JPH10172101A - 媒体欠陥検出方式 - Google Patents
媒体欠陥検出方式Info
- Publication number
- JPH10172101A JPH10172101A JP33338596A JP33338596A JPH10172101A JP H10172101 A JPH10172101 A JP H10172101A JP 33338596 A JP33338596 A JP 33338596A JP 33338596 A JP33338596 A JP 33338596A JP H10172101 A JPH10172101 A JP H10172101A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- head
- medium
- data
- circuit
- Prior art date
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- Pending
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- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
ディスク欠陥部のみならず、突起部も欠陥セクタ登録さ
れることにより、デ−タ損失の可能性が低減され、ディ
スク装置の信頼性が向上する。 【課題】突起部にはヘッドが接触する可能性が高いが従
来の媒体欠陥検査方式では、必ずしも記録面の幾何情報
を含んだデータを得る事はできなかった。 【解決手段】ディスクの回転数を変化させることにより
ヘッド浮上量を制御し、ＭＲヘッドの浮上量を減らしＴ
Ａを発生させ、この時得られるデータを用いて媒体欠陥
検査を行うことにより、ディスクの突起部をデータ記録
領域からはずすことが可能となる。
れることにより、デ−タ損失の可能性が低減され、ディ
スク装置の信頼性が向上する。 【課題】突起部にはヘッドが接触する可能性が高いが従
来の媒体欠陥検査方式では、必ずしも記録面の幾何情報
を含んだデータを得る事はできなかった。 【解決手段】ディスクの回転数を変化させることにより
ヘッド浮上量を制御し、ＭＲヘッドの浮上量を減らしＴ
Ａを発生させ、この時得られるデータを用いて媒体欠陥
検査を行うことにより、ディスクの突起部をデータ記録
領域からはずすことが可能となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、固定ディスク装置
等のディスク記憶装置の記録媒体の検査方法に関する。
等のディスク記憶装置の記録媒体の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ディスク記憶装置のディスク面には、フ
ェライト、クロム等の磁性体薄膜が記録媒体としてめっ
きやスパッタリング法で付着されているが、これには薄
膜の微視的な不均一性やごみ等との接触傷による欠陥の
発生は避けられない。そこで、ディスク単独の状態での
精密な表面検査等で不良品が排除されるのはもちろん、
装置に組み込まれた後もその面内の欠陥箇所を検査した
上で、そこを除いてフォーマッティグをするという方法
が一般的に用いられている。
ェライト、クロム等の磁性体薄膜が記録媒体としてめっ
きやスパッタリング法で付着されているが、これには薄
膜の微視的な不均一性やごみ等との接触傷による欠陥の
発生は避けられない。そこで、ディスク単独の状態での
精密な表面検査等で不良品が排除されるのはもちろん、
装置に組み込まれた後もその面内の欠陥箇所を検査した
上で、そこを除いてフォーマッティグをするという方法
が一般的に用いられている。
【０００３】従来から、ディスクを装置へ組み込んだ後
の欠陥検査には、実使用条件下において、特定のデータ
パターンを書き込み信号として装置に与えデイスク面に
書き込みを行い、次に装置のヘッドを介してこれをよみ
だした信号を評価する事により欠陥箇所の登録を行なっ
ていた。
の欠陥検査には、実使用条件下において、特定のデータ
パターンを書き込み信号として装置に与えデイスク面に
書き込みを行い、次に装置のヘッドを介してこれをよみ
だした信号を評価する事により欠陥箇所の登録を行なっ
ていた。
【０００４】記録密度の増加に伴い、磁気記録特性を向
上させるためヘッドの浮上量はますます低下し、その量
はサブミクロンのオーダになっている。これに伴いヘッ
ドとディスク面の接触による記録面状態の変化が問題と
なる。つまり、 ヘッドとディスクデータ面の接触によ
り膜はがれや接触傷等の欠陥ができ、データの読みだし
が不可能となるという現象が発生する。
上させるためヘッドの浮上量はますます低下し、その量
はサブミクロンのオーダになっている。これに伴いヘッ
ドとディスク面の接触による記録面状態の変化が問題と
なる。つまり、 ヘッドとディスクデータ面の接触によ
り膜はがれや接触傷等の欠陥ができ、データの読みだし
が不可能となるという現象が発生する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】当然のことながらディ
スクの突起部にはヘッドが接触する可能性が高いため、
ディスク装置の信頼性を高めるためにはディスクの突起
部にデ−タを書き込まないことがのぞましい。しかし、
従来の媒体欠陥検査方式では、必ずしも記録面の幾何情
報を含んだデータを得る事はできなかった。そのため、
接触による読みだし不可能となる可能性の高い箇所に、
データを書き込む事をふせげなかった。
スクの突起部にはヘッドが接触する可能性が高いため、
ディスク装置の信頼性を高めるためにはディスクの突起
部にデ−タを書き込まないことがのぞましい。しかし、
従来の媒体欠陥検査方式では、必ずしも記録面の幾何情
報を含んだデータを得る事はできなかった。そのため、
接触による読みだし不可能となる可能性の高い箇所に、
データを書き込む事をふせげなかった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】最近では、読みだし専用
ヘッドとして磁気抵抗効果を用いた磁気抵抗効果ヘッド
(以下ＭＲヘッドとする。)が用いられている。このＭＲ
ヘッドは回転磁気ディスクの磁気記録面と接触すると、
接触による摩擦に起因する温度上昇によりサーマルアス
ペリティ（以下ＴＡとする。）とよばれる乱れが生じ
る。そこでヘッドの浮上量を減らしＴＡを発生させ、こ
れを観測することにより、磁気的特性のみならずディス
クの幾何的特性も含めたデータを得ることが可能であ
る。
ヘッドとして磁気抵抗効果を用いた磁気抵抗効果ヘッド
(以下ＭＲヘッドとする。)が用いられている。このＭＲ
ヘッドは回転磁気ディスクの磁気記録面と接触すると、
接触による摩擦に起因する温度上昇によりサーマルアス
ペリティ（以下ＴＡとする。）とよばれる乱れが生じ
る。そこでヘッドの浮上量を減らしＴＡを発生させ、こ
れを観測することにより、磁気的特性のみならずディス
クの幾何的特性も含めたデータを得ることが可能であ
る。
【０００７】一方、ヘッドはヘッドスライダーと回転磁
気ディスクの間の空気のベアリングにより浮上力を得て
いるので、ディスクの回転数を変化させることにより、
ヘッド浮上量を制御することが可能である。そこで回転
数を変化させることによりヘッド浮上量を減少させ、こ
の時得られるデータを用いて媒体欠陥検査を行えば、デ
ィスクの突起部をデータ記録領域からはずすことが可能
となる。
気ディスクの間の空気のベアリングにより浮上力を得て
いるので、ディスクの回転数を変化させることにより、
ヘッド浮上量を制御することが可能である。そこで回転
数を変化させることによりヘッド浮上量を減少させ、こ
の時得られるデータを用いて媒体欠陥検査を行えば、デ
ィスクの突起部をデータ記録領域からはずすことが可能
となる。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１に示されたディスク記憶装置
は固定ディスク装置である。通常一つのディスク装置に
は複数個のディスク１が設けられており、各ディスクに
は書き込みヘッドおよび再生ヘッドが設置されている。
本発明においては、特に再生ヘッドとしてＭＲヘッド２
を用いる。ディスク１の各面にはヘッドの位置を検出す
るためのサーボ情報が書き込まれており、このサーボ情
報を元にしてトラック、およびセクタが一意的に定めら
れている。各ディスク面毎に設けられているＭＲヘッド
２は通常キャリッジ８と呼ばれる機構部に取り付けら
れ、ヘッド移動用モータとしてボイスコイルモ−タ７に
よりディスクの半径方向にたいして内周および外周方向
に移動される。またスピンドルモータ１１はモータドラ
イバー１２により駆動され、その回転数をマイクロプロ
セッサ１３によりコントロールする。
は固定ディスク装置である。通常一つのディスク装置に
は複数個のディスク１が設けられており、各ディスクに
は書き込みヘッドおよび再生ヘッドが設置されている。
本発明においては、特に再生ヘッドとしてＭＲヘッド２
を用いる。ディスク１の各面にはヘッドの位置を検出す
るためのサーボ情報が書き込まれており、このサーボ情
報を元にしてトラック、およびセクタが一意的に定めら
れている。各ディスク面毎に設けられているＭＲヘッド
２は通常キャリッジ８と呼ばれる機構部に取り付けら
れ、ヘッド移動用モータとしてボイスコイルモ−タ７に
よりディスクの半径方向にたいして内周および外周方向
に移動される。またスピンドルモータ１１はモータドラ
イバー１２により駆動され、その回転数をマイクロプロ
セッサ１３によりコントロールする。
【０００９】ＭＲヘッド２から読みだされた信号は、Ｍ
Ｒヘッド２に接続されたリ−ドライトチャネル４に送ら
れ等化される。この等化された読み出し信号は、一つは
デ−タ再生回路５に送られ読み出しデータとして復調さ
れ、また一つはサーボデータ検討回路６に送られる。サ
ーボデータ検討回路６においては、 ＭＲヘッド２のト
ラック情報やオフトラック情報等の情報が検出される。
サーボ制御回路１０はこれらトラック情報やオフトラッ
ク情報等の情報を用いて、位置制御用信号をボイスコイ
ルモ−タドライバ−９におくり、さらにボイスコイルモ
−タを用いてＭＲヘッド２の位置をコントロールする。
Ｒヘッド２に接続されたリ−ドライトチャネル４に送ら
れ等化される。この等化された読み出し信号は、一つは
デ−タ再生回路５に送られ読み出しデータとして復調さ
れ、また一つはサーボデータ検討回路６に送られる。サ
ーボデータ検討回路６においては、 ＭＲヘッド２のト
ラック情報やオフトラック情報等の情報が検出される。
サーボ制御回路１０はこれらトラック情報やオフトラッ
ク情報等の情報を用いて、位置制御用信号をボイスコイ
ルモ−タドライバ−９におくり、さらにボイスコイルモ
−タを用いてＭＲヘッド２の位置をコントロールする。
【００１０】リ−ドライト回路１３およびサーボ制御回
路１０、モータドライバー１２の各種パラメータは、コ
ントロール用マイクロプロセッサ１３によりそのすべて
の設定が可能である。
路１０、モータドライバー１２の各種パラメータは、コ
ントロール用マイクロプロセッサ１３によりそのすべて
の設定が可能である。
【００１１】上記ディスク装置を用いての媒体欠陥検査
方式の一実施例として、図２に流れ図を示す。専用のサ
ーボトラックライターを用いて、サ−ボトラック書き込
み２０１においてディスク装置に設置されている検査デ
ィスクにサーボトラック情報を書き込む。次にパラメー
タ設定２０２においてヘッドの浮上量を減少させること
を目的としディスクの回転速度を減少させるよう、リ−
ドライト回路およびサーボ制御回路、モータドライバー
等の各種パラメータを設定する。次にディスク選択２０
３において、検査するディスクを決定する。
方式の一実施例として、図２に流れ図を示す。専用のサ
ーボトラックライターを用いて、サ−ボトラック書き込
み２０１においてディスク装置に設置されている検査デ
ィスクにサーボトラック情報を書き込む。次にパラメー
タ設定２０２においてヘッドの浮上量を減少させること
を目的としディスクの回転速度を減少させるよう、リ−
ドライト回路およびサーボ制御回路、モータドライバー
等の各種パラメータを設定する。次にディスク選択２０
３において、検査するディスクを決定する。
【００１２】次にデータ書き込み２０４において、検査
デイスクにデータを書き込む。ここで書き込まれるデー
タは検査の必要に応じて、ダイビット、トライビット、
最高周波数等、様々なデータが考えられる。媒体欠陥確
認２０５において媒体の欠陥の有無を検査する。ここで
ディスク上に欠陥が存在すれば欠陥位置算出２０６にお
いて欠陥位置を算出し、欠陥位置記録２０７において、
媒体上の欠陥位置を記録する。この作業を媒体欠陥記録
が完了するまで行う。媒体欠陥記録が完了した後、全デ
ィスク検査終了２０８においてすべてのディスクに対し
検査が実行されたことを確認する。上記パラメ−タ設定
２０２から全ディスク検査終了２０８までの作業を、媒
体欠陥検査２００とし、 この全工程において、ヘッド
の浮上量を減少させるため、ディスクの回転速度を減少
させる。
デイスクにデータを書き込む。ここで書き込まれるデー
タは検査の必要に応じて、ダイビット、トライビット、
最高周波数等、様々なデータが考えられる。媒体欠陥確
認２０５において媒体の欠陥の有無を検査する。ここで
ディスク上に欠陥が存在すれば欠陥位置算出２０６にお
いて欠陥位置を算出し、欠陥位置記録２０７において、
媒体上の欠陥位置を記録する。この作業を媒体欠陥記録
が完了するまで行う。媒体欠陥記録が完了した後、全デ
ィスク検査終了２０８においてすべてのディスクに対し
検査が実行されたことを確認する。上記パラメ−タ設定
２０２から全ディスク検査終了２０８までの作業を、媒
体欠陥検査２００とし、 この全工程において、ヘッド
の浮上量を減少させるため、ディスクの回転速度を減少
させる。
【００１３】媒体欠陥検査２００の終了の後、パラメー
タ設定２０９においてディスク回転速度を実使用状態に
戻すため、リ−ドライト回路およびサーボ制御回路、モ
ータドライバー等の各種パラメータを設定する。次に欠
陥セクタ算出２１０において、欠陥位置記録２０７より
記録されたデータより実使用状態での欠陥の存在するセ
クタを算出する。欠陥セクタ登録２１１により、欠陥の
存在するセクタにデータを記録する事がないよう欠陥セ
クタ登録を行う。上記の工程が終了した後、次段検査へ
と進む。
タ設定２０９においてディスク回転速度を実使用状態に
戻すため、リ−ドライト回路およびサーボ制御回路、モ
ータドライバー等の各種パラメータを設定する。次に欠
陥セクタ算出２１０において、欠陥位置記録２０７より
記録されたデータより実使用状態での欠陥の存在するセ
クタを算出する。欠陥セクタ登録２１１により、欠陥の
存在するセクタにデータを記録する事がないよう欠陥セ
クタ登録を行う。上記の工程が終了した後、次段検査へ
と進む。
【００１４】以上の工程により、ディスク上の磁気的な
欠陥部のみならず、将来的に欠陥部になる可能性の高い
ディスク突起部もＭＲヘッドによる再生波形におけるＴ
Ａとして欠陥セクタ登録され、ディスク装置の信頼性が
向上する。なお、上記検査工程例においてはデ−タ書き
込みをヘッド浮上量を減少させた状態において行ってい
るが、デ−タ書き込み時は、ヘッド浮上量を減少させる
必要は必ずしも必要でないことは、 言うまでもない。
欠陥部のみならず、将来的に欠陥部になる可能性の高い
ディスク突起部もＭＲヘッドによる再生波形におけるＴ
Ａとして欠陥セクタ登録され、ディスク装置の信頼性が
向上する。なお、上記検査工程例においてはデ−タ書き
込みをヘッド浮上量を減少させた状態において行ってい
るが、デ−タ書き込み時は、ヘッド浮上量を減少させる
必要は必ずしも必要でないことは、 言うまでもない。
【００１５】ディスク回転速度減少による効果をさらに
詳しく説明する。
詳しく説明する。
【００１６】図３において、波形３１は実使用時のＴＡ
を含む再生波形である。波形３２は同一媒***置におけ
る低回転時の再生波形である。まず、実使用時のＴＡを
含む再生波形において、点Ａから点Ｃの領域においてＴ
Ａによる影響がみとめられるものとする。図中点線ａは
一つの指標で、このレベルより振幅が小さい場合にＴＡ
の影響がなくなるものとする。これに対し、同一の媒体
位置において回転数を減少させた場合の再生波形を図３
の波形３２に示す。熱拡散速度に変化はないため、ＴＡ
の回復速度に変化はない。したがって再生波形にＴＡの
影響がみとめられる領域は点Ａから点Ｂになる。点Ｂか
ら点ＣまでＴＡの影響がなくなり、この領域において低
回転時には実使用時より詳細な媒体検査が行われること
が可能になる。つまり、ディスクを低回転にすることに
よりＴＡによる影響を減らし、媒体検査をより詳細に行
うことが可能となる。
を含む再生波形である。波形３２は同一媒***置におけ
る低回転時の再生波形である。まず、実使用時のＴＡを
含む再生波形において、点Ａから点Ｃの領域においてＴ
Ａによる影響がみとめられるものとする。図中点線ａは
一つの指標で、このレベルより振幅が小さい場合にＴＡ
の影響がなくなるものとする。これに対し、同一の媒体
位置において回転数を減少させた場合の再生波形を図３
の波形３２に示す。熱拡散速度に変化はないため、ＴＡ
の回復速度に変化はない。したがって再生波形にＴＡの
影響がみとめられる領域は点Ａから点Ｂになる。点Ｂか
ら点ＣまでＴＡの影響がなくなり、この領域において低
回転時には実使用時より詳細な媒体検査が行われること
が可能になる。つまり、ディスクを低回転にすることに
よりＴＡによる影響を減らし、媒体検査をより詳細に行
うことが可能となる。
【００１７】図４において、４１から４３はそれぞれ実
使用時における書き込みデ−タ、この書き込みデ−タに
よる媒体の磁化状態、再生波形を示し、４４から４６は
それぞれ低速回転時における書き込みデ−タ、この書き
込みデ−タによる媒体の磁化状態、再生波形を示す。書
き込みデ−タ４１の周波数は、書き込み電流の立ち上が
り等により制限された最高周波数であるとする。このデ
−タを用いて媒体は４２のように磁化される。図中の矢
印は、媒体の磁化方向を示す。また、図中斜線部ａは、
媒体の欠陥部を示し、欠陥部は磁化されないものとす
る。この媒体上の磁化を、ヘッドにより再生すると、波
形４３のようになる。図のｂはこの再生波形に対する欠
陥部検出用のスライスレベルを示し、再生波形の絶対値
がスライスレベル以下の場合に媒体上に欠陥があるもの
と認められる。波形４３の場合は再生波形の振幅がスラ
イスレベルの絶対値より大きいため、媒体上の欠陥部を
検出することはできない。これに対し、低回転時は、書
き込みデ−タの最高周波数が実使用時と同じとしても、
媒体上の磁化が反転する距離間隔は短くなり、図４５の
ように磁化される。媒体上には実使用時と同じ欠陥（図
中斜線部ａ′）が存在するものと仮定すると、再生波形
は４６となる。実使用時と同一のスライスレベルｃを用
いると再生波形の振幅は図に示すようにスライスレベル
の絶対値より小さくなり、媒体上の欠陥ａ′は検出され
る。このように、書き込み周波数に上限が存在する場合
にも、ディスクを低速にすることにより実使用時に比べ
より詳細な媒体検査が可能となる。
使用時における書き込みデ−タ、この書き込みデ−タに
よる媒体の磁化状態、再生波形を示し、４４から４６は
それぞれ低速回転時における書き込みデ−タ、この書き
込みデ−タによる媒体の磁化状態、再生波形を示す。書
き込みデ−タ４１の周波数は、書き込み電流の立ち上が
り等により制限された最高周波数であるとする。このデ
−タを用いて媒体は４２のように磁化される。図中の矢
印は、媒体の磁化方向を示す。また、図中斜線部ａは、
媒体の欠陥部を示し、欠陥部は磁化されないものとす
る。この媒体上の磁化を、ヘッドにより再生すると、波
形４３のようになる。図のｂはこの再生波形に対する欠
陥部検出用のスライスレベルを示し、再生波形の絶対値
がスライスレベル以下の場合に媒体上に欠陥があるもの
と認められる。波形４３の場合は再生波形の振幅がスラ
イスレベルの絶対値より大きいため、媒体上の欠陥部を
検出することはできない。これに対し、低回転時は、書
き込みデ−タの最高周波数が実使用時と同じとしても、
媒体上の磁化が反転する距離間隔は短くなり、図４５の
ように磁化される。媒体上には実使用時と同じ欠陥（図
中斜線部ａ′）が存在するものと仮定すると、再生波形
は４６となる。実使用時と同一のスライスレベルｃを用
いると再生波形の振幅は図に示すようにスライスレベル
の絶対値より小さくなり、媒体上の欠陥ａ′は検出され
る。このように、書き込み周波数に上限が存在する場合
にも、ディスクを低速にすることにより実使用時に比べ
より詳細な媒体検査が可能となる。
【００１８】
【発明の効果】前記の工程により、ディスク上の磁気的
な欠陥部のみならず、将来的に欠陥部になる可能性の高
いディスク突起部も欠陥セクタ登録されることにより、
デ−タ損失の可能性が低減され、ディスク装置の信頼性
が向上する。
な欠陥部のみならず、将来的に欠陥部になる可能性の高
いディスク突起部も欠陥セクタ登録されることにより、
デ−タ損失の可能性が低減され、ディスク装置の信頼性
が向上する。
【図１】ディスク記憶装置（固定ディスク装置）の説明
図である。
図である。
【図２】図１のディスク装置における媒体欠陥検査方式
の一実施例の流れ図である。
の一実施例の流れ図である。
【図３】実使用時のＴＡを含む再生波形３１を示すため
の図である。
の図である。
【図４】実使用時における書き込みデ−タ４１、この書
き込みデ−タによる媒体の磁化状態４２、再生波形４
３、低速回転時における書き込みデ−タ４４、この書き
込みデ−タによる媒体の磁化状態４５、再生波形４６を
示す図である。
き込みデ−タによる媒体の磁化状態４２、再生波形４
３、低速回転時における書き込みデ−タ４４、この書き
込みデ−タによる媒体の磁化状態４５、再生波形４６を
示す図である。
１…ディスク、２…ＭＲヘッド、３…リ−ドライトＩ
Ｃ、４…リ−ドライトチャネル、５…デ−タ再生回路、
６…サーボデータ検討回路、７…ボイスコイルモ−タ、
８…キャリッジ、９…ボイスコイルモ−タドライバ−、
１０…サーボ制御回路、１１…スピンドルモータ、１２
…モータドライバー、１３…マイクロプロセッサ、２０
０…媒体欠陥検査、２０１…サ−ボトラック書き込み、
２０２…パラメータ設定、２０３…ディスク選択、２０
４…データ書き込み、２０５…媒体欠陥確認、２０６…
欠陥位置算出、２０７…欠陥位置記録、２０８…全ディ
スク検査終了、２０９…パラメータ設定、２１０…欠陥
セクタ算出、２１１０…欠陥セクタ登録、３１…実使用
時のＴＡを含む再生波形、３２…同一媒***置における
低回転時の再生波形、４１…実使用時における書き込み
デ−タ、４２…実使用時における書き込みデ−タによる
媒体の磁化状態、４３…実使用時における再生波形、４
４…低速回転時における書き込みデ−タ、４５…低速回
転時における書き込みデ−タによる媒体の磁化状態、４
６…低速回転時における再生波形。
Ｃ、４…リ−ドライトチャネル、５…デ−タ再生回路、
６…サーボデータ検討回路、７…ボイスコイルモ−タ、
８…キャリッジ、９…ボイスコイルモ−タドライバ−、
１０…サーボ制御回路、１１…スピンドルモータ、１２
…モータドライバー、１３…マイクロプロセッサ、２０
０…媒体欠陥検査、２０１…サ−ボトラック書き込み、
２０２…パラメータ設定、２０３…ディスク選択、２０
４…データ書き込み、２０５…媒体欠陥確認、２０６…
欠陥位置算出、２０７…欠陥位置記録、２０８…全ディ
スク検査終了、２０９…パラメータ設定、２１０…欠陥
セクタ算出、２１１０…欠陥セクタ登録、３１…実使用
時のＴＡを含む再生波形、３２…同一媒***置における
低回転時の再生波形、４１…実使用時における書き込み
デ−タ、４２…実使用時における書き込みデ−タによる
媒体の磁化状態、４３…実使用時における再生波形、４
４…低速回転時における書き込みデ−タ、４５…低速回
転時における書き込みデ−タによる媒体の磁化状態、４
６…低速回転時における再生波形。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ
Claims (1)
- 【請求項１】複数の磁気ディスクと、前記磁気ディスク
に対して書き込みを行う複数のヘッドおよび読み出しを
行う複数の磁気抵抗効果ヘッドと、ディスク回転速度が
可変となるようパラメ−タ設定が可能なリ−ドライト回
路およびサーボ制御回路、モータドライバーと、前記回
路およびドライバーを操作するマイクロプロセッサとを
備える磁気デイスク装置において、ヘッド浮上量を実使
用時に対して減少させて行うことを特徴とする媒体欠陥
検査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33338596A JPH10172101A (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | 媒体欠陥検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33338596A JPH10172101A (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | 媒体欠陥検出方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10172101A true JPH10172101A (ja) | 1998-06-26 |
Family
ID=18265534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33338596A Pending JPH10172101A (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | 媒体欠陥検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10172101A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7293226B2 (en) | 2002-11-25 | 2007-11-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for adaptively performing defect scan according to channel characteristics |
| US7957083B2 (en) | 2007-07-23 | 2011-06-07 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Method for early detection of magnetic head degradation due to carbon overcoat wear |
| US8174783B2 (en) | 2009-07-23 | 2012-05-08 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Testing magnetic disk performance with a single slider simulating sliders of various disk drive systems |
-
1996
- 1996-12-13 JP JP33338596A patent/JPH10172101A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7293226B2 (en) | 2002-11-25 | 2007-11-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for adaptively performing defect scan according to channel characteristics |
| US7957083B2 (en) | 2007-07-23 | 2011-06-07 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Method for early detection of magnetic head degradation due to carbon overcoat wear |
| US8174783B2 (en) | 2009-07-23 | 2012-05-08 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Testing magnetic disk performance with a single slider simulating sliders of various disk drive systems |
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