JPH10141904A - 測定子校正装置及び測定子校正方法 - Google Patents
測定子校正装置及び測定子校正方法Info
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- JPH10141904A JPH10141904A JP8312848A JP31284896A JPH10141904A JP H10141904 A JPH10141904 A JP H10141904A JP 8312848 A JP8312848 A JP 8312848A JP 31284896 A JP31284896 A JP 31284896A JP H10141904 A JPH10141904 A JP H10141904A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高精度な測定子校正を可能とする測定子校正
装置及び校正方法を提供する。 【解決手段】 少なくとも２個以上の球面状部材１３，
１４，１５と、該各々の球面状部材１３，１４，１５が
少なくとも１個以上の他の球面状部材１３…と当接する
ように保持する保持部としての保持凹部１２ｂを有する
保持部材１２とを有する。
装置及び校正方法を提供する。 【解決手段】 少なくとも２個以上の球面状部材１３，
１４，１５と、該各々の球面状部材１３，１４，１５が
少なくとも１個以上の他の球面状部材１３…と当接する
ように保持する保持部としての保持凹部１２ｂを有する
保持部材１２とを有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、座標測定機に用
いる測定子を校正する測定子校正装置及び測定子校正方
法に関するものである。
いる測定子を校正する測定子校正装置及び測定子校正方
法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、座標測定機に用いる測定子の
径を校正する測定子校正装置及び測定子校正方法とし
て、図３に示すようなものがあった。
径を校正する測定子校正装置及び測定子校正方法とし
て、図３に示すようなものがあった。
【０００３】この測定子校正装置５は、平面状部材１の
平面１ａ上に、球面状部材２が乗せられると共に、この
球面状部材２が転がらないように、この球面状部材２の
周囲に３ヶ所、保持部３が立設されている。
平面１ａ上に、球面状部材２が乗せられると共に、この
球面状部材２が転がらないように、この球面状部材２の
周囲に３ヶ所、保持部３が立設されている。
【０００４】かかる構成の測定子校正装置５を用いて座
標測定機に用いる測定子６の径ｄを、以下のような方法
で校正している。
標測定機に用いる測定子６の径ｄを、以下のような方法
で校正している。
【０００５】すなわち、校正の対象である測定子６によ
り、平面状部材１の平面１ａの一部分１ｂ（図３（ａ）
中斜線で示す。）と、球面状部材２の頂点を含む一部分
２ａ（図３（ａ）中斜線で示す。）の座標測定を行う。
次に、得られた平面１ａの一部分１ｂのデータが高さ０
の基準平面（Ｚ＝０）に合うように一部分１ｂのデータ
及び球面状部材２の一部分２ａのデータに対し並進、回
転の座標変換を行う。このとき、平面１ａの一部分１ｂ
のデータと、球面状部材２の一部分２ａのデータとの相
対位置関係は保ったままにする。
り、平面状部材１の平面１ａの一部分１ｂ（図３（ａ）
中斜線で示す。）と、球面状部材２の頂点を含む一部分
２ａ（図３（ａ）中斜線で示す。）の座標測定を行う。
次に、得られた平面１ａの一部分１ｂのデータが高さ０
の基準平面（Ｚ＝０）に合うように一部分１ｂのデータ
及び球面状部材２の一部分２ａのデータに対し並進、回
転の座標変換を行う。このとき、平面１ａの一部分１ｂ
のデータと、球面状部材２の一部分２ａのデータとの相
対位置関係は保ったままにする。
【０００６】そして、座標変換後に計算で得られる球面
状部材２の一部分２ａの頂点（基準平面からもっとも高
い位置）のＺ座標値をＨ、測定子６の径をｄ’と仮定し
て計算により得られる球面状部材２の直径をＤとしたと
き、測定子６の実際の径ｄは、ｄ＝ｄ’＋（Ｄ−Ｈ）と
して得られる。
状部材２の一部分２ａの頂点（基準平面からもっとも高
い位置）のＺ座標値をＨ、測定子６の径をｄ’と仮定し
て計算により得られる球面状部材２の直径をＤとしたと
き、測定子６の実際の径ｄは、ｄ＝ｄ’＋（Ｄ−Ｈ）と
して得られる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の測定子校正装置及び測定子校正方法にあって
は、平面状部材１の一部分１ｂ及び球面状部材２の一部
分２ａを測定して、測定子６の径ｄを校正するようにし
ているため、高精度の測定子６の径ｄを校正するには、
高精度に加工された平面状部材１及び球面状部材２を用
意する必要があるが、球面に比べ平面を高精度に加工す
るのは難しく、その結果、校正精度を高めることが難し
かった。
うな従来の測定子校正装置及び測定子校正方法にあって
は、平面状部材１の一部分１ｂ及び球面状部材２の一部
分２ａを測定して、測定子６の径ｄを校正するようにし
ているため、高精度の測定子６の径ｄを校正するには、
高精度に加工された平面状部材１及び球面状部材２を用
意する必要があるが、球面に比べ平面を高精度に加工す
るのは難しく、その結果、校正精度を高めることが難し
かった。
【０００８】そこで、この発明は、高精度な測定子校正
を可能とする測定子校正装置及び校正方法を提供するこ
とを課題としている。
を可能とする測定子校正装置及び校正方法を提供するこ
とを課題としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】かかる課題を達成するた
めに、請求項１に記載の発明は、少なくとも２個以上の
球面状部材と、該各々の球面状部材が少なくとも１個以
上の他の球面状部材と当接するように保持する保持部を
有する保持部材とを有する測定子校正装置としたことを
特徴とする。
めに、請求項１に記載の発明は、少なくとも２個以上の
球面状部材と、該各々の球面状部材が少なくとも１個以
上の他の球面状部材と当接するように保持する保持部を
有する保持部材とを有する測定子校正装置としたことを
特徴とする。
【００１０】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の構成に加え、前記保持部は、三角錐形状の保持凹部で
あり、該保持凹部に３個の球面状部材が他の２つの球面
状部材と当接するように保持されたことを特徴とする。
の構成に加え、前記保持部は、三角錐形状の保持凹部で
あり、該保持凹部に３個の球面状部材が他の２つの球面
状部材と当接するように保持されたことを特徴とする。
【００１１】請求項３に記載の発明は、請求項１に記載
の構成に加え、前記保持部は、四角錐形状の保持凹部で
あり、該保持凹部に４個の球面状部材が少なくとも他の
２つの球面状部材と当接するように保持されたことを特
徴とする。
の構成に加え、前記保持部は、四角錐形状の保持凹部で
あり、該保持凹部に４個の球面状部材が少なくとも他の
２つの球面状部材と当接するように保持されたことを特
徴とする。
【００１２】請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３
の何れか一つに記載の測定子校正装置を使用し、測定子
の径を任意の値ｄ’と仮定して、当接する２個の球面状
部材の半径Ｒ１,Ｒ２と、該両球面状部材の中心間距離
Ｌとを測定し、測定子の実際の径ｄを式 ｄ＝ｄ’＋（Ｒ１＋Ｒ２）−Ｌ より校正する測定子校正方法としたことを特徴とする。
の何れか一つに記載の測定子校正装置を使用し、測定子
の径を任意の値ｄ’と仮定して、当接する２個の球面状
部材の半径Ｒ１,Ｒ２と、該両球面状部材の中心間距離
Ｌとを測定し、測定子の実際の径ｄを式 ｄ＝ｄ’＋（Ｒ１＋Ｒ２）−Ｌ より校正する測定子校正方法としたことを特徴とする。
【００１３】請求項５に記載の発明は、請求項４に記載
の測定子校正方法により、３個以上配設された球面状部
材の、互いに当接する複数の組み合わせに基づいて、各
々の組み合わせにおける測定子の実際の径ｄを校正し、
該各径ｄ…の平均値を求める測定子校正方法としたこと
を特徴とする。
の測定子校正方法により、３個以上配設された球面状部
材の、互いに当接する複数の組み合わせに基づいて、各
々の組み合わせにおける測定子の実際の径ｄを校正し、
該各径ｄ…の平均値を求める測定子校正方法としたこと
を特徴とする。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて説明する。
いて説明する。
【００１５】［発明の実施の形態１］図１には、この発
明の実施の形態１を示す。
明の実施の形態１を示す。
【００１６】まず構成について説明すると、図中符号１
１は、測定子６の径ｄを校正する測定子校正装置で、こ
の装置１１は、ブロック状の保持部材１２と、計３個の
球面状部材１３，１４，１５とから構成されている。
１は、測定子６の径ｄを校正する測定子校正装置で、こ
の装置１１は、ブロック状の保持部材１２と、計３個の
球面状部材１３，１４，１５とから構成されている。
【００１７】この保持部材１２には、上面部１２ａに
「保持部」としての三角錐形状の保持凹部１２ｂが形成
されている。
「保持部」としての三角錐形状の保持凹部１２ｂが形成
されている。
【００１８】そして、この保持凹部１２ｂに、３個の球
面状部材１３，１４，１５が収納され、これら球面状部
材１３，１４，１５が互いに、他の２つと当接してい
る。
面状部材１３，１４，１５が収納され、これら球面状部
材１３，１４，１５が互いに、他の２つと当接してい
る。
【００１９】次に、かかる測定子校正装置１１を用いて
測定子６の径ｄを校正する方法について説明する。
測定子６の径ｄを校正する方法について説明する。
【００２０】まず、保持凹部１２ｂに３つの球面状部材
１３，１４，１５を保持する。この際には、保持凹部１
２ｂは、三角推状のくぼみであるため、このくぼみの斜
面と球面状部材１３，１４，１５の自重による作用で、
この球面状部材１３，１４，１５は三角錐の頂点に向け
て転がろうとすることから、球面状部材１３，１４，１
５同士の当接が確実で強固なものとなる。この状態で、
校正対象である測定子８を用いて、互いに当接しあって
いる任意の２個の球面状部材１３，１４，１５の頂点を
含む表面の一部分１３ａ,１４ａ，１５ａ（図１（ａ）
中斜線で示す）を座標測定する。
１３，１４，１５を保持する。この際には、保持凹部１
２ｂは、三角推状のくぼみであるため、このくぼみの斜
面と球面状部材１３，１４，１５の自重による作用で、
この球面状部材１３，１４，１５は三角錐の頂点に向け
て転がろうとすることから、球面状部材１３，１４，１
５同士の当接が確実で強固なものとなる。この状態で、
校正対象である測定子８を用いて、互いに当接しあって
いる任意の２個の球面状部材１３，１４，１５の頂点を
含む表面の一部分１３ａ,１４ａ，１５ａ（図１（ａ）
中斜線で示す）を座標測定する。
【００２１】ここで、表面の一部分１３ａ,１４ａ，１
５ａの範囲は、測定された座標値に対し球面のフィッテ
ィング計算処理が計算可能で球面の中心座標と半径が算
出可能な広さを有していれば特に範囲の制限はない。
５ａの範囲は、測定された座標値に対し球面のフィッテ
ィング計算処理が計算可能で球面の中心座標と半径が算
出可能な広さを有していれば特に範囲の制限はない。
【００２２】例えば、球面状部材１３と球面状部材１４
を選択したとする。それぞれの測定値に対し最適にフィ
ッティングされた２つの球面の中心間距離をＬ（13,1
4）、測定子６の径を任意の値ｄ’と仮定して算出した
球面状部材１３,１４のそれぞれの半径値をＲ１３、Ｒ
１４とすると、測定子６の実際の径ｄは、 ｄ＝ｄ’＋（Ｒ１３＋Ｒ１４）−Ｌ(13,14) として得られる。
を選択したとする。それぞれの測定値に対し最適にフィ
ッティングされた２つの球面の中心間距離をＬ（13,1
4）、測定子６の径を任意の値ｄ’と仮定して算出した
球面状部材１３,１４のそれぞれの半径値をＲ１３、Ｒ
１４とすると、測定子６の実際の径ｄは、 ｄ＝ｄ’＋（Ｒ１３＋Ｒ１４）−Ｌ(13,14) として得られる。
【００２３】このようにして測定子６の実際の径ｄを校
正できるため、従来のような平面１ａを有する平面状部
材１が必要ないことから、高精度の校正を行うことがで
きる。
正できるため、従来のような平面１ａを有する平面状部
材１が必要ないことから、高精度の校正を行うことがで
きる。
【００２４】また、上記では、球面状部材１３と球面状
部材１４の組み合わせで校正したが、他の２通りの組み
合わせを用いることもできる。すなわち、球面状部材１
３と球面状部材１５の組み合わせ、又は、球面状部材１
４と球面状部材１５の組み合わせを用いても同様にして
測定子６の実際の径ｄを算出することが可能である。
部材１４の組み合わせで校正したが、他の２通りの組み
合わせを用いることもできる。すなわち、球面状部材１
３と球面状部材１５の組み合わせ、又は、球面状部材１
４と球面状部材１５の組み合わせを用いても同様にして
測定子６の実際の径ｄを算出することが可能である。
【００２５】さらに、これら３つの組み合わせによって
得られた径ｄの値を平均することで、測定誤差や計算誤
差などによる校正誤差を低減することが可能となる。
得られた径ｄの値を平均することで、測定誤差や計算誤
差などによる校正誤差を低減することが可能となる。
【００２６】［発明の実施の形態２］図２には、この発
明の実施の形態２を示す。
明の実施の形態２を示す。
【００２７】この実施の形態２は、保持部材１７の上面
部１７ａに、四角錐形状の保持凹部１７ｂが形成され、
この保持凹部１７ｂに計４つの球面状部材１８，１９，
２０，２１が保持されている。
部１７ａに、四角錐形状の保持凹部１７ｂが形成され、
この保持凹部１７ｂに計４つの球面状部材１８，１９，
２０，２１が保持されている。
【００２８】そして、球面状部材１８又は球面状部材２
１は、他の２つの球面状部材１９，２０と当接し、球面
状部材１９又は球面状部材２０は、他の３つと当接する
ようになっている。
１は、他の２つの球面状部材１９，２０と当接し、球面
状部材１９又は球面状部材２０は、他の３つと当接する
ようになっている。
【００２９】この場合には、当接する２つの球面状部材
１８，１９，２０，２１の組み合わせにより、実施の形
態１と同様の方法により、測定子６の実際の径ｄを校正
することができる。
１８，１９，２０，２１の組み合わせにより、実施の形
態１と同様の方法により、測定子６の実際の径ｄを校正
することができる。
【００３０】また、この実施の形態２では、５通りの球
面状部材１８，１９，２０，２１の組み合わせができる
ため、５つの組み合わせによって得られた径ｄの値を平
均することで、測定誤差や計算誤差などによる校正誤差
を、実施の形態１よりも更に低減することが可能とな
る。
面状部材１８，１９，２０，２１の組み合わせができる
ため、５つの組み合わせによって得られた径ｄの値を平
均することで、測定誤差や計算誤差などによる校正誤差
を、実施の形態１よりも更に低減することが可能とな
る。
【００３１】なお、上記各実施の形態では、球面状部材
を３個、又は４個用いた場合の例を示したが、これに限
らず、互いに当接しあうように保持された少なくとも２
個の球面状部材があればよい。しかも、保持部として、
三角錐又は四角錐形状の保持凹部１２ｂ，１７ｂを適用
したが、これに限らず、例えば、従来例のように、平面
状部材１の上に保持部３を配設して、この保持部３の内
側に複数の球面状部材を保持するようにすることもでき
る。つまり、この発明の保持部は、複数の球面状部材を
当接状態で保持できれば、その構造は如何なるものでも
良い。また、各々の球面状部材の径は既知である必要は
なく、各球面状部材の径がすべて異なっていても校正可
能である。
を３個、又は４個用いた場合の例を示したが、これに限
らず、互いに当接しあうように保持された少なくとも２
個の球面状部材があればよい。しかも、保持部として、
三角錐又は四角錐形状の保持凹部１２ｂ，１７ｂを適用
したが、これに限らず、例えば、従来例のように、平面
状部材１の上に保持部３を配設して、この保持部３の内
側に複数の球面状部材を保持するようにすることもでき
る。つまり、この発明の保持部は、複数の球面状部材を
当接状態で保持できれば、その構造は如何なるものでも
良い。また、各々の球面状部材の径は既知である必要は
なく、各球面状部材の径がすべて異なっていても校正可
能である。
【００３２】
【発明の効果】以上説明してきたように、請求項１に記
載された発明によれば、少なくとも２個以上の球面状部
材と、この各々の球面状部材が少なくとも１個以上の他
の球面状部材と当接するように保持する保持部を有する
保持部材とを有する測定子校正装置を用いることによ
り、従来のように加工の難しい平面を使用することな
く、測定子の実際の径を校正できることから、校正精度
を向上させることができる。
載された発明によれば、少なくとも２個以上の球面状部
材と、この各々の球面状部材が少なくとも１個以上の他
の球面状部材と当接するように保持する保持部を有する
保持部材とを有する測定子校正装置を用いることによ
り、従来のように加工の難しい平面を使用することな
く、測定子の実際の径を校正できることから、校正精度
を向上させることができる。
【００３３】請求項２に記載された発明によれば、請求
項１の効果に加え、前記保持部は、三角錐形状の保持凹
部であり、該保持凹部に３個の球面状部材が他の２つの
球面状部材と当接するように保持されることにより、各
球面状部材は互いに当接し合う方向に転がろうとするた
め、これら球面状部材同士の当接が強固なものとなり、
その結果、適正な校正が行われることとなる。また、三
角錐形状の保持凹部は保持部材に一体成形されているた
め、従来のように別体の保持部３を設けるものと比較す
ると部品点数の削減が図られる。しかも、３個の球面状
部材により、３通りの校正を行うことができ、より校正
の適正化を図ることができる。
項１の効果に加え、前記保持部は、三角錐形状の保持凹
部であり、該保持凹部に３個の球面状部材が他の２つの
球面状部材と当接するように保持されることにより、各
球面状部材は互いに当接し合う方向に転がろうとするた
め、これら球面状部材同士の当接が強固なものとなり、
その結果、適正な校正が行われることとなる。また、三
角錐形状の保持凹部は保持部材に一体成形されているた
め、従来のように別体の保持部３を設けるものと比較す
ると部品点数の削減が図られる。しかも、３個の球面状
部材により、３通りの校正を行うことができ、より校正
の適正化を図ることができる。
【００３４】請求項３に記載された発明によれば、請求
項１の効果に加え、前記保持部は、四角錐形状の保持凹
部であり、該保持凹部に４個の球面状部材が少なくとも
他の２つの球面状部材と当接するように保持されること
により、請求項２と同様、各球面状部材は互いに当接し
合う方向に転がろうとするため、これら球面状部材同士
の当接が強固なものとなり、その結果、適正な校正が行
われることとなる。また、三角錐形状の保持凹部は保持
部材に一体成形されているため、従来のように別体の保
持部３を設けるものと比較すると部品点数の削減が図ら
れる。しかも、しかも、４個の球面状部材により、５通
りの校正を行うことができ、より校正の適正化を図るこ
とができる。
項１の効果に加え、前記保持部は、四角錐形状の保持凹
部であり、該保持凹部に４個の球面状部材が少なくとも
他の２つの球面状部材と当接するように保持されること
により、請求項２と同様、各球面状部材は互いに当接し
合う方向に転がろうとするため、これら球面状部材同士
の当接が強固なものとなり、その結果、適正な校正が行
われることとなる。また、三角錐形状の保持凹部は保持
部材に一体成形されているため、従来のように別体の保
持部３を設けるものと比較すると部品点数の削減が図ら
れる。しかも、しかも、４個の球面状部材により、５通
りの校正を行うことができ、より校正の適正化を図るこ
とができる。
【００３５】請求項４に記載された発明によれば、従来
のように加工の難しい平面を使用することなく、測定子
の実際の径を校正できることから、校正精度を向上させ
ることができる。
のように加工の難しい平面を使用することなく、測定子
の実際の径を校正できることから、校正精度を向上させ
ることができる。
【００３６】請求項５に記載された発明によれば、請求
項４の効果に加え、３個以上配設された球面状部材の、
互いに当接する複数の組み合わせに基づいて、各々の組
み合わせにおける測定子の実際の径ｄを校正し、該各径
ｄ…の平均値を求めることにより、測定誤差や計算誤差
などによる校正誤差を低減することができる、という実
用上有益な効果を発揮する。
項４の効果に加え、３個以上配設された球面状部材の、
互いに当接する複数の組み合わせに基づいて、各々の組
み合わせにおける測定子の実際の径ｄを校正し、該各径
ｄ…の平均値を求めることにより、測定誤差や計算誤差
などによる校正誤差を低減することができる、という実
用上有益な効果を発揮する。
【図１】この発明の実施の形態１に係る測定子校正装置
を示す図で、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図である。
を示す図で、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図である。
【図２】この発明の実施の形態２に係る測定子校正装置
を示す図で、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図である。
を示す図で、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図である。
【図３】従来例を示す図で、（ａ）は平面図、（ｂ）は
正面図である。
正面図である。
11 測定子校正装置 12,17 保持部材 12b,17b 保持凹部 13,14,15,18,19,20,21 球面状部材
Claims (5)
- 【請求項１】 少なくとも２個以上の球面状部材と、 該各々の球面状部材が少なくとも１個以上の他の球面状
部材と当接するように保持する保持部を有する保持部材
とを有することを特徴とする測定子校正装置。 - 【請求項２】 前記保持部は、三角錐形状の保持凹部で
あり、該保持凹部に３個の球面状部材が他の２つの球面
状部材と当接するように保持されたことを特徴とする請
求項１記載の測定子校正装置。 - 【請求項３】 前記保持部は、四角錐形状の保持凹部で
あり、該保持凹部に４個の球面状部材が少なくとも他の
２つの球面状部材と当接するように保持されたことを特
徴とする請求項１記載の測定子校正装置。 - 【請求項４】 請求項１乃至３の何れか一つに記載の測
定子校正装置を使用し、測定子の径を任意の値ｄ’と仮
定して、当接する２個の球面状部材の半径Ｒ１,Ｒ２
と、該両球面状部材の中心間距離Ｌとを測定し、測定子
の実際の径ｄを式 ｄ＝ｄ’＋（Ｒ１＋Ｒ２）−Ｌ より校正することを特徴とする測定子校正方法。 - 【請求項５】 請求項４に記載の測定子校正方法によ
り、３個以上配設された球面状部材の、互いに当接する
複数の組み合わせに基づいて、各々の組み合わせにおけ
る測定子の実際の径ｄを校正し、該各径ｄ…の平均値を
求めることを特徴とする測定子校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8312848A JPH10141904A (ja) | 1996-11-09 | 1996-11-09 | 測定子校正装置及び測定子校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8312848A JPH10141904A (ja) | 1996-11-09 | 1996-11-09 | 測定子校正装置及び測定子校正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10141904A true JPH10141904A (ja) | 1998-05-29 |
Family
ID=18034162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8312848A Pending JPH10141904A (ja) | 1996-11-09 | 1996-11-09 | 測定子校正装置及び測定子校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10141904A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000079216A1 (fr) * | 1999-06-18 | 2000-12-28 | Japan As Represented By Director General Of Agency Of Industrial Science And Technology | Calibre à rangée de billes |
| JP2012002726A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-01-05 | Konica Minolta Opto Inc | 校正用冶具、校正方法、及び該校正用冶具が搭載可能な形状測定装置 |
-
1996
- 1996-11-09 JP JP8312848A patent/JPH10141904A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000079216A1 (fr) * | 1999-06-18 | 2000-12-28 | Japan As Represented By Director General Of Agency Of Industrial Science And Technology | Calibre à rangée de billes |
| US6493957B1 (en) * | 1999-06-18 | 2002-12-17 | Japan As Represented By Director General Of Agency Of Industrial Science And Technology | Ball step gauge |
| JP2012002726A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-01-05 | Konica Minolta Opto Inc | 校正用冶具、校正方法、及び該校正用冶具が搭載可能な形状測定装置 |
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