JPH10171991A - パターン濃度検査方法 - Google Patents
パターン濃度検査方法Info
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- JPH10171991A JPH10171991A JP8330713A JP33071396A JPH10171991A JP H10171991 A JPH10171991 A JP H10171991A JP 8330713 A JP8330713 A JP 8330713A JP 33071396 A JP33071396 A JP 33071396A JP H10171991 A JPH10171991 A JP H10171991A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 判定結果と目で見た感じとが一致し、しか
も、迅速に検査できるパターン濃度検査方法の提供。 【解決手段】 文字・記号からなる捺印パターンのパタ
ーン濃度検査方法において、検査すべき捺印パターンを
撮像し、各文字・記号毎に、所定間隔を設けた代表走査
線が各文字・記号の輪郭線内に連続して重なる部分をラ
ン１として設定し、設定した各ラン１の中心画素をその
文字・記号の捺印濃度を代表する複数の代表画素１ａと
し、各文字・記号毎に前記複数の代表画素１ａの濃度値
の平均値を計算し、各文字・記号毎に前記の計算した濃
度値の平均値が予め設定してある許容濃度範囲から外れ
る場合にその文字・記号の捺印濃度を不良と判定するこ
とを特徴とする。
も、迅速に検査できるパターン濃度検査方法の提供。 【解決手段】 文字・記号からなる捺印パターンのパタ
ーン濃度検査方法において、検査すべき捺印パターンを
撮像し、各文字・記号毎に、所定間隔を設けた代表走査
線が各文字・記号の輪郭線内に連続して重なる部分をラ
ン１として設定し、設定した各ラン１の中心画素をその
文字・記号の捺印濃度を代表する複数の代表画素１ａと
し、各文字・記号毎に前記複数の代表画素１ａの濃度値
の平均値を計算し、各文字・記号毎に前記の計算した濃
度値の平均値が予め設定してある許容濃度範囲から外れ
る場合にその文字・記号の捺印濃度を不良と判定するこ
とを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサ、ＩＣ
等の電子部品、薬品等に施されている品名、特性、量、
日付等を表示する文字・記号の捺印パターンの検査方法
に関し、特に、捺印パターンの各文字・記号の濃度を検
査するパターン濃度検査方法に関するものである。
等の電子部品、薬品等に施されている品名、特性、量、
日付等を表示する文字・記号の捺印パターンの検査方法
に関し、特に、捺印パターンの各文字・記号の濃度を検
査するパターン濃度検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】以前には、コンデンサ、ＩＣ等の電子部
品、薬品等に施されている品名、特性、量、日付等を表
示する文字・記号の捺印パターンの検査方法は、捺印し
た文字・記号が正しいか否かを判定するものであった。
品、薬品等に施されている品名、特性、量、日付等を表
示する文字・記号の捺印パターンの検査方法は、捺印し
た文字・記号が正しいか否かを判定するものであった。
【０００３】しかし、最近になって、ＩＣ等の電子部
品、薬品等に施されている品名、特性、量、日付等を表
示する文字・記号が形態的には正しく捺印されていて
も、これらの文字・記号間または各文字・記号内に捺印
濃度のムラがあると、使用者に粗悪感を与えるので、こ
れらの文字・記号間または各文字・記号内の捺印濃度の
ムラを検出する検査方法の要求が出始め、更に、これら
の文字・記号が正しく、捺印濃度に前記のムラが無いだ
けではなく、これらの文字・記号の捺印濃度が濃すぎも
薄すぎもせず或る範囲内に入っていることを確かめる検
査方法が要求されている。
品、薬品等に施されている品名、特性、量、日付等を表
示する文字・記号が形態的には正しく捺印されていて
も、これらの文字・記号間または各文字・記号内に捺印
濃度のムラがあると、使用者に粗悪感を与えるので、こ
れらの文字・記号間または各文字・記号内の捺印濃度の
ムラを検出する検査方法の要求が出始め、更に、これら
の文字・記号が正しく、捺印濃度に前記のムラが無いだ
けではなく、これらの文字・記号の捺印濃度が濃すぎも
薄すぎもせず或る範囲内に入っていることを確かめる検
査方法が要求されている。
【０００４】上記の要求に基づいて行われている捺印パ
ターンの各文字・記号の捺印濃度を検査するパターン濃
度検査方法の従来例を図５に基づいて説明する。
ターンの各文字・記号の捺印濃度を検査するパターン濃
度検査方法の従来例を図５に基づいて説明する。
【０００５】従来例の検査方法では、検査すべき捺印パ
ターンの各文字・記号を撮像し、得られた映像情報を、
図５に示すように、２値化処理して各文字・記号の捺印
部分を切り出した後に、コンピュータ上で、切り出した
捺印部分内の全画素の濃度を平均した全画素平均濃度を
求め、求めた全画素平均濃度を捺印パターンの各文字・
記号の濃度として検査している。
ターンの各文字・記号を撮像し、得られた映像情報を、
図５に示すように、２値化処理して各文字・記号の捺印
部分を切り出した後に、コンピュータ上で、切り出した
捺印部分内の全画素の濃度を平均した全画素平均濃度を
求め、求めた全画素平均濃度を捺印パターンの各文字・
記号の濃度として検査している。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来例
の構成では、捺印された文字・記号の捺印パターンを切
り出した捺印部分の輪郭線内でもその周縁部分では、一
般的に、図６に示すように、濃度が薄くなり、この薄い
部分の画像濃度を入れた全画素の画像濃度の平均で捺印
濃度を判定するのは適切ではなく、判定結果と目で見た
感じとが一致しないという問題がある。又、全画素につ
いて計算するのは時間がかかるという問題がある。
の構成では、捺印された文字・記号の捺印パターンを切
り出した捺印部分の輪郭線内でもその周縁部分では、一
般的に、図６に示すように、濃度が薄くなり、この薄い
部分の画像濃度を入れた全画素の画像濃度の平均で捺印
濃度を判定するのは適切ではなく、判定結果と目で見た
感じとが一致しないという問題がある。又、全画素につ
いて計算するのは時間がかかるという問題がある。
【０００７】本発明は、上記の問題を解決し、判定結果
と目で見た感じとが一致し、しかも、迅速に検査できる
パターン濃度検査方法の提供を課題とする。
と目で見た感じとが一致し、しかも、迅速に検査できる
パターン濃度検査方法の提供を課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明のパターン濃度検
査方法は、上記の課題を解決するために、文字・記号か
らなる捺印パターンのパターン濃度検査方法において、
検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号毎に文
字・記号の輪郭線内にその文字・記号の捺印濃度を代表
する複数の代表画素を設定し、各文字・記号毎に前記複
数の代表画素の濃度値の平均値を計算し、各文字・記号
毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め設定してある
許容濃度範囲から外れる場合にその文字・記号の捺印濃
度を不良と判定することを特徴とする。
査方法は、上記の課題を解決するために、文字・記号か
らなる捺印パターンのパターン濃度検査方法において、
検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号毎に文
字・記号の輪郭線内にその文字・記号の捺印濃度を代表
する複数の代表画素を設定し、各文字・記号毎に前記複
数の代表画素の濃度値の平均値を計算し、各文字・記号
毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め設定してある
許容濃度範囲から外れる場合にその文字・記号の捺印濃
度を不良と判定することを特徴とする。
【０００９】上記により、本発明は、検査すべき捺印パ
ターンを撮像し、各文字・記号毎に文字・記号の輪郭線
内にその文字・記号の捺印濃度を代表する複数の代表画
素を設定し、各文字・記号毎に前記複数の代表画素の濃
度値の平均値を計算し、各文字・記号毎に前記の計算し
た濃度値の平均値が予め設定してある許容濃度範囲から
外れる場合にその文字・記号の捺印濃度を不良と判定す
るので、全画素について計算する従来例に比較して、計
算に使用する画素の数が極めて少なくなり、検査所要時
間が短くなる。
ターンを撮像し、各文字・記号毎に文字・記号の輪郭線
内にその文字・記号の捺印濃度を代表する複数の代表画
素を設定し、各文字・記号毎に前記複数の代表画素の濃
度値の平均値を計算し、各文字・記号毎に前記の計算し
た濃度値の平均値が予め設定してある許容濃度範囲から
外れる場合にその文字・記号の捺印濃度を不良と判定す
るので、全画素について計算する従来例に比較して、計
算に使用する画素の数が極めて少なくなり、検査所要時
間が短くなる。
【００１０】代表画素として、文字・記号の輪郭線のす
ぐ内側の捺印濃度の薄い部分以外の画素であり、目で見
た感じの文字・記号の捺印濃度を有する画素を選ぶこと
ができるので、判定結果と目で見た感じとを合わせるこ
とができる。
ぐ内側の捺印濃度の薄い部分以外の画素であり、目で見
た感じの文字・記号の捺印濃度を有する画素を選ぶこと
ができるので、判定結果と目で見た感じとを合わせるこ
とができる。
【００１１】特に、代表画素として、各文字・記号毎
に、所定間隔を設けた代表走査線が各文字・記号の輪郭
線内に連続して重なる部分をランとして設定し、設定し
た各ランの中心画素を選ぶと、処理が簡単になって更に
検査所要時間が短くなり、代表画素が各文字・記号の輪
郭線内の中心線上にあるので、検査結果と目で見た感じ
とが更に良く一致する。
に、所定間隔を設けた代表走査線が各文字・記号の輪郭
線内に連続して重なる部分をランとして設定し、設定し
た各ランの中心画素を選ぶと、処理が簡単になって更に
検査所要時間が短くなり、代表画素が各文字・記号の輪
郭線内の中心線上にあるので、検査結果と目で見た感じ
とが更に良く一致する。
【００１２】又、代表画素として、各文字・記号毎に、
各文字・記号の輪郭線内で、各文字・記号の輪郭線に対
する骨格線上で選択された骨格点の画素を選ぶと、代表
画素が各文字・記号の輪郭線内の中心線上にあるので、
検査結果と目で見た感じとが更に良く一致する。
各文字・記号の輪郭線内で、各文字・記号の輪郭線に対
する骨格線上で選択された骨格点の画素を選ぶと、代表
画素が各文字・記号の輪郭線内の中心線上にあるので、
検査結果と目で見た感じとが更に良く一致する。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明のパターン濃度検査方法で
は、検査結果と目で見た感じとが一致し、検査を迅速に
行うために、検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字
・記号毎に文字・記号の輪郭線内にその文字・記号の捺
印濃度を代表する複数の代表画素を設定し、各文字・記
号毎に前記複数の代表画素の濃度値の平均値を計算し、
各文字・記号毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め
設定してある許容濃度範囲から外れる場合にその文字・
記号の捺印濃度を不良と判定することを特徴としてい
る。
は、検査結果と目で見た感じとが一致し、検査を迅速に
行うために、検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字
・記号毎に文字・記号の輪郭線内にその文字・記号の捺
印濃度を代表する複数の代表画素を設定し、各文字・記
号毎に前記複数の代表画素の濃度値の平均値を計算し、
各文字・記号毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め
設定してある許容濃度範囲から外れる場合にその文字・
記号の捺印濃度を不良と判定することを特徴としてい
る。
【００１４】本発明のパターン濃度検査方法は、一般に
捺印パターンが正しいか否かを検査する通常のパターン
検査方法に引き続いて行うので、各文字・記号の輪郭線
は、直前に行う前記の通常のパターン検査方法（輪郭線
データは画像の２値化処理によって得られる。）で得ら
れる輪郭線についてのデータを使用することができる。
なお別個に検査すべき捺印パターンを撮像し、画像の２
値化処理により各文字・記号毎に文字・記号の輪郭線を
検出しても良い。
捺印パターンが正しいか否かを検査する通常のパターン
検査方法に引き続いて行うので、各文字・記号の輪郭線
は、直前に行う前記の通常のパターン検査方法（輪郭線
データは画像の２値化処理によって得られる。）で得ら
れる輪郭線についてのデータを使用することができる。
なお別個に検査すべき捺印パターンを撮像し、画像の２
値化処理により各文字・記号毎に文字・記号の輪郭線を
検出しても良い。
【００１５】以下に、前記代表画素として後述の図３に
示すラン１の中心点である代表画素１ａを使用する本発
明の第１の実施の形態を図１〜図３に基づいて説明す
る。
示すラン１の中心点である代表画素１ａを使用する本発
明の第１の実施の形態を図１〜図３に基づいて説明す
る。
【００１６】図３に示すように、本実施の形態では、検
査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号の輪郭線
を求め、各文字・記号毎に、所定間隔を設けて設定した
代表走査線が各文字・記号の前記輪郭線内に連続して重
なる部分をラン１として設定し、前記の設定した各ラン
１の中心画素を代表画素１ａとして使用する。
査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号の輪郭線
を求め、各文字・記号毎に、所定間隔を設けて設定した
代表走査線が各文字・記号の前記輪郭線内に連続して重
なる部分をラン１として設定し、前記の設定した各ラン
１の中心画素を代表画素１ａとして使用する。
【００１７】図１、図２は、検査すべき捺印パターンの
各文字・記号を撮像し、得られた映像情報を２値化して
各文字・記号の捺印部分を輪郭線として切り出した後
に、切り出した輪郭線内の全画素の画像濃度を検出し、
検出した全画素の画像濃度について求めたヒストグラム
である。
各文字・記号を撮像し、得られた映像情報を２値化して
各文字・記号の捺印部分を輪郭線として切り出した後
に、切り出した輪郭線内の全画素の画像濃度を検出し、
検出した全画素の画像濃度について求めたヒストグラム
である。
【００１８】図１は、捺印濃度が目で見た感じで適正な
場合の前記ヒストグラムであり、図２は、捺印濃度が目
で見た感じで薄すぎる場合の前記ヒストグラムである。
場合の前記ヒストグラムであり、図２は、捺印濃度が目
で見た感じで薄すぎる場合の前記ヒストグラムである。
【００１９】図１、図２において、前述の図６に示すよ
うに、捺印された文字・記号の捺印パターンを切り出し
た捺印部分の輪郭線内では一般に周縁部分Ｐの捺印濃度
が薄くなっているので、図１、図２のヒストグラムに
は、図６の輪郭線内の周縁部分の薄い捺印濃度を示す左
側の山と、図６の輪郭線内の中心線付近の捺印濃度を示
す右側の山とがある。
うに、捺印された文字・記号の捺印パターンを切り出し
た捺印部分の輪郭線内では一般に周縁部分Ｐの捺印濃度
が薄くなっているので、図１、図２のヒストグラムに
は、図６の輪郭線内の周縁部分の薄い捺印濃度を示す左
側の山と、図６の輪郭線内の中心線付近の捺印濃度を示
す右側の山とがある。
【００２０】図１、図２において、従来例の全画素の平
均濃度は、破線の位置になり、目で見た感じの捺印濃度
である右の山の中央部の画像濃度とは大きく異なり、判
断基準として使用するのは適当ではない。又、全画素の
濃度を計算するのは時間が掛かって生産性が低下する。
均濃度は、破線の位置になり、目で見た感じの捺印濃度
である右の山の中央部の画像濃度とは大きく異なり、判
断基準として使用するのは適当ではない。又、全画素の
濃度を計算するのは時間が掛かって生産性が低下する。
【００２１】又、図１、図２において、複数の代表画素
１ａの濃度範囲は、２本の１点鎖線の間になり、複数の
代表画素１ａの平均濃度は２点鎖線の位置になる。即
ち、各文字・記号の画像濃度として、複数の代表画素１
ａの平均濃度を使用すると、計算すべき複数の代表画素
１ａの数が極めて少ないので、迅速な検査が可能であ
り、しかも、目で見た感じと良く一致する判定が可能に
なる。
１ａの濃度範囲は、２本の１点鎖線の間になり、複数の
代表画素１ａの平均濃度は２点鎖線の位置になる。即
ち、各文字・記号の画像濃度として、複数の代表画素１
ａの平均濃度を使用すると、計算すべき複数の代表画素
１ａの数が極めて少ないので、迅速な検査が可能であ
り、しかも、目で見た感じと良く一致する判定が可能に
なる。
【００２２】図１と図２との実測例では、図１に示す適
正濃度の文字・記号の代表画素１ａの濃度値の平均値は
１５８であり、図２に示す薄すぎる濃度の代表画素１ａ
の濃度値の平均値は１４３である。従って、文字・記号
の代表画素１ａの濃度値の平均値の許容濃度範囲を予め
設定しておけば、捺印パターンの捺印濃度の検査が可能
になる。
正濃度の文字・記号の代表画素１ａの濃度値の平均値は
１５８であり、図２に示す薄すぎる濃度の代表画素１ａ
の濃度値の平均値は１４３である。従って、文字・記号
の代表画素１ａの濃度値の平均値の許容濃度範囲を予め
設定しておけば、捺印パターンの捺印濃度の検査が可能
になる。
【００２３】次に、前記代表画素２ａとして骨格線２上
に所定間隔を隔てて設定した複数の骨格点の画素を使用
する本発明の第２の実施の形態を図４に基づいて説明す
る。
に所定間隔を隔てて設定した複数の骨格点の画素を使用
する本発明の第２の実施の形態を図４に基づいて説明す
る。
【００２４】図４において、２は、各文字・記号の輪郭
線内で、各文字・記号の輪郭線からの最短距離が極大と
なる骨格点で構成される骨格線であり、２ａは、前記骨
格線２上に所定間隔を隔てて設定した複数の骨格点の画
素である代表画素である。なお、骨格点に対する輪郭線
からの最短距離は、その近傍点に対する輪郭線からの最
短距離より大きくなるという関係が成立している。
線内で、各文字・記号の輪郭線からの最短距離が極大と
なる骨格点で構成される骨格線であり、２ａは、前記骨
格線２上に所定間隔を隔てて設定した複数の骨格点の画
素である代表画素である。なお、骨格点に対する輪郭線
からの最短距離は、その近傍点に対する輪郭線からの最
短距離より大きくなるという関係が成立している。
【００２５】図４に示す代表画素２ａは、各文字・記号
の輪郭線内の中心線上にあるので、第１の実施の形態に
けるラン１の中心点の画素である代表画素１ａと同じ性
質を有する。従って、第１の実施の形態の説明の代表画
素１ａを代表画素２ａと読み替えれば良いので、説明を
省略する。
の輪郭線内の中心線上にあるので、第１の実施の形態に
けるラン１の中心点の画素である代表画素１ａと同じ性
質を有する。従って、第１の実施の形態の説明の代表画
素１ａを代表画素２ａと読み替えれば良いので、説明を
省略する。
【００２６】第１、第２の実施の形態では、ラン１の中
心点の画素である代表画素１ａと、骨格線２で選択され
た代表画素２ａとを使用したが、これらには限らず、各
文字・記号の輪郭線内の中心線付近にある画素を代表画
素として使用すれば同じ結果が得られる。
心点の画素である代表画素１ａと、骨格線２で選択され
た代表画素２ａとを使用したが、これらには限らず、各
文字・記号の輪郭線内の中心線付近にある画素を代表画
素として使用すれば同じ結果が得られる。
【００２７】
【発明の効果】本発明のパターン濃度検査方法による
と、検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号毎
に文字・記号の輪郭線内にその文字・記号の捺印濃度を
代表する複数の代表画素を設定し、各文字・記号毎に前
記複数の代表画素の濃度値の平均値を計算し、各文字・
記号毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め設定して
ある許容濃度範囲から外れる場合にその文字・記号の捺
印濃度を不良と判定するので、全画素について計算する
従来例に比較して、計算に使用する画素の数が極めて少
なくなり、検査所要時間が短くなるという効果が得られ
ると共に、代表画素を各文字・記号の輪郭線内の中心部
に選択することができるので、検査結果と目で見た感じ
とが良く一致するという効果が得られる。
と、検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号毎
に文字・記号の輪郭線内にその文字・記号の捺印濃度を
代表する複数の代表画素を設定し、各文字・記号毎に前
記複数の代表画素の濃度値の平均値を計算し、各文字・
記号毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め設定して
ある許容濃度範囲から外れる場合にその文字・記号の捺
印濃度を不良と判定するので、全画素について計算する
従来例に比較して、計算に使用する画素の数が極めて少
なくなり、検査所要時間が短くなるという効果が得られ
ると共に、代表画素を各文字・記号の輪郭線内の中心部
に選択することができるので、検査結果と目で見た感じ
とが良く一致するという効果が得られる。
【図１】捺印パターンの適正濃度の文字・記号の全画素
の濃度値のヒストグラムと本発明の代表画素の濃度との
関係を示す図である。
の濃度値のヒストグラムと本発明の代表画素の濃度との
関係を示す図である。
【図２】捺印パターンの薄すぎる文字・記号の全画素の
濃度値のヒストグラムと本発明の代表画素の濃度との関
係を示す図である。
濃度値のヒストグラムと本発明の代表画素の濃度との関
係を示す図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態の代表画素の位置を
示す図である。
示す図である。
【図４】本発明の第２の実施の形態の代表画素の位置を
示す図である。
示す図である。
【図５】従来例のパターン濃度検査方法の動作を示す図
である。
である。
【図６】捺印パターンの文字・記号の一般的な濃度分布
を示す図である。
を示す図である。
１ ラン １ａ 代表画素 ２ 骨格線 ２ａ 代表画素
Claims (3)
- 【請求項１】 文字・記号からなる捺印パターンのパタ
ーン濃度検査方法において、検査すべき捺印パターンを
撮像し、各文字・記号毎に文字・記号の輪郭線内にその
文字・記号の捺印濃度を代表する複数の代表画素を設定
し、各文字・記号毎に前記複数の代表画素の濃度値の平
均値を計算し、各文字・記号毎に前記の計算した濃度値
の平均値が予め設定してある許容濃度範囲から外れる場
合にその文字・記号の捺印濃度を不良と判定することを
特徴とするパターン濃度検査方法。 - 【請求項２】 代表画素は、各文字・記号毎に、所定間
隔を設けた代表走査線が各文字・記号の輪郭線内に連続
して重なる部分をランとして設定し、設定した各ランの
中心画素である請求項１記載のパターン濃度検査方法。 - 【請求項３】 代表画素は、各文字・記号毎に、各文字
・記号の輪郭線内で、各文字・記号の輪郭線に対する骨
格線上で選択された骨格点の画素である請求項１記載の
パターン濃度検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8330713A JPH10171991A (ja) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | パターン濃度検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8330713A JPH10171991A (ja) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | パターン濃度検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10171991A true JPH10171991A (ja) | 1998-06-26 |
Family
ID=18235738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8330713A Pending JPH10171991A (ja) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | パターン濃度検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10171991A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001005981A (ja) * | 1999-06-04 | 2001-01-12 | Mitsubishi Electric Inf Technol Center America Inc | オブジェクト形状を表現する画像空間を順序付ける方法 |
-
1996
- 1996-12-11 JP JP8330713A patent/JPH10171991A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001005981A (ja) * | 1999-06-04 | 2001-01-12 | Mitsubishi Electric Inf Technol Center America Inc | オブジェクト形状を表現する画像空間を順序付ける方法 |
| JP4545277B2 (ja) * | 1999-06-04 | 2010-09-15 | ミツビシ・エレクトリック・リサーチ・ラボラトリーズ・インコーポレイテッド | オブジェクト形状を表現する画像空間を順序付ける方法 |
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