JPH09318445A - Calibrator for observation apparatus carried on satellite - Google Patents
Calibrator for observation apparatus carried on satelliteInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、宇宙空間軌道上の
プラットフォームに搭載される観測機器を校正する場合
に使用する衛星搭載用観測機器の校正装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a calibration device for satellite mounted observation equipment used for calibrating observation equipment mounted on a platform in space orbit.
【０００２】[0002]
【従来の技術】宇宙開発を目的として打ち上げられるプ
ラットフォームには、例えば地球表面上の観測対象から
放射あるいは反射される光を検出し、地形，資源，海面
あるいは雲等を観測する資源探査用の観測機器が搭載さ
れる。このような観測機器には、光学系（リレーレンズ
からなる集光系とプリズム等からなる分光系を含む）お
よび検出器（ＣＣＤ等）が備えられている。2. Description of the Related Art Platforms launched for the purpose of space development include, for example, observations for resource exploration that detect light emitted or reflected from an observation target on the surface of the earth and observe topography, resources, sea surface, clouds, etc. Equipment is installed. Such an observing device is provided with an optical system (including a condensing system including a relay lens and a spectroscopic system including a prism) and a detector (CCD or the like).
【０００３】このように構成された衛星搭載用観測機器
においては、地球から入射する観測用光としての放射光
が集光系を経て分光系によって各波長毎に分けられた
後、検出器に照射され、この検出器で光電変換が行われ
る。そして、検出器から出力された信号は、アンプによ
って増幅され、積分回路によって所定時間積分された
後、アナログ−デジタル変換器によってデジタル信号に
変換される等して種々の電気的処理が施される。In the satellite-mounted observing device thus constructed, the radiated light as the observing light incident from the earth passes through the condensing system and is separated into each wavelength by the spectroscopic system, and then radiated to the detector. Then, photoelectric conversion is performed by this detector. Then, the signal output from the detector is amplified by an amplifier, integrated for a predetermined time by an integrating circuit, and then converted into a digital signal by an analog-digital converter, etc., for various electrical processing. .
【０００４】ところで、この種の衛星搭載用観測機器
は、上述したプラットフォームの打ち上げ後には放射線
や姿勢制御用スラスタの噴出物による汚染等によって検
出器の劣化や経年変化があることから、校正装置によっ
て各観測波長域での受光感度や光波長特性を校正する必
要がある。By the way, in this type of satellite-borne observation equipment, since the detector is deteriorated and deteriorated over time due to contamination by radiation and ejected matter of the thruster for attitude control after the launch of the above-mentioned platform, a calibration device is used. It is necessary to calibrate the light receiving sensitivity and light wavelength characteristics in each observation wavelength range.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来におけ
る衛星搭載用観測機器の校正装置には、受光感度を校正
する機能しか備えておらず、近年における装置の多機能
化に伴い受光感度を校正する機能のみならず光波長特性
を校正する機能を共に備えた装置の出現が要望された。However, the conventional calibration apparatus for satellite observation equipment has only the function of calibrating the light receiving sensitivity, and the light receiving sensitivity is calibrated as the apparatus becomes multifunctional in recent years. There was a demand for the appearance of a device that has not only the function but also the function of calibrating the light wavelength characteristics.
【０００６】本発明はこのような要望に応じるべくなさ
れたもので、シャッタを切り換えることにより、感度校
正用の光路および波長特性校正用の光路のうちいずれか
一方の光路を遮断し、他方の光路を遮断解除することが
でき、もって一台の装置によって衛生搭載用観測機器の
受光感度および光波長特性を校正することができる衛星
搭載用観測機器の校正装置を提供するものである。The present invention has been made to meet such a demand, and by switching the shutter, either one of the optical path for sensitivity calibration and the optical path for wavelength characteristic calibration is blocked and the other optical path is blocked. The present invention provides a calibration device for observation equipment mounted on a satellite, which is capable of canceling the interruption, and thus can calibrate the light receiving sensitivity and the light wavelength characteristic of the observation equipment mounted on hygiene with one device.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の請求項１記載の衛星搭載用観測機器の校正
装置は、被校正物としての観測機器に対し感度校正用の
光路と波長特性校正用の光路を介して光投射する光源
と、この光源と観測機器との間に配設され感度校正用の
光路および波長特性校正用の光路のうちいずれか一方の
光路を選択的に遮断可能なシャッタとを備えた構成とし
てある。したがって、シャッタによって波長特性校正用
の光路を遮断すると共に、感度校正用の光路を遮断解除
することにより、観測機器の受光感度が校正され、一方
シャッタによって感度校正用の光路を遮断すると共に、
波長特性校正用の光路を遮断解除することにより、観測
機器の光波長特性が校正される。In order to achieve the above-mentioned object, a calibration device for an observation instrument mounted on a satellite according to claim 1 of the present invention provides an optical path and wavelength for sensitivity calibration with respect to an observation instrument as an object to be calibrated. A light source that projects light through an optical path for characteristic calibration, and selectively blocks either one of the optical path for sensitivity calibration and the optical path for wavelength characteristic calibration that is arranged between this light source and the observation equipment. And a shutter that can be used. Therefore, by blocking the optical path for wavelength characteristic calibration by the shutter and unblocking the optical path for sensitivity calibration, the light receiving sensitivity of the observation device is calibrated, while the shutter blocks the optical path for sensitivity calibration,
The optical wavelength characteristic of the observation instrument is calibrated by unblocking the optical path for wavelength characteristic calibration.
【０００８】請求項２記載の発明は、請求項１記載の衛
星搭載用観測機器の校正装置において、シャッタは回転
可能な構成としてある。したがって、感度校正用の光路
あるいは波長特性校正用の光路から波長特性校正用の光
路あるいは感度校正用の光路に変更するには、シャッタ
を回転操作することにより行なわれる。According to a second aspect of the present invention, in the calibration device for satellite mounted observation equipment according to the first aspect, the shutter has a rotatable structure. Therefore, in order to change from the optical path for sensitivity calibration or the optical path for wavelength characteristic calibration to the optical path for wavelength characteristic calibration or the optical path for sensitivity calibration, the shutter is rotated.
【０００９】請求項３記載の発明は、請求項１記載の衛
星搭載用観測機器の校正装置において、シャッタは進退
可能な構成としてある。したがって、感度校正用の光路
あるいは波長特性校正用の光路から波長特性校正用の光
路あるいは感度校正用の光路に変更するには、シャッタ
を進退操作することにより行なわれる。According to a third aspect of the present invention, in the calibration device for satellite mounted observation equipment according to the first aspect, the shutter is configured to be movable back and forth. Therefore, in order to change the optical path for sensitivity calibration or the optical path for wavelength characteristic calibration to the optical path for wavelength characteristic calibration or the optical path for sensitivity calibration, the shutter is moved forward and backward.
【００１０】請求項４記載の発明は、請求項１記載の衛
星搭載用観測機器の校正装置において、感度校正用の光
路および波長校正用の光路に観測用光を反射しかつ校正
用光を透過するハーフミラーを配設した構成としてあ
る。したがって、観測機器を校正する場合には光源から
校正用光がハーフミラーを透過して観測機器に投射し、
一方観測機器を使用する場合に地球表面等からの観測用
光がハーフミラーで反射して観測機器に投射する。According to a fourth aspect of the present invention, in the calibration device for an on-board satellite observation apparatus according to the first aspect, the observation light is reflected in the optical path for sensitivity calibration and the optical path for wavelength calibration, and the calibration light is transmitted. A half mirror is provided. Therefore, when calibrating the observation equipment, the calibration light from the light source passes through the half mirror and is projected onto the observation equipment.
On the other hand, when using the observation equipment, the observation light from the earth's surface is reflected by the half mirror and projected on the observation equipment.
【００１１】請求項５記載の発明は、請求項１記載の衛
星搭載用観測機器の校正装置において、観測機器に対す
る光源からの光入射角を可変する回折格子を波長校正用
の光路に配設した構成としてある。したがって、回折格
子によって観測機器に対する光源からの光入射角を変更
することにより所定の帯域の校正用光が回折格子を透過
する。According to a fifth aspect of the present invention, in the calibration device for an observation instrument mounted on a satellite according to the first aspect, a diffraction grating for varying the incident angle of light from the light source to the observation instrument is arranged in the optical path for wavelength calibration. It is as a configuration. Therefore, by changing the incident angle of the light from the light source with respect to the observation device by the diffraction grating, the calibration light in the predetermined band is transmitted through the diffraction grating.
【００１２】[0012]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図１および図２は本発明の
実施の形態に係る衛星搭載用観測機器の校正装置を用い
て波長特性と感度を校正する場合の光路図である。同図
において、衛星搭載用観測機器の校正装置は、光源１と
シャッタ２とを備えている。光源１は、例えばハロゲン
ランプからなり、被校正物としての観測機器３に感度校
正用の光路４および波長特性校正用の光路５を介して接
続されている。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 and 2 are optical path diagrams when the wavelength characteristics and the sensitivity are calibrated by using the calibration device of the satellite-mounted observation equipment according to the embodiment of the present invention. In the figure, the calibration device for the satellite-mounted observation equipment includes a light source 1 and a shutter 2. The light source 1 is composed of, for example, a halogen lamp, and is connected to an observation device 3 as an object to be calibrated via an optical path 4 for sensitivity calibration and an optical path 5 for wavelength characteristic calibration.
【００１３】感度校正用の光路４には、光源１に近接し
てフィルタ６が配設されており、また観測機器３に近接
してハーフミラー７が配設されている。これにより、光
路４には光源１から観測機器３に向かってフィルタ６，
ハーフミラー７が順次配置されることになる。On the optical path 4 for sensitivity calibration, a filter 6 is arranged close to the light source 1, and a half mirror 7 is arranged close to the observation device 3. As a result, in the optical path 4, the filter 6, from the light source 1 toward the observation device 3
The half mirrors 7 are sequentially arranged.
【００１４】フィルタ６は、短波長側にある放射輝度の
ピークを取り除き可視域にピークをもたせる機能を有
し、これにより光源１から光路４を介して観測機器３に
投射されるランプ光の可視域による校正が実施される。
ハーフミラー７は、４５°ハーフミラーからなり、地球
表面等からの観測用光ａを反射しかつ光源１からの校正
用光ｂを透過させる機能を有している。The filter 6 has a function of removing the peak of the radiance on the short wavelength side so as to have a peak in the visible range, whereby the visible light of the lamp light projected from the light source 1 through the optical path 4 to the observation device 3. Calibration by area is carried out.
The half mirror 7 is composed of a 45 ° half mirror and has a function of reflecting the observation light a from the surface of the earth and the like and transmitting the calibration light b from the light source 1.
【００１５】したがって、観測機器３の受光感度を校正
する場合は、図２に実線で示すように光源１から光路４
に投射される校正用光ｂがフィルタ６を透過し、次いで
ハーフミラー７を透過して観測機器（検出器）３に投射
する。このとき、観測機器３に対する校正用光ｂの投射
時における出力レベルと基準レベルとを比較し、この差
分が許容値以下となるようにして受光感度の校正が行わ
れる。また、観測機器３を使用する場合は、同図に一点
鎖線で示すように地球表面等からの観測用光ａがハーフ
ミラー７で反射して観測機器３に投射する。Therefore, in the case of calibrating the light receiving sensitivity of the observation equipment 3, as shown by the solid line in FIG.
The calibration light b projected on the filter 6 passes through the filter 6, then the half mirror 7, and is projected onto the observation device (detector) 3. At this time, the output level at the time of the projection of the calibration light b on the observation device 3 is compared with the reference level, and the light receiving sensitivity is calibrated so that the difference becomes equal to or less than the allowable value. When the observation device 3 is used, the observation light a from the surface of the earth or the like is reflected by the half mirror 7 and projected on the observation device 3 as shown by the dashed line in the figure.
【００１６】波長特性校正用の光路５は感度校正用の光
路４と平行な第１部分光路５ａおよびこの第１部分光路
５ａに直角な第２部分光路５ｂからなり、これら両部分
光路５ａ，５ｂ間には４５°ミラー８が配設されてい
る。第２部分光路５ｂには、４５°ミラー８に近接する
部位から観測機器３に向かってコンデンサレンズ９，ス
リット板１０，コリメータレンズ１１，回折格子１２，
高次回折カットフィルタ１３，集光レンズ１４，スリッ
ト板１５およびハーフミラー１６が順次配設されてい
る。The optical path 5 for wavelength characteristic calibration comprises a first partial optical path 5a parallel to the optical path 4 for sensitivity calibration and a second partial optical path 5b perpendicular to the first partial optical path 5a. These partial optical paths 5a, 5b. A 45 ° mirror 8 is arranged between them. In the second partial optical path 5b, the condenser lens 9, the slit plate 10, the collimator lens 11, the diffraction grating 12, and the diffraction grating 12 from the portion close to the 45 ° mirror 8 toward the observation device 3.
A high-order diffraction cut filter 13, a condenser lens 14, a slit plate 15 and a half mirror 16 are sequentially arranged.
【００１７】このうち、回折格子１２は、モータ（図示
せず）等によって矢印ｍ方向に回動することにより観測
機器３に対する光源１からの校正用光ｂの光入射角を連
続して可変し、所定の狭帯域波長の校正用光ｂを透過さ
せる機能を有している。高次回折カットフィルタ１３
は、回折格子１２によって発生する２次以上の回折光を
遮断する機能を有している。Of these, the diffraction grating 12 continuously changes the light incident angle of the calibration light b from the light source 1 with respect to the observation device 3 by rotating in the direction of arrow m by a motor (not shown) or the like. , And has a function of transmitting the calibration light b having a predetermined narrow band wavelength. Higher-order diffraction cut filter 13
Has a function of blocking second-order and higher-order diffracted light generated by the diffraction grating 12.
【００１８】また、ハーフミラー１６は、ハーフミラー
７と同様に４５°ハーフミラーからなり、地球表面等か
らの観測用光ａを反射しかつ光源１からの校正用光ｂを
透過させる機能を有している。Similarly to the half mirror 7, the half mirror 16 is composed of a 45 ° half mirror and has a function of reflecting the observation light a from the earth surface and the like and transmitting the calibration light b from the light source 1. are doing.
【００１９】なお、スリット板１０，１５は、スリット
幅を変更することにより波長分解能が可変される。The wavelength resolution of the slit plates 10 and 15 can be changed by changing the slit width.
【００２０】したがって、観測機器３の光波長特性を校
正する場合は、光源１から光路５（第２部分光路５ｂ）
に投射される校正用光ｂが図１に実線で示すように進行
して観測機器３に投射する。Therefore, when calibrating the light wavelength characteristics of the observation device 3, the light path from the light source 1 to the light path 5 (second partial light path 5b)
The calibration light b projected on the screen travels as shown by the solid line in FIG.
【００２１】すなわち、光源１から第２部分光路５ｂに
投射される校正用光ｂは、４５°ミラー８で第１部分光
路５ａに反射し、次いでコンデンサレンズ９によって集
光された後、スリット板１０を通過し、さらにコリメー
タレンズ１１によって平行光になって回折格子１２およ
び高次回折カットフィルタ１３を順次通過し、そして集
光レンズ１４によって集光され、スリット板１５を通過
してハーフミラー１６を透過してから、観測機器３（検
出器）に到達する。このとき、観測機器３に対する校正
用光ｂの投射時における各波長の出力レベルと基準レベ
ルとを比較し、この差分を許容値以下となるようにして
光波長特性の校正が行われる。また、観測機器３を使用
する場合は、同図に一点鎖線で示すように地球表面等か
らの観測用光ａがハーフミラー１６で反射して観測機器
３に投射する。That is, the calibration light b projected from the light source 1 to the second partial optical path 5b is reflected by the 45 ° mirror 8 to the first partial optical path 5a and then condensed by the condenser lens 9 and then the slit plate. 10 and further collimated by the collimator lens 11 into parallel light, which sequentially passes through the diffraction grating 12 and the high-order diffraction cut filter 13 and is condensed by the condenser lens 14 and passes through the slit plate 15 and the half mirror 16 And then reaches the observation device 3 (detector). At this time, the output level of each wavelength at the time of the projection of the calibration light b on the observation device 3 is compared with the reference level, and the optical wavelength characteristic is calibrated so that the difference becomes equal to or less than the allowable value. When the observation device 3 is used, the observation light a from the surface of the earth or the like is reflected by the half mirror 16 and projected onto the observation device 3 as indicated by a dashed line in the figure.
【００２２】なお、本装置における感度校正あるいは波
長特性校正は、校正用光ｂのみがハーフミラー７，１６
を透過して観測機器３に到達するように夜間時に行わ
れ、また観測機器３の使用は、観測用光ａのみが観測機
器３に到達するように光源１を消灯して行われる。In the sensitivity calibration or wavelength characteristic calibration in this apparatus, only the calibration light b is used for the half mirrors 7 and 16.
The light source 1 is turned off so that only the observation light a reaches the observation device 3 when the observation device 3 is used.
【００２３】一方、衛星搭載用観測機器の校正装置を光
源１と共に構成するシャッタ２は、光源１と観測機器３
との間に回転自在に配設され、かつフィルタ６とハーフ
ミラー７間およびスリット１０とコリメータレンズ１１
間に保持されている。On the other hand, the shutter 2 which constitutes the calibration device for the observation equipment mounted on the satellite together with the light source 1 includes the light source 1 and the observation equipment 3.
Is rotatably disposed between the filter 6 and the half mirror 7, and between the slit 10 and the collimator lens 11.
Held in between.
【００２４】シャッタ２は、切り欠き窓２ａおよびシャ
ッタ部２ｂを有し、モータ（図示せず）等によって回転
することにより、感度校正用の光路４および波長特性校
正用の光路５のうちいずれか一方の光路が選択的に遮断
可能とされる。The shutter 2 has a cutout window 2a and a shutter portion 2b, and is rotated by a motor (not shown) or the like so that one of the optical path 4 for sensitivity calibration and the optical path 5 for wavelength characteristic calibration is provided. One optical path can be selectively blocked.
【００２５】例えば、観測機器３の受光感度を校正する
場合には、図１に示す回転位置からシャッタ２を回転操
作し、図２に示すように光源１から感度校正用の光路４
に投射される校正用光ｂがシャッタ２の切り欠き窓２ａ
を通過し、かつ光源１から波長特性用の光路５に投射さ
れる校正用光ｂをシャッタ２のシャッタ部２ｂで遮断す
る位置に位置付ける。For example, when calibrating the light receiving sensitivity of the observation device 3, the shutter 2 is rotated from the rotation position shown in FIG. 1, and the light source 1 to the optical path 4 for sensitivity calibration as shown in FIG.
The calibration light b projected onto the cutout window 2a of the shutter 2
The calibration light b that passes through the light source 1 and is projected from the light source 1 onto the optical path 5 for wavelength characteristics is positioned at a position where it is blocked by the shutter portion 2b of the shutter 2.
【００２６】また、観測機器３の光波長特性を校正する
場合には、図２に示す回転位置からシャッタ２を回転操
作し、図１に示すように光源１から波長特性校正用の光
路５に投射される校正用光ｂがシャッタ２の切り欠き窓
２ａを通過し、かつ光源１から感度校正用の光路４に投
射される校正用光ｂをシャッタ２のシャッタ部２ｂで遮
断する位置に位置付ける。When calibrating the light wavelength characteristic of the observing device 3, the shutter 2 is rotated from the rotation position shown in FIG. 2, and the light source 1 is changed to the optical path 5 for wavelength characteristic calibration as shown in FIG. The calibration light b projected is passed through the cutout window 2a of the shutter 2 and positioned at a position where the calibration light b projected from the light source 1 to the sensitivity calibration optical path 4 is blocked by the shutter portion 2b of the shutter 2. .
【００２７】すなわち、シャッタ２の回転操作によって
波長特性校正用の光路５を遮断すると共に、感度校正用
の光路４を遮断解除することにより、観測機器３の受光
感度が校正され、一方感度校正用の光路４を遮断すると
共に、波長特性校正用の光路５を遮断解除することによ
り、観測機器３の光波長特性が校正される。That is, the light receiving sensitivity of the observing device 3 is calibrated while the optical path 5 for wavelength characteristic calibration is blocked and the optical path 4 for sensitivity calibration is unblocked by rotating the shutter 2. The optical wavelength characteristic of the observation device 3 is calibrated by blocking the optical path 4 of (1) and unblocking the optical path 5 for wavelength characteristic calibration.
【００２８】なお、本実施の形態においては、感度校正
用の光路４および波長特性校正用の光路５のうちいずれ
か一方の光路を選択的に遮断する場合に、シャッタ２を
回転操作することにより行う例を示したが、シャッタ２
を進退操作することにより行っても実施形態と同様の効
果を奏する。In the present embodiment, when the optical path 4 for sensitivity calibration or the optical path 5 for wavelength characteristic calibration is selectively blocked, the shutter 2 is rotated to operate. Although the example of performing is shown, the shutter 2
The same effect as that of the embodiment can be obtained even by performing the forward / backward operation.
【００２９】[0029]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
校正物としての観測機器に対し感度校正用の光路と波長
特性校正用の光路を介して光投射する光源と、この光源
と観測機器との間に配設され感度校正用の光路および波
長特性校正用の光路のうちいずれか一方の光路を選択的
に遮断可能なシャッタとを備えたので、シャッタによっ
て波長特性校正用の光路を遮断すると共に、感度校正用
の光路を遮断解除することにより、観測機器の受光感度
が校正され、一方シャッタによって感度校正用の光路を
遮断すると共に、波長特性校正用の光路を遮断解除する
ことにより、観測機器の光波長特性が校正され、一台の
装置によって観測機器の受光感度および光波長特性を校
正することができる。As described above, according to the present invention, a light source for projecting light through an optical path for sensitivity calibration and an optical path for wavelength characteristic calibration to an observation device as an object to be calibrated, and this light source and observation The optical path for wavelength characteristic calibration is provided by the shutter because it is provided between the device and the shutter for selectively blocking either one of the optical path for sensitivity calibration and the optical path for wavelength characteristic calibration. By blocking and unblocking the optical path for sensitivity calibration, the light receiving sensitivity of the observation instrument is calibrated, while the shutter shuts off the optical path for sensitivity calibration and unblocks the optical path for wavelength characteristic calibration. The light wavelength characteristics of the observation equipment are calibrated, and the light receiving sensitivity and the light wavelength characteristics of the observation equipment can be calibrated by one device.
【００３０】また、一台の装置によって観測機器の受光
感度および光波長特性を校正できることは、例えば機器
筐体を共通化することができるから、装置の小型化を図
ることができる。Further, the ability to calibrate the light receiving sensitivity and the light wavelength characteristic of the observing equipment with one device makes it possible to downsize the device, for example, because the device housing can be shared.
【図１】本発明の実施の形態に係る衛星搭載用観測機器
の校正装置を用いて光波長特性を校正する場合の光路図
である。FIG. 1 is an optical path diagram in the case where an optical wavelength characteristic is calibrated by using a calibration device for a satellite-mounted observation device according to an embodiment of the present invention.
【図２】同じく本発明の実施の形態に係る衛星搭載用観
測機器の校正装置を用いて受光感度を校正する場合の光
路図である。FIG. 2 is an optical path diagram in the case of calibrating the light receiving sensitivity by using the calibration device of the observation equipment mounted on the satellite according to the embodiment of the present invention.
１ 光源 ２ シャッタ ２ａ 切り欠き窓 ２ｂ シャッタ部 ３ 観測機器 ４ 感度校正用の光路 ５ 波長特性校正用の光路 ５ａ 第１部分光路 ５ｂ 第２部分光路 ７，１６ ハーフミラー ａ 観測用光 ｂ 校正用光 1 Light Source 2 Shutter 2a Notched Window 2b Shutter Section 3 Observing Equipment 4 Optical Path for Sensitivity Calibration 5 Optical Path for Calibration of Wavelength Characteristics 5a First Partial Optical Path 5b Second Partial Optical Path 7,16 Half Mirror a Observation Light b Calibration Light
Claims (5)
正用の光路と波長特性校正用の光路を介して光投射する
光源と、 この光源と上記観測機器との間に配設され、上記感度校
正用の光路および上記波長特性校正用の光路のうちいず
れか一方の光路を選択的に遮断可能なシャッタとを備え
た衛星搭載用観測機器の校正装置。1. A light source for projecting light onto an observation device as an object to be calibrated through an optical path for sensitivity calibration and an optical path for wavelength characteristic calibration, and a light source disposed between the light source and the observation device. A calibration device for an observation instrument mounted on a satellite, comprising a sensitivity calibration optical path and a shutter capable of selectively blocking one of the wavelength characteristics calibration optical paths.
ることを特徴とする請求項１記載の衛星搭載用観測機器
の校正装置。2. The apparatus for calibrating satellite observation equipment according to claim 1, wherein the shutter is rotatable.
ることを特徴とする請求項１記載の衛星搭載用観測機器
の校正装置。3. The apparatus for calibrating satellite observation equipment according to claim 1, wherein the shutter is configured to be movable back and forth.
性校正用の光路に観測用光を反射し、かつ校正用光を透
過するハーフミラーを配設したことを特徴とする請求項
１記載の衛星搭載用観測機器の校正装置。4. A half mirror for reflecting the observation light and transmitting the calibration light is disposed in the sensitivity calibration optical path and the wavelength characteristic calibration optical path. Calibration equipment for observation equipment onboard satellites.
入射角を可変する回折格子を上記波長校正用の光路に配
設したことを特徴とする請求項１記載の衛星搭載用観測
機器の校正装置。5. A calibration apparatus for satellite mounted observation equipment according to claim 1, wherein a diffraction grating for varying a light incident angle from said light source to said observation equipment is arranged in said optical path for wavelength calibration. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13928096A JPH09318445A (en) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | Calibrator for observation apparatus carried on satellite |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13928096A JPH09318445A (en) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | Calibrator for observation apparatus carried on satellite |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09318445A true JPH09318445A (en) | 1997-12-12 |
Family
ID=15241614
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13928096A Pending JPH09318445A (en) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | Calibrator for observation apparatus carried on satellite |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09318445A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114353830A (en) * | 2021-12-27 | 2022-04-15 | 北京遥感设备研究所 | Light path switching device and switching method for fixed star calibration |
-
1996
- 1996-05-31 JP JP13928096A patent/JPH09318445A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114353830A (en) * | 2021-12-27 | 2022-04-15 | 北京遥感设备研究所 | Light path switching device and switching method for fixed star calibration |
| CN114353830B (en) * | 2021-12-27 | 2023-11-14 | 北京遥感设备研究所 | Optical path switching device and switching method for constant star calibration |
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