JPH10125267A - エネルギーフィルタ - Google Patents

エネルギーフィルタ

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Publication number
JPH10125267A
JPH10125267A JP8273422A JP27342296A JPH10125267A JP H10125267 A JPH10125267 A JP H10125267A JP 8273422 A JP8273422 A JP 8273422A JP 27342296 A JP27342296 A JP 27342296A JP H10125267 A JPH10125267 A JP H10125267A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
pole pieces
electron beam
fixed
passage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8273422A
Other languages
English (en)
Inventor
Kozo Nunome
布目浩三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP8273422A priority Critical patent/JPH10125267A/ja
Priority to US08/951,247 priority patent/US6015973A/en
Publication of JPH10125267A publication Critical patent/JPH10125267A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/44Energy spectrometers, e.g. alpha-, beta-spectrometers
    • H01J49/46Static spectrometers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】レンズを構成するポールピースの取付精度を簡
単に確認することができると共に、個々のレンズの位置
調整を容易に行う。 【解決手段】基盤12と、該基盤に固定されるレンズ1
3とを有するエネルギーフィルタであって、前記レンズ
は、磁極となる2つのポールピース14、15の間に通
路16が形成されるように、2つのスペーサ17、18
が挟着され取付ネジ19で固定されたことを特徴とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、透過型電子顕微鏡
に組み込まれ、電子線等のエネルギーを分析するための
エネルギーフィルタの技術分野に属する。
【0002】
【従来の技術】図3は、エネルギーフィルタの一種であ
るオメガフィルタの従来の構造を示し、図3(A)は、
図3(B)のB−B線に沿う断面図、図3(B)は、図
3(A)のA−A線に沿う断面図である。オメガフィル
タ1は、中ヨーク2を挟着する二枚の外ヨーク3、4を
有し、中ヨーク2には電子ビーム5a、5bが通過する
略Ω字状の通路6が開口されている。中ヨーク2は、ボ
ルト7により二枚の外ヨーク3、4が取り付けられる
が、二枚の外ヨーク3、4には、略Ω字状の通路3の4
箇所の偏向位置に対向してそれぞれポールピース8がボ
ルト9により固定され、各ポールピース8の外周には電
磁場発生用のコイル10が巻回され、オメガフィルタ1
のレンズが構成されている。入射した電子ビーム5a
は、4つのレンズの作用により偏向され略Ω字状の通路
6に沿って進行し、入射した電子ビーム5aと同一直線
上で電子ビーム5bとして出射される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、オメガフィ
ルタの性能上重要なことは、図3(A)に示す対向する
ポールピース8間のギャップ長Lを所定の寸法精度に保
ち、また、図3(B)に示す各ポールピース8の入射面
8aの角度を所定の寸法精度に保ち、さらに入射面8a
にズレが生じないようにすることである。しかしなが
ら、上記従来のオメガフィルタ1においては、ポールピ
ース8が二枚の外ヨーク3、4にコイル10と共に1個
づつ固定され、さらに外ヨーク3、4が中ヨーク2に固
定される三層構造となっているため、組立完成後の寸法
精度のチェックが不可能であり、また、個々のレンズの
位置調整も不可能であるという問題を有している。
【0004】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
であって、レンズを構成するポールピースの取付精度を
簡単に確認することができると共に、個々のレンズの位
置調整を容易に行うことができるエネルギーフィルタを
提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のエネルギーフィルタは、基盤と、該基盤に
固定されるレンズとを有するエネルギーフィルタであっ
て、前記レンズは、磁極となる2つのポールピースの間
に通路が形成されるように、2つのスペーサが挟着され
取付ネジで固定されたことを特徴とする。
【0006】
【発明の実施の態様】以下、本発明の実施の態様を図面
を参照しつつ説明する。図1及び図2は、本発明のエネ
ルギーフィルタの1実施形態を示し、図1はオメガフィ
ルタの平面図、図2(A)は図1のA−A線に沿って矢
印方向に見た断面図、図2(B)は図1の矢印B方向か
ら見た側面図、図2(C)は図1の矢印C方向から見た
側面図である。
【0007】図1において、オメガフィルタ11は、基
盤12と、基盤12上に固定される4個のレンズ13か
らなり、入射した電子ビーム5aは、4つのレンズの作
用により偏向され略Ω字状の通路16に沿って進行し、
入射した電子ビーム5aと同一直線上で電子ビーム5b
として出射される。
【0008】各レンズ13は、磁極となる円弧状の2つ
のポールピース14、15の間に通路16が形成される
ように、2つのスペーサ17、18が挟着され取付ネジ
19で固定された構造となっており、これにより2つの
ポールピース14、15のギャップ長Lの寸法精度を確
保している。各ポールピース14、15のスペーサ1
7、18側には、入射する電子ビーム5aを偏向させる
ための磁場を発生させるコイル20が設けられている。
【0009】ポールピース14、15の側面には、磁路
となるためのヨーク21が取付ネジ22で固定され、ま
た、レンズ13の電子ビームの出入口には、それぞれ不
必要な漏れ磁場を防止するための漏れ磁場防止部材23
がスペーサ24を介して取付ネジ25で固定されてい
る。なお、26は電子ビーム5aの入射口、27、28
は電子ビームを偏向させないで直進させるための開口で
あり、30はコイルの形状を示している。
【0010】以上のように個々に精度よく組み立てられ
たレンズ13は、精度が保たれている基盤12上に取付
ネジ29で治具等により位置出ししながら固定される。
最終チェックとして、基盤12に取り付けられた各ポー
ルピース14、15のギャップ長、取付角度等が設計値
通りになっているかを検査し、設計値通りになっていな
ければ、取付ネジ29、19を取り外してレンズ13の
寸法精度及び位置を簡単に修正することができる。
【0011】本発明によれば、基盤12にレンズ13が
固定されているため、ポールピース14、15の寸法精
度を簡単に確認できると共に、各レンズ13が独立して
基盤12に固定されているため、個々のレンズの位置調
整が容易で、かつ、個々のレンズの交換が可能となる。
【0012】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではなく、本発明の属する技術分野における通常の
知識を有する者にとって種々の変更が可能である。例え
ば、上記の例では、4個のレンズを用いるオメガフィル
タの例について説明しているが、レンズの数は限定され
るものではなく、ウィーン型、ガンマー型、アルファ型
等、要するにポールピースの取付精度が要求される全て
のエネルギーフィルタに適用されるものである。
【0013】以上の説明から明らかなように本発明によ
れば、レンズを構成するポールピースの取付精度を簡単
に確認することができると共に、個々のレンズの位置調
整を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のエネルギーフィルタの1実施形態を示
し、図1はオメガフィルタの平面図である。
【図2】図2(A)は図1のA−A線に沿って矢印方向
に見た断面図、図2(B)は図1の矢印B方向から見た
側面図、図2(C)は図1の矢印C方向から見た側面図
である。
【図3】エネルギーフィルタの一種であるオメガフィル
タの従来の構造を示し、図3(A)は、図3(B)のB
−B線に沿う断面図、図3(B)は、図3(A)のA−
A線に沿う断面図である。
【符号の説明】
11…オメガフィルタ、12…基盤、13…レンズ 14、15…ポールピース、16…通路、17、18…
スペーサ 19、29…取付ネジ、20…コイル

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基盤と、該基盤に固定されるレンズとを有
    するエネルギーフィルタであって、前記レンズは、磁極
    となる2つのポールピースの間に通路が形成されるよう
    に、2つのスペーサが挟着され取付ネジで固定されたこ
    とを特徴とするエネルギーフィルタ。
  2. 【請求項2】4個の上記レンズが、略Ω字状の通路を有
    するように基盤上に固定されたオメガフィルタであるこ
    とを特徴とする請求項1記載のエネルギーフィルタ。
JP8273422A 1996-10-16 1996-10-16 エネルギーフィルタ Pending JPH10125267A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8273422A JPH10125267A (ja) 1996-10-16 1996-10-16 エネルギーフィルタ
US08/951,247 US6015973A (en) 1996-10-16 1997-10-16 Energy Filter

Applications Claiming Priority (1)

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JP8273422A JPH10125267A (ja) 1996-10-16 1996-10-16 エネルギーフィルタ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10125267A true JPH10125267A (ja) 1998-05-15

Family

ID=17527686

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JP8273422A Pending JPH10125267A (ja) 1996-10-16 1996-10-16 エネルギーフィルタ

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US (1) US6015973A (ja)
JP (1) JPH10125267A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003297271A (ja) * 2002-04-03 2003-10-17 Hitachi High-Technologies Corp モノクロメータ付走査形電子顕微鏡

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE60039142D1 (de) * 1999-03-18 2008-07-24 Jeol Ltd Energiefilter
DE10020382A1 (de) * 2000-04-26 2001-10-31 Ceos Gmbh Strahlerzeugungssystem für Elektronen oder Ionenstrahlen hoher Monochromasie oder hoher Stromdichte
JP3867048B2 (ja) * 2003-01-08 2007-01-10 株式会社日立ハイテクノロジーズ モノクロメータ及びそれを用いた走査電子顕微鏡
DE102008062888B4 (de) * 2008-12-23 2010-12-16 Carl Zeiss Nts Gmbh Teilchenoptische Vorrichtung mit Magnetanordnung

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6018513U (ja) * 1983-07-16 1985-02-07 株式会社トーキン 電磁石装置
JPH03169251A (ja) * 1989-11-06 1991-07-22 Moving Magnet Technol Sa 単相電磁角度アクチュエータ
JPH04294044A (ja) * 1990-12-22 1992-10-19 Carl Zeiss:Fa 電子エネルギフィルタ
JPH062629U (ja) * 1992-06-08 1994-01-14 住友特殊金属株式会社 多極着磁器
JPH0836990A (ja) * 1994-07-25 1996-02-06 Hitachi Ltd エネルギフィルタおよびこれを備えた透過電子顕微鏡

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3532699A1 (de) * 1985-09-13 1987-03-26 Zeiss Carl Fa Elektronenenergiefilter vom omega-typ
EP0470299B1 (en) * 1990-08-08 1996-06-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. Energy filter for charged particle beam apparatus
DE4310559A1 (de) * 1993-03-26 1994-09-29 Zeiss Carl Fa Abbildendes Elektronenenergiefilter

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6018513U (ja) * 1983-07-16 1985-02-07 株式会社トーキン 電磁石装置
JPH03169251A (ja) * 1989-11-06 1991-07-22 Moving Magnet Technol Sa 単相電磁角度アクチュエータ
JPH04294044A (ja) * 1990-12-22 1992-10-19 Carl Zeiss:Fa 電子エネルギフィルタ
JPH062629U (ja) * 1992-06-08 1994-01-14 住友特殊金属株式会社 多極着磁器
JPH0836990A (ja) * 1994-07-25 1996-02-06 Hitachi Ltd エネルギフィルタおよびこれを備えた透過電子顕微鏡

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003297271A (ja) * 2002-04-03 2003-10-17 Hitachi High-Technologies Corp モノクロメータ付走査形電子顕微鏡

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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20030507