JPH10132846A - 加速度センサおよびその製造方法 - Google Patents

加速度センサおよびその製造方法

Info

Publication number
JPH10132846A
JPH10132846A JP9244240A JP24424097A JPH10132846A JP H10132846 A JPH10132846 A JP H10132846A JP 9244240 A JP9244240 A JP 9244240A JP 24424097 A JP24424097 A JP 24424097A JP H10132846 A JPH10132846 A JP H10132846A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
core
acceleration sensor
silicon dioxide
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9244240A
Other languages
English (en)
Inventor
Benedetto Vigna
ビーニャ ベネデット
Paolo Ferrari
フェラーリ パオロ
Ubaldo Mastromatteo
マストロマテオ ウバルド
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SGS THOMSON MICROELECTRONICS
STMicroelectronics SRL
Original Assignee
SGS THOMSON MICROELECTRONICS
SGS Thomson Microelectronics SRL
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SGS THOMSON MICROELECTRONICS, SGS Thomson Microelectronics SRL filed Critical SGS THOMSON MICROELECTRONICS
Publication of JPH10132846A publication Critical patent/JPH10132846A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/11Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by inductive pick-up

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板上にプレナー技術によって形成された加
速度センサを得る。 【解決手段】 基板10上に、強磁性体のコア11と、
このコアによって電磁結合された電源14に接続される
べき第1の捲線13と誘導された電気量を測定するため
の回路手段16に接続されるべき第2の捲線15とを含
み、コア11はさらにこのセンサの加速度的移動による
慣性力の結果として自由に屈曲する少なくとも1個の懸
垂部分を有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、加速度を電気量に
変換するための素子に関し、特に加速度センサおよびそ
の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】加速度センサは、多くの技術分野で使用
されている。例えば自動車産業においては、エアバッ
グ、ABSブレーキシステム、アクティブサスペンショ
ン、慣性オリエンテーションおよび幾つかのエンジン部
分のような各種の装置の制御に使用されている。
【0003】構造が異なりさらに動作原理が異なる種々
のタイプの加速度センサが周知である。近年、肉眼で観
察できる大きさに作られ、加速度に対して敏感な機械ス
イッチによって本質的に構成された通常のセンサと共
に、プレナー技術のような半導体装置に対して典型的な
技術を使用した小型のプレナー型センサも開発され、か
つ利用されている。多くの場合、これらは、形成された
信号の増幅および処理のために必要な回路および電子部
品と共に半導体材料の基板上に形成されている。この後
者のセンサは通常のセンサに対して、小型であることと
同様に多くの効果を有している。これらは即ち、低コス
ト、高い信頼性、改良された信号−雑音比、処理および
メモリ装置との集積性、優れた再現性、等である。
【0004】プレナーセンサの製造方法は、通常シリコ
ンである半導体材料のウエファの両面上に本質的にバル
クマイクロマシン技術によって加工を施すこと、また
は、堆積および薄膜の選択的除去および表面マイクロマ
シン技術によって、一方の表面上に加工を施すことを基
本としている。後者のタイプの加工は、センサをその処
理回路と一体化するために特に適している。
【0005】プレナーセンサの動作に関しては、機械的
サスペンション素子によって基板に固定されたいわゆる
振動容積を有する構造体への加速効果に基づいている。
加速度による慣性力に従う場合、この振動容積は基板に
対して移動し、恐らく変形しさらにサスペンション手段
に応力を生じさせる。この移動および/または変形およ
び/または応力は電気信号に変換され、その後必要に応
じて増幅され処理される。
【0006】周知のセンサにおいて、振動容積はコンデ
ンサーの第1の電極で構成され、このコンデンサーの第
2の電極は基板中に存在する。振動容積の移動はコンデ
ンサーの容量に変化を生じ、この変化は次に適切な回路
によって検出され処理される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、表面
マイクロマシン技術によって製造され、その動作は基板
に固定された素子上の慣性力効果に基づき、かつ集積回
路製造のための通常の工業的製法と両立する技術によっ
て容易に製造することが可能であり、さらに非常に小型
でありかつアナログ信号を形成することが可能なタイプ
のセンサを提供する事である。
【0008】本発明のその他の目的は、上述したタイプ
のセンサを製造するための方法を提供する事である。
【0009】
【課題を解決するための手段】これらの目的は、基板
(10)上にプレナー技術によって形成された加速度セ
ンサであって、強磁性体のコア(11)と、このコアに
よって共に電磁結合された、電源(14)に接続される
べき第1の捲線(13)と誘導された電気量を測定する
ための回路手段(16)に接続されるべき第2の捲線
(15)とを含み、前記コア(11)は当該センサ自身
の加速的移動による慣性力の結果として自由に屈曲する
少なくとも1個の懸垂部分を有する、加速度センサによ
って達成される。さらにこれらの目的は、単結晶シリコ
ン(10)を含むウエファを高温の酸化環境内で酸化し
て局所的に成長させ、前記ウエファ上の凹部領域に隣接
する二酸化シリコンの一段高いパッド(23)を形成
し、前記凹部領域上に窒化シリコンの第1の層(20)
を形成し、前記窒化シリコンの第1の層(20)上およ
び前記パッド(23)上に二酸化シリコンの第1の層
(21)を形成し、前記パッド(23)上に隣接する金
属セグメント(24)の第1列および第2列を形成し、
前記凹部領域および前記パッド(23)上に窒化シリコ
ンの第2の層(25)を形成して前記金属セグメント
(24)を被覆し、前記金属セグメント(24)上に強
磁性体材料のコア(28)を形成し、前記凹部領域およ
び前記パッド(23)上に二酸化シリコンの第2の層
(27)を形成して前記コア(28)を封入し、隣接す
る金属セグメントの第3および第4列を、隣接する金属
セグメント(24)の前記第1および第2の列および、
前記第1(24)および第3(30)列のセグメント間
および前記第2(24)および第4(30)列のセグメ
ント間の複数の電気接触経路(31)上に形成して前記
第1の捲線(13)および前記第2の捲線(15)をそ
れぞれ形成し、前記二酸化シリコンの第2の層(27)
を部分的に除去して前記コア(28)の少なくとも一部
分を露出し、前記二酸化シリコンの第2の層(27)の
部分的な除去によって露出されたままに残された前記窒
化シリコンの第2の層(25)を除去し、前記二酸化シ
リコンの第2の層(27)の除去によって露出されたま
まに残された前記二酸化シリコンの第1の層(21)に
等方的化学エッチングを施して前記凹部領域全体に渡っ
て前記窒化シリコンの第1の層(20)を露出しそれに
よって前記コア(28)の前記部分が懸垂状でかつ前記
ウエファの前記凹部領域から離れたままであるようにす
る、各ステップによって、加速度センサを製造すること
によって、達成される。
【0010】本発明は、以下に述べる本発明の、図面を
参照した非限定的な一実施例の詳細な記載によってより
明瞭に理解されるであろう。
【0011】
【発明の実施の形態】まず図1〜3を参照すると、本発
明に基づくセンサは、基板上にプレナー技術によって形
成された集積化トランス(変換器)と実質的に同じ構成
を有している。このトランスのコア11は、例えばシリ
コンウエファ10である基板上に形成されている。コア
はフレーム形状を有し、かつ基板10に固定されてはい
るが、例えば二酸化シリコンである誘電材料層12によ
って基板10から絶縁された、対向する2個の側部を含
む、2個の部分を有している。金属の導電体で構成され
た2個の捲線がコアの対向する2側部の周りに形成さ
れ、コアから絶縁され、誘電体層12中に封入されてい
る。励起コイルとして働く2個の捲線の一方13は、例
えば図示する定電源14である外部電源に接続されてい
る。読出コイルとして働く他方の捲線15は、これに誘
起された電気量を測定するために、図にブロック16で
示す測定手段に接続されている。
【0012】誘電体層12はコアの下側部分に開口17
を有し、それによってコアの他の対向する2側部はそれ
ぞれ懸垂部分、すなわち適当な応力が加わると自由に屈
曲できる部分を有するようになる。このセンサの動作
は、トランスと同じ動作原理、すなわち磁気フラックス
の変化による起電力の発生、に基づいている。励起コイ
ルはコア中に磁気フラックスを発生し、コアは、その磁
気フラックスが変化した場合、読出コイル中に電圧を誘
起する。しかしながら通常のトランス中では、励起コイ
ルには時間とともに変化する電圧が供給されるのに対
し、本発明に基づくセンサでは励起コイル13には定電
圧が供給され、さらに磁気フラックスの変化は加速度に
よるコア11の幾何学的変形によって起こされる。さら
に特定すると、その構造体が、図3に矢印で示すように
基板に垂直な加速度を受けた場合、コア11の懸垂部分
は屈曲し、この部分に働く慣性力の結果として長くな
る。コア11が長くなることによって、コアによって形
成される磁気回路内の磁気抵抗に変化が生じ、この変化
は読出コイル15によってその端子間の電圧として検出
される。
【0013】解析的には、センサの動作は、コア中の磁
気フラックスをコイルを通過する(定)電流Iに結合す
るための法則(ホプキンソンの法則): N1 I=RΦ を考察することによって、説明される。ここに、N1
励起コイル13中の巻きの数であり、Rはコア11の磁
気抵抗であり、さらに磁気抵抗の法則は、
【0014】
【数1】
【0015】である。なおμはコアを形成する材料の透
磁率を示し、LおよびSはそれぞれ磁気回路の長さおよ
び面積である。読出コイル中に誘起される電圧Vの絶対
値は以下の式で示される。
【0016】
【数2】
【0017】なお、N2 は読出コイル15中の巻きの
数、さらにAは加速度である。したがって電圧Vの測定
は加速度Aの大きさを示す。本発明にかかる加速度セン
サを製造するために、まず基板10から始める。この基
板は、単結晶シリコンで構成され、このシリコン中には
モノリシック集積回路を製造するための周知の技術によ
って、センサからの信号を増幅し処理するために必要な
回路が形成されている。
【0018】図4は、製造方法の最終段階の、本発明に
かかる加速度センサを含む基板10の一部分を示してい
る。処理過程の種々の段階を、図5〜10を参照して示
す。図5〜10の各(a)図は、図4のA−A線上の断
面構造を示し、図5〜10の各(b)図は図4のB−B
線上の断面構造を示す。図5(a)および(b)は、誘
電体層の堆積直後の製造過程における基板10を示すも
のである。なおこの誘電体層は、例えばMOSFETト
ランジスタのゲート電極である多結晶シリコンの回路素
子を次の過程で形成される金属から絶縁するための物で
ある。通常の方法ではこの誘電体は二酸化シリコン単体
で形成されるが、本発明の方法では窒化シリコン層20
とその上に重畳された二酸化シリコン層21とで構成さ
れている。この基板は、部分的に単結晶シリコン中に封
入された二酸化シリコン(フィールド酸化物)のパッド
23を有し、これらのパッドは基板を取り囲むことによ
って凹部領域(活性領域)を区画する。この構造は、M
OSタイプの集積回路を製造するために一般的に使用さ
れる、高温酸化雰囲気中での局所的な成長のための周知
の酸化技術によって製造される。
【0019】例えばアルミニウムの金属層を二酸化シリ
コン層21上に堆積し、これらによって、捲線13およ
び15の一部分を構成するように意図され、図4に30
で示すものと同じように隣接する二列に配置された、金
属セグメント24を周知の写真製版技術によって形成す
る。この全体は次に窒化シリコンの層25(図6(a)
および(b)参照)によって被覆される。金属層26
は、例えばクロム−銅−クロムの多重層であり、気相成
長法によって後者(層25)上に形成されて強磁性体コ
ア材料を基板に強固に固定し、その後例えばポリアミド
樹脂であるポリマ層27をスピン塗布し炉中で焼成する
ことにより形成する。ポリマ層27中にフレーム形状の
凹部を、アルミニウムマスクを介したプラズマエッチン
グによって形成する。形成された凹部にはその後、例え
ば鉄(19%)およびニッケル(81%)の強磁性体合
金を電気分解によって充填し、コア28を形成する。図
7(a)および(b)に示す構造は、この様にして得ら
れる。
【0020】次にポリマ層27の残りの部分および窒化
層26の非被覆部分を除去する。その後、テトラオルソ
シリケイト(TEOS)を低圧で気相堆積(LPCV
D)して分解することにより、二酸化シリコン層29を
形成する。次に開口を層29中に形成して、金属セグメ
ント24と捲線13および15の巻きを完成するための
同様のセグメントとの間の接続経路を形成する。参照番
号30で示すこれらのセグメントおよび参照番号31で
示す接続経路は、例えばアルミニウムである第2の金属
の堆積およびその後の選択エッチングによる、通常の写
真製版技術により形成される。次に燐を注入した二酸化
シリコン層32を、絶縁およびパッシベーションのため
に堆積する。この時点で、この場合は長方形である開口
を、化学エッチングによって二酸化シリコン層32およ
び29中に(図9(a)および(b)参照)、その後窒
化シリコンの下地層25中に形成することによって、フ
レーム形状のコアの平行する2側部の、2部分を露出す
る(図1)。
【0021】最後にこの構造体は、開口を通じてアクセ
スできる部分の二酸化シリコンを除去するために、例え
ばフッ化水素酸による等方性の化学エッチング処理に完
全に従い、その結果窒化物層20を露出する。このよう
にして、図10(a)および(b)に示す構造体が得ら
れる。この構造体に対して、電気接触をその外部に形成
する作業が実行され、その後通常の方法で金属ケース内
に密封される。この作業は好ましくは大気圧以下の空気
中あるいは窒素ガス中で実行される。
【0022】本発明の一実施例についてのみ記載しかつ
説明したが、この実施例に対して同じ発明的概念に基づ
いて種々の変更および修正が可能であることは自明であ
る。例えば、強磁性体コアは異なる形状、例えば閉じた
形状である代わりに開放された形状であってもよく、さ
らに両端に結合された懸垂部分の代わりに1個以上のひ
じ木部分を有していてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の加速度センサの概略構成を示す平面図
である。
【図2】図1に示す加速度センサのII-II 線上断面図で
ある。
【図3】図1に示す加速度センサのIII-III 線上断面図
である。
【図4】本発明の加速度センサの部分的な断面斜視図で
ある。
【図5】図4に示す加速度センサの、一製造段階におけ
る部分断面図であり、図(a)はA−A線上の、図
(b)はB−B線上の断面図である。
【図6】図4に示す加速度センサの、他の一製造段階に
おける部分断面図であり、図(a)はA−A線上の、図
(b)はB−B線上の断面図である。
【図7】図4に示す加速度センサの、更に他の一製造段
階における部分断面図であり、図(a)はA−A線上
の、図(b)はB−B線上の断面図である。
【図8】図4に示す加速度センサの、更に他の一製造段
階における部分断面図であり、図(a)はA−A線上
の、図(b)はB−B線上の断面図である。
【図9】図4に示す加速度センサの、更に他の一製造段
階における部分断面図であり、図(a)はA−A線上
の、図(b)はB−B線上の断面図である。
【図10】図4に示す加速度センサの、更に他の一製造
段階における部分断面図であり、図(a)はA−A線上
の、図(b)はB−B線上の断面図である。
【符号の説明】
10…基板 11…強磁性体コア 13…第1の捲線 14…電源 15…第2の捲線 16…回路 20…第1の窒化シリコン層 21…第1の二酸化シリコン層 23…パッド 24…金属セグメント 25…第2の窒化シリコン層 27…第2の二酸化シリコン層 28…強磁性体コア 30…第4のセグメント列 31…電気接触経路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウバルド マストロマテオ イタリア国,20010 コルナレド−ミラノ, ビア ブレーラ,18−チ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板(10)上にプレナー技術によって
    形成された加速度センサであって、強磁性体のコア(1
    1)と、このコアによって共に電磁結合された、電源
    (14)に接続されるべき第1の捲線(13)と誘導さ
    れた電気量を測定するための回路手段(16)に接続さ
    れるべき第2の捲線(15)とを含み、前記コア(1
    1)は当該センサ自身の加速的移動による慣性力の結果
    として自由に屈曲する少なくとも1個の懸垂部分を有す
    る、加速度センサ。
  2. 【請求項2】 前記コア(11)は基板(10)に固定
    された二個の対向する側部を有するフレーム形状であっ
    て、前記基板(10)は他の二個の対向する側部に少な
    くとも対応する凹部を有し、これによって前記コアの二
    個の部分を懸垂状にするものである、請求項1に記載の
    加速度センサ。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載した加速度セン
    サと該加速度センサが形成されたものと同じ基板中に形
    成された処理回路を含む、加速度を電気量に変換するた
    めの装置。
  4. 【請求項4】 前記センサを有する前記基板を大気中で
    密封するためのケースを含む、請求項3に記載の加速度
    を電気量に変換するための装置。
  5. 【請求項5】 前記センサを有する前記基板を窒素ガス
    中で密封するためのケースを含む、請求項3に記載の加
    速度を電気量に変換するための装置。
  6. 【請求項6】 請求項1に記載の加速度センサを製造す
    るための方法であって、 単結晶シリコン(10)を含むウエファを高温の酸化環
    境内で酸化して局所的に成長させ、前記ウエファ上の凹
    部領域に隣接する二酸化シリコンの一段高いパッド(2
    3)を形成し、 前記凹部領域上に窒化シリコンの第1の層(20)を形
    成し、 前記窒化シリコンの第1の層(20)上および前記パッ
    ド(23)上に二酸化シリコンの第1の層(21)を形
    成し、 前記パッド(23)上に隣接する金属セグメント(2
    4)の第1列および第2列を形成し、 前記凹部領域および前記パッド(23)上に窒化シリコ
    ンの第2の層(25)を形成して前記金属セグメント
    (24)を被覆し、 前記金属セグメント(24)上に強磁性体材料のコア
    (28)を形成し、 前記凹部領域および前記パッド(23)上に二酸化シリ
    コンの第2の層(27)を形成して前記コア(28)を
    封入し、 隣接する金属セグメントの第3および第4列を、隣接す
    る金属セグメント(24)の前記第1および第2の列お
    よび、前記第1(24)および第3(30)列のセグメ
    ント間および前記第2(24)および第4(30)列の
    セグメント間の複数の電気接触経路(31)上に形成し
    て前記第1の捲線(13)および前記第2の捲線(1
    5)をそれぞれ形成し、 前記二酸化シリコンの第2の層(27)を部分的に除去
    して前記コア(28)の少なくとも一部分を露出し、 前記二酸化シリコンの第2の層(27)の部分的な除去
    によって露出されたままに残された前記窒化シリコンの
    第2の層(25)を除去し、 前記二酸化シリコンの第2の層(27)の除去によって
    露出されたままに残された前記二酸化シリコンの第1の
    層(21)に等方的化学エッチングを施して前記凹部領
    域全体に渡って前記窒化シリコンの第1の層(20)を
    露出しそれによって前記コア(28)の前記部分が懸垂
    状でかつ前記ウエファの前記凹部領域から離れたままで
    あるようにする、各ステップを含む請求項1に記載の加
    速度センサを製造するための方法。
JP9244240A 1996-09-10 1997-09-09 加速度センサおよびその製造方法 Pending JPH10132846A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP96830464A EP0828160B1 (en) 1996-09-10 1996-09-10 Acceleration sensor and a method for its manufacture
IT96830464:2 1996-09-10

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10132846A true JPH10132846A (ja) 1998-05-22

Family

ID=8226003

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9244240A Pending JPH10132846A (ja) 1996-09-10 1997-09-09 加速度センサおよびその製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6003374A (ja)
EP (1) EP0828160B1 (ja)
JP (1) JPH10132846A (ja)
DE (1) DE69617674T2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001009799A (ja) * 1999-03-22 2001-01-16 Stmicroelectronics Srl 埋込接続を備えた微小集積構造、特に、ハードディスクドライブユニット用の集積マイクロアクチュエータを製造する方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ITTO20040436A1 (it) 2004-06-28 2004-09-28 St Microelectronics Srl Dispositivo di rilevamento di caduta libera per la protezione di apparecchi portatili.
US10648786B2 (en) 2017-09-01 2020-05-12 Nanohmics, Inc. Magnetoelastic sensor for analyzing strain
CN109991442A (zh) * 2017-12-30 2019-07-09 大连良华科技有限公司 一种免温度补偿的加速度传感器

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3307405A (en) * 1964-05-27 1967-03-07 Lockheed Aircraft Corp Ferrimagnetic pressure transducer
US3664187A (en) * 1970-06-03 1972-05-23 Saab Scania Ab Transducer for measuring mechanical forces
GB1300367A (en) * 1971-03-12 1972-12-20 Fiat Spa Differential magnetic accelerometer device
US4322973A (en) * 1980-08-29 1982-04-06 Aisin Seiki Company, Limited Acceleration and deceleration sensor
JPS63252257A (ja) * 1986-11-20 1988-10-19 Aisin Seiki Co Ltd 加速度検出装置
US5195377A (en) * 1990-04-17 1993-03-23 Garshelis Ivan J Magnetoelastic force transducer for sensing force applied to a ferromagnetic member using leakage flux measurement
US5142227A (en) * 1990-06-04 1992-08-25 Allied-Signal Inc. Method and apparatus for measuring strain within a ferromagnetic material by sensing change in coercive field
US5723789A (en) * 1994-01-12 1998-03-03 Shannon; E. Paul Impact responsive sensor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001009799A (ja) * 1999-03-22 2001-01-16 Stmicroelectronics Srl 埋込接続を備えた微小集積構造、特に、ハードディスクドライブユニット用の集積マイクロアクチュエータを製造する方法
JP4542226B2 (ja) * 1999-03-22 2010-09-08 エスティーマイクロエレクトロニクス エス.アール.エル. 埋込接続を備えた微小集積構造、特に、ハードディスクドライブユニット用の集積マイクロアクチュエータを製造する方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE69617674T2 (de) 2002-08-08
EP0828160B1 (en) 2001-12-05
EP0828160A1 (en) 1998-03-11
DE69617674D1 (de) 2002-01-17
US6003374A (en) 1999-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100660596B1 (ko) 자기 임피던스 소자, 그를 이용한 센서 장치 및 그 제조방법
KR100600685B1 (ko) 물리량 센서
US5830777A (en) Method of manufacturing a capacitance type acceleration sensor
US5504356A (en) Semiconductor accelerometer
US7208947B2 (en) Fluxgate sensor integrated in a semiconductor substrate and method for manufacturing the same
EP0582797B1 (en) Laterally sensitive accelerometer and method for making
JP5740093B2 (ja) 永久磁石を備えた磁場成分の勾配センサ
JPH09501231A (ja) 静電力平衡型シリコン加速度計
US9340408B2 (en) Sensor chip having a micro inductor structure
TW201447341A (zh) 壓力感測器、聲音麥克風、血壓感測器及觸控面板
JPH0750789B2 (ja) 半導体圧力変換装置の製造方法
KR101762977B1 (ko) 자기장 센서 및 이의 제조 방법
US6763719B2 (en) Acceleration sensor
US20030057447A1 (en) Acceleration sensor
JPH10132846A (ja) 加速度センサおよびその製造方法
US20060001113A1 (en) Magnetic sensor of very high sensitivity
JP4174853B2 (ja) 半導体力学量センサの製造方法及び半導体圧力センサの製造方法
US7838320B2 (en) Semiconductor physical quantity sensor and method for manufacturing the same
JPH09116173A (ja) 半導体センサおよびその製造方法
CN114858215B (zh) 一种多传感器组合结构及其加工方法、组合传感器
JP2591429B2 (ja) 磁気抵抗素子
JP2712206B2 (ja) 電流検出装置
JPH07202278A (ja) 超伝導薄膜
JPS6092672A (ja) 加速度センサの製造方法
Kang Design and fabrication of an amplitude detecting polysilicon micromechanical resonating beam magnetometer

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040812

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070814

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080129