JPH09321600A - Logic circuit - Google Patents

Logic circuit

Info

Publication number
JPH09321600A
JPH09321600A JP8156025A JP15602596A JPH09321600A JP H09321600 A JPH09321600 A JP H09321600A JP 8156025 A JP8156025 A JP 8156025A JP 15602596 A JP15602596 A JP 15602596A JP H09321600 A JPH09321600 A JP H09321600A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
logic circuit
power supply
transistor
circuit group
potential
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8156025A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3341805B2 (en
Inventor
Shinichiro Muto
伸一郎 武藤
Takakuni Douseki
隆国 道関
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP15602596A priority Critical patent/JP3341805B2/en
Publication of JPH09321600A publication Critical patent/JPH09321600A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3341805B2 publication Critical patent/JP3341805B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the power consumption in a 2nd logic circuit by changing rapidly the level of a pseudo power supply line when transition of a current supply period for a logic circuit group to a current supply stop period is made. SOLUTION: A switch SW1 is controlled to be nonconductive with a sleep control signal via a sleep control line SL for a period (sleep state) when a logic circuit group L1 makes no logic operation and no power is supplied to a logic circuit group L1. Thus, the production of a leakage current in the logic circuit group L1 is suppressed. In this case, a switch SW2 is conductive through a sleep control line SLN', and since the charge stored in a power terminal PA at a high level of the logic circuit group L1 is discharged via the switch SW2 just after the logic circuit group L1 enters the sleep state, the level of the power terminal PA at the high level is quickly lowered to the level of a low voltage power supply V2. The logic gate output level in the logic circuit group L1 reaches the low power V2 level quickly following the reduction.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電源供給/供給中
断が制御される論理回路に係り、特に、電源供給状態か
ら供給中断状態に至る過程における電力消費を低減する
ことができる論理回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a logic circuit in which power supply / supply interruption is controlled, and more particularly to a logic circuit capable of reducing power consumption in a process from a power supply state to a supply interruption state.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、各種電子機器の小型化携帯化の要
求に応えるために、集積回路の低電圧動作化が進められ
ている。そのための技術の一例として、電子情報通信学
会春季全国大会論文予稿集に、MTCMOS(Multi-Th
reshold-Voltage CMOS)回路が記載されている。
2. Description of the Related Art In recent years, in order to meet the demand for miniaturization and portability of various electronic devices, low voltage operation of integrated circuits has been promoted. As an example of the technology for that purpose, MTCMOS (Multi-Th
reshold-voltage CMOS) circuit is described.

【0003】図9は、従来のMTCMOS回路110を
示す回路図である。
FIG. 9 is a circuit diagram showing a conventional MTCMOS circuit 110.

【0004】MTCMOS回路110は、論理回路群L
1とP−ch高閾値電圧のトランジスタQAとで構成さ
れ、CMOSで構成される論理回路群L1がスタンバイ
しているときに、論理回路群L1における消費電力の増
大を阻止することができる回路である。
The MTCMOS circuit 110 includes a logic circuit group L.
1 and a transistor QA having a P-ch high threshold voltage, and a circuit capable of preventing an increase in power consumption in the logic circuit group L1 when the logic circuit group L1 composed of CMOS is on standby. is there.

【0005】論理回路群L1は、論理ゲートG1等を単
一または複数個有する論理回路であり、論理ゲートG1
は、低閾値電圧のP−chMOSトランジスタQ1と、
低閾値電圧のN−chMOSトランジスタQ2とによっ
て構成されている。論理回路群L1における複数の論理
ゲートG1の各高電位側が共通化され、また、各低電位
側の電源端子が共通化され、低電位側の電源端子は、低
電位電源V2に直接接続されているが、高電位側の電源
端は、疑似電源線VAに接続されている。
The logic circuit group L1 is a logic circuit having a single or a plurality of logic gates G1 and the like.
Is a low threshold voltage P-ch MOS transistor Q1 and
It is composed of a low threshold voltage N-ch MOS transistor Q2. The high potential sides of the plurality of logic gates G1 in the logic circuit group L1 are made common, the power supply terminals on the low potential side are made common, and the power supply terminals on the low potential side are directly connected to the low potential power supply V2. However, the power source end on the high potential side is connected to the pseudo power source line VA.

【0006】P−chトランジスタQAは、上記低閾値
電圧よりも高い高閾値電圧を有するトランジスタであ
り、疑似電源VAと高電位側の実電源線V1との間に接
続され、トランジスタQAのゲート端子はスリープ制御
線SLに接続されている。
The P-ch transistor QA is a transistor having a high threshold voltage higher than the low threshold voltage, is connected between the pseudo power source VA and the high-potential-side real power source line V1, and has a gate terminal of the transistor QA. Is connected to the sleep control line SL.

【0007】次に、MTCMOS回路110の動作につ
いて説明する。
Next, the operation of the MTCMOS circuit 110 will be described.

【0008】一般に、トランジスタの閾値電圧を下げる
とリーク電流阻止能力が低下し、スタンバイ時の消費電
力が増大する。すなわち、CMOSトランジスタがオフ
状態時にソース−ドレイン間にリーク電流が流れ、スタ
ンバイ時の消費電力が増大する。ところが、MTCMO
S回路110においては、スリープ制御と呼ぶパワーマ
ネジメント機能を導入することによって、スタンバイ時
の消費電力の増大を阻止している。
Generally, when the threshold voltage of a transistor is lowered, the leak current blocking capability is lowered and the power consumption during standby is increased. That is, when the CMOS transistor is in the off state, a leak current flows between the source and the drain, and power consumption during standby increases. However, MTCMO
In the S circuit 110, an increase in power consumption during standby is prevented by introducing a power management function called sleep control.

【0009】つまり、論理回路群L1の通常動作時(ア
クティブ時)には、スリープ制御線SLを低電位に設定
し、これによって、高閾値電圧のトランジスタQAが導
通し、疑似電源線VAが実電源線V1と同等に電源線と
して働き、論理回路群L1に電力を供給する。この疑似
電源VAと低電位電源V2との間に接続されている論理
回路群L1は、低閾値電圧のトランジスタで構成されて
いるので、電源電圧を1V近辺と非常に低くしても、高
速に動作する。
That is, during the normal operation (when active) of the logic circuit group L1, the sleep control line SL is set to a low potential, whereby the transistor QA having a high threshold voltage becomes conductive and the pseudo power supply line VA actually becomes active. It functions as a power supply line equivalent to the power supply line V1 and supplies power to the logic circuit group L1. Since the logic circuit group L1 connected between the pseudo power source VA and the low potential power source V2 is composed of transistors having a low threshold voltage, even if the power source voltage is extremely low around 1V, the logic circuit group L1 can operate at high speed. Operate.

【0010】一方、論理回路L1を動作させない時(ス
タンバイ時)には、その論理回路群L1をスリープ状態
にする。具体的には、スリープ制御線SLを高電位に
し、高閾値電圧のトランジスタQAを遮断状態にする。
これによって、実電源線V1と低電位電源V2との間
に、遮断された高閾値電圧のトランジスタQAが入り、
論理回路群L1におけるリーク電流の発生を抑える。論
理回路群L1において、たとえ低閾値トランジスタQ
1、Q2が使用されていても、トランジスタQ1、Q2
に大きなリーク電流が流れることはなく、スタンバイ時
にも非常に低電力な特性を実現することができる。
On the other hand, when the logic circuit L1 is not operated (standby), the logic circuit group L1 is put into a sleep state. Specifically, the sleep control line SL is set to a high potential and the transistor QA having a high threshold voltage is cut off.
As a result, the interrupted high threshold voltage transistor QA is inserted between the actual power supply line V1 and the low potential power supply V2,
Generation of a leak current in the logic circuit group L1 is suppressed. In the logic circuit group L1, even the low threshold transistor Q
Even if 1 and Q2 are used, transistors Q1 and Q2
A large leak current does not flow into the device, and very low power consumption can be achieved even during standby.

【0011】図10は、MTCMOS回路110におい
て、論理回路L1がアクティブ状態からスリープ状態に
移行するときにおける疑似電源線VAの電位変化を示す
図である。
FIG. 10 is a diagram showing a potential change of the pseudo power supply line VA when the logic circuit L1 shifts from the active state to the sleep state in the MTCMOS circuit 110.

【0012】スリープ制御線SLが低電位から高電位に
変化すると、P−ch高閾値電圧のトランジスタQAが
遮断状態になり、論理回路群L1がスリープ状態に移行
する。低閾値電圧MOSトランジスタQ1、Q2による
リーク電流によって、疑似電源線VAに蓄えられた電荷
が引き抜かれるので、疑似電源線VAの電位が徐々に降
下する。疑似電源線VAの等価容量をCとし、高電位側
実電源線V1の電位をv1とし、低電位側電源V2の電
圧をv2とし、低閾値電圧MOSトランジスタQ1、Q
2のオフリーク電流の総和をIleakとすると、疑似電源
線VAの電位が低電位電源V2のレベルv2になるまで
に要する時間Tは、 T=C(v1−v2)/Ileak で表される。
When the sleep control line SL changes from the low potential to the high potential, the transistor QA having the P-ch high threshold voltage is cut off, and the logic circuit group L1 shifts to the sleep state. Since the electric charge stored in the pseudo power supply line VA is extracted by the leak current of the low threshold voltage MOS transistors Q1 and Q2, the potential of the pseudo power supply line VA gradually drops. The equivalent capacity of the pseudo power source line VA is C, the potential of the high potential side real power source line V1 is v1, the voltage of the low potential side power source V2 is v2, and the low threshold voltage MOS transistors Q1, Q
When the sum of the off-leakage currents of 2 is I leak , the time T required for the potential of the pseudo power supply line VA to reach the level v2 of the low potential power supply V2 is expressed by T = C (v1-v2) / I leak. .

【0013】ここで、疑似電源線VAの等価容量Cは、
各トランジスタのソース、ドレイン容量等で構成されて
いるので、大きい値の容量である。また、トランジスタ
のオフリーク電流は、閾値電圧が低いので、比較的大き
な電流であるが、トランジスタのオン電流に比べれば、
数桁小さい値である。したがって、遷移時間Tは、比較
的大きい値をとる。たとえば、0.5μmプロセスで試
作した集積回路の測定によれば、疑似電源線VAの電位
が低電位電源V2のレベルv2になるまでに要する時間
Tの値は、数十マイクロ秒から数百マイクロ秒程度にな
る。
Here, the equivalent capacitance C of the pseudo power line VA is
Since it is composed of the source and drain capacitances of each transistor, the capacitance is large. Further, the off-leakage current of the transistor is a relatively large current because the threshold voltage is low, but compared with the on-current of the transistor,
It is a few orders of magnitude smaller. Therefore, the transition time T has a relatively large value. For example, according to the measurement of an integrated circuit prototyped in the 0.5 μm process, the value of the time T required for the potential of the pseudo power source line VA to reach the level v2 of the low potential power source V2 is several tens of microseconds to several hundreds of microseconds. It will be about a second.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】図11は、従来のMT
CMOS110aを示す図である。
FIG. 11 shows a conventional MT.
It is a figure which shows CMOS110a.

【0015】MTCMOS110aは、MTCMOS1
11とMTCMOS112とが縦列接続された回路であ
り、MTCMOS111、MTCMOS112は、それ
ぞれ、MTCMOS110と同様に構成され、MTCM
OS111内の論理回路群L1に含まれる論理ゲートG
1の出力端子o1が、MTCMOS112内の論理回路
群L2に含まれる論理ゲートG2の入力端子i2に接続
されている。
The MTCMOS 110a is the MTCMOS1.
11 and MTCMOS 112 are cascade-connected circuits, and MTCMOS 111 and MTCMOS 112 are respectively configured similarly to MTCMOS 110, and MTCM
A logic gate G included in the logic circuit group L1 in the OS 111
The output terminal o1 of 1 is connected to the input terminal i2 of the logic gate G2 included in the logic circuit group L2 in the MTCMOS 112.

【0016】MTCMOS111は、高閾値電圧のトラ
ンジスタQA1と論理回路群L1とを有する。論理回路
群L1は、疑似電源線VA1に接続され、疑似電源線V
A1と実電源線V1との間に、スリープ制御用の高閾値
電圧のトランジスタQA1が接続され、高閾値電圧のト
ランジスタQA1のゲート端子には、スリープ制御線S
L1が接続されている。
The MTCMOS 111 has a high threshold voltage transistor QA1 and a logic circuit group L1. The logic circuit group L1 is connected to the pseudo power supply line VA1 and is connected to the pseudo power supply line V1.
A high threshold voltage transistor QA1 for sleep control is connected between A1 and the actual power supply line V1, and the sleep control line S is connected to the gate terminal of the high threshold voltage transistor QA1.
L1 is connected.

【0017】また、MTCMOS112は、高閾値電圧
のトランジスタQA2と論理回路群L2とを有する。論
理回路群L2は、疑似電源線VA2に接続され、疑似電
源線VA2と実電源線V2との間には、スリープ制御用
の高閾値電圧のトランジスタQA2が接続され、高閾値
電圧のトランジスタQA2のゲート端子に、スリープ制
御線SL2が接続されている。
The MTCMOS 112 also has a high threshold voltage transistor QA2 and a logic circuit group L2. The logic circuit group L2 is connected to the pseudo power supply line VA2, and a high threshold voltage transistor QA2 for sleep control is connected between the pseudo power supply line VA2 and the real power supply line V2. The sleep control line SL2 is connected to the gate terminal.

【0018】ここで、MTCMOS110aにおいて、
スリープ制御用の高閾値電圧のトランジスタQA1を介
して、電力供給を受ける論理回路群L1が、アクティブ
状態からスリープ状態に移行し、一方、スリープ制御用
の高閾値電圧のトランジスタQA2を介して、電力供給
を受ける論理回路群L2が、アクティブ状態のままであ
る場合の動作を考える。
Here, in the MTCMOS 110a,
The logic circuit group L1 that is supplied with power via the high-threshold voltage transistor QA1 for sleep control transitions from the active state to the sleep state, while power is supplied via the high-threshold voltage transistor QA2 for sleep control. Consider the operation when the supplied logic circuit group L2 remains in the active state.

【0019】論理回路群L1をスリープ状態に移行させ
る際に、疑似電源線VAの電位は、非常にゆっくりと低
電位電源V2の電位へ下降する。この疑似電源線VAの
電位がゆっくりと低下するのに伴い、論理ゲートG1の
出力端子o1の電位もゆっくりと下降する。ここで、論
理ゲートG1の出力端子o1は、論理ゲートG2の入力
端子i2に接続されているので、論理ゲートG2の入力
電位が非常にゆっくりと変化していることになる。
When transitioning the logic circuit group L1 to the sleep state, the potential of the pseudo power source line VA drops very slowly to the potential of the low potential power source V2. As the potential of the pseudo power supply line VA slowly drops, the potential of the output terminal o1 of the logic gate G1 also slowly drops. Since the output terminal o1 of the logic gate G1 is connected to the input terminal i2 of the logic gate G2, the input potential of the logic gate G2 changes very slowly.

【0020】ここで、N−chトランジスタの閾値電圧
の絶対値をVtnとし、P−chトランジスタの閾値電
圧の絶対値をVtpとすると、CMOS回路では、入力
の電位が絶対値Vtnよりも大きければ、N−chトラ
ンジスタが導通し、また、(実電源線V1の電圧−Vt
p)よりも入力電位が低ければ、P−chトランジスタ
が導通する。したがって、図10に網掛けで示すよう
に、論理ゲートG2を構成するCMOSゲートのP−c
hトランジスタもN−chトランジスタも、導通状態に
なる期間が非常に長くなり、実電源線V1→論理ゲート
G2→低電位電源V2という経路で非常に大きな貫通電
流が流れる続ける。したがって、集積回路全体での消費
電流が増大するという問題がある。
Here, when the absolute value of the threshold voltage of the N-ch transistor is Vtn and the absolute value of the threshold voltage of the P-ch transistor is Vtp, in a CMOS circuit, if the input potential is larger than the absolute value Vtn. , The N-ch transistor becomes conductive, and (the voltage of the actual power supply line V1 −Vt
If the input potential is lower than that of p), the P-ch transistor becomes conductive. Therefore, as indicated by hatching in FIG. 10, the CMOS gate P-c forming the logic gate G2 is
Both the h-transistor and the N-ch transistor have a very long period in which they are in a conductive state, and a very large through current continues to flow in the path of the real power supply line V1 → the logic gate G2 → the low potential power supply V2. Therefore, there is a problem that the current consumption of the entire integrated circuit increases.

【0021】図12は、従来のMTCMOS回路120
を示す回路図である。
FIG. 12 shows a conventional MTCMOS circuit 120.
FIG.

【0022】MTCMOS回路120は、図9に示すM
TCMOS回路110において、P−ch高閾値電圧の
トランジスタQAと疑似電源線VAとを削除し、低電位
側電源V2側に、スリープ制御用のN−ch高閾値電圧
トランジスタQBと、疑似電源線VBとを挿入した回路
である。
The MTCMOS circuit 120 has an M structure shown in FIG.
In the TCMOS circuit 110, the P-ch high threshold voltage transistor QA and the pseudo power supply line VA are deleted, and the N-ch high threshold voltage transistor QB for sleep control and the pseudo power supply line VB are provided on the low potential side power supply V2 side. It is a circuit with and inserted.

【0023】MTCMOS回路120において、ゲート
電極に接続されたスリープ制御線SLの制御によって、
スリープ制御を実現する。つまり、論理回路群L1がア
クティブ時からスリープ時に移行する際には、スリープ
制御線SLが低電位になり、N−chトランジスタQB
が遮断状態になる。論理回路群L1のアクティブ時に
は、低電位電源V2のレベルであった疑似電源線VBの
電位は、論理回路群L1のリーク電流によって、非常に
ゆっくりとした速度で、実電源線V1のレベルに充電さ
れる。このために、従来のMTCMOS回路110にお
ける上記説明と同様に、集積回路全体での消費電流が増
大するという問題が生じる。
In the MTCMOS circuit 120, by controlling the sleep control line SL connected to the gate electrode,
Achieve sleep control. That is, when the logic circuit group L1 shifts from the active state to the sleep state, the sleep control line SL becomes low potential, and the N-ch transistor QB
Is cut off. When the logic circuit group L1 is active, the potential of the pseudo power supply line VB, which was at the level of the low potential power supply V2, is charged to the level of the real power supply line V1 at a very slow speed due to the leak current of the logic circuit group L1. To be done. Therefore, similar to the above description of the conventional MTCMOS circuit 110, there arises a problem that the current consumption of the entire integrated circuit increases.

【0024】図13は、従来のMTCMOS回路130
を示す回路図である。
FIG. 13 shows a conventional MTCMOS circuit 130.
FIG.

【0025】MTCMOS回路130は、MTCMOS
回路110において、論理回路群を構成するトランジス
タQ1、Q2の閾値電圧と、電源供給/供給停止を制御
するスリープ制御用の高閾値電圧のトランジスタQAの
閾値電圧とを、同じ閾値電圧にした回路である。
The MTCMOS circuit 130 is an MTCMOS
In the circuit 110, a circuit in which the threshold voltages of the transistors Q1 and Q2 that configure the logic circuit group and the threshold voltage of the high-threshold voltage transistor QA for sleep control that controls power supply / stop are set to the same threshold voltage. is there.

【0026】MTCMOS回路130において、論理回
路群L1の通常動作時には、スリープ制御線SLを低電
位に設定し、高閾値電圧のトランジスタQAが導通する
ので、疑似電源線VAが高電位側実電源線V1と同等に
働く。したがって、この疑似電源線VAと低電位側電源
V2との間に接続とれている論理ゲートG1等で構成さ
れている論理回路群L1は、所望の論理動作を実行でき
る。
In the MTCMOS circuit 130, during the normal operation of the logic circuit group L1, the sleep control line SL is set to a low potential and the transistor QA having a high threshold voltage is rendered conductive, so that the pseudo power supply line VA is a high potential side real power supply line. Works the same as V1. Therefore, the logic circuit group L1 including the logic gate G1 and the like connected between the pseudo power supply line VA and the low potential side power supply V2 can execute a desired logic operation.

【0027】一方、論理回路群L1が動作を行う必要の
ないスリープ期間においては、スリープ制御線SLを高
電位にし、スリープ制御トランジスタQAを遮断状態に
する。CMOS回路においては、非動作時にも、高電位
電源から低電位電源に向かってリーク電流が流れ、この
リーク電流によって電力が消費される。このリーク電流
量は、スリープ制御トランジスタQAの幅に依存する。
On the other hand, during the sleep period when the logic circuit group L1 does not need to operate, the sleep control line SL is set to a high potential and the sleep control transistor QA is cut off. In the CMOS circuit, a leak current flows from the high-potential power source to the low-potential power source even when it is not operating, and the leak current consumes power. This leak current amount depends on the width of the sleep control transistor QA.

【0028】ここで、スリープ制御トランジスタQAの
幅を小さく設定することによって、リーク電流を小さく
抑えることができる。MTCMOS回路110のよう
に、高い閾値電圧を用いる程、リーク電流低減能力があ
り、消費電力の低減を期待できる。しかし、MTCMO
S回路130においては、電源供給停止時に、疑似電源
線VAの電位が、実電源線V1レベルから低電位電源V
2レベルへゆっくりと変化するので、MTCMOS回路
110についての上記説明と同様に、集積回路全体での
消費電流が増大するという問題が生じる。
By setting the width of the sleep control transistor QA to be small, the leak current can be suppressed to a small value. As in the MTCMOS circuit 110, the higher the threshold voltage is used, the more the leakage current can be reduced, and the reduction in power consumption can be expected. However, MTCMO
In the S circuit 130, when the power supply is stopped, the potential of the pseudo power source line VA changes from the level of the real power source line V1 to the low potential power source V1.
Since it slowly changes to two levels, the problem arises that the current consumption of the entire integrated circuit increases, similar to the above description of the MTCMOS circuit 110.

【0029】本発明は、1つ目の論理回路の出力端が2
つ目の論理回路の入力端に接続され、両論理回路の電源
供給が制御され、上記1つ目の論理回路への電源供給が
停止しされ、上記2つ目の論理回路に電源が供給されて
いるときに、上記2つ目の論理回路における消費電力を
少なくすることができる論理回路を提供することを目的
とするものである。
According to the present invention, the output terminal of the first logic circuit is 2
It is connected to the input terminal of the first logic circuit, power supply to both logic circuits is controlled, power supply to the first logic circuit is stopped, and power is supplied to the second logic circuit. It is an object of the present invention to provide a logic circuit that can reduce power consumption in the second logic circuit.

【0030】[0030]

【課題を解決するための手段】本発明は、トランジスタ
によって構成されている論理回路群への電流供給(アク
ティブ)期間から、電流供給停止(スリープ)期間に移
行する際に、疑似電源線の電位を急速に変化させる(疑
似電源線に充電されている電荷を強制的に放電させ、ま
たは疑似電源線を強制的に充電させる)ことによって、
論理回路群に含まれている論理ゲートの出力電位を高速
に変化させるものである。
According to the present invention, the potential of a pseudo power supply line is changed when a current supply (active) period to a logic circuit group composed of transistors is shifted to a current supply stop (sleep) period. By changing rapidly (forcibly discharging the charge charged in the pseudo power line or forcibly charging the pseudo power line),
The output potential of the logic gate included in the logic circuit group is changed at high speed.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態および実施例】図1は、本発明の第
1の実施例である論理回路10を示す回路図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a circuit diagram showing a logic circuit 10 which is a first embodiment of the present invention.

【0032】論理回路10は、実電源線V1と、低電位
電源V2と、疑似電源線VAと、論理回路群L1と、ス
イッチSW1、SW2とを有する回路である。
The logic circuit 10 is a circuit having a real power supply line V1, a low potential power supply V2, a pseudo power supply line VA, a logic circuit group L1, and switches SW1 and SW2.

【0033】実電源線V1、低電位電源V2は、それぞ
れ高電位側、低電位側の実電源である。論理回路群L1
は、電源供給を制御される論理回路群であり、高電位側
の電源端PAと、低電位側の電源端PBとを有するもの
である。スイッチSW1は、論理回路群L1への電源供
給を制御するスイッチであり、実電源線V1と高電位側
の電源端PAとの間に接続されている。スイッチSW2
は、論理回路群L1の高電位側の電源端PAと低電位側
の電源端PBとの間に接続され、つまり、疑似電源線V
Aと低電位電源V2との間に接続されているスイッチで
ある。スリープ制御線SLには、論理回路群L1への電
源供給を制御するスリープ制御信号が送られ、制御線S
LN’には、スイッチ回路SW2を制御する信号が送ら
れる。
The real power source line V1 and the low potential power source V2 are high potential side and low potential side real power sources, respectively. Logic circuit group L1
Is a logic circuit group whose power supply is controlled, and has a high-potential-side power supply terminal PA and a low-potential-side power supply terminal PB. The switch SW1 is a switch for controlling power supply to the logic circuit group L1 and is connected between the actual power supply line V1 and the power supply terminal PA on the high potential side. Switch SW2
Is connected between the high-potential-side power supply end PA and the low-potential-side power supply end PB of the logic circuit group L1, that is, the pseudo power supply line V.
A switch connected between A and the low-potential power supply V2. A sleep control signal for controlling power supply to the logic circuit group L1 is sent to the sleep control line SL, and the control line S
A signal for controlling the switch circuit SW2 is sent to LN '.

【0034】次に、上記実施例において、論理回路群L
1が所望の論理回路動作を行う期間(アクティブ状態)
について説明する。この場合、スリープ制御線SLを経
由したスリープ制御信号によってスイッチSW1が導通
状態に設定され、高電位側の電源端PAは、疑似的に実
電源線V1として振る舞い、論理回路群L1に電力が供
給され、論理回路群L1が所望の論理動作を実行でき
る。このときに、スリープ制御線SLN’のスリープ制
御信号によってスイッチSW2が遮断状態にされる。
Next, in the above embodiment, the logic circuit group L
Period in which 1 performs desired logic circuit operation (active state)
Will be described. In this case, the switch SW1 is set to the conductive state by the sleep control signal that has passed through the sleep control line SL, and the power supply terminal PA on the high potential side behaves pseudo as the actual power supply line V1 and the power is supplied to the logic circuit group L1. Thus, the logic circuit group L1 can execute a desired logic operation. At this time, the switch SW2 is turned off by the sleep control signal of the sleep control line SLN ′.

【0035】一方、論理回路群L1が論理動作を行わな
い期間(スリープ状態)、スリープ制御線SLを経由し
たスリープ制御信号によって、スイッチSW1が非導通
状態に設定され、論理回路群L1に電力が供給されない
ので、論理回路群L1におけるリーク電流の発生を抑制
できる。このときに、スリープ制御線SLN’によって
スイッチSW2が導通され、論理回路群L1がスリープ
状態に入った直後から論理回路群L1の高電位側の電源
端PAに貯まった電荷が、スイッチSW2を介して放電
されるので、高電位側の電源端PAの電位が低電位電源
V2のレベルに速やかに低下し、この低下に伴って、論
理回路群L1内の論理ゲートの出力電位も低電位電源V
2のレベルに速やかに到達する。
On the other hand, during a period (sleep state) in which the logic circuit group L1 does not perform a logic operation, the switch SW1 is set to the non-conductive state by the sleep control signal via the sleep control line SL, and the logic circuit group L1 is supplied with power. Since it is not supplied, the generation of leak current in the logic circuit group L1 can be suppressed. At this time, the switch SW2 is turned on by the sleep control line SLN ′, and the charge accumulated in the power supply terminal PA on the high potential side of the logic circuit group L1 immediately after the logic circuit group L1 enters the sleep state is passed through the switch SW2. Are discharged, the potential of the high-potential-side power supply terminal PA rapidly drops to the level of the low-potential power supply V2. With this drop, the output potential of the logic gates in the logic circuit group L1 also drops to the low-potential power supply V2.
Reach Level 2 quickly.

【0036】図2は、本発明の他の実施例である論理回
路20を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a logic circuit 20 which is another embodiment of the present invention.

【0037】論理回路20は、実電源線V1と、低電位
電源V2と、疑似電源線VAと、論理回路群L1と、高
閾値電圧のPchMosスリープ制御トランジスタQA
と、N−chトランジスタQdとを有する回路である。
The logic circuit 20 includes a real power supply line V1, a low potential power supply V2, a pseudo power supply line VA, a logic circuit group L1, and a high threshold voltage PchMos sleep control transistor QA.
And an N-ch transistor Qd.

【0038】実電源線V1、低電位電源V2は、それぞ
れ高電位側、低電位側の実電源である。論理回路群L1
は、電源供給を制御される論理回路群であり、複数の論
理ゲートG1を有するものである。
The real power source line V1 and the low potential power source V2 are high potential side and low potential side real power sources, respectively. Logic circuit group L1
Is a logic circuit group whose power supply is controlled and has a plurality of logic gates G1.

【0039】高閾値電圧のスリープ制御用のPchMo
sトランジスタQAは、論理回路群L1への電源供給を
制御するスイッチであり、実電源線V1と論理回路群L
1との間に接続されている。N−chトランジスタQd
は、論理回路群L1と並列に接続され、つまり、疑似電
源線VAと低電位電源V2との間に接続されている。ス
リープ制御線SLは、論理回路群L1への電源供給を制
御するスリープ制御信号を送る線である。制御線SL
N’は、N−chトランジスタQdを制御する信号を送
る線である。
PchMo for high threshold voltage sleep control
The s-transistor QA is a switch that controls the power supply to the logic circuit group L1 and is connected to the real power line V1 and the logic circuit group L1.
1 are connected. N-ch transistor Qd
Are connected in parallel with the logic circuit group L1, that is, are connected between the pseudo power supply line VA and the low potential power supply V2. The sleep control line SL is a line that sends a sleep control signal for controlling power supply to the logic circuit group L1. Control line SL
N'is a line for sending a signal for controlling the N-ch transistor Qd.

【0040】論理ゲートG1は、P−chMOSTトラ
ンジスタQ1と、N−chMOSトランジスタQ2等に
よって構成される論理ゲートであり、各論理ゲートG1
の高電位側が共通化され、各論理ゲートG1の低電位側
の電源端子が共通化されている。
The logic gate G1 is a logic gate composed of a P-ch MOST transistor Q1 and an N-ch MOS transistor Q2, and each logic gate G1.
Of the logic gates G1 are shared, and the power supply terminals of the logic gates G1 on the low potential side are shared.

【0041】次に、論理回路20の動作について説明す
る。
Next, the operation of the logic circuit 20 will be described.

【0042】論理回路群L1の通常動作時(アクティブ
時)には、スリープ制御線SLを低電位に設定し、高閾
値電圧のトランジスタQAが導通し、疑似電源線VAを
電源線と見なすことができるので、疑似電源線VAと低
電位側電源V2との間に接続されている論理回路群L1
が所望の論理動作を実行できる。一方、論理回路群L1
が動作を行う必要のない期間(スリープ時)において
は、スリープ制御線SLを高電位にし、高閾値のスリー
プ制御トランジスタQAを遮断状態(スリープ状態)に
する。リーク電流量は、リーク電流経路となるトランジ
スタの総幅に依存するので、上記実施例では、高閾値電
圧のトランジスタQAの幅によってリーク電流量が決ま
る。したがって、スリープ制御トランジスタQAのゲー
ト幅を小さく設定すれば、リーク電流を小さく抑えるこ
とができる。
During normal operation (active state) of the logic circuit group L1, the sleep control line SL is set to a low potential, the transistor QA having a high threshold voltage becomes conductive, and the pseudo power supply line VA can be regarded as a power supply line. Therefore, the logic circuit group L1 connected between the pseudo power supply line VA and the low potential side power supply V2
Can perform the desired logical operation. On the other hand, the logic circuit group L1
In the period in which the operation does not need to be performed (during sleep), the sleep control line SL is set to a high potential, and the sleep control transistor QA having a high threshold is set to a cutoff state (sleep state). Since the amount of leak current depends on the total width of the transistor serving as the leak current path, the amount of leak current is determined by the width of the transistor QA having a high threshold voltage in the above embodiment. Therefore, if the gate width of the sleep control transistor QA is set small, the leak current can be suppressed small.

【0043】論理回路20において、論理回路群L1が
アクティブ状態からスリープ状態に移行する際、スリー
プ制御線SLN’の電位を高レベルにし、N−chトラ
ンジスタQdを導通させる。これによって、アクティブ
時に疑似電源線VAに貯まった電荷が、N−chトラン
ジスタQdを介して、放電されるので、疑似電源線VA
の電位が低電位電源V2のレベルに速やかに低下し、こ
れに伴って、論理回路群L1内の論理ゲート(たとえば
論理ゲートG1)の出力電位も低電位電源V2のレベル
に速やかに到達する。
In the logic circuit 20, when the logic circuit group L1 shifts from the active state to the sleep state, the potential of the sleep control line SLN 'is set to the high level and the N-ch transistor Qd is made conductive. As a result, the electric charge accumulated in the pseudo power supply line VA during the active state is discharged through the N-ch transistor Qd, so that the pseudo power supply line VA is discharged.
Rapidly drops to the level of the low-potential power supply V2, and accordingly, the output potential of the logic gate (for example, the logic gate G1) in the logic circuit group L1 also quickly reaches the level of the low-potential power supply V2.

【0044】図3は、本発明の別の実施例である論理回
路30を示す図。
FIG. 3 is a diagram showing a logic circuit 30 which is another embodiment of the present invention.

【0045】論理回路30は、論理回路20を、低電圧
向き回路構成に適用した例であり、従来のMTCMOS
回路に適用した例である。
The logic circuit 30 is an example in which the logic circuit 20 is applied to a circuit configuration for low voltage, and is a conventional MTCMOS.
This is an example applied to a circuit.

【0046】論理回路30における論理回路群L1は、
論理回路の集合であり、低閾値電圧のP−chMOST
トランジスタQ1と、低閾値電圧のN−chMOSトラ
ンジスタQ2と等で構成される論理ゲートG1等の単一
または複数の論理回路で構成されている。
The logic circuit group L1 in the logic circuit 30 is
A set of logic circuits, a low threshold voltage P-chMOST
It is composed of a single or a plurality of logic circuits such as a logic gate G1 composed of a transistor Q1 and a low threshold voltage N-ch MOS transistor Q2.

【0047】各論理回路群L1の高電位側は共通化さ
れ、各論理回路群L1の低電位側の電源端子は共通化さ
れている。低電位側の電源端子は、低電位側電源V2に
接続されて、高電位側の電源端は、疑似電源線VAに接
続されている。この疑似電源線VAと実電源線V1との
間には、上記低閾値電圧よりも高い高閾値電圧のPch
MOSスリープ制御トランジスタQAが接続されてい
る。スリープ制御トランジスタQAのゲート端子は、ス
リープ制御線SLに接続される。
The high-potential side of each logic circuit group L1 is made common, and the power supply terminals on the low-potential side of each logic circuit group L1 are made common. The power source terminal on the low potential side is connected to the power source V2 on the low potential side, and the power source end on the high potential side is connected to the pseudo power source line VA. Pch having a high threshold voltage higher than the low threshold voltage is provided between the pseudo power supply line VA and the real power supply line V1.
The MOS sleep control transistor QA is connected. The gate terminal of the sleep control transistor QA is connected to the sleep control line SL.

【0048】論理回路30において、論理回路群L1と
スリープ制御用トランジスタQAとの動作は、上記実施
例の動作と同様である。論理回路30において、疑似電
源線VAと低電位側の低電位電源V2との間に、N−c
hトランジスタトQdが接続され、そのゲート端がスリ
ープ制御線SLN’の制御信号によって制御されている
点が、従来例とは異なる。
In the logic circuit 30, the operation of the logic circuit group L1 and the sleep control transistor QA is the same as that of the above embodiment. In the logic circuit 30, between the pseudo power supply line VA and the low potential power supply V2 on the low potential side, Nc
This is different from the conventional example in that the h-transistor Qd is connected and the gate end thereof is controlled by the control signal of the sleep control line SLN ′.

【0049】論理回路30において、論理回路群L1が
アクティブ状態からスリープ状態に移行する際、スリー
プ制御線SLN’の電位を高レベルにし、N−chトラ
ンジスタQdを導通させる。これによって、アクティブ
時に疑似電源線VAに貯まった電荷が、N−chトラン
ジスタQdを通して放電されるので、疑似電源線VAの
電位が速やかに低電位電源V2のレベルに低下し、これ
に伴って、論理回路群L1内の論理ゲート(たとえば論
理ゲートG1)の出力部電位も低電位電源V2のレベル
に速やかに到達する。
In the logic circuit 30, when the logic circuit group L1 shifts from the active state to the sleep state, the potential of the sleep control line SLN 'is set to a high level and the N-ch transistor Qd is made conductive. As a result, the electric charge accumulated in the pseudo power supply line VA at the time of active is discharged through the N-ch transistor Qd, so that the potential of the pseudo power supply line VA is rapidly lowered to the level of the low potential power supply V2, and accordingly, The output potential of the logic gate (for example, logic gate G1) in logic circuit group L1 quickly reaches the level of low-potential power supply V2.

【0050】図4は、論理回路31と論理回路32とを
縦続接続した論理回路30aを示す図である。論理回路
31、論理回路32のそれぞれは、論理回路30と同様
の回路である。
FIG. 4 is a diagram showing a logic circuit 30a in which a logic circuit 31 and a logic circuit 32 are connected in cascade. Each of the logic circuit 31 and the logic circuit 32 is a circuit similar to the logic circuit 30.

【0051】論理回路31は、高閾値電圧のトランジス
タQA1と論理回路群L1とを有する。論理回路群L1
は、疑似電源線VA1に接続され、疑似電源線VA1と
実電源線V1(VDD)との間に、スリープ制御用の高
閾値電圧のトランジスタQA1が接続され、高閾値電圧
のトランジスタQA1のゲート端子には、スリープ制御
端子SL1が接続されている。さらに、論理回路群L1
と並列にN−chトランジスタQd1が接続されてい
る。
The logic circuit 31 has a high threshold voltage transistor QA1 and a logic circuit group L1. Logic circuit group L1
Is connected to the pseudo power supply line VA1, a high threshold voltage transistor QA1 for sleep control is connected between the pseudo power supply line VA1 and the real power supply line V1 (VDD), and the gate terminal of the high threshold voltage transistor QA1 is connected. A sleep control terminal SL1 is connected to. Further, the logic circuit group L1
An N-ch transistor Qd1 is connected in parallel with the.

【0052】つまり、疑似電源線VA1と低電位電源V
2(GND)との間に、N−chトランジスタQd1が
接続され、このN−chトランジスタQd1のゲート端
子にスリープ制御線SLN’1が接続されている。そし
て、高閾値電圧のトランジスタQA1が開いている状態
では、N−chトランジスタQd1が閉じているように
制御され、また、高閾値電圧のトランジスタQA1が閉
じている状態では、N−chトランジスタQd1が開い
ているように制御される。すなわち、トランジスタによ
って構成されている論理回路群への電流供給(アクティ
ブ)期間から、電流供給停止(スリープ)期間に移行す
る際に、疑似電源線VA1に充電されている電荷を強制
的に放電させ、疑似電源線VA1の電位を素早く変化さ
せ、論理ゲートG1の出力電位を高速に変化させるもの
である。
That is, the pseudo power source line VA1 and the low potential power source V
2 (GND), the N-ch transistor Qd1 is connected, and the sleep control line SLN′1 is connected to the gate terminal of the N-ch transistor Qd1. The N-ch transistor Qd1 is controlled to be closed when the high-threshold voltage transistor QA1 is open, and the N-ch transistor Qd1 is controlled to be closed when the high-threshold voltage transistor QA1 is closed. Controlled to be open. That is, when the current supply (active) period to the logic circuit group configured by the transistors shifts to the current supply stop (sleep) period, the electric charge charged in the pseudo power supply line VA1 is forcibly discharged. , The potential of the pseudo power supply line VA1 is changed quickly, and the output potential of the logic gate G1 is changed at high speed.

【0053】また、論理回路32は、高閾値電圧のトラ
ンジスタQA2と論理回路群L2とを有する。論理回路
群L2は、疑似電源線VA2に接続され、疑似電源線V
A2と実電源線V1(VDD)との間には、スリープ制
御用の高閾値電圧のトランジスタQA2が接続され、高
閾値電圧のトランジスタQA2のゲート端子に、スリー
プ制御線SL2が接続されている。さらに、論理回路群
L2と並列にN−chトランジスタQd2が接続されて
いる。
Further, the logic circuit 32 has a high threshold voltage transistor QA2 and a logic circuit group L2. The logic circuit group L2 is connected to the pseudo power supply line VA2 and is connected to the pseudo power supply line V
A high threshold voltage transistor QA2 for sleep control is connected between A2 and the actual power supply line V1 (VDD), and a sleep control line SL2 is connected to the gate terminal of the high threshold voltage transistor QA2. Further, an N-ch transistor Qd2 is connected in parallel with the logic circuit group L2.

【0054】つまり、疑似電源線VA2と低電位電源V
2(GND)との間に、N−chトランジスタQd2が
接続され、このN−chトランジスタQd2のゲート端
子にスリープ制御線SLN’2が接続されている。そし
て、高閾値電圧のトランジスタQA2が開いている状態
では、N−chトランジスタQd2が閉じているように
制御され、また、高閾値電圧のトランジスタQA2が閉
じて状態では、N−chトランジスタQd2が開いてい
るように制御される。すなわち、トランジスタによって
構成されている論理回路群への電流供給(アクティブ)
期間から、電流供給停止(スリープ)期間に移行する際
に、疑似電源線VA2に充電されている電荷を強制的に
放電させ、疑似電源線VA2の電位を素早く変化させ、
論理ゲートG2の出力電位を高速に変化させるものであ
る。
That is, the pseudo power source line VA2 and the low potential power source V
2 (GND), the N-ch transistor Qd2 is connected, and the sleep control line SLN'2 is connected to the gate terminal of the N-ch transistor Qd2. The N-ch transistor Qd2 is controlled to be closed when the high-threshold voltage transistor QA2 is open, and the N-ch transistor Qd2 is opened when the high-threshold voltage transistor QA2 is closed. Is controlled as if. That is, current supply (active) to the logic circuit group composed of transistors
At the time of shifting from the period to the current supply stop (sleep) period, the electric charge charged in the pseudo power supply line VA2 is forcibly discharged, and the potential of the pseudo power supply line VA2 is quickly changed.
The output potential of the logic gate G2 is changed at high speed.

【0055】また、論理回路群L1内の論理ゲートG1
の出力端子o1が、論理回路群L2内の論理ゲートG2
の入力端子i2に接続されている。
Further, the logic gate G1 in the logic circuit group L1
Output terminal o1 of logic gate G2 in logic circuit group L2
Is connected to the input terminal i2.

【0056】次に、上記実施例の動作について説明す
る。
Next, the operation of the above embodiment will be described.

【0057】ここで、図4に示す回路において、スリー
プ制御用の高閾値電圧のトランジスタQA1を介して、
電力供給を受ける論理回路群L1が、アクティブ状態か
らスリープ状態に移行し、一方、スリープ制御用の高閾
値電圧のトランジスタQA2を介して、電力供給を受け
る論理回路群L2が、アクティブ状態のままである場合
について考える。
Here, in the circuit shown in FIG. 4, the high threshold voltage transistor QA1 for sleep control is used to
The logic circuit group L1 that receives power supply shifts from the active state to the sleep state, while the logic circuit group L2 that receives power supply remains active through the high threshold voltage transistor QA2 for sleep control. Think about a case.

【0058】図5は、上記各実施例における疑似電源線
VAの電位変化を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing the potential change of the pseudo power supply line VA in each of the above embodiments.

【0059】図5に示すように、論理回路群L1のスリ
ープ開始時には、N−chトランジスタQd1が導通す
るので、疑似電源線VA1の電位は、低電位電源V2の
レベルに素早く下降する。疑似電源線VA1の電位のこ
の素早い下降に伴って、論理ゲートG1の出力端子o1
の電位も低電位電源V2の電位に素早く下降する。
As shown in FIG. 5, when the logic circuit group L1 starts to sleep, the N-ch transistor Qd1 conducts, so that the potential of the pseudo power supply line VA1 quickly drops to the level of the low potential power supply V2. With this rapid drop in the potential of the pseudo power supply line VA1, the output terminal o1 of the logic gate G1
Also rapidly drops to the potential of the low-potential power supply V2.

【0060】ここで、論理ゲートG1の出力端子o1
は、論理ゲートG2の入力端子i2に接続されているの
で、アクティブ状態である論理回路群L2内の論理ゲー
トG2からみれば、出力端子o1の素早い変化は、入力
端子i2の電位が素早く変化したことになる。N−ch
トランジスタの閾値電圧の絶対値をVtnとすると、C
MOS回路では、入力の電位がVtnよりも大きけれ
ば、N−chトランジスタが導通する。また、P−ch
トランジスタの閾値電圧の絶対値をVtpとすると、入
力電位が(実電源線V1の電圧−Vtp)よりも低けれ
ば、P−chトランジスタが導通する。
Here, the output terminal o1 of the logic gate G1
Is connected to the input terminal i2 of the logic gate G2, the rapid change of the output terminal o1 means that the potential of the input terminal i2 is changed quickly when viewed from the logic gate G2 in the logic circuit group L2 in the active state. It will be. N-ch
If the absolute value of the threshold voltage of the transistor is Vtn, C
In the MOS circuit, if the input potential is higher than Vtn, the N-ch transistor becomes conductive. Also, P-ch
Letting Vtp be the absolute value of the threshold voltage of the transistor, the P-ch transistor becomes conductive if the input potential is lower than (voltage of the actual power supply line V1−Vtp).

【0061】したがって、図5の網掛け部として示すよ
うに、論理ゲートG2を構成するCMOS回路のP−c
hトランジスタも、N−chトランジスタも、導通状態
になる期間は存在するが、上記実施例における導通時間
は、図11に示す従来例における導通時間に比ベて、非
常に短くなる。この結果、実電源線V1→論理ゲートG
2→低電位電源V2という経路で貫通電流が流れても、
その貫通電流が少ないので、集積回路全体における消費
電流を減少させることができる。
Therefore, as shown by the hatched portion in FIG. 5, P-c of the CMOS circuit which constitutes the logic gate G2.
Although both the h-transistor and the N-ch transistor have a period in which they are in the conductive state, the conductive time in the above embodiment is much shorter than the conductive time in the conventional example shown in FIG. As a result, the actual power line V1 → the logic gate G
2 → Even if a through current flows through the low potential power supply V2,
Since the through current is small, the current consumption of the entire integrated circuit can be reduced.

【0062】図6は、本発明の他の実施例である論理回
路40を示す回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing a logic circuit 40 which is another embodiment of the present invention.

【0063】論理回路40は、論理回路10において、
電源供給/供給停止用のスイッチSW1が、低電位電源
V2に接続されている回路である。
The logic circuit 40 is similar to the logic circuit 40 in the logic circuit 10.
A switch SW1 for power supply / supply stop is a circuit connected to the low potential power supply V2.

【0064】この場合、疑似電源線VBと高電位側の実
電源線V1との間に、スイッチSW2が設けられ、信号
スリープ制御線SLN’の制御信号によって、スイッチ
SW2が制御される。
In this case, the switch SW2 is provided between the pseudo power supply line VB and the real power supply line V1 on the high potential side, and the switch SW2 is controlled by the control signal of the signal sleep control line SLN '.

【0065】論理回路40において、論理回路群L1が
アクティブ時からスリープ時に移行するときに、スリー
プ制御線SLを経由したスリープ制御信号によって、ス
イッチSW1が遮断状態になり、この際に、スリープ制
御線SLN’によってスイッチSW2が導通される。論
理回路群L1のアクティブ時には、論理回路L1の低電
位側の電源端PBの電位が低電位電源V2のレベルであ
ったが、その低電位側の電源端PBの電位が、実電源線
V1のレベルに急速に充電され、これに伴って、論理回
路群L1内の論理ゲートの出力電位も、高電位の実電源
線V1に素早く到達する。
In the logic circuit 40, when the logic circuit group L1 shifts from the active state to the sleep state, the switch SW1 is turned off by the sleep control signal via the sleep control line SL. At this time, the sleep control line The switch SW2 is turned on by SLN '. When the logic circuit group L1 is active, the potential of the power supply terminal PB on the low potential side of the logic circuit L1 is at the level of the low potential power supply V2, but the potential of the power supply terminal PB on the low potential side is the same as that of the real power supply line V1. The voltage is rapidly charged to the level, and accordingly, the output potential of the logic gate in the logic circuit group L1 quickly reaches the high-potential actual power supply line V1.

【0066】したがって、論理回路40においても、1
つ目の論理回路の出力端が2つ目の論理回路の入力端に
接続され、両論理回路の電源供給が制御され、1つ目の
論理回路への電源供給が停止しされ、2つ目の論理回路
に電源が供給されているときに、2つ目の論理回路にお
ける消費電力を少なくすることができる。
Therefore, even in the logic circuit 40, 1
The output terminal of the first logic circuit is connected to the input terminal of the second logic circuit, the power supply to both logic circuits is controlled, the power supply to the first logic circuit is stopped, and the second logic circuit is stopped. It is possible to reduce power consumption in the second logic circuit when power is supplied to the second logic circuit.

【0067】図7は、本発明の別の実施例である論理回
路50を示す回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram showing a logic circuit 50 which is another embodiment of the present invention.

【0068】論理回路50は、論理回路20において、
電源供給/供給停止用のスイッチとして、高電位実電源
線V1と疑似電源線VAとの間に設けられているP−c
hトランジスタQAの代わりに、疑似電源線VBと低電
位電源V2との間にN−chトランジスタQBが設けら
れ、論理回路L1と並列に接続されているN−chトラ
ンジスタQdの代わりに、P−chトランジスタQdp
が設けられている。つまり、P−chトランジスタQd
pは、高電位電源線V1と疑似電源線VBとの間に接続
されているものである。P−chトランジスタQdpの
ゲート端には、スリープ制御線SLN’が接続されてい
る。
The logic circuit 50 is the same as the logic circuit 20 in the logic circuit 20.
P-c provided between the high-potential real power supply line V1 and the pseudo power supply line VA as a power supply / supply stop switch
Instead of the h transistor QA, an N-ch transistor QB is provided between the pseudo power supply line VB and the low potential power supply V2, and instead of the N-ch transistor Qd connected in parallel with the logic circuit L1, a P- ch transistor Qdp
Is provided. That is, the P-ch transistor Qd
p is connected between the high potential power supply line V1 and the pseudo power supply line VB. A sleep control line SLN ′ is connected to the gate end of the P-ch transistor Qdp.

【0069】論理ゲートG1は、複数の論理回路で構成
され、P−chMOSトランジスタQ1、N−chMO
SトランジスタQ2等によって構成され、論理ゲートG
1等の単一または複数の論理ゲートによって、論理回路
群L1が構成されている。この論理回路G1の高電位
側、低電位側の電源端子は、それぞれ共通化され、高電
位側の電源端は、高電位側実電源線V1に接続され、低
電位側の電源端は、疑似電源線VBに接続されている。
The logic gate G1 is composed of a plurality of logic circuits, and includes P-ch MOS transistors Q1 and N-chMO.
The logic gate G is composed of an S transistor Q2 and the like.
The logic circuit group L1 is configured by a single or a plurality of logic gates such as 1. The high-potential-side and low-potential-side power supply terminals of the logic circuit G1 are made common, the high-potential-side power supply end is connected to the high-potential-side real power supply line V1, and the low-potential-side power supply end is pseudo. It is connected to the power supply line VB.

【0070】次に、論理回路50の動作について説明す
る。
Next, the operation of the logic circuit 50 will be described.

【0071】まず、論理回路群L1の通常動作(アクテ
ィブ)時には、スリープ制御線SLを高電位に設定す
る。これによって、PchMOSトランジスタQBが導
通し、疑似電源線VBを電源線V2と見なすことができ
る。この疑似電源VBと高電位実電源線V1との間に接
続されている論理回路群L1が、所望の論理動作を実行
できる。
First, during the normal operation (active) of the logic circuit group L1, the sleep control line SL is set to a high potential. As a result, the PchMOS transistor QB becomes conductive, and the pseudo power supply line VB can be regarded as the power supply line V2. The logic circuit group L1 connected between the pseudo power supply VB and the high potential real power supply line V1 can execute a desired logic operation.

【0072】一方、論理回路群L1が動作を行う必要の
ない期間においては、スリープ制御線SLを低電位に
し、PchMOSトランジスタQBを遮断状態(スリー
プ状態)にする。リーク電流量は、リーク電流経路とな
るトランジスタの総幅に依存するので、論理回路50で
は、PchMOSトランジスタQBの幅によって、リー
ク電流量が決まる。したがって、PchMOSトランジ
スタQBのゲート幅を小さく設定すれば、リーク電流を
小さく抑えることができる。
On the other hand, during the period in which the logic circuit group L1 does not need to operate, the sleep control line SL is set to the low potential and the PchMOS transistor QB is cut off (sleep state). Since the amount of leak current depends on the total width of the transistors forming the leak current path, in the logic circuit 50, the amount of leak current is determined by the width of the PchMOS transistor QB. Therefore, if the gate width of the PchMOS transistor QB is set small, the leak current can be suppressed small.

【0073】論理回路群L1がアクティブ状態からスリ
ープ状態に移行する際に、スリープ制御線SLN’の電
位が低レベルになり、N−chトランジスタQdpが導
通する。アクティブ時に低電位電源V1の電位であった
疑似電源線VBが、N−chトランジスタQdpを通し
て充電されるので、疑似電源線VBの電位は実電源線V
1のレベルに速やかに到達し、これに伴って、論理回路
群L1内の論理ゲート(たとえば論理ゲートG1)の出
力電位も実電源線V1のレベルに速やかに到達する。
When the logic circuit group L1 shifts from the active state to the sleep state, the potential of the sleep control line SLN 'becomes low level and the N-ch transistor Qdp becomes conductive. Since the pseudo power supply line VB, which was the potential of the low potential power supply V1 when active, is charged through the N-ch transistor Qdp, the potential of the pseudo power supply line VB is the real power supply line VB.
1, the output potential of the logic gate (for example, logic gate G1) in the logic circuit group L1 quickly reaches the level of the actual power supply line V1.

【0074】図8は、本発明の他の実施例である論理回
路60を示す回路図である。
FIG. 8 is a circuit diagram showing a logic circuit 60 according to another embodiment of the present invention.

【0075】論理回路60は、論理回路30において、
電源供給/供給停止用のスイッチとして、高電位実電源
線V1と疑似電源線VAとの間に設けられている高閾値
電圧のP−chトランジスタQAの代わりに、疑似電源
線VBと低電位電源V2との間に高閾値電圧のN−ch
トランジスタQBが設けられ、論理回路L1と並列に接
続されているN−chトランジスタQdの代わりに、P
−chトランジスタQdpが設けられている。つまり、
P−chトランジスタQdpは、高電位実電源線V1と
疑似電源線VBとの間に接続され、P−chトランジス
タQdpのゲート端には、スリープ制御線SLN’が接
続されている。
The logic circuit 60 is similar to the logic circuit 30 in the logic circuit 30.
As a switch for supplying / stopping the power supply, instead of the high threshold voltage P-ch transistor QA provided between the high potential real power supply line V1 and the pseudo power supply line VA, the pseudo power supply line VB and the low potential power supply are used. N-ch with high threshold voltage between V2
A transistor QB is provided, and instead of the N-ch transistor Qd connected in parallel with the logic circuit L1, P
A −ch transistor Qdp is provided. That is,
The P-ch transistor Qdp is connected between the high potential real power supply line V1 and the pseudo power supply line VB, and the sleep control line SLN 'is connected to the gate end of the P-ch transistor Qdp.

【0076】なお、論理回路20、30において、トラ
ンジスタQdは、いずれもN−chトランジスタで示さ
れているが、この代わりに、CMOS型のスイッチを用
いてもよく、この場合、上記と同様の動作、効果を得る
ことができる。また、これと同様に、論理回路50、6
0において、トランジスタQdpは、いずれもP−ch
トランジスタで示されているが、この代わりに、CMO
S型のスイッチを用いてもよく、この場合、上記と同様
の動作、効果を得ることができる。
In each of the logic circuits 20 and 30, the transistor Qd is shown as an N-ch transistor, but instead of this, a CMOS type switch may be used. In this case, the same as above. Operation and effect can be obtained. Also, similarly to this, the logic circuits 50 and 6
0, the transistor Qdp is P-ch
Although shown as a transistor, instead of this, a CMO
An S-type switch may be used, and in this case, the same operation and effect as above can be obtained.

【0077】実施例においては、電源供給を停止する際
に、電源供給が停止される論理回路群L1における疑似
電源線VAの遷移時間を短縮することによって、論理回
路群L1内の論理ゲートG1の出力電位の変化の完了を
早め、論理ゲートG1の出力端が接続され、かつ電源供
給状態にある論理ゲートG2において消費される電力量
を小さくすることができる。このようにして、集積回路
の消費電力が小さくなれば、発生する熱量も小さくな
り、その集積回路を納めるパッケージもより安価なもの
を使用することができ、また、放熱装置等も不要にな
り、経済効果も大きい。
In the embodiment, when the power supply is stopped, the transition time of the pseudo power supply line VA in the logic circuit group L1 in which the power supply is stopped is shortened, so that the logic gate G1 in the logic circuit group L1 is changed. It is possible to accelerate the completion of the change in the output potential and reduce the amount of power consumed in the logic gate G2 that is connected to the output end of the logic gate G1 and is in the power supply state. In this way, if the power consumption of the integrated circuit is reduced, the amount of heat generated is also reduced, a cheaper package can be used to store the integrated circuit, and a heat dissipation device or the like is not required. Great economic effect.

【0078】また、上記実施例は、トランジスタによっ
て構成されている論理回路群と電源線との間に、高閾値
電圧トランジスタと疑似電源線とが設けられている論理
回路において、論理回路群への電流供給期間から、電流
供給停止期間に移行する際に、疑似電源線の電位を急速
に変化させる(疑似電源線に充電されている電荷を強制
的に放電させ、または疑似電源線を強制的に充電させ
る)論理回路である。
Further, in the above embodiment, in the logic circuit in which the high threshold voltage transistor and the pseudo power supply line are provided between the logic circuit group composed of the transistors and the power supply line, the logic circuit group is connected to the logic circuit group. When transitioning from the current supply period to the current supply stop period, the potential of the pseudo power supply line is changed rapidly (forcibly discharging the charge charged in the pseudo power supply line or forcing the pseudo power supply line It is a logic circuit that is charged.

【0079】また、上記実施例は、第1のレベルを具備
する第1の電源と、トランジスタによって構成されてい
る論理回路群と、第1の電源と論理回路群の第1の電源
端との間に接続されている第1のスイッチと、論理回路
群の第2の電源端に接続され、第2のレベルを具備する
第2の電源と、論理回路群と並列に接続されている第2
のスイッチとを有する論理回路である。この場合、第1
のスイッチが開いている状態では、第2のスイッチが閉
じ、第1のスイッチが閉じている状態では、第2のスイ
ッチが開くように制御され、第1のスイッチは、第1の
トランジスタで構成され、第2のスイッチは、第2のト
ランジスタで構成されている。さらに、第1のトランジ
スタは、高閾値電圧のトランジスタであり、第2のトラ
ンジスタと論理回路群とは、第1のトランジスタの閾値
電圧よりも低い閾値電圧のトランジスタで構成されてい
る。
Further, in the above embodiment, the first power source having the first level, the logic circuit group constituted by the transistors, the first power source and the first power source end of the logic circuit group are provided. A first switch connected between the second switch and a second power supply terminal of the logic circuit group, the second power supply having a second level, and a second power supply connected in parallel with the logic circuit group.
And a switch. In this case, the first
When the switch is open, the second switch is closed, and when the first switch is closed, the second switch is controlled to open, and the first switch is configured by the first transistor. The second switch is composed of the second transistor. Further, the first transistor is a transistor with a high threshold voltage, and the second transistor and the logic circuit group are transistors with a threshold voltage lower than the threshold voltage of the first transistor.

【0080】[0080]

【発明の効果】本発明によれば、1つ目の論理回路の出
力端が2つ目の論理回路の入力端に接続され、両論理回
路の電源供給が制御され、疑似的な電源線の電荷を放電
(または充電)させる回路を設け、論理回路に電源が供
給されない期間には、疑似的な電源線上に貯まった電荷
を急速に放電(または充電)することによって、電源供
給が停止された論理回路の出力電位を低電位電源のレベ
ルに素早く確定することができるので、上記1つ目の論
理回路への電源供給を停止し、上記2つ目の論理回路に
電源が供給されているときに、上記2つ目の論理回路に
おける消費電力を少なくすることができるという効果を
奏する。
According to the present invention, the output end of the first logic circuit is connected to the input end of the second logic circuit, the power supply of both logic circuits is controlled, and the pseudo power supply line is connected. A circuit that discharges (or charges) electric charges is provided, and during periods when power is not supplied to the logic circuit, the power supply is stopped by rapidly discharging (or charging) charges accumulated on the pseudo power supply line. Since the output potential of the logic circuit can be quickly determined to the level of the low potential power supply, when the power supply to the first logic circuit is stopped and the power is supplied to the second logic circuit. In addition, the power consumption in the second logic circuit can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例である論理回路10を示す回
路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a logic circuit 10 that is an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の他の実施例である論理回路20を示す
回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a logic circuit 20 which is another embodiment of the present invention.

【図3】本発明の別の実施例である論理回路30を示す
回路図。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a logic circuit 30 which is another embodiment of the present invention.

【図4】論理回路31と論理回路32とが縦続接続され
ている論理回路30aを示す回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a logic circuit 30a in which a logic circuit 31 and a logic circuit 32 are connected in cascade.

【図5】上記各実施例における疑似電源線VAの電位変
化を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a potential change of the pseudo power supply line VA in each of the embodiments.

【図6】本発明の他の実施例である論理回路40を示す
回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing a logic circuit 40 that is another embodiment of the present invention.

【図7】本発明の別の実施例である論理回路50を示す
回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram showing a logic circuit 50 which is another embodiment of the present invention.

【図8】本発明の他の実施例である論理回路60を示す
回路図である。
FIG. 8 is a circuit diagram showing a logic circuit 60 that is another embodiment of the present invention.

【図9】従来のMTCMOS回路110を示す回路図で
ある。
FIG. 9 is a circuit diagram showing a conventional MTCMOS circuit 110.

【図10】MTCMOS回路110において、論理回路
L1がアクティブ状態からスリープ状態に移行するとき
における疑似電源線VAの電位変化を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a potential change of the pseudo power supply line VA when the logic circuit L1 shifts from the active state to the sleep state in the MTCMOS circuit 110.

【図11】従来のMTCMOS110aを示す図であ
る。
FIG. 11 is a diagram showing a conventional MTCMOS 110a.

【図12】従来のMTCMOS回路120を示す回路図
である。
FIG. 12 is a circuit diagram showing a conventional MTCMOS circuit 120.

【図13】従来のMTCMOS回路130を示す回路図
である。
FIG. 13 is a circuit diagram showing a conventional MTCMOS circuit 130.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、20、30、40、50、60…論理回路、 L1、L2…論理回路群、 G1、G2…論理回路、 SW1、SW2…スイッチ、 SL、SL1、SL2、SLN’…スリープ制御線、 V1…高電位側実電源線、 VA、VA1、VA2…高電位側疑似電源線、 VB…低位側疑似電源線、 V2…低電位電源、 QA、QA1、QA2、QB…スリープ制御用高閾値電
圧の電界効果トランジスタ、 o1…信号出力端子、 i2…信号入力端子。
10, 20, 30, 40, 50, 60 ... Logic circuit, L1, L2 ... Logic circuit group, G1, G2 ... Logic circuit, SW1, SW2 ... Switch, SL, SL1, SL2, SLN '... Sleep control line, V1 ... High potential side real power supply line, VA, VA1, VA2 ... High potential side pseudo power supply line, VB ... Lower side pseudo power supply line, V2 ... Low potential power supply, QA, QA1, QA2, QB ... Sleep control high threshold voltage Field effect transistor, o1 ... Signal output terminal, i2 ... Signal input terminal.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 トランジスタによって構成されている論
理回路群と電源線との間に、高閾値電圧トランジスタと
疑似電源線とが設けられている論理回路において、 上記論理回路群への電流供給期間から、電流供給停止期
間に移行する際に、上記疑似電源線の電位を急速に変化
させることを特徴とする論理回路。
1. A logic circuit in which a high threshold voltage transistor and a pseudo power supply line are provided between a logic circuit group composed of transistors and a power supply line. A logic circuit characterized in that the potential of the pseudo power supply line is rapidly changed when shifting to a current supply stop period.
【請求項2】 第1のレベルを具備する第1の電源と;
トランジスタによって構成されている論理回路群と;上
記第1の電源と上記論理回路群の第1の電源端との間に
接続されている第1のスイッチと;上記論理回路群の第
2の電源端に接続され、第2のレベルを具備する第2の
電源と;上記論理回路群と並列に接続されている第2の
スイッチと;を有することを特徴とする論理回路。
2. A first power supply having a first level;
A logic circuit group composed of transistors; a first switch connected between the first power supply and a first power supply terminal of the logic circuit group; a second power supply of the logic circuit group A logic circuit comprising: a second power supply connected to an end and having a second level; and a second switch connected in parallel with the logic circuit group.
【請求項3】 請求項2において、 上記第1のスイッチが開いている状態では、上記第2の
スイッチが閉じ、上記第1のスイッチが閉じている状態
では、上記第2のスイッチが開くように制御されること
を特徴とする論理回路。
3. The second switch according to claim 2, wherein the second switch is closed when the first switch is opened, and the second switch is opened when the first switch is closed. A logic circuit characterized by being controlled by.
【請求項4】 請求項2または請求項3において、 上記第1のスイッチは、第1のトランジスタで構成さ
れ、上記第2のスイッチは、第2のトランジスタで構成
されていることを特徴とする論理回路。
4. The method according to claim 2 or 3, wherein the first switch is composed of a first transistor, and the second switch is composed of a second transistor. Logic circuit.
【請求項5】 請求項4において、 上記第1のトランジスタは、高閾値電圧のトランジスタ
であり、上記第2のトランジスタと上記論理回路群と
は、上記第1のトランジスタの閾値電圧よりも低い閾値
電圧のトランジスタで構成されていることを特徴とする
論理回路。
5. The threshold value according to claim 4, wherein the first transistor is a high threshold voltage transistor, and the second transistor and the logic circuit group have a threshold voltage lower than a threshold voltage of the first transistor. A logic circuit comprising a voltage transistor.
JP15602596A 1996-05-28 1996-05-28 Logic circuit Expired - Lifetime JP3341805B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15602596A JP3341805B2 (en) 1996-05-28 1996-05-28 Logic circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15602596A JP3341805B2 (en) 1996-05-28 1996-05-28 Logic circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09321600A true JPH09321600A (en) 1997-12-12
JP3341805B2 JP3341805B2 (en) 2002-11-05

Family

ID=15618675

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15602596A Expired - Lifetime JP3341805B2 (en) 1996-05-28 1996-05-28 Logic circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3341805B2 (en)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6310487B1 (en) 1998-12-10 2001-10-30 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit and testing method thereof
JP2005236992A (en) * 2004-02-16 2005-09-02 Samsung Electronics Co Ltd Multi-level shifter circuit for flat panel source driver
JP2006173217A (en) * 2004-12-14 2006-06-29 Ricoh Co Ltd Semiconductor device
JP2007329920A (en) * 2006-05-31 2007-12-20 Fujitsu Ltd Circuit and method for reducing power consumption by recycling charge during mode transition of mtmos circuit
US7436205B2 (en) 2006-02-24 2008-10-14 Renesas Technology Corp. Semiconductor device reducing power consumption in standby mode
JP2009033244A (en) * 2007-07-24 2009-02-12 Sony Corp Semiconductor integrated circuit, and actuating method thereof
US7911855B2 (en) 2006-02-24 2011-03-22 Renesas Technology Corp. Semiconductor device with voltage interconnections
WO2011104789A1 (en) * 2010-02-26 2011-09-01 パナソニック株式会社 Semiconductor integrated circuit
US8390146B2 (en) 2008-02-27 2013-03-05 Panasonic Corporation Semiconductor integrated circuit and various devices provided with the same
JP2015118724A (en) * 2013-11-13 2015-06-25 株式会社半導体エネルギー研究所 Semiconductor device and method for driving the semiconductor device

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6310487B1 (en) 1998-12-10 2001-10-30 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit and testing method thereof
US6476633B2 (en) 1998-12-10 2002-11-05 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit and testing method thereof
US6617873B2 (en) 1998-12-10 2003-09-09 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit and testing method thereof
JP2005236992A (en) * 2004-02-16 2005-09-02 Samsung Electronics Co Ltd Multi-level shifter circuit for flat panel source driver
JP2006173217A (en) * 2004-12-14 2006-06-29 Ricoh Co Ltd Semiconductor device
US7436205B2 (en) 2006-02-24 2008-10-14 Renesas Technology Corp. Semiconductor device reducing power consumption in standby mode
US7667484B2 (en) 2006-02-24 2010-02-23 Renesas Technology Corp. Semiconductor device reducing power consumption in standby mode
US7911855B2 (en) 2006-02-24 2011-03-22 Renesas Technology Corp. Semiconductor device with voltage interconnections
JP4819870B2 (en) * 2006-02-24 2011-11-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Semiconductor device
JP2007329920A (en) * 2006-05-31 2007-12-20 Fujitsu Ltd Circuit and method for reducing power consumption by recycling charge during mode transition of mtmos circuit
JP2009033244A (en) * 2007-07-24 2009-02-12 Sony Corp Semiconductor integrated circuit, and actuating method thereof
US8390146B2 (en) 2008-02-27 2013-03-05 Panasonic Corporation Semiconductor integrated circuit and various devices provided with the same
WO2011104789A1 (en) * 2010-02-26 2011-09-01 パナソニック株式会社 Semiconductor integrated circuit
JP2015118724A (en) * 2013-11-13 2015-06-25 株式会社半導体エネルギー研究所 Semiconductor device and method for driving the semiconductor device
US10249347B2 (en) 2013-11-13 2019-04-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for driving semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
JP3341805B2 (en) 2002-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09116417A (en) Semiconductor integrated circuit device
JP5211889B2 (en) Semiconductor integrated circuit
US9124263B2 (en) Body bias coordinator, method of coordinating a body bias and sub-circuit power supply employing the same
US6259299B1 (en) CMOS level shift circuit for integrated circuits
JP3341805B2 (en) Logic circuit
US6759701B2 (en) Transistor circuit
US7151419B2 (en) Oscillation-stop detection circuit, oscillation-stop detection system, electronic device, and oscillation-stop detection method
US6879193B2 (en) Semiconductor integrated circuit and its reset method
US20020131306A1 (en) Reducing level shifter standby power consumption
US6617916B1 (en) Semiconductor integrated circuit
JP2000138348A (en) Semiconductor device
EP0642222A2 (en) Low power-consumption clock pulse generator with two clock sources selectively available
US6452441B1 (en) Low threshold voltage device with charge pump for reducing standby current in an integrated circuit having reduced supply voltage
JP2002305434A (en) Semiconductor integrated circuit
US6650152B2 (en) Intermediate voltage control circuit having reduced power consumption
US7847623B2 (en) Device and method for power switch monitoring
US20120286853A1 (en) Semiconductor integrated circuit
JP3613095B2 (en) Power control device
JP3589805B2 (en) Low power consumption type semiconductor device
JPH10187270A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH0353715A (en) Output buffer circuit
KR100396831B1 (en) Inverter circuit having power-saving function
JP3323539B2 (en) Semiconductor device
KR19990028424A (en) Pullup Circuit for Fast Voltage Swing Limit
EP1078465A1 (en) Zero dc current power-on reset circuit

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070823

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080823

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080823

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090823

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090823

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100823

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100823

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110823

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120823

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130823

Year of fee payment: 11

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term