JPH10187474A - 情報処理装置の試験方式 - Google Patents
情報処理装置の試験方式Info
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- JPH10187474A JPH10187474A JP8345693A JP34569396A JPH10187474A JP H10187474 A JPH10187474 A JP H10187474A JP 8345693 A JP8345693 A JP 8345693A JP 34569396 A JP34569396 A JP 34569396A JP H10187474 A JPH10187474 A JP H10187474A
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Abstract
験を再開した場合に、システムダウンと試験再開とを繰
り返すことがなく、しかも、必要以上に試験プログラム
の実行を省略することのない試験方式を提供する。 【解決手段】 エラー情報収集部14は、システムダウ
ンが発生するとエラー情報を収集する。試験エラー情報
記録部15は、エラー情報に加え、実行していた試験の
情報とを外部記憶装置15に記録する。システム再立ち
上げ部17がシステムを再立ち上げすると、エラー情報
解析部18は、外部記憶装置16に記録された情報に基
づいてエラーの原因となった試験を特定する。試験組み
替え起動部19は、特定された試験を含まない競合試験
の組み合わせを作成し、試験実行部11に実行させる。
試験制御部12は試験実行部11及び図示しない情報処
理装置の管理制御を行う。
Description
験方式に関し、特に、情報処理装置を構成するCPU、
メモリ、キャッシュ、及び周辺装置等に対して同時に試
験を行う競合試験方式に関する。
(装置)に対して同時に試験を行う競合試験では、各デ
バイスからどれだけの時間エラーを検出せずに試験を継
続できたかという実績が、情報処理装置の品質レベルの
大きな判断材料とされる。このため、競合試験は、長時
間にわたって試験を継続するランニング試験として実施
されることが多い。
験実行中にシステムダウンとなるような致命的なエラー
を検出した場合に中断する。この場合、操作者は、試験
を継続するために、情報処理装置のリセットや試験の再
起動を行なわなければならない。ところが、通常のラン
ニング試験では、操作者は、試験状態を常時監視してい
るわけではないので、一旦、試験が中断すると、そのま
ま放置されることになる。特に、夜間等に試験が中断し
た場合には、数時間以上放置されることになりかねな
い。
とがないように、自動的に試験プログラムを再実行する
試験システムが提案されている。このようなシステム
は、特開平8−212113号公報に開示されている。
ステムダウンが発生すると、フラグを立ててシステムダ
ウンが発生したことを明示する。同時に、その時の試験
プログラム名をメモリに記憶させる。そして、情報処理
装置から試験システムへ制御を移行し、フラグに基づい
て情報処理装置からエラー情報を収集する。その後、情
報処理装置のハードウェアをリセットし、メモリに記憶
したプログラム名に基づいて試験プログラムを再実行す
る。こうして、ランニング試験が自動的に再開され、試
験が中断した状態で放置されるという状態を回避でき
る。
試験方式では、情報処理装置に固定的障害があった場合
や、ハードウェアあるいはソフトウェアのバグ(ここで
いうソフトウェアのバグとは、試験プログラム制御には
影響がない、デバイスに対する試験部のバグを指す。)
があるような場合に、エラーが検出されたときに実行し
ていた試験プログラムを再実行すると、再び、同一の原
因によってシステムダウンが生じ、以後、試験の再実行
とシステムダウンとが交互に繰り返されてしまうという
問題点がある。
載されているように、エラーが検出されたときに実行し
ていた試験プログラムの次のプログラムを実行するよう
にした場合には、上記のような固定的障害でない場合で
あっても、前の試験プログラムの実行結果が得られなく
なるという問題点がある。また、競合試験の場合には、
あるデバイスにおいてエラーが検出されただけで、他の
デバイスに対する試験が省略されて次の試験に移ってし
まうという問題点もある。
ムダウンが発生した後、試験を自動的に再開した場合
に、システムダウンと試験再開とを繰り返すことがな
く、しかも、必要以上に試験プログラムの実行を省略す
ることのない情報処理装置の試験方式を提供することを
を目的とする。
理装置を構成する複数のデバイスに対して同時に複数の
試験を実行させる競合試験を行うための情報処理装置の
試験方式において、前記複数のデバイスに対して前記複
数の試験を実行させる試験実行手段と、試験実行中にシ
ステムダウンとなるエラーを検出した場合にエラー情報
を収集するエラー情報収集手段と、前記エラー情報と前
記複数の試験を表わす試験情報とを記録するための記録
手段手段と、前記記録手段からの前記エラー情報と前記
試験情報とを記録保持する外部記憶装置と、前記エラー
情報からシステムダウンを引起こした試験を特定するエ
ラー情報解析手段と、該エラー情報解析手段により特定
された試験を除く新たな競合試験を生成して、前記試験
実行手段に実行させる試験組み替え起動手段とを有する
ことを特徴とする情報処理装置の試験方式が得られる。
場合、その時実行していた試験プログラムに関する情報
を外部記憶装置に記録する。またシステムダウン時のエ
ラー情報を採取してこれを記録し、エラー解析手段によ
ってエラーに起因した試験プログラム(部分)を特定
し、その特定された試験プログラム(部分)を、先に実
行していた試験から取り除いて、試験を再実行する。こ
れによりシステムダウンの原因となる試験プログラムは
実行されず、それ以外の競合試験プログラムの組み合わ
せで試験が継続される。
て図面を参照して説明する。
の試験方式は、情報処理装置を構成する複数のデバイス
に対し、個々の試験を実行する試験実行部11と、情報
処理装置を管理するとともに試験実行部11を制御する
試験制御部12とを含む試験プログラム群13を有して
いる。また、この試験方式は、試験プログラム群13に
おいて致命的なエラーを検出し、システムダウンとなっ
た場合にエラー情報を収集するエラー情報収集部14
と、エラー情報収集部14が収集したエラー情報とシス
テムダウン時に競合実行していた試験は何であったのか
を示す試験情報とを記録するための試験エラー情報記録
部15と、試験エラー情報記録部15によってエラー情
報と試験情報とが書き込まれ、これらの情報を保持する
外部記憶装置16と、情報処理装置を再立ち上げするシ
ステム再立ち上げ部17と、再立ち上げ後に外部記憶装
置16に記録されている試験エラー情報を読み出しシス
テムダウンの原因となった試験を割り出すエラー情報解
析部18と、割り出された試験を除いて競合試験を再開
させる試験組み替え起動部19とを有している。なお、
この試験方式は、外部記憶装置16を除いてソフトウェ
ア(プログラム)で構成することが可能であり、ソフト
ウェアを記録する記録媒体で実現可能である。
を参照して説明する。
(図示せず)を有している。これは、試験を自動的に実
行するか否かの判定に使用するフラグであって、“通常
モード”か“自動実行モード”を表わす。“通常モー
ド”は、通常の試験を開始する場合、“自動実行モー
ド”は連続試験時に、一旦システムがダウンした後、試
験を再開する場合に使用される。
ード”に設定されており、ステップ100からステップ
101に進む。そして、ステップ101において、操作
者の入力待ち状態になる。操作者は、どのデバイスにど
のような試験を実行するのかを指示する入力を行い、入
力後、試験実行の指示を与える。
と、試験制御部12は、ステップ102で、試験実行部
11を起動する。こうして試験が開始される。
御部12は、ステップ103で、そのエラーが致命的な
エラーか(システムダウンを引き起こすか)否かの判断
を行う。発生したエラーが致命的なエラー(システムダ
ウンの状態)の場合は、ステップ104でエラー情報収
集部14が起動される。発生したエラーが致命的なエラ
ーでない場合は、ステップ111で、試験を継続するか
否かが判断され、ステップ102で試験を継続、または
試験を終了する。
各部から、致命的エラーを引き起こした原因となる情報
(原因レジスタの内容)、エラー(例外)の発生状況、
当該例外を引き起こした命令アドレス(エラープログラ
ムカウンタの値)、試験プログラム群13のどの試験ル
ーチンが何番目にエントリされているかを示すアドレス
リンクマップ情報等、試験プログラム群13が、どの様
に動作していたのか、ハードウェアがどの様なステータ
スにあるのかというエラーに関する情報を採取する。そ
して、エラー情報収集部14は、採取した情報を試験エ
ラー情報記録部15に通知する。
収集部14から通知された情報をステップ105で、外
部記憶装置16に記録する。また、試験エラー情報記録
部15は、システムダウンとなるエラーを検出したとき
に実行していた競合試験二冠する情報、即ち、試験名や
試験のエントリアドレスなど、どの様なデバイスに対し
てどのような試験を実行していたか認識するのに必要な
情報を、ステップ106で、外部記憶装置16に記録す
る。このとき、試験制御部12は、試験実行モードフラ
グを“自動実行モード”に設定する。
ち上げ部17を起動する。システム再立ち上げ部17
は、ステップ107で、情報処理装置をリセットし、再
立ち上げを行う。
いて、試験実行モードフラグを確認する。上述したよう
に、試験実行モードフラグは“自動実行モード”に設定
されているので、試験制御部は、エラー情報解析部18
を起動する。
で、外部記憶装置16に記録されたエラー情報と実行し
ていた試験に関する情報を読み出し、ステップ109
で、エラー情報の解析を行う。即ち、エラー情報解析部
18は、外部記憶装置16から読み出した情報である、
エラープログラムカウンタ、致命的となるようなエラー
(例外)を引き起こした際の原因レジスタの情報、試験
プログラムのアドレスリンクマップ等に基づいて、シス
テムダウンの原因となった試験を特定する。エラー情報
解析部18は、特定した試験を試験組み替え起動部19
に通知する。
0で、外部記憶装置16からエラー情報解析部18が読
み出した、先に実行していた競合試験の組み合わせか
ら、特定された試験を除いて、競合試験の組み合わせ、
あるいは、特定された試験を除いて別の試験を加えた新
たな競合試験を組み合わせを作成して、試験プログラム
群13に与える。
9から与えられた新たな競合試験を、ステップ102で
実行する。以降、上記動作を繰り返す。
験を実行している最中に、致命的エラーを検出してシス
テムダウンとなったときに、システムダウン時のエラー
情報を採取してこれを記録し、エラー解析手段によりエ
ラーの原因となった試験を特定して、その試験を除く新
たな競合試験の組み合わせを試験組み替え起動手段によ
って作成して試験を再開するようにしたことで、情報処
理装置の固定的障害や、ハードウェア、ソフトウェアの
バグなどの同一の原因により発生する、試験の再起動と
システムダウンとの繰り返しを回避することができる。
る。
ある。
Claims (3)
- 【請求項1】 情報処理装置を構成する複数のデバイス
に対して同時に複数の試験を実行させる競合試験を行う
ための情報処理装置の試験方式において、前記複数のデ
バイスに対して前記複数の試験を実行させる試験実行手
段と、試験実行中にシステムダウンとなるエラーを検出
した場合にエラー情報を収集するエラー情報収集手段
と、前記エラー情報と前記複数の試験を表わす試験情報
とを記録するための記録手段手段と、前記記録手段から
の前記エラー情報と前記試験情報とを記録保持する外部
記憶装置と、前記エラー情報からシステムダウンを引起
こした試験を特定するエラー情報解析手段と、該エラー
情報解析手段により特定された試験を除く新たな競合試
験を生成して、前記試験実行手段に実行させる試験組み
替え起動手段とを有することを特徴とする情報処理装置
の試験方式。 - 【請求項2】 前記試験実行手段が、複数のデバイスに
対してそれぞれ複数の試験プログラムを有していること
を特徴とする請求項1の情報処理装置の試験方式。 - 【請求項3】 前記試験実行手段が、入力待ち状態にな
る“通常モード”か、前記エラー情報解析手段及び試験
組み替え起動手段を起動して試験を自動的に実行する
“自動実行モード”かを表わす試験実行モードフラグを
有し、システムダウンが発生するとフラグを前記“自動
実行モード”に設定するようにしたことを特徴とする請
求項1または2の情報処理装置の試験方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8345693A JP2998793B2 (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 情報処理装置の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8345693A JP2998793B2 (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 情報処理装置の試験方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10187474A true JPH10187474A (ja) | 1998-07-21 |
JP2998793B2 JP2998793B2 (ja) | 2000-01-11 |
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ID=18378330
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8345693A Expired - Fee Related JP2998793B2 (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 情報処理装置の試験方式 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2998793B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100488106B1 (ko) * | 2000-12-14 | 2005-05-09 | 엘지전자 주식회사 | 시스템 다운원인 타스크 추적 방법 |
-
1996
- 1996-12-25 JP JP8345693A patent/JP2998793B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100488106B1 (ko) * | 2000-12-14 | 2005-05-09 | 엘지전자 주식회사 | 시스템 다운원인 타스크 추적 방법 |
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