JPH10181095A - Laser scanning recording apparatus - Google Patents
Laser scanning recording apparatusInfo
- Publication number
- JPH10181095A JPH10181095A JP9307022A JP30702297A JPH10181095A JP H10181095 A JPH10181095 A JP H10181095A JP 9307022 A JP9307022 A JP 9307022A JP 30702297 A JP30702297 A JP 30702297A JP H10181095 A JPH10181095 A JP H10181095A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- scanning
- light
- output
- reference voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はレーザプリンタ等に
用いられ、レーザ光を回転する多面反射鏡（ポリゴンミ
ラー）により感光体の感光面に走査して情報の記録を行
うためのレーザ走査記録装置に関し、特に感光面に照射
されるレーザ光の光強度を調整するための装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is used in a laser printer or the like, and scans a photosensitive surface of a photosensitive member with a rotating polygonal mirror to record information by scanning a laser beam. More particularly, the present invention relates to an apparatus for adjusting the light intensity of a laser beam applied to a photosensitive surface.
【０００２】[0002]
【従来の技術】この種のレーザ走査記録装置では、レー
ザ光源から出射されたレーザ光を回転駆動されるポリゴ
ンミラーの反射鏡に投射し、ポリゴンミラーの回転に伴
って反射鏡でのレーザ光の反射方向を変化させて感光体
の感光面に対してレーザ光を走査し、ライン状に描画を
進行する構成が取られている。この場合、感光面におい
て均一な画像濃度を得るためには、レーザ光源から出射
されるレーザ光の光強度（以下、レーザ光源で出射され
るレーザ光強度をレーザパワーと称する）を所定のパワ
ーに制御することが必要であり、そのためにレーザ光源
から出射されたレーザ光強度を検出し、この検出値に基
づいてレーザパワーを制御するという、いわゆるＡＰＣ
（自動出力コントロール）制御が行われる。図５はその
概念構成を示す図てあり、レーザ光源１のレーザダイオ
ードＬＤで発光されるレーザ光を光強度をモニタ用フォ
トダイオードＰＤで検出し、その検出電流ＩｍをＩ／Ｖ
（電流／電圧）変換器１１で電圧Ｖｍに変換した上で、
比較器１３において基準電圧Ｖｒｅｆと比較する。そし
て、この比較により得られる電圧差である比較電圧Ｖｏ
をサンプルホールド回路１４でホールドした上で、その
ホールド電圧をＶ／Ｉ（電圧／電流）変換機能を有する
レーザ駆動回路１５に入力し、かつこのレーザ駆動回路
１５においてレーザダイオードＬＤの駆動電流を制御し
てレーザパワーを所定値に制御するというものである。2. Description of the Related Art In a laser scanning recording apparatus of this type, a laser beam emitted from a laser light source is projected on a reflecting mirror of a polygon mirror driven by rotation, and the laser beam is reflected by the reflecting mirror as the polygon mirror rotates. A configuration is adopted in which laser light is scanned on the photosensitive surface of the photosensitive member while changing the reflection direction, and drawing is progressed in a line shape. In this case, in order to obtain a uniform image density on the photosensitive surface, the light intensity of the laser light emitted from the laser light source (hereinafter, the laser light intensity emitted from the laser light source is referred to as laser power) is set to a predetermined power. It is necessary to control the intensity of the laser beam emitted from the laser light source and control the laser power based on the detected value.
(Automatic output control) control is performed. FIG. 5 is a diagram showing the conceptual configuration, in which the laser light emitted from the laser diode LD of the laser light source 1 is detected by the monitoring photodiode PD for the light intensity, and the detected current Im is I / V.
After being converted to a voltage Vm by a (current / voltage) converter 11,
The comparator 13 compares the voltage with the reference voltage Vref. Then, a comparison voltage Vo, which is a voltage difference obtained by this comparison.
Is held by a sample-and-hold circuit 14, the hold voltage is input to a laser drive circuit 15 having a V / I (voltage / current) conversion function, and the laser drive circuit 15 controls the drive current of the laser diode LD. Then, the laser power is controlled to a predetermined value.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、レーザ
パワーを所定パワーに制御した場合でも、レーザ光源か
ら感光面までの光路における種々の要因によってレーザ
光強度にばらつきが生じると、前記した均一な画像濃度
を得ることが難しいものとなる。その要因の１つにポリ
ゴンミラー４を構成する複数の反射鏡の各々の反射率の
ばらつきがある。すなわち、各反射鏡の反射率が相違し
ていると、各反射鏡で反射されるレーザ光強度にもばら
つきが生じることになり、各反射鏡で反射されたレーザ
光による走査ラインの濃度に濃淡差が生じることにな
る。これらの反射鏡はそれぞれ等しい反射率として形成
されてはいるが、高速で回転される際に空気中の塵等に
衝突されて表面に微細な傷が発生する等の理由によって
その反射率が経時的に変化され、これに伴い各反射鏡の
反射率に３〜４％程度のばらつきが生じることになる。
この反射率のばらつきは、レーザ光のオン，オフにより
画像を形成する２値画像では問題は少ないが、中間調が
要求されるカラープリンタ等では２５６階調以上の濃淡
を制御する必要があり、そのためには１％以下のばらつ
きに抑える必要がある。However, even when the laser power is controlled to a predetermined power, if the laser light intensity fluctuates due to various factors in the optical path from the laser light source to the photosensitive surface, the uniform image density described above will not be obtained. Is difficult to obtain. One of the factors is a variation in the reflectance of each of the plurality of reflecting mirrors constituting the polygon mirror 4. That is, if the reflectivity of each reflector is different, the intensity of the laser beam reflected by each reflector will also vary, and the density of the scanning line by the laser beam reflected by each reflector will vary. There will be differences. Although these reflectors are formed to have the same reflectance, the reflectance of the mirror over time is increased due to collisions with dust in the air when the rotor is rotated at a high speed and fine scratches are generated on the surface. This causes a variation of about 3 to 4% in the reflectance of each reflecting mirror.
This variation in reflectance has little problem in a binary image in which an image is formed by turning on and off a laser beam, but in a color printer or the like that requires a halftone, it is necessary to control the density of 256 tones or more. For that purpose, it is necessary to suppress the variation to 1% or less.
【０００４】なお、このようなポリゴンミラーの各鏡面
での反射率のばらつきを解消するためには、ＡＰＣ制御
でのレーザ光強度の検出を、ポリゴンミラーよりも下流
側の位置、好ましくは感光面の近傍で行えばよい。この
ようにすれば、ポリゴンミラーで実際に反射されたレー
ザ光の光強度を検出し、これに基づいてレーザパワーを
制御することで感光面におけるレーザ光強度を均一化す
ることが可能となる。例えば、特開昭５３−３７０２９
号公報には、レーザ光が感光ドラムの感光面に走査され
る直前の位置でレーザ光強度を検出し、その検出値に基
づいてレーザパワーを制御するビーム記録装置が提案さ
れている。すなわち、この技術では感光ドラムの近傍に
配置されたセンサでのレーザ光の光強度出力をピークホ
ールドしてＡＰＣ制御回路にフィードバックさせ、ＡＰ
Ｃ制御回路ではこのホールドされたセンサ出力によりレ
ーザ光の変調器や、レーザ光源としての半導体レーザ発
生器を制御するものである。[0004] In order to eliminate such a variation in the reflectivity of each mirror surface of the polygon mirror, the detection of the laser beam intensity under the APC control is performed at a position downstream of the polygon mirror, preferably at the photosensitive surface. May be performed in the vicinity of. With this configuration, it is possible to detect the light intensity of the laser light actually reflected by the polygon mirror and control the laser power based on the detected light intensity, thereby making the laser light intensity on the photosensitive surface uniform. For example, JP-A-53-37029
Japanese Patent Application Laid-Open Publication No. H11-163873 proposes a beam recording apparatus that detects laser beam intensity at a position immediately before a laser beam scans a photosensitive surface of a photosensitive drum, and controls laser power based on the detected value. That is, in this technique, the light intensity output of the laser beam from the sensor disposed near the photosensitive drum is peak-held and fed back to the APC control circuit, and the AP
The C control circuit controls the modulator of laser light and the semiconductor laser generator as a laser light source based on the held sensor output.
【０００５】しかしながら、この公報に記載されている
技術では、レーザパワーは専ら感光ドラムの直前位置に
配置された光センサで検出されたレーザ光強度に基づい
てレーザパワーの制御を行っているため、例えば初期状
態のような光センサにレーザ光が投射される前、あるい
はレーザ走査が上下にずれる等してレーザ光が光センサ
に投射されない状態になったときには、光センサの出力
は零に近いため、ＡＰＣ制御回路はレーザパワーを最大
方向に制御することになる。このため、特に後者の場合
にはレーザ光源や光変調器はレーザパワーの最大出力状
態で動作されることになり、レーザ光源が継続して最大
出力動作で駆動されたときには半導体レーザ発生器は過
出力破壊されるおそれがある。また、前者の場合にはレ
ーザパワーの最大出力状態から所定のレーザパワーにま
で低下されるというレーザパワーの変動が繰り返し行わ
れることになり、半導体レーザ発生器の寿命が短縮され
る。However, according to the technique described in this publication, the laser power is controlled solely based on the laser light intensity detected by an optical sensor disposed immediately before the photosensitive drum. For example, before the laser light is projected onto the optical sensor as in the initial state, or when the laser scanning is shifted up and down and the laser light is not projected onto the optical sensor, the output of the optical sensor is close to zero. , The APC control circuit controls the laser power in the maximum direction. For this reason, especially in the latter case, the laser light source and the optical modulator are operated at the maximum output power of the laser power, and when the laser light source is continuously driven at the maximum output operation, the semiconductor laser generator is overdriven. The output may be destroyed. In the former case, the laser power changes such that the laser power is reduced from the maximum output state to a predetermined laser power, which is repeated, and the life of the semiconductor laser generator is shortened.
【０００６】本発明の目的は、このような反射鏡の反射
率のばらつきに伴う描画濃度のばらつきを防止するとと
もに、レーザ光源における過出力やレーザパワー変動を
防止し、安定でかつ信頼性の高いレーザ走査記録装置を
提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to prevent a variation in drawing density due to a variation in the reflectance of a reflecting mirror, and to prevent an over-output and a variation in laser power in a laser light source, thereby providing a stable and highly reliable laser light source. It is to provide a laser scanning recording device.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明のレーザ走査記録
装置は、レーザ光源で発光されたレーザ光を回転駆動さ
れる多面反射鏡で反射して感光体に走査させるレーザ走
査記録装置において、多面反射鏡の個々の反射鏡の反射
率を測定してこれに対応した基準電圧を生成する手段
と、反射率が測定された反射鏡においてレーザ光が走査
される際に、生成された基準電圧に基づいてレーザ光源
の発光出力を制御する発光出力制御手段とを備えること
を特徴とする。例えば、レーザダイオードと、このレー
ザダイオードで発光されたレーザ光を感光体に向けて走
査させるための複数の反射鏡を有する回転駆動されるポ
リゴンミラーと、前記反射鏡に対して反射率測定用の測
定光を投射する発光器と、前記反射鏡で反射された測定
光を検出する受光器と、この受光器で受光した測定光か
ら前記反射鏡の反射率に対応した基準電圧を生成する手
段と、前記反射鏡においてレーザ光の走査が行われる際
に前記生成された基準電圧に基づいて前記レーザダイオ
ードの発光出力を制御するレーザ出力制御回路とを備え
る構成とされる。SUMMARY OF THE INVENTION A laser scanning recording apparatus according to the present invention is a laser scanning recording apparatus for scanning a photosensitive member by reflecting a laser beam emitted from a laser light source by a rotating polygon mirror to scan a photosensitive member. Means for measuring the reflectivity of each of the reflectors and generating a reference voltage corresponding to the reflectivity; and means for generating a reference voltage when the laser beam is scanned by the reflector whose reflectivity has been measured. A light emission output control means for controlling the light emission output of the laser light source based on the light emission output. For example, a laser diode, a rotationally driven polygon mirror having a plurality of reflecting mirrors for scanning a laser beam emitted by the laser diode toward a photoconductor, and a reflectance measuring device for the reflecting mirror. A light-emitting device that projects measurement light, a light-receiving device that detects the measurement light reflected by the reflector, and a unit that generates a reference voltage corresponding to the reflectance of the reflector from the measurement light received by the light-receiver. A laser output control circuit that controls the light emission output of the laser diode based on the generated reference voltage when the laser beam is scanned by the reflecting mirror.
【０００８】ここで、前記レーザ出力制御回路は、レー
ザダイオードで発光されたレーザ光の光強度を検出する
モニタ用フォトダイオードと、このモニタ用フォトダイ
オードの検出出力を基準電圧と比較し、その誤差電圧を
出力する誤差比較器と、この誤差電圧に対応してレーザ
ダイオードに供給する駆動電流を制御するレーザ駆動回
路とを備える構成とされる。また、前記基準電圧生成手
段は、受光器の検出出力を基準値と比較して所要の演算
を行う回路と、演算により得られた演算値を記憶する手
段と、記憶された演算値をポリゴンミラーの回転に同期
したタイミングで読み出してこれを基準電圧として出力
する手段とを備える構成とされる。そして、反射率が測
定される反射鏡は、レーザ光を走査する回転位置の反射
鏡に対して回転方向の１面以上前に位置される反射鏡で
あり、かつレーザ光の走査タイミングを出力する手段が
設けられ、基準電圧生成回路は、前記走査タイミング出
力に基づいて測定された反射鏡が走査位置に回転位置さ
れるタイミングで基準電圧をレーザ出力制御回路に出力
するように構成される。Here, the laser output control circuit compares the detection output of the monitoring photodiode with a reference voltage for detecting the light intensity of the laser light emitted from the laser diode, and compares the error with the reference voltage. The configuration includes an error comparator that outputs a voltage, and a laser drive circuit that controls a drive current supplied to the laser diode in accordance with the error voltage. The reference voltage generating means includes a circuit for comparing a detection output of the light receiver with a reference value and performing a required calculation; a means for storing a calculated value obtained by the calculation; and a polygon mirror for storing the stored calculated value. And a means for reading out at a timing synchronized with the rotation and outputting the same as a reference voltage. The reflecting mirror whose reflectance is measured is a reflecting mirror that is positioned at least one surface in the rotation direction with respect to the reflecting mirror at the rotational position for scanning the laser light, and outputs the scanning timing of the laser light. Means are provided, and the reference voltage generation circuit is configured to output a reference voltage to the laser output control circuit at a timing when the reflection mirror measured based on the scanning timing output is rotated to the scanning position.
【０００９】[0009]
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図１は本発明が適用されるレーザ走
査記録装置の全体構成を示す概念構成図である。レーザ
光源１のレーザ光出射光路上には、レーザ光を平行ビー
ムとするコリメートレンズ２と、レーザ光のビーム形状
を整形するシリンダレンズ３が配置され、これらによっ
てビーム整形されたレーザ光はポリゴンミラー４に投射
される。ポリゴンミラー４は、六角柱状に形成され、そ
の６つの側面にはそれぞれ反射鏡が設けられ、回転軸の
回りに図示の反時計方向に高速回転駆動される。このポ
リゴンミラー４で反射されたレーザ光は、ボリゴンミラ
ー４の回転に伴ってその反射方向が偏向されながらｆθ
レンズ５を透過され、さらに反射ミラー６で反射された
上で感光ドラム７の感光面に投射され、感光ドラム７の
軸方向、すなわち水平走査方向に走査される。前記ｆθ
レンズ５は反射された際のレーザ光の偏向角速度を感光
ドラム７上で等走査速度に修正するためのものである。
また、感光ドラム７は軸回りに回転され、この回転によ
り垂直走査方向の走査が行われる。さらに、前記感光ド
ラム７に対する描画領域の外側で、しかもレーザ光の走
査始端側の感光ドラムの近傍位置に反射ミラー８が配置
され、この反射ミラー８で反射されたレーザ光を検出し
て走査タイミング信号を得るための光センサ９が感光ド
ラム７の軸方向の反対側の位置に配置されている。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a conceptual configuration diagram showing an overall configuration of a laser scanning recording apparatus to which the present invention is applied. A collimator lens 2 for converting a laser beam into a parallel beam and a cylinder lens 3 for shaping the beam shape of the laser beam are arranged on a laser beam emission optical path of the laser light source 1. 4 is projected. The polygon mirror 4 is formed in the shape of a hexagonal prism, and its six side surfaces are provided with reflecting mirrors, respectively, and are driven to rotate around the rotation axis at high speed in a counterclockwise direction shown in the figure. The laser light reflected by the polygon mirror 4 is fθ while its reflection direction is deflected by the rotation of the polygon mirror 4.
After being transmitted through the lens 5 and further reflected by the reflection mirror 6, the light is projected on the photosensitive surface of the photosensitive drum 7 and scanned in the axial direction of the photosensitive drum 7, that is, in the horizontal scanning direction. Fθ
The lens 5 is for correcting the deflection angular velocity of the reflected laser beam on the photosensitive drum 7 to an equal scanning speed.
The photosensitive drum 7 is rotated about an axis, and scanning in the vertical scanning direction is performed by this rotation. Further, a reflection mirror 8 is disposed outside the drawing area with respect to the photosensitive drum 7 and at a position near the photosensitive drum on the scanning start side of the laser light, and detects the laser light reflected by the reflection mirror 8 to perform scanning timing. An optical sensor 9 for obtaining a signal is arranged at a position on the opposite side of the photosensitive drum 7 in the axial direction.
【００１０】一方、前記半導体レーザ１は、レーザダイ
オードＬＤと、モニタ用フォトダイオードＰＤとが一体
化された構成であり、例えば、図３に示すように、半導
体レーザパッケージ１００のベース１０１に３本の外部
リード１０２が設けられ、そのうちの一つの外部リード
１０２と一体に形成されたステム１０３に前記レーザダ
イオードＬＤが支持されている。また、前記レーザダイ
オードＬＤに対向する前記ベース１０１上にはモニタ用
フォトダイオードＰＤが固着されている。これらレーザ
ダイオードＬＤとフォトダイオードＰＤはそれぞれ他の
外部リード１０２に電気接続されている。そして、前記
ベース１０１には、その頂面の一部に光透過部材１０５
を有するカバー１０４が取着され、このカバー１０４に
より前記レーザダイオードＬＤとモニタ用フォトダイオ
ードＰＤが封止されている。このため、この半導体レー
ザ１では、前記光透過部材１０５に対向するように配置
されているレーザダイオードＬＤのレーザ光出射面から
出射されたレーザ光は前記光透過部材１０５を透過して
パッケージ１００外に出射される。一方、前記レーザダ
イオードＬＤは前記レーザ光出射面の反対側面からもレ
ーザ光の一部が出射されており、このレーザ光をモニタ
光として前記モニタ用フォトダイオードＰＤで受光する
ことで、レーザダイオードＬＤから出射されるレーザ光
の光強度をモニタすることが可能となる。On the other hand, the semiconductor laser 1 has a structure in which a laser diode LD and a monitoring photodiode PD are integrated. For example, as shown in FIG. Are provided, and the laser diode LD is supported by a stem 103 formed integrally with one of the external leads 102. Further, a monitoring photodiode PD is fixed on the base 101 facing the laser diode LD. The laser diode LD and the photodiode PD are electrically connected to other external leads 102, respectively. The base 101 has a light transmitting member 105 on a part of its top surface.
Is attached, and the laser diode LD and the monitoring photodiode PD are sealed by the cover 104. For this reason, in the semiconductor laser 1, the laser light emitted from the laser light emitting surface of the laser diode LD disposed so as to face the light transmitting member 105 passes through the light transmitting member 105 and is outside the package 100. Is emitted. On the other hand, the laser diode LD emits a part of the laser light also from the side opposite to the laser light emission surface, and the laser light is received by the monitor photodiode PD as monitor light, so that the laser diode LD It is possible to monitor the light intensity of the laser light emitted from.
【００１１】そして、前記レーザダイオードＬＤで発光
されるレーザ光の光強度をモニタ用フォトダイオードＰ
Ｄで検出し、この検出出力に基づいてレーザ出力制御回
路１０においてレーザダイオードＬＤの発光出力を制御
するように構成される。また、図１に示すように、前記
ポリゴンミラー４における前記レーザ光の走査が行われ
る反射鏡に対して反対側に位置される反射鏡に対向し
て、この反射鏡の反射率を測定し、かつこの反射率に基
づいて前記レーザ出力制御回路１０での基準電圧を生成
するための基準電圧生成回路２０が設けられる。この基
準電圧生成回路２０には、ポリゴンミラー４の１つの反
射鏡に対して光、ここでは測定用レーザ光を投射させる
測定用レーザダイオードＭＬＤと、反射鏡で反射された
測定用レーザ光を受光する測定用フォトダイオードＭＰ
Ｄとが設けられる。Then, the light intensity of the laser light emitted from the laser diode LD is measured by the monitoring photodiode P.
D, and the laser output control circuit 10 controls the light emission output of the laser diode LD based on the detected output. Further, as shown in FIG. 1, the reflectance of the polygon mirror 4 is measured while facing the reflection mirror located on the opposite side to the reflection mirror on which the laser light is scanned in the polygon mirror 4, Further, a reference voltage generation circuit 20 for generating a reference voltage in the laser output control circuit 10 based on the reflectance is provided. The reference voltage generation circuit 20 receives a laser beam MLD for projecting a light beam, here a measurement laser beam, to one of the reflecting mirrors of the polygon mirror 4 and a measuring laser beam reflected by the reflecting mirror. Measuring photodiode MP
D is provided.
【００１２】前記基準電圧生成回路２０は、測定用レー
ザダイオードＭＬＤに定電流を供給して測定用レーザダ
イオードＭＬＤを一定の光強度で発光させる定電流回路
２１と、測定用フォトダイオードＭＰＤで検出した測定
用レーザ光の光強度検出電流をＩ／Ｖ変換するＩ／Ｖ変
換器２２と、この変換された電圧をピークホールドする
ためのピークホールド回路２３と、このホールドされた
電圧を予め設定された定電圧と比較することで前記反射
鏡の反射率を演算する比較演算器２４とを備える。さら
に、この比較演算器２４で演算された反射鏡の反射率を
所定ビット数、ここでは８ビットのディジタルデータに
変換するＡ／Ｄ変換器２５と、変換されたディジタルデ
ータをラッチするラッチ回路２６と、このラッチされた
ディジタルデータを順序的に格納するＦＩＦＯメモリ２
７と、このＦＩＦＯメモリ２７から順序的に読み出され
たディジタルデータをアナログ信号に変換するＤ／Ａ変
換器２８とを備えており、このアナログ信号とされた電
圧が基準電圧Ｖｒｅｆとして前記レーザダイオード出力
制御回路１０に出力される。なお、前記光センサ９で検
出された走査タイミング信号ＴＳは、前記ピークホール
ド回路２３に入力されてピークホールドの動作タイミン
グ信号として利用される。ここで、前記測定用レーザダ
イオードＭＬＤと測定用フォトダイオードＭＰＤは、前
記ボリゴンミラー４の反射鏡の分光反射率特性を考慮
し、前記レーザダイオードＬＤと同じまたは近い波長の
ものを用いている。また、走査タイミング信号ＴＳはシ
フトレジスタ３０に入力され、予め設定されたシフト数
だけ遅延された状態で前記基準電圧生成回路２０のＤ／
Ａ変換器２８に入力され、このＤ／Ａ変換器２８におけ
る出力タイミング信号として利用される。The reference voltage generation circuit 20 supplies a constant current to the measurement laser diode MLD to cause the measurement laser diode MLD to emit light at a constant light intensity, and detects the measurement by the measurement photodiode MPD. An I / V converter 22 for performing I / V conversion of the light intensity detection current of the measurement laser light, a peak hold circuit 23 for peak holding the converted voltage, and setting the held voltage in advance. A comparison calculator for calculating the reflectance of the reflecting mirror by comparing with a constant voltage; Further, an A / D converter 25 for converting the reflectance of the reflecting mirror calculated by the comparison calculator 24 into a predetermined number of bits, here, 8-bit digital data, and a latch circuit 26 for latching the converted digital data. And a FIFO memory 2 for sequentially storing the latched digital data.
7 and a D / A converter 28 for converting digital data sequentially read from the FIFO memory 27 into an analog signal, and the voltage converted into the analog signal is used as the reference voltage Vref as the laser diode. It is output to the output control circuit 10. The scanning timing signal TS detected by the optical sensor 9 is input to the peak hold circuit 23 and used as a peak hold operation timing signal. Here, the measuring laser diode MLD and the measuring photodiode MPD have the same or similar wavelength as the laser diode LD in consideration of the spectral reflectance characteristics of the reflecting mirror of the borogon mirror 4. Further, the scanning timing signal TS is input to the shift register 30 and the D / D signal of the reference voltage generation circuit 20 is delayed with a predetermined number of shifts.
It is input to the A converter 28 and used as an output timing signal in the D / A converter 28.
【００１３】前記レーザ出力制御回路１０は、その詳細
を図２に示すように、前記モニタ用フォトダイオードＰ
Ｄで検出したレーザダイオードＬＤの光強度に基づく検
出電流をＩ／Ｖ変換して検出電圧ＶｉとするＩ／Ｖ変換
器１１と、変換された検出電圧Ｖｍを前記基準電圧生成
回路２０から入力される基準電圧Ｖｒｅｆと比較する比
較器１３と、この比較器１３の比較出力として前記検出
電圧Ｖｍと基準電圧Ｖｒｅｆとの差電圧である比較電圧
ＶｏをＡＰＣタイミング信号によりサンプルホールドす
るサンプルホールド回路１４と、ホールドされた電圧、
すなわち前記比較電圧Ｖｏに基づいて前記レーザダイオ
ードＬＤの駆動電流を生成するＶ／Ｉ変換機能を有する
レーザ駆動回路１５を備えている。また、このレーザ駆
動回路１５は、前記したＶ／Ｉ変換を行うＶ／Ｉ変換器
１６と、レーザダイオードを発光させるためのオン／オ
フ信号によりレーザダイオードに供給する駆動電流をオ
ン、オフするための駆動スイッチ１７とを備えている。
なお、前記ＡＰＣタイミング信号とオン／オフ信号は図
外の中央処理装置から、ポリゴンミラーの回転に同期し
て出力されるものである。また、サンプルホールド回路
１４は、サンプルスイッチ１８とホールドコンデンサ１
９を有する構成とされている。The laser output control circuit 10, as shown in detail in FIG.
The I / V converter 11 converts the detection current based on the light intensity of the laser diode LD detected at D into a detection voltage Vi by I / V conversion, and the converted detection voltage Vm is input from the reference voltage generation circuit 20. A comparator 13 that compares the reference voltage Vref with a reference voltage Vref, and a sample and hold circuit 14 that samples and holds a comparison voltage Vo, which is a difference voltage between the detection voltage Vm and the reference voltage Vref, as an output of the comparator 13 using an APC timing signal. , Held voltage,
That is, a laser drive circuit 15 having a V / I conversion function of generating a drive current for the laser diode LD based on the comparison voltage Vo is provided. Further, the laser drive circuit 15 turns on / off a V / I converter 16 for performing the above-described V / I conversion and a drive current supplied to the laser diode by an on / off signal for causing the laser diode to emit light. And a drive switch 17.
The APC timing signal and the on / off signal are output from a central processing unit (not shown) in synchronization with the rotation of the polygon mirror. The sample and hold circuit 14 includes a sample switch 18 and a hold capacitor 1.
9 is provided.
【００１４】次に以上の構成のレーザ走査記録装置にお
けるＡＰＣ動作を説明する。図外の中央処理装置から
は、ボリゴンミラーの回転周期に同期してＡＰＣタイミ
ング信号とオン／オフ信号が出力される。レーザ出力制
御回路１０は、これらの信号を受け、駆動スイッチ１７
をオンすることでレーザ駆動回路１５の駆動電流Ｉｏが
レーザダイオードＬＤに供給され、レーザダイオードＬ
Ｄが発光される。また、このレーザダイオードＬＤで発
光された光は、モニタ用フォトダイオードＰＤで受光さ
れ、その光強度の検出電流ＩｍはＩ／Ｖ変換器１１で検
出電圧Ｖｍに変換され、比較器１３において基準電圧Ｖ
ｒｅｆと比較される。そして、この基準電圧Ｖｒｅｆと
の比較により比較電圧Ｖｏが出力され、この比較電圧Ｖ
ｏはＡＰＣタイミング時にＡＰＣタイミング信号により
サンプルホールド回路１４にホールドされ、かつこのホ
ールドされた比較電圧Ｖｏはレーザ駆動回路１５に入力
され、ここでＶ／Ｉ変換されて駆動電流Ｉｏとして出力
される。このように、レーザ駆動回路１５の駆動電流が
モニタ用フォトダイオードＰＤの検出電流Ｉｍによって
制御されることで、レーザダイオードＬＤの発光出力が
フィードバック制御され、基準電圧Ｖｒｅｆに対応した
光強度に制御される。例えば、レーザダイオードＬＤで
の発光強度が低下されて検出電圧Ｖｍが低下されたとき
には、基準電圧Ｖｒｅｆに対する比較電圧Ｖｏが増加さ
れ、レーザ駆動回路１５における駆動電流Ｉｏが増加さ
れるため、レーザダイオードＬＤでの発光強度が増加さ
れ、所定の発光強度に制御されることになる。Next, the APC operation in the laser scanning recording apparatus having the above configuration will be described. An APC timing signal and an on / off signal are output from a central processing unit (not shown) in synchronization with the rotation cycle of the polygon mirror. The laser output control circuit 10 receives these signals and
Is turned on, the drive current Io of the laser drive circuit 15 is supplied to the laser diode LD, and the laser diode L
D is emitted. The light emitted by the laser diode LD is received by the monitoring photodiode PD, and the detection current Im of the light intensity is converted into the detection voltage Vm by the I / V converter 11, and the reference voltage is output by the comparator 13. V
ref. The comparison voltage Vo is output by comparison with the reference voltage Vref.
o is held by the sample and hold circuit 14 by the APC timing signal at the time of APC timing, and the held comparison voltage Vo is input to the laser drive circuit 15, where it is V / I converted and output as the drive current Io. As described above, the drive current of the laser drive circuit 15 is controlled by the detection current Im of the monitoring photodiode PD, so that the light emission output of the laser diode LD is feedback-controlled, and the light intensity is controlled to the light intensity corresponding to the reference voltage Vref. You. For example, when the emission intensity of the laser diode LD is reduced and the detection voltage Vm is reduced, the comparison voltage Vo with respect to the reference voltage Vref is increased, and the drive current Io in the laser drive circuit 15 is increased. Is increased, and the light emission intensity is controlled to a predetermined value.
【００１５】そして、このレーザダイオードＬＤで発光
されたレーザ光は、これに対向する位置に回転位置され
るポリゴンミラー４の反射鏡（以下、走査位置反射鏡と
称する）Ｒ１に投射され、ここで反射された後、ｆθレ
ンズ５、反射ミラー６を経て感光ドラム７に走査される
ことは前記した通りである。また、このとき、この走査
位置反射鏡Ｒ１で反射されたレーザ光は、感光ドラム７
への走査を行う前のタイミング時に反射ミラー８により
反射されて光センサ９により受光され、この光センサ９
からは走査タイミング信号ＴＳが出力される。したがっ
て、この走査タイミング信号を利用することで、ポリゴ
ンミラーの回転位置を認識することが可能となる。な
お、この光センサからの走査タイミング信号は前記した
中央処理装置からの各種タイミング信号の基準となる水
平同期信号として利用される。The laser light emitted from the laser diode LD is projected on a reflecting mirror (hereinafter, referred to as a scanning position reflecting mirror) R1 of the polygon mirror 4 which is rotated to a position facing the laser diode LD. After being reflected, the light is scanned by the photosensitive drum 7 via the fθ lens 5 and the reflection mirror 6 as described above. At this time, the laser beam reflected by the scanning position reflecting mirror R1 is
At the timing before scanning is performed, the light is reflected by the reflection mirror 8 and received by the optical sensor 9.
Outputs a scanning timing signal TS. Therefore, it is possible to recognize the rotation position of the polygon mirror by using this scanning timing signal. The scanning timing signal from the optical sensor is used as a horizontal synchronizing signal serving as a reference for various timing signals from the central processing unit.
【００１６】一方、ポリゴンミラー４の回転動作に同期
して基準電圧生成回路２０では、レーザダイオードＬＤ
が発光するよりも、少なくともポリゴンミラーが１面分
（６０度）だけ回転する期間よりも前に定電流回路２１
により測定用レーザダイオードＭＬＤを発光させ、前記
走査反射鏡Ｒ１と反対側に位置された反射鏡（以下、測
定位置反射鏡と称する）Ｒ２に投射させる。この場合、
ポリゴンミラー４は６面鏡であるため、この測定位置反
射鏡Ｒ２は前記走査位置反射鏡Ｒ１に対して走査周期の
３周期分だけ、すなわち走査タイミング信号ＴＳの３つ
分だけ走査タイミングが遅れていることになる。測定位
置反射鏡Ｒ２に投射されたレーザ光はここで反射されて
測定用フォトダイオードＭＰＤで受光され、Ｉ／Ｖ変換
器２２により電圧として検出される。そして、この検出
電圧ＶＡは走査タイミング信号のタイミングによりピー
クホールド回路２３によりホールドされる。ホールドさ
れた電圧ＶＡは、比較演算器２４において定電圧ＶＢと
比較される。この定電圧ＶＢは、測定位置反射鏡Ｒ２の
反射率が予め設定された特定の反射率の場合に、測定用
レーザ光の反射光を受光したときに得られる電圧ＶＡで
前記定電圧ＶＢを除したときの値Ｃ、すなわちＣ＝ＶＢ
／ＶＡが予め設定された値Ｃ０となるように設定されて
いる。したがって、前記測定位置反射鏡Ｒ２の反射率が
特定の反射率よりも大きいときには、電圧ＶＡが定電圧
ＶＢに対して大きくなるために、逆にその演算値Ｃは設
定値Ｃ０よりも小さくなる。また、測定位置反射鏡Ｒ２
の反射率が特定の反射率よりも小さいときには、電圧Ｖ
Ａが定電圧ＶＢに対して小さくなるために、逆にその演
算値Ｃは設定値Ｃ０よりも大きくなる。そして、この演
算値ＣはＡ／Ｄ変換器２５に出力される。On the other hand, in synchronization with the rotation of the polygon mirror 4, the reference voltage generating circuit 20
Constant current circuit 21 at least before the period during which the polygon mirror rotates by one plane (60 degrees) before the light is emitted.
Causes the measuring laser diode MLD to emit light and project the light on a reflecting mirror (hereinafter, referred to as a measuring position reflecting mirror) R2 located on the opposite side to the scanning reflecting mirror R1. in this case,
Since the polygon mirror 4 is a six-sided mirror, the measurement position reflecting mirror R2 is delayed from the scanning position reflecting mirror R1 by three scanning periods, that is, the scanning timing is delayed by three scanning timing signals TS. Will be. The laser light projected on the measuring position reflecting mirror R2 is reflected here, received by the measuring photodiode MPD, and detected as a voltage by the I / V converter 22. The detection voltage VA is held by the peak hold circuit 23 at the timing of the scanning timing signal. The held voltage VA is compared with the constant voltage VB in the comparison calculator 24. This constant voltage VB is obtained by dividing the constant voltage VB by a voltage VA obtained when the reflected light of the measuring laser light is received when the reflectance of the measurement position reflecting mirror R2 is a specific reflectance set in advance. C, ie, C = VB
/ VA is set to be a preset value C0. Therefore, when the reflectivity of the measurement position reflecting mirror R2 is larger than a specific reflectivity, the voltage VA becomes larger than the constant voltage VB, and conversely, the calculated value C becomes smaller than the set value C0. In addition, the measuring position reflecting mirror R2
Is smaller than the specific reflectance, the voltage V
Since A becomes smaller than the constant voltage VB, the calculated value C becomes larger than the set value C0. The calculated value C is output to the A / D converter 25.
【００１７】この演算値Ｃは、Ａ／Ｄ変換器２５におい
て８ビットのディジタルデータに変換され、ラッチ回路
２６を経てＦＩＦＯメモリ２７に記憶される。以上の動
作がポリゴンミラー４の回転に同期して順次行われるこ
とで、このＦＩＦＯメモリ２７にはポリゴンミラー４の
回転に伴って前記測定位置に順次位置されてくる反射鏡
に対応したそれぞれの演算値Ｃが同様にして順序的に記
憶されることになる。そして、ポリゴンミラー４の回転
に伴って得られた走査タイミング信号ＴＳをシフトレジ
スタで計数しながら遅延させることで、前記した３周期
分だけ遅延された走査タイミング信号がＤ／Ａ変換器２
８に入力され、ここにおいてＦＩＦＯメモリ２７のディ
ジタルデータを読み出し、前記演算値Ｃに対応した電圧
として出力する。このとき、前記測定位置反射鏡Ｒ２は
丁度レーザダイオードＬＤの光を反射して走査を行う走
査位置、すなわち走査位置反射鏡Ｒ１の位置にまで回動
位置されることになる。The operation value C is converted into 8-bit digital data in the A / D converter 25 and stored in the FIFO memory 27 via the latch circuit 26. The above operations are sequentially performed in synchronization with the rotation of the polygon mirror 4, so that the FIFO memory 27 has respective operations corresponding to the reflection mirrors sequentially positioned at the measurement positions as the polygon mirror 4 rotates. The values C will be stored sequentially in a similar manner. The scanning timing signal TS obtained by the rotation of the polygon mirror 4 is counted and delayed by the shift register, and the scanning timing signal delayed by the above-described three cycles is converted to the D / A converter 2.
The digital data is read out from the FIFO memory 27 and output as a voltage corresponding to the calculated value C. At this time, the measuring position reflecting mirror R2 is rotated to the scanning position where the scanning is performed by reflecting the light of the laser diode LD, that is, the scanning position reflecting mirror R1.
【００１８】そして、Ｄ／Ａ変換器２８からの出力電圧
は、基準電圧Ｖｒｅｆとしてレーザ出力制御回路１０の
比較器１３に入力され、この基準電圧Ｖｒｅｆと前記モ
ニタ用フォトダイオードＰＤからの検出電圧Ｖｍとの比
較が行われる。したがって、モニタ用フォトダイオード
ＰＤからの検出電圧Ｖｍが一定とした場合、測定位置反
射鏡Ｒ２の反射率が高く、その演算値Ｃが小さくて基準
電圧Ｖｒｅｆが低い側に偏位された場合には、この反射
鏡が走査位置にまで移動された時点における比較動作で
は、基準電圧Ｖｒｅｆと検出電圧との差である比較器１
３からの比較電圧Ｖｏが小さくなるため、この比較電圧
Ｖｏをサンプルホールドしてレーザ駆動回路１５に入力
したときには、レーザダイオードＬＤの駆動電流は低減
方向に補正される。これにより、測定位置反射鏡、つま
り現在の走査位置反射鏡の反射率が高い場合にはレーザ
ダイオードで発光されるレーザ光の光強度が低下され、
結果として反射鏡で反射されたレーザ光の光強度は所定
の値に保持される。逆に、測定位置反射鏡Ｒ２の反射率
が低い場合には、演算値Ｃが大きくなり、この演算値Ｃ
から得られる基準電圧Ｖｒｅｆが高い側に偏位されるた
めめ、検出電圧Ｖｍと基準電圧Ｖｒｅｆとの差電圧であ
る比較器１３からの比較電圧Ｖｏが大きくなり、レーザ
駆動回路からのレーザダイオードの駆動電流は増加方向
に補正される。これにより、走査位置反射鏡に対するレ
ーザダイオードＬＤの光強度が増加され、結果として反
射鏡で反射されたレーザ光の光強度は所定の値に保持さ
れる。The output voltage from the D / A converter 28 is input to the comparator 13 of the laser output control circuit 10 as the reference voltage Vref, and the reference voltage Vref and the detection voltage Vm from the monitoring photodiode PD are output. Is compared. Therefore, when the detection voltage Vm from the monitoring photodiode PD is constant, when the reflectance of the measurement position reflecting mirror R2 is high, the calculated value C is small, and the reference voltage Vref is shifted to a lower side, In the comparison operation at the time when the reflecting mirror is moved to the scanning position, the comparator 1 which is the difference between the reference voltage Vref and the detection voltage
Since the comparison voltage Vo from 3 becomes small, when this comparison voltage Vo is sampled and held and input to the laser drive circuit 15, the drive current of the laser diode LD is corrected in the decreasing direction. Thereby, when the reflectivity of the measurement position reflector, that is, the current scanning position reflector is high, the light intensity of the laser light emitted by the laser diode is reduced,
As a result, the light intensity of the laser light reflected by the reflecting mirror is maintained at a predetermined value. Conversely, when the reflectance of the measurement position reflecting mirror R2 is low, the calculated value C increases, and the calculated value C
Is shifted to the higher side, the comparison voltage Vo from the comparator 13, which is the difference voltage between the detection voltage Vm and the reference voltage Vref, increases, and the laser diode The drive current is corrected in the increasing direction. Thereby, the light intensity of the laser diode LD with respect to the scanning position reflecting mirror is increased, and as a result, the light intensity of the laser light reflected by the reflecting mirror is maintained at a predetermined value.
【００１９】図４は、前記した動作を説明するための波
形図であり、時点ｔ１でポリゴンミラー４のｎ−３面の
反射鏡においてレーザ光の走査が行われているとする
と、これと同時に反対側のｎ面の反射鏡において反射率
の測定が行われる。その後ポリゴンミラー４が回転され
てｎ面の反射鏡が走査位置にまで回動位置される時点ｔ
２では、前記測定された反射率に基づいてレーザダイオ
ードＬＤの光出力の制御が行われ、この光出力制御が行
われたレーザ光をｎ面の反射鏡で反射して走査を行うこ
とを示している。FIG. 4 is a waveform diagram for explaining the above-described operation. If it is assumed that the laser beam is being scanned by the reflecting mirror of the polygon mirror 4 on the (n-3) -th surface at the time point t1, at the same time, The reflectivity is measured at the opposite n-side reflector. Thereafter, the polygon mirror 4 is rotated, and the reflecting mirror of the n-th surface is rotated to the scanning position.
2 indicates that the light output of the laser diode LD is controlled based on the measured reflectivity, and that the laser light subjected to the light output control is reflected by an n-plane reflecting mirror to perform scanning. ing.
【００２０】すなわち、同図では、ｎ面、ｎ−１面、ｎ
−２面、ｎ−３面の各反射鏡の各反射率Ｒ（ｎ），Ｒ
（ｎ−１），Ｒ（ｎ−２），Ｒ（ｎ−３）がＲ（ｎ−
２）＜Ｒ（ｎ）＝Ｒ（ｎ−３）＜Ｒ（ｎ−１）の関係に
ある場合を示している。したがって、ｎ面反射鏡での走
査を行う際のレーザ出力に比較して、ｎ−２面反射鏡で
の走査時のレーザダイオードＬＤのレーザパワーは増加
され、ｎ−１面反射鏡での走査時のレーザダイオードＬ
Ｄのレーザパワーは低減され、ｎ−３面反射鏡での走査
時のレーザダイオードＬＤのレーザパワーは等しくさ
れ、この結果、各面の反射鏡で反射されたレーザ光の光
強度は所定の値に制御されることになる。That is, in the figure, n plane, n-1 plane, n plane
-Reflectance R (n), R of each of the reflecting mirrors on the -2 surface and the n-3 surface
(N-1), R (n-2) and R (n-3) are R (n-
2) <R (n) = R (n−3) <R (n−1). Therefore, the laser power of the laser diode LD at the time of scanning with the n-2 surface reflecting mirror is increased as compared with the laser output at the time of scanning with the n surface reflecting mirror, and the scanning with the n-1 surface reflecting mirror is performed. Laser diode L at the time
The laser power of D is reduced, and the laser power of the laser diode LD at the time of scanning with the n-3 surface reflecting mirror is made equal. As a result, the light intensity of the laser light reflected by the reflecting mirror on each surface becomes a predetermined value. Will be controlled.
【００２１】このように、基準電圧生成回路２０で測定
したポリゴンミラー４の各反射鏡の反射率に基づいて基
準電圧Ｖｒｅｆを生成し、その測定された反射鏡が走査
位置に回動位置されるのに同期してその基準電圧Ｖｒｅ
ｆに基づいてのレーザパワー制御を行うことで、ポリゴ
ンミラー４で反射されるレーザ光の光強度を所定の値に
制御することが可能となり、ポリゴンミラーの各反射鏡
での反射率のばらつきにかかわらず、感光ドラム上での
各走査ラインにおけるレーザ光の光強度を均一に制御す
ることができる。これにより、各走査ラインにおける画
像濃度を均一化し、高品質の描画が実現できる。因み
に、図６は図５に示したＡＰＣ制御回路でのレーザパワ
ーの制御の状態を示す波形図であり、この制御ではレー
ザダイオードにおけるレーザパワーは一定に制御される
ものの、ポリゴンミラーの各反射鏡での反射率のばらつ
きにより、感光ドラムに走査されるレーザ光の光強度に
は反射率に対応した光強度のばらつきが生じており、各
走査ラインに濃度のばらつきが生じ、均一な画像濃度で
の描画が困難である。As described above, the reference voltage Vref is generated based on the reflectance of each reflecting mirror of the polygon mirror 4 measured by the reference voltage generating circuit 20, and the measured reflecting mirror is rotated to the scanning position. In synchronization with the reference voltage Vre
By performing the laser power control based on f, it is possible to control the light intensity of the laser light reflected by the polygon mirror 4 to a predetermined value, and to reduce the variation in the reflectance of each polygon mirror. Regardless, the light intensity of the laser beam in each scanning line on the photosensitive drum can be controlled uniformly. Thereby, the image density in each scanning line is made uniform, and high-quality drawing can be realized. FIG. 6 is a waveform diagram showing the state of laser power control in the APC control circuit shown in FIG. 5. In this control, although the laser power in the laser diode is controlled to be constant, each reflecting mirror of the polygon mirror is controlled. Due to the variation in the reflectivity of the laser beam, the light intensity of the laser beam scanned on the photosensitive drum has a variation in the light intensity corresponding to the reflectance. Drawing is difficult.
【００２２】なお、前記実施形態では、反射率を測定す
る反射鏡は、走査を実行中の反射鏡と反対側に位置され
ている反射鏡の場合を示しているが、他の回転位置にあ
る反射鏡、例えば走査を実行する反射鏡の直前の反射鏡
の反射率を測定するようにしてもよい。特に、直前の反
射鏡の反射率を測定した場合には、この測定した値に基
づいて次の走査時のレーザパワー制御を行えばよいた
め、走査タイミング信号をそのまま利用しての出力制御
が可能であり、前記した実施形態のようなシフトレジス
タやＦＩＦＯメモリ等は不要となり、回路構成を簡略化
する上で有利である。ただし、直前の反射鏡では測定用
レーザダイオードや測定用フォトダイオードの配置スペ
ースに制約を受け易いため、配置の余裕が得られる点で
は、この実施形態のようにレーザダイオードの反対側、
あるいはこの近傍に配置することが好ましい。In the above-described embodiment, the reflection mirror for measuring the reflectance is a reflection mirror located on the opposite side to the reflection mirror performing the scanning, but is located at another rotational position. The reflectivity of a reflecting mirror, for example, a reflecting mirror immediately before a reflecting mirror for performing scanning may be measured. In particular, when the reflectivity of the immediately preceding reflector is measured, laser power control for the next scan can be performed based on the measured value, so that output control using the scan timing signal as it is can be performed. This eliminates the need for the shift register and the FIFO memory as in the above-described embodiment, which is advantageous in simplifying the circuit configuration. However, in the immediately preceding reflecting mirror, the arrangement space for the measuring laser diode and the measuring photodiode is easily restricted, so that a margin for arrangement is obtained, as in this embodiment, on the opposite side of the laser diode.
Alternatively, it is preferable to dispose it near this.
【００２３】また、前記実施形態では、測定用レーザダ
イオードＭＬＤは定電流により一定の光強度に設定し、
測定用フォトダイオードＭＰＤでの検出電流によって反
射鏡の反射率を測定しているが、測定用レーザダイオー
ドＭＬＤの発光出力の変動を補正するためには、定電流
回路２１の電流値を検出し、この電流値により測定用フ
ォトダイオードの検出電流を補正して比較演算器２４で
の演算を行うようにしてもよく、反射率の測定精度、な
いし基準電圧の精度を高めることが可能となる。In the above embodiment, the measuring laser diode MLD is set to a constant light intensity by a constant current,
Although the reflectance of the reflecting mirror is measured by the detection current in the measurement photodiode MPD, the current value of the constant current circuit 21 is detected in order to correct the fluctuation of the light emission output of the measurement laser diode MLD. The current detected by the photodiode for measurement may be corrected based on the current value, and the calculation may be performed by the comparator 24, thereby improving the measurement accuracy of the reflectance or the accuracy of the reference voltage.
【００２４】[0024]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、レーザ光
源で発光されたレーザ光を走査させるための多面反射鏡
の個々の反射鏡の反射率を測定してこれに対応した基準
電圧を生成し、かつこの反射鏡においてレーザ光が走査
される際に、生成された基準電圧に基づいてレーザ光源
の発光出力をＡＰＣ制御する構成としているので、多面
反射鏡で反射されたレーザ光の光強度を所定レベルに制
御することができ、感光体における複数の走査ラインで
の光強度のばらつきを解消し、画像濃度の均一化を図り
高品質の描画が実現できる。また、走査されるレーザ光
を検出する光センサの検出出力に基づいてＡＰＣ制御を
行ってはいないため、常時レーザパワーのＡＰＣ制御が
確保されることになり、レーザダイオードにおける過出
力が防止でき、レーザダイオードの破壊を防止し、かつ
安定性、信頼性の高いレーザパワー制御が実現できる。As described above, according to the present invention, the reflectance of each of the polygon mirrors for scanning the laser light emitted from the laser light source is measured, and a reference voltage corresponding to the measured reflectance is generated. When the laser beam is scanned by the reflecting mirror, the light emission output of the laser light source is APC-controlled based on the generated reference voltage. Can be controlled to a predetermined level, the variation in light intensity in a plurality of scanning lines on the photosensitive member can be eliminated, the image density can be made uniform, and high-quality drawing can be realized. In addition, since APC control is not performed based on the detection output of the optical sensor that detects the laser beam to be scanned, APC control of the laser power is always secured, and over-output of the laser diode can be prevented. It is possible to prevent the laser diode from being destroyed, and realize stable and reliable laser power control.
【図１】本発明のレーザ走査記録装置の一実施形態の全
体構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of an embodiment of a laser scanning recording apparatus of the present invention.
【図２】本発明にかかるレーザ出力制御回路の回路図で
ある。FIG. 2 is a circuit diagram of a laser output control circuit according to the present invention.
【図３】フォトダイオード一体型レーザダイオードの一
例の断面図である。FIG. 3 is a sectional view of an example of a photodiode integrated laser diode.
【図４】本発明におけるＡＰＣ制御動作を説明するため
の波形図である。FIG. 4 is a waveform chart for explaining an APC control operation in the present invention.
【図５】従来のＡＰＣ制御回路の一例を示す回路図であ
る。FIG. 5 is a circuit diagram showing an example of a conventional APC control circuit.
【図６】図５のＡＰＣ制御回路におけるＡＰＣ制御動作
の波形図である。FIG. 6 is a waveform chart of an APC control operation in the APC control circuit of FIG. 5;
１ レーザ光源 ４ ポリゴンミラー ５ ｆθレンズ ７ 感光ドラム ９ 光センサ １０ レーザ出力制御回路 １１ Ｉ／Ｖ変換器 １３ 比較器 １４ サンプルホールド回路 １５ レーザ駆動回路 ２０ 基準電圧生成回路 ２４ 比較演算器 ２６ Ａ／Ｄ変換器 ２７ ＦＩＦＯメモリ ２８ Ｄ／Ａ変換器 ３０ シフトレジスタ ＬＤ レーザダイオード ＰＤ モニタ用フォトダイオード ＭＬＤ 測定用レーザダイオード ＭＰＤ 測定用フォトダイオード Ｖｒｅｆ 基準電圧 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser light source 4 Polygon mirror 5 fθ lens 7 Photosensitive drum 9 Optical sensor 10 Laser output control circuit 11 I / V converter 13 Comparator 14 Sample hold circuit 15 Laser drive circuit 20 Reference voltage generation circuit 24 Comparison arithmetic unit 26 A / D Converter 27 FIFO memory 28 D / A converter 30 Shift register LD Laser diode PD Monitoring photodiode MLD Measurement laser diode MPD measurement photodiode Vref Reference voltage
Claims (6)
駆動される多面反射鏡で反射して感光体に走査させるレ
ーザ走査記録装置において、前記多面反射鏡の個々の反
射鏡の反射率を測定してこれに対応した基準電圧を生成
する手段と、前記反射率が測定された反射鏡においてレ
ーザ光が走査される際に、前記生成された基準電圧に基
づいて前記レーザ光源の発光出力を制御する発光出力制
御手段とを備えることを特徴とするレーザ走査記録装
置。In a laser scanning recording apparatus for scanning a photosensitive member by reflecting a laser beam emitted from a laser light source on a rotating polygon mirror, the reflectance of each of the polygon mirrors is measured. Means for generating a reference voltage corresponding thereto, and controlling the light emission output of the laser light source based on the generated reference voltage when laser light is scanned by a reflector whose reflectance is measured. And a light emission output control means.
ードで発光されたレーザ光を感光体に向けて走査させる
ための複数の反射鏡を有する回転駆動されるポリゴンミ
ラーと、前記反射鏡に対して反射率測定用の測定光を投
射する発光器と、前記反射鏡で反射された測定光を検出
する受光器と、この受光器で受光した測定光から前記反
射鏡の反射率に対応した基準電圧を生成する手段と、前
記反射鏡においてレーザ光の走査が行われる際に前記生
成された基準電圧に基づいて前記レーザダイオードの発
光出力を制御するレーザ出力制御回路とを備えることを
特徴とするレーザ走査記録装置。2. A laser diode, a polygon mirror driven by rotation having a plurality of reflecting mirrors for scanning a laser beam emitted by the laser diode toward a photosensitive member, and a reflectance for the reflecting mirror. A light emitter for projecting measurement light for measurement, a light receiver for detecting the measurement light reflected by the reflector, and a reference voltage corresponding to the reflectance of the reflector from the measurement light received by the light receiver And a laser output control circuit for controlling a light emission output of the laser diode based on the generated reference voltage when scanning of laser light is performed in the reflecting mirror. apparatus.
オードで発光されたレーザ光の光強度を検出するモニタ
用フォトダイオードと、このモニタ用フォトダイオード
の検出出力を基準電圧と比較し、その誤差電圧を出力す
る誤差比較器と、この誤差電圧に対応して前記レーザダ
イオードに供給する駆動電流を制御するレーザ駆動回路
とを備える請求項２に記載のレーザ走査記録装置。3. The laser output control circuit includes: a monitor photodiode for detecting the light intensity of the laser light emitted from the laser diode; a detection output of the monitor photodiode compared with a reference voltage; 3. The laser scanning recording apparatus according to claim 2, further comprising: an error comparator configured to output a driving current supplied to the laser diode in accordance with the error voltage.
検出出力を基準値と比較して所要の演算を行う回路と、
演算により得られた演算値を記憶する手段と、記憶され
た演算値を前記ポリゴンミラーの回転に同期したタイミ
ングで読み出してこれを基準電圧として出力する手段と
を備える請求項２または３に記載のレーザ走査記録装
置。4. A circuit for performing a required operation by comparing the detection output of the light receiver with a reference value,
4. The apparatus according to claim 2, further comprising: means for storing a calculated value obtained by the calculation; and means for reading out the stored calculated value at a timing synchronized with the rotation of the polygon mirror and outputting the read value as a reference voltage. Laser scanning recorder.
レーザダイオードからのレーザ光を走査する回転位置の
反射鏡に対して回転方向の１面以上前に位置される反射
鏡であり、かつ前記レーザ光の走査タイミングを出力す
る手段が設けられ、前記基準電圧生成回路は、前記走査
タイミング出力に基づいて測定された反射鏡が走査位置
に回転位置されるタイミングで基準電圧をレーザ出力制
御回路に出力するように構成されてなる請求項２ないし
４のいずれかに記載のレーザ走査記録装置。5. The reflecting mirror whose reflectance is measured is a reflecting mirror that is positioned at least one surface in the rotation direction with respect to a reflecting mirror at a rotation position for scanning laser light from the laser diode, And a means for outputting a scanning timing of the laser beam, wherein the reference voltage generation circuit controls the laser output of the reference voltage at a timing at which the reflection mirror measured based on the scanning timing output is rotated to the scanning position. 5. The laser scanning recording apparatus according to claim 2, wherein the laser scanning recording apparatus is configured to output to a circuit.
る手段は、前記ポリゴンミラーによって走査されるレー
ザ光を検出する光センサを含んでなる請求項５に記載の
レーザ走査記録装置。6. The laser scanning recording apparatus according to claim 5, wherein the means for detecting the scanning timing of the laser beam includes an optical sensor for detecting the laser beam scanned by the polygon mirror.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30702297A JP3315909B2 (en) | 1996-11-11 | 1997-11-10 | Laser scanning recorder |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29834596 | 1996-11-11 | ||
| JP8-298345 | 1996-11-11 | ||
| JP30702297A JP3315909B2 (en) | 1996-11-11 | 1997-11-10 | Laser scanning recorder |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10181095A true JPH10181095A (en) | 1998-07-07 |
| JP3315909B2 JP3315909B2 (en) | 2002-08-19 |
Family
ID=26561479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30702297A Expired - Fee Related JP3315909B2 (en) | 1996-11-11 | 1997-11-10 | Laser scanning recorder |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3315909B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013088562A (en) * | 2011-10-17 | 2013-05-13 | Canon Inc | Optical scanner |
| CN117572677A (en) * | 2023-12-29 | 2024-02-20 | 剑芯光电(苏州)有限公司 | System and method for testing dynamic reflectivity of liquid crystal device |
-
1997
- 1997-11-10 JP JP30702297A patent/JP3315909B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013088562A (en) * | 2011-10-17 | 2013-05-13 | Canon Inc | Optical scanner |
| CN117572677A (en) * | 2023-12-29 | 2024-02-20 | 剑芯光电(苏州)有限公司 | System and method for testing dynamic reflectivity of liquid crystal device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3315909B2 (en) | 2002-08-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6566641B1 (en) | Scanning optical system having automatic power control with saw-tooth wave generating circuit | |
| JP2875673B2 (en) | Image exposure equipment | |
| JPS63199372A (en) | Abnormality transmitting device in optical unit for laser printer | |
| JPH065864B2 (en) | Automatic white level control for RIS | |
| US6078347A (en) | Laser scan based recording apparatus | |
| US6671299B2 (en) | Laser power control circuit and laser scanner | |
| JP3276284B2 (en) | Multi-beam optical scanning device | |
| US6151056A (en) | Laser scan based recording apparatus | |
| US5986687A (en) | Laser scan based recording apparatus | |
| JP3315909B2 (en) | Laser scanning recorder | |
| JPS62178920A (en) | Light beam scanner | |
| JP3385195B2 (en) | Laser scanning recorder | |
| US8520711B2 (en) | Optical device and method for controlling the same | |
| JP3300650B2 (en) | Laser scanning recorder | |
| US4833489A (en) | Electrical f·θ correction system in a laser printer | |
| JP3707073B2 (en) | Light intensity control method | |
| JP2001308449A (en) | Light source device and picture forming device | |
| JP2004136626A (en) | Laser scanner | |
| JP2005193460A (en) | Scan recording device | |
| JP5219405B2 (en) | Correction value determination device, correction value determination method, and optical scanning device | |
| JP2000330346A (en) | Laser beam quantity controller and control method | |
| JP2641903B2 (en) | Laser diode output control device | |
| JP2003191524A (en) | Laser drive circuit, image forming device and laser driving method | |
| JP2003165245A (en) | Laser driving circuit, imaging apparatus and laser driving method | |
| JPS58202660A (en) | Generating circuit of synchronizing signal |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080607 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090607 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100607 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |