JPH10209035A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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JPH10209035A
JPH10209035A JP9024332A JP2433297A JPH10209035A JP H10209035 A JPH10209035 A JP H10209035A JP 9024332 A JP9024332 A JP 9024332A JP 2433297 A JP2433297 A JP 2433297A JP H10209035 A JPH10209035 A JP H10209035A
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support
reticle
substrate
vertex
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Naoyuki Kobayashi
直行 小林
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Nikon Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、半導体装置あるいは液晶表示装置な
どの製造に用いる露光装置に関し、露光時における装置
の動的安定性に優れた露光装置を提供することを目的と
する。 【解決手段】設置面に対して3個所の装置支持脚3a〜
3cで支持する支持機構と、支持機構上に配設され、パ
ターンが形成されたレチクルを照明する照明光学系IL
Sとを有し、パターンの像を基板に露光する露光装置に
おいて、照明光学系ILSは、設置面の垂直方向からみ
て、3個所の装置支持脚3a〜3cを頂点とする三角形
の一頂点から、当該一頂点の対辺の中点に引いた直線に
対してほぼ線対称になるように配設されるように構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置あるい
は液晶表示装置などの製造に用いる露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置あるいは液晶表示装置の製造
工程におけるフォトリソグラフィ工程では、半導体層や
金属配線層に微細な回路パターンを形成させるために投
影露光装置が用いられる。この投影露光装置は、回路パ
ターンの描画されたレチクルやフォトマスク(以下、レ
チクルと総称する)をレチクルステージ上に載置し、レ
ジストを塗布した半導体ウェハやガラス基板(以下、ウ
ェハという)を載置したウェハステージがレチクルに対
して相対的にX−Y方向の2次元的に移動して、ウェハ
の所定領域にレチクルの回路パターンを投影露光するも
のである。
【0003】そしてこの露光装置には大別して、レチク
ル上のパターンの像を投影光学系を介して縮小投影し、
パターン像をウェハ上の各ショット領域に順次露光する
ステップ・アンド・リピート方式の投影露光装置と、レ
チクルのパターンの一部を投影光学系を介してウェハ上
に投影し、レチクルとウェハとを同期させて走査するこ
とによりレチクルのパターンをウェハに逐次露光する、
いわゆるステップ・アンド・スキャン方式の走査型投影
露光装置とがある。
【0004】これらの従来の投影露光装置のうち、ステ
ップ・アンド・スキャン方式の走査型投影露光装置の概
略の構造を図5及び図6を用いて説明する。図5は、従
来の投影露光装置をその上方から当該装置の設置面に向
かって見た上面図である。図6は、同投影露光装置を装
置正面から見た正面図である。ここで、装置正面とは、
クリーンルーム内に投影露光装置を設置した際、投影露
光装置に隣接して設置される基板搬送装置(以下、ウェ
ハローダという)に複数枚のウェハをまとめて供給する
搬送ロボット等が移動する通路に面した側の面をいうも
のとする。
【0005】図5、図6に示すように従来の投影露光装
置では、設置面に対して4個所の装置支持脚10a、1
0b、10c、10d で装置支持部10を支持してい
る。装置支持部10は後述する照明光学系ILS、投影
光学系PL、レチクルステージRST、ウェハステージ
WSTを主な装置構成要素とする装置全体を支持してい
る。装置支持部10の枠体(以下、フレームという)
は、上面から見て長方形形状をしており、その4角の各
角部に装置支持脚10a〜10dが設けられている。
【0006】ここで図5及び図6における座標系は、装
置支持部10のフレームの長方形形状の長辺の方向をX
軸とし、それと水平な直角方向にY軸をとり、垂直方向
をZ軸としている。従ってこの例では、装置正面はY軸
を正方向に向かって見た面であり、搬送ロボット等の移
動に用いられる通路はX方向に設けられている。従っ
て、装置支持脚10a、10d、及び装置支持脚10
b、10cでそれぞれ形成される長方形の短辺はY軸に
平行であり、装置支持脚10a、10b、及び装置支持
脚10c、10dでそれぞれ形成される長方形の長辺は
X軸に平行となる。
【0007】装置支持部10上には、4個の照明光学系
用支持脚(以下、ILS用支持脚という)12a、12
b、12c、12dが固定されている。ILS用支持脚
12a〜12dは装置支持部10の固定端で長方形形状
の4角を構成し、ILS用支持脚12a〜12dのそれ
ぞれがZ軸方向に延びて照明光学系支持部(以下、IL
S支持部という)12を支持している。ILS支持部1
2のフレームは、各ILS用支持脚12a〜12dを各
角部とする長方形形状をしている。このILS支持部1
2で照明光学系ILSが支持されている。ILS用支持
脚12a、12d、及びILS用支持脚12b、12c
でそれぞれ形成される長方形の短辺はY軸に平行であ
り、ILS用支持脚12a、12b、及びILS用支持
脚12c、12dでそれぞれ形成される長方形の長辺は
X軸に平行である。照明光学系ILSは、装置全体から
みて設置面から最も高い位置に配置されている。照明光
学系ILSの照明光源及び所望の照明光を得るための光
学系(共に図示を省略)はY軸方向に延びて配置されて
いる。
【0008】また装置支持部10上であって、ILS用
支持脚12a〜12dを4角として構成される長方形の
内側に、同じく4個のレチクルステージ用支持脚(以
下、RST用支持脚という)14a、14b、14c、
14dが固定されている。RST用支持脚14a〜14
dは装置支持部10の固定端で長方形形状の4角を構成
し、RST用支持脚14a〜14dのそれぞれがZ軸方
向に延びてレチクルステージ支持部(以下、RST支持
部という)14を支持している。
【0009】RST支持部14のフレームは、各RST
用支持脚14a〜14dを各角部とする長方形形状をし
ている。従って、RST用支持脚14a、14d、及び
RST用支持脚14b、14cでそれぞれ形成される長
方形の短辺はY軸に平行であり、RST用支持脚14
a、14b、及びRST用支持脚14c、14dでそれ
ぞれ形成される長方形の長辺はX軸に平行となる。この
RST支持部14でレチクルステージRSTが支持され
ている。レチクルステージRSTは、図示しないレチク
ルを載置してX−Y面内を移動可能に設けられており、
ステップ・アンド・スキャン方式での露光の際、Y方向
にスキャンするようになっている。レチクル上には所定
の回路パターンが描画されている。
【0010】レチクルステージRST下方には、装置支
持部10で支持され、Z軸方向に光軸を有する投影光学
系PLが設けられている。照明光学系ILSからの照明
光はレチクルステージRST上のレチクルに描画された
回路パターンを照明し、レチクルを通過した照明光は投
影光学系PLにより集光されて投影光学系PLの結像面
でレチクルの回路パターンの像を結ぶ。
【0011】投影光学系PLの結像面にウェハの表面が
一致するようにウェハを載置してX−Y面内を移動可能
なウェハステージWSTが、ウェハステージ支持部(以
下、WST支持部という)8により支持されている。W
ST支持部8は装置支持部10の下方に設けられ、装置
支持脚10a〜10dにより支持されている。ウェハス
テージWSTはステップ・アンド・スキャン方式での露
光の際、レチクルステージRSTと同期してY方向にス
キャンする。
【0012】装置正面には、複数のウェハが収納された
ウェハライブラリからウェハを順に搬出してウェハステ
ージWST上の所定のウェハホルダ(図示せず)まで搬
送するウェハローダWLが隣接して配置されている。ま
た、ウェハローダWLを含んで投影露光装置の全体は、
恒温状態を維持する直方体のチャンバ20内に格納され
ている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように従
来の露光装置は、装置支持部10、RST支持部14、
ILS支持部12等が何れも4本の支持脚による4点支
持により被支持体を支持している。そして、できるだけ
投影光学系PLを装置の中心(重心)位置に近づけて配
置すると共に、レチクル及びウェハをそれぞれX−Y面
内、特にY軸方向に同期して移動させるレチクルステー
ジRST及びウェハステージWSTの駆動軸は、それぞ
れ装置全体の左右方向、あるいは前後方向、すなわち図
5及び図6での座標系におけるX軸方向、Y軸方向に平
行になるように構成されている。また、照明光学系IL
S及びその他の補機類は装置の前後方向、すなわちY軸
方向に対し長辺が平行ないしは垂直になるように配置し
ている。このような配置構成を採用することにより、露
光時のステージ移動に伴う装置全体のかしぎや振動等に
対する動的安定性を高め、高精度の露光を行うようにし
ている。
【0014】しかしながら、このような配置構成を採用
しても、上述のような4点支持で被支持体を支持する場
合には、装置の設置面の平面性が良好でないと安定して
支持することができない事態が生じ得る。4点支持にお
ける4点では1つの平面が定まらないことがあるからで
ある。従って、設置面の平面性の不良に基づく装置全体
の動的及び静的不安定性を改善するためには、露光装置
の設置の際に各支持脚の長さを最適に調整するという面
倒な作業を行って装置を基準面に合わせ込むようにする
必要があった。
【0015】また、この種の露光装置は1つのクリーン
ルーム内に多数台設置されて稼働するため、装置1台当
たりの設置床面積が小さい方がコスト面でも有利であ
る。しかし従来の露光装置の場合、装置本体及びウェハ
ローダを格納するチャンバは、メンテナンス時の作業者
の作業エリア等を考慮して、装置より多少広めにせざる
を得ず、設置面積を減少させることは困難であった。
【0016】本発明の目的は、露光時における装置の動
的安定性に優れた露光装置を提供することにある。ま
た、本発明の目的は、装置の設置面の平面性がある程度
不良であっても容易に設置調整ができる露光装置を提供
することにある。またさらに、本発明の目的は、装置1
台当たりの設置床面積を減少させた露光装置を提供する
ことにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】一実施例を表す図1と図
2とに対応付けて説明すると上記目的は、設置面に対し
て3個所の支持脚(3a、3b、3c)で支持する支持
機構(3)と、支持機構(3)上に配設され、パターン
が形成されたレチクルを照明する照明光学系(ILS)
とを有し、パターンの像を基板に露光する露光装置にお
いて、照明光学系(ILS)は、設置面の垂直方向から
みて、3個所の支持脚を頂点とする三角形の一頂点か
ら、当該一頂点の対辺の中点に引いた直線に対してほぼ
線対称になるように配設されていることを特徴とする露
光装置によって達成される。
【0018】また、上記目的は、パターンが形成された
レチクルを載置して移動するレチクルステージ(RS)
と、パターンの像が露光される基板を載置して移動する
基板ステージ(WST)と、レチクルステージと基板ス
テージとを同期して所定の走査方向に走査する走査装置
(1)と、設置面に対して3個所の支持脚でレチクルス
テージと基板ステージとを支持する支持機構(3)とを
備えた露光装置において、走査方向は、設置面の垂直方
向からみて、3個所の支持脚(3a、3b、3c)を頂
点とする三角形の一頂点から、当該一頂点の対辺の中点
に引いた直線にほぼ平行であることを特徴とする露光装
置によって達成される。
【0019】さらに、上記目的は、レチクルのパターン
の像が露光される基板を載置して、所定の一方向を含む
2次元平面を移動する基板ステージ(WST)と、設置
面に対して3個所の支持脚(3a、3b、3c)で基板
ステージを支持する支持機構(3)とを備えた露光装置
において、所定の一方向は、設置面の垂直方向からみ
て、3個所の支持脚を頂点とする三角形の一頂点から、
当該一頂点の対辺の中点に引いた直線にほぼ平行である
ことを特徴とする露光装置によって達成される。
【0020】また、上記の露光装置において、基板ステ
ージ上へ基板を搬入/搬出する基板搬送装置(WL)
が、設置面の垂直方向からみて、3個所の支持脚を頂点
とする三角形の一辺に沿って配置されているようにして
もよい。また、前記設置面上に当該露光装置を格納する
チャンバ(20)が設けられ、当該チャンバの一壁面
は、基板搬送装置が配置された三角形の一辺にほぼ平行
であるようにしてもよい。
【0021】本発明によれば、従来の4点支持の露光装
置の設置の際に生じていた各支持脚の長さの調整作業に
比較して、装置全体を3点で支持するようにしたので容
易に基準面に装置を合わせ込むことができるようにな
る。
【0022】装置の安定性を高めるために装置全体の支
持点をキネマティックマウントに代表されるような3点
支持構成にしようとする場合、装置全体のバランスを考
えると重い照明系(ILS)は複数の支持点で分散させ
るのが望ましい。
【0023】特にステップ・アンド・スキャン投影露光
装置では装置に動的な安定性が要求されるためスキャン
方向に対称に装置を構成するのが望ましい。このスキャ
ン方向に対称に装置を構成するという条件を満たそうと
して、単純に従来の4個の支持脚による装置構成と同様
にして3個の支持脚で支持させる構成をとると、以下の
ような問題が生じる。
【0024】すなわち装置正面に3点支持の1点を構成
する支持脚を位置させて装置正面側にウェハローダを配
置し、残りの2個の支持脚は、当該残りの2個の支持脚
で規定される辺が搬送ロボット等の移動する通路に平行
になるように配置したとすれば、3本の支持脚のうち1
本の支持脚が正面に来てしまっているので、装置正面側
にウェハローダを配置してもX−Yステージへのウェハ
の搬送は迂回させる必要が生じてしまう。つまり、装置
正面にウェハローダやレチクルローダを配置して、通路
を移動してくる搬送ロボットとの間で短時間でウェハの
受け渡しを行わせることができても、逆にこれらローダ
と露光装置のウェハステージあるいはレチクルステージ
との間でウェハやレチクルを搬送する際には支持脚の存
在が邪魔になって、最短距離でウェハやレチクルを搬送
させることができなくなってしまう。
【0025】結局、ローダとステージとの間でのウェハ
の交換に要する時間が長くなってしまうとともに、装置
内に無駄な空間が生じて装置外形が大きくなってしま
い、結果としてチャンバが大きくなってしまうという問
題が生じることになる。そこで本発明では、例として図
1、図2に示すように装置の側面にローダを密着させる
ことでこの問題を避けるようにしている。さらに、図1
に示す構成では露光装置に付随すべきウェハコータ/デ
ベロッパ(図示せず)へのインターフェースが装置の一
方向(例えば図1では右方向)に固定されてしまい、露
光装置のライン構成の柔軟性が損なわれると同時に装置
を複数台並べた場合の装置のアクセス性が損なわれると
いう問題が生じ得るので、例として図3及び図4に示す
ように、ローダが正面になるように装置全体を所定角度
回転させるようにしている。
【0026】このような本発明の構成を採用することに
より、ローダからステージ系への距離を小さく保ち、装
置内空間の有効利用が可能となることで処理性能の向上
並びに装置占有床面積の縮小が可能になる。また、従来
は装置の後方へ飛び出していた照明系を斜めにすること
ができ装置の全長が短縮されるという作用を有する。ま
た、従来と同じようにローダ部が装置正面に設置できる
ため装置設置の柔軟性を確保できるとともに、装置の対
称性を維持することが可能になり、良好な動的安定性を
確保できるようになる。
【0027】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施の形態による
露光装置を図1及び図2を用いて説明する。図1は、本
実施の形態による露光装置を上面から見た構成を示して
いる。図2は、本実施の形態による露光装置を正面から
見た構成を示している。本実施の形態においても、装置
正面は、クリーンルーム内に投影露光装置を設置した
際、投影露光装置に隣接して設置されるウェハローダに
対して複数枚のウェハをまとめて供給する搬送ロボット
等が移動する通路に面した側の面をいうものとする。ま
た、本実施の形態における露光装置は、レチクルのパタ
ーンの一部を投影光学系を介してウェハ上に投影し、レ
チクルとウェハとを同期させて走査することによりレチ
クルのパターンをウェハに逐次露光する、いわゆるステ
ップ・アンド・スキャン方式の走査型投影露光装置であ
る。
【0028】図1及び図2に示すように本実施の形態に
よる投影露光装置では、設置面に対して3個所の装置支
持脚3a、3b、3cで装置支持部3を支持している。
装置支持部3は後述する照明光学系ILS、投影光学系
PL、レチクルステージRST、ウェハステージWST
を主な装置構成要素とする装置全体を支持している。ま
た、制御装置1は、投影露光装置全体を制御しており、
特に、レチクルステージRSとウェハステージWSTと
を同期して互いに逆方向(プラスY方向とマイナスY方
向)に移動するように制御している。装置支持部3のフ
レームは、上面から見て全体形状として二等辺三角形形
状をしており、その3角の各角部に装置支持脚3a〜3
cが設けられている。
【0029】各角部に設けられた装置支持脚3a〜3c
の水平断面形状はほぼ正方形形状をしており、それぞれ
の装置支持脚3a〜3cの一辺に沿って装置支持部3の
フレーム端部が曲げられているので、図1に示すように
厳密には装置支持部3のフレームの平面形状は六角形と
なるが、説明を簡略にして理解を容易にするため装置支
持部3のフレームの平面形状は二等辺三角形であるとし
て以降の説明を進めるものとする。この二等辺三角形の
底辺は、図1に示すように装置支持脚3a、3cで規定
され、底辺に対向する頂角は装置支持脚3bで与えら
れ、装置支持脚3a、3bで規定される辺と装置支持脚
3c、3bで規定される辺の長さは相等しくなるように
構成されている。
【0030】ここで図1及び図2における座標系は、装
置支持部3の二等辺三角形形状のフレームの一辺と平行
にX軸をとり、それと水平な直角方向にY軸をとり、垂
直方向をZ軸としている。本実施の形態では、装置正面
は、装置支持脚3bからY軸を正方向に向かって見た面
であり、搬送ロボット等の移動に用いられる通路は装置
支持脚3bからY軸を負方向にみた側のX軸に沿って設
けられている。従って、本実施の形態による露光装置
は、装置支持脚3a、3cで形成される二等辺三角形の
底辺がX軸に平行になるように設置されている。
【0031】装置支持部3上には、各装置支持脚3a〜
3cの軸上又はそれより内側に3個のILS用支持脚4
a、4b、4cが固定されている。ILS用支持脚4a
〜4cは装置支持部3での固定端で二等辺三角形の3角
を構成し、ILS用支持脚4a〜4cのそれぞれがZ軸
方向に延びてILS支持部4を支持している。ILS支
持部4のフレームは、各ILS用支持脚4a〜4cを各
角部とする二等辺三角形形状をしている。ILS支持部
4のフレームの形状は、厳密には上述の装置支持部3の
フレームと同様の理由で六角形となるが説明の都合上二
等辺三角形として説明する。このILS支持部4で照明
光学系ILSが支持されている。
【0032】ILS用支持脚4a、4cで形成される二
等辺三角形の底辺はX軸に平行であり、一頂点を構成す
るILS用支持脚4bが装置正面側にある。照明光学系
ILSは、装置全体からみて設置面から最も高い位置に
配置されている。照明光学系ILSは、Z方向(すなわ
ち、設置面の垂直方向)からみて、3個のILS用支持
脚4a〜4cを頂点とする二等辺三角形の一頂点を構成
するILS用支持脚4bから、当該一頂点の対辺である
二等辺三角形の底辺を構成するILS用支持脚4a、4
c間の中点に引いた直線に対してほぼ線対称になるよう
に配設されている。
【0033】また装置支持部3上であって、ILS用支
持脚4a〜4cを3角として構成される二等辺三角形の
内側に、同じく3個のRST用支持脚6a、6b、6c
が固定されている。RST用支持脚6a〜6cは装置支
持部3の固定端で二等辺三角形の3角を構成し、RST
用支持脚6a〜6cのそれぞれがZ軸方向に延びてRS
T支持部6を支持している。RST支持部6のフレーム
は、各RST用支持脚6a〜6cを各角部とする二等辺
三角形形状をしている。RST用支持脚6a、6cで形
成される二等辺三角形の底辺はX軸に平行である。この
RST支持部6でレチクルステージRSTが支持されて
いる。レチクルステージRSTは、図示しないレチクル
を載置してX−Y面内を移動可能に設けられており、ス
テップ・アンド・スキャン方式での露光の際、プラスY
方向に移動するようになっている。
【0034】つまり、走査方向が、設置面の垂直方向か
らみて、3個所の支持脚を頂点とする三角形の一頂点か
ら、当該一頂点の対辺の中点に引いた直線にほぼ平行と
なっている。
【0035】レチクルステージRST下方には、装置支
持部3で支持され、Z軸方向に光軸を有する投影光学系
PLが設けられている。照明光学系ILSからの照明光
はレチクルステージRST上のレチクルに描画された回
路パターンを照明し、レチクルを通過した照明光は投影
光学系PLにより集光されて投影光学系PLの結像面で
レチクルの回路パターンの像を結ぶ。
【0036】投影光学系PLの結像面にウェハの表面が
一致するようにウェハを載置してX−Y面内を移動可能
なウェハステージWSTが、WST支持部8により支持
されている。WST支持部8は装置支持部3の下方に設
けられ、装置支持脚3a〜3cにより支持されている。
ウェハステージWSTはステップ・アンド・スキャン方
式での露光の際、レチクルステージRSTと同期してマ
イナスY方向に移動する。つまり、走査方向が、設置面
の垂直方向からみて、3個所の支持脚を頂点とする三角
形の一頂点から、当該一頂点の対辺の中点に引いた直線
にほぼ平行となっている。
【0037】図中装置右側側面の二等辺の一辺を構成す
る装置支持脚3b、3cで規定される辺に隣接してウェ
ハローダWLが配置されている。つまり、ウェハステー
ジWST上へウェハを搬入/搬出するウェハローダ(基
板搬送装置)が、設置面の垂直方向からみて、3個所の
支持脚を頂点とする三角形の一辺に沿って配置されてい
る。ウェハローダWLを含んで投影露光装置の全体は、
恒温状態を維持するチャンバ20内に格納されている。
【0038】以上説明したように本実施の形態による露
光装置は装置を3点で支持するようにしたので、従来の
4点支持の露光装置の設置の際に生じていた各支持脚の
長さの調整作業に比較して、容易に基準面に装置を合わ
せ込むことができるようになる。
【0039】また、本実施の形態においては、露光装置
上に搭載されるステージ(WST及びRST)の駆動方
向は、図1及び図2に示すX及びY方向である。重量が
大きくかつ装置の上部にある照明系ILSは、スキャン
方向であるY軸に対して対称であり、かつ装置の2本の
支持脚で安定に支えられている。また、装置全体もスキ
ャン方向であるY軸に対して線対称であるためスキャン
時に生じるステージによる装置全体の加振に対する耐性
も向上する。ウェハローダWLの位置がY軸に対し線対
称でないが、ローダ部分は装置本体と切り離して設置で
きるため本体の安定性については影響を及ぼさないよう
に構成することが可能である。
【0040】このような構成を採用することにより、ロ
ーダからステージ系への距離を小さく保ち、装置内空間
の有効利用が可能となることで処理性能の向上並びに装
置占有床面積の縮小が可能になる。
【0041】次に、本発明の第2の実施の形態による露
光装置を図3及び図4を用いて説明する。図3は、本実
施の形態による露光装置の上面からみた構成を示してい
る。図4は、本実施の形態による露光装置を正面からみ
た構成を示している。
【0042】本実施の形態においても、装置正面は、ク
リーンルーム内に投影露光装置を設置した際、投影露光
装置に隣接して設置されるウェハローダWLに対して複
数枚のウェハをまとめて供給する搬送ロボット等が移動
する通路に面した側の面をいうものとする。また、本実
施の形態よる露光装置は、第1の実施の形態による投影
露光装置と同様のいわゆるステップ・アンド・スキャン
方式の走査型投影露光装置であり、且つ装置構成は第1
の実施の形態における露光装置の構成部材、要素と同一
の機能、作用を有しているので第1の実施の形態におい
て用いた符号と同一の符号を付してその説明は省略する
ものとする。
【0043】図3及び図4に示すように本実施の形態に
よる投影露光装置においても、装置支持部3の二等辺三
角形形状のフレームの一辺と平行にX軸をとり、それと
水平な直角方向にY軸をとり、垂直方向をZ軸とする座
標系を用いる。しかしながらこの座標系は、第1の実施
の形態において用いた座標系をZ軸回りに所定角度回転
させて設定した座標系である点に特徴を有している。従
って本実施の形態では、装置正面は、装置支持脚3a、
3bで規定される辺側となり、搬送ロボット等の移動に
用いられる通路は装置支持脚3a、3bで規定される辺
に並行して設けられている。
【0044】このような座標系において、照明光学系I
LSは、Z方向(すなわち、設置面の垂直方向)からみ
て、3個のILS用支持脚4a〜4cを頂点とする二等
辺三角形の一頂点を構成するILS用支持脚4bから、
当該一頂点の対辺である二等辺三角形の底辺を構成する
ILS用支持脚4a、4c間の中点に引いた直線に対し
てほぼ線対称になるように配設されている。
【0045】また、レチクルステージRSTは、図示し
ないレチクルを載置してX−Y面内を移動可能に設けら
れており、ステップ・アンド・スキャン方式での露光の
際、Y方向にスキャンするようになっている。つまり、
走査方向が、設置面の垂直方向からみて、3個所の支持
脚を頂点とする三角形の一頂点から、当該一頂点の対辺
の中点に引いた直線にほぼ平行となっている。
【0046】ウェハステージWSTもステップ・アンド
・スキャン方式での露光の際、レチクルステージRST
と同期してY方向にスキャンする。つまり、走査方向
が、設置面の垂直方向からみて、3個所の支持脚を頂点
とする三角形の一頂点から、当該一頂点の対辺の中点に
引いた直線にほぼ平行となっている。
【0047】図中装置正面側の装置支持脚3a、3bで
規定される辺に隣接してウェハローダWLが配置されて
いる。つまり、ウェハステージWST上へウェハを搬入
/搬出するウェハローダ(基板搬送装置)が、設置面の
垂直方向からみて、3個所の支持脚を頂点とする三角形
の一辺に沿って配置されている。ウェハローダWLを含
んで投影露光装置の全体は、恒温状態を維持するチャン
バ20内に格納されおり、チャンバ20の一壁面は、装
置支持部3a〜3cで規定される三角形のうちウェハロ
ーダWLが配置された一辺にほぼ平行になるように設置
されている。
【0048】以上のような構成とすることにより、本実
施の形態による露光装置では、第1の実施の形態におけ
るのと同様に、重量が大きくかつ装置の上部にある照明
光学系ILSは、スキャン方向であるY軸に対して対称
であり、かつ装置の2本の支持脚で安定に支えられてい
る。また、装置全体もスキャン方向であるY軸に対して
線対称であるためスキャン時に生じるステージによる装
置全体の加振に対する耐性も向上する。また、ローダの
位置がY軸に対し線対称でないが、ローダ部分は装置本
体と切り離して設置できるため本体の安定性については
影響を及ぼさないように構成することが可能である。
【0049】さらに図3及び図4に示すように、本実施
の形態による露光装置の配置によれば、ウェハローダW
Lが装置正面になるように装置全体を所定角度回転させ
るようにしているので、第1の実施の形態における露光
装置で生じ得る、ウェハコータ/デベロッパへのインタ
ーフェースが装置の一方向(図1では右側)に固定され
てしまい、ライン構成の柔軟性が損なわれると同時に装
置を複数台並べた場合の装置のアクセス性が損なわれる
という問題を防止することができるようになる。
【0050】このような本実施の形態による露光装置の
構成及び配置を採用することにより、ウェハローダWL
からステージ系への距離を小さく保ち、装置内空間の有
効利用が可能となることで処理性能の向上並びに装置占
有床面積の縮小が可能になる。また、従来は装置の後方
へ飛び出していた照明光学系ILSを装置正面に対して
斜めに配置するようにしたので装置の全長が短縮される
という効果がある。また、従来と同じようにウェハロー
ダ部が装置正面に設置できるため装置設置の柔軟性を確
保できるとともに、装置の対称性を維持することが可能
になり、良好な動的安定性を確保できるようになる。
【0051】本発明は、上記実施の形態に限らず種々の
変形が可能である。例えば、上記実施の形態ではいわゆ
るステップ・アンド・スキャン方式の走査型投影露光装
置に本発明を適用したが、本発明はこれに限られず例え
ば、レチクル上のパターンの像を投影光学系を介して縮
小投影し、パターン像をウェハ上の各ショット領域に順
次露光するステップ・アンド・リピート方式の投影露光
装置に本発明を適用することももちろん可能である。
【0052】その場合には、レチクルを照明する照明光
学系ILSとレチクルを載置するレチクルステージWS
Tと、レチクル上のパターンを投影する投影光学系PL
と、X−Y面内で2次元的に移動してレチクルのパター
ンの結像位置に基板を位置決めするウェハステージWS
Tとを有し、3個所の支持脚により設置面上に3点支持
される投影露光装置であって、ウェハステージWSTの
X軸又はY軸のいずれかは、設置面に垂直方向から見て
各支持脚を頂点とする三角形の一頂点からその対辺の中
点に引いた直線にほぼ平行になるように構成すればよ
い。
【0053】また、上記実施の形態においては、3個の
支持脚で規定される形状を2等辺三角形として説明した
が、2等辺でない他の三角形形状の場合であっても本発
明を適用できることはいうまでもない。
【0054】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、装置の動
的安定性を確保した状態で装置内空間の有効利用並びに
柔軟な設置性を確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による露光装置の上
面図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態による露光装置の正
面図である。
【図3】本発明の第2の実施の形態による露光装置の上
面図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態による露光装置の正
面図である。
【図5】従来の露光装置の上面図である。
【図6】従来の露光装置の正面図である。
【符号の説明】
ILS 照明光学系 RST レチクルステージ PL 投影光学系 WST ウェハステージ WL ウェハローダ 1 制御装置 3 装置支持部 3a、3b、3c 装置支持脚 4 照明光学系支持部(ILS支持部) 4a、4b、4c 照明光学系用支持脚(ILS用支持
脚) 6 レチクルステージ支持部(RST支持部) 6a、6b、6c レチクルステージ用支持脚(RST
用支持脚) 8 ウェハステージ支持部(WST支持部) 10 装置支持部 10a、10b、10c、10d 装置支持脚 12 照明光学系支持部(ILS支持部) 12a、12b、12c、12d 照明光学系用支持脚
(ILS用支持脚) 14 レチクルステージ支持部(RST支持部) 14a、14b、14c、14d レチクルステージ用
支持脚(RST用支持脚) 20 チャンバ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】設置面に対して3個所の支持脚で支持する
    支持機構と、 前記支持機構上に配設され、パターンが形成されたレチ
    クルを照明する照明光学系とを有し、前記パターンの像
    を基板に露光する露光装置において、 前記照明光学系は、前記設置面の垂直方向からみて、前
    記3個所の支持脚を頂点とする三角形の一頂点から、当
    該一頂点の対辺の中点に引いた直線に対してほぼ線対称
    になるように配設されていることを特徴とする露光装
    置。
  2. 【請求項2】パターンが形成されたレチクルを載置して
    移動するレチクルステージと、 前記パターンの像が露光される基板を載置して移動する
    基板ステージと、 前記レチクルステージと前記基板ステージとを同期して
    所定の走査方向に走査する走査装置と、 設置面に対して3個所の支持脚で前記レチクルステージ
    と前記基板ステージとを支持する支持機構とを備えた露
    光装置において、 前記走査方向は、前記設置面の垂直方向からみて、前記
    3個所の支持脚を頂点とする三角形の一頂点から、当該
    一頂点の対辺の中点に引いた直線にほぼ平行であること
    を特徴とする露光装置。
  3. 【請求項3】レチクルのパターンの像が露光される基板
    を載置して、所定の一方向を含む2次元平面を移動する
    基板ステージと、 設置面に対して3個所の支持脚で前記基板ステージを支
    持する支持機構とを備えた露光装置において、 前記所定の一方向は、前記設置面の垂直方向からみて、
    前記3個所の支持脚を頂点とする三角形の一頂点から、
    当該一頂点の対辺の中点に引いた直線にほぼ平行である
    ことを特徴とする露光装置。
  4. 【請求項4】請求項1乃至3のいずれかに記載の露光装
    置において、 前記基板ステージ上へ前記基板を搬入/搬出する基板搬
    送装置が、前記設置面の垂直方向からみて、前記3個所
    の支持脚を頂点とする三角形の一辺に沿って配置されて
    いることを特徴とする露光装置。
  5. 【請求項5】請求項4記載の露光装置において、 前記設置面上に当該露光装置を格納するチャンバが設け
    られ、当該チャンバの一壁面は、前記基板搬送装置が配
    置された前記三角形の一辺にほぼ平行であることを特徴
    とする露光装置。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6621556B2 (en) * 2000-02-28 2003-09-16 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and manufacturing and adjusting methods thereof
US6646719B2 (en) * 2001-01-31 2003-11-11 Nikon Corporation Support assembly for an exposure apparatus

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE148911C (ja) *
FR2388372A1 (fr) * 1977-04-20 1978-11-17 Thomson Csf Platine a rattrapage de niveau et positionneur a indexation mecanique utilisant une telle platine
JPS61160934A (ja) * 1985-01-10 1986-07-21 Canon Inc 投影光学装置
GB2249189B (en) * 1990-10-05 1994-07-27 Canon Kk Exposure apparatus
NL9100202A (nl) * 1991-02-05 1992-09-01 Asm Lithography Bv Lithografische inrichting met een hangende objecttafel.
NL9100421A (nl) * 1991-03-08 1992-10-01 Asm Lithography Bv Ondersteuningsinrichting met een kantelbare objecttafel alsmede optisch lithografische inrichting voorzien van een dergelijke ondersteuningsinrichting.
JP3506158B2 (ja) * 1995-04-14 2004-03-15 株式会社ニコン 露光装置及び走査型露光装置、並びに走査露光方法
TW318255B (ja) * 1995-05-30 1997-10-21 Philips Electronics Nv
DE69608204T2 (de) * 1995-05-30 2001-01-04 Asm Lithography Bv Lithographisches gerät mit einem sowie horizontal als auch vertikal justierbaren maskenhalter
DE69629087T2 (de) * 1995-05-30 2004-04-22 Asml Netherlands B.V. Positionierungsgerät mit einem referenzrahmen für ein messsystem
TW316874B (ja) * 1995-05-30 1997-10-01 Philips Electronics Nv
JP3659529B2 (ja) * 1996-06-06 2005-06-15 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法

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