JPH10104265A - 加速度センサ - Google Patents

加速度センサ

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JPH10104265A
JPH10104265A JP8255815A JP25581596A JPH10104265A JP H10104265 A JPH10104265 A JP H10104265A JP 8255815 A JP8255815 A JP 8255815A JP 25581596 A JP25581596 A JP 25581596A JP H10104265 A JPH10104265 A JP H10104265A
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JP
Japan
Prior art keywords
groove
external terminal
movable electrode
silicon plate
filler
Prior art date
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Pending
Application number
JP8255815A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiromichi Ebine
広道 海老根
Masahide Hayashi
雅秀 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Automotive Systems Engineering Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Car Engineering Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Car Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP8255815A priority Critical patent/JPH10104265A/ja
Publication of JPH10104265A publication Critical patent/JPH10104265A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/0825Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0828Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type being suspended at one of its longitudinal ends

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  • Micromachines (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】可動電極部に充填剤が流れ込むことを防ぎ、動
作不良と溝内部での異物による短絡の発生を防止する。 【解決手段】可動電極側溝部8に設けてある堤防状の浅
溝部10に対し、反対側の外部端子側溝部9の一部に溝
の浅い部分11と更にその浅溝11の一部に充填剤の流
出量を制御するための通路を組み合わせる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体静電容量式の
加速度センサに係り、特に、自動車に搭載してエアバッ
グの制御や、車体姿勢制御に使用するのに好適な加速度
センサに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の加速度センサは、特開平4−16769
号公報に記載されているものがあり、この従来技術によ
る加速度センサは、加速度による可動電極の変位を可動
電極と固定電極間の静電容量の変化として検出する。
【0003】この従来技術による加速度センサは、固定
電極が設けられた上側のガラス板と、質量部(可動電
極)が形成されたシリコン板、及び固定電極が設けられ
た下側のガラス板の三層からなる積層構造のもので、ガ
ラス板にはスルーホール,シリコン板には、溝が設けて
あり、これらの中を固定電極と外部端子間の接続路が通
るようにしてあるが、溝部の構造に関しては示されてい
ない。
【0004】一方、特開平5−340961 号公報は、スルー
ホールに対し可動電極側の構造について示してあるが、
外部端子側の構造に関しては示されてはおらず、外部端
子側への充填剤の充填に改善の余地があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来スルーホールへの
充填は、スルーホール径が0.3〜0.5mmと小さいた
め、均一に充填することが困難であると共に、固定電極
と外部端子間の接続路とシリコンに設けた溝との間に導
電性の異物が入り込み短絡する問題があった。
【0006】本発明の目的は、加速度によって変位する
可動電極部に充填剤が流れ込むことを防ぎながら、反対
の外部端子側への充填剤の流れだし量を制御する構造と
することで、溝内部での短絡の発生をなくし、製造歩留
まりと、信頼性、及び作業性の向上が充分得られるよう
にすることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】スルーホール部及びシリ
コンの溝部には、水や異物が、可動電極及び固定電極部
に侵入するのを防ぐため、シリコーンゴム等の充填剤を
充填するが、溝部の可動電極側と外部端子側への充填量
を同時に制御するのは困難であり、可動電極側に充填剤
が入り過ぎると、可動電極の動きを妨げ動作不良とな
る。相反して、外部端子側の充填量が不足すると、シリ
コンの溝部と固定電極からの接続路間に導電性異物が侵
入し、短絡する場合がある。
【0008】これらを防ぐため、可動電極側溝の浅くな
っている部分に対し、外部端子側溝の一部に浅くした部
分と、充填剤が通りやすくなるような通路を組み合わせ
て設けることとした。
【0009】これらの構造は、シリコン基板をSiO2
膜を保護膜としたKOH液の異方性エッチングによって
形成される。
【0010】
【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施例で、図1
(a)は断面を示し、同(b)は上面から見た状態を示
しており、これらの図において、1は上側ガラス板、2
はシリコン板、3は下側ガラス板であり、これらを積層
し三層構造にして加速度センサが構成されている。
【0011】上側ガラス板1と下側ガラス板3にはそれ
ぞれ、アルミニウムなどの導電材料の薄膜からなる上側
固定電極6と下側固定電極7が設けてある。
【0012】また、シリコン板2は、単結晶シリコンで
作られ、可動電極(質量部)4とカンチレバー5が形成
されているが、これらはマイクロマシニング技術を応用
したエッチングにより形成されている。
【0013】これらのガラス板1,3とシリコン板2
は、それぞれの固定電極6,7が質量部4に対向するよ
うにしてシリコン板2を真中に挟んで積層し、組み立て
られる。
【0014】なお、これら三層の接合には、通常陽極接
合を用いる。
【0015】図1に戻り、8は可動電極側溝部、9は外
部端子側溝部、10は可動電極側浅溝部、11は外部端
子側浅溝部、12は下側固定電極7と外部端子13間の
接続路、14は充填剤、15はスルーホールである。
【0016】下側固定電極7からの出力の取り出しは、
接続路12を通り外部端子13で行っており、接続路1
2は、ホトリソグラフィー技術を用い下側固定電極7と
同時に形成している。
【0017】図には示していないが、上側固定電極6か
らの接続路も同様に形成されている。
【0018】可動電極4からの出力は、シリコン板2が
導体であるため、シリコン板2の一部に外部端子13を
直接形成することで取り出し可能である。
【0019】外部接続端子13は、接続路12及びシリ
コン板2上にアルミ材等を蒸着または、スパッタを用い
て形成している。
【0020】シリコン板2には、溝部8,9を設け、接
続路と接触することを防止する構造となっている。
【0021】これらのセンサは、ウェハ状態で加工した
後、チップサイズに切断しており、切断時に水や異物に
さらされるため、可動電極4を有する部分を密閉する必
要がある。そこでシリコーンゴム等の充填剤14をスル
ーホール15から溝部8,9にかけてマスク印刷で充填
している。
【0022】しかし、スルーホール15の径は0.3〜
0.5mmと小さく、スルーホール15と対向する溝部
8,9内部の充填量を制御するのは、困難であった。
【0023】可動電極側溝部8は、充填剤14が入り過
ぎると、可動電極4の動きを妨げ動作不良となり、外部
端子側溝部9も同様に、充填量が多いと充填剤14が外
部端子13上を覆ってしまい、出力を取り出せなくなる
問題があり、反対に充填量が少ないとシリコン板2の溝
部8,9と固定電極6,7からの接続路12間に導電性
異物が侵入し、短絡する恐れがある。
【0024】そこで充填剤14の充填量を制御する目的
から、可動電極側溝部8の一部に堤防状の浅溝部10を
設け、可動電極4側への充填剤の流出を防止すると共
に、外部端子側溝部9にも浅溝部を設けることで外部端
子13側への充填剤の流出量を制御する構造としてい
る。
【0025】本実施例の場合、充填剤14の一つとして
シリコーンゴムを用いると、溝部8,9における溝深さ
として、20μm〜120μm、浅溝部の溝深さとし
て、5μm以下が適当である。
【0026】図2は図1(a)で破線で囲った部分Bを
拡大したものである。
【0027】図3ないし図7は、図2をC側から見たも
のであり、上側ガラス板1,シリコン板2,下側ガラス
板3の三層の内からシリコン板2のみを表したものであ
る。図3の実施例は、外部端子側溝部9内部に、可動電
極側浅溝部10と同じ形状の浅溝部11を設けること
で、充填剤14がスルーホール15から見て可動電極側
浅溝部10及び外部端子側浅溝部11より外側に流出す
るのを防ぐ構造としたものである。
【0028】図4の実施例は、図3の例に対し可動電極
側浅溝部の一部に充填剤14が流出するための通路10
0を1箇所設けることで、可動電極側浅溝部10より可
動電極4側への充填剤の流出を防ぎながら、外部端子1
3側への充填剤14の流出量を制御する構造としたもの
である。なお流出量は、通路100の深さ,幅、及び外
部端子側浅溝部11の幅を調整することで制御が可能と
なる。
【0029】図5,図6の実施例は、図4の例に対し通
路100の角部を落とし、シリコーンゴム等の充填剤1
4が通過する際の抵抗を軽減させたものである。
【0030】図7の実施例は、図4の例に対し通路10
0を複数個設けることで、外部端子側溝部9内部におけ
る充填剤14の流出が均一となる構造としたものであ
る。
【0031】なお、図5,図6の形状の通路100を複
数個設けた場合にも図7と同様な効果が、期待できる。
【0032】
【発明の効果】加速度を検出するセンサの特性不良の低
減及び歩留まり向上に効果大である。又、本発明の構造
とすることで、印刷による充填作業時のウェハ内ばらつ
きが低減され、信号の引出部分とシリコン間に導電性異
物が侵入し、短絡する問題が防止できた。
【図面の簡単な説明】
【図1】加速度検出部の説明図。
【図2】加速度検出部の断面図。
【図3】本発明の一実施例の部分断面図。
【図4】本発明の第二実施例の部分断面図。
【図5】本発明の第三実施例の部分断面図。
【図6】本発明の第四実施例の部分断面図。
【図7】本発明の第五実施例の部分断面図。
【符号の説明】
1…上側ガラス板、2…シリコン板、3…下側ガラス
板、4…可動電極(質量部)、5…カンチレバー、6…
上側固定電極、7…下側固定電極、8…可動電極側溝
部、9…外部端子側溝部、10…可動電極側浅溝部、1
1…外部端子側浅溝部、12…接続路、13…外部端
子、14…充填剤、15…スルーホール。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】可動電極となる質量部が形成された半導体
    板状部材の両面を、少なくとも一方に固定電極を形成し
    た2枚のガラス板で積層し、前記固定電極と外部端子間
    の接続路を有し、前記接続路と前記半導体部材との接触
    を避けるために溝部とスルーホールを設け、前記スルー
    ホールから前記溝部に充填剤を充填していることを特徴
    とする加速度センサ。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の前記溝部は、前記スルー
    ホールに対向する部分で深く、前記可動電極側及び前記
    外部端子側で浅くなっている箇所を有する加速度セン
    サ。
  3. 【請求項3】請求項2に記載の前記溝部で、前記外部端
    子側の浅い部分の一部に充填剤の流出を調整するための
    通路となる深溝部を少なくとも一つ設けた加速度セン
    サ。
JP8255815A 1996-09-27 1996-09-27 加速度センサ Pending JPH10104265A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6924537B2 (en) 2003-07-16 2005-08-02 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device including a potential drawing portion formed at a corner

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6924537B2 (en) 2003-07-16 2005-08-02 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device including a potential drawing portion formed at a corner
CN1296715C (zh) * 2003-07-16 2007-01-24 三菱电机株式会社 半导体器件

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