6に保持される。このとき
リードデータ置換回路5には制御回路3からデータ置換
が指示されていないので、リードデータ一時記憶バッフ
ァ6に保持されたデータはそのままエラーチェック/訂
正回路7に送られる。
【0032】エラーチェック/訂正回路7において、対
象データの値のチェックが行われ、チェック結果が1ビ
ットエラーのときにはエラービットのデータ訂正が行わ
れる。このエラーチェック/訂正されたデータI′はラ
イト選択回路9を介してSIMM1のデータ部101と
ECC部102に送られる。また代替データ選択回路1
0によって上記のデータI′の固定故障発生ビットが選
択されてその値がSIMM1の予備部103に送られ
る。尚、ソフトエラー等の間欠故障を併発すると上記の
チェック結果が2ビットエラーとなる可能性があるが、
2ビットエラーが検出されたときは、制御回路3はデー
タコピー動作を終了させ、コピー動作ステータス信号H
によってアクセス元に対してデータコピーがエラー終了
したことを通知する。
【0033】続いて制御回路3は、対象データのチェッ
ク結果が正常であるか1ビットエラーであるかに関わら
ず、SIMM1にデータ書き込みを指示する。これによ
りワードW2のデータ部101およびECC部102に
エラーチェック/訂正されたデータI′が書き込まれ、
ワードW2の予備部103に固定故障発生ビットの正し
いデータがコピーされる。
【0034】以上により1ワードに対するデータコピー
サイクルを完了し、制御回路3はコピーアドレスレジス
タ302のデータをインクリメントし、この新しいアド
レスデータA′によって指定されるワードに対して上記
と同様のデータコピーサイクルを開始する。このように
してSIMM1の各ワードに対して固定故障発生ビット
の値の予備部103へのコピーを順次実行していき、全
てのワードのデータコピーが完了したら、制御回路3は
コピー動作ステータス信号Hによりアクセス元に対して
データコピーが正常に終了したことを通知し、コピー動
作実行レジスタ301のデータをデータコピーを完了し
たことを示すものに書き換える。
【0035】最後に、固定故障発生以降の代替ビットを
用いたデータ読み出し/書き込み動作について説明す
る。データコピー動作中にアクセスを受けたときは、デ
ータコピー動作を一時的に中断してデータ読み出し/書
き込み動作を行い、その後再びデータコピー動作を継続
する。読み出しアクセスに対してはアクセスワードのデ
ータコピー完了とともに代替ビットを用いた動作に移行
し、また書き込みアクセスに対しては、データコピーの
開始(すなわちコピー動作指示信号Gの受信)とともに
代替ビットを用いた動作に移行する。このとき、制御回
路3はリードデータ置換回路5に故障ビット指定レジス
タ303の固定故障発生ビットを示すデータを送ること
により置換ビットを指定してデータ置換を指示し、また
代替データ選択回路10に故障ビット指定レジスタ30
3のデータを送ることにより選択ビットを指定してデー
タ選択転送を指示する。またアドレス選択回路2はアド
レスデータBを選択し、ライトデータ選択回路9はデー
タIを選択する。
【0036】データ読み出し動作は次のようになる。ア
クセス元がアクセス信号Aにより読み出しアクセスを通
知すると、制御回路3はSIMM1にデータ読み出しを
指示する。尚、このアクセスがデータコピー動作中にな
されたときには、制御回路3はアドレスデータBとコピ
ーアドレスレジスタ302のデータから、アクセスされ
たワードがデータコピーを完了したものかどうかを判断
し、データコピーを完了していない場合は、前述の代替
ビットを用いないデータリード動作を実行させる。SI
MM1においてアドレスデータBに対応するワードのデ
ータ部101およびECC部102からECC付き対象
データがリードデータ一時記憶バッファ6に読み出さ
れ、予備部103の代替データが代替データ一時記憶バ
ッファ4に読み出され、それぞれリードデータ置換回路
5に入力される。リードデータ置換回路5はECC付き
対象データの指定置換ビット(固定故障発生ビット)の
値を代替データに置換し、この置換されたECC付き対
象データはエラーチェック/訂正回路7に送られる。こ
れ以降は前述した代替ビットを用いないデータ読み出し
動作と同じとなる。ただし、エラーチェック/訂正回路
7のチェック結果が1ビットエラーであったときには、
代替ビットデータ選択回路10によってエラー訂正され
たデータI′の固定故障発生ビットの値が予備部103
に書き込まれる。
【0037】またデータ書き込み動作は次のようにな
る。すなわち上述の代替ビットを用いないデータ書き込
み動作に加え、代替データ選択回路10によってデータ
Iの固定故障発生ビットを選択し、その値が予備部10
3に書き込まれる。
【0038】このように上記第1の実施形態によれば、
固定故障が発生してコピー動作指示信号Gを受信する
と、記憶部(データ部101とECC部102)からE
CC付き対象データを読み出してエラーチェック/訂正
回路7でエラービットの訂正処理を行い、このデータの
固定故障発生ビットの値を予備部103にコピーし、コ
ピー処理を完了したワードの読み出しアクセスに際し
て、リードデータ置換回路5で記憶部のECC付き対象
データの固定故障発生ビットの値を予備部103の代替
データに置換し、また固定故障の発生以降の書き込みア
クセスに際して、代替データ選択回路10によりECC
付き対象データの固定故障発生ビットの値を予備部10
3に書き込み、固定故障発生ビットを正常ビットである
予備部103で代替することにより、固定故障の発生に
起因する2ビットエラー(訂正不可能であり、固定故障
発生ビットがエラービットとなったときに(その確率は
1/2)、間欠的エラーを併発すると発生する)の発生
増加を抑えることができるので、固定故障が発生しても
アクセス処理の信頼性低下を回避することができる。
【0039】尚、上記第1の実施形態においては、予備
部103のビット数を1ビットとしたが、これを2ビッ
ト以上とし、各ビット(代替ビット)を複数の固定故障
発生ビットにそれぞれ対応させる構成とすることによ
り、別々の時刻に発生した2ビット以上の固定故障に対
応することができる。またECCのビット数を増やし、
エラーチェック/訂正回路7として2ビット以上のビッ
トエラーを訂正できるものを用いれば、発生時刻に関わ
らず2ビット以上の固定故障に対応することができる。
【0040】第2の実施形態 図2は本発明の第2の実施形態のメモリ装置を示す構成
図であり、このメモリ装置はECC付き対象データをメ
モリモジュールの予備部にも予め書き込んでおき、固定
故障発生ビットを予備部の対応するビットで代替えする
ものであり、大容量のメモリモジュールを用いることが
できる場合に有効である。図2のメモリ装置は、図1に
おいて、SIMM1に替えてSIMM21を設け、アド
レス選択回路2を取り除いてアドレスデータBを直接S
IMM21に送るようにし、代替データ選択回路10を
取り除いてデータIまたはデータI′を2つの経路でS
IMM21に送るようにし、また制御回路3、代替デー
タ一時記憶バッファ4、リードデータ置換回路5に替え
て、制御回路22、代替データ一時記憶バッファ23、
リードデータ置換回路24をそれぞれ設けたものであ
る。
【0041】SIMM21は、SIMM1の予備部10
3を39ビットの予備部2101としたものであり、予
備部2101にはデータ部101およびECC部102
と同様にデータIまたはデータI′が書き込まれる。ま
た代替データ一時記憶バッファ23は、SIMM1の予
備部2101から読み出された39ビットのデータを一
時的に記憶する回路である。
【0042】リードデータ置換回路24は、制御回路2
2から置換ビット(固定故障発生ビット)を指定したデ
ータ置換指示があると、データ部101およびECC部
102から読み出されたECC付き対象データの上記置
換ビットの値を予備部2101から読み出されたデータ
の上記置換ビットの値に置換し、この置換処理したEC
C付き対象データをエラーチェック/訂正回路7に送
り、また上記のデータ置換指示がないときには、データ
部101およびECC部102から読み出されたECC
付き対象データをそのままエラーチェック/訂正回路7
に送る回路である。
【0043】制御回路22は、アクセス元からのアクセ
ス信号A、代替指示信号J、アドレスデータB、および
エラーチェック/訂正回路7からのステータス信号Eに
基づいて、SIMM21、リードデータ置換回路24、
エラーチェック/訂正回路7、ECC生成回路8、ライ
トデータ選択回路9の動作を制御し、アクセス元からの
アクセス信号Aによる読み出し/書き込みアクセスに応
じてデータ読み出し動作およびデータ書き込み動作を実
行させる。またアクセス元がSIMM1に固定故障が発
生したと判断したときに送信してくる代替指示信号Jに
応じて、これ以降の読み出しアクセスに対しては、SI
MM21の記憶部から読み出したECC付き対象データ
の故障発生ビットの値を予備部2101から読み出した
データ(代替データ)の故障発生該当ビットの値に置換
するデータ読み出し動作を実行させる。この制御部22
は、代替指示信号Jを受信して代替ビットを用いたデー
タ読み出し動作を開始したことを示すデータが書き込ま
れる代替実行レジスタ2201と、固定故障発生ビット
を指定するデータが書き込まれる故障ビット指定レジス
タ303とを有する。
【0044】尚、代替データ一時記憶バッファ23とリ
ードデータ置換回路24と制御部22はデータ読み出し
手段を構成し、固定故障の発生以降の読み出しアクセス
に際して、ECC付き対象データの固定故障発生ビット
の値を予備部2101の対応ビットから読み出す。また
制御部22はデータ書き込み手段に該当し、ECC付き
対象データIまたはI′を予備部2102に書き込む。
【0045】次に、上記の構成を有する図2のメモリ装
置の動作について説明する。本メモリ装置の動作は、デ
ータ書き込み動作と、SIMM1のデータ部101また
はECC部102に固定故障が発生する以前における代
替ビットを用いないデータ読み出し動作と、固定故障発
生以降の代替ビットを用いたデータ読み出し動作とに分
類できる。
【0046】まず、データ書き込み動作について説明す
る。アクセス元がアクセス信号Aによって書き込みアク
セスを制御回路21に通知すると、制御回路22はライ
トデータCとそのECCからなるデータIをライトデー
タ選択回路9を介してSIMM1の記憶部(データ部1
01とECC部102)、および予備部2101にそれ
ぞれ送り、SIMM21にデータ書き込みを指示して、
アドレスデータBにより指定された記憶部および予備部
2101にそれぞれECC付き対象データIが書き込ま
れる。
【0047】次に、固定故障が発生する以前の代替ビッ
トを用いないデータ読み出し動作について説明する。こ
のとき制御部22の代替実行レジスタ2201には、代
替を実行しないことを示すデータが初期データとして書
き込まれている。また制御部22はリードデータ置換回
路24にデータ置換を指示しない。アクセス元がアクセ
ス信号Aによって読み出しアクセスを制御回路22に通
知すると、制御回路22はSIMM1にデータ読み出し
を指示し、SIMM1においてアドレスデータBにより
指定されたワード(W3とする)の記憶部からECC付
き対象データがリードデータ一時記憶バッファ6に読み
出され、このECC付き対象データはリードデータ置換
回路24で置換処理を受けずに、エラーチェック/訂正
回路7に送られてビットエラーをチェック/訂正され
る。チェック結果が1ビットエラーのときには、エラー
チェック/訂正回路7はエラービットをエラービット通
知信号によってアクセス元に通知し、また制御部22は
エラーチェック/訂正回路7によってエラー訂正された
ECC付き対象データI′をライトデータ選択回路9を
介してSIMM1の記憶部および予備部2101に送
り、SIMM1のワードW3のデータをデータI′に書
き換える。
【0048】最後に、代替ビットを用いたデータ読み出
し動作について説明する。アクセス元はSIMM1に固
定故障が発生したと判断すると、制御回路3に対して代
替え指示信号Jを送信し、どのビットが固定故障発生ビ
ットであるかを通知する。制御回路21はこの代替指示
信号Jを受信して固定故障発生ビットを示すデータを故
障ビット指定レジスタ303に書き込み、代替実行レジ
スタ2201のデータを代替ビットによる読み出し動作
の開始を示すものに書き換え、リードデータ置換回路2
4に故障ビット指定レジスタ303のデータを送ること
により置換ビットを指定してデータ置換を指示する。ア
クセス元がアクセス信号Aによりリードアクセスを通知
すると、制御回路22はSIMM21にデータ読み出し
を指示し、SIMM1においてアドレスデータBに対応
するワードの記憶部からECC付き対象データがリード
データ一時記憶バッファ6に読み出され、同時に予備部
2101の代替データが代替データ一時記憶バッファ2
3に読み出され、それぞれリードデータ置換回路24に
入力される。リードデータ置換回路24はリードデータ
一時記憶バッファ6から入力されたECC付き対象デー
タの指定置換ビット(固定故障発生ビット)の値を代替
データの指定置換ビット(固定故障該当ビット)の値に
置換し、この置換されたECC付き対象データはエラー
チェック/訂正回路7に送られる。これ以降は前述した
代替ビットを用いないデータ読み出し動作と同じとな
る。
【0049】この後、さらに別のビットに固定故障が発
生すると、アクセス元は代替指示信号Jにより新たな固
定故障発生ビットを制御部21に通知し、制御部21は
2個目の固定故障発生ビットを示すデータを故障ビット
指定レジスタ303に書き加え、リードデータ置換回路
24に2個目の固定故障発生ビットの置換処理を追加指
示し、これによりリードデータ置換回路24はデータ読
み出し動作においてECC付き対象データの2つの固定
故障発生ビットの値を代替データの対応するビットの値
にそれぞれ置換する。尚、同様にして3個目以降の発生
時刻の異なる固定故障発生ビットにも対応できることは
言うまでもない。
【0050】このように上記第2の実施形態によれば、
書き込みアクセスに際して、ECC付き対象データIま
たはI′を予め予備部2101に書き込んでおき、固定
故障が発生したことを認識してからの読み出しアクセス
に際して、リードデータ置換回路24により記憶部のE
CC付き対象データの固定故障発生ビットの値を予備部
2101の対応するビットの値に置換し、固定故障発生
ビットを予備部2101の正常なビットで代替すること
により、第1の実施形態のメモリ装置と同様に固定故障
が発生してもアクセス処理の信頼性低下を回避すること
ができる。またデータコピーを実行する必要がない。
【0051】尚、上記第2の実施形態において、ECC
のビット数を増やし、エラーチェック/訂正回路7とし
て2ビット以上のビットエラーを訂正できるものを用い
れば、発生時刻に関わらず2ビット以上の固定故障に対
応することができる。
【0052】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、固定故障
発生ビットを予備記憶部の正常なビットで代替すること
により、固定故障の発生に起因する訂正可能個数を越え
るビットエラーの発生増加を抑えることができるので、
固定故障が発生してもアクセス処理の信頼性低下を回避
することができるという効果があり、この効果は訂正可
能なエラービット数が1ビットであるメモリ装置におい
て最も顕著に現れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態のメモリ装置を示す構
成図である。
【図2】本発明の第2の実施形態のメモリ装置を示す構
成図である。
【図3】従来のメモリ装置を示す構成図である。
【符号の説明】
1、21 SIMM(メモリモジュール) 2 アドレス選択回路 3、22 制御回路 4、23 代替データ一時記憶バッファ 5、24 リードデータ置換回路 6 リードデータ一時記憶バッファ 7 エラーチェック/訂正回路 8 ECC生成回路 9 ライトデータ選択回路 10 代替データ選択回路 101 データ部 102 ECC部 103、2101 予備部 301 コピー動作実行レジスタ 302 コピーアドレスレジスタ 303 故障ビット指定レジスタ 2201 代替実行レジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 武内 弘 東京都港区虎ノ門1丁目7番12号 沖電気 工業株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 書き込みアクセスにおいて入力された対
    象データに冗長コードを付加して記憶部に書き込み、読
    み出しアクセスに応じて前記記憶部から前記冗長コード
    付き対象データを読み出し、このデータに所定数以下の
    ビットエラーが発生したときにはエラービットの値を訂
    正し、このエラー訂正処理した対象データを出力するメ
    モリ装置において、 前記冗長コード付き対象データの部分データが書き込ま
    れる予備記憶部と、 前記記憶部のあるビットに固定故障が発生したことを認
    識すると、前記記憶部から前記冗長コード付き対象デー
    タを読み出して前記エラー訂正処理を行い、このデータ
    の前記固定故障発生ビットの値を前記予備記憶部にコピ
    ーするデータコピー手段と、 前記コピー処理の完了以降の読み出しアクセスに際し
    て、前記冗長コード付き対象データの固定故障発生ビッ
    トの値を前記予備記憶部から読み出すデータ読み出し手
    段と、 前記固定故障の発生以降の書き込みアクセスに際して、
    前記冗長コード付き対象データの固定故障発生ビットの
    値を前記予備記憶部に書き込むデータ書き込み手段とを
    設けたことを特徴とするメモリ装置。
  2. 【請求項2】 書き込みアクセスにおいて入力された対
    象データに冗長コードを付加して記憶部に書き込み、読
    み出しアクセスに応じて前記記憶部から前記冗長コード
    付き対象データを読み出し、このデータに所定数以下の
    ビットエラーが発生したときにはエラービットの値を訂
    正し、このエラー訂正処理した対象データを出力するメ
    モリ装置において、 前記冗長コード付き対象データが書き込まれる予備記憶
    部と、 前記書き込みアクセスに際して、前記冗長コード付き対
    象データを前記予備記憶部に書き込むデータ書き込み手
    段と、 前記記憶部のあるビットに固定故障が発生したことを認
    識すると、これ以降の読み出しアクセスに際して、前記
    冗長コード付き対象データの固定故障発生ビットの値を
    前記予備記憶部の対応するビットから読み出すデータ読
    み出し手段とを設けたことを特徴とするメモリ装置。
JP8170517A 1996-07-01 1996-07-01 メモリ装置 Withdrawn JPH1021149A (ja)

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JP8170517A JPH1021149A (ja) 1996-07-01 1996-07-01 メモリ装置

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JPH1021149A true JPH1021149A (ja) 1998-01-23

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012177964A (ja) * 2011-02-25 2012-09-13 Nec Computertechno Ltd メモリシステム及びメモリモジュール制御方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012177964A (ja) * 2011-02-25 2012-09-13 Nec Computertechno Ltd メモリシステム及びメモリモジュール制御方法

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