JPH10197337A

JPH10197337A - Photoelectric conversion apparatus

Info

Publication number: JPH10197337A
Application number: JP207397A
Authority: JP
Inventors: Masataka Ide; 昌孝井出
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1997-01-09
Filing date: 1997-01-09
Publication date: 1998-07-31

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a good image even by means of an AC light source and to detect a focus with high accuracy by changing a computing equation when the absolute value of the difference between an estimated monitoring signal level and a measured monitoring signal level is larger than a prescribed value. SOLUTION: A luminous flux from a subject is received by a photoelectric transducer away 1, an electric charge according to a quantity of incident light is accumulated, and a monitoring signal according to the accumulated amount of the electric charge is output to a monitoring-signal readout part 3 by a monitoring part 2. The readout part 3 reads out a monitoring signal level after the passage of a first time after the start of an accumulation operation, it estimates a monitoring signal level after the passage of a second longer time, and it reads out a measured monitoring signal level after the passage of the second time so as to be compared with an estimated monitoring signal level. When the absolute value of the difference between the estimated monitoring signal level and the measured monitoring signal level is larger than a prescribed value, a prescribed computing expression is changed. That is to say, an accumulated-time computing part 4 computes an accumulated time by a computing method which is different from an ordinary computing method.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばカメラ等の
撮像装置に用いられる焦点検出装置の信号蓄積動作を最
適に制御する為の光電変換装置に関するものである。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a photoelectric conversion device for optimally controlling a signal accumulation operation of a focus detection device used for an imaging device such as a camera.

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来より、カメラ等に用いられる焦点検
出装置の光電変換された信号を蓄積するための種々の技
術が提案されている。例えば、本出願人による特開平７
−９８４２８号公報によれば、光電変換手段の蓄積動作
開始後、その受光量に応じたモニタ信号を所定時間後に
読み出し、これにより蓄積終了時間を決定して、蓄積時
間を制御する「光電変換装置」に関する技術が開示され
ている。2. Description of the Related Art Conventionally, various techniques have been proposed for accumulating photoelectrically converted signals of a focus detection device used in a camera or the like. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No.
According to Japanese Patent Application Laid-Open No. 98428/98, after a storage operation of a photoelectric conversion unit is started, a monitor signal corresponding to the amount of received light is read out after a predetermined time, thereby determining a storage end time and controlling the storage time. The technology relating to "is disclosed.

【０００３】この従来技術に係る光電変換装置の光電変
換手段の蓄積時間とモニタ信号との関係は図２１に示さ
れる通りである。同図に示されるように、一定輝度下で
は光電変換手段の蓄積開始後、モニタ信号が一定の変化
率で変化していく。上記従来技術では、この点に着目
し、時間ｔ1 でのモニタ出力の読み出し値Ｖ1 と蓄積開
始時モニタ信号出力値Ｖ0 及び目標モニタ信号値Ｖ2 と
から、ｔ2 ＝（Ｖ2 −Ｖ0 ）／（Ｖ1 −Ｖ0 ）・ｔ1 …（１０）として蓄積終了時間ｔ2 を計算している。そして、この
算出した蓄積終了時間ｔ2 となったところで、上記光電
変換手段の蓄積を終了させることで、当該光電変換手段
の信号蓄積を最適に制御している。The relationship between the accumulation time of the photoelectric conversion means of the photoelectric conversion device according to the prior art and the monitor signal is as shown in FIG. As shown in the figure, under a constant luminance, the monitor signal changes at a constant change rate after the accumulation of the photoelectric conversion means starts. In the above prior art, focusing on this point, t2 = (V2−V0) / (V1−) from the readout value V1 of the monitor output at time t1 and the monitor signal output value V0 at the start of accumulation and the target monitor signal value V2. V0) .t1 (10) and the accumulation end time t2 is calculated. Then, when the calculated accumulation ending time t2 is reached, the accumulation of the photoelectric conversion means is terminated, thereby optimally controlling the signal accumulation of the photoelectric conversion means.

【０００４】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記
（１０）式による蓄積終了時間ｔ2 の予測は、一定輝度
下における蓄積動作を前提としている。よって、交流的
に輝度が変化する光源、例えば蛍光灯等の人工照明下で
は、次のような問題が発生している。However, the estimation of the accumulation end time t2 according to the above equation (10) is based on the assumption that the accumulation operation is performed under a constant luminance. Therefore, the following problem occurs under a light source whose luminance changes in an alternating manner, for example, under artificial lighting such as a fluorescent lamp.

【０００５】以下、図２２，２３には、交流光源下で従
来の蓄積制御方法を行った場合の交流光源の輝度変化と
モニタ出力の変化の関係を示し、上記問題を説明する。
先ず、図２２（ａ）に示されるような交流光源の輝度変
化のタイミングで光電変換素子列の蓄積を開始した場合
については、図２２（ｂ）に示されるように、モニタ出
力の変化率が蓄積開始より徐々に大きくなる。従って、
上記（１０）式に基づいて蓄積制御を行うとモニタ出力
は蓄積終了時間ｔ2 以前に“０”になり飽和してしま
う。このような蓄積動作がなされた場合の光電変換素子
列の蓄積信号は、適正な場合（図２４（ａ）参照）に比
して、図２４（ｂ）に示されるようになる。即ち、光電
変換素子列の蓄積信号が、後段の例えばＡＤ変換器のよ
うな処理回路の入力範囲を越えてしまい、焦点検出不能
となってしまう。FIGS. 22 and 23 show the relationship between a change in the luminance of the AC light source and a change in the monitor output when the conventional accumulation control method is performed under the AC light source, and the above problem will be described.
First, when the accumulation of the photoelectric conversion element array is started at the timing of the luminance change of the AC light source as shown in FIG. 22A, as shown in FIG. It gradually increases from the start of accumulation. Therefore,
When the accumulation control is performed based on the above equation (10), the monitor output becomes "0" before the accumulation end time t2 and becomes saturated. The storage signal of the photoelectric conversion element row when such a storage operation is performed is as shown in FIG. 24B as compared with a proper case (see FIG. 24A). That is, the accumulated signal of the photoelectric conversion element row exceeds the input range of a processing circuit such as an AD converter at the subsequent stage, and focus detection becomes impossible.

【０００６】一方、図２３（ａ）に示すような交流光源
の輝度変化のタイミングで光電変換素子列の蓄積を開始
した場合については、図２３（ｂ）に示されるように、
モニタ出力の変化率は蓄積開始より徐々に小さくなる。
従って、上記（１０）式に基づいて蓄積制御を行うと、
モニタ出力は適正なレベルＶ2 よりも蓄積レベルとして
は少ないレベルＶ2 ′で蓄積を終了してしまうことにな
る。このような蓄積動作がなされた場合の光電変換素子
列の蓄積信号は、図２４（ｃ）に示されるように、コン
トラストが小さくなってしまうので、焦点検出が不能と
なったり、焦点検出精度が劣化してしまう。On the other hand, when the accumulation of the photoelectric conversion element array is started at the timing of the luminance change of the AC light source as shown in FIG. 23A, as shown in FIG.
The rate of change of the monitor output gradually decreases from the start of accumulation.
Therefore, when accumulation control is performed based on the above equation (10),
The accumulation of the monitor output ends at the level V2 'which is smaller than the proper level V2. As shown in FIG. 24 (c), the accumulation signal of the photoelectric conversion element array in the case where such an accumulation operation is performed has a low contrast, so that focus detection becomes impossible or the focus detection accuracy becomes low. Will deteriorate.

【０００７】本発明は、上記問題に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、交流光源下において
も適正な光電変換素子列の蓄積制御を行うことで、良好
な像信号を得ることを可能とし、焦点検出が不能となっ
たり焦点検出精度が劣化することを防止し、高精度な焦
点検出を行うことを可能とすることにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to obtain a good image signal by performing proper accumulation control of a photoelectric conversion element array even under an AC light source. It is therefore possible to prevent the focus detection from being disabled or the focus detection accuracy from deteriorating, and to enable highly accurate focus detection.

【０００８】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第１の態様による光電変換装置は、受光面
に入射する光量に応じて発生する電荷を蓄積して光電変
換信号を出力する光電変換素子と、上記光電変換素子の
電荷蓄積量に対応するモニタ信号を出力するモニタ手段
と、上記光電変換素子の蓄積動作開始後の第１の時間経
過後にモニタ信号レベルを読み出し、上記第１の時間よ
りも長い第２の時間経過後のモニタ信号レベルを予測す
ると共に、その第２の時間経過後に実際のモニタ信号レ
ベルを読み出し、上記第２の時間経過後の予測したモニ
タ信号レベルと実際のモニタ信号レベルとを比較し、上
記光電変換信号が飽和せず且つ十分なダイナミックレン
ジが得られるように、上記光電変換素子の蓄積動作停止
時間を所定の演算式によって予測する予測手段と、この
予測した蓄積動作停止時間が経過したとき、上記光電変
換素子の蓄積動作を停止させる蓄積制御手段とを具備す
ることを特徴とする。In order to achieve the above object, a photoelectric conversion device according to a first aspect of the present invention accumulates charges generated according to the amount of light incident on a light receiving surface and converts a photoelectric conversion signal. A photoelectric conversion element for outputting, a monitor means for outputting a monitor signal corresponding to the charge storage amount of the photoelectric conversion element, and a monitor signal level read out after a first time has elapsed after the start of the accumulation operation of the photoelectric conversion element, A monitor signal level after a lapse of a second time longer than the first time is predicted, and an actual monitor signal level is read after the lapse of the second time, and the predicted monitor signal level after the lapse of the second time And the actual monitor signal level. The accumulation operation stop time of the photoelectric conversion element is calculated by a predetermined calculation so that the photoelectric conversion signal is not saturated and a sufficient dynamic range is obtained. Prediction means for predicting by, when the accumulation operation stop time and the predicted elapsed, characterized by comprising a storage control means for stopping the accumulation operation of the photoelectric conversion element.

【０００９】第２の態様による光電変換装置は、上記予
測手段は、上記第２の時間経過後における予測モニタ信
号レベルと、実測したモニタ信号レベルとの差の絶対値
が所定値よりも大きいときに、上記所定の演算式を変更
することを特徴とする。[0009] In the photoelectric conversion device according to a second aspect, the predicting means is configured such that when the absolute value of the difference between the predicted monitor signal level after the lapse of the second time and the actually measured monitor signal level is larger than a predetermined value. Further, the above-mentioned predetermined arithmetic expression is changed.

【００１０】さらに、第３の態様による光電変換装置
は、受光感度切換可能で、受光面に入射する光量に応じ
て発生する電荷を蓄積して光電変換信号を出力する光電
変換素子と、この光電変換素子の受光感度を切換える感
度切換手段と、上記光電変換素子の電荷蓄積量に対応す
るモニタ信号を出力するモニタ手段と、上記光電変換素
子の蓄積動作開始後の第１の時間経過後にモニタ信号レ
ベルを読み出し、上記第１の時間よりも長い第２の時間
経過後のモニタ信号レベルを予測すると共に、その第２
の時間経過後に実際のモニタ信号レベルを読み出し、上
記第２の時間経過後の予測したモニタ信号レベルと実際
のモニタ信号レベルとを比較する比較手段と、上記光電
変換素子の蓄積動作停止時間を所定の演算式によって予
測する予測手段と、この予測した蓄積動作停止時間が経
過したとき、上記光電変換素子の蓄積動作を停止させる
蓄積制御手段とを具備し、上記比較手段は、上記第２の
時間経過後における予測モニタ信号レベルと実測したモ
ニタ信号レベルとの差の絶対値が所定値よりも大きいと
きに上記感度切換手段に低感度側に切り換えさせるとと
もに再度蓄積動作をやり直すことを特徴とする。Further, the photoelectric conversion device according to the third aspect is a photoelectric conversion device capable of switching light-receiving sensitivity, accumulating charges generated according to the amount of light incident on the light-receiving surface, and outputting a photoelectric conversion signal, and a photoelectric conversion element. Sensitivity switching means for switching the light receiving sensitivity of the conversion element, monitoring means for outputting a monitor signal corresponding to the amount of charge stored in the photoelectric conversion element, and monitor signal after a lapse of a first time after the start of the accumulation operation of the photoelectric conversion element The monitor signal level after a second time longer than the first time is read out, and the second
Comparing means for reading the actual monitor signal level after the elapse of the second time and comparing the predicted monitor signal level after the elapse of the second time with the actual monitor signal level; And an accumulation control unit that stops the accumulation operation of the photoelectric conversion element when the estimated accumulation operation stop time has elapsed, and the comparison unit performs the second time operation. When the absolute value of the difference between the predicted monitor signal level after the elapse and the actually measured monitor signal level is larger than a predetermined value, the sensitivity switching means is switched to the lower sensitivity side and the accumulation operation is performed again.

【００１１】即ち、本発明の第１の態様による光電変換
装置では、光電変換素子により、受光面に入射する光量
に応じて発生する電荷が蓄積されて光電変換信号が出力
され、モニタ手段により、上記光電変換素子の電荷蓄積
量に対応するモニタ信号が出力され、予測手段により、
上記光電変換素子の蓄積動作開始後の第１の時間経過後
にモニタ信号レベルが読み出され、上記第１の時間より
も長い第２の時間経過後のモニタ信号レベルが予測され
ると共に、その第２の時間経過後に実際のモニタ信号レ
ベルが読み出され、上記第２の時間経過後の予測したモ
ニタ信号レベルと実際のモニタ信号レベルとが比較さ
れ、上記光電変換信号が飽和せず且つ十分なダイナミッ
クレンジが得られるように、上記光電変換素子の蓄積動
作停止時間が所定の演算式によって予測され、蓄積制御
手段により、この予測した蓄積動作停止時間が経過した
とき、上記光電変換素子の蓄積動作が停止される。That is, in the photoelectric conversion device according to the first aspect of the present invention, the photoelectric conversion element accumulates charges generated in accordance with the amount of light incident on the light receiving surface and outputs a photoelectric conversion signal. A monitor signal corresponding to the amount of charge stored in the photoelectric conversion element is output.
A monitor signal level is read out after a lapse of a first time after the start of the accumulation operation of the photoelectric conversion element, and a monitor signal level after a lapse of a second time longer than the first time is predicted. 2, the actual monitor signal level is read out after the lapse of the second time, and the predicted monitor signal level after the lapse of the second time is compared with the actual monitor signal level. The storage operation stop time of the photoelectric conversion element is predicted by a predetermined arithmetic expression so that a dynamic range can be obtained. When the predicted storage operation stop time elapses, the storage operation of the photoelectric conversion element is performed by the storage control means. Is stopped.

【００１２】そして、第２の態様による光電変換装置で
は、上記予測手段により、上記第２の時間経過後におけ
る予測モニタ信号レベルと、実測したモニタ信号レベル
との差の絶対値が所定値よりも大きいときに、上記所定
の演算式が変更される。In the photoelectric conversion device according to the second aspect, the predicting means makes the absolute value of the difference between the predicted monitor signal level after the lapse of the second time and the actually measured monitor signal level larger than a predetermined value. When it is larger, the above-mentioned predetermined arithmetic expression is changed.

【００１３】さらに、第３の態様による光電変換装置で
は、光電変換素子により、受光感度切換可能で、受光面
に入射する光量に応じて発生する電荷が蓄積されて光電
変換信号が出力され、感度切換手段により、この光電変
換素子の受光感度が切換えられ、モニタ手段により、上
記光電変換素子の電荷蓄積量に対応するモニタ信号が出
力され、比較手段により、上記光電変換素子の蓄積動作
開始後の第１の時間経過後にモニタ信号レベルが読み出
され、上記第１の時間よりも長い第２の時間経過後のモ
ニタ信号レベルが予測され、その第２の時間経過後に実
際のモニタ信号レベルが読み出され、上記第２の時間経
過後の予測したモニタ信号レベルと実際のモニタ信号レ
ベルとが比較され、予測手段により、上記光電変換素子
の蓄積動作停止時間が所定の演算式によって予測され、
蓄積制御手段により、この予測した蓄積動作停止時間が
経過したとき、上記光電変換素子の蓄積動作が停止さ
れ、上記比較手段により、上記第２の時間経過後におけ
る予測モニタ信号レベルと実測したモニタ信号レベルと
の差の絶対値が所定値よりも大きいときに上記感度切換
手段が低感度側に切り換えられ、再度蓄積動作がやり直
される。Further, in the photoelectric conversion device according to the third aspect, the light receiving sensitivity can be switched by the photoelectric conversion element, the charge generated according to the amount of light incident on the light receiving surface is accumulated, and the photoelectric conversion signal is output, and the sensitivity is output. The switching means switches the light receiving sensitivity of the photoelectric conversion element, the monitor means outputs a monitor signal corresponding to the charge accumulation amount of the photoelectric conversion element, and the comparison means outputs the monitor signal after the start of the accumulation operation of the photoelectric conversion element. The monitor signal level is read out after the first time has elapsed, the monitor signal level after the second time has elapsed is longer than the first time, and the actual monitor signal level is read out after the second time has elapsed. And the predicted monitor signal level after the second time has elapsed is compared with the actual monitor signal level. There is predicted by a predetermined arithmetic expression,
The accumulation control means stops the accumulation operation of the photoelectric conversion element when the estimated accumulation operation stop time elapses, and the comparison means compares the predicted monitor signal level after the elapse of the second time with the actually measured monitor signal. When the absolute value of the difference from the level is larger than a predetermined value, the sensitivity switching means is switched to the low sensitivity side, and the accumulation operation is performed again.

【００１４】[0014]

【発明の実施の形態】先ず、図面を参照して、本発明の
基本概念を説明する。図１は本発明の光電変換装置の第
１の概念図である。同図に示されるように、被写体から
の光束を受光して入射光量に応じた電荷を蓄積する複数
の光電変換素子を有する光電変換素子列１の出力は、当
該光電変換素子列１の電荷蓄積中の受光量に応じたモニ
タ信号を出力するモニタ部２の入力に接続されており、
当該モニタ部２の出力は、上記光電変換素子列１の蓄積
開始から所定時間後に上記モニタ部２のモニタ信号を読
み出すモニタ読み出し部３の入力に接続されている。そ
して、このモニタ読み出し部３の出力は、当該モニタ読
み出し部３の読み出したモニタ信号に基づき交流光源に
よる影響を大きく受けているか否か判定する判定部６の
入力に接続されており、当該判定部６及び上記モニタ読
み出し部３の出力は、上記モニタ信号読み出し部３によ
り読み出されたモニタ信号と当該モニタ信号を読み出し
た時刻とに基づいて蓄積終了時間を計算する蓄積時間計
算部４の入力に接続されている。この蓄積時間計算部４
の出力は、この蓄積時間計算部４により計算された蓄積
終了時間で上記光電変換素子列１の蓄積を終了させ光電
変換素子列１の信号を読み出す蓄積制御、信号読み出し
部５の入力に接続されており、当該蓄積制御、信号読み
出し部５は、上記光電変換素子列１と相互に接続されて
いる。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the basic concept of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a first conceptual diagram of the photoelectric conversion device of the present invention. As shown in the figure, the output of a photoelectric conversion element array 1 having a plurality of photoelectric conversion elements that receive a light beam from a subject and accumulate electric charges according to the amount of incident light is the charge accumulation of the photoelectric conversion element array 1. It is connected to the input of the monitor unit 2 that outputs a monitor signal according to the amount of light received inside,
The output of the monitor unit 2 is connected to an input of a monitor read unit 3 that reads out a monitor signal of the monitor unit 2 after a predetermined time from the start of accumulation of the photoelectric conversion element array 1. The output of the monitor reading unit 3 is connected to an input of a determining unit 6 for determining whether or not the monitor reading unit 3 is greatly influenced by the AC light source based on the monitor signal read by the monitoring reading unit 3. 6 and the output of the monitor read section 3 are input to an accumulation time calculation section 4 for calculating an accumulation end time based on the monitor signal read by the monitor signal read section 3 and the time at which the monitor signal was read. It is connected. This accumulation time calculator 4
Is connected to an input of a storage control and signal reading unit 5 for terminating the accumulation of the photoelectric conversion element array 1 at the accumulation end time calculated by the accumulation time calculation unit 4 and reading out the signal of the photoelectric conversion element array 1. The storage control and signal reading unit 5 is mutually connected to the photoelectric conversion element array 1.

【００１５】このような構成において、被写体からの光
束は光電変換素子列１により受光され、入射光量に応じ
た電荷が蓄積される。そして、モニタ部２により上記光
電変換素子列１の電荷蓄積量に応じたモニタ信号が、後
段のモニタ読み出し部３に出力される。このモニタ信号
読み出し部３は、上記モニタ部２の出力するモニタ信号
を上記光電変換素子列１の蓄積開始から所定時間後に読
み出し、後段の蓄積時間計算部４と判定部６に出力す
る。そして、蓄積時間計算部４により、上記モニタ読み
出し部３により読み出された複数のモニタ信号と当該モ
ニタ信号が読み出された時刻とに基づいて、上記光電変
換素子列１の蓄積終了時間が計算され、後段の蓄積制
御、信号読み出し部５に出力される。次いで、蓄積制
御、信号読み出し部５により、上記蓄積終了時間計算部
４により計算された蓄積終了時間に基づいて上記光電変
換素子列１の蓄積が終了され、その後、上記光電変換素
子列１で蓄積された信号が読み出される。上記判定部６
により、上記モニタ読み出し信号３により読み出された
モニタ信号に基づいて、交流光源の影響が大きいか否か
が判定される。そして、交流光源の影響が大きいと判定
された場合には、蓄積時間計算部４により通常の計算方
法である第１の計算方法とは異なる第２の計算方法によ
り蓄積時間が計算される。In such a configuration, a light beam from a subject is received by the photoelectric conversion element array 1 and charges corresponding to the amount of incident light are accumulated. Then, a monitor signal corresponding to the charge accumulation amount of the photoelectric conversion element array 1 is output from the monitor unit 2 to the monitor reading unit 3 at the subsequent stage. The monitor signal reading section 3 reads the monitor signal output from the monitor section 2 a predetermined time after the start of accumulation of the photoelectric conversion element array 1 and outputs the monitor signal to the accumulation time calculation section 4 and the determination section 6 at the subsequent stage. Then, the accumulation time calculation unit 4 calculates the accumulation end time of the photoelectric conversion element array 1 based on the plurality of monitor signals read by the monitor reading unit 3 and the time at which the monitor signals are read. Then, the signal is output to the accumulation control and signal readout unit 5 in the subsequent stage. Next, the accumulation of the photoelectric conversion element array 1 is terminated by the accumulation control and signal reading section 5 based on the accumulation end time calculated by the accumulation end time calculation section 4, and thereafter, the accumulation is performed by the photoelectric conversion element array 1. The read signal is read. The above judgment section 6
Thus, it is determined whether or not the influence of the AC light source is large based on the monitor signal read by the monitor read signal 3. Then, when it is determined that the influence of the AC light source is large, the accumulation time is calculated by the accumulation time calculation unit 4 by a second calculation method different from the first calculation method which is a normal calculation method.

【００１６】次に図２は本発明の光電変換装置の第２の
概念図である。同図に示されるように、被写体からの光
束を受光して入射光量に応じた電荷を蓄積する複数の光
電変換素子を有する光電変換部１の出力は、この光電変
換部１の電荷蓄積中の受光量に応じたモニタ信号を出力
するモニタ部２の入力に接続されており、当該モニタ部
２の出力は、上記光電変換部１の蓄積開始から所定時間
後に上記モニタ部２のモニタ信号を読み出すモニタ読み
出し部３の入力に接続されている。そして、このモニタ
信号読み出し部３の出力は、当該モニタ信号読み出し部
３により読み出されたモニタ信号と、このモニタ信号を
読み出した時刻とに基づいて蓄積終了時間を計算する蓄
積時間計算部４と、上記モニタ読み出し部３の読み出し
たモニタ信号に基づき、交流光源による影響を大きく受
けているか否かを判定する判定部６の入力に接続されて
いる。この蓄積時間計算部４の出力は、当該蓄積時間計
算部４により計算された蓄積終了時間で上記光電変換部
１の蓄積を終了させて光電変換部１の信号を読み出す蓄
積制御、信号読み出し部５の入力に接続されており、当
該蓄積制御、信号読み出し部５の出力は、上記光電変換
部１の入力に接続されている。上記判定部６の出力は、
上記光電変換部１の感度を切換える感度切換え部７の入
力に接続されており、当該感度切換え部７の出力は光電
変換部１の入力に接続されている。FIG. 2 is a second conceptual diagram of the photoelectric conversion device of the present invention. As shown in the figure, the output of the photoelectric conversion unit 1 having a plurality of photoelectric conversion elements that receive a light beam from a subject and accumulate charges according to the amount of incident light is output during the charge accumulation of the photoelectric conversion unit 1. The output of the monitor 2 is connected to an input of a monitor 2 that outputs a monitor signal corresponding to the amount of received light, and the output of the monitor 2 reads out the monitor signal of the monitor 2 after a predetermined time from the start of accumulation of the photoelectric converter 1. It is connected to the input of the monitor readout unit 3. The output of the monitor signal readout unit 3 includes an accumulation time calculation unit 4 that calculates an accumulation end time based on the monitor signal read by the monitor signal readout unit 3 and the time when the monitor signal was read out. , Is connected to an input of a determination unit 6 for determining whether or not it is greatly affected by the AC light source based on the monitor signal read by the monitor read unit 3. The output of the accumulation time calculation unit 4 is a storage control and signal readout unit 5 for terminating the accumulation of the photoelectric conversion unit 1 and reading out the signal of the photoelectric conversion unit 1 at the accumulation end time calculated by the accumulation time calculation unit 4. , And the output of the accumulation control and signal readout unit 5 is connected to the input of the photoelectric conversion unit 1. The output of the determination unit 6 is
The output of the sensitivity switching unit 7 is connected to the input of the photoelectric conversion unit 1, and the output of the sensitivity switching unit 7 is connected to the input of the photoelectric conversion unit 1.

【００１７】このような構成において、上記判定部６に
より交流光源の影響が大きいと判定された場合に、上記
感度切換え部７により光電変換部１の感度が低感度側に
切り換えられる。そして、蓄積制御、信号読み出し部５
は、光電変換部１に再度電荷の蓄積をやり直しさせる。
その他の構成要素による作用については、図１と同一で
あるため、ここでは説明を省略する。In such a configuration, when the determination section 6 determines that the influence of the AC light source is large, the sensitivity switching section 7 switches the sensitivity of the photoelectric conversion section 1 to a low sensitivity side. Then, the accumulation control and signal reading unit 5
Causes the photoelectric conversion unit 1 to store charge again.
The operation of the other components is the same as that of FIG. 1, and the description thereof is omitted here.

【００１８】以下、図面を参照して、上記概念を更に具
現化した実施の形態を説明する。先ず図３は第１の実施
の形態に係る光電変換装置が搭載されたカメラの断面図
である。同図に示されるように、カメラボディＢの所定
位置は撮影レンズＬが配設されており、被写体からの光
束の当該撮影レンズＬを介した光束の光路上には、メイ
ンミラーＭＭ，サブミラーＳＭが配設されている。この
メインミラーＭＭとしてはダイクロイックミラーなどが
採用される。そして、当該サブミラーＳＭの反射光の光
路上には、本発明の焦点検出装置ＦＤが配設されてい
る。この焦点検出装置ＦＤ内においては、上記サブミラ
ーＳＭでの反射光の光路上に視野マスクＳ、コンデンサ
レンズＣ、全反射ミラーＺＭ、セパレータ絞りＫ、セパ
レータレンズＨ、ＡＦセンサＡＳがそれぞれ配設されて
いる。このＡＦセンサＡＳは、光電変換素子列Ｐとその
処理回路とで構成されている。この他、カメラボディＢ
は、その上方にファインダＦＬを有している。Hereinafter, an embodiment which further embodies the above concept will be described with reference to the drawings. First, FIG. 3 is a cross-sectional view of a camera on which the photoelectric conversion device according to the first embodiment is mounted. As shown in the figure, a photographing lens L is provided at a predetermined position of the camera body B, and a main mirror MM and a sub-mirror SM are provided on the optical path of the light beam from the subject through the photographing lens L. Are arranged. A dichroic mirror or the like is used as the main mirror MM. The focus detection device FD of the present invention is provided on the optical path of the reflected light of the sub mirror SM. In the focus detection device FD, a field mask S, a condenser lens C, a total reflection mirror ZM, a separator aperture K, a separator lens H, and an AF sensor AS are provided on the optical path of the light reflected by the sub-mirror SM. I have. The AF sensor AS includes a photoelectric conversion element array P and a processing circuit thereof. In addition, camera body B
Has a finder FL above it.

【００１９】このような構成において、被写体からの光
束は、撮影レンズＬを通過し、メインミラーＭＭでファ
インダＦＬ側に反射されると共に透過し、サブミラーＳ
ＭにてカメラボディＢ下方に全反射され、焦点検出装置
ＦＤ内に導かれる。In such a configuration, the light beam from the subject passes through the photographing lens L, is reflected by the main mirror MM to the finder FL side, and is transmitted therethrough.
At M, the light is totally reflected below the camera body B and guided into the focus detection device FD.

【００２０】この焦点検出装置ＦＤ内では、上記光束
は、視野マスクＳにより絞り込まれ、赤外カットフィル
タＳＦにより赤外光がカットされ、コンデンサレンズＣ
により集光された後、全反射ミラーＺＭにより全反射さ
れる。さらに、この光束は、セパレータ絞りＫにより制
限された後、セパータレンズＨにより再結像され、ＡＦ
センサＡＳの光電変換素子列Ｐに受光され光電変換され
た後、処理回路により所定の処理がなされる。In the focus detection device FD, the light beam is narrowed down by the field mask S, the infrared light is cut by the infrared cut filter SF, and the condenser lens C
, And is totally reflected by the total reflection mirror ZM. Further, after this light beam is restricted by the separator aperture K, it is re-imaged by the separator lens H,
After the light is received by the photoelectric conversion element array P of the sensor AS and photoelectrically converted, predetermined processing is performed by the processing circuit.

【００２１】次に図４には上記被写体からの光束をＡＦ
センサＡＳ内の光電変換素子列Ｐに導く焦点検出光学系
の構成を更に詳細に示し説明する。同図において、Ｌは
撮影レンズ、Ｓは視野マスク、Ｃはコンデンサレンズ、
Ｋは撮影レンズＬの光軸Ｏに関して略対称に配置された
開口部Ｋ1 ，Ｋ2 を有するセパレータ絞り、Ｈ1 ，Ｈ2
はセパレータ絞りＫの開口部Ｋ1 ，Ｋ2 に対応してその
後方に配置されたセパレータレンズであり、上記図３の
各構成要素にそれぞれ対応している。Ｐ上には光電変換
素子列が配置されているが、当該光電変換素子列は、セ
パレータレンズＨ1 ，Ｈ2 に対応して第１，第２の光電
変換素子列ＰＤＡＬ，ＰＤＡＲを有している。尚、図４
では、前述の赤外カットフィルタＳＦ、全反射ミラーＺ
Ｍについては図示を省略している。Next, FIG. 4 shows that the light beam from the subject is
The configuration of the focus detection optical system for guiding the photoelectric conversion element array P in the sensor AS will be described in more detail. In the figure, L is a photographing lens, S is a field mask, C is a condenser lens,
K is a separator diaphragm having openings K1 and K2 arranged substantially symmetrically with respect to the optical axis O of the taking lens L, and H1 and H2.
Numeral denotes a separator lens disposed behind and corresponding to the openings K1 and K2 of the separator diaphragm K, and corresponds to each of the components shown in FIG. An array of photoelectric conversion elements is arranged on P. The array of photoelectric conversion elements has first and second arrays of photoelectric conversion elements PDAL and PDAR corresponding to the separator lenses H1 and H2. FIG.
Now, the above-mentioned infrared cut filter SF and total reflection mirror Z
Illustration of M is omitted.

【００２２】このような構成において、撮影レンズＬの
領域Ｌ1 を介して入射した被写体からの光束は、視野マ
スクＳ、コンデンサレンズＣ、セパレータ絞りＫの開口
部Ｋ1 及びセパレータレンズＨ1 を介して光電変換素子
列Ｐ上に結像する。同様に、撮影レンズＬの領域Ｌ2 を
介して入射した被写体からの光束は、視野マスクＳ、コ
ンデンサレンズＣ、セパレータ絞りＫの開口部Ｋ2 及び
セパレータレンズＨ2を通り光電変換素子列Ｐ上に結像
する。In such a configuration, the light flux from the subject which enters through the area L1 of the taking lens L is photoelectrically converted through the field mask S, the condenser lens C, the opening K1 of the separator aperture K, and the separator lens H1. An image is formed on the element array P. Similarly, the light beam from the subject incident through the area L2 of the photographing lens L passes through the field mask S, the condenser lens C, the opening K2 of the separator aperture K, and the separator lens H2, and forms an image on the photoelectric conversion element array P. I do.

【００２３】上記撮影レンズＬが合焦、即ち結像面Ｇ上
に被写体像Ｉが形成される場合、その被写体像Ｉはコン
デンサレンズＣ及びセパレータレンズＨ1 ，Ｈ2 により
光軸Ｏに対して垂直な２次結像面Ｐ（光電変換素子列）
上に再結像されて第１像Ｉ1、第２像Ｉ2 となる。ま
た、撮影レンズが前ピン、即ち結像面Ｇの前方に被写体
像Ｆが形成される場合、その被写体像Ｆは互いに光軸Ｏ
に近づいた形で光軸Ｏに対して垂直に再結像されて第１
像Ｆ1 、第２像Ｆ2 となる。また、撮影レンズが後ピン
即ち、結像面Ｇの後方に被写体像Ｒが形成される場合、
その被写体像Ｒは互いに光軸Ｏから離れた形で光軸Ｏに
対して垂直に再結像されて第１像Ｒ1 、第２像Ｒ2 とな
る。従って、これら第１像と第２像の間隔を検出するこ
とにより、撮影レンズの合焦状態を前ピン、後ピンを含
めて検出することができる。具体的には、上記第１像と
第２像の光強度分布を光電変換素子列により求めて両像
の間隔を測定することとしている。When the photographing lens L is focused, that is, when the subject image I is formed on the image plane G, the subject image I is perpendicular to the optical axis O by the condenser lens C and the separator lenses H1 and H2. Secondary imaging plane P (photoelectric conversion element row)
The image is re-imaged on the first image I1 and the second image I2. When the photographing lens forms a front focus, that is, a subject image F is formed in front of the image forming plane G, the subject images F are mutually optical axis O
Is re-imaged perpendicular to the optical axis O in a form approaching
The image F1 becomes the second image F2. When the photographing lens is in the rear focus, that is, when the subject image R is formed behind the imaging plane G,
The subject image R is re-imaged perpendicular to the optical axis O at a distance from the optical axis O to form a first image R1 and a second image R2. Therefore, by detecting the distance between the first image and the second image, it is possible to detect the in-focus state of the photographing lens including the front focus and the rear focus. Specifically, the light intensity distribution of the first image and the second image is determined by a photoelectric conversion element array, and the interval between the two images is measured.

【００２４】次に図５には図３のカメラの電気制御系の
構成を示し説明する。同図において、コントローラＣＬ
はカメラの制御装置であり、例えば内部に中央演算処理
装置(CPU;Central Processing Unit) 、ＲＯＭ(Read On
ly Memory)，ＲＡＭ(Random Access read write Memor
y) 、ＡＤコンバータＡＤＣを有する。このコントロー
ラＣＬは、内部のＲＯＭに格納されたカメラのシーケン
スプログラムに従ってカメラの一連の動作を行ってい
る。また、コントローラＣＬは、不揮発性メモリである
ＥＥＰＲＯＭ(Electrically Erasable Programmable RO
M)を有しており、ＡＦ制御や測光等に関する補正データ
をカメラボディ毎に記憶することが可能となっている。
レンズ駆動部ＬＤは、上記コントローラＣＬによって制
御され、撮影レンズＬのフォーカシングレンズを駆動す
るものである。Next, FIG. 5 shows and explains the configuration of the electric control system of the camera shown in FIG. In FIG.
Is a camera control device, for example, includes a central processing unit (CPU), a ROM (Read On
ly Memory), RAM (Random Access read write Memor)
y) has an AD converter ADC. The controller CL performs a series of camera operations in accordance with a camera sequence program stored in an internal ROM. Further, the controller CL includes an EEPROM (Electrically Erasable Programmable RO) which is a nonvolatile memory.
M), so that correction data relating to AF control, photometry and the like can be stored for each camera body.
The lens driving unit LD is controlled by the controller CL, and drives the focusing lens of the photographing lens L.

【００２５】ファーストレリーズスイッチ（以下、１Ｒ
ＳＷとする）、セカンドレリーズスイッチ（以下、２Ｒ
ＳＷとする）は、レリーズボタンに連動したスイッチで
あり、レリーズボタンの第１段階の押下により１ＲＳＷ
がオンし、引き続いて第２段階の押下げで２ＲＳＷがオ
ンする。上記コントローラＣＬは、１ＲＳＷオンで測光
及びＡＦを行い、２ＲＳＷオンで露出動作とフィルム巻
上げを行う。A first release switch (hereinafter, 1R)
SW), second release switch (hereinafter 2R)
SW) is a switch interlocked with the release button. When the release button is pressed in the first stage, 1RSW
Is turned on, and subsequently, the 2RSW is turned on by the second stage depression. The controller CL performs photometry and AF when 1RSW is turned on, and performs an exposure operation and film winding when 2RSW is turned on.

【００２６】一方、ＡＦセンサＡＳは、光電変換素子列
であるフォトダイオードアレイＰＤＡＬ，ＰＤＡＲ、画
素増幅回路ＥＡＣ、シフトレジスタＳＲ、及びセンサ制
御回路ＳＣＣとで構成されている。このフォトダイオー
ドアレイＰＤＡＬ，ＰＤＡＲは、各フォトダイオードに
入射する光量に応じた電荷を発生し、それぞれ独立して
画素増幅回路ＥＡＣ内の対応する画素増幅回路の部分に
入力される。上記画素増幅回路ＥＡＣでは、上記フォト
ダイオードアレイＰＤＡＬ，ＰＤＡＲの各フォトダイオ
ードの発生する電荷をそれぞれ独立して増幅し、電荷量
に対応する電圧信号に変換するとともに増幅して蓄積信
号を発生する。On the other hand, the AF sensor AS is composed of photodiode arrays PDAL and PDAR, which are photoelectric conversion element arrays, a pixel amplifier circuit EAC, a shift register SR, and a sensor control circuit SCC. The photodiode arrays PDAL and PDAR generate charges corresponding to the amounts of light incident on the respective photodiodes, and are independently input to corresponding pixel amplifier circuits in the pixel amplifier circuit EAC. In the pixel amplifier circuit EAC, the charges generated by the photodiodes of the photodiode arrays PAL and PDAR are independently amplified, converted into a voltage signal corresponding to the charge amount, and amplified to generate a storage signal.

【００２７】また、上記画素増幅回路ＥＡＣは、各フォ
トダイオードの発生する電荷のうちの最大値、即ち最も
入射光量の大きいフォトダイオードに対応する画素増幅
回路の出力に応じたモニタ信号ＭＤＡＴＡを出力する。
さらに、センサ制御回路ＳＣＣは、コントローラＣＬか
らの信号に応じてＡＦセンサＡＳの内部全体の動作を制
御する。シフトレジスタＳＲは、コントローラＣＬから
のクロック信号ＣＬＫに応じて、フォトダイオードアレ
イＰＤＡＬ，ＰＤＡＲの各フォトダイオードに対応する
画素増幅回路ＥＡＣの蓄積信号ＳＤＡＴＡを順次出力さ
せる。さらに、コントローラＣＬは、ＡＦセンサＡＳの
動作を制御すると共に、ＡＦセンサＡＳの電荷蓄積信号
を読み出して焦点検出演算を行う。The pixel amplifier circuit EAC outputs a monitor signal MDATA corresponding to the maximum value of the electric charges generated by each photodiode, that is, the output of the pixel amplifier circuit corresponding to the photodiode having the largest incident light amount. .
Further, the sensor control circuit SCC controls the entire operation of the AF sensor AS according to a signal from the controller CL. The shift register SR sequentially outputs the accumulation signal SDATA of the pixel amplifier circuit EAC corresponding to each photodiode of the photodiode arrays PAL and PDAR according to the clock signal CLK from the controller CL. Further, the controller CL controls the operation of the AF sensor AS, reads out the charge accumulation signal of the AF sensor AS, and performs focus detection calculation.

【００２８】以下、図６のタイムチャートを参照して、
上記ＡＦセンサＡＳ及びコントローラＣＬの動作を詳細
に説明する。ここでは、ＡＦセンサＡＳの蓄積動作と蓄
積信号読み出し動作を中心に説明する。Hereinafter, referring to the time chart of FIG.
Operations of the AF sensor AS and the controller CL will be described in detail. Here, the description will focus on the accumulation operation and the accumulation signal reading operation of the AF sensor AS.

【００２９】尚、上記ＡＦセンサＡＳとコントローラＣ
Ｌとの信号のやりとりは、コントローラＣＬからＡＦセ
ンサＡＳに対して与えられる制御信号ＣＥＮ，ＲＥＳ，
ＥＮＤ，ＣＬＫと、ＡＦセンサＡＳからコントローラＣ
Ｌに対して与えられるアナログ信号ＳＤＡＴＡ，ＭＤＡ
ＴＡとにより行われる。The AF sensor AS and the controller C
The signals are exchanged with the control signals CEN, RES,
END, CLK and AF sensor AS to controller C
Analog signal SDATA, MDA applied to L
This is performed by the TA.

【００３０】先ず、コントローラＣＬが制御信号ＣＥＮ
をＨレベルからＬレベルにすると、ＡＦセンサＡＳ内部
のバイアス源がオンして動作可能な状態となる。この制
御信号ＣＥＮがＨレベルのときは、ＡＦセンサＡＳの内
部回路は全てオフ状態であり、消費電流は略“０”とな
っている。上記制御信号ＣＥＮがＨレベルからＬレベル
になった後、制御信号ＣＬＫがＨレベルであれば、ＡＦ
センサＡＳの内部では後述する感度設定が自動的に行わ
れ高感度か低感度のいずれかに設定される。一方、制御
信号ＣＬＫがＬレベルであれば、強制的に低感度に設定
される。First, the controller CL sends the control signal CEN
Is changed from the H level to the L level, the bias source inside the AF sensor AS is turned on to be in an operable state. When the control signal CEN is at the H level, the internal circuits of the AF sensor AS are all off, and the current consumption is substantially “0”. After the control signal CEN changes from H level to L level, if the control signal CLK is at H level, AF
Inside the sensor AS, sensitivity setting described later is automatically performed, and the sensitivity is set to either high sensitivity or low sensitivity. On the other hand, if the control signal CLK is at the L level, the sensitivity is forcibly set to low.

【００３１】次にコントローラＣＬは制御信号ＲＥＳを
ＨレベルからＬレベルとし、Ｌレベル状態を所定時間保
持した後にＬレベルからＨレベルに設定する。このＬレ
ベルの区間にＡＦセンサＡＳ内の画素増幅回路ＥＡＣを
リセットし、積分コンデンサ等に残存している不用な電
荷をクリアする。また、このリセット期間中にＡＦセン
サＡＳの蓄積信号ＳＤＡＴＡとして、先に設定された感
度を示す予め決められた電圧レベルを発生する。詳細に
は、高感度である時はＨレベル、低感度である時はＬレ
ベルを出力する。コントローラＣＬでは内蔵しているＡ
ＤコンバータＡＤＣにより感度データであるリセット期
間中の蓄積信号ＳＤＡＴＡをＡＤ変換して内部のＲＡＭ
に格納する。そして、制御信号ＲＥＳのＬレベルからＨ
レベルの変化により画素増幅回路ＥＡＣは電荷蓄積を開
始する。Next, the controller CL changes the control signal RES from the H level to the L level, holds the L level state for a predetermined time, and then sets the control signal RES from the L level to the H level. The pixel amplifier circuit EAC in the AF sensor AS is reset in this L-level section to clear unnecessary charges remaining in the integration capacitor and the like. Further, during this reset period, a predetermined voltage level indicating the previously set sensitivity is generated as the accumulation signal SDATA of the AF sensor AS. Specifically, when the sensitivity is high, the H level is output, and when the sensitivity is low, the L level is output. A built in the controller CL
A D converter ADC converts the accumulated signal SDATA during the reset period, which is sensitivity data, from an analog signal to an internal RAM.
To be stored. Then, the control signal RES is changed from L level to H level.
The pixel amplifying circuit EAC starts charge storage by the level change.

【００３２】この電荷蓄積の開始と共に画素増幅回路Ｅ
ＡＣのモニタ信号ＭＤＡＴＡとしては、蓄積レベルに応
じたアナログ信号が出力される。コントローラＣＬで
は、内蔵しているＡＤコンバータＡＤＣによりモニタ信
号ＭＤＡＴＡのレベルをＡＤ変換して、そのレベルをチ
ェックする。そして、コントローラＣＬでは、モニタ信
号ＭＤＡＴＡのレベルに基づいて、適正な電荷蓄積レベ
ルとなる蓄積時間で制御信号ＥＮＤをＨレベルからＬレ
ベルとして蓄積動作を停止させる。At the start of the charge accumulation, the pixel amplifier circuit E
An analog signal corresponding to the accumulation level is output as the AC monitor signal MDATA. In the controller CL, the level of the monitor signal MDATA is AD-converted by a built-in AD converter ADC, and the level is checked. Then, based on the level of the monitor signal MDATA, the controller CL changes the control signal END from the H level to the L level during the accumulation time at which the charge accumulation level becomes appropriate, and stops the accumulation operation.

【００３３】次にコントローラＣＬは、蓄積信号を読み
出すためのクロック信号ＣＬＫをＡＦセンサＡＳに対し
て出力し、ＡＦセンサＡＳはこれに対応してアナログ信
号である蓄積信号ＳＤＡＴＡを順次出力する。コントロ
ーラＣＬでは、前述のＡＤコンバータＡＤＣにより蓄積
信号ＳＤＡＴＡをＡＤ変換して内部のＲＡＭに格納して
いく。そして、フォトダイオードアレイＰＤＡＬ，ＰＤ
ＡＲの蓄積信号を全て読み出して読み出し動作を終了す
る。Next, the controller CL outputs a clock signal CLK for reading the stored signal to the AF sensor AS, and the AF sensor AS sequentially outputs a stored signal SDATA which is an analog signal in response to the clock signal CLK. In the controller CL, the stored signal SDATA is AD-converted by the above-mentioned AD converter ADC and stored in the internal RAM. And the photodiode arrays PAL, PD
The read operation is completed by reading all the accumulation signals of the AR.

【００３４】ここで、図７には上記ＡＦセンサＡＳのフ
ォトダイオードアレイＰＤＡＬ，ＰＤＡＲ及び画素増幅
回路ＥＡＣの詳細な構成を示し説明する。フォトダイオ
ードアレイＰＤＡＬ，ＰＤＡＲは、フォトダイオードＰ
Ｄ1 ，ＰＤ2 …ＰＤn により構成される。画素増幅回路
ＥＡＣは、各フォトダイオード毎に同一回路を有してい
る。ここでは、説明を簡略化するため、フォトダイオー
ドＰＤ1 に対応する部分についてのみ説明する。FIG. 7 shows a detailed configuration of the photodiode arrays PAL, PDAR and the pixel amplifier circuit EAC of the AF sensor AS. The photodiode arrays PAL and PDAR are the photodiode P
Dn, PD2... PDn. The pixel amplifier circuit EAC has the same circuit for each photodiode. Here, in order to simplify the description, only the portion corresponding to the photodiode PD1 will be described.

【００３５】フォトダイオードＰＤ1 のアノードは接地
されており、カソードは２つのスイッチＳＷ11，ＳＷ21
の接続端に接続されている。即ち、スイッチＳＷ11を介
して感度設定部ＫＳＣの入力にも接続され、スイッチＳ
Ｗ21を介して初段アンプの入力に接続されている。この
スイッチＳＷ11，ＳＷ21は、それぞれセンサ制御回路Ｓ
ＣＣからの信号ＫＳＴ，ＤＴＫによりオン／オフ制御さ
れ、感度設定動作時はスイッチＳＷ11をオン、スイッチ
ＳＷ21をオフとして、フォトダイオードの光電流を感度
設定部ＫＳＣに入力する。また、蓄積動作時には、スイ
ッチＳＷ11をオフ、スイッチＳＷ21をオンとして、上記
フォトダイオードＰＤ1 の光電流を初段アンプに入力す
る。The anode of the photodiode PD1 is grounded, and the cathode is connected to two switches SW11 and SW21.
Is connected to the connection end. That is, it is also connected to the input of the sensitivity setting unit KSC via the switch SW11,
It is connected to the input of the first-stage amplifier via W21. The switches SW11 and SW21 are respectively connected to the sensor control circuit S
On / off control is performed by signals KST and DTK from the CC. During the sensitivity setting operation, the switch SW11 is turned on and the switch SW21 is turned off, and the photocurrent of the photodiode is input to the sensitivity setting unit KSC. During the accumulation operation, the switch SW11 is turned off and the switch SW21 is turned on, and the photocurrent of the photodiode PD1 is input to the first-stage amplifier.

【００３６】上記初段アンプは、反転増幅器Ａ11と積分
コンデンサＣ11、スイッチＳＷ31とで積分回路を構成し
ており、スイッチＳＷ31はセンサ制御回路ＳＣＣからの
信号ＳＥＫ１によりオン／オフ制御される。蓄積動作時
は、スイッチＳＷ21がオンの状態で先ずスイッチＳＷ31
をオンとして、初段アンプ出力ＶS1を初期レベルに設定
し、その後、スイッチＳＷ31をオフして蓄積動作を開始
し、フォトダイオードＰＤ1 で発生する電荷（光電流）
を積分コンデンサＣ11に蓄積し、その蓄積量に応じた電
圧を初段アンプ出力ＶS1に発生する。この初段アンプの
出力ＶS1は、２段目アンプの入力に接続される。The first-stage amplifier constitutes an integrating circuit including an inverting amplifier A11, an integrating capacitor C11, and a switch SW31. The switch SW31 is on / off controlled by a signal SEK1 from a sensor control circuit SCC. During the accumulation operation, the switch SW31 is turned on and the switch SW31 is turned on first.
Is turned on, the first-stage amplifier output VS1 is set to the initial level, then the switch SW31 is turned off to start the accumulation operation, and the charge (photocurrent) generated in the photodiode PD1
Is accumulated in the integrating capacitor C11, and a voltage corresponding to the accumulated amount is generated at the first-stage amplifier output VS1. The output VS1 of the first stage amplifier is connected to the input of the second stage amplifier.

【００３７】この２段目アンプは、コンデンサＣ21，Ｃ
31，Ｃ41，Ｃ51、反転増幅器Ａ21、バッファＡ31、スイ
ッチＳＷ41，ＳＷ51，ＳＷ61とで構成されており、サン
プルホールド機能を有する反転増幅回路となっている。
この２段目アンプは、その増幅率を切り換えることが可
能である。即ち、感度設定部ＫＳＣの出力信号ＫＮＤに
よりスイッチＳＷ41をオン／オフすることで増幅率が切
り換えられる。具体的には、２段目アンプの増幅率は、
スイッチＳＷ41がオフの時は−Ｃ21／Ｃ41で低感度側と
なり、スイッチＳＷ41がオンの時は−（Ｃ21＋Ｃ31）／
Ｃ41で高感度側に設定される。This second stage amplifier includes capacitors C21 and C21.
It comprises an inverting amplifier circuit having a sample-and-hold function, which is composed of 31, C41, C51, an inverting amplifier A21, a buffer A31, and switches SW41, SW51, SW61.
This second-stage amplifier can switch the amplification factor. That is, the amplification factor is switched by turning on / off the switch SW41 according to the output signal KND of the sensitivity setting unit KSC. Specifically, the amplification factor of the second stage amplifier is
When the switch SW41 is off, -C21 / C41 is on the low sensitivity side, and when the switch SW41 is on,-(C21 + C31) /
At C41, it is set to the high sensitivity side.

【００３８】上記スイッチＳＷ51は、センサ制御回路Ｓ
ＣＣからの信号ＳＥＫ２により制御され、蓄積動作時に
先ずスイッチＳＷ51をオンとして２段目アンプの出力Ｖ
S2を初期レベルに設定する。その後、蓄積開始、即ち初
段アンプのスイッチＳＷ31のオフと略同期してスイッチ
ＳＷ51をオフし、２段目アンプは初段アンプ出力ＶS1を
前記所定の増幅率で増幅して、出力ＶS2を発生する。The switch SW51 is connected to the sensor control circuit S
Controlled by a signal SEK2 from the CC, the switch SW51 is first turned on during the accumulation operation to output the output V of the second-stage amplifier.
Set S2 to initial level. Thereafter, the switch SW51 is turned off substantially in synchronization with the start of accumulation, that is, the turning off of the switch SW31 of the first-stage amplifier, and the second-stage amplifier amplifies the first-stage amplifier output VS1 at the predetermined amplification factor to generate an output VS2.

【００３９】上記スイッチＳＷ61、ホールドコンデンサ
Ｃ51、バッファＡ31は、サンプルホールド回路を構成し
ており、スイッチＳＷ61は、センサ制御回路ＳＣＣから
の信号ＨＬＤにより制御される。このサンプルホールド
回路は、スイッチＳＷ61がオンしている間は単にバッフ
ァとして動作する。一方、このサンプルホールド回路
は、蓄積終了時にスイッチＳＷ61がオフされると、その
時の２段目アンプ出力ＶS2と等価な電圧レベルをホール
ドコンデンサＣ51にホールドし、蓄積電荷を保持する。The switch SW61, the hold capacitor C51, and the buffer A31 constitute a sample and hold circuit, and the switch SW61 is controlled by a signal HLD from the sensor control circuit SCC. This sample and hold circuit simply operates as a buffer while the switch SW61 is on. On the other hand, in this sample and hold circuit, when the switch SW61 is turned off at the end of the accumulation, the voltage level equivalent to the second-stage amplifier output VS2 at that time is held in the hold capacitor C51, and the accumulated charge is held.

【００４０】次に２段目アンプの出力に接続されたスイ
ッチＳＷ71は、シフトレジスタからの信号ＳＲ1 によっ
て制御され、スイッチＳＷ71がオンされると２段目アン
プのホールドコンデンサＣ51に保持されたレベルに対応
する２段目アンプ出力ＶS2を蓄積信号ＳＤＡＴＡとして
出力する。以上、フォトダイオードＰＤ1 に対応する部
分についてのみ説明したが、他のフォトダイオードにつ
いても同一回路となっている。Next, the switch SW71 connected to the output of the second-stage amplifier is controlled by the signal SR1 from the shift register. When the switch SW71 is turned on, the level of the switch SW71 becomes the level held by the hold capacitor C51 of the second-stage amplifier. The corresponding second-stage amplifier output VS2 is output as an accumulation signal SDATA. Although only the portion corresponding to the photodiode PD1 has been described above, the other photodiodes have the same circuit.

【００４１】次にピークモニタ部ＰＭＴは、ＰＭＯＳト
ランジスタＰＭ1 ，ＰＭ2 …ＰＭｎと定電流負荷ＩM と
から構成されている。各ＰＭＯＳトランジスタはソース
フォロワとして機能し、各画素の２段目アンプ出力ＶS2
を各ＰＭＯＳトランジスタのゲートにそれぞれ独立に接
続され、各ソースは全て共通接続されると共に定電流負
荷ＩM に接続されている。また、各ＰＭＯＳトランジス
タのドレインは全て共通にＧＮＤに接続されている。そ
して、ピークモニタ部ＰＭＴは蓄積動作中に全画素の２
段目アンプ出力ＶS2のうちで最も電荷蓄積量の大きい画
素（電圧レベルとしては最も低い画素）に応じたモニタ
信号ＭＤＡＴＡを発生する。The peak monitor PMT is composed of PMOS transistors PM1, PM2,... PMn and a constant current load IM. Each PMOS transistor functions as a source follower, and the second-stage amplifier output VS2 of each pixel
Are connected independently to the gates of the PMOS transistors, and all the sources are commonly connected and connected to a constant current load IM. The drains of the PMOS transistors are all connected to GND in common. During the accumulation operation, the peak monitor unit PMT outputs 2 pixels of all pixels.
A monitor signal MDATA corresponding to a pixel having the largest charge accumulation amount (a pixel having the lowest voltage level) among the stage amplifier outputs VS2 is generated.

【００４２】感度設定部ＫＳＣには、フォトダイオード
ＰＤ1 ，ＰＤ2 ，…ＰＤｎがそれぞれスイッチＳＷ11，
ＳＷ12，…，ＳＷ1nを介して入力に接続されており、接
続されるフォトダイオード全体の光電流の和を検出す
る。入力部は、ＮＭＯＳトランジスタＮＭ1 ，ＮＭ2 と
定電流源ＩB とからなり、フォトダイオードの電位をＮ
ＭＯＳトランジスタＮＭ1 のゲート電圧に固定すると共
に、フォトダイオード光電流和Ｉp をＮＭＯＳトランジ
スタＮＭ2 のドレイン電流として検出する。このＩp
は、ＰＭＯＳトランジスタＰＭａ，ＰＭｂからなるカレ
ントミラーを介して定電流源ＩTH及びコンパレータＣＭ
Ｐの入力に接続される。In the sensitivity setting section KSC, the photodiodes PD1, PD2,...
, SW1n are connected to the inputs via SW12,..., SW1n, and detect the sum of the photocurrents of the whole connected photodiodes. The input section is composed of NMOS transistors NM1 and NM2 and a constant current source IB.
The gate voltage of the MOS transistor NM1 is fixed and the photodiode photocurrent sum Ip is detected as the drain current of the NMOS transistor NM2. This Ip
Is a constant current source ITH and a comparator CM via a current mirror including PMOS transistors PMa and PMb.
Connected to P input.

【００４３】そして、コンパレータの出力は、ＳＷK2を
介して信号ＫＮＤとして感度切り換え用スイッチＳＷ4
1，ＳＷ42，…，ＳＷ4nに接続される。フォトダイオー
ド光電流和Ｉp が定電流ＩTHより大きい場合、即ち被写
体が高輝度側の場合は、コンパレータＣＭＰの入力はＨ
レベル、出力Ｌレベルとなり、スイッチＳＷK2を介して
信号ＫＮＤはＬレベルとしてスイッチＳＷ41，ＳＷ42，
…，ＳＷ4nをオフさせて低感度側に設定される。The output of the comparator is supplied as a signal KND via SWK2 to a sensitivity switching switch SW4.
1, SW42,..., SW4n. When the photodiode current sum Ip is larger than the constant current ITH, that is, when the subject is on the high luminance side, the input of the comparator CMP is H
Level, the output becomes L level, and the signal KND becomes L level via the switch SWK2, and the switches SW41, SW42,
.., SW4n is turned off and set to the low sensitivity side.

【００４４】一方、フォトダイオード光電流和Ｉp が定
電流ＩTHより小さい場合、即ち被写体が低輝度側の場合
は、コンパレータＣＭＰの入力はＬレベル、出力Ｈレベ
ルとなり、スイッチＳＷK2を介して信号ＫＮＤはＨレベ
ルとしてスイッチＳＷ41，ＳＷ42，…，ＳＷ4nをオンし
て高感度側に設定される。On the other hand, when the photodiode light current sum Ip is smaller than the constant current ITH, that is, when the subject is on the low luminance side, the input of the comparator CMP is at the L level and the output is at the H level, and the signal KND is output via the switch SWK2. The switches SW41, SW42,..., SW4n are turned on as the H level and set to the high sensitivity side.

【００４５】以上は信号ＣＬＫがＨの時に感度設定部Ｋ
ＳＣで感度が自動設定される場合で信号ＣＬＫがＬの時
はＳＷＫ１がオン、ＳＷＫ２がオフされて信号ＫＮＤは
Ｌとなり、低感度側に設定される。即ち、コントローラ
ＣＬより強制的に低感度に設定することができる。尚、
ここで設定された感度は蓄積動作中も保持され、蓄積動
作終了毎に設定し直される。また、信号ＫＮＤはスイッ
チＳＷＫ３を介して端子ＳＤＡＴＡに接続され、スイッ
チＳＷＫ３は制御回路ＳＣＣによって信号ＫＤＤにより
オンされる。The above description is based on the sensitivity setting unit K when the signal CLK is at H level.
When the sensitivity is automatically set by the SC and when the signal CLK is L, SWK1 is turned on, and SWK2 is turned off, and the signal KND becomes L, which is set to the low sensitivity side. That is, the low sensitivity can be forcibly set by the controller CL. still,
The sensitivity set here is maintained during the accumulation operation, and is reset every time the accumulation operation ends. The signal KND is connected to the terminal SDATA via the switch SWK3, and the switch SWK3 is turned on by the control circuit SCC by the signal KDD.

【００４６】以下、図８のタイムチャートを参照して、
上記蓄積動作に係る画素増幅回路ＥＡＣ内部の動作を詳
細に説明する。先ず、蓄積動作に先立ち感度設定を行う
ため、スイッチＳＷ11（ＳＷ12…ＳＷ1n）をオンする
と、感度設定部ＫＳＣはフォトダイオードの光電流和に
基づいて信号ＫＮＤを出力し、スイッチＳＷ41をオン
（高感度）又はオフ（低感度）に設定する。次に、セン
サ制御回路ＳＣＣよってスイッチＳＷ11をオフ、スイッ
チＳＷ21をオンしてフォトダイオードの電荷の経路を切
り換えると共に、スイッチＳＷ31，ＳＷ51，ＳＷ61をオ
ンして蓄積準備状態とする。そして、スイッチＳＷ31，
ＳＷ51をオンからオフとして蓄積動作を開始する。この
蓄積動作中は、各フォトダイオード毎の入射光量に応じ
た傾きで初段アンプ出力ＶS1のレベルは上昇し、一方、
２段目アンプＶS2の出力は下降していく。Hereinafter, referring to the time chart of FIG.
The internal operation of the pixel amplifier circuit EAC related to the accumulation operation will be described in detail. First, in order to set the sensitivity prior to the accumulation operation, when the switch SW11 (SW12... SW1n) is turned on, the sensitivity setting unit KSC outputs a signal KND based on the sum of the photocurrents of the photodiodes and turns on the switch SW41 (high sensitivity). ) Or off (low sensitivity). Next, the switch SW11 is turned off and the switch SW21 is turned on by the sensor control circuit SCC to switch the path of the charge of the photodiode, and the switches SW31, SW51, and SW61 are turned on to be in the accumulation preparation state. Then, the switches SW31,
The storage operation is started by turning the SW 51 from on to off. During this accumulation operation, the level of the first-stage amplifier output VS1 rises at an inclination corresponding to the amount of incident light for each photodiode, while
The output of the second-stage amplifier VS2 decreases.

【００４７】また、蓄積準備状態中では、スイッチＳＷ
Ｋ３がオンされ、蓄積信号ＳＤＡＴＡとして感度データ
が出力される。そして、センサ制御回路ＳＣＣによりス
イッチＳＷ61がオフされて全画素の蓄積を終了し、同時
に各画素の蓄積レベルが保持される。こうして蓄積動作
が終了すると、蓄積信号の読み出し動作を行う。シフト
レジスタＳＲより、スイッチＳＷ71，ＳＷ72…ＳＷ7nに
対して信号ＳＲ1 ，ＳＲ2 …ＳＲｎが出力され、各画素
毎の蓄積信号ＳＤＡＴＡが順次出力される。During the storage preparation state, the switch SW
K3 is turned on, and sensitivity data is output as the accumulation signal SDATA. Then, the switch SW61 is turned off by the sensor control circuit SCC, and the accumulation of all the pixels is completed. At the same time, the accumulation level of each pixel is held. When the accumulation operation is completed, an operation of reading the accumulation signal is performed. The shift register SR outputs signals SR1, SR2... SRn to the switches SW71, SW72... SW7n, and sequentially outputs the accumulation signal SDATA for each pixel.

【００４８】次に図９のフローチャートを参照して、コ
ントローラＣＬの制御の下になされるカメラの主動作を
説明する。主動作を開始すると、コントローラＣＬは、
先ず１ＲＳＷがオンされているかどうかを判断し（ステ
ップＳ１）、当該１ＲＳＷがオンされていれば露出量を
決定するために不図示の測光回路を動作させて被写体の
光量を測定し測光を行い（ステップＳ２）、続いて、後
述するサブルーチン“ＡＦ”を実行し、被写体に対する
焦点状態を検出して撮影レンズＬを焦点位置に移動し、
被写体にピントを合わせるＡＦ動作を行う（ステップＳ
３）。Next, the main operation of the camera under the control of the controller CL will be described with reference to the flowchart of FIG. When the main operation starts, the controller CL
First, it is determined whether or not the 1RSW is turned on (step S1). If the 1RSW is turned on, a photometric circuit (not shown) is operated to determine the exposure amount, and the light amount of the subject is measured and photometry is performed ( Step S2) Subsequently, a subroutine "AF" to be described later is executed to detect the focus state of the subject and move the taking lens L to the focus position,
Perform AF operation to focus on the subject (step S
3).

【００４９】続いて、コントローラＣＬは、このＡＦ動
作の結果に基づいて合焦したか否かを判別する（ステッ
プＳ４）。ここで、合焦していれば、続いてコントロー
ラＣＬは、２ＲＳＷがオンされているかどうか判断し
（ステップＳ５）、当該２ＲＳＷがオンされていれば、
コントローラＣＬは、露出動作を行うために、先ず上記
ステップＳ２で求めた測光値に基づいて決定された絞り
値に撮影レンズＬの絞りを絞り込み、次いでシャッタを
制御して所定時間シャッタを開いて露出動作を行う（ス
テップＳ６）。こうしてシャッタ制御が完了すると、コ
ントローラＣＬは絞りを開放状態に戻し、撮影したフィ
ルムを巻き上げて次の駒に送り（ステップＳ７）、不図
示の表示装置ＬＣＤ，ＬＥＤの表示を制御した後（ステ
ップＳ８）、上記ステップＳ１に戻る。Subsequently, the controller CL determines whether focusing has been achieved based on the result of the AF operation (step S4). Here, if the focus is on, the controller CL subsequently determines whether or not the 2RSW is turned on (step S5), and if the 2RSW is turned on,
In order to perform the exposure operation, the controller CL first narrows the aperture of the taking lens L to the aperture value determined based on the photometric value obtained in step S2, and then controls the shutter to open the shutter for a predetermined time to perform the exposure. The operation is performed (step S6). When the shutter control is completed in this way, the controller CL returns the aperture to the open state, winds the photographed film, feeds it to the next frame (step S7), and controls the display of the display devices LCD and LED (not shown) (step S8). ), And return to step S1.

【００５０】これに対して、上記ステップＳ４で合焦で
ないと判断されたとき、又は上記ステップＳ５で２ＲＳ
Ｗがオンされていない場合には、上記ステップＳ８に移
行し、上記同様の表示を行う。On the other hand, if it is determined in step S4 that the camera is not in focus, or if 2RS is determined in step S5.
If W is not turned on, the process proceeds to step S8, and the same display as above is performed.

【００５１】一方、上記ステップＳ１にて１ＲＳＷがオ
ンされていないと判断された場合には、コントローラＣ
Ｌは、１ＲＳＷ，２ＲＳＷ以外のＳＷの状態を判断し
（ステップＳ９）、オンされているＳＷがあれば、その
オンされているＳＷに応じた処理を実行した後（ステッ
プＳ１０）、上記ステップＳ８に移行し、上記同様の表
示を行う。On the other hand, if it is determined in step S1 that the 1RSW has not been turned on, the controller C
L determines the state of the SW other than 1RSW and 2RSW (step S9), and if there is an on-switch, performs a process corresponding to the on-switch (step S10), and then proceeds to step S8. And the same display as above is performed.

【００５２】次に図１０のフローチャートを参照して、
図９のステップＳ３で実行されるサブルーチン“ＡＦ”
の動作を詳細に説明する。このサブルーチンに入ると、
コントローラＣＬは、先ず蓄積中フラグを参照してＡＦ
センサＡＳが蓄積中か否かを検出し（ステップＳ１
１）、ＡＦセンサＡＳが蓄積中であればリターンし、蓄
積中でなければ蓄積終了フラグを参照してＡＦセンサＡ
Ｓの蓄積が終了したか否かを判断する（ステップＳ１
２）。Next, referring to the flowchart of FIG.
Subroutine "AF" executed in step S3 in FIG.
Will be described in detail. When you enter this subroutine,
The controller CL first refers to the accumulation flag to
It is detected whether or not the sensor AS is accumulating (step S1).
1) If the AF sensor AS is accumulating, the process returns. If not accumulating, the AF sensor A is referred to by referring to the accumulation end flag.
It is determined whether the accumulation of S has been completed (step S1).
2).

【００５３】ここで、蓄積終了していなければ、ＡＦセ
ンサＡＳの蓄積を開始すると共に、ＡＦセンサＡＳのモ
ニタ出力をチェックして蓄積終了時間を求め、また、蓄
積中フラグをセットする（ステップＳ１３）。If the accumulation has not been completed, the accumulation of the AF sensor AS is started, the monitor output of the AF sensor AS is checked, the accumulation end time is obtained, and the accumulation flag is set (step S13). ).

【００５４】一方、ＡＦセンサＡＳが蓄積終了していれ
ば、ＡＦセンサＡＳにおいて蓄積された信号をセンサデ
ータとして読み出す（ステップＳ１４）。このとき、コ
ントローラＣＬより読み出し、クロックをＡＦセンサＡ
Ｓに与えて、それに同期したセンサデータがＡＦセンサ
ＡＳより出力される。コントローラＣＬは、このセンサ
データを順次ＡＤ変換して所定のＲＡＭに格納する。On the other hand, if the accumulation of the AF sensor AS has been completed, the signal accumulated in the AF sensor AS is read as sensor data (step S14). At this time, the clock is read from the controller CL and the clock is set to the AF sensor A.
S, and the sensor data synchronized therewith is output from the AF sensor AS. The controller CL sequentially performs AD conversion on the sensor data and stores the converted data in a predetermined RAM.

【００５５】続いて、ＲＡＭに格納されたセンサデータ
に基づいて焦点検出演算を行う。また、ここで蓄積中フ
ラグ、蓄積終了フラグを初期化して次回の蓄積に備える
（ステップＳ１５）。次いで、焦点検出演算により求め
られたデフォーカス量が許容範囲内であるか否かを判別
し、合焦判定を行い（ステップＳ１６）、非合焦状態で
あれば、上記ステップＳ１５で求められたデフォーカス
量に基づいてレンズ駆動量を演算し（ステップＳ１
７）、この求められたレンズ駆動量だけレンズを駆動す
る（ステップＳ１８）。Subsequently, a focus detection calculation is performed based on the sensor data stored in the RAM. Here, the accumulation flag and the accumulation end flag are initialized to prepare for the next accumulation (step S15). Next, it is determined whether or not the defocus amount obtained by the focus detection calculation is within an allowable range, and focus determination is performed (step S16). The lens driving amount is calculated based on the defocus amount (step S1).
7) The lens is driven by the obtained lens drive amount (step S18).

【００５６】このレンズ駆動が終了すると、上記ステッ
プＳ１１に戻り、再度ＡＦ動作を行い、合焦するまで上
記蓄積〜レンズ駆動の処理を繰り返す。一方、上記ステ
ップＳ１６にて合焦と判定された場合には、ファインダ
内の合焦表示等の合焦処理を行って終了し（ステップＳ
１９）、前述したメインルーチンに戻る。When the lens driving is completed, the flow returns to step S11, where the AF operation is performed again, and the above-described processing from accumulation to lens driving is repeated until focusing is achieved. On the other hand, if it is determined in step S16 that focusing has been achieved, focusing processing such as focusing display in the viewfinder is performed, and the process ends (step S16).
19), and return to the main routine described above.

【００５７】次に図１１のフローチャートを参照して、
図１０の上記ステップＳ１３で実行されるサブルーチン
“蓄積制御”について説明する。まず、コントローラＣ
Ｌは、ＡＦセンサＡＳのリセットを行い、蓄積動作を開
始させる。また、同時にコントローラＣＬは、モニタ出
力のチェック時刻を管理するために内部のタイマをリセ
ットし、カウントを開始させる（ステップＳ２１）。続
いて、所定時間Ｔ1 のループ回数を初期値（ｎ＝１）と
する（ステップＳ２２）。そして、蓄積開始からタイマ
を参照して時間ｎＴ1 が経過するまで待ち（ステップＳ
２３）、時間ｎＴ1 が経過したらコントローラＣＬのＡ
ＤコンバータＡＤＣによりモニタ信号ＭＤＡＴＡをＡＤ
変換し、その結果のモニタデータＭ1 を内部のＲＡＭに
格納する（ステップＳ２４）。Next, referring to the flowchart of FIG.
The subroutine "storage control" executed in step S13 in FIG. 10 will be described. First, the controller C
L resets the AF sensor AS and starts the accumulation operation. At the same time, the controller CL resets an internal timer to manage the check time of the monitor output and starts counting (step S21). Subsequently, the number of loops for a predetermined time T1 is set to an initial value (n = 1) (step S22). Then, it waits until the time nT1 elapses with reference to the timer from the start of accumulation (step S).
23) When the time nT1 has elapsed, the controller CL
Monitor signal MDATA is AD-converted by D-converter ADC.
The converted monitor data M1 is stored in the internal RAM (step S24).

【００５８】次いで、モニタデータＭ1 と所定の判定レ
ベルＭT 比較し（ステップＳ２５）、判定レベルＭT よ
り大きい場合は蓄積量がまだ少ないので一定量蓄積して
モニタレベルが判定レベルＭT を越えるまで待つ（ステ
ップＳ２６）。即ち、ステップＳ２６にてループ回数ｎ
をインクリメントしてステップＳ２３に戻り、上記同様
の動作をモニタレベルが判定レベルＭT を越えるまで繰
り返す。Next, the monitor data M1 is compared with a predetermined judgment level MT (step S25). If the monitor data M1 is larger than the judgment level MT, the accumulated amount is still small so that a certain amount is accumulated and the process waits until the monitor level exceeds the judgment level MT (step S25). Step S26). That is, in step S26, the number of loops n
Is incremented, and the process returns to step S23, and the same operation as described above is repeated until the monitor level exceeds the determination level MT.

【００５９】一方、ステップＳ２５において、モニタデ
ータＭ1 が判定レベル以下の時は、モニタレベルＭ1 を
測定した時刻ｎＴ1 より更に所定時間Ｔ2 だけ待つ（ス
テップＳ２７）。そして、所定時間Ｔ2 の経過後、つま
り蓄積開始からｎＴ1 ＋Ｔ2経過すると、モニタ信号Ｍ
ＤＡＴＡをＡＤ変換し（ステップＳ２８）、その結果を
モニタデータＭ2 としてＲＡＭに格納する。On the other hand, if the monitor data M1 is lower than the judgment level in step S25, the process waits for a predetermined time T2 further from the time nT1 when the monitor level M1 was measured (step S27). After a lapse of a predetermined time T2, that is, when nT1 + T2 has elapsed from the start of accumulation, the monitor signal M
The data is AD-converted (step S28), and the result is stored in the RAM as monitor data M2.

【００６０】次いで、モニタデータＭ2 を測定した時刻
ｎＴ1 ＋Ｔ2 より更に所定時間Ｔ3だけ待機し（ステッ
プＳ２９）、経過したらモニタ信号ＭＤＡＴＡをＡＤ変
換して、そのＡＤ変換値をモニタデータＭ3 としてＲＡ
Ｍに格納する（ステップＳ３０）。そして、モニタレベ
ルＭ1 ，Ｍ2 間及びモニタレベルＭ2 ，Ｍ3 間の単位時
間当りのモニタレベル変化率を次式（１）（２）により
求める（ステップＳ３１）。Then, after waiting for a predetermined time T3 from the time nT1 + T2 when the monitor data M2 was measured (step S29), the monitor signal MDATA is AD-converted when the time elapses, and the AD conversion value is used as the monitor data M3 as RA.
Stored in M (step S30). Then, the monitor level change rates per unit time between the monitor levels M1 and M2 and between the monitor levels M2 and M3 are obtained by the following equations (1) and (2) (step S31).

【００６１】ｍ1 ＝（Ｍ1 −Ｍ2 ）／Ｔ2 …（１）ｍ2 ＝（Ｍ2 −Ｍ3 ）／Ｔ3 …（２）次いで、コントローラＣＬは、上記ｍ1 とｍ2 の比であ
るｍ1 ／ｍ2 が所定の範囲内Ｋ1 〜Ｋ2 にあるか否か判
定する（ステップＳ３２）。ここでは、モニタレベル変
化率の変化、つまりモニタ信号ＭＤＡＴＡの時間に対す
る傾きの変化が所定の範囲内に入っているか否かチェッ
クすることにより、蛍光灯等の交流光源により強い影響
を受けているか判定する。M1 = (M1−M2) / T2 (1) m2 = (M2−M3) / T3 (2) Next, the controller CL determines that the ratio m1 / m2, which is the ratio of m1 to m2, is within a predetermined range. It is determined whether it is within K1 to K2 (step S32). Here, it is determined whether or not the change in the monitor level change rate, that is, the change in the slope of the monitor signal MDATA with respect to time is within a predetermined range. I do.

【００６２】そして、ｍ1 ／ｍ2 が所定の範囲Ｋ1 〜Ｋ
2 に入っていない場合は、交流光源の影響大と判別し、
ステップＳ３３に進む。このステップＳ３３では、上記
ｍ1とｍ2 の大小関係をチェックし、モニタ信号ＭＤＡ
ＴＡの傾き変化が増加傾向にあるか減少傾向にあるかを
判別する。ここで、ｍ1 ＜ｍ2 の場合はモニタ出力の傾
きが増加傾向にあるので蓄積信号が飽和してしまうのを
防ぐため、蓄積終了時刻を求めるためのモニタ信号ＭＤ
ＡＴＡの傾きとして最新データｍ2 を採用する（ステッ
プＳ３４）。そして、蓄積終了時刻を求めるために次式
（３）の計算を行う（ステップＳ３５）。Then, m1 / m2 is within a predetermined range K1 to K
If it is not, it is determined that the influence of the AC light source is large.
Proceed to step S33. In this step S33, the magnitude relationship between m1 and m2 is checked, and the monitor signal MDA is checked.
It is determined whether the change in the slope of TA is increasing or decreasing. Here, when m1 <m2, the inclination of the monitor output tends to increase, and the monitor signal MD for obtaining the accumulation end time is used to prevent the accumulation signal from becoming saturated.
The latest data m2 is adopted as the slope of the ATA (step S34). Then, calculation of the following equation (3) is performed to determine the accumulation end time (step S35).

【００６３】Ｔx ＝（Ｍ3 −Ｍ0 ）／ｍ …（３）但し、Ｍ0 は蓄積終了とするべき目標のモニタレベルで
あり、ＴX はモニタレベルＭ2 測定時刻（ｎＴ1 ＋Ｔ2
＋Ｔ3 ）から蓄積終了時刻までの時間である。Tx = (M3−M0) / m (3) where M0 is the target monitor level at which accumulation should be terminated, and TX is the monitor level M2 measurement time (nT1 + T2).
+ T3) to the accumulation end time.

【００６４】次にコントローラＣＬは、蓄積終了を実行
するためのタイマの設定を行う（ステップＳ３６）。即
ち、タイマに前記ＴX をセットして開始させ、また割り
込み処理の許可も行い、リターンする。Next, the controller CL sets a timer for executing the end of the accumulation (step S36). That is, TX is set in the timer to start the process, the interruption process is permitted, and the routine returns.

【００６５】タイマが上記ＴX をカウントすると、コン
トローラＣＬ内部で割り込み動作を行い、図１７に示さ
れるように、ＡＦセンサＡＳの蓄積動作を終了させる
（ステップＳ８０）。また、蓄積終了フラグの設定を行
う。When the timer counts the above TX, an interrupt operation is performed inside the controller CL, and as shown in FIG. 17, the accumulation operation of the AF sensor AS is terminated (step S80). In addition, an accumulation end flag is set.

【００６６】ここで、モニタ出力の傾き変化が増加傾向
にある場合、図１２に示されるように、従来の方法によ
れば、以下の問題が生ずる。即ち、従来の方法による
と、モニタデータＭ1 ，Ｍ2 より求められるモニタ信号
ＭＤＡＴＡの傾きｍ1 により蓄積終了時刻Ｔa を求め、
Ｔa で蓄積終了する。その結果、モニタ信号ＭＤＡＴＡ
は“０”となってしまうので、蓄積信号の全て又は一部
が飽和してしまう。これに対して、本実施の形態によれ
ば、蓄積信号レベルは、モニタ信号ＭＤＡＴＡでＭX に
制御されるので飽和することはない。Here, when the change in the slope of the monitor output tends to increase, the following problem occurs according to the conventional method as shown in FIG. That is, according to the conventional method, the accumulation end time Ta is obtained from the slope m1 of the monitor signal MDATA obtained from the monitor data M1 and M2.
The accumulation ends at Ta. As a result, the monitor signal MDATA
Becomes "0", so that all or a part of the accumulated signal is saturated. On the other hand, according to the present embodiment, the accumulated signal level is controlled to MX by the monitor signal MDATA, and therefore does not saturate.

【００６７】一方、上記ステップＳ３３において、ｍ1
≧ｍ2 の場合はモニタ信号ＭＤＡＴＡの傾きが減少傾向
にあると判別され、モニタデータＭ2 測定時刻からさら
に所定時間Ｔ4 の経過を待ち（ステップＳ３７）、経過
すると、モニタ信号ＭＤＡＴＡをＡＤ変換し、そのＡＤ
変換値をモニタデータＭ4 としてＲＡＭに格納する（ス
テップＳ３８）。そして、モニタデータＭ3 ，Ｍ4 間の
単位時間当りのモニタレベル変化率を次式（４）にて求
める（ステップＳ３９）。On the other hand, in step S33, m1
If .gtoreq.m2, it is determined that the slope of the monitor signal MDATA is on a decreasing trend, and the elapse of a predetermined time T4 from the monitoring time of the monitor data M2 is waited for (step S37). AD
The converted value is stored in the RAM as monitor data M4 (step S38). Then, the monitor level change rate per unit time between the monitor data M3 and M4 is obtained by the following equation (4) (step S39).

【００６８】ｍ＝（Ｍ3 −Ｍ4 ）／Ｔ4 …（４）そして、上記ｍを用いて蓄積終了時刻ＴX を次式（５）
により求める（ステップＳ４０）。M = (M3−M4) / T4 (4) Then, using the above m, the accumulation end time TX is calculated by the following equation (5).
(Step S40).

【００６９】ＴX ＝（Ｍ4 −Ｍ0 ）／ｍ …（５）ここで、モニタ出力の傾きが減少傾向にある場合、図１
３に示されるように、従来の方法によると、モニタデー
タＭ1 ，Ｍ2 より求められるモニタ出力の傾きｍ1 によ
り蓄積終了時刻を求めるのでＴa で蓄積終了することに
なり、その時点でのモニタ信号ＭＤＡＴＡはＭa となり
蓄積レベルは不十分となってしまう。これに対して、本
実施の形態により、蓄積レベルはモニタ信号ＭＤＡＴＡ
がＭX となり、従って十分な蓄積レベルを得ることがで
きる。TX = (M4−M0) / m (5) Here, when the inclination of the monitor output is decreasing, FIG.
As shown in FIG. 3, according to the conventional method, the accumulation end time is obtained from the monitor output gradient m1 obtained from the monitor data M1 and M2, so that the accumulation ends at Ta, and the monitor signal MDATA at that time is Ma, and the accumulation level becomes insufficient. On the other hand, according to the present embodiment, the accumulation level is the monitor signal MDATA.
Becomes MX, so that a sufficient accumulation level can be obtained.

【００７０】上記ステップＳ３２において、ｍ1 ／ｍ2
がＫ1 〜Ｋ2 の範囲内である時は交流光源の影響を受け
ていないので、モニタ出力の傾きはｍ1 とｍ2 の平均値
を採用し（ステップＳ４１）、上記（３）式にて蓄積終
了時刻ＴX を求め（ステップＳ４２）、ＴX をタイマに
セットさせた後、タイマの計時を開始させて（ステップ
Ｓ３６）、リターンする。In the above step S32, m1 / m2
Is within the range of K1 to K2, the influence of the AC light source is not exerted. Therefore, the slope of the monitor output uses the average value of m1 and m2 (step S41). Tx is obtained (step S42), and after setting Tx in the timer, the timer starts counting (step S36), and the routine returns.

【００７１】以上述べたように、第１の実施の形態に係
る光電変換装置では、モニタ出力の傾きの変化率が大き
いか否かにより交流光源の影響が大きいか判別し、影響
が大きい場合は蓄積時間の計算方法を変更しているの
で、適正な蓄積信号レベルに制御することが可能であ
る。As described above, in the photoelectric conversion device according to the first embodiment, it is determined whether or not the influence of the AC light source is large depending on whether or not the rate of change in the inclination of the monitor output is large. Since the method of calculating the accumulation time is changed, it is possible to control the accumulation signal level to an appropriate level.

【００７２】次に第２の実施の形態について説明する。
第２の実施の形態は、先に説明した第１の実施の形態の
図１０のステップＳ１３で実行されるサブルーチン“蓄
積制御”の内容が異なるのみである。その他の内容は前
述した第１の実施の形態と同様である為、ここでは説明
を省略する。Next, a second embodiment will be described.
The second embodiment is different from the first embodiment only in the content of the subroutine "storage control" executed in step S13 in FIG. 10 described above. Other details are the same as those in the first embodiment, and the description is omitted here.

【００７３】以下、図１４のフローチャートを参照し
て、サブルーチン“蓄積制御”のシーケンスを説明す
る。尚、ステップＳ５１〜Ｓ５８は、図１１のステップ
Ｓ２１〜Ｓ２８と同一である為、ここでは説明を省略
し、ステップＳ５９から説明する。The sequence of the subroutine "storage control" will be described below with reference to the flowchart of FIG. Steps S51 to S58 are the same as steps S21 to S28 in FIG. 11, and thus description thereof will be omitted here, and the description will be continued from step S59.

【００７４】ステップＳ５９では、前述の式（１）によ
るｍ1 の計算を行い、このモニタ出力の傾きｍ1 を用い
て所定のモニタレベルＭM となると予測される時刻ｎＴ
1 ＋Ｔ2 ＋ＴY となる時間ＴY を計算する。そして、こ
の時刻ｎＴ1 ＋Ｔ2 ＋ＴY となるまで待ち（ステップＳ
６０）、モニタ信号ＭＤＡＴＡをＡＤ変換し、得られた
モニタデータＭ3 をＲＡＭに格納する（ステップＳ６
１）。In step S59, m1 is calculated according to the above-described equation (1), and a time nT at which a predetermined monitor level MM is predicted to reach a predetermined monitor level MM using the slope m1 of the monitor output.
Calculate the time TY that becomes 1 + T2 + TY. Then, wait until the time becomes nT1 + T2 + TY (step S
60), the monitor signal MDATA is AD-converted, and the obtained monitor data M3 is stored in the RAM (step S6).
1).

【００７５】次いで、時刻ｎＴ1 ＋Ｔ2 ＋ＴY における
モニタレベルの予測値ＭM と実際の測定値Ｍ3 との差の
絶対値｜Ｍ3 −ＭM ｜を所定の判定値ＭZ と比較する
（ステップＳ６２）。そして、｜Ｍ3 −ＭM ｜＞ＭZ で
ある場合は、モニタレベルの予測値と測定値の差が大き
いので、交流光源の影響が大きいと判別され、モニタ出
力の傾き変化が増加傾向であるか減少傾向であるかをモ
ニタレベルＭ3 とＭM の比較により判別する（ステップ
Ｓ６３）。Next, the absolute value | M3−MM | of the difference between the monitor level predicted value MM and the actual measured value M3 at the time nT1 + T2 + TY is compared with a predetermined judgment value MZ (step S62). If | M3 -MM |> MZ, the difference between the predicted value of the monitor level and the measured value is large, so it is determined that the influence of the AC light source is large, and the change in the slope of the monitor output is increasing or decreasing. It is determined whether there is a tendency by comparing the monitor levels M3 and MM (step S63).

【００７６】ここで、Ｍ3 ＜ＭM の場合はモニタ出力の
傾き変化が増加傾向と判別され、最新のモニタレベル情
報であるＭ3 とＭ2 を用いてモニタ出力の傾きｍを式
（６）により求める（ステップＳ６４）（図１５参
照）。Here, when M3 <MM, the change in the slope of the monitor output is determined to be increasing, and the slope m of the monitor output is obtained by the equation (6) using the latest monitor level information M3 and M2 ( Step S64) (see FIG. 15).

【００７７】ｍ＝（Ｍ2 −Ｍ3 ）／ＴY …（６）続いて、このモニタ出力の傾きｍを用いて蓄積終了予測
時刻ｎＴ1 ＋Ｔ2 ＋ＴY ＋ＴX となる時間ＴX を上記
（３）式により求める（ステップＳ６５）。そしてタイ
マにＴX をセットし、スタートさせ（ステップＳ６
６）、リターンする。M = (M2−M3) / TY (6) Then, using the slope m of the monitor output, the time TX at which the accumulation end predicted time nT1 + T2 + TY + TX is obtained by the above equation (3) (step 3). S65). Then, the timer is set to TX and started (step S6).
6) Return.

【００７８】このような制御により、図１５に示される
ように、目標レベルＭ0 に対し、実際にはモニタレベル
ＭX で蓄積終了し、蓄積信号を飽和させることなく制御
することができる。By such control, as shown in FIG. 15, the accumulation is actually completed at the monitor level MX with respect to the target level M0, and the control can be performed without saturating the accumulation signal.

【００７９】これに対して、上記ステップＳ６３におい
て、Ｍ3 ≧ＭM である場合は、モニタ出力の傾き変化が
減少傾向と判別され、モニタレベルＭ3 測定からさらに
所定時間Ｔ3 が経過するまで待ち（ステップＳ６７）、
モニタ信号ＭＤＡＴＡをＡＤ変換し、得られたモニタデ
ータＭ4 をＲＡＭに格納する（ステップＳ６８）。次
に、コントローラＣＬは、最新のモニタレベル情報であ
るＭ4 とＭ3 を用いてモニタ出力の傾きｍを以下の
（７）式により求める（ステップＳ６９）（図１６参
照）。On the other hand, if M3 ≥ MM in step S63, it is determined that the change in the slope of the monitor output is decreasing, and the process waits until a predetermined time T3 has elapsed from the measurement of the monitor level M3 (step S67). ),
The monitor signal MDATA is AD-converted, and the obtained monitor data M4 is stored in the RAM (step S68). Next, the controller CL uses the latest monitor level information M4 and M3 to determine the monitor output slope m by the following equation (7) (step S69) (see FIG. 16).

【００８０】ｍ＝（Ｍ3 −Ｍ4 ）／Ｔ3 …（７）さらに、このモニタ出力傾きｍを用いて蓄積終了予測時
刻ｎＴ1 ＋Ｔ2 ＋ＴY＋Ｔ3 ＋ＴX となる時間ＴX を式
（８）により計算する（ステップＳ７０）。M = (M3−M4) / T3 (7) Further, using this monitor output gradient m, the time TX at which the accumulation end predicted time nT1 + T2 + TY + T3 + TX is calculated by equation (8) (step S70). .

【００８１】ＴX ＝（Ｍ4 −Ｍ0 ）／ｍ …（８）そして、タイマに上記ＴX をセットし、カウントをスタ
ートして（ステップＳ６６）、リターンする。このよう
な制御により，図１６に示されるように、目標モニタレ
ベルＭ0 に対し、実際にはモニタレベルＭX で蓄積を終
了するのでほぼ十分な蓄積信号を得ることができる。TX = (M4−M0) / m (8) Then, the above-mentioned TX is set in the timer, counting is started (step S66), and the routine returns. By such control, as shown in FIG. 16, since the accumulation is actually ended at the monitor level MX with respect to the target monitor level M0, an almost sufficient accumulated signal can be obtained.

【００８２】一方、上記ステップＳ６２において、｜Ｍ
3 −ＭM ｜≦ＭZ の場合はモニタ出力の傾きの変化は小
さく交流光源の影響は少ないので、モニタ出力の傾きと
してｍ1 を採用する（ステップＳ７１）。そして、下記
の（９）式により蓄積終了予測時刻ｎＴ1 ＋Ｔ2 ＋ＴY
＋ＴX となる時間ＴX を計算し（ステップＳ７２）、タ
イマにＴX をセットし、カウントをスタートさせ（ステ
ップＳ６６）、リターンする。On the other hand, in step S62, | M
In the case of 3−MM | ≦ MZ, since the change in the slope of the monitor output is small and the influence of the AC light source is small, m1 is adopted as the slope of the monitor output (step S71). Then, according to the following equation (9), the accumulation end predicted time nT1 + T2 + TY
Calculate a time TX that becomes + TX (step S72), set TX in a timer, start counting (step S66), and return.

【００８３】ＴX ＝（Ｍ2 −Ｍ0 ）／ｍ …（９）以上述べたように，第２の実施の形態に係る光電変換装
置では、予測されるモニタ出力レベルと実際のモニタ出
力レベルの差から交流光源の影響の大きさを判別し、蓄
積終了時間を求めるので、蓄積信号レベルが適正になる
ように蓄積制御を行うことができる。TX = (M2−M0) / m (9) As described above, the photoelectric conversion device according to the second embodiment uses the difference between the predicted monitor output level and the actual monitor output level. Since the magnitude of the influence of the AC light source is determined and the accumulation end time is obtained, accumulation control can be performed so that the accumulation signal level becomes appropriate.

【００８４】次に第３の実施の形態について説明する。
第３の実施の形態は、図１１のサブルーチン“蓄積制
御”のフローチャートのみを図１８に置き換えたもので
あり、その他は第１の実施の形態と同一である為、、こ
こでは同一内容についての説明を省略する。Next, a third embodiment will be described.
In the third embodiment, only the flowchart of the subroutine "accumulation control" in FIG. 11 is replaced by FIG. 18, and the other parts are the same as those in the first embodiment. Description is omitted.

【００８５】以下、図１８を参照して、サブルーチン
“蓄積制御”の動作を説明する。尚、図１８においてス
テップＳ１００〜Ｓ１１１は図１１のフローチャートの
ステップＳ２１〜Ｓ３２と同一内容である為、ここでは
説明を省略する。The operation of the subroutine "storage control" will be described below with reference to FIG. Note that steps S100 to S111 in FIG. 18 have the same contents as steps S21 to S32 in the flowchart in FIG. 11, and thus description thereof will be omitted.

【００８６】ステップＳ１１１において、モニタ出力の
傾きの比ｍ1 / ｍ2 が所定の判定値Ｋ1 〜Ｋ2 の範囲内
にない時、即ち交流光源の影響を強く受けている時は、
ＲＡＭに格納されている感度データを参照して今回の蓄
積の感度設定をチェックする（ステップＳ１１２）。そ
して、高感度であった場合は、ＣＬＫをＨレベルからＬ
レベルとすることにより低感度側へ切り換える（ステッ
プＳ１１３）。In step S111, when the monitor output inclination ratio m1 / m2 is not within the range of the predetermined judgment values K1 to K2, that is, when the influence of the AC light source is strong,
The sensitivity setting for the current accumulation is checked with reference to the sensitivity data stored in the RAM (step S112). If the sensitivity is high, CLK is changed from H level to L level.
The level is switched to the low sensitivity side by setting the level (step S113).

【００８７】続いて、Ｔ1 ，Ｔ2 ，Ｔ3 ，Ｔ4 をｌ倍し
た値に変更し、ステップＳ１００に戻って再度蓄積をや
り直す（ステップＳ１１４）。ここで、感度を低感度側
へ切り換えることによる効果を図１９に示す。Subsequently, the values of T1, T2, T3, and T4 are changed to 1 times, and the process returns to step S100 to perform the accumulation again (step S114). Here, the effect of switching the sensitivity to the low sensitivity side is shown in FIG.

【００８８】図１９において、ＫＨは高感度側でのモニ
タ出力の時間変化、ＫL は同一条件下での低感度側での
モニタ出力の時間変化を示す。但し、高感度と低感度は
約８倍の感度差を有するものとしている。この図１９よ
り明らかなように、高感度ＫH ではモニタ出力の傾き変
化が時間と共に増大していく場合、蓄積信号レベルが適
正となるように蓄積時間を制御するのは前述のように困
難である。In FIG. 19, KH indicates the time change of the monitor output on the high sensitivity side, and KL indicates the time change of the monitor output on the low sensitivity side under the same conditions. However, the high sensitivity and the low sensitivity have a sensitivity difference of about 8 times. As is apparent from FIG. 19, when the change in the slope of the monitor output increases with time at high sensitivity KH, it is difficult to control the accumulation time so that the accumulation signal level becomes appropriate as described above. .

【００８９】一方、低感度側ＫL においては、図１９に
示されるように、交流光源の影響は約１／８に軽減され
るので、従来の蓄積制御方法によっても容易に適正な蓄
積信号レベルとなる制御が可能となる。また、感度を低
感度側へ切り換えたことにより、モニタ出力の時間に対
する傾きが減少したことに合わせて、蓄積制御中のモニ
タ出力測定時間をｌ倍として大きくしている。On the other hand, on the low-sensitivity side KL, as shown in FIG. 19, the influence of the AC light source is reduced to about 1/8, so that the proper accumulation signal level can be easily obtained by the conventional accumulation control method. Control becomes possible. Further, by switching the sensitivity to the low sensitivity side, the monitor output measurement time during the accumulation control is increased by 1 times in accordance with the decrease in the slope of the monitor output with respect to time.

【００９０】図１８のフローチャートの説明に戻る。上
記ステップＳ１１２において、今回の蓄積が低感度側に
よるものであればステップＳ１１５以降の処理に進む。
ここで、ステップＳ１１５〜Ｓ１２１については、図１
１のステップＳ３２〜Ｓ４０と同一であるので説明を省
略する。Returning to the description of the flowchart of FIG. In step S112, if the current accumulation is on the low sensitivity side, the process proceeds to step S115 and subsequent steps.
Here, regarding steps S115 to S121, FIG.
Steps S32 to S40 of Step 1 are the same as those in Steps S32 to S40, and a description thereof is omitted.

【００９１】一方、上記ステップＳ１１１において、モ
ニタ出力傾きの比ｍ1 ／ｍ2 が所定の判定値Ｋ1 〜Ｋ2
の範囲内にある時は交流光源の影響は小さいと判断され
てステップＳ１２２以降の処理に進む。ステップＳ１２
２〜Ｓ１２４については、図１１のステップＳ４１，Ｓ
４２，Ｓ３６と同一であるため説明を省略する。On the other hand, in step S111, the ratio m1 / m2 of the monitor output inclination is equal to the predetermined determination value K1-K2.
Is within the range, it is determined that the influence of the AC light source is small, and the process proceeds to step S122 and subsequent steps. Step S12
Steps S41 and S41 in FIG.
42 and S36, so that the description is omitted.

【００９２】こうして計算された蓄積終了時間をタイマ
にセットし、カウントを開始した後（ステップＳ１２
４）、リターンする。その後、タイマのカウントが終了
により割り込みを発生し、図２０に示すサブルーチン
“蓄積終了割り込み”の処理を行う。The accumulation end time calculated in this way is set in a timer, and after counting is started (step S12).
4) Return. Thereafter, an interrupt is generated when the count of the timer ends, and the processing of a subroutine "accumulation end interrupt" shown in FIG. 20 is performed.

【００９３】即ち、同ルーチンでは、先ずＥＮＤをＨレ
ベルからＬレベルとして、ＡＦセンサＡＳの蓄積動作を
終了させる。また、蓄積中フラグをクリア、蓄積終了フ
ラグをセットする（ステップＳ１５０）。続いて、ＡＦ
センサＡＳ内部で蓄積終了時に保持されているモニタ出
力をＡＤコンバータＡＤＣでＡＤ変換して結果ＭE をＲ
ＡＭに格納する（ステップＳ１５１）。そして、上記モ
ニタ出力ＭE と所定値Ｍmin と比較する。ここではモニ
タ出力が飽和しているか否かを判別するためにＭmin は
例えば１０程度の小さい値とする（ステップＳ１５
２）。That is, in this routine, first, END is changed from H level to L level, and the accumulation operation of the AF sensor AS is ended. Further, the accumulation flag is cleared and the accumulation end flag is set (step S150). Then, AF
The monitor output held at the end of the accumulation in the sensor AS is AD-converted by the AD converter ADC, and the result ME is converted to R
It is stored in the AM (step S151). Then, the monitor output ME is compared with a predetermined value Mmin. Here, Mmin is set to a small value of, for example, about 10 to determine whether the monitor output is saturated (step S15).
2).

【００９４】ここで、ＭE ＜Ｍmin の時は飽和している
と判別し、高感度か否か判別する（ステップＳ１５
３）。そして、高感度の時は低感度側に切り換え（ＣＬ
ＫＨ→Ｌ）（ステップＳ１５４）、前述のように蓄積中
のモニタ出力の測定時間をｌ倍し（ステップＳ１５
５）、蓄積終了フラグをクリアし（ステップＳ１５
６）、リターンする。この場合は、前述のサブルーチン
“ＡＦ”にて再度サブルーチン“蓄積制御”を実行し、
低感度側で再蓄積を行う。Here, when ME <Mmin, it is determined that the sensor is saturated, and it is determined whether the sensitivity is high (step S15).
3). When the sensitivity is high, the sensitivity is switched to the low sensitivity side (CL
KH → L) (step S154), as described above, multiply the measurement time of the monitor output during accumulation by 1 (step S15).
5), clear the accumulation end flag (step S15)
6) Return. In this case, the subroutine "accumulation control" is executed again in the aforementioned subroutine "AF", and
Re-accumulate on the low sensitivity side.

【００９５】一方、上記ステップＳ１５２で、ＭE ≧Ｍ
min の時は、他の処理を行うことなくリターンする。ま
た、ステップＳ１５３にて、低感度である時も他の処理
を行うことなくリターンする。この２つの場合は蓄積信
号の飽和はないか、或いは焦点検出に対する影響は小さ
いという判断でこの蓄積信号に基づいて焦点検出を続行
する。On the other hand, in step S152, ME ≧ M
In the case of min, the process returns without performing other processing. In step S153, even when the sensitivity is low, the process returns without performing other processing. In these two cases, it is determined that there is no saturation of the accumulated signal or the influence on the focus detection is small, and the focus detection is continued based on the accumulated signal.

【００９６】以上説明したように、第３の実施の形態に
係る光電変換装置では、ＡＦセンサＡＳが高感度側での
蓄積を行う場合に、蓄積中のモニタ出力の変化率の変化
又は蓄積終了後のモニタ出力に基づき交流光源の影響が
大きいと判別すると、低感度側に切り換えて再度蓄積を
やり直すことで、適正な蓄積制御を実現する。As described above, in the photoelectric conversion device according to the third embodiment, when the AF sensor AS performs accumulation on the high sensitivity side, the change rate of the monitor output change during accumulation or the accumulation termination is completed. If it is determined that the influence of the AC light source is large on the basis of the subsequent monitor output, appropriate accumulation control is realized by switching to the low sensitivity side and performing accumulation again.

【００９７】尚、本発明の上記実施の形態には以下の発
明が含まれる。（１）被写体からの光束を受光し、光量に応じて発生す
る電荷を蓄積する複数の光電変換素子を有する光電変換
素子列と、上記光電変換素子列に蓄積された電荷量に対
応するモニタ信号を出力するモニタ手段と、上記光電変
換素子列の蓄積開始から所定時間後に上記モニタ信号を
読み出すモニタ信号読み出し手段と、このモニタ信号読
み出し手段の出力を受け、交流光源による光が上記光電
変換素子列に支配的に入射しているかを判定する判定手
段と、読み出されたモニタ信号と、それを読み出した時
刻と、上記判定手段の判定結果とに基づいた所定の演算
式により上記光電変換素子列の適正な蓄積終了時間を予
測する蓄積時間計算手段と、この蓄積時間計算手段から
出力された蓄積終了時間が経過したとき、上記光電変換
素子列の蓄積動作を停止させ、光電変換素子列の出力信
号を読み出す蓄積制御、信号読み出し手段と、を具備す
ることを特徴とする光電変換装置。（２）上記判定手段は、上記読み出されたモニタ信号の
変化率の変化が所定値より大なる時に、交流光源による
光が上記光電変換素子列に支配的に入射していると判定
することを特徴とする上記（１）に記載の光電変換装
置。（３）上記判定手段は、上記光電変換素子列の蓄積動作
開始から所定時間後の予測したモニタ信号の値と、実際
のモニタ信号の値との差が所定値よりも大なる時に、交
流光源による光が上記光電変換素子列に支配的に入射し
ていると判定することを特徴とする（１）に記載の光電
変換装置。（４）被写体からの光束を受光した光量に応じた電荷を
蓄積する、感度切換可能な複数の光電変換素子列を有す
る光電変換手段と、この光電変換手段の感度を切換える
感度切換手段と、この光電変換手段に蓄積された電荷量
に対応するモニタ信号を出力するモニタ手段と、上記光
電変換手段の蓄積動作開始から所定時間後に上記モニタ
信号を読み出すモニタ信号読み出し手段と、このモニタ
信号読み出し手段の出力を受け、交流光源による光が上
記光電変換素子列に支配的に入射しているか判定する判
定手段と、読み出されたモニタ信号と、それを読み出し
た時刻とに基づいて、上記光電変換手段の適正蓄積終了
時間を予測する蓄積時間計算手段と、この蓄積時間計算
手段から出力された蓄積終了時間が経過したとき、上記
光電変換素子列の蓄積動作を停止させ、光電変換素子列
の出力信号を読み出す蓄積制御、信号読み出し手段と、
を具備し、上記判定手段によって、交流光源による光が
上記光電変換素子列に支配的に入射していると判定され
るとき、上記感度切換手段により上記光電変換手段の感
度を下げることを特徴とする光電変換装置。The above embodiments of the present invention include the following inventions. (1) A photoelectric conversion element array having a plurality of photoelectric conversion elements for receiving a light beam from a subject and accumulating electric charges generated according to the amount of light, and a monitor signal corresponding to the amount of electric charge accumulated in the photoelectric conversion element array A monitor signal reading means for reading out the monitor signal a predetermined time after the start of accumulation of the photoelectric conversion element array, and receiving an output of the monitor signal reading means and causing an AC light source to emit light from the photoelectric conversion element array. Determining means for determining whether light is dominantly incident on the photoelectric conversion element array by a predetermined arithmetic expression based on the read monitor signal, the time at which it was read, and the determination result of the determining means. Accumulation time calculating means for estimating an appropriate accumulation end time of the photoelectric conversion element array when the accumulation end time outputted from the accumulation time elapses. Is stopped, accumulation control for reading the output signal of the photoelectric conversion element array, photoelectric conversion device characterized by comprising a signal reading means. (2) The determination means determines that light from the AC light source is dominantly incident on the photoelectric conversion element array when a change in the rate of change of the read monitor signal is greater than a predetermined value. The photoelectric conversion device according to (1), wherein: (3) When the difference between the predicted monitor signal value a predetermined time after the start of the accumulation operation of the photoelectric conversion element array and the actual monitor signal value is larger than a predetermined value, The photoelectric conversion device according to (1), wherein it is determined that light due to is incident on the photoelectric conversion element row. (4) A photoelectric conversion unit having a plurality of sensitivity-switchable photoelectric conversion element arrays for accumulating electric charges according to the amount of light received from a subject, and a sensitivity switching unit for switching the sensitivity of the photoelectric conversion unit. Monitor means for outputting a monitor signal corresponding to the amount of charge stored in the photoelectric conversion means, monitor signal reading means for reading the monitor signal a predetermined time after the start of the storage operation of the photoelectric conversion means, and monitor signal reading means Receiving means for determining whether or not light from an AC light source is dominantly incident on the photoelectric conversion element row; and based on the read monitor signal and the time at which it was read, the photoelectric conversion means. Accumulation time calculating means for estimating an appropriate accumulation end time of the photoelectric conversion element array when the accumulation end time outputted from the accumulation time calculation means elapses. The product operation is stopped, accumulation control for reading the output signal of the photoelectric conversion element array, and the signal reading means,
When the determination means determines that light from the AC light source is dominantly incident on the photoelectric conversion element row, the sensitivity switching means lowers the sensitivity of the photoelectric conversion means. Photoelectric conversion device.

【００９８】[0098]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
交流光源下においても適正な光電変換素子列の蓄積制御
を行うことで、良好な像信号を得ることを可能とし、焦
点検出が不能となったり焦点検出精度が劣化することを
防止し、高精度な焦点検出を行うことを可能とする光電
変換装置を提供することができる。As described in detail above, according to the present invention,
By performing proper accumulation control of the photoelectric conversion element array even under an AC light source, it is possible to obtain a good image signal, prevent focus detection from being disabled or deteriorating focus detection accuracy, and achieve high accuracy. It is possible to provide a photoelectric conversion device capable of performing accurate focus detection.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の光電変換装置の第１の概念図である。FIG. 1 is a first conceptual diagram of a photoelectric conversion device of the present invention.

【図２】本発明の光電変換装置の第２の概念図である。FIG. 2 is a second conceptual diagram of the photoelectric conversion device of the present invention.

【図３】第１の実施の形態に係る光電変換装置が搭載さ
れたカメラの断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a camera equipped with the photoelectric conversion device according to the first embodiment.

【図４】図３のカメラの焦点検出光学系の構成を示す図
である。FIG. 4 is a diagram illustrating a configuration of a focus detection optical system of the camera in FIG. 3;

【図５】図３のカメラの電気制御系の構成を示すブロッ
ク図である。FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of an electric control system of the camera shown in FIG.

【図６】ＡＦセンサＡＳ及びコントローラＣＬの動作を
示すタイムチャートである。FIG. 6 is a time chart showing the operation of the AF sensor AS and the controller CL.

【図７】ＡＦセンサＡＳのフォトダイオードアレイＰＤ
ＡＬ，ＰＤＡＲ及び画素増幅回路ＥＡＣの詳細な構成を
示す図である。FIG. 7 shows a photodiode array PD of the AF sensor AS.
FIG. 3 is a diagram illustrating a detailed configuration of an AL, a PDAR, and a pixel amplifier circuit EAC.

【図８】画素増幅回路ＥＡＣ内部の動作を示すタイムチ
ャートである。FIG. 8 is a time chart showing an operation inside the pixel amplifier circuit EAC.

【図９】コントローラＣＬの制御によるカメラの主動作
を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing a main operation of the camera under the control of the controller CL.

【図１０】図９のステップＳ３で実行されるサブルーチ
ン”ＡＦ”の動作を示すフローチャートである。FIG. 10 is a flowchart showing an operation of a subroutine “AF” executed in step S3 of FIG. 9;

【図１１】図１０の上記ステップＳ１３で実行されるサ
ブルーチン“蓄積制御”の動作を示すフローチャートで
ある。FIG. 11 is a flowchart showing an operation of a subroutine “storage control” executed in step S13 of FIG. 10;

【図１２】モニタ信号ＭＤＡＴＡの傾きが増加傾向にあ
る場合の蓄積終了時刻の算出方法を説明するための図で
ある。FIG. 12 is a diagram for explaining a method of calculating an accumulation end time when the slope of the monitor signal MDATA is increasing.

【図１３】モニタ信号ＭＤＡＴＡの傾きが減少傾向にあ
る場合の蓄積終了時刻の算出方法を説明するための図で
ある。FIG. 13 is a diagram for explaining a method of calculating an accumulation end time when the inclination of the monitor signal MDATA is decreasing.

【図１４】第２の実施の形態におけるサブルーチン“蓄
積制御”のシーケンスを示すフローチャートである。FIG. 14 is a flowchart illustrating a sequence of a subroutine “storage control” according to the second embodiment.

【図１５】モニタ信号ＭＤＡＴＡの傾きが増加傾向にあ
る場合の蓄積終了時刻の算出方法を説明するための図で
ある。FIG. 15 is a diagram for explaining a method of calculating an accumulation end time when the inclination of the monitor signal MDATA is increasing.

【図１６】モニタ信号ＭＤＡＴＡの傾きが減少傾向にあ
る場合の蓄積終了時刻の算出方法を説明するための図で
ある。FIG. 16 is a diagram for explaining a method of calculating an accumulation end time when the slope of the monitor signal MDATA is decreasing.

【図１７】光電変換素子の電荷の蓄積終了の割り込み処
理を示すフローチャートである。FIG. 17 is a flowchart showing an interruption process for terminating the accumulation of charges of the photoelectric conversion element.

【図１８】第３の実施の形態によるサブルーチン“蓄積
制御”の動作を示すフローチャートである。FIG. 18 is a flowchart illustrating an operation of a subroutine “storage control” according to the third embodiment.

【図１９】感度を低感度側へ切り換えることによる効果
を示す図である。FIG. 19 is a diagram illustrating the effect of switching the sensitivity to the low sensitivity side.

【図２０】サブルーチン“蓄積終了割り込み”の動作を
示すフローチャートである。FIG. 20 is a flowchart showing the operation of a subroutine “accumulation end interrupt”.

【図２１】従来技術に係る光電変換装置の光電変換手段
の蓄積時間とモニタ信号との関係を示す図である。FIG. 21 is a diagram illustrating a relationship between an accumulation time of a photoelectric conversion unit of a photoelectric conversion device according to a conventional technique and a monitor signal.

【図２２】交流光源下で従来の蓄積制御方法を行った場
合の交流光源の輝度変化とモニタ出力の変化の例を示す
図である。FIG. 22 is a diagram illustrating an example of a change in luminance of an AC light source and a change in monitor output when a conventional accumulation control method is performed under an AC light source.

【図２３】交流光源下で従来の蓄積制御方法を行った場
合の交流光源の輝度変化とモニタ出力の変化の例を示す
図である。FIG. 23 is a diagram illustrating an example of a change in luminance of an AC light source and a change in monitor output when a conventional accumulation control method is performed under an AC light source.

【図２４】ＡＤ変換器の入力範囲と光電変換素子列の蓄
積信号の関係を示す図である。FIG. 24 is a diagram illustrating a relationship between an input range of an AD converter and a storage signal of a photoelectric conversion element array.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１光電変換素子列２モニタ部３モニタ読み出し部４蓄積時間計算部５蓄積制御信号読み出し部６判定部７感度切換部 Reference Signs List 1 photoelectric conversion element array 2 monitor unit 3 monitor readout unit 4 accumulation time calculation unit 5 accumulation control signal readout unit 6 judgment unit 7 sensitivity switching unit

Claims

【特許請求の範囲】[Claims]

【請求項１】受光面に入射する光量に応じて発生する
電荷を蓄積して光電変換信号を出力する光電変換素子
と、上記光電変換素子の電荷蓄積量に対応するモニタ信号を
出力するモニタ手段と、上記光電変換素子の蓄積動作開始後の第１の時間経過後
にモニタ信号レベルを読み出し、上記第１の時間よりも
長い第２の時間経過後のモニタ信号レベルを予測すると
共に、その第２の時間経過後に実際のモニタ信号レベル
を読み出し、上記第２の時間経過後の予測したモニタ信
号レベルと実際のモニタ信号レベルとを比較し、上記光
電変換信号が飽和せず且つ十分なダイナミックレンジが
得られるように、上記光電変換素子の蓄積動作停止時間
を所定の演算式によって予測する予測手段と、この予測した蓄積動作停止時間が経過したとき、上記光
電変換素子の蓄積動作を停止させる蓄積制御手段と、を
具備することを特徴とする光電変換装置。1. A photoelectric conversion element for accumulating charges generated according to the amount of light incident on a light receiving surface and outputting a photoelectric conversion signal, and monitor means for outputting a monitor signal corresponding to the charge accumulation amount of the photoelectric conversion element A monitor signal level is read out after a lapse of a first time after the start of the accumulation operation of the photoelectric conversion element, and a monitor signal level after a lapse of a second time longer than the first time is predicted; The actual monitor signal level is read out after the elapse of the time, and the predicted monitor signal level after the elapse of the second time is compared with the actual monitor signal level, and the photoelectric conversion signal is not saturated and a sufficient dynamic range is obtained. Predicting means for predicting a storage operation stop time of the photoelectric conversion element by a predetermined arithmetic expression so as to obtain, when the predicted storage operation stop time has elapsed, A photoelectric conversion device, comprising: storage control means for stopping the storage operation of the photoelectric conversion element.

【請求項２】上記予測手段は、上記第２の時間経過後
における予測モニタ信号レベルと、実測したモニタ信号
レベルとの差の絶対値が所定値よりも大きいときに、上
記所定の演算式を変更することを特徴とする光電変換装
置。2. The method according to claim 1, wherein when the absolute value of a difference between the predicted monitor signal level after the lapse of the second time and the actually measured monitor signal level is larger than a predetermined value, the predetermined arithmetic expression is calculated. A photoelectric conversion device characterized by changing.

【請求項３】受光感度切換可能で、受光面に入射する
光量に応じて発生する電荷を蓄積して光電変換信号を出
力する光電変換素子と、この光電変換素子の受光感度を切換える感度切換手段
と、上記光電変換素子の電荷蓄積量に対応するモニタ信号を
出力するモニタ手段と、上記光電変換素子の蓄積動作開始後の第１の時間経過後
にモニタ信号レベルを読み出し、上記第１の時間よりも
長い第２の時間経過後のモニタ信号レベルを予測すると
共に、その第２の時間経過後に実際のモニタ信号レベル
を読み出し、上記第２の時間経過後の予測したモニタ信
号レベルと実際のモニタ信号レベルとを比較する比較手
段と、上記光電変換素子の蓄積動作停止時間を所定の演
算式によって予測する予測手段と、この予測した蓄積動作停止時間が経過したとき、上記光
電変換素子の蓄積動作を停止させる蓄積制御手段と、を
具備し、上記比較手段は、上記第２の時間経過後におけ
る予測モニタ信号レベルと実測したモニタ信号レベルと
の差の絶対値が所定値よりも大きいときに上記感度切換
手段に低感度側に切り換えさせるとともに再度蓄積動作
をやり直すことを特徴とする光電変換装置。3. A photoelectric conversion element capable of switching light receiving sensitivity, accumulating charges generated according to the amount of light incident on a light receiving surface and outputting a photoelectric conversion signal, and a sensitivity switching means for switching light receiving sensitivity of the photoelectric conversion element. Monitoring means for outputting a monitor signal corresponding to the amount of charge stored in the photoelectric conversion element; and a monitor signal level read out after a lapse of a first time after the start of the accumulation operation of the photoelectric conversion element; Predicts the monitor signal level after a lapse of a second time, reads the actual monitor signal level after the lapse of the second time, and compares the predicted monitor signal level after the lapse of the second time with the actual monitor signal. Comparing means for comparing the level with the level; predicting means for predicting the storage operation stop time of the photoelectric conversion element by a predetermined arithmetic expression; And a storage control means for stopping the storage operation of the photoelectric conversion element, wherein the comparing means comprises an absolute value of a difference between the predicted monitor signal level after the second time has elapsed and the actually measured monitor signal level. A photoelectric conversion device, wherein when the value is larger than a predetermined value, the sensitivity switching means is switched to a lower sensitivity side and the accumulation operation is performed again.