JPH09304241A

JPH09304241A - オ−トサンプラ

Info

Publication number: JPH09304241A
Application number: JP14081496A
Authority: JP
Inventors: Seiji Ito; 誠司伊藤
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1996-05-09
Filing date: 1996-05-09
Publication date: 1997-11-28

Abstract

(57)【要約】【課題】トレイ・カセット１１がオートサンプラの本
体にずれて設置された場合にも、全ての試料収容部１２
の試料位置を正確に求めることができるオートサンプラ
を提供する。【解決手段】ティーチング手段４がティーチング操作
によって三方の隅の試料収容部１２の試料位置の座標を
取得し、これらの座標間の３軸方向の等分位置に他の各
試料収容部１２の試料位置が配置されるように演算を行
って残りの試料位置の座標を算出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、熱分析装置等に試
料を供給するオートサンプラに関する。

【０００２】

【従来の技術】オートサンプラは、トレイ・カセット等
に複数の試料を搭載しておき、試料把持部でこの試料を
１個ずつ取り出して熱分析装置等に順次供給する試料供
給装置である。トレイ・カセット１１は、例えば図９に
示すように、矩形の金属盤等の表面に、凹状に窪んだ試
料収容部１２を１０行×１０列の行列状に１０×１０箇
所形成した試料搭載具であり、これら各試料収容部１２
にペレット状等の試料がそれぞれ収容される。オートサ
ンプラは、この図９に示したようなｘｙｚ方向の直交座
標系３軸動作を行う試料把持部１を備えている場合、こ
の試料把持部１をｘ軸方向とｙ軸方向とｚ軸方向に任意
に移動させて、目的の試料収容部１２の試料を把持し、
熱分析装置等まで運ぶと共に、分析を終了した試料を元
の試料収容部１２に戻す動作を順次繰り返す。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記トレイ・カセット
１１は、オートサンプラの本体に固定的に又は着脱可能
に設置される。ここで、トレイ・カセット１１の各試料
収容部１２は、精密な工作機械によって加工されるの
で、行方向の間隔と列方向の間隔がそれぞれ正確に等間
隔となるように形成され、これら行方向と列方向の直角
精度も十分に高くなる。しかし、このトレイ・カセット
１１をオートサンプラの本体に設置する場合には、設置
部の各部品の加工誤差が累積したり組み付けや装着の際
に誤差が発生するので、正常な位置からずれて設置され
ることが多い。このため、従来のオートサンプラは、図
１０に示すように、試料把持部１を移動させるためのｘ
ｙｚ３軸の直交座標系と、トレイ・カセット１１の行列
方向との間にずれが生じ、目的の試料収容部１２が試料
把持部１の直交座標系における所定座標位置に存在しな
い場合が生じるため、この試料収容部１２の試料を正し
く把持して運ぶことができないことがあるという問題が
生じていた。また、このような問題を解消するために、
従来からトレイ・カセット１１の設置部の各部品の加工
精度を向上させたり、組み立て誤差が極力少なくなるよ
うな努力が払われてはいるが、これらに要する設備や手
間にも限度があるために、必ずしも十分な精度を得られ
るには至っていない。

【０００４】さらに、このような問題を解消するために
は、一般の産業用ロボットの場合と同様に、各試料収容
部１２の位置座標をそれぞれティーチング操作の実行に
よって記憶させる方法も考えられる。しかし、多数（上
記例では１００箇所）の試料収容部１２について全てテ
ィーチング操作を行うのは極めて面倒な作業であり、到
底その煩に耐え得ず必ずしも現実的な解消策にはなり得
ない。

【０００５】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、ティーチング操作の実行によって２〜３箇所
程度の試料位置の座標を取得する手間を要するだけで、
他の全ての試料位置を正確に求めることができるオート
サンプラを提供することを目的としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】請求項１のオートサンプ
ラは、上記課題を解決するために、試料搭載具に規則的
に配置された複数の試料について、ティーチング操作の
実行によりその一部の２〜３箇所程度の試料位置の座標
を取得し、これらの座標に基づき、試料の配置規則に従
って他の各試料位置の座標をそれぞれ演算によって求め
る。また、請求項２のオートサンプラは、試料搭載具に
行列状に配置された複数の試料について、ティーチング
操作の実行により三方の隅の試料位置の直交座標を取得
し、これら三方の隅の試料位置の間における３軸方向の
等分位置に他の各試料位置が配置されるように演算を行
い直交座標を求める。

【０００７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。図１〜図４は本発明の第１実
施形態を示すものであって、図１はオートサンプラの構
成を示すブロック図、図２はオートサンプラの動作を示
すフローチャート、図３はトレイ・カセット上の試料収
容部の配置を示す平面図、図４は直交座標を算出する演
算内容を説明するための図である。なお、図９及び図１
０に示したものと同様の機能を有する構成部材には同じ
番号を付記する。

【０００８】本実施形態は、熱分析装置に試料を供給す
るオートサンプラであって、図９に示したような直交座
標系３軸動作を行う試料把持部１を備えたものについて
説明する。また、試料搭載具も、この図９に示したよう
に、試料収容部１２を１０行×１０列の行列状に形成し
たトレイ・カセット１１を用いるものとする。本実施形
態のオートサンプラは、図１に示すように、試料把持部
１を直交座標系の３軸であるｘ軸方向とｙ軸方向とｚ軸
方向に移動させる試料把持部駆動手段２を有している。
そして、熱分析装置に試料を供給する場合には、記憶装
置３に記憶された各試料位置の直交座標に基づいて、こ
の試料把持部駆動手段２が試料把持部１を駆動制御する
ことにより、目的の試料を取り出したり、この試料を元
の位置に戻す動作を行うことができる。

【０００９】このオートサンプラには、ティーチング手
段４が設けられている。ティーチング手段４は、一般の
産業用ロボットの場合と同様のティーチング機能によっ
て、トレイ・カセット１１上における３箇所の試料収容
部１２の試料位置の直交座標をそれぞれ取得して記憶装
置３に記憶させるものである。ティーチング機能は、操
作入力手段５の操作に従って、試料把持部駆動手段２に
より試料把持部１を駆動制御して任意の位置に移動させ
るティーチング操作を行い、このときの試料把持部１の
直交座標を取得する機能である。また、このオートサン
プラには、座標演算手段６が設けられている。座標演算
手段６は、ティーチング手段４によって記憶装置３に記
憶された３箇所の試料収容部１２の試料位置の直交座標
に基づいて、他の各試料収容部１２の試料位置の直交座
標を算出し記憶装置３に記憶させるものである。そし
て、このようにして記憶装置３に記憶された各試料収容
部１２の試料位置の直交座標に基づいて、上記試料把持
部駆動手段２が熱分析装置に試料を供給することができ
る。なお、これら記憶装置３，ティーチング手段４，操
作入力手段５及び座標演算手段６は、個々の回路装置に
よって構成してもよいし、コンピュータのプログラムと
これを実行するハードウエアと周辺機器によって構成す
ることもできる。

【００１０】上記構成のオートサンプラは、トレイ・カ
セット１１が設置された場合に、各試料収容部１２の試
料位置の直交座標を算出する動作を行う。このオートサ
ンプラによる直交座標の算出動作を図２のフローチャー
トに従って説明する。まず、最初のステップ（以下
「Ｓ」という）１で、ティーチング操作を行うことによ
って、ティーチング手段４により３箇所の試料収容部１
２の試料位置の直交座標を取得して記憶装置３に記憶さ
せる。ここで、トレイ・カセット１１は、図３に示すよ
うに、行列状に形成された各試料収容部１２に収容され
る試料の試料位置をＰ［ｉ，ｊ］によって表すものとす
る。この際、「ｉ」はその試料収容部１２が図示左端の
列から何列目にあるかを示し（ｉ＝０〜９）、「ｊ」は
その試料収容部１２が図示下端の行から何行目にあるか
を示す（ｊ＝０〜９）。また、ティーチング操作では、
図示左下隅と右下隅と左上隅の３箇所の試料収容部１２
の試料位置の直交座標を順次ティーチング操作によって
取得させるものとする。従って、ティーチング手段４
は、数２に示すように、

【数２】図示左下隅の試料収容部１２の試料位置（基準試料位
置）Ｐ［０，０］の直交座標（ｘ₀，ｙ₀，ｚ₀）と、
図示右下隅の試料収容部１２の試料位置Ｐ［９，０］の
直交座標（ｘ₁，ｙ₁，ｚ₁）と、図示左上隅の試料収
容部１２の試料位置Ｐ［０，９］の直交座標（ｘ₂，ｙ
₂，ｚ₂）を取得して記憶装置３に記憶させる。

【００１１】次に、上記記憶装置３に記憶された３箇所
の試料位置の直交座標に基づき、座標演算手段６によっ
て、他の各試料収容部１２の試料位置Ｐ［ｉ，ｊ］の直
交座標（ｘ_CAL，ｙ_CAL，ｚ_CAL）をそれぞれ算出する
（Ｓ２）。即ち、試料位置Ｐ［ｉ，ｊ］の直交座標にお
けるｘ軸成分ｘ_CALとｙ軸成分ｙ_CALとｚ軸成分ｚ_CAL
を数３によって算出する。

【数３】例えばトレイ・カセット１１の各試料収容部１２の試料
位置をｘｙ平面に投影した図４において、数３の「（ｘ
₁−ｘ₀）／９」の項は、試料位置Ｐ［０，０］と試料
位置Ｐ［９，０］のｘ軸上の変位をこれらの間の列の間
隔数である「９」で除算したものであり、隣接する各列
間のｘ軸上の変位を表す。また、「（ｘ₂−ｘ₀）／
９」の項は、試料位置Ｐ［０，０］と試料位置Ｐ［０，
９］のｘ軸上の変位をこれらの間の行の間隔数である
「９」で除算したものであり、隣接する各行間のｘ軸上
の変位を表す。従って、試料位置Ｐ［０，０］の直交座
標のｘ軸成分ｘ₀に、この各列間の変位と「ｉ」との乗
算結果を加算すると共に、この各行間の変位と「ｊ」と
の乗算結果を加算すれば、任意の試料位置Ｐ［ｉ，ｊ］
のｘ軸成分ｘ_CALを求めることができる。そして、ｙ軸
成分ｙ_CALとｚ軸成分ｚ_CALもそれぞれ同様にして求め
られる。ただし、本実施形態では、各試料収容部１２が
行方向に所定の等間隔で形成されると共に、列方向にも
所定の等間隔で形成されている必要がある。

【００１２】上記座標演算手段６によって算出した他の
各試料収容部１２の試料位置の直交座標は、ティーチン
グ手段４によって取得した３箇所の試料収容部１２の試
料位置の直交座標と共に記憶装置３に記憶させて処理を
終了する。従って、この処理が終了すると、設置された
トレイ・カセット１１における１０×１０箇所全ての試
料収容部１２について、それぞれの試料位置の直交座標
が記憶装置３に記憶されるので、以降の熱分析装置への
試料の供給動作の際に、これらの直交座標に基づいて任
意の試料収容部１２から目的の試料を正確に取り出すこ
とができるようになる。

【００１３】以上説明したように、本実施形態のオート
サンプラによれば、ティーチング操作の実行によって３
箇所の試料収容部１２の試料位置の直交座標を取得する
手間を要するだけで、残り９７箇所の全ての試料収容部
１２の試料位置の直交座標を座標演算手段６により算出
することができる。しかも、この座標演算手段６は、各
試料収容部１２の配置規則に従って試料位置の直交座標
を算出するので、これらの試料収容部１２が高い加工精
度で形成されていることから、正確な直交座標を得るこ
とができる。従って、トレイ・カセット１１の設置位置
にずれが生じていたとしても、各試料収容部１２の試料
を正常に熱分析装置に供給することができるようにな
る。

【００１４】図５及び図６は本発明の第２実施形態を示
すものであって、図５は円筒座標系３軸動作を行う試料
把持部を示す斜視図、図６はオートサンプラの動作を示
すフローチャートである。なお、図１〜図４に示した第
１実施形態と同様の機能を有する構成部材には同じ番号
を付記して説明を省略する。本実施形態では、図５に示
すような円筒座標系３軸動作を行う試料把持部１を備え
たオートサンプラについて説明する。円筒座標系は、中
心軸（極）からの距離を示す動径ｒと、この中心軸の回
りの回転角を示す偏角θとで構成される極座標に、この
中心軸に沿ったｚ軸成分を加えたものである。なお、こ
のオートサンプラは、第１実施形態と同様に、熱分析装
置に試料を供給するものとし、１０行×１０列の行列状
に試料収容部１２を形成したトレイ・カセット１１を用
いるものとする。

【００１５】本実施形態のオートサンプラも、図１に示
したものと同様の構成である。ただし、試料把持部駆動
手段２は、円筒座標（ｒ，θ，ｚ）に基づいて試料把持
部１を駆動制御するようになっている。また、座標演算
手段６は、第１実施形態と同様に、各試料収容部１２の
試料位置の直交座標を算出する他、円筒座標と直交座標
との間の座標変換も行うようになっている。

【００１６】上記オートサンプラは、トレイ・カセット
１１が設置された場合に、各試料収容部１２の試料位置
の円筒座標を算出する動作を行う。このオートサンプラ
による円筒座標の算出動作を図６のフローチャートに従
って説明する。まず、ティーチング操作を行うことによ
って、ティーチング手段４により３箇所の試料収容部１
２の試料位置の円筒座標を取得して記憶装置３に記憶さ
せる（Ｓ１１）。３箇所の試料収容部１２の試料位置
は、第１実施形態の場合と同じ試料位置Ｐ［０，０］，
Ｐ［９，０］，Ｐ［０，９］とする。そして、数４に示
すように、

【数４】基準試料位置Ｐ［０，０］の円筒座標（ｒ₀，θ₀，ｚ
₀）と、試料位置Ｐ［９，０］の円筒座標（ｒ₁，
θ₁，ｚ₁）と、試料位置Ｐ［０，９］の円筒座標（ｒ
₂，θ₂，ｚ₂）を取得して記憶装置３に記憶させる。
次に、座標演算手段６によって、上記記憶装置３に記憶
された３箇所の試料位置の円筒座標（ｒ，θ，ｚ）を、
数５に示すように、それぞれ直交座標（ｘ，ｙ，ｚ）に
変換する（Ｓ１２）。

【数５】この座標変換は、数６によって円筒座標の動径ｒと偏角
θを直交座標のｘ軸成分とｙ軸成分に変換することによ
り行うことができる。

【数６】

【００１７】また、この座標変換によって３箇所の試料
収容部１２の試料位置の直交座標が算出されると、これ
らの直交座標に基づいて、上記数３の演算を行うことに
より、他の各試料収容部１２の試料位置Ｐ［ｉ，ｊ］の
直交座標（ｘ_CAL，ｙ_CAL，ｚ_CAL）をそれぞれ算出す
る（Ｓ１３）。そして、ここで算出した各試料位置Ｐ
［ｉ，ｊ］の直交座標（ｘ_CAL，ｙ_CAL，ｚ_CAL）を再
び円筒座標（ｒ_CAL，θ_CAL，ｚ_CAL）に変換する（Ｓ
１４）。この座標変換は、数７によって直交座標のｘ軸
成分とｙ軸成分を円筒座標の動径ｒと偏角θに変換する
ことにより行うことができる。

【数７】なお、円筒座標の偏角θがアークタンジェントの主値で
ある−π／２＜θ＜π／２の範囲を超える場合には、ｘ
軸成分とｙ軸成分の正負に応じてπを加減算すればよ
い。

【００１８】上記直交座標から円筒座標への座標変換に
より各試料位置Ｐ［ｉ，ｊ］の円筒座標（ｒ_CAL，θ
_CAL，ｚ_CAL）が算出されると、ティーチング手段４に
よって取得した３箇所の試料位置の円筒座標と共に記憶
装置３に記憶させて処理を終了する。従って、この処理
が終了すると、設置されたトレイ・カセット１１におけ
る１０×１０箇所全ての試料収容部１２について、それ
ぞれの試料位置の円筒座標が記憶装置３に記憶されるの
で、以降の熱分析装置への試料の供給動作の際に、これ
らの円筒座標に基づいて任意の試料収容部１２から目的
の試料を正確に取り出すことができるようになる。

【００１９】以上説明したように、本実施形態のオート
サンプラによれば、円筒座標系３軸動作を行う試料把持
部１を備えたオートサンプラの場合にも、座標変換を行
うことにより、第１実施形態の場合と同様に、各試料収
容部１２の試料を正常に熱分析装置に供給することがで
きるようになる。

【００２０】図７及び図８は本発明の第３実施形態を示
すものであって、図７は原点にずれのある円筒座標系３
軸動作を行う試料把持部を示す斜視図、図８はオートサ
ンプラの動作を示すフローチャートである。なお、図１
〜図６に示した第１及び第２実施形態と同様の機能を有
する構成部材には同じ番号を付記して説明を省略する。

【００２１】本実施形態では、図７に示すような円筒座
標系３軸動作を行う試料把持部１を備えたオートサンプ
ラについて説明する。この場合、円筒座標の動径ｒは、
基準位置を検出するセンサの設置位置の都合から、ｒ＝
０となる原点が中心軸（ｚ軸）から変位ｒDEVだけずれ
ている。従って、本実施形態の円筒座標は、第２実施形
態の場合とは異なり、そのまま直交座標に変換すること
ができない。なお、このオートサンプラは、第１及び第
２実施形態と同様に、熱分析装置に試料を供給するもの
とし、１０行×１０列の行列状に試料収容部１２を形成
したトレイ・カセット１１を用いるものとする。

【００２２】本実施形態のオートサンプラも、図１に示
したものと同様の構成である。ただし、試料把持部駆動
手段２は、第２実施形態と同様に、円筒座標（ｒ，θ，
ｚ）に基づいて試料把持部１を駆動制御するようになっ
ている。また、座標演算手段６は、第２実施形態と同様
に、各試料収容部１２の試料位置の直交座標を算出する
と共に、円筒座標と直交座標との間の座標変換を行う
他、円筒座標の動径ｒの補正も行うようになっている。

【００２３】上記オートサンプラも、トレイ・カセット
１１が設置された場合に、各試料収容部１２の試料位置
の円筒座標を算出する動作を行う。このオートサンプラ
による円筒座標の算出動作を図８のフローチャートに従
って説明する。まず、ティーチング操作を行うことによ
って、ティーチング手段４により３箇所の試料収容部１
２の試料位置の円筒座標を取得して記憶装置３に記憶さ
せる（Ｓ２１）。３箇所の試料収容部１２の試料位置
は、第１及び第２実施形態の場合と同じ試料位置Ｐ
［０，０］，Ｐ［９，０］，Ｐ［０，９］とする。そし
て、数８に示すように、

【数８】基準試料位置Ｐ［０，０］の円筒座標（ｒ_m0，θ₀，ｚ
₀）と、試料位置Ｐ［９，０］の円筒座標（ｒ_m1，
θ₁，ｚ₁）と、試料位置Ｐ［０，９］の円筒座標（ｒ
_m2，θ₂，ｚ₂）を取得して記憶装置３に記憶させる。
次に、例えば基準試料位置Ｐ［０，０］の中心軸からの
実際の距離ｒ_Mを実測し、座標演算手段６によって数９
の演算を行うことにより、

【数９】この中心軸からｒ＝０となる位置までの変位ｒDEVを算
出する（Ｓ２２）。実測した距離ｒ_Mは、操作入力手段
５から入力して予め記憶装置３に記憶させておけばよ
い。これにより変位ｒ_DEVが算出されると、上記記憶装
置３に記憶された３箇所の試料位置の円筒座標における
動径ｒ_m0，ｒ_m1，ｒ_m2を数１０によって補正する（Ｓ２
３）。

【数１０】この補正により、動径ｒが第２実施形態の場合と同様に
中心軸からの距離を示すものとなり、上記数６による直
交座標への変換が可能となる。なお、実際の距離ｒ
_Mは、中心軸から基準試料位置Ｐ［０，０］までに限ら
ず、他の試料位置までのものであってもよい。また、例
えば特定の試料位置が機械的に正確に位置決めされるよ
うになっている場合には、中心軸からその試料位置まで
の距離の設計値を距離ｒ_Mとして用いることもできる。
上記補正がなされた３箇所の試料位置の円筒座標は、そ
れぞれ直交座標に変換し（Ｓ２４）、これらの直交座標
に基づいて、他の各試料収容部１２の試料位置Ｐ［ｉ，
ｊ］の直交座標（ｘ_CAL，ｙ_CAL，ｚ_CAL）をそれぞれ
算出すると共に（Ｓ２５）、これら各試料位置Ｐ［ｉ，
ｊ］の直交座標（ｘ_CAL，ｙ_CAL，ｚ_CAL）を再び円筒
座標（ｒ_CAL，θ_CAL，ｚ_CAL）にそれぞれ変換する
（Ｓ２６）。これらＳ２４〜Ｓ２６の処理は、第２実施
形態で示した図６のＳ１２〜Ｓ１４の処理と同じであ
る。

【００２４】このようにして各試料位置Ｐ［ｉ，ｊ］の
円筒座標（ｒ_CAL，θ_CAL，ｚ_CAL）が算出されると、
最後にこれらの円筒座標の動径ｒ_CALを上記変位ｒ_DEC
に基づいて数１１により補正する（Ｓ２７）。

【数１１】この補正により、動径ｒ_mCALが本実施形態の円筒座標系
のものとなる。そして、この補正を行った各試料位置Ｐ
［ｉ，ｊ］の円筒座標（ｒ_mCAL，θ_CAL，ｚ_CAL）を、
ティーチング手段４によって取得した３箇所の試料位置
の円筒座標と共に記憶装置３に記憶させて処理を終了す
る。以上説明したように、本実施形態のオートサンプラ
によれば、動径ｒの原点が中心軸からずれた円筒座標系
を有するオートサンプラの場合にも、この動径ｒを補正
することにより、第２実施形態の場合と同様に、各試料
収容部１２の試料を正常に熱分析装置に供給することが
できるようになる。

【００２５】なお、上記第１〜第３実施形態では、ティ
ーチング手段４によって行列状の三方の隅の試料位置の
座標を取得したが、同一直線上にない３箇所の試料位置
であれば、このような三方の隅に限らず任意の試料位置
を用いることができる。しかも、全試料位置の一部であ
る限り３箇所以上の試料位置の座標を取得してもよい。
また、例えばトレイ・カセット１１がｚ軸に垂直（ｘｙ
平面に平行）に設置されることが保証されている場合に
は、２箇所の試料位置の座標を取得するだけでも足り
る。

【００２６】さらに、上記第１〜第３実施形態では、１
０行×１０列の行列状に試料を配置するトレイ・カセッ
ト１１を用いたが、これに限らず試料は任意の数だけ配
置することができ、トレイ・カセット１１以外の試料搭
載具を用いることもできる。また、この試料は、等間隔
の行列状に限らず、他の任意の規則的な配列とすること
ができる。試料がいずれかの規則に基づいて配置されて
いれば、２以上の試料位置の座標に基づいて他の試料位
置を算出することができる。さらに、上記第１〜第３実
施形態では、試料把持部１が直交座標系３軸動作又は円
筒座標系３軸動作を行うオートサンプラについてのみ説
明したが、本発明は、例えばトレイ・カセット１１等が
平行移動するタイプや回転するタイプ等、任意のタイプ
のオートサンプラに実施することができる。

【００２７】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のオートサンプラによれば、ティーチング操作の実行に
よって２〜３箇所程度の試料位置の座標を取得するだけ
で、他の試料位置が試料の配置規則に従って演算によっ
て求められるので、試料搭載具がずれて設置されていて
も、各試料を確実に取り出し処理装置に供給することが
できるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施形態を示すものであって、オ
ートサンプラの構成を示すブロック図である。

【図２】本発明の第１実施形態を示すものであって、オ
ートサンプラの動作を示すフローチャートである。

【図３】本発明の第１実施形態を示すものであって、ト
レイ・カセット上の試料収容部の配置を示す平面図であ
る。

【図４】本発明の第１実施形態を示すものであって、直
交座標を算出する演算内容を説明するための図である。

【図５】本発明の第２実施形態を示すものであって、円
筒座標系３軸動作を行う試料把持部を示す斜視図であ
る。

【図６】本発明の第２実施形態を示すものであって、オ
ートサンプラの動作を示すフローチャートである。

【図７】本発明の第３実施形態を示すものであって、原
点にずれのある円筒座標系３軸動作を行う試料把持部を
示す斜視図である。

【図８】本発明の第３実施形態を示すものであって、オ
ートサンプラの動作を示すフローチャートである。

【図９】直交座標系３軸動作を行う試料把持部を示す斜
視図である。

【図１０】トレイ・カセットの設置位置のずれを説明す
るための斜視図である。

【符号の説明】

１試料把持部４ティーチング手段６座標演算手段１１カセット１２試料収容部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の試料を規則的に配置した試料搭載
具から各試料を１個ずつ取り出して処理装置に順次供給
するオートサンプラにおいて、試料搭載具に搭載された全ての試料の一部であって２以
上の試料の位置の座標をティーチング操作の実行によっ
て取得するティーチング手段と、このティーチング手段によって取得した２以上の試料位
置の座標に基づき、試料の配置規則に従って、他の各試
料位置の座標をそれぞれ演算によって求める座標演算手
段とが設けられたことを特徴とするオートサンプラ。
【請求項２】前記試料搭載具が、Ｉ×Ｊ個の試料を等
間隔のＩ列と等間隔のＪ行に行列状に配置したものであ
り、前記ティーチング手段が、行列状のいずれかの隅の基準
試料位置の直交座標（ｘ₀，ｙ₀，ｚ₀）と、この基準
試料位置に対し同一行であり最も離れた列にある試料位
置の直交座標（ｘ₁，ｙ₁，ｚ₁）と、この基準試料位
置に対し同一列であり最も離れた行にある試料位置の直
交座標（ｘ₂，ｙ₂，ｚ₂）とをティーチング操作の実
行によって取得するものであり、前記位置座標演算手段が、基準試料位置からｉ（０≦ｉ
＜Ｉ）列目でｊ（０≦ｊ＜Ｊ）行目となる各試料位置の
直交座標（ｘ_CAL，ｙ_CAL，ｚ_CAL）をそれぞれ数１の
演算により求めるものである【数１】ことを特徴とする請求項１に記載のオートサンプラ。