JPH10209838A - 監視システム、測定システムおよび測定装置 - Google Patents
監視システム、測定システムおよび測定装置Info
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- JPH10209838A JPH10209838A JP9009806A JP980697A JPH10209838A JP H10209838 A JPH10209838 A JP H10209838A JP 9009806 A JP9009806 A JP 9009806A JP 980697 A JP980697 A JP 980697A JP H10209838 A JPH10209838 A JP H10209838A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 各測定装置の同期検波用周波数を個々に設定
しなくても他との干渉がないようにできる監視システム
を提供する。 【解決手段】 光電測定装置10,20,30において、ランダ
ム周波数発振回路11,21,31は、周波数がランダムに変動
する同期検波用周波数fr1,fr2,fr3を出力する。L
ED駆動回路12,22,32は、各同期検波用周波数fr1,f
r2,fr3に基づいて発光ダイオード13,23,33をオン/オ
フし、光ビームb1,b2,b3を監視領域Eに出射させる。フ
ォトダイオード16,26,36は、反射してきた光ビームb1,b
2,b3を受光し、検知信号を出力する。同期検波回路17,2
7,37は、検知信号を同期検波用周波数fr1,fr2,fr3
により同期検波し、各同期検波用周波数の成分を抽出
し、それぞれ測定信号を出力する。比較回路18,28,38
は、各測定信号の大きさが閾値R1,R2,R3を越えたときに
物体検出信号S1,S2,S3を出力する。 【効果】 各測定装置の同期検波用周波数を調整しなく
ても他と干渉しない。
しなくても他との干渉がないようにできる監視システム
を提供する。 【解決手段】 光電測定装置10,20,30において、ランダ
ム周波数発振回路11,21,31は、周波数がランダムに変動
する同期検波用周波数fr1,fr2,fr3を出力する。L
ED駆動回路12,22,32は、各同期検波用周波数fr1,f
r2,fr3に基づいて発光ダイオード13,23,33をオン/オ
フし、光ビームb1,b2,b3を監視領域Eに出射させる。フ
ォトダイオード16,26,36は、反射してきた光ビームb1,b
2,b3を受光し、検知信号を出力する。同期検波回路17,2
7,37は、検知信号を同期検波用周波数fr1,fr2,fr3
により同期検波し、各同期検波用周波数の成分を抽出
し、それぞれ測定信号を出力する。比較回路18,28,38
は、各測定信号の大きさが閾値R1,R2,R3を越えたときに
物体検出信号S1,S2,S3を出力する。 【効果】 各測定装置の同期検波用周波数を調整しなく
ても他と干渉しない。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、監視システム、測
定システムおよび測定装置に関する。さらに詳しくは、
複数の測定装置の同期検波用周波数を個々に調整する手
間をなくすことができる監視システム、測定システムお
よび測定装置に関する。
定システムおよび測定装置に関する。さらに詳しくは、
複数の測定装置の同期検波用周波数を個々に調整する手
間をなくすことができる監視システム、測定システムお
よび測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は、従来の監視システムの一例を示
す構成図である。この監視システム500は、監視領域
Eの周囲に、第1光電測定装置510と、第2光電測定
装置520と、第3光電測定装置530とを配設して構
成されている。
す構成図である。この監視システム500は、監視領域
Eの周囲に、第1光電測定装置510と、第2光電測定
装置520と、第3光電測定装置530とを配設して構
成されている。
【0003】前記第1光電測定装置510は、赤外線を
用いた光ビームb1を監視領域Eに出射するLED駆動
回路12,発光ダイオード13およびレンズ14と、前
記光ビームb1の出射を例えば3.3kHzの同期検波
用周波数F1でオン/オフさせる第1周波数発振回路5
11と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで反射し
た光ビームb1を検知し検知信号d1を出力するレンズ
15およびフォトダイオード16と、前記検知信号d1
を前記同期検波用周波数F1で同期検波して同期検波用
周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路1
7と、前記測定信号の大きさが閾値R1を越えたときに
物体検出信号S1を出力する比較回路18とを備えてい
る。
用いた光ビームb1を監視領域Eに出射するLED駆動
回路12,発光ダイオード13およびレンズ14と、前
記光ビームb1の出射を例えば3.3kHzの同期検波
用周波数F1でオン/オフさせる第1周波数発振回路5
11と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで反射し
た光ビームb1を検知し検知信号d1を出力するレンズ
15およびフォトダイオード16と、前記検知信号d1
を前記同期検波用周波数F1で同期検波して同期検波用
周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路1
7と、前記測定信号の大きさが閾値R1を越えたときに
物体検出信号S1を出力する比較回路18とを備えてい
る。
【0004】同様に、前記第2光電測定装置520は、
赤外線を用いた光ビームb2を監視領域Eに出射するL
ED駆動回路22,発光ダイオード23およびレンズ2
4と、前記光ビームb2の出射を1.4kHzの同期検
波用周波数F2でオン/オフさせる第2周波数発振回路
521と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで反射
した光ビームb2を検知し検知信号d2を出力するレン
ズ25およびフォトダイオード26と、前記検知信号d
2を前記同期検波用周波数F2で同期検波して同期検波
用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路
27と、前記測定信号の大きさが閾値R2を越えたとき
に物体検出信号S2を出力する比較回路28とを備えて
いる。
赤外線を用いた光ビームb2を監視領域Eに出射するL
ED駆動回路22,発光ダイオード23およびレンズ2
4と、前記光ビームb2の出射を1.4kHzの同期検
波用周波数F2でオン/オフさせる第2周波数発振回路
521と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで反射
した光ビームb2を検知し検知信号d2を出力するレン
ズ25およびフォトダイオード26と、前記検知信号d
2を前記同期検波用周波数F2で同期検波して同期検波
用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路
27と、前記測定信号の大きさが閾値R2を越えたとき
に物体検出信号S2を出力する比較回路28とを備えて
いる。
【0005】同様に、前記第3光電測定装置530は、
赤外線を用いた光ビームb3を監視領域Eに出射するL
ED駆動回路32,発光ダイオード33およびレンズ3
4と、前記光ビームb3の出射を7.7kHzの同期検
波用周波数F3でオン/オフさせる第3周波数発振回路
531と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで反射
した光ビームb3を検知し検知信号d3を出力するレン
ズ35およびフォトダイオード36と、前記検知信号d
3を前記同期検波用周波数F3で同期検波して同期検波
用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路
37と、前記測定信号の大きさが閾値R3を越えたとき
に物体検出信号S3を出力する比較回路38とを備えて
いる。
赤外線を用いた光ビームb3を監視領域Eに出射するL
ED駆動回路32,発光ダイオード33およびレンズ3
4と、前記光ビームb3の出射を7.7kHzの同期検
波用周波数F3でオン/オフさせる第3周波数発振回路
531と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで反射
した光ビームb3を検知し検知信号d3を出力するレン
ズ35およびフォトダイオード36と、前記検知信号d
3を前記同期検波用周波数F3で同期検波して同期検波
用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路
37と、前記測定信号の大きさが閾値R3を越えたとき
に物体検出信号S3を出力する比較回路38とを備えて
いる。
【0006】次に、動作を説明するが、説明の簡単化の
ため、第1光電測定装置510と第2光電測定装置52
0のみに着目して説明する。図5に示すように、第1光
電測定装置510の光ビームb1は、3.3kHzの第
1周波数F1でオン/オフされている。また、第2光電
測定装置520の光ビームb2は、1.4kHzの第2
周波数F2でオン/オフされている。図4に示すよう
に、第1光電測定装置510のレンズ15には、第1光
電測定装置510の光ビームb1だけでなく、第2光電
測定装置520の光ビームb2も入射する。逆に、第2
光電測定装置520のレンズ25には、第2光電測定装
置520の光ビームb2だけでなく、第1光電測定装置
510の光ビームb1も入射する。このため、図5に示
すように、第1光電測定装置510の検知信号d1は、
3.3kHzの第1周波数F1成分と1.4kHzの第
2周波数F2成分とを含む。同様に、第2光電測定装置
520の検知信号d2も、1.4kHzの第2周波数F
2成分と3.3kHzの第1周波数F1成分とを含む。
ため、第1光電測定装置510と第2光電測定装置52
0のみに着目して説明する。図5に示すように、第1光
電測定装置510の光ビームb1は、3.3kHzの第
1周波数F1でオン/オフされている。また、第2光電
測定装置520の光ビームb2は、1.4kHzの第2
周波数F2でオン/オフされている。図4に示すよう
に、第1光電測定装置510のレンズ15には、第1光
電測定装置510の光ビームb1だけでなく、第2光電
測定装置520の光ビームb2も入射する。逆に、第2
光電測定装置520のレンズ25には、第2光電測定装
置520の光ビームb2だけでなく、第1光電測定装置
510の光ビームb1も入射する。このため、図5に示
すように、第1光電測定装置510の検知信号d1は、
3.3kHzの第1周波数F1成分と1.4kHzの第
2周波数F2成分とを含む。同様に、第2光電測定装置
520の検知信号d2も、1.4kHzの第2周波数F
2成分と3.3kHzの第1周波数F1成分とを含む。
【0007】しかしながら、第1光電測定装置510の
検知信号d1が同期検波回路17で第1周波数F1で同
期検波されると、第1周波数成分のみが抽出されるか
ら、図5に示すように、第1光電測定装置510の検出
信号S1は、自己の光ビームb1のみに基づく検出結果
となる。同様に、第2光電測定装置520の検知信号d
2が同期検波回路27で第2周波数F2で同期検波され
ると、第2周波数成分のみが抽出されるから、図5に示
すように、第2光電測定装置520の検出信号S2は、
自己の光ビームb2のみに基づく検出結果となる。
検知信号d1が同期検波回路17で第1周波数F1で同
期検波されると、第1周波数成分のみが抽出されるか
ら、図5に示すように、第1光電測定装置510の検出
信号S1は、自己の光ビームb1のみに基づく検出結果
となる。同様に、第2光電測定装置520の検知信号d
2が同期検波回路27で第2周波数F2で同期検波され
ると、第2周波数成分のみが抽出されるから、図5に示
すように、第2光電測定装置520の検出信号S2は、
自己の光ビームb2のみに基づく検出結果となる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の監視システ
ム500では、各光電測定装置510,520,530
で用いる同期検波用周波数F1,F2,F3を互いに干
渉のない値に設定することにより、誤動作を防止してい
る。しかし、他の測定装置との干渉がないように各測定
装置の同期検波用周波数を個々に設定することは、回路
定数や部品の選定に手間がかかる問題点がある。特に、
測定装置の数が多くなる(例えば100台)と、他との
干渉がないように各測定装置の同期検波用周波数を個々
に設定することは、実際上不可能に近くなる問題点があ
る。そこで、本発明の第1の目的は、各測定装置の同期
検波用周波数を個々に設定しなくても他との干渉がない
ようにできる監視システムおよび測定システムを提供す
ることにある。また、本発明の第2の目的は、他の測定
装置の同期検波用周波数やノイズの周波数を考慮しなく
ても他の測定装置やノイズと干渉を起こさない測定装置
を提供することにある。
ム500では、各光電測定装置510,520,530
で用いる同期検波用周波数F1,F2,F3を互いに干
渉のない値に設定することにより、誤動作を防止してい
る。しかし、他の測定装置との干渉がないように各測定
装置の同期検波用周波数を個々に設定することは、回路
定数や部品の選定に手間がかかる問題点がある。特に、
測定装置の数が多くなる(例えば100台)と、他との
干渉がないように各測定装置の同期検波用周波数を個々
に設定することは、実際上不可能に近くなる問題点があ
る。そこで、本発明の第1の目的は、各測定装置の同期
検波用周波数を個々に設定しなくても他との干渉がない
ようにできる監視システムおよび測定システムを提供す
ることにある。また、本発明の第2の目的は、他の測定
装置の同期検波用周波数やノイズの周波数を考慮しなく
ても他の測定装置やノイズと干渉を起こさない測定装置
を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】第1の観点では、本発明
は、赤外線,可視光,電波,超音波のいずれか又はこれ
らの組み合わせを用いたセンシングビームを監視領域に
出射するセンシングビーム出射手段と、前記センシング
ビームの出射強度を同期検波用周波数で変化させるため
に前記センシングビーム出射手段に同期検波用信号を与
える同期検波用信号出力手段と、前記監視領域を経由し
たセンシングビームを検知し検知信号を出力する検知手
段と、前記検知信号を前記同期検波用信号で同期検波し
て測定信号を出力する同期検波手段と、前記測定信号の
変化から監視領域内の物体を検出する物体検出手段とを
備えた測定装置を、複数設置した監視システムにおい
て、前記各測定装置の同期検波用信号出力手段は、それ
ぞれ同期検波用周波数をランダムに変動させることを特
徴とする監視システムを提供する。上記第1の観点によ
る監視システムでは、各測定装置のセンシングビームの
同期検波用周波数をランダムに変動させるが、各測定装
置は自己の同期検波用周波数を用いて同期検波を行うか
ら、自己の同期検波用周波数成分は正しく抽出できる。
一方、異なる測定装置の同期検波用周波数が一致するこ
とは事実上ありえないから、各測定装置の同期検波用周
波数を個々に設定しなくても、他との干渉は生じない。
は、赤外線,可視光,電波,超音波のいずれか又はこれ
らの組み合わせを用いたセンシングビームを監視領域に
出射するセンシングビーム出射手段と、前記センシング
ビームの出射強度を同期検波用周波数で変化させるため
に前記センシングビーム出射手段に同期検波用信号を与
える同期検波用信号出力手段と、前記監視領域を経由し
たセンシングビームを検知し検知信号を出力する検知手
段と、前記検知信号を前記同期検波用信号で同期検波し
て測定信号を出力する同期検波手段と、前記測定信号の
変化から監視領域内の物体を検出する物体検出手段とを
備えた測定装置を、複数設置した監視システムにおい
て、前記各測定装置の同期検波用信号出力手段は、それ
ぞれ同期検波用周波数をランダムに変動させることを特
徴とする監視システムを提供する。上記第1の観点によ
る監視システムでは、各測定装置のセンシングビームの
同期検波用周波数をランダムに変動させるが、各測定装
置は自己の同期検波用周波数を用いて同期検波を行うか
ら、自己の同期検波用周波数成分は正しく抽出できる。
一方、異なる測定装置の同期検波用周波数が一致するこ
とは事実上ありえないから、各測定装置の同期検波用周
波数を個々に設定しなくても、他との干渉は生じない。
【0010】第2の観点では、本発明は、同期検波用信
号出力手段と同期検波手段とを備えた測定装置を複数設
置した測定システムにおいて、前記各測定装置の同期検
波用信号出力手段は、それぞれ同期検波用周波数をラン
ダムに変動させることを特徴とする測定システムを提供
する。上記第2の観点による測定システムでは、複数の
測定装置間の干渉を防止するために各測定装置毎に異な
る同期検波用周波数を用いる測定システムにおいて、各
測定装置の同期検波用周波数をランダムに変動させる
が、各測定装置は自己の同期検波用周波数を用いて同期
検波を行うから、自己の同期検波用周波数成分は正しく
抽出できる。一方、異なる測定装置の同期検波用周波数
が一致することは事実上ありえないから、各測定装置の
同期検波用周波数を個々に設定しなくても、他との干渉
は生じない。
号出力手段と同期検波手段とを備えた測定装置を複数設
置した測定システムにおいて、前記各測定装置の同期検
波用信号出力手段は、それぞれ同期検波用周波数をラン
ダムに変動させることを特徴とする測定システムを提供
する。上記第2の観点による測定システムでは、複数の
測定装置間の干渉を防止するために各測定装置毎に異な
る同期検波用周波数を用いる測定システムにおいて、各
測定装置の同期検波用周波数をランダムに変動させる
が、各測定装置は自己の同期検波用周波数を用いて同期
検波を行うから、自己の同期検波用周波数成分は正しく
抽出できる。一方、異なる測定装置の同期検波用周波数
が一致することは事実上ありえないから、各測定装置の
同期検波用周波数を個々に設定しなくても、他との干渉
は生じない。
【0011】第3の観点では、本発明は、赤外線,可視
光,電波,超音波のいずれか又はこれらの組み合わせを
用いたセンシングビームを監視領域に出射するセンシン
グビーム出射手段と、前記センシングビームの出射強度
を同期検波用周波数で変化させるために前記センシング
ビーム出射手段に同期検波用信号を与える同期検波用信
号出力手段と、前記監視領域を経由したセンシングビー
ムを検知し検知信号を出力する検知手段と、前記検知信
号を前記同期検波用信号で同期検波して測定信号を出力
する同期検波手段と、前記測定信号の変化から監視領域
内の物体を検出する物体検出手段とを備えた測定装置に
おいて、前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周
波数をランダムに変動させることを特徴とする測定装置
を提供する。上記第3の観点による測定装置では、セン
シングビームの同期検波用周波数をランダムに変動させ
るが、同期検波は自己の同期検波用周波数を用いて行う
から、自己の同期検波用周波数成分は正しく抽出でき
る。一方、他の測定装置の同期検波用周波数やノイズの
周波数と一致することは事実上ありえないから(瞬時で
あり、無視できる)、同期検波用周波数を特に設定しな
くても、他との干渉は生じない。
光,電波,超音波のいずれか又はこれらの組み合わせを
用いたセンシングビームを監視領域に出射するセンシン
グビーム出射手段と、前記センシングビームの出射強度
を同期検波用周波数で変化させるために前記センシング
ビーム出射手段に同期検波用信号を与える同期検波用信
号出力手段と、前記監視領域を経由したセンシングビー
ムを検知し検知信号を出力する検知手段と、前記検知信
号を前記同期検波用信号で同期検波して測定信号を出力
する同期検波手段と、前記測定信号の変化から監視領域
内の物体を検出する物体検出手段とを備えた測定装置に
おいて、前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周
波数をランダムに変動させることを特徴とする測定装置
を提供する。上記第3の観点による測定装置では、セン
シングビームの同期検波用周波数をランダムに変動させ
るが、同期検波は自己の同期検波用周波数を用いて行う
から、自己の同期検波用周波数成分は正しく抽出でき
る。一方、他の測定装置の同期検波用周波数やノイズの
周波数と一致することは事実上ありえないから(瞬時で
あり、無視できる)、同期検波用周波数を特に設定しな
くても、他との干渉は生じない。
【0012】第4の観点では、本発明は、同期検波用信
号出力手段と同期検波手段とを備えた測定装置におい
て、前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周波数
をランダムに変動させることを特徴とする測定装置を提
供する。上記第4の観点による測定装置では、同期検波
用周波数をランダムに変動させるが、同期検波は自己の
同期検波用周波数を用いて行うから、自己の同期検波用
周波数成分は正しく抽出できる。一方、他の測定装置の
同期検波用周波数やノイズの周波数と一致することは事
実上ありえないから(瞬時であり、無視できる)、同期
検波用周波数を特に設定しなくても、他との干渉は生じ
ない。
号出力手段と同期検波手段とを備えた測定装置におい
て、前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周波数
をランダムに変動させることを特徴とする測定装置を提
供する。上記第4の観点による測定装置では、同期検波
用周波数をランダムに変動させるが、同期検波は自己の
同期検波用周波数を用いて行うから、自己の同期検波用
周波数成分は正しく抽出できる。一方、他の測定装置の
同期検波用周波数やノイズの周波数と一致することは事
実上ありえないから(瞬時であり、無視できる)、同期
検波用周波数を特に設定しなくても、他との干渉は生じ
ない。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施の形態により
本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発
明が限定されるものではない。
本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発
明が限定されるものではない。
【0014】図1は、本発明の監視システムの一例を示
す構成図である。この監視システム100は、監視領域
Eの周囲に、第1光電測定装置10と第2光電測定装置
20と第3光電測定装置30とを配設して構成されてい
る。
す構成図である。この監視システム100は、監視領域
Eの周囲に、第1光電測定装置10と第2光電測定装置
20と第3光電測定装置30とを配設して構成されてい
る。
【0015】前記第1光電測定装置10は、赤外線を用
いた光ビームb1を監視領域Eに出射するLED駆動回
路12,発光ダイオード13およびレンズ14と、ラン
ダムに変動する同期検波用周波数fr1で前記光ビームb
1の出射をオン/オフさせるランダム周波数発振回路1
1と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで反射した
光ビームb1を検知し検知信号d1を出力するレンズ1
5およびフォトダイオード16と、前記検知信号d1を
前記同期検波用周波数fr1で同期検波して同期検波用周
波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路17
と、前記測定信号の大きさが閾値R1を越えたときに物
体検出信号S1を出力する比較回路18とを備えてい
る。
いた光ビームb1を監視領域Eに出射するLED駆動回
路12,発光ダイオード13およびレンズ14と、ラン
ダムに変動する同期検波用周波数fr1で前記光ビームb
1の出射をオン/オフさせるランダム周波数発振回路1
1と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで反射した
光ビームb1を検知し検知信号d1を出力するレンズ1
5およびフォトダイオード16と、前記検知信号d1を
前記同期検波用周波数fr1で同期検波して同期検波用周
波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波回路17
と、前記測定信号の大きさが閾値R1を越えたときに物
体検出信号S1を出力する比較回路18とを備えてい
る。
【0016】同様に、前記第2光電測定装置20は、赤
外線を用いた光ビームb2を監視領域Eに出射するLE
D駆動回路22,発光ダイオード23およびレンズ24
と、ランダムに変動する同期検波用周波数fr2で前記光
ビームb2の出射をオン/オフさせるランダム周波数発
振回路21と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで
反射した光ビームb2を検知し検知信号d2を出力する
レンズ25およびフォトダイオード26と、前記検知信
号d2を前記同期検波用周波数fr2で同期検波して同期
検波用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波
回路27と、前記測定信号の大きさが閾値R2を越えた
ときに物体検出信号S2を出力する比較回路28とを備
えている。
外線を用いた光ビームb2を監視領域Eに出射するLE
D駆動回路22,発光ダイオード23およびレンズ24
と、ランダムに変動する同期検波用周波数fr2で前記光
ビームb2の出射をオン/オフさせるランダム周波数発
振回路21と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで
反射した光ビームb2を検知し検知信号d2を出力する
レンズ25およびフォトダイオード26と、前記検知信
号d2を前記同期検波用周波数fr2で同期検波して同期
検波用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波
回路27と、前記測定信号の大きさが閾値R2を越えた
ときに物体検出信号S2を出力する比較回路28とを備
えている。
【0017】同様に、前記第3光電測定装置30は、赤
外線を用いた光ビームb3を監視領域Eに出射するLE
D駆動回路32,発光ダイオード33およびレンズ34
と、前記光ビームb3の出射をランダムに変動する同期
検波用周波数fr3でオン/オフさせるランダム周波数発
振回路31と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで
反射した光ビームb3を検知し検知信号d3を出力する
レンズ35およびフォトダイオード36と、前記検知信
号d3を前記同期検波用周波数fr3で同期検波して同期
検波用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波
回路37と、前記測定信号の大きさが閾値R3を越えた
ときに物体検出信号S3を出力する比較回路38とを備
えている。
外線を用いた光ビームb3を監視領域Eに出射するLE
D駆動回路32,発光ダイオード33およびレンズ34
と、前記光ビームb3の出射をランダムに変動する同期
検波用周波数fr3でオン/オフさせるランダム周波数発
振回路31と、前記監視領域Eの壁面Wまたは物体Pで
反射した光ビームb3を検知し検知信号d3を出力する
レンズ35およびフォトダイオード36と、前記検知信
号d3を前記同期検波用周波数fr3で同期検波して同期
検波用周波数成分を抽出し測定信号を出力する同期検波
回路37と、前記測定信号の大きさが閾値R3を越えた
ときに物体検出信号S3を出力する比較回路38とを備
えている。
【0018】図2の(a),(b),(c)は、前記ラ
ンダム周波数発振回路11,21,31の「M系列」方
式の一例を示す構成図である。これらのランダム周波数
発振回路11,21,31は、線形フィードバックシフ
トレジスタを用いて周波数がランダムに変動する矩形波
信号を出力するものである。矩形波信号の周波数すなわ
ち同期検波用周波数fr1,fr2,fr3は、線形フィード
バックシフトレジスタの段数と,加算器の数と配置と,
クロック周波数とにより決まり、例えば1kHz〜10
00kHz位の範囲で変動させるようにする。なお、ラ
ンダム周波数発振回路11,21,31は、上記「M系
列」方式に限定されず、「物理乱数と平滑化」方式や
「FRS型疑似乱数発生」方式などを用いてもよい。
ンダム周波数発振回路11,21,31の「M系列」方
式の一例を示す構成図である。これらのランダム周波数
発振回路11,21,31は、線形フィードバックシフ
トレジスタを用いて周波数がランダムに変動する矩形波
信号を出力するものである。矩形波信号の周波数すなわ
ち同期検波用周波数fr1,fr2,fr3は、線形フィード
バックシフトレジスタの段数と,加算器の数と配置と,
クロック周波数とにより決まり、例えば1kHz〜10
00kHz位の範囲で変動させるようにする。なお、ラ
ンダム周波数発振回路11,21,31は、上記「M系
列」方式に限定されず、「物理乱数と平滑化」方式や
「FRS型疑似乱数発生」方式などを用いてもよい。
【0019】次に、動作を説明するが、説明の簡単化の
ため、第1光電測定装置10と第2光電測定装置20に
のみ着目して説明する。図3に示すように、第1光電測
定装置10の光ビームb1は、ランダムに変動する同期
検波用周波数fr1でオン/オフされている。また、第2
光電測定装置20の光ビームb2も、ランダムに変動す
る同期検波用周波数fr2でオン/オフされている。図1
に示すように、第1光電測定装置10のレンズ15に
は、第1光電測定装置10の光ビームb1だけでなく、
第2光電測定装置20の光ビームb2も入射する。また
逆に、第2光電測定装置20のレンズ25には、第2光
電測定装置20の光ビームb2だけでなく、第1光電測
定装置10の光ビームb1も入射する。このため、図3
に示すように、第1光電測定装置10の検知信号d1
は、同期検波用周波数fr1成分と同期検波用周波数fr2
成分とを含む。同様に、第2光電測定装置20の検知信
号d2も、同期検波用周波数fr2成分と同期検波用周波
数fr1成分とを含む。
ため、第1光電測定装置10と第2光電測定装置20に
のみ着目して説明する。図3に示すように、第1光電測
定装置10の光ビームb1は、ランダムに変動する同期
検波用周波数fr1でオン/オフされている。また、第2
光電測定装置20の光ビームb2も、ランダムに変動す
る同期検波用周波数fr2でオン/オフされている。図1
に示すように、第1光電測定装置10のレンズ15に
は、第1光電測定装置10の光ビームb1だけでなく、
第2光電測定装置20の光ビームb2も入射する。また
逆に、第2光電測定装置20のレンズ25には、第2光
電測定装置20の光ビームb2だけでなく、第1光電測
定装置10の光ビームb1も入射する。このため、図3
に示すように、第1光電測定装置10の検知信号d1
は、同期検波用周波数fr1成分と同期検波用周波数fr2
成分とを含む。同様に、第2光電測定装置20の検知信
号d2も、同期検波用周波数fr2成分と同期検波用周波
数fr1成分とを含む。
【0020】しかしながら、第1光電測定装置10の検
知信号d1が同期検波回路17で同期検波用周波数fr1
で同期検波されると、同期検波用周波数fr1の成分のみ
が抽出されるから、図3に示すように、第1光電測定装
置10の検出信号S1は、自己の光ビームb1のみに基
づく検出結果となる。同様に、第2光電測定装置20の
検知信号d2が同期検波回路27で同期検波用周波数f
r2で同期検波されると、同期検波用周波数fr2の成分の
みが抽出されるから、図3に示すように、第2光電測定
装置20の検出信号S2は、自己の光ビームb2のみに
基づく検出結果となる。
知信号d1が同期検波回路17で同期検波用周波数fr1
で同期検波されると、同期検波用周波数fr1の成分のみ
が抽出されるから、図3に示すように、第1光電測定装
置10の検出信号S1は、自己の光ビームb1のみに基
づく検出結果となる。同様に、第2光電測定装置20の
検知信号d2が同期検波回路27で同期検波用周波数f
r2で同期検波されると、同期検波用周波数fr2の成分の
みが抽出されるから、図3に示すように、第2光電測定
装置20の検出信号S2は、自己の光ビームb2のみに
基づく検出結果となる。
【0021】以上の監視システム100および光電測定
装置11,21,31によれば、各光電測定装置11,
21,31は自己の同期検波用周波数fr1,fr2,fr3
を用いて同期検波を行うから、自己の同期検波用周波数
成分は正しく抽出できる。一方、各光電測定装置11,
21,31の同期検波用周波数fr1,fr2,fr3が一致
することは事実上あり得ないから、各光電測定装置1
1,21,31の同期検波用周波数を個々に設定しなく
ても、他との干渉は生じなくなる。
装置11,21,31によれば、各光電測定装置11,
21,31は自己の同期検波用周波数fr1,fr2,fr3
を用いて同期検波を行うから、自己の同期検波用周波数
成分は正しく抽出できる。一方、各光電測定装置11,
21,31の同期検波用周波数fr1,fr2,fr3が一致
することは事実上あり得ないから、各光電測定装置1
1,21,31の同期検波用周波数を個々に設定しなく
ても、他との干渉は生じなくなる。
【0022】なお、上記では、監視システム100およ
び光電測定装置11,21,31を例にとって説明した
が、これに限定されず、一般の物理量の測定システムに
も本発明を同様に適用できる。また、光ではなく、電波
ビームや超音波ビームを用いた測定装置にも本発明を同
様に適用できる。さらに、センシングビームを用いない
受動型の測定装置にも本発明を同様に適用できる。
び光電測定装置11,21,31を例にとって説明した
が、これに限定されず、一般の物理量の測定システムに
も本発明を同様に適用できる。また、光ではなく、電波
ビームや超音波ビームを用いた測定装置にも本発明を同
様に適用できる。さらに、センシングビームを用いない
受動型の測定装置にも本発明を同様に適用できる。
【0023】
【発明の効果】本発明の監視システムおよび測定システ
ムによれば、各測定装置の同期検波用周波数を個々に設
定しなくても他と干渉を起こさないように出来る。ま
た、本発明の測定装置によれば、他の測定装置の同期検
波用周波数やノイズの周波数を考慮しなくても他の測定
装置やノイズと干渉を起こさないように出来る。
ムによれば、各測定装置の同期検波用周波数を個々に設
定しなくても他と干渉を起こさないように出来る。ま
た、本発明の測定装置によれば、他の測定装置の同期検
波用周波数やノイズの周波数を考慮しなくても他の測定
装置やノイズと干渉を起こさないように出来る。
【図1】本発明の一実施形態の監視システムを示す構成
図である。
図である。
【図2】ランダム周波数発振回路の一例を示す構成図で
ある。
ある。
【図3】図1の監視システムにおける各部の波形を示す
説明図である。
説明図である。
【図4】従来の監視システムの一例を示す構成図であ
る。
る。
【図5】図4の監視システムにおける各部の波形を示す
説明図である。
説明図である。
10,20,30 光電測定装置 11,21,31 ランダム周波数発振回路 12,22,32 LED駆動回路 13,23,33 発光ダイオード 14,15,24,25,34,35 レンズ 16,26,36 フォトダイオード 17,27,37 同期検波回路 18,,28,38 比較回路 100 監視システム E 監視領域 P 物体 W 壁面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G01V 8/12 G08B 21/00 Z G08B 19/00 G01J 1/42 N 21/00 G08B 13/181 G01J 1/42 G01V 9/04 R G08B 13/181 K Q
Claims (4)
- 【請求項1】 赤外線,可視光,電波,超音波のいずれ
か又はこれらの組み合わせを用いたセンシングビームを
監視領域に出射するセンシングビーム出射手段と、前記
センシングビームの出射強度を同期検波用周波数で変化
させるために前記センシングビーム出射手段に同期検波
用信号を与える同期検波用信号出力手段と、前記監視領
域を経由したセンシングビームを検知し検知信号を出力
する検知手段と、前記検知信号を前記同期検波用信号で
同期検波して測定信号を出力する同期検波手段と、前記
測定信号の変化から監視領域内の物体を検出する物体検
出手段とを備えた測定装置を、複数設置した監視システ
ムにおいて、 前記各測定装置の同期検波用信号出力手段は、それぞれ
同期検波用周波数をランダムに変動させることを特徴と
する監視システム。 - 【請求項2】 同期検波用信号出力手段と同期検波手段
とを備えた測定装置を複数設置した測定システムにおい
て、 前記各測定装置の同期検波用信号出力手段は、それぞれ
同期検波用周波数をランダムに変動させることを特徴と
する測定システム。 - 【請求項3】 赤外線,可視光,電波,超音波のいずれ
か又はこれらの組み合わせを用いたセンシングビームを
監視領域に出射するセンシングビーム出射手段と、前記
センシングビームの出射強度を同期検波用周波数で変化
させるために前記センシングビーム出射手段に同期検波
用信号を与える同期検波用信号出力手段と、前記監視領
域を経由したセンシングビームを検知し検知信号を出力
する検知手段と、前記検知信号を前記同期検波用信号で
同期検波して測定信号を出力する同期検波手段と、前記
測定信号の変化から監視領域内の物体を検出する物体検
出手段とを備えた測定装置において、 前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周波数をラ
ンダムに変動させることを特徴とする測定装置。 - 【請求項4】 同期検波用信号出力手段と同期検波手段
とを備えた測定装置において、 前記同期検波用信号出力手段は、同期検波用周波数をラ
ンダムに変動させることを特徴とする測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9009806A JPH10209838A (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 監視システム、測定システムおよび測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9009806A JPH10209838A (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 監視システム、測定システムおよび測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10209838A true JPH10209838A (ja) | 1998-08-07 |
Family
ID=11730436
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9009806A Pending JPH10209838A (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 監視システム、測定システムおよび測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10209838A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002148353A (ja) * | 2000-11-13 | 2002-05-22 | Sharp Corp | 光検出装置 |
JP2002232284A (ja) * | 2001-02-02 | 2002-08-16 | Sunx Ltd | 透過型光電スイッチ |
GB2426578A (en) * | 2005-05-27 | 2006-11-29 | Thorn Security | A flame detector having a pulsing optical test source that simulates the frequency of a flame |
JP2008216075A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Yokogawa Electric Corp | 赤外線タッチスイッチ |
WO2020022185A1 (ja) * | 2018-07-25 | 2020-01-30 | 株式会社小糸製作所 | センサシステム |
-
1997
- 1997-01-22 JP JP9009806A patent/JPH10209838A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002148353A (ja) * | 2000-11-13 | 2002-05-22 | Sharp Corp | 光検出装置 |
JP2002232284A (ja) * | 2001-02-02 | 2002-08-16 | Sunx Ltd | 透過型光電スイッチ |
JP4550298B2 (ja) * | 2001-02-02 | 2010-09-22 | サンクス株式会社 | 透過型光電スイッチ |
GB2426578A (en) * | 2005-05-27 | 2006-11-29 | Thorn Security | A flame detector having a pulsing optical test source that simulates the frequency of a flame |
JP2008216075A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Yokogawa Electric Corp | 赤外線タッチスイッチ |
WO2020022185A1 (ja) * | 2018-07-25 | 2020-01-30 | 株式会社小糸製作所 | センサシステム |
JPWO2020022185A1 (ja) * | 2018-07-25 | 2021-08-05 | 株式会社小糸製作所 | センサシステム |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040107 |