JPH0950637A - Skew adjustment device for optical pickup - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a skew adjustment device for optical pickup by which a tangential skew and a radial skew are surely corrected in simple constitution. SOLUTION: This optical pickup includes a light emitting means 11, an objective lens 15 for irradiating an optical disk with light from the light emitting means, an actuator 17 for supporting the objective lens movably in the biaxial direction and a photodetector 16 for detecting return light from the optical disk. Then, the skew adjustment device is constituted to include an arm means 26 whose one end is connected to a fixing part of the actuator while the other end is fixedly held and a driving means 26 for displacing this one end of the arm means by a prescribed amt.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク再生用
の光学ピックアップに関し、特にタンジェンシャルスキ
ュー，ラジアルスキューのスキュー調整装置に関するも
のである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup for reproducing an optical disk, and more particularly to a skew adjusting device for tangential skew and radial skew.

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来、光ディスク再生用の光学ピックア
ップは、例えば図１２に示すように構成されている。図
１２において、光学ピックアップ１は、対物レンズ２が
先端に取り付けられたレンズホルダー３と、このレンズ
ホルダー３を二軸方向に対して移動可能に支持する固定
部４と、固定部４が取り付けられる二軸ベース５とから
構成されている。2. Description of the Related Art Conventionally, an optical pickup for reproducing an optical disk is constructed as shown in FIG. In FIG. 12, an optical pickup 1 is provided with a lens holder 3 having an objective lens 2 attached to a tip thereof, a fixing portion 4 for movably supporting the lens holder 3 in two axial directions, and a fixing portion 4. It is composed of a biaxial base 5.

【０００３】ここで、レンズホルダー３は、例えば、一
端がこのレンズホルダー３の両側に、また他端が固定部
４に対して固定された二対の弾性支持部材６によって、
固定部４に対して垂直な二方向、即ち図１３にて符号Ｔ
ｒｋで示すトラッキング方向及び符号Ｆｃｓで示すフォ
ーカシング方向に移動可能に支持されている。また、対
物レンズ２は、図示しない発光手段からの光ビームを、
光ディスク７の信号記録面に集光させると共に、光ディ
スク７からの戻り光を、図示しない光学系を介して、光
検出器の受光面にスポットとして結像させる。Here, the lens holder 3 has, for example, two pairs of elastic supporting members 6 having one end on both sides of the lens holder 3 and the other end fixed to the fixing portion 4.
Two directions perpendicular to the fixed portion 4, that is, reference numeral T in FIG.
It is movably supported in the tracking direction indicated by rk and the focusing direction indicated by reference symbol Fcs. Further, the objective lens 2 receives a light beam from a light emitting means (not shown),
The return light from the optical disk 7 is focused as a spot on the light receiving surface of the photodetector through an optical system (not shown) while being condensed on the signal recording surface of the optical disk 7.

【０００４】かくして、光検出器からの検出信号に基づ
いて、光ディスク７の再生信号が検出されると共に、ト
ラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号が検出
される。これにより、これらトラッキングエラー信号及
びフォーカスエラー信号に基づいて、上記トラッキング
用コイル及びフォーカス用コイルへの通電が制御される
ことにより、トラッキングサーボ及びフォーカスサーボ
が行なわれ得るようになっている。Thus, the reproduction signal of the optical disk 7 is detected, and the tracking error signal and the focus error signal are detected based on the detection signal from the photodetector. As a result, the energization of the tracking coil and the focusing coil is controlled based on the tracking error signal and the focusing error signal, so that the tracking servo and the focusing servo can be performed.

【０００５】このように構成された光学ピックアップ１
によれば、外部から各コイルに対して、上述のようにト
ラッキングサーボ及びフォーカスサーボにより駆動制御
された駆動電圧が供給されることにより、各コイルに発
生する磁束が、二軸ベース５上に備えられたヨーク及び
マグネット（図示せず）による磁束と相互に作用して、
該レンズホルダー３が、トラッキング方向Ｔｒｋ及びフ
ォーカシング方向Ｆｃｓに対して移動される。かくし
て、レンズホルダー３に取り付けられた対物レンズ２
が、フォーカシング方向及びトラッキング方向に対して
適宜に移動調整されるようになっている。これにより、
光ディスク７からの戻り光が光検出器の受光面に正確に
スポットを形成することになり、この光検出器からの検
出信号に基づいて、光ディスク７の再生信号が検出され
得ることになる。The optical pickup 1 configured as described above
According to this, the magnetic flux generated in each coil is provided on the biaxial base 5 by supplying the drive voltage, which is drive-controlled by the tracking servo and the focus servo as described above, to each coil from the outside. Interacting with the magnetic flux generated by the yoke and magnet (not shown)
The lens holder 3 is moved in the tracking direction Trk and the focusing direction Fcs. Thus, the objective lens 2 attached to the lens holder 3
However, the movement is adjusted appropriately in the focusing direction and the tracking direction. This allows
The return light from the optical disk 7 forms a spot accurately on the light receiving surface of the photodetector, and the reproduction signal of the optical disk 7 can be detected based on the detection signal from the photodetector.

【０００６】ここで、対物レンズ２の光軸は、光ディス
ク７の表面に対して垂直であることが望ましいが、取付
精度等の点から、図１４に示すように、垂直軸Ａに対し
て、光ディスクの接線方向に関してタンジェンシャルス
キュー，半径方向に関してラジアルスキューを有するこ
とが不可避である。Here, it is desirable that the optical axis of the objective lens 2 be perpendicular to the surface of the optical disk 7, but from the viewpoint of mounting accuracy and the like, as shown in FIG. It is inevitable to have a tangential skew in the tangential direction of the optical disc and a radial skew in the radial direction.

【０００７】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、例え
ば画像情報記録用や巨大データ格納等のために、光ディ
スクの高密度化が進んでおり、高密度光ディスクの再生
の際には、従来の光ディスクの場合には無視できた光デ
ィスクのタンジェンシャルスキュー，ラジアルスキュー
が、検出信号の信頼性の点から問題になってきている。By the way, in recent years, for example, for recording image information and storing huge data, the density of optical discs has been increasing. When reproducing high density optical discs, conventional optical discs are used. In this case, the tangential skew and the radial skew of the optical disc, which can be ignored, are becoming a problem in terms of the reliability of the detection signal.

【０００８】このため、例えば図１２に示すように、二
軸ベース５上に、スキュー検出用の光学的センサ８を搭
載することにより、この光学的センサ８によって、タン
ジェンシャルスキュー及びラジアルスキューが検出され
得る。これにより、検出されたタンジェンシャルスキュ
ー及びラジアルスキューに基づいて、光学ピックアップ
１全体が、小型モータ及び歯車装置の組合せによる駆動
機構によって回転されることにより、スキュー調整が行
なわれる。ここで、レーザーディスクプレーヤの場合に
は、スピンドルモータ９により回転駆動される光ディス
ク７の反り（図１５参照）によって生ずる、内周側と外
周側のラジアルスキューの変化は、例えば図１２に示す
ように、光学ピックアップ１の固定部４に取り付けられ
た接線方向の延びる回転軸４ａを軸の周りに回転させる
ことにより、補正され得る。しかしながら、上述したラ
ジアルスキューの変化は、低域であるのに対して、例え
ば光ディスクの回転に追従するようなタンジェンシャル
方向のダイナミックなスキュー補正を行なう場合には、
上記のような調整機構では、補正を行なうことは困難で
ある。さらに、今後の光ディスクの高密度化，光源とし
てのレーザ高の短波長化，光学系の高ＮＡ（開口数）化
に対応して、ダイナミックなスキュー補正が不可欠とな
ってくるので、上記のような調整機構だけでは補正がで
きなくなる可能性が大きい。これは、スキューにより発
生するコマ収差が、ＮＡの３乗に比例し、波長に反比例
するため、読取限界のスキュー量が大幅に減少してしま
うからである。例えば、波長７８０ｎｍ，ＮＡ０．４５
の場合と、波長６３５ｎｍ，ＮＡ０．５２の場合とで
は、スキュートレランスは半分になってしまう。Therefore, for example, as shown in FIG. 12, by mounting an optical sensor 8 for detecting skew on the biaxial base 5, the optical sensor 8 detects tangential skew and radial skew. Can be done. As a result, skew adjustment is performed by rotating the entire optical pickup 1 by the drive mechanism including the combination of the small motor and the gear device based on the detected tangential skew and radial skew. Here, in the case of a laser disc player, the change in the radial skew between the inner peripheral side and the outer peripheral side caused by the warp (see FIG. 15) of the optical disc 7 rotated by the spindle motor 9 is as shown in FIG. In addition, it can be corrected by rotating the tangentially extending rotation shaft 4a attached to the fixed portion 4 of the optical pickup 1 around the axis. However, while the change in the radial skew described above is in the low range, when performing dynamic skew correction in the tangential direction that follows the rotation of the optical disc, for example,
It is difficult to make a correction with the adjusting mechanism as described above. In addition, dynamic skew correction will become indispensable in response to future high density optical discs, shorter wavelengths of lasers as light sources, and higher NA (numerical aperture) of optical systems. There is a high possibility that the correction cannot be made only with such an adjustment mechanism. This is because the coma aberration generated by the skew is proportional to the cube of NA and inversely proportional to the wavelength, so that the skew amount at the reading limit is significantly reduced. For example, wavelength 780 nm, NA 0.45
And the case where the wavelength is 635 nm and NA is 0.52, the skew tolerance is halved.

【０００９】本発明は、以上の点に鑑み、簡単な構成に
より、タンジェンシャルスキュー，ラジアルスキューが
確実に補正され得るようにした、光学ピックアップのス
キュー調整装置を提供することを目的としている。In view of the above points, the present invention has an object to provide a skew adjusting device for an optical pickup, which is capable of surely correcting the tangential skew and the radial skew with a simple structure.

【００１０】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、発光手段と、前記発光手段からの光を光ディスク
上に照射する対物レンズと、前記対物レンズを二軸方向
に移動可能に支持するアクチュエータと、光ディスクか
らの戻り光を検出する光検出器とを含んでいる光学ピッ
クアップにおいて、一端が前記アクチュエータの固定部
に連結され、他端が固定保持されたアーム手段と、この
アーム手段の一端を所定量だけ変位させる駆動手段とを
含んでいることを特徴とするスキュー調整装置により達
成される。According to the present invention, the above object is to provide a light emitting means, an objective lens for irradiating light from the light emitting means onto an optical disk, and the objective lens movable in two axial directions. In an optical pickup including an actuator to be supported and a photodetector for detecting return light from an optical disc, one end of the arm means is connected to a fixed portion of the actuator and the other end is fixedly held, and the arm means. And a drive means for displacing one end thereof by a predetermined amount.

【００１１】上記構成によれば、そのときのタンジェン
シャルスキュー量またはラジアルスキュー量に基づい
て、これらスキュー量に対応して制御された駆動電圧
が、駆動手段に印加されることにより、接線方向または
半径方向に延びるアーム手段の一端が、この駆動電圧に
対応した所定量だけ変位する。これにより、アーム手段
は、固定保持された他端を中心に揺動することになり、
アーム手段の一端は、その傾きが変化する。かくして、
アーム手段の一端に支持されたアクチュエータの固定部
が、タンジェンシャルスキュー調整またはラジアルスキ
ュー調整されることになり、対物レンズの光軸が、光デ
ィスクの表面に対して垂直に持ち来され得ることにな
る。According to the above arrangement, the drive voltage controlled in accordance with the tangential skew amount or the radial skew amount at that time and corresponding to the skew amount is applied to the driving means, thereby tangentially or One end of the arm means extending in the radial direction is displaced by a predetermined amount corresponding to this drive voltage. As a result, the arm means swings about the other end fixedly held,
The inclination of one end of the arm means changes. Thus,
The fixed part of the actuator supported at one end of the arm means will be tangential skew adjusted or radial skew adjusted, so that the optical axis of the objective lens can be brought perpendicular to the surface of the optical disc. .

【００１２】[0012]

【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図１乃至図１１を参照しながら、詳細に説明する。
尚、以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例で
あるから、技術的に好ましい種々の限定が付されている
が、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を
限定する旨の記載がない限り、これらの形態に限られる
ものではない。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.
Since the embodiments described below are preferred specific examples of the present invention, various technically preferable limitations are attached, but the scope of the present invention particularly limits the present invention in the following description. It is not limited to these forms unless otherwise stated.

【００１３】図１は、本発明によるタンジェンシャルス
キュー調整装置を組み込んだ光学ピックアップの第一の
実施形態を示している。図１において、光学ピックアッ
プ１０は、無偏光，無限系の光学系を有しており、半導
体レーザ素子１１，グレーティング１２，ビームスプリ
ッタ１３，コリメータレンズ１４，対物レンズ１５及び
光検出器１６と、対物レンズ１５を二軸方向に移動調整
する二軸アクチュエータ１７と、から構成されている。FIG. 1 shows a first embodiment of an optical pickup incorporating a tangential skew adjusting device according to the present invention. In FIG. 1, an optical pickup 10 has a non-polarized and infinite optical system, and includes a semiconductor laser element 11, a grating 12, a beam splitter 13, a collimator lens 14, an objective lens 15, a photodetector 16, and an objective. And a biaxial actuator 17 for moving and adjusting the lens 15 in biaxial directions.

【００１４】上記半導体レーザ素子１１は、半導体の再
結合発光を利用した発光素子であり、光源として使用さ
れる。半導体レーザ素子１１から出射した光ビームは、
グレーティング１２に導かれる。The semiconductor laser device 11 is a light emitting device utilizing recombination light emission of a semiconductor and is used as a light source. The light beam emitted from the semiconductor laser device 11 is
Guided by the grating 12.

【００１５】グレーティング１２は、回折格子ともい
い、半導体レーザ素子１１からの光ビームを０次光及び
±１次光に分離する。The grating 12 is also called a diffraction grating and splits the light beam from the semiconductor laser element 11 into 0th order light and ± 1st order light.

【００１６】ビームスプリッタ１３は、その反射面１３
ａが対物レンズ１５の光軸に対して４５度傾斜した状態
で配設されており、半導体レーザ素子１１から出射した
光ビームと光ディスク２１の信号記録面からの戻り光を
分離する。即ち、半導体レーザ素子１１からの光ビーム
は、ビームスプリッタ１３の反射面１３ａで反射され、
戻り光は、ビームスプリッタ１３を透過する。The beam splitter 13 has its reflecting surface 13
a is disposed in a state of being inclined by 45 degrees with respect to the optical axis of the objective lens 15, and separates the light beam emitted from the semiconductor laser element 11 and the return light from the signal recording surface of the optical disc 21. That is, the light beam from the semiconductor laser device 11 is reflected by the reflecting surface 13a of the beam splitter 13,
The return light passes through the beam splitter 13.

【００１７】コリメータレンズ１４は、凸レンズであっ
て、半導体レーザ素子１１からの光ビームを平行光に変
換する。The collimator lens 14 is a convex lens and converts the light beam from the semiconductor laser element 11 into parallel light.

【００１８】対物レンズ１５は、凸レンズであって、コ
リメータレンズ１４からの平行光ビームを、回転駆動さ
れる光ディスク１８の信号記録面の所望のトラック上に
結像させる。さらに、対物レンズ１５は、二軸アクチュ
エータ１７によって、二軸方向、即ち図１にて紙面に垂
直なトラッキング方向及び上下方向であるフォーカシン
グ方向に移動可能に支持されている。The objective lens 15 is a convex lens, and forms an image of the parallel light beam from the collimator lens 14 on a desired track on the signal recording surface of the rotationally driven optical disc 18. Further, the objective lens 15 is supported by a biaxial actuator 17 so as to be movable in biaxial directions, that is, a tracking direction perpendicular to the paper surface in FIG. 1 and a focusing direction which is an up-and-down direction.

【００１９】光ディスク１８の信号記録面に照射された
光ビームは、戻り光ビームとして、再び対物レンズ１５
及びコリメータレンズ１４を介してビームスプリッタ１
３に導かれる。そして、ビームスプリッタ１３を透過し
た戻り光ビームは、光検出器１６の受光部に入射せしめ
られることになる。The light beam applied to the signal recording surface of the optical disc 18 is returned to the objective lens 15 as a return light beam.
And the beam splitter 1 via the collimator lens 14.
It is led to 3. Then, the return light beam that has passed through the beam splitter 13 is incident on the light receiving portion of the photodetector 16.

【００２０】光検出器１６は、戻り光ビームを受光し得
る受光面を有している。The photodetector 16 has a light receiving surface capable of receiving the returning light beam.

【００２１】二軸アクチュエータ１７は、対物レンズ１
５が先端に取り付けられたレンズホルダー１９と、該レ
ンズホルダー１９に対して、接着等により取り付けられ
たコイルボビン２０と、を有している。The biaxial actuator 17 includes the objective lens 1
5 has a lens holder 19 attached to the tip, and a coil bobbin 20 attached to the lens holder 19 by adhesion or the like.

【００２２】上記レンズホルダー１９は、一端が該レン
ズホルダー１９の両側に、また他端が固定部２１に対し
て固定された二対の弾性支持部材２２によって、固定部
２１に対して垂直な二方向、即ちトラッキング方向及び
フォーカシング方向に移動可能に支持されている。The lens holder 19 has a pair of elastic support members 22 having one end on both sides of the lens holder 19 and the other end fixed to the fixed portion 21. It is supported so as to be movable in the directions, that is, the tracking direction and the focusing direction.

【００２３】また、上記コイルボビン２０は、図２の場
合、レンズホルダー１９と一体に成形されており、図３
に示すように、フォーカシング用コイル２０ａ及びトラ
ッキング用コイル２０ｂが巻回されている。そして、フ
ォーカシング用コイル２０ａ及びトラッキング用コイル
２０ｂに通電することにより、各コイルに発生する磁束
が、二軸ベース２３に取り付けられたヨーク２４及びそ
れに取り付けられたマグネット２５による磁束と相互に
作用するようになっている。Further, in the case of FIG. 2, the coil bobbin 20 is formed integrally with the lens holder 19 as shown in FIG.
As shown in, the focusing coil 20a and the tracking coil 20b are wound. By energizing the focusing coil 20a and the tracking coil 20b, the magnetic flux generated in each coil interacts with the magnetic flux generated by the yoke 24 attached to the biaxial base 23 and the magnet 25 attached thereto. It has become.

【００２４】さらに、上記弾性支持部材２２は、弾性体
により形成され、レンズホルダー１９と固定部２１との
間に互いに平行になるように固定されている。Further, the elastic support member 22 is formed of an elastic body and is fixed between the lens holder 19 and the fixing portion 21 so as to be parallel to each other.

【００２５】また、上記固定部２１は、二軸ベース２３
を貫通して、その下側にて、光ディスク１８の接線方向
に延びる圧電バイモルフ素子２６を介して二軸ベース２
３に取り付けられている。図示の場合、圧電バイモルフ
素子２６は、二軸ベース２３に対して固定部材２３ａを
介して取り付けられている。The fixed portion 21 is a biaxial base 23.
Through the piezoelectric bimorph element 26 extending in the tangential direction of the optical disc 18 at the lower side thereof.
It is attached to 3. In the illustrated case, the piezoelectric bimorph element 26 is attached to the biaxial base 23 via a fixing member 23a.

【００２６】ここで、圧電バイモルフ素子２６は、圧電
セラミックスの印加電界に比例した歪みを発生するとい
う逆圧電効果を利用したアクチュエータであって、近年
微小変位の制御や出力端末デバイスとして民生用機器に
も利用されはじめているものである。そして、圧電バイ
モルフ素子２６は、図４に示すように、二枚の互いに張
り合わされた圧電セラミックス板２６ａ，２６ｂが、電
圧印加によって、それぞれ長さが変化することにより、
伸長差により矢印Ｘで示すように屈曲するようになって
いる。例えば、図５に示すように、圧電バイモルフ素子
２６は、長さ１９．５ｍｍ，幅６ｍｍ，厚さ０．５ｍｍ
の寸法であって、先端から０．５ｍｍの位置に、質量
０．９ｇの負荷を載置すると共に、上側の圧電セラミッ
クス板２６ａには−１５Ｖ，下側の圧電セラミックス板
２６ｂには＋１５Ｖの電圧を印加し、圧電セラミックス
板２６ａ，２６ｂの間に、０Ｖから１５Ｖの電圧を印加
した場合、上記負荷位置を測定点としたとき、図６に示
すように、０乃至０．６度の角度変化が得られた。Here, the piezoelectric bimorph element 26 is an actuator utilizing the inverse piezoelectric effect that a strain proportional to the applied electric field of the piezoelectric ceramics is generated, and in recent years it has been used for consumer equipment as a control of minute displacement and an output terminal device. Is also beginning to be used. Then, in the piezoelectric bimorph element 26, as shown in FIG. 4, two piezoelectric ceramic plates 26a and 26b bonded to each other are changed in length by voltage application,
Due to the difference in extension, it is bent as shown by an arrow X. For example, as shown in FIG. 5, the piezoelectric bimorph element 26 has a length of 19.5 mm, a width of 6 mm, and a thickness of 0.5 mm.
A load of 0.9 g is placed at a position 0.5 mm from the tip, and a voltage of -15 V is applied to the upper piezoelectric ceramic plate 26a and a voltage of +15 V is applied to the lower piezoelectric ceramic plate 26b. And a voltage of 0V to 15V is applied between the piezoelectric ceramic plates 26a and 26b, when the load position is set as a measurement point, as shown in FIG. was gotten.

【００２７】さらに、圧電バイモルフ素子２６には、光
検出器２６からの再生（ＲＦ）信号が、ＲＦレベル検出
回路２７及びアンプ２８を介して、制御信号として入力
される。 これにより、タンジェンシャルスキュー量
が、ＲＦレベルと相関関係を有することから、アンプ２
８により適宜に増幅されることにより、タンジェンシャ
ルスキュー量に対応する電圧が、圧電バイモルフ素子２
６に印加されることになる。Further, the reproduction (RF) signal from the photodetector 26 is input to the piezoelectric bimorph element 26 as a control signal via the RF level detection circuit 27 and the amplifier 28. As a result, the tangential skew amount has a correlation with the RF level.
The voltage corresponding to the tangential skew amount is appropriately amplified by the piezoelectric bimorph element 2
6 will be applied.

【００２８】本発明実施形態による光学ピックアップ１
０は、以上のように構成されており、半導体レーザ素子
１１からの光ビームは、グレーティング１２を介して、
ビームスプリッタ１３により反射された後、コリメータ
レンズ１４及び対物レンズ１５を介して、光ディスク１
８の信号記録面に結像される。光ディスク１８からの戻
り光は、対物レンズ１５及びコリメータレンズ１４を介
して、ビームスプリッタ１３を透過し、光検出器１６に
入射する。これにより、光検出器１６の検出信号に基づ
いて、再生信号とフォーカスサーボ信号及びトラッキン
グサーボ信号が検出され得る。Optical pickup 1 according to an embodiment of the present invention
0 is configured as described above, and the light beam from the semiconductor laser device 11 passes through the grating 12 and
After being reflected by the beam splitter 13, the optical disc 1 is passed through a collimator lens 14 and an objective lens 15.
An image is formed on the signal recording surface of No. 8. The return light from the optical disc 18 passes through the beam splitter 13 via the objective lens 15 and the collimator lens 14 and enters the photodetector 16. As a result, the reproduction signal, the focus servo signal, and the tracking servo signal can be detected based on the detection signal of the photodetector 16.

【００２９】ここで、二軸アクチュエータ１７は、コイ
ルボビン２０に巻回されたフォーカシング用コイル２０
ａ及びトラッキング用コイル２０ｂに対して、上記フォ
ーカスサーボ信号及びトラッキングサーボ信号に基づく
駆動電流が、それぞれ供給される。これにより、ヨーク
２４及びマグネット２５による磁気回路の磁界とフォー
カシング用コイル２０ａ及びトラッキング用コイル２０
ｂから生ずる磁界とによって、レンズホルダー１９、即
ち対物レンズ１５がフォーカス方向Ｆｃｓ及びトラッキ
ング方向Ｔｒｋに駆動され、フォーカシング及びトラッ
キングが行なわれる。Here, the biaxial actuator 17 includes the focusing coil 20 wound around the coil bobbin 20.
Drive currents based on the focus servo signal and the tracking servo signal are supplied to the a and the tracking coil 20b, respectively. Thereby, the magnetic field of the magnetic circuit by the yoke 24 and the magnet 25, the focusing coil 20a, and the tracking coil 20.
The lens holder 19, that is, the objective lens 15 is driven in the focus direction Fcs and the tracking direction Trk by the magnetic field generated from b, and focusing and tracking are performed.

【００３０】ところで、上述のようにフォーカシング及
びトラッキングが行なわれて、光ディスク１８の再生が
行なわれているときに、光ディスク１８の面振れ，取付
誤差による内外周での傾きや、二軸アクチュエータ１７
自体のダイナミックスキュー等によって、前述したタン
ジェンシャルスキューが発生するが、このタンジェンシ
ャルスキュー量は、前記ＲＦレベル検出回路２７により
検出され、このタンジェンシャルスキュー量に対応した
電圧（タンジェンシャルスキューエラー信号）が、圧電
バイモルフ素子２６に印加される。これにより、図７に
示すように、圧電バイモルフ素子２６の先端が、このタ
ンジェンシャルスキューに応じて変位するので、対物レ
ンズ１５の光軸が、タンジェンシャル方向に傾くことに
なり、タンジェンシャルスキューが補正され得る。By the way, when the optical disc 18 is reproduced by performing the focusing and tracking as described above, the surface deflection of the optical disc 18, the inclination at the inner and outer circumferences due to the mounting error, and the biaxial actuator 17 are performed.
The above-mentioned tangential skew occurs due to the dynamic skew of itself, but this tangential skew amount is detected by the RF level detection circuit 27 and a voltage (tangential skew error signal) corresponding to this tangential skew amount is detected. Is applied to the piezoelectric bimorph element 26. As a result, as shown in FIG. 7, the tip of the piezoelectric bimorph element 26 is displaced according to this tangential skew, so that the optical axis of the objective lens 15 is inclined in the tangential direction, and the tangential skew is generated. Can be corrected.

【００３１】図８は、タンジェンシャルスキュー検出の
他の構成を示している。図８において、タンジェンシャ
ルスキュー検出装置３０は、光学ピックアップ１０の光
検出器１６からの検出信号に基づいて、フォーカスサー
ボ回路３１から二軸アクチュエータ１７に対して出力さ
れるフォーカスアクチュエータ駆動信号が低域通過フィ
ルタ３２を介して入力されるサンプリング回路３３と、
サンプリング回路３３でサンプリングされたデータを格
納する格納手段３４と、格納手段３４に格納されたデー
タを平均化する平均化手段３５と、平均化手段３５によ
る平均化データの差分を検出する差分検出手段３６と、
差分検出手段３６による差分をアナログ信号に変換する
Ｄ／Ａ変換回路３７と、Ｄ／Ａ変換回路３７からのアナ
ログ信号の高域をカットする低域通過フィルタ３８と、
低域通過フィルタ３８からのアナログ信号のゲイン調整
を行なう調整回路３９と、から構成されている。FIG. 8 shows another configuration of tangential skew detection. In FIG. 8, the tangential skew detection device 30 has a focus actuator drive signal output from the focus servo circuit 31 to the biaxial actuator 17 based on a detection signal from the photodetector 16 of the optical pickup 10. A sampling circuit 33 input through the pass filter 32,
Storing means 34 for storing the data sampled by the sampling circuit 33, averaging means 35 for averaging the data stored in the storing means 34, and difference detecting means for detecting the difference between the averaged data by the averaging means 35. 36,
A D / A conversion circuit 37 for converting the difference by the difference detection means 36 into an analog signal, a low-pass filter 38 for cutting the high frequency band of the analog signal from the D / A conversion circuit 37,
An adjusting circuit 39 for adjusting the gain of the analog signal from the low-pass filter 38.

【００３２】サンプリング回路３３は、光ディスク１８
を回転駆動するスピンドルモータの回転同期信号４０に
基づいて、一回転毎にＮ個の一定周期のパルスを発生す
るパルス発生回路４１からサンプリングのタイミングを
決めるパルスが入力される。これにより、サンプリング
回路３３は、図９に示すように、光ディスク１８の一回
転中に一つのトラック１８ａ上に沿って、等角度間隔に
分割されたＮ個のディスク領域に関して、トラック方向
の位置を変数ｘとしてパルスに基づいてアドレス指定
し、それぞれ前記フォーカスアクチュエータ駆動信号Ｓ
１のサンプリングをＮ回行ない、デジタル信号によるデ
ータを得る。尚、フォーカスアクチュエータ駆動信号Ｓ
１は、光学ピックアップ１０のフォーカスサーボによ
り、常に光ビームが対物レンズ１５によって光ディスク
１８の上記トラック１８ａに結像するように、対物レン
ズ１５をフォーカスサーボするための信号である。従っ
てフォーカスアクチュエータ駆動信号Ｓ１は、対物レン
１５の光軸方向の移動量を示すことになり、上記トラッ
ク１８ａ上における面振れ量ｙを表わしている。ここ
で、タンジェンシャルスキューは、単位距離あたりの光
ディスク１８の面振れ量で定義されることから、図９に
おけるフォーカスアクチュエータ駆動信号Ｓ１の曲線の
傾きΔｙ／Δｘが、タンジェンシャルスキューを示すこ
とになる。従って、上記各ディスク領域が、単位距離Δ
ｘに相当するようにＮを大きくとり、各ディスク領域に
て、フォーカスアクチュエータ駆動信号Ｓ１をサンプリ
ングし、各ディスク領域のサンプリングデータと隣接す
るディスク領域のサンプリングデータとの差分Δｙを求
めることにより、タンジェンシャルスキューが検出され
ることになる。このようにしてサンプリング回路３３に
よりサンプリングされたフォーカスアクチュエータ駆動
信号Ｓ１のＮ個のデータは、格納手段３４により格納さ
れる。そして、上述したフォーカスアクチュエータ駆動
信号Ｓ１のＮ個のデータのサンプリングが、光ディスク
１８のＭ回転中の各回転毎に行なわれる。これにより、
全体としてＮ×Ｍ個のデータが、サンプリング回路３３
によりサンプリングされ、格納手段３４により格納され
ることになる。The sampling circuit 33 is used for the optical disc 18
Based on the rotation synchronizing signal 40 of the spindle motor that drives the drive, pulses that determine sampling timing are input from a pulse generation circuit 41 that generates N pulses of a constant cycle for each rotation. As a result, the sampling circuit 33 shifts the position in the track direction with respect to the N disk regions divided at equal angular intervals along one track 18a during one rotation of the optical disk 18, as shown in FIG. Addressing based on pulses as a variable x, each of the focus actuator drive signal S
Sampling of 1 is performed N times to obtain digital signal data. The focus actuator drive signal S
Reference numeral 1 is a signal for focus servoing the objective lens 15 so that the focus servo of the optical pickup 10 always forms an image of the light beam on the track 18a of the optical disc 18 by the objective lens 15. Therefore, the focus actuator drive signal S1 indicates the amount of movement of the objective lens 15 in the optical axis direction, and indicates the amount of surface wobbling on the track 18a. Here, since the tangential skew is defined by the amount of surface wobbling of the optical disc 18 per unit distance, the slope Δy / Δx of the curve of the focus actuator drive signal S1 in FIG. 9 indicates the tangential skew. . Therefore, each of the above-mentioned disk areas has a unit distance Δ
By setting N large so as to correspond to x, sampling the focus actuator drive signal S1 in each disk area, and obtaining the difference Δy between the sampling data of each disk area and the sampling data of the adjacent disk area, The internal skew will be detected. The N pieces of data of the focus actuator drive signal S1 sampled by the sampling circuit 33 in this manner are stored in the storage unit 34. Then, the N pieces of data of the focus actuator drive signal S1 described above are sampled every M rotations of the optical disc 18. This allows
As a whole, N × M pieces of data are stored in the sampling circuit 33.
Will be sampled by and stored in the storage means 34.

【００３３】平均化手段３５は、格納手段３４に格納さ
れた上記データのうち、各ディスク領域毎に、Ｍ個のデ
ータを読み出して平均化し、当該ディスク領域の代表デ
ータとして出力する。かくして、平均化手段３５は、各
ディスク領域における平均化データを、差分検出手段３
６に出力する。The averaging means 35 reads out and averages M pieces of data for each disk area among the above-mentioned data stored in the storage means 34, and outputs it as representative data of the disk area. Thus, the averaging means 35 calculates the averaged data in each disk area by the difference detecting means 3
6 is output.

【００３４】差分検出手段３６は、平均化手段３５から
の代表データに基づいて、一つ前の隣接するディスク領
域に関する代表データとの差分Δｙを算出することによ
り、微分操作を行なうことになり、タンジェンシャルス
キューデータを求める。The difference detecting means 36 performs a differentiating operation by calculating the difference Δy from the representative data of the immediately preceding adjacent disk area based on the representative data from the averaging means 35. Obtain tangential skew data.

【００３５】Ｄ／Ａ変換回路３７は、入力されるデジタ
ル信号をアナログ信号に変換する回路であって、差分検
出手段３６により検出された差分Δｙをアナログ信号で
あるタンジェンシャルスキュー量、即ちタンジェンシャ
ルスキューエラー信号に変換する。The D / A conversion circuit 37 is a circuit for converting an input digital signal into an analog signal, and the difference Δy detected by the difference detection means 36 is a tangential skew amount which is an analog signal, that is, a tangential. Convert to skew error signal.

【００３６】低域通過フィルタ３８は、入力される信号
に関して、高域成分をカットして、低域成分のみを通過
させる回路であって、Ｄ／Ａ変換回路３７からの信号の
低域成分のみを出力する。The low-pass filter 38 is a circuit that cuts high-frequency components of an input signal and passes only low-frequency components, and only low-frequency components of the signal from the D / A conversion circuit 37. Is output.

【００３７】調整回路３９は、光ディスク１８の回転
数、即ちサンプリング間隔によるゲインを調整するもの
であって、入力信号の単位系を距離から時間に変換し
て、タンジェンシャルスキューエラー信号を時間軸上で
取扱いやすいようにする。従って、タンジェンシャルス
キューエラー信号が時間軸上で取り扱われない場合に
は、この調整回路３９は省略されてもよい。ここで、ゲ
イン調整は、例えば（単位時間Δｔ＝単位距離Δｘ／回
転数）の関係を満たすように行なわれる。The adjusting circuit 39 adjusts the number of revolutions of the optical disc 18, that is, the gain depending on the sampling interval, converts the unit system of the input signal from distance to time, and outputs the tangential skew error signal on the time axis. To make it easy to handle. Therefore, when the tangential skew error signal is not handled on the time axis, the adjusting circuit 39 may be omitted. Here, the gain adjustment is performed so as to satisfy the relationship of (unit time Δt = unit distance Δx / rotation number), for example.

【００３８】かくして、光ディスク１８のタンジェンシ
ャルスキュー量、即ちタンジェンシャルスキューエラー
信号が検出されることになる。Thus, the tangential skew amount of the optical disc 18, that is, the tangential skew error signal is detected.

【００３９】このような構成のタンジェンシャルスキュ
ー検出装置３０によれば、タンジェンシャルスキューエ
ラー信号は、以下のようにして検出される。先づ、スピ
ンドルモータが作動して、光ディスク１８が回転駆動さ
れる。この状態において、半導体レーザ素子１１からの
光ビームが、対物レンズ１５を介して、光ディスク１８
の信号記録面に集光され、該光ディスク１８の信号記録
面からの戻り光は、対物レンズ１５を介して、さらにコ
リメータレンズ１４，ビームスプリッタ１３を介して、
光検出器１６の受光面に入射する。対物レンズ１５は、
二軸アクチュエータ１７のフォーカスサーボ回路３１に
よって、光ビームが光ディスク１８の信号記録面に結像
するようにフォーカスサーボされる。このとき、光検出
器の検出信号に基づいて、フォーカスサーボ回路３１
は、フォーカシングを行なうように、二軸アクチュエー
タ１７に対して、フォーカスアクチュエータ駆動信号Ｓ
１を出力する。According to the tangential skew detecting device 30 having such a configuration, the tangential skew error signal is detected as follows. First, the spindle motor is activated to rotate the optical disc 18. In this state, the light beam from the semiconductor laser device 11 passes through the objective lens 15 and the optical disc 18
The return light from the signal recording surface of the optical disc 18 is condensed on the signal recording surface of the optical disc 18, passes through the objective lens 15, and further through the collimator lens 14 and the beam splitter 13.
It is incident on the light receiving surface of the photodetector 16. The objective lens 15 is
The focus servo circuit 31 of the biaxial actuator 17 performs focus servo so that the light beam forms an image on the signal recording surface of the optical disc 18. At this time, based on the detection signal of the photodetector, the focus servo circuit 31
To the biaxial actuator 17 so as to perform focusing.
Outputs 1.

【００４０】ここで、上記フォーカスアクチュエータ駆
動信号Ｓ１は、低域通過フィルタ３２により、高域ノイ
ズ等の高域成分をカットされた後、サンプリング回路３
３にも入力される。これにより、サンプリング回路３３
は、ディスク回転周期信号４０に基づいてパルス発生回
路４１により生成されるパルス信号によるタイミング
で、上記フォーカスアクチュエータ駆動信号Ｓ１のサン
プリングを行ない、光ディスク１８の一回転毎に各ディ
スク領域についてＮ個のデジタル化されたデータを出力
する。そして、このサンプリングは、光ディスク１８の
Ｍ回転の間、一回転毎に行なわれる。そして、格納手段
３４は、サンプリング回路３３から入力されるデジタル
化されたデータを順次にディスク領域毎に格納する。Here, the focus actuator drive signal S1 is cut by the low-pass filter 32 to remove high-frequency components such as high-frequency noise, and then the sampling circuit 3
It is also input to 3. As a result, the sampling circuit 33
Performs sampling of the focus actuator drive signal S1 at a timing based on a pulse signal generated by a pulse generation circuit 41 based on the disc rotation cycle signal 40, and N digital signals for each disc area for each revolution of the optical disc 18. Output the converted data. Then, this sampling is performed every one rotation during the M rotations of the optical disc 18. Then, the storage means 34 sequentially stores the digitized data input from the sampling circuit 33 for each disk area.

【００４１】これにより、平均化手段３５は、格納手段
３４に格納されたデータに関して、各ディスク領域毎
に、それぞれＭ個のデータを読み出して平均化する。そ
して、平均化されたデータを、そのディスク領域の代表
データとして差分検出手段３６に出力する。ところで、
一般的には、フォーカスアクチュエータ駆動信号に含ま
れる、光ディスク１８のディスク欠陥等や他の駆動信号
等からの洩れ込み等により、ランダムな高域ノイズ分が
かなり含まれている。従って、Ｍ個のデータを平均化す
ることにより、これらのランダムな高域ノイズ分が抑制
され、より正確なデータが得られることになる。As a result, the averaging means 35 averages the data stored in the storage means 34 by reading M data for each disk area. Then, the averaged data is output to the difference detection means 36 as the representative data of the disk area. by the way,
Generally, a large amount of random high frequency noise is included in the focus actuator drive signal due to a disk defect of the optical disk 18 or leakage from other drive signals. Therefore, by averaging M pieces of data, these random high frequency noise components are suppressed, and more accurate data can be obtained.

【００４２】かくして、差分検出手段３６は、平均化手
段３５からの各ディスク領域の代表データと、一つ前の
隣接するディスク領域の代表データとを比較して、その
差分Δｙを検出する。この差分Δｙは、単位距離である
Δｘが各ディスク領域で一定であることから、光ディス
ク１８の表面の面振れ量の変化、即ち微分を表わすの
で、タンジェンシャルスキューデータが得られることに
なる。Thus, the difference detecting means 36 compares the representative data of each disk area from the averaging means 35 with the representative data of the immediately preceding adjacent disk area and detects the difference Δy. This difference Δy represents a change in surface wobbling amount of the surface of the optical disc 18, that is, a differential because the unit distance Δx is constant in each disc area, so that tangential skew data can be obtained.

【００４３】このようにして得られたタンジェンシャル
スキューデータは、Ｄ／Ａ変換回路３７により、アナロ
グ信号であるタンジェンシャルスキューエラー信号に変
換された後、低域通過フィルタ３８により、不要な高域
成分がカットされ、調整回路３９に入力される。The tangential skew data thus obtained is converted by the D / A conversion circuit 37 into a tangential skew error signal which is an analog signal, and then an unnecessary high-pass filter 38 is used. The components are cut and input to the adjustment circuit 39.

【００４４】最後に、調整回路３９は、低域通過フィル
タ３８を介して入力されるタンジェンシャルスキューエ
ラー信号を、単位系を距離（Δｘ）から時間（Δｔ）に
変換し、単位時間に関するタンジェンシャルスキューエ
ラー信号が検出され得ることになる。Finally, the adjusting circuit 39 converts the tangential skew error signal input via the low pass filter 38 from the distance (Δx) to the time (Δt) in the unit system, and the tangential concerning the unit time. The skew error signal will be detected.

【００４５】図１０は、本発明によるタンジェンシャル
スキュー調整装置を備えた光学ピックアップの第二の実
施形態を示している。図１０において、光学ピックアッ
プ５０は、図１に示した光学ピックアップ１０における
圧電バイモルフ素子２６の代わりに、固定された支点５
１に対して揺動可能に支持されたアーム５２と、アーム
５２の先端を上下方向に変位させるリニアアクチュエー
タ５３が備えられている点を除いて、他の構成即ち、二
軸アクチュエータ１７は、図１の光学ピックアップ１０
と同様の構成である。FIG. 10 shows a second embodiment of an optical pickup equipped with the tangential skew adjusting device according to the present invention. 10, an optical pickup 50 has a fixed fulcrum 5 instead of the piezoelectric bimorph element 26 in the optical pickup 10 shown in FIG.
1 is provided with a swingably supported arm 52 and a linear actuator 53 that vertically displaces the tip of the arm 52. 1 optical pickup 10
This is the same configuration as.

【００４６】上記アーム５２は、剛性材料から構成され
ていると共に、その先端が、固定部２１の下端に取り付
けられている。The arm 52 is made of a rigid material, and its tip is attached to the lower end of the fixed portion 21.

【００４７】リニアアクチュエータ５３は、入力される
制御信号に応じて、可動部５３ａが上下動するように構
成されている。The linear actuator 53 is constructed so that the movable portion 53a moves up and down in response to an input control signal.

【００４８】このような構成によれば、リニアアクチュ
エータ５３が、タンジェンシャルスキューエラー信号に
基づいて駆動されることにより、図１０に示すように、
アーム５２の先端が、タンジェンシャルスキュー量に応
じて変位するので、対物レンズ１５の光軸が、タンジェ
ンシャル方向に傾くことになり、タンジェンシャルスキ
ューが補正され得る。According to this structure, the linear actuator 53 is driven based on the tangential skew error signal, so that as shown in FIG.
Since the tip of the arm 52 is displaced according to the tangential skew amount, the optical axis of the objective lens 15 is tilted in the tangential direction, and the tangential skew can be corrected.

【００４９】尚、上記実施形態においては、アーム５２
を揺動させるために、リニアアクチュエータ５３が使用
されているが、アーム５２を揺動させ得るものであれ
ば、他の手段、例えば積層型圧電アクチュエータであっ
てもよい。In the above embodiment, the arm 52
Although the linear actuator 53 is used to swing the arm, other means such as a laminated piezoelectric actuator may be used as long as the arm 52 can be swung.

【００５０】図１１は、本発明によるタンジェンシャル
スキュー調整装置を備えた光学ピックアップの第三の実
施形態を示している。図１１において、光学ピックアッ
プ６０は、圧電バイモルフ素子２６の固定側が、さらに
光ディスク１８の半径方向に延びる圧電バイモルフ素子
６１を介して、二軸ベース２３に固定されている点を除
いて、他の構成即ち、二軸アクチュエータ１７は、図１
の光学ピックアップ１０と同様の構成である。FIG. 11 shows a third embodiment of an optical pickup equipped with the tangential skew adjusting device according to the present invention. In FIG. 11, the optical pickup 60 has another configuration except that the fixed side of the piezoelectric bimorph element 26 is fixed to the biaxial base 23 via a piezoelectric bimorph element 61 that further extends in the radial direction of the optical disc 18. That is, the biaxial actuator 17 is similar to that shown in FIG.
The optical pickup 10 has the same configuration as the optical pickup 10.

【００５１】圧電バイモルフ素子６１は、圧電バイモル
フ素子２６と同様に、二枚の圧電セラミックス板から構
成されていて、一端を固定して電圧を印加することによ
り、印加電圧に応じて、他端が変位するようになってい
ると共に、一端が、圧電バイモルフ素子２６の固定側に
取り付けられ、また他端６１ａが、二軸ベース２３ある
いは他の固定部に対して固定保持されている。Like the piezoelectric bimorph element 26, the piezoelectric bimorph element 61 is composed of two piezoelectric ceramic plates, and one end is fixed and a voltage is applied. In addition to being displaced, one end is attached to the fixed side of the piezoelectric bimorph element 26, and the other end 61a is fixed and held to the biaxial base 23 or another fixed portion.

【００５２】このような構成の光学ピックアップ６０に
よれば、圧電バイモルフ素子２６が、タンジェンシャル
スキューエラー信号に基づいて駆動されることにより、
図１１に示すように、圧電バイモルフ素子２６の先端
が、タンジェンシャルスキュー量に応じて変位して、対
物レンズ１５の光軸が、タンジェンシャル方向に傾くこ
とになり、タンジェンシャルスキューが補正され得る。
また、圧電バイモルフ素子６１が、ラジアルスキューエ
ラー信号に基づいて駆動されることにより、図１１に示
すように、圧電バイモルフ素子６１の先端が、ラジアル
スキュー量に応じて変位して、対物レンズ１５の光軸
が、ラジアル方向に傾くことになり、ラジアルスキュー
が補正され得る。According to the optical pickup 60 having such a configuration, the piezoelectric bimorph element 26 is driven based on the tangential skew error signal,
As shown in FIG. 11, the tip of the piezoelectric bimorph element 26 is displaced according to the tangential skew amount, and the optical axis of the objective lens 15 is tilted in the tangential direction, so that the tangential skew can be corrected. .
Further, as the piezoelectric bimorph element 61 is driven based on the radial skew error signal, the tip of the piezoelectric bimorph element 61 is displaced in accordance with the radial skew amount, and the objective lens 15 of the objective lens 15 is displaced as shown in FIG. The optical axis will be tilted in the radial direction, and the radial skew can be corrected.

【００５３】[0053]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、光
ディスクの面振れによるタンジェンシャルスキューが補
正され得ることになり、光ディスクの読取性能が向上す
ることになり、高密度記録光ディスクに最適な光学ピッ
クアップが得られることになる。さらに、高ＮＡ化，短
波長化等によって、スキュートレランスが小さい場合で
あっても、本発明によるスキュー調整によって、光ディ
スクの信号読取が確実に行なわれ得ることになる。As described above, according to the present invention, the tangential skew due to the surface wobbling of the optical disc can be corrected, the reading performance of the optical disc is improved, and it is suitable for the high density recording optical disc. You can get a good optical pickup. Further, even if the skew tolerance is small due to the high NA, the short wavelength, etc., the signal adjustment of the optical disc can be surely performed by the skew adjustment according to the present invention.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】本発明によるタンジェンシャルスキュー調整装
置を備えた光学ピックアップの第一の実施形態を示す概
略断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a first embodiment of an optical pickup equipped with a tangential skew adjustment device according to the present invention.

【図２】図１の光学ピックアップにおける二軸アクチュ
エータを示す部分拡大図である。FIG. 2 is a partially enlarged view showing a biaxial actuator in the optical pickup of FIG.

【図３】図２の二軸アクチュエータにおける磁気回路の
部分を示す部分拡大図である。3 is a partially enlarged view showing a magnetic circuit portion in the biaxial actuator of FIG.

【図４】図１の光学ピックアップで使用されるタンジェ
ンシャルスキュー調整用の圧電バイモルフ素子の構成を
示す拡大側面図である。4 is an enlarged side view showing the configuration of a piezoelectric bimorph element for adjusting tangential skew used in the optical pickup of FIG.

【図５】圧電バイモルフ素子の構成例を示す概略図であ
る。FIG. 5 is a schematic diagram showing a configuration example of a piezoelectric bimorph element.

【図６】図５の圧電バイモルフ素子による電圧−角度特
性を示すグラフである。6 is a graph showing voltage-angle characteristics of the piezoelectric bimorph element of FIG.

【図７】図１の光学ピックアップによるスキュー調整を
示す概略図である。FIG. 7 is a schematic diagram showing skew adjustment by the optical pickup of FIG.

【図８】図１の光学ピックアップで使用されるタンジェ
ンシャルスキュー調整装置の他の構成例を示すブロック
図である。8 is a block diagram showing another configuration example of the tangential skew adjustment device used in the optical pickup of FIG.

【図９】図８の装置によるタンジェンシャルスキュー量
の検出を示す概念図である。9 is a conceptual diagram showing detection of a tangential skew amount by the apparatus of FIG.

【図１０】本発明によるタンジェンシャルスキュー調整
装置を備えた光学ピックアップの第二の実施形態を示す
概略断面図である。FIG. 10 is a schematic cross-sectional view showing a second embodiment of an optical pickup provided with the tangential skew adjusting device according to the present invention.

【図１１】本発明によるタンジェンシャルスキュー調整
装置及びラジアルスキュー調整装置を備えた光学ピック
アップの第三の実施形態を示す概略斜視図である。FIG. 11 is a schematic perspective view showing a third embodiment of an optical pickup including a tangential skew adjusting device and a radial skew adjusting device according to the present invention.

【図１２】従来の光学ピックアップの一例を示す概略断
面図である。FIG. 12 is a schematic sectional view showing an example of a conventional optical pickup.

【図１３】図１２の光学ピックアップにおけるフォーカ
シング及びトラッキングを示す概略斜視図である。13 is a schematic perspective view showing focusing and tracking in the optical pickup of FIG.

【図１４】図１２の光学ピックアップにおけるタンジェ
ンシャルスキュー及びラジアルスキューを示す概略斜視
図である。14 is a schematic perspective view showing tangential skew and radial skew in the optical pickup of FIG.

【図１５】従来のレーザーディスクプレーヤにおけるラ
ジアルスキュー補正を説明する概略図である。FIG. 15 is a schematic diagram illustrating radial skew correction in a conventional laser disc player.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１０ 光学ピックアップ １１ 半導体レーザ素子 １２ グレーティング １３ ビームスプリッタ １４ コリメータレンズ １５ 対物レンズ １６ 光検出器 １７ 二軸アクチュエータ １８ 光ディスク １９ レンズホルダー ２０ コイルボビン ２１ 固定部 ２２ 弾性支持部材 ２３ 二軸ベース ２４ ヨーク ２５ マグネット ２６ 圧電バイモルフ素子（アーム手段，駆動手段） ２７ ＲＦレベル検出回路 ２８ アンプ ３０ タンジェンシャルスキュー検出装置 ３１ フォーカスサーボ回路 ３２ 低域通過フィルタ ３３ サンプリング回路 ３４ 格納手段 ３５ 平均化手段 ３６ 差分検出手段 ３７ Ｄ／Ａ変換回路 ３８ 低域通過フィルタ ３９ 調整回路 ４０ ディスク回転同期信号 ４１ パルス発生回路 ５０ 光学ピックアップ ５１ 支点 ５２ アーム ５３ リニアアクチュエータ ６０ 光学ピックアップ ６１ ラジアルスキュー調整用の圧電バイモルフ素子 10 Optical Pickup 11 Semiconductor Laser Element 12 Grating 13 Beam Splitter 14 Collimator Lens 15 Objective Lens 16 Photodetector 17 Biaxial Actuator 18 Optical Disc 19 Lens Holder 20 Coil Bobbin 21 Fixed Part 22 Elastic Support Member 23 Biaxial Base 24 Yoke 25 Magnet 26 Piezoelectric Bimorph element (arm means, drive means) 27 RF level detection circuit 28 Amplifier 30 Tangential skew detection device 31 Focus servo circuit 32 Low-pass filter 33 Sampling circuit 34 Storage means 35 Averaging means 36 Difference detection means 37 D / A conversion Circuit 38 Low-pass filter 39 Adjustment circuit 40 Disk rotation synchronization signal 41 Pulse generation circuit 50 Optical pickup 51 Support point 52 Arm 53 Linear Chueta 60 optical pickup 61 piezoelectric bimorph element for radial skew adjustment

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 発光手段と、 前記発光手段からの光を光ディスク上に照射する対物レ
ンズと、 前記対物レンズを二軸方向に移動可能に支持するアクチ
ュエータと、 前記光ディスクからの戻り光を検出する光検出器と、を
含んでいる光学ピックアップにおいて、 一端が前記アクチュエータの固定部に連結され、他端が
固定保持されたアーム手段と、 このアーム手段の一端を所定量だけ変位させる駆動手段
と、を含んでいることを特徴とするスキュー調整装置。1. A light emitting unit, an objective lens for irradiating the optical disc with light from the light emitting unit, an actuator for movably supporting the objective lens in two axial directions, and detection of return light from the optical disc. In an optical pickup including a photodetector, one end of which is connected to a fixed portion of the actuator and the other end of which is fixedly held, and driving means which displaces one end of the arm means by a predetermined amount, A skew adjusting device comprising: 【請求項２】 前記アーム手段が、圧電バイモルフ素子
から構成されており、前記駆動手段を兼用するように構
成されていることを特徴とする請求項１に記載のスキュ
ー調整装置。2. The skew adjusting device according to claim 1, wherein the arm means is composed of a piezoelectric bimorph element, and is configured to also serve as the driving means. 【請求項３】 前記アーム手段が、前記光ディスクに対
して接線方向に延びていて、その変位によりタンジェン
シャルスキューを調整することを特徴とする請求項１に
記載のスキュー調整装置。3. The skew adjusting device according to claim 1, wherein the arm means extends in a tangential direction with respect to the optical disk, and adjusts the tangential skew by the displacement thereof. 【請求項４】 前記アーム手段が、前記光ディスクに対
して半径方向に延びていて、その変位によりラジアルス
キューを調整することを特徴とする請求項１に記載のス
キュー調整装置。4. The skew adjusting device according to claim 1, wherein the arm means extends in a radial direction with respect to the optical disk, and adjusts a radial skew by the displacement thereof.