JPH10209838A - 監視システム、測定システムおよび測定装置 - Google Patents
監視システム、測定システムおよび測定装置Info
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- JPH10209838A JPH10209838A JP9009806A JP980697A JPH10209838A JP H10209838 A JPH10209838 A JP H10209838A JP 9009806 A JP9009806 A JP 9009806A JP 980697 A JP980697 A JP 980697A JP H10209838 A JPH10209838 A JP H10209838A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 各測定装置の同期検波用周波数を個々に設定
しなくても他との干渉がないようにできる監視システム
を提供する。 【解決手段】 光電測定装置10,20,30において、ランダ
ム周波数発振回路11,21,31は、周波数がランダムに変動
する同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3を出力する。Ｌ
ＥＤ駆動回路12,22,32は、各同期検波用周波数ｆr1，ｆ
r2，ｆr3に基づいて発光ダイオード13,23,33をオン／オ
フし、光ビームb1,b2,b3を監視領域Ｅに出射させる。フ
ォトダイオード16,26,36は、反射してきた光ビームb1,b
2,b3を受光し、検知信号を出力する。同期検波回路17,2
7,37は、検知信号を同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3
により同期検波し、各同期検波用周波数の成分を抽出
し、それぞれ測定信号を出力する。比較回路18,28,38
は、各測定信号の大きさが閾値R1,R2,R3を越えたときに
物体検出信号S1,S2,S3を出力する。 【効果】 各測定装置の同期検波用周波数を調整しなく
ても他と干渉しない。
しなくても他との干渉がないようにできる監視システム
を提供する。 【解決手段】 光電測定装置10,20,30において、ランダ
ム周波数発振回路11,21,31は、周波数がランダムに変動
する同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3を出力する。Ｌ
ＥＤ駆動回路12,22,32は、各同期検波用周波数ｆr1，ｆ
r2，ｆr3に基づいて発光ダイオード13,23,33をオン／オ
フし、光ビームb1,b2,b3を監視領域Ｅに出射させる。フ
ォトダイオード16,26,36は、反射してきた光ビームb1,b
2,b3を受光し、検知信号を出力する。同期検波回路17,2
7,37は、検知信号を同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3
により同期検波し、各同期検波用周波数の成分を抽出
し、それぞれ測定信号を出力する。比較回路18,28,38
は、各測定信号の大きさが閾値R1,R2,R3を越えたときに
物体検出信号S1,S2,S3を出力する。 【効果】 各測定装置の同期検波用周波数を調整しなく
ても他と干渉しない。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、監視システム、測
定システムおよび測定装置に関する。さらに詳しくは、
複数の測定装置の同期検波用周波数を個々に調整する手
間をなくすことができる監視システム、測定システムお
よび測定装置に関する。
定システムおよび測定装置に関する。さらに詳しくは、
複数の測定装置の同期検波用周波数を個々に調整する手
間をなくすことができる監視システム、測定システムお
よび測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は、従来の監視システムの一例を示
す構成図である。この監視システム５００は、監視領域
Ｅの周囲に、第１光電測定装置５１０と、第２光電測定
装置５２０と、第３光電測定装置５３０とを配設して構
成されている。
す構成図である。この監視システム５００は、監視領域
Ｅの周囲に、第１光電測定装置５１０と、第２光電測定
装置５２０と、第３光電測定装置５３０とを配設して構
成されている。
【０００３】前記第１光電測定装置５１０は、赤外線を
用いた光ビームｂ１を監視領域Ｅに出射するＬＥＤ駆動
回路１２，発光ダイオード１３およびレンズ１４と、前
記光ビームｂ１の出射を例えば３．３ｋＨｚの同期検波
用周波数Ｆ１でオン／オフさせる第１周波数発振回路５
１１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで反射し
た光ビームｂ１を検知し検知信号ｄ１を出力するレンズ
１５およびフォトダイオード１６と、前記検知信号ｄ１
を前記同期検波用周波数Ｆ１で同期検波して同期検波用
周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路１
７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ１を越えたときに
物体検出信号Ｓ１を出力する比較回路１８とを備えてい
る。
用いた光ビームｂ１を監視領域Ｅに出射するＬＥＤ駆動
回路１２，発光ダイオード１３およびレンズ１４と、前
記光ビームｂ１の出射を例えば３．３ｋＨｚの同期検波
用周波数Ｆ１でオン／オフさせる第１周波数発振回路５
１１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで反射し
た光ビームｂ１を検知し検知信号ｄ１を出力するレンズ
１５およびフォトダイオード１６と、前記検知信号ｄ１
を前記同期検波用周波数Ｆ１で同期検波して同期検波用
周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路１
７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ１を越えたときに
物体検出信号Ｓ１を出力する比較回路１８とを備えてい
る。
【０００４】同様に、前記第２光電測定装置５２０は、
赤外線を用いた光ビームｂ２を監視領域Ｅに出射するＬ
ＥＤ駆動回路２２，発光ダイオード２３およびレンズ２
４と、前記光ビームｂ２の出射を１．４ｋＨｚの同期検
波用周波数Ｆ２でオン／オフさせる第２周波数発振回路
５２１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで反射
した光ビームｂ２を検知し検知信号ｄ２を出力するレン
ズ２５およびフォトダイオード２６と、前記検知信号ｄ
２を前記同期検波用周波数Ｆ２で同期検波して同期検波
用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路
２７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ２を越えたとき
に物体検出信号Ｓ２を出力する比較回路２８とを備えて
いる。
赤外線を用いた光ビームｂ２を監視領域Ｅに出射するＬ
ＥＤ駆動回路２２，発光ダイオード２３およびレンズ２
４と、前記光ビームｂ２の出射を１．４ｋＨｚの同期検
波用周波数Ｆ２でオン／オフさせる第２周波数発振回路
５２１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで反射
した光ビームｂ２を検知し検知信号ｄ２を出力するレン
ズ２５およびフォトダイオード２６と、前記検知信号ｄ
２を前記同期検波用周波数Ｆ２で同期検波して同期検波
用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路
２７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ２を越えたとき
に物体検出信号Ｓ２を出力する比較回路２８とを備えて
いる。
【０００５】同様に、前記第３光電測定装置５３０は、
赤外線を用いた光ビームｂ３を監視領域Ｅに出射するＬ
ＥＤ駆動回路３２，発光ダイオード３３およびレンズ３
４と、前記光ビームｂ３の出射を７．７ｋＨｚの同期検
波用周波数Ｆ３でオン／オフさせる第３周波数発振回路
５３１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで反射
した光ビームｂ３を検知し検知信号ｄ３を出力するレン
ズ３５およびフォトダイオード３６と、前記検知信号ｄ
３を前記同期検波用周波数Ｆ３で同期検波して同期検波
用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路
３７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ３を越えたとき
に物体検出信号Ｓ３を出力する比較回路３８とを備えて
いる。
赤外線を用いた光ビームｂ３を監視領域Ｅに出射するＬ
ＥＤ駆動回路３２，発光ダイオード３３およびレンズ３
４と、前記光ビームｂ３の出射を７．７ｋＨｚの同期検
波用周波数Ｆ３でオン／オフさせる第３周波数発振回路
５３１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで反射
した光ビームｂ３を検知し検知信号ｄ３を出力するレン
ズ３５およびフォトダイオード３６と、前記検知信号ｄ
３を前記同期検波用周波数Ｆ３で同期検波して同期検波
用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路
３７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ３を越えたとき
に物体検出信号Ｓ３を出力する比較回路３８とを備えて
いる。
【０００６】次に、動作を説明するが、説明の簡単化の
ため、第１光電測定装置５１０と第２光電測定装置５２
０のみに着目して説明する。図５に示すように、第１光
電測定装置５１０の光ビームｂ１は、３．３ｋＨｚの第
１周波数Ｆ１でオン／オフされている。また、第２光電
測定装置５２０の光ビームｂ２は、１．４ｋＨｚの第２
周波数Ｆ２でオン／オフされている。図４に示すよう
に、第１光電測定装置５１０のレンズ１５には、第１光
電測定装置５１０の光ビームｂ１だけでなく、第２光電
測定装置５２０の光ビームｂ２も入射する。逆に、第２
光電測定装置５２０のレンズ２５には、第２光電測定装
置５２０の光ビームｂ２だけでなく、第１光電測定装置
５１０の光ビームｂ１も入射する。このため、図５に示
すように、第１光電測定装置５１０の検知信号ｄ１は、
３．３ｋＨｚの第１周波数Ｆ１成分と１．４ｋＨｚの第
２周波数Ｆ２成分とを含む。同様に、第２光電測定装置
５２０の検知信号ｄ２も、１．４ｋＨｚの第２周波数Ｆ
２成分と３．３ｋＨｚの第１周波数Ｆ１成分とを含む。
ため、第１光電測定装置５１０と第２光電測定装置５２
０のみに着目して説明する。図５に示すように、第１光
電測定装置５１０の光ビームｂ１は、３．３ｋＨｚの第
１周波数Ｆ１でオン／オフされている。また、第２光電
測定装置５２０の光ビームｂ２は、１．４ｋＨｚの第２
周波数Ｆ２でオン／オフされている。図４に示すよう
に、第１光電測定装置５１０のレンズ１５には、第１光
電測定装置５１０の光ビームｂ１だけでなく、第２光電
測定装置５２０の光ビームｂ２も入射する。逆に、第２
光電測定装置５２０のレンズ２５には、第２光電測定装
置５２０の光ビームｂ２だけでなく、第１光電測定装置
５１０の光ビームｂ１も入射する。このため、図５に示
すように、第１光電測定装置５１０の検知信号ｄ１は、
３．３ｋＨｚの第１周波数Ｆ１成分と１．４ｋＨｚの第
２周波数Ｆ２成分とを含む。同様に、第２光電測定装置
５２０の検知信号ｄ２も、１．４ｋＨｚの第２周波数Ｆ
２成分と３．３ｋＨｚの第１周波数Ｆ１成分とを含む。
【０００７】しかしながら、第１光電測定装置５１０の
検知信号ｄ１が同期検波回路１７で第１周波数Ｆ１で同
期検波されると、第１周波数成分のみが抽出されるか
ら、図５に示すように、第１光電測定装置５１０の検出
信号Ｓ１は、自己の光ビームｂ１のみに基づく検出結果
となる。同様に、第２光電測定装置５２０の検知信号ｄ
２が同期検波回路２７で第２周波数Ｆ２で同期検波され
ると、第２周波数成分のみが抽出されるから、図５に示
すように、第２光電測定装置５２０の検出信号Ｓ２は、
自己の光ビームｂ２のみに基づく検出結果となる。
検知信号ｄ１が同期検波回路１７で第１周波数Ｆ１で同
期検波されると、第１周波数成分のみが抽出されるか
ら、図５に示すように、第１光電測定装置５１０の検出
信号Ｓ１は、自己の光ビームｂ１のみに基づく検出結果
となる。同様に、第２光電測定装置５２０の検知信号ｄ
２が同期検波回路２７で第２周波数Ｆ２で同期検波され
ると、第２周波数成分のみが抽出されるから、図５に示
すように、第２光電測定装置５２０の検出信号Ｓ２は、
自己の光ビームｂ２のみに基づく検出結果となる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の監視システ
ム５００では、各光電測定装置５１０，５２０，５３０
で用いる同期検波用周波数Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３を互いに干
渉のない値に設定することにより、誤動作を防止してい
る。しかし、他の測定装置との干渉がないように各測定
装置の同期検波用周波数を個々に設定することは、回路
定数や部品の選定に手間がかかる問題点がある。特に、
測定装置の数が多くなる（例えば１００台）と、他との
干渉がないように各測定装置の同期検波用周波数を個々
に設定することは、実際上不可能に近くなる問題点があ
る。そこで、本発明の第１の目的は、各測定装置の同期
検波用周波数を個々に設定しなくても他との干渉がない
ようにできる監視システムおよび測定システムを提供す
ることにある。また、本発明の第２の目的は、他の測定
装置の同期検波用周波数やノイズの周波数を考慮しなく
ても他の測定装置やノイズと干渉を起こさない測定装置
を提供することにある。
ム５００では、各光電測定装置５１０，５２０，５３０
で用いる同期検波用周波数Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３を互いに干
渉のない値に設定することにより、誤動作を防止してい
る。しかし、他の測定装置との干渉がないように各測定
装置の同期検波用周波数を個々に設定することは、回路
定数や部品の選定に手間がかかる問題点がある。特に、
測定装置の数が多くなる（例えば１００台）と、他との
干渉がないように各測定装置の同期検波用周波数を個々
に設定することは、実際上不可能に近くなる問題点があ
る。そこで、本発明の第１の目的は、各測定装置の同期
検波用周波数を個々に設定しなくても他との干渉がない
ようにできる監視システムおよび測定システムを提供す
ることにある。また、本発明の第２の目的は、他の測定
装置の同期検波用周波数やノイズの周波数を考慮しなく
ても他の測定装置やノイズと干渉を起こさない測定装置
を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、赤外線，可視光，電波，超音波のいずれか又はこれ
らの組み合わせを用いたセンシングビームを監視領域に
出射するセンシングビーム出射手段と、前記センシング
ビームの出射強度を同期検波用周波数で変化させるため
に前記センシングビーム出射手段に同期検波用信号を与
える同期検波用信号出力手段と、前記監視領域を経由し
たセンシングビームを検知し検知信号を出力する検知手
段と、前記検知信号を前記同期検波用信号で同期検波し
て測定信号を出力する同期検波手段と、前記測定信号の
変化から監視領域内の物体を検出する物体検出手段とを
備えた測定装置を、複数設置した監視システムにおい
て、前記各測定装置の同期検波用信号出力手段は、それ
ぞれ同期検波用周波数をランダムに変動させることを特
徴とする監視システムを提供する。上記第１の観点によ
る監視システムでは、各測定装置のセンシングビームの
同期検波用周波数をランダムに変動させるが、各測定装
置は自己の同期検波用周波数を用いて同期検波を行うか
ら、自己の同期検波用周波数成分は正しく抽出できる。
一方、異なる測定装置の同期検波用周波数が一致するこ
とは事実上ありえないから、各測定装置の同期検波用周
波数を個々に設定しなくても、他との干渉は生じない。
は、赤外線，可視光，電波，超音波のいずれか又はこれ
らの組み合わせを用いたセンシングビームを監視領域に
出射するセンシングビーム出射手段と、前記センシング
ビームの出射強度を同期検波用周波数で変化させるため
に前記センシングビーム出射手段に同期検波用信号を与
える同期検波用信号出力手段と、前記監視領域を経由し
たセンシングビームを検知し検知信号を出力する検知手
段と、前記検知信号を前記同期検波用信号で同期検波し
て測定信号を出力する同期検波手段と、前記測定信号の
変化から監視領域内の物体を検出する物体検出手段とを
備えた測定装置を、複数設置した監視システムにおい
て、前記各測定装置の同期検波用信号出力手段は、それ
ぞれ同期検波用周波数をランダムに変動させることを特
徴とする監視システムを提供する。上記第１の観点によ
る監視システムでは、各測定装置のセンシングビームの
同期検波用周波数をランダムに変動させるが、各測定装
置は自己の同期検波用周波数を用いて同期検波を行うか
ら、自己の同期検波用周波数成分は正しく抽出できる。
一方、異なる測定装置の同期検波用周波数が一致するこ
とは事実上ありえないから、各測定装置の同期検波用周
波数を個々に設定しなくても、他との干渉は生じない。
【００１０】第２の観点では、本発明は、同期検波用信
号出力手段と同期検波手段とを備えた測定装置を複数設
置した測定システムにおいて、前記各測定装置の同期検
波用信号出力手段は、それぞれ同期検波用周波数をラン
ダムに変動させることを特徴とする測定システムを提供
する。上記第２の観点による測定システムでは、複数の
測定装置間の干渉を防止するために各測定装置毎に異な
る同期検波用周波数を用いる測定システムにおいて、各
測定装置の同期検波用周波数をランダムに変動させる
が、各測定装置は自己の同期検波用周波数を用いて同期
検波を行うから、自己の同期検波用周波数成分は正しく
抽出できる。一方、異なる測定装置の同期検波用周波数
が一致することは事実上ありえないから、各測定装置の
同期検波用周波数を個々に設定しなくても、他との干渉
は生じない。
号出力手段と同期検波手段とを備えた測定装置を複数設
置した測定システムにおいて、前記各測定装置の同期検
波用信号出力手段は、それぞれ同期検波用周波数をラン
ダムに変動させることを特徴とする測定システムを提供
する。上記第２の観点による測定システムでは、複数の
測定装置間の干渉を防止するために各測定装置毎に異な
る同期検波用周波数を用いる測定システムにおいて、各
測定装置の同期検波用周波数をランダムに変動させる
が、各測定装置は自己の同期検波用周波数を用いて同期
検波を行うから、自己の同期検波用周波数成分は正しく
抽出できる。一方、異なる測定装置の同期検波用周波数
が一致することは事実上ありえないから、各測定装置の
同期検波用周波数を個々に設定しなくても、他との干渉
は生じない。
【００１１】第３の観点では、本発明は、赤外線，可視
光，電波，超音波のいずれか又はこれらの組み合わせを
用いたセンシングビームを監視領域に出射するセンシン
グビーム出射手段と、前記センシングビームの出射強度
を同期検波用周波数で変化させるために前記センシング
ビーム出射手段に同期検波用信号を与える同期検波用信
号出力手段と、前記監視領域を経由したセンシングビー
ムを検知し検知信号を出力する検知手段と、前記検知信
号を前記同期検波用信号で同期検波して測定信号を出力
する同期検波手段と、前記測定信号の変化から監視領域
内の物体を検出する物体検出手段とを備えた測定装置に
おいて、前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周
波数をランダムに変動させることを特徴とする測定装置
を提供する。上記第３の観点による測定装置では、セン
シングビームの同期検波用周波数をランダムに変動させ
るが、同期検波は自己の同期検波用周波数を用いて行う
から、自己の同期検波用周波数成分は正しく抽出でき
る。一方、他の測定装置の同期検波用周波数やノイズの
周波数と一致することは事実上ありえないから（瞬時で
あり、無視できる）、同期検波用周波数を特に設定しな
くても、他との干渉は生じない。
光，電波，超音波のいずれか又はこれらの組み合わせを
用いたセンシングビームを監視領域に出射するセンシン
グビーム出射手段と、前記センシングビームの出射強度
を同期検波用周波数で変化させるために前記センシング
ビーム出射手段に同期検波用信号を与える同期検波用信
号出力手段と、前記監視領域を経由したセンシングビー
ムを検知し検知信号を出力する検知手段と、前記検知信
号を前記同期検波用信号で同期検波して測定信号を出力
する同期検波手段と、前記測定信号の変化から監視領域
内の物体を検出する物体検出手段とを備えた測定装置に
おいて、前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周
波数をランダムに変動させることを特徴とする測定装置
を提供する。上記第３の観点による測定装置では、セン
シングビームの同期検波用周波数をランダムに変動させ
るが、同期検波は自己の同期検波用周波数を用いて行う
から、自己の同期検波用周波数成分は正しく抽出でき
る。一方、他の測定装置の同期検波用周波数やノイズの
周波数と一致することは事実上ありえないから（瞬時で
あり、無視できる）、同期検波用周波数を特に設定しな
くても、他との干渉は生じない。
【００１２】第４の観点では、本発明は、同期検波用信
号出力手段と同期検波手段とを備えた測定装置におい
て、前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周波数
をランダムに変動させることを特徴とする測定装置を提
供する。上記第４の観点による測定装置では、同期検波
用周波数をランダムに変動させるが、同期検波は自己の
同期検波用周波数を用いて行うから、自己の同期検波用
周波数成分は正しく抽出できる。一方、他の測定装置の
同期検波用周波数やノイズの周波数と一致することは事
実上ありえないから（瞬時であり、無視できる）、同期
検波用周波数を特に設定しなくても、他との干渉は生じ
ない。
号出力手段と同期検波手段とを備えた測定装置におい
て、前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周波数
をランダムに変動させることを特徴とする測定装置を提
供する。上記第４の観点による測定装置では、同期検波
用周波数をランダムに変動させるが、同期検波は自己の
同期検波用周波数を用いて行うから、自己の同期検波用
周波数成分は正しく抽出できる。一方、他の測定装置の
同期検波用周波数やノイズの周波数と一致することは事
実上ありえないから（瞬時であり、無視できる）、同期
検波用周波数を特に設定しなくても、他との干渉は生じ
ない。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施の形態により
本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発
明が限定されるものではない。
本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発
明が限定されるものではない。
【００１４】図１は、本発明の監視システムの一例を示
す構成図である。この監視システム１００は、監視領域
Ｅの周囲に、第１光電測定装置１０と第２光電測定装置
２０と第３光電測定装置３０とを配設して構成されてい
る。
す構成図である。この監視システム１００は、監視領域
Ｅの周囲に、第１光電測定装置１０と第２光電測定装置
２０と第３光電測定装置３０とを配設して構成されてい
る。
【００１５】前記第１光電測定装置１０は、赤外線を用
いた光ビームｂ１を監視領域Ｅに出射するＬＥＤ駆動回
路１２，発光ダイオード１３およびレンズ１４と、ラン
ダムに変動する同期検波用周波数ｆr1で前記光ビームｂ
１の出射をオン／オフさせるランダム周波数発振回路１
１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで反射した
光ビームｂ１を検知し検知信号ｄ１を出力するレンズ１
５およびフォトダイオード１６と、前記検知信号ｄ１を
前記同期検波用周波数ｆr1で同期検波して同期検波用周
波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路１７
と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ１を越えたときに物
体検出信号Ｓ１を出力する比較回路１８とを備えてい
る。
いた光ビームｂ１を監視領域Ｅに出射するＬＥＤ駆動回
路１２，発光ダイオード１３およびレンズ１４と、ラン
ダムに変動する同期検波用周波数ｆr1で前記光ビームｂ
１の出射をオン／オフさせるランダム周波数発振回路１
１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで反射した
光ビームｂ１を検知し検知信号ｄ１を出力するレンズ１
５およびフォトダイオード１６と、前記検知信号ｄ１を
前記同期検波用周波数ｆr1で同期検波して同期検波用周
波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路１７
と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ１を越えたときに物
体検出信号Ｓ１を出力する比較回路１８とを備えてい
る。
【００１６】同様に、前記第２光電測定装置２０は、赤
外線を用いた光ビームｂ２を監視領域Ｅに出射するＬＥ
Ｄ駆動回路２２，発光ダイオード２３およびレンズ２４
と、ランダムに変動する同期検波用周波数ｆr2で前記光
ビームｂ２の出射をオン／オフさせるランダム周波数発
振回路２１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで
反射した光ビームｂ２を検知し検知信号ｄ２を出力する
レンズ２５およびフォトダイオード２６と、前記検知信
号ｄ２を前記同期検波用周波数ｆr2で同期検波して同期
検波用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波
回路２７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ２を越えた
ときに物体検出信号Ｓ２を出力する比較回路２８とを備
えている。
外線を用いた光ビームｂ２を監視領域Ｅに出射するＬＥ
Ｄ駆動回路２２，発光ダイオード２３およびレンズ２４
と、ランダムに変動する同期検波用周波数ｆr2で前記光
ビームｂ２の出射をオン／オフさせるランダム周波数発
振回路２１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで
反射した光ビームｂ２を検知し検知信号ｄ２を出力する
レンズ２５およびフォトダイオード２６と、前記検知信
号ｄ２を前記同期検波用周波数ｆr2で同期検波して同期
検波用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波
回路２７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ２を越えた
ときに物体検出信号Ｓ２を出力する比較回路２８とを備
えている。
【００１７】同様に、前記第３光電測定装置３０は、赤
外線を用いた光ビームｂ３を監視領域Ｅに出射するＬＥ
Ｄ駆動回路３２，発光ダイオード３３およびレンズ３４
と、前記光ビームｂ３の出射をランダムに変動する同期
検波用周波数ｆr3でオン／オフさせるランダム周波数発
振回路３１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで
反射した光ビームｂ３を検知し検知信号ｄ３を出力する
レンズ３５およびフォトダイオード３６と、前記検知信
号ｄ３を前記同期検波用周波数ｆr3で同期検波して同期
検波用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波
回路３７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ３を越えた
ときに物体検出信号Ｓ３を出力する比較回路３８とを備
えている。
外線を用いた光ビームｂ３を監視領域Ｅに出射するＬＥ
Ｄ駆動回路３２，発光ダイオード３３およびレンズ３４
と、前記光ビームｂ３の出射をランダムに変動する同期
検波用周波数ｆr3でオン／オフさせるランダム周波数発
振回路３１と、前記監視領域Ｅの壁面Ｗまたは物体Ｐで
反射した光ビームｂ３を検知し検知信号ｄ３を出力する
レンズ３５およびフォトダイオード３６と、前記検知信
号ｄ３を前記同期検波用周波数ｆr3で同期検波して同期
検波用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波
回路３７と、前記測定信号の大きさが閾値Ｒ３を越えた
ときに物体検出信号Ｓ３を出力する比較回路３８とを備
えている。
【００１８】図２の（ａ），（ｂ），（ｃ）は、前記ラ
ンダム周波数発振回路１１，２１，３１の「Ｍ系列」方
式の一例を示す構成図である。これらのランダム周波数
発振回路１１，２１，３１は、線形フィードバックシフ
トレジスタを用いて周波数がランダムに変動する矩形波
信号を出力するものである。矩形波信号の周波数すなわ
ち同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3は、線形フィード
バックシフトレジスタの段数と，加算器の数と配置と，
クロック周波数とにより決まり、例えば１ｋＨｚ〜１０
００ｋＨｚ位の範囲で変動させるようにする。なお、ラ
ンダム周波数発振回路１１，２１，３１は、上記「Ｍ系
列」方式に限定されず、「物理乱数と平滑化」方式や
「ＦＲＳ型疑似乱数発生」方式などを用いてもよい。
ンダム周波数発振回路１１，２１，３１の「Ｍ系列」方
式の一例を示す構成図である。これらのランダム周波数
発振回路１１，２１，３１は、線形フィードバックシフ
トレジスタを用いて周波数がランダムに変動する矩形波
信号を出力するものである。矩形波信号の周波数すなわ
ち同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3は、線形フィード
バックシフトレジスタの段数と，加算器の数と配置と，
クロック周波数とにより決まり、例えば１ｋＨｚ〜１０
００ｋＨｚ位の範囲で変動させるようにする。なお、ラ
ンダム周波数発振回路１１，２１，３１は、上記「Ｍ系
列」方式に限定されず、「物理乱数と平滑化」方式や
「ＦＲＳ型疑似乱数発生」方式などを用いてもよい。
【００１９】次に、動作を説明するが、説明の簡単化の
ため、第１光電測定装置１０と第２光電測定装置２０に
のみ着目して説明する。図３に示すように、第１光電測
定装置１０の光ビームｂ１は、ランダムに変動する同期
検波用周波数ｆr1でオン／オフされている。また、第２
光電測定装置２０の光ビームｂ２も、ランダムに変動す
る同期検波用周波数ｆr2でオン／オフされている。図１
に示すように、第１光電測定装置１０のレンズ１５に
は、第１光電測定装置１０の光ビームｂ１だけでなく、
第２光電測定装置２０の光ビームｂ２も入射する。また
逆に、第２光電測定装置２０のレンズ２５には、第２光
電測定装置２０の光ビームｂ２だけでなく、第１光電測
定装置１０の光ビームｂ１も入射する。このため、図３
に示すように、第１光電測定装置１０の検知信号ｄ１
は、同期検波用周波数ｆr1成分と同期検波用周波数ｆr2
成分とを含む。同様に、第２光電測定装置２０の検知信
号ｄ２も、同期検波用周波数ｆr2成分と同期検波用周波
数ｆr1成分とを含む。
ため、第１光電測定装置１０と第２光電測定装置２０に
のみ着目して説明する。図３に示すように、第１光電測
定装置１０の光ビームｂ１は、ランダムに変動する同期
検波用周波数ｆr1でオン／オフされている。また、第２
光電測定装置２０の光ビームｂ２も、ランダムに変動す
る同期検波用周波数ｆr2でオン／オフされている。図１
に示すように、第１光電測定装置１０のレンズ１５に
は、第１光電測定装置１０の光ビームｂ１だけでなく、
第２光電測定装置２０の光ビームｂ２も入射する。また
逆に、第２光電測定装置２０のレンズ２５には、第２光
電測定装置２０の光ビームｂ２だけでなく、第１光電測
定装置１０の光ビームｂ１も入射する。このため、図３
に示すように、第１光電測定装置１０の検知信号ｄ１
は、同期検波用周波数ｆr1成分と同期検波用周波数ｆr2
成分とを含む。同様に、第２光電測定装置２０の検知信
号ｄ２も、同期検波用周波数ｆr2成分と同期検波用周波
数ｆr1成分とを含む。
【００２０】しかしながら、第１光電測定装置１０の検
知信号ｄ１が同期検波回路１７で同期検波用周波数ｆr1
で同期検波されると、同期検波用周波数ｆr1の成分のみ
が抽出されるから、図３に示すように、第１光電測定装
置１０の検出信号Ｓ１は、自己の光ビームｂ１のみに基
づく検出結果となる。同様に、第２光電測定装置２０の
検知信号ｄ２が同期検波回路２７で同期検波用周波数ｆ
r2で同期検波されると、同期検波用周波数ｆr2の成分の
みが抽出されるから、図３に示すように、第２光電測定
装置２０の検出信号Ｓ２は、自己の光ビームｂ２のみに
基づく検出結果となる。
知信号ｄ１が同期検波回路１７で同期検波用周波数ｆr1
で同期検波されると、同期検波用周波数ｆr1の成分のみ
が抽出されるから、図３に示すように、第１光電測定装
置１０の検出信号Ｓ１は、自己の光ビームｂ１のみに基
づく検出結果となる。同様に、第２光電測定装置２０の
検知信号ｄ２が同期検波回路２７で同期検波用周波数ｆ
r2で同期検波されると、同期検波用周波数ｆr2の成分の
みが抽出されるから、図３に示すように、第２光電測定
装置２０の検出信号Ｓ２は、自己の光ビームｂ２のみに
基づく検出結果となる。
【００２１】以上の監視システム１００および光電測定
装置１１，２１，３１によれば、各光電測定装置１１，
２１，３１は自己の同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3
を用いて同期検波を行うから、自己の同期検波用周波数
成分は正しく抽出できる。一方、各光電測定装置１１，
２１，３１の同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3が一致
することは事実上あり得ないから、各光電測定装置１
１，２１，３１の同期検波用周波数を個々に設定しなく
ても、他との干渉は生じなくなる。
装置１１，２１，３１によれば、各光電測定装置１１，
２１，３１は自己の同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3
を用いて同期検波を行うから、自己の同期検波用周波数
成分は正しく抽出できる。一方、各光電測定装置１１，
２１，３１の同期検波用周波数ｆr1，ｆr2，ｆr3が一致
することは事実上あり得ないから、各光電測定装置１
１，２１，３１の同期検波用周波数を個々に設定しなく
ても、他との干渉は生じなくなる。
【００２２】なお、上記では、監視システム１００およ
び光電測定装置１１，２１，３１を例にとって説明した
が、これに限定されず、一般の物理量の測定システムに
も本発明を同様に適用できる。また、光ではなく、電波
ビームや超音波ビームを用いた測定装置にも本発明を同
様に適用できる。さらに、センシングビームを用いない
受動型の測定装置にも本発明を同様に適用できる。
び光電測定装置１１，２１，３１を例にとって説明した
が、これに限定されず、一般の物理量の測定システムに
も本発明を同様に適用できる。また、光ではなく、電波
ビームや超音波ビームを用いた測定装置にも本発明を同
様に適用できる。さらに、センシングビームを用いない
受動型の測定装置にも本発明を同様に適用できる。
【００２３】
【発明の効果】本発明の監視システムおよび測定システ
ムによれば、各測定装置の同期検波用周波数を個々に設
定しなくても他と干渉を起こさないように出来る。ま
た、本発明の測定装置によれば、他の測定装置の同期検
波用周波数やノイズの周波数を考慮しなくても他の測定
装置やノイズと干渉を起こさないように出来る。
ムによれば、各測定装置の同期検波用周波数を個々に設
定しなくても他と干渉を起こさないように出来る。ま
た、本発明の測定装置によれば、他の測定装置の同期検
波用周波数やノイズの周波数を考慮しなくても他の測定
装置やノイズと干渉を起こさないように出来る。
【図１】本発明の一実施形態の監視システムを示す構成
図である。
図である。
【図２】ランダム周波数発振回路の一例を示す構成図で
ある。
ある。
【図３】図１の監視システムにおける各部の波形を示す
説明図である。
説明図である。
【図４】従来の監視システムの一例を示す構成図であ
る。
る。
【図５】図４の監視システムにおける各部の波形を示す
説明図である。
説明図である。
１０，２０，３０ 光電測定装置 １１，２１，３１ ランダム周波数発振回路 １２，２２，３２ ＬＥＤ駆動回路 １３，２３，３３ 発光ダイオード １４，１５，２４，２５，３４，３５ レンズ １６，２６，３６ フォトダイオード １７，２７，３７ 同期検波回路 １８，，２８，３８ 比較回路 １００ 監視システム Ｅ 監視領域 Ｐ 物体 Ｗ 壁面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ０１Ｖ 8/12 Ｇ０８Ｂ 21/00 Ｚ Ｇ０８Ｂ 19/00 Ｇ０１Ｊ 1/42 Ｎ 21/00 Ｇ０８Ｂ 13/181 Ｇ０１Ｊ 1/42 Ｇ０１Ｖ 9/04 Ｒ Ｇ０８Ｂ 13/181 Ｋ Ｑ
Claims (4)
- 【請求項１】 赤外線，可視光，電波，超音波のいずれ
か又はこれらの組み合わせを用いたセンシングビームを
監視領域に出射するセンシングビーム出射手段と、前記
センシングビームの出射強度を同期検波用周波数で変化
させるために前記センシングビーム出射手段に同期検波
用信号を与える同期検波用信号出力手段と、前記監視領
域を経由したセンシングビームを検知し検知信号を出力
する検知手段と、前記検知信号を前記同期検波用信号で
同期検波して測定信号を出力する同期検波手段と、前記
測定信号の変化から監視領域内の物体を検出する物体検
出手段とを備えた測定装置を、複数設置した監視システ
ムにおいて、 前記各測定装置の同期検波用信号出力手段は、それぞれ
同期検波用周波数をランダムに変動させることを特徴と
する監視システム。 - 【請求項２】 同期検波用信号出力手段と同期検波手段
とを備えた測定装置を複数設置した測定システムにおい
て、 前記各測定装置の同期検波用信号出力手段は、それぞれ
同期検波用周波数をランダムに変動させることを特徴と
する測定システム。 - 【請求項３】 赤外線，可視光，電波，超音波のいずれ
か又はこれらの組み合わせを用いたセンシングビームを
監視領域に出射するセンシングビーム出射手段と、前記
センシングビームの出射強度を同期検波用周波数で変化
させるために前記センシングビーム出射手段に同期検波
用信号を与える同期検波用信号出力手段と、前記監視領
域を経由したセンシングビームを検知し検知信号を出力
する検知手段と、前記検知信号を前記同期検波用信号で
同期検波して測定信号を出力する同期検波手段と、前記
測定信号の変化から監視領域内の物体を検出する物体検
出手段とを備えた測定装置において、 前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周波数をラ
ンダムに変動させることを特徴とする測定装置。 - 【請求項４】 同期検波用信号出力手段と同期検波手段
とを備えた測定装置において、 前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周波数をラ
ンダムに変動させることを特徴とする測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9009806A JPH10209838A (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 監視システム、測定システムおよび測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9009806A JPH10209838A (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 監視システム、測定システムおよび測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10209838A true JPH10209838A (ja) | 1998-08-07 |
Family
ID=11730436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9009806A Pending JPH10209838A (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 監視システム、測定システムおよび測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10209838A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002148353A (ja) * | 2000-11-13 | 2002-05-22 | Sharp Corp | 光検出装置 |
| JP2002232284A (ja) * | 2001-02-02 | 2002-08-16 | Sunx Ltd | 透過型光電スイッチ |
| GB2426578A (en) * | 2005-05-27 | 2006-11-29 | Thorn Security | A flame detector having a pulsing optical test source that simulates the frequency of a flame |
| JP2008216075A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Yokogawa Electric Corp | 赤外線タッチスイッチ |
| WO2020022185A1 (ja) * | 2018-07-25 | 2020-01-30 | 株式会社小糸製作所 | センサシステム |
-
1997
- 1997-01-22 JP JP9009806A patent/JPH10209838A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002148353A (ja) * | 2000-11-13 | 2002-05-22 | Sharp Corp | 光検出装置 |
| JP2002232284A (ja) * | 2001-02-02 | 2002-08-16 | Sunx Ltd | 透過型光電スイッチ |
| JP4550298B2 (ja) * | 2001-02-02 | 2010-09-22 | サンクス株式会社 | 透過型光電スイッチ |
| GB2426578A (en) * | 2005-05-27 | 2006-11-29 | Thorn Security | A flame detector having a pulsing optical test source that simulates the frequency of a flame |
| JP2008216075A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Yokogawa Electric Corp | 赤外線タッチスイッチ |
| WO2020022185A1 (ja) * | 2018-07-25 | 2020-01-30 | 株式会社小糸製作所 | センサシステム |
| JPWO2020022185A1 (ja) * | 2018-07-25 | 2021-08-05 | 株式会社小糸製作所 | センサシステム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040107 |