JPH10197337A - 光電変換装置 - Google Patents

光電変換装置

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JPH10197337A
JPH10197337A JP207397A JP207397A JPH10197337A JP H10197337 A JPH10197337 A JP H10197337A JP 207397 A JP207397 A JP 207397A JP 207397 A JP207397 A JP 207397A JP H10197337 A JPH10197337 A JP H10197337A
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JP
Japan
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photoelectric conversion
time
accumulation
monitor
monitor signal
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Withdrawn
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JP207397A
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English (en)
Inventor
Masataka Ide
昌孝 井出
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】交流光源下においても良好な像信号を得るこ
と。 【解決手段】本発明は、光電変換素子列1と、この素子
列1の電荷蓄積量に対応するモニタ信号を出力するモニ
タ部2と、上記蓄積動作開始後の第1の時間経過後にモ
ニタ信号レベルを読み出し、上記第1の時間よりも長い
第2の時間経過後のモニタ信号レベルを予測すると共
に、その第2の時間経過後に実際のモニタ信号レベルを
読み出し、上記予測したモニタ信号レベルと実際のモニ
タ信号レベルとを比較し、上記光電変換信号が飽和せず
且つ十分なダイナミックレンジが得られるように、上記
蓄積動作停止時間を所定演算式により予測する蓄積時間
計算部4と、この予測した蓄積動作停止時間が経過した
ときに蓄積動作を停止させる蓄積制御信号読み出し部5
とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばカメラ等の
撮像装置に用いられる焦点検出装置の信号蓄積動作を最
適に制御する為の光電変換装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、カメラ等に用いられる焦点検
出装置の光電変換された信号を蓄積するための種々の技
術が提案されている。例えば、本出願人による特開平7
−98428号公報によれば、光電変換手段の蓄積動作
開始後、その受光量に応じたモニタ信号を所定時間後に
読み出し、これにより蓄積終了時間を決定して、蓄積時
間を制御する「光電変換装置」に関する技術が開示され
ている。
【0003】この従来技術に係る光電変換装置の光電変
換手段の蓄積時間とモニタ信号との関係は図21に示さ
れる通りである。同図に示されるように、一定輝度下で
は光電変換手段の蓄積開始後、モニタ信号が一定の変化
率で変化していく。上記従来技術では、この点に着目
し、時間t1 でのモニタ出力の読み出し値V1 と蓄積開
始時モニタ信号出力値V0 及び目標モニタ信号値V2 と
から、 t2 =(V2 −V0 )/(V1 −V0 )・t1 …(10) として蓄積終了時間t2 を計算している。そして、この
算出した蓄積終了時間t2 となったところで、上記光電
変換手段の蓄積を終了させることで、当該光電変換手段
の信号蓄積を最適に制御している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記
(10)式による蓄積終了時間t2 の予測は、一定輝度
下における蓄積動作を前提としている。よって、交流的
に輝度が変化する光源、例えば蛍光灯等の人工照明下で
は、次のような問題が発生している。
【0005】以下、図22,23には、交流光源下で従
来の蓄積制御方法を行った場合の交流光源の輝度変化と
モニタ出力の変化の関係を示し、上記問題を説明する。
先ず、図22(a)に示されるような交流光源の輝度変
化のタイミングで光電変換素子列の蓄積を開始した場合
については、図22(b)に示されるように、モニタ出
力の変化率が蓄積開始より徐々に大きくなる。従って、
上記(10)式に基づいて蓄積制御を行うとモニタ出力
は蓄積終了時間t2 以前に“0”になり飽和してしま
う。このような蓄積動作がなされた場合の光電変換素子
列の蓄積信号は、適正な場合(図24(a)参照)に比
して、図24(b)に示されるようになる。即ち、光電
変換素子列の蓄積信号が、後段の例えばAD変換器のよ
うな処理回路の入力範囲を越えてしまい、焦点検出不能
となってしまう。
【0006】一方、図23(a)に示すような交流光源
の輝度変化のタイミングで光電変換素子列の蓄積を開始
した場合については、図23(b)に示されるように、
モニタ出力の変化率は蓄積開始より徐々に小さくなる。
従って、上記(10)式に基づいて蓄積制御を行うと、
モニタ出力は適正なレベルV2 よりも蓄積レベルとして
は少ないレベルV2 ′で蓄積を終了してしまうことにな
る。このような蓄積動作がなされた場合の光電変換素子
列の蓄積信号は、図24(c)に示されるように、コン
トラストが小さくなってしまうので、焦点検出が不能と
なったり、焦点検出精度が劣化してしまう。
【0007】本発明は、上記問題に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、交流光源下において
も適正な光電変換素子列の蓄積制御を行うことで、良好
な像信号を得ることを可能とし、焦点検出が不能となっ
たり焦点検出精度が劣化することを防止し、高精度な焦
点検出を行うことを可能とすることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第1の態様による光電変換装置は、受光面
に入射する光量に応じて発生する電荷を蓄積して光電変
換信号を出力する光電変換素子と、上記光電変換素子の
電荷蓄積量に対応するモニタ信号を出力するモニタ手段
と、上記光電変換素子の蓄積動作開始後の第1の時間経
過後にモニタ信号レベルを読み出し、上記第1の時間よ
りも長い第2の時間経過後のモニタ信号レベルを予測す
ると共に、その第2の時間経過後に実際のモニタ信号レ
ベルを読み出し、上記第2の時間経過後の予測したモニ
タ信号レベルと実際のモニタ信号レベルとを比較し、上
記光電変換信号が飽和せず且つ十分なダイナミックレン
ジが得られるように、上記光電変換素子の蓄積動作停止
時間を所定の演算式によって予測する予測手段と、この
予測した蓄積動作停止時間が経過したとき、上記光電変
換素子の蓄積動作を停止させる蓄積制御手段とを具備す
ることを特徴とする。
【0009】第2の態様による光電変換装置は、上記予
測手段は、上記第2の時間経過後における予測モニタ信
号レベルと、実測したモニタ信号レベルとの差の絶対値
が所定値よりも大きいときに、上記所定の演算式を変更
することを特徴とする。
【0010】さらに、第3の態様による光電変換装置
は、受光感度切換可能で、受光面に入射する光量に応じ
て発生する電荷を蓄積して光電変換信号を出力する光電
変換素子と、この光電変換素子の受光感度を切換える感
度切換手段と、上記光電変換素子の電荷蓄積量に対応す
るモニタ信号を出力するモニタ手段と、上記光電変換素
子の蓄積動作開始後の第1の時間経過後にモニタ信号レ
ベルを読み出し、上記第1の時間よりも長い第2の時間
経過後のモニタ信号レベルを予測すると共に、その第2
の時間経過後に実際のモニタ信号レベルを読み出し、上
記第2の時間経過後の予測したモニタ信号レベルと実際
のモニタ信号レベルとを比較する比較手段と、上記光電
変換素子の蓄積動作停止時間を所定の演算式によって予
測する予測手段と、この予測した蓄積動作停止時間が経
過したとき、上記光電変換素子の蓄積動作を停止させる
蓄積制御手段とを具備し、上記比較手段は、上記第2の
時間経過後における予測モニタ信号レベルと実測したモ
ニタ信号レベルとの差の絶対値が所定値よりも大きいと
きに上記感度切換手段に低感度側に切り換えさせるとと
もに再度蓄積動作をやり直すことを特徴とする。
【0011】即ち、本発明の第1の態様による光電変換
装置では、光電変換素子により、受光面に入射する光量
に応じて発生する電荷が蓄積されて光電変換信号が出力
され、モニタ手段により、上記光電変換素子の電荷蓄積
量に対応するモニタ信号が出力され、予測手段により、
上記光電変換素子の蓄積動作開始後の第1の時間経過後
にモニタ信号レベルが読み出され、上記第1の時間より
も長い第2の時間経過後のモニタ信号レベルが予測され
ると共に、その第2の時間経過後に実際のモニタ信号レ
ベルが読み出され、上記第2の時間経過後の予測したモ
ニタ信号レベルと実際のモニタ信号レベルとが比較さ
れ、上記光電変換信号が飽和せず且つ十分なダイナミッ
クレンジが得られるように、上記光電変換素子の蓄積動
作停止時間が所定の演算式によって予測され、蓄積制御
手段により、この予測した蓄積動作停止時間が経過した
とき、上記光電変換素子の蓄積動作が停止される。
【0012】そして、第2の態様による光電変換装置で
は、上記予測手段により、上記第2の時間経過後におけ
る予測モニタ信号レベルと、実測したモニタ信号レベル
との差の絶対値が所定値よりも大きいときに、上記所定
の演算式が変更される。
【0013】さらに、第3の態様による光電変換装置で
は、光電変換素子により、受光感度切換可能で、受光面
に入射する光量に応じて発生する電荷が蓄積されて光電
変換信号が出力され、感度切換手段により、この光電変
換素子の受光感度が切換えられ、モニタ手段により、上
記光電変換素子の電荷蓄積量に対応するモニタ信号が出
力され、比較手段により、上記光電変換素子の蓄積動作
開始後の第1の時間経過後にモニタ信号レベルが読み出
され、上記第1の時間よりも長い第2の時間経過後のモ
ニタ信号レベルが予測され、その第2の時間経過後に実
際のモニタ信号レベルが読み出され、上記第2の時間経
過後の予測したモニタ信号レベルと実際のモニタ信号レ
ベルとが比較され、予測手段により、上記光電変換素子
の蓄積動作停止時間が所定の演算式によって予測され、
蓄積制御手段により、この予測した蓄積動作停止時間が
経過したとき、上記光電変換素子の蓄積動作が停止さ
れ、上記比較手段により、上記第2の時間経過後におけ
る予測モニタ信号レベルと実測したモニタ信号レベルと
の差の絶対値が所定値よりも大きいときに上記感度切換
手段が低感度側に切り換えられ、再度蓄積動作がやり直
される。
【0014】
【発明の実施の形態】先ず、図面を参照して、本発明の
基本概念を説明する。図1は本発明の光電変換装置の第
1の概念図である。同図に示されるように、被写体から
の光束を受光して入射光量に応じた電荷を蓄積する複数
の光電変換素子を有する光電変換素子列1の出力は、当
該光電変換素子列1の電荷蓄積中の受光量に応じたモニ
タ信号を出力するモニタ部2の入力に接続されており、
当該モニタ部2の出力は、上記光電変換素子列1の蓄積
開始から所定時間後に上記モニタ部2のモニタ信号を読
み出すモニタ読み出し部3の入力に接続されている。そ
して、このモニタ読み出し部3の出力は、当該モニタ読
み出し部3の読み出したモニタ信号に基づき交流光源に
よる影響を大きく受けているか否か判定する判定部6の
入力に接続されており、当該判定部6及び上記モニタ読
み出し部3の出力は、上記モニタ信号読み出し部3によ
り読み出されたモニタ信号と当該モニタ信号を読み出し
た時刻とに基づいて蓄積終了時間を計算する蓄積時間計
算部4の入力に接続されている。この蓄積時間計算部4
の出力は、この蓄積時間計算部4により計算された蓄積
終了時間で上記光電変換素子列1の蓄積を終了させ光電
変換素子列1の信号を読み出す蓄積制御、信号読み出し
部5の入力に接続されており、当該蓄積制御、信号読み
出し部5は、上記光電変換素子列1と相互に接続されて
いる。
【0015】このような構成において、被写体からの光
束は光電変換素子列1により受光され、入射光量に応じ
た電荷が蓄積される。そして、モニタ部2により上記光
電変換素子列1の電荷蓄積量に応じたモニタ信号が、後
段のモニタ読み出し部3に出力される。このモニタ信号
読み出し部3は、上記モニタ部2の出力するモニタ信号
を上記光電変換素子列1の蓄積開始から所定時間後に読
み出し、後段の蓄積時間計算部4と判定部6に出力す
る。そして、蓄積時間計算部4により、上記モニタ読み
出し部3により読み出された複数のモニタ信号と当該モ
ニタ信号が読み出された時刻とに基づいて、上記光電変
換素子列1の蓄積終了時間が計算され、後段の蓄積制
御、信号読み出し部5に出力される。次いで、蓄積制
御、信号読み出し部5により、上記蓄積終了時間計算部
4により計算された蓄積終了時間に基づいて上記光電変
換素子列1の蓄積が終了され、その後、上記光電変換素
子列1で蓄積された信号が読み出される。上記判定部6
により、上記モニタ読み出し信号3により読み出された
モニタ信号に基づいて、交流光源の影響が大きいか否か
が判定される。そして、交流光源の影響が大きいと判定
された場合には、蓄積時間計算部4により通常の計算方
法である第1の計算方法とは異なる第2の計算方法によ
り蓄積時間が計算される。
【0016】次に図2は本発明の光電変換装置の第2の
概念図である。同図に示されるように、被写体からの光
束を受光して入射光量に応じた電荷を蓄積する複数の光
電変換素子を有する光電変換部1の出力は、この光電変
換部1の電荷蓄積中の受光量に応じたモニタ信号を出力
するモニタ部2の入力に接続されており、当該モニタ部
2の出力は、上記光電変換部1の蓄積開始から所定時間
後に上記モニタ部2のモニタ信号を読み出すモニタ読み
出し部3の入力に接続されている。そして、このモニタ
信号読み出し部3の出力は、当該モニタ信号読み出し部
3により読み出されたモニタ信号と、このモニタ信号を
読み出した時刻とに基づいて蓄積終了時間を計算する蓄
積時間計算部4と、上記モニタ読み出し部3の読み出し
たモニタ信号に基づき、交流光源による影響を大きく受
けているか否かを判定する判定部6の入力に接続されて
いる。この蓄積時間計算部4の出力は、当該蓄積時間計
算部4により計算された蓄積終了時間で上記光電変換部
1の蓄積を終了させて光電変換部1の信号を読み出す蓄
積制御、信号読み出し部5の入力に接続されており、当
該蓄積制御、信号読み出し部5の出力は、上記光電変換
部1の入力に接続されている。上記判定部6の出力は、
上記光電変換部1の感度を切換える感度切換え部7の入
力に接続されており、当該感度切換え部7の出力は光電
変換部1の入力に接続されている。
【0017】このような構成において、上記判定部6に
より交流光源の影響が大きいと判定された場合に、上記
感度切換え部7により光電変換部1の感度が低感度側に
切り換えられる。そして、蓄積制御、信号読み出し部5
は、光電変換部1に再度電荷の蓄積をやり直しさせる。
その他の構成要素による作用については、図1と同一で
あるため、ここでは説明を省略する。
【0018】以下、図面を参照して、上記概念を更に具
現化した実施の形態を説明する。先ず図3は第1の実施
の形態に係る光電変換装置が搭載されたカメラの断面図
である。同図に示されるように、カメラボディBの所定
位置は撮影レンズLが配設されており、被写体からの光
束の当該撮影レンズLを介した光束の光路上には、メイ
ンミラーMM,サブミラーSMが配設されている。この
メインミラーMMとしてはダイクロイックミラーなどが
採用される。そして、当該サブミラーSMの反射光の光
路上には、本発明の焦点検出装置FDが配設されてい
る。この焦点検出装置FD内においては、上記サブミラ
ーSMでの反射光の光路上に視野マスクS、コンデンサ
レンズC、全反射ミラーZM、セパレータ絞りK、セパ
レータレンズH、AFセンサASがそれぞれ配設されて
いる。このAFセンサASは、光電変換素子列Pとその
処理回路とで構成されている。この他、カメラボディB
は、その上方にファインダFLを有している。
【0019】このような構成において、被写体からの光
束は、撮影レンズLを通過し、メインミラーMMでファ
インダFL側に反射されると共に透過し、サブミラーS
MにてカメラボディB下方に全反射され、焦点検出装置
FD内に導かれる。
【0020】この焦点検出装置FD内では、上記光束
は、視野マスクSにより絞り込まれ、赤外カットフィル
タSFにより赤外光がカットされ、コンデンサレンズC
により集光された後、全反射ミラーZMにより全反射さ
れる。さらに、この光束は、セパレータ絞りKにより制
限された後、セパータレンズHにより再結像され、AF
センサASの光電変換素子列Pに受光され光電変換され
た後、処理回路により所定の処理がなされる。
【0021】次に図4には上記被写体からの光束をAF
センサAS内の光電変換素子列Pに導く焦点検出光学系
の構成を更に詳細に示し説明する。同図において、Lは
撮影レンズ、Sは視野マスク、Cはコンデンサレンズ、
Kは撮影レンズLの光軸Oに関して略対称に配置された
開口部K1 ,K2 を有するセパレータ絞り、H1 ,H2
はセパレータ絞りKの開口部K1 ,K2 に対応してその
後方に配置されたセパレータレンズであり、上記図3の
各構成要素にそれぞれ対応している。P上には光電変換
素子列が配置されているが、当該光電変換素子列は、セ
パレータレンズH1 ,H2 に対応して第1,第2の光電
変換素子列PDAL,PDARを有している。尚、図4
では、前述の赤外カットフィルタSF、全反射ミラーZ
Mについては図示を省略している。
【0022】このような構成において、撮影レンズLの
領域L1 を介して入射した被写体からの光束は、視野マ
スクS、コンデンサレンズC、セパレータ絞りKの開口
部K1 及びセパレータレンズH1 を介して光電変換素子
列P上に結像する。同様に、撮影レンズLの領域L2 を
介して入射した被写体からの光束は、視野マスクS、コ
ンデンサレンズC、セパレータ絞りKの開口部K2 及び
セパレータレンズH2を通り光電変換素子列P上に結像
する。
【0023】上記撮影レンズLが合焦、即ち結像面G上
に被写体像Iが形成される場合、その被写体像Iはコン
デンサレンズC及びセパレータレンズH1 ,H2 により
光軸Oに対して垂直な2次結像面P(光電変換素子列)
上に再結像されて第1像I1、第2像I2 となる。ま
た、撮影レンズが前ピン、即ち結像面Gの前方に被写体
像Fが形成される場合、その被写体像Fは互いに光軸O
に近づいた形で光軸Oに対して垂直に再結像されて第1
像F1 、第2像F2 となる。また、撮影レンズが後ピン
即ち、結像面Gの後方に被写体像Rが形成される場合、
その被写体像Rは互いに光軸Oから離れた形で光軸Oに
対して垂直に再結像されて第1像R1 、第2像R2 とな
る。従って、これら第1像と第2像の間隔を検出するこ
とにより、撮影レンズの合焦状態を前ピン、後ピンを含
めて検出することができる。具体的には、上記第1像と
第2像の光強度分布を光電変換素子列により求めて両像
の間隔を測定することとしている。
【0024】次に図5には図3のカメラの電気制御系の
構成を示し説明する。同図において、コントローラCL
はカメラの制御装置であり、例えば内部に中央演算処理
装置(CPU;Central Processing Unit) 、ROM(Read On
ly Memory),RAM(Random Access read write Memor
y) 、ADコンバータADCを有する。このコントロー
ラCLは、内部のROMに格納されたカメラのシーケン
スプログラムに従ってカメラの一連の動作を行ってい
る。また、コントローラCLは、不揮発性メモリである
EEPROM(Electrically Erasable Programmable RO
M)を有しており、AF制御や測光等に関する補正データ
をカメラボディ毎に記憶することが可能となっている。
レンズ駆動部LDは、上記コントローラCLによって制
御され、撮影レンズLのフォーカシングレンズを駆動す
るものである。
【0025】ファーストレリーズスイッチ(以下、1R
SWとする)、セカンドレリーズスイッチ(以下、2R
SWとする)は、レリーズボタンに連動したスイッチで
あり、レリーズボタンの第1段階の押下により1RSW
がオンし、引き続いて第2段階の押下げで2RSWがオ
ンする。上記コントローラCLは、1RSWオンで測光
及びAFを行い、2RSWオンで露出動作とフィルム巻
上げを行う。
【0026】一方、AFセンサASは、光電変換素子列
であるフォトダイオードアレイPDAL,PDAR、画
素増幅回路EAC、シフトレジスタSR、及びセンサ制
御回路SCCとで構成されている。このフォトダイオー
ドアレイPDAL,PDARは、各フォトダイオードに
入射する光量に応じた電荷を発生し、それぞれ独立して
画素増幅回路EAC内の対応する画素増幅回路の部分に
入力される。上記画素増幅回路EACでは、上記フォト
ダイオードアレイPDAL,PDARの各フォトダイオ
ードの発生する電荷をそれぞれ独立して増幅し、電荷量
に対応する電圧信号に変換するとともに増幅して蓄積信
号を発生する。
【0027】また、上記画素増幅回路EACは、各フォ
トダイオードの発生する電荷のうちの最大値、即ち最も
入射光量の大きいフォトダイオードに対応する画素増幅
回路の出力に応じたモニタ信号MDATAを出力する。
さらに、センサ制御回路SCCは、コントローラCLか
らの信号に応じてAFセンサASの内部全体の動作を制
御する。シフトレジスタSRは、コントローラCLから
のクロック信号CLKに応じて、フォトダイオードアレ
イPDAL,PDARの各フォトダイオードに対応する
画素増幅回路EACの蓄積信号SDATAを順次出力さ
せる。さらに、コントローラCLは、AFセンサASの
動作を制御すると共に、AFセンサASの電荷蓄積信号
を読み出して焦点検出演算を行う。
【0028】以下、図6のタイムチャートを参照して、
上記AFセンサAS及びコントローラCLの動作を詳細
に説明する。ここでは、AFセンサASの蓄積動作と蓄
積信号読み出し動作を中心に説明する。
【0029】尚、上記AFセンサASとコントローラC
Lとの信号のやりとりは、コントローラCLからAFセ
ンサASに対して与えられる制御信号CEN,RES,
END,CLKと、AFセンサASからコントローラC
Lに対して与えられるアナログ信号SDATA,MDA
TAとにより行われる。
【0030】先ず、コントローラCLが制御信号CEN
をHレベルからLレベルにすると、AFセンサAS内部
のバイアス源がオンして動作可能な状態となる。この制
御信号CENがHレベルのときは、AFセンサASの内
部回路は全てオフ状態であり、消費電流は略“0”とな
っている。上記制御信号CENがHレベルからLレベル
になった後、制御信号CLKがHレベルであれば、AF
センサASの内部では後述する感度設定が自動的に行わ
れ高感度か低感度のいずれかに設定される。一方、制御
信号CLKがLレベルであれば、強制的に低感度に設定
される。
【0031】次にコントローラCLは制御信号RESを
HレベルからLレベルとし、Lレベル状態を所定時間保
持した後にLレベルからHレベルに設定する。このLレ
ベルの区間にAFセンサAS内の画素増幅回路EACを
リセットし、積分コンデンサ等に残存している不用な電
荷をクリアする。また、このリセット期間中にAFセン
サASの蓄積信号SDATAとして、先に設定された感
度を示す予め決められた電圧レベルを発生する。詳細に
は、高感度である時はHレベル、低感度である時はLレ
ベルを出力する。コントローラCLでは内蔵しているA
DコンバータADCにより感度データであるリセット期
間中の蓄積信号SDATAをAD変換して内部のRAM
に格納する。そして、制御信号RESのLレベルからH
レベルの変化により画素増幅回路EACは電荷蓄積を開
始する。
【0032】この電荷蓄積の開始と共に画素増幅回路E
ACのモニタ信号MDATAとしては、蓄積レベルに応
じたアナログ信号が出力される。コントローラCLで
は、内蔵しているADコンバータADCによりモニタ信
号MDATAのレベルをAD変換して、そのレベルをチ
ェックする。そして、コントローラCLでは、モニタ信
号MDATAのレベルに基づいて、適正な電荷蓄積レベ
ルとなる蓄積時間で制御信号ENDをHレベルからLレ
ベルとして蓄積動作を停止させる。
【0033】次にコントローラCLは、蓄積信号を読み
出すためのクロック信号CLKをAFセンサASに対し
て出力し、AFセンサASはこれに対応してアナログ信
号である蓄積信号SDATAを順次出力する。コントロ
ーラCLでは、前述のADコンバータADCにより蓄積
信号SDATAをAD変換して内部のRAMに格納して
いく。そして、フォトダイオードアレイPDAL,PD
ARの蓄積信号を全て読み出して読み出し動作を終了す
る。
【0034】ここで、図7には上記AFセンサASのフ
ォトダイオードアレイPDAL,PDAR及び画素増幅
回路EACの詳細な構成を示し説明する。フォトダイオ
ードアレイPDAL,PDARは、フォトダイオードP
D1 ,PD2 …PDn により構成される。画素増幅回路
EACは、各フォトダイオード毎に同一回路を有してい
る。ここでは、説明を簡略化するため、フォトダイオー
ドPD1 に対応する部分についてのみ説明する。
【0035】フォトダイオードPD1 のアノードは接地
されており、カソードは2つのスイッチSW11,SW21
の接続端に接続されている。即ち、スイッチSW11を介
して感度設定部KSCの入力にも接続され、スイッチS
W21を介して初段アンプの入力に接続されている。この
スイッチSW11,SW21は、それぞれセンサ制御回路S
CCからの信号KST,DTKによりオン/オフ制御さ
れ、感度設定動作時はスイッチSW11をオン、スイッチ
SW21をオフとして、フォトダイオードの光電流を感度
設定部KSCに入力する。また、蓄積動作時には、スイ
ッチSW11をオフ、スイッチSW21をオンとして、上記
フォトダイオードPD1 の光電流を初段アンプに入力す
る。
【0036】上記初段アンプは、反転増幅器A11と積分
コンデンサC11、スイッチSW31とで積分回路を構成し
ており、スイッチSW31はセンサ制御回路SCCからの
信号SEK1によりオン/オフ制御される。蓄積動作時
は、スイッチSW21がオンの状態で先ずスイッチSW31
をオンとして、初段アンプ出力VS1を初期レベルに設定
し、その後、スイッチSW31をオフして蓄積動作を開始
し、フォトダイオードPD1 で発生する電荷(光電流)
を積分コンデンサC11に蓄積し、その蓄積量に応じた電
圧を初段アンプ出力VS1に発生する。この初段アンプの
出力VS1は、2段目アンプの入力に接続される。
【0037】この2段目アンプは、コンデンサC21,C
31,C41,C51、反転増幅器A21、バッファA31、スイ
ッチSW41,SW51,SW61とで構成されており、サン
プルホールド機能を有する反転増幅回路となっている。
この2段目アンプは、その増幅率を切り換えることが可
能である。即ち、感度設定部KSCの出力信号KNDに
よりスイッチSW41をオン/オフすることで増幅率が切
り換えられる。具体的には、2段目アンプの増幅率は、
スイッチSW41がオフの時は−C21/C41で低感度側と
なり、スイッチSW41がオンの時は−(C21+C31)/
C41で高感度側に設定される。
【0038】上記スイッチSW51は、センサ制御回路S
CCからの信号SEK2により制御され、蓄積動作時に
先ずスイッチSW51をオンとして2段目アンプの出力V
S2を初期レベルに設定する。その後、蓄積開始、即ち初
段アンプのスイッチSW31のオフと略同期してスイッチ
SW51をオフし、2段目アンプは初段アンプ出力VS1を
前記所定の増幅率で増幅して、出力VS2を発生する。
【0039】上記スイッチSW61、ホールドコンデンサ
C51、バッファA31は、サンプルホールド回路を構成し
ており、スイッチSW61は、センサ制御回路SCCから
の信号HLDにより制御される。このサンプルホールド
回路は、スイッチSW61がオンしている間は単にバッフ
ァとして動作する。一方、このサンプルホールド回路
は、蓄積終了時にスイッチSW61がオフされると、その
時の2段目アンプ出力VS2と等価な電圧レベルをホール
ドコンデンサC51にホールドし、蓄積電荷を保持する。
【0040】次に2段目アンプの出力に接続されたスイ
ッチSW71は、シフトレジスタからの信号SR1 によっ
て制御され、スイッチSW71がオンされると2段目アン
プのホールドコンデンサC51に保持されたレベルに対応
する2段目アンプ出力VS2を蓄積信号SDATAとして
出力する。以上、フォトダイオードPD1 に対応する部
分についてのみ説明したが、他のフォトダイオードにつ
いても同一回路となっている。
【0041】次にピークモニタ部PMTは、PMOSト
ランジスタPM1 ,PM2 …PMnと定電流負荷IM と
から構成されている。各PMOSトランジスタはソース
フォロワとして機能し、各画素の2段目アンプ出力VS2
を各PMOSトランジスタのゲートにそれぞれ独立に接
続され、各ソースは全て共通接続されると共に定電流負
荷IM に接続されている。また、各PMOSトランジス
タのドレインは全て共通にGNDに接続されている。そ
して、ピークモニタ部PMTは蓄積動作中に全画素の2
段目アンプ出力VS2のうちで最も電荷蓄積量の大きい画
素(電圧レベルとしては最も低い画素)に応じたモニタ
信号MDATAを発生する。
【0042】感度設定部KSCには、フォトダイオード
PD1 ,PD2 ,…PDnがそれぞれスイッチSW11,
SW12,…,SW1nを介して入力に接続されており、接
続されるフォトダイオード全体の光電流の和を検出す
る。入力部は、NMOSトランジスタNM1 ,NM2 と
定電流源IB とからなり、フォトダイオードの電位をN
MOSトランジスタNM1 のゲート電圧に固定すると共
に、フォトダイオード光電流和Ip をNMOSトランジ
スタNM2 のドレイン電流として検出する。このIp
は、PMOSトランジスタPMa,PMbからなるカレ
ントミラーを介して定電流源ITH及びコンパレータCM
Pの入力に接続される。
【0043】そして、コンパレータの出力は、SWK2を
介して信号KNDとして感度切り換え用スイッチSW4
1,SW42,…,SW4nに接続される。フォトダイオー
ド光電流和Ip が定電流ITHより大きい場合、即ち被写
体が高輝度側の場合は、コンパレータCMPの入力はH
レベル、出力Lレベルとなり、スイッチSWK2を介して
信号KNDはLレベルとしてスイッチSW41,SW42,
…,SW4nをオフさせて低感度側に設定される。
【0044】一方、フォトダイオード光電流和Ip が定
電流ITHより小さい場合、即ち被写体が低輝度側の場合
は、コンパレータCMPの入力はLレベル、出力Hレベ
ルとなり、スイッチSWK2を介して信号KNDはHレベ
ルとしてスイッチSW41,SW42,…,SW4nをオンし
て高感度側に設定される。
【0045】以上は信号CLKがHの時に感度設定部K
SCで感度が自動設定される場合で信号CLKがLの時
はSWK1がオン、SWK2がオフされて信号KNDは
Lとなり、低感度側に設定される。即ち、コントローラ
CLより強制的に低感度に設定することができる。尚、
ここで設定された感度は蓄積動作中も保持され、蓄積動
作終了毎に設定し直される。また、信号KNDはスイッ
チSWK3を介して端子SDATAに接続され、スイッ
チSWK3は制御回路SCCによって信号KDDにより
オンされる。
【0046】以下、図8のタイムチャートを参照して、
上記蓄積動作に係る画素増幅回路EAC内部の動作を詳
細に説明する。先ず、蓄積動作に先立ち感度設定を行う
ため、スイッチSW11(SW12…SW1n)をオンする
と、感度設定部KSCはフォトダイオードの光電流和に
基づいて信号KNDを出力し、スイッチSW41をオン
(高感度)又はオフ(低感度)に設定する。次に、セン
サ制御回路SCCよってスイッチSW11をオフ、スイッ
チSW21をオンしてフォトダイオードの電荷の経路を切
り換えると共に、スイッチSW31,SW51,SW61をオ
ンして蓄積準備状態とする。そして、スイッチSW31,
SW51をオンからオフとして蓄積動作を開始する。この
蓄積動作中は、各フォトダイオード毎の入射光量に応じ
た傾きで初段アンプ出力VS1のレベルは上昇し、一方、
2段目アンプVS2の出力は下降していく。
【0047】また、蓄積準備状態中では、スイッチSW
K3がオンされ、蓄積信号SDATAとして感度データ
が出力される。そして、センサ制御回路SCCによりス
イッチSW61がオフされて全画素の蓄積を終了し、同時
に各画素の蓄積レベルが保持される。こうして蓄積動作
が終了すると、蓄積信号の読み出し動作を行う。シフト
レジスタSRより、スイッチSW71,SW72…SW7nに
対して信号SR1 ,SR2 …SRnが出力され、各画素
毎の蓄積信号SDATAが順次出力される。
【0048】次に図9のフローチャートを参照して、コ
ントローラCLの制御の下になされるカメラの主動作を
説明する。主動作を開始すると、コントローラCLは、
先ず1RSWがオンされているかどうかを判断し(ステ
ップS1)、当該1RSWがオンされていれば露出量を
決定するために不図示の測光回路を動作させて被写体の
光量を測定し測光を行い(ステップS2)、続いて、後
述するサブルーチン“AF”を実行し、被写体に対する
焦点状態を検出して撮影レンズLを焦点位置に移動し、
被写体にピントを合わせるAF動作を行う(ステップS
3)。
【0049】続いて、コントローラCLは、このAF動
作の結果に基づいて合焦したか否かを判別する(ステッ
プS4)。ここで、合焦していれば、続いてコントロー
ラCLは、2RSWがオンされているかどうか判断し
(ステップS5)、当該2RSWがオンされていれば、
コントローラCLは、露出動作を行うために、先ず上記
ステップS2で求めた測光値に基づいて決定された絞り
値に撮影レンズLの絞りを絞り込み、次いでシャッタを
制御して所定時間シャッタを開いて露出動作を行う(ス
テップS6)。こうしてシャッタ制御が完了すると、コ
ントローラCLは絞りを開放状態に戻し、撮影したフィ
ルムを巻き上げて次の駒に送り(ステップS7)、不図
示の表示装置LCD,LEDの表示を制御した後(ステ
ップS8)、上記ステップS1に戻る。
【0050】これに対して、上記ステップS4で合焦で
ないと判断されたとき、又は上記ステップS5で2RS
Wがオンされていない場合には、上記ステップS8に移
行し、上記同様の表示を行う。
【0051】一方、上記ステップS1にて1RSWがオ
ンされていないと判断された場合には、コントローラC
Lは、1RSW,2RSW以外のSWの状態を判断し
(ステップS9)、オンされているSWがあれば、その
オンされているSWに応じた処理を実行した後(ステッ
プS10)、上記ステップS8に移行し、上記同様の表
示を行う。
【0052】次に図10のフローチャートを参照して、
図9のステップS3で実行されるサブルーチン“AF”
の動作を詳細に説明する。このサブルーチンに入ると、
コントローラCLは、先ず蓄積中フラグを参照してAF
センサASが蓄積中か否かを検出し(ステップS1
1)、AFセンサASが蓄積中であればリターンし、蓄
積中でなければ蓄積終了フラグを参照してAFセンサA
Sの蓄積が終了したか否かを判断する(ステップS1
2)。
【0053】ここで、蓄積終了していなければ、AFセ
ンサASの蓄積を開始すると共に、AFセンサASのモ
ニタ出力をチェックして蓄積終了時間を求め、また、蓄
積中フラグをセットする(ステップS13)。
【0054】一方、AFセンサASが蓄積終了していれ
ば、AFセンサASにおいて蓄積された信号をセンサデ
ータとして読み出す(ステップS14)。このとき、コ
ントローラCLより読み出し、クロックをAFセンサA
Sに与えて、それに同期したセンサデータがAFセンサ
ASより出力される。コントローラCLは、このセンサ
データを順次AD変換して所定のRAMに格納する。
【0055】続いて、RAMに格納されたセンサデータ
に基づいて焦点検出演算を行う。また、ここで蓄積中フ
ラグ、蓄積終了フラグを初期化して次回の蓄積に備える
(ステップS15)。次いで、焦点検出演算により求め
られたデフォーカス量が許容範囲内であるか否かを判別
し、合焦判定を行い(ステップS16)、非合焦状態で
あれば、上記ステップS15で求められたデフォーカス
量に基づいてレンズ駆動量を演算し(ステップS1
7)、この求められたレンズ駆動量だけレンズを駆動す
る(ステップS18)。
【0056】このレンズ駆動が終了すると、上記ステッ
プS11に戻り、再度AF動作を行い、合焦するまで上
記蓄積〜レンズ駆動の処理を繰り返す。一方、上記ステ
ップS16にて合焦と判定された場合には、ファインダ
内の合焦表示等の合焦処理を行って終了し(ステップS
19)、前述したメインルーチンに戻る。
【0057】次に図11のフローチャートを参照して、
図10の上記ステップS13で実行されるサブルーチン
“蓄積制御”について説明する。まず、コントローラC
Lは、AFセンサASのリセットを行い、蓄積動作を開
始させる。また、同時にコントローラCLは、モニタ出
力のチェック時刻を管理するために内部のタイマをリセ
ットし、カウントを開始させる(ステップS21)。続
いて、所定時間T1 のループ回数を初期値(n=1)と
する(ステップS22)。そして、蓄積開始からタイマ
を参照して時間nT1 が経過するまで待ち(ステップS
23)、時間nT1 が経過したらコントローラCLのA
DコンバータADCによりモニタ信号MDATAをAD
変換し、その結果のモニタデータM1 を内部のRAMに
格納する(ステップS24)。
【0058】次いで、モニタデータM1 と所定の判定レ
ベルMT 比較し(ステップS25)、判定レベルMT よ
り大きい場合は蓄積量がまだ少ないので一定量蓄積して
モニタレベルが判定レベルMT を越えるまで待つ(ステ
ップS26)。即ち、ステップS26にてループ回数n
をインクリメントしてステップS23に戻り、上記同様
の動作をモニタレベルが判定レベルMT を越えるまで繰
り返す。
【0059】一方、ステップS25において、モニタデ
ータM1 が判定レベル以下の時は、モニタレベルM1 を
測定した時刻nT1 より更に所定時間T2 だけ待つ(ス
テップS27)。そして、所定時間T2 の経過後、つま
り蓄積開始からnT1 +T2経過すると、モニタ信号M
DATAをAD変換し(ステップS28)、その結果を
モニタデータM2 としてRAMに格納する。
【0060】次いで、モニタデータM2 を測定した時刻
nT1 +T2 より更に所定時間T3だけ待機し(ステッ
プS29)、経過したらモニタ信号MDATAをAD変
換して、そのAD変換値をモニタデータM3 としてRA
Mに格納する(ステップS30)。そして、モニタレベ
ルM1 ,M2 間及びモニタレベルM2 ,M3 間の単位時
間当りのモニタレベル変化率を次式(1)(2)により
求める(ステップS31)。
【0061】 m1 =(M1 −M2 )/T2 …(1) m2 =(M2 −M3 )/T3 …(2) 次いで、コントローラCLは、上記m1 とm2 の比であ
るm1 /m2 が所定の範囲内K1 〜K2 にあるか否か判
定する(ステップS32)。ここでは、モニタレベル変
化率の変化、つまりモニタ信号MDATAの時間に対す
る傾きの変化が所定の範囲内に入っているか否かチェッ
クすることにより、蛍光灯等の交流光源により強い影響
を受けているか判定する。
【0062】そして、m1 /m2 が所定の範囲K1 〜K
2 に入っていない場合は、交流光源の影響大と判別し、
ステップS33に進む。このステップS33では、上記
m1とm2 の大小関係をチェックし、モニタ信号MDA
TAの傾き変化が増加傾向にあるか減少傾向にあるかを
判別する。ここで、m1 <m2 の場合はモニタ出力の傾
きが増加傾向にあるので蓄積信号が飽和してしまうのを
防ぐため、蓄積終了時刻を求めるためのモニタ信号MD
ATAの傾きとして最新データm2 を採用する(ステッ
プS34)。そして、蓄積終了時刻を求めるために次式
(3)の計算を行う(ステップS35)。
【0063】Tx =(M3 −M0 )/m …(3) 但し、M0 は蓄積終了とするべき目標のモニタレベルで
あり、TX はモニタレベルM2 測定時刻(nT1 +T2
+T3 )から蓄積終了時刻までの時間である。
【0064】次にコントローラCLは、蓄積終了を実行
するためのタイマの設定を行う(ステップS36)。即
ち、タイマに前記TX をセットして開始させ、また割り
込み処理の許可も行い、リターンする。
【0065】タイマが上記TX をカウントすると、コン
トローラCL内部で割り込み動作を行い、図17に示さ
れるように、AFセンサASの蓄積動作を終了させる
(ステップS80)。また、蓄積終了フラグの設定を行
う。
【0066】ここで、モニタ出力の傾き変化が増加傾向
にある場合、図12に示されるように、従来の方法によ
れば、以下の問題が生ずる。即ち、従来の方法による
と、モニタデータM1 ,M2 より求められるモニタ信号
MDATAの傾きm1 により蓄積終了時刻Ta を求め、
Ta で蓄積終了する。その結果、モニタ信号MDATA
は“0”となってしまうので、蓄積信号の全て又は一部
が飽和してしまう。これに対して、本実施の形態によれ
ば、蓄積信号レベルは、モニタ信号MDATAでMX に
制御されるので飽和することはない。
【0067】一方、上記ステップS33において、m1
≧m2 の場合はモニタ信号MDATAの傾きが減少傾向
にあると判別され、モニタデータM2 測定時刻からさら
に所定時間T4 の経過を待ち(ステップS37)、経過
すると、モニタ信号MDATAをAD変換し、そのAD
変換値をモニタデータM4 としてRAMに格納する(ス
テップS38)。そして、モニタデータM3 ,M4 間の
単位時間当りのモニタレベル変化率を次式(4)にて求
める(ステップS39)。
【0068】 m=(M3 −M4 )/T4 …(4) そして、上記mを用いて蓄積終了時刻TX を次式(5)
により求める(ステップS40)。
【0069】 TX =(M4 −M0 )/m …(5) ここで、モニタ出力の傾きが減少傾向にある場合、図1
3に示されるように、従来の方法によると、モニタデー
タM1 ,M2 より求められるモニタ出力の傾きm1 によ
り蓄積終了時刻を求めるのでTa で蓄積終了することに
なり、その時点でのモニタ信号MDATAはMa となり
蓄積レベルは不十分となってしまう。これに対して、本
実施の形態により、蓄積レベルはモニタ信号MDATA
がMX となり、従って十分な蓄積レベルを得ることがで
きる。
【0070】上記ステップS32において、m1 /m2
がK1 〜K2 の範囲内である時は交流光源の影響を受け
ていないので、モニタ出力の傾きはm1 とm2 の平均値
を採用し(ステップS41)、上記(3)式にて蓄積終
了時刻TX を求め(ステップS42)、TX をタイマに
セットさせた後、タイマの計時を開始させて(ステップ
S36)、リターンする。
【0071】以上述べたように、第1の実施の形態に係
る光電変換装置では、モニタ出力の傾きの変化率が大き
いか否かにより交流光源の影響が大きいか判別し、影響
が大きい場合は蓄積時間の計算方法を変更しているの
で、適正な蓄積信号レベルに制御することが可能であ
る。
【0072】次に第2の実施の形態について説明する。
第2の実施の形態は、先に説明した第1の実施の形態の
図10のステップS13で実行されるサブルーチン“蓄
積制御”の内容が異なるのみである。その他の内容は前
述した第1の実施の形態と同様である為、ここでは説明
を省略する。
【0073】以下、図14のフローチャートを参照し
て、サブルーチン“蓄積制御”のシーケンスを説明す
る。尚、ステップS51〜S58は、図11のステップ
S21〜S28と同一である為、ここでは説明を省略
し、ステップS59から説明する。
【0074】ステップS59では、前述の式(1)によ
るm1 の計算を行い、このモニタ出力の傾きm1 を用い
て所定のモニタレベルMM となると予測される時刻nT
1 +T2 +TY となる時間TY を計算する。そして、こ
の時刻nT1 +T2 +TY となるまで待ち(ステップS
60)、モニタ信号MDATAをAD変換し、得られた
モニタデータM3 をRAMに格納する(ステップS6
1)。
【0075】次いで、時刻nT1 +T2 +TY における
モニタレベルの予測値MM と実際の測定値M3 との差の
絶対値|M3 −MM |を所定の判定値MZ と比較する
(ステップS62)。そして、|M3 −MM |>MZ で
ある場合は、モニタレベルの予測値と測定値の差が大き
いので、交流光源の影響が大きいと判別され、モニタ出
力の傾き変化が増加傾向であるか減少傾向であるかをモ
ニタレベルM3 とMM の比較により判別する(ステップ
S63)。
【0076】ここで、M3 <MM の場合はモニタ出力の
傾き変化が増加傾向と判別され、最新のモニタレベル情
報であるM3 とM2 を用いてモニタ出力の傾きmを式
(6)により求める(ステップS64)(図15参
照)。
【0077】m=(M2 −M3 )/TY …(6) 続いて、このモニタ出力の傾きmを用いて蓄積終了予測
時刻nT1 +T2 +TY +TX となる時間TX を上記
(3)式により求める(ステップS65)。そしてタイ
マにTX をセットし、スタートさせ(ステップS6
6)、リターンする。
【0078】このような制御により、図15に示される
ように、目標レベルM0 に対し、実際にはモニタレベル
MX で蓄積終了し、蓄積信号を飽和させることなく制御
することができる。
【0079】これに対して、上記ステップS63におい
て、M3 ≧MM である場合は、モニタ出力の傾き変化が
減少傾向と判別され、モニタレベルM3 測定からさらに
所定時間T3 が経過するまで待ち(ステップS67)、
モニタ信号MDATAをAD変換し、得られたモニタデ
ータM4 をRAMに格納する(ステップS68)。次
に、コントローラCLは、最新のモニタレベル情報であ
るM4 とM3 を用いてモニタ出力の傾きmを以下の
(7)式により求める(ステップS69)(図16参
照)。
【0080】m=(M3 −M4 )/T3 …(7) さらに、このモニタ出力傾きmを用いて蓄積終了予測時
刻nT1 +T2 +TY+T3 +TX となる時間TX を式
(8)により計算する(ステップS70)。
【0081】TX =(M4 −M0 )/m …(8) そして、タイマに上記TX をセットし、カウントをスタ
ートして(ステップS66)、リターンする。このよう
な制御により,図16に示されるように、目標モニタレ
ベルM0 に対し、実際にはモニタレベルMX で蓄積を終
了するのでほぼ十分な蓄積信号を得ることができる。
【0082】一方、上記ステップS62において、|M
3 −MM |≦MZ の場合はモニタ出力の傾きの変化は小
さく交流光源の影響は少ないので、モニタ出力の傾きと
してm1 を採用する(ステップS71)。そして、下記
の(9)式により蓄積終了予測時刻nT1 +T2 +TY
+TX となる時間TX を計算し(ステップS72)、タ
イマにTX をセットし、カウントをスタートさせ(ステ
ップS66)、リターンする。
【0083】TX =(M2 −M0 )/m …(9) 以上述べたように,第2の実施の形態に係る光電変換装
置では、予測されるモニタ出力レベルと実際のモニタ出
力レベルの差から交流光源の影響の大きさを判別し、蓄
積終了時間を求めるので、蓄積信号レベルが適正になる
ように蓄積制御を行うことができる。
【0084】次に第3の実施の形態について説明する。
第3の実施の形態は、図11のサブルーチン“蓄積制
御”のフローチャートのみを図18に置き換えたもので
あり、その他は第1の実施の形態と同一である為、、こ
こでは同一内容についての説明を省略する。
【0085】以下、図18を参照して、サブルーチン
“蓄積制御”の動作を説明する。尚、図18においてス
テップS100〜S111は図11のフローチャートの
ステップS21〜S32と同一内容である為、ここでは
説明を省略する。
【0086】ステップS111において、モニタ出力の
傾きの比m1 / m2 が所定の判定値K1 〜K2 の範囲内
にない時、即ち交流光源の影響を強く受けている時は、
RAMに格納されている感度データを参照して今回の蓄
積の感度設定をチェックする(ステップS112)。そ
して、高感度であった場合は、CLKをHレベルからL
レベルとすることにより低感度側へ切り換える(ステッ
プS113)。
【0087】続いて、T1 ,T2 ,T3 ,T4 をl倍し
た値に変更し、ステップS100に戻って再度蓄積をや
り直す(ステップS114)。ここで、感度を低感度側
へ切り換えることによる効果を図19に示す。
【0088】図19において、KHは高感度側でのモニ
タ出力の時間変化、KL は同一条件下での低感度側での
モニタ出力の時間変化を示す。但し、高感度と低感度は
約8倍の感度差を有するものとしている。この図19よ
り明らかなように、高感度KH ではモニタ出力の傾き変
化が時間と共に増大していく場合、蓄積信号レベルが適
正となるように蓄積時間を制御するのは前述のように困
難である。
【0089】一方、低感度側KL においては、図19に
示されるように、交流光源の影響は約1/8に軽減され
るので、従来の蓄積制御方法によっても容易に適正な蓄
積信号レベルとなる制御が可能となる。また、感度を低
感度側へ切り換えたことにより、モニタ出力の時間に対
する傾きが減少したことに合わせて、蓄積制御中のモニ
タ出力測定時間をl倍として大きくしている。
【0090】図18のフローチャートの説明に戻る。上
記ステップS112において、今回の蓄積が低感度側に
よるものであればステップS115以降の処理に進む。
ここで、ステップS115〜S121については、図1
1のステップS32〜S40と同一であるので説明を省
略する。
【0091】一方、上記ステップS111において、モ
ニタ出力傾きの比m1 /m2 が所定の判定値K1 〜K2
の範囲内にある時は交流光源の影響は小さいと判断され
てステップS122以降の処理に進む。ステップS12
2〜S124については、図11のステップS41,S
42,S36と同一であるため説明を省略する。
【0092】こうして計算された蓄積終了時間をタイマ
にセットし、カウントを開始した後(ステップS12
4)、リターンする。その後、タイマのカウントが終了
により割り込みを発生し、図20に示すサブルーチン
“蓄積終了割り込み”の処理を行う。
【0093】即ち、同ルーチンでは、先ずENDをHレ
ベルからLレベルとして、AFセンサASの蓄積動作を
終了させる。また、蓄積中フラグをクリア、蓄積終了フ
ラグをセットする(ステップS150)。続いて、AF
センサAS内部で蓄積終了時に保持されているモニタ出
力をADコンバータADCでAD変換して結果ME をR
AMに格納する(ステップS151)。そして、上記モ
ニタ出力ME と所定値Mmin と比較する。ここではモニ
タ出力が飽和しているか否かを判別するためにMmin は
例えば10程度の小さい値とする(ステップS15
2)。
【0094】ここで、ME <Mmin の時は飽和している
と判別し、高感度か否か判別する(ステップS15
3)。そして、高感度の時は低感度側に切り換え(CL
KH→L)(ステップS154)、前述のように蓄積中
のモニタ出力の測定時間をl倍し(ステップS15
5)、蓄積終了フラグをクリアし(ステップS15
6)、リターンする。この場合は、前述のサブルーチン
“AF”にて再度サブルーチン“蓄積制御”を実行し、
低感度側で再蓄積を行う。
【0095】一方、上記ステップS152で、ME ≧M
min の時は、他の処理を行うことなくリターンする。ま
た、ステップS153にて、低感度である時も他の処理
を行うことなくリターンする。この2つの場合は蓄積信
号の飽和はないか、或いは焦点検出に対する影響は小さ
いという判断でこの蓄積信号に基づいて焦点検出を続行
する。
【0096】以上説明したように、第3の実施の形態に
係る光電変換装置では、AFセンサASが高感度側での
蓄積を行う場合に、蓄積中のモニタ出力の変化率の変化
又は蓄積終了後のモニタ出力に基づき交流光源の影響が
大きいと判別すると、低感度側に切り換えて再度蓄積を
やり直すことで、適正な蓄積制御を実現する。
【0097】尚、本発明の上記実施の形態には以下の発
明が含まれる。 (1)被写体からの光束を受光し、光量に応じて発生す
る電荷を蓄積する複数の光電変換素子を有する光電変換
素子列と、上記光電変換素子列に蓄積された電荷量に対
応するモニタ信号を出力するモニタ手段と、上記光電変
換素子列の蓄積開始から所定時間後に上記モニタ信号を
読み出すモニタ信号読み出し手段と、このモニタ信号読
み出し手段の出力を受け、交流光源による光が上記光電
変換素子列に支配的に入射しているかを判定する判定手
段と、読み出されたモニタ信号と、それを読み出した時
刻と、上記判定手段の判定結果とに基づいた所定の演算
式により上記光電変換素子列の適正な蓄積終了時間を予
測する蓄積時間計算手段と、この蓄積時間計算手段から
出力された蓄積終了時間が経過したとき、上記光電変換
素子列の蓄積動作を停止させ、光電変換素子列の出力信
号を読み出す蓄積制御、信号読み出し手段と、を具備す
ることを特徴とする光電変換装置。 (2)上記判定手段は、上記読み出されたモニタ信号の
変化率の変化が所定値より大なる時に、交流光源による
光が上記光電変換素子列に支配的に入射していると判定
することを特徴とする上記(1)に記載の光電変換装
置。 (3)上記判定手段は、上記光電変換素子列の蓄積動作
開始から所定時間後の予測したモニタ信号の値と、実際
のモニタ信号の値との差が所定値よりも大なる時に、交
流光源による光が上記光電変換素子列に支配的に入射し
ていると判定することを特徴とする(1)に記載の光電
変換装置。 (4)被写体からの光束を受光した光量に応じた電荷を
蓄積する、感度切換可能な複数の光電変換素子列を有す
る光電変換手段と、この光電変換手段の感度を切換える
感度切換手段と、この光電変換手段に蓄積された電荷量
に対応するモニタ信号を出力するモニタ手段と、上記光
電変換手段の蓄積動作開始から所定時間後に上記モニタ
信号を読み出すモニタ信号読み出し手段と、このモニタ
信号読み出し手段の出力を受け、交流光源による光が上
記光電変換素子列に支配的に入射しているか判定する判
定手段と、読み出されたモニタ信号と、それを読み出し
た時刻とに基づいて、上記光電変換手段の適正蓄積終了
時間を予測する蓄積時間計算手段と、この蓄積時間計算
手段から出力された蓄積終了時間が経過したとき、上記
光電変換素子列の蓄積動作を停止させ、光電変換素子列
の出力信号を読み出す蓄積制御、信号読み出し手段と、
を具備し、上記判定手段によって、交流光源による光が
上記光電変換素子列に支配的に入射していると判定され
るとき、上記感度切換手段により上記光電変換手段の感
度を下げることを特徴とする光電変換装置。
【0098】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
交流光源下においても適正な光電変換素子列の蓄積制御
を行うことで、良好な像信号を得ることを可能とし、焦
点検出が不能となったり焦点検出精度が劣化することを
防止し、高精度な焦点検出を行うことを可能とする光電
変換装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光電変換装置の第1の概念図である。
【図2】本発明の光電変換装置の第2の概念図である。
【図3】第1の実施の形態に係る光電変換装置が搭載さ
れたカメラの断面図である。
【図4】図3のカメラの焦点検出光学系の構成を示す図
である。
【図5】図3のカメラの電気制御系の構成を示すブロッ
ク図である。
【図6】AFセンサAS及びコントローラCLの動作を
示すタイムチャートである。
【図7】AFセンサASのフォトダイオードアレイPD
AL,PDAR及び画素増幅回路EACの詳細な構成を
示す図である。
【図8】画素増幅回路EAC内部の動作を示すタイムチ
ャートである。
【図9】コントローラCLの制御によるカメラの主動作
を示すフローチャートである。
【図10】図9のステップS3で実行されるサブルーチ
ン”AF”の動作を示すフローチャートである。
【図11】図10の上記ステップS13で実行されるサ
ブルーチン“蓄積制御”の動作を示すフローチャートで
ある。
【図12】モニタ信号MDATAの傾きが増加傾向にあ
る場合の蓄積終了時刻の算出方法を説明するための図で
ある。
【図13】モニタ信号MDATAの傾きが減少傾向にあ
る場合の蓄積終了時刻の算出方法を説明するための図で
ある。
【図14】第2の実施の形態におけるサブルーチン“蓄
積制御”のシーケンスを示すフローチャートである。
【図15】モニタ信号MDATAの傾きが増加傾向にあ
る場合の蓄積終了時刻の算出方法を説明するための図で
ある。
【図16】モニタ信号MDATAの傾きが減少傾向にあ
る場合の蓄積終了時刻の算出方法を説明するための図で
ある。
【図17】光電変換素子の電荷の蓄積終了の割り込み処
理を示すフローチャートである。
【図18】第3の実施の形態によるサブルーチン“蓄積
制御”の動作を示すフローチャートである。
【図19】感度を低感度側へ切り換えることによる効果
を示す図である。
【図20】サブルーチン“蓄積終了割り込み”の動作を
示すフローチャートである。
【図21】従来技術に係る光電変換装置の光電変換手段
の蓄積時間とモニタ信号との関係を示す図である。
【図22】交流光源下で従来の蓄積制御方法を行った場
合の交流光源の輝度変化とモニタ出力の変化の例を示す
図である。
【図23】交流光源下で従来の蓄積制御方法を行った場
合の交流光源の輝度変化とモニタ出力の変化の例を示す
図である。
【図24】AD変換器の入力範囲と光電変換素子列の蓄
積信号の関係を示す図である。
【符号の説明】
1 光電変換素子列 2 モニタ部 3 モニタ読み出し部 4 蓄積時間計算部 5 蓄積制御信号読み出し部 6 判定部 7 感度切換部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 受光面に入射する光量に応じて発生する
    電荷を蓄積して光電変換信号を出力する光電変換素子
    と、 上記光電変換素子の電荷蓄積量に対応するモニタ信号を
    出力するモニタ手段と、 上記光電変換素子の蓄積動作開始後の第1の時間経過後
    にモニタ信号レベルを読み出し、上記第1の時間よりも
    長い第2の時間経過後のモニタ信号レベルを予測すると
    共に、その第2の時間経過後に実際のモニタ信号レベル
    を読み出し、上記第2の時間経過後の予測したモニタ信
    号レベルと実際のモニタ信号レベルとを比較し、上記光
    電変換信号が飽和せず且つ十分なダイナミックレンジが
    得られるように、上記光電変換素子の蓄積動作停止時間
    を所定の演算式によって予測する予測手段と、 この予測した蓄積動作停止時間が経過したとき、上記光
    電変換素子の蓄積動作を停止させる蓄積制御手段と、を
    具備することを特徴とする光電変換装置。
  2. 【請求項2】 上記予測手段は、上記第2の時間経過後
    における予測モニタ信号レベルと、実測したモニタ信号
    レベルとの差の絶対値が所定値よりも大きいときに、上
    記所定の演算式を変更することを特徴とする光電変換装
    置。
  3. 【請求項3】 受光感度切換可能で、受光面に入射する
    光量に応じて発生する電荷を蓄積して光電変換信号を出
    力する光電変換素子と、 この光電変換素子の受光感度を切換える感度切換手段
    と、 上記光電変換素子の電荷蓄積量に対応するモニタ信号を
    出力するモニタ手段と、 上記光電変換素子の蓄積動作開始後の第1の時間経過後
    にモニタ信号レベルを読み出し、上記第1の時間よりも
    長い第2の時間経過後のモニタ信号レベルを予測すると
    共に、その第2の時間経過後に実際のモニタ信号レベル
    を読み出し、上記第2の時間経過後の予測したモニタ信
    号レベルと実際のモニタ信号レベルとを比較する比較手
    段と、上記光電変換素子の蓄積動作停止時間を所定の演
    算式によって予測する予測手段と、 この予測した蓄積動作停止時間が経過したとき、上記光
    電変換素子の蓄積動作を停止させる蓄積制御手段と、を
    具備し、上記比較手段は、上記第2の時間経過後におけ
    る予測モニタ信号レベルと実測したモニタ信号レベルと
    の差の絶対値が所定値よりも大きいときに上記感度切換
    手段に低感度側に切り換えさせるとともに再度蓄積動作
    をやり直すことを特徴とする光電変換装置。
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JPWO2009147908A1 (ja) * 2008-06-06 2011-10-27 コニカミノルタセンシング株式会社 光測定装置、光測定方法、およびプログラム
JP2012042759A (ja) * 2010-08-19 2012-03-01 Hoya Corp 合焦画像確認装置

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