JPH10185761A - マルチ光ファイバ・ケーブルのテスト装置および方法 - Google Patents
マルチ光ファイバ・ケーブルのテスト装置および方法Info
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- JPH10185761A JPH10185761A JP9313662A JP31366297A JPH10185761A JP H10185761 A JPH10185761 A JP H10185761A JP 9313662 A JP9313662 A JP 9313662A JP 31366297 A JP31366297 A JP 31366297A JP H10185761 A JPH10185761 A JP H10185761A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3136—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR for testing of multiple fibers
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 マルチ光ファイバ・ケーブルのテスト装置を
提供する。 【解決手段】 テスト・ステーション10、12のある
ものはアレイ・コネクタ16の接続を行い、他のものは
多数の離散形コネクタ20の接続を行う。OTDRユニ
ット22の光入出力ポートは光スイッチ23を介してテ
スト・ステーションの各々に接続されており、光スイッ
チはこのポートを一時にこのようなステーションの1つ
だけと接続する。各ステーション内で、光スイッチから
の信号はスプリッタにより多数の光路に分割され、この
スプリッタも信号をこれらの光路からOTDRへ光スイ
ッチを介して戻す。各ステーション内の各種の光路は長
さが異なる光ファイバ・ジャンパを含んでいるため、O
TDRからの単一のテスト信号パルスがテスト対象のケ
ーブル中の多数の界面からパルス列として反射される。
提供する。 【解決手段】 テスト・ステーション10、12のある
ものはアレイ・コネクタ16の接続を行い、他のものは
多数の離散形コネクタ20の接続を行う。OTDRユニ
ット22の光入出力ポートは光スイッチ23を介してテ
スト・ステーションの各々に接続されており、光スイッ
チはこのポートを一時にこのようなステーションの1つ
だけと接続する。各ステーション内で、光スイッチから
の信号はスプリッタにより多数の光路に分割され、この
スプリッタも信号をこれらの光路からOTDRへ光スイ
ッチを介して戻す。各ステーション内の各種の光路は長
さが異なる光ファイバ・ジャンパを含んでいるため、O
TDRからの単一のテスト信号パルスがテスト対象のケ
ーブル中の多数の界面からパルス列として反射される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光ファイバ・ケーブ
ルのテスト装置に関し、詳細にいえば、多数の個別のフ
ァイバを含んでいるこのようなケーブルのテストを容易
にする装置に関する。
ルのテスト装置に関し、詳細にいえば、多数の個別のフ
ァイバを含んでいるこのようなケーブルのテストを容易
にする装置に関する。
【0002】
【従来の技術】マルチ光ファイバ・ケーブルは一端から
他端へ束になって延びている多数の個別のグラス・ファ
イバからなっている。これらのファイバの各々を使用し
て、通信信号や、多数の多重化信号を独立した態様で伝
送することができる。各端部において、ファイバの束は
アレイ・コネクタまたは多数の個別なコネクタのいずれ
かで終端している。たとえば、ケーブルに12本の光フ
ァイバがある場合、一列になっている12個のファイバ
終端を有するアレイで終わらせるか、あるいは12個の
別々なコネクタで終わらせるかすることができる。実際
には、この種のケーブルは一端にアレイ・コネクタを、
他端に12個の別々なコネクタを有している。各種のマ
ルチファイバ・ケーブルを12本の光ファイバすなわち
光路を有するものとして本明細書に示すが、この本数は
例として使用されているだけであって、各種の本数のフ
ァイバを備えたケーブルをテストすることに、本発明を
適用するのが容易であることを理解されたい。
他端へ束になって延びている多数の個別のグラス・ファ
イバからなっている。これらのファイバの各々を使用し
て、通信信号や、多数の多重化信号を独立した態様で伝
送することができる。各端部において、ファイバの束は
アレイ・コネクタまたは多数の個別なコネクタのいずれ
かで終端している。たとえば、ケーブルに12本の光フ
ァイバがある場合、一列になっている12個のファイバ
終端を有するアレイで終わらせるか、あるいは12個の
別々なコネクタで終わらせるかすることができる。実際
には、この種のケーブルは一端にアレイ・コネクタを、
他端に12個の別々なコネクタを有している。各種のマ
ルチファイバ・ケーブルを12本の光ファイバすなわち
光路を有するものとして本明細書に示すが、この本数は
例として使用されているだけであって、各種の本数のフ
ァイバを備えたケーブルをテストすることに、本発明を
適用するのが容易であることを理解されたい。
【0003】マルチ光ファイバ・ケーブルにおいて、各
単一の光路(それぞれの単一のファイバに沿った)のテ
ストには、各端部におけるコネクタでの挿入損失と反射
減衰量の両方を測定する必要がある。これらの測定は2
つの個別のテストを必要とし、両コネクタ端部に独自の
設定が繰り返される。もっとも一般的なバルク光ファイ
バ・ケーブル材料によって製造されたジャンパに対する
従来の反射減衰量の測定は、コネクタ端面への屈折率整
合ゲルの塗布と、その後の除去を必要とする。運用時
に、これらは困難で、しかも時間のかかるものとなる。
このようなマルチファイバ・ケーブルのテストを、シン
グルファイバ・ケーブルのテストと比較した場合、個々
のテストを各単一の光路に適用しなければならないので
あるから、これらの問題が複合化されると判断される。
単一の光路(それぞれの単一のファイバに沿った)のテ
ストには、各端部におけるコネクタでの挿入損失と反射
減衰量の両方を測定する必要がある。これらの測定は2
つの個別のテストを必要とし、両コネクタ端部に独自の
設定が繰り返される。もっとも一般的なバルク光ファイ
バ・ケーブル材料によって製造されたジャンパに対する
従来の反射減衰量の測定は、コネクタ端面への屈折率整
合ゲルの塗布と、その後の除去を必要とする。運用時
に、これらは困難で、しかも時間のかかるものとなる。
このようなマルチファイバ・ケーブルのテストを、シン
グルファイバ・ケーブルのテストと比較した場合、個々
のテストを各単一の光路に適用しなければならないので
あるから、これらの問題が複合化されると判断される。
【0004】従来の挿入損失および反射減衰量の測定技
法はジャンパあたり約3分ないし4分を要し、誤差を生
じやすい。必要なものはこのような測定をスピードアッ
プし、誤差および熟練した操作員へ依存することを少な
くし、物理的接点タイプおよびコネクタ・タイプの間の
変更を容易とする方法である。マルチ光ファイバ・ケー
ブルのテストに適用するにあたり、テスト装置によって
生成された信号を、ケーブル内の各ファイバに沿って送
り、個々の光路に沿って反射される各種の信号を弁別す
る方法が特に必要とされる。
法はジャンパあたり約3分ないし4分を要し、誤差を生
じやすい。必要なものはこのような測定をスピードアッ
プし、誤差および熟練した操作員へ依存することを少な
くし、物理的接点タイプおよびコネクタ・タイプの間の
変更を容易とする方法である。マルチ光ファイバ・ケー
ブルのテストに適用するにあたり、テスト装置によって
生成された信号を、ケーブル内の各ファイバに沿って送
り、個々の光路に沿って反射される各種の信号を弁別す
る方法が特に必要とされる。
【0005】米国特許第5530546号は4つの位置
合わせプラグボード・ステーションを含む、光ファイバ
・ジャンパ・ケーブルをテストするためのステーション
を記載している。テスト対象の単一のケーブルは通常、
2つのプラグボードの間を延びるように接続されてい
る。各プラグボード・ステーションは、テスト対象のケ
ーブルの端部で使用することのできるコネクタの3つの
スタイルに対応している、3列のプラグ位置を含んでい
る。プラグ位置の上の行および中央の行は、使用するこ
とのできる接点タイプ(PCまたはAPC)に対応して
いる。中央の行にあるプラグ位置の1つを、プラグボー
ド・ステーションから延びている基準ケーブルと整合さ
せる位置合わせ機構が設けられている。基準ジャンパが
上の行から延びており、テスト対象のケーブルが中央の
行に接続されている場合には、プラグ位置の下の行に結
合され、テスト対象のケーブルが上の行に接続されてい
る場合には、中央の行に差し込まれる。プラグボード・
ステーションの各々から延びている基準ケーブルは中央
行のプラグボード位置の1つと脱着させられ、テストの
順序を容易なものとする。3つのプラグボード・ステー
ションのうち2つからの基準ケーブルは、光スイッチを
介して、光学時間領域反射率計(OTDR)に接続され
ており、他の2本の基準ケーブルは反対側端部にあるコ
ネクタに接続されているだけである。コンピュータがプ
ラグボード・ステーションの位置合わせを制御し、好ま
しい順序にしたがって基準ケーブルを係合させる。しか
しながら、この米国特許第5530546号が取り上げ
ているのは、単一ファイバの光ケーブルをテストするこ
とだけであり、マルチファイバ・ケーブルに関連した特
定の問題については対象としていない。
合わせプラグボード・ステーションを含む、光ファイバ
・ジャンパ・ケーブルをテストするためのステーション
を記載している。テスト対象の単一のケーブルは通常、
2つのプラグボードの間を延びるように接続されてい
る。各プラグボード・ステーションは、テスト対象のケ
ーブルの端部で使用することのできるコネクタの3つの
スタイルに対応している、3列のプラグ位置を含んでい
る。プラグ位置の上の行および中央の行は、使用するこ
とのできる接点タイプ(PCまたはAPC)に対応して
いる。中央の行にあるプラグ位置の1つを、プラグボー
ド・ステーションから延びている基準ケーブルと整合さ
せる位置合わせ機構が設けられている。基準ジャンパが
上の行から延びており、テスト対象のケーブルが中央の
行に接続されている場合には、プラグ位置の下の行に結
合され、テスト対象のケーブルが上の行に接続されてい
る場合には、中央の行に差し込まれる。プラグボード・
ステーションの各々から延びている基準ケーブルは中央
行のプラグボード位置の1つと脱着させられ、テストの
順序を容易なものとする。3つのプラグボード・ステー
ションのうち2つからの基準ケーブルは、光スイッチを
介して、光学時間領域反射率計(OTDR)に接続され
ており、他の2本の基準ケーブルは反対側端部にあるコ
ネクタに接続されているだけである。コンピュータがプ
ラグボード・ステーションの位置合わせを制御し、好ま
しい順序にしたがって基準ケーブルを係合させる。しか
しながら、この米国特許第5530546号が取り上げ
ているのは、単一ファイバの光ケーブルをテストするこ
とだけであり、マルチファイバ・ケーブルに関連した特
定の問題については対象としていない。
【0006】米国特許第4309105号は光ファイバ
・ケーブルの光伝送レベルを周知の受入れケーブルのも
のと比較することによって、光ファイバ・ケーブルをテ
ストする装置を記載している。テスト・プロセスの安定
性は可変で、較正された電源を使用して達成される。こ
の方法の精度は共通光源からの光を、装置のケーブル形
成部分とテストする光ファイバ・ケーブルの両方に同時
に結合することによって達成される。この構成によれ
ば、光源の振幅のドリフトおよび装置のデテクタが、光
出力の以降の相対測定の妥当性に影響を与えることがな
い。米国特許第4309105号は同じ接点タイプおよ
びコネクタ・スタイルを有している多数のケーブルをテ
ストする場合のテスト・プロセスをスピードアップする
問題を取り上げ、テストのタイプをその精度を確保する
手段とともに記載しているが、マルチ光ファイバ・ケー
ブルをテストする問題は取り上げられていない。
・ケーブルの光伝送レベルを周知の受入れケーブルのも
のと比較することによって、光ファイバ・ケーブルをテ
ストする装置を記載している。テスト・プロセスの安定
性は可変で、較正された電源を使用して達成される。こ
の方法の精度は共通光源からの光を、装置のケーブル形
成部分とテストする光ファイバ・ケーブルの両方に同時
に結合することによって達成される。この構成によれ
ば、光源の振幅のドリフトおよび装置のデテクタが、光
出力の以降の相対測定の妥当性に影響を与えることがな
い。米国特許第4309105号は同じ接点タイプおよ
びコネクタ・スタイルを有している多数のケーブルをテ
ストする場合のテスト・プロセスをスピードアップする
問題を取り上げ、テストのタイプをその精度を確保する
手段とともに記載しているが、マルチ光ファイバ・ケー
ブルをテストする問題は取り上げられていない。
【0007】米国特許第5179420号は、光信号が
テスト対象の光ファイバ光路に結合され、光ファイバ光
路からの後方散乱反射光が検出され、光路の損失−距離
特性を判定するために使用される光学時間領域反射率計
(OTDR)を記載している。制御ユニットは光源を構
成する半導体レーザの温度を変化させることによって光
信号の波長を変化させ、したがって複数の異なる波長に
対する損失−距離特性が決定され、光ファイバ光路の波
長依存損失を示すために表示される。このような損失は
光路における密接した不連続性に関連したモード干渉に
よるものである。それ故、米国特許第5179420号
はOTDRに対する特定の改善を、その使用方法ととも
に検討しているが、マルチ光ファイバ・ケーブルをテス
トする問題は取り上げられていない。
テスト対象の光ファイバ光路に結合され、光ファイバ光
路からの後方散乱反射光が検出され、光路の損失−距離
特性を判定するために使用される光学時間領域反射率計
(OTDR)を記載している。制御ユニットは光源を構
成する半導体レーザの温度を変化させることによって光
信号の波長を変化させ、したがって複数の異なる波長に
対する損失−距離特性が決定され、光ファイバ光路の波
長依存損失を示すために表示される。このような損失は
光路における密接した不連続性に関連したモード干渉に
よるものである。それ故、米国特許第5179420号
はOTDRに対する特定の改善を、その使用方法ととも
に検討しているが、マルチ光ファイバ・ケーブルをテス
トする問題は取り上げられていない。
【0008】米国特許第5093568号は光ファイバ
・ケーブルを障害に関して連続的に監視し、ケーブル内
の障害の自動的位置探査を可能とする監視システムを記
載している。このシステムにおいては、光信号が生成さ
れ、出力信号として光ファイバ・ケーブルの第1端部に
接続され、第2端部へ伝送される。次いで、信号は光フ
ァイバ・ケーブルを介して反射され、ケーブルの第1端
部に戻り信号をもたらす。第1端部にある比較器は出力
信号と戻り信号を比較し、対応する差分データをもたら
す。OTDRが光ファイバ・ケーブルに沿った信号の損
失の位置を検出し、データ処理システムが対応する差分
データからの信号損失の位置を判定する。単一の光学時
間領域反射率計を使用して、複数の光ファイバ・ケーブ
ルを監視することができる。米国特許第5093568
号はテスト対象のケーブルを選択するOTDRスイッチ
を使用することによって、複数の光ファイバ・ケーブル
をテストする必要性を取り上げている。米国特許第50
93568号の装置は通常、連続的に監視を行うため
に、数本の光ファイバ・ケーブルに恒久的に接続されて
いる。個々のマルチ光ファイバ・ケーブルをテストする
場合、必要なのはケーブル内の各種のファイバの同時テ
ストを可能とする迅速な手段である。
・ケーブルを障害に関して連続的に監視し、ケーブル内
の障害の自動的位置探査を可能とする監視システムを記
載している。このシステムにおいては、光信号が生成さ
れ、出力信号として光ファイバ・ケーブルの第1端部に
接続され、第2端部へ伝送される。次いで、信号は光フ
ァイバ・ケーブルを介して反射され、ケーブルの第1端
部に戻り信号をもたらす。第1端部にある比較器は出力
信号と戻り信号を比較し、対応する差分データをもたら
す。OTDRが光ファイバ・ケーブルに沿った信号の損
失の位置を検出し、データ処理システムが対応する差分
データからの信号損失の位置を判定する。単一の光学時
間領域反射率計を使用して、複数の光ファイバ・ケーブ
ルを監視することができる。米国特許第5093568
号はテスト対象のケーブルを選択するOTDRスイッチ
を使用することによって、複数の光ファイバ・ケーブル
をテストする必要性を取り上げている。米国特許第50
93568号の装置は通常、連続的に監視を行うため
に、数本の光ファイバ・ケーブルに恒久的に接続されて
いる。個々のマルチ光ファイバ・ケーブルをテストする
場合、必要なのはケーブル内の各種のファイバの同時テ
ストを可能とする迅速な手段である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的はマルチ
光ファイバ・ケーブル中の複数の光ファイバを迅速にテ
ストする装置およびテスト方法を提供することにある。
光ファイバ・ケーブル中の複数の光ファイバを迅速にテ
ストする装置およびテスト方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の態様によ
れば、各々がマルチ光ファイバ・ケーブル内の光ファイ
バに光学的に接続されているいくつかの光ファイバ・ジ
ャンパを含んでいる、マルチ光ファイバの手前端部から
等距離の位置にあるマルチ光ファイバ・ケーブルの、多
数の光ファイバに沿って個別に配置された多数の界面か
らの単一の光テスト・パルスの反射を弁別する装置が提
供される。単一の光テスト・パルスは各光ファイバ・ジ
ャンパに沿って、マルチ光ファイバ・ケーブル内の光フ
ァイバへ送られる。界面からの反射はさまざまな長さの
ものである光ファイバ・ジャンパの各々に沿って戻され
るので、各反射が各光ファイバ・ジャンパに沿って戻さ
れるときに、測定可能に変動する差がもたらされる。
れば、各々がマルチ光ファイバ・ケーブル内の光ファイ
バに光学的に接続されているいくつかの光ファイバ・ジ
ャンパを含んでいる、マルチ光ファイバの手前端部から
等距離の位置にあるマルチ光ファイバ・ケーブルの、多
数の光ファイバに沿って個別に配置された多数の界面か
らの単一の光テスト・パルスの反射を弁別する装置が提
供される。単一の光テスト・パルスは各光ファイバ・ジ
ャンパに沿って、マルチ光ファイバ・ケーブル内の光フ
ァイバへ送られる。界面からの反射はさまざまな長さの
ものである光ファイバ・ジャンパの各々に沿って戻され
るので、各反射が各光ファイバ・ジャンパに沿って戻さ
れるときに、測定可能に変動する差がもたらされる。
【0011】
【発明の実施の形態】図1は本発明にしたがって構築さ
れたマルチ光ファイバ・ケーブル・テスト装置の略図で
ある。本装置は多数の離散形コネクタ・テスト・ステー
ション10と多数のアレイ・コネクタ・テスト・ステー
ション12を備えている。テスト対象の各ケーブルをこ
の装置に差し込んで、ケーブルが、そのコネクタが差し
込まれる2つのコネクタ・テスト・ステーションの間を
延びるようにする。なお、コネクタ・テスト・ステーシ
ョンのタイプはケーブル両端のコネクタのタイプによっ
て決定される。図1の例において、装置は各端部にアレ
イ・コネクタ16を有している第1のケーブル14と、
一端にアレイ・コネクタ16を、また他端に離散形コネ
クタ20を有している第2のケーブル18をテストする
ように構成されている。各ケーブル14、18はシング
ルモード・タイプであっても、マルチモード・タイプで
あってもかまわない。
れたマルチ光ファイバ・ケーブル・テスト装置の略図で
ある。本装置は多数の離散形コネクタ・テスト・ステー
ション10と多数のアレイ・コネクタ・テスト・ステー
ション12を備えている。テスト対象の各ケーブルをこ
の装置に差し込んで、ケーブルが、そのコネクタが差し
込まれる2つのコネクタ・テスト・ステーションの間を
延びるようにする。なお、コネクタ・テスト・ステーシ
ョンのタイプはケーブル両端のコネクタのタイプによっ
て決定される。図1の例において、装置は各端部にアレ
イ・コネクタ16を有している第1のケーブル14と、
一端にアレイ・コネクタ16を、また他端に離散形コネ
クタ20を有している第2のケーブル18をテストする
ように構成されている。各ケーブル14、18はシング
ルモード・タイプであっても、マルチモード・タイプで
あってもかまわない。
【0012】本装置は単一のOTDRユニット22(光
学時間領域反射率計)を含んでおり、これはテスト・プ
ロセスで使用される光パルスを生成し、またテストされ
ているケーブルおよびコネクタから反射される信号を受
け取り、評価する。テスト・パルスおよび反射の両方
は、OTDRユニット22の光入出力ポートを構成して
いる単一の光ファイバ22aに沿って伝わる。単一のテ
スト操作を実行するプロセスの中に、OTDRユニット
22は単一のパルスを放射し、このパルスは入力として
光スイッチ23に与えられる。このスイッチは10の出
力を有しており、これらは次いで入力として各テスト・
ステーション10、12に与えられる。光スイッチ23
はOTDRユニット22からの各パルスを、テスト・ス
テーション12のうち、ケーブル14または18などの
テスト対象ケーブルが接続されているものだけに送る。
学時間領域反射率計)を含んでおり、これはテスト・プ
ロセスで使用される光パルスを生成し、またテストされ
ているケーブルおよびコネクタから反射される信号を受
け取り、評価する。テスト・パルスおよび反射の両方
は、OTDRユニット22の光入出力ポートを構成して
いる単一の光ファイバ22aに沿って伝わる。単一のテ
スト操作を実行するプロセスの中に、OTDRユニット
22は単一のパルスを放射し、このパルスは入力として
光スイッチ23に与えられる。このスイッチは10の出
力を有しており、これらは次いで入力として各テスト・
ステーション10、12に与えられる。光スイッチ23
はOTDRユニット22からの各パルスを、テスト・ス
テーション12のうち、ケーブル14または18などの
テスト対象ケーブルが接続されているものだけに送る。
【0013】このパルスが送られるテスト・ステーショ
ン10または12内で、パルスのエネルギーはテスト対
象のケーブル内の個々のファイバの各々に向かって延び
ている光路間で均等に分割される。これらの光路の各々
の内部で、このパルスは、テスト・ステーション10、
12とテスト対象のケーブルの間を接続する態様によっ
て決定される界面で反射される。このようなパルスの各
々の反射は戻り信号を形成し、この信号は光スイッチ2
3からOTDRユニット22へ伝達される。テスト対象
の典型的なマルチ光ファイバ・ケーブル内で、各ファイ
バは同じ長さであるから、すべてのファイバを介して送
られ、各コネクタ界面で反射される単一のパルスは、組
み合わされた場合にそれぞれを弁別することができない
同数のパルスとして戻される。したがって、各テスト・
ステーション10または12内で、個々のケーブル・フ
ァイバへの各光路の一部を形成している各ジャンパは異
なる長さであるから、これらの戻り信号がOTDRユニ
ット22に到達する時間は分散し、各種の戻り信号を弁
別することが可能となる。OTDRユニット22内で、
これらの戻り信号はテスト対象のケーブル内の各ファイ
バに関連したコネクタおよび光路に対する各種のパラメ
ータを計算するために使用される。
ン10または12内で、パルスのエネルギーはテスト対
象のケーブル内の個々のファイバの各々に向かって延び
ている光路間で均等に分割される。これらの光路の各々
の内部で、このパルスは、テスト・ステーション10、
12とテスト対象のケーブルの間を接続する態様によっ
て決定される界面で反射される。このようなパルスの各
々の反射は戻り信号を形成し、この信号は光スイッチ2
3からOTDRユニット22へ伝達される。テスト対象
の典型的なマルチ光ファイバ・ケーブル内で、各ファイ
バは同じ長さであるから、すべてのファイバを介して送
られ、各コネクタ界面で反射される単一のパルスは、組
み合わされた場合にそれぞれを弁別することができない
同数のパルスとして戻される。したがって、各テスト・
ステーション10または12内で、個々のケーブル・フ
ァイバへの各光路の一部を形成している各ジャンパは異
なる長さであるから、これらの戻り信号がOTDRユニ
ット22に到達する時間は分散し、各種の戻り信号を弁
別することが可能となる。OTDRユニット22内で、
これらの戻り信号はテスト対象のケーブル内の各ファイ
バに関連したコネクタおよび光路に対する各種のパラメ
ータを計算するために使用される。
【0014】結果を表示装置26に表示し、キーボード
28から与えられる操作員入力に応答するコンピューテ
ィング・システム24を使用することによっても、テス
ト・プロセスは制御される。1枚または複数枚のフロッ
ピー・ディスク32によって与えられる、コンピューテ
ィング・システム24に必要な操作を行うプログラム
は、コンピューティング・システム内で実行される。コ
ンピューティング・システム24はOTDRユニット2
2に接続されており、またコンピューティング・システ
ム24内のアダプタ・カード(図示せず)の出力から延
びているケーブルを介して、DIDOユニット34(デ
ィジタル・イン、ディジタル・アウト)に接続されてい
る。この界面は、たとえば、カリフォルニア州Temecula
のOPTO22がPAMUXという商標で販売している
アダプタ・カードおよびソフトウェアによって達成する
ことができる。
28から与えられる操作員入力に応答するコンピューテ
ィング・システム24を使用することによっても、テス
ト・プロセスは制御される。1枚または複数枚のフロッ
ピー・ディスク32によって与えられる、コンピューテ
ィング・システム24に必要な操作を行うプログラム
は、コンピューティング・システム内で実行される。コ
ンピューティング・システム24はOTDRユニット2
2に接続されており、またコンピューティング・システ
ム24内のアダプタ・カード(図示せず)の出力から延
びているケーブルを介して、DIDOユニット34(デ
ィジタル・イン、ディジタル・アウト)に接続されてい
る。この界面は、たとえば、カリフォルニア州Temecula
のOPTO22がPAMUXという商標で販売している
アダプタ・カードおよびソフトウェアによって達成する
ことができる。
【0015】図1の装置内でのテストの実施には、ケー
ブル14、18などのテスト対象のケーブルをテスト・
ステーション10、12に接続する各種のケーブル・コ
ネクタの順次係合および離脱が必要である。これらのコ
ネクタの係合離脱に必要な動作は、テスト・ステーショ
ン10、12内の空気圧スライダにより自動的に行われ
る。図2および図3を参照して検討する、これらの空気
圧スライダの各々は、DIDOユニット34の出力に電
気的に接続されたソレノイド・バルブ36によって操作
される。
ブル14、18などのテスト対象のケーブルをテスト・
ステーション10、12に接続する各種のケーブル・コ
ネクタの順次係合および離脱が必要である。これらのコ
ネクタの係合離脱に必要な動作は、テスト・ステーショ
ン10、12内の空気圧スライダにより自動的に行われ
る。図2および図3を参照して検討する、これらの空気
圧スライダの各々は、DIDOユニット34の出力に電
気的に接続されたソレノイド・バルブ36によって操作
される。
【0016】図2はアレイ・コネクタ・テスト・ステー
ション10と離散形コネクタ・テスト・ステーション1
2を特に示す、本発明にしたがって構築されたテスト装
置の部分平面図である。図3は離散形コネクタ・テスト
・ステーション12を通る図2の断面線III−III
によって示されているように取った、図2の離散形コネ
クタ・テスト・ステーションの垂直断面図である。
ション10と離散形コネクタ・テスト・ステーション1
2を特に示す、本発明にしたがって構築されたテスト装
置の部分平面図である。図3は離散形コネクタ・テスト
・ステーション12を通る図2の断面線III−III
によって示されているように取った、図2の離散形コネ
クタ・テスト・ステーションの垂直断面図である。
【0017】離散形コネクタ・テスト・ステーション1
2の構成と使い方を、図2および図3に示す要素を特に
参照して検討する。このテスト・ステーション12は、
ケーブル18の本体41から延びている「ピグテール」
部分40の端部に多数の離散形コネクタ20を有してい
るケーブルに接続するように構成されている。各ピグテ
ール部分40はケーブル18を通して独立の光路の1つ
を形成する単一の光ファイバを含んでいる。特定のケー
ブル18をテストするため、前面プレート46に沿った
配列内を延びている多数の嵌合前面コネクタ44と整合
した離散形コネクタ20が取付バー42に装着されてい
る。図2および図3の例において、この配列は単一行の
12個のコネクタ44を含んでいる。各コネクタ44は
単一の光ファイバ・ジャンパ48を介して中間コネクタ
47に接続されている。中間コネクタ47は中間プレー
ト50に沿って延びている。後部光ファイバ・ジャンパ
52は次いで、各中間コネクタ47とスプリッタ54の
間を延びている。
2の構成と使い方を、図2および図3に示す要素を特に
参照して検討する。このテスト・ステーション12は、
ケーブル18の本体41から延びている「ピグテール」
部分40の端部に多数の離散形コネクタ20を有してい
るケーブルに接続するように構成されている。各ピグテ
ール部分40はケーブル18を通して独立の光路の1つ
を形成する単一の光ファイバを含んでいる。特定のケー
ブル18をテストするため、前面プレート46に沿った
配列内を延びている多数の嵌合前面コネクタ44と整合
した離散形コネクタ20が取付バー42に装着されてい
る。図2および図3の例において、この配列は単一行の
12個のコネクタ44を含んでいる。各コネクタ44は
単一の光ファイバ・ジャンパ48を介して中間コネクタ
47に接続されている。中間コネクタ47は中間プレー
ト50に沿って延びている。後部光ファイバ・ジャンパ
52は次いで、各中間コネクタ47とスプリッタ54の
間を延びている。
【0018】図1−図3を参照すると、スプリッタ54
は光スイッチ23から単一の入力ライン56に沿って入
力パルスを受け取り、これらのパルスの電力を12個の
後部ジャンパ52の間で均等かつ正確に分割する。単一
のテストをOTDRユニット22からの単一のパルスで
開始した際に、12本の光路の各々からテスト対象のケ
ーブル18へ1つの12個の戻りパルスが生成される。
テスト・プロセス中に、OTDRユニット22は各光路
について戻りパルスのレベルを測定して、以降の計算に
使用して、テスト対象のケーブルに関連したパラメータ
の値を決定するデータを与える。各光路についてパラメ
ータを計算するために、順次行われる数回の測定値を比
較する。これらの評価は個々の光路から戻るパルスを弁
別する能力についてだけ行えるものである。この能力を
与えるために、後部ジャンパ・ケーブル52の長さは増
分的に変化する。ジャンパ・ケーブル内を光の速度で、
OTDRユニット22からの各パルスが、これが反射さ
れる表面へ、後部ジャンパ・ケーブル52に沿って伝わ
らなければならず、また反射パルスが引き続いて同じ後
部ジャンパ・ケーブル52に沿ってOTDRユニット2
2へ戻らなければならないのであるから、単一の離散形
コネクタ・テスト・ステーション12内でのこれらのケ
ーブル52の増分的な変動により、12本の光路に沿っ
てこのようなパルスが戻る時間に所定の変動が生じる。
は光スイッチ23から単一の入力ライン56に沿って入
力パルスを受け取り、これらのパルスの電力を12個の
後部ジャンパ52の間で均等かつ正確に分割する。単一
のテストをOTDRユニット22からの単一のパルスで
開始した際に、12本の光路の各々からテスト対象のケ
ーブル18へ1つの12個の戻りパルスが生成される。
テスト・プロセス中に、OTDRユニット22は各光路
について戻りパルスのレベルを測定して、以降の計算に
使用して、テスト対象のケーブルに関連したパラメータ
の値を決定するデータを与える。各光路についてパラメ
ータを計算するために、順次行われる数回の測定値を比
較する。これらの評価は個々の光路から戻るパルスを弁
別する能力についてだけ行えるものである。この能力を
与えるために、後部ジャンパ・ケーブル52の長さは増
分的に変化する。ジャンパ・ケーブル内を光の速度で、
OTDRユニット22からの各パルスが、これが反射さ
れる表面へ、後部ジャンパ・ケーブル52に沿って伝わ
らなければならず、また反射パルスが引き続いて同じ後
部ジャンパ・ケーブル52に沿ってOTDRユニット2
2へ戻らなければならないのであるから、単一の離散形
コネクタ・テスト・ステーション12内でのこれらのケ
ーブル52の増分的な変動により、12本の光路に沿っ
てこのようなパルスが戻る時間に所定の変動が生じる。
【0019】図1をさらに参照すると、すべてのテスト
はOTDRユニット22からのパルスを使用することに
よって達成される。各種のテスト・ステーション10、
12、それ故これに接続されているテスト対象のケーブ
ルの間での第1のレベルの分配は、OTDRユニット2
2の出力を単一のテスト・ステーション10、12に接
続している光スイッチ23を操作することによって行わ
れる。次のレベルにおいて、OTDRユニット22から
のパルスはテスト対象の単一のケーブルの個々のファイ
バにつながっているすべての光路に同時に導入される。
ただし、システムは各テスト・ステーション10、12
内でのジャンパ・ケーブル52の長さの間の変動によっ
て導入されるタイミング差によって、OTDRユニット
22へ戻る反射を弁別することができる。単一ケーブル
の光路について得られた結果を弁別するこの方法は、す
べてのこのような光路を一回の操作でテストできるとい
う特別な効果を有している。
はOTDRユニット22からのパルスを使用することに
よって達成される。各種のテスト・ステーション10、
12、それ故これに接続されているテスト対象のケーブ
ルの間での第1のレベルの分配は、OTDRユニット2
2の出力を単一のテスト・ステーション10、12に接
続している光スイッチ23を操作することによって行わ
れる。次のレベルにおいて、OTDRユニット22から
のパルスはテスト対象の単一のケーブルの個々のファイ
バにつながっているすべての光路に同時に導入される。
ただし、システムは各テスト・ステーション10、12
内でのジャンパ・ケーブル52の長さの間の変動によっ
て導入されるタイミング差によって、OTDRユニット
22へ戻る反射を弁別することができる。単一ケーブル
の光路について得られた結果を弁別するこの方法は、す
べてのこのような光路を一回の操作でテストできるとい
う特別な効果を有している。
【0020】特に図3を参照すると、離散形コネクタ2
0には対応する前面コネクタ44が係合しており、一対
の空気圧シリンダ60、62によって離脱させられる。
下部スライダ62は約25ミリメートルという比較的長
い移動量を有しているため、コネクタ44の端部のクリ
ーニングに適する距離だけ、クランプ・ブロック42を
前面コネクタ44から分離させるのに使用することがで
きる。上部スライダ60の移動量は比較的短く、約1ミ
リメートルであるから、テスト・プロセス中にコネクタ
20、44を迅速に係合離脱させるために使用すること
ができる。これらの空気圧スライダ60、62は類似し
た部品を使用して形成されたいくつかの機構を有してお
り、これらは共通した参照符号を使用して識別されてい
る。このタイプのスライダは日本国東京のTHK株式会
社が「空気圧シリンダ付きボール・スライド、LSCタ
イプ(Ball Slide Equipped with Pneumatic Cylinder
Type LSC)」という品名で販売しているものでよい。
0には対応する前面コネクタ44が係合しており、一対
の空気圧シリンダ60、62によって離脱させられる。
下部スライダ62は約25ミリメートルという比較的長
い移動量を有しているため、コネクタ44の端部のクリ
ーニングに適する距離だけ、クランプ・ブロック42を
前面コネクタ44から分離させるのに使用することがで
きる。上部スライダ60の移動量は比較的短く、約1ミ
リメートルであるから、テスト・プロセス中にコネクタ
20、44を迅速に係合離脱させるために使用すること
ができる。これらの空気圧スライダ60、62は類似し
た部品を使用して形成されたいくつかの機構を有してお
り、これらは共通した参照符号を使用して識別されてい
る。このタイプのスライダは日本国東京のTHK株式会
社が「空気圧シリンダ付きボール・スライド、LSCタ
イプ(Ball Slide Equipped with Pneumatic Cylinder
Type LSC)」という品名で販売しているものでよい。
【0021】各空気圧スライダ60、62はブロック6
8内のシリンダ・チャンバ66中を移動するピストン6
4などのいくつかの類似した要素を含んでおり、これら
は共通した参照符号によって識別されている。各ブロッ
ク68はベース・チャネル70に接続されており、各ピ
ストン64は摺動チャネル72に接続されている。下部
スライダ62のベース・チャネル70はテスト装置の基
板73に接続されている。上部スライダ60のベース・
チャネル70は下部スライダ62の摺動チャネル72に
接続されている。圧縮空気が第1のホース74によって
各シリンダ・チャンバ66の第1端部に供給され、ピス
トンを矢印76の方向へ移動させる。圧縮空気が、第2
のホース80(図2に示す)に接続されているダクト7
8によって各シリンダ・チャンバ66に供給される。空
気はソレノイド・バルブ36(図1に示す)を通してこ
れらの74、80に送られる。これらのバルブは空気に
圧力をかけて他のホースへ供給したときに、各ホース7
4、80から大気中へ放出されるように構成されている
のが好ましい。したがって、上部スライダ60の摺動チ
ャネル72に接続されているクランプ・ブロック42の
運動量、それ故離散形コネクタ20の運動量は、両方の
摺動チャネル72の合計運動量によって画定される。
8内のシリンダ・チャンバ66中を移動するピストン6
4などのいくつかの類似した要素を含んでおり、これら
は共通した参照符号によって識別されている。各ブロッ
ク68はベース・チャネル70に接続されており、各ピ
ストン64は摺動チャネル72に接続されている。下部
スライダ62のベース・チャネル70はテスト装置の基
板73に接続されている。上部スライダ60のベース・
チャネル70は下部スライダ62の摺動チャネル72に
接続されている。圧縮空気が第1のホース74によって
各シリンダ・チャンバ66の第1端部に供給され、ピス
トンを矢印76の方向へ移動させる。圧縮空気が、第2
のホース80(図2に示す)に接続されているダクト7
8によって各シリンダ・チャンバ66に供給される。空
気はソレノイド・バルブ36(図1に示す)を通してこ
れらの74、80に送られる。これらのバルブは空気に
圧力をかけて他のホースへ供給したときに、各ホース7
4、80から大気中へ放出されるように構成されている
のが好ましい。したがって、上部スライダ60の摺動チ
ャネル72に接続されているクランプ・ブロック42の
運動量、それ故離散形コネクタ20の運動量は、両方の
摺動チャネル72の合計運動量によって画定される。
【0022】図2を参照すると、空気圧スライダ60、
62のいずれかあるいは両方にはさらに電気スイッチ・
アセンブリ82が設けられている。このアセンブリは、
摺動チャネル72から外方へ延びているタブ88に固定
されたシャフト86に、調節可能に取り付けられた一対
のアクチュエータ84を含んでいる。これらのアクチュ
エータ84の各々は、摺動チャネルが運動の終点に近づ
いたときにスイッチ90を作動させて、チャネル72の
位置を電気的に示す。
62のいずれかあるいは両方にはさらに電気スイッチ・
アセンブリ82が設けられている。このアセンブリは、
摺動チャネル72から外方へ延びているタブ88に固定
されたシャフト86に、調節可能に取り付けられた一対
のアクチュエータ84を含んでいる。これらのアクチュ
エータ84の各々は、摺動チャネルが運動の終点に近づ
いたときにスイッチ90を作動させて、チャネル72の
位置を電気的に示す。
【0023】個々のコネクタ20、44には整合および
係合機構が設けられており、短い距離で動作して、対向
して嵌合するコネクタ内の光ファイバを互いに整合さ
せ、また適切な接点力がこれらの光ファイバの間で維持
されるようにする。これらの機構は嵌合コネクタの間の
比較的大きい不整合を補償するものではないが、これら
の機能は複数のコネクタを各側にある剛性構造に取り付
けることを可能とする。
係合機構が設けられており、短い距離で動作して、対向
して嵌合するコネクタ内の光ファイバを互いに整合さ
せ、また適切な接点力がこれらの光ファイバの間で維持
されるようにする。これらの機構は嵌合コネクタの間の
比較的大きい不整合を補償するものではないが、これら
の機能は複数のコネクタを各側にある剛性構造に取り付
けることを可能とする。
【0024】図2をさらに参照すると、各アレイ・コネ
クタ・テスト・ステーション10において、離散形コネ
クタ・テスト・ステーション12の前面コネクタ44お
よび個々の光ファイバ・ジャンパ48が前面アレイ・コ
ネクタ92に置き換えられており、この前面アレイ・コ
ネクタ92は嵌合接続をケーブル・アレイ・コネクタ1
6をもたらすように構成されている。数本の離散形光フ
ァイバ線94が前面アレイ・コネクタ92から延びてい
て、中間コネクタ47および後部光ファイバ・ジャンパ
52を介してスプリッタ54の出力への個別の接続を行
っている。各光ファイバ線94は前面アレイ・コネクタ
92を通り、アレイ・コネクタ16、92を係合したと
きにテスト対象のケーブル18につながっている独立し
た光路の1本を形成する単一の光ファイバを含んでい
る。
クタ・テスト・ステーション10において、離散形コネ
クタ・テスト・ステーション12の前面コネクタ44お
よび個々の光ファイバ・ジャンパ48が前面アレイ・コ
ネクタ92に置き換えられており、この前面アレイ・コ
ネクタ92は嵌合接続をケーブル・アレイ・コネクタ1
6をもたらすように構成されている。数本の離散形光フ
ァイバ線94が前面アレイ・コネクタ92から延びてい
て、中間コネクタ47および後部光ファイバ・ジャンパ
52を介してスプリッタ54の出力への個別の接続を行
っている。各光ファイバ線94は前面アレイ・コネクタ
92を通り、アレイ・コネクタ16、92を係合したと
きにテスト対象のケーブル18につながっている独立し
た光路の1本を形成する単一の光ファイバを含んでい
る。
【0025】ケーブル・アレイ・コネクタ16は取付ブ
ラケット96によって、下部スライダ62の頂部に取り
付けられている上部スライダ60の摺動チャネル72に
接続されており、したがって、ケーブル・アレイ・コネ
クタ16は離散形コネクタ・テスト・ステーション12
の離散形コネクタ20に関して上述した態様で、矢印7
6の方向で前後に運動する。
ラケット96によって、下部スライダ62の頂部に取り
付けられている上部スライダ60の摺動チャネル72に
接続されており、したがって、ケーブル・アレイ・コネ
クタ16は離散形コネクタ・テスト・ステーション12
の離散形コネクタ20に関して上述した態様で、矢印7
6の方向で前後に運動する。
【0026】図2および図3を参照すると、テスト手順
中に各種の光路内で反射される光信号を弁別するため
に、各テスト・ステーション10、12の後部ジャンパ
52の長さは増分的に変動する。それ故、単一のパルス
がOTDRユニット22(図1に示す)によって放射さ
れた後、パルスの反射は各種のジャンパ52に沿って両
方向へパルスが移動する時間の差によって増分的に変動
する時間でOTDRユニットに戻る。
中に各種の光路内で反射される光信号を弁別するため
に、各テスト・ステーション10、12の後部ジャンパ
52の長さは増分的に変動する。それ故、単一のパルス
がOTDRユニット22(図1に示す)によって放射さ
れた後、パルスの反射は各種のジャンパ52に沿って両
方向へパルスが移動する時間の差によって増分的に変動
する時間でOTDRユニットに戻る。
【0027】図4および図5はOTDRユニット22か
ら伝送された場合の光のテスト・パルスの伝送を示す
図、およびマルチ光ファイバ・ケーブル・テストプロセ
ス中にOTDRユニットへ戻された場合のこのパルスの
反射を示す図である。
ら伝送された場合の光のテスト・パルスの伝送を示す
図、およびマルチ光ファイバ・ケーブル・テストプロセ
ス中にOTDRユニットへ戻された場合のこのパルスの
反射を示す図である。
【0028】マルチファイバ・ケーブル18をテストす
るプロセスを図1、図2、図4および図5を参照して説
明する。このプロセスにおいて、テストはケーブルの手
前のコネクタと、奥のコネクタで行われる。この例にお
いて、手前のコネクタはアレイ・コネクタ16であり、
奥のコネクタは離散形コネクタ20であると想定する。
この割当ては任意のものであり、各端部にアレイ・コネ
クタを有している、あるいは各端部に離散形コネクタを
有しているマルチファイバ・ケーブルがこのようにして
テストされる。
るプロセスを図1、図2、図4および図5を参照して説
明する。このプロセスにおいて、テストはケーブルの手
前のコネクタと、奥のコネクタで行われる。この例にお
いて、手前のコネクタはアレイ・コネクタ16であり、
奥のコネクタは離散形コネクタ20であると想定する。
この割当ては任意のものであり、各端部にアレイ・コネ
クタを有している、あるいは各端部に離散形コネクタを
有しているマルチファイバ・ケーブルがこのようにして
テストされる。
【0029】最初のシリーズのテストが、OTDRユニ
ット22をテスト対象のケーブル18が接続されている
アレイ・コネクタに接続している光スイッチ23で行わ
れる。このシリーズのテスト中に、奥のコネクタ20が
離脱され、奥のテスト・ステーション12における上部
スライダ60の摺動チャネル72が矢印76と反対方向
へ移動する。図4に示した第1のテストの場合、手前の
コネクタ16も離脱され、手前のテスト・ステーション
10の上部スライダ60の摺動チャネル72も矢印76
と反対の方向へ移動するので、OTDRユニット22が
放射する光パルス100は第1のシリーズの12個のパ
ルス102として反射され、OTDRユニットへ戻さ
れ、各パルス102は手前の前面コネクタ92内の光フ
ァイバの端部の反射となる。これらのパルス102はア
レイ・コネクタ・テスト・ステーション10内の隣接中
間光ファイバ・ジャンパ52の長さの差によって決定さ
れる時間だけ離隔している。このテストは実際にはケー
ブル18のないテスト装置の較正であるが、新しいケー
ブル18をテストするたびに反復して、前面コネクタ9
2における光ファイバの端面における摩耗や塵埃の集積
による変動を自動的に追跡することが好ましい。
ット22をテスト対象のケーブル18が接続されている
アレイ・コネクタに接続している光スイッチ23で行わ
れる。このシリーズのテスト中に、奥のコネクタ20が
離脱され、奥のテスト・ステーション12における上部
スライダ60の摺動チャネル72が矢印76と反対方向
へ移動する。図4に示した第1のテストの場合、手前の
コネクタ16も離脱され、手前のテスト・ステーション
10の上部スライダ60の摺動チャネル72も矢印76
と反対の方向へ移動するので、OTDRユニット22が
放射する光パルス100は第1のシリーズの12個のパ
ルス102として反射され、OTDRユニットへ戻さ
れ、各パルス102は手前の前面コネクタ92内の光フ
ァイバの端部の反射となる。これらのパルス102はア
レイ・コネクタ・テスト・ステーション10内の隣接中
間光ファイバ・ジャンパ52の長さの差によって決定さ
れる時間だけ離隔している。このテストは実際にはケー
ブル18のないテスト装置の較正であるが、新しいケー
ブル18をテストするたびに反復して、前面コネクタ9
2における光ファイバの端面における摩耗や塵埃の集積
による変動を自動的に追跡することが好ましい。
【0030】OTDRユニット22はテスト・パルス1
00の放射後の、図4および図5において中かっこ10
4で示されているように限定されているが調節可能な時
間でパルスを受け取り、分析する機能を有している。テ
スト・プロセスのこの部分において、この時間は12個
のパルス102全部を含むように調節されている。
00の放射後の、図4および図5において中かっこ10
4で示されているように限定されているが調節可能な時
間でパルスを受け取り、分析する機能を有している。テ
スト・プロセスのこの部分において、この時間は12個
のパルス102全部を含むように調節されている。
【0031】図1、図2および図5の参照を続けると、
図5は第2および第3のテスト中にOTDRユニット2
2(図1に示す)による単一パルス100の放出後に生
じる反射を示している。第2および第3のテストはOT
DRユニット22の出力を、テスト対象のケーブル18
の手前端部に接続されているテスト・ステーション10
に接続している光スイッチ23によっても行われる。こ
れらのテストは両方とも、手前のケーブル・コネクタ1
6を嵌合前面コネクタ92に係合させ、奥のケーブル・
コネクタ20を嵌合前面コネクタ44から離脱させて行
われる。これらのテストの各々において、奥のコネクタ
20は他の光ファイバに接続されていないため、比較的
強い反射パルス106を発生するが、手前の前面コネク
タ92は機械的圧力によって手前のケーブル・コネクタ
96内のファイバに接続されているため、比較的弱い反
射パルス108を発生する。このように接続することに
より、光パルス内のエネルギーの大部分が伝送され、反
射されることがなくなる。第1のグループのパルス10
8と第2のグループのパルス106の間の遅れは、放射
パルス100がテスト対象のケーブル18の長さを伝わ
る時間、およびその反射がケーブル18を通って戻る時
間から導かれる。
図5は第2および第3のテスト中にOTDRユニット2
2(図1に示す)による単一パルス100の放出後に生
じる反射を示している。第2および第3のテストはOT
DRユニット22の出力を、テスト対象のケーブル18
の手前端部に接続されているテスト・ステーション10
に接続している光スイッチ23によっても行われる。こ
れらのテストは両方とも、手前のケーブル・コネクタ1
6を嵌合前面コネクタ92に係合させ、奥のケーブル・
コネクタ20を嵌合前面コネクタ44から離脱させて行
われる。これらのテストの各々において、奥のコネクタ
20は他の光ファイバに接続されていないため、比較的
強い反射パルス106を発生するが、手前の前面コネク
タ92は機械的圧力によって手前のケーブル・コネクタ
96内のファイバに接続されているため、比較的弱い反
射パルス108を発生する。このように接続することに
より、光パルス内のエネルギーの大部分が伝送され、反
射されることがなくなる。第1のグループのパルス10
8と第2のグループのパルス106の間の遅れは、放射
パルス100がテスト対象のケーブル18の長さを伝わ
る時間、およびその反射がケーブル18を通って戻る時
間から導かれる。
【0032】第2のテストの場合、OTDRユニット2
2が分析のためのパルスを受け取ることのできる時間
は、中かっこ104によって示される時間に合わせて調
節されるため、ケーブル18の手前端部の界面から反射
される12個のパルス108を受け取って、分析するこ
とができる。第3のテストの場合、この時間は中かっこ
112によって示される他の時間に合わせて調節される
ので、ケーブル18の奥の界面から反射される12個の
パルス106を受け取って、分析することができる。
2が分析のためのパルスを受け取ることのできる時間
は、中かっこ104によって示される時間に合わせて調
節されるため、ケーブル18の手前端部の界面から反射
される12個のパルス108を受け取って、分析するこ
とができる。第3のテストの場合、この時間は中かっこ
112によって示される他の時間に合わせて調節される
ので、ケーブル18の奥の界面から反射される12個の
パルス106を受け取って、分析することができる。
【0033】これら3回のテストが完了した後、光スイ
ッチ23を操作して、OTDRユニット22と手前のテ
スト・ステーション(この例では、アレイ・コネクタ・
テスト・ステーション10)との間の接続を終了し、O
TDRユニット22を奥のテスト・ステーション(この
例では、離散形コネクタ・テスト・ステーション12)
と接続する。次に、上述の3回のテストを繰り返し、テ
スト・パルスと反射パルスが奥のテスト・ステーション
12で伝送される。これらのテストすべてを完了し、ア
レイ・コネクタ16が接続されている上部スライダ60
を矢印76と反対の方向へ移動させることによって、手
前の接続を離脱させる。これらのテストのうち最初のも
のを完了し、取付バー42が接続されている上部スライ
ダ60を移動させることによって、奥のテスト・ステー
ション12における奥の接続を離脱させる。このテスト
によって、奥のテスト・ステーション12からの装置の
較正が可能となる。次に、2回のテストを完了し、取付
バー42が接続されている上部スライダ60を移動させ
ることによって、奥の接続を行う。これらの3回のテス
トによって、図4および図5に示す結果が生じ、反射パ
ルスを分析のために受け取る時間が、これらの図を参照
して説明したようにして調節される。
ッチ23を操作して、OTDRユニット22と手前のテ
スト・ステーション(この例では、アレイ・コネクタ・
テスト・ステーション10)との間の接続を終了し、O
TDRユニット22を奥のテスト・ステーション(この
例では、離散形コネクタ・テスト・ステーション12)
と接続する。次に、上述の3回のテストを繰り返し、テ
スト・パルスと反射パルスが奥のテスト・ステーション
12で伝送される。これらのテストすべてを完了し、ア
レイ・コネクタ16が接続されている上部スライダ60
を矢印76と反対の方向へ移動させることによって、手
前の接続を離脱させる。これらのテストのうち最初のも
のを完了し、取付バー42が接続されている上部スライ
ダ60を移動させることによって、奥のテスト・ステー
ション12における奥の接続を離脱させる。このテスト
によって、奥のテスト・ステーション12からの装置の
較正が可能となる。次に、2回のテストを完了し、取付
バー42が接続されている上部スライダ60を移動させ
ることによって、奥の接続を行う。これらの3回のテス
トによって、図4および図5に示す結果が生じ、反射パ
ルスを分析のために受け取る時間が、これらの図を参照
して説明したようにして調節される。
【0034】テスト対象のケーブル18を通る各光路の
伝送特性を記述する実際のパラメータは、上述の測定値
から計算される。個々の測定は任意の順序で行うことが
できるが(たとえば、第3のテストを第2のテストの前
に行って)、きわめて重要なのは異なる光路から反射さ
れた光を使用した測定を組み合わせて、このようなパラ
メータを計算してはならないということである。単一の
パルス100の反射としてOTDRユニット22に返さ
れる信号を弁別する、本明細書に記載した方法は、この
ような弁別を達成するための信頼性が高く、再現性のあ
る方法を提供する際に特に有利である。
伝送特性を記述する実際のパラメータは、上述の測定値
から計算される。個々の測定は任意の順序で行うことが
できるが(たとえば、第3のテストを第2のテストの前
に行って)、きわめて重要なのは異なる光路から反射さ
れた光を使用した測定を組み合わせて、このようなパラ
メータを計算してはならないということである。単一の
パルス100の反射としてOTDRユニット22に返さ
れる信号を弁別する、本明細書に記載した方法は、この
ような弁別を達成するための信頼性が高く、再現性のあ
る方法を提供する際に特に有利である。
【0035】上記の検討は接続界面における光ファイバ
の端部を研磨して、光路の軸線に垂直に延びている平面
を形成するPC(物理接触)接続をテストするための較
正およびプロセスを記載したものである。テスト対象の
ケーブルはあるいは、一端または両端にAPC(斜め物
理接触)コネクタを有していてもよい。APCコネクタ
においては、光ファイバを研磨して、光ファイバの軸線
に対して斜めに延びている平面を形成する。APCコネ
クタはPCコネクタと比較して、一般により良好な伝送
特性があるという利点がある。しかしながら、APCコ
ネクタにはこれらを上述したようなテスト操作において
抜き差ししたときに、一様な結果あるいは信頼性のある
結果を得られないという欠点がある。したがって、AP
Cコネクタを有するマルチ光ファイバ・ケーブルをテス
トする場合、APCコネクタは一端にテスト装置と嵌合
するPCコネクタを、他端にテスト対象のコネクタと嵌
合するAPCコネクタを有している基準ジャンパを使用
してテスト装置に接続する。切断および再接続というテ
スト・プロセスは、基準ジャンパのPCコネクタとテス
ト装置の間で行われる。
の端部を研磨して、光路の軸線に垂直に延びている平面
を形成するPC(物理接触)接続をテストするための較
正およびプロセスを記載したものである。テスト対象の
ケーブルはあるいは、一端または両端にAPC(斜め物
理接触)コネクタを有していてもよい。APCコネクタ
においては、光ファイバを研磨して、光ファイバの軸線
に対して斜めに延びている平面を形成する。APCコネ
クタはPCコネクタと比較して、一般により良好な伝送
特性があるという利点がある。しかしながら、APCコ
ネクタにはこれらを上述したようなテスト操作において
抜き差ししたときに、一様な結果あるいは信頼性のある
結果を得られないという欠点がある。したがって、AP
Cコネクタを有するマルチ光ファイバ・ケーブルをテス
トする場合、APCコネクタは一端にテスト装置と嵌合
するPCコネクタを、他端にテスト対象のコネクタと嵌
合するAPCコネクタを有している基準ジャンパを使用
してテスト装置に接続する。切断および再接続というテ
スト・プロセスは、基準ジャンパのPCコネクタとテス
ト装置の間で行われる。
【0036】それ故、図6は一端に手前のAPCアレイ
・コネクタ118を、他端に奥のAPCコネクタ119
を有しているマルチファイバ・ケーブル116をテスト
するように構成された、図1のテスト装置の部分略図で
ある。このケーブル116は一端にAPCアレイ・コネ
クタ124を、他端にPCアレイ・コネクタ126を有
している手前の基準ジャンパ122によって、手前のテ
スト・ステーション120に接続されている。テスト中
のケーブル116も一端にAPCアレイ・コネクタ13
0を、他端にPCアレイ・コネクタ132を有している
奥の基準ジャンパ128によって、奥のテスト・ステー
ション127に接続されている。テスト・ステーション
120、127は両方ともこの例においては、図1の装
置からのアレイ・コネクタ・テスト・ステーション10
である。名称と参照符号の変更は、テスト・プロセスの
検討を容易とするために行われたものである。
・コネクタ118を、他端に奥のAPCコネクタ119
を有しているマルチファイバ・ケーブル116をテスト
するように構成された、図1のテスト装置の部分略図で
ある。このケーブル116は一端にAPCアレイ・コネ
クタ124を、他端にPCアレイ・コネクタ126を有
している手前の基準ジャンパ122によって、手前のテ
スト・ステーション120に接続されている。テスト中
のケーブル116も一端にAPCアレイ・コネクタ13
0を、他端にPCアレイ・コネクタ132を有している
奥の基準ジャンパ128によって、奥のテスト・ステー
ション127に接続されている。テスト・ステーション
120、127は両方ともこの例においては、図1の装
置からのアレイ・コネクタ・テスト・ステーション10
である。名称と参照符号の変更は、テスト・プロセスの
検討を容易とするために行われたものである。
【0037】図1および図6を参照すると、各マルチフ
ァイバ・ケーブル116をテストする前に、較正テスト
が基準ジャンパ122、128で実行される。これらの
テストは外部テーブルを接続することなく、手前のテス
ト・ステーション120内の反射を測定することによっ
て開始される。光スイッチ23は手前のテスト・ステー
ション120をOTDRユニット22に接続する。次
に、基準ジャンパ122、128はそのAPCコネクタ
124、130によって互いに接続され、PCコネクタ
126によって手前のテスト・ステーション120に接
続され、かつPCコネクタ132によって奥のテスト・
ステーション127に接続されている。
ァイバ・ケーブル116をテストする前に、較正テスト
が基準ジャンパ122、128で実行される。これらの
テストは外部テーブルを接続することなく、手前のテス
ト・ステーション120内の反射を測定することによっ
て開始される。光スイッチ23は手前のテスト・ステー
ション120をOTDRユニット22に接続する。次
に、基準ジャンパ122、128はそのAPCコネクタ
124、130によって互いに接続され、PCコネクタ
126によって手前のテスト・ステーション120に接
続され、かつPCコネクタ132によって奥のテスト・
ステーション127に接続されている。
【0038】マルチファイバ・ケーブル116を接続す
るために、ケーブル・コネクタ118、119はケーブ
ル116が図6に示すように、基準ジャンパ122、1
28の間を延びるように接続される。奥の基準ジャンパ
128のPCコネクタ132を奥のテスト・ステーショ
ン127から外し、OTDRユニット22を光スイッチ
23によって手前のテスト・ステーション120へ接続
して、最初のシリーズのテストを行う。これらのテスト
のうち最初のものにおいて、手前の基準ジャンパ122
のPCコネクタ126も外されているため、手前のテス
ト・ステーション120の特性をチェックすることがで
きる。これらのテストのうち2番目のものにおいて、手
前の基準ジャンパ122には手前のテスト・ステーショ
ン120が係合している。OTDRユニット22を調節
して、テスト・パルスが放射された後、奥の基準ジャン
パ・コネクタ132の界面から反射されたパルスが格納
され、分析されるようにする。次に、このテストを繰り
返し、OTDRユニット22を調節して、奥の基準コネ
クタ・ジャンパ119、130の界面から反射されたパ
ルスが格納され、分析されるようにする。
るために、ケーブル・コネクタ118、119はケーブ
ル116が図6に示すように、基準ジャンパ122、1
28の間を延びるように接続される。奥の基準ジャンパ
128のPCコネクタ132を奥のテスト・ステーショ
ン127から外し、OTDRユニット22を光スイッチ
23によって手前のテスト・ステーション120へ接続
して、最初のシリーズのテストを行う。これらのテスト
のうち最初のものにおいて、手前の基準ジャンパ122
のPCコネクタ126も外されているため、手前のテス
ト・ステーション120の特性をチェックすることがで
きる。これらのテストのうち2番目のものにおいて、手
前の基準ジャンパ122には手前のテスト・ステーショ
ン120が係合している。OTDRユニット22を調節
して、テスト・パルスが放射された後、奥の基準ジャン
パ・コネクタ132の界面から反射されたパルスが格納
され、分析されるようにする。次に、このテストを繰り
返し、OTDRユニット22を調節して、奥の基準コネ
クタ・ジャンパ119、130の界面から反射されたパ
ルスが格納され、分析されるようにする。
【0039】手前の基準ジャンパ122のPCコネクタ
126を手前のテスト・ステーション120から外し、
奥のコネクタ132を奥のテスト・ステーション127
に接続したままにしておき、OTDRユニット22を光
スイッチ23を介して奥のテスト・ステーション127
に接続して、第2のシリーズのテストを行う。これらの
テストの最初のものにおいて、OTDRユニット22を
調節して、テスト・パルスが放射された後、手前のジャ
ンパ・コネクタ126の界面から反射されたパルスが格
納され、基準情報を得るために分析されるようにする。
これらのテストの第2のものにおいて、OTDRユニッ
ト22を調節して、テスト・パルスが放射された後、手
前のコネクタ118、124の界面から反射されたパル
スが格納され、分析されるようにする。
126を手前のテスト・ステーション120から外し、
奥のコネクタ132を奥のテスト・ステーション127
に接続したままにしておき、OTDRユニット22を光
スイッチ23を介して奥のテスト・ステーション127
に接続して、第2のシリーズのテストを行う。これらの
テストの最初のものにおいて、OTDRユニット22を
調節して、テスト・パルスが放射された後、手前のジャ
ンパ・コネクタ126の界面から反射されたパルスが格
納され、基準情報を得るために分析されるようにする。
これらのテストの第2のものにおいて、OTDRユニッ
ト22を調節して、テスト・パルスが放射された後、手
前のコネクタ118、124の界面から反射されたパル
スが格納され、分析されるようにする。
【0040】図7は一端にAPCアレイ・コネクタ11
9を、他端にPCコネクタ136を有しているケーブル
134をテストするように構成された、図1のテスト装
置の部分略図である。テスト装置は図6に示すように構
成されているが、奥の基準ジャンパ128だけが使用さ
れている点が異なっている。テスト中のケーブル134
の他端はPCコネクタ136を有しており、手前のテス
ト・ステーション120に直接差し込まれている。
9を、他端にPCコネクタ136を有しているケーブル
134をテストするように構成された、図1のテスト装
置の部分略図である。テスト装置は図6に示すように構
成されているが、奥の基準ジャンパ128だけが使用さ
れている点が異なっている。テスト中のケーブル134
の他端はPCコネクタ136を有しており、手前のテス
ト・ステーション120に直接差し込まれている。
【0041】図1および図7を参照すると、奥の基準ジ
ャンパ・コネクタ132を奥のテスト・ステーション1
27から外し、OTDRユニット22を光スイッチ23
を介して手前のテスト・ステーション120に接続し
て、図7の構成を備えた第1のシリーズのテストを行
う。これらのテストのうち最初のものはテスト装置に関
する基準情報を発生するものであり、手前のケーブル・
コネクタ136も手前のテスト・ステーション120か
ら外して行われ、後でケーブル・コネクタ136が係合
される手前のテスト・ステーション120内の反射特性
が決定されるようにする。このシリーズにおける他の2
つのテストは、ケーブル・コネクタ136を手前のテス
ト・ステーション120に係合して行われる。これらの
テストのうち最初のものにおいて、OTDRユニット2
2を調節して、手前のケーブル・コネクタ136と手前
のテスト・ステーション120の間の界面からの反射を
セーブし、分析する。これらのテストのうち第2のもの
において、OTDRユニット22を調節して、外した奥
のジャンパ・コネクタ132における界面からの反射を
セーブし、分析する。
ャンパ・コネクタ132を奥のテスト・ステーション1
27から外し、OTDRユニット22を光スイッチ23
を介して手前のテスト・ステーション120に接続し
て、図7の構成を備えた第1のシリーズのテストを行
う。これらのテストのうち最初のものはテスト装置に関
する基準情報を発生するものであり、手前のケーブル・
コネクタ136も手前のテスト・ステーション120か
ら外して行われ、後でケーブル・コネクタ136が係合
される手前のテスト・ステーション120内の反射特性
が決定されるようにする。このシリーズにおける他の2
つのテストは、ケーブル・コネクタ136を手前のテス
ト・ステーション120に係合して行われる。これらの
テストのうち最初のものにおいて、OTDRユニット2
2を調節して、手前のケーブル・コネクタ136と手前
のテスト・ステーション120の間の界面からの反射を
セーブし、分析する。これらのテストのうち第2のもの
において、OTDRユニット22を調節して、外した奥
のジャンパ・コネクタ132における界面からの反射を
セーブし、分析する。
【0042】奥のジャンパ・コネクタを、現在光スイッ
チ23を介してOTDRユニット22に接続されている
奥のテスト・ステーション127と係合させ、手前のケ
ーブル・コネクタ136を手前のテスト・ステーション
120から外して、次のシリーズのテストを行う。これ
らのテストのうち最初のものの場合、OTDRユニット
22を調節して、外されたケーブル・コネクタ136の
界面からの反射をセーブし、分析する。これらのテスト
のうち第2のものの場合、OTDRユニット22を調節
して、APCコネクタ119、130の界面からの反射
をセーブし、分析する。
チ23を介してOTDRユニット22に接続されている
奥のテスト・ステーション127と係合させ、手前のケ
ーブル・コネクタ136を手前のテスト・ステーション
120から外して、次のシリーズのテストを行う。これ
らのテストのうち最初のものの場合、OTDRユニット
22を調節して、外されたケーブル・コネクタ136の
界面からの反射をセーブし、分析する。これらのテスト
のうち第2のものの場合、OTDRユニット22を調節
して、APCコネクタ119、130の界面からの反射
をセーブし、分析する。
【0043】図6および図7を参照して上述した個々の
テストの各々において、長さが増分的に変動する光ファ
イバ・ジャンパ52を使用して、個々のファイバの界面
のさまざまな光路からの反射を弁別する、図2を参照し
て上述した機能を使用する。テスト中のケーブルはアレ
イ・コネクタを有しているものとして説明したが、これ
らのケーブルおよびこれらに接続された基準ジャンパに
は、一端または両端に離散形コネクタを簡単に設けるこ
とができる。
テストの各々において、長さが増分的に変動する光ファ
イバ・ジャンパ52を使用して、個々のファイバの界面
のさまざまな光路からの反射を弁別する、図2を参照し
て上述した機能を使用する。テスト中のケーブルはアレ
イ・コネクタを有しているものとして説明したが、これ
らのケーブルおよびこれらに接続された基準ジャンパに
は、一端または両端に離散形コネクタを簡単に設けるこ
とができる。
【0044】本発明をある程度特殊な好ましい形態ない
し実施の形態について説明してきたが、この説明が単な
る例として行われたものであって、部品の組合せおよび
構成を含む、構造、製造および使用の面でのさまざまな
変更を、本発明の精神および範囲を逸脱することなく行
えることが理解されよう。
し実施の形態について説明してきたが、この説明が単な
る例として行われたものであって、部品の組合せおよび
構成を含む、構造、製造および使用の面でのさまざまな
変更を、本発明の精神および範囲を逸脱することなく行
えることが理解されよう。
【0045】まとめとして、本発明の構成に関して以下
の事項を開示する。
の事項を開示する。
【0046】(1)マルチ光ファイバ・ケーブルの手前
端部から等距離の位置に前記マルチ光ファイバ・ケーブ
ル中の複数の光ファイバに沿って個々に配置された複数
の界面からの単一の光テスト・パルスの反射を弁別する
装置において、前記装置は各々が前記マルチ光ファイバ
・ケーブル中の前記複数の光ファイバ内の1本の光ファ
イバに光学的に接続されている複数の光ファイバ・ジャ
ンパを備えており、前記の単一の光テスト・パルスが前
記複数の光ファイバ・ジャンパ内の各光ファイバ・ジャ
ンパに沿って、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに送られ、前
記複数の界面のうちの1つの界面からの反射が各前記光
ファイバ・ジャンパから戻され、前記光ファイバ・ジャ
ンパがさまざまな長さのものであり、各前記反射が各前
記光ファイバ・ジャンパに沿って戻る時点で測定可能に
変動する差をもたらす装置。 (2)前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増分
的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共通した増
分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻され
ることを特徴とする、上記(1)に記載の装置。 (3)マルチ光ファイバ・ケーブル内の複数の平行な光
路を形成する光ファイバの界面の特性を決定する装置に
おいて、第1の光学ポートを透過する光のテスト信号を
生成するパルス発生手段と、前記第1の光学ポートに光
学的に結合され、かつ第1の複数のスプリッタ界面に光
学的に結合されており、前記パルス発生手段からの光信
号を前記第1の複数のスプリッタ界面の間で分割し、前
記第1の複数のスプリッタ界面内の各スプリッタ界面か
らの信号を前記第1の光学ポートに送る第1のスプリッ
タと、前記第1のスプリッタから前記第1の光学ポート
へ伝送された信号を表すデータを記録する記録手段と、
第1の複数の光ファイバ・ジャンパであって、該第1の
複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパが、前記第
1の複数のスプリッタ界面内の1つのスプリッタ界面
を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第1の端部にお
ける前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の平
行光路内の1つの平行光路と接続する光路の一部を形成
しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内の前記光
ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させられて、前
記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・ケーブル
内の前記平行光路の界面から前記第1の光学ポートを通
って戻る時点で測定可能に変動する差をもたらす第1の
複数の光ファイバ・ジャンパとを備えている装置。 (4)前記第1の複数の光ファイバ・ジャンパ内の光フ
ァイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ごとに変
動し、したがって前記テスト信号の反射が共通した増分
的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻される
ことを特徴とする、上記(3)に記載の装置。 (5)前記第1の光学ポートを第2の光学ポートに接続
する第1の状態と、前記第1の光学ポートを第3の光学
ポートに接続する第2の状態とで動作可能であり、前記
第2の光学ポートを介して前記第1のスプリッタに接続
されている光スイッチ手段と、前記第3の光学ポートに
光学的に結合され、かつ第2の複数のスプリッタ界面に
光学的に結合されており、前記パルス発生手段からの光
信号を前記第2の複数のスプリッタ界面の間で分割し、
前記第2の複数のスプリッタ界面内の各スプリッタ界面
からの信号を前記第3の光学ポートに送る第2のスプリ
ッタと、第2の複数の光ファイバ・ジャンパであって、
該第2の複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパ
が、前記第2の複数のスプリッタ界面内の1つのスプリ
ッタ界面を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第2の
端部における前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記
複数の平行光路内の1つの平行光路と接続する光路の一
部を形成しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内
の前記光ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させら
れて、前記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・
ケーブル内の前記平行光路の界面から前記第2の光学ポ
ートを通って戻る時点で測定可能に変動する差をもたら
す第2の複数の光ファイバ・ジャンパとをさらに備えて
いることを特徴とする、上記(3)に記載の装置。 (6)前記第1の複数の光ファイバ・ジャンパ内の光フ
ァイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ごとに変
動し、したがって前記テスト信号の反射が前記第1の状
態の前記スイッチ手段によって共通した増分的時間ごと
に個別に分離されたパルス列として戻され、前記第2の
複数の光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパ
の長さが前記の共通した増分的距離ごとに変動し、した
がって前記テスト信号の反射が前記第2の状態の前記ス
イッチ手段によって共通した増分的時間ごとに個別に分
離されたパルス列として戻されることを特徴とする、上
記(5)に記載の装置。 (7)第1の信号に応答して作動し、前記第1の複数の
光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパと前記
マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第1の端部との間の
光学的接続を接続切断する第1の接続手段と、第2の信
号に応答して作動し、前記第2の複数の光ファイバ・ジ
ャンパ内の光ファイバ・ジャンパと前記マルチ光ファイ
バ・ケーブルの前記第2の端部との間の光学的接続を接
続切断する第2の接続手段とをさらに備えていることを
特徴とする、上記(5)に記載の装置。 (8)前記光スイッチ手段、前記第1の接続手段、およ
び前記第2の接続手段を所定の順序にしたがって作動さ
せて、いくつかのテスト操作を実行するコントローラを
さらに備えていることを特徴とする、上記(7)に記載
の装置。 (9)前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の
光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ・
ケーブルの前記第1の端部において、前記第1の複数の
光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパを
通って延びている複数の光路と接続する第1のアレイ・
コネクタと、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記
複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファ
イバ・ケーブルの前記第2の端部において、前記第2の
複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャ
ンパを通って延びている複数の光路と接続する第2のア
レイ・コネクタとをさらに備えていることを特徴とす
る、上記(8)に記載の装置。 (10)前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数
の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ
・ケーブルの前記第1の端部において、前記第1の複数
の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパ
を通って延びている複数の光路と接続する第1のアレイ
・コネクタと、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光フ
ァイバ・ケーブルの前記第2の端部において、前記第2
の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジ
ャンパを通って延びている複数の光路と接続する複数の
離散形コネクタとをさらに備えていることを特徴とす
る、上記(8)に記載の装置。 (11)前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数
の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ
・ケーブルの前記第1の端部において、前記第1の複数
の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパ
を通って延びている複数の光路と接続する第1の複数の
離散形コネクタと、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中
の前記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ
光ファイバ・ケーブルの前記第2の端部において、前記
第2の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ
・ジャンパを通って延びている複数の光路と接続する第
2の複数の離散形コネクタとをさらに備えていることを
特徴とする、上記(8)に記載の装置。 (12)前記装置が前記マルチ光ファイバ・ケーブル中
の前記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに、前記
マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第1の端部におい
て、接続するAPCコネクタを遠方端部に、また前記複
数の光ファイバ・ジャンパ内の1つの光ファイバ・ジャ
ンパを通って延びている光路に接続するPCコネクタを
近接端部に有している基準ジャンパ・ケーブルをさらに
備えており、前記第1の接続手段がその前記近接端部に
おいて前記基準端部を接続および切断することを特徴と
する、上記(8)に記載の装置。 (13)マルチ光ファイバ・ケーブルの手前端部から均
等な距離の位置においてマルチ光ファイバ・ケーブル中
の複数の光ファイバに沿って個々に配置された界面の特
性を決定する方法において、 a)各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに光学的に接
続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第1
のポートから光パルスを送るステップと、 b)各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の1つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
光パルスの前記第1のポートにおける反射を受け取るス
テップと、 c)各前記反射を受け取ったときに各前記反射の強さに
対応する値を格納するステップとを備えている方法。 (14)前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増
分的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共通した
増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻さ
れることを特徴とする、上記(13)に記載の方法。 (15)複数の平行光路内の、複数の光路の手前の端部
から第1の距離にある前記複数の光路内の1つの光路に
各々が配置された第1の複数の界面と、複数の光路の手
前の端部から第2の距離にある前記複数の光路内の1つ
の光路に各々が配置された第2の複数の界面との内部の
界面の特性を決定する方法において、 a)各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに光学的に接
続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第1
のポートから第1の光パルスを送るステップと、 b)各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の1つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
光パルスの前記第1のポートにおける反射を受け取るス
テップと、 c)前記第1の複数の界面中の各前記界面からの各前記
反射の値を格納するステップと、 d)前記複数の光ファイバ・ジャンパを通して前記第1
のポートから第2の光パルスを送るステップと、 e)各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の1つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わる、前記第2の複
数の界面中の各前記界面から前記第2の光パルスの前記
第1のポートにおける反射を受け取るステップと、 f)前記第2の複数の界面中の各前記界面からの各前記
反射の値を格納するステップとを備えている方法。 (16)前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増
分的距離ごとに変動し、したがって前記第1および第2
の複数の界面中の界面からの前記反射が共通した増分的
時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻されるこ
とを特徴とする、上記(13)に記載の方法。
端部から等距離の位置に前記マルチ光ファイバ・ケーブ
ル中の複数の光ファイバに沿って個々に配置された複数
の界面からの単一の光テスト・パルスの反射を弁別する
装置において、前記装置は各々が前記マルチ光ファイバ
・ケーブル中の前記複数の光ファイバ内の1本の光ファ
イバに光学的に接続されている複数の光ファイバ・ジャ
ンパを備えており、前記の単一の光テスト・パルスが前
記複数の光ファイバ・ジャンパ内の各光ファイバ・ジャ
ンパに沿って、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに送られ、前
記複数の界面のうちの1つの界面からの反射が各前記光
ファイバ・ジャンパから戻され、前記光ファイバ・ジャ
ンパがさまざまな長さのものであり、各前記反射が各前
記光ファイバ・ジャンパに沿って戻る時点で測定可能に
変動する差をもたらす装置。 (2)前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増分
的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共通した増
分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻され
ることを特徴とする、上記(1)に記載の装置。 (3)マルチ光ファイバ・ケーブル内の複数の平行な光
路を形成する光ファイバの界面の特性を決定する装置に
おいて、第1の光学ポートを透過する光のテスト信号を
生成するパルス発生手段と、前記第1の光学ポートに光
学的に結合され、かつ第1の複数のスプリッタ界面に光
学的に結合されており、前記パルス発生手段からの光信
号を前記第1の複数のスプリッタ界面の間で分割し、前
記第1の複数のスプリッタ界面内の各スプリッタ界面か
らの信号を前記第1の光学ポートに送る第1のスプリッ
タと、前記第1のスプリッタから前記第1の光学ポート
へ伝送された信号を表すデータを記録する記録手段と、
第1の複数の光ファイバ・ジャンパであって、該第1の
複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパが、前記第
1の複数のスプリッタ界面内の1つのスプリッタ界面
を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第1の端部にお
ける前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の平
行光路内の1つの平行光路と接続する光路の一部を形成
しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内の前記光
ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させられて、前
記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・ケーブル
内の前記平行光路の界面から前記第1の光学ポートを通
って戻る時点で測定可能に変動する差をもたらす第1の
複数の光ファイバ・ジャンパとを備えている装置。 (4)前記第1の複数の光ファイバ・ジャンパ内の光フ
ァイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ごとに変
動し、したがって前記テスト信号の反射が共通した増分
的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻される
ことを特徴とする、上記(3)に記載の装置。 (5)前記第1の光学ポートを第2の光学ポートに接続
する第1の状態と、前記第1の光学ポートを第3の光学
ポートに接続する第2の状態とで動作可能であり、前記
第2の光学ポートを介して前記第1のスプリッタに接続
されている光スイッチ手段と、前記第3の光学ポートに
光学的に結合され、かつ第2の複数のスプリッタ界面に
光学的に結合されており、前記パルス発生手段からの光
信号を前記第2の複数のスプリッタ界面の間で分割し、
前記第2の複数のスプリッタ界面内の各スプリッタ界面
からの信号を前記第3の光学ポートに送る第2のスプリ
ッタと、第2の複数の光ファイバ・ジャンパであって、
該第2の複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパ
が、前記第2の複数のスプリッタ界面内の1つのスプリ
ッタ界面を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第2の
端部における前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記
複数の平行光路内の1つの平行光路と接続する光路の一
部を形成しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内
の前記光ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させら
れて、前記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・
ケーブル内の前記平行光路の界面から前記第2の光学ポ
ートを通って戻る時点で測定可能に変動する差をもたら
す第2の複数の光ファイバ・ジャンパとをさらに備えて
いることを特徴とする、上記(3)に記載の装置。 (6)前記第1の複数の光ファイバ・ジャンパ内の光フ
ァイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ごとに変
動し、したがって前記テスト信号の反射が前記第1の状
態の前記スイッチ手段によって共通した増分的時間ごと
に個別に分離されたパルス列として戻され、前記第2の
複数の光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパ
の長さが前記の共通した増分的距離ごとに変動し、した
がって前記テスト信号の反射が前記第2の状態の前記ス
イッチ手段によって共通した増分的時間ごとに個別に分
離されたパルス列として戻されることを特徴とする、上
記(5)に記載の装置。 (7)第1の信号に応答して作動し、前記第1の複数の
光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパと前記
マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第1の端部との間の
光学的接続を接続切断する第1の接続手段と、第2の信
号に応答して作動し、前記第2の複数の光ファイバ・ジ
ャンパ内の光ファイバ・ジャンパと前記マルチ光ファイ
バ・ケーブルの前記第2の端部との間の光学的接続を接
続切断する第2の接続手段とをさらに備えていることを
特徴とする、上記(5)に記載の装置。 (8)前記光スイッチ手段、前記第1の接続手段、およ
び前記第2の接続手段を所定の順序にしたがって作動さ
せて、いくつかのテスト操作を実行するコントローラを
さらに備えていることを特徴とする、上記(7)に記載
の装置。 (9)前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の
光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ・
ケーブルの前記第1の端部において、前記第1の複数の
光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパを
通って延びている複数の光路と接続する第1のアレイ・
コネクタと、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記
複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファ
イバ・ケーブルの前記第2の端部において、前記第2の
複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャ
ンパを通って延びている複数の光路と接続する第2のア
レイ・コネクタとをさらに備えていることを特徴とす
る、上記(8)に記載の装置。 (10)前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数
の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ
・ケーブルの前記第1の端部において、前記第1の複数
の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパ
を通って延びている複数の光路と接続する第1のアレイ
・コネクタと、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光フ
ァイバ・ケーブルの前記第2の端部において、前記第2
の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジ
ャンパを通って延びている複数の光路と接続する複数の
離散形コネクタとをさらに備えていることを特徴とす
る、上記(8)に記載の装置。 (11)前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数
の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ
・ケーブルの前記第1の端部において、前記第1の複数
の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパ
を通って延びている複数の光路と接続する第1の複数の
離散形コネクタと、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中
の前記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ
光ファイバ・ケーブルの前記第2の端部において、前記
第2の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ
・ジャンパを通って延びている複数の光路と接続する第
2の複数の離散形コネクタとをさらに備えていることを
特徴とする、上記(8)に記載の装置。 (12)前記装置が前記マルチ光ファイバ・ケーブル中
の前記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに、前記
マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第1の端部におい
て、接続するAPCコネクタを遠方端部に、また前記複
数の光ファイバ・ジャンパ内の1つの光ファイバ・ジャ
ンパを通って延びている光路に接続するPCコネクタを
近接端部に有している基準ジャンパ・ケーブルをさらに
備えており、前記第1の接続手段がその前記近接端部に
おいて前記基準端部を接続および切断することを特徴と
する、上記(8)に記載の装置。 (13)マルチ光ファイバ・ケーブルの手前端部から均
等な距離の位置においてマルチ光ファイバ・ケーブル中
の複数の光ファイバに沿って個々に配置された界面の特
性を決定する方法において、 a)各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに光学的に接
続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第1
のポートから光パルスを送るステップと、 b)各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の1つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
光パルスの前記第1のポートにおける反射を受け取るス
テップと、 c)各前記反射を受け取ったときに各前記反射の強さに
対応する値を格納するステップとを備えている方法。 (14)前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増
分的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共通した
増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻さ
れることを特徴とする、上記(13)に記載の方法。 (15)複数の平行光路内の、複数の光路の手前の端部
から第1の距離にある前記複数の光路内の1つの光路に
各々が配置された第1の複数の界面と、複数の光路の手
前の端部から第2の距離にある前記複数の光路内の1つ
の光路に各々が配置された第2の複数の界面との内部の
界面の特性を決定する方法において、 a)各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに光学的に接
続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第1
のポートから第1の光パルスを送るステップと、 b)各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の1つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
光パルスの前記第1のポートにおける反射を受け取るス
テップと、 c)前記第1の複数の界面中の各前記界面からの各前記
反射の値を格納するステップと、 d)前記複数の光ファイバ・ジャンパを通して前記第1
のポートから第2の光パルスを送るステップと、 e)各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の1つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わる、前記第2の複
数の界面中の各前記界面から前記第2の光パルスの前記
第1のポートにおける反射を受け取るステップと、 f)前記第2の複数の界面中の各前記界面からの各前記
反射の値を格納するステップとを備えている方法。 (16)前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増
分的距離ごとに変動し、したがって前記第1および第2
の複数の界面中の界面からの前記反射が共通した増分的
時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻されるこ
とを特徴とする、上記(13)に記載の方法。
【図1】本発明にしたがって構築されたマルチ光ファイ
バ・ケーブル・テスト装置の略図である。
バ・ケーブル・テスト装置の略図である。
【図2】離散形コネクタ・テスト・ステーションと隣接
アレイ・コネクタ・テスト・ステーションを示す、図1
のテスト装置の部分平面図である。
アレイ・コネクタ・テスト・ステーションを示す、図1
のテスト装置の部分平面図である。
【図3】図2の断面線III−IIIによって示す通り
に取った、図2の離散形コネクタ・テスト・ステーショ
ンの垂直断面図である。
に取った、図2の離散形コネクタ・テスト・ステーショ
ンの垂直断面図である。
【図4】較正プロセス中の図1の装置内のOTDRユニ
ットにおける信号の図である。
ットにおける信号の図である。
【図5】マルチ光ファイバのテスト中図1のOTDRユ
ニットにおける信号の図である。
ニットにおける信号の図である。
【図6】各端部におけるAPCコネクタによってマルチ
光ファイバ・ケーブルをテストするように構成された図
1のテスト装置の部分略図である。
光ファイバ・ケーブルをテストするように構成された図
1のテスト装置の部分略図である。
【図7】一端におけるAPCコネクタおよび他端におけ
るPCコネクタによってマルチ光ファイバ・ケーブルを
テストするように構成された図1のテスト装置の部分略
図である。
るPCコネクタによってマルチ光ファイバ・ケーブルを
テストするように構成された図1のテスト装置の部分略
図である。
10 離散形コネクタ・テスト・ステーション 12 アレイ・コネクタ・テスト・ステーション 14 第1のケーブル 16 アレイ・コネクタ 18 第2のケーブル 20 離散形コネクタ 22 OTDRユニット 22a 単一の光ファイバ 23 光スイッチ 24 コンピューティング・システム 26 表示装置 28 キーボード 32 フロッピー・ディスク 34 DIDOユニット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 キャシマー・エム・デカサティス アメリカ合衆国12601 ニューヨーク州ポ ーキープシー バート・ドライブ 35
Claims (16)
- 【請求項1】マルチ光ファイバ・ケーブルの手前端部か
ら等距離の位置に前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の
複数の光ファイバに沿って個々に配置された複数の界面
からの単一の光テスト・パルスの反射を弁別する装置に
おいて、 前記装置は各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の
前記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに光学的に
接続されている複数の光ファイバ・ジャンパを備えてお
り、 前記の単一の光テスト・パルスが前記複数の光ファイバ
・ジャンパ内の各光ファイバ・ジャンパに沿って、前記
マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の光ファイバ
内の1本の光ファイバに送られ、 前記複数の界面のうちの1つの界面からの反射が各前記
光ファイバ・ジャンパから戻され、 前記光ファイバ・ジャンパがさまざまな長さのものであ
り、各前記反射が各前記光ファイバ・ジャンパに沿って
戻る時点で測定可能に変動する差をもたらす装置。 - 【請求項2】前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通し
た増分的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共通
した増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として
戻されることを特徴とする、請求項1に記載の装置。 - 【請求項3】マルチ光ファイバ・ケーブル内の複数の平
行な光路を形成する光ファイバの界面の特性を決定する
装置において、 第1の光学ポートを透過する光のテスト信号を生成する
パルス発生手段と、 前記第1の光学ポートに光学的に結合され、かつ第1の
複数のスプリッタ界面に光学的に結合されており、前記
パルス発生手段からの光信号を前記第1の複数のスプリ
ッタ界面の間で分割し、前記第1の複数のスプリッタ界
面内の各スプリッタ界面からの信号を前記第1の光学ポ
ートに送る第1のスプリッタと、 前記第1のスプリッタから前記第1の光学ポートへ伝送
された信号を表すデータを記録する記録手段と、 第1の複数の光ファイバ・ジャンパであって、該第1の
複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパが、前記第
1の複数のスプリッタ界面内の1つのスプリッタ界面
を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第1の端部にお
ける前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の平
行光路内の1つの平行光路と接続する光路の一部を形成
しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内の前記光
ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させられて、前
記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・ケーブル
内の前記平行光路の界面から前記第1の光学ポートを通
って戻る時点で測定可能に変動する差をもたらす第1の
複数の光ファイバ・ジャンパとを備えている装置。 - 【請求項4】前記第1の複数の光ファイバ・ジャンパ内
の光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ご
とに変動し、したがって前記テスト信号の反射が共通し
た増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻
されることを特徴とする、請求項3に記載の装置。 - 【請求項5】前記第1の光学ポートを第2の光学ポート
に接続する第1の状態と、前記第1の光学ポートを第3
の光学ポートに接続する第2の状態とで動作可能であ
り、前記第2の光学ポートを介して前記第1のスプリッ
タに接続されている光スイッチ手段と、 前記第3の光学ポートに光学的に結合され、かつ第2の
複数のスプリッタ界面に光学的に結合されており、前記
パルス発生手段からの光信号を前記第2の複数のスプリ
ッタ界面の間で分割し、前記第2の複数のスプリッタ界
面内の各スプリッタ界面からの信号を前記第3の光学ポ
ートに送る第2のスプリッタと、 第2の複数の光ファイバ・ジャンパであって、該第2の
複数の光ファイバ・ジャンパ内の各ジャンパが、前記第
2の複数のスプリッタ界面内の1つのスプリッタ界面
を、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの第2の端部にお
ける前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の平
行光路内の1つの平行光路と接続する光路の一部を形成
しており、前記複数の光ファイバ・ジャンパ内の前記光
ファイバ・ジャンパの長さが個々に変化させられて、前
記テスト信号の反射が前記マルチ光ファイバ・ケーブル
内の前記平行光路の界面から前記第2の光学ポートを通
って戻る時点で測定可能に変動する差をもたらす第2の
複数の光ファイバ・ジャンパとをさらに備えていること
を特徴とする、請求項3に記載の装置。 - 【請求項6】前記第1の複数の光ファイバ・ジャンパ内
の光ファイバ・ジャンパの長さが共通した増分的距離ご
とに変動し、したがって前記テスト信号の反射が前記第
1の状態の前記スイッチ手段によって共通した増分的時
間ごとに個別に分離されたパルス列として戻され、 前記第2の複数の光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ
・ジャンパの長さが前記の共通した増分的距離ごとに変
動し、したがって前記テスト信号の反射が前記第2の状
態の前記スイッチ手段によって共通した増分的時間ごと
に個別に分離されたパルス列として戻されることを特徴
とする、請求項5に記載の装置。 - 【請求項7】第1の信号に応答して作動し、前記第1の
複数の光ファイバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパ
と前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第1の端部と
の間の光学的接続を接続切断する第1の接続手段と、 第2の信号に応答して作動し、前記第2の複数の光ファ
イバ・ジャンパ内の光ファイバ・ジャンパと前記マルチ
光ファイバ・ケーブルの前記第2の端部との間の光学的
接続を接続切断する第2の接続手段とをさらに備えてい
ることを特徴とする、請求項5に記載の装置。 - 【請求項8】前記光スイッチ手段、前記第1の接続手
段、および前記第2の接続手段を所定の順序にしたがっ
て作動させて、いくつかのテスト操作を実行するコント
ローラをさらに備えていることを特徴とする、請求項7
に記載の装置。 - 【請求項9】前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記
複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファ
イバ・ケーブルの前記第1の端部において、前記第1の
複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャ
ンパを通って延びている複数の光路と接続する第1のア
レイ・コネクタと、 前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の光ファ
イバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ・ケーブ
ルの前記第2の端部において、前記第2の複数の光ファ
イバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパを通って
延びている複数の光路と接続する第2のアレイ・コネク
タとをさらに備えていることを特徴とする、請求項8に
記載の装置。 - 【請求項10】前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光フ
ァイバ・ケーブルの前記第1の端部において、前記第1
の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジ
ャンパを通って延びている複数の光路と接続する第1の
アレイ・コネクタと、 前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の光ファ
イバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ・ケーブ
ルの前記第2の端部において、前記第2の複数の光ファ
イバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパを通って
延びている複数の光路と接続する複数の離散形コネクタ
とをさらに備えていることを特徴とする、請求項8に記
載の装置。 - 【請求項11】前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の光ファイバを、前記マルチ光フ
ァイバ・ケーブルの前記第1の端部において、前記第1
の複数の光ファイバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジ
ャンパを通って延びている複数の光路と接続する第1の
複数の離散形コネクタと、 前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前記複数の光ファ
イバ内の光ファイバを、前記マルチ光ファイバ・ケーブ
ルの前記第2の端部において、前記第2の複数の光ファ
イバ・ジャンパ中の前記光ファイバ・ジャンパを通って
延びている複数の光路と接続する第2の複数の離散形コ
ネクタとをさらに備えていることを特徴とする、請求項
8に記載の装置。 - 【請求項12】前記装置が前記マルチ光ファイバ・ケー
ブル中の前記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバ
に、前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記第1の端部
において、接続するAPCコネクタを遠方端部に、また
前記複数の光ファイバ・ジャンパ内の1つの光ファイバ
・ジャンパを通って延びている光路に接続するPCコネ
クタを近接端部に有している基準ジャンパ・ケーブルを
さらに備えており、 前記第1の接続手段がその前記近接端部において前記基
準端部を接続および切断することを特徴とする、請求項
8に記載の装置。 - 【請求項13】マルチ光ファイバ・ケーブルの手前端部
から均等な距離の位置においてマルチ光ファイバ・ケー
ブル中の複数の光ファイバに沿って個々に配置された界
面の特性を決定する方法において、 a)各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに光学的に接
続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第1
のポートから光パルスを送るステップと、 b)各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の1つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
光パルスの前記第1のポートにおける反射を受け取るス
テップと、 c)各前記反射を受け取ったときに各前記反射の強さに
対応する値を格納するステップとを備えている方法。 - 【請求項14】前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通
した増分的距離ごとに変動し、したがって前記反射が共
通した増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列とし
て戻されることを特徴とする、請求項13に記載の方
法。 - 【請求項15】複数の平行光路内の、複数の光路の手前
の端部から第1の距離にある前記複数の光路内の1つの
光路に各々が配置された第1の複数の界面と、複数の光
路の手前の端部から第2の距離にある前記複数の光路内
の1つの光路に各々が配置された第2の複数の界面との
内部の界面の特性を決定する方法において、 a)各々が前記マルチ光ファイバ・ケーブルの前記手前
端部において、前記マルチ光ファイバ・ケーブル中の前
記複数の光ファイバ内の1本の光ファイバに光学的に接
続されている複数の光ファイバ・ジャンパを通して第1
のポートから第1の光パルスを送るステップと、 b)各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の1つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わり、前記複数の光
ファイバ・ジャンパ内の前記光ファイバ・ジャンパがさ
まざまな長さであり、前記各反射を受け取った時点で測
定可能に変動する差をもたらす、各前記界面からの前記
光パルスの前記第1のポートにおける反射を受け取るス
テップと、 c)前記第1の複数の界面中の各前記界面からの各前記
反射の値を格納するステップと、 d)前記複数の光ファイバ・ジャンパを通して前記第1
のポートから第2の光パルスを送るステップと、 e)各反射が前記複数の光ファイバ・ジャンパ中の1つ
の光ファイバ・ジャンパを通して伝わる、前記第2の複
数の界面中の各前記界面から前記第2の光パルスの前記
第1のポートにおける反射を受け取るステップと、 f)前記第2の複数の界面中の各前記界面からの各前記
反射の値を格納するステップとを備えている方法。 - 【請求項16】前記光ファイバ・ジャンパの長さが共通
した増分的距離ごとに変動し、したがって前記第1およ
び第2の複数の界面中の界面からの前記反射が共通した
増分的時間ごとに個別に分離されたパルス列として戻さ
れることを特徴とする、請求項13に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/772,055 US5767957A (en) | 1996-12-04 | 1996-12-04 | Testing an optical cable having multiple fibers by the application of a light pulse to all fibers through optical jumpers of incrementally varying lengths |
US08/772055 | 1996-12-04 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10185761A true JPH10185761A (ja) | 1998-07-14 |
Family
ID=25093771
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9313662A Pending JPH10185761A (ja) | 1996-12-04 | 1997-11-14 | マルチ光ファイバ・ケーブルのテスト装置および方法 |
Country Status (4)
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---|---|
US (1) | US5767957A (ja) |
EP (1) | EP0846943A3 (ja) |
JP (1) | JPH10185761A (ja) |
KR (1) | KR100296475B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100308923B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2001-09-26 | 서평원 | 광섬유의 분산특성 시험장치 |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5915055A (en) * | 1997-06-30 | 1999-06-22 | Siecor Corporation | Method and apparatus for connectorizing fiber optic cable |
WO2001061317A1 (en) * | 2000-02-17 | 2001-08-23 | Ots Llc | Apparatus for optical cable testing |
US6766115B1 (en) | 2000-08-22 | 2004-07-20 | Agilent Technologies, Inc. | Multiport optical component testing using a single optical receiver |
JP4115387B2 (ja) * | 2001-07-05 | 2008-07-09 | 古河電気工業株式会社 | 光モジュールの検査方法と検査装置 |
KR20030035197A (ko) * | 2001-10-30 | 2003-05-09 | 엘지전선 주식회사 | 기가비트 이더넷 시스템에서 다중모드 광섬유의 전송거리측정방법 |
US6798946B2 (en) | 2001-12-14 | 2004-09-28 | Molex Incorporated | Method to deskew parallel optical links |
US6621563B2 (en) | 2002-01-18 | 2003-09-16 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for in-situ vibration testing of fiber optic cables and connectors |
EP1740920A1 (en) * | 2004-04-16 | 2007-01-10 | Agilent Technologies, Inc. | Visual inspection of optical elements |
US8711341B2 (en) * | 2005-07-14 | 2014-04-29 | Afl Telecommunications Llc | Using sets of OTDR receive fibers with different lengths of marker events to verify optical fiber connectivity |
US7388657B2 (en) * | 2005-08-22 | 2008-06-17 | Tyco Telecommunications (Us) Inc. | System and method for monitoring an optical communication system |
KR100796313B1 (ko) * | 2006-04-21 | 2008-01-21 | 재단법인서울대학교산학협력재단 | 광선로 계측기 및 광선로 계측 방법 |
US20080291432A1 (en) * | 2007-04-26 | 2008-11-27 | Christopher Horvath | System and method for monitoring the coupling efficiency of a fiber-optic surgical system |
KR20110011644A (ko) * | 2008-05-29 | 2011-02-08 | 팬듀트 코포레이션 | 광섬유 케이블 커넥터내의 광섬유 인터페이스의 단말처리 품질을 확인하기 위한 방법 및 장치 |
CN101556207B (zh) * | 2009-04-30 | 2011-09-14 | 浙江大学 | 光波导器件批量自动测试的装置 |
US8593621B2 (en) * | 2010-04-30 | 2013-11-26 | International Business Machines Corporation | Testing an optical fiber connection |
DE102010049780A1 (de) * | 2010-10-29 | 2012-05-03 | Lios Technology Gmbh | Verfahren zur Erfassung eines Schaltzustands eines optischen Faserschaltermittels einer faseroptischen Messvorrichtung und faseroptische Messvorrichtung |
US8692984B2 (en) * | 2012-01-31 | 2014-04-08 | Fluke Corporation | Field tester for topologies utilizing array connectors and multi-wavelength field tester for topologies utilizing array connectors |
CN104395737A (zh) * | 2012-05-29 | 2015-03-04 | Afl电信公司 | 用于识别多芯光缆中的光纤顺序的***和方法 |
EP2912786A4 (en) | 2012-10-29 | 2016-07-27 | Adc Telecommunications Inc | SYSTEM FOR TESTING PASSIVE OPTICAL CABLES |
US9513189B2 (en) * | 2012-11-08 | 2016-12-06 | Ofs Fitel, Llc | Device and method to measure the DMD and other parameters of a multicore optical fiber |
CN106079909A (zh) * | 2016-07-06 | 2016-11-09 | 无锡宏纳科技有限公司 | 可同时标记多根光纤的光纤内线缆打标机 |
KR102624704B1 (ko) * | 2016-11-23 | 2024-01-12 | 진한 린 | 멀티-모드 파이버를 시뮬레이션하는 방법 |
KR101944072B1 (ko) * | 2017-02-27 | 2019-01-30 | (주)지씨아이 | Led 집광모듈을 이용한 유휴 광코아 감시 장치 |
KR102230292B1 (ko) * | 2017-04-07 | 2021-03-19 | 재단법인대구경북과학기술원 | 광신호 복구 시스템 |
KR102002725B1 (ko) | 2018-05-08 | 2019-10-01 | 에스팩 주식회사 | 중심국 터미널를 중심으로 루프 네트워크로 형성된 수동광가입자망 네트워크의 리모트노드 인식 구조 |
CN110113225A (zh) * | 2019-03-29 | 2019-08-09 | 武汉市纵享联合科技有限公司 | 一种网络测试实训仪 |
US10996138B2 (en) * | 2019-08-30 | 2021-05-04 | Viavi Solutions Inc. | Parallel optics based optical time domain reflectometer acquisition |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4309105A (en) * | 1980-03-03 | 1982-01-05 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method and apparatus for testing performance of fiber optic cable components and assemblies |
FR2597986B1 (fr) * | 1986-04-28 | 1990-09-21 | Foucault Marc | Dispositif a coupleur optique, pour calibrer ou etalonner un reflectometre, systeme d'echometrie et procedes de caracterisation d'un coupleur et de mesure d'attenuations utilisant ce dispositif |
GB8828408D0 (en) * | 1988-12-06 | 1989-01-05 | British Telecomm | Loss detector |
US5093568A (en) * | 1990-12-14 | 1992-03-03 | John Maycock | Monitoring system for fiber optic cables utilizing an OTDR for detection of signal loss and automatic location of faults in the cable |
US5179420A (en) * | 1991-06-07 | 1993-01-12 | Bell Canada | Optical time domain reflectometer using a tunable optical source |
JP3107315B2 (ja) * | 1991-06-14 | 2000-11-06 | 株式会社日立製作所 | 光導波路の製造方法 |
JP3211453B2 (ja) * | 1993-01-29 | 2001-09-25 | 安藤電気株式会社 | 光分岐を含む光線路の減衰量測定方法 |
US5461693A (en) * | 1994-07-14 | 1995-10-24 | At&T Ipm Corp. | Optical fiber distribution frame with fiber testing |
US5530546A (en) * | 1995-06-26 | 1996-06-25 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for testing fiber optic jumpers |
FR2751746B1 (fr) * | 1996-07-24 | 1998-10-23 | Boitel Michel | Procede et dispositif de mesure par reflectometrie pour connexion de fibre optique |
-
1996
- 1996-12-04 US US08/772,055 patent/US5767957A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-08-21 KR KR1019970039985A patent/KR100296475B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1997-11-14 JP JP9313662A patent/JPH10185761A/ja active Pending
- 1997-12-03 EP EP97309742A patent/EP0846943A3/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100308923B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2001-09-26 | 서평원 | 광섬유의 분산특성 시험장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0846943A2 (en) | 1998-06-10 |
KR19980063415A (ko) | 1998-10-07 |
EP0846943A3 (en) | 1999-04-21 |
KR100296475B1 (ko) | 2001-10-26 |
US5767957A (en) | 1998-06-16 |
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