JPH10185761A - マルチ光ファイバ・ケーブルのテスト装置および方法 - Google Patents

マルチ光ファイバ・ケーブルのテスト装置および方法

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JPH10185761A
JPH10185761A JP9313662A JP31366297A JPH10185761A JP H10185761 A JPH10185761 A JP H10185761A JP 9313662 A JP9313662 A JP 9313662A JP 31366297 A JP31366297 A JP 31366297A JP H10185761 A JPH10185761 A JP H10185761A
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fiber
jumpers
cable
fiber optic
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JP9313662A
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Wayne A Barringer
ウェイン・エー・バリンジャー
Casimer M Decusatis
キャシマー・エム・デカサティス
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International Business Machines Corp
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
    • G01M11/3136—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR for testing of multiple fibers

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 マルチ光ファイバ・ケーブルのテスト装置を
提供する。 【解決手段】 テスト・ステーション１０、１２のある
ものはアレイ・コネクタ１６の接続を行い、他のものは
多数の離散形コネクタ２０の接続を行う。ＯＴＤＲユニ
ット２２の光入出力ポートは光スイッチ２３を介してテ
スト・ステーションの各々に接続されており、光スイッ
チはこのポートを一時にこのようなステーションの１つ
だけと接続する。各ステーション内で、光スイッチから
の信号はスプリッタにより多数の光路に分割され、この
スプリッタも信号をこれらの光路からＯＴＤＲへ光スイ
ッチを介して戻す。各ステーション内の各種の光路は長
さが異なる光ファイバ・ジャンパを含んでいるため、Ｏ
ＴＤＲからの単一のテスト信号パルスがテスト対象のケ
ーブル中の多数の界面からパルス列として反射される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光ファイバ・ケーブ
ルのテスト装置に関し、詳細にいえば、多数の個別のフ
ァイバを含んでいるこのようなケーブルのテストを容易
にする装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】マルチ光ファイバ・ケーブルは一端から
他端へ束になって延びている多数の個別のグラス・ファ
イバからなっている。これらのファイバの各々を使用し
て、通信信号や、多数の多重化信号を独立した態様で伝
送することができる。各端部において、ファイバの束は
アレイ・コネクタまたは多数の個別なコネクタのいずれ
かで終端している。たとえば、ケーブルに１２本の光フ
ァイバがある場合、一列になっている１２個のファイバ
終端を有するアレイで終わらせるか、あるいは１２個の
別々なコネクタで終わらせるかすることができる。実際
には、この種のケーブルは一端にアレイ・コネクタを、
他端に１２個の別々なコネクタを有している。各種のマ
ルチファイバ・ケーブルを１２本の光ファイバすなわち
光路を有するものとして本明細書に示すが、この本数は
例として使用されているだけであって、各種の本数のフ
ァイバを備えたケーブルをテストすることに、本発明を
適用するのが容易であることを理解されたい。
【０００３】マルチ光ファイバ・ケーブルにおいて、各
単一の光路（それぞれの単一のファイバに沿った）のテ
ストには、各端部におけるコネクタでの挿入損失と反射
減衰量の両方を測定する必要がある。これらの測定は２
つの個別のテストを必要とし、両コネクタ端部に独自の
設定が繰り返される。もっとも一般的なバルク光ファイ
バ・ケーブル材料によって製造されたジャンパに対する
従来の反射減衰量の測定は、コネクタ端面への屈折率整
合ゲルの塗布と、その後の除去を必要とする。運用時
に、これらは困難で、しかも時間のかかるものとなる。
このようなマルチファイバ・ケーブルのテストを、シン
グルファイバ・ケーブルのテストと比較した場合、個々
のテストを各単一の光路に適用しなければならないので
あるから、これらの問題が複合化されると判断される。
【０００４】従来の挿入損失および反射減衰量の測定技
法はジャンパあたり約３分ないし４分を要し、誤差を生
じやすい。必要なものはこのような測定をスピードアッ
プし、誤差および熟練した操作員へ依存することを少な
くし、物理的接点タイプおよびコネクタ・タイプの間の
変更を容易とする方法である。マルチ光ファイバ・ケー
ブルのテストに適用するにあたり、テスト装置によって
生成された信号を、ケーブル内の各ファイバに沿って送
り、個々の光路に沿って反射される各種の信号を弁別す
る方法が特に必要とされる。
【０００５】米国特許第５５３０５４６号は４つの位置
合わせプラグボード・ステーションを含む、光ファイバ
・ジャンパ・ケーブルをテストするためのステーション
を記載している。テスト対象の単一のケーブルは通常、
２つのプラグボードの間を延びるように接続されてい
る。各プラグボード・ステーションは、テスト対象のケ
ーブルの端部で使用することのできるコネクタの３つの
スタイルに対応している、３列のプラグ位置を含んでい
る。プラグ位置の上の行および中央の行は、使用するこ
とのできる接点タイプ（ＰＣまたはＡＰＣ）に対応して
いる。中央の行にあるプラグ位置の１つを、プラグボー
ド・ステーションから延びている基準ケーブルと整合さ
せる位置合わせ機構が設けられている。基準ジャンパが
上の行から延びており、テスト対象のケーブルが中央の
行に接続されている場合には、プラグ位置の下の行に結
合され、テスト対象のケーブルが上の行に接続されてい
る場合には、中央の行に差し込まれる。プラグボード・
ステーションの各々から延びている基準ケーブルは中央
行のプラグボード位置の１つと脱着させられ、テストの
順序を容易なものとする。３つのプラグボード・ステー
ションのうち２つからの基準ケーブルは、光スイッチを
介して、光学時間領域反射率計（ＯＴＤＲ）に接続され
ており、他の２本の基準ケーブルは反対側端部にあるコ
ネクタに接続されているだけである。コンピュータがプ
ラグボード・ステーションの位置合わせを制御し、好ま
しい順序にしたがって基準ケーブルを係合させる。しか
しながら、この米国特許第５５３０５４６号が取り上げ
ているのは、単一ファイバの光ケーブルをテストするこ
とだけであり、マルチファイバ・ケーブルに関連した特
定の問題については対象としていない。
【０００６】米国特許第４３０９１０５号は光ファイバ
・ケーブルの光伝送レベルを周知の受入れケーブルのも
のと比較することによって、光ファイバ・ケーブルをテ
ストする装置を記載している。テスト・プロセスの安定
性は可変で、較正された電源を使用して達成される。こ
の方法の精度は共通光源からの光を、装置のケーブル形
成部分とテストする光ファイバ・ケーブルの両方に同時
に結合することによって達成される。この構成によれ
ば、光源の振幅のドリフトおよび装置のデテクタが、光
出力の以降の相対測定の妥当性に影響を与えることがな
い。米国特許第４３０９１０５号は同じ接点タイプおよ
びコネクタ・スタイルを有している多数のケーブルをテ
ストする場合のテスト・プロセスをスピードアップする
問題を取り上げ、テストのタイプをその精度を確保する
手段とともに記載しているが、マルチ光ファイバ・ケー
ブルをテストする問題は取り上げられていない。
【０００７】米国特許第５１７９４２０号は、光信号が
テスト対象の光ファイバ光路に結合され、光ファイバ光
路からの後方散乱反射光が検出され、光路の損失−距離
特性を判定するために使用される光学時間領域反射率計
（ＯＴＤＲ）を記載している。制御ユニットは光源を構
成する半導体レーザの温度を変化させることによって光
信号の波長を変化させ、したがって複数の異なる波長に
対する損失−距離特性が決定され、光ファイバ光路の波
長依存損失を示すために表示される。このような損失は
光路における密接した不連続性に関連したモード干渉に
よるものである。それ故、米国特許第５１７９４２０号
はＯＴＤＲに対する特定の改善を、その使用方法ととも
に検討しているが、マルチ光ファイバ・ケーブルをテス
トする問題は取り上げられていない。
【０００８】米国特許第５０９３５６８号は光ファイバ
・ケーブルを障害に関して連続的に監視し、ケーブル内
の障害の自動的位置探査を可能とする監視システムを記
載している。このシステムにおいては、光信号が生成さ
れ、出力信号として光ファイバ・ケーブルの第１端部に
接続され、第２端部へ伝送される。次いで、信号は光フ
ァイバ・ケーブルを介して反射され、ケーブルの第１端
部に戻り信号をもたらす。第１端部にある比較器は出力
信号と戻り信号を比較し、対応する差分データをもたら
す。ＯＴＤＲが光ファイバ・ケーブルに沿った信号の損
失の位置を検出し、データ処理システムが対応する差分
データからの信号損失の位置を判定する。単一の光学時
間領域反射率計を使用して、複数の光ファイバ・ケーブ
ルを監視することができる。米国特許第５０９３５６８
号はテスト対象のケーブルを選択するＯＴＤＲスイッチ
を使用することによって、複数の光ファイバ・ケーブル
をテストする必要性を取り上げている。米国特許第５０
９３５６８号の装置は通常、連続的に監視を行うため
に、数本の光ファイバ・ケーブルに恒久的に接続されて
いる。個々のマルチ光ファイバ・ケーブルをテストする
場合、必要なのはケーブル内の各種のファイバの同時テ
ストを可能とする迅速な手段である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的はマルチ
光ファイバ・ケーブル中の複数の光ファイバを迅速にテ
ストする装置およびテスト方法を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の第１の態様によ
れば、各々がマルチ光ファイバ・ケーブル内の光ファイ
バに光学的に接続されているいくつかの光ファイバ・ジ
ャンパを含んでいる、マルチ光ファイバの手前端部から
等距離の位置にあるマルチ光ファイバ・ケーブルの、多
数の光ファイバに沿って個別に配置された多数の界面か
らの単一の光テスト・パルスの反射を弁別する装置が提
供される。単一の光テスト・パルスは各光ファイバ・ジ
ャンパに沿って、マルチ光ファイバ・ケーブル内の光フ
ァイバへ送られる。界面からの反射はさまざまな長さの
ものである光ファイバ・ジャンパの各々に沿って戻され
るので、各反射が各光ファイバ・ジャンパに沿って戻さ
れるときに、測定可能に変動する差がもたらされる。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１は本発明にしたがって構築さ
れたマルチ光ファイバ・ケーブル・テスト装置の略図で
ある。本装置は多数の離散形コネクタ・テスト・ステー
ション１０と多数のアレイ・コネクタ・テスト・ステー
ション１２を備えている。テスト対象の各ケーブルをこ
の装置に差し込んで、ケーブルが、そのコネクタが差し
込まれる２つのコネクタ・テスト・ステーションの間を
延びるようにする。なお、コネクタ・テスト・ステーシ
ョンのタイプはケーブル両端のコネクタのタイプによっ
て決定される。図１の例において、装置は各端部にアレ
イ・コネクタ１６を有している第１のケーブル１４と、
一端にアレイ・コネクタ１６を、また他端に離散形コネ
クタ２０を有している第２のケーブル１８をテストする
ように構成されている。各ケーブル１４、１８はシング
ルモード・タイプであっても、マルチモード・タイプで
あってもかまわない。
【００１２】本装置は単一のＯＴＤＲユニット２２（光
学時間領域反射率計）を含んでおり、これはテスト・プ
ロセスで使用される光パルスを生成し、またテストされ
ているケーブルおよびコネクタから反射される信号を受
け取り、評価する。テスト・パルスおよび反射の両方
は、ＯＴＤＲユニット２２の光入出力ポートを構成して
いる単一の光ファイバ２２ａに沿って伝わる。単一のテ
スト操作を実行するプロセスの中に、ＯＴＤＲユニット
２２は単一のパルスを放射し、このパルスは入力として
光スイッチ２３に与えられる。このスイッチは１０の出
力を有しており、これらは次いで入力として各テスト・
ステーション１０、１２に与えられる。光スイッチ２３
はＯＴＤＲユニット２２からの各パルスを、テスト・ス
テーション１２のうち、ケーブル１４または１８などの
テスト対象ケーブルが接続されているものだけに送る。
【００１３】このパルスが送られるテスト・ステーショ
ン１０または１２内で、パルスのエネルギーはテスト対
象のケーブル内の個々のファイバの各々に向かって延び
ている光路間で均等に分割される。これらの光路の各々
の内部で、このパルスは、テスト・ステーション１０、
１２とテスト対象のケーブルの間を接続する態様によっ
て決定される界面で反射される。このようなパルスの各
々の反射は戻り信号を形成し、この信号は光スイッチ２
３からＯＴＤＲユニット２２へ伝達される。テスト対象
の典型的なマルチ光ファイバ・ケーブル内で、各ファイ
バは同じ長さであるから、すべてのファイバを介して送
られ、各コネクタ界面で反射される単一のパルスは、組
み合わされた場合にそれぞれを弁別することができない
同数のパルスとして戻される。したがって、各テスト・
ステーション１０または１２内で、個々のケーブル・フ
ァイバへの各光路の一部を形成している各ジャンパは異
なる長さであるから、これらの戻り信号がＯＴＤＲユニ
ット２２に到達する時間は分散し、各種の戻り信号を弁
別することが可能となる。ＯＴＤＲユニット２２内で、
これらの戻り信号はテスト対象のケーブル内の各ファイ
バに関連したコネクタおよび光路に対する各種のパラメ
ータを計算するために使用される。
【００１４】結果を表示装置２６に表示し、キーボード
２８から与えられる操作員入力に応答するコンピューテ
ィング・システム２４を使用することによっても、テス
ト・プロセスは制御される。１枚または複数枚のフロッ
ピー・ディスク３２によって与えられる、コンピューテ
ィング・システム２４に必要な操作を行うプログラム
は、コンピューティング・システム内で実行される。コ
ンピューティング・システム２４はＯＴＤＲユニット２
２に接続されており、またコンピューティング・システ
ム２４内のアダプタ・カード（図示せず）の出力から延
びているケーブルを介して、ＤＩＤＯユニット３４（デ
ィジタル・イン、ディジタル・アウト）に接続されてい
る。この界面は、たとえば、カリフォルニア州Temecula
のＯＰＴＯ２２がＰＡＭＵＸという商標で販売している
アダプタ・カードおよびソフトウェアによって達成する
ことができる。
【００１５】図１の装置内でのテストの実施には、ケー
ブル１４、１８などのテスト対象のケーブルをテスト・
ステーション１０、１２に接続する各種のケーブル・コ
ネクタの順次係合および離脱が必要である。これらのコ
ネクタの係合離脱に必要な動作は、テスト・ステーショ
ン１０、１２内の空気圧スライダにより自動的に行われ
る。図２および図３を参照して検討する、これらの空気
圧スライダの各々は、ＤＩＤＯユニット３４の出力に電
気的に接続されたソレノイド・バルブ３６によって操作
される。
【００１６】図２はアレイ・コネクタ・テスト・ステー
ション１０と離散形コネクタ・テスト・ステーション１
２を特に示す、本発明にしたがって構築されたテスト装
置の部分平面図である。図３は離散形コネクタ・テスト
・ステーション１２を通る図２の断面線ＩＩＩ−ＩＩＩ
によって示されているように取った、図２の離散形コネ
クタ・テスト・ステーションの垂直断面図である。
【００１７】離散形コネクタ・テスト・ステーション１
２の構成と使い方を、図２および図３に示す要素を特に
参照して検討する。このテスト・ステーション１２は、
ケーブル１８の本体４１から延びている「ピグテール」
部分４０の端部に多数の離散形コネクタ２０を有してい
るケーブルに接続するように構成されている。各ピグテ
ール部分４０はケーブル１８を通して独立の光路の１つ
を形成する単一の光ファイバを含んでいる。特定のケー
ブル１８をテストするため、前面プレート４６に沿った
配列内を延びている多数の嵌合前面コネクタ４４と整合
した離散形コネクタ２０が取付バー４２に装着されてい
る。図２および図３の例において、この配列は単一行の
１２個のコネクタ４４を含んでいる。各コネクタ４４は
単一の光ファイバ・ジャンパ４８を介して中間コネクタ
４７に接続されている。中間コネクタ４７は中間プレー
ト５０に沿って延びている。後部光ファイバ・ジャンパ
５２は次いで、各中間コネクタ４７とスプリッタ５４の
間を延びている。
【００１８】図１−図３を参照すると、スプリッタ５４
は光スイッチ２３から単一の入力ライン５６に沿って入
力パルスを受け取り、これらのパルスの電力を１２個の
後部ジャンパ５２の間で均等かつ正確に分割する。単一
のテストをＯＴＤＲユニット２２からの単一のパルスで
開始した際に、１２本の光路の各々からテスト対象のケ
ーブル１８へ１つの１２個の戻りパルスが生成される。
テスト・プロセス中に、ＯＴＤＲユニット２２は各光路
について戻りパルスのレベルを測定して、以降の計算に
使用して、テスト対象のケーブルに関連したパラメータ
の値を決定するデータを与える。各光路についてパラメ
ータを計算するために、順次行われる数回の測定値を比
較する。これらの評価は個々の光路から戻るパルスを弁
別する能力についてだけ行えるものである。この能力を
与えるために、後部ジャンパ・ケーブル５２の長さは増
分的に変化する。ジャンパ・ケーブル内を光の速度で、
ＯＴＤＲユニット２２からの各パルスが、これが反射さ
れる表面へ、後部ジャンパ・ケーブル５２に沿って伝わ
らなければならず、また反射パルスが引き続いて同じ後
部ジャンパ・ケーブル５２に沿ってＯＴＤＲユニット２
２へ戻らなければならないのであるから、単一の離散形
コネクタ・テスト・ステーション１２内でのこれらのケ
ーブル５２の増分的な変動により、１２本の光路に沿っ
てこのようなパルスが戻る時間に所定の変動が生じる。
【００１９】図１をさらに参照すると、すべてのテスト
はＯＴＤＲユニット２２からのパルスを使用することに
よって達成される。各種のテスト・ステーション１０、
１２、それ故これに接続されているテスト対象のケーブ
ルの間での第１のレベルの分配は、ＯＴＤＲユニット２
２の出力を単一のテスト・ステーション１０、１２に接
続している光スイッチ２３を操作することによって行わ
れる。次のレベルにおいて、ＯＴＤＲユニット２２から
のパルスはテスト対象の単一のケーブルの個々のファイ
バにつながっているすべての光路に同時に導入される。
ただし、システムは各テスト・ステーション１０、１２
内でのジャンパ・ケーブル５２の長さの間の変動によっ
て導入されるタイミング差によって、ＯＴＤＲユニット
２２へ戻る反射を弁別することができる。単一ケーブル
の光路について得られた結果を弁別するこの方法は、す
べてのこのような光路を一回の操作でテストできるとい
う特別な効果を有している。
【００２０】特に図３を参照すると、離散形コネクタ２
０には対応する前面コネクタ４４が係合しており、一対
の空気圧シリンダ６０、６２によって離脱させられる。
下部スライダ６２は約２５ミリメートルという比較的長
い移動量を有しているため、コネクタ４４の端部のクリ
ーニングに適する距離だけ、クランプ・ブロック４２を
前面コネクタ４４から分離させるのに使用することがで
きる。上部スライダ６０の移動量は比較的短く、約１ミ
リメートルであるから、テスト・プロセス中にコネクタ
２０、４４を迅速に係合離脱させるために使用すること
ができる。これらの空気圧スライダ６０、６２は類似し
た部品を使用して形成されたいくつかの機構を有してお
り、これらは共通した参照符号を使用して識別されてい
る。このタイプのスライダは日本国東京のＴＨＫ株式会
社が「空気圧シリンダ付きボール・スライド、ＬＳＣタ
イプ（Ball Slide Equipped with Pneumatic Cylinder
Type LSC）」という品名で販売しているものでよい。
【００２１】各空気圧スライダ６０、６２はブロック６
８内のシリンダ・チャンバ６６中を移動するピストン６
４などのいくつかの類似した要素を含んでおり、これら
は共通した参照符号によって識別されている。各ブロッ
ク６８はベース・チャネル７０に接続されており、各ピ
ストン６４は摺動チャネル７２に接続されている。下部
スライダ６２のベース・チャネル７０はテスト装置の基
板７３に接続されている。上部スライダ６０のベース・
チャネル７０は下部スライダ６２の摺動チャネル７２に
接続されている。圧縮空気が第１のホース７４によって
各シリンダ・チャンバ６６の第１端部に供給され、ピス
トンを矢印７６の方向へ移動させる。圧縮空気が、第２
のホース８０（図２に示す）に接続されているダクト７
８によって各シリンダ・チャンバ６６に供給される。空
気はソレノイド・バルブ３６（図１に示す）を通してこ
れらの７４、８０に送られる。これらのバルブは空気に
圧力をかけて他のホースへ供給したときに、各ホース７
４、８０から大気中へ放出されるように構成されている
のが好ましい。したがって、上部スライダ６０の摺動チ
ャネル７２に接続されているクランプ・ブロック４２の
運動量、それ故離散形コネクタ２０の運動量は、両方の
摺動チャネル７２の合計運動量によって画定される。
【００２２】図２を参照すると、空気圧スライダ６０、
６２のいずれかあるいは両方にはさらに電気スイッチ・
アセンブリ８２が設けられている。このアセンブリは、
摺動チャネル７２から外方へ延びているタブ８８に固定
されたシャフト８６に、調節可能に取り付けられた一対
のアクチュエータ８４を含んでいる。これらのアクチュ
エータ８４の各々は、摺動チャネルが運動の終点に近づ
いたときにスイッチ９０を作動させて、チャネル７２の
位置を電気的に示す。
【００２３】個々のコネクタ２０、４４には整合および
係合機構が設けられており、短い距離で動作して、対向
して嵌合するコネクタ内の光ファイバを互いに整合さ
せ、また適切な接点力がこれらの光ファイバの間で維持
されるようにする。これらの機構は嵌合コネクタの間の
比較的大きい不整合を補償するものではないが、これら
の機能は複数のコネクタを各側にある剛性構造に取り付
けることを可能とする。
【００２４】図２をさらに参照すると、各アレイ・コネ
クタ・テスト・ステーション１０において、離散形コネ
クタ・テスト・ステーション１２の前面コネクタ４４お
よび個々の光ファイバ・ジャンパ４８が前面アレイ・コ
ネクタ９２に置き換えられており、この前面アレイ・コ
ネクタ９２は嵌合接続をケーブル・アレイ・コネクタ１
６をもたらすように構成されている。数本の離散形光フ
ァイバ線９４が前面アレイ・コネクタ９２から延びてい
て、中間コネクタ４７および後部光ファイバ・ジャンパ
５２を介してスプリッタ５４の出力への個別の接続を行
っている。各光ファイバ線９４は前面アレイ・コネクタ
９２を通り、アレイ・コネクタ１６、９２を係合したと
きにテスト対象のケーブル１８につながっている独立し
た光路の１本を形成する単一の光ファイバを含んでい
る。
【００２５】ケーブル・アレイ・コネクタ１６は取付ブ
ラケット９６によって、下部スライダ６２の頂部に取り
付けられている上部スライダ６０の摺動チャネル７２に
接続されており、したがって、ケーブル・アレイ・コネ
クタ１６は離散形コネクタ・テスト・ステーション１２
の離散形コネクタ２０に関して上述した態様で、矢印７
６の方向で前後に運動する。
【００２６】図２および図３を参照すると、テスト手順
中に各種の光路内で反射される光信号を弁別するため
に、各テスト・ステーション１０、１２の後部ジャンパ
５２の長さは増分的に変動する。それ故、単一のパルス
がＯＴＤＲユニット２２（図１に示す）によって放射さ
れた後、パルスの反射は各種のジャンパ５２に沿って両
方向へパルスが移動する時間の差によって増分的に変動
する時間でＯＴＤＲユニットに戻る。
【００２７】図４および図５はＯＴＤＲユニット２２か
ら伝送された場合の光のテスト・パルスの伝送を示す
図、およびマルチ光ファイバ・ケーブル・テストプロセ
ス中にＯＴＤＲユニットへ戻された場合のこのパルスの
反射を示す図である。
【００２８】マルチファイバ・ケーブル１８をテストす
るプロセスを図１、図２、図４および図５を参照して説
明する。このプロセスにおいて、テストはケーブルの手
前のコネクタと、奥のコネクタで行われる。この例にお
いて、手前のコネクタはアレイ・コネクタ１６であり、
奥のコネクタは離散形コネクタ２０であると想定する。
この割当ては任意のものであり、各端部にアレイ・コネ
クタを有している、あるいは各端部に離散形コネクタを
有しているマルチファイバ・ケーブルがこのようにして
テストされる。
【００２９】最初のシリーズのテストが、ＯＴＤＲユニ
ット２２をテスト対象のケーブル１８が接続されている
アレイ・コネクタに接続している光スイッチ２３で行わ
れる。このシリーズのテスト中に、奥のコネクタ２０が
離脱され、奥のテスト・ステーション１２における上部
スライダ６０の摺動チャネル７２が矢印７６と反対方向
へ移動する。図４に示した第１のテストの場合、手前の
コネクタ１６も離脱され、手前のテスト・ステーション
１０の上部スライダ６０の摺動チャネル７２も矢印７６
と反対の方向へ移動するので、ＯＴＤＲユニット２２が
放射する光パルス１００は第１のシリーズの１２個のパ
ルス１０２として反射され、ＯＴＤＲユニットへ戻さ
れ、各パルス１０２は手前の前面コネクタ９２内の光フ
ァイバの端部の反射となる。これらのパルス１０２はア
レイ・コネクタ・テスト・ステーション１０内の隣接中
間光ファイバ・ジャンパ５２の長さの差によって決定さ
れる時間だけ離隔している。このテストは実際にはケー
ブル１８のないテスト装置の較正であるが、新しいケー
ブル１８をテストするたびに反復して、前面コネクタ９
２における光ファイバの端面における摩耗や塵埃の集積
による変動を自動的に追跡することが好ましい。
【００３０】ＯＴＤＲユニット２２はテスト・パルス１
００の放射後の、図４および図５において中かっこ１０
４で示されているように限定されているが調節可能な時
間でパルスを受け取り、分析する機能を有している。テ
スト・プロセスのこの部分において、この時間は１２個
のパルス１０２全部を含むように調節されている。
【００３１】図１、図２および図５の参照を続けると、
図５は第２および第３のテスト中にＯＴＤＲユニット２
２（図１に示す）による単一パルス１００の放出後に生
じる反射を示している。第２および第３のテストはＯＴ
ＤＲユニット２２の出力を、テスト対象のケーブル１８
の手前端部に接続されているテスト・ステーション１０
に接続している光スイッチ２３によっても行われる。こ
れらのテストは両方とも、手前のケーブル・コネクタ１
６を嵌合前面コネクタ９２に係合させ、奥のケーブル・
コネクタ２０を嵌合前面コネクタ４４から離脱させて行
われる。これらのテストの各々において、奥のコネクタ
２０は他の光ファイバに接続されていないため、比較的
強い反射パルス１０６を発生するが、手前の前面コネク
タ９２は機械的圧力によって手前のケーブル・コネクタ
９６内のファイバに接続されているため、比較的弱い反
射パルス１０８を発生する。このように接続することに
より、光パルス内のエネルギーの大部分が伝送され、反
射されることがなくなる。第１のグループのパルス１０
８と第２のグループのパルス１０６の間の遅れは、放射
パルス１００がテスト対象のケーブル１８の長さを伝わ
る時間、およびその反射がケーブル１８を通って戻る時
間から導かれる。
【００３２】第２のテストの場合、ＯＴＤＲユニット２
２が分析のためのパルスを受け取ることのできる時間
は、中かっこ１０４によって示される時間に合わせて調
節されるため、ケーブル１８の手前端部の界面から反射
される１２個のパルス１０８を受け取って、分析するこ
とができる。第３のテストの場合、この時間は中かっこ
１１２によって示される他の時間に合わせて調節される
ので、ケーブル１８の奥の界面から反射される１２個の
パルス１０６を受け取って、分析することができる。
【００３３】これら３回のテストが完了した後、光スイ
ッチ２３を操作して、ＯＴＤＲユニット２２と手前のテ
スト・ステーション（この例では、アレイ・コネクタ・
テスト・ステーション１０）との間の接続を終了し、Ｏ
ＴＤＲユニット２２を奥のテスト・ステーション（この
例では、離散形コネクタ・テスト・ステーション１２）
と接続する。次に、上述の３回のテストを繰り返し、テ
スト・パルスと反射パルスが奥のテスト・ステーション
１２で伝送される。これらのテストすべてを完了し、ア
レイ・コネクタ１６が接続されている上部スライダ６０
を矢印７６と反対の方向へ移動させることによって、手
前の接続を離脱させる。これらのテストのうち最初のも
のを完了し、取付バー４２が接続されている上部スライ
ダ６０を移動させることによって、奥のテスト・ステー
ション１２における奥の接続を離脱させる。このテスト
によって、奥のテスト・ステーション１２からの装置の
較正が可能となる。次に、２回のテストを完了し、取付
バー４２が接続されている上部スライダ６０を移動させ
ることによって、奥の接続を行う。これらの３回のテス
トによって、図４および図５に示す結果が生じ、反射パ
ルスを分析のために受け取る時間が、これらの図を参照
して説明したようにして調節される。
【００３４】テスト対象のケーブル１８を通る各光路の
伝送特性を記述する実際のパラメータは、上述の測定値
から計算される。個々の測定は任意の順序で行うことが
できるが（たとえば、第３のテストを第２のテストの前
に行って）、きわめて重要なのは異なる光路から反射さ
れた光を使用した測定を組み合わせて、このようなパラ
メータを計算してはならないということである。単一の
パルス１００の反射としてＯＴＤＲユニット２２に返さ
れる信号を弁別する、本明細書に記載した方法は、この
ような弁別を達成するための信頼性が高く、再現性のあ
る方法を提供する際に特に有利である。
【００３５】上記の検討は接続界面における光ファイバ
の端部を研磨して、光路の軸線に垂直に延びている平面
を形成するＰＣ（物理接触）接続をテストするための較
正およびプロセスを記載したものである。テスト対象の
ケーブルはあるいは、一端または両端にＡＰＣ（斜め物
理接触）コネクタを有していてもよい。ＡＰＣコネクタ
においては、光ファイバを研磨して、光ファイバの軸線
に対して斜めに延びている平面を形成する。ＡＰＣコネ
クタはＰＣコネクタと比較して、一般により良好な伝送
特性があるという利点がある。しかしながら、ＡＰＣコ
ネクタにはこれらを上述したようなテスト操作において
抜き差ししたときに、一様な結果あるいは信頼性のある
結果を得られないという欠点がある。したがって、ＡＰ
Ｃコネクタを有するマルチ光ファイバ・ケーブルをテス
トする場合、ＡＰＣコネクタは一端にテスト装置と嵌合
するＰＣコネクタを、他端にテスト対象のコネクタと嵌
合するＡＰＣコネクタを有している基準ジャンパを使用
してテスト装置に接続する。切断および再接続というテ
スト・プロセスは、基準ジャンパのＰＣコネクタとテス
ト装置の間で行われる。
【００３６】それ故、図６は一端に手前のＡＰＣアレイ
・コネクタ１１８を、他端に奥のＡＰＣコネクタ１１９
を有しているマルチファイバ・ケーブル１１６をテスト
するように構成された、図１のテスト装置の部分略図で
ある。このケーブル１１６は一端にＡＰＣアレイ・コネ
クタ１２４を、他端にＰＣアレイ・コネクタ１２６を有
している手前の基準ジャンパ１２２によって、手前のテ
スト・ステーション１２０に接続されている。テスト中
のケーブル１１６も一端にＡＰＣアレイ・コネクタ１３
０を、他端にＰＣアレイ・コネクタ１３２を有している
奥の基準ジャンパ１２８によって、奥のテスト・ステー
ション１２７に接続されている。テスト・ステーション
１２０、１２７は両方ともこの例においては、図１の装
置からのアレイ・コネクタ・テスト・ステーション１０
である。名称と参照符号の変更は、テスト・プロセスの
検討を容易とするために行われたものである。
【００３７】図１および図６を参照すると、各マルチフ
ァイバ・ケーブル１１６をテストする前に、較正テスト
が基準ジャンパ１２２、１２８で実行される。これらの
テストは外部テーブルを接続することなく、手前のテス
ト・ステーション１２０内の反射を測定することによっ
て開始される。光スイッチ２３は手前のテスト・ステー
ション１２０をＯＴＤＲユニット２２に接続する。次
に、基準ジャンパ１２２、１２８はそのＡＰＣコネクタ
１２４、１３０によって互いに接続され、ＰＣコネクタ
１２６によって手前のテスト・ステーション１２０に接
続され、かつＰＣコネクタ１３２によって奥のテスト・
ステーション１２７に接続されている。
【００３８】マルチファイバ・ケーブル１１６を接続す
るために、ケーブル・コネクタ１１８、１１９はケーブ
ル１１６が図６に示すように、基準ジャンパ１２２、１
２８の間を延びるように接続される。奥の基準ジャンパ
１２８のＰＣコネクタ１３２を奥のテスト・ステーショ
ン１２７から外し、ＯＴＤＲユニット２２を光スイッチ
２３によって手前のテスト・ステーション１２０へ接続
して、最初のシリーズのテストを行う。これらのテスト
のうち最初のものにおいて、手前の基準ジャンパ１２２
のＰＣコネクタ１２６も外されているため、手前のテス
ト・ステーション１２０の特性をチェックすることがで
きる。これらのテストのうち２番目のものにおいて、手
前の基準ジャンパ１２２には手前のテスト・ステーショ
ン１２０が係合している。ＯＴＤＲユニット２２を調節
して、テスト・パルスが放射された後、奥の基準ジャン
パ・コネクタ１３２の界面から反射されたパルスが格納
され、分析されるようにする。次に、このテストを繰り
返し、ＯＴＤＲユニット２２を調節して、奥の基準コネ
クタ・ジャンパ１１９、１３０の界面から反射されたパ
ルスが格納され、分析されるようにする。
【００３９】手前の基準ジャンパ１２２のＰＣコネクタ
１２６を手前のテスト・ステーション１２０から外し、
奥のコネクタ１３２を奥のテスト・ステーション１２７
に接続したままにしておき、ＯＴＤＲユニット２２を光
スイッチ２３を介して奥のテスト・ステーション１２７
に接続して、第２のシリーズのテストを行う。これらの
テストの最初のものにおいて、ＯＴＤＲユニット２２を
調節して、テスト・パルスが放射された後、手前のジャ
ンパ・コネクタ１２６の界面から反射されたパルスが格
納され、基準情報を得るために分析されるようにする。
これらのテストの第２のものにおいて、ＯＴＤＲユニッ
ト２２を調節して、テスト・パルスが放射された後、手
前のコネクタ１１８、１２４の界面から反射されたパル
スが格納され、分析されるようにする。
【００４０】図７は一端にＡＰＣアレイ・コネクタ１１
９を、他端にＰＣコネクタ１３６を有しているケーブル
１３４をテストするように構成された、図１のテスト装
置の部分略図である。テスト装置は図６に示すように構
成されているが、奥の基準ジャンパ１２８だけが使用さ
れている点が異なっている。テスト中のケーブル１３４
の他端はＰＣコネクタ１３６を有しており、手前のテス
ト・ステーション１２０に直接差し込まれている。
【００４１】図１および図７を参照すると、奥の基準ジ
ャンパ・コネクタ１３２を奥のテスト・ステーション１
２７から外し、ＯＴＤＲユニット２２を光スイッチ２３
を介して手前のテスト・ステーション１２０に接続し
て、図７の構成を備えた第１のシリーズのテストを行
う。これらのテストのうち最初のものはテスト装置に関
する基準情報を発生するものであり、手前のケーブル・
コネクタ１３６も手前のテスト・ステーション１２０か
ら外して行われ、後でケーブル・コネクタ１３６が係合
される手前のテスト・ステーション１２０内の反射特性
が決定されるようにする。このシリーズにおける他の２
つのテストは、ケーブル・コネクタ１３６を手前のテス
ト・ステーション１２０に係合して行われる。これらの
テストのうち最初のものにおいて、ＯＴＤＲユニット２
２を調節して、手前のケーブル・コネクタ１３６と手前
のテスト・ステーション１２０の間の界面からの反射を
セーブし、分析する。これらのテストのうち第２のもの
において、ＯＴＤＲユニット２２を調節して、外した奥
のジャンパ・コネクタ１３２における界面からの反射を
セーブし、分析する。
【００４２】奥のジャンパ・コネクタを、現在光スイッ
チ２３を介してＯＴＤＲユニット２２に接続されている
奥のテスト・ステーション１２７と係合させ、手前のケ
ーブル・コネクタ１３６を手前のテスト・ステーション
１２０から外して、次のシリーズのテストを行う。これ
らのテストのうち最初のものの場合、ＯＴＤＲユニット
２２を調節して、外されたケーブル・コネクタ１３６の
界面からの反射をセーブし、分析する。これらのテスト
のうち第２のものの場合、ＯＴＤＲユニット２２を調節
して、ＡＰＣコネクタ１１９、１３０の界面からの反射
をセーブし、分析する。
【００４３】図６および図７を参照して上述した個々の
テストの各々において、長さが増分的に変動する光ファ
イバ・ジャンパ５２を使用して、個々のファイバの界面
のさまざまな光路からの反射を弁別する、図２を参照し
て上述した機能を使用する。テスト中のケーブルはアレ
イ・コネクタを有しているものとして説明したが、これ
らのケーブルおよびこれらに接続された基準ジャンパに
は、一端または両端に離散形コネクタを簡単に設けるこ
とができる。
【００４４】本発明をある程度特殊な好ましい形態ない
し実施の形態について説明してきたが、この説明が単な
る例として行われたものであって、部品の組合せおよび
構成を含む、構造、製造および使用の面でのさまざまな
変更を、本発明の精神および範囲を逸脱することなく行
えることが理解されよう。
【００４５】まとめとして、本発明の構成に関して以下
の事項を開示する。
【００４６】（１）マルチ光ファイバ・ケーブルの手前
端部から等距離の位置に前記マルチ光ファイバ・ケーブ
ル中の複数の光ファイバに沿って個々に配置された複数
の界面からの単一の光テスト・パルスの反射を弁別する
装置において、前記装置は各々が前記マルチ光ファイバ
・ケーブル中の前記複数の光ファイバ内の１本の光ファ
イバに光学的に接続されている複数の光ファイバ・ジャ
ンパを備えており、前記の単一の光テスト・パルスが前
記複数の光ファイバ・ジャンパ内の各光ファイバ・ジャ
ンパに沿って、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の１本の光ファイバに送られ、前
記複数の界面のうちの１つの界面からの反射が各前記光
ファイバ・ジャンパから戻され、前記光ファイバ・ジャ
ンパがさまざまな長さのものであり、各前記反射が各前
記光ファイバ・ジャンパに沿って戻る時点で測定可能に
変動する差をもたらす装置。 （２）前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増分
的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共通した増
分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻され
ることを特徴とする、上記（１）に記載の装置。 （３）マルチ光ファイバ・ケーブル内の複数の平行な光
路を形成する光ファイバの界面の特性を決定する装置に
おいて、第１の光学ポートを透過する光のテスト信号を
生成するパルス発生手段と、前記第１の光学ポートに光
学的に結合され、かつ第１の複数のスプリッタ界面に光
学的に結合されており、前記パルス発生手段からの光信
号を前記第１の複数のスプリッタ界面の間で分割し、前
記第１の複数のスプリッタ界面内の各スプリッタ界面か
らの信号を前記第１の光学ポートに送る第１のスプリッ
タと、前記第１のスプリッタから前記第１の光学ポート
へ伝送された信号を表すデータを記録する記録手段と、
第１の複数の光ファイバ・ジャンパであって、該第１の
複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパが、前記第
１の複数のスプリッタ界面内の１つのスプリッタ界面
を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第１の端部にお
ける前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の平
行光路内の１つの平行光路と接続する光路の一部を形成
しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内の前記光
ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させられて、前
記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・ケーブル
内の前記平行光路の界面から前記第１の光学ポートを通
って戻る時点で測定可能に変動する差をもたらす第１の
複数の光ファイバ・ジャンパとを備えている装置。 （４）前記第１の複数の光ファイバ・ジャンパ内の光フ
ァイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ごとに変
動し、したがって前記テスト信号の反射が共通した増分
的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻される
ことを特徴とする、上記（３）に記載の装置。 （５）前記第１の光学ポートを第２の光学ポートに接続
する第１の状態と、前記第１の光学ポートを第３の光学
ポートに接続する第２の状態とで動作可能であり、前記
第２の光学ポートを介して前記第１のスプリッタに接続
されている光スイッチ手段と、前記第３の光学ポートに
光学的に結合され、かつ第２の複数のスプリッタ界面に
光学的に結合されており、前記パルス発生手段からの光
信号を前記第２の複数のスプリッタ界面の間で分割し、
前記第２の複数のスプリッタ界面内の各スプリッタ界面
からの信号を前記第３の光学ポートに送る第２のスプリ
ッタと、第２の複数の光ファイバ・ジャンパであって、
該第２の複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパ
が、前記第２の複数のスプリッタ界面内の１つのスプリ
ッタ界面を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第２の
端部における前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記
複数の平行光路内の１つの平行光路と接続する光路の一
部を形成しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内
の前記光ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させら
れて、前記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・
ケーブル内の前記平行光路の界面から前記第２の光学ポ
ートを通って戻る時点で測定可能に変動する差をもたら
す第２の複数の光ファイバ・ジャンパとをさらに備えて
いることを特徴とする、上記（３）に記載の装置。 （６）前記第１の複数の光ファイバ・ジャンパ内の光フ
ァイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ごとに変
動し、したがって前記テスト信号の反射が前記第１の状
態の前記スイッチ手段によって共通した増分的時間ごと
に個別に分離されたパルス列として戻され、前記第２の
複数の光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパ
の長さが前記の共通した増分的距離ごとに変動し、した
がって前記テスト信号の反射が前記第２の状態の前記ス
イッチ手段によって共通した増分的時間ごとに個別に分
離されたパルス列として戻されることを特徴とする、上
記（５）に記載の装置。 （７）第１の信号に応答して作動し、前記第１の複数の
光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパと前記
マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第１の端部との間の
光学的接続を接続切断する第１の接続手段と、第２の信
号に応答して作動し、前記第２の複数の光ファイバ・ジ
ャンパ内の光ファイバ・ジャンパと前記マルチ光ファイ
バ・ケーブルの前記第２の端部との間の光学的接続を接
続切断する第２の接続手段とをさらに備えていることを
特徴とする、上記（５）に記載の装置。 （８）前記光スイッチ手段、前記第１の接続手段、およ
び前記第２の接続手段を所定の順序にしたがって作動さ
せて、いくつかのテスト操作を実行するコントローラを
さらに備えていることを特徴とする、上記（７）に記載
の装置。 （９）前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の
光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ・
ケーブルの前記第１の端部において、前記第１の複数の
光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパを
通って延びている複数の光路と接続する第１のアレイ・
コネクタと、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記
複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファ
イバ・ケーブルの前記第２の端部において、前記第２の
複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャ
ンパを通って延びている複数の光路と接続する第２のア
レイ・コネクタとをさらに備えていることを特徴とす
る、上記（８）に記載の装置。 （１０）前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数
の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ
・ケーブルの前記第１の端部において、前記第１の複数
の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパ
を通って延びている複数の光路と接続する第１のアレイ
・コネクタと、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光フ
ァイバ・ケーブルの前記第２の端部において、前記第２
の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジ
ャンパを通って延びている複数の光路と接続する複数の
離散形コネクタとをさらに備えていることを特徴とす
る、上記（８）に記載の装置。 （１１）前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数
の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ
・ケーブルの前記第１の端部において、前記第１の複数
の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパ
を通って延びている複数の光路と接続する第１の複数の
離散形コネクタと、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中
の前記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ
光ファイバ・ケーブルの前記第２の端部において、前記
第２の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ
・ジャンパを通って延びている複数の光路と接続する第
２の複数の離散形コネクタとをさらに備えていることを
特徴とする、上記（８）に記載の装置。 （１２）前記装置が前記マルチ光ファイバ・ケーブル中
の前記複数の光ファイバ内の１本の光ファイバに、前記
マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第１の端部におい
て、接続するＡＰＣコネクタを遠方端部に、また前記複
数の光ファイバ・ジャンパ内の１つの光ファイバ・ジャ
ンパを通って延びている光路に接続するＰＣコネクタを
近接端部に有している基準ジャンパ・ケーブルをさらに
備えており、前記第１の接続手段がその前記近接端部に
おいて前記基準端部を接続および切断することを特徴と
する、上記（８）に記載の装置。 （１３）マルチ光ファイバ・ケーブルの手前端部から均
等な距離の位置においてマルチ光ファイバ・ケーブル中
の複数の光ファイバに沿って個々に配置された界面の特
性を決定する方法において、 ａ）各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の１本の光ファイバに光学的に接
続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第１
のポートから光パルスを送るステップと、 ｂ）各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の１つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
光パルスの前記第１のポートにおける反射を受け取るス
テップと、 ｃ）各前記反射を受け取ったときに各前記反射の強さに
対応する値を格納するステップとを備えている方法。 （１４）前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増
分的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共通した
増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻さ
れることを特徴とする、上記（１３）に記載の方法。 （１５）複数の平行光路内の、複数の光路の手前の端部
から第１の距離にある前記複数の光路内の１つの光路に
各々が配置された第１の複数の界面と、複数の光路の手
前の端部から第２の距離にある前記複数の光路内の１つ
の光路に各々が配置された第２の複数の界面との内部の
界面の特性を決定する方法において、 ａ）各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の１本の光ファイバに光学的に接
続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第１
のポートから第１の光パルスを送るステップと、 ｂ）各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の１つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
光パルスの前記第１のポートにおける反射を受け取るス
テップと、 ｃ）前記第１の複数の界面中の各前記界面からの各前記
反射の値を格納するステップと、 ｄ）前記複数の光ファイバ・ジャンパを通して前記第１
のポートから第２の光パルスを送るステップと、 ｅ）各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の１つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わる、前記第２の複
数の界面中の各前記界面から前記第２の光パルスの前記
第１のポートにおける反射を受け取るステップと、 ｆ）前記第２の複数の界面中の各前記界面からの各前記
反射の値を格納するステップとを備えている方法。 （１６）前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増
分的距離ごとに変動し、したがって前記第１および第２
の複数の界面中の界面からの前記反射が共通した増分的
時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻されるこ
とを特徴とする、上記（１３）に記載の方法。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にしたがって構築されたマルチ光ファイ
バ・ケーブル・テスト装置の略図である。
【図２】離散形コネクタ・テスト・ステーションと隣接
アレイ・コネクタ・テスト・ステーションを示す、図１
のテスト装置の部分平面図である。
【図３】図２の断面線ＩＩＩ−ＩＩＩによって示す通り
に取った、図２の離散形コネクタ・テスト・ステーショ
ンの垂直断面図である。
【図４】較正プロセス中の図１の装置内のＯＴＤＲユニ
ットにおける信号の図である。
【図５】マルチ光ファイバのテスト中図１のＯＴＤＲユ
ニットにおける信号の図である。
【図６】各端部におけるＡＰＣコネクタによってマルチ
光ファイバ・ケーブルをテストするように構成された図
１のテスト装置の部分略図である。
【図７】一端におけるＡＰＣコネクタおよび他端におけ
るＰＣコネクタによってマルチ光ファイバ・ケーブルを
テストするように構成された図１のテスト装置の部分略
図である。
【符号の説明】
１０ 離散形コネクタ・テスト・ステーション １２ アレイ・コネクタ・テスト・ステーション １４ 第１のケーブル １６ アレイ・コネクタ １８ 第２のケーブル ２０ 離散形コネクタ ２２ ＯＴＤＲユニット ２２ａ 単一の光ファイバ ２３ 光スイッチ ２４ コンピューティング・システム ２６ 表示装置 ２８ キーボード ３２ フロッピー・ディスク ３４ ＤＩＤＯユニット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 キャシマー・エム・デカサティス アメリカ合衆国12601 ニューヨーク州ポ ーキープシー バート・ドライブ 35

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】マルチ光ファイバ・ケーブルの手前端部か
    ら等距離の位置に前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の
    複数の光ファイバに沿って個々に配置された複数の界面
    からの単一の光テスト・パルスの反射を弁別する装置に
    おいて、 前記装置は各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の
    前記複数の光ファイバ内の１本の光ファイバに光学的に
    接続されている複数の光ファイバ・ジャンパを備えてお
    り、 前記の単一の光テスト・パルスが前記複数の光ファイバ
    ・ジャンパ内の各光ファイバ・ジャンパに沿って、前記
    マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の光ファイバ
    内の１本の光ファイバに送られ、 前記複数の界面のうちの１つの界面からの反射が各前記
    光ファイバ・ジャンパから戻され、 前記光ファイバ・ジャンパがさまざまな長さのものであ
    り、各前記反射が各前記光ファイバ・ジャンパに沿って
    戻る時点で測定可能に変動する差をもたらす装置。
  2. 【請求項２】前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通し
    た増分的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共通
    した増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として
    戻されることを特徴とする、請求項１に記載の装置。
  3. 【請求項３】マルチ光ファイバ・ケーブル内の複数の平
    行な光路を形成する光ファイバの界面の特性を決定する
    装置において、 第１の光学ポートを透過する光のテスト信号を生成する
    パルス発生手段と、 前記第１の光学ポートに光学的に結合され、かつ第１の
    複数のスプリッタ界面に光学的に結合されており、前記
    パルス発生手段からの光信号を前記第１の複数のスプリ
    ッタ界面の間で分割し、前記第１の複数のスプリッタ界
    面内の各スプリッタ界面からの信号を前記第１の光学ポ
    ートに送る第１のスプリッタと、 前記第１のスプリッタから前記第１の光学ポートへ伝送
    された信号を表すデータを記録する記録手段と、 第１の複数の光ファイバ・ジャンパであって、該第１の
    複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパが、前記第
    １の複数のスプリッタ界面内の１つのスプリッタ界面
    を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第１の端部にお
    ける前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の平
    行光路内の１つの平行光路と接続する光路の一部を形成
    しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内の前記光
    ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させられて、前
    記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・ケーブル
    内の前記平行光路の界面から前記第１の光学ポートを通
    って戻る時点で測定可能に変動する差をもたらす第１の
    複数の光ファイバ・ジャンパとを備えている装置。
  4. 【請求項４】前記第１の複数の光ファイバ・ジャンパ内
    の光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ご
    とに変動し、したがって前記テスト信号の反射が共通し
    た増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻
    されることを特徴とする、請求項３に記載の装置。
  5. 【請求項５】前記第１の光学ポートを第２の光学ポート
    に接続する第１の状態と、前記第１の光学ポートを第３
    の光学ポートに接続する第２の状態とで動作可能であ
    り、前記第２の光学ポートを介して前記第１のスプリッ
    タに接続されている光スイッチ手段と、 前記第３の光学ポートに光学的に結合され、かつ第２の
    複数のスプリッタ界面に光学的に結合されており、前記
    パルス発生手段からの光信号を前記第２の複数のスプリ
    ッタ界面の間で分割し、前記第２の複数のスプリッタ界
    面内の各スプリッタ界面からの信号を前記第３の光学ポ
    ートに送る第２のスプリッタと、 第２の複数の光ファイバ・ジャンパであって、該第２の
    複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパが、前記第
    ２の複数のスプリッタ界面内の１つのスプリッタ界面
    を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第２の端部にお
    ける前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の平
    行光路内の１つの平行光路と接続する光路の一部を形成
    しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内の前記光
    ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させられて、前
    記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・ケーブル
    内の前記平行光路の界面から前記第２の光学ポートを通
    って戻る時点で測定可能に変動する差をもたらす第２の
    複数の光ファイバ・ジャンパとをさらに備えていること
    を特徴とする、請求項３に記載の装置。
  6. 【請求項６】前記第１の複数の光ファイバ・ジャンパ内
    の光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ご
    とに変動し、したがって前記テスト信号の反射が前記第
    １の状態の前記スイッチ手段によって共通した増分的時
    間ごとに個別に分離されたパルス列として戻され、 前記第２の複数の光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ
    ・ジャンパの長さが前記の共通した増分的距離ごとに変
    動し、したがって前記テスト信号の反射が前記第２の状
    態の前記スイッチ手段によって共通した増分的時間ごと
    に個別に分離されたパルス列として戻されることを特徴
    とする、請求項５に記載の装置。
  7. 【請求項７】第１の信号に応答して作動し、前記第１の
    複数の光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパ
    と前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第１の端部と
    の間の光学的接続を接続切断する第１の接続手段と、 第２の信号に応答して作動し、前記第２の複数の光ファ
    イバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパと前記マルチ
    光ファイバ・ケーブルの前記第２の端部との間の光学的
    接続を接続切断する第２の接続手段とをさらに備えてい
    ることを特徴とする、請求項５に記載の装置。
  8. 【請求項８】前記光スイッチ手段、前記第１の接続手
    段、および前記第２の接続手段を所定の順序にしたがっ
    て作動させて、いくつかのテスト操作を実行するコント
    ローラをさらに備えていることを特徴とする、請求項７
    に記載の装置。
  9. 【請求項９】前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記
    複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファ
    イバ・ケーブルの前記第１の端部において、前記第１の
    複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャ
    ンパを通って延びている複数の光路と接続する第１のア
    レイ・コネクタと、 前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の光ファ
    イバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ・ケーブ
    ルの前記第２の端部において、前記第２の複数の光ファ
    イバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパを通って
    延びている複数の光路と接続する第２のアレイ・コネク
    タとをさらに備えていることを特徴とする、請求項８に
    記載の装置。
  10. 【請求項１０】前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
    記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光フ
    ァイバ・ケーブルの前記第１の端部において、前記第１
    の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジ
    ャンパを通って延びている複数の光路と接続する第１の
    アレイ・コネクタと、 前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の光ファ
    イバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ・ケーブ
    ルの前記第２の端部において、前記第２の複数の光ファ
    イバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパを通って
    延びている複数の光路と接続する複数の離散形コネクタ
    とをさらに備えていることを特徴とする、請求項８に記
    載の装置。
  11. 【請求項１１】前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
    記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光フ
    ァイバ・ケーブルの前記第１の端部において、前記第１
    の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジ
    ャンパを通って延びている複数の光路と接続する第１の
    複数の離散形コネクタと、 前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の光ファ
    イバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ・ケーブ
    ルの前記第２の端部において、前記第２の複数の光ファ
    イバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパを通って
    延びている複数の光路と接続する第２の複数の離散形コ
    ネクタとをさらに備えていることを特徴とする、請求項
    ８に記載の装置。
  12. 【請求項１２】前記装置が前記マルチ光ファイバ・ケー
    ブル中の前記複数の光ファイバ内の１本の光ファイバ
    に、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第１の端部
    において、接続するＡＰＣコネクタを遠方端部に、また
    前記複数の光ファイバ・ジャンパ内の１つの光ファイバ
    ・ジャンパを通って延びている光路に接続するＰＣコネ
    クタを近接端部に有している基準ジャンパ・ケーブルを
    さらに備えており、 前記第１の接続手段がその前記近接端部において前記基
    準端部を接続および切断することを特徴とする、請求項
    ８に記載の装置。
  13. 【請求項１３】マルチ光ファイバ・ケーブルの手前端部
    から均等な距離の位置においてマルチ光ファイバ・ケー
    ブル中の複数の光ファイバに沿って個々に配置された界
    面の特性を決定する方法において、 ａ）各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
    端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
    記複数の光ファイバ内の１本の光ファイバに光学的に接
    続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第１
    のポートから光パルスを送るステップと、 ｂ）各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の１つ
    の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
    ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
    まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
    定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
    光パルスの前記第１のポートにおける反射を受け取るス
    テップと、 ｃ）各前記反射を受け取ったときに各前記反射の強さに
    対応する値を格納するステップとを備えている方法。
  14. 【請求項１４】前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通
    した増分的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共
    通した増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列とし
    て戻されることを特徴とする、請求項１３に記載の方
    法。
  15. 【請求項１５】複数の平行光路内の、複数の光路の手前
    の端部から第１の距離にある前記複数の光路内の１つの
    光路に各々が配置された第１の複数の界面と、複数の光
    路の手前の端部から第２の距離にある前記複数の光路内
    の１つの光路に各々が配置された第２の複数の界面との
    内部の界面の特性を決定する方法において、 ａ）各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
    端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
    記複数の光ファイバ内の１本の光ファイバに光学的に接
    続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第１
    のポートから第１の光パルスを送るステップと、 ｂ）各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の１つ
    の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
    ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
    まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
    定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
    光パルスの前記第１のポートにおける反射を受け取るス
    テップと、 ｃ）前記第１の複数の界面中の各前記界面からの各前記
    反射の値を格納するステップと、 ｄ）前記複数の光ファイバ・ジャンパを通して前記第１
    のポートから第２の光パルスを送るステップと、 ｅ）各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の１つ
    の光ファイバ・ジャンパを通して伝わる、前記第２の複
    数の界面中の各前記界面から前記第２の光パルスの前記
    第１のポートにおける反射を受け取るステップと、 ｆ）前記第２の複数の界面中の各前記界面からの各前記
    反射の値を格納するステップとを備えている方法。
  16. 【請求項１６】前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通
    した増分的距離ごとに変動し、したがって前記第１およ
    び第２の複数の界面中の界面からの前記反射が共通した
    増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻さ
    れることを特徴とする、請求項１３に記載の方法。
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